JP2001351951A - 半導体キャリアテープの反り矯正装置及び方法 - Google Patents
半導体キャリアテープの反り矯正装置及び方法Info
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- JP2001351951A JP2001351951A JP2000171885A JP2000171885A JP2001351951A JP 2001351951 A JP2001351951 A JP 2001351951A JP 2000171885 A JP2000171885 A JP 2000171885A JP 2000171885 A JP2000171885 A JP 2000171885A JP 2001351951 A JP2001351951 A JP 2001351951A
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67092—Apparatus for mechanical treatment
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- Wire Bonding (AREA)
- Shaping Of Tube Ends By Bending Or Straightening (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ソルダーレジストを塗布した半導体キャリア
テープと半導体チップとの正確な位置決め及び電気的接
続を良好とするための、半導体キャリアテープの反り矯
正装置及び方法を提供する。 【解決手段】 加熱装置121、湾曲修正装置131、
搬送装置111を備え、間欠的に逆反り状態の半導体キ
ャリアテープ1を搬送し停止状態にある半導体キャリア
テープ1を加熱し、上記湾曲修正装置に備わる矯正用金
型133の矯正曲面1331に上記逆反り状態の半導体
キャリアテープを密着するようにした。よって半導体キ
ャリアテープにおいて、上記矯正曲面にならった逆反り
状態を得ることができ、反りのない矯正後半導体キャリ
アテープ10を生成することができる。
テープと半導体チップとの正確な位置決め及び電気的接
続を良好とするための、半導体キャリアテープの反り矯
正装置及び方法を提供する。 【解決手段】 加熱装置121、湾曲修正装置131、
搬送装置111を備え、間欠的に逆反り状態の半導体キ
ャリアテープ1を搬送し停止状態にある半導体キャリア
テープ1を加熱し、上記湾曲修正装置に備わる矯正用金
型133の矯正曲面1331に上記逆反り状態の半導体
キャリアテープを密着するようにした。よって半導体キ
ャリアテープにおいて、上記矯正曲面にならった逆反り
状態を得ることができ、反りのない矯正後半導体キャリ
アテープ10を生成することができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、いわゆるTAB
(Tape Automated Bonding)に用いられる半導体キャリ
アテープに生じる反りを矯正する、半導体キャリアテー
プの反り矯正装置、及び該矯正装置にて実行される半導
体キャリアテープの反り矯正方法に関する。
(Tape Automated Bonding)に用いられる半導体キャリ
アテープに生じる反りを矯正する、半導体キャリアテー
プの反り矯正装置、及び該矯正装置にて実行される半導
体キャリアテープの反り矯正方法に関する。
【0002】
【従来の技術】図10に示すように、上記TAB方式に
用いられ半導体チップを取り付けるための部材として図
10に示すようなソルダーレジストを塗布した半導体キ
ャリアテープ1が存在する。該半導体キャリアテープ1
は、開口5を有するテープ状の部材であり、該部材のフ
ィルム状で帯状の基材2に半導体チップの導体部分と直
接接続される細線状の引き出し線、いわゆるインナーリ
ード6を形成している。上記キャリアテープ1は、図1
1に示すように、例えばポリイミドのような絶縁性の樹
脂材にてなるフィルム状の基材2上に、上記インナーリ
ード6を形成するための銅等の導電性材料にてなる配線
を形成した回路層3が形成され、該回路層3の不必要な
部分への半田の付着を防ぐとともに回路層3の保護を図
るため回路層3上にソルダーレジスト4が塗布されてい
る。上記ソルダーレジスト4は、上記インナーリード6
と上記半導体チップの上記導体部分とを半田付けすると
きの熱に耐え得る必要があることから、耐熱性を有する
主としてエポキシ樹脂が使用される。そして塗布したソ
ルダーレジスト4を硬化させるため、上記キャリアテー
プ1は、例えば160℃に加熱されたり、熱風乾燥炉に
て乾燥されたりする。
用いられ半導体チップを取り付けるための部材として図
10に示すようなソルダーレジストを塗布した半導体キ
ャリアテープ1が存在する。該半導体キャリアテープ1
は、開口5を有するテープ状の部材であり、該部材のフ
ィルム状で帯状の基材2に半導体チップの導体部分と直
接接続される細線状の引き出し線、いわゆるインナーリ
ード6を形成している。上記キャリアテープ1は、図1
1に示すように、例えばポリイミドのような絶縁性の樹
脂材にてなるフィルム状の基材2上に、上記インナーリ
ード6を形成するための銅等の導電性材料にてなる配線
を形成した回路層3が形成され、該回路層3の不必要な
部分への半田の付着を防ぐとともに回路層3の保護を図
るため回路層3上にソルダーレジスト4が塗布されてい
る。上記ソルダーレジスト4は、上記インナーリード6
と上記半導体チップの上記導体部分とを半田付けすると
きの熱に耐え得る必要があることから、耐熱性を有する
主としてエポキシ樹脂が使用される。そして塗布したソ
ルダーレジスト4を硬化させるため、上記キャリアテー
プ1は、例えば160℃に加熱されたり、熱風乾燥炉に
て乾燥されたりする。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記エポ
キシ系樹脂等の材料は熱収縮率が大きい。従って、ソル
ダーレジスト4を硬化させるために上記キャリアテープ
1を加熱して冷却したとき、ソルダーレジスト4の硬化
時におけるソルダーレジスト4自身の収縮、及びソルダ
ーレジスト4と基材2との熱膨張率の相違に起因して、
キャリアテープ1は、ソルダーレジスト4を塗布した塗
布面4aを内側にして、図12に示すように上記キャリ
アテープ1の幅方向において湾曲する。このようにキャ
リアテープ1が湾曲すると、上記インナーリード6に対
する半導体チップの導体部分の正確な位置決めが困難に
なるとともに、インナーリード6と上記導体部分との接
続不良が発生する原因となる。本発明はこのような問題
点を解決するためになされたもので、ソルダーレジスト
を塗布した半導体キャリアテープと半導体チップとの正
確な位置決め及び電気的接続を良好とするための、半導
体キャリアテープの反り矯正装置及び方法を提供するこ
とを目的とする。
キシ系樹脂等の材料は熱収縮率が大きい。従って、ソル
ダーレジスト4を硬化させるために上記キャリアテープ
1を加熱して冷却したとき、ソルダーレジスト4の硬化
時におけるソルダーレジスト4自身の収縮、及びソルダ
ーレジスト4と基材2との熱膨張率の相違に起因して、
キャリアテープ1は、ソルダーレジスト4を塗布した塗
布面4aを内側にして、図12に示すように上記キャリ
アテープ1の幅方向において湾曲する。このようにキャ
リアテープ1が湾曲すると、上記インナーリード6に対
する半導体チップの導体部分の正確な位置決めが困難に
なるとともに、インナーリード6と上記導体部分との接
続不良が発生する原因となる。本発明はこのような問題
点を解決するためになされたもので、ソルダーレジスト
を塗布した半導体キャリアテープと半導体チップとの正
確な位置決め及び電気的接続を良好とするための、半導
体キャリアテープの反り矯正装置及び方法を提供するこ
とを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の第1態様の半導
体キャリアテープの反り矯正装置は、フィルム状で帯状
の基材上に形成したリードにソルダーレジストを塗布し
てなり上記リードに半導体チップが電気的に接続される
半導体キャリアテープの反り矯正装置であって、上記半
導体キャリアテープの延在方向に直交する幅方向におい
てソルダーレジスト塗布面を内側にして湾曲した上記半
導体キャリアテープについて上記ソルダーレジスト塗布
面を外側にして逆反りさせ、かつ上記延在方向に上記半
導体キャリアテープを間欠的に搬送する搬送装置と、上
記搬送装置にて間欠搬送され停止状態にある上記逆反り
状態の上記半導体キャリアテープを、上記ソルダーレジ
ストの上記ガラス転移点を超える温度に加熱する加熱装
置と、上記半導体キャリアテープの搬送方向において上
記加熱装置の設置場所と同場所で、上記半導体キャリア
テープを間にして当該半導体キャリアテープの厚み方向
にて対向する位置に設けられる湾曲修正装置であって、
上記逆反り状態の上記半導体キャリアテープのソルダー
レジスト非塗布面に接触し上記湾曲を矯正する形状及び
曲率を有する矯正曲面を有するかまぼこ型の矯正用金型
を有し、上記停止状態の上記半導体キャリアテープの上
記ソルダーレジスト非塗布面を上記矯正曲面に密着させ
かつ該密着状態にて上記ソルダーレジストのガラス転移
点以下の温度に上記半導体キャリアテープを冷却して上
記半導体キャリアテープの上記湾曲を矯正する湾曲修正
装置と、を備えたことを特徴とする。
体キャリアテープの反り矯正装置は、フィルム状で帯状
の基材上に形成したリードにソルダーレジストを塗布し
てなり上記リードに半導体チップが電気的に接続される
半導体キャリアテープの反り矯正装置であって、上記半
導体キャリアテープの延在方向に直交する幅方向におい
てソルダーレジスト塗布面を内側にして湾曲した上記半
導体キャリアテープについて上記ソルダーレジスト塗布
面を外側にして逆反りさせ、かつ上記延在方向に上記半
導体キャリアテープを間欠的に搬送する搬送装置と、上
記搬送装置にて間欠搬送され停止状態にある上記逆反り
状態の上記半導体キャリアテープを、上記ソルダーレジ
ストの上記ガラス転移点を超える温度に加熱する加熱装
置と、上記半導体キャリアテープの搬送方向において上
記加熱装置の設置場所と同場所で、上記半導体キャリア
テープを間にして当該半導体キャリアテープの厚み方向
にて対向する位置に設けられる湾曲修正装置であって、
上記逆反り状態の上記半導体キャリアテープのソルダー
レジスト非塗布面に接触し上記湾曲を矯正する形状及び
曲率を有する矯正曲面を有するかまぼこ型の矯正用金型
を有し、上記停止状態の上記半導体キャリアテープの上
記ソルダーレジスト非塗布面を上記矯正曲面に密着させ
かつ該密着状態にて上記ソルダーレジストのガラス転移
点以下の温度に上記半導体キャリアテープを冷却して上
記半導体キャリアテープの上記湾曲を矯正する湾曲修正
装置と、を備えたことを特徴とする。
【0005】又、上記湾曲修正装置は、さらに、上記搬
送装置にて間欠搬送され停止状態にある上記逆反り状態
の上記半導体キャリアテープの上記幅方向における両端
縁部を上記延在方向に沿って挟持して、上記ソルダーレ
ジスト非塗布面が上記矯正曲面に密着される上記逆反り
状態の上記半導体キャリアテープを保持する挟持装置を
有することもできる。
送装置にて間欠搬送され停止状態にある上記逆反り状態
の上記半導体キャリアテープの上記幅方向における両端
縁部を上記延在方向に沿って挟持して、上記ソルダーレ
ジスト非塗布面が上記矯正曲面に密着される上記逆反り
状態の上記半導体キャリアテープを保持する挟持装置を
有することもできる。
【0006】又、上記湾曲修正装置は、さらに、上記ガ
ラス転移点以下の温度に上記矯正曲面を強制冷却して上
記半導体キャリアテープを冷却する冷却装置を有するこ
ともできる。
ラス転移点以下の温度に上記矯正曲面を強制冷却して上
記半導体キャリアテープを冷却する冷却装置を有するこ
ともできる。
【0007】又、本発明の第2態様の半導体キャリアテ
ープの反り矯正方法は、フィルム状で帯状の基材上に形
成したリードにソルダーレジストを塗布してなり上記リ
ードに半導体チップが電気的に接続される半導体キャリ
アテープの反り矯正方法であって、上記半導体キャリア
テープの延在方向に直交する幅方向においてソルダーレ
ジスト塗布面を内側にして湾曲した上記半導体キャリア
テープについて上記ソルダーレジスト塗布面を外側にし
て逆反りさせ、上記逆反り状態の上記半導体キャリアテ
ープを加熱し、上記逆反り状態の上記半導体キャリアテ
ープのソルダーレジスト非塗布面に接触し上記湾曲を矯
正する形状及び曲率にてなる矯正曲面を有する矯正用金
型の上記矯正曲面に上記ソルダーレジスト非塗布面を密
着させて上記湾曲を矯正する、ことを特徴とする。
ープの反り矯正方法は、フィルム状で帯状の基材上に形
成したリードにソルダーレジストを塗布してなり上記リ
ードに半導体チップが電気的に接続される半導体キャリ
アテープの反り矯正方法であって、上記半導体キャリア
テープの延在方向に直交する幅方向においてソルダーレ
ジスト塗布面を内側にして湾曲した上記半導体キャリア
テープについて上記ソルダーレジスト塗布面を外側にし
て逆反りさせ、上記逆反り状態の上記半導体キャリアテ
ープを加熱し、上記逆反り状態の上記半導体キャリアテ
ープのソルダーレジスト非塗布面に接触し上記湾曲を矯
正する形状及び曲率にてなる矯正曲面を有する矯正用金
型の上記矯正曲面に上記ソルダーレジスト非塗布面を密
着させて上記湾曲を矯正する、ことを特徴とする。
【0008】
【発明の実施の形態】本発明の実施形態である、半導体
キャリアテープの反り矯正装置、及び該矯正装置にて実
行される半導体キャリアテープの反り矯正方法につい
て、図を参照しながら以下に説明する。尚、各図におい
て、同じ構成部分については同じ符号を付している。
又、上記反り矯正装置及び上記反り矯正方法、さらには
半導体キャリアテープの製造装置において対象となる上
記半導体キャリアテープは、図10〜図12を参照して
上述した半導体キャリアテープ1である。つまり、フィ
ルム状で帯状の基材2上に形成した回路層3上にソルダ
ーレジスト4を塗布してなる。又、当該半導体キャリア
テープ1は、その内周部に、半導体チップとの電気的接
続を得るための回路層から延在する極細状のリードを有
する場合がある。このような半導体キャリアテープ1
は、例えば、当該半導体キャリアテープ1を巻回してい
るリールから繰り出され外部より何等の力も作用しない
状態では、図12に示され上述したように、当該半導体
キャリアテープ1の延在方向に直交する幅方向において
ソルダーレジスト塗布面4aを内側にして湾曲した湾曲
状態となる。
キャリアテープの反り矯正装置、及び該矯正装置にて実
行される半導体キャリアテープの反り矯正方法につい
て、図を参照しながら以下に説明する。尚、各図におい
て、同じ構成部分については同じ符号を付している。
又、上記反り矯正装置及び上記反り矯正方法、さらには
半導体キャリアテープの製造装置において対象となる上
記半導体キャリアテープは、図10〜図12を参照して
上述した半導体キャリアテープ1である。つまり、フィ
ルム状で帯状の基材2上に形成した回路層3上にソルダ
ーレジスト4を塗布してなる。又、当該半導体キャリア
テープ1は、その内周部に、半導体チップとの電気的接
続を得るための回路層から延在する極細状のリードを有
する場合がある。このような半導体キャリアテープ1
は、例えば、当該半導体キャリアテープ1を巻回してい
るリールから繰り出され外部より何等の力も作用しない
状態では、図12に示され上述したように、当該半導体
キャリアテープ1の延在方向に直交する幅方向において
ソルダーレジスト塗布面4aを内側にして湾曲した湾曲
状態となる。
【0009】図1には、本実施形態の半導体キャリアテ
ープの反り矯正装置101の全体構成を示しており、該
反り矯正装置101は、大別して、搬送装置111と、
加熱装置121と、湾曲修正装置131とを備え、さら
に、送風装置141を有することもできる。又、これら
搬送装置111、加熱装置121、湾曲修正装置13
1、及び送風装置141の動作制御を行う制御装置18
0が備わる。
ープの反り矯正装置101の全体構成を示しており、該
反り矯正装置101は、大別して、搬送装置111と、
加熱装置121と、湾曲修正装置131とを備え、さら
に、送風装置141を有することもできる。又、これら
搬送装置111、加熱装置121、湾曲修正装置13
1、及び送風装置141の動作制御を行う制御装置18
0が備わる。
【0010】上記搬送装置111は、上記半導体キャリ
アテープ1を供給部112から巻取部113へ、直線的
な搬送経路を搬送方向119に沿って間欠的に搬送する
装置である。上記搬送経路の途中には、上記加熱装置1
21及び湾曲修正装置131が設置されている。上記供
給部112には、上記半導体キャリアテープ1の塗布面
4a上に間紙11を設けて半導体キャリアテープ1を巻
回した供給リール1121と、該供給リール1121か
ら上記半導体キャリアテープ1を繰り出すときに上記間
紙11を取り去り巻回する間紙巻取リール1122と、
供給リール1121から繰り出された半導体キャリアテ
ープ1の搬送を行なうための種々の搬送用ローラ112
3とが備わる。
アテープ1を供給部112から巻取部113へ、直線的
な搬送経路を搬送方向119に沿って間欠的に搬送する
装置である。上記搬送経路の途中には、上記加熱装置1
21及び湾曲修正装置131が設置されている。上記供
給部112には、上記半導体キャリアテープ1の塗布面
4a上に間紙11を設けて半導体キャリアテープ1を巻
回した供給リール1121と、該供給リール1121か
ら上記半導体キャリアテープ1を繰り出すときに上記間
紙11を取り去り巻回する間紙巻取リール1122と、
供給リール1121から繰り出された半導体キャリアテ
ープ1の搬送を行なうための種々の搬送用ローラ112
3とが備わる。
【0011】上記巻取部113には、上記搬送経路の途
中に配置されている上記加熱装置121及び湾曲修正装
置131を通過して半導体キャリアテープ1の上記湾曲
状態が矯正された矯正後半導体キャリアテープ10を、
当該矯正後半導体キャリアテープ10の塗布面4a上に
間紙12を設けながら巻回する巻取りリール1131
と、上記間紙12を巻回し当該間紙12を供給する間紙
供給リール1132とを備える。又、上記巻取りリール
1131は、本実施形態では制御装置180にて動作制
御される駆動装置1133にて間欠的に駆動され、上記
供給リール1121と巻取りリール1131との間に存
在する半導体キャリアテープ1には適度な張力が作用し
ている。上記駆動装置1133は、上記搬送経路に存在
する半導体キャリアテープ1を上記搬送方向119へ間
欠的に搬送する。つまり本実施形態では、半導体キャリ
アテープ1を上記搬送方向119へ約50cm搬送して
停止し、該停止状態にて後述の加熱及び湾曲の矯正を行
ない、該矯正動作後、再び半導体キャリアテープ1を搬
送方向119へ約50cm搬送する。尚、上記供給リー
ル1121から送出される半導体キャリアテープ1は、
ソルダーレジスト塗布面4aを上向きにして上記搬送経
路を搬送される。
中に配置されている上記加熱装置121及び湾曲修正装
置131を通過して半導体キャリアテープ1の上記湾曲
状態が矯正された矯正後半導体キャリアテープ10を、
当該矯正後半導体キャリアテープ10の塗布面4a上に
間紙12を設けながら巻回する巻取りリール1131
と、上記間紙12を巻回し当該間紙12を供給する間紙
供給リール1132とを備える。又、上記巻取りリール
1131は、本実施形態では制御装置180にて動作制
御される駆動装置1133にて間欠的に駆動され、上記
供給リール1121と巻取りリール1131との間に存
在する半導体キャリアテープ1には適度な張力が作用し
ている。上記駆動装置1133は、上記搬送経路に存在
する半導体キャリアテープ1を上記搬送方向119へ間
欠的に搬送する。つまり本実施形態では、半導体キャリ
アテープ1を上記搬送方向119へ約50cm搬送して
停止し、該停止状態にて後述の加熱及び湾曲の矯正を行
ない、該矯正動作後、再び半導体キャリアテープ1を搬
送方向119へ約50cm搬送する。尚、上記供給リー
ル1121から送出される半導体キャリアテープ1は、
ソルダーレジスト塗布面4aを上向きにして上記搬送経
路を搬送される。
【0012】上記加熱装置121及び湾曲修正装置13
1は、図1に示すように、上記搬送方向119において
上記搬送経路のほぼ中間部分にて同じ場所に配置され、
半導体キャリアテープ1を間にして当該半導体キャリア
テープ1の厚み方向にて互いに対向する位置に設けられ
る。加熱装置121は上記ソルダーレジスト4の塗布面
4aに対向して設けられ、一方、湾曲修正装置131
は、塗布面4aの反対側でありソルダーレジスト4の塗
布されていないソルダーレジスト非塗布面4b、つまり
基板2に対向して設置されている。尚、図1及び図2に
示すように上記加熱装置121及び湾曲修正装置131
は、一つのケーシング122内に設置されている。
1は、図1に示すように、上記搬送方向119において
上記搬送経路のほぼ中間部分にて同じ場所に配置され、
半導体キャリアテープ1を間にして当該半導体キャリア
テープ1の厚み方向にて互いに対向する位置に設けられ
る。加熱装置121は上記ソルダーレジスト4の塗布面
4aに対向して設けられ、一方、湾曲修正装置131
は、塗布面4aの反対側でありソルダーレジスト4の塗
布されていないソルダーレジスト非塗布面4b、つまり
基板2に対向して設置されている。尚、図1及び図2に
示すように上記加熱装置121及び湾曲修正装置131
は、一つのケーシング122内に設置されている。
【0013】加熱装置121は、本実施形態ではニクロ
ム線等にてなる、電気抵抗により発熱し制御装置180
にて温度制御される発熱体1211を有する。尚、発熱
体1211は、上述の抵抗発熱体に限定されるものでは
なく、公知の発熱源を使用することができる。発熱体1
211は、半導体キャリアテープ1のソルダーレジスト
塗布面4aに対向するように上記ケーシング122の天
井部分にて、半導体キャリアテープ1に対応するように
搬送方向119に沿って延在する。具体的には、上述の
ように半導体キャリアテープ1が1回の搬送で約50c
m移動することから、搬送方向119に約50cmにわ
たり延在する。発熱体1211の発熱温度は、半導体キ
ャリアテープ1上に塗布されている上記ソルダーレジス
ト4を軟化させる程度の温度である。よって上記発熱温
度はソルダーレジスト4の材質に基づき決定される。よ
り具体的には、塗布されているソルダーレジスト4のガ
ラス転移点温度を超える温度、具体的には上記ガラス転
移点温度より約10〜50℃高い温度であり、このよう
な温度にソルダーレジスト4が加熱されるように発熱体
1211は発熱する。本実施形態では、エポキシ樹脂を
含むソルダーレジスト4を使用しており、該エポキシ樹
脂のガラス転移点温度は約120℃であることから、上
記ソルダーレジスト4が約150℃となるように発熱体
1211は発熱制御される。
ム線等にてなる、電気抵抗により発熱し制御装置180
にて温度制御される発熱体1211を有する。尚、発熱
体1211は、上述の抵抗発熱体に限定されるものでは
なく、公知の発熱源を使用することができる。発熱体1
211は、半導体キャリアテープ1のソルダーレジスト
塗布面4aに対向するように上記ケーシング122の天
井部分にて、半導体キャリアテープ1に対応するように
搬送方向119に沿って延在する。具体的には、上述の
ように半導体キャリアテープ1が1回の搬送で約50c
m移動することから、搬送方向119に約50cmにわ
たり延在する。発熱体1211の発熱温度は、半導体キ
ャリアテープ1上に塗布されている上記ソルダーレジス
ト4を軟化させる程度の温度である。よって上記発熱温
度はソルダーレジスト4の材質に基づき決定される。よ
り具体的には、塗布されているソルダーレジスト4のガ
ラス転移点温度を超える温度、具体的には上記ガラス転
移点温度より約10〜50℃高い温度であり、このよう
な温度にソルダーレジスト4が加熱されるように発熱体
1211は発熱する。本実施形態では、エポキシ樹脂を
含むソルダーレジスト4を使用しており、該エポキシ樹
脂のガラス転移点温度は約120℃であることから、上
記ソルダーレジスト4が約150℃となるように発熱体
1211は発熱制御される。
【0014】上記湾曲修正装置131は、逆反り状態に
て搬送されてきた半導体キャリアテープ1の両端縁部1
aを保持する挟持装置132と、上記逆反り状態の半導
体キャリアテープ1を密着させて半導体キャリアテープ
1におけるソルダーレジスト塗布面4aを内側とした湾
曲状態を矯正する矯正用金型133と、さらに上記矯正
用金型133を昇降する金型駆動装置134とを備える
とともに、本実施形態ではさらに上記矯正用金型131
1の強制冷却を行なう冷却装置135と、半導体キャリ
アテープ1を矯正用金型133に密着させるための吸引
装置136とを備える。
て搬送されてきた半導体キャリアテープ1の両端縁部1
aを保持する挟持装置132と、上記逆反り状態の半導
体キャリアテープ1を密着させて半導体キャリアテープ
1におけるソルダーレジスト塗布面4aを内側とした湾
曲状態を矯正する矯正用金型133と、さらに上記矯正
用金型133を昇降する金型駆動装置134とを備える
とともに、本実施形態ではさらに上記矯正用金型131
1の強制冷却を行なう冷却装置135と、半導体キャリ
アテープ1を矯正用金型133に密着させるための吸引
装置136とを備える。
【0015】上記挟持装置132は、例えば図1、図
4、及び図5に示すように、上記ケーシング122内に
て、半導体キャリアテープ1の幅方向に設置位置調整可
能にして架台1321上に設けられ、上述のように逆反
り状態にてケーシング122内に搬送されてきた半導体
キャリアテープ1の両端縁部1aを挟持して保持するよ
うに、それぞれの端縁部1aに対応して、固定側部材1
322と、該固定側部材1322との間で上記端縁部1
aを挟持するための可動側部材1323と、該可動側部
材1323を昇降させる部材駆動装置1324とがそれ
ぞれ1組ずつ設けられる。尚、各組を構成するそれぞれ
の上記固定側部材1322、可動側部材1323、及び
部材駆動装置1324は、同一の構成及び動作を行なう
ので、下記の説明ではその内の1組について説明する。
4、及び図5に示すように、上記ケーシング122内に
て、半導体キャリアテープ1の幅方向に設置位置調整可
能にして架台1321上に設けられ、上述のように逆反
り状態にてケーシング122内に搬送されてきた半導体
キャリアテープ1の両端縁部1aを挟持して保持するよ
うに、それぞれの端縁部1aに対応して、固定側部材1
322と、該固定側部材1322との間で上記端縁部1
aを挟持するための可動側部材1323と、該可動側部
材1323を昇降させる部材駆動装置1324とがそれ
ぞれ1組ずつ設けられる。尚、各組を構成するそれぞれ
の上記固定側部材1322、可動側部材1323、及び
部材駆動装置1324は、同一の構成及び動作を行なう
ので、下記の説明ではその内の1組について説明する。
【0016】上記固定側部材1322は、図5に示すよ
うに、逆反り状態にある半導体キャリアテープ1の上記
端縁部1aの曲率にならって延在する円弧部13221
と、半導体キャリアテープ1の幅方向の端部1bと係止
し上記円弧部13221と協働して上記逆反り状態を維
持する係止部13222とを有し、図3及び図4に示す
ように上記搬送方向119に沿ってケーシング122の
ほぼ全長にわたり延在する。さらに、固定側部材132
2は、半導体キャリアテープ1の幅寸法、上記逆反りの
曲率、後述する矯正用金型133の幅寸法に応じて、半
導体キャリアテープ1の延在方向に直交する幅方向にス
ライド可能なように上記架台1321に取り付けられて
いる。該スライド可能な範囲を図5に矢印13223に
て示す。
うに、逆反り状態にある半導体キャリアテープ1の上記
端縁部1aの曲率にならって延在する円弧部13221
と、半導体キャリアテープ1の幅方向の端部1bと係止
し上記円弧部13221と協働して上記逆反り状態を維
持する係止部13222とを有し、図3及び図4に示す
ように上記搬送方向119に沿ってケーシング122の
ほぼ全長にわたり延在する。さらに、固定側部材132
2は、半導体キャリアテープ1の幅寸法、上記逆反りの
曲率、後述する矯正用金型133の幅寸法に応じて、半
導体キャリアテープ1の延在方向に直交する幅方向にス
ライド可能なように上記架台1321に取り付けられて
いる。該スライド可能な範囲を図5に矢印13223に
て示す。
【0017】上記可動側部材1323は、上記固定側部
材1322の円弧部13221に対向し該円弧部132
21とほぼ同一の円弧形状にてなり上記円弧部1322
1との間に半導体キャリアテープ1の上記端縁部1aを
挟持するための先端部13231を有し、上記固定側部
材1322にガイドされながら上記部材駆動装置132
4にて非挟持位置13241と、挟持位置13242と
の間を昇降する。尚、可動側部材1323は、固定側部
材1322に取り付けられているので、固定側部材13
22が上述のようにスライドするときには固定側部材1
322と伴に可動側部材1323もスライドする。又、
図5に示すように、可動側部材1323は、後述の矯正
用金型133の幅方向側面1334に接触しながら上記
昇降が行なわれる。
材1322の円弧部13221に対向し該円弧部132
21とほぼ同一の円弧形状にてなり上記円弧部1322
1との間に半導体キャリアテープ1の上記端縁部1aを
挟持するための先端部13231を有し、上記固定側部
材1322にガイドされながら上記部材駆動装置132
4にて非挟持位置13241と、挟持位置13242と
の間を昇降する。尚、可動側部材1323は、固定側部
材1322に取り付けられているので、固定側部材13
22が上述のようにスライドするときには固定側部材1
322と伴に可動側部材1323もスライドする。又、
図5に示すように、可動側部材1323は、後述の矯正
用金型133の幅方向側面1334に接触しながら上記
昇降が行なわれる。
【0018】このように構成される挟持装置132は以
下のように動作する。即ち、上記逆反り状態にある半導
体キャリアテープ1がケーシング122内に導入され
る。このとき、左右の可動側部材1323は、いずれも
非挟持位置13241に配置されている。導入された半
導体キャリアテープ1は、図5に示すように左右の各固
定側部材1322における円弧部13221及び係止部
13222にて上記逆反り状態を維持した状態で、各固
定側部材1322にて保持される。
下のように動作する。即ち、上記逆反り状態にある半導
体キャリアテープ1がケーシング122内に導入され
る。このとき、左右の可動側部材1323は、いずれも
非挟持位置13241に配置されている。導入された半
導体キャリアテープ1は、図5に示すように左右の各固
定側部材1322における円弧部13221及び係止部
13222にて上記逆反り状態を維持した状態で、各固
定側部材1322にて保持される。
【0019】次に、部材駆動装置1324の動作によ
り、図6に示すように、可動側部材1323が非挟持位
置13241から挟持位置13242へ移動し、該移動
により固定側部材1322の円弧部13221と、可動
側部材1323の先端部13231との間に半導体キャ
リアテープ1の端縁部1aが挟持される。これにて半導
体キャリアテープ1は、上記逆反りした状態で左右の挟
持装置132にて保持される。
り、図6に示すように、可動側部材1323が非挟持位
置13241から挟持位置13242へ移動し、該移動
により固定側部材1322の円弧部13221と、可動
側部材1323の先端部13231との間に半導体キャ
リアテープ1の端縁部1aが挟持される。これにて半導
体キャリアテープ1は、上記逆反りした状態で左右の挟
持装置132にて保持される。
【0020】このような挟持状態にて、図7に示すよう
に、後述する矯正用金型133が待機位置1341から
半導体キャリアテープ1に密着し得る状態になるまで移
動する。次に、部材駆動装置1324の動作により、図
7に示すように、可動側部材1323が挟持位置132
42から非挟持位置13241へ移動するとともに、矯
正用金型133の矯正曲面1331に上記半導体キャリ
アテープ1が密着した状態を維持する。
に、後述する矯正用金型133が待機位置1341から
半導体キャリアテープ1に密着し得る状態になるまで移
動する。次に、部材駆動装置1324の動作により、図
7に示すように、可動側部材1323が挟持位置132
42から非挟持位置13241へ移動するとともに、矯
正用金型133の矯正曲面1331に上記半導体キャリ
アテープ1が密着した状態を維持する。
【0021】次に上記矯正用金型133について説明す
る。図3及び図5に示すように、上記矯正用金型133
は、上述のように間欠搬送により停止状態にあり上記逆
反り状態にある半導体キャリアテープ1のソルダーレジ
スト非塗布面4bに接触し上記湾曲状態を矯正する曲率
及び形状を有する矯正曲面1331を有し、上記搬送方
向119に延在するかまぼこ型の部材であり、上記吸引
装置136の作用により、上記停止状態の半導体キャリ
アテープ1のソルダーレジスト非塗布面4bを上記矯正
曲面1331に密着させ、かつ上記冷却装置135の作
用により、上記密着状態にて当該半導体キャリアテープ
1のソルダーレジスト4のガラス転移点温度以下の温度
に当該半導体キャリアテープ1を冷却して当該半導体キ
ャリアテープ1の上記湾曲状態を矯正する。
る。図3及び図5に示すように、上記矯正用金型133
は、上述のように間欠搬送により停止状態にあり上記逆
反り状態にある半導体キャリアテープ1のソルダーレジ
スト非塗布面4bに接触し上記湾曲状態を矯正する曲率
及び形状を有する矯正曲面1331を有し、上記搬送方
向119に延在するかまぼこ型の部材であり、上記吸引
装置136の作用により、上記停止状態の半導体キャリ
アテープ1のソルダーレジスト非塗布面4bを上記矯正
曲面1331に密着させ、かつ上記冷却装置135の作
用により、上記密着状態にて当該半導体キャリアテープ
1のソルダーレジスト4のガラス転移点温度以下の温度
に当該半導体キャリアテープ1を冷却して当該半導体キ
ャリアテープ1の上記湾曲状態を矯正する。
【0022】上述のように半導体キャリアテープ1にお
ける1回の移動量が約50cmであることから、本実施
形態において矯正用金型133は、搬送方向119に約
50cmの長さを有する。又、本実施形態では、矯正曲
面1331の周方向における当該矯正曲面1331の中
央を境として矯正用金型133の軸方向、つまり上記搬
送方向119における左右両側では、矯正曲面1331
は左右対称な曲面を有する。しかしながら、矯正曲面1
331の形状はこれに限定されるものではなく、上記湾
曲状態を矯正できる形状であればよい。即ち、上述した
ように、半導体キャリアテープ1が湾曲する一因は、ソ
ルダーレジスト4の塗布である。よって、半導体キャリ
アテープの上記回路層3のパターンが、半導体キャリア
テープの幅方向における中央部を境として半導体キャリ
アテープの延在方向における左右両側にて異なるような
ときには、上記左右両側にてソルダーレジスト4の塗布
面積が異なることから、半導体キャリアテープの上記塗
布面4aを内側とした湾曲状態も、上記左右両側におい
て対称とはならない場合が生じる。したがって、矯正曲
面1331の形状は、半導体キャリアテープの湾曲状態
に対応して選定する必要がある。尚、矯正対象となる半
導体キャリアテープの上記湾曲状態は、ソルダーレジス
ト4の塗布面積等に基づいて予め判るので、当該湾曲状
態を矯正可能な矯正曲面1331を有する矯正用金型を
設置すればよい。
ける1回の移動量が約50cmであることから、本実施
形態において矯正用金型133は、搬送方向119に約
50cmの長さを有する。又、本実施形態では、矯正曲
面1331の周方向における当該矯正曲面1331の中
央を境として矯正用金型133の軸方向、つまり上記搬
送方向119における左右両側では、矯正曲面1331
は左右対称な曲面を有する。しかしながら、矯正曲面1
331の形状はこれに限定されるものではなく、上記湾
曲状態を矯正できる形状であればよい。即ち、上述した
ように、半導体キャリアテープ1が湾曲する一因は、ソ
ルダーレジスト4の塗布である。よって、半導体キャリ
アテープの上記回路層3のパターンが、半導体キャリア
テープの幅方向における中央部を境として半導体キャリ
アテープの延在方向における左右両側にて異なるような
ときには、上記左右両側にてソルダーレジスト4の塗布
面積が異なることから、半導体キャリアテープの上記塗
布面4aを内側とした湾曲状態も、上記左右両側におい
て対称とはならない場合が生じる。したがって、矯正曲
面1331の形状は、半導体キャリアテープの湾曲状態
に対応して選定する必要がある。尚、矯正対象となる半
導体キャリアテープの上記湾曲状態は、ソルダーレジス
ト4の塗布面積等に基づいて予め判るので、当該湾曲状
態を矯正可能な矯正曲面1331を有する矯正用金型を
設置すればよい。
【0023】要するに矯正対象となる半導体キャリアテ
ープにおける上記塗布面4aを内側とした湾曲状態に応
じた形状及び曲率にて形成された矯正曲面1331を有
する矯正用金型133を用い、かつ上記矯正曲面133
1に逆反り状態の半導体キャリアテープを密着させるこ
とで該矯正曲面1331にて矯正を行なうことから、矯
正対象となる半導体キャリアテープの上記湾曲状態の種
類を問わず上記湾曲状態を矯正することができる。
ープにおける上記塗布面4aを内側とした湾曲状態に応
じた形状及び曲率にて形成された矯正曲面1331を有
する矯正用金型133を用い、かつ上記矯正曲面133
1に逆反り状態の半導体キャリアテープを密着させるこ
とで該矯正曲面1331にて矯正を行なうことから、矯
正対象となる半導体キャリアテープの上記湾曲状態の種
類を問わず上記湾曲状態を矯正することができる。
【0024】又、矯正曲面1331の形状に半導体キャ
リアテープ1を添わせて半導体キャリアテープ1の矯正
を行なうことから、矯正曲面1331には、当該矯正曲
面1331に半導体キャリアテープ1を吸引により密着
させるための複数の吸引孔1332を形成している。該
吸引孔1332に対して、矯正用金型133に接続され
制御装置180にて動作制御される吸引装置136にて
吸引動作が行なわれる。本実施形態では、それぞれの吸
引孔1332は、直径1.5mmであり、1個の半導体
チップを装着するための半導体キャリアテープ1上の一
つの領域、つまり図10にて符号7にて示す領域に対応
して約25〜50個の吸引孔1332が存在するように
配列されている。尚、図3は矯正曲面1331の概念を
示したものであるので、吸引孔1332の大きさ、数、
配置は、実際の場合と異なる。又、上記吸引装置136
は、本実施形態では常温の空気を毎分約50〜200リ
ットル吸引する能力を有している。
リアテープ1を添わせて半導体キャリアテープ1の矯正
を行なうことから、矯正曲面1331には、当該矯正曲
面1331に半導体キャリアテープ1を吸引により密着
させるための複数の吸引孔1332を形成している。該
吸引孔1332に対して、矯正用金型133に接続され
制御装置180にて動作制御される吸引装置136にて
吸引動作が行なわれる。本実施形態では、それぞれの吸
引孔1332は、直径1.5mmであり、1個の半導体
チップを装着するための半導体キャリアテープ1上の一
つの領域、つまり図10にて符号7にて示す領域に対応
して約25〜50個の吸引孔1332が存在するように
配列されている。尚、図3は矯正曲面1331の概念を
示したものであるので、吸引孔1332の大きさ、数、
配置は、実際の場合と異なる。又、上記吸引装置136
は、本実施形態では常温の空気を毎分約50〜200リ
ットル吸引する能力を有している。
【0025】さらに矯正曲面1331の中央部分には、
図3に示すように矯正用金型133の軸方向に沿って一
列状にリード干渉防止用凹部1333を形成している。
即ち、上述のように半導体キャリアテープ1のソルダー
レジスト非塗布面4bが矯正曲面1331に吸着され密
着することから、半導体キャリアテープ1の開口5部分
に存在する上記インナーリード6が矯正曲面1331に
押し付けられ変形するおそれが考えられる。よって該変
形を防止するため、インナーリード6が存在するインナ
ーリード領域に対応するように、矯正曲面1331の中
央部分に、上記インナーリード領域よりも若干大きい面
積にてなり、かつ半導体キャリアテープ1が矯正曲面1
331に密着したときでもインナーリード6が直接に矯
正曲面1331に接触せず上記変形を生じさせない深
さ、本実施形態では約1〜2mmの深さを有する凹部で
ある上記リード干渉防止用凹部1333を設けた。よっ
て、矯正用金型133を使用して半導体キャリアテープ
1を矯正曲面1331に密着させて半導体キャリアテー
プ1の湾曲状態の矯正を行なう構成であっても、半導体
キャリアテープ1のインナーリード6に変形等の不具合
を生じさせることはない。
図3に示すように矯正用金型133の軸方向に沿って一
列状にリード干渉防止用凹部1333を形成している。
即ち、上述のように半導体キャリアテープ1のソルダー
レジスト非塗布面4bが矯正曲面1331に吸着され密
着することから、半導体キャリアテープ1の開口5部分
に存在する上記インナーリード6が矯正曲面1331に
押し付けられ変形するおそれが考えられる。よって該変
形を防止するため、インナーリード6が存在するインナ
ーリード領域に対応するように、矯正曲面1331の中
央部分に、上記インナーリード領域よりも若干大きい面
積にてなり、かつ半導体キャリアテープ1が矯正曲面1
331に密着したときでもインナーリード6が直接に矯
正曲面1331に接触せず上記変形を生じさせない深
さ、本実施形態では約1〜2mmの深さを有する凹部で
ある上記リード干渉防止用凹部1333を設けた。よっ
て、矯正用金型133を使用して半導体キャリアテープ
1を矯正曲面1331に密着させて半導体キャリアテー
プ1の湾曲状態の矯正を行なう構成であっても、半導体
キャリアテープ1のインナーリード6に変形等の不具合
を生じさせることはない。
【0026】上述したように半導体キャリアテープ1に
おける湾曲発生原因の一つがソルダーレジスト4の物性
によるものであり、又、ソルダーレジスト4のガラス転
移点温度を超える温度まで半導体キャリアテープ1は加
熱され、その後冷却されることから、半導体キャリアテ
ープ1の形状は、当該半導体キャリアテープ1の温度、
詳しくはソルダーレジスト4の温度が上記ガラス転移点
温度以下になったときに決定される。したがって、上述
のように矯正用金型133の矯正曲面1331に半導体
キャリアテープ1を上記逆反り状態にて密着した状態に
て、半導体キャリアテープ1の温度を上記ガラス転移点
温度以下に下げることで、半導体キャリアテープ1は矯
正曲面1331に添って成形される。よって、半導体キ
ャリアテープ1が矯正用金型133から外されたとき、
ソルダーレジスト塗布面4aを内側とした湾曲状態と、
矯正曲面1331に添った逆反り状態とが相殺され、上
記塗布面4a側、及び非塗布面4b側のいずれにも反り
のない矯正後半導体キャリアテープ10が生成される。
おける湾曲発生原因の一つがソルダーレジスト4の物性
によるものであり、又、ソルダーレジスト4のガラス転
移点温度を超える温度まで半導体キャリアテープ1は加
熱され、その後冷却されることから、半導体キャリアテ
ープ1の形状は、当該半導体キャリアテープ1の温度、
詳しくはソルダーレジスト4の温度が上記ガラス転移点
温度以下になったときに決定される。したがって、上述
のように矯正用金型133の矯正曲面1331に半導体
キャリアテープ1を上記逆反り状態にて密着した状態に
て、半導体キャリアテープ1の温度を上記ガラス転移点
温度以下に下げることで、半導体キャリアテープ1は矯
正曲面1331に添って成形される。よって、半導体キ
ャリアテープ1が矯正用金型133から外されたとき、
ソルダーレジスト塗布面4aを内側とした湾曲状態と、
矯正曲面1331に添った逆反り状態とが相殺され、上
記塗布面4a側、及び非塗布面4b側のいずれにも反り
のない矯正後半導体キャリアテープ10が生成される。
【0027】そこで本実施形態では、矯正用金型13
3、特に矯正曲面1331を上記ガラス転移点温度以下
に強制的に冷やすための冷却装置135を矯正用金型1
33に接続し、又、上記加熱装置121による上記ガラ
ス転移点温度を超える加熱が終了する前に矯正曲面13
31へ上記非塗布面4bを密着させる動作制御を行って
いる。矯正用金型133の冷却材として本実施形態では
20℃前後の水を使用しており、上記冷却装置135
は、制御装置180にて動作制御され、上記冷却水を矯
正用金型133へ供給するとともに当該冷却装置135
と矯正用金型133との間で循環させ、かつ上記20℃
前後の温度に温度制御する。該冷却装置135により、
矯正曲面1331はガラス転移点温度以下に維持され
る。
3、特に矯正曲面1331を上記ガラス転移点温度以下
に強制的に冷やすための冷却装置135を矯正用金型1
33に接続し、又、上記加熱装置121による上記ガラ
ス転移点温度を超える加熱が終了する前に矯正曲面13
31へ上記非塗布面4bを密着させる動作制御を行って
いる。矯正用金型133の冷却材として本実施形態では
20℃前後の水を使用しており、上記冷却装置135
は、制御装置180にて動作制御され、上記冷却水を矯
正用金型133へ供給するとともに当該冷却装置135
と矯正用金型133との間で循環させ、かつ上記20℃
前後の温度に温度制御する。該冷却装置135により、
矯正曲面1331はガラス転移点温度以下に維持され
る。
【0028】このように構成される矯正用金型133
は、金型駆動装置134にて、図5及び図6に示す待機
位置1341と、図7に示す矯正位置1342との間で
昇降する。
は、金型駆動装置134にて、図5及び図6に示す待機
位置1341と、図7に示す矯正位置1342との間で
昇降する。
【0029】以上のように構成される半導体キャリアテ
ープの反り矯正装置における動作、即ち該矯正装置にて
実行される半導体キャリアテープの反り矯正方法につい
て、以下に説明する。尚、上記反り矯正装置における動
作は、制御装置180にて全て制御される。又、加熱装
置121の発熱体1211は、常時オン状態にあり発熱
している。搬送装置111の巻取部113にある巻取り
リール1131が駆動装置1133にて間欠的に巻取り
動作を行なうことで、供給部112の供給リール112
1から半導体キャリアテープ1が繰り出される。繰り出
された半導体キャリアテープ1は、ソルダーレジスト塗
布面4aを外側にして逆反りされ、搬送方向119に進
むに従い徐々に逆反り状態を大きくしながらケーシング
122内に搬入される。尚、上述のように本実施形態で
は、1回の搬送により半導体キャリアテープ1は搬送方
向119へ約50cm移動する。又、1回の搬送に要す
る時間は約1秒である。よって、半導体キャリアテープ
1は、通常複数回の搬送動作にて上記供給リール112
1からケーシング122内に搬入される。
ープの反り矯正装置における動作、即ち該矯正装置にて
実行される半導体キャリアテープの反り矯正方法につい
て、以下に説明する。尚、上記反り矯正装置における動
作は、制御装置180にて全て制御される。又、加熱装
置121の発熱体1211は、常時オン状態にあり発熱
している。搬送装置111の巻取部113にある巻取り
リール1131が駆動装置1133にて間欠的に巻取り
動作を行なうことで、供給部112の供給リール112
1から半導体キャリアテープ1が繰り出される。繰り出
された半導体キャリアテープ1は、ソルダーレジスト塗
布面4aを外側にして逆反りされ、搬送方向119に進
むに従い徐々に逆反り状態を大きくしながらケーシング
122内に搬入される。尚、上述のように本実施形態で
は、1回の搬送により半導体キャリアテープ1は搬送方
向119へ約50cm移動する。又、1回の搬送に要す
る時間は約1秒である。よって、半導体キャリアテープ
1は、通常複数回の搬送動作にて上記供給リール112
1からケーシング122内に搬入される。
【0030】ケーシング122内に搬入され停止した半
導体キャリアテープ1は、図5に示され、又、上述した
ように、左、右に配置されている挟持装置132の間に
配置され、そして半導体キャリアテープ1の両端縁部1
aが各挟持装置132の各固定側部材1322の各円弧
部13221及び各係止部13222に位置して、半導
体キャリアテープ1は、上記逆反り状態を維持した状態
で各固定側部材1322にて保持される。
導体キャリアテープ1は、図5に示され、又、上述した
ように、左、右に配置されている挟持装置132の間に
配置され、そして半導体キャリアテープ1の両端縁部1
aが各挟持装置132の各固定側部材1322の各円弧
部13221及び各係止部13222に位置して、半導
体キャリアテープ1は、上記逆反り状態を維持した状態
で各固定側部材1322にて保持される。
【0031】次に、発熱体1211の発する熱を半導体
キャリアテープ1、特にソルダーレジスト塗布面4aに
作用させ、ソルダーレジスト4が軟化する程度の温度、
好ましくはソルダーレジスト4のガラス転移点温度を超
える温度まで特にソルダーレジスト塗布面4aを加熱す
る。
キャリアテープ1、特にソルダーレジスト塗布面4aに
作用させ、ソルダーレジスト4が軟化する程度の温度、
好ましくはソルダーレジスト4のガラス転移点温度を超
える温度まで特にソルダーレジスト塗布面4aを加熱す
る。
【0032】上記加熱動作の終了前において、部材駆動
装置1324の動作により、図6に示すように、各挟持
装置132に備わる各可動側部材1323が非挟持位置
13241から挟持位置13242へ移動し、該移動に
より各固定側部材1322の円弧部13221と、各可
動側部材1323の先端部13231との間に半導体キ
ャリアテープ1の端縁部1aを挟持する。
装置1324の動作により、図6に示すように、各挟持
装置132に備わる各可動側部材1323が非挟持位置
13241から挟持位置13242へ移動し、該移動に
より各固定側部材1322の円弧部13221と、各可
動側部材1323の先端部13231との間に半導体キ
ャリアテープ1の端縁部1aを挟持する。
【0033】上記挟持後であって上記加熱動作の終了直
前において、金型駆動装置134を動作させて、図7に
示すように矯正用金型133を半導体キャリアテープ1
と密着状態になるまで移動させる。尚、該接触時、矯正
用金型133は半導体キャリアテープ1を若干押圧する
場合もある。又、矯正用金型133は冷却装置135に
て冷却されている。
前において、金型駆動装置134を動作させて、図7に
示すように矯正用金型133を半導体キャリアテープ1
と密着状態になるまで移動させる。尚、該接触時、矯正
用金型133は半導体キャリアテープ1を若干押圧する
場合もある。又、矯正用金型133は冷却装置135に
て冷却されている。
【0034】次に、上記矯正曲面1331が半導体キャ
リアテープ1のソルダーレジスト非塗布面4bに接触し
た直後に、湾曲修正装置131に備わる吸引装置136
を動作させて吸着動作により矯正用金型133の矯正曲
面1331に半導体キャリアテープ1のソルダーレジス
ト非塗布面4bをより強固に密着させる。さらに、上記
密着が行なわれた時点で、部材駆動装置1324を動作
させ、図7に示すように、各可動側部材1323を挟持
位置13242から非挟持位置13241へ移動させ、
半導体キャリアテープ1の挟持状態を解除する。
リアテープ1のソルダーレジスト非塗布面4bに接触し
た直後に、湾曲修正装置131に備わる吸引装置136
を動作させて吸着動作により矯正用金型133の矯正曲
面1331に半導体キャリアテープ1のソルダーレジス
ト非塗布面4bをより強固に密着させる。さらに、上記
密着が行なわれた時点で、部材駆動装置1324を動作
させ、図7に示すように、各可動側部材1323を挟持
位置13242から非挟持位置13241へ移動させ、
半導体キャリアテープ1の挟持状態を解除する。
【0035】上記密着動作により、矯正用金型133に
よる半導体キャリアテープ1の冷却動作が行なわれる。
上記密着及び冷却の動作により、上述したように半導体
キャリアテープ1は矯正曲面1331にならって矯正さ
れる。
よる半導体キャリアテープ1の冷却動作が行なわれる。
上記密着及び冷却の動作により、上述したように半導体
キャリアテープ1は矯正曲面1331にならって矯正さ
れる。
【0036】このように半導体キャリアテープ1に対す
る加熱動作終了直前に矯正曲面1331への半導体キャ
リアテープ1の密着を行なうことで、半導体キャリアテ
ープ1の形状が決定される、ソルダーレジスト4のガラ
ス転移点温度以下の温度に当該半導体キャリアテープ1
が冷えるのを防止することができ、上記矯正曲面133
1へ半導体キャリアテープ1が密着する前に当該半導体
キャリアテープ1の形状が決定してしまうのを防止する
ことができる。換言すれば、半導体キャリアテープ1の
形状が決定する上記ガラス転移点温度以下の温度に当該
半導体キャリアテープ1が冷えるときには、当該半導体
キャリアテープ1は既に上記矯正曲面1331に密着し
ており、矯正曲面1331にならって矯正されることに
なる。尚、上述の説明から明らかなように、本実施形態
においては、加熱装置121による加熱動作の終了間際
と矯正用金型133による冷却動作の開始部分とにおい
ては、加熱動作と冷却動作とが重複して実行されてい
る。
る加熱動作終了直前に矯正曲面1331への半導体キャ
リアテープ1の密着を行なうことで、半導体キャリアテ
ープ1の形状が決定される、ソルダーレジスト4のガラ
ス転移点温度以下の温度に当該半導体キャリアテープ1
が冷えるのを防止することができ、上記矯正曲面133
1へ半導体キャリアテープ1が密着する前に当該半導体
キャリアテープ1の形状が決定してしまうのを防止する
ことができる。換言すれば、半導体キャリアテープ1の
形状が決定する上記ガラス転移点温度以下の温度に当該
半導体キャリアテープ1が冷えるときには、当該半導体
キャリアテープ1は既に上記矯正曲面1331に密着し
ており、矯正曲面1331にならって矯正されることに
なる。尚、上述の説明から明らかなように、本実施形態
においては、加熱装置121による加熱動作の終了間際
と矯正用金型133による冷却動作の開始部分とにおい
ては、加熱動作と冷却動作とが重複して実行されてい
る。
【0037】上記冷却動作の終了後、金型駆動装置13
4を動作させて矯正用金型133を矯正位置1342か
ら待機位置1341へ移動させ、湾曲修正装置131に
よる半導体キャリアテープ1への湾曲修正動作を終了す
る。よって、ソルダーレジスト塗布面4aを内側として
円弧状に反った半導体キャリアテープ1の湾曲状態が矯
正され、矯正後半導体キャリアテープ10となる。
4を動作させて矯正用金型133を矯正位置1342か
ら待機位置1341へ移動させ、湾曲修正装置131に
よる半導体キャリアテープ1への湾曲修正動作を終了す
る。よって、ソルダーレジスト塗布面4aを内側として
円弧状に反った半導体キャリアテープ1の湾曲状態が矯
正され、矯正後半導体キャリアテープ10となる。
【0038】次に、再び、上記駆動装置1133にて巻
取りリール1131を間欠的に動作させて、上記矯正後
半導体キャリアテープ10をケーシング122から搬送
方向119へ搬出させ、送風装置141にて冷却気体を
吹き付けてさらに冷却した後、矯正後半導体キャリアテ
ープ10は巻取りリール1131に巻き取られる。以
後、同様に間欠的に半導体キャリアテープ1の搬送を繰
り返し、順次、半導体キャリアテープ1の湾曲修正、つ
まり反り矯正動作を繰り返していく。
取りリール1131を間欠的に動作させて、上記矯正後
半導体キャリアテープ10をケーシング122から搬送
方向119へ搬出させ、送風装置141にて冷却気体を
吹き付けてさらに冷却した後、矯正後半導体キャリアテ
ープ10は巻取りリール1131に巻き取られる。以
後、同様に間欠的に半導体キャリアテープ1の搬送を繰
り返し、順次、半導体キャリアテープ1の湾曲修正、つ
まり反り矯正動作を繰り返していく。
【0039】尚、上述した、反り矯正装置における動
作、即ち反り矯正方法における各動作のタイミング、特
に加熱装置121の加熱終了、挟持装置132による半
導体キャリアテープ1の挟持動作、及び半導体キャリア
テープ1と矯正用金型133との接触、密着動作の各タ
イミングは、上述のタイミングに限定されるものではな
い。
作、即ち反り矯正方法における各動作のタイミング、特
に加熱装置121の加熱終了、挟持装置132による半
導体キャリアテープ1の挟持動作、及び半導体キャリア
テープ1と矯正用金型133との接触、密着動作の各タ
イミングは、上述のタイミングに限定されるものではな
い。
【0040】このように本実施形態の半導体キャリアテ
ープの反り矯正装置、及び反り矯正方法によれば以下の
ような効果を得られる。まず、矯正用金型133を用い
て矯正を行なうようにしたことから、半導体キャリアテ
ープ1について、該矯正用金型133の矯正曲面133
1にならった逆反り状態を得ることができる。よって、
上記ソルダーレジスト塗布面4aを内側とした湾曲状態
と、上記矯正曲面1331に添った逆反り状態とが相殺
され、上記塗布面4a側、及び非塗布面4b側のいずれ
にも反りのない矯正後半導体キャリアテープ10を生成
することができる。このように矯正後半導体キャリアテ
ープ10は、十分な平坦度を有するまでに矯正されてお
りこれにより、矯正後半導体キャリアテープ10のイン
ナーリード6に対する半導体チップの導体部分の正確な
位置決めが可能であり、したがってインナーリード6と
上記導体部分との電気的接続を確実に行なうことができ
接続不良等の発生を低減することができる。
ープの反り矯正装置、及び反り矯正方法によれば以下の
ような効果を得られる。まず、矯正用金型133を用い
て矯正を行なうようにしたことから、半導体キャリアテ
ープ1について、該矯正用金型133の矯正曲面133
1にならった逆反り状態を得ることができる。よって、
上記ソルダーレジスト塗布面4aを内側とした湾曲状態
と、上記矯正曲面1331に添った逆反り状態とが相殺
され、上記塗布面4a側、及び非塗布面4b側のいずれ
にも反りのない矯正後半導体キャリアテープ10を生成
することができる。このように矯正後半導体キャリアテ
ープ10は、十分な平坦度を有するまでに矯正されてお
りこれにより、矯正後半導体キャリアテープ10のイン
ナーリード6に対する半導体チップの導体部分の正確な
位置決めが可能であり、したがってインナーリード6と
上記導体部分との電気的接続を確実に行なうことができ
接続不良等の発生を低減することができる。
【0041】さらに、上記挟持装置132にて半導体キ
ャリアテープ1の両端縁部1aを挟持した後、矯正用金
型133の矯正曲面1331を半導体キャリアテープ1
に押圧し、かつ吸着により上記矯正曲面1331に半導
体キャリアテープ1を密着させるようにしたことで、上
述の、矯正曲面1331にならった逆反り状態を確実に
得ることができる。
ャリアテープ1の両端縁部1aを挟持した後、矯正用金
型133の矯正曲面1331を半導体キャリアテープ1
に押圧し、かつ吸着により上記矯正曲面1331に半導
体キャリアテープ1を密着させるようにしたことで、上
述の、矯正曲面1331にならった逆反り状態を確実に
得ることができる。
【0042】又、上述のように矯正用金型133を用い
ることで上記矯正曲面1331にならった逆反り状態を
得ることができることから、単に半導体キャリアテープ
1の両端縁部1aを支持して半導体キャリアテープ1を
逆反り状態に維持して矯正を行なう場合に比べると、上
記ソルダーレジスト塗布面4aを内側とした湾曲状態を
確実に矯正可能な逆反り状態を的確に形成することがで
きる。
ることで上記矯正曲面1331にならった逆反り状態を
得ることができることから、単に半導体キャリアテープ
1の両端縁部1aを支持して半導体キャリアテープ1を
逆反り状態に維持して矯正を行なう場合に比べると、上
記ソルダーレジスト塗布面4aを内側とした湾曲状態を
確実に矯正可能な逆反り状態を的確に形成することがで
きる。
【0043】さらに言えば、上記湾曲状態が異なる種々
の半導体キャリアテープ1に対応した矯正曲面1331
を有する種々の矯正用金型133を用意しておき、半導
体キャリアテープ1の上記湾曲状態に対応した矯正用金
型133を選択し使用して、上記相殺動作を行なわせる
ことで、半導体キャリアテープ1の種々の上記湾曲状態
に応じて矯正を行なうことができる。
の半導体キャリアテープ1に対応した矯正曲面1331
を有する種々の矯正用金型133を用意しておき、半導
体キャリアテープ1の上記湾曲状態に対応した矯正用金
型133を選択し使用して、上記相殺動作を行なわせる
ことで、半導体キャリアテープ1の種々の上記湾曲状態
に応じて矯正を行なうことができる。
【0044】又、上述のように矯正用金型133に半導
体キャリアテープ1を密着させて矯正動作を行なうと
き、半導体キャリアテープ1を停止させていることか
ら、上記矯正曲面1331と半導体キャリアテープ1と
が擦れて半導体キャリアテープ1に傷が着いたり、しわ
を生じたりすることはなく、半導体キャリアテープ1の
品質を低下させることはない。
体キャリアテープ1を密着させて矯正動作を行なうと
き、半導体キャリアテープ1を停止させていることか
ら、上記矯正曲面1331と半導体キャリアテープ1と
が擦れて半導体キャリアテープ1に傷が着いたり、しわ
を生じたりすることはなく、半導体キャリアテープ1の
品質を低下させることはない。
【0045】図8には、本実施形態の半導体キャリアテ
ープの反り矯正装置、及び反り矯正方法にてそり矯正を
行なう前、後における半導体キャリアテープの反り量
と、当該半導体キャリアテープの幅寸法との関係の一実
施例を示している。ここで上記反り量とは、図9に示す
ように半導体キャリアテープの幅方向において最下端と
最上端との高低差118に相当する。図8から明らかな
ように、矯正前においてはテープ幅寸法にかかわらず約
2.2mmの反り量があったものが、矯正後においては
約0.1〜0.3mmの反り量に低減可能である。
ープの反り矯正装置、及び反り矯正方法にてそり矯正を
行なう前、後における半導体キャリアテープの反り量
と、当該半導体キャリアテープの幅寸法との関係の一実
施例を示している。ここで上記反り量とは、図9に示す
ように半導体キャリアテープの幅方向において最下端と
最上端との高低差118に相当する。図8から明らかな
ように、矯正前においてはテープ幅寸法にかかわらず約
2.2mmの反り量があったものが、矯正後においては
約0.1〜0.3mmの反り量に低減可能である。
【0046】尚、上述の説明では半導体キャリアテープ
1の片面側にのみソルダーレジスト4が塗布された場合
を例に採ったが、該形態に限定されるものではなく、両
面にソルダーレジスト4が塗布された半導体キャリアテ
ープに対しても本実施形態は適用可能である。即ち、上
記両面において、ソルダーレジスト4の塗布量や、塗布
面積が相違するような場合には、上述のような湾曲状態
が生じるからである。
1の片面側にのみソルダーレジスト4が塗布された場合
を例に採ったが、該形態に限定されるものではなく、両
面にソルダーレジスト4が塗布された半導体キャリアテ
ープに対しても本実施形態は適用可能である。即ち、上
記両面において、ソルダーレジスト4の塗布量や、塗布
面積が相違するような場合には、上述のような湾曲状態
が生じるからである。
【0047】
【発明の効果】以上詳述したように本発明の第1態様に
おける半導体キャリアテープの反り矯正装置、及び第2
態様の半導体キャリアテープの反り矯正方法によれば、
加熱装置、湾曲修正装置を備え、逆反り状態の半導体キ
ャリアテープを加熱し、上記湾曲修正装置に備わる矯正
用金型の矯正曲面に上記逆反り状態の半導体キャリアテ
ープを密着するようにした。よって半導体キャリアテー
プにおいて、上記矯正曲面にならった逆反り状態を得る
ことができる。よって、半導体キャリアテープのソルダ
ーレジスト塗布面を内側とした湾曲状態と、上記矯正曲
面に添った逆反り状態とが相殺され、反りが十分小さく
なるまでに矯正された半導体キャリアテープを生成する
ことができる。したがって、上記矯正後半導体キャリア
テープには反りがほとんどないので、矯正後半導体キャ
リアテープのインナーリードに対する半導体チップの導
体部分の正確な位置決めが可能であり、インナーリード
と上記導体部分との電気的接続を確実に行なうことがで
き接続不良等の発生を激減することができる。
おける半導体キャリアテープの反り矯正装置、及び第2
態様の半導体キャリアテープの反り矯正方法によれば、
加熱装置、湾曲修正装置を備え、逆反り状態の半導体キ
ャリアテープを加熱し、上記湾曲修正装置に備わる矯正
用金型の矯正曲面に上記逆反り状態の半導体キャリアテ
ープを密着するようにした。よって半導体キャリアテー
プにおいて、上記矯正曲面にならった逆反り状態を得る
ことができる。よって、半導体キャリアテープのソルダ
ーレジスト塗布面を内側とした湾曲状態と、上記矯正曲
面に添った逆反り状態とが相殺され、反りが十分小さく
なるまでに矯正された半導体キャリアテープを生成する
ことができる。したがって、上記矯正後半導体キャリア
テープには反りがほとんどないので、矯正後半導体キャ
リアテープのインナーリードに対する半導体チップの導
体部分の正確な位置決めが可能であり、インナーリード
と上記導体部分との電気的接続を確実に行なうことがで
き接続不良等の発生を激減することができる。
【0048】又、上記湾曲修正装置に挟持装置を備える
ことで、上記矯正曲面に逆反り状態の半導体キャリアテ
ープを接触させる際に、半導体キャリアテープを保持で
き、上記接触動作を確実に行なうことができる。よっ
て、半導体キャリアテープに対して上記矯正曲面になら
った逆反り状態を確実に形成することができ、上述のよ
うに反りのほとんどない矯正後半導体キャリアテープを
生成することができる。
ことで、上記矯正曲面に逆反り状態の半導体キャリアテ
ープを接触させる際に、半導体キャリアテープを保持で
き、上記接触動作を確実に行なうことができる。よっ
て、半導体キャリアテープに対して上記矯正曲面になら
った逆反り状態を確実に形成することができ、上述のよ
うに反りのほとんどない矯正後半導体キャリアテープを
生成することができる。
【0049】又、上記湾曲修正装置に冷却装置を備える
ことで、上記矯正曲面に逆反り状態の半導体キャリアテ
ープを密着させた後、当該半導体キャリアテープの形状
が決定されるガラス転移点温度以下の温度に、当該半導
体キャリアテープを素早く冷却することができ、反り矯
正工程に要する時間の短縮を図ることができる。
ことで、上記矯正曲面に逆反り状態の半導体キャリアテ
ープを密着させた後、当該半導体キャリアテープの形状
が決定されるガラス転移点温度以下の温度に、当該半導
体キャリアテープを素早く冷却することができ、反り矯
正工程に要する時間の短縮を図ることができる。
【0050】又、半導体キャリアテープの加熱終了直前
に上記矯正曲面への半導体キャリアテープの密着を行な
うことで、半導体キャリアテープが上記ガラス転移点温
度以下の温度になるのを防止することができ、上記矯正
曲面へ半導体キャリアテープが密着する前に当該半導体
キャリアテープの形状が決定してしまうのを防止するこ
とができる。
に上記矯正曲面への半導体キャリアテープの密着を行な
うことで、半導体キャリアテープが上記ガラス転移点温
度以下の温度になるのを防止することができ、上記矯正
曲面へ半導体キャリアテープが密着する前に当該半導体
キャリアテープの形状が決定してしまうのを防止するこ
とができる。
【図1】 本発明の実施形態である半導体キャリアテー
プの反り矯正装置の構成を示す図である。
プの反り矯正装置の構成を示す図である。
【図2】 図1に示す半導体キャリアテープの反り矯正
装置に備わるケーシング部分における断面図である。
装置に備わるケーシング部分における断面図である。
【図3】 図1に示す半導体キャリアテープの反り矯正
装置に備わる湾曲修正装置の平面図である。
装置に備わる湾曲修正装置の平面図である。
【図4】 図3に示す湾曲修正装置に備わる挟持装置の
側面図である。
側面図である。
【図5】 図3に示す湾曲修正装置を半導体キャリアテ
ープの搬送方向から見た図であり、湾曲修正装置に備わ
る可動側部材が非挟持位置に配置されている状態を示す
図である。
ープの搬送方向から見た図であり、湾曲修正装置に備わ
る可動側部材が非挟持位置に配置されている状態を示す
図である。
【図6】 図3に示す湾曲修正装置を半導体キャリアテ
ープの搬送方向から見た図であり、上記可動側部材が挟
持位置に配置された状態を示す図である。
ープの搬送方向から見た図であり、上記可動側部材が挟
持位置に配置された状態を示す図である。
【図7】 図3に示す湾曲修正装置を半導体キャリアテ
ープの搬送方向から見た図であり、上記矯正用金型が矯
正位置に配置された状態でかつ上記可動側部材が非挟持
位置に配置された状態を示す図である。
ープの搬送方向から見た図であり、上記矯正用金型が矯
正位置に配置された状態でかつ上記可動側部材が非挟持
位置に配置された状態を示す図である。
【図8】 図1に示す半導体キャリアテープの反り矯正
装置にて矯正動作が行なわれる前、後における半導体キ
ャリアテープの反り量を示すグラフである。
装置にて矯正動作が行なわれる前、後における半導体キ
ャリアテープの反り量を示すグラフである。
【図9】 図8に示す半導体キャリアテープの反り量の
対応箇所を説明するための図である。
対応箇所を説明するための図である。
【図10】 半導体キャリアテープの平面図である。
【図11】 図10に示す半導体キャリアテープのI−
I部分における断面図である。
I部分における断面図である。
【図12】 図10に示す半導体キャリアテープの湾曲
状態を示す図である。
状態を示す図である。
1…半導体キャリアテープ、1a…端縁部、2…基材、
4…ソルダーレジスト、4a…ソルダーレジスト塗布
面、4b…ソルダーレジスト非塗布面、101…反り矯
正装置、111…搬送装置、121…加熱装置、131
…湾曲修正装置、132…挟持装置、133…矯正用金
型、135…冷却装置、180…制御装置、1331…
矯正曲面。
4…ソルダーレジスト、4a…ソルダーレジスト塗布
面、4b…ソルダーレジスト非塗布面、101…反り矯
正装置、111…搬送装置、121…加熱装置、131
…湾曲修正装置、132…挟持装置、133…矯正用金
型、135…冷却装置、180…制御装置、1331…
矯正曲面。
Claims (6)
- 【請求項1】 フィルム状で帯状の基材(2)上に形成
したリードにソルダーレジスト(4)を塗布してなり上
記リードに半導体チップが電気的に接続される半導体キ
ャリアテープ(1)の反り矯正装置であって、 上記半導体キャリアテープの延在方向に直交する幅方向
においてソルダーレジスト塗布面(4a)を内側にして
湾曲した上記半導体キャリアテープについて上記ソルダ
ーレジスト塗布面を外側にして逆反りさせ、かつ上記延
在方向に上記半導体キャリアテープを間欠的に搬送する
搬送装置(111)と、 上記搬送装置にて間欠搬送され停止状態にある上記逆反
り状態の上記半導体キャリアテープを、上記ソルダーレ
ジストの上記ガラス転移点を超える温度に加熱する加熱
装置(121)と、 上記半導体キャリアテープの搬送方向において上記加熱
装置の設置場所と同場所で、上記半導体キャリアテープ
を間にして当該半導体キャリアテープの厚み方向にて対
向する位置に設けられる湾曲修正装置であって、上記逆
反り状態の上記半導体キャリアテープのソルダーレジス
ト非塗布面(4b)に接触し上記湾曲を矯正する形状及
び曲率を有する矯正曲面(1331)を有するかまぼこ
型の矯正用金型(133)を有し、上記停止状態の上記
半導体キャリアテープの上記ソルダーレジスト非塗布面
を上記矯正曲面に密着させかつ該密着状態にて上記ソル
ダーレジストのガラス転移点以下の温度に上記半導体キ
ャリアテープを冷却して上記半導体キャリアテープの上
記湾曲を矯正する湾曲修正装置(131)と、を備えた
ことを特徴とする半導体キャリアテープの反り矯正装
置。 - 【請求項2】 上記湾曲修正装置は、さらに、上記搬送
装置にて間欠搬送され停止状態にある上記逆反り状態の
上記半導体キャリアテープの上記幅方向における両端縁
部(1a)を上記延在方向に沿って挟持して、上記ソル
ダーレジスト非塗布面が上記矯正曲面に密着される上記
逆反り状態の上記半導体キャリアテープを保持する挟持
装置(131)を有する、請求項1記載の半導体キャリ
アテープの反り矯正装置。 - 【請求項3】 上記湾曲修正装置は、さらに、上記ガラ
ス転移点以下の温度に上記矯正曲面を強制冷却して上記
半導体キャリアテープを冷却する冷却装置(135)を
有する、請求項1又は2記載の半導体キャリアテープの
反り矯正装置。 - 【請求項4】 フィルム状で帯状の基材(2)上に形成
したリードにソルダーレジスト(4)を塗布してなり上
記リードに半導体チップが電気的に接続される半導体キ
ャリアテープ(1)の反り矯正方法であって、 上記半導体キャリアテープの延在方向に直交する幅方向
においてソルダーレジスト塗布面(4a)を内側にして
湾曲した上記半導体キャリアテープについて上記ソルダ
ーレジスト塗布面を外側にして逆反りさせ、 上記逆反り状態の上記半導体キャリアテープを加熱し、 上記逆反り状態の上記半導体キャリアテープのソルダー
レジスト非塗布面(4b)に接触し上記湾曲を矯正する
形状及び曲率にてなる矯正曲面(1331)を有する矯
正用金型(133)の上記矯正曲面に上記ソルダーレジ
スト非塗布面を密着させて上記湾曲を矯正する、ことを
特徴とする半導体キャリアテープの反り矯正方法。 - 【請求項5】 上記半導体キャリアテープは上記延在方
向に間欠的に搬送され、上記半導体キャリアテープに対
する加熱及び上記湾曲の矯正は、停止状態にて行なわれ
る、請求項4記載の半導体キャリアテープの反り矯正方
法。 - 【請求項6】 上記矯正曲面に上記ソルダーレジスト非
塗布面を密着させた後、上記加熱動作を終了し、さら
に、上記矯正曲面の強制冷却を行なう、請求項4又は5
記載の半導体キャリアテープの反り矯正方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000171885A JP2001351951A (ja) | 2000-06-08 | 2000-06-08 | 半導体キャリアテープの反り矯正装置及び方法 |
PCT/US2001/013760 WO2001095386A2 (en) | 2000-06-08 | 2001-04-26 | Apparatus and method for correcting warp of semiconductor carrier tape |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000171885A JP2001351951A (ja) | 2000-06-08 | 2000-06-08 | 半導体キャリアテープの反り矯正装置及び方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001351951A true JP2001351951A (ja) | 2001-12-21 |
Family
ID=18674376
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000171885A Pending JP2001351951A (ja) | 2000-06-08 | 2000-06-08 | 半導体キャリアテープの反り矯正装置及び方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001351951A (ja) |
WO (1) | WO2001095386A2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003311822A (ja) * | 2002-04-23 | 2003-11-06 | Matsushita Electric Works Ltd | 樹脂成形体の製造方法及びその製造装置 |
US7017636B2 (en) | 2002-03-22 | 2006-03-28 | Seiko Epson Corporation | Apparatus for manufacturing an electronic device, method of manufacturing an electronic device, and program for manufacturing an electronic device |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3716413B2 (ja) * | 2003-06-13 | 2005-11-16 | 三井金属鉱業株式会社 | 電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置および検査方法 |
CN114769362A (zh) * | 2022-05-12 | 2022-07-22 | 广东精拓自动化智能科技有限公司 | 一种智能整形设备及其方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06132358A (ja) * | 1992-06-12 | 1994-05-13 | Hitachi Cable Ltd | フィルムキャリア用スペーサテープ及びフィルムキャリアの巻回構造 |
JP3037921B2 (ja) * | 1997-10-07 | 2000-05-08 | 三井金属鉱業株式会社 | 半導体ic用フィルムキャリアテープの反り低減方法および該テープの反り低減装置 |
JP2000332063A (ja) * | 1999-05-21 | 2000-11-30 | Mitsui Mining & Smelting Co Ltd | 電子部品実装用フィルムキャリアテープの製造方法および該テープの反り低減装置 |
-
2000
- 2000-06-08 JP JP2000171885A patent/JP2001351951A/ja active Pending
-
2001
- 2001-04-26 WO PCT/US2001/013760 patent/WO2001095386A2/en unknown
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7017636B2 (en) | 2002-03-22 | 2006-03-28 | Seiko Epson Corporation | Apparatus for manufacturing an electronic device, method of manufacturing an electronic device, and program for manufacturing an electronic device |
US7410826B2 (en) | 2002-03-22 | 2008-08-12 | Seiko Epson Corporation | Apparatus for manufacturing an electronic device, method of manufacturing an electronic device, and program for manufacturing an electronic device |
JP2003311822A (ja) * | 2002-04-23 | 2003-11-06 | Matsushita Electric Works Ltd | 樹脂成形体の製造方法及びその製造装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2001095386A2 (en) | 2001-12-13 |
WO2001095386A3 (en) | 2002-04-11 |
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