JP2002005904A - 超音波プローブ及びこれを用いた欠陥評価方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 傾いた欠陥でも検出することができ、、且
つ、欠陥の評価精度が高い超音波プローブ及びこれを用
いた欠陥評価方法を提供する。 【解決手段】 一方の探触子１２から被検体（キャノピ
ーシール部）へ入射した超音波が被検体の底面で反射し
て底面エコーが発生し、この底面エコーが他方の探触子
１３へと戻ってくるように配設した一対の探触子１２，
１３を備えて超音波プローブを構成する。また、一対の
探触子を個別の弾性体により被検体の表面に押し付け
て、これら一対の探触子が個別に被検体の表面に倣うよ
うに構成する。そして、この超音波プローブを用いて、
第１の直射法測定と第２の直射法測定と透過法測定とを
行い、これらの結果に基づいて欠陥の評価を行う。更に
は、測定感度を上げることにより、端部エコー法又はＴ
ＯＦＤ法による測定も行い、この結果からも欠陥を評価
する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は超音波プローブ及び
これを用いた欠陥評価方法に関し、特にキャノピーシー
ル部のような薄肉、狭隘な被検体を検査する場合に適用
して有用なものである。

【０００２】

【従来の技術】図１０は原子炉容器の上蓋部の構成図、
図１１は図１０のＡ部拡大断面図、図１２はキャノピー
シール部の平面図（図１１のＢ方向矢視図）、図１３は
図１１のＣ部（キャノピーシール部）の拡大断面図、図
１４はキャノピーシール部の検査状況を示す説明図であ
る。

【０００３】図１０に示すように、原子力プラントにお
ける原子炉容器の上蓋１には多数の制御棒駆動装置（Ｃ
ＲＤＭ）２が設けている。そして、図１１に示すよう
に、制御棒駆動装置２の管台３にはキャノピーシール部
４が形成されている。キャノピーシール部４はステンレ
ス製であって、図１２に示すように半径Ｒ₁ が７０ｍｍ
程度の小さな円環状とになっており、図１２及び図１３
に示すように頂部には溶接部８を有している。また、図
１３に示すように、キャノピーシール部４の横断面は、
半径Ｒ₂ が３ｍｍ程度の非常に小さな円弧状であって、
板厚Ｔが２ｍｍ程度の薄肉となっている。

【０００４】従来、このような薄肉、狭隘なキャノピー
シール部４に対して超音波探傷を行う場合には、図１４
に示すように、５ｍｍ角程度の超小型の探触子５を備え
た超音波プローブを用いて直射法により、即ち、探触子
５からキャノピーシール部４に超音波６Ａを入射して、
その反射波（コーナエコー）６Ｂを探触子５で受信する
ことにより、キャノピーシール部４に生じた欠陥（割
れ）７の検出を行っていた。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の超音波プローブでは欠陥７が傾いている場合には検
出することができない。つまり、図１５（ａ）に示すよ
うに欠陥７がキャノピーシール部４の板厚方向に沿って
おり、且つ、図１５（ｂ）に示すように欠陥７が超音波
６Ａの送信方向に対して垂直であれば、欠陥７からのコ
ーナエコー６Ｂが探触子５へと戻るため、欠陥７を検出
することができる。しかし、図１５（ｃ）に示すように
欠陥７が前記板厚方向に対して傾いている場合や、図１
５（ｄ）に示すように欠陥７が前記送信方向と垂直な方
向に対して傾いている場合には、欠陥７からのコーナエ
コー６Ｂが探触子５に戻ってこないため、欠陥７を検出
することができない。

【０００６】従って、本発明は上記の問題点に鑑み、傾
いた欠陥でも検出することができ、、且つ、欠陥の評価
精度が高い超音波プローブ及びこれを用いた欠陥評価方
法を提供することを課題とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決する第１
発明の超音波プローブは、一方の探触子から被検体へ入
射した超音波が被検体の底面で反射して底面エコーが発
生し、この底面エコーが他方の探触子へと戻ってくるよ
うに配設した一対の探触子を備えてなることを特徴とす
る。

【０００８】また、第２発明の超音波プローブは、第１
発明の超音波プローブにおいて、一対の探触子をそれぞ
れ個別の弾性体の弾性力により被検体の表面に押し付け
て、これら一対の探触子がそれぞれ個別に被検体の表面
に倣うように構成したことを特徴とする。

【０００９】また、第３発明の欠陥評価方法は、第１又
は第２発明の超音波プローブを用いることにより、被検
体の同一箇所に対して、一方の探触子から被検体へ超音
波を入射して、この超音波のエコーを一方の探触子で受
信する第１の直射法測定と、他方の探触子から被検体へ
超音波を入射して、この超音波のエコーを他方の探触子
で受信する第２の直射法測定と、一方の探触子から被検
体へ超音波を入射して、この超音波の透過エコーを他方
の探触子で受信する透過法測定とを行い、第１の直射法
測定及び第２の直射法測定の結果から何れもコーナエコ
ーが有ることを確認し、且つ、透過法測定の結果から透
過エコーが無いことを確認したときには、欠陥であると
評価することを特徴とする。

【００１０】また、第４発明の欠陥評価方法は、第３発
明の欠陥評価方法において、第１の直射法測定及び第２
の直射法測定の結果から何れもコーナエコーが無いこと
を確認し、且つ、透過法測定の結果からも透過エコーが
無いことを確認したときには、傾いた欠陥であると評価
することを特徴とする。

【００１１】また、第５発明の欠陥評価方法は、第４発
明の欠陥評価方法において、第１の直射法測定及び第２
の直射法測定の結果から何れもコーナエコーが無い１と
を確認し、且つ、透過法測定の結果からも透過エコーが
無いことを確認した際に、第１の直射法測定及び第２の
直射法測定の結果から送信波に乱れがないことも確認し
て、傾いた欠陥であると評価することを特徴とする。

【００１２】また、第６発明の欠陥評価方法は、第３，
第４又は第５発明の欠陥評価方法において、第１の直射
法測定又は第２の直射法測定の結果からコーナエコーが
有ることを確認したとき、このコーナエコーが斜め方向
に流れているかどうかによって、欠陥か否かを識別する
ことを特徴とする。

【００１３】また、第７発明の欠陥評価方法は、第３，
第４，第５又は第６発明の欠陥評価方法において、測定
感度を上げることにより、端部エコー法又はＴＯＦＤ法
による測定も行い、その結果から先端エコーが有ること
を確認して欠陥であると評価することを特徴とする。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づき詳細に説明する。

【００１５】図１（ａ），（ｂ）は本発明の実施の形態
に係る超音波プローブをキャノピーシール部に装着した
状態を示す平面図及び斜視図、図２（ａ），（ｂ）は前
記超音波プローブの探触子を抽出して示す平面図及び側
面図、図３は前記超音波プローブの構成を詳細に示す断
面図、図４は前記超音波プローブの構成を詳細に示す分
解斜視図である。

【００１６】また、図５は前記超音波プローブを用いた
直射法及び透過法による欠陥測定の説明図、図６は前記
超音波プローブを用いた透過法による傾斜欠陥測定の説
明図、図７は前記直射法及び透過法による欠陥測定の結
果を示す説明図、図８は前記超音波プローブを用いた端
部エコー法及びＴＯＦＤ法による欠陥測定の説明図、図
９は前記端部エコー法及びＴＯＦＤ法による欠陥測定の
結果を示す説明図である。

【００１７】図１に示すように、被検体であるキャノピ
ーシール部４には本実施の形態に係る超音波プローブ１
１が２つ装着されている。そして、これらの超音波プロ
ーブ１１には一対の探触子１２，１３が設けられてい
る。なお、図示例ではキャノピーシール部４の外側だけ
でなく内側も同時に探傷するため、一対の探触子１２，
１３が超音波プローブ１１の外側と内側とにそれぞれ設
けられている。２つの超音波プローブ１１は図示しない
移動装置により保持されてキャノピーシール部４を矢印
Ｄのように周方向に移動することにより、それぞれ０°
〜１８０°の範囲と１８０°〜３６０°の範囲とを探傷
するようになっている。

【００１８】図２に示すように、一対の探触子１２，１
３は、一方の探触子１２からキャノピーシール部４へ入
射した超音波（以下、送信波ともいう）１４Ａがキャノ
ピーシール部４の底面４ｂで反射して底面エコー１４Ｂ
が発生し、この底面エコー１４Ｂが他方の探触子１３へ
と戻ってくる（探触子１３に受信される）ように配設さ
れている。なお、探触子１３から超音波を入射して探触
子１２で底面エコーを受信するようにしてもよい。

【００１９】図３及び図４に基づいて超音波プローブ１
１の構成を詳述すると、探触子１２，１３はホルダー３
０によって保持された２つのケーシング２１内にそれぞ
れ挿入されており、ケーシング２１の基端部（上端部）
にはケーシング蓋２２が固定されている。ケーシング蓋
２２には切り欠き部２３が形成されており、この切り欠
き部２３にガイドチューブ２４が上下動可能に挿通され
ている。探触子１２，１３に接続されたケーブル２５は
ガイドチューブ２４に挿通されてケーシング外へと引き
出され、超音波探傷器２６に接続されている。

【００２０】そして、探触子１２，１３とケーシング蓋
２２との間には、弾性体としてのコイルばね２７がそれ
ぞれ介設されている（なお、弾性体としてはコイルばね
に限らず、他の種類のばねやゴムなどでもよい）。これ
らのコイルばね２７は、その弾性力によって探触子１
２，１３をそれぞれ個別にキャノピーシール部４の表面
４ａに押し付けている。このため、探触子１２，１３
は、キャノピーシール部４の表面４ａに多少の凹凸があ
っても、それぞれ個別に表面４ａに倣うことができる。

【００２１】従って、探触子１２，１３がキャノピーシ
ール部４の表面４ａから浮いてしまうのを防止すること
ができる。つまり、探触子１２又は探触子１３がキャノ
ピーシール部４の表面４ａから浮いてしまうと、特に、
透過法測定（詳細後述）においては、キャノピーシール
部４に欠陥（割れ）が生じていなくても、透過エコーを
探触子１３で受信することができなくなってしまう。こ
のため、一対の探触子１２，１３をそれぞれ個別のコイ
ルばね２７でキャノピーシール部４の表面４ａに押し付
けることにより、これら一対の探触子１２，１３がそれ
ぞれ個別にキャノピーシール部４の表面４ａに倣うよう
に構成している。このことにより、探触子１２，１３が
キャノピーシール部４の表面４ａから浮いてしまうのを
極力防止することができ、探傷性能が向上する。

【００２２】なお、図３（ｂ）に示すように、超音波プ
ローブ１１をキャノピーシール部４の表面４ａから離し
たとき、探触子１２，１３がケーシング２１から飛び出
してしまうのを防止するため、探触子１２，１３の先端
部（下端部）には切り欠き部２８を形成し、且つ、これ
に対応してケーシング２１の先端部（下端部）の内面に
は突部２９を形成することにより、探触子１２，１３が
ある程度ケーシング２１（ホルダー３０）から出たとこ
ろで切り欠き部２８が突部２９に当接するようになって
いる。

【００２３】そして、本実施の形態では上記構成のマル
チ超音波プローブ１１を用いることにより、キャノピー
シール部４の同一箇所に対して、図５（ａ），（ｂ），
（ｃ）に示すような直射法による測定Ａと直射法による
測定Ｂと透過法による測定の３通りの測定を行う。

【００２４】即ち、図５（ａ）に示すように直射法測定
Ａでは、一方の探触子１２からキャノピーシール部４へ
超音波１４を入射して、この超音波１４のエコー１４Ｂ
を一方の探触子１２で受信する。図５（ｂ）に示すよう
に直射法測定Ｂでは、他方の探触子１３からキャノピー
シール部４へ超音波１４Ａを入射して、この超音波１４
のエコーを他方の探触子１３で受信する。図５（ｃ）に
示すように透過法測定では、一方の探触子１２からキャ
ノピーシール部４へ超音波１４Ａを入射して、この超音
波の透過エコー（底面エコー）１４Ｂを他方の探触子１
３で受信する。

【００２５】透過法測定では、キャノピーシール部４に
欠陥（割れ）３１が発生していないときには、超音波１
４Ａがキャノピーシール部内を透過するため、透過エコ
ー（底面エコー）１４Ｂが探触子１３によって受信され
る（図６（ａ）参照）。一方、キャノピーシール部４に
欠陥３１が発生しているときには、この欠陥３１に遮ら
れて超音波１４Ｂが透過しない（又は透過量が大きく減
少する）ため、探触子１３において透過エコー１４Ｂを
全く（又は僅かにしか）受信することができない。従っ
て、このときの測定結果から透過エコー１４Ｂが無い
（僅かしか無い場合も含む）を確認することにより、欠
陥３１が発生していると判断することができる。

【００２６】しかも、この透過法測定では、図６（ｂ）
に示すように欠陥３１が板厚方向に対して傾いている場
合にも、欠陥３１によって超音波１４Ａが遮られるた
め、図６（ｅ）に示すように透過エコー１４Ｂのエコー
高さ（受信強度）が、図６（ｄ）に示す健全なときのエ
コー高さに比べて、大幅に低減する。同様に、図６
（ｃ）に示すように欠陥３１が超音波送信方向と垂直な
方向に対して傾いている場合にも、欠陥３１によって超
音波１４Ａが遮られるため、図６（ｆ）に示すように透
過エコー１４Ｂのエコー高さが大幅に低減する。なお、
図６（ｄ），（ｅ），（ｆ）は縦軸がエコー高さ、横軸
が超音波ビームのビーム路程（時間）である。

【００２７】従って、この透過法測定によれば、欠陥３
１が傾いていな場合は勿論、傾いている場合にも、欠陥
３１を検出することができる。

【００２８】なお、上記のような直射法測定Ａ、直射法
測定Ｂ、透過法測定の測定モード切り換えは超音波探傷
器２６によって行う。超音波探傷器２６では、１ｍｓｅ
ｃ程度の非常に短い周期で探触子１２又は探触子１３か
ら超音波パルスを発信させ、このタイミングに合わせて
上記の測定モード切り換えも行う。このため、超音波プ
ローブ１１を連続的に移動させながら探傷を行った場合
でも、実質的にキャノピーシール部４の同一箇所に対し
て上記３通りの測定が行われることになる。

【００２９】続いて、これら３通りの測定結果に基づい
て欠陥評価を行う。図７（ａ），（ｂ）には直射法測定
Ａの結果を例示し、図７（ｃ），（ｄ）には直射法測定
Ｂの結果を例示し、図７（ｅ），（ｆ）には透過法測定
の結果を例示する。なお、図７（ａ），（ｃ），（ｄ）
は縦軸が探触子１２，１３の移動方向（円周方向）、横
軸が超音波ビームのビーム路程（時間）である。また、
図７（ｂ），（ｄ），（ｆ）は縦軸がエコー高さ、横軸
が超音波ビームのビーム路程（時間）である。

【００３０】そして、キャノピーシール部４の同一箇所
に対して、直射法測定Ａ及び直射法測定Ｂの結果から何
れもコーナエコーａ，ｂが有ることを確認し、且つ、透
過法測定の結果から透過エコー（底面エコー）ｃが無い
ことを確認したときには、欠陥３１である（欠陥の可能
性大）と評価する。即ち、キャノピーシール部４の当該
箇所に欠陥３１が発生している（発生の可能性大）と評
価する。

【００３１】このように、直射法測定Ａと直射法測定Ｂ
と透過法測定の３通りの結果に基づいて欠陥評価を評価
を行うため、精度の高い欠陥評価を行うことができる。
更には、探傷時間の短縮を図ることもできる。

【００３２】また、図示は省略するが、直射法測定Ａ及
び直射法測定Ｂの結果から何れもコーナエコーａ，ｂが
無いことを確認し、且つ、透過法測定の結果からも透過
エコーｃが無いことを確認したときには、傾いた欠陥３
１である（傾いた欠陥の可能性大）と評価する。

【００３３】このことにより、傾いた欠陥３１の評価を
行うこともでき、また、直射法測定Ａと直射法測定Ｂと
透過法測定の３通りの結果に基づいて欠陥評価を評価を
行うため、精度の高い欠陥評価を行うことができる。

【００３４】更には、上記のように直射法測定Ａ及び直
射法測定Ｂの結果から何れもコーナエコーａ，ｂが無い
ことを確認し、且つ、透過法測定の結果からも透過エコ
ーｃが無いことを確認した際に、直射法測定Ａ及び直射
法測定Ｂの結果から送信波に乱れがないことも確認し
て、傾いた欠陥３１である（傾いた欠陥の可能性大）と
評価する。

【００３５】つまり、直射法測定Ａ又は直射法測定Ｂの
結果から送信波に乱れがあることを確認したときには、
欠陥３１ではなく探触子１２又は探触子１３の浮きの可
能性がある。そこで、単に、直射法測定Ａ及び直射法測
定Ｂの結果から何れもコーナエコーａ，ｂが無いことを
確認し、且つ、透過法測定の結果からも透過エコーｃが
無いことを確認したときに傾いた欠陥３１であると評価
するのではなく、更に、直射法測定Ａ及び直射法測定Ｂ
の結果から送信波に乱れがないことを確認したうえで傾
いた欠陥３１であると評価する。

【００３６】このことによって、より確実に傾いた欠陥
３１の評価を行うことができる。なお、送信波の乱れ
は、探触子１２から超音波を入射した後、最初に探触子
１２で受信されるエコーに乱れがあるか否かをみること
によって確認することができる。つまり、探触子１２か
ら超音波を入射すると、この送信波の一部が直ぐにキャ
ノピーシール部４の表面４ａなどで反射して最初のエコ
ーが受信されるが、探触子１２に浮きが生じたときに
は、送信波に乱れが生じることより、この最初の受信エ
コーが乱れるため、送信波（最初の受信エコー）が乱れ
ているか否かを確認するれば、超音波を入射したときに
探触子１２が浮いていた（キャノピーシール部４の表面
４ａから離れていた）か否かを判断することができる。

【００３７】また、直射法測定Ａ又は直射法測定Ｂの結
果からコーナエコーａ又はｂが有ることを確認したと
き、このコーナエコーａ又はｂが斜め方向に流れている
かどうかによって、欠陥３１か否かを識別する。即ち、
図７（ａ），（ｃ）に示すように、コーナエコーａ，ｂ
が斜めに流れている場合には、キャノピーシール部４の
底面４ｂの微小な窪みなどによって発生した疑似エコー
ではなく、欠陥エコーであると判断することができる。

【００３８】なお、直射法測定Ａにおけるコーナエコー
ａが図７（ａ）のように流れるのは、図５（ａ）に示す
ように探触子１２では移動方向（矢印Ｄ）に超音波を入
射して欠陥３１を探触するので、探触子１２の移動にし
たがってビーム路程（探触子１２と欠陥３１の距離）が
徐々に短くなるためである。一方、直射法測定Ｂにおけ
るコーナエコーｂが図７（ｃ）のように流れるのは、図
５（ｂ）に示すように、探触子１３では反移動方向に超
音波を入射して欠陥３１を探触するので、探触子１３が
移動するにしたがってビーム路程（探触子１３と欠陥３
１の距離）が徐々に長くなるためである。

【００３９】更には、上記のような基本探傷に加えて、
測定感度を上げることにより、端部エコー法による測定
やＴＯＦＤ（Time of Flight Diffraction) 法による測
定も行う。

【００４０】即ち、図８（ａ）に示すように端部エコー
法測定Ａでは、一方の探触子１２からキャノピーシール
部４へ超音波１４Ａを入射して、この超音波１４Ａが欠
陥３１の先端部３１ａに到達したときに発生する回折波
（端部エコー）１４Ｂを一方の探触子１２で受信する。
図８（ｂ）に示すように端部エコー法測定Ｂでは、他方
の探触子１３からキャノピーシール部４へ超音波１４Ａ
を入射して、この超音波１４Ａが欠陥３１の先端部３１
ａに到達したときに発生する回折波（端部エコー）１４
Ｂを他方の探触子１２で受信する。図８（ｃ）に示すよ
うにＴＯＦＤ法測定では、一方の探触子１２からキャノ
ピーシール部４へ超音波１４Ａを入射して、この超音波
１４Ａが欠陥３１の先端３１ａに到達したときに発生す
る回折波（端部エコー）１４Ｂを他方の探触子１３で受
信する。

【００４１】図９（ａ），（ｂ）には端部エコー法測定
Ａの結果を例示し、図９（ｃ），（ｄ）には端部エコー
法測定Ｂの結果を例示し、図９（ｅ），（ｆ）にはＴＯ
ＦＤ法測定の結果を例示する。なお、図９（ａ），
（ｃ），（ｄ）は縦軸が探触子１２，１３の移動方向
（円周方向）、横軸が超音波ビームのビーム路程（時
間）である。また、図９（ｂ），（ｄ），（ｆ）は縦軸
がエコー高さ、横軸が超音波ビームのビーム路程（時
間）である。

【００４２】そして、キャノピーシール部４の同一箇所
に対して、端部エコー法測定Ａ、端部エコー法測定Ｂ、
ＴＯＦＤ法測定の結果から先端エコーｄ，ｅ，ｆが有る
ことを確認して欠陥３１であると評価する。このことに
より、基本探傷だけを行う場合に比べて、更に確実に欠
陥３１を評価することができる。

【００４３】なお、上記の直射法測定Ａ、直射法測定Ｂ
及び透過法測定に基づく基本的な欠陥評価や、端部エコ
ー法測定Ａ、端部エコー法測定Ｂ及び透過法測定に基づ
く欠陥評価は、作業員がこれらの測定結果を見て行う
が、必ずしもこれに限定するものではなく、これらの測
定結果を何らかの信号処理手段により信号処理すること
によって行うようにしてもよい。

【００４４】

【発明の効果】以上、発明の実施の形態とともに具体的
に説明したように、第１発明の超音波プローブは、一方
の探触子から被検体へ入射した超音波が被検体の底面で
反射して底面エコーが発生し、この底面エコーが他方の
探触子へと戻ってくるように配設した一対の探触子を備
えてなることを特徴とする。

【００４５】従って、この第１発明の超音波プローブに
よれば、透過法による測定を行うことができるため、傾
いた欠陥も検出することができる。また、透過法測定で
けでなく直射法測定も同時に行うことができるため、探
傷精度が向上し、また、探傷時間の短縮を図ることもで
きる。

【００４６】また、第２発明の超音波プローブは、第１
発明の超音波プローブにおいて、一対の探触子をそれぞ
れ個別の弾性体の弾性力により被検体の表面に押し付け
て、これら一対の探触子がそれぞれ個別に被検体の表面
に倣うように構成したことを特徴とする。

【００４７】従って、この第２発明の超音波プローブに
よれば、探触子の浮きを防止することができるため、探
傷性能が向上する。

【００４８】また、第３発明の欠陥評価方法は、第１又
は第２発明の超音波プローブを用いることにより、被検
体の同一箇所に対して、一方の探触子から被検体へ超音
波を入射して、この超音波のエコーを一方の探触子で受
信する第１の直射法測定と、他方の探触子から被検体へ
超音波を入射して、この超音波のエコーを他方の探触子
で受信する第２の直射法測定と、一方の探触子から被検
体へ超音波を入射して、この超音波の透過エコーを他方
の探触子で受信する透過法測定とを行い、第１の直射法
測定及び第２の直射法測定の結果から何れもコーナエコ
ーが有ることを確認し、且つ、透過法測定の結果から透
過エコーが無いことを確認したときには、欠陥であると
評価することを特徴とする。

【００４９】従って、この第３発明の欠陥評価方法によ
れば、第１の直射法測定と第２の直射法測定と透過法測
定の３通りの結果に基づいて欠陥評価を評価を行うた
め、精度の高い欠陥評価を行うことができる。更には、
探傷時間の短縮を図ることもできる。

【００５０】また、第４発明の欠陥評価方法は、第３発
明の欠陥評価方法において、第１の直射法測定及び第２
の直射法測定の結果から何れもコーナエコーが無いこと
を確認し、且つ、透過法測定の結果からも透過エコーが
無いことを確認したときには、傾いた欠陥であると評価
することを特徴とする。

【００５１】従って、この第４発明の欠陥評価方法によ
れば、傾いた欠陥の評価を行うこともでき、また、第１
の直射法測定と第２の直射法測定と透過法測定の３通り
の結果に基づいて欠陥評価を評価を行うため、精度の高
い欠陥評価を行うことができる。

【００５２】また、第５発明の欠陥評価方法は、第４発
明の欠陥評価方法において、第１の直射法測定及び第２
の直射法測定の結果から何れもコーナエコーが無いこと
を確認し、且つ、透過法測定の結果からも透過エコーが
無いことを確認した際に、第１の直射法測定及び第２の
直射法測定の結果から送信波に乱れがないことを確認し
たときには、傾いた欠陥であると評価することを特徴と
する。

【００５３】従って、この第５発明の欠陥評価方法によ
れば、より確実に傾いた欠陥の評価を行うことができ
る。

【００５４】また、第６発明の欠陥評価方法は、第３，
第４又は第５発明の欠陥評価方法において、第１の直射
法測定又は第２の直射法測定の結果からコーナエコーが
有ることを確認したとき、このコーナエコーが斜め方向
に流れているかどうかによって、欠陥か否かを識別する
ことを特徴とする。

【００５５】従って、この第６発明の欠陥評価方法によ
れば、欠陥エコーと疑似エコーの識別を行うことができ
る。

【００５６】また、第７発明の欠陥評価方法は、第３，
第４，第５又は第６発明の欠陥評価方法において、測定
感度を上げることにより、端部エコー法又はＴＯＦＤ法
による測定も行い、その結果から先端エコーが有ること
を確認して欠陥であると評価することを特徴とする。

【００５７】従って、この第７発明の欠陥評価方法によ
れば、上記のような基本探傷だけを行う場合に比べて、
更に確実に欠陥を評価することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】（ａ）は本発明の実施の形態に係る超音波プロ
ーブをキャノピーシール部に装着した状態を示す平面
図、（ｂ）は本発明の実施の形態に係る超音波プローブ
をキャノピーシール部に装着した状態を示す斜視図であ
る。

【図２】（ａ）は前記超音波プローブの探触子を抽出し
て示す平面図、（ｂ）は前記超音波プローブの探触子を
抽出して示す側面図である。

【図３】前記超音波プローブの構成を詳細に示す断面図
である。

【図４】前記超音波プローブの構成を詳細に示す分解斜
視図である。

【図５】図５は前記超音波プローブを用いた直射法及び
透過法による欠陥測定の説明図である。

【図６】前記超音波プローブを用いた透過法による傾斜
欠陥測定の説明図である。

【図７】前記直射法及び透過法による欠陥測定の結果を
示す説明図である。

【図８】前記超音波プローブを用いた端部エコー法及び
ＴＯＦＤ法による欠陥測定の説明図である。

【図９】前記端部エコー法及びＴＯＦＤ法による欠陥測
定の結果を示す説明図である。

【図１０】原子炉容器の上蓋部の構成図である。

【図１１】図１０のＡ部拡大断面図である。

【図１２】キャノピーシール部の平面図である。

【図１３】図１１のＣ部（キャノピーシール部）の拡大
断面図である。

【図１４】キャノピーシール部の検査状況を示す説明図
である。

【図１５】従来の超音波プローブの問題点を示す説明図
である。

【符号の説明】

１１ 超音波プローブ １２ 探触子 １３ 探触子 ２１ ケーシング ２２ ケーシング蓋 ２３ 切り欠き部 ２４ ガイドチューブ ２５ ケーブル ２６ 超音波探傷器 ２７ コイルばね ２８ 切り欠き部 ２９ 突部 ３０ ホルダー

フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G047 AA06 AB07 AC02 BA01 BA03 BC09 EA10 GA06 2G075 CA04 DA16 FA16 FA20 FB16 FB20

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 一方の探触子から被検体へ入射した超音
   波が被検体の底面で反射して底面エコーが発生し、この
   底面エコーが他方の探触子へと戻ってくるように配設し
   た一対の探触子を備えてなることを特徴とする超音波プ
   ローブ。
2. 【請求項２】 請求項１に記載する超音波プローブにお
   いて、 一対の探触子をそれぞれ個別の弾性体の弾性力により被
   検体の表面に押し付けて、これら一対の探触子がそれぞ
   れ個別に被検体の表面に倣うように構成したことを特徴
   とする超音波プローブ。
3. 【請求項３】 請求項１又は２に記載する超音波プロー
   ブを用いることにより、被検体の同一箇所に対して、 一方の探触子から被検体へ超音波を入射して、この超音
   波のエコーを一方の探触子で受信する第１の直射法測定
   と、 他方の探触子から被検体へ超音波を入射して、この超音
   波のエコーを他方の探触子で受信する第２の直射法測定
   と、 一方の探触子から被検体へ超音波を入射して、この超音
   波の透過エコーを他方の探触子で受信する透過法測定と
   を行い、 第１の直射法測定及び第２の直射法測定の結果から何れ
   もコーナエコーが有ることを確認し、且つ、透過法測定
   の結果から透過エコーが無いことを確認したときには、
   欠陥であると評価することを特徴とする欠陥評価方法。
4. 【請求項４】 請求項３に記載する欠陥評価方法におい
   て、 第１の直射法測定及び第２の直射法測定の結果から何れ
   もコーナエコーが無いことを確認し、且つ、透過法測定
   の結果からも透過エコーが無いことを確認したときに
   は、傾いた欠陥であると評価することを特徴とする欠陥
   評価方法。
5. 【請求項５】 請求項４に記載する欠陥評価方法におい
   て、 第１の直射法測定及び第２の直射法測定の結果から何れ
   もコーナエコーが無いことを確認し、且つ、透過法測定
   の結果からも透過エコーが無いことを確認した際に、 第１の直射法測定及び第２の直射法測定の結果から送信
   波に乱れがないことも確認して、傾いた欠陥であると評
   価することを特徴とする欠陥評価方法。
6. 【請求項６】 請求項３，４又は５に記載する欠陥評価
   方法において、 第１の直射法測定又は第２の直射法測定の結果からコー
   ナエコーが有ることを確認したとき、このコーナエコー
   が斜め方向に流れているかどうかによって、欠陥か否か
   を識別することを特徴とする欠陥評価方法。
7. 【請求項７】 請求項３，４，５又は６に記載する欠陥
   評価方法において、 測定感度を上げることにより、端部エコー法又はＴＯＦ
   Ｄ法による測定も行い、その結果から先端エコーが有る
   ことを確認して欠陥であると評価することを特徴とする
   欠陥評価方法。