JP2001342271A - 樹脂成形品への成膜方法 - Google Patents

樹脂成形品への成膜方法

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JP2001342271A JP2000166858A JP2000166858A JP2001342271A JP 2001342271 A JP2001342271 A JP 2001342271A JP 2000166858 A JP2000166858 A JP 2000166858A JP 2000166858 A JP2000166858 A JP 2000166858A JP 2001342271 A JP2001342271 A JP 2001342271A
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    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29LINDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBCLASS B29C, RELATING TO PARTICULAR ARTICLES
    • B29L2031/00Other particular articles
    • B29L2031/34Electrical apparatus, e.g. sparking plugs or parts thereof
    • B29L2031/3493Moulded interconnect devices, i.e. moulded articles provided with integrated circuit traces

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  • Coating Of Shaped Articles Made Of Macromolecular Substances (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 樹脂成形品の表面だけでなく側面についても
厚みのある薄膜を形成する。 【解決手段】 ホルダー2上に載せた樹脂成形品1の表
面をスパッタリング用ターゲット3に対向させてスパッ
タリングを行う。この際、ホルダー2として樹脂成形品
1よりも大きい導電性金属板を用いて、ターゲット3か
らのスパッタで発生して樹脂成形品1に向かう粒子をイ
オン化手段5でイオン化し、該イオンで上記ホルダー2
をスパッタする。ターゲット3のスパッタで成膜するだ
けでなく、ホルダー2もスパッタして成膜するととも
に、ホルダー2のスパッタをターゲット3から出る粒子
を利用して行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はMID基板の製造に
適用することができる樹脂成形品への成膜方法、殊にス
パッタリングによる成膜方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】MID基板(Molded Inter
connect Device、立体回路基板とも称さ
れている)は、射出成形による樹脂成形品上に銅スパッ
タリング法によって形成した銅薄膜に対してたとえばレ
ーザー加工を行うことで回路として必要な部分と不必要
な部分とを分離し、電気めっきによって回路として必要
な部分にのみメッキを施すことで立体的な電気的配線パ
ターンを形成したものであるが、上記銅スパッタリング
法によって銅薄膜を樹脂成形品の表面に形成するにあた
っては、通常の2次元基板上に形成する場合と異なっ
て、樹脂成形品の表面だけでなく、側面にもスパッタリ
ングによる銅薄膜を形成することが要求される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ターゲットに
樹脂成形品の表面を対向させた状態でのスパッタリング
では、ターゲットに対向していない側面に形成される薄
膜は、表面に形成される薄膜に比して膜厚が薄くなる。
【0004】一方で、上記電気めっきに際して上記側面
から給電を行うことがあるが、膜厚が薄い側面からの給
電では導通不良を生じやすく、これが歩留まりを悪くす
る原因となってしまっている。
【0005】本発明はこのような点に鑑みなされたもの
であって、その目的とするところは樹脂成形品の表面だ
けでなく側面についても厚みのある薄膜を形成すること
ができる樹脂成型品への成膜方法を提供するにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】しかして本発明は、ホル
ダー上に載せた樹脂成形品の表面をスパッタリング用タ
ーゲットに対向させてスパッタリングを行うに際して、
ホルダーとして樹脂成形品よりも大きい導電性金属板を
用いて、ターゲットからのスパッタで発生して樹脂成形
品に向かう粒子をイオン化手段でイオン化し、該イオン
で上記ホルダーをスパッタすることに特徴を有してい
る。ターゲットのスパッタで成膜するだけでなく、ホル
ダーもスパッタして成膜するとともに、ホルダーのスパ
ッタにターゲットから出る粒子を利用するようにしたも
のである。
【0007】上記イオン化手段として誘導結合プラズマ
を用いてもよい。イオン化量を大とすることができる。
【0008】ホルダーとしては、ターゲットと同材料の
ものを用いることが好ましいが、ターゲットよりもスパ
ッタされやすい材料のものを用いるようにしてもよい。
【0009】また、ホルダーに樹脂成形品の側面の外周
に位置するとともに上記側面に向けて傾斜した被スパッ
タ面を設けておくと、樹脂成形品の側面への成膜のため
のホルダーのスパッタ量を多くすることができる。
【0010】ホルダー及び樹脂成形品を傾かせた状態で
スパッタリングしたり、ターゲットを傾かせた状態でス
パッタリングしても、樹脂成形品の側面への成膜のため
のホルダーのスパッタ量を多くすることができる。
【0011】プラズマ発生手段として上記誘導結合プラ
ズマを用いる場合、そのコイルと、ターゲットから飛び
出した粒子の流路との間をスパッタされにくい材料から
なる筒で仕切っておくとよい。
【0012】また、ホルダー上に載せた樹脂成形品の表
面をスパッタリング用ターゲットに対向させてスパッタ
リングを行うに際して、樹脂成形品の表面に対向するタ
ーゲットと樹脂成形品の側面に対向するターゲットとを
用いて多方向からスパッタリングするようにしてもよ
い。
【0013】さらに、ホルダー上に載せた樹脂成形品の
表面をスパッタリング用ターゲットに対向させてスパッ
タリングを行うに際して、ホルダーとして樹脂成形品よ
りも大きい導電性金属板を用いて、ターゲットのスパッ
タに加えてホルダーの樹脂成形品の側面近傍部に対する
レーザー照射でレーザーアブレーションを行うようにし
てもよい。
【0014】ホルダー上に載せた樹脂成形品の表面をス
パッタリング用ターゲットに対向させてスパッタリング
を行うに際して、樹脂成形品の周囲より蒸着を行うよう
にしてもよいものである。
【0015】
【発明の実施の形態】以下本発明を実施の形態の一例に
基づいて詳述すると、図1において、1はMID基板用
の樹脂成形品であり、ホルダー2上にセットした状態で
その表面がターゲット3と対向するようにスパッタ装置
内に配置する。そして上記ターゲット3にイオンを打ち
込んでスパッタすることによって、ターゲット3の材料
(この場合は銅)による薄膜を樹脂成形品1の主として
表面に形成するのであるが、上記ホルダー2として、タ
ーゲット3と同じく銅を材料とするとともに樹脂成形品
1よりも表面が大きいものを用いている。また、スパッ
タによってターゲット3から飛び出した銅粒子をイオン
化するための電子シャワー5を設置している。
【0016】つまり、銅イオンをホルダー2に打ち込む
ことができるようにして、ホルダー2のスパッタを行
い、ホルダー2から飛び出した銅粒子が樹脂成形品1の
側面に銅薄膜を形成するようにしたものである。なお、
ホルダー2には高周波によるところのバイアス電圧をか
けておく。
【0017】図2に他例を示す。これはスパッタによっ
てターゲット3から飛び出した粒子をイオン化するため
の手段として、螺旋状コイル50に高周波を印加する誘
導結合型のプラズマ発生手段を用いて、ターゲット3か
ら飛び出した粒子がプラズマ中を通過することでイオン
化されるようにしたものである。電子シャワー5を用い
る場合に比して、イオン化量を大きくすることができ
る。なお、コイル50の内周側にはスパッタされにくい
材料、たとえばSiO2からなる筒51を配置して、コ
イル50に上記粒子が付着することがないようにしてい
る。
【0018】ホルダー2としては、ターゲット3と同材
料のもの、つまりターゲット3が銅であればホルダー2
も銅とすることが好ましいが、ターゲット3よりもスパ
ッタされやすい材料、たとえばAlを用いることを妨げ
ない。ターゲット3に比してホルダー2のスパッタ量が
少ない点を補うことができる。
【0019】また、図3に示すように、ホルダー2に樹
脂成形品1の側面の外周に位置するとともに上記側面に
向けて傾斜した被スパッタ面20を設けておくと、樹脂
成形品1の側面への成膜のためのホルダー2のスパッタ
量を多くすることができる。なお、被スパッタ面20の
角度αは20〜60°程度が好ましい。なお、バイアス
電圧をかけておくホルダー2と上記スパッタ面20との
間には絶縁層24を介在させておくとよい。
【0020】図4に示すように、ホルダー2及び樹脂成
形品1を傾かせた状態でスパッタリングしたり、図5に
示すようにターゲット3を傾かせた状態でスパッタリン
グすることも有効である。ただし、ホルダー2及び樹脂
成形品1は軸10の回りに回転させながらスパッタリン
グを行う。
【0021】このほか、図6に示すように、樹脂成形品
1の表面に対向するターゲット3aと樹脂成形品1の側
面に対向するターゲット3bとを用いて多方向からスパ
ッタリングを行っても、樹脂成形品の側面に形成される
薄膜の厚みを厚くすることができる。
【0022】このほか、スパッタリングと他の成膜方法
とを組み合わせることで樹脂成形品1の側面への成膜を
行うようにしてもよい。図7はスパッタリングとレーザ
ーアブレーションとを組み合わせたもので、樹脂成形品
1の表面はターゲット3に対向させてスパッタリングで
成膜する。また、樹脂成形品1の側面については、ホル
ダー3における上記側面の近傍部に斜めからレーザー
(エキシマレーザー)Lを照射してレーザーアブレーシ
ョンにより成膜する。
【0023】図8に示すものでは、樹脂成形品1の周囲
に抵抗加熱で加熱する坩堝25より導電性金属(銅)を
蒸発させて樹脂成形品1の側面に蒸着し、ターゲット3
に対向させた樹脂成形品1の表面はスパッタリングで成
膜している。
【0024】
【発明の効果】以上のように本発明においては、ホルダ
ー上に載せた樹脂成形品の表面をスパッタリング用ター
ゲットに対向させてスパッタリングを行うに際して、ホ
ルダーとして樹脂成形品よりも大きい導電性金属板を用
いて、ターゲットからのスパッタで発生して樹脂成形品
に向かう粒子をイオン化手段でイオン化し、該イオンで
上記ホルダーをスパッタするものであり、ターゲットの
スパッタで樹脂成形品の主として表面を成膜し、ホルダ
ーもスパッタして樹脂成形品の側面を成膜することか
ら、側面に成膜した薄膜の厚みをターゲットのスパッタ
だけで行う場合に比して厚くすることができるものであ
り、また、ホルダーのスパッタにターゲットから出る粒
子を利用するために、スパッタを容易に行うことができ
る。
【0025】上記イオン化手段として誘導結合プラズマ
を用いたならば、イオン化量を大とすることができるた
めに、ホルダーのスパッタをより確実に行うことができ
る。
【0026】ホルダーとしては、ターゲットと同材料の
ものを用いることで、樹脂成形品の表面側面を単一材料
からなる薄膜で被覆することができるが、ターゲットよ
りもスパッタされやすい材料のものを用いれば、側面の
薄膜の膜厚をさらに厚くすることができる。
【0027】また、ホルダーに樹脂成形品の側面の外周
に位置するとともに上記側面に向けて傾斜した被スパッ
タ面を設けておくと、樹脂成形品の側面への成膜のため
のホルダーのスパッタ量を多くすることができて、やは
り側面の薄膜の膜厚をさらに厚くすることができる。
【0028】ホルダー及び樹脂成形品を傾かせた状態で
スパッタリングしたり、ターゲットを傾かせた状態でス
パッタリングすることも、樹脂成形品の側面への成膜の
ためのホルダーのスパッタ量を多くすることができる上
に、ターゲットからの粒子が側面に至る量も多くなるた
めに、側面の薄膜の膜厚を厚くすることができる。
【0029】プラズマ発生手段として上記誘導結合プラ
ズマを用いる場合には、そのコイルと、ターゲットから
飛び出した粒子の流路との間をスパッタされにくい材料
からなる筒で仕切っておくと、コイルがスパッタリング
の影響を受けてしまうことがなくて、好ましい結果を得
ることができる。
【0030】また、ホルダー上に載せた樹脂成形品の表
面をスパッタリング用ターゲットに対向させてスパッタ
リングを行うに際して、樹脂成形品の表面に対向するタ
ーゲットと樹脂成形品の側面に対向するターゲットとを
用いて多方向からスパッタリングすることも、側面の薄
膜の膜厚を厚くする点で有効である。
【0031】さらに、ホルダー上に載せた樹脂成形品の
表面をスパッタリング用ターゲットに対向させてスパッ
タリングを行うに際して、ホルダーとして樹脂成形品よ
りも大きい導電性金属板を用いて、ターゲットのスパッ
タに加えてホルダーの樹脂成形品の側面近傍部に対する
レーザー照射でレーザーアブレーションを行うようにし
ても、側面の薄膜の膜厚を厚くすることができる。
【0032】ホルダー上に載せた樹脂成形品の表面をス
パッタリング用ターゲットに対向させてスパッタリング
を行うに際して、樹脂成形品の周囲より蒸着を行うよう
にしても、側面の薄膜の膜厚を厚くすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の一例の概略断面図であ
る。
【図2】同上の他例の概略断面図である。
【図3】同上のさらに他例の部分断面図である。
【図4】別の例の部分断面図である。
【図5】さらに別の例の部分断面図である。
【図6】他例の概略断面図である。
【図7】さらに他例の概略断面図である。
【図8】別の例の概略断面図である。
【符号の説明】
1 樹脂成形品 2 ホルダー 3 ターゲット 5 イオン化手段

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ホルダー上に載せた樹脂成形品の表面を
    スパッタリング用ターゲットに対向させてスパッタリン
    グを行うに際して、ホルダーとして樹脂成形品よりも大
    きい導電性金属板を用いて、ターゲットからのスパッタ
    で発生して樹脂成形品に向かう粒子をイオン化手段でイ
    オン化し、該イオンで上記ホルダーをスパッタすること
    を特徴とする樹脂成形品への成膜方法。
  2. 【請求項2】 イオン化手段として誘導結合プラズマを
    用いることを特徴とする請求項1記載の樹脂成形品への
    成膜方法。
  3. 【請求項3】 ホルダーとして、ターゲットと同材料の
    ものを用いることを特徴とする請求項1または2記載の
    樹脂成形品への成膜方法。
  4. 【請求項4】 ホルダーとして、ターゲットよりもスパ
    ッタされやすい材料のものを用いることを特徴とする請
    求項1〜3のいずれかの項に記載の樹脂成形品への成膜
    方法。
  5. 【請求項5】 ホルダーに樹脂成形品の側面の外周に位
    置するとともに上記側面に向けて傾斜した被スパッタ面
    を設けていることを特徴とする請求項1または2記載の
    樹脂成形品への成膜方法。
  6. 【請求項6】 ホルダー及び樹脂成形品を傾かせた状態
    でスパッタリングすることを特徴とする請求項1〜4の
    いずれかの項に記載の樹脂成形品への成膜方法。
  7. 【請求項7】 ターゲットを傾かせた状態でスパッタリ
    ングすることを特徴とする請求項1〜4のいずれかの項
    に記載の樹脂成形品への成膜方法。
  8. 【請求項8】 誘導結合プラズマ用のコイルと、ターゲ
    ットから飛び出した粒子の流路との間をスパッタされに
    くい材料からなる筒で仕切っていることを特徴とする請
    求項2記載の樹脂成形品への成膜方法。
  9. 【請求項9】 ホルダー上に載せた樹脂成形品の表面を
    スパッタリング用ターゲットに対向させてスパッタリン
    グを行うに際して、樹脂成形品の表面に対向するターゲ
    ットと樹脂成形品の側面に対向するターゲットとを用い
    て多方向からスパッタリングすることを特徴とすること
    を特徴とする樹脂成形品への成膜方法。
  10. 【請求項10】 ホルダー上に載せた樹脂成形品の表面
    をスパッタリング用ターゲットに対向させてスパッタリ
    ングを行うに際して、ホルダーとして樹脂成形品よりも
    大きい導電性金属板を用いて、ターゲットのスパッタに
    加えてホルダーの樹脂成形品の側面近傍部に対するレー
    ザー照射でレーザーアブレーションを行うことを特徴と
    する樹脂成形品への成膜方法。
  11. 【請求項11】 ホルダー上に載せた樹脂成形品の表面
    をスパッタリング用ターゲットに対向させてスパッタリ
    ングを行うに際して、樹脂成形品の周囲より蒸着を行う
    ことを特徴とする樹脂成形品への成膜方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7189009B2 (en) 2003-05-15 2007-03-13 Infineon Technologies, Ag Micro-optical module with housing and method for producing the same

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7189009B2 (en) 2003-05-15 2007-03-13 Infineon Technologies, Ag Micro-optical module with housing and method for producing the same

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