JP2001343363A - 質量分析装置 - Google Patents

質量分析装置

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JP2001343363A
JP2001343363A JP2000167139A JP2000167139A JP2001343363A JP 2001343363 A JP2001343363 A JP 2001343363A JP 2000167139 A JP2000167139 A JP 2000167139A JP 2000167139 A JP2000167139 A JP 2000167139A JP 2001343363 A JP2001343363 A JP 2001343363A
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Mitsuaki Fukuda
充昭 福田
Kazuo Kouhata
和男 向畑
Masahiro Kojima
雅弘 小島
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Shimadzu Corp
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Shimadzu Corp
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    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/04Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
    • H01J49/0431Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples
    • H01J49/0445Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples with means for introducing as a spray, a jet or an aerosol

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 イオン化室の内部状態を観察し易くする。 【解決手段】 イオン化室11を内部に形成するチャン
バ30に窓開口31を設け、内側面に撥水性コーティン
グを施した凸レンズを窓板として取り付ける。また、そ
の窓板内側に向けて乾燥ガスを吹き出すガス供給管を配
設する。これにより、外側から見たときに内部が拡大さ
れて見えるのでプローブ15の微妙な位置調整が可能で
あるとともに、窓板の内側が曇るのを防止することがで
きる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は質量分析装置に関
し、更に詳しくは、液体クロマトグラフ質量分析装置
(以下「LC/MS」略す)等に利用される大気圧イオ
ン化インタフェイスに関する。
【0002】
【従来の技術】LC/MSでは、液体クロマトグラフ装
置(LC)のカラムから時間的に分離して溶出する試料
液を、イオン化して質量分析装置(MS)へと導入する
ためのインタフェイス(以下「LC/MSインタフェイ
ス」という)が用いられる。このLC/MSインタフェ
イスには、試料液を加熱、高速気流、高電界等を利用し
て霧化させつつ気体イオンを生成するイオン化装置を含
む。
【0003】このようなLC/MSのイオン化には、大
気圧化学イオン化法(APCI)やエレクトロスプレイ
イオン化法(ESI)などの、いわゆる大気圧イオン化
法が広く使用されている。APCIでは、例えばLCの
カラムの末端に接続されたノズルを略大気圧にあるイオ
ン化室内に向けて開口して配設し、そのノズル先端の前
方に針電極を配置しておき、ノズルにおいて加熱により
霧化した試料液の液滴に、針電極からのコロナ放電によ
り生成したキャリアガスイオン(バッファイオン)を化
学反応させてイオン化を行なう。一方、ESIでは、ノ
ズルの先端部に数kV程度の高電圧を印加して強い不平
等電界を発生させる。試料液はこの電界により電荷分離
し、クーロン引力により引きちぎられて霧化する。周囲
の空気に触れて液滴中の溶媒は蒸発し、気体イオンが発
生する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記イオン化装置にお
いてイオンの生成効率を高めるには、例えば、ESIで
は、試料液を噴霧するノズルと、噴霧された液滴より発
生するイオンを吸い込んで次段へと搬送する脱溶媒管の
入口との位置関係や、ノズル先端部にあって、試料液を
搬送するためのガラスキャピラリと、該キャピラリを内
挿する高電圧印加用の金属管や該金属管の同軸外周に設
けたネブライズガス管との位置関係を適切に調整するこ
とが必要となる。このような調整を行うには、外側から
イオン化室内部の様子が観察できると非常に便利であ
る。そこで、従来の質量分析装置では、イオン化室の壁
面の一部や或る面をガラス等の透明体でもって、いわば
透視窓を形成し、外側からイオン化室内部を覗けるよう
にした構成のものが知られている。このような構成によ
れば、上述したように位置調整の際に便利であるのみな
らず、ノズルの汚れ状況の確認、ノズル先端からの噴霧
が正常であるかどうかの確認、或いは特にAPCIにあ
っては、不所望の箇所での放電が発生していないかどう
かなどの確認も行うことができる。
【0005】しかしながら、例えば、LCで水などの揮
発しにくい溶媒を多く含む移動相を用いた場合には、ノ
ズルから噴霧された溶媒が気化した後にその透視窓の内
面に接触又は近接すると、急激に冷やされて結露し、透
視窓の内面を曇らせてしまうことがあった。このような
現象は、イオン化室内部が非常に高温になるAPCIで
甚だしく、イオン化室内部を観察する際に大きな障害と
なっていた。また、透視窓とノズル先端部とは少なくと
も数cm以上の距離があり、ノズル先端部の位置調整は
1mm単位の非常に微妙なものであるため、上述したよ
うな透視窓の曇りがなかったとしても、ノズル先端部を
観察しながら微妙な位置調整を行うのはかなり困難であ
った。更にまた、この装置の設置状態によっては、透視
窓から充分な外光が射し込まず、イオン化室内部が暗く
て非常に見にくい場合もある。
【0006】本発明はこのような課題を解決するために
成されたものであり、その目的とするところは、イオン
化室内部のノズル先端部などの観察が容易であって、そ
れにより位置調整などの精度も向上させることができる
ような質量分析装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された第1発明に係る質量分析装置は、試料液を略
大気圧にあるイオン化室内に噴霧してイオン化し、その
イオンを質量分析部へ導入する質量分析装置において、
前記イオン化室の壁面に透視窓を設けるとともに、該透
視窓の窓板内面に乾燥ガスを吹き付けるためのガス供給
手段を該イオン化室内部に配設したことを特徴としてい
る。
【0008】上記課題を解決するために成された第2発
明に係る質量分析装置は、試料液を略大気圧にあるイオ
ン化室内に噴霧してイオン化し、そのイオンを質量分析
部へ導入する質量分析装置において、前記イオン化室の
壁面に、窓板を拡大レンズとした透視窓を設けることを
特徴としている。
【0009】上記課題を解決するために成された第3発
明に係る質量分析装置は、試料液を略大気圧にあるイオ
ン化室内に噴霧してイオン化し、そのイオンを質量分析
部へ導入する質量分析装置において、前記イオン化室の
壁面に透視窓を設けるとともに、該イオン化室内を照明
する照明手段を該イオン化室内部に設けたことを特徴と
している。
【0010】
【発明の実施の形態及び効果】第1発明に係る質量分析
装置では、ガス供給手段より窓板内面に向けて乾燥ガス
を噴出させる。これにより、水等の溶媒の微小液滴を多
量に含むガスは窓板内側付近に滞留せず、また、窓板に
結露しようとした液滴も乾燥ガスによって迅速に揮散し
て運び去られる。そのため、透視窓内側に結露が生じて
曇ることを防止することができ、外側から常にイオン化
室内部を明瞭に見通すことができる。
【0011】なお、ガス供給手段からの乾燥ガスの噴出
は必ずしも連続的に行う必要はなく、例えば間欠的に行
っても充分に曇り防止効果がある。また、窓板が既に曇
ってしまったあとの曇りの除去にも効果はあるから、必
要なときのみ乾燥ガスを噴出させるようにしてもよい。
しかしながら、ほぼ連続的に乾燥ガスを噴出させるよう
にすれば、この乾燥ガスによりイオン化室内の圧力が若
干高まるため、イオン化室内に設けたドレインから溶媒
が外部へ排出され易くなり、これにより透視窓内側が曇
ることを一層効果的に防止できる。
【0012】更にまた、窓板の内面側に撥水性、撥油性
を有する薄膜層を形成するようにコーティングを行う
と、曇り防止に一層効果的である。
【0013】また、第2発明に係る質量分析装置によれ
ば、窓板が拡大レンズであるので、試料液を噴霧するノ
ズル先端付近が拡大された像となり、ノズルに関する機
械的な位置調整が容易に行え、位置調整の精度も向上す
る。
【0014】また、第3発明に係る質量分析装置によれ
ば、イオン化室内が照明手段により照明されるので、透
視窓から外光が射し込まなくとも、イオン化室の内部状
態を明瞭に観察することができる。
【0015】
【発明例】以下、本発明の一実施例による質量分析装置
を図面を参照して説明する。図1は本実施例の質量分析
装置の要部の全体構成図である。
【0016】この装置には、イオン化室11、質量分析
室14、及び、それらの間にそれぞれ隔壁で隔てられた
第1中間室12及び第2中間室13が設けられている。
イオン化室11には、図示しないLCのカラム出口端に
接続されたイオン化プローブ15が配設される。質量分
析室14には四重極フィルタ16及びイオン検出器17
が設けられ、それらの中間にある第1及び第2中間室1
2、13にはそれぞれ第1イオンレンズ19及び第2イ
オンレンズ20が設けられている。イオン化室11と第
1中間室12との間は細径の脱溶媒管18を介して、第
1中間室12と第2中間室13との間は極小径の通過孔
を有するスキマー21を介してのみ連通している。
【0017】イオン化室11内はイオン化プローブ15
から連続的に供給される試料液の気化分子によりほぼ大
気圧になっている。一方、質量分析室14内は、質量分
析のためにターボ分子ポンプ(TMP)27により約1
−3〜10−4Paの高真空状態まで真空排気され
る。このように真空度の差の大きいイオン化室11と質
量分析室14との間に、イオンを通過させるための穴を
設けなければならないことから、両者11、14の間に
第1及び第2中間室12、13を設け、段階的に真空度
を上げるようにしているのである。具体的には、第1中
間室12内はロータリポンプ(RP)25により約10
Paまで、第2中間室13内はターボ分子ポンプ(T
MP)26により約10−1〜10−2Paまで真空排
気される。
【0018】試料液はイオン化プローブ15の先端から
イオン化室11内に噴霧され、液滴中の溶媒が蒸発する
過程で試料分子はイオン化される。発生したイオンは未
だイオン化していない微小液滴とともに、イオン化室1
1と第1中間室12との圧力差により脱溶媒管18中に
引き込まれる。第1中間室12内には第1イオンレンズ
19が設けられており、その電界により脱溶媒管18を
介してのイオンの引き込みを助けるとともに、イオンを
スキマー21の通過孔近傍に収束させる。
【0019】スキマー21の通過孔を通って第2中間室
13に導入されたイオンは、第2イオンレンズ20によ
り収束及び加速された後、小孔22を通して質量分析室
14へと送られる。質量分析室14では、特定の質量数
(質量m/電荷z)を有するイオンのみが四重極フィル
タ16中央の長手方向の空間を通り抜け、イオン検出器
17に到達して検出される。
【0020】図2は図1中のイオン化室11内部の詳細
図、図3はイオン化室11を内部に形成するチャンバ3
0の外観斜視図、図4はイオン化プローブ15の正面外
観図(a)、左方向から見た外観図(b)及び先端部1
5aの拡大端面図(c)である。なお、図3は図2に示
すチャンバ30を左方向から見た外観である。
【0021】図2に示す通り、屈曲した脱溶媒管18の
入口開口181の中心軸Sは、後段のイオン光軸Cに対
して約45度下方を向いている。これに対し、試料液を
噴霧するイオン化プローブ15は、入口側中心軸Sに対
してほぼ直交する方向に試料液を噴霧するようにチャン
バ30に取り付けられている。また、入口側中心軸S上
には、その軸方向に往復動するシャッタ23が設けられ
ている。シャッタ23はイオン化室11内に露出した先
端部にゴム等の弾性体を備え、チャンバ30外側からの
機械的な押圧・引抜に応じて往復動し、最も内側に突出
したときには脱溶媒管18の入口開口181を閉塞する
ようになっている。また、イオン化プローブ15からの
噴霧方向前方には、噴霧された試料液を回収するための
ドレイン24が設けられている。なお、図2及び図4に
おいてイオン化プローブ15はESI用のものである
が、イオン化プローブ15はチャンバ30に対し着脱自
在になっており、APCIによるイオン化を行いたい場
合には、図2に示したイオン化プローブを取り外し、そ
の代わりに、放電用の針電極がユニット化されたAPC
I用のイオン化プローブをチャンバ30に取り付ければ
よい。
【0022】図4に示すように、イオン化プローブ15
の先端部15aは、2個の位置調節ツマミ155により
x軸に直交する面内の所定範囲で略平行に移動可能とな
っており、適宜に位置を調整したあとに位置固定ツマミ
156により位置を固定できるようになっている。先端
部15aでは、高電圧印加用のSUSパイプ152の内
側にガラスキャピラリ151が挿通されており、SUS
パイプ152の外側には、ガラスキャピラリ151先端
からの試料液の噴霧を補助するためのネブライズガスを
吹き出すネブライズガス管153が配設されている。ガ
ラスキャピラリ151は、ナット154を緩めた状態で
x軸方向に抜き差しができるようになっており、これに
より突出量dを調整することができる。
【0023】図2及び図3に示すように、チャンバ30
の上面には、イオン化プローブ15の先端付近を見通せ
るように円形状の窓開口31が設けられており、そこに
はガラス製の窓板32が取り付けられている。すなわ
ち、この窓板32を通して外側からチャンバ30の内部
(つまりイオン化室11)が観察できるようになってい
る。窓開口31を通して観察できる範囲には、イオン化
プローブ15の先端のほか、脱溶媒管18の入口開口1
81、シャッタ23の先端部などが含まれる。したがっ
て、上述したようなイオン化プローブ15の位置調整に
関して必要な範囲が観察できるほか、プローブ15から
の噴霧状態の観察や、シャッタ23が入口開口181を
確実に閉塞したかどうかの確認も行える。
【0024】図5は窓開口31付近の略断面図である。
この質量分析装置の特徴の一つは、図5に示すように、
窓板32が凸レンズとなっていることにある。これによ
り、ユーザが外側からチャンバ30内部を覗いたとき
に、内側のイオン化プローブ15の先端部15aなどが
実体よりも大きな像として見えるようになっている。そ
のため、特に、上述したようなプローブ先端部15aの
微妙な位置調整が容易に行えるようになっている。ま
た、窓板(凸レンズ)32の内側表面はポリテトラフル
オロエチレン(商品名:テフロン)の薄膜層33で被覆
されている。この薄膜層33は撥水性、撥油性を有する
ので、溶媒の液滴が付着して曇りを生じることを防止す
る。また、レンズ自体の耐久性も向上させる。
【0025】このように薄膜層33により窓板32の曇
り防止がなされているが、より確実に曇りを防止するた
め、本実施例の他の特徴として、チャンバ30内部には
窓板32内側に向けて乾燥ガスを噴射するための乾燥ガ
ス供給管34が配設されている。図示しないものの、乾
燥ガス供給管34はチャンバ30の壁面を貫通し、チャ
ンバ30の外側において、流量調節弁などを介挿して試
料液噴霧用のネブライズガス(通常は乾燥窒素ガス)の
供給源に接続されている。つまり、乾燥ガスはネブライ
ズガスと同一のものを使用することができる。
【0026】窓板32内側に乾燥ガスを吹き付けること
により、窓板32内側でのガスの流通が促進される。そ
のため、溶媒の微小液滴を多量に含むガスは窓板32内
側の近傍から速やかに運び去られる。また、その微小液
滴が窓板32内側に結露しようとしても、乾燥ガスに晒
されることにより速やかに揮散し、結露が妨げられる。
更に、乾燥ガスを上記ネブライズガス管153以外から
イオン化室11に供給することにより、イオン化室11
の内部圧力は更に高まり、これによりドレイン24の入
口側と出口側(通常、大気圧)との差圧が大きくなるの
で、試料液がドレイン24に吸い込まれ易くなる。その
結果、イオン化室11内の溶媒の密度(溶媒が水であれ
ば湿度)が下るので、これによっても窓板32内側が曇
りにくくなる。
【0027】このようなことから、窓板32の曇りを効
果的に防止し、常にチャンバ30内部の状態を明瞭に観
察することができる。
【0028】更に、本実施例の他の特徴の一つは、イオ
ン化室11内部に照明用のLEDを設けている点にあ
る。図2において、シャッタ23が挿通するチャンバ3
0の直上、つまりシャッタ23と窓開口31との間のチ
ャンバ30壁面には、LED35が埋設されており、し
かも、その照射光の中心軸Lはプローブ15の先端部近
傍を通るようになっている。つまり、プローブ15先端
部がLED35により最も明るく照らされるようになっ
ている。LED35は略昼光色を発する白色LEDであ
る。これにより、たとえこの質量分析装置を設置した室
内の照明がチャンバ30内部を照明するのに不十分であ
っても、LED35を点灯させることにより、特にプロ
ーブ15先端部を非常に見易くすることができる。ま
た、LED35をシャッタ23と窓開口31との間に設
けているので、シャッタ23を上方から照明することが
でき、シャッタ23が脱溶媒管18の入口開口181を
閉塞しているか否かを明瞭に観察することができる。
【0029】なお、このLED35を点灯させることに
より、プローブ15からの噴霧状態も見易くなるが、よ
り好ましくは、噴霧状態を観察するための別の照明手段
を設けるとよい。例えば、上記白色LEDとは別に、赤
色LEDを設置し、しかもその赤色LEDの照射光の中
心軸はプローブ15の更に前方とする。例えば、プロー
ブ15の位置調整等を行うためにプローブ15先端部1
5aを見るときには、白色LEDを点灯させ、プローブ
15からの噴霧状態を確認したい場合には赤色LEDを
点灯させる。これにより、噴霧状態を一層見やすくする
ことができる。
【0030】なお、上記実施例は一例であって、本発明
の趣旨の範囲で適宜変更や修正を行なえることは明らか
である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施例によるLC/MSの要部の
全体構成図。
【図2】 図1中のイオン化室内部の詳細図。
【図3】 イオン化室を内部に形成するチャンバ30の
外観斜視図。
【図4】 イオン化プローブの正面外観図(a)、左方
向から見た外観図(b)及び先端部15aの拡大端面図
(c)。
【図5】 窓開口付近の略断面図。
【符号の説明】
11…イオン化室 15…イオン化プローブ 151…ガラスキャピラリ 152…SUSパイプ 153…ネブライズガス管 154…ナット 155…位置調節ツマミ 156…位置固定ツマミ 15a…プローブ先端部 18…脱溶媒管 181…入口開口 23…シャッタ 24…ドレイン 30…チャンバ 31…窓開口 32…窓板 33…薄膜層 34…乾燥ガス供給管 35…LED

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料液を略大気圧にあるイオン化室内に
    噴霧してイオン化し、そのイオンを質量分析部へ導入す
    る質量分析装置において、 前記イオン化室の壁面に透視窓を設けるとともに、該透
    視窓の窓板内面に乾燥ガスを吹き付けるためのガス供給
    手段を該イオン化室内部に配設したことを特徴とする質
    量分析装置。
  2. 【請求項2】 試料液を略大気圧にあるイオン化室内に
    噴霧してイオン化し、そのイオンを質量分析部へ導入す
    る質量分析装置において、 前記イオン化室の壁面に、窓板を拡大レンズとした透視
    窓を設けることを特徴とする質量分析装置。
  3. 【請求項3】 試料液を略大気圧にあるイオン化室内に
    噴霧してイオン化し、そのイオンを質量分析部へ導入す
    る質量分析装置において、 前記イオン化室の壁面に透視窓を設けるとともに、該イ
    オン化室内を照明する照明手段を該イオン化室内部に設
    けたことを特徴とする質量分析装置。
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004355852A (ja) * 2003-05-27 2004-12-16 Morita Mfg Co Ltd 医療用光照射装置
JP2008544286A (ja) * 2005-06-24 2008-12-04 ウオーターズ・インベストメンツ・リミテツド 質量分析計インタフェースハウジング
US8354636B2 (en) 2010-02-23 2013-01-15 Shimadzu Corporation Mass spectrometer
US8927929B1 (en) 2013-09-03 2015-01-06 Shimadzu Corporation Mass spectrometer
US9008496B2 (en) 2012-03-14 2015-04-14 Shimadzu Corporation Probe
US9396920B2 (en) 2014-06-27 2016-07-19 Shimadzu Corporation Ionization chamber
US9633826B1 (en) 2016-03-15 2017-04-25 Shimadzu Corporation Mass spectrometer with movable ionization chamber
WO2019049272A1 (ja) * 2017-09-07 2019-03-14 株式会社島津製作所 イオン源及びイオン分析装置
WO2019049271A1 (ja) * 2017-09-07 2019-03-14 株式会社島津製作所 イオン化プローブ及びイオン分析装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080162298A1 (en) * 2000-06-15 2008-07-03 American Express Travel Related Services Company, Inc. Online ordering system and method

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA2184982C (en) * 1994-03-08 2004-01-20 Craig Whitehouse Electrospray and atmospheric pressure chemical ionization sources
US6486469B1 (en) * 1999-10-29 2002-11-26 Agilent Technologies, Inc. Dielectric capillary high pass ion filter

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004355852A (ja) * 2003-05-27 2004-12-16 Morita Mfg Co Ltd 医療用光照射装置
JP2008544286A (ja) * 2005-06-24 2008-12-04 ウオーターズ・インベストメンツ・リミテツド 質量分析計インタフェースハウジング
US8354636B2 (en) 2010-02-23 2013-01-15 Shimadzu Corporation Mass spectrometer
US9008496B2 (en) 2012-03-14 2015-04-14 Shimadzu Corporation Probe
US8927929B1 (en) 2013-09-03 2015-01-06 Shimadzu Corporation Mass spectrometer
EP2843685A2 (en) 2013-09-03 2015-03-04 Shimadzu Corporation Mass spectrometer
US9396920B2 (en) 2014-06-27 2016-07-19 Shimadzu Corporation Ionization chamber
US9633826B1 (en) 2016-03-15 2017-04-25 Shimadzu Corporation Mass spectrometer with movable ionization chamber
WO2019049272A1 (ja) * 2017-09-07 2019-03-14 株式会社島津製作所 イオン源及びイオン分析装置
WO2019049271A1 (ja) * 2017-09-07 2019-03-14 株式会社島津製作所 イオン化プローブ及びイオン分析装置
JPWO2019049272A1 (ja) * 2017-09-07 2019-11-21 株式会社島津製作所 イオン源及びイオン分析装置
JPWO2019049271A1 (ja) * 2017-09-07 2019-12-19 株式会社島津製作所 イオン化プローブ及びイオン分析装置

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