JP2001305041A - 粒子信号処理装置およびそれを用いた粒子測定装置 - Google Patents
粒子信号処理装置およびそれを用いた粒子測定装置Info
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Abstract
く粒子の測定を行うこと。 【解決手段】 粒子の特徴を表わす連続したパルス状の
粒子信号を増幅する増幅器と、増幅器の出力の低周波成
分を増幅器の入力へ負帰還するフィルタ部と、増幅器の
出力がしきい値以上の期間はフィルタ部に帰還信号をホ
ールドさせる帰還信号制御部を備えた粒子信号処理装
置。
Description
置およびそれを用いた粒子測定装置に関し、例えば、体
液中の粒子や工業用粒子の測定に用いられる。
ては、2つのチャンバーを微細孔(オリフィス)で連通
し、粒子含有液が一方のチャンバーから他方のチャンバ
ーへ流れるとき、1つの粒子がオリフィスを通過する毎
に生じるパルス状の電気抵抗の変化を粒子信号として検
出するようにしている。そしてその波高値が粒子の体積
に比例するところから、粒子信号を用いて粒子の粒径の
算出や粒子の弁別などを行っている。
うな粒子測定装置では、粒子含有液に含まれる気泡が微
細孔の近傍に存在すると、得られる粒子信号(パルス信
号)は図4に示すように、ベースラインにゆらぎ(低周
波変動分)が生じて、粒子信号の波高値を正確に求める
ことが難しいという問題点があった。
れたもので、粒子信号(パルス信号)のベースラインを
安定させ、パルス信号の波高値を正確に検出して、精度
よく粒子の測定を行うことが可能な粒子測定装置を提供
するものである。
を表わす連続したパルス状の粒子信号を増幅する増幅器
と、増幅器の出力の低周波成分を増幅器の入力へ負帰還
するフィルタ部と、増幅器の出力するパルス波形がしき
い値以上の期間はフィルタ部に帰還信号をホールドさせ
る帰還信号制御部を備えた粒子信号処理装置を提供する
ものである。
黒鉛,シリカ,研磨剤,セラミックス粉体,顔料,粉体
塗料,培養細胞,血液細胞,酵母菌,プランクトン,磁
性粉体などを含み、測定サイズの範囲としては、粒径で
サブミクロンから数百ミクロン程度である。
は、主に電気抵抗式の粒子測定装置であるが、これに限
定されず、例えば光学式の粒子測定装置であってもよ
い。この発明の粒子信号処理装置に用いる増幅器には、
市販のオペアンプを使用することができる。
抵抗を組合せた、いわゆるRCアクティブフィルタで構
成できる。帰還信号制御部は、増幅器の出力するパルス
波形としきい値とを比較するコンパレータと、コンパレ
ータの出力によって作動するアナログスイッチからなる
ものであってもよい。増幅器の出力が、微分回路を介し
てコンパレータに入力されるものであってもよい。な
お、コンパレータおよびアナログスイッチには市販のも
のを用いることができる。
測定装置に適用される場合、その測定装置は例えば、第
1チャンバーと、第2チャンバーと第1および第2チャ
ンバーを連通するオリフィス部とを有するフローセル
と、第1および第2チャンバー内にそれぞれ設けられた
第1および第2電極と、第1および第2電極間のインピ
ーダンスの変化分を粒子信号として検出する検出部とを
備えた粒子測定装置である。
装置から得られる粒子信号に基づいて粒子分析を行う分
析部をさらに備えてもよい。ここで、分析部には、マイ
クロコンピュータやパーソナルコンピュータを用いるこ
とができる。
第2電極間に電流を供給する直流定電流電源と、第1お
よび第2電極間に流れる電流の変化分を電圧に変換する
電流/電圧変換部を備えてもよい。
る。これによってこの発明が限定されるものではない。
図1はこの発明の実施例を示すブロック図である。
た粒子信号V1は波形処理部20で波形処理されて粒子
信号V2として分析部30へ出力され、分析部30では
粒子信号V2から粒子の計数,弁別および粒子体積,粒
径の算出が行われ、その結果が出力部40から出力され
るようになっている。
子含有試料液を収容する試料液容器3,試料液を吸引す
る吸引ノズル4,弁5,6,7,シリンジ8,シース液
容器10を備える。フローセル2は、第1セル2aと,
第2セル2bと、第1セル2aと第2セル2bとを微細
な貫通孔(オリフィス)を介して連通するオリフィス部
2cと、オリフィス部2cに試料液を噴射する試料ノズ
ル2dとから構成される。また、シース液を容器10か
ら弁7を介して供給するための供給口2eが第1セル2
aに設けられ、シース液と試料液とを排出する排液口2
fが第2セル2bに設けられている。
内部にはそれぞれ電極11,12が設置される。電極1
1,12の間には、オリフィス部2cに電流を供給する
ための直流定電流電源13が接続される。
弁5,6を所定時間開けると、陰圧により吸引ノズル4
から試料液が弁5,6の間に満たされる。次に、シリン
ジモータ9が作動してシリンジ8が一定流量で弁5,6
間の試料液を試料ノズル2dへ押し出すことにより、試
料ノズル2dから試料液が第1セル2aに吐出される。
セル2aにシース液が供給される。これによって試料液
はシース液に包まれ、さらにオリフィス部2cによって
細く絞られてシースフローを形成する。
よって試料液に予め含まれた粒子を一個づつオリフィス
部2cを介して一列に整列して流すことができる。オリ
フィス2cを通過した試料液とシース液は第2セル2b
に設けた排液口2fから排出される。
の導電率(電気伝導度),オリフィス部2cの穴寸法
(断面積)と穴長さ,試料液の導電率,試料液の流れの
径によって決まる。
3から電極12と電極11との間に電流が供給されてい
る。従って、オリフィス部2cを粒子が通過すると、オ
リフィス部2cの両端の電気抵抗が変化するので、粒子
の通過中だけ電極12と電極11との間に流れる電流が
パルス状に変化し、その変化分の最大値(パルスの波高
値)はオリフィス部2cを通過する粒子の大きさに比例
する。この電流の変化分が、電流/電圧変換部14で電
圧に変換され、粒子信号V1として出力される。このよ
うにして粒子信号検出部1は粒子信号V1を生成するよ
うになっている。なお、電流/電圧変換部14は、例え
ば図2に示すように、コンデンサC1,オペアンプM
1,抵抗R1から構成できる。
幅度で増幅する増幅器21と、増幅器21の出力の低周
波成分を増幅器21の入力へ負帰還(ネガティブフィー
ドバック)するフィルタ部22と、増幅器21の出力す
るパルス波形がしきい値以上の期間はフィルタ部22に
帰還信号をホールドさせる帰還信号制御部23を備え
る。
す回路図であり、増幅器21は、オペアンプM2と、抵
抗器R2〜R4で構成され、この実施例では例えば、ゲ
インが2.2となるように抵抗器R2,R3の値を設定し
ている。
ンデンサC2と、抵抗器R5〜R8を備え、RCアクテ
ィブ(能動)フィルタを構成し、カットオフ周波数1K
Hzのローパスフィルタとして作動するようにコンデン
サC2と抵抗器R5,R6の値を設定している。なお、
オペアンプM3の非反転入力には抵抗器R8を介して参
照電圧V1(例えば2V)が印加されている。
と、アナログスイッチSWと、抵抗器R9,R10と、
コンデンサC3を備える。コンパレータM4には比較電
圧(しきい値電圧)V2が印加され、コンパレータM4
は、抵抗器R9,R10とコンデンサC3からなる微分
回路を介して入力される信号がしきい値電圧V2より大
きいときにアナログスイッチSWをオンするようになっ
ている。
ナショナルセミコンダクター社製のLMV824Mを、
コンパレータM4にはナショナルセミコンダクター社製
のLMV331M5を用いることができる。なお出力の
オフセット電圧を小さく抑えたい場合はM3にオフセッ
ト電圧の小さいオペアンプを使用するのが望ましい。
子信号検出部1から粒子信号V1として図4に示すよう
なパルス波形を有するパルス信号が増幅器21に入力さ
れる。図4のパルス信号は図5に示すような低周波成分
を有し、それによってベースラインにゆらぎが生じてい
る。
ローパスフィルタであるフィルタ部22によってろ波さ
れ、図5に示す低周波成分が増幅器21の入力に負帰還
される。従って、図4に示すパルス信号から図5に示す
低周波成分が除去され、増幅器21の出力波形は図6に
示すように安定したベースラインを有する波形となる。
て増幅器21の出力から図5に示すような低周波成分の
みを検出することは難しく、パルス波形成分(高周波成
分)もある程度フィルタ部22を通過して増幅器21に
負帰還される。従って、その影響によって図6に示すパ
ルス波形が歪みを生じることになる。
帰還信号制御部23である。帰還信号制御部23におい
て、コンパレータM4は、増幅器21の出力を電圧V2
と比較し、増幅器21の出力が電圧V2より大きい期
間、つまり各パルス波形のパルス幅に対応する期間だけ
アナログスイッチSWをオンにする。
ィルタ部22のオペアンプM3の2つの入力端子には同
電位(2V)が印加されるので、フィルタ部22はフィ
ルタとして機能せず、増幅器21への帰還信号はアナロ
グスイッチSWがオンする直前の電圧に固定(ホール
ド)される。従って、増幅器21にはパルス波形成分が
帰還されないので、増幅器21からは歪みのないパルス
波形が得られることになる。
器21の出力をコンデンサC3と抵抗器R9,R10か
らなる微分回路を介してコンパレータM4に入力してい
るが、これは、パルス信号の波形の立ち上がりを早く検
出するために設けたものである。コンデンサC3,抵抗
器R9,R10の値(微分定数)と電圧V2の値によ
り、パルス信号の検出レベルが調整可能である。
早い場合には、前記微分回路を除去して、コンパレータ
M4に直接増幅器21の出力を入力してもよい。なお、
図6に示すパルス信号は、この実施例では図4のパルス
信号に対して極性が反転した波形になるが、説明を分か
りやすくするために、反転しない波形で示している。
粒子信号(パルス信号)V2が分析部30に入力される
ので、分析部30は、粒子信号V2から粒子の計数や粒
子体積,粒子径の算出を精度よく行い、出力部40へ出
力することができる。
インの安定化がはかられるので、粒子信号に基づいて正
確な粒子測定を行うことができる。粒子信号通過中は、
フィードバックをホールドするため、従来の回路より
も、粒子信号の歪みを抑えることができる。ベースライ
ンのゆらぎを取り除くと同時に粒子信号を増幅できるの
で回路の電圧範囲を有効に利用することができる。特に
扱う信号のダイナミックレンジが大きいときや、回路の
電源電圧が低いときには有効である。
る。
である。
ある。
Claims (5)
- 【請求項1】 粒子の特徴を表わす連続したパルス状の
粒子信号を増幅する増幅器と、増幅器の出力の低周波成
分を増幅器の入力へ負帰還するフィルタ部と、増幅器の
出力するパルス波形がしきい値以上の期間はフィルタ部
に帰還信号をホールドさせる帰還信号制御部を備えた粒
子信号処理装置。 - 【請求項2】 フィルタ部が、RCアクティブフィルタ
からなる請求項1記載の粒子信号処理装置。 - 【請求項3】 帰還信号制御部が、増幅器の出力するパ
ルス波形としきい値とを比較するコンパレータと、コン
パレータの出力によって作動するアナログスイッチから
なる請求項1記載の粒子信号処理装置。 - 【請求項4】 増幅器の出力が、微分回路を介してコン
パレータに入力される請求項3記載の粒子信号処理装
置。 - 【請求項5】 オリフィス部を挟んで1対の電極を有
し、オリフィス部を粒子が通過するとき、電極間のイン
ピーダンスの変化分を粒子信号として検出する検出部
と、請求項1記載の粒子信号処理装置とを備えた粒子測
定装置。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005071386A1 (ja) * | 2004-01-23 | 2005-08-04 | Hitachi Plant Technologies, Ltd. | 微生物分離装置 |
WO2014122873A1 (ja) * | 2013-02-08 | 2014-08-14 | ソニー株式会社 | 微小粒子分析装置及び微小粒子分析システム |
WO2017110753A1 (ja) * | 2015-12-25 | 2017-06-29 | 国立大学法人大阪大学 | 個数分析方法、個数分析装置および個数分析用記憶媒体 |
JP2020038121A (ja) * | 2018-09-04 | 2020-03-12 | 株式会社アドバンテスト | 微粒子測定システム、情報処理装置、ソフトウェアプログラム、計測装置、微粒子の測定方法 |
US11781099B2 (en) | 2015-12-25 | 2023-10-10 | Aipore Inc. | Number analyzing method, number analyzing device, and storage medium for number analysis |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005085761A1 (en) | 2004-03-04 | 2005-09-15 | Novelis Inc. | Electrode configuration for limca |
EP1963817A2 (en) * | 2005-12-22 | 2008-09-03 | Honeywell International Inc. | Portable sample analyzer cartridge |
JP2007319103A (ja) * | 2006-06-02 | 2007-12-13 | Hitachi Plant Technologies Ltd | 微生物分離システム |
CN101943654A (zh) * | 2010-09-09 | 2011-01-12 | 王靖 | 一种用于粉碎物料粒度实时在线光学监测装置 |
CN102332880A (zh) * | 2011-07-25 | 2012-01-25 | 无锡金奇微电子有限公司 | 可切换工作模式的放大器电路 |
JP6258145B2 (ja) * | 2014-07-18 | 2018-01-10 | 株式会社東芝 | 微粒子検査システム及びその駆動方法 |
FR3034520B1 (fr) * | 2015-04-02 | 2020-02-14 | Horiba Abx Sas | Dispositif de comptage de particules |
CN110118715B (zh) * | 2018-02-06 | 2024-05-14 | 深圳市帝迈生物技术有限公司 | 一种血细胞脉冲信号分析装置以及方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CH618514A5 (ja) * | 1977-08-25 | 1980-07-31 | Contraves Ag | |
US4714890A (en) * | 1984-10-09 | 1987-12-22 | Auburn International, Inc. | Flow measuring apparatus with analog, essentially linear output |
CA1328679C (en) * | 1989-05-18 | 1994-04-19 | Raynald Hachey | Apparatus for particle determination in liquid metals |
-
2000
- 2000-04-21 JP JP2000120373A patent/JP3611771B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-03-22 US US09/813,833 patent/US6534965B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005071386A1 (ja) * | 2004-01-23 | 2005-08-04 | Hitachi Plant Technologies, Ltd. | 微生物分離装置 |
WO2014122873A1 (ja) * | 2013-02-08 | 2014-08-14 | ソニー株式会社 | 微小粒子分析装置及び微小粒子分析システム |
JPWO2014122873A1 (ja) * | 2013-02-08 | 2017-01-26 | ソニー株式会社 | 微小粒子分析装置及び微小粒子分析システム |
US9915599B2 (en) | 2013-02-08 | 2018-03-13 | Sony Corporation | Microparticle analysis apparatus and microparticle analysis system |
WO2017110753A1 (ja) * | 2015-12-25 | 2017-06-29 | 国立大学法人大阪大学 | 個数分析方法、個数分析装置および個数分析用記憶媒体 |
JPWO2017110753A1 (ja) * | 2015-12-25 | 2018-10-25 | 国立大学法人大阪大学 | 個数分析方法、個数分析装置および個数分析用記憶媒体 |
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JP2020038121A (ja) * | 2018-09-04 | 2020-03-12 | 株式会社アドバンテスト | 微粒子測定システム、情報処理装置、ソフトウェアプログラム、計測装置、微粒子の測定方法 |
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Also Published As
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