JP2001514759A

JP2001514759A - 特異性物質及び分子を検出するためのセンシングシステム

Info

Publication number: JP2001514759A
Application number: JP53961398A
Authority: JP
Inventors: ダブリュ．スターツル、ティモシー; ダブリュ．ナネリー、デビッド; ロビンソン、メアリーベス; ハンリン、エイチ．ジョン
Original assignee: ディーディーエックスインコーポレイテッド
Priority date: 1997-03-12
Filing date: 1998-02-24
Publication date: 2001-09-11
Also published as: NZ337980A; US5958704A; CA2286134A1; ZA981986B; US6274384B1; AU745829B2; EP0975967A1; AU6540098A; US20010029050A1; WO1998040741A1

Abstract

(57)【要約】特異性を持つ対象物質又は検体を検出するシステムが提供され、該システムは一又は複数のセンシングユニットと、該センシングユニットを分析する計器とを含んでなる。各センシングユニットは、好ましくは、基板(１０８)、接着層及び少なくとも一の捕獲層を含んでなり、該捕獲層は一のリガンド層を含んでなる。一態様において、接着層は三層型であり、基板上に支持される下側結合表面（１１８）と、リガンド層（１１６）を保持する上側結合表面（１２０）とを、それら二つの表面間に配される絶縁層（１２４）と共に含んでなる。下側結合表面は、基板との堅固且つ安定な接合を与えるものである。上側結合表面はリガンド層を保持するものであり、リガンド層の完全性又は生活能を冒すものではない。絶縁層は、下側及び上側結合表面の間のあらゆる不利益な相互作用を防止するものである。各センシングユニットは、計器に収容されるテストピース上に支持される。

Description

【発明の詳細な説明】特異性物質及び分子を検出するためのセンシングシステム発明の分野本発明は、特異性を有する対象検体又は物質の検出及び／又は定量に関し、特には、対象検体の有無を判定するために、多層型センシングユニットに係る質量を測定する計器を含んでなるシステムに関する。発明の背景固相アッセイシステムを用いて、試料中の物質又は分子の存在を検出するセンサー及び方法は、これまでにも開示されてきた。典型的には、試料をセンサーと接触するように載置し、試料中に存在する検体を、センサーを構成する検体特異性リガンド層と結合させるものである。分析に際して、試料をセンサーから取り除くことも可能である。その後、センサー表面を検体の存在に関して分析する。センサーは、免疫センサー、アフィニティセンサー及びリガンド結合センサーを含むものとして定義することができ、各センサーは、或種の分子又は物質が存在するか否かの判定に関して、特異性質量変化活性を利用する点に特徴を有するものである。通常上記センサーは、対象物質（検体）と結合することにより有効となり、該検体に対して高い感応性及び特異性を有するものである。該センサーは、多様な化学的及び物理的組成を有する一又は複数の層により構成される。該組成は、検体及び該検体が包含される基質の性質に依存する。上記層は、固体支持基板、該基板及び／又はセンサー内隣接層を結合するための一又は複数の接着層、任意数の中間層、検体と特異的に結合するリガンド層、以上の任意の組み合わせを含むものである。センサーに結合した検体の検出は数種の手段により達成され、電気化学的、化学的及び光学的方法が含まれるが、これらに限定されるものではない。検体の検出は多様な手段により強化され、酵素増幅法、質量強化された検体特異性二次リガンドの使用が含まれる。センサーの固体基板即ちベースは、分析に用いられる検出方法に特に好適な固有の物理的、化学的、電気的又は光学的性質を有してなる。リガンド層は典型的に基板上に設けられ、検出又は測定されるべき検体は該リガンド層と結合する。固体支材を利用して、その表面に検体を直接結合させて検出を行うことも可能である。しかしながら、検体又は検体が包含される試料の、組成、複雑性及び／又は安定性に依存して、更には固体基板と相互作用を起こす試料又は検体の性質に依存して、該固体支材に一又は複数の中間層を付加することが場合により必要とされる。例えば、リガンド層が該基板と接着していない場合、あるいは、基板との結合により、破壊、変性、不安定化又は不活性化される場合は、固体基板とリガンド層との間の中間層として接着層を使用することが可能である。固体基板と接触する中間層の表面は、テストピースを準備及び使用する間中、基板と強固に接着している必要がある。固体基板とは逆側の中間層表面も、リガンド層又は他の中間層との強固な結合に好適なものである必要がある。以上のように、更には中間層の性質についても同様に考慮して、最上層がリガンド層との結合に好適な積層体を形成することができる。リガンド層はセンシング表面を形成するものであり、該センシング表面は、被験試料中に検体が存在する場合に該対象検体を特異的に受容しうるものである。このようにして検体はセンサーのセンシング表面上に固定化され、上記方法のいずれかにより検出可能となる。以上概説してきたような多層型センサーは、従来技術において既に開示されているものであるが、本発明の目的は、この種のセンサーを改良して、その感度を向上及び増幅することにある。前記感度を向上させるための本発明を構成する一要素の目的は、特異性検体に対して最大結合能力を保持してなるリガンド層を固定化することにある。そのためには、通常、上記の如く一又は複数の中間接着層を使用することが必要となる。この多層分子膜は、下方においては基板との相互作用に適合し、上方においてはリガンド層との相互作用を最適化するように特別に設計されてなる。これら中間層の支持基板からの分離又は剥離は、多層型センシング表面を好適に構築するために解決しなければならない重要な問題である。基板と中間層との剥離は、これら二成分（基板と中間層）の組成が、該成分間（基板と中間層の間）における強力な物理的又は化学的な相互作用を誘発するものではない場合に生ずる。基板と中間層との間の相互作用は、センサーの製造、組み立て、移送、調製又は使用の間、弱まっていく。固体基板からの剥離に対し安定な一又は複数の接着層を形成することにより、該中間層の最上部を利用して、対象検体に対し特異性を有するリガンド層を固定化することができる。リガンド層が対象検体に対して最大結合力を保持し、変性、失活又は不活性化されないように、該リガンド層と前記最上接着層との相互作用を最適化することは重要である。リガンド層を固定化するためのこのような手段は、検出感度の向上にとって不可欠である。試料中に存在する検体を固定化する多層型センサーに加えて、公知の検出システムには、固定化された検体を検出する計器類が包含される。このような計器類の一群としては、表面弾性波分光、偏光解析及び水晶発振子微量天秤等、検体固定化時のセンサーの質量変化を測定するものがある。概説すれば、試料中に検体が存在する場合、試料中に検体が全く存在しない場合の表面質量に対する質量変化を測定することにより該検体が検出される。前記群に包含される光学計器類は、従来技術においても開示されているように、多数の計器構成成分又は要素を介して、測定される試料に事前に曝されたセンシング表面へビームを誘導するものである。光はセンサーで反射され、強度を含む反射特性並びに各種光学特性が測定される。検体が結合したことによるセンサーの質量変化は、反射光の特性変化として現れる。とりわけ、反射光の偏光状態の変化を測定することが、質量変化を高精度に測定する方法であることが実証されている。簡潔に言えば、検体から反射された光又は検体を透過した光を利用して検体の存在を検出及び／又は測定する好適な計器によってセンサーを分析することができる。上記光学的手法を利用して表面に結合した検体を検出する計器類においては、検出精度が大きな問題となる。非常に微小な質量変化が検体存在の指標となることに鑑みて、本発明は、そのような質量変化を検出しうる高感度な計器類を提供することを目的とする。更に、そのような計器類は、良好に制御された実験室環境外の各種環境で使用されることも想定されるので、構成要素の大きさ、耐久性及び自動計測等の多数の因子を考慮に入れて計器を設計することも本発明の目的である。前記因子及び考察に鑑みれば、対象検体の存在に起因する特異的質量変化活性を検出及び／又は測定するセンシングユニットが組み込まれて支障なく機能する計器を含んでなるシステムを提供することにより、従来技術の上記欠点又は不備を克服した検出システムを創出することは有利なことと思われる。上記システムのセンシングユニットが、必要に応じて対象検体を保持するリガンド層を固定化してなることにより、上記システムの計器が、質量変化の検出及び／又は測定に関し高感度高精度なものとなる。発明の要旨本発明によれば、センシングユニットを含んでなる検出システム、それに関連して該センシングユニットを製造、組み立て及び使用する方法が提供される。また該検出システムは、試料中の一又は複数の対象検体を捕獲し固定化することのできる一又は複数のセンシングユニットをその上に配置してなるテストピースと、該センシングユニット上に固定化された（一又は複数の）検体を検出する計器とを含んでなる。対象検体を含有する試料は、真蒸気、液体又は抽出固体の状態をとりうる。一態様において、該センシングユニットは反射性固体基板、検体特異性リガンド層、並びに、リガンド層を固定化するために使用される三層型接着層を含んでなる。固体基板は、センシングユニットのベースとなる自由電子金属以外の反射性基板であることが好ましい。固体基板の上側表面がリガンド層と好適に隔離されていない場合、そのことによりリガンド層の変性、腐食又は不活性化が誘発される。三層型接着層は、下側結合表面、絶縁中間層及び上側結合表面により構成される。リガンド層を固定化するために使用される三層型接着層は、三種の異なる材料あるいは異なる組成の単一材料で構成され、該層の各要素（下側結合表面、上側結合表面及び中間層）は、該三層型接着層における各々固有の役割に応じた特性を有する。下側結合表面は固体基板の表面と接触するものであり、該固体基板と強固に接着する材料からなる。該下側結合表面は、固体基板に対し接着層全体を堅固且つ安定に積層するものである。該三層型接着層の上側結合表面は、検体特異性のリガンド層を固定化しうる化学的又は物理的性質を有するものである。絶縁層は下側結合表面と上側結合表面との間に配される。重要な点は、該絶縁層が下側結合表面から上側結合表面へ及ぶ各種影響、更には上側結合表面から下側結合表面へ及ぶ各種影響を遮断するように機能することにある。該絶縁中間層は、固体基板の各種影響からリガンド層を保護するものである。検体特異性リガンド層は、三層型接着層の上側結合表面と接触してなる。該リガンド層は、特異性検体が測定試料中に存在する場合に、該特異性検体を捕獲固定化するものである。センシングユニットは多数の好適な特性を有しており、例えば、下側結合表面及び上側結合表面の各組成が効果的な絶縁層を使用することにより保持されるという特性を有してなる。該三層型接着層は、三種の異なる材料あるいは異なる組成の単一材料で構成され、該層の各要素（下側結合表面、上側結合表面及び絶縁中間層）は、該三層型接着層における各々固有の役割に応じた性質を有してなる。上記態様の変型において、該三層型接着層の上側表面を、非特異性検体を受容又は捕獲するリガンド層との結合に利用することも可能である。即ち、該三層型接着層は、検体特異性リガンド層との併用に限定されるものではない。別の一態様において、センシングユニットは、自由電子金属以外の反射性基板（例えば結晶シリコン）のような第一態様と同様の固体基板、二つの要素又は層からなる接着層、及び、検体特異性リガンド層を含んでなる。シリコン表面寄りの接着層は、例えば、有機官能性シリアル（silial）化合物からなる。該接着層のシラン部分はシリコン基板表面と共有結合を形成し、反応性有機官能基は接着層の第二要素との別な結合に利用可能な状態にある。該接着層の第二要素は、通常は有機高分子薄膜であり、好ましくはスピンコーティングにより有機官能性シリアル（silial）化合物層に塗布される。この有機高分子薄膜は、検体特異性リガンド層の固定化、又は、試料中の検体と非特異性結合する接着支台となる非特異性試料の付設に関し好適な環境を与えるものである。センシング表面は、第一態様の固体シリコン基板、該固体基板から剥離しないように調製されて塗布された単一接着層、及び検体特異性リガンド層を含んでなる。接着層は、例えば、有機高分子である。この単一接着層は、第一態様において説明された三つの機能すべてを具備するものであり、即ち、シリコン基板と結合し、リガンド層を固定化し、更には検体特異性リガンド層を不活性化する可能性のある固体基板特性からリガンド層を保護するものである。該リガンド層は、特異性検体が試料中に存在する場合に、該特異性検体を捕獲固定化するものである。三層型接着層と同様に、二要素型接着層及び単層型接着層を使用して、非特異性検体を受容するリガンド層を結合してもよい。検体の検出は、多様な質量強化手段により更に強化される。このような質量強化法は典型的に、検体特異性リガンドの二次的な結合を利用するものであり、該リガンドは表面上に検体を固定化するために使用されるリガンドと同一のものであっても異なるものであってもよい。この二次結合用リガンドは、付加的な増幅系と更に結合しうるものである。そのような付加的な増幅系としては、酵素(例えばホースラディッシュペルオキシダーゼ又はアルカリホスファターゼ)、高分子（例えばＤＮＡ、ＲＮＡ又はフェリチン）又は微粒子（例えばポリスチレンミクロスフィア、金属ゾル、シリカ、自己会合性単分子層又は薄膜形成性化合物）等が挙げられるが、これらに限定されるものではない。各センシングユニットは、テストピース又はスライド上の所定位置に好適に維持されるように構成されてなる。典型的に、各テストピースは所定数のセンシングユニットを支持しうるものである。テストピース上の所定位置は、マーク、バーコード、又はテストピース上の特定センシングユニットの識別に有用な他の標識を含んでなる。該テストピースは、対象検体又は物質が存在する場合に、テストピース上の一又は複数のセンシングユニットに結合した該検体又は物質を検出及び／又は測定する計器に収容されて、該計器と共に使用可能な大きさ及び形状に構成されてなる。該計器は、多数の組立部品（アセンブリー）又は要素を収容する小型ハウジングを有してなる。テストピース移動アセンブリーは、テストピースの位置を自動的に制御するものであり、とりわけ被験センシングユニットにおける対象検体の有無判定に使用される光ビームアセンブリーに対して該テストピースの位置を自動制御するものである。また、該計器は、テストピース上のマーク又はコードを読み取り、モーターに動力を与えてテストピースの動きを調整し、そのことにより、テストピース並びにテストピースの動きに付随する被験センシングユニットを、光ビームアセンブリーに対して好適位置に配置する読み取りアセンブリーを含んでなる。該ハウジングは、テストピースを収容する開口部を含んでなる。更に該ハウジングは、検出プロセスに関連する情報及びデータを要求するためのユーザーインプットアセンブリー、例えばキーパッドを含んでなる。また該計器は、例えば検出プロセスの結果等、要求された出力情報を場合によりグラフ又は図面と共に表示する表示ユニット、例えばＬＣＤを具備してなる。また該表示ユニットは、該計器から得られる情報及びデータに関し可能なオプション設定を技師又は使用者に伝達する手段としても有用である。また好ましくは該計器は、検出及び／又は測定プロセスにおいて該計器が実行する機能に係るデータ又はその他情報を計器からダウンロードさせる外部処理源又はコンピュータシステムと連絡可能なものである。光ビームアセンブリーは、対象検体の有無を判定することに関連して、センシングユニットの質量分析に有用な情報を得るために制御及び方向調整された光源を含んでなる。一態様において、光ビームアセンブリーは、反射光の変化を増幅させて感度を向上させるために、同一センシングユニットを通過する変調光に多数の弾み又は反射を与える構成要素を含んでなる。このように向上した感度は、対象物質が存在する場合であって、センシングユニットの質量変化が比較的小さく、検出困難な場合に特に有利である。対象検体の有無を判定する方法又は操作に係る更に別の側面は、多数のセンシングユニットを備えてなるテストピースが、計器のハウジング内に挿入されることにある。テストピース移動アセンブリーは、処理装置を有してなるデジタルコントローラーにより制御されるものであり、該処理装置は読み取りアセンブリーが処理装置により解読されるマーク又はコードを読み取るまでハウジング内を内方向に向かって移動することにより、テストピースアセンブリーのモーターへの動力供給／停止を制御するものである。光ビームアセンブリーは光ビームを供給するものであり、該光ビームは被験センシングユニット上において制御下で反射されるものである。特定センシングユニットからの反射光は集光されて分析される。センシングユニットからの集光に係る幾つかの態様において、該計器は実質的にｓ偏光（横偏光）のみ、あるいは逆にｐ偏光（縦偏光）のみを供給するように設定可能なものである。このような場合、特定センシングユニットからの偏光状態の変化に起因する検出信号の変化は、センシングユニット質量の増減に係る関数となる。好ましくは、当該光は直線偏光であるが、円形又は楕円形の偏光を利用することも可能である。分析結果は蓄積され、表示利用可能なもの及び/又は該結果を得た使用者が該結果に基づいて判断を下す材料となるものである。蓄積された情報は、対象検体の有無の検査結果に関する情報のみならず、特定テストピース及びセンシングユニットの識別に関する情報も含んでなる。本発明の一態様において、該システムは、テストピース及び検査性能に係る所望の機能を提供するための多数のアセンブリーを具有してなる装置を更に含んでなる。加熱アセンブリーは多数の板を含んでなり、該板は、テストピースへ熱が伝導されるように加熱される。また加熱アセンブリーは支持フレームを含んでなり、該支持フレームは自身と加熱された板とを枢動可能にするものであり、そのことにより加湿アセンブリーの多数の吸水性要素と接触するものである。各吸水性要素は水に浸漬されており、加熱アセンブリーが発生させる熱により蒸気又は湿気を発生させるものである。混合アセンブリーもまた該装置の一部であり、センシングユニットに係る物質を混合するためのものである。多数のバリア要素を有してなるバリアマニホルドは、恒温装置内に位置するとき、テストピースに対して枢動可能である。バリア要素は、テストピースに具設された多数のセンシングユニット間で相互汚染を防ぐ目的で使用される。上記要旨によれば、本発明の重要な特徴の多くが容易に理解される。ここで提供されるシステムは、センシング又はアッセイユニットを含んでなり、該ユニットは接着層を構成要素とし、該接着層は基板から剥離する可能性が大幅に減少されてなり、対象検体が被験センシングユニットと並存する際に該対象検体を受容しうるリガンド層が固定化されてなる。一態様において、接着層は絶縁層を含む三層構造のものであり、該絶縁層は該絶縁層が接触する層又は表面の保全性及び正常な機能を保全するためのものである。また該システムは、対象物質が存在する場合に該対象物質の質量変化活性の検出及び／又は測定を強化する方法及び物質も含んでなる。そのような質量強化法は、センシングユニットに関し、測定される特性の実体（質量）を効果的に増幅させることにより、適切な計器をその検出又は測定動作時において補助するものである。更に該システムは、多数のセンシングユニットを具備してなるテストピースを受け入れる計器を含んでなり、この構成により一又は複数のセンシングユニットが対象検体を含むか否かが判定される。該計器は小型であり、得られる所望のデータ又は他の情報との連動利用が容易であり、その構成要素の多くは自動操作可能である。特に、該計器は、テストピースの位置を調整して、検出目的に使用される光ビーム進路上に正しく配置し、必要な検査、例えば特定センシングユニットの分析を実施し、特定センシングユニットの識別及び検査時間等の検査結果を蓄積しうるものである。一態様においては、同一センシングユニット上で何度も光を反射させることにより、計器の感度を向上させる。他の変型態様においては、ｓ偏光のみ又はｐ偏光のみを利用して、センシングユニットからの検出信号の感度を増幅させる。また該計器は、外部コンピュータ端末へデータを蓄積及びダウンロードしうるものであり、得られたデータを更に評価又は利用しうるものである。好ましくは、該計器はテストピースを収容する装置も含んでなり、該装置は温度、湿度の制御、及び場合によってはセンシングユニットの一部としてセンシングユニットに供与される材料の混合を制御するに有益なものである。該装置はバリアマニホルドを含んでなり、該バリアマニホルドは試料間の相互汚染を防止する機能を有するものである。最終的に、質量変化活性により対象物質を検出及び／又は測定するために必要とされるあらゆるシステム構成補助要素を有してなる総括的なセンシングシステムが提供される。そのようなシステム構成補助要素は、上記主要部へ容易に組み込み可能であり、上記主要部と共に機能するものである。各センシングユニットは好適に形成されて検査に供されるものであり、該検査は検体が存在する場合に検出される信号を効果的に増幅させる好適な質量強化法の利用を含むものである。テストピース上のセンシングユニットは、好適に調製され、計器に対して正確に配置されて、所望の検査が実施される。計器自体は、対象検体の有無判定に係る質量変動に対し非常に敏感である。本発明の更なる利点は、以下の説明により、とりわけ添付の図面を参照することにより明らかとなるものである。図面の簡単な説明図１は、三層型接着層を含んでなるセンシングユニットの概略図である。図２は、図１に係るセンシングユニットにおいて、幾つかの処理工程が実施された後、対象検体が存在する場合を示す概略図である。図３は、図１及び２に係るセンシングユニットにおいて、更に質量強化構成要素を利用した場合の概略図である。図４は、二要素型接着層を有してなる特定センシングユニットの概略図である。図５は、図４に係るセンシングユニットにおいて、幾つかの処理工程が実施された後、対象検体が存在する場合を示す概略図である。図６は、図４及び５に係るセンシングユニットにおいて、更に質量強化成分を利用した場合の概略図である。図７及び８は、図４乃至６に係るセンシングユニットの製造及び使用に係るフローチャートである。図９は、検出及び／又は測定に係る本発明計器を示す分解組立図である。図１０は、センシングユニットの分析及びセンシングユニットの位置制御に使用される計器主要成分のブロック図である。図１１は、テストピースの透視図である。図１２は、本発明計器に使用される光ビームアセンブリー、テストピース移動アセンブリー及び読み取りアセンブリーを示す略式拡大図である。図１３は、図１２に係る光ビームアセンブリー、テストピース移動アセンブリー及び読み取りアセンブリーにおける多数の構成要素を示す分解組立図である。図１４は、光ビームアセンブリーの一態様を使用する、計器操作に係る主要工程を記載したフローチャートである。図１５Ａ及び１５Ｂは、二つのテストピースを使用して実施する多数のセンシングユニットの分析に係る工程を記載したフローチャートである。図１６は、本発明計器の制御下において所望の位置に配置された多数のセンシングユニットを有してなるテストピースを示す概略図である。図１７は、第二態様に係るテストピース制御アセンブリーを含んでなる計器の別態様を示す図である。図１８は、図１７に係る態様に関し、テストピース制御アセンブリーを更に詳細に図示した概略図である。図１９は、図１７及び１８に係る態様の側面図である。図２０は、図１７乃至２０に係る態様を収容するハウジングを示す図である。図２１は、対象検体の有無を判定する際に、反射光を増幅するために、同一センシングユニットにおいて繰り返し反射法を利用する光検出アセンブリーの別態様を示す概略図である。図２２は、図２１に係る態様を使用する計器操作に係る主要工程を記載したフローチャートである。図２３は、多数の機能を具有するテストピースを含んでなる装置を示す透視図である。図２４は、図１２３に係る装置の分解組立図である。詳細な説明図１には、本発明のシステムにおけるセンシング又はアッセイユニット１００の一態様が図式的に示されている。図から明らかな通り、該センシングユニット１００は、異なる材料からなる多数の層を含んでなる。多層型ユニット１００は多数の機能を具有しており、これらの機能については後述する。試料１０４は該ユニット１００上に載置されている。該試料１０４はその後の検査により、特異性対象検体又は物質を含有するものであるか否かが判定される。その存在の有無が検査される特異性検体は、多数の異なる物質、材料及び／又は高分子、例えば生物学的材料、化学物質、ペプチド及び毒素のいずれか一を含んでなる。一用途において、センシングユニット１００は、動物又は人間の体液内における有害物質又は望ましくない物質の有無を検査する検査システム及び方法の一部として利用される。そのような検査の結果に基づいて、適切な行為又は処置を取ることが可能となる。複数層で構成されるセンシングユニット１００は、基板又は基層１０８を含んでなり、該基板は支持要素として利用され、検査計器及びプロトコルに有用であるか、それらと適合する材料で構成されてなる。好適な態様において、基板１０８は自由電子金属以外のものであり(基板が自由電子金属の特徴を呈する場合は、その基板は不適当であり、使用することができない)、好ましくは対象検体の有無の判定に反射光を利用する検査計器との併用に関し所望の特性を有する結晶シリコン材料で構成される。三層型接着層基板１０８は接着層１１２と結合してなり、該接着層はリガンド層を固定化するために使用される。接着層１１２は、二つの主要機能を具現するための材料組成を含んでなる。接着層１１２は、基板１０８と確実に接着又は結合することと、損傷又は不利益な変性を引き起こすことなくリガンド層を含む一又は複数の捕獲層を固定化することとを必須要件とする。リガンド層１１６は、試料中に対象検体が存在する場合に該対象検体と好適に結合する公知又は特異性材料あるいは高分子からなる。リガンド層１１６は、モノクローナル及びポリクローナル抗体、抗原、アビジン、ビオチン、核酸、蛋白、ペプチド及びレセプタのような多数の異なる材料を構成要素としうる。この態様の一変型として、リガンド層１１６又は他の捕獲層を使用する代わりに、検体が存在する場合に該検体を三層型接着層１１２に直接結合させる態様がある。一態様において、接着層１１２は三層型、不均質及び非多孔質である。そのような接着層１１２は、下側結合表面１１８、上側結合表面１２０、及び前記二表面１１８、１２０の間に配された絶縁又は中間層１２４を含んでなる。公知の従来技術とは異なり、三層型接着層１１２は、所望の結合機能及び絶縁機能を確立すると共に多数の機能を呈する異なる材料特性を有してなる三つの層を含んでなる。下側結合表面１１８は、基板１０８との好適な結合を形成する材料組成に特徴を有する。そのような結合は、下側結合表面１１８の基板１０８からの分離又は剥離を好適に防止するものである。下側結合表面１１８は、吸着、静電的、化学的、共有性又はイオン性結合等、一又は複数の結合機構又は技法により、基板１０８に対し、活性接着するものであるか向上した結合特性を示すものである。好適な技法又は手段により、耐久性及び安定性に優れた接着層１１２と基板１０８との積層体を形成することができる。上側結合表面１２０は、下側結合表面１１８の材料組成とは異なる一又は複数の材料で構成されることが好ましい。上側結合表面１２０の主な機能はリガンド層１１６に好適な結合環境を与えて、リガンド層１１６の変形、変性、ステアリック変性を防ぎ、あるいはリガンド層１１６を構成するリガンドの一部又は全部の不活性化を防ぐことにあるので、該上側結合表面は異なる属性又は特性を必要とするものである。典型的に、そのような高分子において上記機能性を得るには、制御された固定化環境が必要とされる。上記属性が得られない場合は、リガンド層１１６は、生存可能な対象検体と結合することができない。絶縁層１２４は、下側結合表面１１８と上側結合表面１２０との間の保護層又はバリア層である。絶縁層１２４は二つの主要な機能を保持してなる。絶縁層１２４は、不利益な作用又は活性が二つの方向各々に伝わることを防ぐものである。第一の方向に関しては、下側結合表面１１８又は基板１０８の材料組成に起因して上側結合表面１２０に及ぶ不利益又は潜在的に有害な作用が、該絶縁層１２４により制御又は防止される。第二の方向に関しては、上側結合表面１２０の材料組成に起因して下側結合表面１１８又は基板１０８に及ぶ上記作用の発生が防止される。不利益な作用とは、二つの表面１１８、１２０の一方から他方へ及ぶ潜在的に有害な静電特性、イオン特性、疎水性又は共有結合性の影響を含むものである。また絶縁層１２４は、リガンド層１１６又は他の層を含む捕獲層、センシングユニット１００に含まれる材料又は試料に起因する不利益な作用の発生を防ぐものでもある。下側結合表面１１８及び上側結合表面１２０各々は、絶縁層１２４の材料又は材料組成とは異なる材料又は材料組成を有してなる。上記二つの結合表面１１８、１２０各々は、絶縁又は保護層とは異なる好適機能を具現する特性を必須要件とする。絶縁層１２４は均質であっても不均質であってもよく、例えば異なる材料からなる傾斜材料であってもよい。三層型接着層１１２は非多孔性又は実質非多孔性であって、液体不透性であるが、該三層型接着層１１２において液体の通過を阻害する領域又は部分は絶縁層１２４である。下側及び上側結合表面１１８、１２０は、不浸透性又は非多孔性である必要はない。絶縁層に係る特性には、剥離しようとする力又は動きに、比較的長期間耐久又は対抗する能力が含まれる。下側結合表面１１８、上側結合表面１２０及び絶縁層１２４の組成は、これら表面及び層に要求される特性を有してなり、要求される機能の具現に好適な異なる材料又は材料群の一又はそれ以上を含んでなる。一態様において、基板１０８は、例えば市販の結晶シリコンを含んでなり、該結晶シリコンは自然酸化膜を有するものであっても有さないものであってもよい。三層型接着層１１２は、例えば以下の材料、即ち、無機又は有機の単量体及び重合体化合物の任意の組み合わせを含んでなる。三層型接着層の三つの部分に利用可能な材料の例としては、６ −アジドスルホニルヘキシルトリエトキシシラン、アミノエチルアミノプロピルトリメトキシシラン、アミノプロピルトリエトキシシラン、３−イソシアナトプロピルトリエトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、ポリエチレングリコール、ポリエチレンオキシド、ニトロセルロース、パラレン(paralene)、ナイロン、ポリエステル、ポリイミド類、ポリウレタン、ポリスチレン、アビジン（及びその誘導体）及びビオチン、並びに前記材料を組み合わせたものを挙げることができる。幾つかの態様において、接着層１１２は以下の材料、即ち無機一価（非重合体）化合物並びに／又は有機一価及び／若しくは多価化合物を含んでなり、前記化合物は粒子を含有しないものであっても、少なくとも４０ミクロンの（合体していない状態の）粒子径を有する粒子を含有するものであってもよく、また前記化合物の各々は、線形骨格（分岐、ランダム及び／又は不規則骨格を有さない）を有してなる例えば、ポリスチレン、ポリウレタン、ポリエチレングリコール、アビジン−ビオチン、及び／又はそれらを組み合わせたものである。図２には、センシングユニット１００に係る更なる図面が描かれており、多数の分析工程が実施された後のセンシングユニット１００の状態が示されている。前記分析工程については、センシングユニットの第二態様に関して後に詳述するが、その手順が図２に係る態様においても適用される。本質的に、分析工程後に残存する唯一の物質は、あるとすれば対象検体１０６である。対象検体１０６は受容又は捕獲リガンド層１１６上に結合又は固定化される。被験準備のこの段階において、センシングユニット１００は好適な計器による計測を受けるために所定位置に配置される。代替的及び好適には、図３に示されるように、検体が存在する場合に検出又は測定される質量変化を効果的に増幅させるために、一又は複数の質量強化物質又は材料１１０が使用される。このような質量強化法は一又は複数の異なる方式を採りうるものであり、例えば、運動性能動型質量強化、受動型質量強化及び自己会合型（self-assembling）強化系を挙げることができる。質量強化物質については、幾つかの態様例に関して後述する。これら質量強化物質は、対象検体が存在する場合に該対象検体の検出を向上させるものであり、通常は、付加的な強化系と組み合わせ可能な特異性リガンドの二次的結合を利用するものである。二要素型接着層図４には、センシングユニットの他の態様が図式的に示されている。この態様は、三層型接着層の代わりに二つの要素又は層からなる接着層を含んでなる。公知の従来技術とは異なり、前記二つの要素からなる層は異なる材料で構成され、有機官能性シリアル（silial）化合物と、所望のリガンドを吸着又は結合させる上側要素とを含んでなる。第一の態様と同様に、このセンシングユニット１５０は、シリコンウェーハのようなシリコン基調の材料からなる基板１５４を含んでなる。接着層１５８は、例えば、６−アジドスルホニルヘキシルトリエトキシシラン及びアミノプロピルトリエトキシシランのような有機官能性シリアル（sili al）化合物を有してなる下側要素１６２を含んでなる。下側要素１６２は、第一態様における下側結合表面１１８と同様の特性を有してなり、基板１５４との耐久性及び安定性に優れた接着機能を主要特性とするものである。また二要素型接着層１５８は、吸着、共有結合、イオン結合、化学的及び／又は静電的接着の一又はそれ以上により下側要素１６２と結合してなる上側要素１６６を含んでなる。重要な点は、上側要素１６６が、リガンド層１７０を含んでなる捕獲層と結合する外表面１６８を必須要素とする点にある。二要素型接着層態様において、上側要素１６６における外表面１６８及びその他の部分は均質である。リガンド層１７０を含んでなる捕獲層は、第一態様の捕獲層と同一の材料組成で構成され、第一態様の捕獲層と同一の機能及び特性を具有してなる。図１に係るリガンド層１１６上に試料１０４が供与されたように、試料１７４はリガンド層１７０上に供与される。図１乃至３に係る態様と同様に、センシングユニット１５０は、対象検体の有無判定に備えて準備される。図５には、後述する幾つかの工程後に対象検体１５６がリガンド層１７０と結合している状態が示されている。この段階において、センシングユニット１５０は、例えば前記計器及び後述するその変態による検査を受けるために所定の位置に配置される。好ましくは、質量強化系又は物質１６０は、対象検体１５６上に供される。このような質量強化系１６０は、図１乃至３に係る態様において提供された機能と同一の機能を具現するものである。二要素型態様を製造する方法及び組成の詳細については、図７及び８に示した。フローチャート並びに後述の実施例１乃至３に示されるように、センシングユニット１５０を製造するためには多数の工程が必要とされる。ここで図７を詳説すると、工程２００において、結晶シリコンウェーハが得られる。工程２０２において、該ウェーハはスピン処理装置内に配置され、続く二要素型接着層形成に供される。次いで工程２０６において、６−アジドスルホニルヘキシルトリエトキシシランのような有機官能性シリアル（silial）化合物がウェーハ上にスピンコーティングされる。工程２０８において、ポリスチレンのような有機高分子が各下側要素１６２上に続いてスピンコーティングされて各上側要素１６６が形成される。工程２１２に記載されるように、ウェーハ並びに下側及び上側要素１６２、１６６は、十分な温度で十分な時間焼成されて硬化する。工程２１４に記載されるように、ウェーハはストリップに切断されて、下側及び上側要素１６２、１６６を含んでなる各二要素型接着層１５８が形成する。工程２１６においては、多数のセンシングユニットがガラススライド上に取着される。工程２１８において、マスキング処理が施され、この処理により、センシングユニット間における潜在的な汚染が減少するように、また、センシングユニットに係るこのような配置及び分離が、バーコード又は他の標識の識別に係る配置及び位置と両立しうるように、各センシングユニットは互いに分離される。二要素型接着層１５８は、工程２２０において安定性が検査されるが、この工程は必須ではない。特に、接着層１５８は、剥離しようとする力又は動きに耐久又は対抗する能力の測定を目的として検査される。工程２２２において、第一リガンド（主リガンド）層１７０が各センシングユニット１５０の外表面上に塗布される。工程２２４に記載されるように、第一リガンド層１７０を成長させるために、二要素型接着層１５８及び付随するリガンド層１７０は所定温度で十分な時間焼成される。次いで工程２２６において、望ましくない非特異性結合を防止するために、各センシングユニットにおけるあらゆる付加的な第一リガンド層結合部位がブロックされる。図８を参照すると、工程２３０において、試料が各センシングユニット１５０上に積層される。第一リガンド層１７０は、対象検体が存在する場合に該対象検体と好適に結合する公知又は特異性の分子からなる。試料添加後、検体が存在する場合はその特異結合を生じさせるように、工程２３４において更にインキュベートする。検査又は分析が実施されるとほぼ同時に、工程２３８において、遮断組成物が洗い流され、好ましくは第二リガンドが添加される。工程２４２において、各センシングユニット１５０が再びインキュベートされる。この態様において、インキュベートされるセンシングユニットは、第一及び第二リガンド並びに対象検体を含んでなる。前述の如く、質量強化組成物を含有させることは典型的に有利である。したがって工程２４６において、インキュベート及び第二配位結合の終了後、更にすすぎが行われ、続いて、酵素基質のような質量強化組成物が添加される。ここで各センシングユニット１５０は検出又は測定計器に供される準備が整い、工程２５０において、対象検体が存在する場合はその存在に起因する特定センシングユニット１５０における何らかの質量変化が読み取り又は検出される。上記説明は、二要素型接着層の製造方法に関するものであるが、前記工程は、三層型接着層の三層構成が二要素型接着層と異なる点を除いては、三層型接着層の製造にも同様に適用可能なものである。図７及び８に記載された工程を、以下の実施例において更に詳細に説明するが、ここで、実施例１は主に図７に記載の工程に関するものであり、実施例２及び３は、図８に記載の工程と図７に記載の工程の一部とに関するものである。実施例１表面に自然酸化膜（二酸化物）を形成してなるシリコンウェーハ表面を研磨して単結晶シリコンウェーハバッチを準備した。続いて、二要素型接着層を形成するためにウェーハをスピン処理装置内へ設置した。９５％の２００プルーフエタノールと５％のdH₂O（蒸留水？）とからなる溶液中に２％の６−アジドスルホニルヘキシルトリエトキシシラン(アジドシラン)を、１Ｎ（規定）の水酸化ナトリウム１滴を添加して調製した。乾燥窒素雰囲気中でウェーハを回転速度５０００rpmで回転させながら、３００μＬ分のアジドシラン溶液をシリコンウェーハの中央部に供給することにより、アジドシラン溶液をシリコンウェーハ上にスピンコーティングした。アジドシランコーティングされたウェーハを続いてスピン乾燥し、２００プルーフのエタノール１mlでスピンすすぎし、１１０℃で１０分間焼成した。分子量が２１２,０００であるスチレンの０．５％トルエン溶液を調製した。大気雰囲気中でウェーハを回転速度５０００rpmで回転させながら、５００μＬ分のスチレン溶液をアジドシランコーティングされたウェーハの中央部に供給することにより、スチレン溶液をアジドシラン層上にスピンコーティングした。続いて、二要素型接着層及びウェーハを１００℃で１８乃至２０時間焼成し、その後、接着層の接着安定性を検査した。実施例２ウサギ抗Bacillus globigiiポリクローナル抗体を、５０mMのＨＥＰＥＳ緩衝液（pH８．０）で９μg／mlまで希釈し、希釈したこの捕獲抗体１５μＬをテストピース内の各センシングユニット上へ注いだ。次いで、テストピースを３７℃ の高湿度雰囲気中で１時間インキュベートした。蒸留水ですすいだ後、圧縮窒素ガスでテストピースを乾燥させ、StabilCoat（商標）１８μＬを各センシングユニットに添加して、センシングユニットにおける付加的な蛋白結合部位をブロックした。３７℃で１時間インキュベート後、過剰液体を吸引除去し、テストピースを使用するまで４℃で保管した。分析を行う際、過剰遮断蛋白を蒸留水で洗い流した。１５μＬの試料（０．２％のウシ血清アルブミン、０．０１％の「Tween^・−２０」が添加されたpH８．０、５０mMのＨＥＰＥＳからなるBacillus globigii試料緩衝液で希釈）をセンシングユニットに分配し、テストピースを３７℃で１時間インキュベートした。次いで蒸留水でセンシングユニットをすすぎ、圧縮窒素ガスで乾燥させた。次工程において、１５μＬのビオチン化ヤギ抗Bacillus globigiiポリクローナル抗体（抗Bacillus globigii試料緩衝液で２μg／mLまで希釈）を各センシングユニットに分配した。テストピースを３７℃で３０分間インキュベートした。蒸留水でテストピースをすすぐことにより反応を停止させ、圧縮窒素ガスで乾燥させた。次いで、ストレプタビジン（streptavidin）とホースラディッシュペルオキシダーゼ重合体との結合体（ミズーリ州セントルイス所在、シグマケミカルカンパニー製）をBacillus globigii試料緩衝液で１：６０００に希釈し、該希釈物１０μＬを添加した。テストピースを３７℃で３０分間インキュベートし、次いでテストピースを蒸留水ですすぎ、圧縮窒素ガスで乾燥させた。最後に、１０μＬの「TMB Reaction Substrate」(メリーランド州ゲーサーズバーグ所在、キルケゴール・ペリー・ラボラトリーズ製)を各センシングユニットに添加した。３７℃で１５分間インキュベート後、蒸留水でテストピースをすすぐことにより反応を停止させた。圧縮窒素ガスでテストピースを乾燥させ、反応生成物量を計器で測定した。実施例３ PBS（１５０mMのNaClを含有するpH７．４の１０mMリン酸塩緩衝液）で２３μg ／mLに希釈したウサギ抗Listeriaポリクローナル抗体１５μＬで、テストピース内のセンシングユニットをコーティングした。テストピースを高湿度雰囲気中３７℃で１時間インキュベートした後、テストピースをＰＢＳＴ（０．０５％の「 Tween^・−２０」を含有するＰＢＳ）ですすぎ、更に蒸留水ですすいだ。次いで、圧縮窒素ガスでテストピースを乾燥させた。ＰＢＳで３０mg／mLに希釈したウシ血清アルブミン２０μＬを各センシングユニットに添加することにより、付加的な蛋白結合部位をブロックした。３７℃で３０分間インキュベートした後、過剰液体を吸引除去し、テストピースを使用するまで４℃で保管した。次工程において、培地内で熱殺菌したListeriaからなる試料１５μＬをセンシングユニットに添加した。テストピースを３７℃で３０分間インキュベートし、次いで、ＰＢＳＴ及び蒸留水ですすいだ。テストピースは圧縮窒素ガスで乾燥させた。次いで、ウサギ抗Listeriaポリクローナル抗体と西洋ワサビペルオキシダーゼとの結合体（キルケゴール・ペリー・ラボラトリーズ製）をBiostride（商標）結合体希釈液で１：５００に希釈したもの１５μＬを各センシングユニットに添加した。テストピースを３７℃で３０分間インキュベートし、ＰＢＳＴ及び蒸留水ですすぎ、続いて、圧縮窒素ガスで乾燥させた。最後に、１５μＬのTMB Reaction Substrate（キルケゴール・ペリー・ラボラトリーズ製）を各テストウェル（窪み）に添加した。２５℃で１５分間インキュベートした後、テストピースを蒸留水ですすぐことにより反応を停止させた。テストピースを圧縮窒素ガスで乾燥させ、反応生成物量を計測した。計器及びシステムの操作図９及び１０を参照すると、特異性対象検体又は物質を検出するシステムは、センシングユニット１００が対象検体を含んでなるか否かの測定に係るデータを獲得及び分析する計器３００も含んでなる。該計器３００は、検出及び分析プロセスに使用される組立部品（アセンブリー）及び構成要素を収容するハウジング３０４を含んでなる。該ハウジング３０４は、小型で設置面積が比較的小さいことに特徴を有する。ハウジング３０４内の上記組立部品及び構成要素の選択及び配置を特別なものとすることによりハウジングの大きさを小さくすることができる。ハウジング３０４は、複数の壁を有してなる下側収容ユニット３０８と、該下側収容ユニット３０８に締結される上蓋３１２とを含んでなる。上蓋３１２は、入力ユニット又はキーボード３１６を備えてなる上面を有してなり、該入力ユニット又はキーボードにより、技師又は使用者が、データ要求等の情報を計器３００に入力することができる。また上面は、液晶ディスプレー（ＬＣＤ）３５２（図１０）を収容する窓３２０を有してなり、該ＬＣＤを利用して、選択可能なメニュー又は他の情報や、計器３００により実施された分析結果、例えば検出過程に係るデータをグラフ化したもの等を表示することができる。下側収容ユニット３０４の端壁３２４は、該端壁底部近傍に形成されてなる受け入れスロット３２８を有してなる。該受け入れスロット３２８は、テストピース又はスライド３３２を受け入れ可能な形状及び大きさに形成されてなる。図１１に示すように、テストピース３３２は細長く比較的平たい要素であり、多数のセンシングユニット１００を互いに隔てて保持しうるものである。テストピース３３２は、個々のセンシングユニットを識別し、及び／又はそれらの位置を表示するための標識３３４を有してなる。即ち、そのような標識３３４は、各センシングユニット１００ａ乃至１００１と連携してなるか、各センシングユニット位置に配されてなる一又は複数のマークを含んでなる。したがって、計器３００がこのようなマークを読み取り又は検出することにより、読み取られた情報を利用して、分析及び検出操作を開始することができる。補完的あるいは代替的に、上記標識３３４は、各センシングユニット１００ａ乃至１００１に連携してなるか、各センシングユニットに隣接配置されてなるバーコードのような識別情報を含むものとすることができる。各センシングユニットに対応するバーコードは、個々のセンシングユニット１００ａ乃至１００１を識別指示するものである。したがって、このようなバーコード情報を利用して、検査される特定センシングユニットの識別情報を保存又は記録し、他のセンシングユニットと識別することが可能である。図９及び１０に戻ると、計器３００における組立部品の一つとして、制御アセンブリー３４０がある。該制御アセンブリー３４０は、多数の電子部品を有しており、その中には多数のデバイス又は素子と相互作用しそれらを制御するデジタルコントローラー３４４が含まれる。該デジタルコントローラー３４４は、一又は複数の処理装置を含んでなり、該処理装置は、センシングユニット１００における特異性対象検体の有無判定に係るものであり、該センシングユニット１００は、処理装置が制御アセンブリー３４０を構成する他の要素から受け取ったデータを利用して検査される。デジタルコントローラー３４４はＬＣＤコントローラー３４８と連絡してなり、該ＬＣＤコントローラーは、デジタルコントローラー３４４による基本制御の下で、液晶ディスプレー（ＬＣＤ）３５２に情報を表示させ、表示情報を制御するものである。同様に、デジタルコントローラー３４４が、キーパッドインターフェース３５６を介してキーパッド３１６と連絡した後、前記情報がデジタルコントローラー３４４へ送信される。また制御アセンブリー３４０は、データ及び実行可能なコードを保存する記憶装置（メモリーストレージ）も含んでなる。この点に関し、プログラム記憶装置３６０及びデータ記憶装置３４４が、デジタルコントローラー３４４と連絡してなる。プログラム記憶装置３６０は、対象検体の有無判定に係る信号等、デジタルコントローラー３４４により受信されたデータ関連信号を解析するためにプログラムされたコード又はアルゴリズムを蓄積するものである。データ記憶装置３６４は、検出操作の結果に関連する数値のような、検出操作に関連する結果を蓄積するために使用される。再び図９を参照すると、制御アセンブリー３４０の成分及び組立部品は、下側収容ユニット３４４内に収容可能な大きさの一又は複数の印刷回路板３６８上に取着されてなる。また下側収容ユニット３０４の内部には、デジタルコントローラー３４４と連絡してなる多数のデータ提供／発生アセンブリー又は周辺アセンブリーが含まれてなり、それらアセンブリーの少なくとも一部は、印刷回路板３６８の下に配置されてなる。更に詳しくは、テストピース制御アセンブリー３７２、読み取りアセンブリー３７６及び光ビームアセンブリー３８０が設けられており、これら三つのアセンブリー各々における少なくとも幾つかの要素は、取着板３８４に固定されてなる。図９及び１０と共に、図１２及び１３を参照すると、上記アセンブリー各々が更に詳細に図示されている。テストピース制御アセンブリー３７２は、場合により対象検体を含んでなる多数のセンシングユニット１００を具備してなるテストピース３３２の動きを制御するために使用される。テストピース制御アセンブリー３７２は、モーターマウント３９２により保持又は支持されてなるモーター３８８を含んでなる。モーターへの動力の供給及び停止を含むモーター３８８操作は、デジタルコントローラー３４４と連絡するモーターコントローラー３９６を使用してなされる。テストピース３３２の動きが適切であれば、デジタルコントローラー３４４はモーターコントローラー３９６に必要な信号を発生させ、モーターコントローラー３９６はモーター３８８に好適な信号を発生する。モーター３８８の駆動力は第一ギア４００へ伝達され、該第一ギアはモーター３８８に動力が供給されている間、回転する。第一ギア４００は、第二ギア４０４と作動的に係合してなる。二つのギア４００、４０４が互いに直交してなることは、計器３００の小型化に有利である。第一ギア４００が回転することにより、第二ギア４０４も回転する。第二ギア４０４はドライブシャフト４０８に係合してなり、該ドライブシャフトは、第二ギア４０４に隣接する第一カラー４１２と、ドライブシャフト４０８上において前記カラー４０４から離れた位置にある第一ブシュ４１６とを有してなる。第一及び第二支持アーム４２０、４２４は、ドライブシャフト４０８を受け入れて支持するものである。前記支持アーム４２０、４２４の間で、ドライブシャフト４０８は取着板上に設けられたテストピース通路４２８を横切ってなる。第一及び第二支持アーム４２０、４２４は、テストピース通路４２８の両脇で取着板３８４に各々固定されてなる。二つの支持アーム４２０、４２４各々の内側には、第一ドライブホイール４３２及び第二ドライブホイール４３６が各々隣接してなる。前記二つのドライブホイール４３２、４３６各々は、歯を有してなるか、さもなくばテストピース３３２の端部若しくは他の部分と好適に係合するような形状を有してなる。前記二つのドライブホイール４３２、４３６の各々は、ドライブシャフト４０８と係合することにより、ドライブシャフト４０８が駆動又は回転する間回転し、その結果テストピース３３２がテストピース通路４２８に沿って移動するものである。ドライブシャフト４０８を支持する要素についての説明として最後であるが、第二ブシュ４４０は第二ドライブホイール４３６に隣接してシャフト４０８周囲に設けられ、第二カラー４４４が、第二支持アーム４２４の反対側でドライブシャフト４０８周囲に設けられてなる。図４に示されるように、テストピース制御アセンブリー３７２は背板４４８を含んでなり、該背板は、テストピース通路４２８に沿ってテストピース３３２を収容及び誘導するために下側収容ユニット３０８の端壁４５２に設けられた受け入れスロット３２８と対面する開口部４５２を有してなる。分析される特定センシングユニット１００に対して所望の位置にテストピース３３２を配置することと関連して、読み取りアセンブリー３７６が使用される。読み取りアセンブリー３７６は、テストピース３３２上の標識３３４を利用して情報を読み取り又は獲得するものである。得られたデータはデジタルコントローラー３４４へ送られ、該デジタルコントローラー３４４によりモーター３８８への動力供給制御に関する情報が解析される。図１２及び１３に示されるように、読み取りアセンブリー３７６は、テストピース３３２上の標識３３４を読み取るために、テストピース通路４２８に沿って厳密正確に配置された読み取り要素４６０を含んでなる。読み取り要素４６０の位置は、光ビームアセンブリー３８０を構成する幾つかの要素に対して正確に定められる。この点に関しては、光ビームアセンブリー３８０について更に詳細に説明する際に、一層明らかとなる。読み取り要素４６０はその出力を図９に示された制御アセンブリー３４０の処理回路４６４へ送るものである。処理回路４６４は、読み取り信号を出力する読み取り要素４６０から受信した信号を処理するものであり、そのような処理としては、所望増幅の実施、信号に好適な周波数を得るためのフィルタリング、及び望ましくないノイズの信号からの除去等が含まれる。変調された光源が使用される場合、所望されない直流レベルのノイズと所望の信号とを識別する能力を向上させるフィルタリングが実現される。そのような場合、前記フィルタリングにはフーリエ変換法を利用することが可能であり、該フーリエ変換法により、入力信号から直流ノイズ部分を抽出し、電子フィルターを施し、得られた信号を積分して所望の検出信号を得ることができる。以上のような処理の後、処理された読み取り信号はデコーダー４６８にかけられる。バーコードを読み取る場合は、デコーダー４６８は、読み取り要素４６０により現在読み取られたバーコードを示すデジタル信号を発生させるために、デーコーダーに入力された信号を解読若しくは解析する論理を含んでなる。このデジタル又は解読信号は、シリアルインターフェース４７２へ与えられ、該インターフェースは、デジタルコントローラー３４４と連絡して、テストピース３３２の位置情報をデジタルコントローラー３４４へ与えるものである。図１２を再び参照すると、読み取りアセンブリー３７６は、読み取り要素３６０を受け入れるように該読み取り要素と緊密に係合してなる穴を有する読み取りマウント４７６も含んでなる。読み取りマウント４７６は、テストピース通路４２８に対して正確な位置に配置されるようにテストピース通路４２８に対して調整可能なものである。この点に関し、読み取りアセンブリー３７６は、調整スロット４８４内に位置する調整要素４８０も含んでなり、この構成により読み取りマウント４７６は、テストピース通路４２８に隣接して取着板３８４に固定されてなる読み取り支持部４８８に対して多様な位置をとりうる。また光ビームアセンブリー３８０も、テストピース通路４２８に対して厳密正確に配置されることが要求される要素を有してなる。光ビームアセンブリー３８０は光ビームを供給するものであり、光ビームがセンシングユニット１００を照射して反射されるように、テストピース通路４２８に沿ってその動きが制御されるテストピース３３２が停止した状態で、対象検体が存在する場合に該検体を含有するセンサーの特定センシングユニット１００上に該光ビームが照射される。図９、１０、１２及び１３に係る態様において、光ビームアセンブリー３８０は、単色光源となるレーザーモジュール４９６を含んでなるが、非レーザー光源を利用することも可能である。単色光源としては、適切なフィルターを通過した白色光、発光ダイオード（ＬＥＤ）又はレーザーダイオードが含まれる。電力供給及びレーザーモジュール４９６により出力される光ビームに係る制御は、デジタルコントローラー３４４及びデジタルコントローラー３４４と連絡するレーザーレギュレーター５００によりなされる。図７及び８に示されるように、レーザーモジュール４９６は光学マウント５０４内に支持されてなる。図８の態様において、光ビームアセンブリー３８０は、光ビームが偏光板５１２を通過した後、センシングユニット１００に入射するように、光ビームの好適な偏光状態を作り出すための、調整可能又は回転可能な直線偏光子５０８も含んでなる。更に詳細には、直線偏光子５０８は、入射光のｐ成分又はｐ偏光を本質的に除去する一方、入射光のｓ成分又はｓ偏光のみを出力するように配向されてなる。別な一態様において、光がセンシングユニット１００に到達する前に、所望の偏光状態の実現を補助する目的で、偏光子５０８と共に波長板又は補償器が使用される。その他の態様において、円偏光又は楕円偏光が得られ、利用される。偏光板５１２からの入射直線偏光は、特定センシングユニット１００へ向かう。入射光は、対象検体が存在する場合に対象検体を含んでなるセンシングユニット上の小さな領域又は点を照射する。反射光は、特異性対象検体が存在する場合の質量変化測定に関与する有用な情報を含んでなる。光ビームアセンブリー３８０は検出アセンブリー５２０も含んでなり、該検出アセンブリーは、前記反射光を受光するように正確な所定位置に正しく配されてなる。金属反射材又は虚数部の大きな（例えば０．０３以上）屈折率を持つ材料が、センシングユニット１００の一部として使用されない限りは、殆どの直線偏光（ｓ偏光のみ）は、反射後にセンシングユニット１００を離れる。他の態様において、光ビームアセンブリー３８０は反射後にｐ偏光のみとなるように構成される。また楕円偏光を作り出すことも可能であり、その場合、楕円偏光がセンシングユニット１００を照射することにより得られる反射光の偏光状態も楕円形となる。代替的に、円偏光を利用してもよい。しかしながら、円偏光とセンシングユニット１００との相互作用により、反射光の偏光状態はわずかに楕円に変化する。検出アセンブリー５２０は検出偏光子５２８を含んでなり、該検出偏光子は、受光した偏光を除去、消去、濾光又は吸収するものである。別の一態様においては、偏光子５２８と共に波長板又は補償板が付随的に利用される。そのような付随的な要素は、センシングユニット１００で反射されたｐ又はｓ偏光のような小成分からなる反射偏光状態のフィルタリングを補助するものである。センシングユニット１００の組成により、反射光における楕円率、及び／又は偏光成分のわずかな欠陥若しくはわずかなずれにより生じる楕円率を導くことも可能である。以上の光学的処理の後、検出偏光子５２８により直線偏光が除去されることを考慮すると、センシングユニット１００質量の増減に起因する信号のみが発生するはずである。感度は主にｓ偏光を利用したものであるため、この構成は、センシングユニットの質量変化におけるわずかな増加に対する感度を低下させることが確認されている。一方、ｐ偏光又はｓ偏光以外が検出偏光子５２８に入射する場合、感度の低下が確認される。ｐ偏光が存在する場合、Ｓ／Ｎ比が低下するものであり、このことはわずかな質量変化に対する感度が低下することを意味する。更に詳しくは、センシングユニット１００の屈折率の虚数成分が少なくとも０．０５である場合、センシングユニットを出る光は楕円状に偏光される。楕円偏光はｓ成分及びｐ成分の両方を有してなる。両成分が存在するとき、検出偏光子５２８により光を消去することはできない。そのような態様においては、ｓ偏光は消失し、ｐ偏光は光検出路にそって進む。このｐ偏光が光学的ノイズとなり、計器感度を低下させる。図１２及び１３において、検出アセンブリー５２０も、センシングユニット１００と検出偏光子５２８との間に付加的に配されてなる補償波長板５２４を含んでなる。補償波長板５２４は、典型的に四分の一波長板であり、センシングユニット１００を出る可能性のある楕円偏光された光を、ｓ成分のみを有してなる平面又は直線偏光に変換するものである。直線偏光が存在する場合、センシングユニット１００における質量又は厚み変化に起因して発生する可能性のあるあらゆる光信号の検出に先立って、該偏光は検出偏光子５２８により消光される。前記波長板又は補償板は、センシングユニット１００からの反射光のどちら側でも使用できる。補償板における遅延の選択は、特定の光学成分構成におけるシグナル／ノイズ比を最適化するために必要とされる条件に基づく。そのような状況に応じて、１／８、１／４、１／２又は他の波長の遅延が選択される。別の一態様は、ｓ偏光を検出偏光子５２８に通して消光する代わりに、ｐ偏光のみを発生させ検出装置に通すものであり、このときｓ成分偏光子５２８はセンシングユニット１００への入射光を出力する偏光要素により既に本質的に排除又は最小化されてなる。検出偏光子５２８の出力は、検出ユニット５３２に与えられるものであり、該検出ユニットは、例えば、受光した光の強度の検出又は測定に使用されるフォトダイオードを含んでなる。検出された光の強度は、対象検体がセンシングユニット１００に附帯している場合は該対象検体に起因する質量変化に関係し、この点については、以下で詳説する。図１０に示されるように、検出ユニット５３２は制御アセンブリー３４０（図９）の検出処理回路５３６と連絡してなる。該検出処理回路５３６は、光検出ユニット５３２からのアナログ信号を処理するものであり、好適な増幅、及び既述のフーリエ変換フィルタリングを利用する信号フィルタリング等が行われる。検出処理回路５３６の出力は、アナログ信号をデジタルコントローラー３４４が受信可能なデジタル信号へ変換するアナログ−デジタルコンバーター（ＡＤＣ）５４０に与えらる。このデジタル変換された光信号は、対象検体が存在する場合には該検体を含んでなるセンシングユニット１００からの反射光強度に相当するものである。次いで該デジタル信号が解析されて、被験特定センシングユニット１００における対象検体の有無が判定される。別の一態様として、フォトダイオード型の検出装置の代わりに、ビデオ式、電荷結合素子（ＣＣＤ）等のような結像検出装置を使用して、被験センシングユニットの映像と共に、センシングユニットの強度変化を把握することが可能である。この種の結像検査は、０．０１２mmのレーザービームでセンシングユニットを走査することに等しい。センシングユニットの約０．０１２mm部分から得られるデータを利用して、異なる種類のデジタル解析を施して、捕獲された物質量を測定することが可能である。例えば、対象検体よりも大きく対象検体とは異なる偏光特性を有してなる非特異性材料が対象検体と共に捕獲される場合、それら非特異性材料の存在は、それらの大きさが０．０１２mmの検出解像度に対して妥当なものであり、あるいは、偏光特性が全般的なノイズよりも十分大きなものである場合に検出可能である。このことは、そのような領域は潜在的に選択可能なものであり、信号全体から消去しうるものであることを意味する。別の一態様において、入射光の制御及び反射光の集光に係る光学装置は、補償板を使用せずに二つの検出装置を使用するものである。このような構成は、偏光子又は補償板のような移動性又は可調整部材を含まないものである。この構成によれば、光はセンシングユニットにおいて、０°、９０°又はブルースター角以外の好適又は所望の角度で反射する。センシングユニットから離れた後、光は、ブルースター角又はその近傍に位置してなる検出装置又はシリコン基板で再び反射される。この反射により、全てのｐ偏光が排除され、ｓ偏光のみが存続する。センシングユニットからの反射光の検出にシリコン検出装置を使用することは、センシングユニットの表面上物質に関し正確な計算を行う際に有益な情報となるｐ偏光量の読み取りが可能になるので有利である。残りの反射光は、既述の検出装置と同様の最終検出装置又は他の検出装置により集光される。集光されたｓ偏光の最終値は、対象検体を含まないセンシングユニットから集光されたｓ偏光と比較される。前記光学装置を含んでなる計器は、三種の出力、即ち、ｓ偏光、ｐ偏光、及びｐ／ｓ振幅比を呈するものである。前記振幅比は、通常の偏光解析計算であり、他の対象値の計算に有用である。以下、図１２及び１３に係る態様を解析要領と共に、図１４に示されるフローチャートを参照して更に詳細に説明する。この態様に係る方法によれば、従来法とは異なり、直線偏光要素５０８、５１２及び検出偏光子５２８が、まず入射光を発生させてその入射光を特定被験センシングユニットに誘導するような位置又は向きにそれぞれ固定されたまま、唯一の偏光成分、例えばｓ偏光のみが検出偏光子５２８に受光される。対象検体の有無を判定するためにセンシングユニット１００から測定される光強度の利用に際して、本発明においては、予め準備した標準データを基準とするものであり、該標準データは標準曲線又はプロットとして表すことができる。そのような標準データは、記憶装置内に保存された多数の離散データ点として表すことも可能であり、二つの離散点の間で任意の内挿値を得ることが可能である。このようなデータ点は、多数のセンシングユニットに係る多数の標準質量又は正確に測定された質量に関連する光強度の値に対応してなり、前記標準質量又は正確に測定された質量は、被験センシングユニットに関し対象物質が存在する場合の質量変化と対照させることを意図されたものである。例えば、計器３００は、対象検体が存在する場合の代表質量を含んでなる標準センシングユニット１００と共に使用される。測定は、この標準センシングユニットを使用して実施される。第一の既知質量を有してなるこの特別なセンシングユニットに関してデータが収集され、また他の既知質量を有してなる他のセンシングユニットについても同様にデータが収集される。前記既知質量は、測定された光強度の値と相関してなる。図１４における工程５５０に記載のように、準備された標準データは、相関する質量及び光強度値を含んでなる。上記のような入手可能な情報又はデータを利用して、工程５５４においては、特定センシングユニット１００に関し検出操作を実施する前に、実施される較正工程が定義されている。特に、検出直線偏光子５２８を適宜回転させて、既知又は標準センシングユニットの存在下で、該ユニットに反射されて検出直線偏光子を通過する基準光強度を求めることにより、該偏光子を較正することができる。前記基準光強度は、その値がゼロ又は実質ゼロの状態を含んでなる。検出直線偏光子５２８の回転を含んでなる前記較正工程の後、工程５５８において、センシングユニット１００が入射光を受光しうる好適位置に配置される。工程５６２において、入射光が特定センシングユニット１００上の点又は小領域に誘導される。工程５６６においては、対象検体が存在する場合に該対象検体を含んでなるセンシングユニット１００上の前記点で反射された反射光は、補償波長板５２４を通過する。工程５７０において、反射された直線偏光は検出偏光子５２８を介して受光されるが、この検出工程中は、工程５７４に記載のように、該偏光子は回転せず、静止してなる。光検出ユニット５３２、検出回路５３６及びアナログ− デジタル変換回路５４０を使用して光強度を測定した後、強度に相当するデジタル光信号がデジタルコントローラー３４４に与えられる。工程５７８において、処理装置を含んでなるデジタルコントローラー３４４が、デジタル光信号と、工程５５０に関して既述した予め準備されたデータとを比較する。予め準備されたデータと測定された光信号との比較に基づき、センシングユニット１００における質量変化が測定される。この測定に基づき、対象検体の有無が判定される。上記判定結果は、液晶ディスプレー３５２を使用して表示される。付加的に又は代替的に、上記結果を示す情報は、他のデータと同様に、コンピュータシステムのような外部装置へ、シリアルインターフェース４７２を介してデジタルコントローラー３４４と連絡してなる図１０に記載のシリアルＩ／Ｏ接続５９０を利用して供給又はダウンロードすることが可能である。上記検査各々の結果に係るデータは、後でアクセス及び使用しうるように、データ記憶装置３６４に保存することも可能である。一又は複数のセンシングユニット１００の分析に付随して得られるデータに関して、図１５及び１６を参照して更に説明する。当該方法においては、示差分析が実施される。更に詳しくは、テストピース上に連続的に具設されてなる対応センシングユニット１００間で、得られる結果に差異が生じる。即ち、対象検体の有無に関して検査される第一センシングユニットと、対象検体を含まないセンシングユニットとに関し、得られる結果の差分を取り込むものである。第一センシングユニットは第一テストピース上に配置され、それに対応するように第二センシングユニットは第二テストピース上に配置される。検出された差分は、化学反応又は捕獲プロセスにより存在する対象検体に起因する信号又は光強度である。また上記操作工程は、テストピース上の多数のセンシングユニット各々を、検出操作に当該する構成要素に対して自動的に配置するための制御可能なモーターを使用することにおいて、公知従来技術とも異なるものである。図１５Ａ及び１５Ｂは、一又は複数のセンシングユニットが対象検体を有してなるか否かの判定に使用される第一テストピース３３２上の多数のセンシングユニット１００について、判定結果及び関連データを得るための主要工程を記載してなるフローチャートである。図１５Ａに係る工程６００によれば、多数のセンシングユニットを具備してなる第一テストピース３３２が、計器３００に対して可動に設置される。工程６０４において、第一テストピース３３２は、テストピース通路４２８に沿って計器３００に対して移動する。工程６０８において、第一センシングユニット１００を示す第一テストピース上のマーク及び／又は識別コード（バーコード）あるいは他の標識が連続的に照合される。工程６１２において、第一テストピース３３２の動きが、テストピース制御アセンブリー３７２及び制御アセンブリー３４０の制御下で、読み取りアセンブリー３７６による判定を基に中断され、第一テストピース上の第一センシングユニット１００が、該第一センシングユニット１００における対象検体の有無に係る読み取り測定等の分析に好適な位置に配置される。第一センシングユニット１００ａについて検査を実施する際の、テストピース通路４２８沿いのテストピース３３２の好適位置が図１６に示されている。続いて、光ビームアセンブリー３８０が作動して、工程６１６において、第一テストピースの第一センシングユニットについて、読み取り及び分析が行われる。読み取り結果は、この特定センシングユニット１００について対象検体の有無を示すものであり、工程６２０において、第一テストピース３３２上の前記第一センシングユニットに関する読み取り結果及び関連情報が、データ記憶装置３６４内に保存される。本発明一態様において、保存されるデータは、第一テストピース３３２についてセンシングユニット１００の位置又は数を示すロケーションナンバー(場所番号)、センシングユニットを識別する識別コード、光ビームアセンブリー３８０とそれに続く処理回路の使用により発生したデジタル光信号を利用して数値として得られる分析結果、分析実施日及び分析時間を含んでなる。工程６２４によれば、第一テストピース３３２に具設されてなる各センシングユニット１００について工程６０４乃至６２０が繰り返される。次いで対象検体を含まない同数のセンシングユニット１００を有してなる第二テストピース３３２が準備される。デジタル光信号を利用して得られた結果について、図１５Ｂに係る工程６３２において、識別コードが整合する場合、第一及び第二テストピースについて対応センシングユニット間の差分が取り込まれる。例えば、識別コードが一致し、以下の二つの場所が互いに対応するものである場合、第一テストピースにおける場所１についての分析結果は、第二テストピースにおける場所１についての分析結果から差し引かれる。以上のように、十分な差は、質量又は厚みの変化の指標となり、同時に、被験センシングユニット１００上の試料に対象検体が存在することの指標となる。工程６３６において、各々の減算結果が保存又は蓄積され、前記結果が負の値である場合には、０．０として保存される。一方、工程６４０において、第一テストピースと第二テストピースとの間の対応関係に不備がある場合は、差分は一切計算されず、記録も一切保存されない。前述の工程を実行するに有用なプログラムコード又はソフトウエアも、図１５Ｂに係る工程６４４乃至６５２に記載される多数の機能を含んでなる。工程６４４において、液晶ディスプレー３５２を利用してリコール（再呼び出し）メニューが表示される。多数のリコール機能が実装可能である。「Recall Last(直前情報の再呼び出し)」が呼び出し又は押された場合は、最後に実施された検査についての情報、及び読み取り記録が表示されるものであり、それらの表示には識別情報、記録が得られた日付及び時間が含まれ、また、一態様においてはボルト単位で表示される読み取り結果も共に表示される。「Recall/Scroll(再呼び出し／スクロール)」が呼び出し又は押された場合は、「Recall Last」の場合と同様の結果が表示され、更にスクロールキーを使用して使用者が全ての記録をスクロールオーバー及びスクロールバックさせることができる。「Recall By ID（ＩＤによる再呼び出し)」が呼び出し又は押された場合は、使用者が識別コードを入力することにより、当該識別コードを有する全ての記録に関する情報を表示することができる。工程６４８において、使用者が「Plot Request(プロット要求)」を入力することが可能であり、この要求により単一識別コードに係るデータについて多数の標本値が表示される。この要求を実行するためには、所望の識別コードが入力されて、開始数字から上限数字に至る記録がプロット表示される。入力した識別コード（ＩＤ）に関し、上限数字を超える記録がある場合は、キーパッド３１６上の適切なキーを押すことにより付加的又は過剰な標本値もプロットすることが可能である。要求された識別コードと利用可能な記録とが一致しない場合は、入力された識別コードに対して利用可能な記録が存在しないという結果が表示される。工程６５２によれば、プログラムコードは、アクセス可能な多数のユーティリティーを含んでなる。ディスプレー３５２を使用して、一又は複数のユーティリティーメニューが表示される。ユーティリティーメニューは、特定訃器３００に関する現在の情報を表示する「Show System(システム表示)」を含んでおり、そのような情報としては、被験センシングユニット用に使用されている記憶装置（カレントメモリー）の場所、特定計器用の記憶装置（メモリー）に関する全ロケーションナンバー、更に使用可能な記憶装置のロケーションナンバー、現在の日付、現在時刻、現在の識別コード、センシングユニットを具備してなるテストピースに関して読み取られるロケーションナンバー、検出処理回路５３６についての現在の利得、現在のソフトウエアバージョン及び現在のハードウエアバージョン等が含まれる。またユーティリティーメニューは、データ記憶装置３６４に保存されている全ての現存データをダウンロードするために使用される「downlo ad data(データのダウンロード)」を含んでなる。ダウンロードされたデータは、例えばパーソナルコンピュータに収容することができる。更にユーティリティーメニューは以下のものを含んでなり、即ち、使用者が現行の識別番号又はコードを他の番号又はコードに変更することのできる「change identification code( 識別番号の変更)」、使用者が利得を最小値と最高値との間で調整することのできる「change gain(利得の変更)」、使用者が自動的に読み取られるテストピース３３２上のロケーションナンバーを調整することのできる「change number of loca tions(ロケーションナンバーの変更)」、レーザーへの電力を遠隔制御できる「las er on/off(レーザーオン／オフ)」、並びにモーター３８８の始動、及びモーターの現在の向き確認と関連しモーターの方向転換に使用される鍵となる「motor CW/CCW(モーター右回り／左回り)」を含んでなる。使用者の必要に応じて、多数の他のユーティリティーを準備又は実装することが可能である。異なる構成のテストピース制御アセンブリー６６０に主たる特徴を有する計器に係る別態様を、図１７乃至２０を参照して説明する。テストピース３３２を移動させるためのテストピース制御アセンブリー６６０は、第一及び第二駆動ローラー６６２ａ、６６２ｂを含んでなる。駆動板６６４は、前記二つの駆動ローラー６６２ａ、６６２ｂ各々と、機能的に接続してなる。連続コンベアーベルト６６８が、駆動ローラー６６２ａ、６６２ｂ、並びに駆動板６６４上に配されてなる。またテストピース制御アセンブリー６６０はガイドアセンブリー６７０を含んでなり、該ガイドアセンブリーは、コンベアーベルト６６８に従って該コンベアーベルト上をテストピースが制御下で移動する間、該テストピース３３２を正しく配置又は誘導するに有用である。この点に関し、駆動ローラー６６２ａは、ばねのような偏倚機構を有していることが好ましく、この偏倚機構によりガイドアセンブリー６７０に向かう好適な動きが発生し、ガイドアセンブリー６７０に対してテストピース３３２を好適に配置することができる。更に詳しくは、ガイドアセンブリー６７０は多数のガイドローラー６７４を含んでなり、該多数のガイドローラーは、コンベアーベルト６６８の長さに沿って互いに隔たって配されてなる。図示の態様においては、四つの前記ガイドローラー６７４ａ乃至６７４ｄが設けられている。各ガイドローラー６７４の自由端は、テストピース３３２の端部と係合するものである。またガイドアセンブリー６７０は、コンベアーベルト６６８上に挿入されるテストピース３３２の挿入端部に隣接して配されてなる一対のつめ６８０ａ、６８０ｂを含んでなる。二つのつめ６８０ａ、６８０ｂの各々は、テストピース３３２を受け入れると共に、コンベアーベルト６６８の頂部に対して、テストピース３３２を誘導しうるように、好適に配置されてなる。またテストピース制御アセンブリー６６０は、第一及び第二支持壁６８２ａ、６８２ｂを含んでなり、この二つの壁は互いに隔たってなり、互いの間に駆動板６６４及びコンベアーベルト６６８、更に駆動ローラー６６２ａ、６６２ｂを有してなる。支持壁６８２ａは、ガイドローラー６７４及びつめ６８０を、コンベアーベルト６６８に対して、更にテストピースが計器内にある場合はテストピース３３２に対しても支持するものである。図１７に示されるように、図１７乃至２０の態様は支持壁調整アセンブリー６８４も含んでなる。該調整アセンブリー６８４は第二支持壁６８２ｂと機能的に接続しており、第一支持壁６８２ａに対して第二支持壁６８２ｂの位置を移動又は調整するために使用されるものである。従って、二壁６８２ａ、６８２ｂ間の間隔又は距離は、テストピース３３２の幅に応じて変更可能なものである。この構成により、テストピース３３２幅の関数として最適な間隔を得ることができ、テストピース３３２は、支持壁６８２ａ、６８２ｂの間に好適に配置及び誘導される。図１７に更に示されているように、この態様は、光ビーム調整アセンブリー６８６も含んでなり、該光ビーム調整アセンブリー６８６は、位置合わせ要素６８８及び該位置合わせ要素に接合してなる多数のファスナー６９０を含んでなる。ファスナー６９０は、光ビームアセンブリー３８０のレーザーモジュール４９６と機能的に接続してなる。レーザーモジュール４９６の最適配置、それに付随する、レーザーモジュールから出力される光ビームの最適方向は、ファスナー６９０を利用してレーザーモジュール４９６の位置を調整することにより達成される。この構成により、時間がかかり潜在的に不正確な方法でレーザモジュール４９６を計器へ配置する代わりに、その最適位置を得るための調整が、レーザーモジュール４９６に関し最適な位置が見つかるまでファスナー６９０を動かして該レーザーモジュールを所望に動かすことにより達成される。図２０を参照すると、この態様に係るハウジング６９２が示されている。該ハウジング６９２は、傾斜収容スロット６９４を含んでなり、該スロットは、テストピース３３２の挿入を容易にして、テストピース制御アセンブリー６６０に収容されるべきテストピースを好適にガイドするように幾何学的に設計されてなる。又はウジング６９２は、一対の切り込み６９６ａ、６９６ｂを有してなり、該切り込みにより、ハウジング６９２内に位置する機構及び構成要素に対してテストピースを手動で出し入れ、移動することが可能になる。付加偏光システム計器３００の組立部品及び構成要素に関し他の態様も利用可能である。光ビームアセンブリーの別態様に関し、図２１及び２２を参照して説明する。この態様は、繰り返し反射法を利用するものであり、光は被験センシングユニット１００をただ一度通過するのではなく、センシングユニットに対し入反射を繰り返すものである。極度に小さい光ビームが繰り返し反射法の一部として使用される場合、結果として、光ビームは、各光路途上においてセンシングユニット１００上の異なる地点から反射される。しかしながら、一般に光ビームの大きさには限度があり、対象検体が存在する場合は、該対象検体により占められる領域は典型的に非常に小さいので、当然の帰結として、光ビームはセンシングユニット上の小領域から反射され、次の反射は光ビームと既に接触した一又は複数の領域と多少重なることとなる。このような重なり反射作用により、センシングユニットの全表面領域の「平均化」が促進される。繰り返し反射法の利用に際し、主要な目的は、暗騒音又は他の検出されるべき信号に比べ十分大きな信号を発生させることにある。センシングユニット１００からの一度の跳ね返り即ち反射は、そのような信号を発生させるに十分ではない。対象検体が存在する場合のセンシングユニットに関し、非常に薄い厚み変化又は非常に小さな質量変化を検出するためには、一度の跳ね返り又は反射により生じる信号は十分なものではない。センシングユニットを通過する光路上で複数の反射を誘発し、各反射光について前の偏光をわずかに変化させた偏光を施すことにより(対象検体の存在時は該検体を有してなるセンシングユニット上で反射が生ずる度に付加又は累積偏光)、結局最終的に、偏光状態の変化により十分な強度変化が得られ、この十分な強度変化は検出信号として現れる。この繰り返し反射態様は、センシングユニットに対して０°以外の角度、更に好ましくは０°に加え９０°以外の角度で繰り返し反射された信号を発生させる点、更には前記反射光信号の少なくとも一部を集光し、対象検体の有無判定に関し集光した光信号全体を解析する点において、公知の従来技術とは異なるものである。図２１を参照すると、光ビームアセンブリー７００の一態様が図式的に示されており、該態様においては繰り返し反射を発生させ、部分的な光透過を利用するものであり、前記部分透過光を集光してその強度を解析するものである。更に詳しくは、光ビームアセンブリー７００は、偏光源７０４を含んでなり、該偏光源は単色光源又は他の利用可能な光源である。曲面鏡７０８は、光源７０４から出る光ビームの進路上に好適に配置されてなる。該曲面鏡７０８は、光学能と特殊な反射皮膜を有してなる。四分の一波長遅延又は補償板７１２は、曲面鏡７０８を出る光ビームの進路上に配置されてなる。四分の一波長遅延板７１２は、反射防止皮膜を両面に有してなる。該遅延板７１２は、該遅延板を通過する偏光状態が反射後に付加されるようにするものであり、偏光の変化を相殺するものではない。この点については以下で説明する。また光ビームアセンブリー７００は、焦点レンズ／解析板７１６を含んでなり、この焦点レンズ／解析板７１６は、曲面鏡７０８において部分的に透過される光の進路上に配されてなる。該焦点レンズ／解析板７１６は、曲面鏡７０８からの透過光の受光制御に関連し、自身の軸を中心として回転可能なものである。該焦点レンズ／解析板７１６は、部分透過光が該レンズ／解析板から検出ユニット７２０へ誘導されるように好適に配置されてなり、該検出ユニットは、あらゆる部分透過光を集光するものであり、集光された光は、その強度に相当する光信号へ変換される。この光信号は、既述の態様と同様に、表面上の対象検体に起因するセンシングユニット１００の質量又は厚さにおける変化の測定に関して、解析される。多数の「跳ね返り」即ち反射について言及すると、図２１で示されるように、偏光源７０４は、曲面鏡７０８へ向けて光ビームを放出するものである。光源７０４からの光は、曲面鏡７０８を通過してもしなくてもよく、センシングユニット上の第一の点又は地点に入射する。光はセンシングユニットで反射されて、曲面鏡７０８と接触するものであり、その結果、部分透過光Ａが発生し、同時に、曲面鏡７０８からセンシングユニット１００上の前記反射点とは異なる点に至る新たな反射光が発生する。更にその反射光が再び曲面鏡７０８へ戻り、部分透過光Ｂが発生し、同時に、センシングユニット１００へ戻る新たな反射光が発生する。更に曲面鏡７０８へ戻る新たな反射がセンシングユニット１００上の新たな点において発生し、部分透過光Ｃが曲面鏡７０８を通過し、曲面鏡７０８からの新たな反射光がセンシングユニット１００上の新たな点へ到達する。更にこの新たな点において、センシングユニット１００から曲面鏡７０８へ至る新たな反射が発生し、新たな部分透過光Ｄが発生する。曲面鏡７０８とセンシングユニット１００との間の各反射において、当該光は四分の一波長遅延板７１２を通過する。該遅延板７１２を通過する度に、光の偏光状態は、９０°にセンシングユニット１００の厚みに起因して発生するわずかな変化を加えたものとなる。一方、曲面鏡７０８は、偏光に係る特異な光学特性を有しており、二次的な偏光を一切与えないものであり、中立偏光性反射体と称される。したがって、曲面鏡７０８に起因する唯一の偏光変化は、反射に起因する１８０°変化である。一方、四分の一遅延板７１２は偏光ベクトルの向きを、該ベクトルが該遅延板へ入射したときの方向とは逆向きの方向へ転換させるものである。遅延板２１７を２回通過して１回の反射が終了した後は、センシングユニット１００の厚みに起因するわずかな変化を伴って、偏光状態が３６０°回転する。遅延板７１２が存在しない場合は、センシングユニットにおける偏光に係るベクトル和は、１８０°の位相差を有しており、センシングユニットにおける反射により生じた位相変化が相殺される。しかしながら、四分の一波長遅延板一枚を光路に設けることにより、光が該遅延板の第一の側面を通過し、次いで第二の側面を通過する度に、二つの９０°偏光変化が発生する。この偏光変化の加算を反射毎に継続する。部分透過光及び入射光の繰り返し反射の発生に関して、これらは曲面鏡表面７０８の光学能又は曲率、並びに光源７０４から入射する光ビームの入射角によって達成される。また曲面鏡７０８の反射特性により、反射光が曲面鏡７０８に到達する度に、光の一部が曲面鏡７０８を透過するものである。図２２に係るフローチャートを参照して前記態様を更に説明する。図２２は、質量変化測定用の光強度に関連するデータを入手及び解析するための主要工程を示したものである。より詳細には、図２２に係る工程７５０において、多数の標準質量を利用して標準データが準備され、既述の態様に関し図１４に記載の工程５５０と同様に、光強度が測定される。工程７５４においては、曲面鏡７０８を透過する多数の部分透過光を集光しうるように、焦点レンズ／解析板７１６の向きを好適に調整することが必要とされる。この点に関し、必要とされる向きは、センシングユニット１００に関し期待される質量に基づいて予め決定されてなる。即ち、特異性対象検体の検出に関し、この対象検体の期待質量が予め決定され、該期待値に基づき焦点レンズ／解析板７１６が或る角度で設置されるものである。工程７５８において、光ビームを曲面鏡７０８へ向けて放射する光ビーム源７０４へ電力が供給される。工程７６２においては、容易に検出可能なより大きな偏光を作り出すために、センシングユニット１００、四分の一波長遅延板７１２及び曲面鏡７０８を使用して多数の反射光を発生させる。この点に関し、工程７６６において、十分量の部分光透過が発生することにより、曲面鏡７０８上の反射光の一部が該曲面鏡を透過する。次いで、工程７７４において、多数の部分光透過が検出ユニット７２０により検出される。検出ユニット７２０は、偏光度を利用して、センシングユニット１００の質量に関連する光信号を発生させるものである。工程７７８において、光信号の和の値を、対象検体の有無判定の一部として予め決定した標準データと比較する。テストピース収容装置図２３及び２４に係る一態様において、本発明のシステムは、多数の被験センシングユニット１００を具備してなるテストピース３３２を収容する装置８００を更に含んでなる。公知従来技術とは異なり、該装置８００は、加熱、湿度、相互汚染及び材料混合を厳密に制御するために、センシングユニット１００と共にあるいはセンシングユニットの一部として単独又は共に使用される組立部品（アセンブリー）及び構成成分の組み合わせを含んでなる。該装置８００は、上に列挙した機能の実現に有用な多数の組立部品を収容するための、密閉ユニット８０４（図１５）及び底板８０８を含んでなる。装置８００外部への熱損失量を減少させるために、密閉ユニット８０４を覆うように絶縁カバー８０６が好適に設けられてなり、この構成により装置８００内部の対流が効果的に減少する。対流が減少することにより、不利益な蒸発が減少する。また絶縁カバー８０６には内蓋８１０も設けられている。該内蓋８１０は、加熱アセンブリー８１２（高温）と装置８００壁（低温）とにより生ずる温度勾配が作り出す対流パターンの幾何学形状に影響を及ぼすものである。内蓋８１０は、センシングユニット及びテストピース上に凝縮物が滴下することを防ぐように屈曲してなる。底板８０８は縁周囲にシールリング８１４（図２４）を有してなり、該リングは底板８０８と絶縁カバー８０６との間にシールを形成するものである。この構成により、装置８００において底板８０８とカバー８０６との合わせ部位から損失する熱及び湿度の損失量が減少する。加熱アセンブリー８１２は、テストピース３３２上のセンシングユニットを所望又は所定の温度（例えば３７℃）まで加熱し、少なくとも±１℃以内の誤差で所望又は所定温度に維持するために使用されるものである。加熱アセンブリー８１２は、二つのステンレス鋼板の間に配された加熱要素からなるプレートサブアセンブリー８１６を含んでなる。前記二つの板は蓄熱体として機能し、本質的にテストピースと直接接触してなるものであり、この構成により加熱アセンブリー８１２は、センシングユニットへ伝導により熱を与えるものである。熱を発生させるために、プレートサブアセンブリー８１６は加熱コントローラー（非図示）により電力供給されるものであり、該加熱コントローラーは、電源コード８１８（図２３）によりプレートサブアセンブリー８１６と電気的に接続してなる。また加熱アセンブリー８１２は支持フレーム８２０を含んでなり、該支持フレームはプレートサブアセンブリー８１６周縁の少なくとも一部を包囲してなる。支持フレーム８２０は、支持フレーム８２０の一端において、下側ヒンジ要素８２４ａ、８２４ｂと結合してなる。下側ヒンジ要素８２４ａ、８２４ｂにより、加熱アセンブリー８１２が、加熱アセンブリー８１２下側の空間における所望位置まで枢動可能となるものであり、このことは装置８００における加湿アセンブリーについての以下の説明により一層明らかとなる。加熱アセンブリー８１２の上方には、バリアマニホルド８３０が配されてなり、該マニホルドは多数のバリアスリット８３４を有してなる細長い要素であり、該バリアスリットは、バリアマニホルド８３０平面の長手方向と直交してなる。バリアスリット８３４は、バリア要素８３８を受け入れるに十分な深さに構成されてなり、バリア要素８３８の一部がバリアスリット８３４内に保持されて、バリア要素８３８の他の部分はバリア要素８３０平面から外向きに突出してなる。上記バリア要素８３８の一つが図２３に示されている。バリア要素８３８は、互いに所定の間隔をおいて配置されるものであり、その間隔は、テストピース上のセンシングユニット間の間隔に基づくものである。即ち、バリアマニホルド８３０はテストピースに重なるものであり、各センシングユニットは一又は複数のバリア要素８３８によって他のセンシングユニット各々から分離されるものである。一態様において、バリア要素８３８は、検査対象領域とは接触せずにテストピース本体と接触するＯリングを含んでなる。したがって、バリア要素８３８を具備するバリアマニホルド８３０は、センシングユニット１００間の相互汚染を防止するものである。またバリアマニホルド８３０は、装置８００内にあるセンシングユニットの洗浄及び乾燥を可能にするものである。バリアマニホルド８３０は、その端部において上側ヒンジ要素８４２ａ、８４２ｂと結合してなる。上側ヒンジ要素８４２ａ、８４２ｂは、マニホルドと結合してなる端部とは逆側の端部において、マニホルドアーム８５０ａ、８５０ｂと結合してなる。この構成により、バリアマニホルド８３０は、プレートサブアセンブリー８１６に対して枢動可能となる。テストピースが装置８００内に載置されるとき、バリアマニホルド８３０はプレートサブアセンブリー８１６から遠ざかる方向に枢動し、テストピースをプレートサブアセンブリー８１６上に載置することが可能となる。続いて、バリアマニホルド８３０はテストピース３３２に重なるように下向きに枢動し、相互汚染を防止するためのバリア要素８３８により軽い締め付け圧が与えられる。装置８００は更に加湿アセンブリー８６０を含んでなり、該加湿アセンブリーは、密閉ユニット８０４内において相対湿度１００％を維持するための多数の吸収要素と、蒸発によるセンシングユニット材料の不利益な損失を避けるための底板８０８とからなる。吸収要素は、ベース要素８７２の空洞部８６８内に配置される主吸収要素８６４を含んでなり、該ベース要素８６４は、底板８０８上に支持されてなる。主吸収要素８６４は、プレートサブアセンブリー８１６の長さ方向に関し少なくとも実質部分を占める長さに構成されてなり、本質的にプレートサブアセンブリーの直下に配されるものである。主吸収要素８６４は、空洞部８６８内に設置される前に水に浸漬されてなる。二つの副吸収要素８７６ａ、８７６ｂも利用され、これらは主吸収要素８６４の側方に配されるものであるが、ベース要素８７２の壁８８４に設けられた多数の窪み８８０の上、更には該窪みに近接する位置に配されるものである。副吸収要素８７６ａ、８７６ｂもまた、装置８００内の窪み８８０に近接して設置される前に、水に浸漬される。使用中、副吸収要素８７６ａ、８７６ｂは、ウィッキング作用により窪み８８０から水を吸い上げ、自身の浸漬状態又は湿気を含んだ状態を維持することにより、所望湿度の維持を補助するものである。また装置８００は、混合アセンブリー８９２（図２３及び２４に略示）を含んでなり、該混合アセンブリーは、分析されるセンシングユニット１００に係る反応物の混合を促進させるために設けられるものである。この点に関し、センシングユニット１００上の材料で構成される一滴について言及すると、拡散に係る動き及びパターンは、ゆっくり下降するらせんとなることが確認されており、その状態は混合アセンブリー８９２の位置及び向きに応じて変化する。滴内のこの動きが、滴が加熱されることにより発生する対流による動きに加えられるとき、流体の動きは更に大きなものとなり、各滴内の混合が促進される。好適な態様において、混合アセンブリー８９２は、固定軸周囲を回転する偏心荷重を使用して振動運動を与える機構を含んでなる。前記回転は、小型可変速モーターにより達成される。重要な点は、図２３に示されるように、モーターと偏心荷重とを含んでなる混合アセンブリー８９２が、ベース要素８７２に隣接して、長辺方向で合成軸に沿うように配置される点にある。設置角は底板８０８平面に対して約１０° より大きく、約７０°に満たないことが好ましい。以上の記載においては、質量変化を利用する対象検体の検出及び／又は測定において、互いに協力する多数の補助的なシステム構成要素を含んでなるシステムが記載されている。該システムの構成要素としては、テストピースがあり、テストピースには多数のセンシングユニットが配置されてなり、該ユニットの一又はそれ以上が対象検体を含んでなるか否かを判定するために、前記テストピース上のセンシングユニットが検査される。テストピースは、テストピース収容装置内に収容されるような大きさに構成されてなり、該テストピース収容装置は、検査を受けるセンシングユニットを備えてなるテストピースの準備及び保護に関し、多数の機能を提供するものである。多数の機能の中には、加熱、加湿、相互汚染の防止、並びにセンシングユニットの一部若しくは該ユニットと併存する材料の混合を厳密に制御する機能が含まれる。センシングユニットは、異なる層間の剥離に耐えうる接着層を含んでなる。センシングユニットは、対象検体に対して受容性のあるリガンド層を固定化するために使用される接着層を含むものであってもよい。センシングユニットは、上側表面と下側表面との間に配された絶縁層に特徴を有する三層型及び／又は二要素型の接着層を含むものであってもよい。絶縁層は、下側結合表面と上側結合表面との間で不利益な作用の発生を防ぐように機能する。センシングユニットは、下側要素が有機官能性シリアル（silial）化合物を含んでなる二要素型接着層を含むものであってもよい。好ましくは質量強化系が使用され、該系は多様な材料を含みうるものであり、例えば基質と関連する一又は複数の所望酵素による運動性能動強化系、既知質量／定数を使用する受動質量強化系、及び／又は自己会合性強化系を含むことが可能である。別のシステム構成要素としては計器があり、該計器は特定センシングユニット上における対象検体の有無判定に利用される。該計器は高感度であり、対象検体の有無を正確に判定しうるものである。このような計器は、検出信号を強化又は増幅させるために、同一センシングユニット上で繰り返し反射を発生させ、該センシングユニットからの反射光を解析する要素を含むものであってもよい。計器は、対象検体の有無の指標となる検出信号を増幅させるために、唯一の成分をもつ偏光を発生させる光学要素を含むものであってもよい。本発明に係る以上の記載は、例示と説明を目的としてなされたものである。更に、以上の記載は、個々に開示された形態に本発明を限定するためになされたものではない。したがって、当該分野の技術と知識の範疇において上記教示に相応する変形及び改良は、本発明の範囲に包含されるものである。更に、上記の態様例は、発明の実施に最良と考えられる形態を説明し、当該分野の技術を有する他の者が、本発明を上記態様で、あるいは他の態様で、更には、本発明の特定の用途又は応用分野に応じて必要とされる多様な修正を伴って利用できるようにすることを目的としたものである。添付の請求の範囲は、従来技術により許容される限度まで代替態様を含むものとして解釈されることを意図されている。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，ＩＴ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＭＬ，ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，ＧＭ，ＫＥ，ＬＳ，ＭＷ，ＳＤ，ＳＺ，ＵＧ，ＺＷ)，ＥＡ(ＡＭ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＭＤ，ＲＵ，ＴＪ，ＴＭ)，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ，ＡＵ，ＡＺ，ＢＡ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，ＣＡ，ＣＨ，ＣＮ，ＣＵ，ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，ＧＥ，ＧＨ，ＧＭ，ＧＷ，ＨＵ，ＩＤ，ＩＬ，ＩＳ，ＪＰ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＣ，ＬＫ，ＬＲ，ＬＳ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ，ＭＮ，ＭＷ，ＭＸ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ，ＲＵ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＳＬ，ＴＪ，ＴＭ，ＴＲ，ＴＴ，ＵＡ，ＵＧ，ＵＺ，ＶＮ，ＹＵ，ＺＷ (72)発明者ロビンソン、メアリーベスアメリカ合衆国 80303 コロラド州ボールダーエス．サーティーサードストリート 175 (72)発明者ハンリン、エイチ．ジョンアメリカ合衆国 80027 コロラド州ルーイヴィルダブリュ．バーバリーサークル 874

Claims

【特許請求の範囲】１．対象検体の検出に使用されるセンシングユニットであって、外表面を有してなる基板と、前記基板外表面が、第一の材料に対し不利益な作用を及ぼす性質のものであるとき、少なくとも第一の材料の結合を制御するために、前記基板に接着してなる接着層であって、該接着層と前記基板との堅固且つ安定な積層体を形成するように前記基板に接着する材料組成を有してなる下側結合表面、自身の官能性を維持するために制御された固定化環境を必要とする前記第一の材料と係合する結合特性を有してなり、前記下側結合表面の前記材料組成とは異なる材料組成を有してなる上側結合表面、及び前記下側結合表面の前記材料組成及び前記上側結合表面の前記材料組成いずれとも異なる材料組成を有してなり、前記下側結合表面から前記上側結合表面への不利益な作用、あるいは前記上側結合表面から前記下側結合表面への不利益な作用の発生を防止するように機能する、前記下側結合表面と前記上側結合表面との間に配されてなる絶縁層を含んでなる接着層とからなり、前記下側結合表面の前記材料組成及び前記上側結合表面の前記材料組成が各々、前記絶縁層を使用することにより強化される特性を有してなるセンシングユニット。２．対象検体が存在する場合に該対象検体を好適に固定化して該対象検体の検出を可能にする環境を提供することを目的として前記接着層に接合してなり、前記第一の材料を含んでなる少なくとも一の捕獲層を更に含んでなる請求項１に記載のセンシングユニット。３．前記下側結合表面の前記材料組成及び前記上側結合表面の前記材料組成各々が、前記絶縁層の前記材料組成に使用されることを防止されてなる請求項１に記載のセンシングユニット。４．前記基板が自由電子金属以外である請求項１に記載のセンシングユニット。５．前記下側結合表面及び前記上側結合表面の一方が、線形骨格を有してなる一価の無機化合物で本質的に構成されてなる請求項１に記載のセンシングユニット。６．前記下側結合表面及び前記上側結合表面の一方が、一価の有機化合物及び多価の有機化合物の少なくも一で本質的に構成されてなり、前記化合物が、少なくとも４０ミクロンの粒径を有してなる粒子を含んでなるか、前記粒子を含まないものである請求項１に記載のセンシングユニット。７．前記下側結合表面が、有機官能性シリアル化合物で本質的に構成されてなる請求項１に記載のセンシングユニット。８．前記接着層が、６−アジドスルホニルヘキシルトリエトキシシラン、アミノエチルアミノプロピルトリメトキシシラン、アミノプロピルトリオキシシラン、３−イソシアナトプロピルトリエトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、ポリエチレングリコール、ポリエチレンオキシド、ニトロセルロース、パラレン、ナイロン、ポリエステル、ポリアミド類、ポリウレタン、ポリスチレン、アビジン及びその誘導体、及びビオチンの幾つかを含んでなる請求項１に記載のセンシングユニット９．前記絶縁層が、ポリスチレン、ポリウレタン及びポリエチレングリコールからなる群の一又はそれ以上で本質的に構成されてなる請求項１に記載のセンシングユニット。１０．前記有機官能性シリアル化合物が、アミノシラン、アジドシラン、及びそれらと同等のシラン類を含む請求項７に記載のセンシングユニット。１１．前記基板が、結晶シリコンで本質的に構成されてなる請求項１に記載のセンシングユニット。１２．前記第一の材料が特異性材料である請求項１に記載のセンシングユニット。１３．対象検体の存在と関係する検出信号を増幅するための質量強化手段を更に含んでなる請求項１に記載のセンシングユニット。１４．前記質量強化手段が、前記接着層に関連する一又は複数の酵素を含む請求項１２に記載のセンシングユニット。１５．対象検体の検出に使用されるセンシングユニットであって、自由電子金属以外の基板であって外表面を有してなる基板と、前記基板外表面が、第一の特異性材料に対し不利益な作用を及ぼす性質のものであるとき、少なくとも第一の特異性材料の結合を制御するために、前記基板に接着してなる接着層であって、該接着層と前記基板との堅固且つ安定な積層体を形成するように前記基板に接着する材料を有してなり、本質的に有機官能性シリアル化合物で構成されてなる下側要素、及び自身の官能性を維持するために制御された固定化環境を必要とする前記第一の特異性材料と係合する結合特性を有してなる外表面を含んでなり、前記下側要素の前記材料組成とは異なる材料組成を有してなる上側要素からなる接着層と、対象検体が存在する場合に該対象検体を好適に固定化して該対象検体の検出を可能にする環境を提供する目的で前記接着層に接合されてなり、前記第一の特異性材料を含んでなる少なくとも一の捕獲層とからなり、前記上側要素の前記材料組成が、前記下側材料の前記材料組成として使用されることが防止されてなるセンシングユニット。１６．前記有機官能性シリアル化合物がアミノシラン、アジドシラン及びそれらと同等のシラン類を含む請求項１５に記載のバイオセンサー装置。１７．前記上側要素が、ポリスチレン、ポリウレタン及びポリエチレングリコールの一又はそれ以上で本質的に構成されてなる請求項１５に記載のセンシングユニット。１８．対象検体の検出を強化するために、前記接着層と係合してなる質量強化手段を更に含んでなる請求項１５に記載のセンシングユニット。１９．前記質量強化手段が、前記上側要素に供与される一又は複数の酵素を含む請求項１８に記載のセンシングユニット。２０．センシングユニットに関する情報を得るためのセンシングシステムであって、多数のセンシングユニットと該センシングユニット各々に関連する指示手段とを具備してなるテストピースと、複数の壁と前記テストピースを受け入れるための受け入れスロットとを有してなるハウジングであって、その内部において前記テストピースが該ハウジングの通路に沿って移動しうるハウジングと、特異性対象検体の存在を判定するために使用される情報を各センシングユニットから得るための光ビームアセンブリーと、前記テストピースを前記ハウジング通路に係合させて移動させるための、前記ハウジング内に配置されてなる制御手段とからなるセンシングシステム。２１．前記指示手段が標識を含み、前記制御手段が、前記ハウジング通路に沿う前記テストピースの動きを停止させることと関連して前記標識を読み取る読み取りアセンブリーを含む請求項20に記載のシステム。２２．前記標識が、少なくとも一のセンシングユニットを識別する識別コードを含む請求項２０に記載のシステム。２３．前記制御手段が、前記ハウジングの前記壁の内側に設置されてなるモーターを含んでなるテストピース制御アセンブリーからなる請求項２０に記載のシステム。２４．センシングユニットに関連する情報を入力するための、前記ハウジングの前記壁の一に設けられた入力ユニットを更に含んでなる請求項２０に記載のシステム。２５．センシングユニットに関連する情報を表示するための、前記ハウジングの前記壁の一に配された表示手段を更に含んでなる請求項２０に記載のシステム。２６．識別データ、時間に関するデータ、及び対象検体の有無に関するデータを含む、センシングユニット各々に関係するデータを蓄積するデータ記憶装置を更に含んでなる請求項２０に記載のシステム。２７．前記制御手段の処理装置によって実行されるソフトウエアを外部コンピュータシステムがダウンロードしうるように、前記外部コンピュータシステムと連絡してなる少なくとも第一のポートを更に含んでなる請求項２０に記載のシステム。２８．前記制御手段が、センシングユニットに関係する数値及び各センシングユニットについての対象検体の有無を判定するための処理装置を含んでなる請求項２０に記載のシステム。２９．前記指示手段が、各センシングユニットの位置を指示するためのマーク、及び少なくとも一のセンシングユニットを識別するためのコードの少なくとも一方を含んでなる請求項２０に記載のシステム。３０．前記制御手段が、処理装置を含む多数の電子部品を含んでなり、前記電子部品が印刷回路板上に支持されてなり、前記印刷回路板が前記光ビームアセンブリーと、前記処理装置により使用される情報を入力するためのユニットとの間に位置してなる請求項２０に記載のシステム。３１．前記光ビームアセンブリーが、センシングユニットが対象検体を含んでなるか否かを判定するために、各センシングユニットが検査されるとき、一成分のみを有してなる偏光を受け入れるための偏光手段を含んでなり、前記偏光が受け入れられるとき前記偏光手段は静止してなる請求項２０に記載のシステム。３２．前記光ビームアセンブリーが、各センシングユニットに係る強度を有してなる多数の反射光ビームを発生させ、前記反射光ビームの各々が、各センシングユニットに対して直角以外の角度で生じる請求項２０に記載のシステム。３３．前記光ビームアセンブリーが、光を反射及び透過させる曲面鏡と、対象検体の存在判定に係る感度を向上させるために、各センシングユニットに係る前記反射光強度に付加的に偏光を施す波長遅延手段とを含んでなる請求項３２に記載のシステム。３４．多数のセンシングユニットを具備してなるテストピースを準備すること、前記テストピースの動きを制御すること、前記テストピース上の識別手段を確認すること、前記確認工程に基づいて前記テストピースの動きを中断すること、光学検出装置を利用して対象検体の有無判定と共に前記テストピース上の第一のセンシングユニットに関するデータを獲得すること、更に、第一のセンシングユニットに関する識別データ、時間に関連するデータ、及び第一のセンシングユニットにおける対象検体の有無に関係する測定値を含む、前記判定工程に関連する情報を蓄積することからなる分析データ獲得方法。３５．前記制御工程が、前記識別手段に基づく信号を受け取る処理装置を利用してモーターを制御することを含む請求項３４に記載の方法。３６．前記識別手段が、第一のセンシングユニットを識別する第一のコード及び少なくとも一のセンシングユニットの位置を指示する位置合わせ標識の少なくとも一方を含む請求項３４に記載の方法。３７．前記準備工程が、前記光学検出装置を収容してなるハウジングの受け入れスロットに前記テストピースを挿入することを含み、前記挿入工程の前に前記テストピース上の前記指示手段を探知することを含む請求項３４に記載の方法。３８．前記制御工程が、処理装置を利用してモーターへの動力供給及び停止を制御することと、前記テストピースを移動させるために前記モーターにより駆動される係合手段を利用して前記テストピースと連絡することを含む請求項３４に記載の方法。３９．前記光学検出装置を収容するハウジングの壁の一に設けられてなる入力ユニットを利用して、少なくとも一のセンシングユニットに関係する識別情報を入力することを更に含んでなる請求項３４に記載の方法。４０．前記獲得工程が、前記テストピース上の全センシングユニットについてデータを獲得することと、前記テストピース上の全センシングユニットについて光強度を受信する間、前記光学検出装置の偏光手段の傾斜状態を維持することを含み、前記光強度は全センシングユニットについて前記データを与えるために使用されるものである請求項３４に記載の方法。４１．前記獲得工程が、第一のセンシングユニットの領域から反射された強度を有してなる多数の反射光ビームに関係する光の少なくとも一部を集光することを含み、前記反射光ビームの各々を発生させる各入射光ビームが、第一のセンシングユニットに対して垂直ではない角度を有する請求項３４に記載の方法。４２．テストピース上に載せられてなる多数のセンシングユニットを加熱及び加湿する装置であって、センシングユニットを具備してなるテストピースが前記装置内に供給されるとき、センシングユニットを加熱するための加熱アセンブリーと、センシングユニットを加湿するために前記加熱アセンブリーに湿気を伝える加湿アセンブリーと、センシングユニットを具備してなるテストピースが前記装置に供給されるとき、センシングユニットの相互汚染を実質防止するためのバリアマニホルドと、センシングユニットを具備してなるテストピースが前記装置に供給されるとき、センシングユニット内の材料を混合するための混合アセンブリーとからなる装置。４３．前記加熱アセンブリーが、前記装置にテストピースが供給されるとき、伝導によりテストピースに熱を供給する目的で加熱されるプレートサブアセンブリーを含んでなる請求項４２に記載の装置。４４．前記加熱アセンブリーが、前記プレートサブアセンブリーと接合してなる支持フレームを含んでなり、前記支持フレーム及び前記プレートサブアセンブリーは共に枢動可能である請求項４２に記載の装置。４５．前記加湿アセンブリーが、前記加熱手段の下方に配されてなる水保持手段を含んでなる請求項４２に記載の装置。４６．前記水保持手段が、前記加熱アセンブリーの側方に配置された少なくとも第一の吸収要素と、前記第一の吸収要素に隣接して水を収容する少なくとも一の窪みとを含んでなる請求項４５に記載の装置。４７．前記バリアマニホルドが、センシングユニットを具備してなるテストピースが前記装置内に配置されたとき、各センシングユニットを他のセンシングユニットから隔離する機能を有する互いに隔たってなる多数のバリア要素を含んでなる請求項４２に記載の装置。４８．前記バリアマニホルドが枢動可能であり、テストピースが前記装置内に配置されたときテストピースに圧力を与えるものである請求項４２に記載の装置。４９．前記混合アセンブリーが、センシングユニット内の材料の混合を促進するような角度で配置されたモーターを含んでなる請求項４２に記載の装置。５０．前記角度が、約１０度より大きく、約７０度に満たない請求項４９に記載の装置。５１．対象検体を検出するための計器であって、被験センシングユニットを支持する第一の手段と、センシングユニットを所望の位置に配置する第二の手段と、被験センシングユニットにおける対象検体の有無を判定する第三の手段とからなり、前記第三の手段が、センシングユニットから多数の光反射を発生させるための光学検出装置を含んでなり、前記第一の手段に対して前記光反射の各々が０°、９０°及びブルースター角以外の角度であり、前記第三の手段が、前記光反射の少なくとも一部を集光するための集光手段を含んでなり、対象検体の有無の判定に前記集光された光反射を使用するものである計器。５２．前記発生手段が鏡及び波長遅延板を含んでなり、前記波長遅延板はセンシングユニットと前記鏡との間で前記光反射の進路上に配置されてなり、前記波長遅延板が、該波長遅延板を通過する前記光反射に偏光変化を加えるものである請求項５１に記載の計器。５３．前記鏡が、湾曲部を含んでなり、前記鏡が光学能及び反射コーティングを有してなり、前記鏡に受光される前記光反射の一部が前記鏡を透過するものである請求項５２に記載の計器。５４．前記鏡が反射コーティングを有してなり、前記波長遅延板が前記反射コーティングの一部である請求項５２に記載の計器。５５．対象検体を検出する計器であって、被験センシングユニットを支持する第一の手段と、センシングユニットを所望の位置に配置する第二の手段と、センシングユニットにおける対象検体の有無を判定する第三の手段とからなり、前記第三の手段が、一成分のみを有してなる偏光を発生させる手段と前記一成分を消失させる手段とを有してなる光学検出装置を含んでなり、前記光学検出装置がセンシングユニットを照射する時間中、前記発生手段及び前記消失手段は所定位置に固定されるものである計器。５６．前記一成分が、ｓ偏光及びｐ偏光の一方を含む請求項５５に記載の計器。５７．前記発生手段が、光がセンシングユニットに入射する前に前記光を受光する直線偏光子を含んでなり、前記消失手段が、センシングユニットから反射された光を受光する検出偏光子を含んでなる請求項５５に記載の計器。