JP2001356049A - 分光光度計 - Google Patents
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/08—Beam switching arrangements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 十分に大きな強度の信号を出力し、分析時間
を短縮できる分光光度計を提供する。 【解決手段】 光源１から発せられた光はモノクロメー
タ２により単色化され、チョッパ機能も備えた回転可能
なセクターミラー２１に達する。セクターミラー２１は
モータ４により回転され、モータ４は制御器５により回
転数を制御されることができる。モノクロメータ２から
の単色光はセクターミラー２１の回転により、試料セル
６あるいはミラー８を介して参照セル７に交互に振り分
けられると同時に、ダークを測定するために遮断され
る。応答速度が速いＰＭＴ１１が検出器として使用され
る波長範囲においてはモータ４は高速回転し、波長走査
時間は短縮される。応答速度が遅いＰｂＳ１２が検出器
として使用される波長範囲においては、十分大きな信号
強度を得るため、モータ４は低速で回転するよう制御さ
れる。
を短縮できる分光光度計を提供する。 【解決手段】 光源１から発せられた光はモノクロメー
タ２により単色化され、チョッパ機能も備えた回転可能
なセクターミラー２１に達する。セクターミラー２１は
モータ４により回転され、モータ４は制御器５により回
転数を制御されることができる。モノクロメータ２から
の単色光はセクターミラー２１の回転により、試料セル
６あるいはミラー８を介して参照セル７に交互に振り分
けられると同時に、ダークを測定するために遮断され
る。応答速度が速いＰＭＴ１１が検出器として使用され
る波長範囲においてはモータ４は高速回転し、波長走査
時間は短縮される。応答速度が遅いＰｂＳ１２が検出器
として使用される波長範囲においては、十分大きな信号
強度を得るため、モータ４は低速で回転するよう制御さ
れる。
Description
【０００１】
【発明の属する分野】本発明は、汎用分光光度計として
使用されるダブルビーム方式の分光光度計に関する。
使用されるダブルビーム方式の分光光度計に関する。
【０００２】
【従来の技術】分光光度計は、被測定試料中を透過した
光のスペクトルを測定し、試料に吸収された光の波長ま
たは透過した光の波長を調べることにより、試料成分を
分析するものである。
光のスペクトルを測定し、試料に吸収された光の波長ま
たは透過した光の波長を調べることにより、試料成分を
分析するものである。
【０００３】従来の分光光度計においては、測定試料を
通過した光のエネルギーと、標準試料を通過した光のエ
ネルギーとの比を測定することにより、定性および定量
分析を行うダブルビーム方式の分光光度計がある。この
場合、二つの光路に光を照射しなければならないが、通
常一つの光源からの光を、モノクロメータにより単色光
とした後、試料に照射される信号光と、参照試料に照射
される参照光の二つの光路に分けられる（ダブルビー
ム）。また、検出器として光エネルギーを電気信号に変
換する検出器が使用されるが、これらの素子は測定する
光のエネルギー変化を検出するために、光照射時のエネ
ルギー測定、および非照射時のダーク信号（暗信号）の
測定を繰り返さなければならない。このような信号光と
参照光との切換および照射、非照射を繰り返すために、
一定の回転数で回転可能なセクターミラー（チョッパ）
が使用されている。このセクターミラーの回転数は、電
源周波数の影響、いわゆるハムの影響を取り除くため
に、シンクロナスモータを利用して、電源周波数と同期
したものになっている。
通過した光のエネルギーと、標準試料を通過した光のエ
ネルギーとの比を測定することにより、定性および定量
分析を行うダブルビーム方式の分光光度計がある。この
場合、二つの光路に光を照射しなければならないが、通
常一つの光源からの光を、モノクロメータにより単色光
とした後、試料に照射される信号光と、参照試料に照射
される参照光の二つの光路に分けられる（ダブルビー
ム）。また、検出器として光エネルギーを電気信号に変
換する検出器が使用されるが、これらの素子は測定する
光のエネルギー変化を検出するために、光照射時のエネ
ルギー測定、および非照射時のダーク信号（暗信号）の
測定を繰り返さなければならない。このような信号光と
参照光との切換および照射、非照射を繰り返すために、
一定の回転数で回転可能なセクターミラー（チョッパ）
が使用されている。このセクターミラーの回転数は、電
源周波数の影響、いわゆるハムの影響を取り除くため
に、シンクロナスモータを利用して、電源周波数と同期
したものになっている。
【０００４】図２にセクターミラーの概略構成図を示
す。セクターミラー２１には開口部２２、２３と、ミラ
ー２４、２５と、遮蔽部２６、２７が交互に配置されて
いる。セクターミラー２１は開口部２２、２３あるいは
ミラー２４、２５が光路上に来るように設置され、モー
タ等の手段により一定速度で回転される。図３にダブル
ビーム方式の分光光度計の概略構成図を示す。光源３１
からの光はモノクロメータ３２により単色化された後、
セクターミラー２１に達する。セクターミラー２１は光
路に対して４５度の角度で、開口部２２、２３およびミ
ラー２４、２５が光路上に来るように配置され、モータ
３４により一定速度で回転される。セクターミラー２１
が回転することにより、開口部２２が光路上に来たと
き、光源からの光はセクターミラー２１を通過し、試料
３６を透過した後ミラー３９で反射され、検出器４２で
検出される。
す。セクターミラー２１には開口部２２、２３と、ミラ
ー２４、２５と、遮蔽部２６、２７が交互に配置されて
いる。セクターミラー２１は開口部２２、２３あるいは
ミラー２４、２５が光路上に来るように設置され、モー
タ等の手段により一定速度で回転される。図３にダブル
ビーム方式の分光光度計の概略構成図を示す。光源３１
からの光はモノクロメータ３２により単色化された後、
セクターミラー２１に達する。セクターミラー２１は光
路に対して４５度の角度で、開口部２２、２３およびミ
ラー２４、２５が光路上に来るように配置され、モータ
３４により一定速度で回転される。セクターミラー２１
が回転することにより、開口部２２が光路上に来たと
き、光源からの光はセクターミラー２１を通過し、試料
３６を透過した後ミラー３９で反射され、検出器４２で
検出される。
【０００５】次に、セクターミラー２１が回転すること
で、遮蔽部２６がモノクロメータ３２からの光を遮断
し、検出器４２には光は達せず、検出器４２はダーク信
号を検出する。よって、セクターミラー２１はチョッパ
機能もあわせて有している。さらにセクターミラー２１
が回転することで、光路上にミラー２４が配置され、モ
ノクロメータ３２からの光はミラー２４で反射され、さ
らにミラー３８で反射された後標準試料３７を透過し、
ミラー４０で反射され、検出器４２で検出される。
で、遮蔽部２６がモノクロメータ３２からの光を遮断
し、検出器４２には光は達せず、検出器４２はダーク信
号を検出する。よって、セクターミラー２１はチョッパ
機能もあわせて有している。さらにセクターミラー２１
が回転することで、光路上にミラー２４が配置され、モ
ノクロメータ３２からの光はミラー２４で反射され、さ
らにミラー３８で反射された後標準試料３７を透過し、
ミラー４０で反射され、検出器４２で検出される。
【０００６】さらにセクターミラー２１が回転すること
により、遮蔽部２７、開口部２３、遮蔽部２８、ミラー
２５、遮蔽部２９が順次光路上に配置されることによ
り、試料３６の透過光強度、標準試料３７の透過光強度
が検出器４２により繰り返し測定される。
により、遮蔽部２７、開口部２３、遮蔽部２８、ミラー
２５、遮蔽部２９が順次光路上に配置されることによ
り、試料３６の透過光強度、標準試料３７の透過光強度
が検出器４２により繰り返し測定される。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】分光光度計、特に上級
の分光光度計では紫外域から赤外域まで広い波長範囲で
分光分析を行うが、波長範囲が広くなると一つの検出器
で全波長を検出することが困難となる。例えば、波長１
９０ｎｍ〜３２００ｎｍの範囲で測定を行う場合、検出
器としてはＰＭＴ（フォトマルチプライア）とＰｂＳ
（硫化鉛）の２種類を用いている。一般に、これらの２
種類の検出器は８５０ｎｍ付近で切り換えられ、ＰＭＴ
は波長範囲１９０ｎｍ〜８５０ｎｍで検出を行い、Ｐｂ
Ｓは波長範囲８５０ｎｍ〜３２００ｎｍで検出を行う。
の分光光度計では紫外域から赤外域まで広い波長範囲で
分光分析を行うが、波長範囲が広くなると一つの検出器
で全波長を検出することが困難となる。例えば、波長１
９０ｎｍ〜３２００ｎｍの範囲で測定を行う場合、検出
器としてはＰＭＴ（フォトマルチプライア）とＰｂＳ
（硫化鉛）の２種類を用いている。一般に、これらの２
種類の検出器は８５０ｎｍ付近で切り換えられ、ＰＭＴ
は波長範囲１９０ｎｍ〜８５０ｎｍで検出を行い、Ｐｂ
Ｓは波長範囲８５０ｎｍ〜３２００ｎｍで検出を行う。
【０００８】ＰＭＴとＰｂＳの２種類の検出器を用いる
場合、両者の応答性は大きく（数桁のオーダー）異な
る。特に、検出感度を大きくするためＰｂＳを冷却して
用いる場合には、応答速度は極端に遅くなってしまう。
セクターミラーを高速に回転するほど必要な範囲の波長
を走査するための時間を短縮することができ、短時間分
析が可能となるが、応答の遅い検出器では、セクターミ
ラーの回転を早くすることにより十分な信号を出力でき
なくなる。よって、従来の分光光度計では、検出器の応
答速度に問題の生じない速度にセクターミラーの回転数
は決められ、その結果として波長走査速度が決定され
る。セクターミラーの回転数は一定に固定されているた
め、２種類の検出器を用いる場合には、セクターミラー
の回転数は応答速度の遅い検出器を基に決定されること
となり、分析時間の長時間化は避けられない。紫外域か
ら赤外域までの広い波長範囲を測定する分光光度計で
は、一般にセクターミラーの回転数は電源周波数と同期
した１８００ｒｐｍが採用されている
場合、両者の応答性は大きく（数桁のオーダー）異な
る。特に、検出感度を大きくするためＰｂＳを冷却して
用いる場合には、応答速度は極端に遅くなってしまう。
セクターミラーを高速に回転するほど必要な範囲の波長
を走査するための時間を短縮することができ、短時間分
析が可能となるが、応答の遅い検出器では、セクターミ
ラーの回転を早くすることにより十分な信号を出力でき
なくなる。よって、従来の分光光度計では、検出器の応
答速度に問題の生じない速度にセクターミラーの回転数
は決められ、その結果として波長走査速度が決定され
る。セクターミラーの回転数は一定に固定されているた
め、２種類の検出器を用いる場合には、セクターミラー
の回転数は応答速度の遅い検出器を基に決定されること
となり、分析時間の長時間化は避けられない。紫外域か
ら赤外域までの広い波長範囲を測定する分光光度計で
は、一般にセクターミラーの回転数は電源周波数と同期
した１８００ｒｐｍが採用されている
【０００９】本発明は、上記問題を解決するためになさ
れたものであり、広い波長範囲を分析できるよう２種類
の検出器を有し、十分に大きな信号を出力し、分析時間
を短縮できる分光光度計を提供することを目的とする。
れたものであり、広い波長範囲を分析できるよう２種類
の検出器を有し、十分に大きな信号を出力し、分析時間
を短縮できる分光光度計を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するた
め、本発明の分光光度計は、セクターミラーを回転させ
るモーターの回転数を、外部から制御できるようにした
ものである。応答速度の速い検出器を動作させている時
には、セクターミラーの回転数を大きくし、波長走査時
間を短縮する。応答速度の遅い検出器を動作させている
時には、セクターミラーの回転数を小さくし、十分に大
きな出力信号が得られるようにする。この様に、セクタ
ーミラーの回転数を検出器の応答速度にあわせて制御す
ることにより、分析時間が短く、出力信号が大きな分光
光度計を得ることができる。
め、本発明の分光光度計は、セクターミラーを回転させ
るモーターの回転数を、外部から制御できるようにした
ものである。応答速度の速い検出器を動作させている時
には、セクターミラーの回転数を大きくし、波長走査時
間を短縮する。応答速度の遅い検出器を動作させている
時には、セクターミラーの回転数を小さくし、十分に大
きな出力信号が得られるようにする。この様に、セクタ
ーミラーの回転数を検出器の応答速度にあわせて制御す
ることにより、分析時間が短く、出力信号が大きな分光
光度計を得ることができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図を
参照しながら詳細に説明する。図１は、本発明の分光光
度計の一実施例の概略構成図である。本発明の装置は、
光源１と、モノクロメータ２と、セクターミラー２１
と、セクターミラー２１を回転させるモータ４と、モー
タ４の回転数を制御する制御器５と、試料が導入された
試料セル６と、標準試料が導入されている参照セル７
と、ミラー８、９および１０と、検出器であるＰＭＴ１
１およびＰｂＳ１２から構成されている。
参照しながら詳細に説明する。図１は、本発明の分光光
度計の一実施例の概略構成図である。本発明の装置は、
光源１と、モノクロメータ２と、セクターミラー２１
と、セクターミラー２１を回転させるモータ４と、モー
タ４の回転数を制御する制御器５と、試料が導入された
試料セル６と、標準試料が導入されている参照セル７
と、ミラー８、９および１０と、検出器であるＰＭＴ１
１およびＰｂＳ１２から構成されている。
【００１２】光源１から発せられた光はモノクロメータ
２により単色化され、回転可能なセクターミラー２１に
達する。セクターミラー２１は図２に示すものと同様の
構造を有しており、チョッパも兼ねている。セクターミ
ラー２１はモータ４により回転される。モータ４はブラ
シレスＤＣサーボモータであり、制御器５により回転数
を制御することができる。モノクロメータ２からの単色
光はセクターミラー２１の回転により、試料セル６ある
いはミラー８を介して参照セル７に交互に振り分けられ
ると同時に、ダークを測定するために遮断される。すな
わち、セクターミラー２１が回転することにより、開口
部２２が光路上に来たとき、光源からの光はセクターミ
ラー２１を通過し、試料セル６に達する。次に、セクタ
ーミラー２１が回転することで、遮蔽部２６がモノクロ
メータ２からの光を遮断し、セクターミラー２１はチョ
ッパ機能もあわせて有している。さらにセクターミラー
２１が回転することで、光路上にミラー２４が配置さ
れ、モノクロメータ２からの光はミラー２４で反射さ
れ、さらにミラー８で反射された後参照セル７に達す
る。試料セル６および参照セル７を透過した光はミラー
９および１０によりＰＭＴ１１あるいはＰｂＳ１２に導
入され、光エネルギーが測定される。モータ４は制御器
５からの駆動信号によって回転している。また、モータ
４もしくはセクターミラー２１の回転に応じた信号を回
転数検出信号として取り出すことが可能になっている。
モータ４はＣＰＵ等の制御器５によって制御されるが、
その際、回転数検出信号を利用する。これによって、所
望のチョッパ周波数で安定してモータ４を駆動すること
ができる。
２により単色化され、回転可能なセクターミラー２１に
達する。セクターミラー２１は図２に示すものと同様の
構造を有しており、チョッパも兼ねている。セクターミ
ラー２１はモータ４により回転される。モータ４はブラ
シレスＤＣサーボモータであり、制御器５により回転数
を制御することができる。モノクロメータ２からの単色
光はセクターミラー２１の回転により、試料セル６ある
いはミラー８を介して参照セル７に交互に振り分けられ
ると同時に、ダークを測定するために遮断される。すな
わち、セクターミラー２１が回転することにより、開口
部２２が光路上に来たとき、光源からの光はセクターミ
ラー２１を通過し、試料セル６に達する。次に、セクタ
ーミラー２１が回転することで、遮蔽部２６がモノクロ
メータ２からの光を遮断し、セクターミラー２１はチョ
ッパ機能もあわせて有している。さらにセクターミラー
２１が回転することで、光路上にミラー２４が配置さ
れ、モノクロメータ２からの光はミラー２４で反射さ
れ、さらにミラー８で反射された後参照セル７に達す
る。試料セル６および参照セル７を透過した光はミラー
９および１０によりＰＭＴ１１あるいはＰｂＳ１２に導
入され、光エネルギーが測定される。モータ４は制御器
５からの駆動信号によって回転している。また、モータ
４もしくはセクターミラー２１の回転に応じた信号を回
転数検出信号として取り出すことが可能になっている。
モータ４はＣＰＵ等の制御器５によって制御されるが、
その際、回転数検出信号を利用する。これによって、所
望のチョッパ周波数で安定してモータ４を駆動すること
ができる。
【００１３】図４はＰＭＴ１１あるいはＰｂＳ１２が観
測する信号のスケジュールを表している。横軸は時間で
あり、Ｔｍはモータ４の回転数によって決まる時間であ
る。Ｓは試料セル６を透過した光、Ｒは参照セル７を透
過した光、Ｄはダークを観測していることを示してい
る。必ずしもこれらに時間が同じである必要はないが、
通常これらの時間は同一になるよう設定されている。Ｓ
とＲの期間では検出器は比較的強い光を検出することに
なるが、Ｄの期間では光を検出していない。そのため、
検出器にはステップ入力的に光が入射する。
測する信号のスケジュールを表している。横軸は時間で
あり、Ｔｍはモータ４の回転数によって決まる時間であ
る。Ｓは試料セル６を透過した光、Ｒは参照セル７を透
過した光、Ｄはダークを観測していることを示してい
る。必ずしもこれらに時間が同じである必要はないが、
通常これらの時間は同一になるよう設定されている。Ｓ
とＲの期間では検出器は比較的強い光を検出することに
なるが、Ｄの期間では光を検出していない。そのため、
検出器にはステップ入力的に光が入射する。
【００１４】光源１からの光はモノクロメータ２により
波長１９０ｎｍ〜３２００ｎｍの範囲で走査される。１
９０ｎｍ〜８５０ｎｍの範囲で走査される間、試料セル
６および参照セル７を透過した光はミラー９およびミラ
ー１０により反射されＰＭＴ１１で検出される。ＰＭＴ
の応答速度は速いので、制御器５によりモータ４の回転
数を従来の２倍の３６００ｒｐｍに設定しても十分に大
きな信号を得ることができる。これにより、波長走査に
要する時間を従来技術と比較し１／２にすることがで
き、分析時間も１／２に短縮することができる。
波長１９０ｎｍ〜３２００ｎｍの範囲で走査される。１
９０ｎｍ〜８５０ｎｍの範囲で走査される間、試料セル
６および参照セル７を透過した光はミラー９およびミラ
ー１０により反射されＰＭＴ１１で検出される。ＰＭＴ
の応答速度は速いので、制御器５によりモータ４の回転
数を従来の２倍の３６００ｒｐｍに設定しても十分に大
きな信号を得ることができる。これにより、波長走査に
要する時間を従来技術と比較し１／２にすることがで
き、分析時間も１／２に短縮することができる。
【００１５】モノクロメータ２により波長が８５０ｎｍ
〜３２００ｎｍの範囲で走査される間は、試料セル６お
よび参照セル７を透過した光はミラー９およびミラー１
０により反射されＰｂＳ１２で検出される。図５はＰｂ
Ｓ１２の出力信号と時間との関係を示している。図５中
のＳ、Ｄ、Ｒは図４に示した信号スケジュールを表して
いる。（４−Ａ）はセクターミラー２１の回転数を従来
の２倍の３６００ｒｐｍとした場合であり、チョッパ周
波数が高く、データサンプル点において信号は最大値に
は達しておらず、検出器が十分に応答していないことが
わかる。（４−Ｂ）はセクターミラー２１の回転数を従
来と同様の１８００ｒｐｍとした場合であり、信号はデ
ータサンプル点において最大値に達しており、検出器は
十分応答している。このように、検出器の応答速度に応
じてセクターミラー２１の回転数を制御器５により制御
可能とすることにより、十分に大きな信号が得られ、し
かも分析時間を最短に設定することができる。
〜３２００ｎｍの範囲で走査される間は、試料セル６お
よび参照セル７を透過した光はミラー９およびミラー１
０により反射されＰｂＳ１２で検出される。図５はＰｂ
Ｓ１２の出力信号と時間との関係を示している。図５中
のＳ、Ｄ、Ｒは図４に示した信号スケジュールを表して
いる。（４−Ａ）はセクターミラー２１の回転数を従来
の２倍の３６００ｒｐｍとした場合であり、チョッパ周
波数が高く、データサンプル点において信号は最大値に
は達しておらず、検出器が十分に応答していないことが
わかる。（４−Ｂ）はセクターミラー２１の回転数を従
来と同様の１８００ｒｐｍとした場合であり、信号はデ
ータサンプル点において最大値に達しており、検出器は
十分応答している。このように、検出器の応答速度に応
じてセクターミラー２１の回転数を制御器５により制御
可能とすることにより、十分に大きな信号が得られ、し
かも分析時間を最短に設定することができる。
【００１６】ＰｂＳ１２の検出感度を大きくするために
は、素子全体を冷却する必要があるが、冷却することに
より応答速度は遅くなってしまう。試料によっては高感
度検出が必要になる場合があるが、この様なときにはＰ
ｂＳ１２を冷却し、モータ４の回転数を小さくすること
により、容易に対応可能となる。
は、素子全体を冷却する必要があるが、冷却することに
より応答速度は遅くなってしまう。試料によっては高感
度検出が必要になる場合があるが、この様なときにはＰ
ｂＳ１２を冷却し、モータ４の回転数を小さくすること
により、容易に対応可能となる。
【００１７】また、モノクロメータ２から試料セル６に
至る光路上に、セクターミラー２１の開口部２２と遮蔽
部２６あるいは遮蔽部２９が交互に位置するように、往
復運動的な回転動作をモータ４に行わせる、ないしはセ
クターミラー２１を静止させることにより、シングルビ
ーム方式の分光光度計として使用することが可能とな
る。
至る光路上に、セクターミラー２１の開口部２２と遮蔽
部２６あるいは遮蔽部２９が交互に位置するように、往
復運動的な回転動作をモータ４に行わせる、ないしはセ
クターミラー２１を静止させることにより、シングルビ
ーム方式の分光光度計として使用することが可能とな
る。
【００１８】以上、本発明の実施例を説明したが、本発
明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請求の
範囲に記載された本発明の要旨の範囲内で種々の変更を
行うことができる。例えば、上記実施例では、試料セル
６と参照セル７に光を切り換えるためのミラー２４、２
５と、ダーク信号を測定するため光束を遮断するチョッ
パ機能のための遮蔽部２６、２７、２８および２９がセ
クターミラー２１において一体とされているが、チョッ
パ機構を別に設け、ミラーとチョッパを同期動作させる
ことで、実施例と同様な系を構成できる。例えばチョッ
パをより光源に近いところに配置し、ミラーを実施例の
ようにサンプルに近い場所に配置しても良い。また、実
施例はダーク信号を測定する機構、手段を制限するもの
ではない。上記実施例では、モータ４とセクターミラー
２１を直接接続しているが、モータ４の回転を何らかの
伝達機構を介してセクターミラー２１に接続しても良
い。また、モータ４に回転数の制御が可能なモータとし
てブラシレスＤＣモータを使用しているが、これに限定
されるものではなく、回転数を任意に設定制御できるも
のであれば、どのようなモータを用いても良い。また、
あくまで電源周波数と同期させることを目的として、従
来と同じシンクロナスモータを使用し、クラッチなどで
回転数を離散的に変化させても良い。
明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請求の
範囲に記載された本発明の要旨の範囲内で種々の変更を
行うことができる。例えば、上記実施例では、試料セル
６と参照セル７に光を切り換えるためのミラー２４、２
５と、ダーク信号を測定するため光束を遮断するチョッ
パ機能のための遮蔽部２６、２７、２８および２９がセ
クターミラー２１において一体とされているが、チョッ
パ機構を別に設け、ミラーとチョッパを同期動作させる
ことで、実施例と同様な系を構成できる。例えばチョッ
パをより光源に近いところに配置し、ミラーを実施例の
ようにサンプルに近い場所に配置しても良い。また、実
施例はダーク信号を測定する機構、手段を制限するもの
ではない。上記実施例では、モータ４とセクターミラー
２１を直接接続しているが、モータ４の回転を何らかの
伝達機構を介してセクターミラー２１に接続しても良
い。また、モータ４に回転数の制御が可能なモータとし
てブラシレスＤＣモータを使用しているが、これに限定
されるものではなく、回転数を任意に設定制御できるも
のであれば、どのようなモータを用いても良い。また、
あくまで電源周波数と同期させることを目的として、従
来と同じシンクロナスモータを使用し、クラッチなどで
回転数を離散的に変化させても良い。
【００１９】
【発明の効果】本発明によれば、検出器の応答速度に応
じてチョッパ機能を有したセクターミラーの回転数を任
意に設定制御できるので、十分な大きさの信号強度を得
た上で、測定時間の最短化を実現することができる。ま
た、検出器の感度を高くするために、検出器を冷却する
必要があり、同時に応答速度が低下してしまうような場
合にも、容易に対応が可能である。さらに、シングルビ
ーム方式の分光光度計として使用することも可能とす
る。
じてチョッパ機能を有したセクターミラーの回転数を任
意に設定制御できるので、十分な大きさの信号強度を得
た上で、測定時間の最短化を実現することができる。ま
た、検出器の感度を高くするために、検出器を冷却する
必要があり、同時に応答速度が低下してしまうような場
合にも、容易に対応が可能である。さらに、シングルビ
ーム方式の分光光度計として使用することも可能とす
る。
【図１】本発明の分光光度計の一実施例の概略構成であ
る。
る。
【図２】セクターミラーの概略構成図である。
【図３】従来からの分光光度計の概略構成図である。
【図４】本発明の検出器が観測する信号のスケジュール
を表す図である。
を表す図である。
【図５】本発明のの出力信号と時間との関係を示す図で
ある。
ある。
１、３１---光源 ２、３２---モノクロメータ ４、３４---モータ ５---制御器 ６---試料セル ７---参照セル ８、９、１０、２４、２５、３８、３９、４０---ミラ
ー １１---ＰＭＴ １２---ＰｂＳ ２１---セクターミラー ２２、２３---開口部 ２６、２７、２８、２９---遮蔽部 ３６---試料 ３７---標準試料 ４２---検出器
ー １１---ＰＭＴ １２---ＰｂＳ ２１---セクターミラー ２２、２３---開口部 ２６、２７、２８、２９---遮蔽部 ３６---試料 ３７---標準試料 ４２---検出器
Claims (1)
- 【請求項１】 光源と被測定試料および参照試料との間
の光路上に、ミラー、開口部、遮蔽部のいずれかが介在
するように切り換える回転可能なセクターミラーを備え
た分光光度計において、前記セクターミラーの回転数を
制御できるようにしたことを特徴とする分光光度計。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000176480A JP3591427B2 (ja) | 2000-06-13 | 2000-06-13 | 分光光度計 |
| US09/752,733 US6525813B2 (en) | 2000-06-13 | 2001-01-03 | Spectrophotometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000176480A JP3591427B2 (ja) | 2000-06-13 | 2000-06-13 | 分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001356049A true JP2001356049A (ja) | 2001-12-26 |
| JP3591427B2 JP3591427B2 (ja) | 2004-11-17 |
Family
ID=18678201
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000176480A Expired - Lifetime JP3591427B2 (ja) | 2000-06-13 | 2000-06-13 | 分光光度計 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6525813B2 (ja) |
| JP (1) | JP3591427B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2403288A (en) * | 2003-04-11 | 2004-12-29 | Crown Vision Systems Ltd | Light emission assay apparatus |
| US7067323B2 (en) * | 2003-10-15 | 2006-06-27 | Lighthouse Instruments, Llc | System and method for automated headspace analysis |
| TWI254128B (en) * | 2004-12-29 | 2006-05-01 | Optimax Tech Corp | Apparatus and method for measuring phase retardation |
| CN101819137B (zh) * | 2010-04-28 | 2012-03-21 | 成都市信达温度测控技术有限公司 | 一种尿碘分析方法 |
| US10585215B2 (en) * | 2017-06-29 | 2020-03-10 | Cymer, Llc | Reducing optical damage on an optical element |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS545987B2 (ja) * | 1972-12-28 | 1979-03-23 |
-
2000
- 2000-06-13 JP JP2000176480A patent/JP3591427B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-01-03 US US09/752,733 patent/US6525813B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6525813B2 (en) | 2003-02-25 |
| JP3591427B2 (ja) | 2004-11-17 |
| US20010050770A1 (en) | 2001-12-13 |
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