JP2001326193A - Dicing device and dicing method - Google Patents

Dicing device and dicing method

Info

Publication number
JP2001326193A
JP2001326193A JP2000141489A JP2000141489A JP2001326193A JP 2001326193 A JP2001326193 A JP 2001326193A JP 2000141489 A JP2000141489 A JP 2000141489A JP 2000141489 A JP2000141489 A JP 2000141489A JP 2001326193 A JP2001326193 A JP 2001326193A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
blade
cut
roller
chips
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000141489A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Naoki Sawada
直樹 沢田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2000141489A priority Critical patent/JP2001326193A/en
Publication of JP2001326193A publication Critical patent/JP2001326193A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent chips from being damaged, when a wafer is cut into chips. SOLUTION: A dicing device is formed in a constitution such that the device is provided with a table 6 for placing a semiconductor wafer 4 on its surface and a discoidal blade 8 and the wafer 4 on the table 6 is cut and split into individual IC chips 18 by the blade 8. In this constitution, a roller 12 is provided in the vicinity of the blade 8 for pressing the wafer 4 cut by the blade 8 on the table 6 from the upper surface of the wafer 4. The roller 12 is energized in the direction of the wafer 4 and with the roller 12 almost intersecting the surface of the blade almost orthogonally the roller 12 is provided rotatably, centered around a virtual axis being extendedly provided almost in parallel with the surface of the water. Since the chips 18 formed by cutting the wafer by the blade 8 are fixed by this roller 12, the vibrations of the chips 18 are suppressed and the chips 18 can be prevented from being damaged.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウェハーな
どのウェハーを個々のチップに切断するダイシング装置
および方法に関するものである。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a dicing apparatus and method for cutting a wafer such as a semiconductor wafer into individual chips.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体ウェハーは、半導体チップとすべ
く、ダイシング装置を用いて個々のチップに切断分割さ
れる。ダイシング装置は通常、チャックテーブルを備
え、このテーブル上にウェハーを載置するとともにウェ
ハーを吸着固定し、その状態で、高速に回転するブレー
ドによりウェハーを切断する。この切断の際、発生する
切り屑を除去したり、また摩擦熱などによりウェハーが
高温となることを防止するため、ウェハーの切断箇所を
中心に高圧水が供給される。また、ウェハーの裏面側全
体にはあらかじめ粘着シートが貼り付けられており、切
断後のチップは、もとの位置のまま粘着シートに貼り付
き、シートに保持された状態となる。
2. Description of the Related Art A semiconductor wafer is cut and divided into individual chips by using a dicing apparatus in order to form semiconductor chips. The dicing apparatus usually includes a chuck table, places the wafer on the table, fixes the wafer by suction, and cuts the wafer with a high-speed rotating blade in this state. During this cutting, high-pressure water is supplied mainly to the cut portion of the wafer in order to remove chips generated and to prevent the wafer from becoming hot due to frictional heat or the like. Further, an adhesive sheet is attached in advance to the entire back surface side of the wafer, and the cut chips are attached to the adhesive sheet in their original positions and are held by the sheet.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、チップのサイ
ズが小さい場合には、チップは、ブレードが高速回転
し、また上記高圧水が噴射されることから振動してしま
い、その結果、チップが割れるなどの損傷が発生し易く
なる。このような損傷は、チップサイズが小さい場合に
限らず、ウェハーの厚みが薄い場合にも発生し易い。粘
着シートや粘着材の材質を硬いものに変えることで、損
傷の発生をある程度抑えることは可能であるが、そのよ
うな対策では不十分であり、製造歩留まりの低下が生じ
ている。
However, when the size of the chip is small, the chip vibrates due to the high-speed rotation of the blade and the injection of the high-pressure water, and as a result, the chip is broken. Such damage is likely to occur. Such damage is likely to occur not only when the chip size is small but also when the wafer is thin. Although it is possible to suppress the occurrence of damage to some extent by changing the material of the pressure-sensitive adhesive sheet or the pressure-sensitive adhesive material to a hard material, such measures are insufficient, and the production yield is lowered.

【0004】本発明はこのような問題を解決するために
なされたもので、その目的は、ウェハーをチップに切断
する際にチップが損傷することを確実に防止できるダイ
シング装置およびダイシング方法を提供することにあ
る。
The present invention has been made to solve such a problem, and an object of the present invention is to provide a dicing apparatus and a dicing method capable of reliably preventing chips from being damaged when a wafer is cut into chips. It is in.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するため、ウェハーを載置するテーブルと、ブレード
とを備え、前記ブレードにより前記テーブル上の前記ウ
ェハーを個々のチップに切断するダイシング装置であっ
て、前記ブレードの近傍に配設されて、前記ブレードに
より切断された前記ウェハーを上面より前記テーブルに
押圧する押圧手段を備えたことを特徴とする。また、本
発明は、ウェハーをテーブル上に載置し、ブレードによ
り前記ウェハーを個々のチップに切断するダイシング方
法であって、前記ブレードにより前記ウェハーを切断す
る際に、前記ブレード近傍の切断された前記ウェハーを
上面より前記テーブルに押圧することを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention comprises a table on which a wafer is mounted, and a blade, wherein the blade cuts the wafer on the table into individual chips by the blade. The apparatus is characterized in that it has a pressing means disposed near the blade and for pressing the wafer cut by the blade from above on the table. Further, the present invention is a dicing method of placing a wafer on a table and cutting the wafer into individual chips by a blade, wherein when the wafer is cut by the blade, the vicinity of the blade is cut. The wafer is pressed against the table from above.

【0006】本発明では、ブレードにより切断されたウ
ェハーを、押圧手段によりテーブルに押圧するので、切
断により得られたチップが小さい場合、あるいは厚みが
薄い場合でも、チップは確実にテーブルに固定される。
In the present invention, since the wafer cut by the blade is pressed against the table by the pressing means, the chips are securely fixed to the table even if the chips obtained by cutting are small or thin. .

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】次に本発明の実施の形態例につい
て図面を参照して説明する。図1は本発明によるダイシ
ング装置の一例の要部を示す部分拡大断面側面図、図2
は本発明によるダイシング装置の一例を示す正面図であ
る。以下では、これらの図面を参照して本発明によるダ
イシング装置の一例について説明し、同時に本発明のダ
イシング方法の実施の形態例について説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a partially enlarged cross-sectional side view showing a main part of an example of a dicing apparatus according to the present invention.
1 is a front view showing an example of a dicing apparatus according to the present invention. Hereinafter, an example of the dicing apparatus according to the present invention will be described with reference to these drawings, and at the same time, an embodiment of the dicing method according to the present invention will be described.

【0008】図2に示したように、実施の形態例のダイ
シング装置2は、半導体ウェハー4を載置するテーブル
6と、円盤状のブレード8とを備え、ブレード8により
テーブル6上の半導体ウェハー4を個々のICチップに
切断分割する構成となっている。そして、ブレード8に
より切断された半導体ウェハー4を上面よりテーブル6
に押圧すべく押圧手段10が、ブレード8の近傍に配設
されている。押圧手段10は、本実施の形態例では、弾
性材料から成るローラ12と、ローラ12を半導体ウェ
ハー4方向に押圧するスプリングなどの不図示の付勢手
段とを含み、ローラ12は、ブレード面にほぼ直交する
とともに半導体ウェハー面にほぼ平行に延在する仮想軸
線を中心に回転可能となっている。また、ローラ12
は、実施の形態例では、図1、図2に示したようにブレ
ード8の側部に配置されている。一方、半導体ウェハー
4のテーブル6側の面には、図1に示したように、粘着
シート14が全体に貼り付けられている。なお、図1は
ダイシング装置2を図2における矢印Aの方向から見た
状態を示している。
As shown in FIG. 2, the dicing apparatus 2 according to the embodiment includes a table 6 on which a semiconductor wafer 4 is placed, and a disk-shaped blade 8. 4 is divided into individual IC chips. Then, the semiconductor wafer 4 cut by the blade 8 is placed on the table 6 from above.
A pressing means 10 is disposed near the blade 8 so as to press the blade 8. In the present embodiment, the pressing means 10 includes a roller 12 made of an elastic material and a biasing means (not shown) such as a spring for pressing the roller 12 in the direction of the semiconductor wafer 4. It is rotatable about a virtual axis that is substantially orthogonal and extends substantially parallel to the semiconductor wafer surface. The roller 12
Are arranged on the side of the blade 8 as shown in FIGS. 1 and 2 in the embodiment. On the other hand, as shown in FIG. 1, an adhesive sheet 14 is stuck on the entire surface of the semiconductor wafer 4 on the table 6 side. FIG. 1 shows the dicing apparatus 2 viewed from the direction of arrow A in FIG.

【0009】このような構成において、図1、図2に示
したように、半導体ウェハー4を、粘着シート14側を
下にしてテーブル6上に載置してテーブル6に固定し、
ブレード8を高速回転させ、高圧水16を供給しつつ、
半導体ウェハー4をテーブル6とともに矢印Aの方向に
移動させると、図1に示したように、半導体ウェハー4
はブレード8により切断され、ICチップ18が形成さ
れる。このとき、切断する深さはたとえば、図1に示し
たように、粘着シート14の上1/3程度の厚さまでと
し、したがって粘着シート14は完全には切断されない
ので、ICチップ18は粘着シート14に貼り付いてそ
の位置が保たれた状態となっている。
In such a configuration, as shown in FIGS. 1 and 2, the semiconductor wafer 4 is placed on the table 6 with the adhesive sheet 14 side down and fixed to the table 6.
While rotating the blade 8 at high speed and supplying high-pressure water 16,
When the semiconductor wafer 4 is moved together with the table 6 in the direction of arrow A, as shown in FIG.
Is cut by the blade 8 to form an IC chip 18. At this time, the cutting depth is, for example, as shown in FIG. 1, up to about 1/3 of the thickness of the adhesive sheet 14, and the adhesive sheet 14 is not completely cut. 14 and the position is maintained.

【0010】さらに、本実施の形態例では、特に図1に
示したように、ICチップ18はローラ12によりテー
ブル6に押圧されているので、ICチップ18は粘着シ
ート14を介してテーブル6に確実に固定される。そし
て、テーブル6が移動するときローラ12は回転して押
圧箇所が円滑に変更され、ブレード8の切断箇所近傍の
ICチップ18は常にローラ12により押圧固定され
る。したがって、ICチップ18が小さい場合、あるい
は厚みが薄い場合でも、ブレード8の高速回転あるいは
高圧水16の噴射によってICチップ18が振動するこ
とはなく、ICチップ18が損傷することを防止して製
造歩留まりを高めることが可能となる。
Further, in this embodiment, since the IC chip 18 is pressed against the table 6 by the roller 12 as shown in FIG. 1 in particular, the IC chip 18 is pressed onto the table 6 via the adhesive sheet 14. Securely fixed. When the table 6 moves, the roller 12 rotates and the pressed portion is changed smoothly, and the IC chip 18 near the cutting portion of the blade 8 is always pressed and fixed by the roller 12. Therefore, even when the IC chip 18 is small or thin, the IC chip 18 does not vibrate due to the high-speed rotation of the blade 8 or the injection of the high-pressure water 16, and the IC chip 18 is prevented from being damaged. It is possible to increase the yield.

【0011】本実施の形態例では、ローラ12はブレー
ド8の側部に配置したが、ブレード8の後方などに配置
することも無論可能である。また、押圧手段10の形状
はローラ状のものに限定されるものではなく、また材質
も高弾性材、その他、種々に選定できる。いずれにして
も、ブレード8周辺の半導体ウェハー4をテーブル6に
対して押圧できるものであれば、半導体ウェハー4が固
定され振動を防止できるので、同様の作用効果を得るこ
とが可能である。
In this embodiment, the roller 12 is arranged on the side of the blade 8, but it is of course possible to arrange the roller 12 behind the blade 8. Further, the shape of the pressing means 10 is not limited to a roller shape, and the material can be variously selected from high elastic materials and others. In any case, as long as the semiconductor wafer 4 around the blade 8 can be pressed against the table 6, the semiconductor wafer 4 is fixed and vibration can be prevented, so that the same operation and effect can be obtained.

【0012】なお、ローラ12が半導体ウェハー4の表
面に直接接触することで半導体ウェハー表面に傷が発生
する虞のある場合には、半導体ウェハー表面に保護用の
シートなどを貼り付けておけばよい。本実施の形態例で
は半導体ウェハーを切断するとしたが、本発明は半導体
ウェハーに限らずウェハー状のものをチップに切断する
場合に広く適用してその効果を発揮するものである。
If there is a possibility that the surface of the semiconductor wafer will be damaged by the direct contact of the roller 12 with the surface of the semiconductor wafer 4, a protective sheet or the like may be attached to the surface of the semiconductor wafer. . In this embodiment, the semiconductor wafer is cut. However, the present invention is not limited to the semiconductor wafer but is widely applied to a case where a wafer is cut into chips, and the effect is exhibited.

【0013】[0013]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、ウェハー
を載置するテーブルと、ブレードとを備え、前記ブレー
ドにより前記テーブル上の前記ウェハーを個々のチップ
に切断するダイシング装置であって、前記ブレードの近
傍に配設されて、前記ブレードにより切断された前記ウ
ェハーを上面より前記テーブルに押圧する押圧手段を備
えたことを特徴とする。また、本発明は、ウェハーをテ
ーブル上に載置し、ブレードにより前記ウェハーを個々
のチップに切断するダイシング方法であって、前記ブレ
ードにより前記ウェハーを切断する際に、前記ブレード
近傍の切断された前記ウェハーを上面より前記テーブル
に押圧することを特徴とする。
As described above, the present invention is directed to a dicing apparatus that includes a table on which a wafer is placed and a blade, and the blade cuts the wafer on the table into individual chips. A pressing means is provided near the blade and presses the wafer cut by the blade against the table from above. Further, the present invention is a dicing method of placing a wafer on a table and cutting the wafer into individual chips by a blade, wherein when the wafer is cut by the blade, the vicinity of the blade is cut. The wafer is pressed against the table from above.

【0014】したがって、本発明では、ブレードにより
切断されたウェハーを、押圧手段によりテーブルに押圧
するので、切断により得られたチップが小さい場合、あ
るいは厚みが薄い場合でも、チップは確実にテーブルに
固定される。そのため、ブレードの高速回転あるいは高
圧水の噴射によってチップが振動することはなく、チッ
プが損傷することを防止して製造歩留まりを高めること
が可能となる。
Therefore, in the present invention, since the wafer cut by the blade is pressed against the table by the pressing means, the chips are securely fixed to the table even if the chips obtained by cutting are small or thin. Is done. Therefore, the chip does not vibrate due to the high-speed rotation of the blade or the injection of high-pressure water, and it is possible to prevent the chip from being damaged and to increase the production yield.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明によるダイシング装置の一例の要部を示
す部分拡大断面側面図である。
FIG. 1 is a partially enlarged sectional side view showing a main part of an example of a dicing apparatus according to the present invention.

【図2】本発明によるダイシング装置の一例を示す正面
図である。
FIG. 2 is a front view showing an example of a dicing apparatus according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2……ダイシング装置、4……半導体ウェハー、6……
テーブル、8……ブレード、10……押圧手段、12…
…ローラ、14……粘着シート、16……高圧水、18
……ICチップ。
2 ... Dicing device, 4 ... Semiconductor wafer, 6 ...
Table, 8 ... blade, 10 ... pressing means, 12 ...
... roller, 14 ... adhesive sheet, 16 ... high-pressure water, 18
... IC chips.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ウェハーを載置するテーブルと、ブレー
ドとを備え、前記ブレードにより前記テーブル上の前記
ウェハーを個々のチップに切断するダイシング装置であ
って、 前記ブレードの近傍に配設されて、前記ブレードにより
切断された前記ウェハーを上面より前記テーブルに押圧
する押圧手段を備えたことを特徴とするダイシング装
置。
1. A dicing apparatus comprising: a table on which a wafer is mounted; and a blade, wherein the blade cuts the wafer on the table into individual chips, the dicing apparatus being disposed near the blade, A dicing apparatus comprising: a pressing unit configured to press the wafer cut by the blade from above on the table.
【請求項2】 前記押圧手段は、ローラと、前記ローラ
を前記ウェハー方向に押圧する付勢手段とを含み、前記
ローラは、ブレード面にほぼ直交するとともにウェハー
面にほぼ平行に延在する仮想軸線を中心に回転可能とな
っていることを特徴とする請求項1記載のダイシング装
置。
2. The apparatus according to claim 1, wherein the pressing unit includes a roller and a biasing unit that presses the roller toward the wafer, wherein the roller extends substantially perpendicular to the blade surface and substantially parallel to the wafer surface. The dicing apparatus according to claim 1, wherein the dicing apparatus is rotatable about an axis.
【請求項3】 前記ローラは弾性材料から形成され、前
記ブレードの側部に配置されていることを特徴とする請
求項2記載のダイシング装置。
3. The dicing apparatus according to claim 2, wherein the roller is formed of an elastic material and is disposed on a side of the blade.
【請求項4】 ウェハーをテーブル上に載置し、ブレー
ドにより前記ウェハーを個々のチップに切断するダイシ
ング方法であって、 前記ブレードにより前記ウェハーを切断する際に、前記
ブレード近傍の切断された前記ウェハーを上面より前記
テーブルに押圧することを特徴とするダイシング方法。
4. A dicing method in which a wafer is placed on a table and the wafer is cut into individual chips by a blade. When the wafer is cut by the blade, the wafer is cut near the blade. A dicing method, wherein a wafer is pressed from above on the table.
【請求項5】 切断に先立って、前記ウェハーの前記テ
ーブル側の面の全面に粘着シートを貼り付けておき、ウ
ェハーを個々のチップに切断する際、この粘着シートに
ブレードで切断されない部分を残し、ブレードによる切
断後、前記粘着シート上で個々のチップを保持するよう
にしたことを特徴とする請求項4記載のダイシング方
法。
5. An adhesive sheet is pasted on the entire surface of the wafer on the table side prior to cutting, and when the wafer is cut into individual chips, a portion that is not cut by a blade is left on the adhesive sheet. 5. The dicing method according to claim 4, wherein the individual chips are held on the adhesive sheet after cutting by a blade.
JP2000141489A 2000-05-15 2000-05-15 Dicing device and dicing method Pending JP2001326193A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000141489A JP2001326193A (en) 2000-05-15 2000-05-15 Dicing device and dicing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000141489A JP2001326193A (en) 2000-05-15 2000-05-15 Dicing device and dicing method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001326193A true JP2001326193A (en) 2001-11-22

Family

ID=18648592

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000141489A Pending JP2001326193A (en) 2000-05-15 2000-05-15 Dicing device and dicing method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001326193A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9929051B1 (en) 2016-09-23 2018-03-27 Chipbond Technology Corporation Wafer dicing method
CN115488942A (en) * 2022-09-26 2022-12-20 淮安鸣鸿精密机械有限公司 Outer diameter cutter assembly for cotton core production

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9929051B1 (en) 2016-09-23 2018-03-27 Chipbond Technology Corporation Wafer dicing method
KR101847948B1 (en) * 2016-09-23 2018-04-11 칩본드 테크놀러지 코포레이션 Wafer dicing method
CN115488942A (en) * 2022-09-26 2022-12-20 淮安鸣鸿精密机械有限公司 Outer diameter cutter assembly for cotton core production
CN115488942B (en) * 2022-09-26 2023-11-10 淮安鸣鸿精密机械有限公司 Outer diameter cutter assembly for cotton core production

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100624931B1 (en) Semiconductor wafer dividing method
JP6004705B2 (en) Method for forming chip with adhesive film
JP6713212B2 (en) Method for manufacturing semiconductor device chip
JP6144107B2 (en) Wafer cutting method
JP2007096115A (en) Manufacturing method of semiconductor device
JP2000353682A (en) Method for cutting semiconductor protecting tape
TW200800780A (en) Surface protective film peeling method and surface protective film peeling apparatus
JP2006289601A (en) Optical film sheet cutting method, optical film sheet cutting device, optical film provided by this cutting method and image display device having this optical film
KR20130026983A (en) Method for maintaining spaces between chips
JP2011003757A (en) Method of dividing wafer
JP2013055138A (en) Chip interval maintenance method
JP6009240B2 (en) Wafer processing method
KR20210054986A (en) Wafer processing method
WO2005041282A1 (en) Sheet-peeling device and method
JP2005109155A (en) Processing method of semiconductor wafer
JP2001326193A (en) Dicing device and dicing method
JP3325646B2 (en) Semiconductor wafer backside grinding method and protective tape attaching machine
JP2006005131A (en) Method and apparatus for setting masking tape
JP2015082627A (en) Package substrate processing method
JP2017216274A (en) Processing method for wafer
JP2005223130A (en) Splitting method of semiconductor wafer
JP6185792B2 (en) Semiconductor wafer cutting method
JP2009158700A (en) Method of cutting bonding member
JP2018014451A (en) Wafer processing method
JP5623798B2 (en) Processing method of sapphire substrate