JP2001312531A - シミュレーション結果比較装置および比較方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 対象となるシミュレーション結果について、
検証の対象となるポイントや信号を選択して、指定した
検証方法で、時間経過も含め、指定したポイントや信号
のシミュレーション結果の相互比較を容易に行なうこと
ができるシミュレーション結果比較装置の実現を課題と
する。 【解決手段】 磁気テープ記憶装置５に記憶されている
検証対象のダンプファイルを指定するファイル指定手段
と、検証対象となるノードや信号を指定する検証対象指
定手段と、検証の条件等を指定する検証方法指定手段
と、検証する時刻および時間範囲を指定する時間指定手
段と、検証結果のキャラクタディスプレイ６やグラフィ
ックディスプレイ７上での表示方法を指定する結果表示
指定手段とを設け、磁気記憶装置４に格納されているシ
ミュレーション結果比較検証プログラムを用いて検証を
行なう。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、シミュレーション
結果比較装置と比較方法に関し、特にＬＳＩ設計におけ
るシミュレーション結果を比較する比較装置と比較方法
に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＬＳＩのプロセス、デバイス、回路等を
設計するためのツールとしてＬＳＩシミュレータが開発
され、プロセス、デバイス、回路、論理、タイミング、
故障等の検証がこのようなシミュレータによって広く行
われるようになっている。このようなシミュレーション
によって、実際に生起させることが困難な事象をも検証
することができ、大幅な時間やコストの削減が可能にな
り、数式で表現できないような、あるいは数式化が可能
であっても解析が困難な事象を検証することができるよ
うになり、ＬＳＩの設計の上で大きな力になっている。

【０００３】しかしながら、近年のようにＬＳＩの回路
規模が大きくなって素子数が増加した場合に、このよう
なシミュレーションの異なった条件での結果を、相互に
比較して判定することが困難になってきている。こと
に、種々の検証点における種々の条件で、実際に生起す
る事象に相違が生まれるかどうかの具体的な判定が必要
とされることがあるが、従来は簡単な比較が難しく、シ
ミュレーション結果を見比べて判断する方法が一般的で
あった。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上述のごとく、従来
は、ＬＳＩシミュレータによるシミュレーション結果を
相互に比較する適当な方法がなく、作業者が結果を見比
べて比較するのが一般的であった。本発明は、この問題
を比較的簡単な方法で解決して、対象となるシミュレー
ション結果について、検証の対象となるポイントや信号
を選択して、指定した検証方法で、時間経過も含め、指
定したポイントや信号のシミュレーション結果の相互比
較を容易に行なうことができるシミュレーション結果比
較装置および比較方法の実現を課題とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記課題を達成するた
め、本発明は、半導体設計過程でのシミュレーション結
果のダンプファイルを相互に比較して検証するシミュレ
ーション結果比較装置において、前記シミュレーション
結果ダンプファイルを指定するファイル指定手段と、検
証対象となるノードや信号を指定する検証対象指定手段
と、検証の条件等を検証方法として指定する検証方法指
定手段と、検証する時刻および時間範囲を指定する時間
指定手段と、検証結果の表示方法を指定する結果表示指
定手段とを具備することを特徴とする。これにより、検
証の対象となるポイントや信号を選択して、指定した検
証方法で、時間経過も含め、指定したポイントや信号の
シミュレーション結果の相互比較を容易に行なうことが
できるシミュレーション結果比較装置を実現することが
できる。

【０００６】また、半導体設計過程でのシミュレーショ
ン結果のダンプファイルを相互に比較して検証するシミ
ュレーション結果比較方法において、複数の前記シミュ
レーション結果ダンプファイルを指定して読み込むファ
イル指定過程と、検証対象となるノードや信号を指定す
る検証対象指定過程と、検証の条件等を検証方法として
指定する検証方法指定過程と、検証する時刻および時間
範囲を指定する時間指定過程と、複数の前記シミュレー
ション結果ダンプファイルに対して前記検証対象指定過
程で指定した検証対象の前記時間指定過程で指定した時
刻における値を抽出する検証結果抽出過程と、前記検証
結果抽出過程で抽出した検証結果の相互の相違を比較す
る検証結果比較過程と、前記検証結果抽出過程および前
記検証結果比較過程での結果の表示方法を指定する結果
表示指定過程と、前記結果表示指定過程での表示方法に
基づいて結果を表示する表示過程とを具備することを特
徴とする。これにより、検証の対象となるポイントや信
号を選択して、指定した検証方法で、時間経過も含め、
指定したポイントや信号のシミュレーション結果の相互
比較を容易に行なうことができるシミュレーション結果
の比較方法を実現することができる。

【０００７】

【発明の実施の形態】以下、本発明にかかるシミュレー
ション結果比較装置および比較方法を添付図面を参照に
して詳細に説明する。

【０００８】１、装置システム 図１は、本発明のシミュレーション結果比較装置の一実
施の形態を示すブロック図である。図１において、符号
１は主制御装置、符号２はキーボード、符号３はマウ
ス、符号４は磁気記憶装置、符号５は磁気テープ記憶装
置、符号６はキャラクタディスプレイ、符号７はグラフ
ィックディスプレイ、符号８はプリンタ、符号９はプロ
ッタである。

【０００９】主制御装置１では、キーボード２やマウス
３からの制御指令に基づいて磁気記憶装置４や磁気テー
プ記憶装置５に格納されているシミュレーション結果比
較検証プログラムデータやシミュレーション結果ダンプ
ファイルデータを読込み、処理が実行される。処理され
た結果は、キャラクタディスプレイ６やグラフィックデ
ィスプレイ７等に表示される。終了結果は、プリンタ８
やプロッタ９を用いて印刷される。また、磁気記憶装置
４にも同時に検証結果を残すことができる。

【００１０】２、要部の構成・動作・作用 ２・１、ダンプファイル 本発明では、検証の対象としてダンプファイルを必要と
している。このダンプファイルは、設計内で選択された
変数の値の変化に関する情報が入力されたファイルであ
る。図２にダンプファイルの構成を示す。図２の（１）
のヘッダ情報には、日付けやシミュレータのバージョ
ン、使用するタイムスケールなどが記述されている。図
２の（２）の変数定義部には、ダンプする変数のスコー
プ（範囲）とタイプが記載されている。図２の（３）で
は、各時間経過に従って起きる実際の値の変化が記録さ
れる。このダンプファイルは、ＶＬＳＩ設計シミュレー
タで一般的に採用されているフォーマットである。本発
明の比較装置および比較方法は、ＲＴＬ（Resistor Tra
nsistor Logic ）、ゲートなど、設計レべルによらず、
このダンプファイルさえあれば適用することができる。

【００１１】２・２、検証指示ファイル 本発明を用いて検証するためには、検証指示ファイルを
用意する。この検証指示ファイルは図３のような構成に
なっている。検証対象となるダンプファイルを図３の
（１）で指定する。図３の（２）では、検証の対象とな
るノードや信号を指定する。図３の（３）では、検証方
法の指定を行なう。ここでは検証するポイントや、不定
値やハイピーンダンスを無視するかしないかなどの条件
設定を行なう。

【００１２】本発明での検証するポイントは、図４に示
すように時間をサイクル（周期）ベースで考えて指定す
ることである。図４中に示すように、１サイクルをｐｅ
ｒｉｏｄ周期とし、そのサイクルの開始から、ｄｅｌａ
ｙ時間オフセットさせた部分を検証ポイントと定める。
なお、時刻０からのずれはｏｆｆｓｅｔで指定できる。
よって、ｎサイクル目の検証ポイントＴｍｅａｓは、

【００１３】 Ｔｍｅａｓ＝（ｎ−１）＊ｐｅｒｉｏｄ＋ｄｅｌａｙ （１） ただし、 ０≦ｄｅｌａｙ＜ｐｅｒｉｏｄ、０＜ｐｅｒｉｏｄ、１
≦ｎ（整数） で表される。ここで、ｐｅｒｉｏｄ、ｄｅｌａｙ、ｏｆ
ｆｓｅｔの値は自由に設定することができる。

【００１４】図３の（４）では、検証する時間の範囲の
指定をする。また、図３の（５）では、出力させる検証
結果の表示フォーマットなどを指定する。図３の（２）
〜（５）の項目を検証パターンカードとして、検証指示
ファイルに複数個記録しておき、再利用することができ
る。

【００１５】２・３、フローチャート 本発明を用いて比較検証するフローチャートを図５に示
す。この図５を用いて、本発明を説明する。まず、ステ
ップ１で先に示した指示ファイルを読み込む。次に、ス
テップ２で、この指示ファイル内の検証ダンプファイル
指定（図３（１））に従って、ダンプファイルを読み込
む。次に、ステップ３で、検証ポイントの計算を行う。
これは、指示ファイル内の検証方法の指定（図３
（３））に記載されている定義に従い、どのような時間
にどのようなタイミングで検証するかを、ここで計算す
る。

【００１６】続いて、ステップ４で、その指示に従い検
証するノードの値を抽出する。そうして、ステップ５
で、被検証対象と検証対象とで値に相違があるかどうか
のチェックを行う。もし相違がない場合には、ステップ
３へ戻って、次の検証ポイントの計算を行う。相違があ
った場合には、ステップ６で、検証指定ファイル（図３
（５））の結果表示フォーマットに従い結果を出力す
る。ステップ３からステップ６までを検証する時間の範
囲内で行ない、最後にステップ７で最終結果を出力す
る。本発明を組込んだシステムでは、本フローチャート
のステップ１からステップ７までを自動的に実行して、
検証が自動的に行なえるようになっている。以上、本発
明のシミュレーション結果比較装置について説明を行な
ったが、この装置で用いられるシミュレーション結果比
較方法についても、本発明の対象とするものである。

【００１７】

【発明の効果】以上説明したように本発明の請求項１の
発明は、半導体設計過程でのシミュレーション結果のダ
ンプファイルを相互に比較して検証するシミュレーショ
ン結果比較装置において、シミュレーション結果ダンプ
ファイルを指定するファイル指定手段と、検証対象とな
るノードや信号を指定する検証対象指定手段と、検証の
条件等を検証方法として指定する検証方法指定手段と、
検証する時刻および時間範囲を指定する時間指定手段
と、検証結果の表示方法を指定する結果表示指定手段と
を具備することを特徴とする。これにより、検証の対象
となるポイントや信号を選択して、指定した検証方法
で、時間経過も含め、指定したポイントや信号のシミュ
レーション結果の相互比較を容易に行なうことができ、
回路の変更、例えば、ＲＴＬ回路、ゲート回路等での回
路レベルの変更、プロセス変更、回路自体の仕様変更、
回路の小変更や寄生素子の有無の差といった場合の、論
理回路動作の詳細比較を容易に行うことができるシミュ
レーション結果比較装置を実現することができる。さら
にこの装置を用いることで、回路設計時の比較検証時間
の短縮と設計の高品質化に大きく貢献することができ
る。

【００１８】本発明の請求項２の発明は、シミュレーシ
ョン結果ダンプファイルは、日付けやシミュレータのバ
ージョン、使用するタイムスケールなどが記述されてい
るヘッダ情報と、ダンプする変数の範囲と変数のタイプ
が記載されている変数定義部と、変数定義部で定義され
る変数の各時間経過に従って起きる実際の値の変化が記
録された変化記録部とを有することを特徴とする。これ
により、従来のＶＬＳＩ設計シミュレータで一般的に採
用されているフォーマットをそのまま利用することがで
きると共に、比較対象のフォーマットを統一して比較対
象の指定設定を容易にすることができる。

【００１９】本発明の請求項３の発明は、時間指定手段
は、検証する時刻を周期的に指定可能であることを特徴
とする。これにより、同期的に動作するＬＳＩ回路の検
証に適した結果表示指定手段が得られる。

【００２０】本発明の請求項４の発明は、半導体設計過
程でのシミュレーション結果のダンプファイルを相互に
比較して検証するシミュレーション結果比較方法におい
て、複数のシミュレーション結果ダンプファイルを指定
して読み込むファイル指定過程と、検証対象となるノー
ドや信号を指定する検証対象指定過程と、検証の条件等
を検証方法として指定する検証方法指定過程と、検証す
る時刻および時間範囲を指定する時間指定過程と、複数
のシミュレーション結果ダンプファイルに対して検証対
象指定過程で指定した検証対象の時間指定過程で指定し
た時刻における値を抽出する検証結果抽出過程と、検証
結果抽出過程で抽出した検証結果の相互の相違を比較す
る検証結果比較過程と、検証結果抽出過程および検証結
果比較過程での結果の表示方法を指定する結果表示指定
過程と、結果表示指定過程での表示方法に基づいて結果
を表示する表示過程とを具備することを特徴とする。こ
れにより、検証の対象となるポイントや信号を選択し
て、指定した検証方法で、時間経過も含め、指定したポ
イントや信号のシミュレーション結果の相互比較を容易
に行なうことができ、回路の変更、例えば、ＲＴＬ回
路、ゲート回路等での回路レベルの変更、プロセス変
更、回路自体の仕様変更、回路の小変更や寄生素子の有
無の差といった場合の、論理回路動作の詳細比較を容易
に行うことができるシミュレーション結果比較方法を実
現することができる。さらにこの方法を用いることで、
回路設計時の比較検証時間の短縮と設計の高品質化に大
きく貢献することができる。

【００２１】本発明の請求項５の発明は、シミュレーシ
ョン結果ダンプファイルは、日付けやシミュレータのバ
ージョン、使用するタイムスケールなどが記述されてい
るヘッダ情報と、ダンプする変数の範囲と変数のタイプ
が記載されている変数定義部と、変数定義部で定義され
る変数の各時間経過に従って起きる実際の値の変化が記
録された変化記録部とを有することを特徴とする。これ
により、従来のＶＬＳＩ設計シミュレータで一般的に採
用されているフォーマットをそのまま利用することがで
きると共に、比較対象のフォーマットを統一して比較対
象の指定設定を容易にすることができる。

【００２２】本発明の請求項６の発明は、時間指定過程
は、検証する時刻を周期的に指定可能であることを特徴
とする。これにより、同期的に動作するＬＳＩ回路の検
証に適した結果表示指定方法を実現することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のシミュレーション結果比較装置の一実
施の形態を示すブロック図。

【図２】本発明で用いられるダンプファイルの構成を示
す説明図。

【図３】本発明で用いられる検証指示ファイルの構成を
示す説明図。

【図４】本発明で行なわれる周期的な検証ポイント指定
の説明図。

【図５】本発明での比較検証方法を示すフローチャー
ト。

【符号の説明】

１…主制御装置、２…キーボード、３…マウス、４…磁
気記憶装置、５…磁気テープ記憶装置、６…キャラクタ
ディスプレイ、７…グラフィックディスプレイ、８…プ
リンタ、９…プロッタ。

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 半導体設計過程でのシミュレーション結
   果のダンプファイルを相互に比較して検証するシミュレ
   ーション結果比較装置において、 前記シミュレーション結果ダンプファイルを指定するフ
   ァイル指定手段と、 検証対象となるノードや信号を指定する検証対象指定手
   段と、 検証の条件等を検証方法として指定する検証方法指定手
   段と、 検証する時刻および時間範囲を指定する時間指定手段
   と、 検証結果の表示方法を指定する結果表示指定手段とを具
   備することを特徴とするシミュレーション結果比較装
   置。
2. 【請求項２】 前記シミュレーション結果ダンプファイ
   ルは、 日付けやシミュレータのバージョン、使用するタイムス
   ケールなどが記述されているヘッダ情報と、 ダンプする変数の範囲と変数のタイプが記載されている
   変数定義部と、 前記変数定義部で定義される前記変数の各時間経過に従
   って起きる実際の値の変化が記録された変化記録部とを
   有することを特徴とする請求項１に記載のシミュレーシ
   ョン結果比較装置。
3. 【請求項３】 前記時間指定手段は、前記検証する時刻
   を周期的に指定可能であることを特徴とする請求項１に
   記載のシミュレーション結果比較装置。
4. 【請求項４】 半導体設計過程でのシミュレーション結
   果のダンプファイルを相互に比較して検証するシミュレ
   ーション結果比較方法において、 複数の前記シミュレーション結果ダンプファイルを指定
   して読み込むファイル指定過程と、 検証対象となるノードや信号を指定する検証対象指定過
   程と、 検証の条件等を検証方法として指定する検証方法指定過
   程と、 検証する時刻および時間範囲を指定する時間指定過程
   と、 複数の前記シミュレーション結果ダンプファイルに対し
   て前記検証対象指定過程で指定した検証対象の前記時間
   指定過程で指定した時刻における値を抽出する検証結果
   抽出過程と、 前記検証結果抽出過程で抽出した検証結果の相互の相違
   を比較する検証結果比較過程と、 前記検証結果抽出過程および前記検証結果比較過程での
   結果の表示方法を指定する結果表示指定過程と、 前記結果表示指定過程での表示方法に基づいて結果を表
   示する表示過程と を具備することを特徴とするシミュレーション結果比較
   方法。
5. 【請求項５】 前記シミュレーション結果ダンプファイ
   ルは、 日付けやシミュレータのバージョン、使用するタイムス
   ケールなどが記述されているヘッダ情報と、 ダンプする変数の範囲と変数のタイプが記載されている
   変数定義部と、 前記変数定義部で定義される前記変数の各時間経過に従
   って起きる実際の値の変化が記録された変化記録部とを
   有することを特徴とする請求項４に記載のシミュレーシ
   ョン結果比較方法。
6. 【請求項６】 前記時間指定過程は、前記検証する時刻
   を周期的に指定可能であることを特徴とする請求項４に
   記載のシミュレーション結果比較方法。