JP2001308510A - Method and device for manufacturing bump parts mounting body - Google Patents

Method and device for manufacturing bump parts mounting body

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manufacturing
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the deformation of a wiring board by the heat applied to a conductive adhesive or solder for heating the adhesive or solder at the time of flip-chip mounting bumps on the wiring board. SOLUTION: The bumps 104 mounted on a wiring board 102 put on a supporting substrate 101 are covered with a flexible partition 106. The bumps 104 are pressed against the wiring board 102 by applying different pressures to both sides of the partition 106. When the conductive adhesive or solder is heated in this state, the bumps 104 are connected to the wiring board 102 with the adhesive or solder.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、配線基板上に歩留
りよくフリップチップやCSP(チップサイズパッケー
ジ)などのバンプ部品を実装することができるバンプ部
品実装体の製造方法及びその製造装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and an apparatus for manufacturing a bump component mounted body capable of mounting a bump component such as a flip chip or a CSP (chip size package) on a wiring board with high yield.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体チップの実装方法として最近はフ
リップチップ実装する方法が注目されてきている。裸の
半導体チップのパッド(電極端子)に電気的導体の突起
(バンプ)を形成し、このバンプと配線基板上の電極と
を電気的に接合する方法である。従来のQFP(Quad F
lat Package)のようにリードのついたパッケージに比
較して小さく実装できることや配線が短くなるために高
速動作に適している等のために最近はこの技術の開発が
著しい。フリップチップ実装技術の中でスタッドバンプ
ボンディング(Stud Bump Bonding)による実装は信頼
性が高く実用化も始まっている。また、半田ボールによ
って裸の半導体を配線基板上にじか付けする方法も古く
から知られている。
2. Description of the Related Art Recently, a flip chip mounting method has attracted attention as a semiconductor chip mounting method. In this method, a projection (bump) of an electric conductor is formed on a pad (electrode terminal) of a bare semiconductor chip, and the bump and an electrode on a wiring board are electrically connected. Conventional QFP (Quad F
In recent years, this technology has been remarkably developed because it can be mounted smaller than a package with leads, such as a lat package, and is suitable for high-speed operation because of shorter wiring. Among flip-chip mounting technologies, mounting by stud bump bonding (Stud Bump Bonding) is highly reliable and practical use has begun. Also, a method of directly attaching a bare semiconductor on a wiring board by using a solder ball has been known for a long time.

【0003】スタッドバンプボンディングの方法は文献
Yoshihiro Tomura et. Al "Advanced Flip Chip Bondin
g Technique For MCM-L", 1996 Proceedings of First
PanPacific Microelectronics Symposium, p125-131 (1
996) に記述されている。
The method of stud bump bonding is described in the literature.
Yoshihiro Tomura et. Al "Advanced Flip Chip Bondin
g Technique For MCM-L ", 1996 Proceedings of First
PanPacific Microelectronics Symposium, p125-131 (1
996).

【0004】また、従来のQFP(Quad Flat Packag
e)に比べて著しく小型にできることからCSPやBG
A(Ball Grid array)も良く用いられる。これらも平
面的に並んだバンプ(半田ボール)を有しており本発明
でいうバンプ部品であることはいうまでも無い。
In addition, a conventional QFP (Quad Flat Packag)
CSP and BG because they can be significantly smaller than e)
A (Ball Grid array) is also often used. These also have bumps (solder balls) arranged in a plane, and needless to say, they are the bump parts referred to in the present invention.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上記方法は広く採用さ
れているが、大きな問題を抱えている。
Although the above method is widely used, it has significant problems.

【0006】配線基板が常に平坦でバンプ部品実装時に
変形しない場合には何ら問題が無い。しかし、ガラス繊
維やアラミド繊維のような強化芯材と樹脂と銅箔という
ような複合体からなる一般的な回路基板は、バンプ部品
実装時に半田ボールを溶融接着させるためやアンダーフ
ィル(Underfill)の硬化のために必然的にかける熱に
より変形し、平坦性を保つことが困難である。特に、配
線基板が薄くフレキシブル配線基板のようなものではほ
ぼ不可能といってもいい。
There is no problem if the wiring board is always flat and does not deform when mounting bump components. However, a general circuit board consisting of a composite material such as a resin and copper foil with a reinforced core material such as glass fiber or aramid fiber is often used to melt and bond solder balls when mounting bump components, or to use underfill. It is deformed by the heat inevitably applied for curing, and it is difficult to maintain flatness. In particular, it can be said that it is almost impossible with a thin wiring board such as a flexible wiring board.

【0007】この問題を解決する方法として、加熱中、
配線基板を半導体チップもろとも押さえ込んでしまう工
法(例えば、半導体チップと配線基板との間にACF
(Anisotropic Conductive Film)を介在させ、押圧し
ながら加熱する方法)もあるが、どうしても一品ごとの
処理になり生産性が悪い。
As a method of solving this problem, during heating,
A method of holding down the wiring board with the semiconductor chip (for example, ACF between the semiconductor chip and the wiring board)
(Anisotropic Conductive Film) intervening and heating while pressing), but the processing is inevitably performed for each product, resulting in poor productivity.

【0008】本発明は、上記の従来の問題点を解決し、
バンプ部品の実装時に付与される熱による配線基板の変
形を防止することができるバンプ部品実装体の製造方法
及び製造装置を提供することを目的とする。
The present invention solves the above-mentioned conventional problems,
An object of the present invention is to provide a method and an apparatus for manufacturing a bump component mounted body, which can prevent deformation of a wiring board due to heat applied when mounting a bump component.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めに本発明は以下の構成とする。
To achieve the above object, the present invention has the following arrangement.

【0010】本発明の第1のバンプ部品実装体の製造方
法は、配線基板上に搭載した複数のバンプ部品を覆うよ
うに設けたフレキシブルな隔壁の両側に与える圧力差に
よりバンプ部品を押さえる工程を有することを特徴とし
ている。
The first method of manufacturing a bump component mounted body according to the present invention includes a step of pressing the bump component by a pressure difference applied to both sides of a flexible partition provided so as to cover the plurality of bump components mounted on the wiring board. It is characterized by having.

【0011】こうすることにより、加熱中やあるいは変
形が起こる可能性の有る工程中は常に強制的に配線基板
の平坦性を保つことができ、配線基板の変形による歩留
り劣化を防止できる。
By doing so, the flatness of the wiring substrate can be forcibly maintained during heating or during a process in which deformation is likely to occur, and the yield deterioration due to the deformation of the wiring substrate can be prevented.

【0012】また、本発明の第2のバンプ部品実装体の
製造方法は、配線基板上に搭載したバンプ部品を覆うよ
うに設けたフレキシブルな隔壁と配線基板とでできる隔
壁内空間を減圧し、減圧中あるいは減圧後に前記隔壁内
空間にアンダーフルを注入する工程を少なくとも有する
ことを特徴とする。これにより、アンダーフィルを気泡
なく高速に隔壁内空間内に充填することができる。
Further, according to the second method of manufacturing a bump component mounted body of the present invention, the space inside the partition formed by the flexible partition and the wiring substrate provided so as to cover the bump component mounted on the wiring substrate is decompressed. At least a step of injecting an underfill into the space in the partition wall during or after the pressure reduction is provided. Thereby, the underfill can be filled into the space in the partition wall at high speed without bubbles.

【0013】また、本発明の第3のバンプ部品実装体の
製造方法は、複数のバンプ部品を配線基板上にフリップ
実装する工程と、前記複数のバンプ部品をフレキシブル
な隔壁で覆い、前記隔壁と前記配線基板との間に隔壁内
空間を形成する工程と、前記隔壁の両側に圧力差を付与
して前記バンプ部品を前記配線基板に加圧する工程とを
有することを特徴とする。これにより、その後に続いて
行なわれる加熱工程や変形が起こる可能性のある工程中
で、配線基板を常に平坦な状態に維持することができ、
実装歩留りが向上する。また、隔壁の両側に圧力差を付
与するだけであるので低コストに実施できる。
Further, a third method of manufacturing a bump component mounted body according to the present invention includes a step of flip-mounting a plurality of bump components on a wiring board, and covering the plurality of bump components with a flexible partition. Forming a space in the partition wall between the wiring board and the wiring board; and applying a pressure difference to both sides of the partition wall to press the bump component against the wiring board. This makes it possible to always maintain the wiring substrate in a flat state in a subsequent heating step or a step in which deformation may occur,
The mounting yield is improved. In addition, since it is only necessary to apply a pressure difference to both sides of the partition, it can be implemented at low cost.

【0014】上記第3の製造方法において、前記フリッ
プ実装する工程の前に、前記バンプ部品のバンプ又は前
記配線基板の電極に導電性接着剤を付与する工程を更に
有し、前記加圧する工程の後に、前記加圧した状態で前
記導電性接着剤を乾燥、硬化、又は溶融させる工程と、
前記隔壁内空間を減圧し、減圧中又は減圧後に前記隔壁
内空間にアンダーフィルを注入する工程と、前記アンダ
ーフィルを硬化させる工程とを更に有していても良い。
これにより、スタッドバンプボンディングによるフリッ
プチップ実装体を歩留まり良く得ることができる。ま
た、隔壁でバンプ部品を覆った後は、アンダーフィルの
硬化終了まで、隔壁を覆ったままの状態で工程を進行さ
せることができる。
In the third manufacturing method, the method may further include a step of applying a conductive adhesive to a bump of the bump component or an electrode of the wiring board before the flip-mounting step. Thereafter, drying, curing, or melting the conductive adhesive in the pressurized state,
The method may further include a step of depressurizing the space in the partition wall, injecting an underfill into the space in the partition wall during or after the pressure reduction, and a step of curing the underfill.
As a result, a flip-chip mounted body by stud bump bonding can be obtained with high yield. Further, after the bump component is covered with the partition, the process can be performed with the partition still covered until the curing of the underfill is completed.

【0015】また、上記第3の製造方法において、前記
バンプ部品が半田バンプを備え、前記加圧する工程の後
に、前記加圧した状態で前記半田バンプを溶融させる工
程を更に有していても良い。これにより、半田ボールを
備えたバンプ部品のフリップチップ実装体を歩留まり良
く得ることができる。
In the third manufacturing method, the bump component may include a solder bump, and after the pressing step, a step of melting the solder bump in the pressed state may be further included. . As a result, a flip-chip mounted body of a bump component having a solder ball can be obtained with a high yield.

【0016】また、上記第3の製造方法において、前記
フリップ実装する工程において、前記バンプ部品と前記
配線基板との間に接着剤を介在させ、前記加圧する工程
の後に、前記加圧した状態で前記接着剤を乾燥、硬化、
又は溶融させる工程を更に有していても良い。これによ
り、ACF、ACP(Anisotropic Conductive Past
e)、NCP(Non-Conductive Paste)等の接着剤を用
いたフリップチップ実装体を歩留まり良く得ることがで
きる。
Further, in the third manufacturing method, in the flip-mounting step, an adhesive is interposed between the bump component and the wiring board, and after the pressing step, the adhesive is placed in the pressed state. Drying and curing the adhesive,
Alternatively, the method may further include a step of melting. As a result, ACF, ACP (Anisotropic Conductive Paste)
e) A flip-chip mounted body using an adhesive such as NCP (Non-Conductive Paste) can be obtained with high yield.

【0017】上記第3の製造方法において、更に、前記
配線基板を切断する工程を有していても良い。これによ
り、例えばバンプ部品が実装された小型カード型基板
(モジュールやCSP、BGAなど)を一度に多数製造
することができる。
The third manufacturing method may further include a step of cutting the wiring substrate. Thereby, for example, a large number of small card-type substrates (modules, CSPs, BGAs, etc.) on which bump components are mounted can be manufactured at a time.

【0018】上記第3の製造方法において、前記バンプ
部品と前記隔壁との間にシート状物を介在させても良
い。これにより、隔壁の汚れが防止できたり、又は隔壁
とバンプ部品実装体との分離が容易になったりする。あ
るいは、シート状物を得られたフリップチップ実装体に
一体化させて外装として用いることもできる。
In the third manufacturing method, a sheet may be interposed between the bump component and the partition. As a result, the partition walls can be prevented from being stained, or the partition walls can be easily separated from the bump component mounting body. Alternatively, the sheet-like material may be integrated with the obtained flip-chip mounted body and used as an exterior.

【0019】次に、本発明のバンプ部品実装体の製造装
置は、配線基板を載置するための支持基板と、フレキシ
ブルな隔壁と、前記隔壁を保持する隔壁支持体と、前記
隔壁と前記隔壁支持体との間に形成された密閉空間(隔
壁外空間)とを有することを特徴とする。これにより隔
壁の両側に容易に圧力差を付与することができる。従っ
て、簡単な構成で低コストで上記本発明の製造方法を実
施することができる。
Next, the apparatus for manufacturing a bump component mounted body according to the present invention includes a support substrate for mounting a wiring board, a flexible partition, a partition support for holding the partition, the partition and the partition. A closed space (space outside the partition) formed between the support and the support. This makes it possible to easily apply a pressure difference to both sides of the partition. Therefore, the manufacturing method of the present invention can be implemented with a simple configuration and at low cost.

【0020】上記の製造装置において、前記隔壁を保持
した隔壁支持体と前記支持基板とを、前記配線基板を挟
んで一体化したとき、前記隔壁と前記配線基板とで密閉
された隔壁内空間が形成されることが好ましい。これに
より、密閉空間(隔壁外空間)と隔壁内空間との間に圧
力差を付与することで、配線基板を支持基板に押し付け
ることができ、配線基板の変形を防止できる。また、隔
壁内空間をアンダーフィル注入の際の型として利用でき
る。
In the above manufacturing apparatus, when the partition support holding the partition and the support substrate are integrated with the wiring substrate interposed therebetween, the space inside the partition sealed by the partition and the wiring substrate is reduced. It is preferably formed. Thus, by applying a pressure difference between the closed space (space outside the partition) and the space inside the partition, the wiring substrate can be pressed against the support substrate, and the deformation of the wiring substrate can be prevented. Further, the space in the partition can be used as a mold for underfill injection.

【0021】上記の製造装置において、前記隔壁と前記
隔壁支持体とにより形成された密閉空間を加圧するため
の加圧用パイプを挿入するためのゴム栓を有することが
好ましい。これにより、ゴム栓にニードルパイプを差し
込んで該密閉空間(隔壁外空間)を容易に加圧でき、そ
の後ニードルパイプを抜いても加圧状態を維持すること
ができる。
In the above manufacturing apparatus, it is preferable that a rubber stopper is provided for inserting a pressurizing pipe for pressurizing a closed space formed by the partition and the partition support. This makes it possible to easily pressurize the closed space (space outside the partition wall) by inserting the needle pipe into the rubber stopper, and to maintain the pressurized state even after removing the needle pipe.

【0022】また、上記の製造装置において、前記隔壁
内空間を減圧するための減圧用パイプを挿入するための
ゴム栓を有することが好ましい。これにより、ゴム栓に
ニードルパイプを差し込んで隔壁内空間を容易に減圧す
ることができ、その後ニードルパイプを抜いても減圧状
態を維持することができる。
In the above-mentioned manufacturing apparatus, it is preferable that a rubber stopper is provided for inserting a pressure reducing pipe for reducing the pressure in the partition wall. Thereby, the space inside the partition can be easily depressurized by inserting the needle pipe into the rubber stopper, and the depressurized state can be maintained even after the needle pipe is pulled out.

【0023】また、上記の製造装置において、前記隔壁
内空間にアンダーフィルを注入するための注入用パイプ
を挿入するためのゴム栓を有することが好ましい。これ
により、ゴム栓にニードルパイプを差し込んで隔壁内空
間内にアンダーフィルを注入することができ、その後ニ
ードルパイプを抜いても隔壁の両側の圧力差を維持する
ことができる。
In the above-mentioned manufacturing apparatus, it is preferable that a rubber stopper for inserting an injection pipe for injecting an underfill into the space in the partition is provided. Thereby, the underfill can be injected into the space inside the partition wall by inserting the needle pipe into the rubber stopper, and the pressure difference on both sides of the partition wall can be maintained even after the needle pipe is pulled out.

【0024】また、上記の製造装置において、前記支持
基板は前記配線基板を吸着して保持することが好まし
い。これにより、隔壁支持体と支持基板とを一体化する
前に、配線基板を平坦な状態に維持することができる。
また、アンダーフィルを注入する際に密閉空間(隔壁外
空間)の加圧が足りない場合でも配線基板の変形を防止
することができる。
In the above-described manufacturing apparatus, it is preferable that the support substrate holds the wiring substrate by suction. Accordingly, the wiring board can be maintained in a flat state before the partition wall support and the support substrate are integrated.
Further, even when the pressure in the closed space (space outside the partition wall) is insufficient when injecting the underfill, the deformation of the wiring board can be prevented.

【0025】また、上記の製造装置において、前記隔壁
を保持した隔壁支持体と前記支持基板とを、前記配線基
板を挟んで一体化したとき、前記配線基板の配線の一部
が露出することが好ましい。これにより、隔壁支持体を
取り除くことなく、露出した配線を利用して電気的検査
を行なうことができる。
Further, in the above manufacturing apparatus, when the partition support holding the partition and the support substrate are integrated with the wiring substrate interposed therebetween, a part of the wiring of the wiring substrate may be exposed. preferable. Thus, the electrical inspection can be performed using the exposed wiring without removing the partition support.

【0026】[0026]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面に基づいて説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0027】(実施の形態1)図1に本発明の原理図を
掲げる。図1には剛体で上面が平坦な支持基板101の
上に電極103を有する配線基板102をおき、その上
にバンプ105を有する複数のバンプ部品104を搭載
し、その上にこれらのバンプ部品104を覆うようにフ
レキシブルな隔壁106を設けた状態を示す。配線基板
102としては、通常の両面配線基板や多層配線基板を
用いることができることはもちろんであるが、本発明で
はこれらに加えて通常の実装方法では用いることができ
ない柔軟な配線基板をも用いることができる。配線基板
102の材料に関しても特に限定はなく、樹脂基板、有
機フィルムからなる基板、セラミックス基板などを用い
ることができ、例えば通常のガラスエポキシ基板であっ
ても良いし、ポリイミドフィルムをベースとする基板で
あってもよいし、あるいはアルミナを主成分とするセラ
ミックス基板であっても良い。。
(Embodiment 1) FIG. 1 shows a principle diagram of the present invention. In FIG. 1, a wiring substrate 102 having electrodes 103 is placed on a rigid, flat upper surface of a support substrate 101, and a plurality of bump components 104 having bumps 105 are mounted thereon. Shows a state in which a flexible partition 106 is provided so as to cover. As the wiring board 102, a normal double-sided wiring board or a multilayer wiring board can be used as a matter of course. In the present invention, a flexible wiring board which cannot be used in a normal mounting method is also used in the present invention. Can be. There is no particular limitation on the material of the wiring substrate 102, and a resin substrate, a substrate made of an organic film, a ceramic substrate, or the like can be used. For example, a normal glass epoxy substrate may be used, or a substrate based on a polyimide film may be used. Or a ceramic substrate containing alumina as a main component. .

【0028】図1において、隔壁106の上下、すなわ
ち隔壁106と配線基板102とでできる隔壁内空間1
07と隔壁外空間108とに圧力差を与えてバンプ部品
104を押さえる。この圧力差を保ちながら実装工程を
実行する。その具体的な方法については後述する。
In FIG. 1, the inner space 1 between the partition 106 and the wiring board 102, that is, the space 1 between the partition 106 and the wiring board 102.
07 and the space 108 outside the partition wall are pressed to press the bump component 104. The mounting process is performed while maintaining this pressure difference. The specific method will be described later.

【0029】圧力差でバンプ部品104を押さえるため
には、隔壁内空間107の圧力を隔壁外空間108の圧
力より低くすればよい。例えば、図1において隔壁内空
間107を1気圧(101.3kPa)以下に減圧し、
隔壁外空間108を2気圧(202.6kPa)に加圧
する。結果的にバンプ部品104を1気圧(101.3
kPa)以上の力で押さえつけることができる。もちろ
ん、このとき隔壁外空間108を必ずしも加圧する必要
はない。あえて加圧せず1気圧(101.3kPa)で
あっても隔壁内空間107を減圧すれば1気圧(10
1.3kPa)以下ではあるが押圧力を発生できること
は言うまでも無い。あるいは、隔壁内空間107を減圧
することなく、隔壁外空間108を加圧しても良い。ま
た、隔壁内空間107が1気圧(101.3kPa)以
上である場合に、隔壁外空間108をこれより更に高圧
に加圧しても良い。
In order to hold the bump component 104 with a pressure difference, the pressure in the inner space 107 of the partition should be lower than the pressure in the outer space 108 of the partition. For example, in FIG. 1, the internal space 107 of the partition wall is depressurized to 1 atm (101.3 kPa) or less,
The space 108 outside the partition wall is pressurized to 2 atm (202.6 kPa). As a result, the bump component 104 is set at 1 atm (101.3
kPa) or more. Of course, at this time, it is not always necessary to pressurize the partition outer space 108. Even if the pressure is 1 atm (101.3 kPa) without pressurizing, the pressure in the partition wall space 107 is reduced to 1 atm (10
Although it is less than 1.3 kPa), it goes without saying that a pressing force can be generated. Alternatively, the space 108 outside the partition wall may be pressurized without depressurizing the space 107 inside the partition wall. When the space 107 in the partition is at least 1 atm (101.3 kPa), the space 108 outside the partition may be further pressurized.

【0030】バンプ部品104と配線基板102の間に
アンダーフィルが必要な場合は、隔壁内空間107を真
空(10mmHg(1.3kPa)以下)にし、1気圧
(101.3kPa)でアンダーフィルを注入すれば良
い。真空度が高い場合には殆ど気泡をなくしてかつ高速
に隔壁内空間107をアンダーフィルで満たすことがで
きる。この状態で加熱し、アンダーフィルを硬化すれば
よい。アンダーフィルの粘度が高く注入速度が遅い場合
には、隔壁外空間108の気圧を上げることでバンプ部
品104に押圧力を与えながら、注入圧力を上げること
により、注入速度を上げることができる。
When an underfill is required between the bump component 104 and the wiring board 102, the space 107 in the partition is evacuated (10 mmHg (1.3 kPa) or less) and the underfill is injected at 1 atm (101.3 kPa). Just do it. When the degree of vacuum is high, the space 107 in the partition wall can be filled with the underfill at high speed with almost no bubbles. In this state, heating may be performed to cure the underfill. When the viscosity of the underfill is high and the injection speed is low, the injection speed can be increased by increasing the injection pressure while increasing the air pressure in the partition outer space 108 to apply a pressing force to the bump component 104.

【0031】本発明においてバンプ部品とは、突起電極
(バンプ)が付与された電子部品を意味し、例えば、フ
リップチップ、ベアチップ、CSP、BGA等はもちろ
んのこと、突起電極付チップコンデンサ、突起電極付チ
ップ抵抗なども含む。
In the present invention, the term “bump component” means an electronic component provided with a bump electrode (bump). For example, a flip chip, a bare chip, a CSP, a BGA, etc., as well as a chip capacitor with a bump electrode, a bump electrode Includes attached chip resistors.

【0032】(実施の形態2)上記の記述を具体的に実
現する方法について図2を用いて述べる。
(Embodiment 2) A method for specifically realizing the above description will be described with reference to FIG.

【0033】支持基板101、配線基板102、電極1
03、バンプ部品104とバンプ105については図1
の場合と同じである。
Support substrate 101, wiring substrate 102, electrode 1
03, the bump component 104 and the bump 105 are shown in FIG.
Is the same as

【0034】隔壁202は図1の隔壁106と比較して
少し形が違う。隔壁202は隔壁支持体201によって
保持されている。図2に示す通り、隔壁内空間107と
隔壁外空間108がそれぞれ気密に形成される。即ち、
隔壁内空間107は隔壁202の周囲を隔壁支持体20
1で配線基板102の上面に密着させることで形成され
る。一方、隔壁外空間108は隔壁202と隔壁支持体
201との間に形成される。隔壁支持体201は全体の
力をささえるべく剛体で作ってある。例えばステンレス
鋼などの金属である。この隔壁支持体201は図には記
載していないが何らかの手段で支持基板101に固定す
る。固定手段はねじ止めでもいいが、大量生産を考える
とき、組立・分解の煩わしさを除くために或いは機械化
のためにワンタッチ着脱機構が好ましい。
The partition 202 is slightly different in shape from the partition 106 shown in FIG. The partition wall 202 is held by a partition wall support 201. As shown in FIG. 2, the space 107 inside the partition and the space 108 outside the partition are each formed airtight. That is,
The partition wall space 107 is formed around the partition wall 202 by the partition wall support 20.
1 is formed by closely adhering to the upper surface of the wiring board 102. On the other hand, the partition outer space 108 is formed between the partition 202 and the partition support 201. The partition wall support 201 is made of a rigid body to support the entire force. For example, a metal such as stainless steel. Although not shown in the drawing, the partition wall support 201 is fixed to the support substrate 101 by some means. The fixing means may be screwed, but when mass production is considered, a one-touch attachment / detachment mechanism is preferable for eliminating the trouble of assembly and disassembly or for mechanization.

【0035】隔壁202はフレキシブルで、本実施の形
態の場合、耐熱性と離型性とを備えた樹脂、例えばシリ
コーン樹脂が好ましい。型を用いて成形することで容易
に図のような形の隔壁202ができる。バンプ部品10
4を押さえる原理は図1の説明と同じである。
The partition wall 202 is flexible. In the case of this embodiment, a resin having heat resistance and releasability, for example, a silicone resin is preferable. The partition 202 having a shape as shown in the figure can be easily formed by molding using a mold. Bump component 10
4 is the same as that described with reference to FIG.

【0036】本実施の形態においては、少し工夫がして
あって隔壁内空間107は減圧用パイプ204で減圧す
る。また、加圧用パイプ205で隔壁外空間108を加
圧する。隔壁内外の圧力差によりバンプ部品104は配
線基板102に押さえつけられる。この状態でアンダー
フィルを注入用パイプ203から隔壁内空間107に注
入することができる。このとき、隔壁外空間108を加
圧しておいた方がよい。配線基板102として柔軟な配
線基板を用いた場合において、もし、隔壁外空間108
を加圧しないで注入を行なうと、隔壁202、バンプ部
品104、配線基板102を押圧する力が無くなって変
形を許してしまい、歩留りが落ちる。
In the present embodiment, the space 107 in the partition is depressurized by the depressurizing pipe 204 with some contrivance. The pressurizing pipe 205 pressurizes the partition outer space 108. The bump component 104 is pressed against the wiring board 102 by the pressure difference between the inside and outside of the partition. In this state, the underfill can be injected from the injection pipe 203 into the space 107 in the partition. At this time, it is better to pressurize the partition outer space 108. In the case where a flexible wiring board is used as the wiring board 102, if the partition outside space 108
Is performed without applying pressure, the force for pressing the partition wall 202, the bump component 104, and the wiring board 102 is lost, so that deformation is allowed, and the yield decreases.

【0037】減圧用パイプ204が隔壁内空間107を
減圧しているとき、気密性を保つために注入用パイプ2
03は閉じられているほうが好ましい。また、支持基板
101や隔壁支持体201を含む全体(以後、ジグと呼
ぶ)が減圧用パイプ204や加圧用パイプ205、注入
用パイプ203から独立しているほうが好ましい。
When the depressurizing pipe 204 is depressurizing the space 107 in the partition, the injection pipe 2 is used to maintain airtightness.
03 is preferably closed. Further, it is preferable that the entirety including the support substrate 101 and the partition wall support 201 (hereinafter, referred to as a jig) is independent of the decompression pipe 204, the pressurization pipe 205, and the injection pipe 203.

【0038】即ち、図から容易に読み取れるが、本実施
の形態では工夫がしてあって、ゴム栓とニードルパイプ
を使っている。パイプ203,204,205の先端は
斜めに切断することで鋭利に形成されており、これをゴ
ムに抜き差しする。加圧用パイプ205に対しては隔壁
支持体201の開口にゴム栓206を設けてておく。ま
た、注入用パイプ203,減圧用パイプ204に対して
は隔壁支持体201にパイプが遊貫できる孔207を設
け、その下にある隔壁202の厚さの厚い部分をゴム栓
として利用する。ゴム栓を貫通してニードルパイプを差
し込むことにより減圧,加圧、注入が行えるし、抜き去
ることにより隔壁内外の気密性を保つことができる。従
って、ジグ全体をパイプなどから分離し、接着剤、半
田、アンダーフィル等を硬化させるために炉に投入でき
る。このことは量産設備を簡素化する上で重要である。
That is, as can be easily read from the figure, the present embodiment is devised and uses a rubber stopper and a needle pipe. The tips of the pipes 203, 204, 205 are formed to be sharp by cutting diagonally, and this is inserted into and removed from rubber. For the pressurizing pipe 205, a rubber stopper 206 is provided at the opening of the partition wall support 201. For the injection pipe 203 and the pressure reducing pipe 204, a hole 207 through which the pipe can pass is provided in the partition wall support 201, and a thick portion of the partition wall 202 below the hole 207 is used as a rubber stopper. Depressurization, pressurization and injection can be performed by inserting a needle pipe through the rubber stopper, and airtightness inside and outside the partition can be maintained by removing the needle pipe. Therefore, the entire jig can be separated from a pipe or the like and put into a furnace to cure the adhesive, solder, underfill and the like. This is important in simplifying mass production equipment.

【0039】前述したスタッドバンプボンディングによ
る実装方法を本発明を利用して実行した場合の工程を説
明する。バンプを付けた半導体チップ(本発明における
バンプ部品)のバンプの先端を平らなプレートの上に薄
く広げた導電性接着剤に接触させ導電性接着剤をバンプ
上に供給する。そしてバンプを下にして図2の支持基板
101にのせた配線基板102上の電極103に位置あ
わせして搭載する。
The steps in the case where the above-described mounting method by stud bump bonding is executed using the present invention will be described. The tip of the bump of the bumped semiconductor chip (the bump component in the present invention) is brought into contact with a conductive adhesive thinly spread on a flat plate, and the conductive adhesive is supplied onto the bump. Then, with the bumps facing down, they are positioned and mounted on the electrodes 103 on the wiring board 102 placed on the support substrate 101 in FIG.

【0040】次に、図2の隔壁202を含む隔壁支持体
201(以後、上ジグと呼ぶ)をかぶせ、加圧用パイプ
205を差し込んで隔壁外空間108に加圧空気を送り
込んだ後、加圧用パイプ205を引き抜く。ゴム栓20
6の効果により加圧力は以後も保たれ、半導体チップ1
04は下に押さえつけられ配線基板102は平らにな
り、均一な接続が保たれる。導電性接着剤を乾燥、硬
化、又は溶融するためにこの状態で加熱炉に投入され
る。当然バッチ炉であっても良いし、インラインのベル
ト炉であってもいい。
Next, a partition support 201 (hereinafter referred to as an upper jig) including the partition 202 shown in FIG. 2 is covered, a pressurizing pipe 205 is inserted, and pressurized air is sent into the partition outer space 108. Pull out the pipe 205. Rubber stopper 20
6, the pressing force is maintained even after that, and the semiconductor chip 1
04 is pressed down, the wiring board 102 becomes flat, and uniform connection is maintained. In this state, the conductive adhesive is put into a heating furnace to be dried, cured, or melted. Naturally, it may be a batch furnace or an inline belt furnace.

【0041】次に、減圧用パイプ204を差し込んで隔
壁内空間107を減圧し、その後、注入用パイプ203
を差し込んでアンダーフィルを注入する。隔壁内空間1
07がアンダーフィルで満たされれば注入をストップ
し、減圧用パイプ204と注入用パイプ203を引き抜
いてアンダーフィル硬化用加熱炉に投入すれば実装工程
が完了する。隔壁202はアンダーフィルが接着しない
材料(例えば、シリコーン樹脂など)で、できているた
めに上ジグは容易に外せる。これも量産工程にとっては
大事なことである。得られたバンプ部品実装体を必要に
応じて切断し分離しても良い。
Next, the pressure inside the partition wall space 107 is reduced by inserting the pressure reducing pipe 204,
And inject the underfill. Partition wall space 1
If 07 is filled with the underfill, the injection is stopped, and the decompression pipe 204 and the injection pipe 203 are pulled out and put into a heating furnace for underfill hardening, thereby completing the mounting process. The partition 202 is made of a material (for example, silicone resin or the like) to which the underfill does not adhere, so that the upper jig can be easily removed. This is also important for the mass production process. The obtained bump component mounted body may be cut and separated as necessary.

【0042】隔壁支持体201や隔壁202を透明部材
で構成すれば、加熱炉に投入する代わりに光を照射し
て、バンプ部品104を加熱して、その熱で導電性接着
剤やアンダーフィルの硬化を行なうことができる。
If the partition wall support 201 and the partition wall 202 are made of a transparent material, the bump component 104 is heated by irradiating light instead of being put into a heating furnace, and the heat is applied to the conductive adhesive or underfill. Curing can take place.

【0043】図3に、このようにして得られるバンプ部
品実装体のバンプ部分の拡大断面図を示す。図3におい
て、104aはバンプ部品104の電極、105は電極
104a上に形成されたバンプ(スタッドバンプ)、2
11はバンプ105と配線基板102の電極103とを
接続する導電性接着剤、212はバンプ部品104と配
線基板102との間に充填されたアンダーフィルであ
る。
FIG. 3 is an enlarged sectional view of the bump portion of the bump component mounted body obtained in this manner. In FIG. 3, reference numeral 104a denotes an electrode of the bump component 104; 105, a bump (stud bump) formed on the electrode 104a;
Numeral 11 denotes a conductive adhesive for connecting the bump 105 and the electrode 103 of the wiring board 102, and numeral 212 denotes an underfill filled between the bump component 104 and the wiring board 102.

【0044】なお、上述の実装方法において、導電性接
着剤をバンプ部品のバンプに付与するのではなく、配線
基板の電極に付与しても良い。また、図3はバンプ10
5が2段形状のスタッドバンプである場合を示している
が、バンプ105はスタッドバンプに限定されず、これ
以外の円柱形や球形などの一段形状のバンプを用いるこ
ともできる。
In the mounting method described above, the conductive adhesive may be applied not to the bumps of the bump component but to the electrodes of the wiring board. FIG.
5 shows a case where the stud bump 5 is a two-stage stud bump. However, the bump 105 is not limited to the stud bump, and a single-stage bump such as a columnar or spherical shape may be used.

【0045】また、本発明はCSPやBGAパッケージ
のような半田バンプを備えたバンプ部品を配線基板10
2に実装する場合でも同じである。導電性接着剤の代わ
りに半田ペーストを電極103上に印刷し、CSPある
いはBGAを搭載した後に上ジグをかぶせる。そして、
隔壁外空間108を加圧後、加熱する。先ほどの導電性
接着剤の乾燥・硬化工程を加熱溶融(リフロー)工程と
すればよい。BGAあるいはCSPが上方から押さえら
れているために接続の不安定性は無い。更にアンダーフ
ィルが要る場合には、先ほどの説明と同じ工程を行なえ
ばよい。リフロー工程の後、洗浄が必要な場合にはアン
ダーフィル注入工程と同じ要領で一方のパイプから隔壁
内空間107に洗浄液を流し込み、他方のパイプから吸
い取ればいい。洗浄液を外部に曝すことが無いので公害
問題の低減にも役立つ。
Further, the present invention relates to a method for mounting a bump component having a solder bump such as a CSP or a BGA package on a wiring board 10.
2 is the same. A solder paste is printed on the electrode 103 instead of the conductive adhesive, and after mounting the CSP or BGA, the upper jig is covered. And
After pressurizing the space 108 outside the partition wall, it is heated. The drying and hardening step of the conductive adhesive may be a heat melting (reflow) step. There is no connection instability because the BGA or CSP is pressed from above. If further underfill is required, the same steps as described above may be performed. If cleaning is required after the reflow step, the cleaning liquid may be poured into the partition wall space 107 from one pipe and sucked from the other pipe in the same manner as in the underfill injection step. Since the cleaning liquid is not exposed to the outside, it is also useful for reducing pollution problems.

【0046】図4に、このようにして得られるバンプ部
品実装体のバンプ部分の拡大断面図を示す。図4におい
て、215は半田バンプであり、リフロー工程を経るこ
とでバンプ部品104の電極104aと配線基板102
の電極103とを接続している。212はバンプ部品1
04と配線基板102との間に充填されたアンダーフィ
ルである。半田バンプ215は大きな機械的強度を有す
るため、アンダーフィル212を注入しない場合もあ
る。
FIG. 4 is an enlarged sectional view of the bump portion of the bump component mounted body obtained in this manner. In FIG. 4, reference numeral 215 denotes a solder bump, which passes through a reflow process to form the electrode 104a of the bump component 104 and the wiring board 102.
Electrode 103 is connected. 212 is a bump part 1
This is an underfill filled between the wiring substrate 104 and the wiring substrate 102. Since the solder bump 215 has a large mechanical strength, the underfill 212 may not be injected in some cases.

【0047】更に、ACF、ACP、NCP等の接着剤
を用いることもできる。この場合は以下のようにすれば
よい。
Further, an adhesive such as ACF, ACP, NCP or the like can be used. In this case, the following may be performed.

【0048】ACFを用いた実装方法を図5,図6を用
いて説明する。まず、上述した実装方法と同様に、配線
基板102を支持基板101上に載置する。次いで、図
5に示すように、ACF220を配線基板102の電極
103上に載置する。ACF220は、接着樹脂成分2
21中に導電性微粒子222を分散含有してなる、自己
支持性を有するフィルムである。次いで、バンプ部品1
04をACF220上に位置合わせして載置する。次い
で、上ジグをかぶせ隔壁外空間108を加圧する。そし
て、加熱炉に投入してACF220を硬化、又は溶融さ
せる。その後、上ジグを取り除けばバンプ部品実装体が
得られる。図6は得られるバンプ部品実装体の要部断面
図である。隔壁202の両側に付与する圧力差により、
バンプ105がACF220内に圧入されるとともに、
ACF220が加圧されて変形してバンプ部品104と
配線基板102との間をすき間なく埋める。このとき、
バンプ105と配線基板102の電極103との間の導
電性微粒子222が相互に接触して、バンプ105と電
極103との電気的接続が得られる。
A mounting method using the ACF will be described with reference to FIGS. First, the wiring substrate 102 is mounted on the support substrate 101 in a manner similar to the mounting method described above. Next, as shown in FIG. 5, the ACF 220 is mounted on the electrode 103 of the wiring board 102. ACF220 is adhesive resin component 2
21 is a self-supporting film in which conductive fine particles 222 are dispersed and contained. Next, bump component 1
04 is positioned and placed on the ACF 220. Next, an upper jig is put on and the space 108 outside the partition wall is pressurized. Then, the ACF 220 is put into a heating furnace to cure or melt the ACF 220. Thereafter, by removing the upper jig, a bump component mounted body is obtained. FIG. 6 is a sectional view of a principal part of the obtained bump component mounted body. Due to the pressure difference applied to both sides of the partition 202,
While the bump 105 is pressed into the ACF 220,
The ACF 220 is pressurized and deformed to fill the gap between the bump component 104 and the wiring board 102 without any gap. At this time,
The conductive fine particles 222 between the bump 105 and the electrode 103 of the wiring board 102 come into contact with each other, and an electrical connection between the bump 105 and the electrode 103 is obtained.

【0049】次に、ACPを用いた実装方法を説明す
る。ACPは、ACFと同様に接着剤樹脂成分中に導電
性微粒子を分散含有してなるペーストである。最初に、
ACPを、支持基板101上に載置した配線基板102
の所定箇所に付与する。バンプ部品104側に付与して
も良い。次いで、上記ACFの場合と同様に、バンプ部
品104を配線基板102上に位置合わせして載置す
る。その後、上記のACFの場合と同様の工程を行な
う。かくして、図6に示したACFによるバンプ部品実
装体と同様のバンプ部品実装体が得られる。
Next, a mounting method using the ACP will be described. ACP is a paste in which conductive fine particles are dispersed and contained in an adhesive resin component similarly to ACF. At first,
ACP is placed on a wiring board 102 placed on a support substrate 101.
At a predetermined location. It may be provided on the bump component 104 side. Next, similarly to the case of the ACF, the bump component 104 is positioned and placed on the wiring board 102. Thereafter, the same steps as in the case of the ACF are performed. In this manner, a bump component mounted body similar to the ACF bump component mounted body shown in FIG. 6 is obtained.

【0050】次に、NCPを用いた実装方法を図7,図
8を用いて説明する。NCPは、絶縁性を有する接着樹
脂からなるペーストであり、ACPと異なり導電性微粒
子を含有していない。まず、配線基板102を支持基板
101上に載置する。次いで、図7に示すように、NC
P225を配線基板102の所定箇所に付与する。バン
プ部品104側に付与しても良い。次いで、上記ACP
の場合と同様に、バンプ部品104を配線基板102上
に位置合わせして載置する。その後、上記のACFの場
合と同様の工程を行なう。図8は得られるバンプ部品実
装体の要部断面図である。隔壁202の両側に付与する
圧力差により、バンプ105がNCP225内に圧入さ
れるとともに、NCP225が加圧されて変形してバン
プ部品104と配線基板102との間をすき間なく埋め
る。図6に示したACFやACPの場合と異なり、バン
プ105が電極103に直接接触することで電気的接続
が得られる。
Next, a mounting method using the NCP will be described with reference to FIGS. NCP is a paste made of an adhesive resin having insulating properties, and does not contain conductive fine particles unlike ACP. First, the wiring substrate 102 is placed on the support substrate 101. Next, as shown in FIG.
P225 is applied to a predetermined portion of the wiring board 102. It may be provided on the bump component 104 side. Next, the ACP
As in the case of (1), the bump component 104 is positioned and placed on the wiring board 102. Thereafter, the same steps as in the case of the ACF are performed. FIG. 8 is a sectional view of a main part of the obtained bump component mounted body. The bumps 105 are pressed into the NCP 225 by the pressure difference applied to both sides of the partition wall 202, and the NCP 225 is pressed and deformed to fill the gap between the bump component 104 and the wiring board 102 without any gap. Unlike the case of the ACF or the ACP shown in FIG. 6, an electrical connection is obtained by the bump 105 being in direct contact with the electrode 103.

【0051】上記のACF、ACP、NCPを用いた場
合には、これらがアンダーフィルとしての役割も果たす
ので、アンダーフィルの注入工程は不要である。
When the above-mentioned ACF, ACP, and NCP are used, they also serve as an underfill, so that the step of injecting the underfill is unnecessary.

【0052】本発明の優れた点はバンプ部品104を搭
載した後の熱工程やハンドリング時に引き起こされる配
線基板102のゆがみによる不安定な状態が皆無である
ことである。
An excellent point of the present invention is that there is no unstable state due to the distortion of the wiring board 102 caused during the heating process or the handling after the mounting of the bump component 104.

【0053】上記の実施の形態の説明では、上ジグをか
ぶせる前、例えばバンプ部品104を配線基板102に
搭載する際には配線基板102には平坦性を強制する何
らの力も働いていない。この時点での強制力が必要な場
合は支持基板101を透気性の基板とすることで下から
配線基板102を減圧吸着して強制力を働かせることも
できる。隔壁内空間107を減圧してアンダーフィルを
注入する際にも配線基板102を減圧吸着して、注入時
の配線基板102のそりを防止しても良い。
In the description of the above embodiment, before mounting the upper jig, for example, when the bump component 104 is mounted on the wiring board 102, no force is exerted on the wiring board 102 to enforce flatness. If a forcing force is required at this time, the supporting substrate 101 may be made of a gas-permeable substrate, and the forcible force may be applied by adsorbing the wiring substrate 102 under reduced pressure. Even when the space 107 in the partition wall is depressurized and the underfill is injected, the wiring substrate 102 may be adsorbed under reduced pressure to prevent the warpage of the wiring substrate 102 at the time of injection.

【0054】また、配線基板102を上ジグの外まで引
き出しておくとアンダーフィルを注入する前に回路の電
気的検査も可能である。接続不良が発見されれば、上ジ
グを取り外すことで容易にリペアすることができる。
If the wiring board 102 is drawn out of the upper jig, an electrical inspection of the circuit can be performed before the underfill is injected. If a connection failure is found, it can be easily repaired by removing the upper jig.

【0055】本発明を実施する手段として図2のような
ジグを使うことで説明したが、ジグの変形や、他の実現
方法も多く考えられる。例えば、隔壁202を薄いフィ
ルムとし、隔壁202の両側の圧力差により、隣り合う
バンプ部品104の間で隔壁202を配線基板102に
密着(又は接近)させることも考えられる。あるいは、
図9に示すように各バンプ部品104の間を仕切るよう
に隔壁202にリブ232を形成しておいても良い。図
9中、233は、リブ232で仕切られた隣り合う空間
の圧力差を解消するため、あるいは、アンダーフィルを
注入するために、リブ232に設けられた溝である。以
上のように、隔壁202が配線基板102に密着(又は
接近)した部分、又はリブ232が設けられた部分には
アンダーフィルがほとんど形成されない。この部分は、
バンプ部品の実装体を得た後、各バンプ部品ごとに切断
して分離する際に、分離を容易にするための切り込みと
して利用することができる。もちろんこのような構成も
本発明から逸脱するものではない。
Although the present invention has been described using a jig as shown in FIG. 2 as a means for carrying out the present invention, many modifications of the jig and other realization methods are conceivable. For example, it is conceivable that the partition wall 202 is made of a thin film, and the partition wall 202 is brought into close contact with (or close to) the wiring board 102 between the adjacent bump components 104 by a pressure difference between both sides of the partition wall 202. Or,
As shown in FIG. 9, ribs 232 may be formed on the partition walls 202 so as to partition between the bump components 104. In FIG. 9, reference numeral 233 denotes a groove provided on the rib 232 for eliminating a pressure difference between adjacent spaces partitioned by the rib 232 or for injecting an underfill. As described above, almost no underfill is formed in a portion where the partition wall 202 is in close contact with (or close to) the wiring substrate 102 or in a portion where the rib 232 is provided. This part
When a bump component is mounted and then cut and separated for each bump component, it can be used as a cut for facilitating separation. Of course, such a configuration does not depart from the present invention.

【0056】また、図2では、注入用パイプ203、減
圧用パイプ204、加圧用パイプ205を各1本ずつ挿
入できるジグを例示したが、これらのパイプ203,2
04,205の本数や挿入位置は図2の構成に限定され
ない。特に注入用パイプ203については、隔壁内空間
107の形状やバンプ部品104の配置などを考慮し
て、中央部に配置したり、異なる場所に複数本配置した
りすることにより、アンダーフィルの注入速度の向上や
未充填箇所の発生防止などに効果が得られることがあ
る。
FIG. 2 illustrates a jig into which one injection pipe 203, one pressure reduction pipe 204, and one pressure pipe 205 can be inserted.
The numbers and insertion positions of 04 and 205 are not limited to the configuration of FIG. In particular, the injection pipe 203 is disposed in the center or in a plurality of different places in consideration of the shape of the space 107 in the partition wall and the arrangement of the bump parts 104, so that the injection speed of the underfill is reduced. In some cases, effects can be obtained for improving the quality and preventing the occurrence of unfilled portions.

【0057】また、バンプ部品104を配線基板102
上に載置した後、上ジグをかぶせる際に、バンプ部品1
04と隔壁202との間にシート状物を介在させても良
い。これにより、例えば、隔壁202にアンダーフィル
が付着するのを防止できる。あるいは、上ジグの分離が
容易になる。あるいは、シート状物に印刷などを施して
アンダーフィルと一体化させることで、シート状物を最
終的に得られるバンプ部品実装体の外装フィルムとする
ことができる。このようなシート状物としては、その目
的や用途に応じてポリエステルフィルム、ポリイミドフ
ィルムなどの樹脂フィルムを用いることができ、更に表
面に離型処理などの表面処理を施しても良い。
The bump component 104 is connected to the wiring board 102.
After placing it on the top jig, place the bump component 1
A sheet may be interposed between the partition 04 and the partition 202. Thereby, for example, it is possible to prevent the underfill from adhering to the partition wall 202. Alternatively, the upper jig can be easily separated. Alternatively, by printing or the like on the sheet-like material and integrating it with the underfill, the sheet-like material can be finally obtained as an exterior film of the bump component mounting body. As such a sheet-like material, a resin film such as a polyester film or a polyimide film can be used according to the purpose or use, and the surface may be subjected to a surface treatment such as a release treatment.

【0058】バンプ部品104を配線基板102に押さ
えつけるために付与する隔壁202の両側の圧力差はバ
ンプ部品104と配線基板102との接続方法に応じて
適宜設定する。例えば、導電性接着剤を介して接続する
場合には1バンプ当たり0.01〜0.2Nの力が付与
されるように圧力差を設定する。また、ACFを介して
接続する場合には、ACFを変形させる必要があるため
に大きな力が必要で、例えば1バンプ当たり1N程度の
力が付与されるように圧力差を設定する。
The pressure difference on both sides of the partition wall 202 applied to press the bump component 104 against the wiring board 102 is appropriately set according to the connection method between the bump component 104 and the wiring board 102. For example, when connecting via a conductive adhesive, the pressure difference is set so that a force of 0.01 to 0.2 N per bump is applied. In the case of connection via the ACF, a large force is required because the ACF needs to be deformed. For example, the pressure difference is set so that a force of about 1 N is applied per bump.

【0059】以上の説明においては高さが同一のバンプ
部品を実装する場合について述べたが、本発明は、高さ
が異なるバンプ部品を実装する場合に適用することがで
きる。また、本発明は、バンプ部品とともにバンプを有
しない一般の表面実装用電子部品であるチップコンデン
サーやチップ抵抗などを一緒に実装する場合にも適用す
ることができる。
In the above description, the case where bump components having the same height are mounted has been described. However, the present invention can be applied to the case where bump components having different heights are mounted. Further, the present invention can be applied to a case where a chip capacitor, a chip resistor, or the like, which is a general surface mount electronic component having no bump, is mounted together with the bump component.

【0060】図10は、高さが異なるバンプ部品10
4,104’を一緒に実装する場合の実装体の製造方法
を示した概略断面図である。また、図11は、バンプ部
品104とチップコンデンサやチップ抵抗などの一般の
表面実装用電子部品241,242,243とを一緒に
実装する場合の実装体の製造方法を示した概略断面図で
ある。図10,図11に示すように、高さが異なる部品
が混在している場合でも、隔壁106が部品の高さに応
じて柔軟に変形するので、全ての部品に押圧力を付与す
ることができる。
FIG. 10 shows bump components 10 having different heights.
It is the schematic sectional drawing which showed the manufacturing method of the mounted body when mounting 4,104 'together. FIG. 11 is a schematic cross-sectional view showing a method of manufacturing a mounted body when the bump component 104 and general electronic components for surface mounting 241, 242, 243 such as chip capacitors and chip resistors are mounted together. . As shown in FIGS. 10 and 11, even when components having different heights are mixed, the partition wall 106 is flexibly deformed according to the height of the components. it can.

【0061】また、隔壁の隔壁内空間側の面を部品上面
の高低に従って前もって加工(成形)しておいてもよ
い。例えば、図12Aに示すように、隔壁250の一方
の面に、高い部品の実装位置に対応する位置に凹部25
1を形成しておく。こうすることで、図12Bに示すよ
うに、高い電子部品245に近接して配置された低いバ
ンプ部品104にも押圧力を付与できる。なお、図12
Aと異なり、隔壁の低い部品の実装位置に対応する位置
に該部品を押圧できる凸部を形成しても良い。
The surface of the partition wall on the space side in the partition wall may be processed (formed) in advance according to the height of the upper surface of the component. For example, as shown in FIG. 12A, the concave portion 25 is provided on one surface of the partition wall 250 at a position corresponding to a mounting position of a high component.
1 is formed in advance. In this way, as shown in FIG. 12B, a pressing force can be applied to the low bump component 104 arranged close to the high electronic component 245. FIG.
Unlike A, a protrusion that can press the component may be formed at a position corresponding to the mounting position of the component with a low partition.

【0062】また、図11,図12Bから明らかなよう
に、隔壁内空間107内にアンダーフィルを注入するこ
とにより、高い部品241,242,243,245の
周囲にアンダーフィルをフィレット状に形成することが
できる。これにより、これらの部品の実装強度を補強す
ることができる。
Further, as is apparent from FIGS. 11 and 12B, the underfill is formed into the fillet shape around the high parts 241, 242, 243, and 245 by injecting the underfill into the space 107 inside the partition wall. be able to. Thereby, the mounting strength of these components can be reinforced.

【0063】なお、図10、図11、図12Bは本発明
の実装体の製造方法の実施形態例の基本構成を概念的に
示したに過ぎず、これらの図に示した隔壁を図9に示し
たような隔壁支持体で保持しても良いことは言うまでも
ない。
FIG. 10, FIG. 11, and FIG. 12B conceptually show only the basic structure of the embodiment of the method of manufacturing a package according to the present invention, and the partitions shown in these figures are shown in FIG. Needless to say, the support may be held by the partition wall support as shown.

【0064】本発明において、隔壁が「フレキシブル」
であるとは、上記の説明から明らかなように広義に解釈
すべきであり、両側の圧力差で隔壁内空間内のバンプ部
品を押圧することができる程度の柔軟性を備えているこ
とを意味する。更に、配線基板に押圧されることで配線
基板と密着し、気密の隔壁内空間を形成することができ
る程度の柔軟性を備えていることが好ましい。
In the present invention, the partition is “flexible”
Is to be interpreted in a broad sense as is clear from the above description, and means that it has enough flexibility to be able to press the bump component in the space in the partition wall with the pressure difference between both sides. I do. Further, it is preferable that the wiring board has such a flexibility as to be pressed against the wiring board so as to be in close contact with the wiring board and to form an airtight partition space.

【0065】[0065]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
バンプ部品を搭載した後の熱工程により引き起こされる
不安定な状態が皆無であり、実装歩留りを上げ、さらに
低コストの実装方法を提供できる。
As described above, according to the present invention,
There is no unstable state caused by the heat process after the mounting of the bump component, so that the mounting yield can be increased and a mounting method with lower cost can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態におけるバンプ部品実装
体の製造方法の原理を説明する断面図
FIG. 1 is a sectional view illustrating the principle of a method for manufacturing a bump component mounted body according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施の形態におけるより具体的なバ
ンプ部品実装体の製造方法を説明する断面図
FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a more specific method of manufacturing a bump component mounted body according to an embodiment of the present invention.

【図3】スタッドバンプボンディングによる本発明のバ
ンプ部品実装体の要部断面図
FIG. 3 is a sectional view of a main part of a bump component mounted body of the present invention by stud bump bonding.

【図4】半田バンプを備えたバンプ部品の本発明による
実装体の要部断面図
FIG. 4 is a sectional view of a main part of a mounting body according to the present invention of a bump component having a solder bump.

【図5】ACFを用いた本発明の実装体の製造方法の一
工程を示した要部断面図
FIG. 5 is a cross-sectional view of a main part showing one step of a method of manufacturing a package according to the present invention using an ACF.

【図6】ACFを用いた本発明のバンプ部品実装体の要
部断面図
FIG. 6 is a sectional view of a main part of a bump component mounted body of the present invention using an ACF.

【図7】NCPを用いた本発明の実装体の製造方法の一
工程を示した要部断面図
FIG. 7 is an essential part cross sectional view showing one step of a method of manufacturing a package of the present invention using NCP.

【図8】NCPを用いた本発明のバンプ部品実装体の要
部断面図
FIG. 8 is a sectional view of a main part of a bump component mounted body of the present invention using an NCP.

【図9】本発明の別の実施形態におけるバンプ部品の実
装体の製造方法を説明する断面図
FIG. 9 is a cross-sectional view illustrating a method of manufacturing a bump component package according to another embodiment of the present invention.

【図10】本発明のバンプ部品実装体の製造方法の別の
実施形態の基本構成を示した断面図
FIG. 10 is a sectional view showing a basic configuration of another embodiment of the method for manufacturing a bump component mounted body of the present invention.

【図11】本発明のバンプ部品実装体の製造方法の更に
別の実施形態の基本構成を示した断面図
FIG. 11 is a sectional view showing a basic configuration of still another embodiment of the method for manufacturing a bump component mounted body of the present invention.

【図12】図12Aは本発明のバンプ部品実装体の製造
方法の更に別の実施形態に使用される隔壁を示した断面
図、図12Bは該隔壁を用いたバンプ部品実装体の製造
方法の基本構成を示した断面図
FIG. 12A is a cross-sectional view illustrating a partition used in still another embodiment of the method for manufacturing a bump component mounted body of the present invention, and FIG. 12B is a diagram illustrating a method for manufacturing a bump component mounted body using the partition. Sectional view showing basic configuration

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101 支持基板 102 配線基板 103 電極 104,104’ バンプ部品 104a 電極 105 バンプ 106 フレキシブルな隔壁 107 隔壁内空間 108 隔壁外空間 201 隔壁支持体 202 隔壁 203 注入用パイプ 204 減圧用パイプ 205 加圧用パイプ 206 ゴム栓 207 孔 211 導電性接着剤 212 アンダーフィル 215 半田バンプ 220 ACF 221 接着樹脂成分 222 導電性微粒子 225 NCP 232 リブ 233 溝 241,242,243,245 表面実装用電子部品 250 隔壁 251 凹部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 101 Support substrate 102 Wiring board 103 Electrode 104, 104 'Bump component 104a Electrode 105 Bump 106 Flexible partition 107 Internal space in partition 108 External space in partition 201 Partition support 202 Partition 203 Injecting pipe 204 Depressurizing pipe 205 Pressurizing pipe 206 Rubber Plug 207 Hole 211 Conductive Adhesive 212 Underfill 215 Solder Bump 220 ACF 221 Adhesive Resin Component 222 Conductive Fine Particle 225 NCP 232 Rib 233 Groove 241, 242, 243, 245 Surface Mount Electronic Component 250 Partition 251 Depression

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) B23K 3/00 310 B23K 3/00 310D 3/06 3/06 H H05K 1/18 H05K 1/18 L ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) B23K 3/00 310 B23K 3/00 310D 3/06 3/06 H H05K 1/18 H05K 1/18 L

Claims (22)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 配線基板上に搭載した複数のバンプ部品
を覆うように設けたフレキシブルな隔壁の両側に与える
圧力差によりバンプ部品を押さえる工程を少なくとも有
することを特徴とするバンプ部品実装体の製造方法。
1. A method of manufacturing a bump component mounted body, comprising: at least a step of pressing a bump component by a pressure difference applied to both sides of a flexible partition wall provided so as to cover a plurality of bump components mounted on a wiring board. Method.
【請求項2】 圧力差により前記バンプ部品を押さえた
状態で加熱する工程を更に有する請求項1に記載のバン
プ部品実装体の製造方法。
2. The method according to claim 1, further comprising a step of heating the bump component while pressing the bump component by a pressure difference.
【請求項3】 更に、前記配線基板を切断する工程を有
する請求項1に記載のバンプ部品実装体の製造方法。
3. The method according to claim 1, further comprising the step of cutting the wiring board.
【請求項4】 前記複数のバンプ部品のうちの少なくと
も1つは、他のバンプ部品と高さが異なる請求項1に記
載のバンプ部品実装体の製造方法。
4. The method according to claim 1, wherein at least one of the plurality of bump components has a different height from other bump components.
【請求項5】 更に、前記バンプ部品以外の電子部品を
前記バンプ部品とともに前記配線基板上に搭載する請求
項1に記載のバンプ部品実装体の製造方法。
5. The method according to claim 1, further comprising mounting an electronic component other than the bump component together with the bump component on the wiring board.
【請求項6】 配線基板上に搭載したバンプ部品を覆う
ように設けたフレキシブルな隔壁と配線基板とでできる
隔壁内空間を減圧し、減圧中あるいは減圧後に前記隔壁
内空間にアンダーフルを注入する工程を少なくとも有す
ることを特徴とするバンプ部品実装体の製造方法。
6. A space in a partition formed by a flexible partition and a wiring board provided so as to cover a bump component mounted on a wiring board, and a pressure in a partition inside space is reduced, and an underfill is injected into the space in the partition during or after the pressure reduction. A method for manufacturing a bump component mounted body, comprising at least a step.
【請求項7】 複数のバンプ部品を配線基板上にフリッ
プ実装する工程と、 前記複数のバンプ部品をフレキシブルな隔壁で覆い、前
記隔壁と前記配線基板との間に隔壁内空間を形成する工
程と、 前記隔壁の両側に圧力差を付与して前記バンプ部品を前
記配線基板に加圧する工程とを有することを特徴とする
バンプ部品実装体の製造方法。
7. A step of flip-mounting a plurality of bump components on a wiring board, a step of covering the plurality of bump components with a flexible partition, and forming a space in the partition between the partition and the wiring board. Applying a pressure difference to both sides of the partition wall to press the bump component against the wiring board.
【請求項8】 前記フリップ実装する工程の前に、前記
バンプ部品のバンプ又は前記配線基板の電極に導電性接
着剤を付与する工程を更に有し、 前記加圧する工程の後に、 前記加圧した状態で前記導電性接着剤を乾燥、硬化、又
は溶融させる工程と、 前記隔壁内空間を減圧し、減圧中又は減圧後に前記隔壁
内空間にアンダーフィルを注入する工程と、 前記アンダーフィルを硬化させる工程とを更に有する請
求項7に記載のバンプ部品実装体の製造方法。
8. The method according to claim 8, further comprising: applying a conductive adhesive to the bump of the bump component or the electrode of the wiring board before the flip-mounting step. Drying, curing, or melting the conductive adhesive in a state; depressurizing the space in the partition wall; injecting an underfill into the space in the partition wall during or after decompression; and curing the underfill. The method according to claim 7, further comprising the steps of:
【請求項9】 前記アンダーフィルを注入する工程にお
いて、前記隔壁の前記隔壁内空間とは反対側の空間を加
圧する請求項8に記載のバンプ部品実装体の製造方法。
9. The method for manufacturing a bump component mounted body according to claim 8, wherein in the step of injecting the underfill, a space of the partition wall opposite to the space in the partition wall is pressurized.
【請求項10】 前記バンプ部品が半田バンプを備え、 前記加圧する工程の後に、前記加圧した状態で前記半田
バンプを溶融させる工程を更に有する請求項7に記載の
バンプ部品実装体の製造方法。
10. The method of manufacturing a bump component mounted body according to claim 7, wherein the bump component includes a solder bump, and further comprising, after the pressing step, a step of melting the solder bump in the pressed state. .
【請求項11】 前記フリップ実装する工程において、
前記バンプ部品と前記配線基板との間に接着剤を介在さ
せ、 前記加圧する工程の後に、前記加圧した状態で前記接着
剤を乾燥、硬化、又は溶融させる工程を更に有する請求
項7に記載のバンプ部品実装体の製造方法。
11. The flip mounting step,
8. The method according to claim 7, further comprising: interposing an adhesive between the bump component and the wiring board; and, after the pressing, drying, curing, or melting the adhesive in the pressed state. 9. Of manufacturing a bump component mounted body.
【請求項12】 更に、前記配線基板を切断する工程を
有する請求項7に記載のバンプ部品実装体の製造方法。
12. The method according to claim 7, further comprising the step of cutting the wiring board.
【請求項13】 前記バンプ部品と前記隔壁との間にシ
ート状物を介在させる請求項7に記載のバンプ部品実装
体の製造方法。
13. The method according to claim 7, wherein a sheet-like material is interposed between the bump component and the partition.
【請求項14】 前記複数のバンプ部品のうちの少なく
とも1つは、他のバンプ部品と高さが異なる請求項7に
記載のバンプ部品実装体の製造方法。
14. The method according to claim 7, wherein at least one of the plurality of bump components has a different height from other bump components.
【請求項15】 前記隔壁内空間を形成する工程の前
に、更に、前記バンプ部品以外の電子部品を前記配線基
板上に実装する工程を有する請求項7に記載のバンプ部
品実装体の製造方法。
15. The method according to claim 7, further comprising a step of mounting an electronic component other than the bump component on the wiring board before the step of forming the space in the partition. .
【請求項16】 配線基板を載置するための支持基板
と、フレキシブルな隔壁と、前記隔壁を保持する隔壁支
持体と、前記隔壁と前記隔壁支持体との間に形成された
密閉空間とを有することを特徴とするバンプ部品実装体
の製造装置。
16. A support substrate for mounting a wiring board, a flexible partition, a partition support for holding the partition, and a sealed space formed between the partition and the partition support. An apparatus for manufacturing a bump component mounted body, comprising:
【請求項17】 前記隔壁を保持した隔壁支持体と前記
支持基板とを、前記配線基板を挟んで一体化したとき、
前記隔壁と前記配線基板とで密閉された隔壁内空間が形
成される請求項16に記載のバンプ部品実装体の製造装
置。
17. When the partition support holding the partition and the support substrate are integrated with the wiring substrate interposed therebetween,
17. The manufacturing apparatus for a bump component mounted body according to claim 16, wherein a space inside the partition wall is hermetically sealed by the partition wall and the wiring board.
【請求項18】 前記隔壁と前記隔壁支持体とにより形
成された密閉空間を加圧するための加圧用パイプを挿入
するためのゴム栓を有する請求項16に記載のバンプ部
品実装体の製造装置。
18. The apparatus for manufacturing a bump component mounted body according to claim 16, further comprising a rubber stopper for inserting a pressurizing pipe for pressurizing a closed space formed by the partition and the partition support.
【請求項19】 前記隔壁内空間を減圧するための減圧
用パイプを挿入するためのゴム栓を有する請求項17に
記載のバンプ部品実装体の製造装置。
19. The apparatus for manufacturing a bump component mounted body according to claim 17, further comprising a rubber stopper for inserting a decompression pipe for decompressing the space in the partition wall.
【請求項20】 前記隔壁内空間にアンダーフィルを注
入するための注入用パイプを挿入するためのゴム栓を有
する請求項17に記載のバンプ部品実装体の製造装置。
20. The apparatus for manufacturing a bump component mounted body according to claim 17, further comprising a rubber stopper for inserting an injection pipe for injecting an underfill into the space in the partition.
【請求項21】 前記支持基板は前記配線基板を吸着し
て保持する請求項16に記載のバンプ部品実装体の製造
装置。
21. The apparatus according to claim 16, wherein the support substrate holds the wiring substrate by suction.
【請求項22】 前記隔壁を保持した隔壁支持体と前記
支持基板とを、前記配線基板を挟んで一体化したとき、
前記配線基板の配線の一部が露出する請求項16に記載
のバンプ部品の実装体の製造装置。
22. When a partition support holding the partition and the support substrate are integrated with the wiring substrate interposed therebetween,
17. The apparatus for manufacturing a bump component mounted body according to claim 16, wherein a part of the wiring of the wiring board is exposed.
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