JP2001303015A - Adhesive film, method for producing the same and method for bonding - Google Patents

Adhesive film, method for producing the same and method for bonding

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JP2001303015A
JP2001303015A JP2000128934A JP2000128934A JP2001303015A JP 2001303015 A JP2001303015 A JP 2001303015A JP 2000128934 A JP2000128934 A JP 2000128934A JP 2000128934 A JP2000128934 A JP 2000128934A JP 2001303015 A JP2001303015 A JP 2001303015A
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adhesive film
group
curing agent
bonding
weight
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Kazuya Sato
和也 佐藤
Shinji Takeda
信司 武田
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Hitachi Chemical Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain an adhesive film capable of carrying out bonding at a lower temperature than that of a conventional adhesive film for die bonding and to provide a method for producing the adhesive film and a method for bonding. SOLUTION: This adhesive film comprises (A) an oxetane compound and (B) a curing agent. The method for producing the adhesive film comprises mixing respective components containing one or more selected from (C) a polyimide resin, (D) an electroconductive filler and/or (E) an insulating filler and (F) a solvent and the oxetane compound (A) and the curing agent (B), preparing a pasty or a varnishlike mixture, applying the resultant mixture onto a base film, heating and drying the applied mixture and forming the adhesive film. The method for bonding comprises sandwiching the adhesive film between a semiconductor element and a supporting member, carrying out the thermocompression bonding and bonding the semiconductor element to the supporting member.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ICやLSI等の
半導体素子とリードフレームや絶縁性支持基板等支持部
材との接合材料、すなわちダイボンディング用材料とし
て用いられる接着フィルム、その製造方法及び接着方法
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an adhesive film used as a bonding material between a semiconductor element such as an IC or an LSI and a supporting member such as a lead frame or an insulating support substrate, that is, an adhesive film used as a die bonding material, a method of manufacturing the same, and an adhesive film About the method.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、ICやLSIとリードフレームの
接合にはAu−Si共晶合金、半田あるいは銀ペースト
等が用いられている。Au−Si共晶合金は、耐熱性及
び耐湿性は高いが、弾性率が大きいため大型チップへ適
用した場合に割れやすいほか、高価である難点がある。
半田は安価であるものの、耐熱性が劣り、更に弾性率は
Au−Si共晶合金と同様に高く、大型チップへ適用が
困難である。一方、銀ペーストは安価で、耐湿性が高
く、弾性率も上記3者の中では最も低く、350℃の熱
圧着型ワイヤボンダーに適用できる耐熱性も有するの
で、現在は、ICやLSIとリードフレームの接着用材
料の主流である。しかし、近年ICやLSIの高集積化
が進み、それに伴ってチップが大型化している中で、I
CやLSIとリードフレームを銀ペーストで接合しよう
とする場合、銀ペーストをチップ全面に広げ塗布するに
は困難を伴う。
2. Description of the Related Art Conventionally, an Au-Si eutectic alloy, solder, silver paste, or the like has been used for joining an IC or LSI to a lead frame. The Au-Si eutectic alloy has high heat resistance and high moisture resistance, but has a large elasticity, so that it is easily broken when applied to a large chip, and is expensive.
Although solder is inexpensive, it has poor heat resistance, and its elastic modulus is as high as Au-Si eutectic alloy, making it difficult to apply it to large chips. On the other hand, silver paste is inexpensive, has high moisture resistance, has the lowest elastic modulus among the above three, and has heat resistance applicable to a thermocompression bonding wire bonder at 350 ° C. It is the mainstream material for bonding frames. However, in recent years, as ICs and LSIs have become highly integrated and the chips have become larger,
When the lead frame is bonded to the C or LSI with the silver paste, it is difficult to spread the silver paste over the entire surface of the chip and apply it.

【0003】マイクロエレクトロニック マニュファク
チャリング アンド テスティング(MICROELECTRONIC M
ANUFACTURING AND TESTING 1985年10月)に、導電
性フィラーを熱可塑性樹脂に充填したダイボンド用の接
着フィルムが報告された。これは熱可塑性樹脂の融点付
近まで温度を上げ、加圧接着するものである。
[0003] MICROELECTRONIC M
ANUFACTURING AND TESTING (October 1985) reported an adhesive film for die bonding in which a conductive resin was filled in a thermoplastic resin. In this method, the temperature is raised to around the melting point of the thermoplastic resin and pressure bonding is performed.

【0004】また、本発明者らは、先に、特定のポリイ
ミド樹脂を用いた接着フィルム及びこれに導電性フィラ
ーもしくは無機フィラーを含有するダイボンド用接着フ
ィルムを提案した(特開平6−145639号、特開平
7−228697号、特開平10−330723号公報
他)。
The present inventors have previously proposed an adhesive film using a specific polyimide resin and an adhesive film for die bonding containing a conductive filler or an inorganic filler (Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-145639, JP-A-7-228697, JP-A-10-330723, etc.).

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】前記マイクロエレクト
ロニック マニュファクチャリング アンド テスティ
ングで報告された接着フィルムは、融点の低い熱可塑性
樹脂を選んで用いると接着温度を低くすることができ、
リードフレームの酸化等、チップに与えるダメージは少
なくてすむが、熱時接着力が低いのでダイボンド後の熱
処理(例えばワイヤボンド、封止工程等)に耐えられな
い。熱処理に耐えられる融点の高い熱可塑性樹脂を用い
ると、接着温度が高くなり、リードフレームが酸化等の
ダメージを受けやすい。
The adhesive film reported in the above-mentioned microelectronic manufacturing and testing can reduce the bonding temperature by using a thermoplastic resin having a low melting point.
Although damage to the chip, such as oxidation of the lead frame, is small, the adhesive strength at the time of heat is low, so that it cannot withstand heat treatment (for example, wire bonding, a sealing step, etc.) after die bonding. When a thermoplastic resin having a high melting point that can withstand heat treatment is used, the bonding temperature increases, and the lead frame is easily damaged by oxidation or the like.

【0006】本発明者らが先に提案した接着フィルム
は、比較的低温で接着でき、かつ良好な熱時接着力をも
っている。しかし、近年使われ始めている銅リードフレ
ーム(酸化を受けやすい)や熱伝導性の低い絶縁性支持
基板(熱膨張が大きいため、加熱接合時に反りやすい)
への接合には、更に低い温度で接着できる接着フィルム
が強く望まれている。本発明は、接着時の接着温度を従
来のダイボンド用接着フィルムよりもさらに低温で行う
ことのできる、ダイボンド用接着フィルム、その製造方
法及び接着方法を提供するものである。
[0006] The adhesive film proposed by the present inventors can be bonded at a relatively low temperature and has good adhesive strength at hot time. However, recently used copper lead frames (susceptible to oxidation) and insulative supporting substrates with low thermal conductivity (due to large thermal expansion, easily warped during thermal bonding)
An adhesive film that can be adhered at a lower temperature is strongly desired for bonding to a substrate. The present invention provides a die-bonding adhesive film, a method for producing the same, and a method for bonding, wherein the bonding temperature at the time of bonding can be lower than that of a conventional die-bonding adhesive film.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
オキセタン化合物(A)、硬化剤(B)を含む接着フィ
ルムであり、低温接着性に優れ、42アロイリードフレ
ームや銅リードフレームにも好適に使用でき、更に絶縁
性支持基板にも好適に使用できる接着フィルムを提供す
るものである。請求項2記載の発明は、さらにポリイミ
ド樹脂(C)を含む請求項1に記載の接着フィルムであ
り、請求項3に記載の発明は、ポリイミド樹脂(C)が
一般式(1)で表されるテトラカルボン酸二無水物の含
量が全テトラカルボン酸二無水物(C’)の70モル%
以上であるテトラカルボン酸二無水物と、ジアミン
(C”)を反応させて得られるポリイミド樹脂(C)で
ある請求項2に記載の接着フィルムである。
According to the first aspect of the present invention,
It is an adhesive film containing an oxetane compound (A) and a curing agent (B), and has excellent low-temperature adhesiveness, can be suitably used for 42 alloy lead frames and copper lead frames, and can also be suitably used for insulating support substrates. An adhesive film is provided. The invention according to claim 2 is the adhesive film according to claim 1, further comprising a polyimide resin (C), and the invention according to claim 3 is such that the polyimide resin (C) is represented by the general formula (1). Is 70 mol% of the total tetracarboxylic dianhydride (C ′).
The adhesive film according to claim 2, which is a polyimide resin (C) obtained by reacting the above tetracarboxylic dianhydride with a diamine (C ").

【化2】 (ただし、n=2〜20の整数を示す。) 請求項2、3の発明は、請求項1記載の発明の効果に加
えてせん断接着力に優れる接着フィルムを提供するもの
である。
Embedded image (However, n is an integer of 2 to 20.) The inventions of claims 2 and 3 provide an adhesive film having excellent shear adhesion in addition to the effect of the invention of claim 1.

【0008】請求項4に記載の発明は、さらに導電性フ
ィラー(D)及び/または絶縁性フィラー(E)を含む
請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の接着フィル
ムである。請求項5に記載の発明は、オキセタン化合物
(A)100重量部に対し、導電性フィラー(D)0〜
8000重量部及び/または絶縁性フィラー(E)0〜
8000重量部の割合で含む請求項1ないし請求項4の
いずれかに記載の接着フィルムである。請求項4、5記
載の発明は、請求項1〜3記載の発明の効果に加えて熱
膨張係数の異なる基材同士の接着に優れる接着フィルム
を提供するものである。請求項6に記載の発明は、硬化
剤(B)が、オキセタン化合物(A)を開環重合させる
硬化剤(B’)であり、カチオン重合性触媒、アニオン
重合性触媒、潜在性カチオン重合開始剤、潜在性アニオ
ン重合性触媒から選ばれる1以上である請求項1ないし
請求項5のいずれかに記載の接着フィルムである。請求
項7に記載の発明は、硬化剤(B’)が潜在性カチオン
重合開始剤(B1)である請求項6に記載の接着フィル
ムである。請求項6、7記載の発明は、請求項1〜5記
載の発明の効果に加えて保存安定性に優れる接着フィル
ムを提供するものである。請求項8に記載の発明は、硬
化剤(B)が、オキセタン化合物(A)と付加反応する
硬化剤(B”)であり、2官能以上のカルボン酸、2官
能以上のポリチオール、2官能以上のカルボン酸無水
物、2官能以上のフェノールから選ばれる1つ以上であ
る請求項1ないし請求項5のいずれかに記載の接着フィ
ルムである。請求項9に記載の発明は、硬化剤(B”)
がフェノール化合物(B2)である請求項8に記載の接
着フィルムである。
The invention according to claim 4 is the adhesive film according to any one of claims 1 to 3, further comprising a conductive filler (D) and / or an insulating filler (E). The invention according to claim 5 is that the conductive filler (D) 0 to 100 parts by weight of the oxetane compound (A) is used.
8000 parts by weight and / or insulating filler (E) 0
The adhesive film according to any one of claims 1 to 4, comprising 8000 parts by weight. The inventions according to claims 4 and 5 provide an adhesive film excellent in adhesion between substrates having different thermal expansion coefficients in addition to the effects of the inventions according to claims 1 to 3. According to a sixth aspect of the present invention, the curing agent (B) is a curing agent (B ′) for ring-opening polymerization of the oxetane compound (A), and comprises a cationically polymerizable catalyst, an anionic polymerizable catalyst, and a latent cationic polymerization initiator. The adhesive film according to any one of claims 1 to 5, wherein the adhesive film is at least one selected from an agent and a latent anionic polymerizable catalyst. The invention according to claim 7 is the adhesive film according to claim 6, wherein the curing agent (B ′) is a latent cationic polymerization initiator (B1). The inventions of claims 6 and 7 provide an adhesive film having excellent storage stability in addition to the effects of the inventions of claims 1 to 5. According to an eighth aspect of the present invention, the curing agent (B) is a curing agent (B ″) that undergoes an addition reaction with the oxetane compound (A), and is a bifunctional or more carboxylic acid, a difunctional or more polythiol, or a difunctional or more. The adhesive film according to any one of claims 1 to 5, wherein the adhesive film is at least one selected from carboxylic acid anhydrides and difunctional or higher phenols. ”)
Is the phenolic compound (B2).

【0009】請求項8、9記載の発明は、請求項1〜5
記載の発明の効果に加えて高い接着信頼性を付与できる
接着フィルムを提供するものである。請求項10に記載
の発明は、請求項1ないし請求項9のいずれかに記載の
ポリイミド樹脂(C)、導電性フィラー(D)及び/ま
たは絶縁性フィラー(E)、溶媒(F)から選ばれる1
以上とオキセタン化合物(A)及び硬化剤(B)を含む
各成分を混合しペースト状またはワニス状の混合物を作
製し、これをベースフィルム上に塗布し、加熱・乾燥し
て接着フィルムを形成する接着フィルムの製造方法であ
り、接着フィルムの製造方法を提供するものである。請
求項11に記載の発明は、半導体素子と支持部材の間に
請求項1ないし請求項9のいずれかに記載の接着フィル
ムを挟み、加熱圧着することを特徴とする半導体素子と
支持部材との接着方法である。請求項12に記載の発明
は、活性光線を接着フィルムに照射することを特徴とす
る請求項11に記載の半導体素子と支持部材との接着方
法である。請求項11、12記載の発明は、請求項1〜
9記載の接着フィルムを用いた、半導体素子と支持部材
の接着方法を提供するものである。
The inventions of claims 8 and 9 are the first to fifth aspects of the invention.
An object of the present invention is to provide an adhesive film that can provide high adhesion reliability in addition to the effects of the described invention. The invention according to claim 10 is selected from the polyimide resin (C), the conductive filler (D) and / or the insulating filler (E), and the solvent (F) according to any one of claims 1 to 9. 1
The above and the respective components including the oxetane compound (A) and the curing agent (B) are mixed to prepare a paste-like or varnish-like mixture, which is applied on a base film, and heated and dried to form an adhesive film. A method for producing an adhesive film, which provides a method for producing an adhesive film. According to an eleventh aspect of the present invention, the adhesive film according to any one of the first to ninth aspects is sandwiched between the semiconductor element and the support member, and the semiconductor element and the support member are heat-pressed. It is a bonding method. According to a twelfth aspect of the present invention, there is provided the method for bonding a semiconductor element and a support member according to the eleventh aspect, wherein the adhesive film is irradiated with actinic rays. The invention according to claims 11 and 12 is the invention according to claims 1 to
9. A method for bonding a semiconductor element and a support member using the adhesive film according to 9.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、本発明における接着フィル
ム、その製造方法及び接着方法について説明する。本発
明におけるオキセタン化合物(A)は、その分子中にオ
キセタン環を有していれば特に制限はなく、いかなる化
合物も用いることができる。これらの内、その分子中に
1〜4個のオキセタン環を有しているオキセタン化合物
は、接着後にひび割れが起こりにくい点から好ましい。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, an adhesive film according to the present invention, a production method thereof and an adhesion method will be described. The oxetane compound (A) in the present invention is not particularly limited as long as it has an oxetane ring in the molecule, and any compound can be used. Of these, oxetane compounds having 1 to 4 oxetane rings in the molecule are preferred because cracks are less likely to occur after bonding.

【0011】1個のオキセタン環を有する化合物として
は、下記一般式(2)で示される化合物等が挙げられ
る。
Examples of the compound having one oxetane ring include a compound represented by the following general formula (2).

【0012】[0012]

【化3】 Embedded image

【0013】一般式(2)において、R1は、水素原
子、メチル基、エチル基、プロピル基或いはブチル基等
の炭素数1〜6のアルキル基、炭素数1〜6のフルオロ
アルキル基、アリル基、アリール基、フリル基又はチエ
ニル基である。R2は、水素原子、メチル基、エチル
基、プロピル基或いはブチル基等の炭素数1〜6のアル
キル基、1−プロペニル基、2−プロペニル基、2−メ
チル−1−プロペニル基、2−メチル−2−プロペニル
基、1−ブテニル基、2−ブテニル基或いは3−ブテニ
ル基等の炭素数2〜6のアルケニル基、フェニル基、ベ
ンジル基、フルオロベンジル基、メトキシベンジル基或
いはフェノキシエチル基等の芳香環を有する基、エチル
カルボニル基、プロピルカルボニル基或いはブチルカル
ボニル基等の炭素数2〜6のアルキルカルボニル基、エ
トキシカルボニル基、プロポキシカルボニル基或いはブ
トキシカルボニル基等の炭素数2〜6のアルコキシカル
ボニル基、又はエチルカルバモイル基、プロピルカルバ
モイル基、ブチルカルバモイル基或いはペンチルカルバ
モイル基等の炭素数2〜6のN−アルキルカルバモイル
基等である。
In the general formula (2), R 1 represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group or a butyl group; a fluoroalkyl group having 1 to 6 carbon atoms; Group, aryl group, furyl group or thienyl group. R 2 represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group or a butyl group, a 1-propenyl group, a 2-propenyl group, a 2-methyl-1-propenyl group, C2-C6 alkenyl such as methyl-2-propenyl, 1-butenyl, 2-butenyl or 3-butenyl, phenyl, benzyl, fluorobenzyl, methoxybenzyl or phenoxyethyl; Having 2 to 6 carbon atoms such as a group having an aromatic ring, an ethylcarbonyl group, a propylcarbonyl group or a butylcarbonyl group, and an alkoxy group having 2 to 6 carbon atoms such as an ethoxycarbonyl group, a propoxycarbonyl group or a butoxycarbonyl group. Carbonyl group, ethylcarbamoyl group, propylcarbamoyl group, butylcarbamoyl group or Is like N- alkylcarbamoyl group having 2 to 6 carbon atoms such as pentyl carbamoyl group.

【0014】つぎに、2個のオキセタン環を有する化合
物としては、下記一般式(3)で示される化合物等が挙
げられる。
Next, examples of the compound having two oxetane rings include a compound represented by the following general formula (3).

【0015】[0015]

【化4】 Embedded image

【0016】一般式(3)において、R1は、前記一般
式(2)におけるものと同様の基である。R3は、例え
ば、エチレン基、プロピレン基或いはブチレン基等の線
状或いは分枝状アルキレン基、ポリ(エチレンオキシ)
基或いはポリ(プロピレンオキシ)基等の線状或いは分
枝状ポリ(アルキレンオキシ)基、プロペニレン基、メ
チルプロペニレン基或いはブテニレン基等の線状或いは
分枝状不飽和炭化水素基、カルボニル基、カルボニル基
を含むアルキレン基、カルボキシル基を含むアルキレン
基又はカルバモイル基を含むアルキレン基等である。
In the general formula (3), R 1 is the same group as in the general formula (2). R 3 represents, for example, a linear or branched alkylene group such as an ethylene group, a propylene group or a butylene group, and poly (ethyleneoxy)
Linear or branched unsaturated hydrocarbon groups such as linear or branched poly (alkyleneoxy) groups such as a group or poly (propyleneoxy) group, propenylene group, methylpropenylene group or butenylene group, carbonyl group, Examples include an alkylene group including a carbonyl group, an alkylene group including a carboxyl group, and an alkylene group including a carbamoyl group.

【0017】また、R3は、下記一般式(4)〜(1
5)で示される基から選択される多価基でもある。
Further, R 3 is represented by the following general formulas (4) to (1)
It is also a polyvalent group selected from the groups represented by 5).

【0018】[0018]

【化5】 Embedded image

【0019】一般式(4)において、R4は、水素原
子、メチル基、エチル基、プロピル基或いはブチル基等
の炭素数1〜4のアルキル基、メトキシ基、エトキシ
基、プロポキシ基或いはブトキシ基等の炭素数1〜4の
アルコキシ基、塩素原子或いは臭素原子等のハロゲン原
子、ニトロ基、シアノ基、メルカプト基、低級アルキル
カルボキシル基、カルボキシル基、又はカルバモイル基
である。
In the general formula (4), R 4 represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group or a butyl group, a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group or a butoxy group. And a halogen atom such as a chlorine atom or a bromine atom, a nitro group, a cyano group, a mercapto group, a lower alkylcarboxyl group, a carboxyl group, or a carbamoyl group.

【0020】[0020]

【化6】 Embedded image

【0021】一般式(5)において、R5は、酸素原
子、硫黄原子、メチレン基、
In the general formula (5), R 5 represents an oxygen atom, a sulfur atom, a methylene group,

【化7】 NH、SO、SO2 、C(CF32 又はC(CH32 である。Embedded image It is NH, SO, SO 2 , C (CF 3 ) 2 or C (CH 3 ) 2 .

【0022】[0022]

【化8】 Embedded image

【0023】一般式(6)において、R6は、水素原
子、メチル基、エチル基、プロピル基或いはブチル基等
の炭素数1〜4個のアルキル基、メトキシ基、エトキシ
基、プロポキシ基或いはブトキシ基等の炭素数1〜4個
のアルコキシ基、塩素原子或いは臭素原子等のハロゲン
原子、ニトロ基、シアノ基、メルカプト基、低級アルキ
ルカルボキシル基、カルボキシル基、又はカルバモイル
基である。
In the general formula (6), R 6 represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group or a butyl group, a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group or a butoxy group. A C1-C4 alkoxy group such as a group, a halogen atom such as a chlorine atom or a bromine atom, a nitro group, a cyano group, a mercapto group, a lower alkylcarboxyl group, a carboxyl group, or a carbamoyl group.

【0024】[0024]

【化9】 Embedded image

【0025】一般式(7)において、R7は、酸素原
子、硫黄原子、メチレン基、
In the general formula (7), R 7 is an oxygen atom, a sulfur atom, a methylene group,

【化10】NH、SO、SO2 、C(CF32 又はC
(CH32 、C(C65)(CH3)、C(C652 である。
Embedded image NH, SO, SO 2 , C (CF 3 ) 2 or C
(CH 3 ) 2 , C (C 6 H 5 ) (CH 3 ) and C (C 6 H 5 ) 2 .

【0026】[0026]

【化11】 Embedded image

【0027】一般式(8)及び一般式(9)において、
8は、水素原子、メチル基、エチル基、プロピル基或
いはブチル基等の炭素数1〜4のアルキル基、メトキシ
基、エトキシ基、プロポキシ基或いはブトキシ基等の炭
素数1〜4のアルコキシ基、塩素原子或いは臭素原子等
のハロゲン原子、ニトロ基、シアノ基、メルカプト基、
低級アルキルカルボキシル基、カルボキシル基又はカル
バモイル基である。さらにR8は、ナフタレン環に2〜
4ヶ置換していてもよい。
In the general formulas (8) and (9),
R 8 represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group or a butyl group, or an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms such as a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group or a butoxy group. , A halogen atom such as a chlorine atom or a bromine atom, a nitro group, a cyano group, a mercapto group,
It is a lower alkyl carboxyl group, a carboxyl group or a carbamoyl group. Further, R 8 represents 2 to 2 on the naphthalene ring.
Four may be replaced.

【0028】[0028]

【化12】 ただし一般式(14)、(15)で、nは0〜10であ
り、異なる数値の化合物の混合物でも良い。
Embedded image However, in the general formulas (14) and (15), n is 0 to 10, and a mixture of compounds having different numerical values may be used.

【0029】2個のオキセタン環を有する化合物におい
て、上記した化合物以外の好ましい例としては、下記一
般式(16)で示される化合物がある。なお、一般式
(16)において、R1は、前記一般式(2)における
ものと同様の基である。
Preferred examples of the compound having two oxetane rings other than the above-mentioned compounds include a compound represented by the following formula (16). In the general formula (16), R 1 is the same group as in the general formula (2).

【0030】[0030]

【化13】 Embedded image

【0031】3〜4個のオキセタン環を有する化合物と
しては、下記一般式(17)で示される化合物等が挙げ
られる。
Examples of the compound having 3 to 4 oxetane rings include a compound represented by the following general formula (17).

【0032】[0032]

【化14】 Embedded image

【0033】一般式(17)において、R1は、前記一
般式(2)におけるものと同様の基であり、mは3又は
4である。R9は、例えば、下記一般式(18)、式
(19)及び式(20)で示される基等の炭素数1〜1
2の分枝状アルキレン基、下記一般式(21)で示され
る基等の分枝状ポリ(アルキレンオキシ)基が挙げられ
る。
In the general formula (17), R 1 is the same group as in the general formula (2), and m is 3 or 4. R 9 is, for example, a group having 1 to 1 carbon atoms such as a group represented by the following general formulas (18), (19) and (20).
And a branched poly (alkyleneoxy) group such as a group represented by the following general formula (21).

【0034】[0034]

【化15】 (一般式(18)において、R10はメチル基、エチル基
又はプロピル基等の低級アルキル基である)
Embedded image (In the general formula (18), R 10 is a lower alkyl group such as a methyl group, an ethyl group or a propyl group.)

【0035】[0035]

【化16】 Embedded image

【0036】[0036]

【化17】 Embedded image

【0037】[0037]

【化18】 (一般式(21)において、nは1〜10の整数であ
る)
Embedded image (In the general formula (21), n is an integer of 1 to 10.)

【0038】本発明で使用するオキセタン化合物の好ま
しい具体例としては、以下に示す化合物がある。
Preferred specific examples of the oxetane compound used in the present invention include the following compounds.

【0039】[0039]

【化19】 Embedded image

【0040】[0040]

【化20】 Embedded image

【0041】[0041]

【化21】 Embedded image

【0042】[0042]

【化22】 ただし、Rはメチル基又はエチル基であるEmbedded image However, R is a methyl group or an ethyl group

【0043】また、これら以外にも、分子量1,000
〜5,000程度の比較的高分子量の1〜4個のオキセ
タン環を有する化合物も挙げられる。さらにオキセタン
を含むポリマーとして、側鎖にオキセタン環を有するポ
リマー(例えば、K.Sato,A.Kameyama and T.Nishikubo,
Macromolecules,25,1198(1992)を参照)等も同様に用い
ることが出来る。なお、本発明では2種類以上のオキセ
タン化合物を組み合わせて使用することができる。
In addition, besides these, the molecular weight is 1,000.
A compound having 1 to 4 oxetane rings having a relatively high molecular weight of about 5,000 to about 5,000 is also included. Further, as a polymer containing oxetane, a polymer having an oxetane ring in a side chain (for example, K. Sato, A. Kameyama and T. Nishikubo,
Macromolecules, 25, 1198 (1992)) can be used in the same manner. In the present invention, two or more oxetane compounds can be used in combination.

【0044】さらに本発明の接着フィルムには、オキセ
タン化合物(A)に、エポキシ化合物を併用してもよ
い。エポキシ化合物としてはその分子中にエポキシ基を
有していれば特に制限はない。エポキシ化合物の具体例
としてはビスフェノールA、ビスフェノールAD、ビス
フェノールS、ビスフェノールFもしくはハロゲン化ビ
スフェノールAとエピクロルヒドリンの縮合物、フェノ
ールノボラック樹脂のグリシジルエーテル、クレゾール
ノボラック樹脂のグリシジルエーテル、ビスフェノール
Aノボラック樹脂のグリシジルエーテル等が挙げられ
る。エポキシ化合物の使用量は、特に制限はないが、オ
キセタン化合物(A)100重量部に対し0.01〜2
00重量部である。
Further, in the adhesive film of the present invention, an epoxy compound may be used in combination with the oxetane compound (A). The epoxy compound is not particularly limited as long as it has an epoxy group in the molecule. Specific examples of epoxy compounds include bisphenol A, bisphenol AD, bisphenol S, bisphenol F or a condensate of halogenated bisphenol A and epichlorohydrin, glycidyl ether of phenol novolak resin, glycidyl ether of cresol novolak resin, and glycidyl ether of bisphenol A novolak resin. And the like. The amount of the epoxy compound used is not particularly limited, but is 0.01 to 2 parts by weight per 100 parts by weight of the oxetane compound (A).
00 parts by weight.

【0045】また、接着力を向上させるため、オキセタ
ン化合物(A)にシラン系カップリング剤、チタン系カ
ップリング剤、ノニオン系界面活性剤、フッ素系界面活
性剤、シリコーン系添加剤等を適宜加えてもよい。
In order to improve the adhesive strength, a silane coupling agent, a titanium coupling agent, a nonionic surfactant, a fluorine surfactant, a silicone additive and the like are appropriately added to the oxetane compound (A). You may.

【0046】本発明の構成成分である硬化剤(B)とし
ては、オキセタン化合物(A)を開環重合させるもの及
び/またはオキセタン化合物に付加反応すればいかなる
化合物も用いることが可能であり、カチオン重合性触
媒、アニオン重合性触媒、潜在性カチオン重合開始剤、
潜在性アニオン重合性触媒、2官能以上のカルボン酸、
2官能以上のポリチオール、2官能以上のカルボン酸無
水物、2官能以上のフェノール化合物等が好適に用いら
れる。これらは単独で、または2種類以上を組み合わせ
て用いることができる。カチオン重合性触媒、アニオン
重合性触媒、潜在性カチオン重合開始剤、潜在性アニオ
ン重合性触媒等の、オキセタン化合物(A)を開環重合
させる硬化剤(B’)の使用量は、オキセタン化合物
(A)100重量部に対して0.01〜20重量部が好
ましく、0.1〜10重量部がより好ましい。オキセタ
ン化合物(A)を開環重合させる硬化剤(B’)の使用
量が0.01重量部未満では硬化性が不充分な傾向があ
り、20重量部を超えると接着フィルムの使用前の保存
安定性が低下する傾向がある。
As the curing agent (B) which is a component of the present invention, any compound capable of subjecting the oxetane compound (A) to ring-opening polymerization and / or any compound capable of undergoing an addition reaction with the oxetane compound can be used. Polymerizable catalyst, anionic polymerizable catalyst, latent cationic polymerization initiator,
Latent anionic polymerizable catalyst, difunctional or higher carboxylic acid,
A bifunctional or higher polythiol, a difunctional or higher carboxylic anhydride, a difunctional or higher phenol compound, or the like is preferably used. These can be used alone or in combination of two or more. The amount of the curing agent (B ′) used for ring-opening polymerization of the oxetane compound (A), such as a cationic polymerizable catalyst, an anionic polymerizable catalyst, a latent cationic polymerization initiator, a latent anionic polymerizable catalyst, etc. A) 0.01 to 20 parts by weight, preferably 0.1 to 10 parts by weight, per 100 parts by weight. If the amount of the curing agent (B ′) for ring-opening polymerization of the oxetane compound (A) is less than 0.01 part by weight, the curability tends to be insufficient, and if it exceeds 20 parts by weight, the adhesive film is stored before use. Stability tends to decrease.

【0047】また、2官能以上のカルボン酸、2官能以
上のポリチオール、2官能以上のカルボン酸無水物、2
官能以上のフェノール化合物等のオキセタン化合物
(A)と付加反応する硬化剤(B”)の使用量はオキセ
タン化合物(A)100重量部に対して2〜500重量
部が好ましく、50〜300重量部がより好ましい。オ
キセタン化合物(A)と付加反応する硬化剤(B”)の
使用量が2重量部未満では硬化性が不充分な傾向があ
り、500重量部を超えると接着フィルムの使用前の保
存安定性が低下する傾向がある。
Further, difunctional or higher carboxylic acid, difunctional or higher polythiol, difunctional or higher carboxylic anhydride,
The amount of the curing agent (B ″) that undergoes an addition reaction with the oxetane compound (A) such as a phenol compound having more than one functionality is preferably 2 to 500 parts by weight, more preferably 50 to 300 parts by weight, per 100 parts by weight of the oxetane compound (A). If the amount of the curing agent (B ″) that undergoes an addition reaction with the oxetane compound (A) is less than 2 parts by weight, the curability tends to be insufficient, and if it exceeds 500 parts by weight, the adhesive film before use is used. Storage stability tends to decrease.

【0048】これらの中で、オキセタン化合物(A)を
開環重合させる硬化剤(B’)として、後記する潜在性
カチオン重合開始剤(B1)は、保存安定性に優れる接
着フィルムが得られる点から好ましく、オキセタン化合
物(A)と付加反応する硬化剤(B”)として、後記す
るフェノール化合物(B2)は、高い接続信頼性を有す
る接着フィルムが得られる点から好ましい。潜在性カチ
オン重合開始剤(B1)とフェノール化合物(B2)は
それぞれ単独に用いることができ、または同時に用いる
こともできる。
Among these, the latent cationic polymerization initiator (B1) described later as a curing agent (B ') for ring-opening polymerization of the oxetane compound (A) can provide an adhesive film having excellent storage stability. As a curing agent (B ″) that undergoes an addition reaction with the oxetane compound (A), a phenol compound (B2) described below is preferable because an adhesive film having high connection reliability can be obtained. (B1) and the phenol compound (B2) can be used alone or simultaneously.

【0049】カチオン重合性触媒は、活性光線の照射及
び/又は加熱することによってカチオン重合性触媒を形
成し、オキセタン化合物(A)中のオキセタン環の開環
カチオン重合による硬化反応を触媒するものである。こ
れらの中で、活性光線の照射及び/又は加熱することに
よってカチオン重合性触媒を形成する、いわゆる潜在性
カチオン重合開始剤(B1)は、オキセタン化合物
(A)を含有する接着フィルムに配合して室温に放置す
る限りにおいては長期間にわたって安定であるが、活性
光線及び/又は熱の作用で掛金が外されると、直ちにカ
チオン重合性触媒を形成し、前記硬化反応を開始、促進
せしめることができる。
The cationically polymerizable catalyst forms a cationically polymerizable catalyst by irradiating and / or heating with actinic rays, and catalyzes a curing reaction by ring-opening cationic polymerization of the oxetane ring in the oxetane compound (A). is there. Among these, the so-called latent cationic polymerization initiator (B1), which forms a cationically polymerizable catalyst by irradiating and / or heating with actinic rays, is blended with an adhesive film containing an oxetane compound (A). As long as it is left at room temperature, it is stable for a long period of time, but as soon as the latch is removed by the action of actinic rays and / or heat, a cationically polymerizable catalyst can be formed and the curing reaction can be started and accelerated. it can.

【0050】前記潜在性カチオン重合開始剤(B1)と
しては、具体的には、以下に示すような各種オニウム塩
を挙げることができる。例えば、下記一般式(22)で
示される第四級アンモニウム塩、下記一般式(23)で
示されるホスホニウム塩および下記一般式(24)、
(25)または(26)で示されるスルホニウム塩など
がある。
Specific examples of the latent cationic polymerization initiator (B1) include various onium salts as shown below. For example, a quaternary ammonium salt represented by the following general formula (22), a phosphonium salt represented by the following general formula (23) and the following general formula (24):
And the sulfonium salt represented by (25) or (26).

【0051】[0051]

【化23】 Embedded image

【0052】(ただし、一般式(22)中、R1 〜R4
は、それぞれ、炭素原子数1〜20のアルキル基、炭素
原子数3〜12のアルケニル基、アリール基、アルカリ
ール基、炭素原子数1〜20のアルカノール基もしくは
炭素原子数5〜10のシクロアルキル基であり、互いに
同一でも異なっていてもよく、また置換基を有しても有
さなくてもよい。また、R1 〜R4 のうち2個は互いに
結合して、N、P、OまたはSをヘテロ原子とする複素
環を形成してもよい。さらに、Xは、BF4 、PF6
AsF6 、SbF6 、SbCl6 、(C654 B、
SbF5 (OH)、HSO4 、p−CH364 SO
3 、HCO3 、H2 PO4、CH3 COOおよびハロゲ
ン原子からなる群より選ばれる対イオン、すなわち、1
価の陰イオンを表わす。)
(However, in the general formula (22), R 1 to R 4
Is an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, an alkenyl group having 3 to 12 carbon atoms, an aryl group, an alkaryl group, an alkanol group having 1 to 20 carbon atoms, or a cycloalkyl having 5 to 10 carbon atoms, respectively. And may be the same or different from each other, and may or may not have a substituent. Two of R 1 to R 4 may be bonded to each other to form a heterocyclic ring having N, P, O or S as a hetero atom. Further, X is BF 4 , PF 6 ,
AsF 6 , SbF 6 , SbCl 6 , (C 6 F 5 ) 4 B,
SbF 5 (OH), HSO 4 , p-CH 3 C 6 H 4 SO
3 , a counter ion selected from the group consisting of HCO 3 , H 2 PO 4 , CH 3 COO and a halogen atom, ie, 1
Represents a valent anion. )

【0053】[0053]

【化24】 Embedded image

【0054】(ただし、一般式(23)中、R1 〜R4
およびXは、それぞれ、前記一般式(22)におけるR
1 〜R4 およびXと同じである。)
(However, in the general formula (23), R 1 to R 4
And X each represent R in the general formula (22).
Is the same as 1 to R 4 and X. )

【0055】[0055]

【化25】 Embedded image

【0056】(ただし、一般式(24)中、R1 〜R3
およびXは、それぞれ、前記一般式(22)におけるR
1 〜R3 およびXと同じであり、R1 〜R3 のうち2個
は互いに結合して、N、P、OまたはSをヘテロ原子と
する複素環を形成してもよい。)
(However, in the general formula (24), R 1 to R 3
And X each represent R in the general formula (22).
1 to R 3 and X are the same, and two of R 1 to R 3 may be bonded to each other to form a heterocyclic ring having N, P, O or S as a hetero atom. )

【0057】[0057]

【化26】 Embedded image

【0058】(ただし、一般式(25)中、R1 、R2
およびXは、それぞれ、前記一般式(22)におけるR
1 、R2 およびXと同じであり、R1 およびR2 は互い
に結合して、N、P、OまたはSをヘテロ原子とする複
素環を形成してもよい。また、Arは、置換基を有して
も有さなくてもよいアリール基を表わす。)
(However, in the general formula (25), R 1 , R 2
And X each represent R in the general formula (22).
It is the same as 1 , R 2 and X, and R 1 and R 2 may combine with each other to form a heterocyclic ring having N, P, O or S as a hetero atom. Ar represents an aryl group which may or may not have a substituent. )

【0059】[0059]

【化27】 Embedded image

【0060】(ただし、一般式(26)中、R1 〜R4
およびXは、それぞれ、前記一般式(22)におけるR
1 〜R4 およびXと同じである。また、Arは、上記一
般式(25)におけるArと同じである。)
(However, in the general formula (26), R 1 to R 4
And X each represent R in the general formula (22).
Is the same as 1 to R 4 and X. Ar is the same as Ar in the general formula (25). )

【0061】ここで、前記一般式(22)〜(26)に
おいて、R1、R2 、R3 またはR4としての前記炭素原
子数1〜20のアルキル基としては、置換基を有して
も、有さなくてもよい直鎖または分岐を有するアルキル
基が挙げられ、例えば、メチル基、エチル基、n−プロ
ピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチ
ル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基、イソペン
チル基、ネオペンチル基、n−ヘキシル基、イソヘキシ
ル基、n−ヘプチル基、n−オクチル基、ノニル基、デ
シル基、ウンデシル基、ドデシル基、トリデシル基、テ
トラデシル基、ペンタデシル基、ヘキサデシル基、オク
タデシル基、ノナデシル基およびエイコシル基などが挙
げられる。また、前記R1、R2 、R3 またはR4 とし
ての炭素原子数3〜12のアルケニル基としては、置換
基を有しても、有さなくてもよい直鎖または分岐を有す
るアルケニル基が含まれ、例えば、n−プロペニル基、
n−ブテニル基、sec−ブテニル基、tert−ブテ
ニル基、n−ペンテニル基、sec−ペンテニル基、ヘ
キセニル基、n−ヘプテニル基、sec−ヘプテニル
基、オクテニル基、ノネニル基、デセニル基およびウン
セニル基などが挙げられる。
In the formulas (22) to (26), the alkyl group having 1 to 20 carbon atoms as R 1 , R 2 , R 3 or R 4 has a substituent. And straight-chain or branched alkyl groups which may or may not have, for example, methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, sec-butyl group, tert-butyl group , N-pentyl, isopentyl, neopentyl, n-hexyl, isohexyl, n-heptyl, n-octyl, nonyl, decyl, undecyl, dodecyl, tridecyl, tetradecyl, pentadecyl , A hexadecyl group, an octadecyl group, a nonadecyl group and an eicosyl group. As the alkenyl group having 3 to 12 carbon atoms as R 1 , R 2 , R 3 or R 4 , a linear or branched alkenyl group which may or may not have a substituent. And, for example, an n-propenyl group,
n-butenyl group, sec-butenyl group, tert-butenyl group, n-pentenyl group, sec-pentenyl group, hexenyl group, n-heptenyl group, sec-heptenyl group, octenyl group, nonenyl group, decenyl group, uncenyl group, etc. Is mentioned.

【0062】前記R1 、R2 、R3 またはR4 としての
アリール基としては、例えば、置換または非置換のフェ
ニル基、ナフチル基またはアントラセン基が含まれ、特
に、フェニル基が好ましい。前記R1 、R2 、R3 また
はR4 としてアルカリール基としては、前述の炭素原子
数1〜20のアルキル基およびアリール基で構成される
ものが挙げられる。また、前記R1 、R2 、R3 または
4 としての炭素原子数1〜20のアルカノール基とし
ては、置換基を有しても、有さなくてもよい直鎖または
分岐を有するアルカノール基が含まれ、例えば、エタノ
ール基、n−プロパノール基、イソプロパノール基、n
−ブタノール基、sec−ブタノール基、tert−ブ
タノール基、n−ペンタノール基、sec−ペンタノー
ル基、1−ヘキサノール基、1−ヘプタノール基、1−
オクタノール基、1−ノナノール基、1−デカノール
基、1−ウンデカノール基、1−ドデカノール基、1−
トリデカノール基、1−テトラデカノール基、1−ペン
タデカノール基、1−ヘキサデカノール基、1−ヘプタ
デカノール基、1−オクタデカノール基、1−ノナデカ
ノール基および1−エイコサノール基などが挙げられ
る。さらにまた、前記R1 、R2 、R3 またはR4 とし
ての炭素原子数5〜10のシクロアルキル基としては、
置換基を有しても、有さなくてもよい分岐を有すること
のあるシクロアルキル基が含まれ、例えば、シクロペン
チル基、2−メチルシクロペンチル基、シクロヘキシル
基およびシクロヘプチル基などが挙げられる。一方、前
記一般式(25)および(26)において、Arとして
の置換基を有しても有さなくてもよいアリール基として
は、置換または非置換のフェニル基またはナフチル基が
挙げられる。
The aryl group as R 1 , R 2 , R 3 or R 4 includes, for example, a substituted or unsubstituted phenyl group, naphthyl group or anthracene group, and a phenyl group is particularly preferred. As the alkaryl group as R 1 , R 2 , R 3 or R 4 , the alkaryl group described above includes the alkyl group having 1 to 20 carbon atoms and the aryl group. The alkanol group having 1 to 20 carbon atoms as R 1 , R 2 , R 3 or R 4 may be a straight-chain or branched alkanol group which may or may not have a substituent. And, for example, an ethanol group, an n-propanol group, an isopropanol group, n
-Butanol group, sec-butanol group, tert-butanol group, n-pentanol group, sec-pentanol group, 1-hexanol group, 1-heptanol group, 1-
Octanol group, 1-nonanol group, 1-decanol group, 1-undecanol group, 1-dodecanol group, 1-
Tridecanol group, 1-tetradecanol group, 1-pentadecanol group, 1-hexadecanol group, 1-heptadecanol group, 1-octadecanol group, 1-nonadecanol group, 1-eicosanol group and the like. Can be Further, as the cycloalkyl group having 5 to 10 carbon atoms as R 1 , R 2 , R 3 or R 4 ,
A cycloalkyl group which may or may not have a substituent and which may have a branch is included, and examples thereof include a cyclopentyl group, a 2-methylcyclopentyl group, a cyclohexyl group and a cycloheptyl group. On the other hand, in the general formulas (25) and (26), examples of the aryl group which may or may not have a substituent as Ar include a substituted or unsubstituted phenyl group and a naphthyl group.

【0063】なお、前記一般式(22)〜(26)にお
いて、前記置換基としては、例えば、フッ素原子などの
ハロゲン原子、メチル基、エチル基、n−プロピル基、
イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、t
ert−ブチル基、n−ペンチル基、イソペンチル基、
ネオペンチル基、n−ヘキシル基、イソヘキシル基、n
−ヘプチル基およびn−オクチル基などの炭素原子数1
〜8のアルキル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル
基およびシクロヘプチル基などの炭素原子数5〜7のシ
クロアルキル基、またはメトキシ基、エトキシ基、プロ
ポキシ基、イソプロポキシ基、ブトキシ基、イソブトキ
シ基、sec−ブトキシ基、tert−ブトキシ基、ペ
ンチルオキシ基、イソペンチルオキシ基、sec−ペン
チルオキシ基、ヘキシルオキシ基、イソヘキシルオキシ
基、ヘプチルオキシ基およびオクチルオキシ基などの炭
素原子数1〜8のアルコキシ基が挙げられる。
In the general formulas (22) to (26), examples of the substituent include a halogen atom such as a fluorine atom, a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group,
Isopropyl group, n-butyl group, sec-butyl group, t
tert-butyl group, n-pentyl group, isopentyl group,
Neopentyl group, n-hexyl group, isohexyl group, n
1 carbon atom such as heptyl group and n-octyl group
-8 alkyl groups, cyclopentyl groups, cyclohexyl groups, cycloheptyl groups and other cycloalkyl groups having 5 to 7 carbon atoms, or methoxy, ethoxy, propoxy, isopropoxy, butoxy, isobutoxy, sec- Alkoxy groups having 1 to 8 carbon atoms such as butoxy group, tert-butoxy group, pentyloxy group, isopentyloxy group, sec-pentyloxy group, hexyloxy group, isohexyloxy group, heptyloxy group and octyloxy group Is mentioned.

【0064】前記一般式(22)で示される第四級アン
モニウム塩としては、例えば、テトラブチルアンモニウ
ムテトラフルオロボレート、テトラブチルアンモニウム
ヘキサフルオロホスフェート、テトラブチルアンモニウ
ムハイドロゲンサルフェート、テトラエチルアンモニウ
ムテトラフルオロボレート、テトラエチルアンモニウム
p−トルエンスルホネート、N,N−ジメチル−N−ベ
ンジルアニリニウム六フッ化アンチモン、N,N−ジメ
チル−N−ベンジルアニリニウム四フッ化ホウ素、N,
N−ジメチル−N−ベンジルピリジニウム六フッ化アン
チモン、N,N−ジエチル−N−ベンジルトリフルオロ
メタンスルホン酸、N,N−ジメチル−N−(4−メト
キシベンジル)ピリジニウム六フッ化アンチモン、N,
N−ジエチル−N−(4−メトキシベンジル)トルイジ
ニウム六フッ化アンチモンなどを挙げることができる。
前記一般式(23)で示されるホスホニウム塩の具体例
としては、例えば、エチルトリフェニルホスホニウム六
フッ化アンチモン、テトラブチルホスホニウム六フッ化
アンチモンなどを挙げることができる。
The quaternary ammonium salt represented by the general formula (22) includes, for example, tetrabutylammonium tetrafluoroborate, tetrabutylammonium hexafluorophosphate, tetrabutylammonium hydrogen sulfate, tetraethylammonium tetrafluoroborate, tetraethylammonium p-toluenesulfonate, N, N-dimethyl-N-benzylanilinium antimony hexafluoride, N, N-dimethyl-N-benzylanilinium boron tetrafluoride,
N-dimethyl-N-benzylpyridinium antimony hexafluoride, N, N-diethyl-N-benzyltrifluoromethanesulfonic acid, N, N-dimethyl-N- (4-methoxybenzyl) pyridinium antimony hexafluoride, N,
N-diethyl-N- (4-methoxybenzyl) toluidinium antimony hexafluoride and the like can be mentioned.
Specific examples of the phosphonium salt represented by the general formula (23) include, for example, ethyltriphenylphosphonium antimony hexafluoride and tetrabutylphosphonium antimony hexafluoride.

【0065】そして、前記一般式(24)、(25)ま
たは(26)で示されるスルホニウム塩としては、例え
ば、トリフェニルスルホニウム四フッ化ホウ素、トリフ
ェニルスルホニウム六フッ化アンチモン、トリフェニル
スルホニウム六フッ化砒素、トリ(4−メトキシフェニ
ル)スルホニウム六フッ化砒素、ジフェニル(4−フェ
ニルチオフェニル)スルホニウム六フッ化砒素、アデカ
オプトンSP−150(旭電化工業株式会社製、対イオ
ン:PF6 )、アデカオプトンSP−170(旭電化工
業株式会社製、対イオン:SbF6 )、アデカオプトン
CP−66(旭電化工業株式会社製、対イオン:SbF
6 )、アデカオプトンCP−77(旭電化工業株式会社
製、対イオン:SbF6 )、サンエイドSI−60L
(三新化学工業株式会社製、対イオン:SbF6)、サ
ンエイドSI−80L(三新化学工業株式会社製、対イ
オン:SbF6 )、サンエイドSI−100L(三新化
学工業株式会社製、対イオン:SbF6 )、サンエイド
SI−150(三新化学工業株式会社製、対イオン:S
bF6 )、CYRACURE UVI−6974(ユニ
オン・カーバイド社製、対イオン:SbF6 )、CYR
ACURE UVI−6990(ユニオン・カーバイド
社製、対イオン:PF6 )、UVI−508(ゼネラル
・エレクトリック社製)、UVI−509(ゼネラル・
エレクトリック社製)、FC−508(ミネソタ・マイ
ニング・アンド・マニファクチュアリング社製)、FC
−509(ミネソタ・マイニング・アンド・マニファク
チュアリング社製)、CD−1010(サートマー社
製)、CD−1011(サートマー社製)およびCIシ
リーズ(日本曹達株式会社製、対イオン:PF6 、Sb
6)などを挙げることができる。
Examples of the sulfonium salt represented by formula (24), (25) or (26) include, for example, triphenylsulfonium boron tetrafluoride, triphenylsulfonium antimony hexafluoride, and triphenylsulfonium hexafluoride. Arsenic arsenide, tri (4-methoxyphenyl) sulfonium arsenic hexafluoride, diphenyl (4-phenylthiophenyl) sulfonium arsenic hexafluoride, Adekaopton SP-150 (manufactured by Asahi Denka Kogyo KK, counter ion: PF 6 ), adekaopton SP-170 (manufactured by Asahi Denka Kogyo KK, counter ion: SbF 6 ), Adeka Opton CP-66 (manufactured by Asahi Denka Kogyo KK, counter ion: SbF)
6 ), Adeka Opton CP-77 (manufactured by Asahi Denka Kogyo KK, counter ion: SbF 6 ), Sun-Aid SI-60L
(Manufactured by Sanshin Chemical Co., Ltd., counter ion: SbF 6 ), Sun Aid SI-80L (manufactured by San Shin Chemical Co., Ltd., counter ion: SbF 6 ), San Aid SI-100L (manufactured by San Shin Chemical Co., Ltd., Ion: SbF 6 ), San-Aid SI-150 (manufactured by Sanshin Chemical Industry Co., Ltd., counter ion: S
bF 6 ), CYRACURE UVI-6974 (manufactured by Union Carbide Co., counter ion: SbF 6 ), CYR
ACURE UVI-6990 (manufactured by Union Carbide, counter ion: PF 6 ), UVI-508 (manufactured by General Electric), UVI-509 (general
Electric), FC-508 (Minnesota Mining and Manufacturing), FC
-509 (manufactured by Minnesota Mining and Manufacturing Co., Ltd.), CD-1010 (manufactured by Sartomer Co., Ltd.), CD-1011 (manufactured by Sartomer Co., Ltd.) and CI series (manufactured by Nippon Soda Co., Ltd., counter ion: PF 6, Sb
F 6 ).

【0066】さらに、前記潜在性カチオン重合開始剤
(B1)として、下記一般式(27)で示されるジアゾ
ニウム塩や下記一般式(28)で示されるヨードニウム
塩も使用することができる。
Further, as the latent cationic polymerization initiator (B1), a diazonium salt represented by the following general formula (27) and an iodonium salt represented by the following general formula (28) can also be used.

【0067】[0067]

【化28】 Embedded image

【0068】(ただし、一般式(27)中、Arおよび
Xは、それぞれ、前記一般式(25)におけるArおよ
び前記一般式(22)におけるXと同じである。)
(In the general formula (27), Ar and X are the same as Ar in the general formula (25) and X in the general formula (22), respectively.)

【0069】[0069]

【化29】 Embedded image

【0070】(ただし、一般式(28)中、Xは、上記
一般式(22)におけるXと同じであり、R5 およびR
6 は、互いに同一でも異なっていてもよく、また置換基
を有しても有さなくてもよいアリール基である。)
[0070] (wherein, in the general formula (28), X is the same as X in the general formula (22), R 5 and R
6 is an aryl group which may be the same or different, and may or may not have a substituent. )

【0071】ここで、前記一般式(27)および(2
8)において、Arとしての置換基を有しても有さなく
てもよいアリール基、および、Xとしての1価の陰イオ
ンの具体例としては前述の通りである。また、R5 およ
びR6 としての置換基を有しても有さなくてもよいアリ
ール基としては、例えば、置換または非置換のフェニル
基、ナフチル基またはアントラセン基が挙げられ、特
に、フェニル基が好ましい。置換基としては、例えば、
フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子などのハ
ロゲン原子、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イ
ソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、te
rt−ブチル基、n−ペンチル基、イソペンチル基、ネ
オペンチル基、n−ヘキシル基、イソヘキシル基、n−
ヘプチル基およびn−オクチル基などの炭素原子数1〜
8のアルキル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基
およびシクロヘプチル基などの炭素原子数5〜7のシク
ロアルキル基、またはメトキシ基、エトキシ基、プロポ
キシ基、イソプロポキシ基、ブトキシ基、イソブトキシ
基、sec−ブトキシ基、tert−ブトキシ基、ペン
チルオキシ基、イソペンチルオキシ基、sec−ペンチ
ルオキシ基、ヘキシルオキシ基、イソヘキシルオキシ
基、ヘプチルオキシ基およびオクチルオキシ基などの炭
素原子数1〜8のアルコキシ基が挙げられる。
Here, the general formulas (27) and (2)
In 8), specific examples of the aryl group which may or may not have a substituent as Ar, and the monovalent anion as X are as described above. Examples of the aryl group which may or may not have a substituent as R 5 and R 6 include, for example, a substituted or unsubstituted phenyl group, a naphthyl group and an anthracene group. Is preferred. As the substituent, for example,
Halogen atom such as fluorine atom, chlorine atom, bromine atom, iodine atom, methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, sec-butyl group, te
rt-butyl group, n-pentyl group, isopentyl group, neopentyl group, n-hexyl group, isohexyl group, n-
1 to 1 carbon atoms such as a heptyl group and an n-octyl group
8 alkyl groups, cyclopentyl groups, cyclohexyl groups, cycloheptyl groups and other cycloalkyl groups having 5 to 7 carbon atoms, or methoxy, ethoxy, propoxy, isopropoxy, butoxy, isobutoxy, sec-butoxy. Group, a tert-butoxy group, a pentyloxy group, an isopentyloxy group, a sec-pentyloxy group, a hexyloxy group, an isohexyloxy group, a heptyloxy group, and an octyloxy group. No.

【0072】前記一般式(27)で示されるジアゾニウ
ム塩の具体例としては、アメリカン・キャン社製のAM
ERICURE(対イオン:BF4 )および旭電化工業
株式会社製のULTRASET(対イオン:BF4 、P
6 )などを挙げることができる。また、前記一般式
(28)で示されるヨードニウム塩の具体例としては、
ジフェニルヨードニウム六フッ化砒素、ジ−4−クロロ
フェニルヨードニウム六フッ化砒素、ジ−4−ブロムフ
ェニルヨードニウム六フッ化砒素、フェニル(4−メト
キシフェニル)ヨードニウム六フッ化砒素、ゼネラル・
エレクトリック社製のUVEシリーズ、ミネソタ・マイ
ニング・アンド・マニファクチュアリング社製のFCシ
リーズ、東芝シリコーン社製のUV−9310C(対イ
オン:SbF6 )およびローヌプーラン社製のPhotoini
tiator2074(対イオン:(C654 B)などを
挙げることができる。
Specific examples of the diazonium salt represented by the general formula (27) include AM manufactured by American Can Inc.
ERICURE (counter ion: BF 4 ) and ULTRASET (counter ion: BF 4 , P
F 6 ). Specific examples of the iodonium salt represented by the general formula (28) include:
Arsenic diphenyliodonium hexafluoride, arsenic di-4-chlorophenyliodonium hexafluoride, arsenic di-4-bromophenyliodonium hexafluoride, arsenic phenyl (4-methoxyphenyl) iodonium hexafluoride, general
Electric Co., Ltd. of UVE series, Minnesota Mining and Manufacturing Co., Ltd. of the FC series, Toshiba Silicone Co., Ltd. of UV-9310C (counter ion: SbF 6) and Rhone Poulenc of Photoini
tiator 2074 (counter ion: (C 6 F 5 ) 4 B) and the like.

【0073】潜在性カチオン重合開始剤(B1)の使用
量は、オキセタン化合物(A)100重量部に対して
0.01〜20重量部が好ましく、0.1〜10重量部
がより好ましい。潜在性カチオン重合開始剤(B1)の
使用量が0.01重量部未満では硬化性が不充分な傾向
があり、20重量部を超えると接着フィルムの使用前の
保存安定性が低下する傾向がある。
The amount of the latent cationic polymerization initiator (B1) to be used is preferably 0.01 to 20 parts by weight, more preferably 0.1 to 10 parts by weight, per 100 parts by weight of the oxetane compound (A). If the amount of the latent cationic polymerization initiator (B1) is less than 0.01 part by weight, the curability tends to be insufficient, and if it exceeds 20 parts by weight, the storage stability of the adhesive film before use tends to decrease. is there.

【0074】フェノール化合物(B2)としては、その
分子中に2個以上のフェノール構造を有しているフェノ
ール樹脂を用いることができる。このような樹脂として
は例えば、フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボ
ラック樹脂、ビスフェノールAノボラック樹脂、ポリ−
p−ビニルフェノール、フェノールアラルキル樹脂等が
挙げられる。フェノール樹脂の使用量は、オキセタン化
合物(A)100重量部に対して2〜500重量部が好
ましく、50〜300重量部がより好ましい。フェノー
ル化合物(B2)の使用量が2重量部未満では硬化性が
不充分な傾向があり、500重量部を超えると接着フィ
ルムの使用前の保存安定性が低下する傾向がある。
As the phenol compound (B2), a phenol resin having two or more phenol structures in its molecule can be used. Examples of such a resin include a phenol novolak resin, a cresol novolak resin, a bisphenol A novolak resin, and a poly-novolak resin.
p-Vinylphenol, phenol aralkyl resin and the like. The amount of the phenol resin used is preferably 2 to 500 parts by weight, more preferably 50 to 300 parts by weight, per 100 parts by weight of the oxetane compound (A). If the amount of the phenol compound (B2) is less than 2 parts by weight, the curability tends to be insufficient, and if it exceeds 500 parts by weight, the storage stability of the adhesive film before use tends to decrease.

【0075】本発明の硬化剤(B)として、オキセタン
化合物(A)と付加反応する硬化剤(B”)を用いる場
合、さらに硬化促進剤を添加してもよい。硬化促進剤と
しては、イミダゾール類、ジシアンジアミド誘導体、ジ
カルボン酸ジヒドラジド、トリフェニルホスフィン、テ
トラアルキルアンモニウムハライド類(アルキル=C1
〜C8,ハライド=F,Cl,Br,I)、テトラアル
キルホスホニウムハライド類(アルキル=C1〜C8,ハ
ライド=F,Cl,Br,I)、テトラフェニルホスホ
ニウムハライド類(ハライド=F,Cl,Br,I)、
ベンジルトリアルキルアンモニウムハライド類(アルキ
ル=C1〜C8,ハライド=F,Cl,Br,I)、2−
エチル−4−メチルイミダゾール−テトラフェニルボレ
ート、1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)ウンデセ
ン−7−テトラフェニルボレート等が挙げられる。ま
た、前記潜在性カチオン重合開始剤(B1)も用いるこ
とができる。硬化促進剤を用いる場合のその配合量はオ
キセタン化合物100重量部に対して0.01〜20重
量部が好ましく、0.1〜10重量部がより好ましい。
潜在性カチオン重合開始剤(B1)の使用量が0.01
重量部未満では実質的な添加効果が観察されない傾向が
あり、20重量部を超えると接着フィルムの使用前の保
存安定性が低下する傾向がある。
When a curing agent (B ″) that undergoes an addition reaction with the oxetane compound (A) is used as the curing agent (B) of the present invention, a curing accelerator may be further added. As the curing accelerator, imidazole is used. , Dicyandiamide derivative, dicarboxylic dihydrazide, triphenylphosphine, tetraalkylammonium halides (alkyl = C 1
To C 8 , halide = F, Cl, Br, I), tetraalkylphosphonium halides (alkyl = C 1 to C 8 , halide = F, Cl, Br, I), tetraphenylphosphonium halides (halide = F, Cl, Br, I),
Benzyltrialkylammonium halides (alkyl = C 1 -C 8 , halide = F, Cl, Br, I), 2-
Ethyl-4-methylimidazole-tetraphenyl borate, 1,8-diazabicyclo (5,4,0) undecene-7-tetraphenyl borate, and the like can be mentioned. Further, the latent cationic polymerization initiator (B1) can also be used. When a curing accelerator is used, the amount thereof is preferably 0.01 to 20 parts by weight, more preferably 0.1 to 10 parts by weight, based on 100 parts by weight of the oxetane compound.
The amount of the latent cationic polymerization initiator (B1) used is 0.01
When the amount is less than 20 parts by weight, a substantial addition effect tends not to be observed, and when the amount exceeds 20 parts by weight, the storage stability of the adhesive film before use tends to decrease.

【0076】本発明におけるポリイミド樹脂(C)は、
その分子中にイミド結合を有していれば特に制限はな
く、いかなる樹脂も用いることができる。本発明におけ
るポリイミド樹脂(C)の数平均分子量は、5,000
〜300,000とすることが好ましく、10,000
〜150,000とすることがより好ましい。この数平
均分子量が、5,000未満では、接着フィルムを用い
て接着した場合に機械的強度が低下する傾向があり、3
00,000を超えると、フィルム形成性が低下する傾
向がある。なお、数平均分子量は、ゲルパーミエーショ
ンクロマトグラフィー法により測定し、標準ポリスチレ
ン検量線を用いて換算した値である。これらの中で、以
下に示すテトラカルボン酸二無水物(C’)と、ジアミ
ン(C”)から合成されるポリイミド樹脂(C)は、接
着フィルム中に用いた場合、せん断接着力に優れること
から好ましい。
The polyimide resin (C) in the present invention comprises:
There is no particular limitation as long as it has an imide bond in the molecule, and any resin can be used. The number average molecular weight of the polyimide resin (C) in the present invention is 5,000.
300300,000, preferably 10,000
More preferably, it is set to 150150,000. If the number average molecular weight is less than 5,000, the mechanical strength tends to decrease when bonded using an adhesive film.
If it exceeds 000, the film formability tends to decrease. The number average molecular weight is a value measured by a gel permeation chromatography method and converted using a standard polystyrene calibration curve. Among these, polyimide resin (C) synthesized from tetracarboxylic dianhydride (C ′) and diamine (C ″) shown below has excellent shear adhesive strength when used in an adhesive film. Is preferred.

【0077】本発明のポリイミド樹脂(C)の原料とし
て用いられる、一般式(1)のテトラカルボン酸二無水
物(C’)としては、nが2〜5のとき、1,2−(エ
チレン)ビス(トリメリテート二無水物)、1,3−
(トリメチレン)ビス(トリメリテート二無水物)、
1,4−(テトラメチレン)ビス(トリメリテート二無
水物)、1,5−(ペンタメチレン)ビス(トリメリテ
ート二無水物)、nが6〜20のとき、1,6−(ヘキ
サメチレン)ビス(トリメリテート二無水物)、1,7
−(ヘプタメチレン)ビス(トリメリテート二無水
物)、1,8−(オクタメチレン)ビス(トリメリテー
ト二無水物)、1,9−(ノナメチレン)ビス(トリメ
リテート二無水物)、1,10−(デカメチレン)ビス
(トリメリテート二無水物)、1,12−(ドデカメチ
レン)ビス(トリメリテート二無水物)、1,16−
(ヘキサデカメチレン)ビストリメリテート二無水物、
1,18−(オクタデカメチレン)ビス(トリメリテー
ト二無水物)等があり、これら2種以上を併用してもよ
い。
The tetracarboxylic dianhydride (C ′) of the general formula (1) used as a raw material of the polyimide resin (C) of the present invention includes 1,2- (ethylene ) Bis (trimellitate dianhydride), 1,3-
(Trimethylene) bis (trimellitate dianhydride),
1,4- (tetramethylene) bis (trimellitate dianhydride), 1,5- (pentamethylene) bis (trimellitate dianhydride), and when n is 6 to 20, 1,6- (hexamethylene) bis ( Trimellitate dianhydride), 1,7
-(Heptamethylene) bis (trimellitate dianhydride), 1,8- (octamethylene) bis (trimellitate dianhydride), 1,9- (nonamethylene) bis (trimellitate dianhydride), 1,10- (decamethylene ) Bis (trimellitate dianhydride), 1,12- (dodecamethylene) bis (trimellitate dianhydride), 1,16-
(Hexadecamethylene) bistrimellitate dianhydride,
1,18- (octadecamethylene) bis (trimellitate dianhydride) and the like may be used in combination.

【0078】上記テトラカルボン酸二無水物(C’)
は、無水トリメリット酸モノクロライド及び対応するジ
オールから合成することができる。また、全テトラカル
ボン酸二無水物に対して上記テトラカルボン酸二無水物
(C’)の含まれる量が、70モル%以下であると、接
着フィルムの接着時の温度が高くなり好ましくない。
The above tetracarboxylic dianhydride (C ′)
Can be synthesized from trimellitic anhydride monochloride and the corresponding diol. On the other hand, if the content of the tetracarboxylic dianhydride (C ′) is 70 mol% or less with respect to all the tetracarboxylic dianhydrides, the temperature at the time of bonding the adhesive film is undesirably high.

【0079】一般式(1)のテトラカルボン酸二無水物
(C’)と共に使用できるテトラカルボン酸無水物とし
ては、例えば、ピロメリット酸二無水物、3,3′,
4,4′−ジフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,
2′,3,3′−ジフェニルテトラカルボン酸二無水
物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)プ
ロパン二無水物、2,2−ビス(2,3−ジカルボキシ
フェニル)プロパン二無水物、1,1−ビス(2,3−
ジカルボキシフェニル)エタン二無水物、1,1−ビス
(3,4−ジカルボキシフェニル)エタン二無水物、ビ
ス(2,3−ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、
ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)メタン二無水
物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)スルホン二
無水物、3,4,9,10−ペリレンテトラカルボン酸
二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)エー
テル二無水物、ベンゼン−1,2,3,4−テトラカル
ボン酸二無水物、3,4,3′,4′−ベンゾフェノン
テトラカルボン酸二無水物、2,3,2′,3−ベンゾ
フェノンテトラカルボン酸二無水物、2,3,3′,
4′−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、1,
2,5,6−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、
2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸二無水
物、1,2,4,5−ナフタレン−テトラカルボン酸二
無水物、1,4,5,8−ナフタレン−テトラカルボン
酸二無水物、2,6−ジクロルナフタレン−1,4,
5,8−テトラカルボン酸二無水物、2,7−ジクロル
ナフタレン−1,4,5,8−テトラカルボン酸二無水
物、2,3,6,7−テトラクロルナフタレン−1,
4,5,8−テトラカルボン酸二無水物、フェナンスレ
ン−1,8,9,10−テトラカルボン酸二無水物、ピ
ラジン−2,3,5,6−テトラカルボン酸二無水物、
チオフェン−2,3,4,5−テトラカルボン酸二無水
物、2,3,3′,4′−ビフェニルテトラカルボン酸
二無水物、3,4,3′,4′−ビフェニルテトラカル
ボン酸二無水物、2,3,2′,3′−ビフェニルテト
ラカルボン酸二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフ
ェニル)ジメチルシラン二無水物、ビス(3,4−ジカ
ルボキシフェニル)メチルフェニルシラン二無水物、ビ
ス(3,4−ジカルボキシフェニル)ジフェニルシラン
二無水物、1,4−ビス(3,4−ジカルボキシフェニ
ルジメチルシリル)ベンゼン二無水物、1,3−ビス
(3,4−ジカルボキシフェニル)−1,1,3,3−
テトラメチルジシクロヘキサン二無水物、p−フェニル
ビス(トリメリット酸モノエステル酸無水物)、
The tetracarboxylic anhydride usable together with the tetracarboxylic dianhydride (C ′) of the general formula (1) includes, for example, pyromellitic dianhydride, 3,3 ′,
4,4'-diphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,
2 ', 3,3'-diphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) propane dianhydride, 2,2-bis (2,3-dicarboxyphenyl) propane Dianhydride, 1,1-bis (2,3-
Dicarboxyphenyl) ethane dianhydride, 1,1-bis (3,4-dicarboxyphenyl) ethane dianhydride, bis (2,3-dicarboxyphenyl) methane dianhydride,
Bis (3,4-dicarboxyphenyl) methane dianhydride, bis (3,4-dicarboxyphenyl) sulfone dianhydride, 3,4,9,10-perylenetetracarboxylic dianhydride, bis (3 4-dicarboxyphenyl) ether dianhydride, benzene-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride, 3,4,3 ′, 4′-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 2,3 2 ', 3-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 2,3,3',
4'-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 1,
2,5,6-naphthalenetetracarboxylic dianhydride,
2,3,6,7-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 1,2,4,5-naphthalene-tetracarboxylic dianhydride, 1,4,5,8-naphthalene-tetracarboxylic dianhydride, 2,6-dichloronaphthalene-1,4
5,8-tetracarboxylic dianhydride, 2,7-dichloronaphthalene-1,4,5,8-tetracarboxylic dianhydride, 2,3,6,7-tetrachloronaphthalene-1,
4,5,8-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1,8,9,10-tetracarboxylic dianhydride, pyrazine-2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride,
Thiophene-2,3,4,5-tetracarboxylic dianhydride, 2,3,3 ', 4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 3,4,3', 4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride Anhydride, 2,3,2 ', 3'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, bis (3,4-dicarboxyphenyl) dimethylsilane dianhydride, bis (3,4-dicarboxyphenyl) methylphenylsilane Dianhydride, bis (3,4-dicarboxyphenyl) diphenylsilane dianhydride, 1,4-bis (3,4-dicarboxyphenyldimethylsilyl) benzene dianhydride, 1,3-bis (3,4 -Dicarboxyphenyl) -1,1,3,3-
Tetramethyldicyclohexane dianhydride, p-phenylbis (trimellitic acid monoester anhydride),

【0080】エチレンテトラカルボン酸二無水物、1,
2,3,4−ブタンテトラカルボン酸二無水物、デカヒ
ドロナフタレン−1,4,5,8−テトラカルボン酸二
無水物、4,8−ジメチル−1,2,3,5,6,7−
ヘキサヒドロナフタレン−1,2,5,6−テトラカル
ボン酸二無水物、シクロペンタン−1,2,3,4−テ
トラカルボン酸二無水物、ピロリジン−2,3,4,5
−テトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−シクロ
ブタンテトラカルボン酸二無水物、ビス(エキソ−ビシ
クロ〔2,2,1〕ヘプタン−2,3−ジカルボン酸無
水物)スルホン、ビシクロ−(2,2,2)−オクト
(8)−エン2,3,5,6−テトラカルボン酸二無水
物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)ヘ
キサフルオロプロパン二無水物、2,2−ビス〔4−
(3,4−ジカルボキシフェノキシ)フェニル〕ヘキサ
フルオロプロパン二無水物、4,4′−ビス(3,4−
ジカルボキシフェノキシ)ジフェニルスルフィド二無水
物、1,4−ビス(2−ヒドロキシヘキサフルオロイソ
プロピル)ベンゼンビス(トリメリット酸無水物)、
1,3−ビス(2−ヒドロキシヘキサフルオロイソプロ
ピル)ベンゼンビス(トリメリット酸無水物)、5−
(2,5−ジオキソテトラヒドロフリル)−3−メチル
−3−シクロヘキセン−1,2−ジカルボン酸無水物、
テトラヒドロフラン−2,3,4,5−テトラカルボン
酸二無水物等があり、2種類以上を混合して用いてもよ
い。
Ethylenetetracarboxylic dianhydride, 1,
2,3,4-butanetetracarboxylic dianhydride, decahydronaphthalene-1,4,5,8-tetracarboxylic dianhydride, 4,8-dimethyl-1,2,3,5,6,7 −
Hexahydronaphthalene-1,2,5,6-tetracarboxylic dianhydride, cyclopentane-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride, pyrrolidine-2,3,4,5
Tetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride, bis (exo-bicyclo [2,2,1] heptane-2,3-dicarboxylic anhydride) sulfone, bicyclo -(2,2,2) -oct (8) -ene 2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride, 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) hexafluoropropane dianhydride , 2,2-bis [4-
(3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] hexafluoropropane dianhydride, 4,4'-bis (3,4-
Dicarboxyphenoxy) diphenyl sulfide dianhydride, 1,4-bis (2-hydroxyhexafluoroisopropyl) benzenebis (trimellitic anhydride),
1,3-bis (2-hydroxyhexafluoroisopropyl) benzenebis (trimellitic anhydride), 5-
(2,5-dioxotetrahydrofuryl) -3-methyl-3-cyclohexene-1,2-dicarboxylic anhydride,
There are tetrahydrofuran-2,3,4,5-tetracarboxylic dianhydride and the like, and two or more kinds may be used as a mixture.

【0081】本発明のポリイミド樹脂(C)のもう一つ
の原料として用いられる、ジアミン(C”)としては、
1,2−ジアミノエタン、1,3−ジアミノプロパン、
1,4−ジアミノブタン、1,5−ジアミノペンタン、
1,6−ジアミノヘキサン、1,7−ジアミノヘプタ
ン、1,8−ジアミノオクタン、1,9−ジアミノノナ
ン、1,10−ジアミノデカン、1,11−ジアミノウ
ンデカン、1,12−ジアミノドデカン等の脂肪族ジア
ミン、o−フェニレンジアミン、m−フェニレンジアミ
ン、p−フェニレンジアミン、3,3′−ジアミノジフ
ェニルエーテル、3,4′−ジアミノジフェニルエーテ
ル、4,4′−ジアミノジフェニルエーテル、3,3′
−ジアミノジフェニルメタン、3,4′−ジアミノジフ
ェニルメタン、4,4′−ジアミノジフェニルメタン、
3,3′−ジアミノジフェニルジフルオロメタン、3,
4′−ジアミノジフェニルジフルオロメタン、4,4′
−ジアミノジフェニルジフルオロメタン、3,3′−ジ
アミノジフェニルスルホン、3,4′−ジアミノジフェ
ニルスルホン、4,4′−ジアミノジフェニルスルホ
ン、3,3′−ジアミノジフェニルスルフイド、3,
4′−ジアミノジフェニルスルフイド、4,4′−ジア
ミノジフェニルスルフイド、
The diamine (C ″) used as another raw material of the polyimide resin (C) of the present invention includes:
1,2-diaminoethane, 1,3-diaminopropane,
1,4-diaminobutane, 1,5-diaminopentane,
Fats such as 1,6-diaminohexane, 1,7-diaminoheptane, 1,8-diaminooctane, 1,9-diaminononane, 1,10-diaminodecane, 1,11-diaminoundecane, 1,12-diaminododecane Group diamine, o-phenylenediamine, m-phenylenediamine, p-phenylenediamine, 3,3'-diaminodiphenyl ether, 3,4'-diaminodiphenyl ether, 4,4'-diaminodiphenyl ether, 3,3 '
-Diaminodiphenylmethane, 3,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylmethane,
3,3'-diaminodiphenyldifluoromethane, 3,
4'-diaminodiphenyldifluoromethane, 4,4 '
-Diaminodiphenyldifluoromethane, 3,3'-diaminodiphenylsulfone, 3,4'-diaminodiphenylsulfone, 4,4'-diaminodiphenylsulfone, 3,3'-diaminodiphenylsulfide, 3,
4'-diaminodiphenyl sulfide, 4,4'-diaminodiphenyl sulfide,

【0082】3,3′−ジアミノジフェニルケトン、
3,4′−ジアミノジフェニルケトン、4,4′−ジア
ミノジフェニルケトン、2,2−ビス(3−アミノフェ
ニル)プロパン、2,2′−(3,4′−ジアミノジフ
ェニル)プロパン、2,2−ビス(4−アミノフェニ
ル)プロパン、2,2−ビス(3−アミノフェニル)ヘ
キサフルオロプロパン、2,2−(3,4′−ジアミノ
ジフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス
(4−アミノフェニル)ヘキサフルオロプロパン、1,
3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−
ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス
(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、3,3′−(1,
4−フェニレンビス(1−メチルエチリデン))ビスア
ニリン、3,4′−(1,4−フェニレンビス(1−メ
チルエチリデン))ビスアニリン、4,4′−(1,4
−フェニレンビス(1−メチルエチリデン))ビスアニ
リン、2,2−ビス(4−(3−アミノフェノキシ)フ
ェニル)プロパン、2,2−ビス(4−(4−アミノフ
ェノキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−
(3−アミノフェノキシ)フェニル)ヘキサフルオロプ
ロパン、2,2−ビス(4−(4−アミノフェノキシ)
フェニル)ヘキサフルオロプロパン、ビス(4−(3−
アミノフェノキシ)フェニル)スルフイド、ビス(4−
(4−アミノフェノキシ)フェニル)スルフイド、ビス
(4−(3−アミノフェノキシ)フェニル)スルホン、
ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フェニル)スルホ
ン等の芳香族ジアミンを挙げることができる。
3,3′-diaminodiphenyl ketone,
3,4'-diaminodiphenyl ketone, 4,4'-diaminodiphenyl ketone, 2,2-bis (3-aminophenyl) propane, 2,2 '-(3,4'-diaminodiphenyl) propane, 2,2 -Bis (4-aminophenyl) propane, 2,2-bis (3-aminophenyl) hexafluoropropane, 2,2- (3,4'-diaminodiphenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis (4- Aminophenyl) hexafluoropropane, 1,
3-bis (3-aminophenoxy) benzene, 1,4-
Bis (3-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 3,3 '-(1,
4-phenylenebis (1-methylethylidene)) bisaniline, 3,4 '-(1,4-phenylenebis (1-methylethylidene)) bisaniline, 4,4'-(1,4
-Phenylenebis (1-methylethylidene)) bisaniline, 2,2-bis (4- (3-aminophenoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4- (4-aminophenoxy) phenyl) propane, 2, 2-bis (4-
(3-aminophenoxy) phenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis (4- (4-aminophenoxy)
Phenyl) hexafluoropropane, bis (4- (3-
Aminophenoxy) phenyl) sulfide, bis (4-
(4-aminophenoxy) phenyl) sulfide, bis (4- (3-aminophenoxy) phenyl) sulfone,
Aromatic diamines such as bis (4- (4-aminophenoxy) phenyl) sulfone can be given.

【0083】テトラカルボン酸二無水物(C’)とジア
ミン(C”)の縮合反応は、有機溶媒中で行うこともで
きる。この場合、テトラカルボン酸二無水物(C’)1
モル当量に対し、ジアミン(C”)が0.5〜2モル当
量用いることが好ましく、0.75〜1.5モル当量用
いることがより好ましく、0.8〜1.2モル当量用い
ることが極めて好ましい。テトラカルボン酸二無水物
(C’)1モル当量に対し、ジアミン(C”)が0.5
モル当量未満または2.0モル当量を超える場合、ポリ
イミド樹脂(C)の数平均分子量が低くなる傾向があ
る。テトラカルボン酸二無水物(C’)とジアミン
(C”)と有機溶媒の添加順序は任意である。用いる有
機溶媒としては、ジメチルアセトアミド、ジメチルホル
ムアミド、N−メチル−2−ピロリドン、ジメチルスル
ホキシド、ヘキサメチルホスホリルアミド、m−クレゾ
ール、o−クロルフェノール等がある。
The condensation reaction between tetracarboxylic dianhydride (C ′) and diamine (C ″) can be carried out in an organic solvent. In this case, tetracarboxylic dianhydride (C ′) 1
The diamine (C ″) is preferably used in an amount of 0.5 to 2 molar equivalents, more preferably 0.75 to 1.5 molar equivalents, and more preferably 0.8 to 1.2 molar equivalents. Diamine (C ″) is preferably 0.5 to 1 mole equivalent of tetracarboxylic dianhydride (C ′).
If the molar equivalent is less than or greater than 2.0, the number average molecular weight of the polyimide resin (C) tends to be low. The order of addition of the tetracarboxylic dianhydride (C ′), the diamine (C ″) and the organic solvent is arbitrary. Examples of the organic solvent used include dimethylacetamide, dimethylformamide, N-methyl-2-pyrrolidone, dimethylsulfoxide, Hexamethylphosphorylamide, m-cresol, o-chlorophenol and the like.

【0084】反応温度は80℃以下、好ましくは0〜5
0℃である。反応が進行するにつれ反応液の粘度が徐々
に上昇する。この場合、ポリイミドの前駆体であるポリ
アミド酸が生成する。
The reaction temperature is 80 ° C. or lower, preferably 0 to 5
0 ° C. As the reaction proceeds, the viscosity of the reaction solution gradually increases. In this case, polyamic acid, which is a precursor of polyimide, is generated.

【0085】ポリイミドは、上記反応物(ポリアミド
酸)を脱水閉環させて得ることができる。脱水閉環は1
20℃〜250℃で熱処理する方法や化学的方法を用い
て行うことができる。120℃〜250℃で熱処理する
方法の場合、脱水反応で生じる水を系外に除去しながら
行うことが好ましい。この際、ベンゼン、トルエン、キ
シレン等を用いて水を共沸除去してもよい。なお、本発
明においてポリイミド樹脂(C)とは、ポリイミド及び
その前駆体を総称する。ポリイミドの前駆体には、ポリ
アミド酸のほか、ポリアミド酸が部分的にイミド化した
ものがある。
The polyimide can be obtained by subjecting the above reaction product (polyamic acid) to dehydration and ring closure. Dehydration ring closure is 1
The heat treatment can be performed at 20 ° C. to 250 ° C. or a chemical method. In the case of a method of performing heat treatment at 120 ° C. to 250 ° C., the heat treatment is preferably performed while removing water generated in the dehydration reaction outside the system. At this time, water may be azeotropically removed using benzene, toluene, xylene, or the like. In the present invention, the polyimide resin (C) is a general term for polyimide and its precursor. Polyimide precursors include, in addition to polyamic acid, polyamic acid partially imidized.

【0086】化学的方法で脱水閉環させる場合は、閉環
剤として無水酢酸、無水プロピオン酸、無水安息香酸の
酸無水物、ジシクロヘキシルカルボジイミド等のカルボ
ジイミド化合物等を用いる。このとき必要に応じてピリ
ジン、イソキノリン、トリメチルアミン、アミノピリジ
ン、イミダゾール等の閉環触媒を用いてもよい。閉環剤
又は閉環触媒は、テトラカルボン酸二無水物(C’)1
モルに対し、それぞれ1〜8モルの範囲で使用するのが
好ましい。
In the case of ring closure by dehydration by a chemical method, acetic anhydride, propionic anhydride, acid anhydrides of benzoic anhydride, carbodiimide compounds such as dicyclohexylcarbodiimide and the like are used as a ring closing agent. At this time, if necessary, a ring-closing catalyst such as pyridine, isoquinoline, trimethylamine, aminopyridine, imidazole and the like may be used. The ring-closing agent or the ring-closing catalyst is tetracarboxylic dianhydride (C ′) 1
It is preferable to use 1 to 8 moles with respect to the moles.

【0087】ポリイミド樹脂(C)を用いる場合、その
使用量は、オキセタン化合物(A)100重量部に対し
て0.01〜10000重量部用いることが好ましく、
0.5〜5000重量部用いることがより好ましく、1
〜1000重量部用いることが最も好ましい。ポリイミ
ド樹脂(C)の使用量が0.01重量部未満では実質的
な添加効果が発現されない傾向があり、また10000
重量部以上ではフィルム形成性が低下する傾向がある。
When the polyimide resin (C) is used, it is preferably used in an amount of 0.01 to 10000 parts by weight based on 100 parts by weight of the oxetane compound (A).
More preferably, 0.5 to 5000 parts by weight is used.
Most preferably, it is used in an amount of up to 1000 parts by weight. If the amount of the polyimide resin (C) used is less than 0.01 part by weight, the substantial addition effect tends not to be exhibited, and
When the amount is more than the weight part, the film-forming property tends to decrease.

【0088】本発明で用いる導電性フィラー(D)は、
接着フィルムに導電性を付与する目的で添加するもので
あり、金粉、銀粉、銅粉、ステンレス粉等の導電性金属
粉体や、カーボンブラック等が挙げられる。これらは単
独に、又は2種以上混合して用いる。導電性フィラー
(D)の添加量は、オキセタン化合物(A)100重量
部に対し0〜8000重量部、好ましくは10〜400
0重量部である。8000重量部を超えると接着性が低
下する傾向がある。
The conductive filler (D) used in the present invention comprises:
It is added for the purpose of imparting conductivity to the adhesive film, and examples thereof include conductive metal powders such as gold powder, silver powder, copper powder, and stainless steel powder, and carbon black. These may be used alone or as a mixture of two or more. The conductive filler (D) is added in an amount of 0 to 8000 parts by weight, preferably 10 to 400 parts by weight, per 100 parts by weight of the oxetane compound (A).
0 parts by weight. If it exceeds 8000 parts by weight, the adhesiveness tends to decrease.

【0089】また、絶縁性フィラー(E)を添加するこ
ともできる。絶縁性フィラー(E)の具体例としては、
シリカ粉、アルミナ粉、チタニア、ガラス、酸化鉄、石
英粉、マグネシア、炭化ケイ素、窒化ホウ素等の粒子状
の無機充填剤(フィラー)、MBS(メチルメタクリレ
ート−ブタジエン−スチレン)樹脂、シリコーン樹脂、
フッ素樹脂等の有機微粒子等が挙げられる。絶縁性フィ
ラー(E)の添加量は、オキセタン化合物(A)100
重量部に対し0〜8000重量部、好ましくは10〜4
000重量部である。8000重量部を超えると接着性
が低下する傾向がある。さらに、導電性フィラー(D)
と絶縁性フィラー(E)を併用して用いる場合、その使
用量はオキセタン化合物(A)100重量部に対し、導
電性フィラー(D)と絶縁性フィラー(E)の合計で1
〜8000重量部、好ましくは10〜4000重量部で
ある。導電性フィラー(D)と絶縁性フィラー(E)の
合計が1重量部未満では、接着フィルムに導電性を付与
したい場合においても充分な導電性が得られなくなる傾
向があり、8000重量部を超えると接着性が低下する
傾向がある。
Further, an insulating filler (E) can be added. Specific examples of the insulating filler (E) include:
Silica powder, alumina powder, titania, glass, iron oxide, quartz powder, magnesia, silicon carbide, particulate inorganic filler (filler) such as boron nitride, MBS (methyl methacrylate-butadiene-styrene) resin, silicone resin,
Organic fine particles such as a fluororesin are exemplified. The amount of the insulating filler (E) to be added is as follows: the oxetane compound (A) 100
0 to 8000 parts by weight, preferably 10 to 4 parts by weight per part by weight
000 parts by weight. If it exceeds 8000 parts by weight, the adhesiveness tends to decrease. Furthermore, conductive filler (D)
When used together with the insulating filler (E), the total amount of the conductive filler (D) and the insulating filler (E) is 1 with respect to 100 parts by weight of the oxetane compound (A).
The amount is from 8,000 to 8,000 parts by weight, preferably from 10 to 4,000 parts by weight. If the total of the conductive filler (D) and the insulating filler (E) is less than 1 part by weight, sufficient conductivity tends not to be obtained even when it is desired to impart conductivity to the adhesive film, and exceeds 8000 parts by weight. And the adhesiveness tends to decrease.

【0090】本発明で用いる溶媒(F)は接着フィルム
を製造するに当たり、各成分を混合、分散させることが
できるものを好適に選択できる。溶媒(F)の具体例と
してはジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、
N−メチルピロリドン、ジメチルスルホキシド、ジエチ
レングリコールジメチルエーテル、トルエン、ベンゼ
ン、キシレン、メチルエチルケトン、テトラヒドロフラ
ン、エチルセロソルブ、エチルセロソルブアセテート、
ブチルセロソルブ、ジオキサン等が挙げられる。溶媒
(F)は単独でまたは2種類以上を混合して用いること
ができる。溶媒(F)の沸点は50℃〜300℃が好ま
しく、70〜250℃がより好ましい。溶媒(F)の沸
点が50℃未満では後記する接着フィルムの製造時に溶
媒が飛散しやすく、接着フィルム表面のみが乾燥する、
いわゆる革張りが発生しやすくなる傾向があり、また3
00℃を超える場合にはフィルム作製時に溶媒が飛散し
にくくなる傾向がある。
The solvent (F) used in the present invention can be suitably selected from those capable of mixing and dispersing each component in producing an adhesive film. Specific examples of the solvent (F) include dimethylformamide, dimethylacetamide,
N-methylpyrrolidone, dimethyl sulfoxide, diethylene glycol dimethyl ether, toluene, benzene, xylene, methyl ethyl ketone, tetrahydrofuran, ethyl cellosolve, ethyl cellosolve acetate,
Butyl cellosolve, dioxane and the like. The solvent (F) can be used alone or in combination of two or more. The boiling point of the solvent (F) is preferably from 50C to 300C, more preferably from 70C to 250C. When the boiling point of the solvent (F) is less than 50 ° C., the solvent is liable to be scattered during the production of the adhesive film described later, and only the surface of the adhesive film is dried.
So-called leather upholstery tends to occur.
If the temperature is higher than 00 ° C., the solvent tends to be less likely to be scattered during the production of the film.

【0091】本発明の接着フィルムの製造方法は、まず
各成分を混合しペースト状混合物を作製し、これを例え
ばポリエステル製フィルム等のベースフィルム上に均一
に塗布し、溶媒(F)を用いた場合には、使用した溶媒
が充分に揮散する条件、すなわち、おおむね60〜20
0℃の温度で、0.1〜30分間加熱して行われる。接
着フィルムは、通常、使用時にベースフィルムを除去し
て接着に用いる。本発明の接着フィルムの製造における
ペースト状混合物の作製方法は特に制限はなく、たとえ
ば、オキセタン化合物(A)と硬化剤(B)、必要に応
じて溶媒(F)、添加剤を加え、通常の攪拌機、らいか
い機、三本ロール、ボールミルなどの分散機を適宜組み
合せて混練する方法、ポリイミド樹脂(C)を溶媒
(F)に溶解し、次いで必要に応じて、導電性フィラー
(D)及び/または絶縁性フィラー(E)、添加剤を加
え、通常の攪拌機、らいかい機、三本ロール、ボールミ
ルなどの分散機を適宜組み合せて混練し、さらにオキセ
タン化合物(A)と硬化剤(B)を加えて混合する方
法、ポリイミド樹脂(C)をオキセタン化合物(A)に
溶解し、次いで必要に応じて、導電性フィラー(D)及
び/または絶縁性フィラー(E)、添加剤を加え、通常
の攪拌機、らいかい機、三本ロール、ボールミルなどの
分散機を適宜組み合せて混練し、さらに硬化剤(B)を
加えて混合する方法、ポリイミド樹脂(C)、オキセタ
ン化合物(A)、必要に応じて導電性フィラー(D)及
び/または絶縁性フィラー(E)、溶媒(F)を混練
し、さらに硬化剤(B)を加えて混合する方法、ポリイ
ミド樹脂(C)、オキセタン化合物(A)、硬化剤
(B)に必要に応じて、導電性フィラー(D)及び/ま
たは絶縁性フィラー(E)、溶媒(F)を混練する方法
等が挙げられる。本発明の接着フィルムの製造における
ペースト状混合物の作製方法において、オキセタン化合
物(A)に、室温で液状のオキセタン化合物を用いる
と、溶媒(F)を用いなくともペースト状混合物を作製
することができ、このようにして得られたペースト状混
合物も同様に接着フィルムの製造に用いることができ
る。
In the method for producing an adhesive film of the present invention, first, each component is mixed to prepare a paste-like mixture, which is uniformly applied on a base film such as a polyester film, and a solvent (F) is used. In such cases, the conditions under which the solvent used is sufficiently volatilized, that is, approximately 60 to 20
Heating is performed at a temperature of 0 ° C. for 0.1 to 30 minutes. The adhesive film is usually used for bonding after removing the base film at the time of use. The method for producing the paste-like mixture in the production of the adhesive film of the present invention is not particularly limited. For example, an oxetane compound (A) and a curing agent (B), and if necessary, a solvent (F) and additives are added. A method in which a dispersing machine such as a stirrer, a mill, a three-roll mill, and a ball mill is appropriately combined and kneaded. The polyimide resin (C) is dissolved in the solvent (F), and then, as necessary, the conductive filler (D) and And / or adding an insulating filler (E) and an additive, kneading the mixture by appropriately combining an ordinary stirrer, a mill, a three-roller, a disperser such as a ball mill, and further mixing the oxetane compound (A) and the curing agent (B). Is added and mixed, the polyimide resin (C) is dissolved in the oxetane compound (A), and then, if necessary, the conductive filler (D) and / or the insulating filler (E), an additive In addition, kneading by appropriately combining and mixing ordinary dispersers such as a stirrer, a mill, a three-roll mill, and a ball mill, further adding a curing agent (B) and mixing, a polyimide resin (C), an oxetane compound (A) A method in which a conductive filler (D) and / or an insulating filler (E) and a solvent (F) are kneaded, if necessary, and a curing agent (B) is added and mixed, a polyimide resin (C), an oxetane compound A method of kneading the conductive filler (D) and / or the insulating filler (E) and the solvent (F) with the curing agent (A) and the curing agent (B), if necessary, may be used. In the method for producing a paste-like mixture in the production of the adhesive film of the present invention, when an oxetane compound that is liquid at room temperature is used as the oxetane compound (A), the paste-like mixture can be produced without using the solvent (F). The paste mixture thus obtained can also be used for the production of an adhesive film.

【0092】本発明で得られた接着フィルムは、IC、
LSI等の半導体素子のリードフレーム、セラミックス
配線板、ガラスエポキシ配線板、ガラスポリイミド配線
板等の支持部材の接着に用いられる。
The adhesive film obtained by the present invention can be used for IC,
It is used for bonding support members such as lead frames of semiconductor devices such as LSIs, ceramic wiring boards, glass epoxy wiring boards, and glass polyimide wiring boards.

【0093】本発明の接着フィルムは、例えば、ICや
LSI等の半導体素子とリードフレームとを接着する場
合、次の様な方法で接着することができる。第一に、接
着フィルムをテープリボン状に形成し、これを半導体素
子の大きさに合わせて切断し、リードフレーム等の支持
部材と半導体素子の間に挟み込んで、加熱接着させる方
法がある。この方法で接着する場合には、例えば半田リ
ボン用のダイボンディング装置等を応用した装置で接着
させることができる。
The adhesive film of the present invention can be adhered to a semiconductor element such as an IC or LSI and a lead frame by the following method. First, there is a method in which an adhesive film is formed in a tape ribbon shape, cut in accordance with the size of a semiconductor element, and sandwiched between a support member such as a lead frame and the semiconductor element, followed by heat bonding. In the case of bonding by this method, the bonding can be performed by an apparatus to which a die bonding apparatus for a solder ribbon or the like is applied, for example.

【0094】第二に、接着フィルムをまずリードフレー
ム等の支持部材に形成しておき、次に半導体素子を加熱
接着させる方法がある。リードフレームに接着フィルム
を形成するには、接着フィルムを半導体素子の大きさに
合わせて切断し、加熱して貼り付ける方法あるいは溶媒
を塗布して貼り付ける方法等がある。また、接着フィル
ムのワニスをリードフレーム上に印刷塗布する方法で形
成させることもできる。リードフレームに接着フィルム
を形成した後、半導体素子を接着するには、例えば、従
来、銀ペーストで用いられていたダイボンディング装置
等を応用した装置で接着させることができる。
Second, there is a method in which an adhesive film is first formed on a support member such as a lead frame, and then the semiconductor element is heated and bonded. In order to form an adhesive film on a lead frame, there is a method in which the adhesive film is cut in accordance with the size of a semiconductor element, and is bonded by heating or a method in which a solvent is applied and bonded. Further, it can also be formed by a method of printing and applying a varnish of an adhesive film on a lead frame. After the adhesive film is formed on the lead frame, the semiconductor element can be bonded by, for example, a device using a die bonding device or the like that has been conventionally used with a silver paste.

【0095】第三に、接着フィルムをウェハ裏面に形成
しておき、次にダイシング工程でウェハ及び接着フィル
ムを切断し、リードフレームに接着する方法がある。ウ
ェハ裏面に接着フィルムを形成するには、接着フィルム
を加熱して貼り付ける方法あるいは溶媒を塗布して貼り
付ける方法等がある。また、接着フィルムのワニスをウ
ェハ裏面に印刷塗布あるいはスピンコートする方法で形
成させることもできる。ウェハ裏面に接着フィルムを形
成した後、半導体素子を接着するには、例えば、従来、
銀ペーストで用いられていたダイボンディング装置等を
応用した装置で接着させることができる。上記接着を行
う際の接着温度は、60〜350℃が好ましく、60〜
300℃がより好ましく、60〜250℃が最も好まし
い。この温度が60℃未満では、接着にかかる時間が長
くなり、生産性が低下する傾向があり、350℃以上で
は長期接着信頼性が低下する傾向がある。また、この際
の接着時間は特に制限はないが、おおむね0.1秒〜3
0分である。上記接着を行なう際の圧着の圧力は接着す
る被着体の種類によって調節することができるが、おお
むね0.1KPa〜10MPaである。
Third, there is a method in which an adhesive film is formed on the back surface of the wafer, and then the wafer and the adhesive film are cut in a dicing step and adhered to a lead frame. In order to form an adhesive film on the back surface of the wafer, there are a method of applying the adhesive film by heating, and a method of applying a solvent and attaching the adhesive film. Alternatively, the varnish of the adhesive film may be formed by printing or spin coating on the back surface of the wafer. After forming an adhesive film on the backside of the wafer, to bond the semiconductor elements, for example,
Bonding can be carried out by using a device such as a die bonding device used for silver paste. The bonding temperature at the time of performing the bonding is preferably from 60 to 350 ° C, and from 60 to 350 ° C.
300 ° C is more preferable, and 60 to 250 ° C is most preferable. If the temperature is lower than 60 ° C., the time required for bonding tends to be long, and productivity tends to decrease. If the temperature is 350 ° C. or higher, long-term bonding reliability tends to decrease. The bonding time at this time is not particularly limited, but is approximately 0.1 second to 3 seconds.
0 minutes. The pressure of the pressure bonding at the time of performing the bonding can be adjusted depending on the type of the adherend to be bonded, but is generally about 0.1 KPa to 10 MPa.

【0096】上記の方法の他に、ダイシング工程で用い
られる粘着性のダイシングフィルムの上に、接着フィル
ムを形成させておき、これにウェハを貼り付けた後、ダ
イシング工程で半導体素子と接着フィルムを切断し、リ
ードフレームに貼り付ける方法等があるが、本発明の接
着フィルムは、上記に例示したいずれの方法に限定され
るものではない。また、上記の接着を行なう際に、加熱
圧着する前、加熱圧着と同時、加熱圧着の後にカーボン
アーク、水銀蒸気アーク、キセノンアーク、写真用フラ
ッド電球、太陽ランプ、その他の光源から発生する活性
光線を接着フィルムに照射することもできる。加熱圧着
と同時、加熱圧着の後に、活性光線を接着フィルムに照
射する場合、被着体が活性光線を透過する場合にはどの
ような方向から光照射しても良く、被着体が活性光線を
透過しない場合には被着体同士の隙間から接着フィルム
に活性光線を照射することができる。活性光線を接着フ
ィルムに照射すると、圧着時の加熱温度を下げたり、圧
着時間をさらに短縮することができることから好まし
い。
In addition to the above method, an adhesive film is formed on an adhesive dicing film used in the dicing step, and a wafer is attached to the adhesive film. Then, the semiconductor element and the adhesive film are bonded in the dicing step. There is a method of cutting and attaching to a lead frame, but the adhesive film of the present invention is not limited to any of the methods exemplified above. In addition, when performing the above-mentioned bonding, before the thermocompression bonding, simultaneously with the thermocompression bonding, and after the thermocompression bonding, a carbon arc, a mercury vapor arc, a xenon arc, a photo flood bulb, a solar lamp, and an actinic ray generated from other light sources. To the adhesive film. When irradiating the adhesive film with actinic rays simultaneously with and after the thermocompression bonding, the adhesive film may be irradiated with light from any direction if the adherend transmits the actinic rays. When light does not pass through, the adhesive film can be irradiated with actinic rays from the gap between the adherends. Irradiating the adhesive film with actinic rays is preferable because the heating temperature at the time of pressing can be reduced and the pressing time can be further reduced.

【0097】[0097]

【実施例】以下、本発明を実施例により具体的に説明す
る。 (合成例1)温度計、攪拌機及び塩化カルシウム管を備
えた500mlの四つ口フラスコに、2,2−ビス(4
−アミノフェノキシフェニル)プロパン41g(0.1
モル)及びジメチルアセトアミド150gをとり、攪拌
した。ジアミンの溶解後、フラスコを氷浴中で冷却しな
がら、1,2−(エチレン)ビス(トリメリテート二無
水物)41g(0.1モル)を少量ずつ添加した。室温
で3時間反応させたのち、キシレン30gを加え、N2
ガスを吹き込みながら150℃で加熱し、水と共にキシ
レンを共沸除去した。その反応液を水中に注ぎ、沈澱し
たポリマーを濾過により採り、乾燥して数平均分子量4
0,000のポリイミド樹脂(C−1)を得た。
The present invention will be described below in more detail with reference to examples. (Synthesis Example 1) In a 500 ml four-necked flask equipped with a thermometer, a stirrer, and a calcium chloride tube, 2,2-bis (4
-Aminophenoxyphenyl) propane 41 g (0.1
Mol) and 150 g of dimethylacetamide and stirred. After dissolution of the diamine, 41 g (0.1 mol) of 1,2- (ethylene) bis (trimellitate dianhydride) was added little by little while the flask was cooled in an ice bath. After reacting at room temperature for 3 hours, 30 g of xylene was added, and N 2 was added.
The mixture was heated at 150 ° C. while blowing gas to azeotropically remove xylene with water. The reaction solution was poured into water, and the precipitated polymer was collected by filtration, dried and dried to obtain a number-average molecular weight of 4
0000 polyimide resin (C-1) was obtained.

【0098】(合成例2)温度計、攪拌機及び塩化カル
シウム管を備えた500mlの四つ口フラスコに、ビス
(4−(3−アミノフェノキシ)フェニル)スルホン
43.2g(0.1モル)及びN−メチル−2−ピロリ
ドン 150gをとり攪拌した。ジアミンの溶解後、室
温で、1,4−(テトラメチレン)ビス(トリメリテー
ト二無水物)43.8g(0.1モル)を加えた。5℃
以下で5時間反応させ、無水酢酸20.4g(0.2モ
ル)及びピリジン15.8g(0.2モル)を加え、1
時間室温で攪拌した。この反応液を水中に注ぎ、沈澱し
たポリマーを濾過により採り、乾燥して数平均分子量5
0,000のポリイミド樹脂(C−2)を得た。
(Synthesis Example 2) Bis (4- (3-aminophenoxy) phenyl) sulfone was placed in a 500 ml four-necked flask equipped with a thermometer, a stirrer, and a calcium chloride tube.
43.2 g (0.1 mol) and 150 g of N-methyl-2-pyrrolidone were taken and stirred. After dissolution of the diamine, 43.8 g (0.1 mol) of 1,4- (tetramethylene) bis (trimellitate dianhydride) was added at room temperature. 5 ℃
The mixture was reacted for 5 hours as follows, and 20.4 g (0.2 mol) of acetic anhydride and 15.8 g (0.2 mol) of pyridine were added.
Stirred at room temperature for hours. The reaction solution was poured into water, and the precipitated polymer was collected by filtration, dried and dried to obtain a number average molecular weight of 5
000 polyimide resin (C-2) was obtained.

【0099】(合成例3)温度計、攪拌機、塩化カルシ
ウム管を備えた500mlの四つ口フラスコに、2,2
−ビス(4−アミノフェノキシフェニル)プロパン 3
2.8g(0.08モル)、3,3′,5,5′−テト
ラメチル−4,4′−ジアミノジフェニルメタン 5.
08g(0.02モル)及びジメチルアセトアミド10
0gをとり、攪拌した。ジアミンの溶解後、フラスコを
氷浴中で冷却しながら、1,10−(デカメチレン)ビ
ス(トリメリテート二無水物)41.8g(0.08モ
ル)及びベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物6.
44g(0.02モル)を少量ずつ添加した。添加終了
後、氷浴中で3時間、更に室温で4時間反応させた後、
無水酢酸25.5g(0.25モル)及びピリジン1
9.8g(0.25モル)を添加し、2時間室温で攪拌
した。その反応液を水中に注ぎ、沈澱したポリマーを濾
過により採り、乾燥して数平均分子量60,000のポ
リイミド樹脂(C−3)を得た。
(Synthesis Example 3) In a 500 ml four-necked flask equipped with a thermometer, a stirrer, and a calcium chloride tube, 2,2
-Bis (4-aminophenoxyphenyl) propane 3
2.8 g (0.08 mol), 3,3 ', 5,5'-tetramethyl-4,4'-diaminodiphenylmethane
08 g (0.02 mol) and dimethylacetamide 10
0 g was taken and stirred. After dissolution of the diamine, 41.8 g (0.08 mol) of 1,10- (decamethylene) bis (trimellitate dianhydride) and benzophenonetetracarboxylic dianhydride were cooled while cooling the flask in an ice bath.
44 g (0.02 mol) were added in small portions. After completion of the addition, the mixture was reacted in an ice bath for 3 hours and further at room temperature for 4 hours.
Acetic anhydride 25.5 g (0.25 mol) and pyridine 1
9.8 g (0.25 mol) was added and stirred for 2 hours at room temperature. The reaction solution was poured into water, and the precipitated polymer was collected by filtration and dried to obtain a polyimide resin (C-3) having a number average molecular weight of 60,000.

【0100】(実施例1〜8、比較例1)表1に示す配
合表に従い、ポリイミド樹脂(C)を溶媒(F)に溶解
し、次いで、導電性フィラー(D)及び/または絶縁性
フィラー(E)を加え、らいかい機で10分間混練し、
さらにオキセタン化合物(A)と硬化剤(B)を加えて
3枚羽攪拌装置で10分間混合してペースト状混合物を
調合した。
(Examples 1 to 8, Comparative Example 1) According to the composition table shown in Table 1, the polyimide resin (C) was dissolved in the solvent (F), and then the conductive filler (D) and / or the insulating filler Add (E), knead for 10 minutes with a mill,
Further, the oxetane compound (A) and the curing agent (B) were added and mixed with a three-blade stirring device for 10 minutes to prepare a paste-like mixture.

【0101】[0101]

【表1】 [Table 1]

【0102】なお、表1において種々の記号は下記の意
味である(配合量は、重量部)。 XDO:東亜合成株式会社、1,4−ビス〔(3−エチ
ル−3−オキセタニルメトキシ)メチル〕ベンゼン B1:1,2−ビス(3−エチル−3−オキセタニルメ
トキシ)−4−tertブチルベンゼン B2:1,3−ビス(3−エチル−3−オキセタニルメ
トキシ)ベンゼン SI100L:三新化学工業株式会社、サンエイドSI
−100L、カチオン性潜在性硬化剤 SI150:三新化学工業株式会社、サンエイドSI−
150、カチオン性潜在性硬化剤 SP−170:旭電化工業株式会社、アデカオプトンS
P−170、カチオン性潜在性硬化剤 H−1:明和化成株式会社、フェノールノボラック(O
H当量106) TCG−1:徳力化学株式会社、銀粉 DMAc:ジメチルアセトアミド NMP:N−メチルピロリドン DMF:ジメチルホルムアミド 2MIZ:2−メチルイミダゾール ESCN−195:日本化薬株式会社、クレゾールノボ
ラック型エポキシ(エポキシ当量200)
In Table 1, various symbols have the following meanings (blending amounts are parts by weight). XDO: Toa Gosei Co., Ltd., 1,4-bis [(3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] benzene B1: 1,2-bis (3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) -4-tertbutylbenzene B2 : 1,3-bis (3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) benzene SI100L: Sanshin Chemical Industry Co., Ltd., Sun Aid SI
-100L, cationic latent curing agent SI150: Sanshin Chemical Industry Co., Ltd., Sun-Aid SI-
150, cationic latent curing agent SP-170: Adeka Opton S, Asahi Denka Kogyo Co., Ltd.
P-170, cationic latent curing agent H-1: Meiwa Kasei Co., Ltd., phenol novolak (O
HCG 106) TCG-1: Tokuriki Chemical Co., Ltd., silver powder DMAc: dimethylacetamide NMP: N-methylpyrrolidone DMF: dimethylformamide 2MIZ: 2-methylimidazole ESCN-195: Nippon Kayaku Co., Ltd., cresol novolac epoxy (epoxy) Equivalent 200)

【0103】このペースト状混合物を30〜50μmの
厚さにポリエステルフィルム上に塗布し、80℃で10
分、つづいて150℃で30分加熱し接着フィルムを得
た。
This paste-like mixture was applied on a polyester film to a thickness of 30 to 50 μm,
And then heated at 150 ° C. for 30 minutes to obtain an adhesive film.

【0104】(剪断接着力試験)実施例1〜8、比較例
1の各組成で得られた接着フィルムについて、剪断接着
力試験を行った。なお、試験方法は、接着フィルムを4
×4mmの大きさに切断し、これを4×4mmのシリコ
ンチップと銀メッキ付リードフレームの間に挟み、9.
806N(1000g)の荷重をかけて、120℃、5
秒間圧着させて、接着体を作製した。実施例8の組成で
得られた接着フィルムは、4×4mmの大きさに切断
し、これを銀メッキ付リードフレームにはりつけ、50
0W超高圧水銀灯を用いて、100mJ/cm2で活性光線を
照射した。その後、4×4mmのシリコンチップを乗せ
て、9.806N(1000g)の荷重をかけて、11
0℃、3秒間圧着させて、接着体を作製した。剪断接着
力試験は、得られた被着体を用い、室温(25℃)で5
0N/chipの荷重をかけた場合、また、350℃で10
N/chipの荷重をかけ、チップの剥離状態を観察し行な
った。結果を表2に示した。
(Shear Adhesion Test) With respect to the adhesive films obtained from the compositions of Examples 1 to 8 and Comparative Example 1, a shear adhesion test was carried out. In addition, the test method is as follows.
8. Cut to a size of 4 mm, sandwich this between a 4 mm 4 mm silicon chip and a silver-plated lead frame;
A load of 806N (1000 g) was applied at 120 ° C, 5
It was pressed for 2 seconds to produce an adhesive. The adhesive film obtained with the composition of Example 8 was cut into a size of 4 × 4 mm, and this was attached to a lead frame with silver plating.
Active light was irradiated at 100 mJ / cm 2 using a 0 W ultra-high pressure mercury lamp. Thereafter, a silicon chip of 4 × 4 mm was put thereon, a load of 9.806 N (1000 g) was applied, and
It was pressed at 0 ° C. for 3 seconds to produce an adhesive. The shear adhesion test was carried out at room temperature (25 ° C.) using the obtained adherend.
When a load of 0N / chip is applied,
A load of N / chip was applied, and the peeled state of the chip was observed. The results are shown in Table 2.

【0105】[0105]

【表2】 室温:室温にて50N/ chipの荷重をかけてチップが剥
離しない=○ 室温にて50N/ chipの荷重をかけてチップが剥離する
=× 350℃:350℃にて10N/ chipの荷重をかけてチ
ップが剥離しない=○ 350℃にて10N/ chipの荷重をかけてチップが剥離
する=×
[Table 2] Room temperature: chip does not peel off at 50 N / chip load at room temperature = ○ Chip peels off at 50 N / chip load at room temperature = × 350 ° C .: Apply 10 N / chip load at 350 ° C. Chip does not peel off = ○ Chip peels off at 350 ° C with a load of 10 N / chip = ×

【0106】本発明の構成成分であるオキセタン化合物
(A)、硬化剤(B)を含む実施例1〜8の接着フィル
ムは、従来の接着フィルムよりも低温短時間での接着が
可能であり、剪断接着力試験の結果も良好であった。こ
れに対して本発明の必須成分であるオキセタン化合物
(A)を用いなかった比較例1の接着フィルムは、剪断
接着力試験の結果、剥離してしまった。
The adhesive films of Examples 1 to 8 containing the oxetane compound (A) and the curing agent (B), which are the components of the present invention, can be bonded at a lower temperature and in a shorter time than conventional adhesive films. The results of the shear adhesion test were also good. On the other hand, the adhesive film of Comparative Example 1, which did not use the oxetane compound (A), which is an essential component of the present invention, peeled off as a result of the shear adhesion test.

【0107】[0107]

【発明の効果】請求項1記載の発明は、低温接着性に優
れ、42アロイリードフレームや、銅リードフレームに
も好適に使用でき、更に絶縁性支持基板にも好適に使用
できる接着フィルムを提供するものである。請求項2、
3記載の発明は、請求項1記載の発明の効果に加えてせ
ん断接着力に優れる接着フィルムを提供するものであ
る。請求項4、5記載の発明は、請求項1〜3記載の発
明の効果に加えて熱膨張係数の異なる基材同士の接着に
優れる接着フィルムを提供するものである。請求項6、
7記載の発明は、請求項1〜5記載の発明の効果に加え
て保存安定性に優れる接着フィルムを提供するものであ
る。請求項8,9記載の発明は、請求項1〜5記載の発
明の効果に加えて高い接着信頼性を付与できる接着フィ
ルムを提供するものである。請求項10記載の発明は、
請求項1〜9に記載の接着フィルムの製造方法を提供す
るものである。請求項11記載の発明は、請求項1〜9
記載の接着フィルムを用いた、半導体素子と支持部材の
接着方法を提供するものである。請求項12記載の発明
は、活性光線を接着フィルムに照射することを特徴とす
る半導体素子と支持部材との接着法を提供するものであ
る。
According to the first aspect of the present invention, there is provided an adhesive film which is excellent in low-temperature adhesiveness, can be suitably used for 42 alloy lead frames and copper lead frames, and can also be suitably used for an insulating support substrate. Is what you do. Claim 2,
The third aspect of the present invention provides an adhesive film having excellent shear adhesive strength in addition to the effects of the first aspect of the present invention. The inventions according to claims 4 and 5 provide an adhesive film excellent in adhesion between substrates having different thermal expansion coefficients in addition to the effects of the inventions according to claims 1 to 3. Claim 6,
The invention described in 7 provides an adhesive film having excellent storage stability in addition to the effects of the inventions described in claims 1 to 5. The inventions according to claims 8 and 9 provide an adhesive film that can provide high adhesion reliability in addition to the effects of the inventions according to claims 1 to 5. The invention according to claim 10 is
It is intended to provide a method for producing an adhesive film according to claims 1 to 9. The invention according to claim 11 is the invention according to claims 1 to 9
It is intended to provide a method for bonding a semiconductor element and a support member using the above-described adhesive film. According to a twelfth aspect of the present invention, there is provided a method for bonding a semiconductor element and a support member, wherein the adhesive film is irradiated with actinic rays.

フロントページの続き Fターム(参考) 4J004 AA07 AA11 AA12 AB04 CA06 CC02 FA05 4J040 DB052 EB062 EE031 EH032 EK032 GA05 GA07 GA14 GA22 GA28 HA026 HA066 HA116 HA206 HA306 HA326 HA346 HB10 HB22 HB26 HC01 HC12 HC14 HC15 HC22 HD03 HD18 HD22 HD24 HD39 HD43 JA05 JB02 KA14 KA16 KA32 KA42 LA06 LA09 MA03 MA10 NA19 NA20 PA23 PA30 5G301 DA03 DA18 DA33 DA42 DA51 DD03 DD08 Continued on the front page F-term (reference) 4J004 AA07 AA11 AA12 AB04 CA06 CC02 FA05 4J040 DB052 EB062 EE031 EH032 EK032 GA05 GA07 GA14 GA22 GA28 HA026 HA066 HA116 HA206 HA306 HA326 HA346 HB10 HB22 HB26 HC01 HD12 HD12 HD03 HD24 JB02 KA14 KA16 KA32 KA42 LA06 LA09 MA03 MA10 NA19 NA20 PA23 PA30 5G301 DA03 DA18 DA33 DA42 DA51 DD03 DD08

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 オキセタン化合物(A)、硬化剤(B)
を含む接着フィルム。
1. An oxetane compound (A) and a curing agent (B)
Adhesive film containing.
【請求項2】 さらにポリイミド樹脂(C)を含む請求
項1に記載の接着フィルム。
2. The adhesive film according to claim 1, further comprising a polyimide resin (C).
【請求項3】 ポリイミド樹脂(C)が一般式(1)で
表されるテトラカルボン酸二無水物の含量が全テトラカ
ルボン酸二無水物(C’)の70モル%以上であるテト
ラカルボン酸二無水物と、ジアミン(C”)を反応させ
て得られるポリイミド樹脂(C)である請求項2に記載
の接着フィルム。 【化1】 (ただし、n=2〜20の整数を示す。)
3. A tetracarboxylic acid in which the content of the tetracarboxylic dianhydride represented by the general formula (1) is 70 mol% or more of the total tetracarboxylic dianhydride (C ′) in the polyimide resin (C). The adhesive film according to claim 2, which is a polyimide resin (C) obtained by reacting a dianhydride with a diamine (C "). (However, n is an integer of 2 to 20.)
【請求項4】 さらに導電性フィラー(D)及び/また
は絶縁性フィラー(E)を含む請求項1ないし請求項3
のいずれかに記載の接着フィルム。
4. The method according to claim 1, further comprising a conductive filler (D) and / or an insulating filler (E).
The adhesive film according to any one of the above.
【請求項5】 オキセタン化合物(A)100重量部に
対し、導電性フィラー(D)0〜8000重量部及び/
または絶縁性フィラー(E)0〜8000重量部の割合
で含む請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の接着
フィルム。
5. A conductive filler (D) in an amount of 0 to 8000 parts by weight and / or 100 parts by weight of the oxetane compound (A).
The adhesive film according to any one of claims 1 to 4, further comprising 0 to 8000 parts by weight of the insulating filler (E).
【請求項6】 硬化剤(B)が、オキセタン化合物
(A)を開環重合させる硬化剤(B’)であり、カチオ
ン重合性触媒、アニオン重合性触媒、潜在性カチオン重
合開始剤、潜在性アニオン重合性触媒から選ばれる1以
上である請求項1ないし請求項5のいずれかに記載の接
着フィルム。
6. The curing agent (B) is a curing agent (B ′) for ring-opening polymerization of the oxetane compound (A), and comprises a cationically polymerizable catalyst, an anionic polymerizable catalyst, a latent cationic polymerization initiator, The adhesive film according to any one of claims 1 to 5, wherein the adhesive film is at least one selected from an anionic polymerizable catalyst.
【請求項7】 硬化剤(B’)が潜在性カチオン重合開
始剤(B1)である請求項6に記載の接着フィルム。
7. The adhesive film according to claim 6, wherein the curing agent (B ′) is a latent cationic polymerization initiator (B1).
【請求項8】 硬化剤(B)が、オキセタン化合物
(A)と付加反応する硬化剤(B”)であり、2官能以
上のカルボン酸、2官能以上のポリチオール、2官能以
上のカルボン酸無水物、2官能以上のフェノール化合物
から選ばれる1つ以上である請求項1ないし請求項5の
いずれかに記載の接着フィルム。
8. The curing agent (B) is a curing agent (B ″) that undergoes an addition reaction with the oxetane compound (A), and is a bifunctional or more carboxylic acid, a difunctional or more polythiol, or a difunctional or more carboxylic anhydride. The adhesive film according to any one of claims 1 to 5, wherein the adhesive film is at least one selected from a product and a bifunctional or higher phenol compound.
【請求項9】 硬化剤(B”)が、フェノール化合物
(B2)である請求項8に記載の接着フィルム。
9. The adhesive film according to claim 8, wherein the curing agent (B ″) is a phenol compound (B2).
【請求項10】 請求項1ないし請求項9のいずれかに
記載のポリイミド樹脂(C)、導電性フィラー(D)及
び/または絶縁性フィラー(E)、溶媒(F)から選ば
れる1以上とオキセタン化合物(A)及び硬化剤(B)
を含む各成分を混合しペースト状またはワニス状の混合
物を作製し、これをベースフィルム上に塗布し、加熱・
乾燥して接着フィルムを形成する接着フィルムの製造方
法。
10. A polyimide resin (C), a conductive filler (D) and / or an insulating filler (E) according to any one of claims 1 to 9, and at least one selected from solvents (F). Oxetane compound (A) and curing agent (B)
Are mixed to form a paste or varnish-like mixture, which is applied on a base film,
A method for producing an adhesive film, which is dried to form an adhesive film.
【請求項11】 半導体素子と支持部材の間に請求項1
ないし請求項9のいずれかに記載の接着フィルムを挟
み、加熱圧着することを特徴とする半導体素子と支持部
材との接着方法。
11. The semiconductor device according to claim 1, wherein the semiconductor device and the supporting member are provided between the semiconductor device and the supporting member.
A method for bonding a semiconductor element and a support member, wherein the bonding method is performed by sandwiching the adhesive film according to any one of claims 9 to 9 and applying heat and pressure.
【請求項12】 活性光線を接着フィルムに照射するこ
とを特徴とする請求項11に記載の半導体素子と支持部
材との接着方法。
12. The method according to claim 11, wherein an actinic ray is irradiated to the adhesive film.
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