JP2001515583A - 構造的隠蔽を伴う放射エネルギ変換装置 - Google Patents

構造的隠蔽を伴う放射エネルギ変換装置

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Abstract

(57)【要約】 検出器応答のジオメトリおよび比の応用で光強度および/または周波数を用いる、物体の位置を追跡する光学位置追跡システムが提供され、これは、構造的隠蔽および拡散反射の概念を使用する光分布および光検出コンポーネント(59)を有する。拡散反射するキャビティ(16)、マスク(M)およびバッフル(51)は分布コンポーネント(59)のある放射特性と検出コンポーネント(59)のある反応特性とを向上させて、それらを含むその放射および検出プロファイルを、分布および検出コンポーネント(59)が面する半球領域内のすべての角に対して実質的に一様に調節するために用いられる。分布および/または検出コンポーネント(59)は特別に構成されたバッフル(51)で区切られる。区切られた分布器は、セクションがスペクトル的に異なったまたは区別可能な放射を発することができる別個の発光セクションを有する。区切られた検出器は、セクションがさまざまな方向からの放射を検出できる別個の検出セクションを有する。

Description

【発明の詳細な説明】 構造的隠蔽を伴う放射エネルギ変換装置発明の背景 この発明は、光エミッタおよび光検出器、ならびに光学的な位置トラッキング 装置に関し、特に、比較的少数の光学素子を用いる、物体の位置をトラッキング するのに用いられてもよい区別される放射および検出性質を有する光学装置に一 般に関する。 位置トラッキングは、ますます増加している適用例とともに成長している技術 である。たとえば、娯楽の分野では、3次元での位置トラッキングを仮想現実シ ミュレーションに用いている。位置トラッキングは、産業分野においても、プロ セス制御およびロボット工学における適用例とともに用いられている。生物医学 の分野でも、人体の動きのパターンを決定するのに、人体の部分をトラッギング するための位置トラッキング装置を用いている。同様に動画力学においても、動 画化された姿勢を制御するために、体の複数の部分のトラッキングを用いる。こ の他にも、位置トラッキングが、有利ではないにしても、有用であるような適用 例が数多く存在する。 従来の位置トラッキングは、大きく分けて2つの技術、つまり能動的システム と受動的システムとに分けられ得る。能動的システムは、トラッキングされてい る物体上において能動電子素子を用いる。たとえば、ポルヘマス(Polhemus)の 3スペース・アイソトラックII(3SPACE ISOTRACK II)(登録商標)システムは 、能動磁気素子を用いて、体の位置を表わす動的磁界を作り出す。この磁界にお ける変化を感知することにより、このシステムはその物体の空間位置の6つのす ベての軸を伝える。 能動的システムは一般に高性能かつハイ・エンドの製品である。しかしながら 、それらは、限られた動きの範囲、金属干渉、複雑な動作、および高いコストと いった不利な点を有し得る。特に、磁界の範囲が典型的に制限され、後につく接 続ワイヤがしばしば厄介なものとなる。動きの領域が実質的な金属を含む場合、 界全体のマッピングは、普通は、そのシステムの必要とされる初期設定の一部で ある。 対照的に、受動的システムは、物体とそのシステムとの間に物理的なリンクを 伴うことなくその物体をトラッキングする。逆反射体のような目標点を用いても よく、またはビデオ画像の画像処理を行なってもよい。受動的システムは、能動 的システムと比較した場合、複雑さおよび費用がより低減されるということがよ くある一方で、分解能が不足することもしばしばである。したがって、物体認識 の場合、能動的システムは典型的には大量の画像処理を必要とし、このことは費 用の増大および誤りの可能性の増大をもたらし得る。反射体の使用はこれらの問 題のうちのいくつかを回避するが、それもまた、臨界整列および多数の初期設定 に対する必要性といった他の問題を引き起こさずにはいない。 上で論じたさまざまなシステム制限とは別に、フォトダイオードまたは電荷結 合素子(CCD)といった光検出器の感知コンポーネントは、それら自身の制限 を有する。これらコンポーネントは(たとえばスリットを設けることにより、ま たはグレーコード化された複数素子アレイを用いて)指向性に対し感度を有する ように作られ得るが、その応答はしばしば制限される。たとえば、それらは典型 的には1つの軸のみについて方向情報または分解能を与え、そのセンサの精度は 典型的には設けられる光学素子の数によって制限される。 したがって、最小限の電子および/または光学素子を用いて、物体の回転を含 むよう6つの軸すべてではないにしても少なくとも3つの軸に沿って物体の位置 をトラッキングし得る、比較的単純かつ安価な位置トラッキングシステムに対す るはっきりとした要求があることが理解されるはずである。そのシステムは、低 い整列および初期設定要件および低い処理要求を有することが望まれる。その点 において、このシステムは構造的かつ電子工学的に単純である一方で、物体がそ のシステムに対して位置決めされる方向を示すよう少なくとも方向指示を与える ことができる状態にとどまることが望まれる。さらには、このシステムは、方向 データと並んで、三次元空間における物体をトラッキングするための、距離デー タを含む位置データを与えることができることが望まれる。この発明はこれらの 所望される点のすべておよびそれ以上のものに対処する。発明の概要 この発明は、一般には検出器応答のジオメトリおよび比の適用を伴う光強度お よび/または周波数を用いて、物体の位置をトラッキングする光位置トラッキン グシステムにある。 この発明は、調整される空間的強度プロファイルでの球形または半球形座標に よって規定されてもよい領域の照射、および/またはその領域において物体に関 連付けられる光の検出を、検出される光の特性または性質はその領域におけるそ の物体の相対位置または運動を示すものであるという認識でもって与える。有利 なことに、この発明は、構造的隠蔽および拡散反射の概念を、その目的を向上さ れた効率でもって達成するよう適用する。 一実施例におけるこの位置トラッキングシステムは、トラッキングされている 最中の物体に取付けられる逆反射体と、光分布器と光検出器とを含むヘッドモジ ュールとを含む。この発明によって用いられる構造的隠蔽は、この分布器の或る 放射特性と、この検出器の或る応答特性とを向上させるマスクを用いることを含 む。たとえば、所定の位置にあるマスクによって、分布器はより一様な放射プロ ファイルを、検出器はより一様な応答プロファイルを、少なくとも水平線に近づ く高度に対して与えることができる。一般に、マスクの位置および/またはサイ ズを変更することによって、放射プロファイルおよび応答プロファイルは変動す る。これらプロファイルは、バッフルを用いることによって、特に水平線での角 度またはそれに近い角度のプロファイルに対してさらに操作または改善されても よい。このバッフルは円錐形または交差する構造をとり得る。この発明によって 用いられる電磁放射が可視光を含む場合、マスクおよびバッフルを含むコンポー ネントは、可視波長に対し約99%の反射率を有するランバートの重合体材料か らなる。 この発明のある特徴に従うと、構造的に隠蔽される分布器の分布プロファイル は、その分布器上の半球形領域のすべてではないにしてもほとんどの方位および 高度にわたって、特定的に調整されるかまたは実質的に一様にされ得る。これに 対応して、構造的に隠蔽される検出器の応答プロファイルが、その検出器上の半 球形領域のすべてではないとしてもほとんどの方位および高度に対して、特定的 に調整されるかまたは実質的に一様にされ得る。本質的に、構造的隠蔽は、分布 器および検出器の両方を、その隠蔽された装置が対面する半球形領域において一 様に全方向性にし得る。 このシステムが反射体(または点)の位置をトラッキングするかまたは少なく ともその反射体に対する方向情報を与えるために、このシステムのヘッドモジュ ールは、分布器または検出器のいずれであってもよい区切られた隠蔽される装置 を含む。特に、分布器において区切りバッフルを用いることにより、区切られた 分布器は、スペクトルが異なる、つまり区別可能な放射を発し得る区別される放 射セクションを有するようにされる。これに対応して、検出器において区切りバ ッフルを用いることにより、区切られた検出器は、さまざまな方向からの放射を 検出し得る区別される検出セクションを有するようにされる。 このシステムは、区切られた装置と区切られない装置とのさまざまな組合せ、 つまり区切られた分布器と区切られない検出器との組合せ、または区切られない 分布器と区切られた検出器との組合せ、を用いるよう、さまざまに構成されても よい。区切られた分布器は複数の放射セクションを設け、区切られた検出器は複 数の検出セクションを設ける。ほとんどの構成において、単一のヘッドモジュー ルは、装置のうちのひとつが4つのセクションまたは四分円に区切られている上 記組合せの1つを用いて、1つの反射体に対し2つの座標(たとえばρおよび0 )について1組の方向データを与える。 第1のヘッドモジュールがら離れて位置決めされるさらなるヘッドモジュール によって、その反射体に対する第2の組の方向データ(たとえばρ2およびθ2) が与えられ得る。方向データの第2の組を方向データの第1の組と相互参照する ことによって、このシステムは、その反射体に対して、3つの軸に沿ったその反 射体の三次元における位置データつまり3つの座標を得ることができる。 さらに、このシステムは、スペクトルにおいて異なる(または少なくともスぺ クトルにおいて区別可能な反射体)を対応的にスペクトルにおいて互換性のある センサとともに用いてさらなる反射体をトラッキングすることにより、各反射体 に対して収集されたデータを区別することができる。このシステムが、1つの反 射体を検出するのに、区切られていない分布器と区切られた検出器とを有するヘ ッドモジュールを用いる場合、このシステムは、さらなる反射体に対応するセン サのさらなる組を各々が収容するさらなるヘッドモジュールを用い得る。しかし ながら、このシステムは、センサのさらなる組すべてを収容するよう構成される 単一のヘッドモジュールも用い得る。特に、単一ヘッドモジュールは、トラッキ ングされている最中の反射体に対応する組からのセンサを各々のセクションが収 容する、1つの区切られた検出器を有して構成され得る。こうして、単一のモジ ュールは複数の反射体をトラッキングし得る。 上記のヘッドモジュールの変形物として、区切られていない分布器および区切 られた検出器は、ヘッドモジュール内において別個のキャビティを用いてもよく または単一のキャビティを共有してもよい。さらに、さらなる変形物として、ヘ ッドモジュールの区切られていない分布器は、連続的な広帯域放射または広帯域 放射のパルスを発してもよい。この放射がパルスで発される場合、反射体から反 射するパルス放射に対する経過時間は、システムによって、トラッキングされる 反射体に対する距離座標を与えるデータとして分析され得る。放射の強度変動と 、パルスの経過時間との両方を用いることにより、システムは、別個のヘッドモ ジュールを用いることなく、反射体に対する3つの座標すべてを導き出し得る。 このシステムは、トラッキングされている最中の物体と家具または壁などの他 の無関係の物体とを区別することなく検出ゾーンを照射するため、背景または自 己照射が重大となって、システムの性能に悪影響を与え得る。異なる、または区 別可能なスペクトル特性のセンサを、システムにおいて、複数の反射体を検出す るために用いる場合、そのシステムは、自己照射の影響を補償し得るよう、背景 照射感知専用のセンサの別個の組を設ける。 さらに、このシステムは、背景照射のレベルを低減するよう構成されてもよい 。特に、このシステムは、スプリットで区切られた検出器間に位置される走査ビ ーム源を有するヘッドモジュールを利用する。このビームは所定の幅を有し、反 射体を捜して検出ゾーンを掃引する。任意の所与の時間にゾーンの或る部分のみ を照射するこのビームでは、背景照射は実質的に低減され、システムは、したが って、非常に多くの、スペクトルにおいて区別可能な反射体を区別するよう比較 的少数のフィルタセンサ組合せを用いて色分析を行なうのに利用可能となる。先 の実施例同様、この実施例は、1つの反射体の3つの座標すべてを検出するのに 、 2つのヘッドモジュールを用いる。 同様に、色分析を用いる代替的実施例では、このシステムは、区切られた分布 器を伴う区切られていない検出器を含むヘッドモジュールを用いる。この区切ら れた分布器は、各セクションが区別可能な色に区別立てて関連付けられるように 、区別可能な色(周波数)のランプを各セクションに収容する。色分析の適用に 従うと、検出器はフィルタ処理されたセンサの小さな組合せを収容する。反射体 によって反射された色混合は、ヘッドモジュールに対するその反射体に対する方 向データの組を示すよう、システムによって分析される。 さらに、このシステムは、トラッキングされている最中の物体上に置かれるL EDのような能動光源と、区切られた検出器とを用いて、光学的に能動的なシス テムとして構成されてもよい。この実施例では、LEDから発された光は区切ら れた検出器によって検出され、そのLEDの色または振動周波数を用いて異なる LEDを区別する。 この発明は他の光学装置および位置トラッキングシステムも提供する。たとえ ば、さまざまな高度角に対して互いの光学面を選択的に隠蔽するような2つの構 造を有するリングとして構成される光学装置が提供される。ここでも、構造的隠 蔽の原理は、その装置を放射体または検出器として半球状になし得るような調整 されたまたは実質的に一様なプロファイルをその装置が有するように適用される 。さらに、この装置を、指向性を有するようにするために、その構造は区別され る別個のセグメントを設けるよう構成されてもよい。 この発明の他の特徴および利点は、例示的にこの発明の原理を示す添付の図面 と関連させて、以下の好ましい実施例の説明から明らかとなるはずである。図面の簡単な説明 この発明は、ゲーム設備の位置を判断し表示するための、この発明に従う位置 トラッキングシステムの斜視図である。 図2は、あるランバート面の概略図であり、そのランバート面に関連付けられ るコサイン従属性性質を示す。 図3Aおよび図3Bは、ランバート面を構造的に隠蔽するために用いられるマ スクの概略図である。 図4は、この発明に従う、構造的隠蔽および拡散反射の概念を用いる光学装置 の側面断面図である。 図5は、図4の装置のコサイン従属性を示すグラフである。 図6は、この発明に従う、構造的隠蔽および拡散反射の概念と円錐形バッフル とを用いる光学装置の側面断面図である。 図7は、図6の装置のコサイン従属性の実質的な軽減または処理を示すグラフ である。 図8Aおよび図8Bは、この発明に従う交差バッフルの斜視図である。 図9は、この発明に従う別の交差バッフルの斜視図である。 図10は、この発明に従う、フレネルの反射の処理を伴う、構造的隠蔽および 拡散反射の概念と交差バッフルとを用いる光学装置の側面断面図である。 図11は、バッフルの性質を有する特別に構成されたマスクを伴う光学装置の 側面断面図である。 図12Aは、この発明に従う区切られた分布器および区切られた検出器を表現 する側面断面図である。 図12Bは、図12Aの線B−Bでの断面図である。 図13は、この発明に従う、オシロスコープに関連付けられて用いられるヘッ ドモジュールの斜視図である。 図14は、図13のオシロスコープのディスプレイのX−Y座標の概念的表現 である。 図15は、電気信号を図13のヘッドモジュールから図13のオシロスコープ のX−Y座標に変換するための電子装置の概略図である。 図16は、この発明に従うヘッドモジュールの実施例の側面断面図である。 図17は、図16の線X−Xに沿った断面図である。 図18Aは、この発明に従うヘッドモジュールの別の実施例の側面断面図であ る。 図18Bは、図18Aの線B−Bに沿った断面図である。 図19Aは、この発明に従うヘッドモジュールのさらなる実施例の側面断面図 である。 図19Bは、図19Aの線B−Bに沿った断面図である。 図20Aは、この発明に従うヘッドモジュールのさらに別の実施例の側面断面 図である。 図20Bは、図20Aの線B−Bに沿った断面図である。 図21は、この発明に従うシステムの別の実施例の斜視図である。 図22Aは、4つの個別の区切られた検出器が上に取付けられる台の平面図で ある。 図22Bは、図22Aの台の側面図である。 図23Aは、この発明に従う隠蔽された装置の別の実施例の上面平面図である 。 図23Bは、図23Aの隠蔽された装置の側面図である。 図23Cは、図23Bの図から90度回転した側面図である。 図24Aは、この発明に従うリング状検出器の斜視図である。 図24Bは、図24Aのリング状検出器の上面平面図である。 図24Cは、図24Aのリング状検出器の側面図であり、それによって与えら れる実質的に一定の断面領域を示す。 図25Aは、この発明に従う、セクションに分けられたリング状検出器の斜視 図である。 図25Bは、図25Aのリング状検出器の上面平面図である。 図25Cは、図25Aのリング状検出器の側面図であり、それによって与えら れる実質的に一定の断面領域を示す。 図26Aは、この発明に従う複数のキャビティを設けられた光学装置の上面平 面図である。 図26Bは、図26Aの装置の、線B−Bに沿った側面断面図である。 図27Aは、この発明に従う、構造的隠蔽および拡散反射の概念とバッフルと を用いる光学装置の別の実施例の側面断面図である。 図27Bは、図27Aの光学装置の、線B−Bに沿った図である。 図28は、この発明のある特徴に従う、球形カバレージを与えるよう背面合わ せで構成される2つの区切られた光学装置の側面断面図である。 図29Aは、この発明に従う、球形カバレージを与えるよう背面合わせで構成 される2つのセクションに分けられたリング状検出器の斜視図である。 図29Bは、図29Aのリング状検出器の側面断面図である。 図30Aは、この発明に従う方位装置の一実施例の側面断面図である。 図30Bは、図30Aの方位装置の、線B−Bに沿った図である。 図30Cは、調整されたカバレージを伴う、図30Aの方位装置の線B−Bに 沿った図である。 図31Aは、この発明に従う方位装置の別の実施例の側面断面図である。 図31Bは、図31Aの方位装置の線B−Bに沿った図である。 図31Cは、調整されたカバレージを伴う、図31Aの方位装置の線B−Bに 沿った図である。好ましい実施例の説明 例示の図面に示されるように、この発明は、複雑な電気的配線、高価な光検出 器アレイ、ビデオカメラまたは画像処理を必要とすることなく、物体の位置をト ラッキングする光学的な位置トラッキングシステムにある。より特定的には、こ のシステムは、光強度および周波数のような光学的性質を測定して、トラッキン グされている最中の物体に対し、3つの軸に沿った位置データではないとしても 、少なくとも2つの軸に沿った方向データを与える。所望される場合には、この システムは、トラッキングされている最中の物体に対して、6つの軸に沿った位 置および回転データをさらに与えてもよい。 図1を参照して、この位置トラッキングシステムは数多くの適用例を有する。 たとえば、このシステムはビデオゲーム11において用いられてもよい。このビ デオゲーム11では、ゾーンZ内のゲーム設備の位置または動きを表わす信号が 検出および処理されて、ビデオモニタに与えられるビデオ信号に変換される。こ のシステムおよびディスプレイ15はゾーンZの外側に示されているが、これら のコンポーネントはもちろんゾーンZの内側にあってもよい。 位置トラッキングシステム10の一実施例が、図1において、逆反射体RR1 をトラッキングするヘッドモジュールHを有する状態で示される。この発明のあ る特徴に従うと、ヘッドモジュールHは、ともに以下においてさらに詳細に論じ られる、構造的隠蔽および拡散反射の概念を利用する。 背景として、構造的隠蔽は、実質的なランバート面の或る特性を、それがエミ ッタ面または検出器面であるにかかわらず、変化させるように用いられてもよい 。実質的なランバーティアンエミッタXを図2に示す。このエミッタXは平面を 伴って示されているが、実質的なランバート性質を有するエミッタ面は平面であ る必要はない。 エミッタXの放射強度は角φとともに変動することが観察される。したがって 、エミッタXは、角φの関数である放射強度プロファイルを有する。放射強度と 角φとの間のこの関数または関係は、角φが変化するにつれての、面Aの断面領 域Kにおける変化に見られ得る。特に、φがエミッタ面Aの法線がら規定される 場合、断面領域Kは角φのコサイン関数として変動する。 図2は、(これもXで示される)実質的なランバート検出器をも表現している 。この検出器Xは平面を伴って示されているが、実質的なランバート性質を伴う 検出器面は平面である必要はない。エミッタXのように、この検出器Xは角φの 関数である応答強度プロファイルを有する。ここでも、この関数は、角φが水平 線に対する法線から増加するにつれて減少する断面領域Kの変化において見られ 得る。 構造的隠蔽は、エミッタXと検出器Xとの両方において角φに対するコサイン 従属性を、除去しないにしても、低減するのを目的とする。図3Aおよび図3B に示されるように、マスクMを用いて面Aを構造的に隠蔽する。適切にサイズ決 めされかつ面Aから適切に位置決めされて、マスクMは、断面領域Kがφの大抵 の角に対して一定にとどまるように、面Aの部分を選択的に「ブロックする」よ うにされる。したがって、マスクMは、面の放射プロファイルまたは応答プロフ ァイルが水平線に近い角φを除く角φに対して実質的に一様であるように、断面 領域Kにおける変化を相殺する。図3Aおよび図3Bに示されろ構成では、断面 領域Kは、0度と約80度との間のφの角に対しては一定にとどまる。この角の 範囲は、マスクとアパチャとキャビティとの間のさまざまなジオメトリとともに 変動する。全体的には、放射プロファイルまたは応答プロファイルは、さまざま なマスクおよび面のジオメトリで、所望されるように、区別されるよう操作され てもよい。 このマスクMは完全に不透明であってもよいが、構造的隠蔽はマスクMにおけ る完全な不透明度を伴うことなく達成されてもよい。隠蔽された領域と隠蔽され ない領域との間の放射の伝達における相対的な低減がマスクMによって与えられ る限り、コサイン従属性は変えられる。 言及したように、このシステムは拡散反射の概念を適用する。背景として、拡 散反射体は、面エミッタまたは検出器を点エミッタまたは検出器と置換えること によって、光学システムの効率を向上させ得る。両方の例に対し、図4を参照す る。 内面20が拡散反射を行なうキャビティ16を照射する点照射素子12(たと えば光ファイバなど)を用いて、実質的なランバート放射面LSを作り出し得る 。 このキャビティ16は、一様に照射される面21がキャビティ16のアパチャ 22において作り出されるように、点素子12からの放射を拡散反射する。これ に対応して、内面20が拡散反射を行なうキャビティ16内において光を検出す る点検出素子12(フォトダイオードなど)を用いて、実質的なランバート検出 面LSを作り出し得る。このキャビティ16は、点検出素子16がアパチャ22 に達する放射を一様に検出するように、アパチャ22を通ってキャビティ16に 入る放射を拡散反射する。この点素子12は、キャビティ16に配置される装置 であってもよく、または、光をキャビティ16に、または光をキャビティ16か ら別の領域へ効率よく伝達する、光ファイバ14または光導波路のような光伝達 装置であってもよいことが当業者は理解される。 マスクMがアパチャ22上において選択的に配置および/またはサイズ決めさ れる状態で、図4の隠蔽された装置は、(i)隠蔽された分布器として、アパチ ャ22上の領域を、その領域のほとんどすべての方向において実質的に一様であ る強度プロファイルで照射するか、または(ii)隠蔽された分布器として、球形 または半球形座標においてρおよびθ方向に容易に規定される上記領域のほとん どすべての方向にわたって放射を一様に検出し得る。この放射プロファイルおよ び検出プロファイルは、隠蔽された装置の水平線またはその付近の角(以下、水 平線区域と称する)を除き、選択されたマスク/キャビティ/アパチャのジオメ トリに従って大抵の角に対し実質的に一様にとどまり得る。 図4のキャビティ16は、キャビティ16のアパチャ22を取り囲む肩部28 も提供するベース18に設けられ得る。このベース18はアルミニウム、プラス チック、または同様の材料から形成されてもよく、ベース18が全体として入射 光を拡散反射し得るよう、硫酸バリウムなどの拡散反射物質のコーティングで覆 われてもよい。ベース18は、ニュー・ハンプシャー(New Hampshire)、ノー ス・サットン(North Sutton)のラブスフィア・インク(Labsphere Inc.)によ って販売されているスペクトラロン(Spectralon(登録商標))のような拡散反 射バルク材料から形成されてもよい。スペクトラロン(登録商標)は、容易に機 械仕上げされ、耐久性があり、可視および近赤外線波長において99%を超える 反射率を有する効率の高いランバート面をもたらす。上記の拡散反射材料ほど典 型的には効果的ではないが、他の好適な材料としては、平塗りの白い塗料のよう な準拡散反射材料が含まれる。 マスクMも、その下側に入射する光があればそれが失われずにキャビティ16 内へ反射し返されるよう、特にその下側24において、スペクトラロン(登録商 標)のような拡散反射材料で構成される。キャビティ16内の方向に再び向け返 された光は、概して、キャビティ16および近接の拡散反射コンポーネント内で 何度も反射される。 キャビティ16は半球形キャビティとして示されているが、このキャビティは どのような形状であってもよい。さらに、アパチャ22のサイズはそのキャビテ ィの最大断面積に匹敵する必要はなく、換言すれば、キャビティは半球形よりも 球形であってもよい。さらに、アパチャ22は平面的である必要はない。しかし ながら、平面的なアパチャを伴う半球形キャビティの方が好ましいかもしれず、 なぜならば、それは、構造がより簡単であり、単純化を行なう計算および仮定を 用いることを可能にするようなジオメトリにおける対称を提供するからである。 図4に示されるようにキャビティ16が半球形(または球形)でありかつアパ チャ22が平面的である場合、キャビティ16のアパチャ22は直径Daを規定 し、マスクは直径DMを規定する。言及したように、直径DaとDMとの間の比は 、 隠蔽された装置が対面する全2πステラジアン半球にわたるプロファイル(放射 または応答)を変化させ得るパラメータである。一般に、プロファイルにおける 一様性は、マスク/キャビティの直径比が1に近い場合に増大する。しがしなが ら、この比は、マスクとアパチャとの間の受光/逃散領域を減少させることによ って、隠蔽された装置の効率を減じる。現在のところ、ある角に対して強度を減 じる一方で他の角に対して強度を増大させることにより、マスクは、大抵の角に 対してのより一様な効率に対し、広範囲の角にわたってプロファイルを実質的に 平均化すると考えられている。マスク/キャビティの直径比は約0.8〜0.9 が好ましい。この比は妥当に同一程度のプロファイルを与えながらも、相対的に 高いレベルの効率性を維持する。 マスクMとアパチャ22との間の距離または高さDは、この隠蔽された装置の 放射プロファイルまたは検出プロファイルを変化させ得る別のパラメータである 。さらに、マスクMの厚みもそのプロファイルを変化させ得る。 図5のグラフは、約2.0”のアパチャ直径と、約1.8”の直径を有するマ スクと、マスクとアパチャとの間における約0.3”の分離距離とを伴う隠蔽さ れた装置の断面積Kを示す。この隠蔽された装置のプロファイルは、φが約80 度に達するまでは比較的一定にとどまっていることがわかる。その後、このプロ ファイルは急激に低下する。 さまざまなプロファイルをさまざまなマスク/キャビティ/アパチャのジオメ トリで得てもよいため、ゴムのような柔軟性のあるコア材料からキャビティおよ びマスクを作ることにより、キャビティおよび/またはマスクを容易に再構成し て、さまざまな放射プロファイルまたは検出プロファイルを伴うさまざまなジオ メトリを与えるようにすることも有用であろう。 プロファイルの一様な部分をより大きなφの角つまり水平線区域に拡大するた めに、システム10は放射または検出される照射のエネルギを増大してもよく、 または図6に示される偏向器またはバッフル30を設けてもよい。このバッフル 30は、マスクMの下に、水平線領域に実質的に垂直である面32を設けるよう 構成される。この面32は、水平線区域における照射強度を有意に増大するよう にその水平線区域に光を反射するよう働く。マスクMおよびベース18と同様、 バッフル30もスペクトラロン(登録商標)のような拡散反射材料から作られる 。このバッフルの反射率は、所望される場合には、たとえば、一様でない影響を 補償するように、バッフルが角に依存しない反射率を有し得るよう、格付けされ 得る。 適切に用いられる場合、バッフル30は、肩部28と関連して、プロファイル の一様性を、90度を十分に超えるφの角にまで延ばし得る(たとえば図7参照 )。隠蔽されたエミッタ装置の場合、この肩部28は、他の態様では水平線下に 向けられるであろう上側半球領域方向に向け直す。隠蔽された検出器装置の場合 、肩部28は水平線下からの光を遮断する。 言及したように、半球領域にわたる放射プロファイルまたは検出プロファイル は、キャビティのアパチャ22、マスクM、バッフル、および/または肩部28 を慎重に構成および寸法決めすることによって、所望されるように調整されても よい。たとえば、図7を参照して、約2.0”の直径Daを伴うアパーチャを有 し、約1.8”の直径DMを伴うマスクによって構造的に隠蔽されかつ約0.2 7”の直径と約0.21”の長さとを有するベースを有するバッフル30によっ て向上される隠蔽された分布器Rは、90度までのφの角に対し比較的一定であ る放射強度プロファイルを有する。 他のバッフルも、水平線区域における強度を増大させるのに等しく効果的であ り得る。たとえば、図11は、マスクMの端縁48を面取りすることによってマ スクMに組込まれたバッフルを示す。マスクMが実質的な厚みを有する場合、こ の面取りされた端縁48は水平線区域に光を効果的に向け得る。 図8Aを参照して、バッフルの代替的実施例を示す。同じく拡散反射材料で覆 われて、バッフル41は、交差部43をそれらの中点で規定する複数の延ばされ た部材42で形成される。これら部材42は平面的であることが好ましいが、湾 曲していてもよくまたは他の態様であってもよい。バッフル41は、必ずしもで はないが、好ましくは隠蔽された装置において対称的なセクションSを規定する 。 バッフル41は、必ずしもではないが、好ましくは、アパチャ22の直径に実 質的に等しい長さ44を有する。代替的に、長さ44は、アパチャ22を超えて 延びるようアパチャ22よりも長くてもよく、またはアパチャ22よりも短くて アパチャ22に達するに足りなくてもよい。バッフル41は、必ずしもではない が、好ましくは、マスクMとアパチャ22との間の分離距離Dに実質的に等しい 高さ46を有する。代替的に、高さ46は分離距離Dより大きくてもよくまたは 小さくてもよい。バッフル30と同様、バッフル41は、水平線に対し実質的に 垂直な面32を作り出すよう、キャビティ16のアパーチャ22の方向に延びる 。この結果、バッフル41は、水平線区域においてより一様なプロファイル(放 射または応答)に対し水平線区域での照射強度を増大させる。 バッフル41は、プロファイルを変化させるよう、所望されるように修正され てもよい。修正されたバッフル41’を図8Bに示す。バッフル41’は、バッ フル41と比較して、交差部43において拡大されたコア45を有する。このコ ア45は円形の断面を有して示されているが、異なる形状であってもよい。バッ フル41’は、さらに、部材42において、より大きな厚み47を有してもよい 。 比較的一様なプロファイルを得るために、図10の装置は約1.8”のマスク 直径DMと約2.0”のアパチャ直径Daとを用いることによって、約0.9つま り90%のマスク/アパチャの直径比をもたらす。0.9のマスク/アパチャの 直径比は、比較的広範囲の角φにわたって比較的一様な応答をもたらしながらも 、受容可能な動作範囲を維持する。さらに、ディスク状マスクMをアパチャ22 から約0.3インチの間隔を置いて離す結果、アパチャ直径に対するマスク距離 の比は約0.2つまり20%となる。 図10の装置は、内部のコンポーネントを保護するよう、カバー、たとえばド ーム38内に封入されてもよい。さらに、図10の装置は、点素子12が、キャ ビティ16の外において、マスクMとバッフル41とのかなり下に取付けられる 状態を示す。点素子12からの接続ワイヤ40は、マスクおよびバッフルに設け られる孔を介して挿入されてもよい。 点素子12がマスクMの下側からアパチャ22に対面する状態では、キャビテ ィ16への放射または検出の直接角から生ずるであろう「ホットスポット」が実 質的に回避され得る。点素子12を「反転する」ことによって、他の態様では装 置プロファイルのコサイン従属性を増大させるであろうフレネルの反射の影響も 回避されるであろう。フレネルの反射は、一般的には、たとえば空気とガラスま たはシリコンなど、異なる屈折率を有する2つの材料間の面を光が通って伝わる ときに必ず生ずる。上で論じた角φに対するランバート面のコサイン従属性と十 分同様に、フレネルの反射は角φとともに増大し、それは水平線区域における光 の照射強度を減少させる。 図10の装置は本システムによって用いられる概念を示している。システム1 0のヘッドモジュールHは、ある実施例においては、隠蔽されかつバッフルを設 けられたエミッタ(分布器R)を含み、他の実施例では、隠蔽されかつバッフル を設けられた検出器(検出器T)を含む。隠蔽されかつバッフルを設けられた分 布器および検出器は、それぞれ、1996年1月23日提出の米国出願連続番号 第08/590,290号と、1996年1月23日提出の米国出願連続番号第 08/589,105号とに開示されており、それらの両方をここに引用により 援用する 隠蔽されかつバッフルを設けられたエミッタの代替的実施例を図27Aおよび 図28Bに示す。小型蛍光ランプなどの細長いランプLを、マスクの下側24上 において、2つの接近して間隔をとられたバッフル41の間に置く。このランプ のための電力は、ベース18に形成された通路を通って延びる電力リード線で供 給される。ランプLがエミッタの側面から見えないように、バッフル41の高さ はランプLの高さを超える。 上記に鑑み、構造的隠蔽によって、分布器Rおよび検出器Tは調整された放射 プロファイルおよび検出プロファイルを与え得ることがわかる。所望される場合 には、構造的隠蔽は、分布器Rならびに検出器Tの動作および機能を水平線区域 における放射に関して向上させ得、またはさらには分布器Rおよび検出器Tを半 球領域にわたって実質的に一様に全方向性にし得る。分布器Rおよび検出器Tの プロファイルは、バッフルの助けによってさらに改善され得る。マスクおよび/ またはバッフルの確定的なサイズ決めおよび位置決めで、分布器Rはそれがほと んどすべての方向において一様な強度を分布し得るような態様で隠蔽され得、検 出器Tはそれがほとんどすべての方向における強度に対して一様に応答し得るよ うな態様で隠蔽され得る。本システムはこれら概念を有利に適用する。しかしな がら、分布器Rおよび検出器Tが全方向性にされている場合、本システムは、全 方向性装置と軸方向分解能で動作する区切られた装置との組合せであるヘッドモ ジュールHを用いる。 反射体をトラッキングする際に方向(または角)データを得るために、本シス テムは、区切られていない検出器Tを伴う区切られた分布器PR、または区切ら れていない分布器Rを伴う区切られた検出器PTを少なくとも含むヘッドモジュ ールHであって、区切られた装置は少なくとも1つの軸についての分解能で動作 するヘッドモジュールHを用いる。特に、本システムは、反射体RR1が位置決 めされる方向を示す異なるセクション間の強度変動の発生および/または検出を 可能にする。この発明のある特徴として、これら区切られた装置は、本システム が電子的かつ構造的に比較的単純であり安価にとどまるような態様で機能し動作 する。 一般的にいって、図3Aおよび図3Bに示される放射面または検出面LSがヘ ッドモジュールHにおいてキャビティ16なしに用いられる場合、バッフル41 は、面LSおよび/またはマスクMと面LSとの間の領域を、指向性分布器また は指向性検出器を形成する際にセクションに効果的に分けるかまたは区切る。こ の点において、以下にさらに詳細に説明されるように、放射面LSを与える光源 (または検出面LSを与える検出器)を、次いで、バッフル41によって作られ るセクションの各々からの区別される放射を可能にする(かまたはそれらセクシ ョンの各々への区別される入射放射を区別する)よう構成する。 上記の分布器Rおよび検出器Tにあるように、放射面または検出面がキャビテ ィ16およびアパチャ22によって与えられる場合、バッフル41は修正される かまたはバッフル51に拡張されて、その領域を、ここではキャビティ16とマ スクMとの実質的に間の体積を含むセクションに分けるかまたは区切る。区切ら れた分布器(または検出器)が各セクションからの区別される放射を可能にする (または各セクションへの区別される入射放射を区別する)ことができるように 、点素子12は、区別されるセクションと各々が関連付けられる複数の点素子と 置換えられる。 図9に示されるように、バッフル51は、図8Aのバッフル41と同様である が、平面部材42の実質的に延ばされた部分である仕切り53が追加されている 。 この仕切り53は、バッフル51がマスクMとキャビティ16(ともに破線で示 される)との間に置かれたときに部材42はアパチャ22上にとどまる一方で仕 切り53はアパチャの下をキャビティ16へと延びてキャビティ16の内面に接 近または当接するように構成される。たとえば、キャビティ16が半球形または 球形である場合、仕切り53は湾曲したプロファイル55を有する。 放射面または検出面LSが存在する場合、面LSとマスクMとの間の領域Gは バッフル41によってセクションSDに分けられる。アパーチャ22を伴うキャ ビティ16を用いて面LSを与える場合、キャビティ16とマスクMとの間の領 域または体積G’はバッフル51によってセクションまたは部分体積SDに分け られる。 一実施例では、バッフル41および51は実質的に不透明であり、約3.0mm の厚みを有する。代替的実施例では、各セクションに入る光がそのセクションの み内に実質的にとどまるようにバッフル41および51が領域Gをセクションに 分けるという条件で、バッフル41および51は必ずしも不透明である必要はな い。 バッフル41または51はその領域を4つのセクションSA、SB、SCおよび SDに区切るかまたは分け、その区切られた装置は2つの軸についての分解能を 有する。分解能の2つの軸は、バッフル41または51がその領域を3つのセク ションに区切るシステム10内においても可能にされ得るが、方向情報を与える ようこのシステムによって用いられる計算はより複雑になるであろうと考えられ る。分解能の2つの軸は、バッフル41または51がその領域を5つ以上のセク ションに分ける場合にも可能とされる。分解能の軸が1つしか所望されない場合 には、バッフル41または51はその領域をより数少ないセクション、たとえば 2つのセクションに区切るよう構成される。 バッフル51が(2つの軸についての分解能に対して)4つのセクションまた は四分円を与える場合、方位角ρが正のX軸から測定される状態に従ってキャビ ティ16が4分割されるように、X/Y座標系を図示されるようにバッフル51 上に重ねてもよい。この議論をよりよく理解するために、個々のセクションSA 、SB、SCおよびSDは以下のように規定されてもよい。 0<ρ<90=セクションB 90<ρ<180=セクションA 180<ρ<270=セクションD 270<ρ<360=セクションC バッフル30、41および51がすべて水平線区域(つまりφ=90またはそ の付近)での照射強度を増大するよう働く一方で、拡張されたバッフル51はキ ャビティ16を分割し分布器Rおよび検出器Tを区切られた分布器および区切ら れた検出器PRおよびPTにし、したがってそれらはXおよびY軸について分解 能を与えるかまたは方向を区別する。特に、バッフル51によって、区切られた 装置PRおよびPTは、反射体に対する位置データではないとしても少なくとも 方向データを本システムが確実なものにすることができるような態様で、強度変 動を発生させることができる。 図12Aおよび図12Bは、キャビティ16、マスクMおよびバッフル51を 用いる、区切られた分布器PRおよび区切られた検出器PTを表わす区切られた 装置を示す。バッフル51は、キャビティ16内のアパチャ22より下の下部セ クションとアパチャ22より上であるがマスクMより下の上部セクションとを含 むセクションを生じる。上述のように、複数個の点素子59が図10の単一の点 素子12の代わりに用いられ、各点素子59は別個のセクションと関係付けられ る。各点素子59は上述の理由のためにマスクMの下側24の別個のセクション 、特に別個の上部セクションに取付けられ得る。ここでもまた、点素子59は上 述のように光を伝える装置を表わし得る。 図13を参照すると、ある実施例のシステムが区切られた検出器PTおよび分 布器Rを含むヘッドモジュールHを設ける。区切られた検出器PTは図12Aお よび図12Bに図示するように構成でき、分布器Rは図10に図示するように構 成できる。説明したように、区切られた検出器PTの各点センサ59はそれぞれ のセクションで検出される光強度に基づいて電気信号を発生するように構成され る。点センサ59がフォトダイオードである場合、フォトダイオードは約0.8 平方ミリメートルの相対的に小さい反応面積と約6×10-15ワット/(ヘルツ )0.5のノイズ等価電力(NEP)とを有する。反応面積が小さいフォトダイオ ード は2つの重要な利点を有する。すなわち、(i)一般にノイズ特性が低く、(ii )システムの効率がより高い(すなわち、センササイズ対キャビティサイズの比 が低下すると感度がより高くなる)。これらのフォトダイオードを用いて、区切 られた光検出器の効率が約1.0インチの直径または幅を有するキャビティでそ の漸近状態に近づく。 図13に示すように、ヘッドモジュールHの区切られた検出器PTにおける点 センサの各々によって検出される強度変動はオシロスコープ64上に表示するた めに(代表的な回路67が図15に詳細に示される)処理装置49によって処理 される。回路67はフォトダイオードの製造業者、すなわちカリフォルニア州ホ ーソン(Hawthorne,California)のユナイテッド・ディテクタ・テクノロジー ズ(UDT)・センサーズ社(United Detector Technolosies Sensors,Inc.) によってカッドセルフォトダイオードとともに用いるために提案される回路に相 当する。他の回路(アナログまたはデジタル)も用いられ得る。 具体的に図12Bを参照すると、バッフル51によって生じるセクションSA 、SB、SCおよびSDは区切られた検出器PT(図13参照)を見下ろすと時計 回りに配列される。この配列は、水平(またはX/Y)面から区切られた検出器 T上の半球領域へと法線が外向きに延びる点で図14の概念的描写に示されるセ クションと一致することに注目されたい。 具体的に図15を参照すると、フォトダイオードのカソードは皆共通の接地端 子に接続される。それぞれのフォトダイオードのアノードはそれぞれの電流−電 圧増幅器50に各々接続される。電圧は次に3つの増幅器52、54および57 の1つによって加算および/または減算される。第1の増幅器52は4つのセク ションSA、SB、SCおよびSDのすべてからの信号の和である信号を出力する。 第2の増幅器54はセクションBおよびCからの信号を合計し、セクションAお よびDからの信号の和を引く。第2の増幅器の出力信号は次に、X出力信号を与 える除算器58によって第1の増幅器の出力信号で割られる。第3の増幅器57 はセクションAおよびBからの信号を合計し、セクションCおよびDからの信号 の和を引く。第3の増幅器の出力信号は次に、Y出力信号を与える除算器によっ て第1の増幅器の出力信号で割られる。適切な除算器はアリゾナ州トゥーソン るDIV100である。 XおよびY出力信号とセクション信号との間の関係は以下の式によって与えら れる。 式1 X=[(B+C)−(A+D)]/(A+B+C+D) 式2 Y=[(A+B)−(C+D)]/(A+B+C+D) セクションSA、SB、SCおよびSDの構成が一貫している限り式1および2は 変形できることが当業者には理解される。 XおよびY出力信号はオシロスコープ64(図13)に与えられる。X出力信 号はディスプレイの水平掃引入力端子に接続され、Y出力信号はオシロスコープ の垂直掃引入力端子に接続される。信号XおよびYがデカルト座標系内で必ずし も規定されないことが当業者には理解される。オシロスコープ64上のスポット 66は反射体の方位ρおよび高度φの位置を示す。たとえば、オシロスコープ6 4上に示されるスポット64は、区切られた検出器PTに対して約45度の方位 および約45度の高度で位置決めされた逆反射体を表わす。反射体の高度が変化 すると、オシロスコープ64の中心からのスポット66の半径距離が変化する。 反射体がヘッドモジュールHに対して方位上で移動すると、スポット66はオシ ロスコープ64の中心に対して経路を描く。 XおよびY出力信号のための座標系を概念的に表わすグリッドが図14に示さ れる。反射体RR1のための(適切に規定された正または負の値での)適切なセ クションを考慮に入れる方位(ρ)角が以下の式を用いてXおよびY出力信号か ら計算できる。 式3 ρ=tan-1(Y/X) 高度φはオシロスコープ64の中心からスポット66(図13)までの半径距 離または長さLに関連する。この半径距離Lは以下の式を用いてXおよびY出力 信号から計算される。 式4 L=(X2+Y21/2 計算された方位ρおよび半径長さLに関連した実際の高度は検出器ジオメトリ の複雑な関数である。したがって、付録Aに与えられるルックアップテーブルが 方位ρおよび長さLを以下のように高度に相関させるために用いられる。しかし ながら、このテーブルが高度角をθ、θ=90−φについて与えることに注目さ れたい。 式5 θ={ρ,L;テーブル} 図14は、方位角ρ=30で検出された逆反射体の方位ρ、半径長さL、高度 θの間の付録Aに記載される関係を概念的に示す。特に、反射体が0=10の高 度(すなわち、水平線に近い)であれば、スポット64はオシロスコープ64の 中心から約0.89の単位長さLである。反射体が0=80の高度に移動すれば 、スポット64は約0.76の減少した中心からの単位長さLで中心により接近 して見える。逆反射体がρ=30の方位に留まる限り、スポットもオシロスコー プ64上でρ=30の方位にあり続け、高度角の変化を反映するために中心から の長さLだけが変化される。逆反射体が同じ高度に留まりながら異なった方位に 移動すれば、スポット66はオシロスコープ64の中心のまわりで長方形のよう な経路で移動する。したがって、付録Aのテーブルを用いるシステムは追跡され る反射体のための1組の方向データを与える。 付録Aで用いられるアルゴリズムはシステムによって使用可能な数多くのアル ゴリズムのうちのほんの1つであることが強調される。付録Aのアルゴリズムは また、検出ゾーンZにおける物体の位置にかがわらずスボット66をディスプレ イ上に留めさせる多くのアルゴリズムの1つである。さらに、付録Aのルックア ップテーブルを用いる記載される実施例とは対照的に、分析的関係(たとえば多 項式)を用いてシステム10によって方向データが与えられ得ることは当業者に よって理解される。 以上を考慮して、この発明の区切られた光検出器PTが所与の逆反射体のため の1組の方位および高度座標(ρ、θ)の形態で少なくとも方向情報を与えるこ とがわかる。この発明の特徴を実現する区切られた検出器は引用によりここに援 用される1996年1月23日に提出された米国出願連続番号第08/589, 104号に開示される。 一般的な区切られた装置の代替的実施例として、(ともに分布器または検出器 の)2つの区切られた装置PD1およびPD2が、2つの装置の対向する2つの半 球領域から生じる球形カバレージを与えるために、図28に示すように背中合わ せに配置されてもよい。 上述の実施例は区切られていない全方向性の分布器を備える区切られた検出器 を有するヘッドモジュールを用いるが、システムは異なった条件下では他の従来 の光源を備える区切られた検出器も用いることができる。たとえば、通常の広帯 域白熱電球が検出ゾーンに他のタイプの照明がない場合に用いられ得る。明滅す る蛍光光源も使用できる。適切な蛍光白熱電球はカリフォルニア州パコイマ(Pa coima,California)のJKLコンポーネンツ社(JKL Components Corp.)によ って製造される白色の「Mini Fluorescent」(商標)、モデル BF659である。通常の光源は検出ゾーンZにおいて一様でない放射プロファ イルを与えがちであるが(プロファイルは光源に対してφの角度または水平線に 近い角度では特に不完全である)、このシステムは光源の水平線区域に対して実 質的に垂直であり、その外部にあるそれらの領域に対して十分に機能する。通常 の光源の代わりに分布器Rを用いると、システムの動作ゾーンが分布器Rの水平 線区域を含む分布器R上の半球領域へと拡大される。 上の実施例(図1参照)で同時に多数の逆反射体RRiを追跡するために、す なわち、(さらなる物体に取付けられていようと同じ物体の種々の場所に取付け られていようと)さらなる逆反射体のための方向データ(ρi、θi)のさらなる 組を与えるために、システムは必然的に別個の逆反射体に起因する信号間の区別 を行なう。この点で、システムによる多数の反射体のデータ処理は並行してでは なく連続して生じ得るので「同時に」という用語は比喩的に用いられ、必ずしも 文字通りのものではないことことに注目される。並行して行なわれる処理は付加 的な処理装置で達成され得る。 システム10はスペクトルで選択するセンサを用いることによって多数の反射 体を区別する。特に、分布器Rから発せされる光が広帯域の光である場合、種々 のスペクトル特性の反射体が、追跡される付加的な反射体ごとにスペクトル応答 ポインドセンサの対応の組(たとえば、スペクトル選択フィルタを備えたフォト ダイオード)とともに設けられる。その「割当られた」逆反射体を追跡する対応 の組の点センサで、システムは多数の逆反射体を追跡でき、種々の逆反射体に対 して集められた強度変動の区別を行なうことができる。 図17を参照すると、(それぞれλ1およびλ2の周波数応答の)スペクトル選 択点センサ71および72の多数の組が単一の区切られた検出器PT内にすべて 収容され得る。特に、組71および72はマスクMより下の各セクションが所与 の組からの1つのセンサによって占められるように配列され得る。図17の区切 られた検出器PTはしたがってλ1およびλ2と同様の周波数スペクトルで少なく とも2つの反射体を検出できる。反射体は各々異なった物体に取付けられ得るか 、または反射体は皆その配向を追跡するための単一の(実質的に硬い)物体に取 付けら得る。 一般に、ここに説明される電子装置の周波数またはスペクトル特性は特定的な 波長ではなく、波長の範囲を示すことに注目される。センサの組71および72 からの応答は対応の反射体の位置を判断するための式において用いられる。一般 に、反射体のスペクトル特性はその「割当てられた」センサの応答特性と同一で ある必要はないが、システム10の性能はそれらが同様の特性を有すれば向上す る。 第3の反射体が追跡される場合、周波数スペクトルλ4の対応のスペクトル応 答センサの第3の組がヘッドモジュールHの区切られた検出器PTに加えられ得 る。代替例では、区切られた検出器PTnだけを備えた付加的なヘッドモジュー ルHnがヘッドモジュールHと関連して後者の再構成を必要とせずに加えられ、 用いられ得る。一般に、さらなる反射体を検出するためのセンサのさらなる組が 既存のヘッドモジュールの区切られた検出器または別個の区切られた検出器T1 内に収容されてもよいことがわかる。図22Aおよび図22Bに示すように、4 つの別個の区切られた検出器PTA、PTB、PTCおよびPTDが単一のプラット ホームP上に従来通り取付けられ、ここで区切られた検出器の各々がセンサの組 SA、SB、SCおよびSDの1組を収容する。 上の説明の単一の区切られた検出器PTが所与の反射体のために1組の方向デ ータ(ρ1、θ1)を与えることができることに注目されている。図1に戻って、 反射体の位置を三次元で(3つの軸に沿って)確かめることが望ましい場合、シ ステムは少なくとも1つの付加的な区切られた光検出器PT2を用いて第2の組 の方向座標ρ2およびθ2を与え、これは第1の方向座標ρ2およびθ2で処理され ると反射体のための3つの座標のすべてを与える。互いに対する区切られた検出 器PTおよびPT2の相対的な位置は、2組の方向データからの反射体のための 3つの座標のすべてを確がめるために両方の区切られた検出器からの信号を参照 できるようにシステムに知らされる。 以上を考慮して、物体のための3つの座標のすべて(すなわち、位置および回 転配向)を確かめるためにシステムは少なくとも3つの反射体と2つの区切られ た検出器とを用いることがわかる。しかしながら、物体運動の6つの自由度すベ てを検出することは必ずしも望ましくなくまたは必要とされず、システム10は 適宜構成され得る。 図1を参照すると、第2の区切られた検出器PT2が用いられる場合、第2の 分布器R2を設けるのは第2のヘッドモジュールH2の一部である。第2の分布器 R2は第2の区切られた検出器によって検出される光を与える。2つのヘッドモ ジュールH1およびH2とその既知の相対位置とによって、システムは3つの座標 においてその反射器の移動を追跡するどの1つの反射器のための方向データのそ れぞれの組も参照することができる。仕切りまたは分離壁(図示せず)がそれぞ れの光分布器による干渉を防ぐためにヘッドモジュールH1とヘッドモジュール H2との間に配置され得る。代替的に、それぞれの分布器からの放射が異なった 周波数、たとえば100Hzおよび130Hzでパルス化または明滅されてもよ い。 図1に示すように、広帯域光が検出ゾーンZ中を発せられる。検出ゾーンZが 広い反射表面を有する家具または壁のような異質な物体を含む場合、光は反射体 だけではなくこれらの表面からも反射される。ヘッドモジュールが検出する反射 体に起因しないどのような光もシステム10の性能を著しく制限し得る背景エネ ルギに寄与する。しかしながら、(背景または自己照明としても知られる)この 背景エネルギがノイズ源ではなく背景源であるので、その影響を補償することが できる。種々のスペクトル応答性の多数のセンサが用いられる場合、この背景源 は除去されなければ減少され得る。 再び図17Aおよび図17Bに示す実施例を参照すると、種々のスペクトル応 答性の多数のセンサが用いられ、すなわち、周波数λ1およびλ2に応答するセン サの組71および72が上述のように2つの対応の反射体を追跡するために用い られる。背景照明を補償するために、第3の組のセンサ73が設けられる。第3 の組73の周波数応答は、背景ゼロ化検出器として作用できるように周波数λ1 およびλ2に近いスペクトルの領域内のすべての波長に応答するように選択され る。背景照明の影響を示すために、背景エネルギを引いた後の、センサの第1の 組および第2の組の応答λ1およびλ2が以下によって与えられる。 式6 r=K-1R ここで そして、R1は背景補正前のセンサ応答であり、Kiiは補正の定数である。 背景レベルが高まるにつれ、電子装置のダイナミックレンジの要件が大きくな る。自己照明の大きさを計算するために、統合球形モデルが用いられる。部屋の 壁から区切られた検出器PTへと逆反射する背景光Bは以下によって与えられる 。 ここで、Aeは区切られた検出器PTの受入面積またはアパチャであり、Awは 部屋壁の面積であり、Wrは部屋壁の反射率である。 逆反射体からの信号は以下によって与えられる。 式8 S=Lr*Pr そして、θ’は上に規定したように逆反射体の発散角であり、Arは逆反射体 の面積であり、Drは逆反射体への距離である。 以下の表1は、1”の直径の逆反射体を用いる選択された条件のための信号対 背景およびA/Dの要件を表にしたものであり、ここでRsはフィート単位での 部屋のサイズであり、Drはフィート単位での逆反射体への距離であり、Wrは壁 の反射率である。背景に対して信号がより小さいとより大きいアナログ−デジタ ル(A/D)変換器が必要とされた。1°の分解能を必要とするシステムでは2 0ビットのA/Dが十分であるかまたは0.013の背景に対する信号である。 20ビットのA/Dは容易に入手可能であり、安価である。 区切られた検出器PTおよび区切られていない分布器Rを含むヘッドモジュー ルHが図16に示される。このヘッドモジュールの区切られた検出器PTおよび 分布器Rは各々それ自体のキャビティを有する。キャビティ16R、マスクMRお よびバッフル41が分布器Rのために設けられ、キャビティ16Rが区切られた 検出器PTのマスクMPT内に実際に構成されても、別個のキャビティ16PT、マ スクMPTおよびバッフル51が区切られた検出器PTのために設けられる。この ように構成され、区切られた検出器PTおよび分布器Rは他方を著しく妨害せず に機能する。分布器Rは、分布器R(およびヘッドモジュールH)のまわりの水 平線区域を含む、ヘッドモジュールH上の半球領域へと光を分布する。水平線区 域から反射されても、半球領域における反射体が反射するどの光も区切られた検 出器PTによって検出される。長いバッフルを備え、区切られた検出器PTはシ ステムが各反射体のためにρおよびθの1組の方向データを与えることができる ようにセクション間の強度変動を検出可能である。 別個のキャビティを備えたヘッドモジュールは最も簡単であり、製造するのに 最もコストがかからないものであり得る。別個のキャビティの特徴によって、連 続的またはゆっくりと発振する照明と相対的に大きな光源とを用いることが可能 となる。この実施例は、可動コンポーネントの使用を避け、システムの電子装置 に相対的にゆっくりとした応答の要件を与える点で有利である。 ヘッドモジュールの変形例として図18Aおよび図18Bを参照されたい。単 一のキャビティ16が設けられ、分布器Rおよび区切られた検出器PTによって 共有される。1つのマスクMと1つの長いバッフル51とがこの実施例で用いら れる。区切られた検出器PTは2つの反射体を検出するためにセンサ71、72 および73の3つの組(背景照明のための第3の組73)を用いる。バッフル5 1によって分割されているキャビティ16を分布器Rが共有するので、分布器R は、マスクMの下のセクションごとに1つ、複数個のエミッタ74を用いる。ヘ ッドモジュールのさらなる変形例として、エミッタ74は広帯域パルスエミッタ であってもよい。パルスがヘッドモジュールHに戻るまでに経過した時間を測定 することによって、システムは以下によって反射体のヘッドモジュールHからの 距離Rを得ることができる。 ここで、cは光の速度=3.998×108m/secである。 約1ナノ秒のパルスリーディングエッジ幅または立上がり時間が約0.15m または5.8”の分解能を与えるであろう。上述の別個のキャビティの実施例に おけるようにほぼミリ秒台(10-3秒)の電子装置の応答時間を必要とするのを 対照的に、この実施例は典型的にほぼナノ秒台(10-9秒)の電子装置の応答時 間を必要とする。経過時間の測定が(上述の代表的な長さLと対照的に)実際の 距離データを与え、ヘッドモジュールのこの変形例を用いるシステムは第2のヘ ッドモジュールを用いずに反射体の3つの座標すべてを与えることができる。回 転運動を追跡するために、システム10はともにヘッドモジュールHによって追 跡される2つのさらなる逆反射体を必要とするのみである。「飛行時間」の変形 例は単一キャビティの実施例に限らず、上述された別個のキャビティの実施例に おいても用いられ得ることが当業者には理解される。 背景照明は上述の実施例において拮抗する要因であり得るが、システムは後述 するように背景照明を発生を最小にするように構成され得る。 図19Aおよび図19Bを参照すると、ヘッドモジュールHの光分布器Rが走 査光機構76によって置き換えられる。走査光機構76はその動きが検流計80 によって導かれる複数個の走査ミラー78を含む。点光源82がらの光がミラー 78によって向け直されてゾーンZを掃引する走査ビーム84を形成する。回転 楔および回転反射体のような他のタイプの光スキャナが存在し、システムにおい て用いらてもよい。 走査ビーム84は約10度の幅であってもよい。ビームまたはその掃引作用は 時間を設定されたり順序付けられたりしないが、所与の時間で検出ゾーンZの限 られたセクションまたは部分を照らすのに役立つ。区切られた検出器PTは、ビ ームがどの反射体にも当たらなければ位置追跡がシステム10によって試みられ ないように検出しきい値を設定されている。ビーム84が反射体を照らさないと 、区切られた検出器PTに当たる光強度がしきい値を超え、システム10はセン サの組によって検出される強度変動を処理する。 この実施例の区切られた検出器PTは対称的なコンポーネントに分割される。 図19Bに示すように、区切られた光検出器PTは2つの部分PTaおよびPTb に分割され、その間には走査機構76が位置決めされる。区切られた検出器PT を分割することによって、走査機構76によるシャドーイングが著しく低減され 、区切られた検出器PTは2つの階層度軸に対して放射を検出可能であり続ける 。この実施例のヘッドモジュールHは反射体のためにわずか1組の方向データ( 方位および高度)を与える。 走査ビーム84が所与の時間にゾーンZのセクションだけを照らすので、この 実施例はより低い背景照明の明らかな利点を有し、したがって反射体が多数ある アプリケーションのために好まれ得る。背景減法を行なう必要なしに、この実施 例のシステムは、検出された信号に対して「色」分析を協力して行なう少数のフ ィルタセンサの組合せを用いて多数の逆反射体を容易に追跡できる。事実上、シ ステムはわずか2組または3組のセンサを用いて非常に多数の(すなわち何千も の)スペクトル的に区別可能な反射体間の区別を行なうように構成され得る。も ちろん、より多数の組が用いられ得ることが当業者には理解される。 システムが行なう色分析は色を検出するために人間の目が用いるものと似てい る。わずか3つの検出器(または「円錐体」)を用いる目は、さまざまな色の区 別を行なうことができる。同様に、図19Bに示すようにわずか3組のスペクト ル選択センサ91、92および93を用いるシステムがさまざまなスペクトル的 に区別可能な反射体を区別できる。走査ビーム84がたまたま同時に多数の反射 体に当たれば、システムは上述の背景照明を補償するために用いられるものと似 た態様で信号を処理できる。 システムはまた別の実施例において色分析を用いる。図20Aおよび図20B を参照すると、システム10は、別個のキャビティ16Tおよび16PR、別個の マスクMTおよびMPR、バッフル41ならびにキャビティ分割バッフル51を備 えた、区切られていない検出器Tと区切られた分布器PRとを有するヘッドモジ ュールHを含む。区切られた分布器PRは各セクションから異なった色(すなわ ち、異なった波長の放射)を放射するために種々のカラーランプCA、CB、CC 、およびCDを備える。反射体が反射する結果として生じる色混合は3つの単一 点センサ95を用いる検出器Tによって検出される。システムは、検出器Tによ って検出される色混合を分析して、その反射体のための1組の方向データ(方位 および高度)を得る。 ここで反射体がLCDシャッタのようなシャッタを備える場合、さらなる反射 体を追跡できる。これによって、システム10のこの実施例は、各反射体によっ て伝達される光データがさまざまなパルス繰返し数でパルスデータとして伝達さ れるようにシャッタのタイミングを設定することなどによって多数の点を区別で きる。 さらに図20Aおよび図20Bを参照すると、代替的な実施例における区切ら れた分布器PRが異なった時間的周波数のエミッタを備えてもよい。すなわち、 区切られた分布器PRの各セクションが、区切られていない検出器Tが各ランプ またはエミッタからの光を区別できるように別個の周波数で明滅するランプまた はエミッタを収容してもよい。 この発明の上の実施例が光学的に受動的なシステムとして構成されるが、この 発明は光学活性システムとして構成されてもよい。図21を参照すろと、LED のような活性光源881および882が光学的に受動的な反射体に取って代わる( それによって光源または光分布器の使用を不必要にする)。1つの区切られた検 出器PT1で、源881および882の各々のための方向データが得られる。2つ の区切られた検出器PT1およびPT2では、源881および882の両方のための 3つの座標のすべての位置データが得られる。活性光源は、区別可能な色を発す るかまたは区別可能な周波数で発振することによって互いから区別可能である。 この発明の別の光学活性実施例として、システム10は図20Bの区切られた 分布器PRと図17の区切られた検出器PTとを含む。上述のような、さまざま な時間的周波数のカラーランプCA、CB、CC、CDまたはエミッタを備える区切 られた分布器PRはそれ自体、追跡される物体上に装着されるかまたは他の方法 で取付けられる。区切られた分布器PRからの結果として生じる色混合は、区切 られた検出器PTに対する物体のための1組の方向データを与えるために色混合 に対して色分析をここで行なう、図17の区切られた検出器PTのセンサ71、 72および73の組によって検出される。 光分布器および/または光検出器の方向性能の精度はさまざまなパラメータを 用いて経験的に最適化できる。たとえば、マスクの高さ、相対的直径、厚さおよ び反射率と、肩部の幅および反射率と、バッフルアセンブリの高さおよび反射率 と、キャビティの形状および反射率と、フォトダイオードの直径とがみな光検出 器の指向性応答に影響を与える。逆に、分布器のおよび/または検出器の方向性 能は所望であれば特定のパラメータを変えることによって一様でないものに調節 できる。たとえば、マスクとアパチャーとの間の距離を短くすることで、検出器 の「軸上の」効率を高めながら検出器の応答の球形プロファイルが低減される。 マスクがアパチャーの面に配置されると、検出器の「軸上の」効率はアパチャー より上のマスクの約40%に比較して約90%に向上するが、その応答プロファ イルは狭められ、あまり一様でない検出プロファイルにされる。光検出器のスペ クトル応答もまた拡散反射する表面またはフィルタ処理された(filtered)ドー ムもしくはカバー上にスペクトル的に選択されるペイントを用いることによって 調節され得る。 図1に戻ると、上述のすべての実施例について、追跡される物体の位置を表わ す信号が物体の位置または移動を示すビデオモニタを駆動するためのビデオ信号 に変換され得る。反射体は、それらがゲーム用の刀またはゲーム用のボクシング グローブのような異なったゲーム用具の間を容易に動かされ得るように取り外し 可能に物体に取付けられ得る。 システムのさらなる実施例として、隠蔽される分布器または検出器98が球形 領域において実質的に一様である放射または検出プロファイルを与えるように構 成されてもよい。図23A、23B、23Cに示すように、隠蔽された装置は内 部体積またはキャビティ104を規定する拡散反射する内部表面102を有した 管状部材100を含む。管状部材100は円筒構成で示されるが、部材100は 円形の断面を有する必要はない。管状部材100は、放射がそこからキャビティ 104に出入りできる2つのアパチャ108を与える開いた端部106を有する 。アパチャ108はマスクMで構造的に隠蔽され、キャビティ104は平面バッ フル110によって分割されて管状部材100の内部に2つの半体積V1および V2を形成する。点素子112は各半体積内に部材100の長さに沿った中点で 収容される。したがって、装置98は1つの分解能軸に関して動作する。 点素子112がエミッタである場合、アパチャ108上に調節された分布プロ ファイルを有する隠蔽された装置98の各端部106から放射が発せられる。同 様に、点素子112が検出器である場合、隠蔽された装置98はアパチャ108 上の調節された検出プロファイルで放射を検出する。 実質的に球形のカバレージのために、第2の隠蔽された管状装置114が設け られる。第2の装置114は第1の装置98と同様に構成され、したがって同じ 参照符号が同じ素子を指す。第2の装置114は、そのアパチャ108が第1の 装置のアパチャ108から実質的に90度ずらされるように第1の装置に対して 直角に位置決めされる。装置114もまた平面バッフル110によって分割され るので、2つの装置はともに2つの分解能軸に関して動作する。 さらに、構造的隠蔽の概念は実質的にランバートの表面を代わりに互いに隠蔽 できる多数の別個の表面へと再構成することによって達成され得る。図24A− 24Dに示すように、軸またはボアサイト124がそこを介して引抜かれ得る開 口または非光学領域122を有する環状または輪状構造120が示される。領域 122が代替的に非反射性および/または非透過性であってもよいことが当業者 には理解される。軸124は輪状構造120がその中に閉じ込められる面に対し て実質的に垂直である。高度角φはボアサイト124からの角として規定される 。 輪状構造は光を放射または検出できる2つの別個の表面を与える。特に、輪状 構造120は領域120に向かって内部に向く第1の表面128を与える第1の 環状構造126を含む。輪状構造120は第2の表面132を与える(図24A において破線で分解された形で示される)第2の環状構造130も含む。第2の 構造130は第1の構造126内に嵌まり、矢印123によって示すように第1 の構造126内の予め定められたどの深さにあってもよい。第1の構造16の内 部に嵌められ、第2の構造130は第1の構造126から角を形成して効果的に 突出し、表面128および132は角を形成して互いからずらされる。ある実施 例では、第1および第2の表面が互いに対して垂直であり、第2の表面132が 領域122の平面と実質的に平行であり、したがってボアサイト124に対して 実質的に垂直である。これは最も簡単な構成を与え得るが、第1および第2の表 面128および132は、それらが所望されるように互いを隠蔽でき、その間の どの角も既知であるかぎり互いに対して垂直である必要はない。構造126およ び130が平行でなければ典型的に相互選択の隠蔽が与えられる。さらに、第2 の表面132は間のどの角も既知であるかぎりボアサイト124に対して垂直で ある必要はない。 図24Cを参照すると、第2の構造130が第1の構造126内により低い深 さで位置する。しかしながら、上述のように、第2の構造130は図25A−2 5Cに示すように第1の構造126の中線に位置してもよい。第1の構造126 の寸法134と、第2の構造130の寸法136と、第1および第2の構造の間 隔137とに依存して、断面Kがφのほとんどの角に対して実質的に一定に保た れ得る。図24Cに示す水平線に接近するφの角では、全体の断面Kを与えるた めに、第1および第2の左の表面128Lおよび130Lが隠蔽されないが、第1 および第2の右の表面は隠蔽されることがわかる。φの角が実質的に0である場 合、第2の表面130Rおよび130Lのみが隠蔽されず、第1の表面128Rお よび128Lの両方が全体の断面Kを与えるために効果的に隠蔽される。 したがって、第1の構造126および第2の構造130は各々他方の表面をφ のさまざまな角に対して構造的に隠蔽し、相対的に一様な放射または検出プロフ ァイルを与えるために断面積Kを相対的に一定に保つ。上述の隠蔽された装置の ように、輪状構造120は放射または検出の目的のために実質的に全方向性であ る。 第2の構造130が第1の構造126内の中ほどの深さにある場合、断面Kは φの異なった角に対して相対的に一定であり続ける。図25Cに示すように、左 の第2の構造130Lは左の第1の表面128Lの一部138を構造的に隠蔽する か覆うが、右の第1の構造126Rは右の第2の表面132Rを完全に隠蔽する。 したがって、第1の構造126および第2の構造130は、各々φのさまざまな 角に対して他方の表面を構造的に隠蔽し、断面積Kを相対的に一定に保って相対 的に一様な放射または検出プロファイルを与える。図24A−24Cおよび図2 5A−25Cにおいて、構造120は円形のリングとして構成されるが、開口ま たは非光学領域122が存在するならばどのような形状に構成されてもよい。 図25A−25Cのみを参照して、構造120を1つの座標において指向性の あるものにするにあたって少なくとも1つの分解能軸を与えるために、構造12 0は少なくとも2つの別個の部分またはセグメント150に分割される。開示さ れる構造120は図24Bに最もよく示されるように4つのセグメント150a 、150b、150cおよび150dに分割されて、構造120を2つの座標に おいて指向性のあるものにする2つの分解能軸を上述した態様で与える。 25Aにおいて、セグメント150dがすべてのセグメント150a−150 dを表わすセグメント150aの断面図を明らかにするために部分的に分解され て示される。構造120の分割は、必然的ではないが好ましくは、各セグメント が実質的に対称的で等しい表面128および132を与えるように行なわれる。 この実施例では、セグメント150a−150dは、各セグメントが他のものの 放射または検出機能によって影響を及ぼされないように、空気または絶縁材で満 たされるギャップ152によって互いから絶縁される。 放射器またはエミッタとしての構造120では、セグメントの各々は区別可能 な放射を発することができる。検出器としての構造120では、構造120は、 各セグメント150a−150dがそれぞれのセグメントに入射する放射を表わ す信号を発生できるように電気的に構成される。 さらなる変形例として、構造120は、シリカ、または赤外線に高感度な測熱 物質から構成されてもよい。この点で、第1および第2の表面128および13 2は、構造120に入射する赤外線が容易に検出されるように濃い色調または色 にされ得る。 球形カバレージが望ましいか適切である場合、2つの輪状構造120’および 120”が図29Aおよび図29Bに示すように背中合わせの構成で用いられ得 る。図示される実施例では、単一の非反射性および非透過性の部材122’が2 つの構造120’と120”との間に設けられ、構造120’および120”の 各々が2つの軸について分解能を与えるためにそれぞれセグメント150a’− 150d’および150a”−150c”に分割される(2つのセグメント15 0d’および150d”は図示されず、セグメント150c’および150c” は一部分解して示される)。 図29Aおよび図29Bの配向において、輪状構造120’が「上部」半球カ バレージを与え、輪状構造120”が「底部」半球カバレージを与え、これらが ともに球形カバレージを与えることがわかる。 図26Aおよび図26Bを参照すると、構造的に隠蔽される方向光学装置16 0の別の実施例が示される。装置160は上述のベース18と似通って構成され たベース162を含む。ただし、ベース162は4つの球形キャビティ164a 、164b、164cおよび164dを含み、そのすべてがベース162の上部 168から構成されるマスク166によって構造的に隠蔽される。球形キャビテ ィの各々は、断面積Kがφのほとんどの角に対して実質的に一定であり続けるよ うにマスク166によって隠蔽されるアパチャ167の表面を有する。エミッタ または検出器である複数個の光学点素子180が設けられ、各々が別個のキャビ テ ィに関連づけられる。 別の方法で説明すると、4つの球形カバレージ164a−164dが、マスク Mが上に支持される、4つの球形カバレージの間に位置すろベースのコアセクシ ョン170によって区切られている(図26Bでは破線セグメント169で示さ れる)より大きなキャビティを連帯的に形成することがわかる。コアセクション 170は、各キャビティ164a−164dにおける放射がそこに留まることを 可能にするに際に上述のバッフル51のように作用する。4つの球形カバレージ で、装置は上述のような2つの分解能軸を与える。 上述したように、この発明の特徴に従う隠蔽された装置の放射または検出プロ ファイルは所望されるか必要とされるのに応じて調節され得る。一様でない調節 された放射または検出プロファイルを与える隠蔽された装置の例として、図30 A−30Cを参照されたい。図示される実施例では一定の円形断面積204を有 した円筒である、拡散反射するキャビティ202を有する隠蔽された装置200 が示される。キャビティ202のアパチャ206は放射または検出表面208を 与える。隠蔽された装置200は拡散反射するマスクMを含む。 この実施例では、マスクMはアパチャ206の幅WAよりも大きい幅WMを有し 、表面208またはアパチャ206から距離Dをおいて位置決めされる。たとえ ば、幅WMは約0.265”であってもよく、幅WAは約0.250”であっても よく、距離Dは0.075”であってもよい。この実施例では、マスクMはアパ チャ206を超えて広がり、延びる。マスクMがこのように構成され、水平線区 域におけるφの角に対する断面積KHが実質的に最大であり、角φが減少すると 断面積KEまで減少されることがわかる。事実上、0に近いφの角(すなわち、 アパチャ206に対して垂直)では、マスクMが完全にアパチャ206を隠蔽す るので断面Kは0である。したがって、装置200は装置200が面する半球領 域またはセクタの上での高度角における機能を低減する。しかしながら、断面積 KHが実質的に最大であり、実質的にすべての方位角に対して最大であり続ける ので(すなわち、0<ρ<360)、装置200は、装置200の水平線区域で またはその近くで方位方向に実質的に一様な放射または検出プロファイルを有す る方位装置となる。 方位方向に少なくとも1つの軸に対する分解能を与えるために、装置はキャビ ティ202をセクションSへと区切るか分割する拡散反射するバッフル214を 含む。具体的に図30Bの実施例を参照すると、必ずしもそうではないが好まし くはバッフル214はキャビティ202を4つのセクションSA、SB、SCおよ びSDに分割する。エミッタとして、装置200は各々が別個のセクションに収 容される4つのエミッタ220A−220Dを含み得る。上述の図20Aおよび図 20Bの半球の区切られた分布器PTのように、エミッタ220は、装置200 が半球上とは対照的に方位角上で動作することを除き、さまざまな色またはさま ざまな時間的周波数のランプであってもよい。 検出器として、方位装置200はセクタに関連した(参照番号220によって も表わされる)複数個の検出器を含み得る。装置200が360度にわたる入射 光の方位角をその水平線区域で突き止めるためには、バッフル214は各々が別 個のエミッタ220を収容する少なくとも4つのセクションSA、SB、SCおよ びSDへとキャビティ202を区切るように構成される。 方位装置200が180度にわたる入射光の方位角をその水平線区域で突き止 めるためには、バッフル214は必ずしもそうではないが好ましくは270度に わたる少なくとも3つのセクションへとキャビティ202を区切るように構成さ れる。図30Cに示すように、3つのセクタは各々検出器220を有するセクシ ョンSA、SDおよびSCであってもよい。第4の検出器220が180度の検出 カバレージのためにこの実施例では用いられていないので、「非活性」セクショ ンSBが検出器なしで示される。 複数個のセクションおよび/またはセクションSと関連した複数個の光学素子 220が、区切られた方位分布器または区切られた方位検出器としての装置20 0の所望の機能および動作にかなうように調節または変更され得ることが当業者 には理解される。 方位装置200の放射または検出プロファイルを調節するさらなる例として、 装置200が図31A−31Cに示され、ここで、マスクMの幅WMがアパチャ 206の幅WAと実質的に等しい。断面積KHが図30A−30Cのそれとは実質 的に変更されずにあるが、図31Aの断面積KE’は図30Aの面積KEより増大 していることがわかる。 図30A−30Cの光学素子220がキャビティ202の「底部」に位置決め されるが、図31A−31Cの光学素子220はキャビティ202の「側部」に 位置決めされることが注目される。どちらの例でも、キャビティ202内の素子 220の場所は上述のような「ホットスポット」が望ましくないか破壊的である 場合に「ホットスポット」を避けるように選択される。図30A−30Cの実施 例は床に取付けられる方位装置にとって好ましく、図31A−31Cの実施例は 壁に取付けられる方位装置にとって好ましいかもしれない。 上述の実施例のように、キャビティ202、マスクMおよび/またはバッフル 214は拡散反射してもよく、キャビティ202は円筒形がほとんどの場合に好 ましいがどのような形状であってもよい。保護カバー224が設けられてもよい 。 この発明は、多数の光学素子または複雑な処理電子装置なしで、3次元ゾーン を移動する物体の位置を追跡できる比較的簡単で費用効果のよいシステムを提供 することがわかる。以上はこの発明の目下好ましい実施例を開示するが、当業者 は示され説明された好ましい実施例をこの発明の範から逸脱せずにさまざまに変 化できることが理解される。したがって、この発明は以下の請求の範囲によって のみ規定される。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (31)優先権主張番号 08/590,290 (32)優先日 平成8年1月23日(1996.1.23) (33)優先権主張国 米国(US) (31)優先権主張番号 08/781,826 (32)優先日 平成9年1月10日(1997.1.10) (33)優先権主張国 米国(US) (81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE, DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,IT,L U,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ,CF ,CG,CI,CM,GA,GN,ML,MR,NE, SN,TD,TG),AP(KE,LS,MW,SD,S Z,UG),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD ,RU,TJ,TM),AL,AM,AT,AU,AZ ,BA,BB,BG,BR,BY,CA,CH,CN, CU,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,GB,G E,HU,IL,IS,JP,KE,KG,KP,KR ,KZ,LC,LK,LR,LS,LT,LU,LV, MD,MG,MK,MN,MW,MX,NO,NZ,P L,PT,RO,RU,SD,SE,SG,SI,SK ,TJ,TM,TR,TT,UA,UG,US,UZ, VN (72)発明者 ワトソン,ハロルド・イー アメリカ合衆国、45429―1858 オハイオ 州、ケタリング、オーバーランド・トレイ ル、4460 (72)発明者 リッター,マイケル・ピィ アメリカ合衆国、45431 オハイオ州、デ イトン、パンドラ・ドライブ、552 (72)発明者 エプリング,ボビー・エル アメリカ合衆国、45305 オハイオ州、ベ ルブルック、ミル・ラン・レーン、2045 (72)発明者 シュミット,マーク・ジィ アメリカ合衆国、45424―3135 オハイオ 州、ヒューバー・ハイツ、マンドゥレイ ク・ドライブ、7168 (72)発明者 レインズ・ジュニア,ジャック・シィ アメリカ合衆国、22071 バージニア州、 ハーンドン、ティンバート・ウッド・ウェ イ、2946

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.放射エネルギ変換装置であって、 拡散反射する表面と、変換装置について水平線区域を規定する光学領域とを有 するベースと、 ベースから間隔を空けられ、水平線区域より上の角度範囲にわたって光学領域 の実質的に一定の部分を与えるように光学領域の一部を隠蔽するように位置決め されたマスクと、 光学領域に関連した放射と対応の信号との間で変換する電磁トランスデューサ とを含む、装置。 2.ベースは拡散反射ずるキャビティを含み、光学領域はキャビティのアパチャ である、請求項1に記載の装置。 3.キャビティは実質的に半球である、請求項2に記載の装置。 4.キャビティは実質的に円筒である、請求項2に記載の装置。 5.マスクと光学領域との間の領域を複数個のセクションに分割するバッフルを さらに含み、電磁トランスデューサはセクションの別個の1つにおける放射に各 々反応する複数個の電磁センサを含む、請求項1または請求項2に記載の装置。 6.セクションの別個の1つにおける放射に各々反応する第2の複数個のセンサ をさらに含み、複数個のセンサの各々は異なったタイプの放射に反応する、請求 項5に記載の装置。 7.異なったタイプの放射は波長において異なる、請求項6に記載の装置。 8.異なったタイプの放射は異なった割合でパルス化する放射を含む、請求項6 に記載の装置。 9.マスクと光学領域との間の領域を複数個のセクションに分割するバッフルを さらに含み、電磁トランスデューサはセクションの別個の1つを介して各々放射 を発する複数個のエミッタを含む、請求項1または請求項2に記載の装置。 10.セクションの別個の1つを介して各々放射を発する第2の複数個のエミッ タをさらに含み、複数個のエミッタの各々は異なったタイプの放射を発する、請 求項9に記載の装置。 11.異なったタイプの放射は波長において異なる、請求項10に記載の装置。 12.異なったタイプの放射は異なった割合でパルス化する放射を含む、請求項 10に記載の装置。 13.マスクと光学領域との間に位置決めされた光デフレクタをさらに含む、請 求項1または請求項2に記載の装置。 14.光デフレクタは拡散反射する円錐を含む、請求項13に記載の装置。 15.光デフレクタはバッフルを含む、請求項13に記載の装置。 16.電磁トランスデューサはキャビティへと光を発する、請求項2、3または 4に記載の装置。 17.電磁トランスデューサはキャビティのアパチャに面するマスクの表面上の 場所からキャビティへと光を発する、請求項16に記載の装置。 18.電磁トランスデューサはキャビティの壁に接する点からキャビティへと光 を発する、請求項16に記載の装置。 19.電磁トランスデューサはキャビティ内で光を検出する、請求項2、3また は4に記載の装置。 20.電磁トランスデューサはキャビティからキャビティのアパチャに面するマ スクの表面上の場所へと反射された光を検出する、請求項19に記載の装置。 21.電磁トランスデューサはキャビティの壁に接する点に入射する光を検出す る、請求項19に記載の装置。 22.光学領域に面するマスクの表面は拡散反射する、請求項1または請求項2 に記載の装置。 23.電磁トランスデューサは電気信号に応答して光を放射するための光学エミ ッタを含み、 水平線区域より上の半球領域の方位および高度の範囲を装置が実質的に一様に 照らすように、マスクがエミッタから放射する光の一部を遮る、請求項1または 請求項2に記載の装置。 24.光学領域に面するマスクの表面は拡散反射する、請求項23に記載の装置 。 25.電磁トランスデューサは光学センサによって検出された入射光に応答して 電気信号を発生するための光学センサを含み、 水平線区域より上の半球領域の方位および高度の範囲から入射する光に対して 装置が実質的に一様な感度を有するように、マスクが光学領域およびセンサから の入射光の一部を遮る、請求項1または請求項2に記載の装置。 26.光学領域に面するマスクの表面は拡散反射する、請求項25に記載の装置 。
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