JP2001511293A - プラズマ浸漬イオン注入用の変調器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 この発明は、ＰＩＩＩ装置の主要部品として働く、高電圧パルス化されたプラズマ浸漬注入（ＰＩＩＩ）を制御する変調器に関する。この発明の課題はＰＩＩＩの間に高電圧パルス化された電流の流れを低価格で簡単に開閉することにある。この発明によれば、上記の課題は、パルス制御が技術的に自立したユニットとして設計された高電圧スイッチにより行われるのでなく、シールド格子で制御される付加的な電極により行われる変調器によって解決されている。この電極はシールド格子と共に注入室に組み込まれ、高電圧を与えるコンデンサに接続しているが、シールド電極はパルス発生器により１〜2000Ｖの電圧パルスで駆動される。プラズマ室に浸って電極を取り囲むシールド格子は、制御可能な格子電圧を印加して、付加的な電極がプラズマから絶縁されるか、あるいはこのプラズマに電気接触することを保証する。後者の例では、コンデンサの放電回路が周知の変調器内で閉じたスイッチのように閉じる。

Description

【発明の詳細な説明】 プラズマ浸漬イオン注入用の変調器 この発明は、プラズマ浸漬イオン注入（ＰＩＩＩ：Plasmaimmersions-Ionen-i mplantation）用の変調器と共にＰＩＩＩ装置の主要部品に関する。 ＰＩＩＩでは、注入すべき加工物品が注入室内でプラズマに浸る。この加工物 品に負の高電圧を印加して正のイオンをプラズマから加工物品の全面に向けて加 速し、この加工物品内に注入する[J．R．Conrad，J．L．Radtke，R．A．Dodd，F ．J．Worzala und Ngoc C．Tran，Plasma source ion-implantation technique for surface modification of materials，Journal of Applied Physics，62，1 987，4591-4596(材料の表面改質のためのプラズマ源イオン注入技術)]。注入す るイオンの電流密度はプラズマのパラメータと選択した注入電圧に依存し、注入 している間、１〜10ｍＡ/cm²の程度である。それ故、加速電圧が50ｋＶの場合に は、エネルギ収支は500Ｗ/cm²までになる。このエネルギ収支は数秒後には加工 物品を強く加熱することになるので、負の高電圧を連続的でなく、ただ脈動的に 加工物品に印加する。 高電圧をパルス化する他の理由は、加工物品が大きい場合、相当な技術経費を 掛けてしか必要な電流が長期間維持できないということにより与えられる。パル ス期間は数Ｈｚ〜ｋＨｚの繰り返し周波数で２〜100μsの間にある。 従って、ＰＩＩＩ装置の主要部品は整流された高圧源から対応する高電圧パル スを注入すべき加工物品に与えるという役目を持っている所謂変調器にある。 ＰＩＩＩに対して今まで採用された変調器の構造と機能は何れも似ている。つ まり、高電圧発生器の正の電極は抵抗を介してコンデンサに接続し、このコンデ ンサの第二接続端は高圧フィードスルーを介して注入すべき加工物品を担持する 注入室内の作業台に連結している。高電圧発生器の他方の電極は接地電位０とし て注入室に接続している。更に、抵抗とコンデンサの間にある接続点にはスイッ チが配置されている。このスイッチはコンデンサの前記極に接地電位を接続し、 これにより充電・放電制御により加工物品に対して高圧パルスを加えることがで きる。このスイッチは電流が一部著しく大きい時に数10ｋｅＶの高電圧を切り換 える必要があるので、目下のところＰＩＩＩの利益にとって商業的に利用可能な スイッチは相当なコスト要因にもなる。特に研究目的に設計された小さな装置で は、半導体ベースにした比較的低価格のスイッチも使用できる。このスイッチを 用いると、40ｋＶまでの注入電圧をＡの範囲までの電流の場合に切り換えること ができる。よりもっと大きい電流を切り換えたいのなら、例えば40ｋＶまでの注 入電圧で200Ａまでの電流に対して入手できる安価な送信管を使用する必要があ る。１ｋＡまでのもっと大きい電流は、今まで所謂「クロスアトロンズ」（Cros satrons）で切り換えている[D．M．Goebel，High power modulator for PII，J ．Vac．Sci．Technol．B，Vol．12，2，1994，839-842(ＰＩＩ用の高出力変調器 )]。 切り換えるべき電流を更に大きくすることは、核融合研究から周知のような、 極度に経費のかかる特別な構成でのみ可能である[B．J．Wood，J．T．Scheuer， M．A．Nastasi，R．H．Olsher，W．A．Reass，I．Henins und D．J．Rej，Desig n of a large-scale plasma source ion implantation experiment，Material R eseach Society Symposium Proceedings，V 279，1993，Material Reseach Soci ety，Pittsburgh，PA，USA，345-350(大規模プラズマ源イオン注入実験の設計)] 。 この発明の課題は、技術的および財政的な経費を少なくして、ＰＩＩＩで高電 圧パルスの作用中に流れる電流を高電圧の下で開閉することにある。 この発明によれば、上記の課題は、従来の技術により周知のスイッチを技術的 に自主的なユニットとして提供するのでなく、シールド格子により制御可能な付 加的な電極の形にして注入室に組み込んだ、請求項１に記載する変調器により解 決されている。 プラズマ空間内に浸っている電極を取り囲むシールド格子は、制御可能な格子 電圧を印加することにより、付加的な電極がプラズマから絶縁されるか、あるい はこのプラズマに電気接触していることを保証する。後者の場合には、上に説明 した変調器内の閉じたスイッチのように、コンデンサの放電回路が閉じる。 以下、図面を参照してこの発明をより詳しく説明する。 図面には符号＋Ｕの高電圧発生器の正極が抵抗Ｒを介してコンデンサＣに接続 している。このコンデンサの第二の極は高電圧フィードスルーを介して注入室Ｋ 内の加工台Ｂに接続している。注入室自体は高電圧発生器の第二の極と同じよう に接地電位になっている。ＲとＣの間には接続点Ｚがある。この接続点Ｚは一方 で高電圧フィードスルーを経由して注入室Ｋ内の付加的な電極Ｅに接続している 。この電極ＥはプラズマＰに対して負の制御電圧ＵＧの印加する格子Ｇによりシ ールドされている。プラズマ表面層の広がりを乱さないため、電極Ｅとこの電極 を取り囲む格子Ｇが処理物品から十分離れて注入室Ｋに配置され、この注入室に 対して絶縁されている。 この発明による変調器の機能は以下のようである。 注入室Ｋ内に導電性のプラズマが存在すると、このプラズマにより加工台に接 続するコンデンサの第二接続端子も注入室の電位（接地電位）に保持される。即 ち、このコンデンサは、電極Ｅが格子の負電圧ＵＧによりプラズマから絶縁され る限り、高電圧源により充電される。 電極Ｅをプラズマから電気絶縁することは、この場合、以下のようにして行わ れる。即ち、電子温度とシールド格子のメッシュ幅に応じて、シールド格子の負 の格子電圧はプラズマの熱電子がシールド格子を通過しなく、そのため電子温度 の約十から百倍の値が必要となるように設定される。負に帯電した格子を通過す るプラズマの正イオンは、電極Ｅの正電位（＋Ｕ）を再び越えないので、格子電 圧ＵＧが負の時、電極Ｅはプラズマから電気絶縁される。 格子Ｇで格子電圧ＵＧ＝０にされていると、電子はプラズマから格子を通過し 、電極Ｅの正の電位によりこの電極に向けて加速される。この加速は電極Ｅがプ ラズマに対して正の電位（数ボルト）に帯電するように行われる。これにより、 電極ＥとコンデンサＣの接続端子Ｚも実際に接地電位に設定されるので、加工台 Ｂに接続するコンデンサＣの電極と加工台Ｂの電極も直ぐ−Ｕの電位（高電圧パ ルス）に切り換わる。 高電圧発生器は十分な大きさの抵抗Ｒを介して接地されている。 加工台Ｂとその上にある処理物品は周囲のプラズマに対して負の電位にあるの で、プラズマから正に帯電したイオンは加工台Ｂの方向に加速され、プラズマと 加工台Ｂの間の電位差により得られる速度のため処理物品に注入される。 これにより、コンデンサＣの放電電流回路も閉じる。何故なら、正に帯電した イオンが加工台と処理物品に達し、電子が電極Ｅに加速されるからである。 電極Ｅのシールド格子に負の格子電圧ＵＧを印加することにより電極Ｅは上に 説明した方法で再びプラズマから電気絶縁され、これによりコンデンサの放電が 中断する。加工台はプラズマにより再びプラズマ電位に保持される。注入過程は 終了し、コンデンサは再び再充電される。 このような注入サイクルの期間と繰り返し率は可変できる。コンデンサＣの放 電時間と、それによる注入時間は通常数μsから100μsまでになるが、繰り返し 率は数ｋＨｚまでになる。コンデンサＣの容量は放電期間中コンデンサがただ一 部放電するように設計される。 コンデンサＣの放電期間中にイオンを注入するより多くの電子がプラズマから 引き出されると、プラズマの電荷収支は乱れない。しかし、イオンが処理物品に 衝突すると、二次電子も出る。これ等の電子は、二次電子抑制部が設けてないな ら、与えられた電位差のために処理物品から離れて室の壁に向けて加速される。 従って、電極Ｅにより二次電子流と同じ値の付加的な電子流がプラズマから取り 出される。しかし、プラズマの電荷収支はここでもバランスしている。何故なら 、プラズマの電位が正の値の方にずれるからである。これにより、室の壁へのプ ラズマの熱電子の流れがそれに応じて低減する。このバランスは二次電子が室の 壁に衝突した時にそこから出る電子によっても支援される。加速されたイオンと 電子により形成される電流の大きさはプラズマ・パラメータと加工台とプラズマ の間の電位差に依存する。通常生じる電流密度は約0.1〜１Ａ/cm²となり、パル スの初めで最大になる。数μsの後、電流密度は定常値に低下する。 表面が約１cm²の実用上重要な大きな加工物品では、10ｋＡまでのパルス電流 となる。上に説明した変調器の機能は、パルスの注入期間中に電極Ｅから引き出 す電子流が室の壁に当たるプラズマの電子流より小さいように保証される。 これはＰＩＩＩで必ず与えられる。 この発明の利点は、特に大きな加工物品の表面をＰＩＩＩで処理したい場合に 著しくコストを低減する。例えば、電子管を使用する場合、経費のかかる高価な 陰極加熱が必要である。ここに提示する発明では使い古した部品（格子）を簡単 に交換することもできる。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．注入室内に配置された加工台がコンデンサと抵抗を介して高電圧源に接続す る高電圧でパルス化されたプラズマ浸漬イオン注入を制御する変調器におい て、加工台とは反対のコンデンサの極が、注入室内に配置され、格子により プラズマに対してシールドされている付加的な電極に接続し、前記格子が１ 〜2000Ｖの範囲内の負の電圧パルスを発生するパルス発生器に接続している ことを特徴とする変調器。