JP2001516011A - 大規模な高速の、多重化された光ファイバセンサネットワーク - Google Patents
大規模な高速の、多重化された光ファイバセンサネットワークInfo
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- 239000000835 fiber Substances 0.000 title claims abstract description 109
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 17
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 claims abstract description 10
- 230000004044 response Effects 0.000 claims abstract description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 11
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 230000005484 gravity Effects 0.000 claims description 5
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 4
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 3
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 claims 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 19
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 9
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 9
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 4
- 230000009471 action Effects 0.000 description 3
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000001444 catalytic combustion detection Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 206010003591 Ataxia Diseases 0.000 description 1
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010010947 Coordination abnormal Diseases 0.000 description 1
- 102100022116 F-box only protein 2 Human genes 0.000 description 1
- 101000824158 Homo sapiens F-box only protein 2 Proteins 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 1
- 230000003466 anti-cipated effect Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 230000002301 combined effect Effects 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000001010 compromised effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000008014 freezing Effects 0.000 description 1
- 238000007710 freezing Methods 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000017 hydrogel Substances 0.000 description 1
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 208000028756 lack of coordination Diseases 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 description 1
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 238000004886 process control Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 238000010561 standard procedure Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
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- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/02—Optical fibres with cladding with or without a coating
- G02B6/02057—Optical fibres with cladding with or without a coating comprising gratings
- G02B6/02076—Refractive index modulation gratings, e.g. Bragg gratings
- G02B6/02195—Refractive index modulation gratings, e.g. Bragg gratings characterised by means for tuning the grating
- G02B6/022—Refractive index modulation gratings, e.g. Bragg gratings characterised by means for tuning the grating using mechanical stress, e.g. tuning by compression or elongation, special geometrical shapes such as "dog-bone" or taper
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- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/16—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
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- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/353—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells influencing the transmission properties of an optical fibre
- G01D5/35383—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells influencing the transmission properties of an optical fibre using multiple sensor devices using multiplexing techniques
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
- G01J3/1895—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating using fiber Bragg gratings or gratings integrated in a waveguide
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- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/02—Optical fibres with cladding with or without a coating
- G02B6/02057—Optical fibres with cladding with or without a coating comprising gratings
- G02B6/02076—Refractive index modulation gratings, e.g. Bragg gratings
- G02B6/02171—Refractive index modulation gratings, e.g. Bragg gratings characterised by means for compensating environmentally induced changes
- G02B6/02176—Refractive index modulation gratings, e.g. Bragg gratings characterised by means for compensating environmentally induced changes due to temperature fluctuations
- G02B6/0218—Refractive index modulation gratings, e.g. Bragg gratings characterised by means for compensating environmentally induced changes due to temperature fluctuations using mounting means, e.g. by using a combination of materials having different thermal expansion coefficients
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Abstract
(57)【要約】
ファイバ・ブラッグ格子センサを多重化するためのディジタル式空間および波長領域システムは、各々が複数個のファイバブラッグ格子を内蔵していて、各ファイバブラッグ格子は、ひずみに応じた対応する中心波長で光を反射または透過するための、ひずみに応じて変化する選択的な中心波長と、ファイバブラッグ格子に広帯域の光(110)を照射する手段と、光を選択された位置に伝搬するための各光ファイバのための手段と、各ファイバの選択された位置および波長分離された光が各光ファイバ内の各ファイバブラッグ格子に空間的に独立した信号を供給するように、各々のファイバからの光に応答して、各ファイバの位置に応じて各々の前記ファイバを中心波長に波長分離するための波長分散装置(136)とを備える。
Description
【発明の詳細な説明】発明の背景 本発明は信号を多重化する方法および装置に関する。本発明は特に、ランダム
アクセス二次元撮像装置に光学的に結合された分散装置と、かつサブピクセル補
間のためのソフトウェアとを使用した、空間および波長領域で光信号を多重分離
するための方法および装置に関する。
アクセス二次元撮像装置に光学的に結合された分散装置と、かつサブピクセル補
間のためのソフトウェアとを使用した、空間および波長領域で光信号を多重分離
するための方法および装置に関する。
【0001】 光ファイバセンサシステムは、センサ当たりのコストを低減し、それによって
このようなシステムの競争力を高めるために、光源および処理用の電子機器を共
用できる多重化技術を使用している。加えて、構成部品の共用によってシステム
の総重量の軽量化に役立ち、頑丈さが増す。空間、波長、周波数および可干渉性
領域の多重化を含む多様な多重化技術が公知である。しかし、速度、クロストー
ク、信号/ノイズ比および波長の帯域幅を含む様々な要因によって、これらのど
の技術の多重化能力も一般に約10個のセンサに制限される。あるシステムは多
重化能力を高めるために2つ、またはそれ以上の技術を利用している。特に空間
領域多重化は他の技術と組合わせることが有利であるが、その理由は一般に、そ
うしてもシステム性能が劣化しないからである。
このようなシステムの競争力を高めるために、光源および処理用の電子機器を共
用できる多重化技術を使用している。加えて、構成部品の共用によってシステム
の総重量の軽量化に役立ち、頑丈さが増す。空間、波長、周波数および可干渉性
領域の多重化を含む多様な多重化技術が公知である。しかし、速度、クロストー
ク、信号/ノイズ比および波長の帯域幅を含む様々な要因によって、これらのど
の技術の多重化能力も一般に約10個のセンサに制限される。あるシステムは多
重化能力を高めるために2つ、またはそれ以上の技術を利用している。特に空間
領域多重化は他の技術と組合わせることが有利であるが、その理由は一般に、そ
うしてもシステム性能が劣化しないからである。
【0002】 光ファイバブラッグ格子(FBG)は利用できる光ファイバセンサのなかで最
も成功したものの1つになっている。これらの装置は一般にコンパクトで、完全
な波長符号化がなされ、大量生産の可能性を有している。センサ信号は光強度の
符号化ではなく、波長符号化したものである。従って、検出された信号は光源の
出力変化と、システム損失に左右されない。加えて、FBGセンサのアレイは、
異なる中心波長を有する幾つかのFBGをファイバに沿って接続することにより
容易に製造できる。各FBGは、波長領域内での波長多重化を利用して個々にア
ドレス指定できる。しかし、広帯域光源の光ファイバは制限された帯域幅しか有
していないので、波長領域自体には比較的少数のFBGしか収容できない。従っ
て、システムの能力を高めるために、複合された多重化技術を利用することが望
ましい。
も成功したものの1つになっている。これらの装置は一般にコンパクトで、完全
な波長符号化がなされ、大量生産の可能性を有している。センサ信号は光強度の
符号化ではなく、波長符号化したものである。従って、検出された信号は光源の
出力変化と、システム損失に左右されない。加えて、FBGセンサのアレイは、
異なる中心波長を有する幾つかのFBGをファイバに沿って接続することにより
容易に製造できる。各FBGは、波長領域内での波長多重化を利用して個々にア
ドレス指定できる。しかし、広帯域光源の光ファイバは制限された帯域幅しか有
していないので、波長領域自体には比較的少数のFBGしか収容できない。従っ
て、システムの能力を高めるために、複合された多重化技術を利用することが望
ましい。
【0003】 従来の空間多重化技術として、センサを多くのファイバチャネルに割り当て、
各チャネルごとに別個の電子信号処理ユニットを使用する構成が提供されている
。このようなシステムは、空間多重化の特殊な場合として光ファイバスイッチを
使用することで、複数のファイバチャネルが単一の処理ユニットを共用できるよ
うに改良可能である。しかし、各センサのサンプリング速度により測定されるシ
ステムの速度は、例えば1Hzのサンプリング速度で60個のFBGのように光
学スイッチにより著しく低下する。航空宇宙構造の監視、プロセス制御、大量デ
ータ収集のような用途では、より高い多重化能力が必要であり、特により高いサ
ンプリング速度が望ましい。
各チャネルごとに別個の電子信号処理ユニットを使用する構成が提供されている
。このようなシステムは、空間多重化の特殊な場合として光ファイバスイッチを
使用することで、複数のファイバチャネルが単一の処理ユニットを共用できるよ
うに改良可能である。しかし、各センサのサンプリング速度により測定されるシ
ステムの速度は、例えば1Hzのサンプリング速度で60個のFBGのように光
学スイッチにより著しく低下する。航空宇宙構造の監視、プロセス制御、大量デ
ータ収集のような用途では、より高い多重化能力が必要であり、特により高いサ
ンプリング速度が望ましい。
【0004】 多数のファイバチャネルを使用し、処理ユニットを共用しているディジタル式
の空間および波長領域多重化技術は本発明者らによって既に報告されている。複
数のFBGを使用した単一チャネルシステムは分散装置および線走査カメラを利
用している。このシステムは単一領域の装置であり、一次元に制限されているの
で、制限された数のセンサしかアドレス指定できない。発明の概要 本発明は前述の従来の機構の欠点と制約を克服し、取り除くことを目的として
いる。本発明は特に、一方の軸上の複数のファイバチャネルと、他方の軸に沿っ
たFBG波長とを区別するために、分散装置と二次元(2D)画像センサとを使
用した波長および空間多重化がなされる大規模な高速の光ファイバセンサネット
ワークを備えることができるという発見に基づいている。例示的な1つの実施例
はランダムアクセス二次元撮像装置と、解像度を高めるためのサブピクセル補間
アルゴリズムとを利用している。
の空間および波長領域多重化技術は本発明者らによって既に報告されている。複
数のFBGを使用した単一チャネルシステムは分散装置および線走査カメラを利
用している。このシステムは単一領域の装置であり、一次元に制限されているの
で、制限された数のセンサしかアドレス指定できない。発明の概要 本発明は前述の従来の機構の欠点と制約を克服し、取り除くことを目的として
いる。本発明は特に、一方の軸上の複数のファイバチャネルと、他方の軸に沿っ
たFBG波長とを区別するために、分散装置と二次元(2D)画像センサとを使
用した波長および空間多重化がなされる大規模な高速の光ファイバセンサネット
ワークを備えることができるという発見に基づいている。例示的な1つの実施例
はランダムアクセス二次元撮像装置と、解像度を高めるためのサブピクセル補間
アルゴリズムとを利用している。
【0005】 例示的な1つの実施例では、本発明は広帯域光源と、ファイバチャネルに沿っ
たファイバブラッグ格子(FBG)を各々が含んでいるファイバチャネルに、光
源を配分するためのカップラとを備えている。各ファイバ内のFBGは各々が異
なる中心波長を有し、各FBGからの反射信号はダウンリードファイバによって
伝搬される。ダウンリードファイバは波長選択分散装置の入力ポートで一次元ア
レイの線に沿って配列されている。反射光は、分散装置を通過する。この分散装
置は、波長によって反射光を分離し、光を二次元固体画像センサへと向ける。こ
の例示的な実施例では、二次元センサは、それによってデータ収集速度が高めら
れるランダムアクセス装置である。解像度を高めるためにサブピクセル補間アル
ゴリズムが用いられる。
たファイバブラッグ格子(FBG)を各々が含んでいるファイバチャネルに、光
源を配分するためのカップラとを備えている。各ファイバ内のFBGは各々が異
なる中心波長を有し、各FBGからの反射信号はダウンリードファイバによって
伝搬される。ダウンリードファイバは波長選択分散装置の入力ポートで一次元ア
レイの線に沿って配列されている。反射光は、分散装置を通過する。この分散装
置は、波長によって反射光を分離し、光を二次元固体画像センサへと向ける。こ
の例示的な実施例では、二次元センサは、それによってデータ収集速度が高めら
れるランダムアクセス装置である。解像度を高めるためにサブピクセル補間アル
ゴリズムが用いられる。
【0006】 別の実施例では、波長選択分散装置、二次元ランダムアクセス撮像装置および
インライン光ファイバ入力アレイをモジュールとして組合わせてもよい。広帯域
光源と、多数のファイバチャネルに配分するためのカップラを別のモジュールと
してもよい。これらのモジュールは別個に動作してもよく、単一のユニットに組
み合わさって動作してもしてもよい。
インライン光ファイバ入力アレイをモジュールとして組合わせてもよい。広帯域
光源と、多数のファイバチャネルに配分するためのカップラを別のモジュールと
してもよい。これらのモジュールは別個に動作してもよく、単一のユニットに組
み合わさって動作してもしてもよい。
【0007】 FBGセンサは一般に温度とひずみの双方に敏感である。本発明により、FB
Gアレイは温度とひずみ感度を組合わせて製造してもよく、別個に製造してもよ
い。FBGアレイはまた、ひずみ測定に容易に用いることのできる物理的特性を
検出するようにしてもよい。発明の説明 図1は、複数個のFBGセンサ16−1...16−mを有するチャネル14
−1,…,14−nの光ファイバアレイ12が出力18−1,…,18−nを発
生する、本発明の動作原理を一般的に示している。各出力中の光はそれぞれのF
BG16−1,…,16−mの中心波長に対応する選択された波長を中心とする
複数の離散波長を含む信号である。光ファイバチャネル14−1,…,14−n
は並置され、図1Aに示すように線Lに沿って空間的に分離されて配置されてい
る。同様に空間的に分離された光出力18−1,…,18−nは分散装置20へ
と向けられ、この分散装置は各ファイバごとの信号を波長分離された複数の信号
22−1,…,22−mへと分離し、これらの信号は二次元画像センサ24へと
向けられ、そこでスポット25−1,…,25−nを形成する。
Gアレイは温度とひずみ感度を組合わせて製造してもよく、別個に製造してもよ
い。FBGアレイはまた、ひずみ測定に容易に用いることのできる物理的特性を
検出するようにしてもよい。発明の説明 図1は、複数個のFBGセンサ16−1...16−mを有するチャネル14
−1,…,14−nの光ファイバアレイ12が出力18−1,…,18−nを発
生する、本発明の動作原理を一般的に示している。各出力中の光はそれぞれのF
BG16−1,…,16−mの中心波長に対応する選択された波長を中心とする
複数の離散波長を含む信号である。光ファイバチャネル14−1,…,14−n
は並置され、図1Aに示すように線Lに沿って空間的に分離されて配置されてい
る。同様に空間的に分離された光出力18−1,…,18−nは分散装置20へ
と向けられ、この分散装置は各ファイバごとの信号を波長分離された複数の信号
22−1,…,22−mへと分離し、これらの信号は二次元画像センサ24へと
向けられ、そこでスポット25−1,…,25−nを形成する。
【0008】 センサ24は内部にkの列26とjの行28のピクセル30が形成された二次
元(2D)画像センサ24であるが、k及びjはmおよびnよりもかなり大きい
ので、スポット25はピクセル30の集合(クラスタ)内に入る。図1Bに示す
ように、各チャネル内の波長分離されたスポット25−1,…,25−nは多か
れ少なかれ画像センサ24の様々な列26−1,…,26−m内に入り、アレイ
12内の最初の光ファイバチャネル14−1の位置に対応する行28−1に沿っ
たピクセル30のクラスタをカバーする。同様にして、行28−2,…,28−
nはそれぞれの光ファイバチャネル14−2,…,14−nの位置とそれぞれ対
応する。列26は波長を表している。例えば、信号18−1はFBGの数に対応
する波長22−1,…,22−mへと分解され、図示のようにピクセル30のク
ラスタをカバーする列26−1,…,26−mの近傍にスポットを形成する。セ
ンサ24上の各々の一意的なピクセル座標(xj,yk)は、光ファイバアレイ
12によって伝搬される対応する信号に関する情報を提供し、各スポット25の
下のピクセル30に入射する光の重み付き中心はその波長のメンバ(member)で
あり、ひいてはひずみの測定値を提供する。
元(2D)画像センサ24であるが、k及びjはmおよびnよりもかなり大きい
ので、スポット25はピクセル30の集合(クラスタ)内に入る。図1Bに示す
ように、各チャネル内の波長分離されたスポット25−1,…,25−nは多か
れ少なかれ画像センサ24の様々な列26−1,…,26−m内に入り、アレイ
12内の最初の光ファイバチャネル14−1の位置に対応する行28−1に沿っ
たピクセル30のクラスタをカバーする。同様にして、行28−2,…,28−
nはそれぞれの光ファイバチャネル14−2,…,14−nの位置とそれぞれ対
応する。列26は波長を表している。例えば、信号18−1はFBGの数に対応
する波長22−1,…,22−mへと分解され、図示のようにピクセル30のク
ラスタをカバーする列26−1,…,26−mの近傍にスポットを形成する。セ
ンサ24上の各々の一意的なピクセル座標(xj,yk)は、光ファイバアレイ
12によって伝搬される対応する信号に関する情報を提供し、各スポット25の
下のピクセル30に入射する光の重み付き中心はその波長のメンバ(member)で
あり、ひいてはひずみの測定値を提供する。
【0009】 図1、図1Bおよび図1Cに示した本発明の例示的な実施例では、センサ24
はCMOS撮像装置などのランダムにアクセス可能な装置でよく、それによって
、撮像装置全体で各ピクセルを順次走査する必要があるシステムとは異なり、選
択された任意のピクセル30(xj,yk)またはピクセルのクラスタをランダ
ムにアドレス指定し、読出すことができる。
はCMOS撮像装置などのランダムにアクセス可能な装置でよく、それによって
、撮像装置全体で各ピクセルを順次走査する必要があるシステムとは異なり、選
択された任意のピクセル30(xj,yk)またはピクセルのクラスタをランダ
ムにアドレス指定し、読出すことができる。
【0010】 図1Bおよび図1Cに示すように、光信号22−1,…,22−mは図示のよ
うに行と列に沿って、多少のピクセルクラスタ30をカバーする画像センサ24
上のスポット25として現れる。プログラムされたコンピュータまたはマイクロ
プロセッサ36によって適切に駆動されるドライバ装置34は、スポット位置ま
たはその近傍に位置するピクセルクラスタ30を選択的にアドレス指定すること
によって、センサのx、y座標から選択的にデータを読み取る。対応する近傍の
ピクセルクラスタ30の各々に対するスポット25の位置に関する情報を処理し
て、ピクセルアレイ内のスポット30の(xj,yk)における精密な中心位置
、すなわち重心38を判定することができる。スポット25の位置はサブピクセ
ル補間によって精密に判定できる。例示的な1つの実施例では、図1Bおよび図
1Cで十字として示された重心38は、スポット25の下で照射されるピクセル
の重み付き平均である。公知のアルゴリズムを用いたサブピクセル補間の技術に
よって、サブピクセルレベルでの解像が可能になり、ひいてはひずみが高い精度
で測定される。重心補間技術は、ピクセル30上のスポット25の重み付き平均
を表す重心38を決定する。図1Dは、図1C用の重心補間をグラフで示してい
る。他のアルゴリズムとしては、曲線の当てはめや、一次または高次の補間が挙
げられる。
うに行と列に沿って、多少のピクセルクラスタ30をカバーする画像センサ24
上のスポット25として現れる。プログラムされたコンピュータまたはマイクロ
プロセッサ36によって適切に駆動されるドライバ装置34は、スポット位置ま
たはその近傍に位置するピクセルクラスタ30を選択的にアドレス指定すること
によって、センサのx、y座標から選択的にデータを読み取る。対応する近傍の
ピクセルクラスタ30の各々に対するスポット25の位置に関する情報を処理し
て、ピクセルアレイ内のスポット30の(xj,yk)における精密な中心位置
、すなわち重心38を判定することができる。スポット25の位置はサブピクセ
ル補間によって精密に判定できる。例示的な1つの実施例では、図1Bおよび図
1Cで十字として示された重心38は、スポット25の下で照射されるピクセル
の重み付き平均である。公知のアルゴリズムを用いたサブピクセル補間の技術に
よって、サブピクセルレベルでの解像が可能になり、ひいてはひずみが高い精度
で測定される。重心補間技術は、ピクセル30上のスポット25の重み付き平均
を表す重心38を決定する。図1Dは、図1C用の重心補間をグラフで示してい
る。他のアルゴリズムとしては、曲線の当てはめや、一次または高次の補間が挙
げられる。
【0011】 本発明により、光18−1,…,18−1nを構成する様々な成分の波長は測
定されたパラメータを表している。例えば、図1Eはm個のファイバブラッグ格
子16−1,…,16−1mを有する光ファイバ40に結合された広帯域光源S
を示している。各々がコア42の屈折率の変化として発生した対応ピッチΛ−1
,…,Λ−mを有している。ピッチはピッチΛ−1,…,Λ−mにそれぞれ比例
する対応する中心波長λ−1,…,λ−mに関連している。FBG16−1,…
,16−m上のひずみが変化すると、ピッチΛ−1,…,Λ−mも同様に変化し
て、対応する反射された信号22−1,…,22−nの中心波長もそれに応じて
変化する。波長の変化は、FBGのピッチの変化に対応するセンサ内のスポット
の位置の僅かなシフトとして反映される。温度もピッチを、ひいては波長を変化
させることが理解されよう。
定されたパラメータを表している。例えば、図1Eはm個のファイバブラッグ格
子16−1,…,16−1mを有する光ファイバ40に結合された広帯域光源S
を示している。各々がコア42の屈折率の変化として発生した対応ピッチΛ−1
,…,Λ−mを有している。ピッチはピッチΛ−1,…,Λ−mにそれぞれ比例
する対応する中心波長λ−1,…,λ−mに関連している。FBG16−1,…
,16−m上のひずみが変化すると、ピッチΛ−1,…,Λ−mも同様に変化し
て、対応する反射された信号22−1,…,22−nの中心波長もそれに応じて
変化する。波長の変化は、FBGのピッチの変化に対応するセンサ内のスポット
の位置の僅かなシフトとして反映される。温度もピッチを、ひいては波長を変化
させることが理解されよう。
【0012】 複数のFBG16−1,…,16−mがファイバ40のコア42内に形成され
ると、複数の信号を伝搬するために同じファイバを使用して多数のパラメータを
検出できる。勿論、前述したように課題は、本発明の多重化技術を利用して様々
に反射された信号22−1,…,22−nを分離することにある。波長が変化す
ると、分散装置20によってひずみの増減の表示に対応する波長分離信号の列位
置がシフトする。このようにしてセンサ24上の各行28−1,…,28−n内
のスポット25−1,…,25−mごとに、一意的なひずみ測定値が得られる。
ると、複数の信号を伝搬するために同じファイバを使用して多数のパラメータを
検出できる。勿論、前述したように課題は、本発明の多重化技術を利用して様々
に反射された信号22−1,…,22−nを分離することにある。波長が変化す
ると、分散装置20によってひずみの増減の表示に対応する波長分離信号の列位
置がシフトする。このようにしてセンサ24上の各行28−1,…,28−n内
のスポット25−1,…,25−mごとに、一意的なひずみ測定値が得られる。
【0013】 図2は本発明による大規模な高速の、光ファイバセンサネットワーク100の
例示的な実施例をさらに詳細に示している。このシステムは広帯域の光源110
を含んでいる。光源からの光はリードファイバ114によって星形カップラ11
6に結合される。その光は分割され、各チャネルに1つずつの複数個の単一モー
ドファイバ118−1,…,118−nに送られる。各ファイバは複数個のファ
イバブラッグ格子(FBG)120−1,…,120−mを有しており、その各
々が所定の異なる中心波長λ1,…,λmをそれぞれ有している。図示した機構
では、各ファイバの端部は補償温度センサ122−1,…,122−nを有して
いる。各チャネル内でFBGによって反射される光は各チャネル内のカップラ1
26−1,…,126−nによってダウンリードファイバ125−1,…,12
5−nに結合される。ファイバ118の自由端128−1,…,128−nは線
Lに沿って直線的なファイバ束のアレイ129に配列されている。例えば、ファ
イバが線Lに沿って並置されている図1Aのファイバアレイ12の端面図を参照
されたい。対応する各々のファイバ端部からの出力光130−1,…,130−
nは、図示のような反射面上で溝付きの格子138で形成されたミラーレンズ1
36を含む分散ユニット134に向けられる。格子内の溝140はファイバの端
面の線Lと平行に配列されている。
例示的な実施例をさらに詳細に示している。このシステムは広帯域の光源110
を含んでいる。光源からの光はリードファイバ114によって星形カップラ11
6に結合される。その光は分割され、各チャネルに1つずつの複数個の単一モー
ドファイバ118−1,…,118−nに送られる。各ファイバは複数個のファ
イバブラッグ格子(FBG)120−1,…,120−mを有しており、その各
々が所定の異なる中心波長λ1,…,λmをそれぞれ有している。図示した機構
では、各ファイバの端部は補償温度センサ122−1,…,122−nを有して
いる。各チャネル内でFBGによって反射される光は各チャネル内のカップラ1
26−1,…,126−nによってダウンリードファイバ125−1,…,12
5−nに結合される。ファイバ118の自由端128−1,…,128−nは線
Lに沿って直線的なファイバ束のアレイ129に配列されている。例えば、ファ
イバが線Lに沿って並置されている図1Aのファイバアレイ12の端面図を参照
されたい。対応する各々のファイバ端部からの出力光130−1,…,130−
nは、図示のような反射面上で溝付きの格子138で形成されたミラーレンズ1
36を含む分散ユニット134に向けられる。格子内の溝140はファイバの端
面の線Lと平行に配列されている。
【0014】 ミラー136は、図示のような画像平面P上にファイバアレイの画像を形成す
ることができる。j×kのピクセル152を含む固体画像センサ150が図示の
ように画像平面P内に配置されている。ピクセル行154は線Lに沿ってファイ
バ端部128−1,…,128−nによって確立されるチャネルの位置に対応し
ている。ピクセル列156は対応する波長λ1−λn内のファイバ格子FBG1
,…,FBGnの数に対応している。
ることができる。j×kのピクセル152を含む固体画像センサ150が図示の
ように画像平面P内に配置されている。ピクセル行154は線Lに沿ってファイ
バ端部128−1,…,128−nによって確立されるチャネルの位置に対応し
ている。ピクセル列156は対応する波長λ1−λn内のファイバ格子FBG1
,…,FBGnの数に対応している。
【0015】 センサ150は、ピクセル列156(y軸)が格子138内の溝140と平行
であるように、またファイバの端面128−1,…,128−nの線Lと平行で
あるように位置決めされている。加えて、センサ150の表面は、ミラーレンズ
136の画像平面Pと一致している。 検出器150は、マイクロプロセッサ162によって処理されるようにインタ
ーフェース回路160に接続されている出力158を有している。格子とレンズ
は使用可能な散装置の1つであることを理解されたい。
であるように、またファイバの端面128−1,…,128−nの線Lと平行で
あるように位置決めされている。加えて、センサ150の表面は、ミラーレンズ
136の画像平面Pと一致している。 検出器150は、マイクロプロセッサ162によって処理されるようにインタ
ーフェース回路160に接続されている出力158を有している。格子とレンズ
は使用可能な散装置の1つであることを理解されたい。
【0016】 本発明により、n本のファイバチャネルおよび各ファイバに沿った異なる波長
のm個のFBGは検出器アレイ150上のスポット164のn×mのマトリクス
を形成する。マトリクス内の各列156は異なるファイバチャネル内の同じまた
は類似した波長のFBGを表し、各行は同じファイバに沿った異なるFBGを表
している。言い換えると、ファイバチャネルの空間位置は検出器のy軸に沿った
位置へと符号化され、一方、波長はx軸に沿って符号化される。従って特定のチ
ャネル内のFBGの精密な中心波長は、x軸に沿った関連スポット164の正確
な位置を見つけることによって検出することができる。測定の解像度は、分散装
置と検出器アレイの空間解像度によって左右される。スペクトル分析器の出力は
一般に、FBGベースのシステムの要件を満たすには空間解像度が低すぎるもの
とみなされている。しかし、本発明によって、多くの公知のディジタル補間アル
ゴリズムのいずれか1つを利用することで、解像度を大幅に向上させることがで
き、それによってほぼミクロのひずみに近いひずみ測定の解像度を達成すること
ができる。
のm個のFBGは検出器アレイ150上のスポット164のn×mのマトリクス
を形成する。マトリクス内の各列156は異なるファイバチャネル内の同じまた
は類似した波長のFBGを表し、各行は同じファイバに沿った異なるFBGを表
している。言い換えると、ファイバチャネルの空間位置は検出器のy軸に沿った
位置へと符号化され、一方、波長はx軸に沿って符号化される。従って特定のチ
ャネル内のFBGの精密な中心波長は、x軸に沿った関連スポット164の正確
な位置を見つけることによって検出することができる。測定の解像度は、分散装
置と検出器アレイの空間解像度によって左右される。スペクトル分析器の出力は
一般に、FBGベースのシステムの要件を満たすには空間解像度が低すぎるもの
とみなされている。しかし、本発明によって、多くの公知のディジタル補間アル
ゴリズムのいずれか1つを利用することで、解像度を大幅に向上させることがで
き、それによってほぼミクロのひずみに近いひずみ測定の解像度を達成すること
ができる。
【0017】 本発明により、FBGは通常はゲルマニウムをドーピングした(また、場合に
よってはほう素を同時にドーピングした)光ファイバを周期的な強度分布にさら
すホログラフ式、またはフェーズマスク技術を使用して製造される。これらのフ
ァイバは感光性であり、それらの屈折率は紫外線にさらされると変化することを
意味する。このような感光性のため、衝突する正弦強度分布によってファイバの
コアには正弦屈折率分布が生ずる。周期的屈折率分布の複合的効果は、「ブラッ
グ波長」として知られる極めて特殊な波長で光が反射することである。この波長
は平均屈折率η、および周期性のピッチΛによって、λB=2ηΛで予測すること
ができる。センサは、格子のピッチと屈折率の双方ともひずみと相関するという
事実を利用して、これらの格子から製造される。従って、格子上のひずみによっ
てブラッグ波長は左または右にシフトする。FBGの波長符号化される性質によ
って、光ファイバの単一の長さに沿った波長領域内で最大限に多重化される可能
性が得られる。多重化は、各々が異なるピッチΛk,k=1,2,3,…,nを 有する空間的に分離した一連のブラッグ格子を有する光ファイバを製造すること
によって達成される。従って、各々のピッチに関連して生ずるブラッグ波長はλ Bk =2ηΛk,k=1,2,3,…,nによって得られる。各FBGのひずみがな
いブラッグ波長は異なるので、各センサからの情報は波長スペクトルを吟味する
ことによって個々に判定される。例えば、格子16−2(124−2)でのひず
み場がブラッグ波長λ2と摂動して一意的に符号化される場合、他の格子に関連
するブラッグ波長は不変のままに留まる。
よってはほう素を同時にドーピングした)光ファイバを周期的な強度分布にさら
すホログラフ式、またはフェーズマスク技術を使用して製造される。これらのフ
ァイバは感光性であり、それらの屈折率は紫外線にさらされると変化することを
意味する。このような感光性のため、衝突する正弦強度分布によってファイバの
コアには正弦屈折率分布が生ずる。周期的屈折率分布の複合的効果は、「ブラッ
グ波長」として知られる極めて特殊な波長で光が反射することである。この波長
は平均屈折率η、および周期性のピッチΛによって、λB=2ηΛで予測すること
ができる。センサは、格子のピッチと屈折率の双方ともひずみと相関するという
事実を利用して、これらの格子から製造される。従って、格子上のひずみによっ
てブラッグ波長は左または右にシフトする。FBGの波長符号化される性質によ
って、光ファイバの単一の長さに沿った波長領域内で最大限に多重化される可能
性が得られる。多重化は、各々が異なるピッチΛk,k=1,2,3,…,nを 有する空間的に分離した一連のブラッグ格子を有する光ファイバを製造すること
によって達成される。従って、各々のピッチに関連して生ずるブラッグ波長はλ Bk =2ηΛk,k=1,2,3,…,nによって得られる。各FBGのひずみがな
いブラッグ波長は異なるので、各センサからの情報は波長スペクトルを吟味する
ことによって個々に判定される。例えば、格子16−2(124−2)でのひず
み場がブラッグ波長λ2と摂動して一意的に符号化される場合、他の格子に関連
するブラッグ波長は不変のままに留まる。
【0018】 FBGは、ホスト材料に取付けるかこれに埋設した場合には、引張ひずみの自
然なセンサである。しかし、FBGは関連するパラメータの変化をひずみに変換
することによって、広範な他の物理的パラメータを検出するようにすることがで
きる。例えば、水の吸収によって膨張し、ひいては湿気をひずみに変換するハイ
ドロゲル層でFBGを被覆することによって湿度を測定するためにFBGを使用
することができる。同様に、FBGは水素を吸収した後に膨張するパランジウム
層で被覆することによって水素センサになることができる。圧力検出のためのF
BGの使用は、格子を側部の空洞を有するファイバ内に形成することによって達
成される。このファイバ構造は、側圧をファイバのコアにおける軸方向ひずみへ
と変換する。格子ピッチΛと、屈折率ηの双方とも温度と共に変化するので、F
BGのブラッグ波長は約1.7pm/℃で温度によりシフトする。これによって
FBGは温度センサになる。しかし、FBGがどの測定値を検出するようにされ
ても、オリジナル信号が20Hz未満である場合は、その出力は温度補償されな
ければならない。
然なセンサである。しかし、FBGは関連するパラメータの変化をひずみに変換
することによって、広範な他の物理的パラメータを検出するようにすることがで
きる。例えば、水の吸収によって膨張し、ひいては湿気をひずみに変換するハイ
ドロゲル層でFBGを被覆することによって湿度を測定するためにFBGを使用
することができる。同様に、FBGは水素を吸収した後に膨張するパランジウム
層で被覆することによって水素センサになることができる。圧力検出のためのF
BGの使用は、格子を側部の空洞を有するファイバ内に形成することによって達
成される。このファイバ構造は、側圧をファイバのコアにおける軸方向ひずみへ
と変換する。格子ピッチΛと、屈折率ηの双方とも温度と共に変化するので、F
BGのブラッグ波長は約1.7pm/℃で温度によりシフトする。これによって
FBGは温度センサになる。しかし、FBGがどの測定値を検出するようにされ
ても、オリジナル信号が20Hz未満である場合は、その出力は温度補償されな
ければならない。
【0019】 電荷結合素子(CCD)は、固体の画像検出に広く用いられてきた。しかし、
相補的な金属酸化物半導体(CMOS)技術に基づく画像センサは、固体撮像装
置の分野ではCCDに対する主要な挑戦者になってきている。全ての固体画像セ
ンサは半導体基板上に集積された感光素子、すなわちピクセルの一次元または二
次元アレイを含む。各素子はピクセルに入射するフォトンエネルギーに応じて電
子の電荷を発生する。これらの電荷を電圧信号として読み取るために、同じ基板
上に追加の電子回路が構成される。CCDとCMOS撮像装置との主要な相違点
は、これらのフォトンにより誘起される電荷パケットが読み取られる方法である
。CCDの場合は、電荷パケットはピクセルごとのポテンシャルウェルを直列に
連結することによって出力増幅器へと移動される。その結果、CCDは特定のピ
クセルでのフォトン信号を見出すためには、アレイ全体内の全てのピクセルを読
み取らなければならない。その結果、CCD撮像装置のフレーム率はあまり速く
はなりえない。ほとんどの工業用CCDカメラの標準フレーム率は30Hzまた
は25Hzである。CMOS技術は個々に特定のピクセルにおける情報をランダ
ムにアクセスすることができ、このため、当該の領域が画像の小さい部分であり
、事象が急速過ぎて画像全体が読出されるのを待てないミサイルの追跡のような
ある種の特殊な用途には理想的である。このようにランダムにアクセスできるこ
とによって、ここに記載しているFBG識別機器の性能は大幅に増強される。
相補的な金属酸化物半導体(CMOS)技術に基づく画像センサは、固体撮像装
置の分野ではCCDに対する主要な挑戦者になってきている。全ての固体画像セ
ンサは半導体基板上に集積された感光素子、すなわちピクセルの一次元または二
次元アレイを含む。各素子はピクセルに入射するフォトンエネルギーに応じて電
子の電荷を発生する。これらの電荷を電圧信号として読み取るために、同じ基板
上に追加の電子回路が構成される。CCDとCMOS撮像装置との主要な相違点
は、これらのフォトンにより誘起される電荷パケットが読み取られる方法である
。CCDの場合は、電荷パケットはピクセルごとのポテンシャルウェルを直列に
連結することによって出力増幅器へと移動される。その結果、CCDは特定のピ
クセルでのフォトン信号を見出すためには、アレイ全体内の全てのピクセルを読
み取らなければならない。その結果、CCD撮像装置のフレーム率はあまり速く
はなりえない。ほとんどの工業用CCDカメラの標準フレーム率は30Hzまた
は25Hzである。CMOS技術は個々に特定のピクセルにおける情報をランダ
ムにアクセスすることができ、このため、当該の領域が画像の小さい部分であり
、事象が急速過ぎて画像全体が読出されるのを待てないミサイルの追跡のような
ある種の特殊な用途には理想的である。このようにランダムにアクセスできるこ
とによって、ここに記載しているFBG識別機器の性能は大幅に増強される。
【0020】 CMOS技術は、高出力のマイクロプロセッサからメモリチップにいたるVL
SI回路のほぼ90%よりも多くを製造するために使用されている半導体チップ
の製造では標準的な技術である。このため、CMOS画像センサにはCCDと比
較して重要な利点がある。すなわち、低コスト、小型化、少ない電力消費量、お
よび機能性の増強である。
SI回路のほぼ90%よりも多くを製造するために使用されている半導体チップ
の製造では標準的な技術である。このため、CMOS画像センサにはCCDと比
較して重要な利点がある。すなわち、低コスト、小型化、少ない電力消費量、お
よび機能性の増強である。
【0021】 本発明の一実施例では、CMOSランダムアクセス撮像装置は製造元がIME
Cであり、発売元がC−カムテクノロジー(C-Cam Technologies)であるFUG
A画像センサという商品名で市販されているものを用いた。FUGA15cは1
2.5u.m.ピッチの512x512平方のピクセルを有しており、9ビット
のxおよびY座標のチップを備えることによって、入力信号および出力信号の双
方に、すなわち特定のピクセルにおける8ビットのグレースケールデータの完全
なディジタル動作を得ることができる。最大ピクセル率は50mWのワット損を
伴った5MHzであり、50dBよりも大きなダイナミックレンジで光強度から
電圧への対数変換がなされる。
Cであり、発売元がC−カムテクノロジー(C-Cam Technologies)であるFUG
A画像センサという商品名で市販されているものを用いた。FUGA15cは1
2.5u.m.ピッチの512x512平方のピクセルを有しており、9ビット
のxおよびY座標のチップを備えることによって、入力信号および出力信号の双
方に、すなわち特定のピクセルにおける8ビットのグレースケールデータの完全
なディジタル動作を得ることができる。最大ピクセル率は50mWのワット損を
伴った5MHzであり、50dBよりも大きなダイナミックレンジで光強度から
電圧への対数変換がなされる。
【0022】 カリフォルニア州のフォトビット社(Photobit Inc.)は科学グレード(16 ビットのグレースケール)の、ランダムアクセスの512×512ピクセルのC
MOS撮像装置を市販する計画を有している。カリフォルニア州のNASAジェ
ット推進研究所(JPL)は2048×2048型のこのようなチップを展示し
ている。更に、電荷注入素子(CID)と呼ばれるその他の画像センサ技術もあ
り、これも潜在的にピクセルへのランダムなアクセスが可能である。512x5
12ピクセルと、16ビットのグレースケールを有する製品も展示されている。
これらの製品は、2、3年以内に市販されるものと見られる。
MOS撮像装置を市販する計画を有している。カリフォルニア州のNASAジェ
ット推進研究所(JPL)は2048×2048型のこのようなチップを展示し
ている。更に、電荷注入素子(CID)と呼ばれるその他の画像センサ技術もあ
り、これも潜在的にピクセルへのランダムなアクセスが可能である。512x5
12ピクセルと、16ビットのグレースケールを有する製品も展示されている。
これらの製品は、2、3年以内に市販されるものと見られる。
【0023】 標的追跡の用途では、画像センサ上の標定点の厳密な位置を精密に測定しなけ
ればならない。図1Cおよび図1Dに示すように、このような目標の強度プロフ
ァイルは通常は撮像装置上のピクセルのクラスタの上に拡がっている。プロファ
イルの中心をサブピクセル精度まで計算するためにこの強度分布を利用する補間
アルゴリズムは多数ある。その中でも、前述の重心アルゴリズムは、プロファイ
ルの「重心」を計算するだけであり、従って前もってプロファイルの形状を知る
必要がないので、最も成熟した、多目的な方法である。このアルゴリズムは、プ
ロファイルが安定していれば、それが非対称であっても有効である。二次元(2
D)重心方法を使用して、x座標(ピクセル行)に沿った目標の精密な位置xc
は下記のように計算される。
ればならない。図1Cおよび図1Dに示すように、このような目標の強度プロフ
ァイルは通常は撮像装置上のピクセルのクラスタの上に拡がっている。プロファ
イルの中心をサブピクセル精度まで計算するためにこの強度分布を利用する補間
アルゴリズムは多数ある。その中でも、前述の重心アルゴリズムは、プロファイ
ルの「重心」を計算するだけであり、従って前もってプロファイルの形状を知る
必要がないので、最も成熟した、多目的な方法である。このアルゴリズムは、プ
ロファイルが安定していれば、それが非対称であっても有効である。二次元(2
D)重心方法を使用して、x座標(ピクセル行)に沿った目標の精密な位置xc
は下記のように計算される。
【数1】 但しi、jは撮像装置内の特定のピクセルの列と行の数であり、gはグレースケ
ール、すなわちこのピクセルでのピクセル出力であり、全ての合計はクラスタの
境界内にある。
ール、すなわちこのピクセルでのピクセル出力であり、全ての合計はクラスタの
境界内にある。
【0024】 このアルゴリズムの精度は、強度プロファイルの安定性と形状、計算に用いら
れるピクセルクラスタのサイズおよび撮像装置のピクセルノイズと不均一性とに
よって左右される。低コストの工業用CCDカメラを使用した事前調査では1/
83のピクセル解像度が達成され、また、1/100のピクセル解像度が報告さ
れている。一般に、平均化作用によりスポットが大きいほど解像度が高くなる。
しかし、研究によれば、スポットが「最適クラスタサイズ」と呼ばれる特定のク
ラスタサイズよりも大きくなると、補間の解像度はそれ以上は高くならないこと
が判明している。勿論、(ピクセルノイズおよび不均一性に関して)撮像装置の
品質が高いほど、最適クラスタサイズは小さくなる。9ビットのグレースケール
の工業用CCDカメラの場合、最適クラスタを4×4ピクセルとしてテストされ
た。
れるピクセルクラスタのサイズおよび撮像装置のピクセルノイズと不均一性とに
よって左右される。低コストの工業用CCDカメラを使用した事前調査では1/
83のピクセル解像度が達成され、また、1/100のピクセル解像度が報告さ
れている。一般に、平均化作用によりスポットが大きいほど解像度が高くなる。
しかし、研究によれば、スポットが「最適クラスタサイズ」と呼ばれる特定のク
ラスタサイズよりも大きくなると、補間の解像度はそれ以上は高くならないこと
が判明している。勿論、(ピクセルノイズおよび不均一性に関して)撮像装置の
品質が高いほど、最適クラスタサイズは小さくなる。9ビットのグレースケール
の工業用CCDカメラの場合、最適クラスタを4×4ピクセルとしてテストされ
た。
【0025】 (ピクセルの読出しおよび計算を含む)補間の処理速度はスポットクラスタの
サイズによって左右されるので、より小さい最適クラスタが有利である。上記の
方程式により、k×kピクセルのサイズのスポットの場合、処理時間はK2にほ ぼ比例する。処理速度は、計算にピクセルを使用することによって高めることが
できる。明確な選択肢は、スポットの中心の近傍にある1行のピクセル(行j)
だけを使用し、また下記のように表される別の一次元(1D)重心アルゴリズム
を利用することである。
サイズによって左右されるので、より小さい最適クラスタが有利である。上記の
方程式により、k×kピクセルのサイズのスポットの場合、処理時間はK2にほ ぼ比例する。処理速度は、計算にピクセルを使用することによって高めることが
できる。明確な選択肢は、スポットの中心の近傍にある1行のピクセル(行j)
だけを使用し、また下記のように表される別の一次元(1D)重心アルゴリズム
を利用することである。
【数2】 勿論、それに応じて補間の解像度は低下する。
【0026】 図2に示すように、広帯域光源からの光は星型カップラによって多くの単一モ
ードファイバ(もしくは「ファイバチャネル」と呼ばれる)へと分割される。各
ファイバに沿って、予め定められた異なるブラッグ波長を有する多数のFBGが
ある。しかし、異なるファイバ上のFBGは同じ波長を有することがある。各フ
ァイバチャネル内のFBGから反射された光は1×2カップラを介してダウンリ
ードファイバに結合され、識別機器へと送られる。この機器は基本的にはコンパ
クトな、二次元(2D)光ファイバ分光計である。その構造として2つが可能で
ある。第1の構造は図2に示されている。第2の構造は図3に概略的に示されて
おり、画像センサに到達する光はFBGによって反射されるのではなくこれを通
過するので、「透過構造」と呼ばれている。双方の構造とも、2Dのランダムア
クセス画像センサが波長分散装置の出力ポートに配置されている。加えて、全て
のダウンリードファイバの端面は、入力ポートに位置する線Lを形成するように
構成されている。更に、画像センサチップは、そのピクセル列(Y軸)が分光計
内のバルク格子の溝およびファイバの端面の線と平行になるように位置決めされ
ている。撮像装置のディジタル出力はコンピュータに送られて処理される。
ードファイバ(もしくは「ファイバチャネル」と呼ばれる)へと分割される。各
ファイバに沿って、予め定められた異なるブラッグ波長を有する多数のFBGが
ある。しかし、異なるファイバ上のFBGは同じ波長を有することがある。各フ
ァイバチャネル内のFBGから反射された光は1×2カップラを介してダウンリ
ードファイバに結合され、識別機器へと送られる。この機器は基本的にはコンパ
クトな、二次元(2D)光ファイバ分光計である。その構造として2つが可能で
ある。第1の構造は図2に示されている。第2の構造は図3に概略的に示されて
おり、画像センサに到達する光はFBGによって反射されるのではなくこれを通
過するので、「透過構造」と呼ばれている。双方の構造とも、2Dのランダムア
クセス画像センサが波長分散装置の出力ポートに配置されている。加えて、全て
のダウンリードファイバの端面は、入力ポートに位置する線Lを形成するように
構成されている。更に、画像センサチップは、そのピクセル列(Y軸)が分光計
内のバルク格子の溝およびファイバの端面の線と平行になるように位置決めされ
ている。撮像装置のディジタル出力はコンピュータに送られて処理される。
【0027】 分光計の撮像系は異なるファイバからの光を分光し、それらを2D画像センサ
のピクセル列(Y軸)に沿って配分する。バルク格子分散装置の作用により、異
なる波長の光はx軸に沿った異なる方向に回折し、従って画像センサのピクセル
列に沿った異なる位置に明スポットを形成する。従って、システムがm本のファ
イバチャネルと、各ファイバに沿って異なる波長のn個のFBGとを有していれ
ば、画像センサアレイ上に離散スポットのm×nのマトリクスが存在する。マト
リクス内のこのようなスポットの列は、異なるファイバチャネル内の同じまたは
類似した波長のFBGを表し、行は同じファイバに沿った異なるFBGを表して
いる。言い換えると、ファイバチャネルの空間位置は検出器のy軸に沿った位置
へと符号化され、一方、波長はx軸に沿って符号化される。従って特定のチャネ
ル内のFBGの精密な中心波長は、撮像装置のピクセルアレイのx軸に沿った関
連スポットの正確な位置を見つけることによって検出することができる。
のピクセル列(Y軸)に沿って配分する。バルク格子分散装置の作用により、異
なる波長の光はx軸に沿った異なる方向に回折し、従って画像センサのピクセル
列に沿った異なる位置に明スポットを形成する。従って、システムがm本のファ
イバチャネルと、各ファイバに沿って異なる波長のn個のFBGとを有していれ
ば、画像センサアレイ上に離散スポットのm×nのマトリクスが存在する。マト
リクス内のこのようなスポットの列は、異なるファイバチャネル内の同じまたは
類似した波長のFBGを表し、行は同じファイバに沿った異なるFBGを表して
いる。言い換えると、ファイバチャネルの空間位置は検出器のy軸に沿った位置
へと符号化され、一方、波長はx軸に沿って符号化される。従って特定のチャネ
ル内のFBGの精密な中心波長は、撮像装置のピクセルアレイのx軸に沿った関
連スポットの正確な位置を見つけることによって検出することができる。
【0028】 CMOS撮像装置のランダムなアクセス可能性を使用するので、ネットワーク
内のどのFBGも、単に関連するピクセルだけを読出し、x軸に沿ったその重心
を計算するだけで、真にランダムにアドレス指定することができる。この独特な
特徴によって用途に大きなフレキシビリティが加わるだけではなく、システムが
その資源を効率よく活用することができ、その結果、性能が大幅に増強される。
内のどのFBGも、単に関連するピクセルだけを読出し、x軸に沿ったその重心
を計算するだけで、真にランダムにアドレス指定することができる。この独特な
特徴によって用途に大きなフレキシビリティが加わるだけではなく、システムが
その資源を効率よく活用することができ、その結果、性能が大幅に増強される。
【0029】 FBGのブラッグ波長は約1.7pm/℃で温度により変化し、830nm領
域での2με/℃の偽ひずみ信号へと移行する。望ましい信号が20Hz未満で
ある用途では、このような温度に誘発される変化を補償する必要がある。温度と
ひずみに誘発される信号を同じポイントで分離する技術は報告されているが、そ
れらの技術は精密ではないか、またはFBGをベースにしていない別のセンサを
必要とし、従って提案されているようなネットワークへと統合することは困難で
ある。最も実用的な用途は、少数の専用の温度検出ノードだけを使用して温度場
を有効に監視することができるので、スポット上での温度補償を必要としない。
図4Aに示した1つの方法は、FBGを有する1つ、または2つのファイバチャ
ネルを直径が小さい(2mm)管に緩く収納し、管を構造に取付ける方法である
。このようにして、管内のFBGは温度場によってのみ作用を受け、それらの出
力を別のFBGの温度に誘発された変化を補償するために使用することができる
。この方法は多くの用途で有効である。しかし、用途によっては、全ての検出ノ
ードをホスト構造内に埋設する必要がある。場合によっては、管を使用した方法
は直径が比較的大きく、ホスト材料との協調性がないので使用できないことがあ
る。本発明により、それが材料内に埋設された場合でもその出力が構造のひずみ
によって影響されない専用の温度センサが製造される。
域での2με/℃の偽ひずみ信号へと移行する。望ましい信号が20Hz未満で
ある用途では、このような温度に誘発される変化を補償する必要がある。温度と
ひずみに誘発される信号を同じポイントで分離する技術は報告されているが、そ
れらの技術は精密ではないか、またはFBGをベースにしていない別のセンサを
必要とし、従って提案されているようなネットワークへと統合することは困難で
ある。最も実用的な用途は、少数の専用の温度検出ノードだけを使用して温度場
を有効に監視することができるので、スポット上での温度補償を必要としない。
図4Aに示した1つの方法は、FBGを有する1つ、または2つのファイバチャ
ネルを直径が小さい(2mm)管に緩く収納し、管を構造に取付ける方法である
。このようにして、管内のFBGは温度場によってのみ作用を受け、それらの出
力を別のFBGの温度に誘発された変化を補償するために使用することができる
。この方法は多くの用途で有効である。しかし、用途によっては、全ての検出ノ
ードをホスト構造内に埋設する必要がある。場合によっては、管を使用した方法
は直径が比較的大きく、ホスト材料との協調性がないので使用できないことがあ
る。本発明により、それが材料内に埋設された場合でもその出力が構造のひずみ
によって影響されない専用の温度センサが製造される。
【0030】 図4Aに示すように、埋設可能なFBG温度センサ120は直径が80μmと
短いファイバ122上に製造されたFBGを直径が125μmのファイバ124
に接合され、それを250μmのシリカ管126内に封入することによって製造
される。80μmのファイバの自由端128は、不要なフレネル反射を低減する
ために角度を呈している。このセンサ構造によって、FBGがホスト材料内に埋
設された場合でもそれが引張ひずみを受けないことが保証される。勿論、このよ
うなセンサは各々の検出用ファイバの端部にしか配置することはできない。従っ
て、センサネットワーク内の専用の温度検出ノードは最大でn個である。
短いファイバ122上に製造されたFBGを直径が125μmのファイバ124
に接合され、それを250μmのシリカ管126内に封入することによって製造
される。80μmのファイバの自由端128は、不要なフレネル反射を低減する
ために角度を呈している。このセンサ構造によって、FBGがホスト材料内に埋
設された場合でもそれが引張ひずみを受けないことが保証される。勿論、このよ
うなセンサは各々の検出用ファイバの端部にしか配置することはできない。従っ
て、センサネットワーク内の専用の温度検出ノードは最大でn個である。
【0031】 あるいは、図4Bに示すように、インラインの温度補償されたひずみセンサ1
70を管176内に複数個のFBG174A、174Bを有するファイバ172
を充填することによって製造してもよい。FBG174Aは178の部位で管に
接着され、またはその他の手段で取付けられる。ちなみに、FBG174Bは管
内に緩く配置されている。その結果、FBG174Bの出力信号は応力を受けず
、温度に誘発されるFBG174Aの信号の変化を補償するために使用すること
ができる。
70を管176内に複数個のFBG174A、174Bを有するファイバ172
を充填することによって製造してもよい。FBG174Aは178の部位で管に
接着され、またはその他の手段で取付けられる。ちなみに、FBG174Bは管
内に緩く配置されている。その結果、FBG174Bの出力信号は応力を受けず
、温度に誘発されるFBG174Aの信号の変化を補償するために使用すること
ができる。
【0032】 バルク格子の溝の密度を適切に選択することによって、2D画像センサの幅は
光源の半値幅(FWHM)を有するスペクトル帯域をちょうどカバーすることが
できる。そこで、FBG波長の測定のスペクトル解像度△λを下記の方程式で表
すことができる。すなわち、△λ=WE/C、但しWは光源のFWHMであり、
Cは画像センサチップ内の有効ピクセル列の総数であり、Eはサブピクセル補間
解像度である。ハードウェアレベルでは、解像度はFWHMがより小さい光源と
、ピクセル列がより多数ある撮像装置とを選択することによって増強することが
できる。しかし、FWHMがより広いことによってより多くのFBGをファイバ
チャネルに沿って組込むことができるので、規模に折り合いをつける必要がある
。CMOS撮像装置はシリコンをベースにしているので、感度ピークがおよそ8
00nmである400nm、1,000nmの特性感光領域を有している。60
nmに及ぶ広さのFWHMを有する超発光ダイオード(SLD)をこの波長で利
用することができる。しかし、この領域のほとんどのSLDの典型的なFWHM
は15nmであり、より広いFWHMを有するSLDよりもかなり強力である。
光源の半値幅(FWHM)を有するスペクトル帯域をちょうどカバーすることが
できる。そこで、FBG波長の測定のスペクトル解像度△λを下記の方程式で表
すことができる。すなわち、△λ=WE/C、但しWは光源のFWHMであり、
Cは画像センサチップ内の有効ピクセル列の総数であり、Eはサブピクセル補間
解像度である。ハードウェアレベルでは、解像度はFWHMがより小さい光源と
、ピクセル列がより多数ある撮像装置とを選択することによって増強することが
できる。しかし、FWHMがより広いことによってより多くのFBGをファイバ
チャネルに沿って組込むことができるので、規模に折り合いをつける必要がある
。CMOS撮像装置はシリコンをベースにしているので、感度ピークがおよそ8
00nmである400nm、1,000nmの特性感光領域を有している。60
nmに及ぶ広さのFWHMを有する超発光ダイオード(SLD)をこの波長で利
用することができる。しかし、この領域のほとんどのSLDの典型的なFWHM
は15nmであり、より広いFWHMを有するSLDよりもかなり強力である。
【0033】 サブピクセル解像度Eとシステムの速度は、FBGによって生成される撮像装
置上の明スポットのピクセルクラスタのサイズによって折り合いが付けられる。
平均化効果によって、ピクセルクラスタが大きいほどEは向上する傾向があるが
、スポットが読み取られ、処理される速度は必然的に低下する。スポットのサイ
ズをハードウェアの設計によって選択した場合でも、前記の折り合いの平衡点は
、重心計算のためにクラスタ内のピクセルの一部だけを意図的に読み取ることに
よって、広いマージンへとシフトさせることができる。
置上の明スポットのピクセルクラスタのサイズによって折り合いが付けられる。
平均化効果によって、ピクセルクラスタが大きいほどEは向上する傾向があるが
、スポットが読み取られ、処理される速度は必然的に低下する。スポットのサイ
ズをハードウェアの設計によって選択した場合でも、前記の折り合いの平衡点は
、重心計算のためにクラスタ内のピクセルの一部だけを意図的に読み取ることに
よって、広いマージンへとシフトさせることができる。
【0034】 このシステムに適応できるFBGを使用したセンサの最大数は、単一のファイ
バチャネルに沿って多重化できるFBGの数、および識別機器によってアドレス
指定可能なファイバチャネルの数によって左右される。FBGをベースにしたセ
ンサシステムの動作原理を再び想起すると、ブラッグ波長λbのFBGはReのひ
ずみ範囲に応答してReλbのスペクトル範囲内で移動する。多くのシステムは各
FBGに、固定のスペクトル窓しか付与することができない。FBG間のクロス
トークを防止するため、これらの窓の幅は少なくともReλbでなければならない
。このように、ファイバチャネルに沿って多重化することができるFBGの数N
はN=W/(Reλb)と表すことができる(但しWは前述の場合と同様に光源の
FWHMである)。Re=6000με(3000μe)、W=38nm、およ びλb=830nmとすると、ファイバチャネルに沿って多重化できるFBGの 最大個数は7である。しかし、媒体の一次元の性質をフルに活用するには、ファ
イバに沿ったより多くのFBGセンサを多重化することが極めて望ましい。実際
には、構造上の特定位置でのひずみはある程度の精度で推定することができる。
従って、同じファイバに沿った空間的に隣接する2つのFBGの間のひずみの差
が非常に小さい範囲(△Re=1000με)を越えないように、FBGを適切 に配置することが合理的に可能である。提案されているシステムのスペクトル窓
はピクセル行に沿って柔軟にシフトさせることができるので、上記の方程式のR e を△Reで置換することができ、また、ファイバに沿って多重化可能なFBGの
数を約45まで増大することができる。
バチャネルに沿って多重化できるFBGの数、および識別機器によってアドレス
指定可能なファイバチャネルの数によって左右される。FBGをベースにしたセ
ンサシステムの動作原理を再び想起すると、ブラッグ波長λbのFBGはReのひ
ずみ範囲に応答してReλbのスペクトル範囲内で移動する。多くのシステムは各
FBGに、固定のスペクトル窓しか付与することができない。FBG間のクロス
トークを防止するため、これらの窓の幅は少なくともReλbでなければならない
。このように、ファイバチャネルに沿って多重化することができるFBGの数N
はN=W/(Reλb)と表すことができる(但しWは前述の場合と同様に光源の
FWHMである)。Re=6000με(3000μe)、W=38nm、およ びλb=830nmとすると、ファイバチャネルに沿って多重化できるFBGの 最大個数は7である。しかし、媒体の一次元の性質をフルに活用するには、ファ
イバに沿ったより多くのFBGセンサを多重化することが極めて望ましい。実際
には、構造上の特定位置でのひずみはある程度の精度で推定することができる。
従って、同じファイバに沿った空間的に隣接する2つのFBGの間のひずみの差
が非常に小さい範囲(△Re=1000με)を越えないように、FBGを適切 に配置することが合理的に可能である。提案されているシステムのスペクトル窓
はピクセル行に沿って柔軟にシフトさせることができるので、上記の方程式のR e を△Reで置換することができ、また、ファイバに沿って多重化可能なFBGの
数を約45まで増大することができる。
【0035】 システムに適応できるファイバの最大数MはM=R/(2K)と表すことがで
きる(但しRは撮像装置内の行数であり、Kはスポットクラスタのサイズである
)。FBG間のクロストークを防止するため、2行のスポット間の分離はスポッ
トのサイズの2倍に設定される。K=5で、R=512の場合、M=51である
。このことは、512×512の撮像装置を有する機器は総数でMxN=229
5個のFBGを多重化できることを意味している。
きる(但しRは撮像装置内の行数であり、Kはスポットクラスタのサイズである
)。FBG間のクロストークを防止するため、2行のスポット間の分離はスポッ
トのサイズの2倍に設定される。K=5で、R=512の場合、M=51である
。このことは、512×512の撮像装置を有する機器は総数でMxN=229
5個のFBGを多重化できることを意味している。
【0036】 アレイ内のいずれかのFBGへの最大サンプリング速度は、ピクセル上の光密
度と反比例する撮像装置の光受容体の時間定数によって制限される。メーカーが
提供するデータから、最大サンプリング速度はfmx=(d/8)×105(Hz )と表現することができる(但しdは撮像装置上の明スポット内の平均光密度で
ある)。 本発明では、上記の密度は下記のように表される。
度と反比例する撮像装置の光受容体の時間定数によって制限される。メーカーが
提供するデータから、最大サンプリング速度はfmx=(d/8)×105(Hz )と表現することができる(但しdは撮像装置上の明スポット内の平均光密度で
ある)。 本発明では、上記の密度は下記のように表される。
【0037】
【数3】 但しPは光源の全出力電力であり、wはFBGのスペクトルFWHMであり、p
はピクセルのピッチであり、eはカップラでの挿入損、バルク格子効率、および
その他の特徴を含む光学系全体の出力効率である。 15nmのFWHMで、単一モードのファイバをピグテールすると、SLDの
典型的な出力電力は400μWである。従って上記の2つの方程式を組合わせた
複合した光源の場合、PはW=38nmの波長に亘って800μWであり、w=
0.2nm、K=5、p=12.6μm、およびe=10%であると想定すると
、最大サンプリング速度はfmx=331.5/M(kHz)であると計算するこ
とができる。この方程式は最大速度と規模との折り合いを表している。最大規模
(M=51)の場合、最大サンプリング速度は6.5kHzである。
はピクセルのピッチであり、eはカップラでの挿入損、バルク格子効率、および
その他の特徴を含む光学系全体の出力効率である。 15nmのFWHMで、単一モードのファイバをピグテールすると、SLDの
典型的な出力電力は400μWである。従って上記の2つの方程式を組合わせた
複合した光源の場合、PはW=38nmの波長に亘って800μWであり、w=
0.2nm、K=5、p=12.6μm、およびe=10%であると想定すると
、最大サンプリング速度はfmx=331.5/M(kHz)であると計算するこ
とができる。この方程式は最大速度と規模との折り合いを表している。最大規模
(M=51)の場合、最大サンプリング速度は6.5kHzである。
【0038】 上記のスケールと速度の数値は最大値の例である。このシステムで実際に利用
できるスケールと速度は、システムの時間見積もりによって制約される公算が高
い。提案しているシステムの全てのFBGセンサは独立してアドレス指定される
ことができるが、それらは全て重要なシステムの資源である時間の要因を満たし
ており、これは以下の数式を用いて見積もることができる。すなわちΣfiti≦ 1(秒)である(但し添字iはネットワーク内の特定のFBGを示しており、f
はそのFBGのサンプリング速度であり、tは1つのサンプルに要する時間であ
る)。fは前述の最大サンプリング速度よりも小さくなければならないが、tは
撮像装置のピクセル率、または重心を計算するのに要する計算時間によって制限
される。データ収集と計算は並行して行われるので、双方の時間のうちの遅い方
が制限を設定する。FBGにアクセスするのに要する時間tはt=G/fpと表 すことができる(但しfpはCMOS撮像装置のピクセル読取り速度であり、G はコンピュータが重心計算のために読み取らなければならないピクセルの総数で
ある)。光スポットは撮像装置のピクセル行に沿って常に移動しているので、コ
ンピュータは関連するピクセルを読み取る前に先ずクラスタの位置を見つけなけ
ればならない。これは、必要な動作オーバヘッドである。最小限のオーバヘッド
でクラスタの位置を見つけるには多くの方法がある。最も保守的な方法は、スポ
ットの中心の近傍のピクセル行を読取り、予め設定されたしきい値でクラスタの
位置を見つける方法であろう。その場合、位置を見つけるためにコンピュータが
読み取らなければならない平均ピクセル数はR/Nである(但しRはCMOS撮
像装置内のピクセル行の数であり、Nはファイバチャネルに沿ったFBGの数で
ある)。クラスタの位置を見つけた後は、二次元の重心アルゴリズムを用いてい
る場合には、重心の計算を行う前に追加のK(K−1)のピクセルが読み取られ
なければならない。一次元の重心方法の場合は、それ以上ピクセルを読み取る必
要はない。
できるスケールと速度は、システムの時間見積もりによって制約される公算が高
い。提案しているシステムの全てのFBGセンサは独立してアドレス指定される
ことができるが、それらは全て重要なシステムの資源である時間の要因を満たし
ており、これは以下の数式を用いて見積もることができる。すなわちΣfiti≦ 1(秒)である(但し添字iはネットワーク内の特定のFBGを示しており、f
はそのFBGのサンプリング速度であり、tは1つのサンプルに要する時間であ
る)。fは前述の最大サンプリング速度よりも小さくなければならないが、tは
撮像装置のピクセル率、または重心を計算するのに要する計算時間によって制限
される。データ収集と計算は並行して行われるので、双方の時間のうちの遅い方
が制限を設定する。FBGにアクセスするのに要する時間tはt=G/fpと表 すことができる(但しfpはCMOS撮像装置のピクセル読取り速度であり、G はコンピュータが重心計算のために読み取らなければならないピクセルの総数で
ある)。光スポットは撮像装置のピクセル行に沿って常に移動しているので、コ
ンピュータは関連するピクセルを読み取る前に先ずクラスタの位置を見つけなけ
ればならない。これは、必要な動作オーバヘッドである。最小限のオーバヘッド
でクラスタの位置を見つけるには多くの方法がある。最も保守的な方法は、スポ
ットの中心の近傍のピクセル行を読取り、予め設定されたしきい値でクラスタの
位置を見つける方法であろう。その場合、位置を見つけるためにコンピュータが
読み取らなければならない平均ピクセル数はR/Nである(但しRはCMOS撮
像装置内のピクセル行の数であり、Nはファイバチャネルに沿ったFBGの数で
ある)。クラスタの位置を見つけた後は、二次元の重心アルゴリズムを用いてい
る場合には、重心の計算を行う前に追加のK(K−1)のピクセルが読み取られ
なければならない。一次元の重心方法の場合は、それ以上ピクセルを読み取る必
要はない。
【0039】 FUGA15cは5MHzのピクセル率を有しており、R=512である。N
=45で、K=5と想定すると、G=12であると計算することができ、提案し
ているシステムで1個のFBGへのアクセス時間は1Dまたは2Dの重心アルゴ
リズムを用いた場合、それぞれ2.4μ秒または6.4μ秒である。従って、セ
ンサのアクセス時間はおおよそサブピクセルの補間解像度と反比例する。
=45で、K=5と想定すると、G=12であると計算することができ、提案し
ているシステムで1個のFBGへのアクセス時間は1Dまたは2Dの重心アルゴ
リズムを用いた場合、それぞれ2.4μ秒または6.4μ秒である。従って、セ
ンサのアクセス時間はおおよそサブピクセルの補間解像度と反比例する。
【0040】 高水準言語のプログラムを用いて5×5のクラスタの重心を計算する時間はM
Mxなしのペンティアム(Pentium)200MHzのPCで約7.6μ秒である 。処理速度はプログラムの簡素化によって少なくとも4倍だけ高めることができ
ると予測される。マイクロプロセッサ技術の急速な進歩に伴い、充分な計算力を
利用することができるので、計算時間はFBGへのアクセス時間よりも大幅に低
いレベルに容易に短縮することができ、従ってシステム速度がボトルネックにな
ることはない。 これまで本発明の例示的な実施例を説明してきた。本発明から逸脱することなく
様々な変更や修正が可能であることが当業者には理解されよう。添付の請求の範
囲は、本発明の真の精神および範囲に含まれる上記の変更や修正をも網羅するの
である。
Mxなしのペンティアム(Pentium)200MHzのPCで約7.6μ秒である 。処理速度はプログラムの簡素化によって少なくとも4倍だけ高めることができ
ると予測される。マイクロプロセッサ技術の急速な進歩に伴い、充分な計算力を
利用することができるので、計算時間はFBGへのアクセス時間よりも大幅に低
いレベルに容易に短縮することができ、従ってシステム速度がボトルネックにな
ることはない。 これまで本発明の例示的な実施例を説明してきた。本発明から逸脱することなく
様々な変更や修正が可能であることが当業者には理解されよう。添付の請求の範
囲は、本発明の真の精神および範囲に含まれる上記の変更や修正をも網羅するの
である。
次に本発明を添付図面を参照して説明する。図面において、
【図1】 本発明による波長および空間領域多重化装置の概略図。
【図1A】 一次元ファイバ出力アレイの詳細図。
【図1B】 ランダムアクセス画像センサおよびドライバの概略図。
【図1C】 出力スポットおよびピクセルを示した画像センサの一部の断片図。
【図1D】 重み付きアルゴリズムを直線および対数形式で示したプロット。
【図1E】 ファイバブラッグ格子の動作の基本図。
【図2】 本発明により空間および波長領域多重化を達成するための装置のより具体的な
図。
図。
【図3】 透過型アレイを示した実施例。
【図4A】 ファイバの端部でひずみと温度が分離されたセンサの図。
【図4B】 ひずみと温度が分離されたインラインセンサの概略図。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ ,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW,ML, MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,GM,K E,LS,MW,SD,SZ,UG,ZW),EA(AM ,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU,TJ,TM) ,AL,AM,AT,AU,AZ,BA,BB,BG, BR,BY,CA,CH,CN,CU,CZ,DE,D K,EE,ES,FI,GB,GE,HU,ID,IL ,IS,JP,KE,KG,KP,KR,KZ,LC, LK,LR,LS,LT,LU,LV,MD,MG,M K,MN,MW,MX,NO,NZ,PL,PT,RO ,RU,SD,SE,SG,SI,SK,TJ,TM, TR,TT,UA,UG,US,UZ,VN,YU (72)発明者 チェン,シッピング アメリカ合衆国,メリーランド州 20770, グリーンベルト,6225 スプリングヒル コート 303 (72)発明者 フ,イークン イギリス,ロンドン エスイーアイ 6ア ールエル,ハーパー ロード,ブラムウェ ル ハウス 25 Fターム(参考) 2F065 AA17 AA65 FF48 JJ03 JJ26 LL03 LL12 LL42 MM22 UU05 UU08
Claims (19)
- 【請求項1】 ファイバブラッグ格子(FBG)センサを多重化するためのディジタル式空間
および波長領域システムであって、 各々が複数個のファイバブラッグ格子(FBG)を内蔵していて、各FBGは
ひずみに応じた中心波長で光を反射または透過するためのひずみに応じて変化す
る選択的な中心波長を有している複数個の光ファイバと、 FBGに広帯域の光を照射する手段と、 選択された位置に光を伝搬するための各光ファイバのための手段と、 各ファイバの選択された位置および波長分離された光が各光ファイバ内の各F
BGに空間的に独立した信号を供給するように、各々のファイバからの光に応答
して、各ファイバの位置に応じて各々の前記ファイバの光を中心波長に波長分離
するための波長分散装置と、 を備えるディジタル式空間および波長領域システム。 - 【請求項2】 各々が中心波長を有する複数のファイバブラッグ格子(FBG)を含んでいる
、複数個の光ファイバを備えたディジタル式空間波長領域システムであって、 各FBGを照射するための広帯域の光源を備え、 前記FBGの各々は前記ファイバに加えられる応力に応じた中心波長で光の一
部を反射するように動作可能であり、 各ファイバと結合されかつ光に応答して前記各ファイバ内の光を各FBGの対
応する波長で検出可能な信号に分離するための波長分散装置と、 検出可能な信号に空間的に応答して、信号を各波長で空間的に分離するための
出力を生成するための感光性ソリッドステート手段と、 を備えてなるディジタル式空間波長領域システム。 - 【請求項3】 前記波長分散装置はバルク格子を含む請求の範囲第2項に記載の装置。
- 【請求項4】 前記格子は、焦点面と反射面上に配置された格子とを有するミラーレンズを含
む請求の範囲第3項に記載の装置。 - 【請求項5】 前記格子は反射面に形成された平行な溝を含む請求の範囲第4項に記載の装置
。 - 【請求項6】 ファイバから前記波長分散装置へと光を伝搬するための、かつ線形アレイで位
置合わせされた出力端部を有しているファイバ手段を更に備えている請求の範囲
第2項に記載の装置。 - 【請求項7】 前記感光手段は二次元アレイに配列された複数のピクセルを含むソリッドステ
ート検出装置を含む請求の範囲第2項に記載の装置。 - 【請求項8】 ピクセルにランダムにアクセス可能である請求の範囲第7項に記載の装置。
- 【請求項9】 前記撮像装置は、二次元のピクセルアレイを含み、波長分離された光は選択さ
れたピクセル位置でアレイに投射される請求の範囲第2項に記載の装置。 - 【請求項10】 前記投射光からの光は、複数のピクセルをカバーする撮像装置上にスポットを
形成し、前記各々のピクセル内の光を検出しかつ中心波長に対応する前記スポッ
トの重心を判定するために光を重み付き平均する処理手段を更に含んでいる請求
の範囲第9項に記載の装置。 - 【請求項11】 選択された中心波長で温度校正信号を供給するために各ファイバごとに少なく
とも1つのひずみに左右されないセンサ手段を備えている請求の範囲第2項に記
載の装置。 - 【請求項12】 前記ひずみに左右されないセンサ手段は光源から離れたファイバの自由端に位
置している請求の範囲第11項に記載の装置。 - 【請求項13】 前記ひずみに左右されないセンサ手段はファイバ内に配置されている請求の範
囲第12項に記載の装置。 - 【請求項14】 重心の重み付けと、 曲線の当てはめと、 一次または高次の補間のうちの少なくとも1つに従って、各波長分離された信
号ごとに中心波長の少なくとも1つを検出する手段を更に備えている請求の範囲
第2項に記載の装置。 - 【請求項15】 光を波長分離装置へと伝搬するための手段を更に備えている請求の範囲第2項
に記載の装置。 - 【請求項16】 前記手段は各光ファイバごとのダウンリードファイバを含む請求の範囲第15
項に記載の装置。 - 【請求項17】 前記手段は光ファイバの自由端を含んでいる請求の範囲第15項に記載の装置
。 - 【請求項18】 光を各光ファイバに分配する手段を更に備えている請求の範囲第2項に記載の
装置。 - 【請求項19】 前記手段は星型カップラである請求の範囲第18項に記載の装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US5656097P | 1997-08-19 | 1997-08-19 | |
US60/056,560 | 1997-08-19 | ||
PCT/US1998/017142 WO1999009370A1 (en) | 1997-08-19 | 1998-08-19 | Large scale high speed multiplexed optical fiber sensor network |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001516011A true JP2001516011A (ja) | 2001-09-25 |
Family
ID=22005225
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000509991A Pending JP2001516011A (ja) | 1997-08-19 | 1998-08-19 | 大規模な高速の、多重化された光ファイバセンサネットワーク |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6492636B1 (ja) |
EP (1) | EP1005625B1 (ja) |
JP (1) | JP2001516011A (ja) |
KR (1) | KR20010023064A (ja) |
AU (1) | AU8913898A (ja) |
CA (1) | CA2301069C (ja) |
DE (1) | DE69813246T2 (ja) |
WO (1) | WO1999009370A1 (ja) |
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- 1998-08-19 AU AU89138/98A patent/AU8913898A/en not_active Abandoned
- 1998-08-19 US US09/463,008 patent/US6492636B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-08-19 EP EP98940983A patent/EP1005625B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-08-19 DE DE69813246T patent/DE69813246T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1998-08-19 JP JP2000509991A patent/JP2001516011A/ja active Pending
- 1998-08-19 KR KR1020007001681A patent/KR20010023064A/ko not_active Application Discontinuation
- 1998-08-19 CA CA002301069A patent/CA2301069C/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-08-19 WO PCT/US1998/017142 patent/WO1999009370A1/en not_active Application Discontinuation
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---|---|
DE69813246D1 (de) | 2003-05-15 |
AU8913898A (en) | 1999-03-08 |
EP1005625A4 (en) | 2000-11-02 |
EP1005625B1 (en) | 2003-04-09 |
CA2301069A1 (en) | 1999-02-25 |
DE69813246T2 (de) | 2003-12-18 |
EP1005625A1 (en) | 2000-06-07 |
CA2301069C (en) | 2004-11-23 |
WO1999009370A1 (en) | 1999-02-25 |
US6492636B1 (en) | 2002-12-10 |
KR20010023064A (ko) | 2001-03-26 |
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