JP2001311774A - 装置間の照準誤差を補正するための方法及び装置 - Google Patents
装置間の照準誤差を補正するための方法及び装置Info
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- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来技術の方法における補正精度を改善する
ことができる、装置間の照準誤差を補正するための方法
及び装置を提供する。 【解決手段】 この方法及び装置は、目標追跡装置
（Ｔ）により目標測定センサ（Ｓｇ）を有する大砲
（Ｇ）を共通の測定目標（Ｋ，Ｋｉ）に照準することに
よって射撃制御システムの装置と兵器設備との間の照準
誤差を補正するために使用され、測定目標（Ｋｉ）の位
置と目標追跡装置（Ｔ）によって制御され目標測定セン
サ（Ｓｇ）の照準（Ｏ）によって表示される大砲（Ｇ）
の位置との間の偏差値（Ｄｉ）が検出される。偏差位置
の評価に続いて、照準誤差ベクトル（Ｂ）が処理され、
大砲のサーボ制御において考慮される。照準誤差ベクト
ル（Ｂ）の補正は、最小誤差二乗法によって帰納的に実
行される。
ことができる、装置間の照準誤差を補正するための方法
及び装置を提供する。 【解決手段】 この方法及び装置は、目標追跡装置
（Ｔ）により目標測定センサ（Ｓｇ）を有する大砲
（Ｇ）を共通の測定目標（Ｋ，Ｋｉ）に照準することに
よって射撃制御システムの装置と兵器設備との間の照準
誤差を補正するために使用され、測定目標（Ｋｉ）の位
置と目標追跡装置（Ｔ）によって制御され目標測定セン
サ（Ｓｇ）の照準（Ｏ）によって表示される大砲（Ｇ）
の位置との間の偏差値（Ｄｉ）が検出される。偏差位置
の評価に続いて、照準誤差ベクトル（Ｂ）が処理され、
大砲のサーボ制御において考慮される。照準誤差ベクト
ル（Ｂ）の補正は、最小誤差二乗法によって帰納的に実
行される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、センサ装置と、上
記センサ装置によりサーボ装置を介して制御される実行
装置との間の照準誤差を、照準誤差ベクトル（Ｂ）を補
正することによって補正するための方法に関する。本発
明はまた、この方法を実行するための装置に関する。
記センサ装置によりサーボ装置を介して制御される実行
装置との間の照準誤差を、照準誤差ベクトル（Ｂ）を補
正することによって補正するための方法に関する。本発
明はまた、この方法を実行するための装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】砲架車と砲架車上に配置された装置との
間の照準誤差を補正するための方法は欧州特許公報ＥＰ
−０３１４７２１−Ｂ１によって公知であり、この場合
の装置としては射撃制御システム及び兵器架台が考えら
れる。この方法は、停止時の射撃制御システムと搭載兵
器とによって測定される搭載された装置の概略位置の装
置補正値を使用することと、砲架車のサーボ制御に際し
てこの補正値を考慮することによって実行される。装置
のためのこの補正値は、工場において公知であり、及び
／又は測定された値から決定される。
間の照準誤差を補正するための方法は欧州特許公報ＥＰ
−０３１４７２１−Ｂ１によって公知であり、この場合
の装置としては射撃制御システム及び兵器架台が考えら
れる。この方法は、停止時の射撃制御システムと搭載兵
器とによって測定される搭載された装置の概略位置の装
置補正値を使用することと、砲架車のサーボ制御に際し
てこの補正値を考慮することによって実行される。装置
のためのこの補正値は、工場において公知であり、及び
／又は測定された値から決定される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は以上の
問題点を解決し、上述の従来技術の方法における補正精
度を改善することができる、装置間の照準誤差を補正す
るための方法及び装置を提供することにある。
問題点を解決し、上述の従来技術の方法における補正精
度を改善することができる、装置間の照準誤差を補正す
るための方法及び装置を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明に係る装置間の照
準誤差を補正するための方法は、照準誤差ベクトル
（Ｂ）の補正によって、センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）
と、サーボ装置を介して上記センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ
２）によって制御される実行装置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ２，Ｇ
３）との間の照準誤差を補正するための方法であって、
（ａ）センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）を測定目標
（Ｋｉ）に照準する方法ステップと、（ｂ）上記実行装
置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３）内に設けられた目標測定セ
ンサ（Ｓｇ）をこの測定目標（Ｋｉ）に照準する方法ス
テップとを含み、それ故、上記測定目標（Ｋｉ）はセン
サ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）及び実行装置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ
２，Ｇ３）に共通の測定目標（Ｋｉ）を構成し、（ｃ）
センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）によって制御される実行
装置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３）から発生する結果である
目標測定センサ（Ｓｇ）の照準線（Ｏ）の位置と、目標
測定センサ（Ｓｇ）によって検出される測定目標
（Ｋｉ）の位置との間の偏差値（Ｄｉ）を検出する方法
ステップと、（ｄ）既存の照準誤差ベクトル（Ｂ）を制
御の入力信号として使用する方法ステップと、（ｅ）続
いて最小誤差二乗法による偏差値（Ｄｉ）を基礎として
照準誤差ベクトル（Ｂ）の帰納的補正を実行する方法ス
テップとを含むことを特徴とする。
準誤差を補正するための方法は、照準誤差ベクトル
（Ｂ）の補正によって、センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）
と、サーボ装置を介して上記センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ
２）によって制御される実行装置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ２，Ｇ
３）との間の照準誤差を補正するための方法であって、
（ａ）センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）を測定目標
（Ｋｉ）に照準する方法ステップと、（ｂ）上記実行装
置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３）内に設けられた目標測定セ
ンサ（Ｓｇ）をこの測定目標（Ｋｉ）に照準する方法ス
テップとを含み、それ故、上記測定目標（Ｋｉ）はセン
サ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）及び実行装置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ
２，Ｇ３）に共通の測定目標（Ｋｉ）を構成し、（ｃ）
センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）によって制御される実行
装置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３）から発生する結果である
目標測定センサ（Ｓｇ）の照準線（Ｏ）の位置と、目標
測定センサ（Ｓｇ）によって検出される測定目標
（Ｋｉ）の位置との間の偏差値（Ｄｉ）を検出する方法
ステップと、（ｄ）既存の照準誤差ベクトル（Ｂ）を制
御の入力信号として使用する方法ステップと、（ｅ）続
いて最小誤差二乗法による偏差値（Ｄｉ）を基礎として
照準誤差ベクトル（Ｂ）の帰納的補正を実行する方法ス
テップとを含むことを特徴とする。
【０００５】上記方法において、好ましくは、照準誤差
ベクトル（Ｂ）を補正するために、方法ステップのｉ＝
１乃至ｉ＝ｎにおいて帰納的に演算されたベクトル（Ｐ
ｎ）が演算され、当該ベクトル（Ｐｎ）は、測定目標
（Ｋｉ）の測定される各位置の偏差値（Ｄｉ）の少なく
とも２つの成分又は座標を有し、演算されたベクトル
（Ｐｉ）の補正は初期値又は予め演算された値に変換行
列（Ｍｉ）を乗算することによって行われ、これによ
り、測定目標の座標は目標測定センサ（Ｓｇ）の方位角
（αｇｉ）と仰角（λｇｉ）との関数として変換される
ことを特徴とする。
ベクトル（Ｂ）を補正するために、方法ステップのｉ＝
１乃至ｉ＝ｎにおいて帰納的に演算されたベクトル（Ｐ
ｎ）が演算され、当該ベクトル（Ｐｎ）は、測定目標
（Ｋｉ）の測定される各位置の偏差値（Ｄｉ）の少なく
とも２つの成分又は座標を有し、演算されたベクトル
（Ｐｉ）の補正は初期値又は予め演算された値に変換行
列（Ｍｉ）を乗算することによって行われ、これによ
り、測定目標の座標は目標測定センサ（Ｓｇ）の方位角
（αｇｉ）と仰角（λｇｉ）との関数として変換される
ことを特徴とする。
【０００６】また、上記方法において、上記変換行列
は、好ましくは、次式
は、好ましくは、次式
【数９】 によって定義され、ここで、ｉ＝１，２，３，…，ｎで
あることを特徴とする。
あることを特徴とする。
【０００７】さらに、上記方法において、好ましくは、
各処理ステップｉにおいて、共分散行列（Ｓｉ）はまた
次式を用い、
各処理ステップｉにおいて、共分散行列（Ｓｉ）はまた
次式を用い、
【数１０】 ここで、Ｉは単位行列であり、初期化のためにＳ０の初
期値が用いられ、ｉ＝１，２，３，…，ｎであることを
特徴とする。
期値が用いられ、ｉ＝１，２，３，…，ｎであることを
特徴とする。
【０００８】またさらに、上記方法において、誤差ベク
トル（Ｅ）は次式の漸化式
トル（Ｅ）は次式の漸化式
【数１１】Ｅｉ＝Ｄｉ−Ｍｉ＊Ｐｉ−1 を用いて演算され、ここで、Ｄｉ＝［ｄｙｉ’ ｄ
ｚｉ’］は偏差値（ｄ）の成分を有するベクトルである
ことを特徴とする。
ｚｉ’］は偏差値（ｄ）の成分を有するベクトルである
ことを特徴とする。
【０００９】また、上記方法において、好ましくは、帰
納的な方法ステップは、ｉ＝１で開始されるときの、Ｍ
ｉに対して演算された値と、
納的な方法ステップは、ｉ＝１で開始されるときの、Ｍ
ｉに対して演算された値と、
【数１２】Ｄｉ＝［ｄｙｉ’ ｄｚｉ’］Ｔ の測定値とを用いて、自由に選択可能な値Ｐ０及びＳ０
で開始され、これから、誤差値Ｅｉは、上記漸化式
で開始され、これから、誤差値Ｅｉは、上記漸化式
【数１３】Ｅｉ＝Ｄｉ−Ｍｉ＊Ｐｉ−1 を用いて演算され、補正ベクトル（Ｐｉ）は、次式の漸
化式
化式
【数１４】Ｐｉ＝Ｐｉ−1＋Ｓｉ＊Ｍｉ Ｔ＊Ｅｉ を用いて演算され、ここで、ｉ＝１，２，３，…，ｎで
あることを特徴とする。
あることを特徴とする。
【００１０】さらに、上記方法において、好ましくは、
上記補正ベクトル（Ｐｉ）は４つの成分Δｘｉ、Δ
ｙｉ、Δｚｉ及びΔλｉのうちの少なくとも２つによっ
て形成されることを特徴とする。
上記補正ベクトル（Ｐｉ）は４つの成分Δｘｉ、Δ
ｙｉ、Δｚｉ及びΔλｉのうちの少なくとも２つによっ
て形成されることを特徴とする。
【００１１】またさらに、上記方法において、好ましく
は、上記演算は補正ベクトルＰｉ＝［Δｘｉ，Δｙｉ，
Δｚｉ，Δλｉ］を用いて実行され、かつ下記の値
は、上記演算は補正ベクトルＰｉ＝［Δｘｉ，Δｙｉ，
Δｚｉ，Δλｉ］を用いて実行され、かつ下記の値
【数１５】Ｐｏ＝［０ ０ ０ ０］Ｔ 及び
【数１６】 を用いて初期化され、ここで、Ｃは定数であり、定数Ｃ
は少なくとも実質的に４９．２５であることを特徴とす
る。
は少なくとも実質的に４９．２５であることを特徴とす
る。
【００１２】またさらに、上記方法において、好ましく
は、共通の測定目標（Ｋｉ）は、予め選択された空中の
軌道上にヘリコプター（１０）によって案内されること
を特徴とする。
は、共通の測定目標（Ｋｉ）は、予め選択された空中の
軌道上にヘリコプター（１０）によって案内されること
を特徴とする。
【００１３】本発明に係る装置間の照準誤差を補正する
ための装置は、照準誤差ベクトル（Ｂ）の補正によっ
て、センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）と、サーボ装置を介
して上記センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）によって制御さ
れる実行装置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３）との間の照準誤
差を補正するための装置であって、 センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）は測定目標（Ｋｉ）に照
準するように具現化され、 目標測定センサ（Ｓｇ）は実行装置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ２，
Ｇ３）内に設置されていてこの測定目標（Ｋｉ）に照準
するように具現化され、従って上記測定目標（Ｋｉ）は
センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）及び実行装置（Ｇ，Ｇ
１，Ｇ２，Ｇ３）の共通の測定目標（Ｋｉ）を較正する
ことが可能であり、 表示手段は、センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）によって制
御される実行装置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３）から発生す
る結果である目標測定センサ（Ｓｇ）の照準線（Ｏ）の
位置と、目標測定センサ（Ｓｇ）によって検出される測
定目標（Ｋｉ）の位置との間の偏差値（Ｄｉ）を検出す
るために設けられ、 コンピュータ手段は、既存の照準誤差ベクトル（Ｂ）か
らサーボ制御のための入力信号を取得するためと、続い
て最小誤差二乗法による偏差値（Ｄｉ）を基礎として照
準誤差ベクトル（Ｂ）の補正を実行するために設けられ
たことを特徴とする。
ための装置は、照準誤差ベクトル（Ｂ）の補正によっ
て、センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）と、サーボ装置を介
して上記センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）によって制御さ
れる実行装置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３）との間の照準誤
差を補正するための装置であって、 センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）は測定目標（Ｋｉ）に照
準するように具現化され、 目標測定センサ（Ｓｇ）は実行装置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ２，
Ｇ３）内に設置されていてこの測定目標（Ｋｉ）に照準
するように具現化され、従って上記測定目標（Ｋｉ）は
センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）及び実行装置（Ｇ，Ｇ
１，Ｇ２，Ｇ３）の共通の測定目標（Ｋｉ）を較正する
ことが可能であり、 表示手段は、センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）によって制
御される実行装置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３）から発生す
る結果である目標測定センサ（Ｓｇ）の照準線（Ｏ）の
位置と、目標測定センサ（Ｓｇ）によって検出される測
定目標（Ｋｉ）の位置との間の偏差値（Ｄｉ）を検出す
るために設けられ、 コンピュータ手段は、既存の照準誤差ベクトル（Ｂ）か
らサーボ制御のための入力信号を取得するためと、続い
て最小誤差二乗法による偏差値（Ｄｉ）を基礎として照
準誤差ベクトル（Ｂ）の補正を実行するために設けられ
たことを特徴とする。
【００１４】上述の目的は、本発明により、請求項１記
載の方法と請求項１０記載の装置とを使用する効果的な
方法で達成される。
載の方法と請求項１０記載の装置とを使用する効果的な
方法で達成される。
【００１５】本発明を使用すれば、定義された理想的な
幾何学的配置からのシステム偏移を考慮することによ
り、砲火中に砲架車サーボの制御値を演算する際の精度
を上げることができる。
幾何学的配置からのシステム偏移を考慮することによ
り、砲火中に砲架車サーボの制御値を演算する際の精度
を上げることができる。
【００１６】本発明の他の効果的な実施形態は、後続の
従属する請求項に記載されている。
従属する請求項に記載されている。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明に係
る実施形態について例示的に説明する。
る実施形態について例示的に説明する。
【００１８】図１は、合計５つの装置、すなわち射撃制
御装置Ｔ１及びＴ２の形式の２基のセンサ装置と、大砲
Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３の形式のコンピュータで制御される３
基の実行装置（又はイフェクタ装置）とによる配置を示
している。センサ装置と実行装置とは、船上又は地上で
の位置づけが可能である。これらのすべての装置Ｔ１、
Ｔ２、Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３は砲架車又は砲床内に配置さ
れ、少なくとも機械的におおまかに整列配置される。
御装置Ｔ１及びＴ２の形式の２基のセンサ装置と、大砲
Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３の形式のコンピュータで制御される３
基の実行装置（又はイフェクタ装置）とによる配置を示
している。センサ装置と実行装置とは、船上又は地上で
の位置づけが可能である。これらのすべての装置Ｔ１、
Ｔ２、Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３は砲架車又は砲床内に配置さ
れ、少なくとも機械的におおまかに整列配置される。
【００１９】図２には、例としてヘリコプター１０と、
センサ装置Ｔ及び実行装置Ｇを備える単一の搭載装置と
が表示されている。センサ装置Ｔは、例えば大砲Ｇを制
御するための同じくＴで同定される射撃制御装置又は照
準装置であることが可能である。大砲Ｇには、例えばＴ
ＶセンサＳｇが提供されることが可能である。射撃制御
装置Ｔは、データ回線又は信号回線１１を介して大砲Ｇ
を制御する。大砲Ｇ及び照準装置Ｔは、ヘリコプター１
０の支持ケーブル１２に付着されている例えば同じくＫ
で同定された球体である共通の観測目標Ｋに照準され
る。
センサ装置Ｔ及び実行装置Ｇを備える単一の搭載装置と
が表示されている。センサ装置Ｔは、例えば大砲Ｇを制
御するための同じくＴで同定される射撃制御装置又は照
準装置であることが可能である。大砲Ｇには、例えばＴ
ＶセンサＳｇが提供されることが可能である。射撃制御
装置Ｔは、データ回線又は信号回線１１を介して大砲Ｇ
を制御する。大砲Ｇ及び照準装置Ｔは、ヘリコプター１
０の支持ケーブル１２に付着されている例えば同じくＫ
で同定された球体である共通の観測目標Ｋに照準され
る。
【００２０】この配置装置のシステムによって、図１で
は照準誤差ベクトルＢの補正、もしくは例えばＢ１１、
Ｂ１２、Ｂ２１、Ｂ２２、Ｂ３１、Ｂ３２である複数の
照準誤差ベクトルＢｊｋの補正を定義することが意図さ
れている。この場合の照準誤差ベクトルＢ又は複数の照
準誤差ベクトルＢｊｋは、概略位置の測定、工場での測
定値等から公知でありかつ記憶されているベースベクト
ルであることが想定されている。
は照準誤差ベクトルＢの補正、もしくは例えばＢ１１、
Ｂ１２、Ｂ２１、Ｂ２２、Ｂ３１、Ｂ３２である複数の
照準誤差ベクトルＢｊｋの補正を定義することが意図さ
れている。この場合の照準誤差ベクトルＢ又は複数の照
準誤差ベクトルＢｊｋは、概略位置の測定、工場での測
定値等から公知でありかつ記憶されているベースベクト
ルであることが想定されている。
【００２１】精密な測定は本発明による方法によって実
行され、これらの照準誤差ベクトルＢ又はＢｊｋの公知
の値が、幾つかのステップもしくはその後の幾つかの測
定において改善される。従って、ステップ数ｉの後に、
次式が演算された補正ベクトルＰｎによって補正された
照準ベクトル値Ｂに適用される。ここで、ｉは１からｎ
までの整数を表す。
行され、これらの照準誤差ベクトルＢ又はＢｊｋの公知
の値が、幾つかのステップもしくはその後の幾つかの測
定において改善される。従って、ステップ数ｉの後に、
次式が演算された補正ベクトルＰｎによって補正された
照準ベクトル値Ｂに適用される。ここで、ｉは１からｎ
までの整数を表す。
【００２２】
【数１７】Ｂ（ｎｅｗ）＝Ｂ（ｏｌｄ）＋Ｐｎ
【００２３】ここで、Ｂ（ｎｅｗ）は新しい照準誤差ベ
クトルであり、Ｂ（ｏｌｄ）は古い照準誤差ベクトルで
ある。ｎ回の測定の後、Ｐｎ．Ｐｓを仮定することが可
能である。ここで、Ｐｓはこうしたシステムの補正のた
めの真の又は正確な値であり、しかもそれ自体では達成
され得ない値である。
クトルであり、Ｂ（ｏｌｄ）は古い照準誤差ベクトルで
ある。ｎ回の測定の後、Ｐｎ．Ｐｓを仮定することが可
能である。ここで、Ｐｓはこうしたシステムの補正のた
めの真の又は正確な値であり、しかもそれ自体では達成
され得ない値である。
【００２４】例えば、センサ装置又は実行装置が船上に
配置されているとすると、その積荷、その時点の燃料又
は船体の形状の変化、その他によって船の重量が変化し
た場合には、補正値Ｐｓの値は新しいものとなる。これ
もやはり、ヘリコプター１０に固定された球体Ｋを使用
して行われる測定によって、新たなＰｎの形式でおおま
かに決定される。例えば特に、爆発に続くたわみや捻れ
による船体形状の極めて僅かな変化でも、基準角度を比
較的大きく変化させる。こうした極めて小さい変化をも
考慮することが、本発明の目的の１つである。
配置されているとすると、その積荷、その時点の燃料又
は船体の形状の変化、その他によって船の重量が変化し
た場合には、補正値Ｐｓの値は新しいものとなる。これ
もやはり、ヘリコプター１０に固定された球体Ｋを使用
して行われる測定によって、新たなＰｎの形式でおおま
かに決定される。例えば特に、爆発に続くたわみや捻れ
による船体形状の極めて僅かな変化でも、基準角度を比
較的大きく変化させる。こうした極めて小さい変化をも
考慮することが、本発明の目的の１つである。
【００２５】図３において図示されたディスプレイは、
ＴＶセンサＳｇが、例えば観測目標Ｋ又は球体Ｋ、すな
わち概してディスプレイの十字線の交点０から所定の偏
移量を有する実際の位置にある球体Ｋを如何にして「見
る」かを表している。ＴＶセンサＳｇによって直接観測
されることが可能なこの偏差は、製造上の尤度又は摩
耗、概略位置測定における残留誤差、船体形状の変化、
測定ノイズ等によって生じる機械的不正確さといったあ
らゆるタイプの全システム誤差の結果としての位置上の
誤差である。偏差は、２つの成分を有する開口ベクトル
Ｄｉであると考えることが可能であり、これは、転置さ
れて次式のように表すことができる。
ＴＶセンサＳｇが、例えば観測目標Ｋ又は球体Ｋ、すな
わち概してディスプレイの十字線の交点０から所定の偏
移量を有する実際の位置にある球体Ｋを如何にして「見
る」かを表している。ＴＶセンサＳｇによって直接観測
されることが可能なこの偏差は、製造上の尤度又は摩
耗、概略位置測定における残留誤差、船体形状の変化、
測定ノイズ等によって生じる機械的不正確さといったあ
らゆるタイプの全システム誤差の結果としての位置上の
誤差である。偏差は、２つの成分を有する開口ベクトル
Ｄｉであると考えることが可能であり、これは、転置さ
れて次式のように表すことができる。
【００２６】
【数１８】Ｄｉ＝［ｄｙｉ’ ｄｚｉ’］Ｔ
【００２７】ここで、ｄｙｉ’及びｄｚｉ’は開口ベク
トルＤｉの軸ｙ’又は軸ｚ’における成分である。開口
ベクトルＤｉの長さの値ｄは、図３により次のように演
算することができる。
トルＤｉの軸ｙ’又は軸ｚ’における成分である。開口
ベクトルＤｉの長さの値ｄは、図３により次のように演
算することができる。
【００２８】
【数１９】ｄ＝（ｄｙｉ’２＋ｄｚｉ’２）１／２
【００２９】図３に係るディスプレイは、実際には角度
である成分ｄｙｉ’及びｄｚｉ’を長さ又は距離によっ
て表示できるように、予め決められた距離に従って較正
される。開口ベクトルＤｉには、次式が適用される。
である成分ｄｙｉ’及びｄｚｉ’を長さ又は距離によっ
て表示できるように、予め決められた距離に従って較正
される。開口ベクトルＤｉには、次式が適用される。
【００３０】
【数２０】Ｄｉ＝Ｍｉ＊Ｐｓ＋Ｒｉ＝Ｄｉｃ＋Ｒｉ
【００３１】ここで、Ｒｉは残留誤差である。この明細
書において、＊は乗算を意味する。
書において、＊は乗算を意味する。
【００３２】残留誤差Ｒｉに影響する要素としては特
に、熱雑音の他に、海のうねり、サーボシステムの不正
確さ及び操作者が図３に表示された＋マークをその瞬間
位置Ｋ ｉにおける測定目標の真上に配置することができ
ないという事実等がある。
に、熱雑音の他に、海のうねり、サーボシステムの不正
確さ及び操作者が図３に表示された＋マークをその瞬間
位置Ｋ ｉにおける測定目標の真上に配置することができ
ないという事実等がある。
【００３３】図４による座標システムは、照準装置Ｔ及
び大砲Ｇの領域において定義される。照準装置Ｔ及び大
砲Ｇが地上に配置される場合には、例えばＸ軸は北へ、
Ｙ軸は東へ、Ｚ軸は地球の中心へと配向される。照準装
置Ｔ及び大砲Ｇが船上に配置される場合には、例えばＸ
軸は船の長手方向の軸であり、Ｙ軸は横軸であり、Ｚ軸
はＸ軸及びＹ軸に直交する右手側の軸である。Ｘ軸、Ｙ
軸及びＺ軸で定義される座標システムでは、測定目標Ｋ
ｉが値をとることのできるすべての位置はｘＫ、ｙＫ及
びｚＫの３座標によって決定される。ここで、弾道学で
は、実際的理由から角度値αＫ及びλＫが座標として使
用される。この場合、方位角はαｋで、仰角はλｋで同
定される。従って、αＫ及びλＫの値は冗長性である。
座標ｘＫ、ｙＫ、ｚＫ及びλＫは目標ベクトルＯＫｉの
成分であると考えられており、この場合、方位角α又は
仰角λもまたこれらの座標から演算することができる。
図４の平面Ｘ−Ｙ上におけるベクトルＯＫの投影は直線
ｇを画成し、同じく平面Ｘ−Ｙに位置しかつゼロ点上記
０で上記直線ｇと垂直に交差する直線はλ軸として選択
される。
び大砲Ｇの領域において定義される。照準装置Ｔ及び大
砲Ｇが地上に配置される場合には、例えばＸ軸は北へ、
Ｙ軸は東へ、Ｚ軸は地球の中心へと配向される。照準装
置Ｔ及び大砲Ｇが船上に配置される場合には、例えばＸ
軸は船の長手方向の軸であり、Ｙ軸は横軸であり、Ｚ軸
はＸ軸及びＹ軸に直交する右手側の軸である。Ｘ軸、Ｙ
軸及びＺ軸で定義される座標システムでは、測定目標Ｋ
ｉが値をとることのできるすべての位置はｘＫ、ｙＫ及
びｚＫの３座標によって決定される。ここで、弾道学で
は、実際的理由から角度値αＫ及びλＫが座標として使
用される。この場合、方位角はαｋで、仰角はλｋで同
定される。従って、αＫ及びλＫの値は冗長性である。
座標ｘＫ、ｙＫ、ｚＫ及びλＫは目標ベクトルＯＫｉの
成分であると考えられており、この場合、方位角α又は
仰角λもまたこれらの座標から演算することができる。
図４の平面Ｘ−Ｙ上におけるベクトルＯＫの投影は直線
ｇを画成し、同じく平面Ｘ−Ｙに位置しかつゼロ点上記
０で上記直線ｇと垂直に交差する直線はλ軸として選択
される。
【００３４】前述の帰納的に演算されたベクトルＰ
ｉは、好ましくは次のように４つの成分を有する。
ｉは、好ましくは次のように４つの成分を有する。
【００３５】
【数２１】Ｐｉ＝［Δｘｉ Δｙｉ Δｚｉ Δλｉ］
【００３６】ここで、Δｘｉ、Δｙｉ、Δｚｉ及びΔλ
ｉは小さい角度値であり、ΔｘｉはＸ軸の回りの回転、
ΔｙｉはＹ軸の回りの回転、ΔｚｉはＺ軸の回りの回
転、Δλｉはλ軸の回りの回転である。
ｉは小さい角度値であり、ΔｘｉはＸ軸の回りの回転、
ΔｙｉはＹ軸の回りの回転、ΔｚｉはＺ軸の回りの回
転、Δλｉはλ軸の回りの回転である。
【００３７】これらの回転及び傾斜は、実行装置、すな
わち大砲Ｇの回転面がセンサ装置、すなわち照準装置Ｔ
の回転面に平行でないことから生じる。
わち大砲Ｇの回転面がセンサ装置、すなわち照準装置Ｔ
の回転面に平行でないことから生じる。
【００３８】このことから生じる誤差は２つの自由度を
有し、よって、Ｘ軸の回りの回転Δｘｉ及びＹ軸の回り
の回転Δｙｉの２つの回転によって補正されることが可
能である。ここで、Ｚ軸の回りの回転Δｚｉもまた方位
角の回転Δαを含む。従って、以下のように定義される
変換行列Ｍｉが、目標ベクトルＯＫｉによって定義され
る目標の各位置に、もしくは各処理ステップｉに存在す
る。
有し、よって、Ｘ軸の回りの回転Δｘｉ及びＹ軸の回り
の回転Δｙｉの２つの回転によって補正されることが可
能である。ここで、Ｚ軸の回りの回転Δｚｉもまた方位
角の回転Δαを含む。従って、以下のように定義される
変換行列Ｍｉが、目標ベクトルＯＫｉによって定義され
る目標の各位置に、もしくは各処理ステップｉに存在す
る。
【００３９】
【数２２】
【００４０】ここで、ｉ＝１，２，３，…，ｎである。
また、各処理ステップｉには次のような共分散行列も存
在する。
また、各処理ステップｉには次のような共分散行列も存
在する。
【００４１】
【数２３】
【００４２】ここで、Ｉは単位行列である。最後に、誤
差ベクトルＥ（式の誤差）が次式によって定義される。
差ベクトルＥ（式の誤差）が次式によって定義される。
【００４３】
【数２４】Ｅｉ＝Ｄｉ−Ｍｉ＊Ｐｉ−1
【００４４】上記演算は、次の値を用いて初期化され
る。
る。
【００４５】
【数２５】Ｐ０＝［０ ０ ０ ０］Ｔ 及び
【数２６】
【００４６】ここで、Ｃは定数であり、定数Ｃは、好ま
しくは、実質的に又は近似的に４９．２５である。
しくは、実質的に又は近似的に４９．２５である。
【００４７】反復は、初期値Ｐ０及びＳ０、及びＭｉに
対して演算された値及び測定された値
対して演算された値及び測定された値
【数２７】Ｄｉ＝［ｄｙｉ’ ｄｚｉ’］Ｔ を用いて開始され、ここで、ｉは１で開始される。これ
により、Ｅｉ及びＳｉの値が上述の漸化式を用いて決定
され、また続いてＰｉが次式の漸化式を用いて決定され
る。
により、Ｅｉ及びＳｉの値が上述の漸化式を用いて決定
され、また続いてＰｉが次式の漸化式を用いて決定され
る。
【００４８】
【数２８】Ｐｉ＝Ｐｉ−1＋Ｓｉ＊Ｍｉ Ｔ＊Ｅｉ
【００４９】ここで、ｉ＝１，２，３，…，ｎである。
【００５０】この帰納的アルゴリズムは、以下の品質指
数Ｊ（ｐ）（性能）を最小化する。
数Ｊ（ｐ）（性能）を最小化する。
【００５１】
【数２９】Ｊ（ｐ）＝ｓｕｍ（ｉ＝１，２，…，ｎ）
［Ｄｉ−Ｍｉ＊Ｐｉ］Ｔ＊［Ｄｉ−Ｍｉ＊Ｐｉ］
［Ｄｉ−Ｍｉ＊Ｐｉ］Ｔ＊［Ｄｉ−Ｍｉ＊Ｐｉ］
【００５２】ここで、演算子ｓｕｍ（ｉ＝１，２，…，
ｎ）は、当該演算子の引数において、ｉを１からｎまで
変化したときの引数の和を示す。本発明によるアルゴリ
ズムは、最小誤差二乗法の特別なアプリケーションを基
礎とするものであり、「最も効果的な」値は、Ｄｉに対
して観測された値と
ｎ）は、当該演算子の引数において、ｉを１からｎまで
変化したときの引数の和を示す。本発明によるアルゴリ
ズムは、最小誤差二乗法の特別なアプリケーションを基
礎とするものであり、「最も効果的な」値は、Ｄｉに対
して観測された値と
【数３０】Ｄｉｃ≒Ｍｉ＊Ｐｎ の演算された値との各差の二乗和が最小となる状態にお
いて演算される。
いて演算される。
【００５３】演算された補正ベクトルＰｉは、変換行列
ＭｉによってベクトルＤｉに変換される、もしくは成分
Δｘｉ、Δｙｉ、Δｚｉ及びΔλｉが成分ｄｙｉ’、ｄ
ｚｉ’に変換される。行列Ｓは、観測面における不確定
さを避けるために使用される（図３）。行列Ｓは先に指
摘した共分散行列であり、特に直交対称的に展開される
測定の場合には、結果的に対角線すなわち軌道Ｓｐに消
尽値を有し、もしくは収束数が０となる対角対称行列に
なる。この収束数の点位置に関するテストは、定数Ｃと
して値４９．２５又は４９２．５などを選択すれば効果
的であることを示している。Ｃ＝４９．２５では、共分
散行列Ｓｎの軌道の値は、十分に大きな測定数又はステ
ップ数ｎで開始時の９９．９９…から約０．０３にまで
減少する。ここで、定数は１であることも可能であり、
またどんな任意値をも有することが可能である。例えば
２５＜ｎ＜４００、好ましくは、ｎ＝２００である測定
数又は帰納ステップ数ｎの後、Ｐｎの値は求める値Ｐｓ
になる。
ＭｉによってベクトルＤｉに変換される、もしくは成分
Δｘｉ、Δｙｉ、Δｚｉ及びΔλｉが成分ｄｙｉ’、ｄ
ｚｉ’に変換される。行列Ｓは、観測面における不確定
さを避けるために使用される（図３）。行列Ｓは先に指
摘した共分散行列であり、特に直交対称的に展開される
測定の場合には、結果的に対角線すなわち軌道Ｓｐに消
尽値を有し、もしくは収束数が０となる対角対称行列に
なる。この収束数の点位置に関するテストは、定数Ｃと
して値４９．２５又は４９２．５などを選択すれば効果
的であることを示している。Ｃ＝４９．２５では、共分
散行列Ｓｎの軌道の値は、十分に大きな測定数又はステ
ップ数ｎで開始時の９９．９９…から約０．０３にまで
減少する。ここで、定数は１であることも可能であり、
またどんな任意値をも有することが可能である。例えば
２５＜ｎ＜４００、好ましくは、ｎ＝２００である測定
数又は帰納ステップ数ｎの後、Ｐｎの値は求める値Ｐｓ
になる。
【００５４】図５は、ヘリコプター１０に運ばれる測定
目標Ｋの多数の実際位置を十字＋で示している。図６に
は、これらの位置の相応に補正された値が表示されてい
る。このＸ−Ｙ−Ｚ座標システムが船を基礎とするもの
であれば、ヘリコプター１０は好ましくは、船の周囲を
半径約１．５ｋｍの大きさを有する円形軌道で螺旋状
に、もしくは漸増する仰角αＴｉ、λＴｉ、ΔＴｉで飛
行する。照準装置Ｔによって決定されたデータを基礎と
し、かつこれまでに公知となったパラメータ、特に照準
装置Ｔと大砲Ｇとの視差を考慮して、（大砲Ｇの射線又
は小視差でオフセットされた兵器管の軸ではなく）大砲
Ｇのセンサ照準線０が好ましくは自動的に目標Ｋｉへと
可能な限り良好に照準される。センサ（Ｓｇ）の照準線
十字の交点（図３）は、測定目標Ｋｉがあると思われる
方向に狙いをつける。
目標Ｋの多数の実際位置を十字＋で示している。図６に
は、これらの位置の相応に補正された値が表示されてい
る。このＸ−Ｙ−Ｚ座標システムが船を基礎とするもの
であれば、ヘリコプター１０は好ましくは、船の周囲を
半径約１．５ｋｍの大きさを有する円形軌道で螺旋状
に、もしくは漸増する仰角αＴｉ、λＴｉ、ΔＴｉで飛
行する。照準装置Ｔによって決定されたデータを基礎と
し、かつこれまでに公知となったパラメータ、特に照準
装置Ｔと大砲Ｇとの視差を考慮して、（大砲Ｇの射線又
は小視差でオフセットされた兵器管の軸ではなく）大砲
Ｇのセンサ照準線０が好ましくは自動的に目標Ｋｉへと
可能な限り良好に照準される。センサ（Ｓｇ）の照準線
十字の交点（図３）は、測定目標Ｋｉがあると思われる
方向に狙いをつける。
【００５５】従って、十字＋で同定された図５のあらゆ
る点は各々、ヘリコプター１０で運ばれる目標Ｋの各位
置Ｋｉに対応する測定された値αＫｉ又はλＫｉ、すな
わち大砲Ｇの方位角又は仰角に関連している。これに対
して、図６は、本方法による補正に続いてさらなる測定
が実際問題として可能である場合に全く同一の条件下で
測定される理論上の値α又はλに対応するものである。
現実には、ヘリコプター１０を使用して先の測定の間と
全く同一の位置で、かつ船に関して同一の条件下で測定
を繰り返すことは不可能である。
る点は各々、ヘリコプター１０で運ばれる目標Ｋの各位
置Ｋｉに対応する測定された値αＫｉ又はλＫｉ、すな
わち大砲Ｇの方位角又は仰角に関連している。これに対
して、図６は、本方法による補正に続いてさらなる測定
が実際問題として可能である場合に全く同一の条件下で
測定される理論上の値α又はλに対応するものである。
現実には、ヘリコプター１０を使用して先の測定の間と
全く同一の位置で、かつ船に関して同一の条件下で測定
を繰り返すことは不可能である。
【００５６】理論的には、補正の実施により、すべての
点＋は図６のゼロ点に一致しなければならない。しかし
ながら、図６に表示されているように不可避的な残留誤
差Ｒ ｉにより、複数の点＋はゼロ点０に一致しない、す
なわち統計的にはゼロ点０から発散性の偏差が生じる。
ここで、その分布には平均の値がない、すなわち発散す
る点の平均値は両軸上のゼロである。
点＋は図６のゼロ点に一致しなければならない。しかし
ながら、図６に表示されているように不可避的な残留誤
差Ｒ ｉにより、複数の点＋はゼロ点０に一致しない、す
なわち統計的にはゼロ点０から発散性の偏差が生じる。
ここで、その分布には平均の値がない、すなわち発散す
る点の平均値は両軸上のゼロである。
【００５７】同様のシステムのコンピュータ用に異なる
通路を使用して動作するほかのアルゴリズムと比較する
と、本発明に係るアルゴリズムは、本発明による初期化
には全く問題がなく、かつ特異性（行列式＝０）は絶対
に発生しないためにシステムの「脱線」の心配がない、
という事実から見て特に効果的であることが示されてい
る。このような「脱線」は、例えば各通路において測定
された値を正弦曲線等の予め決められた曲線に一致させ
ようと試行されるような場合に発生する可能性がある。
通路を使用して動作するほかのアルゴリズムと比較する
と、本発明に係るアルゴリズムは、本発明による初期化
には全く問題がなく、かつ特異性（行列式＝０）は絶対
に発生しないためにシステムの「脱線」の心配がない、
という事実から見て特に効果的であることが示されてい
る。このような「脱線」は、例えば各通路において測定
された値を正弦曲線等の予め決められた曲線に一致させ
ようと試行されるような場合に発生する可能性がある。
【００５８】欧州特許公報ＥＰ−０３１４７２１−Ｂ１
に記載されたシステムの場合のように、照準誤差ベクト
ルの補正の基礎である測定に基づく補正データは、不正
照準をリアルタイムで補正する効力を有している。この
場合も測定は随時、例えば４週間又は６週間毎に実行し
て補正データを例えば船に関する変動する条件に整合さ
せることが可能である。これは、随時取得される測定値
はシステムへと統合されることが可能であり、よってシ
ステムに内在するものであり、故に各々直接は観測され
ることが不可能な誤差に対応していることを意味してい
る。
に記載されたシステムの場合のように、照準誤差ベクト
ルの補正の基礎である測定に基づく補正データは、不正
照準をリアルタイムで補正する効力を有している。この
場合も測定は随時、例えば４週間又は６週間毎に実行し
て補正データを例えば船に関する変動する条件に整合さ
せることが可能である。これは、随時取得される測定値
はシステムへと統合されることが可能であり、よってシ
ステムに内在するものであり、故に各々直接は観測され
ることが不可能な誤差に対応していることを意味してい
る。
【００５９】センサ装置Ｔ（トラッカー）は、センサ、
照準装置、レーダ、レーザ又は赤外線装置等であること
が可能であり、もしくはこうした装置の幾つかを組み合
わせたものであってもよい。実行装置Ｇ（大砲類）とし
ては、例えばカノン砲等の従来の大砲以外にもロケット
発射装置やレーザガンが使用される。測定は、異なるＧ
／ＴペアＢ１１、Ｂ１２、Ｂ２１、Ｂ２２、…（図１参
照）で行うことが可能であり、１つのセンサ装置Ｔで数
個の実行装置Ｇを制御することができる。
照準装置、レーダ、レーザ又は赤外線装置等であること
が可能であり、もしくはこうした装置の幾つかを組み合
わせたものであってもよい。実行装置Ｇ（大砲類）とし
ては、例えばカノン砲等の従来の大砲以外にもロケット
発射装置やレーザガンが使用される。測定は、異なるＧ
／ＴペアＢ１１、Ｂ１２、Ｂ２１、Ｂ２２、…（図１参
照）で行うことが可能であり、１つのセンサ装置Ｔで数
個の実行装置Ｇを制御することができる。
【００６０】図面に描かれている設備は、請求された変
形例による様々な方法、又は部分的方法、もしくはその
任意の組合せを可能にするために、必要な制御装置、コ
ンピュータ手段又はハードウェア及びプログラム又はソ
フトウェアを保有することができる。
形例による様々な方法、又は部分的方法、もしくはその
任意の組合せを可能にするために、必要な制御装置、コ
ンピュータ手段又はハードウェア及びプログラム又はソ
フトウェアを保有することができる。
【００６１】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、定
義された理想的な幾何学的配置からのシステム偏移を考
慮することにより、砲火中に砲架車サーボの制御値を演
算する際の精度を上げることができる。これにより、従
来技術の方法における補正精度を改善することができ
る、装置間の照準誤差を補正するための方法及び装置を
提供することができる。
義された理想的な幾何学的配置からのシステム偏移を考
慮することにより、砲火中に砲架車サーボの制御値を演
算する際の精度を上げることができる。これにより、従
来技術の方法における補正精度を改善することができ
る、装置間の照準誤差を補正するための方法及び装置を
提供することができる。
【図１】 本発明に係る実施形態を説明するための図で
あって、センサ装置と実行装置との各位置の相互リンク
を示す概略ブロック図である。
あって、センサ装置と実行装置との各位置の相互リンク
を示す概略ブロック図である。
【図２】 本発明に係る実施形態の装置による精密な測
定を実行中の個々の観測状況を示す概略ブロック図であ
る。
定を実行中の個々の観測状況を示す概略ブロック図であ
る。
【図３】 図２の装置による個々の観測の結果を示すグ
ラフである。
ラフである。
【図４】 図２の装置で使用される座標システムを説明
するための図である。
するための図である。
【図５】 観測された値セットのすべての結果を示すグ
ラフである。
ラフである。
【図６】 本発明に係る実施形態の装置によって補正さ
れた値の結果を示すグラフである。
れた値の結果を示すグラフである。
Ｂ，Ｂｊｋ…照準誤差ベクトル、 Ｇ，Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３…大砲、 Ｋ，Ｋｉ…測定目標 Ｓｇ…目標測定センサ、 Ｔ，Ｔ１，Ｔ２…目標追跡装置。
Claims (10)
- 【請求項１】 照準誤差ベクトル（Ｂ）の補正によっ
て、センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）と、サーボ装置を介
して上記センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）によって制御さ
れる実行装置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３）との間の照準誤
差を補正するための方法であって、（ａ）センサ装置
（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）を測定目標（Ｋｉ）に照準する方法
ステップと、（ｂ）上記実行装置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ２，Ｇ
３）内に設けられた目標測定センサ（Ｓｇ）をこの測定
目標（Ｋｉ）に照準する方法ステップとを含み、それ
故、上記測定目標（Ｋｉ）はセンサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ
２）及び実行装置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３）に共通の測
定目標（Ｋｉ）を構成し、（ｃ）センサ装置（Ｔ，Ｔ
１，Ｔ２）によって制御される実行装置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ
２，Ｇ３）から発生する結果である目標測定センサ（Ｓ
ｇ）の照準線（Ｏ）の位置と、目標測定センサ（Ｓｇ）
によって検出される測定目標（Ｋｉ）の位置との間の偏
差値（Ｄｉ）を検出する方法ステップと、（ｄ）既存の
照準誤差ベクトル（Ｂ）を制御の入力信号として使用す
る方法ステップと、（ｅ）続いて最小誤差二乗法による
偏差値（Ｄｉ）を基礎として照準誤差ベクトル（Ｂ）の
帰納的補正を実行する方法ステップとを含むことを特徴
とする装置間の照準誤差を補正するための方法。 - 【請求項２】 照準誤差ベクトル（Ｂ）を補正するため
に、方法ステップのｉ＝１乃至ｉ＝ｎにおいて帰納的に
演算されたベクトル（Ｐｎ）が演算され、当該ベクトル
（Ｐｎ）は、測定目標（Ｋｉ）の測定される各位置の偏
差値（Ｄｉ）の少なくとも２つの成分又は座標を有し、 演算されたベクトル（Ｐｉ）の補正は初期値又は予め演
算された値に変換行列（Ｍｉ）を乗算することによって
行われ、これにより、測定目標の座標は目標測定センサ
（Ｓｇ）の方位角（αｇｉ）と仰角（λｇｉ）との関数
として変換されることを特徴とする請求項１記載の方
法。 - 【請求項３】 上記変換行列は、次式 【数１】 によって定義され、ここで、ｉ＝１，２，３，…，ｎで
あることを特徴とする請求項１又は２記載の方法。 - 【請求項４】 各処理ステップｉにおいて、共分散行列
（Ｓｉ）はまた次式を用い、 【数２】 ここで、Ｉは単位行列であり、初期化のためにＳ０の初
期値が用いられ、ｉ＝１，２，３，…，ｎであることを
特徴とする請求項２又は３記載の方法。 - 【請求項５】 誤差ベクトル（Ｅ）は次式の漸化式 【数３】Ｅｉ＝Ｄｉ−Ｍｉ＊Ｐｉ−1 を用いて演算され、ここで、Ｄｉ＝［ｄｙｉ’ ｄ
ｚｉ’］は偏差値（ｄ）の成分を有するベクトルである
ことを特徴とする請求項２乃至４のいずれか１つに記載
の方法。 - 【請求項６】 帰納的な方法ステップは、ｉ＝１で開始
されるときの、Ｍｉに対して演算された値と、 【数４】Ｄｉ＝［ｄｙｉ’ ｄｚｉ’］Ｔ の測定値とを用いて、自由に選択可能な値Ｐ０及びＳ０
で開始され、これから、誤差値Ｅｉは、上記漸化式 【数５】Ｅｉ＝Ｄｉ−Ｍｉ＊Ｐｉ−1 を用いて演算され、 補正ベクトル（Ｐｉ）は、次式の漸化式 【数６】Ｐｉ＝Ｐｉ−1＋Ｓｉ＊Ｍｉ Ｔ＊Ｅｉ を用いて演算され、ここで、ｉ＝１，２，３，…，ｎで
あることを特徴とする請求項５記載の方法。 - 【請求項７】 上記補正ベクトル（Ｐｉ）は４つの成分
Δｘｉ、Δｙｉ、Δｚｉ及びΔλｉのうちの少なくとも
２つによって形成されることを特徴とする請求項２乃至
５のうちのいずれか１つに記載された方法。 - 【請求項８】 上記演算は補正ベクトルＰｉ＝［Δ
ｘｉ，Δｙｉ，Δｚｉ，Δλｉ］を用いて実行され、か
つ下記の値 【数７】Ｐｏ＝［０ ０ ０ ０］Ｔ 及び 【数８】 を用いて初期化され、ここで、Ｃは定数であり、定数Ｃ
は少なくとも実質的に４９．２５であることを特徴とす
る請求項３乃至７のうちのいずれか１つに記載された方
法。 - 【請求項９】 共通の測定目標（Ｋｉ）はヘリコプター
（１０）によって案内されることを特徴とする請求項１
乃至８のうちのいずれか１つに記載された方法。 - 【請求項１０】 照準誤差ベクトル（Ｂ）の補正によっ
て、センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）と、サーボ装置を介
して上記センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）によって制御さ
れる実行装置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３）との間の照準誤
差を補正するための装置であって、 センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）は測定目標（Ｋｉ）に照
準するように具現化され、 目標測定センサ（Ｓｇ）は実行装置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ２，
Ｇ３）内に設置されていてこの測定目標（Ｋｉ）に照準
するように具現化され、従って上記測定目標（Ｋｉ）は
センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）及び実行装置（Ｇ，Ｇ
１，Ｇ２，Ｇ３）の共通の測定目標（Ｋｉ）を較正する
ことが可能であり、 表示手段は、センサ装置（Ｔ，Ｔ１，Ｔ２）によって制
御される実行装置（Ｇ，Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３）から発生す
る結果である目標測定センサ（Ｓｇ）の照準線（Ｏ）の
位置と、目標測定センサ（Ｓｇ）によって検出される測
定目標（Ｋｉ）の位置との間の偏差値（Ｄｉ）を検出す
るために設けられ、 コンピュータ手段は、既存の照準誤差ベクトル（Ｂ）か
らサーボ制御のための入力信号を取得するためと、続い
て最小誤差二乗法による偏差値（Ｄｉ）を基礎として照
準誤差ベクトル（Ｂ）の補正を実行するために設けられ
たことを特徴とする装置間の照準誤差を補正するための
装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CH00818/00A CH694743A5 (de) | 2000-04-26 | 2000-04-26 | Verfahren und Vorrichtung zur Korrektur von Ausrichtfehlern zwischen einer Sensoreinrichtung und einer Effektoreneinrichtung. |
| CH20000818/00 | 2000-04-26 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001311774A true JP2001311774A (ja) | 2001-11-09 |
| JP4846102B2 JP4846102B2 (ja) | 2011-12-28 |
Family
ID=4539149
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001019906A Expired - Fee Related JP4846102B2 (ja) | 2000-04-26 | 2001-01-29 | 装置間の照準誤差を補正するための方法及び装置 |
Country Status (11)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20010047248A1 (ja) |
| EP (1) | EP1152206B1 (ja) |
| JP (1) | JP4846102B2 (ja) |
| KR (1) | KR100817966B1 (ja) |
| AT (1) | ATE288070T1 (ja) |
| CH (1) | CH694743A5 (ja) |
| DE (1) | DE50009355D1 (ja) |
| DK (1) | DK1152206T3 (ja) |
| ES (1) | ES2233276T3 (ja) |
| MY (1) | MY122819A (ja) |
| PT (1) | PT1152206E (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101376689B1 (ko) | 2012-12-13 | 2014-03-20 | 국방과학연구소 | 포신 영상을 활용한 포사격 통제시스템의 흔들림 오차 보정 방법 |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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