JP2001305041A - 粒子信号処理装置およびそれを用いた粒子測定装置 - Google Patents

粒子信号処理装置およびそれを用いた粒子測定装置

Info

Publication number
JP2001305041A
JP2001305041A JP2000120373A JP2000120373A JP2001305041A JP 2001305041 A JP2001305041 A JP 2001305041A JP 2000120373 A JP2000120373 A JP 2000120373A JP 2000120373 A JP2000120373 A JP 2000120373A JP 2001305041 A JP2001305041 A JP 2001305041A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
particle
amplifier
output
signal
processing device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000120373A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3611771B2 (ja
Inventor
Kunio Ueno
邦男 植野
Seiya Shinabe
誠也 品部
Yoichi Nakamura
洋一 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sysmex Corp
Original Assignee
Sysmex Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sysmex Corp filed Critical Sysmex Corp
Priority to JP2000120373A priority Critical patent/JP3611771B2/ja
Priority to US09/813,833 priority patent/US6534965B2/en
Publication of JP2001305041A publication Critical patent/JP2001305041A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3611771B2 publication Critical patent/JP3611771B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/10Investigating individual particles
    • G01N15/1031Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects
    • G01N15/12Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects by observing changes in resistance or impedance across apertures when traversed by individual particles, e.g. by using the Coulter principle
    • G01N15/131Details
    • G01N15/132Circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/10Investigating individual particles
    • G01N2015/1019Associating Coulter-counter and optical flow cytometer [OFC]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/10Investigating individual particles
    • G01N2015/1024Counting particles by non-optical means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/10Investigating individual particles
    • G01N2015/1028Sorting particles

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 粒子信号のベースラインを安定させ、精度よ
く粒子の測定を行うこと。 【解決手段】 粒子の特徴を表わす連続したパルス状の
粒子信号を増幅する増幅器と、増幅器の出力の低周波成
分を増幅器の入力へ負帰還するフィルタ部と、増幅器の
出力がしきい値以上の期間はフィルタ部に帰還信号をホ
ールドさせる帰還信号制御部を備えた粒子信号処理装
置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、粒子信号処理装
置およびそれを用いた粒子測定装置に関し、例えば、体
液中の粒子や工業用粒子の測定に用いられる。
【0002】
【従来の技術】従来、電気抵抗式の粒子測定装置におい
ては、2つのチャンバーを微細孔(オリフィス)で連通
し、粒子含有液が一方のチャンバーから他方のチャンバ
ーへ流れるとき、1つの粒子がオリフィスを通過する毎
に生じるパルス状の電気抵抗の変化を粒子信号として検
出するようにしている。そしてその波高値が粒子の体積
に比例するところから、粒子信号を用いて粒子の粒径の
算出や粒子の弁別などを行っている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな粒子測定装置では、粒子含有液に含まれる気泡が微
細孔の近傍に存在すると、得られる粒子信号(パルス信
号)は図4に示すように、ベースラインにゆらぎ(低周
波変動分)が生じて、粒子信号の波高値を正確に求める
ことが難しいという問題点があった。
【0004】この発明はこのような事情を考慮してなさ
れたもので、粒子信号(パルス信号)のベースラインを
安定させ、パルス信号の波高値を正確に検出して、精度
よく粒子の測定を行うことが可能な粒子測定装置を提供
するものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明は、粒子の特徴
を表わす連続したパルス状の粒子信号を増幅する増幅器
と、増幅器の出力の低周波成分を増幅器の入力へ負帰還
するフィルタ部と、増幅器の出力するパルス波形がしき
い値以上の期間はフィルタ部に帰還信号をホールドさせ
る帰還信号制御部を備えた粒子信号処理装置を提供する
ものである。
【0006】
【発明の実施の形態】この発明の対象粒子は、トナー,
黒鉛,シリカ,研磨剤,セラミックス粉体,顔料,粉体
塗料,培養細胞,血液細胞,酵母菌,プランクトン,磁
性粉体などを含み、測定サイズの範囲としては、粒径で
サブミクロンから数百ミクロン程度である。
【0007】この発明の粒子信号処理装置の適用対象
は、主に電気抵抗式の粒子測定装置であるが、これに限
定されず、例えば光学式の粒子測定装置であってもよ
い。この発明の粒子信号処理装置に用いる増幅器には、
市販のオペアンプを使用することができる。
【0008】フィルタ部は、オペアンプとコンデンサと
抵抗を組合せた、いわゆるRCアクティブフィルタで構
成できる。帰還信号制御部は、増幅器の出力するパルス
波形としきい値とを比較するコンパレータと、コンパレ
ータの出力によって作動するアナログスイッチからなる
ものであってもよい。増幅器の出力が、微分回路を介し
てコンパレータに入力されるものであってもよい。な
お、コンパレータおよびアナログスイッチには市販のも
のを用いることができる。
【0009】この発明の粒子信号処理装置が電気抵抗式
測定装置に適用される場合、その測定装置は例えば、第
1チャンバーと、第2チャンバーと第1および第2チャ
ンバーを連通するオリフィス部とを有するフローセル
と、第1および第2チャンバー内にそれぞれ設けられた
第1および第2電極と、第1および第2電極間のインピ
ーダンスの変化分を粒子信号として検出する検出部とを
備えた粒子測定装置である。
【0010】この場合、粒子測定装置は、粒子信号処理
装置から得られる粒子信号に基づいて粒子分析を行う分
析部をさらに備えてもよい。ここで、分析部には、マイ
クロコンピュータやパーソナルコンピュータを用いるこ
とができる。
【0011】上記粒子測定装置の検出部は、第1および
第2電極間に電流を供給する直流定電流電源と、第1お
よび第2電極間に流れる電流の変化分を電圧に変換する
電流/電圧変換部を備えてもよい。
【0012】実施例 以下、図面に示す実施例に基づいてこの発明を詳述す
る。これによってこの発明が限定されるものではない。
図1はこの発明の実施例を示すブロック図である。
【0013】図1において粒子信号検出部1で検出され
た粒子信号V1は波形処理部20で波形処理されて粒子
信号V2として分析部30へ出力され、分析部30では
粒子信号V2から粒子の計数,弁別および粒子体積,粒
径の算出が行われ、その結果が出力部40から出力され
るようになっている。
【0014】粒子信号検出部の構成と動作 図1において、粒子信号検出部1は、フローセル2,粒
子含有試料液を収容する試料液容器3,試料液を吸引す
る吸引ノズル4,弁5,6,7,シリンジ8,シース液
容器10を備える。フローセル2は、第1セル2aと,
第2セル2bと、第1セル2aと第2セル2bとを微細
な貫通孔(オリフィス)を介して連通するオリフィス部
2cと、オリフィス部2cに試料液を噴射する試料ノズ
ル2dとから構成される。また、シース液を容器10か
ら弁7を介して供給するための供給口2eが第1セル2
aに設けられ、シース液と試料液とを排出する排液口2
fが第2セル2bに設けられている。
【0015】さらに、第1および第2セル2a,2bの
内部にはそれぞれ電極11,12が設置される。電極1
1,12の間には、オリフィス部2cに電流を供給する
ための直流定電流電源13が接続される。
【0016】このような粒子信号検出部1では、まず、
弁5,6を所定時間開けると、陰圧により吸引ノズル4
から試料液が弁5,6の間に満たされる。次に、シリン
ジモータ9が作動してシリンジ8が一定流量で弁5,6
間の試料液を試料ノズル2dへ押し出すことにより、試
料ノズル2dから試料液が第1セル2aに吐出される。
【0017】それと同時に弁7を開けることにより第1
セル2aにシース液が供給される。これによって試料液
はシース液に包まれ、さらにオリフィス部2cによって
細く絞られてシースフローを形成する。
【0018】このようにシースフローを形成することに
よって試料液に予め含まれた粒子を一個づつオリフィス
部2cを介して一列に整列して流すことができる。オリ
フィス2cを通過した試料液とシース液は第2セル2b
に設けた排液口2fから排出される。
【0019】電極11,12間の電気抵抗は、シース液
の導電率(電気伝導度),オリフィス部2cの穴寸法
(断面積)と穴長さ,試料液の導電率,試料液の流れの
径によって決まる。
【0020】ところで、前述のように、直流定電流源1
3から電極12と電極11との間に電流が供給されてい
る。従って、オリフィス部2cを粒子が通過すると、オ
リフィス部2cの両端の電気抵抗が変化するので、粒子
の通過中だけ電極12と電極11との間に流れる電流が
パルス状に変化し、その変化分の最大値(パルスの波高
値)はオリフィス部2cを通過する粒子の大きさに比例
する。この電流の変化分が、電流/電圧変換部14で電
圧に変換され、粒子信号V1として出力される。このよ
うにして粒子信号検出部1は粒子信号V1を生成するよ
うになっている。なお、電流/電圧変換部14は、例え
ば図2に示すように、コンデンサC1,オペアンプM
1,抵抗R1から構成できる。
【0021】波形処理部の構成と動作 図1に示す波形処理部20は、粒子信号V1を適当な増
幅度で増幅する増幅器21と、増幅器21の出力の低周
波成分を増幅器21の入力へ負帰還(ネガティブフィー
ドバック)するフィルタ部22と、増幅器21の出力す
るパルス波形がしきい値以上の期間はフィルタ部22に
帰還信号をホールドさせる帰還信号制御部23を備え
る。
【0022】図3は、波形処理部20の詳細な構成を示
す回路図であり、増幅器21は、オペアンプM2と、抵
抗器R2〜R4で構成され、この実施例では例えば、ゲ
インが2.2となるように抵抗器R2,R3の値を設定し
ている。
【0023】フィルタ部22は、オペアンプM3と、コ
ンデンサC2と、抵抗器R5〜R8を備え、RCアクテ
ィブ(能動)フィルタを構成し、カットオフ周波数1K
Hzのローパスフィルタとして作動するようにコンデン
サC2と抵抗器R5,R6の値を設定している。なお、
オペアンプM3の非反転入力には抵抗器R8を介して参
照電圧V1(例えば2V)が印加されている。
【0024】帰還信号制御部23は、コンパレータM4
と、アナログスイッチSWと、抵抗器R9,R10と、
コンデンサC3を備える。コンパレータM4には比較電
圧(しきい値電圧)V2が印加され、コンパレータM4
は、抵抗器R9,R10とコンデンサC3からなる微分
回路を介して入力される信号がしきい値電圧V2より大
きいときにアナログスイッチSWをオンするようになっ
ている。
【0025】ここで、オペアンプM1,M2,M3には
ナショナルセミコンダクター社製のLMV824Mを、
コンパレータM4にはナショナルセミコンダクター社製
のLMV331M5を用いることができる。なお出力の
オフセット電圧を小さく抑えたい場合はM3にオフセッ
ト電圧の小さいオペアンプを使用するのが望ましい。
【0026】このような構成の動作を次に説明する。粒
子信号検出部1から粒子信号V1として図4に示すよう
なパルス波形を有するパルス信号が増幅器21に入力さ
れる。図4のパルス信号は図5に示すような低周波成分
を有し、それによってベースラインにゆらぎが生じてい
る。
【0027】増幅器21から出力されるパルス信号は、
ローパスフィルタであるフィルタ部22によってろ波さ
れ、図5に示す低周波成分が増幅器21の入力に負帰還
される。従って、図4に示すパルス信号から図5に示す
低周波成分が除去され、増幅器21の出力波形は図6に
示すように安定したベースラインを有する波形となる。
【0028】しかし、この場合、フィルタ部22によっ
て増幅器21の出力から図5に示すような低周波成分の
みを検出することは難しく、パルス波形成分(高周波成
分)もある程度フィルタ部22を通過して増幅器21に
負帰還される。従って、その影響によって図6に示すパ
ルス波形が歪みを生じることになる。
【0029】この歪みを除去するために設けられたのが
帰還信号制御部23である。帰還信号制御部23におい
て、コンパレータM4は、増幅器21の出力を電圧V2
と比較し、増幅器21の出力が電圧V2より大きい期
間、つまり各パルス波形のパルス幅に対応する期間だけ
アナログスイッチSWをオンにする。
【0030】アナログスイッチSWがオンになると、フ
ィルタ部22のオペアンプM3の2つの入力端子には同
電位(2V)が印加されるので、フィルタ部22はフィ
ルタとして機能せず、増幅器21への帰還信号はアナロ
グスイッチSWがオンする直前の電圧に固定(ホール
ド)される。従って、増幅器21にはパルス波形成分が
帰還されないので、増幅器21からは歪みのないパルス
波形が得られることになる。
【0031】なお、帰還信号制御部23において、増幅
器21の出力をコンデンサC3と抵抗器R9,R10か
らなる微分回路を介してコンパレータM4に入力してい
るが、これは、パルス信号の波形の立ち上がりを早く検
出するために設けたものである。コンデンサC3,抵抗
器R9,R10の値(微分定数)と電圧V2の値によ
り、パルス信号の検出レベルが調整可能である。
【0032】パルス信号のパルスの立ち上がりが十分に
早い場合には、前記微分回路を除去して、コンパレータ
M4に直接増幅器21の出力を入力してもよい。なお、
図6に示すパルス信号は、この実施例では図4のパルス
信号に対して極性が反転した波形になるが、説明を分か
りやすくするために、反転しない波形で示している。
【0033】以上のようにしてベースラインの安定した
粒子信号(パルス信号)V2が分析部30に入力される
ので、分析部30は、粒子信号V2から粒子の計数や粒
子体積,粒子径の算出を精度よく行い、出力部40へ出
力することができる。
【0034】
【発明の効果】この発明によれば、粒子信号のベースラ
インの安定化がはかられるので、粒子信号に基づいて正
確な粒子測定を行うことができる。粒子信号通過中は、
フィードバックをホールドするため、従来の回路より
も、粒子信号の歪みを抑えることができる。ベースライ
ンのゆらぎを取り除くと同時に粒子信号を増幅できるの
で回路の電圧範囲を有効に利用することができる。特に
扱う信号のダイナミックレンジが大きいときや、回路の
電源電圧が低いときには有効である。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例の構成を示すブロック図であ
る。
【図2】実施例の要部詳細結線図である。
【図3】実施例の要部詳細結線図である。
【図4】実施例の粒子信号を表わす波形図である。
【図5】実施例の粒子信号のベースラインを示す波形図
である。
【図6】実施例によって処理された粒子信号の波形図で
ある。
【符号の説明】
1 粒子信号検出部 2 フローセル 2a 第1セル 2b 第2セル 2c オリフィス部 2d 試料ノズル 3 試料液容器 4 吸引ノズル 5 弁 6 弁 7 弁 8 シリンジ 9 シリンジモータ 10 容器 11 電極 12 電極 13 直流定電圧電源 14 電流/電圧変換部 20 波形処理部 21 増幅器 22 フィルタ部 23 帰還信号制御部 30 分析部 40 出力部

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 粒子の特徴を表わす連続したパルス状の
    粒子信号を増幅する増幅器と、増幅器の出力の低周波成
    分を増幅器の入力へ負帰還するフィルタ部と、増幅器の
    出力するパルス波形がしきい値以上の期間はフィルタ部
    に帰還信号をホールドさせる帰還信号制御部を備えた粒
    子信号処理装置。
  2. 【請求項2】 フィルタ部が、RCアクティブフィルタ
    からなる請求項1記載の粒子信号処理装置。
  3. 【請求項3】 帰還信号制御部が、増幅器の出力するパ
    ルス波形としきい値とを比較するコンパレータと、コン
    パレータの出力によって作動するアナログスイッチから
    なる請求項1記載の粒子信号処理装置。
  4. 【請求項4】 増幅器の出力が、微分回路を介してコン
    パレータに入力される請求項3記載の粒子信号処理装
    置。
  5. 【請求項5】 オリフィス部を挟んで1対の電極を有
    し、オリフィス部を粒子が通過するとき、電極間のイン
    ピーダンスの変化分を粒子信号として検出する検出部
    と、請求項1記載の粒子信号処理装置とを備えた粒子測
    定装置。
JP2000120373A 2000-04-21 2000-04-21 粒子信号処理装置およびそれを用いた粒子測定装置 Expired - Fee Related JP3611771B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000120373A JP3611771B2 (ja) 2000-04-21 2000-04-21 粒子信号処理装置およびそれを用いた粒子測定装置
US09/813,833 US6534965B2 (en) 2000-04-21 2001-03-22 Particle signal processing apparatus and particle measurement apparatus using same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000120373A JP3611771B2 (ja) 2000-04-21 2000-04-21 粒子信号処理装置およびそれを用いた粒子測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001305041A true JP2001305041A (ja) 2001-10-31
JP3611771B2 JP3611771B2 (ja) 2005-01-19

Family

ID=18631198

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000120373A Expired - Fee Related JP3611771B2 (ja) 2000-04-21 2000-04-21 粒子信号処理装置およびそれを用いた粒子測定装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6534965B2 (ja)
JP (1) JP3611771B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005071386A1 (ja) * 2004-01-23 2005-08-04 Hitachi Plant Technologies, Ltd. 微生物分離装置
WO2014122873A1 (ja) * 2013-02-08 2014-08-14 ソニー株式会社 微小粒子分析装置及び微小粒子分析システム
WO2017110753A1 (ja) * 2015-12-25 2017-06-29 国立大学法人大阪大学 個数分析方法、個数分析装置および個数分析用記憶媒体
JP2020038121A (ja) * 2018-09-04 2020-03-12 株式会社アドバンテスト 微粒子測定システム、情報処理装置、ソフトウェアプログラム、計測装置、微粒子の測定方法
US11781099B2 (en) 2015-12-25 2023-10-10 Aipore Inc. Number analyzing method, number analyzing device, and storage medium for number analysis

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005085761A1 (en) 2004-03-04 2005-09-15 Novelis Inc. Electrode configuration for limca
EP1963817A2 (en) * 2005-12-22 2008-09-03 Honeywell International Inc. Portable sample analyzer cartridge
JP2007319103A (ja) * 2006-06-02 2007-12-13 Hitachi Plant Technologies Ltd 微生物分離システム
CN101943654A (zh) * 2010-09-09 2011-01-12 王靖 一种用于粉碎物料粒度实时在线光学监测装置
CN102332880A (zh) * 2011-07-25 2012-01-25 无锡金奇微电子有限公司 可切换工作模式的放大器电路
JP6258145B2 (ja) * 2014-07-18 2018-01-10 株式会社東芝 微粒子検査システム及びその駆動方法
FR3034520B1 (fr) * 2015-04-02 2020-02-14 Horiba Abx Sas Dispositif de comptage de particules
CN110118715B (zh) * 2018-02-06 2024-05-14 深圳市帝迈生物技术有限公司 一种血细胞脉冲信号分析装置以及方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH618514A5 (ja) * 1977-08-25 1980-07-31 Contraves Ag
US4714890A (en) * 1984-10-09 1987-12-22 Auburn International, Inc. Flow measuring apparatus with analog, essentially linear output
CA1328679C (en) * 1989-05-18 1994-04-19 Raynald Hachey Apparatus for particle determination in liquid metals

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005071386A1 (ja) * 2004-01-23 2005-08-04 Hitachi Plant Technologies, Ltd. 微生物分離装置
WO2014122873A1 (ja) * 2013-02-08 2014-08-14 ソニー株式会社 微小粒子分析装置及び微小粒子分析システム
JPWO2014122873A1 (ja) * 2013-02-08 2017-01-26 ソニー株式会社 微小粒子分析装置及び微小粒子分析システム
US9915599B2 (en) 2013-02-08 2018-03-13 Sony Corporation Microparticle analysis apparatus and microparticle analysis system
WO2017110753A1 (ja) * 2015-12-25 2017-06-29 国立大学法人大阪大学 個数分析方法、個数分析装置および個数分析用記憶媒体
JPWO2017110753A1 (ja) * 2015-12-25 2018-10-25 国立大学法人大阪大学 個数分析方法、個数分析装置および個数分析用記憶媒体
US11597898B2 (en) 2015-12-25 2023-03-07 Aipore Inc. Number analyzing method, number analyzing device, and storage medium for number analysis
US11781099B2 (en) 2015-12-25 2023-10-10 Aipore Inc. Number analyzing method, number analyzing device, and storage medium for number analysis
JP2020038121A (ja) * 2018-09-04 2020-03-12 株式会社アドバンテスト 微粒子測定システム、情報処理装置、ソフトウェアプログラム、計測装置、微粒子の測定方法
US11313850B2 (en) 2018-09-04 2022-04-26 Advantest Corporation Small particle measurement system
JP7082013B2 (ja) 2018-09-04 2022-06-07 株式会社アドバンテスト 微粒子測定システム、計測装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3611771B2 (ja) 2005-01-19
US20010032495A1 (en) 2001-10-25
US6534965B2 (en) 2003-03-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3611771B2 (ja) 粒子信号処理装置およびそれを用いた粒子測定装置
US5543717A (en) Integrable conductivity measuring device
EP0844475B1 (en) Particle sizing apparatus
US20100033231A1 (en) High-Resolution Parametric Signal Restoration
EP0651882A1 (en) Method of and apparatus for determining a property of a sample
CN111090002A (zh) 纳米孔基因测序微电流检测装置及电流稳定的补偿方法
JP3587755B2 (ja) 粒子測定装置およびその方法
EP2986965B1 (en) A method of electrically measuring the electrical properties of individual particles flowing in a liquid
WO2014170625A1 (en) Apparatus for electrically measuring individual particles flowing in a liquid
CN106644900A (zh) 一种基于非均匀电场的阻抗脉冲颗粒计数装置及其计数方法
CN111857220B (zh) 一种温度采样电路及其控制方法
CN114307443A (zh) 一种空气检测结构、空气过滤装置及空气过滤设备
JPH0621856B2 (ja) 粒子発生電気パルス選択排除方法および装置
US3973194A (en) Particle counter
JP3499009B2 (ja) 粒度分布測定装置
US7701193B2 (en) Pulse height analyser
US3961249A (en) Particle size distribution analyzation employing trailing edge differentiation
CN206489050U (zh) 一种基于非均匀电场的阻抗脉冲颗粒计数装置
US20230280244A1 (en) Apparatus and method for processing and analysing a measurement fluid for measurement in a measuring device
Kumar et al. MEMS based flow cytometer with instrumentation system for detection of micro particles for health care applications
KR102672881B1 (ko) 용액 내 입자 측정 방법 및 이를 수행하는 장치
JPS5853738A (ja) 微粒子の体積測定装置
CN213210409U (zh) 一种用于待测电源质量评估的电子负载及评估系统
WO2024253000A1 (ja) 微粒子測定装置
WO2024225338A1 (ja) 微粒子測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040413

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040727

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040902

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20041005

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20041020

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 3611771

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071029

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101029

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131029

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees