JP2001311774A - 装置間の照準誤差を補正するための方法及び装置 - Google Patents
装置間の照準誤差を補正するための方法及び装置Info
- Publication number
- JP2001311774A JP2001311774A JP2001019906A JP2001019906A JP2001311774A JP 2001311774 A JP2001311774 A JP 2001311774A JP 2001019906 A JP2001019906 A JP 2001019906A JP 2001019906 A JP2001019906 A JP 2001019906A JP 2001311774 A JP2001311774 A JP 2001311774A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vector
- target
- aiming
- sensor
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F41—WEAPONS
- F41G—WEAPON SIGHTS; AIMING
- F41G3/00—Aiming or laying means
- F41G3/32—Devices for testing or checking
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F41—WEAPONS
- F41G—WEAPON SIGHTS; AIMING
- F41G3/00—Aiming or laying means
- F41G3/32—Devices for testing or checking
- F41G3/323—Devices for testing or checking for checking the angle between the muzzle axis of the gun and a reference axis, e.g. the axis of the associated sighting device
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F41—WEAPONS
- F41G—WEAPON SIGHTS; AIMING
- F41G11/00—Details of sighting or aiming apparatus; Accessories
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F41—WEAPONS
- F41G—WEAPON SIGHTS; AIMING
- F41G5/00—Elevating or traversing control systems for guns
- F41G5/26—Apparatus for testing or checking
Landscapes
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
- Attitude Control For Articles On Conveyors (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Eye Examination Apparatus (AREA)
- Control Of Position Or Direction (AREA)
- Body Structure For Vehicles (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Feedback Control In General (AREA)
- Fire Alarms (AREA)
- Aiming, Guidance, Guns With A Light Source, Armor, Camouflage, And Targets (AREA)
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
- Formation Of Various Coating Films On Cathode Ray Tubes And Lamps (AREA)
Abstract
ことができる、装置間の照準誤差を補正するための方法
及び装置を提供する。 【解決手段】 この方法及び装置は、目標追跡装置
(T)により目標測定センサ(Sg)を有する大砲
(G)を共通の測定目標(K,Ki)に照準することに
よって射撃制御システムの装置と兵器設備との間の照準
誤差を補正するために使用され、測定目標(Ki)の位
置と目標追跡装置(T)によって制御され目標測定セン
サ(Sg)の照準(O)によって表示される大砲(G)
の位置との間の偏差値(Di)が検出される。偏差位置
の評価に続いて、照準誤差ベクトル(B)が処理され、
大砲のサーボ制御において考慮される。照準誤差ベクト
ル(B)の補正は、最小誤差二乗法によって帰納的に実
行される。
Description
記センサ装置によりサーボ装置を介して制御される実行
装置との間の照準誤差を、照準誤差ベクトル(B)を補
正することによって補正するための方法に関する。本発
明はまた、この方法を実行するための装置に関する。
間の照準誤差を補正するための方法は欧州特許公報EP
−0314721−B1によって公知であり、この場合
の装置としては射撃制御システム及び兵器架台が考えら
れる。この方法は、停止時の射撃制御システムと搭載兵
器とによって測定される搭載された装置の概略位置の装
置補正値を使用することと、砲架車のサーボ制御に際し
てこの補正値を考慮することによって実行される。装置
のためのこの補正値は、工場において公知であり、及び
/又は測定された値から決定される。
問題点を解決し、上述の従来技術の方法における補正精
度を改善することができる、装置間の照準誤差を補正す
るための方法及び装置を提供することにある。
準誤差を補正するための方法は、照準誤差ベクトル
(B)の補正によって、センサ装置(T,T1,T2)
と、サーボ装置を介して上記センサ装置(T,T1,T
2)によって制御される実行装置(G,G1,G2,G
3)との間の照準誤差を補正するための方法であって、
(a)センサ装置(T,T1,T2)を測定目標
(Ki)に照準する方法ステップと、(b)上記実行装
置(G,G1,G2,G3)内に設けられた目標測定セ
ンサ(Sg)をこの測定目標(Ki)に照準する方法ス
テップとを含み、それ故、上記測定目標(Ki)はセン
サ装置(T,T1,T2)及び実行装置(G,G1,G
2,G3)に共通の測定目標(Ki)を構成し、(c)
センサ装置(T,T1,T2)によって制御される実行
装置(G,G1,G2,G3)から発生する結果である
目標測定センサ(Sg)の照準線(O)の位置と、目標
測定センサ(Sg)によって検出される測定目標
(Ki)の位置との間の偏差値(Di)を検出する方法
ステップと、(d)既存の照準誤差ベクトル(B)を制
御の入力信号として使用する方法ステップと、(e)続
いて最小誤差二乗法による偏差値(Di)を基礎として
照準誤差ベクトル(B)の帰納的補正を実行する方法ス
テップとを含むことを特徴とする。
ベクトル(B)を補正するために、方法ステップのi=
1乃至i=nにおいて帰納的に演算されたベクトル(P
n)が演算され、当該ベクトル(Pn)は、測定目標
(Ki)の測定される各位置の偏差値(Di)の少なく
とも2つの成分又は座標を有し、演算されたベクトル
(Pi)の補正は初期値又は予め演算された値に変換行
列(Mi)を乗算することによって行われ、これによ
り、測定目標の座標は目標測定センサ(Sg)の方位角
(αgi)と仰角(λgi)との関数として変換される
ことを特徴とする。
は、好ましくは、次式
あることを特徴とする。
各処理ステップiにおいて、共分散行列(Si)はまた
次式を用い、
期値が用いられ、i=1,2,3,…,nであることを
特徴とする。
トル(E)は次式の漸化式
zi’]は偏差値(d)の成分を有するベクトルである
ことを特徴とする。
納的な方法ステップは、i=1で開始されるときの、M
iに対して演算された値と、
で開始され、これから、誤差値Eiは、上記漸化式
化式
あることを特徴とする。
上記補正ベクトル(Pi)は4つの成分Δxi、Δ
yi、Δzi及びΔλiのうちの少なくとも2つによっ
て形成されることを特徴とする。
は、上記演算は補正ベクトルPi=[Δxi,Δyi,
Δzi,Δλi]を用いて実行され、かつ下記の値
は少なくとも実質的に49.25であることを特徴とす
る。
は、共通の測定目標(Ki)は、予め選択された空中の
軌道上にヘリコプター(10)によって案内されること
を特徴とする。
ための装置は、照準誤差ベクトル(B)の補正によっ
て、センサ装置(T,T1,T2)と、サーボ装置を介
して上記センサ装置(T,T1,T2)によって制御さ
れる実行装置(G,G1,G2,G3)との間の照準誤
差を補正するための装置であって、 センサ装置(T,T1,T2)は測定目標(Ki)に照
準するように具現化され、 目標測定センサ(Sg)は実行装置(G,G1,G2,
G3)内に設置されていてこの測定目標(Ki)に照準
するように具現化され、従って上記測定目標(Ki)は
センサ装置(T,T1,T2)及び実行装置(G,G
1,G2,G3)の共通の測定目標(Ki)を較正する
ことが可能であり、 表示手段は、センサ装置(T,T1,T2)によって制
御される実行装置(G,G1,G2,G3)から発生す
る結果である目標測定センサ(Sg)の照準線(O)の
位置と、目標測定センサ(Sg)によって検出される測
定目標(Ki)の位置との間の偏差値(Di)を検出す
るために設けられ、 コンピュータ手段は、既存の照準誤差ベクトル(B)か
らサーボ制御のための入力信号を取得するためと、続い
て最小誤差二乗法による偏差値(Di)を基礎として照
準誤差ベクトル(B)の補正を実行するために設けられ
たことを特徴とする。
載の方法と請求項10記載の装置とを使用する効果的な
方法で達成される。
幾何学的配置からのシステム偏移を考慮することによ
り、砲火中に砲架車サーボの制御値を演算する際の精度
を上げることができる。
従属する請求項に記載されている。
る実施形態について例示的に説明する。
御装置T1及びT2の形式の2基のセンサ装置と、大砲
G1、G2、G3の形式のコンピュータで制御される3
基の実行装置(又はイフェクタ装置)とによる配置を示
している。センサ装置と実行装置とは、船上又は地上で
の位置づけが可能である。これらのすべての装置T1、
T2、G1、G2、G3は砲架車又は砲床内に配置さ
れ、少なくとも機械的におおまかに整列配置される。
センサ装置T及び実行装置Gを備える単一の搭載装置と
が表示されている。センサ装置Tは、例えば大砲Gを制
御するための同じくTで同定される射撃制御装置又は照
準装置であることが可能である。大砲Gには、例えばT
VセンサSgが提供されることが可能である。射撃制御
装置Tは、データ回線又は信号回線11を介して大砲G
を制御する。大砲G及び照準装置Tは、ヘリコプター1
0の支持ケーブル12に付着されている例えば同じくK
で同定された球体である共通の観測目標Kに照準され
る。
は照準誤差ベクトルBの補正、もしくは例えばB11、
B12、B21、B22、B31、B32である複数の
照準誤差ベクトルBjkの補正を定義することが意図さ
れている。この場合の照準誤差ベクトルB又は複数の照
準誤差ベクトルBjkは、概略位置の測定、工場での測
定値等から公知でありかつ記憶されているベースベクト
ルであることが想定されている。
行され、これらの照準誤差ベクトルB又はBjkの公知
の値が、幾つかのステップもしくはその後の幾つかの測
定において改善される。従って、ステップ数iの後に、
次式が演算された補正ベクトルPnによって補正された
照準ベクトル値Bに適用される。ここで、iは1からn
までの整数を表す。
クトルであり、B(old)は古い照準誤差ベクトルで
ある。n回の測定の後、Pn.Psを仮定することが可
能である。ここで、Psはこうしたシステムの補正のた
めの真の又は正確な値であり、しかもそれ自体では達成
され得ない値である。
配置されているとすると、その積荷、その時点の燃料又
は船体の形状の変化、その他によって船の重量が変化し
た場合には、補正値Psの値は新しいものとなる。これ
もやはり、ヘリコプター10に固定された球体Kを使用
して行われる測定によって、新たなPnの形式でおおま
かに決定される。例えば特に、爆発に続くたわみや捻れ
による船体形状の極めて僅かな変化でも、基準角度を比
較的大きく変化させる。こうした極めて小さい変化をも
考慮することが、本発明の目的の1つである。
TVセンサSgが、例えば観測目標K又は球体K、すな
わち概してディスプレイの十字線の交点0から所定の偏
移量を有する実際の位置にある球体Kを如何にして「見
る」かを表している。TVセンサSgによって直接観測
されることが可能なこの偏差は、製造上の尤度又は摩
耗、概略位置測定における残留誤差、船体形状の変化、
測定ノイズ等によって生じる機械的不正確さといったあ
らゆるタイプの全システム誤差の結果としての位置上の
誤差である。偏差は、2つの成分を有する開口ベクトル
Diであると考えることが可能であり、これは、転置さ
れて次式のように表すことができる。
トルDiの軸y’又は軸z’における成分である。開口
ベクトルDiの長さの値dは、図3により次のように演
算することができる。
である成分dyi’及びdzi’を長さ又は距離によっ
て表示できるように、予め決められた距離に従って較正
される。開口ベクトルDiには、次式が適用される。
書において、*は乗算を意味する。
に、熱雑音の他に、海のうねり、サーボシステムの不正
確さ及び操作者が図3に表示された+マークをその瞬間
位置K iにおける測定目標の真上に配置することができ
ないという事実等がある。
び大砲Gの領域において定義される。照準装置T及び大
砲Gが地上に配置される場合には、例えばX軸は北へ、
Y軸は東へ、Z軸は地球の中心へと配向される。照準装
置T及び大砲Gが船上に配置される場合には、例えばX
軸は船の長手方向の軸であり、Y軸は横軸であり、Z軸
はX軸及びY軸に直交する右手側の軸である。X軸、Y
軸及びZ軸で定義される座標システムでは、測定目標K
iが値をとることのできるすべての位置はxK、yK及
びzKの3座標によって決定される。ここで、弾道学で
は、実際的理由から角度値αK及びλKが座標として使
用される。この場合、方位角はαkで、仰角はλkで同
定される。従って、αK及びλKの値は冗長性である。
座標xK、yK、zK及びλKは目標ベクトルOKiの
成分であると考えられており、この場合、方位角α又は
仰角λもまたこれらの座標から演算することができる。
図4の平面X−Y上におけるベクトルOKの投影は直線
gを画成し、同じく平面X−Yに位置しかつゼロ点上記
0で上記直線gと垂直に交差する直線はλ軸として選択
される。
iは、好ましくは次のように4つの成分を有する。
iは小さい角度値であり、ΔxiはX軸の回りの回転、
ΔyiはY軸の回りの回転、ΔziはZ軸の回りの回
転、Δλiはλ軸の回りの回転である。
わち大砲Gの回転面がセンサ装置、すなわち照準装置T
の回転面に平行でないことから生じる。
有し、よって、X軸の回りの回転Δxi及びY軸の回り
の回転Δyiの2つの回転によって補正されることが可
能である。ここで、Z軸の回りの回転Δziもまた方位
角の回転Δαを含む。従って、以下のように定義される
変換行列Miが、目標ベクトルOKiによって定義され
る目標の各位置に、もしくは各処理ステップiに存在す
る。
また、各処理ステップiには次のような共分散行列も存
在する。
差ベクトルE(式の誤差)が次式によって定義される。
る。
しくは、実質的に又は近似的に49.25である。
対して演算された値及び測定された値
により、Ei及びSiの値が上述の漸化式を用いて決定
され、また続いてPiが次式の漸化式を用いて決定され
る。
数J(p)(性能)を最小化する。
[Di−Mi*Pi]T*[Di−Mi*Pi]
n)は、当該演算子の引数において、iを1からnまで
変化したときの引数の和を示す。本発明によるアルゴリ
ズムは、最小誤差二乗法の特別なアプリケーションを基
礎とするものであり、「最も効果的な」値は、Diに対
して観測された値と
いて演算される。
MiによってベクトルDiに変換される、もしくは成分
Δxi、Δyi、Δzi及びΔλiが成分dyi’、d
zi’に変換される。行列Sは、観測面における不確定
さを避けるために使用される(図3)。行列Sは先に指
摘した共分散行列であり、特に直交対称的に展開される
測定の場合には、結果的に対角線すなわち軌道Spに消
尽値を有し、もしくは収束数が0となる対角対称行列に
なる。この収束数の点位置に関するテストは、定数Cと
して値49.25又は492.5などを選択すれば効果
的であることを示している。C=49.25では、共分
散行列Snの軌道の値は、十分に大きな測定数又はステ
ップ数nで開始時の99.99…から約0.03にまで
減少する。ここで、定数は1であることも可能であり、
またどんな任意値をも有することが可能である。例えば
25<n<400、好ましくは、n=200である測定
数又は帰納ステップ数nの後、Pnの値は求める値Ps
になる。
目標Kの多数の実際位置を十字+で示している。図6に
は、これらの位置の相応に補正された値が表示されてい
る。このX−Y−Z座標システムが船を基礎とするもの
であれば、ヘリコプター10は好ましくは、船の周囲を
半径約1.5kmの大きさを有する円形軌道で螺旋状
に、もしくは漸増する仰角αTi、λTi、ΔTiで飛
行する。照準装置Tによって決定されたデータを基礎と
し、かつこれまでに公知となったパラメータ、特に照準
装置Tと大砲Gとの視差を考慮して、(大砲Gの射線又
は小視差でオフセットされた兵器管の軸ではなく)大砲
Gのセンサ照準線0が好ましくは自動的に目標Kiへと
可能な限り良好に照準される。センサ(Sg)の照準線
十字の交点(図3)は、測定目標Kiがあると思われる
方向に狙いをつける。
る点は各々、ヘリコプター10で運ばれる目標Kの各位
置Kiに対応する測定された値αKi又はλKi、すな
わち大砲Gの方位角又は仰角に関連している。これに対
して、図6は、本方法による補正に続いてさらなる測定
が実際問題として可能である場合に全く同一の条件下で
測定される理論上の値α又はλに対応するものである。
現実には、ヘリコプター10を使用して先の測定の間と
全く同一の位置で、かつ船に関して同一の条件下で測定
を繰り返すことは不可能である。
点+は図6のゼロ点に一致しなければならない。しかし
ながら、図6に表示されているように不可避的な残留誤
差R iにより、複数の点+はゼロ点0に一致しない、す
なわち統計的にはゼロ点0から発散性の偏差が生じる。
ここで、その分布には平均の値がない、すなわち発散す
る点の平均値は両軸上のゼロである。
通路を使用して動作するほかのアルゴリズムと比較する
と、本発明に係るアルゴリズムは、本発明による初期化
には全く問題がなく、かつ特異性(行列式=0)は絶対
に発生しないためにシステムの「脱線」の心配がない、
という事実から見て特に効果的であることが示されてい
る。このような「脱線」は、例えば各通路において測定
された値を正弦曲線等の予め決められた曲線に一致させ
ようと試行されるような場合に発生する可能性がある。
に記載されたシステムの場合のように、照準誤差ベクト
ルの補正の基礎である測定に基づく補正データは、不正
照準をリアルタイムで補正する効力を有している。この
場合も測定は随時、例えば4週間又は6週間毎に実行し
て補正データを例えば船に関する変動する条件に整合さ
せることが可能である。これは、随時取得される測定値
はシステムへと統合されることが可能であり、よってシ
ステムに内在するものであり、故に各々直接は観測され
ることが不可能な誤差に対応していることを意味してい
る。
照準装置、レーダ、レーザ又は赤外線装置等であること
が可能であり、もしくはこうした装置の幾つかを組み合
わせたものであってもよい。実行装置G(大砲類)とし
ては、例えばカノン砲等の従来の大砲以外にもロケット
発射装置やレーザガンが使用される。測定は、異なるG
/TペアB11、B12、B21、B22、…(図1参
照)で行うことが可能であり、1つのセンサ装置Tで数
個の実行装置Gを制御することができる。
形例による様々な方法、又は部分的方法、もしくはその
任意の組合せを可能にするために、必要な制御装置、コ
ンピュータ手段又はハードウェア及びプログラム又はソ
フトウェアを保有することができる。
義された理想的な幾何学的配置からのシステム偏移を考
慮することにより、砲火中に砲架車サーボの制御値を演
算する際の精度を上げることができる。これにより、従
来技術の方法における補正精度を改善することができ
る、装置間の照準誤差を補正するための方法及び装置を
提供することができる。
あって、センサ装置と実行装置との各位置の相互リンク
を示す概略ブロック図である。
定を実行中の個々の観測状況を示す概略ブロック図であ
る。
ラフである。
するための図である。
ラフである。
れた値の結果を示すグラフである。
Claims (10)
- 【請求項1】 照準誤差ベクトル(B)の補正によっ
て、センサ装置(T,T1,T2)と、サーボ装置を介
して上記センサ装置(T,T1,T2)によって制御さ
れる実行装置(G,G1,G2,G3)との間の照準誤
差を補正するための方法であって、(a)センサ装置
(T,T1,T2)を測定目標(Ki)に照準する方法
ステップと、(b)上記実行装置(G,G1,G2,G
3)内に設けられた目標測定センサ(Sg)をこの測定
目標(Ki)に照準する方法ステップとを含み、それ
故、上記測定目標(Ki)はセンサ装置(T,T1,T
2)及び実行装置(G,G1,G2,G3)に共通の測
定目標(Ki)を構成し、(c)センサ装置(T,T
1,T2)によって制御される実行装置(G,G1,G
2,G3)から発生する結果である目標測定センサ(S
g)の照準線(O)の位置と、目標測定センサ(Sg)
によって検出される測定目標(Ki)の位置との間の偏
差値(Di)を検出する方法ステップと、(d)既存の
照準誤差ベクトル(B)を制御の入力信号として使用す
る方法ステップと、(e)続いて最小誤差二乗法による
偏差値(Di)を基礎として照準誤差ベクトル(B)の
帰納的補正を実行する方法ステップとを含むことを特徴
とする装置間の照準誤差を補正するための方法。 - 【請求項2】 照準誤差ベクトル(B)を補正するため
に、方法ステップのi=1乃至i=nにおいて帰納的に
演算されたベクトル(Pn)が演算され、当該ベクトル
(Pn)は、測定目標(Ki)の測定される各位置の偏
差値(Di)の少なくとも2つの成分又は座標を有し、 演算されたベクトル(Pi)の補正は初期値又は予め演
算された値に変換行列(Mi)を乗算することによって
行われ、これにより、測定目標の座標は目標測定センサ
(Sg)の方位角(αgi)と仰角(λgi)との関数
として変換されることを特徴とする請求項1記載の方
法。 - 【請求項3】 上記変換行列は、次式 【数1】 によって定義され、ここで、i=1,2,3,…,nで
あることを特徴とする請求項1又は2記載の方法。 - 【請求項4】 各処理ステップiにおいて、共分散行列
(Si)はまた次式を用い、 【数2】 ここで、Iは単位行列であり、初期化のためにS0の初
期値が用いられ、i=1,2,3,…,nであることを
特徴とする請求項2又は3記載の方法。 - 【請求項5】 誤差ベクトル(E)は次式の漸化式 【数3】Ei=Di−Mi*Pi−1 を用いて演算され、ここで、Di=[dyi’ d
zi’]は偏差値(d)の成分を有するベクトルである
ことを特徴とする請求項2乃至4のいずれか1つに記載
の方法。 - 【請求項6】 帰納的な方法ステップは、i=1で開始
されるときの、Miに対して演算された値と、 【数4】Di=[dyi’ dzi’]T の測定値とを用いて、自由に選択可能な値P0及びS0
で開始され、これから、誤差値Eiは、上記漸化式 【数5】Ei=Di−Mi*Pi−1 を用いて演算され、 補正ベクトル(Pi)は、次式の漸化式 【数6】Pi=Pi−1+Si*Mi T*Ei を用いて演算され、ここで、i=1,2,3,…,nで
あることを特徴とする請求項5記載の方法。 - 【請求項7】 上記補正ベクトル(Pi)は4つの成分
Δxi、Δyi、Δzi及びΔλiのうちの少なくとも
2つによって形成されることを特徴とする請求項2乃至
5のうちのいずれか1つに記載された方法。 - 【請求項8】 上記演算は補正ベクトルPi=[Δ
xi,Δyi,Δzi,Δλi]を用いて実行され、か
つ下記の値 【数7】Po=[0 0 0 0]T 及び 【数8】 を用いて初期化され、ここで、Cは定数であり、定数C
は少なくとも実質的に49.25であることを特徴とす
る請求項3乃至7のうちのいずれか1つに記載された方
法。 - 【請求項9】 共通の測定目標(Ki)はヘリコプター
(10)によって案内されることを特徴とする請求項1
乃至8のうちのいずれか1つに記載された方法。 - 【請求項10】 照準誤差ベクトル(B)の補正によっ
て、センサ装置(T,T1,T2)と、サーボ装置を介
して上記センサ装置(T,T1,T2)によって制御さ
れる実行装置(G,G1,G2,G3)との間の照準誤
差を補正するための装置であって、 センサ装置(T,T1,T2)は測定目標(Ki)に照
準するように具現化され、 目標測定センサ(Sg)は実行装置(G,G1,G2,
G3)内に設置されていてこの測定目標(Ki)に照準
するように具現化され、従って上記測定目標(Ki)は
センサ装置(T,T1,T2)及び実行装置(G,G
1,G2,G3)の共通の測定目標(Ki)を較正する
ことが可能であり、 表示手段は、センサ装置(T,T1,T2)によって制
御される実行装置(G,G1,G2,G3)から発生す
る結果である目標測定センサ(Sg)の照準線(O)の
位置と、目標測定センサ(Sg)によって検出される測
定目標(Ki)の位置との間の偏差値(Di)を検出す
るために設けられ、 コンピュータ手段は、既存の照準誤差ベクトル(B)か
らサーボ制御のための入力信号を取得するためと、続い
て最小誤差二乗法による偏差値(Di)を基礎として照
準誤差ベクトル(B)の補正を実行するために設けられ
たことを特徴とする装置間の照準誤差を補正するための
装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH00818/00A CH694743A5 (de) | 2000-04-26 | 2000-04-26 | Verfahren und Vorrichtung zur Korrektur von Ausrichtfehlern zwischen einer Sensoreinrichtung und einer Effektoreneinrichtung. |
CH20000818/00 | 2000-04-26 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001311774A true JP2001311774A (ja) | 2001-11-09 |
JP4846102B2 JP4846102B2 (ja) | 2011-12-28 |
Family
ID=4539149
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001019906A Expired - Fee Related JP4846102B2 (ja) | 2000-04-26 | 2001-01-29 | 装置間の照準誤差を補正するための方法及び装置 |
Country Status (11)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20010047248A1 (ja) |
EP (1) | EP1152206B1 (ja) |
JP (1) | JP4846102B2 (ja) |
KR (1) | KR100817966B1 (ja) |
AT (1) | ATE288070T1 (ja) |
CH (1) | CH694743A5 (ja) |
DE (1) | DE50009355D1 (ja) |
DK (1) | DK1152206T3 (ja) |
ES (1) | ES2233276T3 (ja) |
MY (1) | MY122819A (ja) |
PT (1) | PT1152206E (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101376689B1 (ko) | 2012-12-13 | 2014-03-20 | 국방과학연구소 | 포신 영상을 활용한 포사격 통제시스템의 흔들림 오차 보정 방법 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE50201716D1 (de) * | 2001-11-23 | 2005-01-13 | Contraves Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Beurteilen von Richtfehlern eines Waffensystems und Verwendung der Vorrichtung |
EP1314950B1 (de) * | 2001-11-23 | 2005-11-16 | Oerlikon Contraves Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Beurteilen der Richtfehler eines Waffensystems und Verwendung der Vorrichtung |
SE525000C2 (sv) * | 2003-03-04 | 2004-11-09 | Totalfoersvarets Forskningsins | Sätt att bringa en projektil i kastbana att verka i en önskad punkt vid en beräknad tidpunkt |
SE526742C2 (sv) * | 2004-10-13 | 2005-11-01 | Goeran Backlund | Anordning för automatisk inställning av optiskt sikte för skjutvapen |
US8545226B2 (en) * | 2007-02-23 | 2013-10-01 | Christian Emmanuel Norden | Firearm shooting simulator |
KR101222531B1 (ko) * | 2010-09-01 | 2013-01-15 | 국방과학연구소 | 다중표적처리장치에서 거리 구간별 다른 가중치의 융합 기준을 가지는 표적 융합 방법 |
KR101815678B1 (ko) * | 2011-09-14 | 2018-01-05 | 한화지상방산 주식회사 | 영상 장치 연동 무장 시스템 및 그 동작 방법 |
WO2015164382A1 (en) * | 2014-04-21 | 2015-10-29 | Maybank Joseph | Impact sensing ballistic vest and method for communicating data thereof |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04263796A (ja) * | 1991-01-10 | 1992-09-18 | Mitsubishi Electric Corp | 自動照準誤差修正方法及びその装置 |
US5208418A (en) * | 1987-05-15 | 1993-05-04 | Oerlikon-Contraves Ag | Aligning method for a fire control device and apparatus for carrying out the alignment method |
JPH1089896A (ja) * | 1996-09-11 | 1998-04-10 | Yokogawa Denshi Kiki Kk | 射撃指揮装置 |
JPH10206094A (ja) * | 1997-01-23 | 1998-08-07 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | シースルー型hmdにおける視線方向情報校正方法及び装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5303878A (en) * | 1991-08-30 | 1994-04-19 | Texas Instruments Incorporated | Method and apparatus for tracking an aimpoint on an elongate structure |
-
2000
- 2000-04-26 CH CH00818/00A patent/CH694743A5/de not_active IP Right Cessation
- 2000-12-30 ES ES00128755T patent/ES2233276T3/es not_active Expired - Lifetime
- 2000-12-30 DE DE50009355T patent/DE50009355D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2000-12-30 DK DK00128755T patent/DK1152206T3/da active
- 2000-12-30 AT AT00128755T patent/ATE288070T1/de not_active IP Right Cessation
- 2000-12-30 EP EP00128755A patent/EP1152206B1/de not_active Expired - Lifetime
- 2000-12-30 PT PT00128755T patent/PT1152206E/pt unknown
-
2001
- 2001-01-08 MY MYPI20010050A patent/MY122819A/en unknown
- 2001-01-09 KR KR1020010001095A patent/KR100817966B1/ko active IP Right Grant
- 2001-01-24 US US09/768,425 patent/US20010047248A1/en not_active Abandoned
- 2001-01-29 JP JP2001019906A patent/JP4846102B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5208418A (en) * | 1987-05-15 | 1993-05-04 | Oerlikon-Contraves Ag | Aligning method for a fire control device and apparatus for carrying out the alignment method |
JPH04263796A (ja) * | 1991-01-10 | 1992-09-18 | Mitsubishi Electric Corp | 自動照準誤差修正方法及びその装置 |
JPH1089896A (ja) * | 1996-09-11 | 1998-04-10 | Yokogawa Denshi Kiki Kk | 射撃指揮装置 |
JPH10206094A (ja) * | 1997-01-23 | 1998-08-07 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | シースルー型hmdにおける視線方向情報校正方法及び装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101376689B1 (ko) | 2012-12-13 | 2014-03-20 | 국방과학연구소 | 포신 영상을 활용한 포사격 통제시스템의 흔들림 오차 보정 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
MY122819A (en) | 2006-05-31 |
PT1152206E (pt) | 2005-05-31 |
EP1152206A1 (de) | 2001-11-07 |
ATE288070T1 (de) | 2005-02-15 |
ES2233276T3 (es) | 2005-06-16 |
KR20010098385A (ko) | 2001-11-08 |
US20010047248A1 (en) | 2001-11-29 |
DK1152206T3 (da) | 2005-05-30 |
CH694743A5 (de) | 2005-06-30 |
DE50009355D1 (de) | 2005-03-03 |
JP4846102B2 (ja) | 2011-12-28 |
KR100817966B1 (ko) | 2008-03-31 |
EP1152206B1 (de) | 2005-01-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN111044994B (zh) | 一种用于飞机机载激光测距机的光轴校准装置和方法 | |
AU2005207285B2 (en) | Gyroscopic system for boresighting equipment | |
US7218273B1 (en) | Method and device for boresighting an antenna on a moving platform using a moving target | |
US5208418A (en) | Aligning method for a fire control device and apparatus for carrying out the alignment method | |
US20090289850A1 (en) | Gimbal System Angle Compensation | |
US20040134341A1 (en) | Device, and related method, for determining the direction of a target | |
US7856729B1 (en) | Bore elevation and azimuth measuring apparatus and method | |
JP4846102B2 (ja) | 装置間の照準誤差を補正するための方法及び装置 | |
CN104089529B (zh) | 使用光纤陀螺仪对战斗机武器系统进行校准的方法及设备 | |
CN111060141A (zh) | 一种基于惯导和光学测量的飞机轴向校准装置和方法 | |
CN211291370U (zh) | 一种带有自校准功能的武装飞机轴线的校靶仪 | |
KR970003697B1 (ko) | 2차원 감지기로부터의 데이타를 이용하여 목표물의 3차원 좌표를 결정하기 위한 방법 및 병렬프로세서 컴퓨팅 장치 | |
KR101046915B1 (ko) | 레이돔에 의한 시선각 오차 보정 결과의 점검 | |
CN111780745A (zh) | 一种面向深空探测光学导航的短弧椭圆拟合优化方法 | |
CN111157021A (zh) | 基于惯导和光学测量的飞机侦察相机光轴校准装置和方法 | |
CN203928892U (zh) | 使用光纤陀螺仪对战斗机武器系统进行校准的设备 | |
Heaton et al. | Orbital express AVGS validation and calibration for automated rendezvous | |
US7779703B2 (en) | System and method for aligning a device relative to a reference point of a vehicle | |
JP2994463B2 (ja) | 可動系、特にヘルメット照準器の照準線の向きを決定する方法と装置 | |
LeCroy et al. | Effects of optical artifacts in a laser-based spacecraft navigation sensor | |
Cemenska | Sensor modeling and Kalman filtering applied to satellite attitude determination | |
KR100522205B1 (ko) | 선박에 장착되는 조준 장치의 시차 보정 방법 | |
Bajracharya et al. | Visual end‐effector position error compensation for planetary robotics | |
Keitzer et al. | Deterministic errors in pointing and tracking systems I: Identification and correction of static errors | |
CN113034610B (zh) | 一种基于天文技术的空间指向测量仪器标定方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070912 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101019 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110119 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110124 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110218 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110913 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111012 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141021 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4846102 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141021 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141021 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |