JP2001298114A - Bgaパッケージ及びbgaパッケージと基板との実装構造 - Google Patents

Bgaパッケージ及びbgaパッケージと基板との実装構造

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JP2001298114A
JP2001298114A JP2000112028A JP2000112028A JP2001298114A JP 2001298114 A JP2001298114 A JP 2001298114A JP 2000112028 A JP2000112028 A JP 2000112028A JP 2000112028 A JP2000112028 A JP 2000112028A JP 2001298114 A JP2001298114 A JP 2001298114A
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bga package
substrate
package
solder balls
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Tomohisa Kawamichi
智久 川路
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Oki Electric Industry Co Ltd
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
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    • HELECTRICITY
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    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item

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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 BGAパッケージを基板から取りはずしてし
まうと、再装着するのが困難であった。 【解決手段】 BGAパッケージの半導体素子1の外部
端子を、円柱ピン7と、その周りに被せた半田ボール8
とで形成したものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はLSI等のBGA
(Ball Grid Array)パッケージ及びBGAパッケージ
と基板との実装構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のBGAパッケージは、半導体素子
を収容したLSIパッケージの底面に、外部端子として
の半田ボールをマトリクス状に設けている。
【0003】そのため、基板に実装した際は、半田ボー
ルが溶解し、LSIパッケージと基板のすき間に半田が
平らに広がり、パッケージと基板が密着状態で装着され
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、必要に
よって、基板からLSIパッケージを取りはずした際
は、半田ボールはパッケージからすでに無くなってお
り、再度パッケージを装着しようとしても、わずかな半
田跡だけのため、取り付けが困難で、場合によっては装
着不可になってしまうことがある。
【0005】即ち、一度LSIパッケージを基板からは
ずしてしまうと、LSIパッケージの外部端子の機能が
無くなってしまい、再装着するのが困難であった。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は、第1の手段としてBGAパッケージにお
ける半導体素子の外部端子を、柱状ピンと、柱状ピンの
周りに被せた半田ボールとで形成したものである。
【0007】第2の手段として、BGAパッケージの半
田ボールが溶着する基板の対応部分に穴を設けたもので
ある。
【0008】
【発明の実施の形態】図1は本発明の第1の実施形態を
示す断面図である。
【0009】半導体素子1は金属板2と回路基板3で形
成されたキャビティ内に収容され、リード4又は金属細
線により回路基板3の配線に接続され、樹脂5で封止さ
れている。
【0010】回路基板3の配線に接続された導体部6に
は、BGAパッケージ(半導体素子)の外部端子となる
柱状ピン例えば円柱ピン7とその周りに被せた半田ボー
ル8が取り付けられている。
【0011】円柱ピン7は半田ボール8の半径程の長さ
が適当で、リードフレーム材と同等レベルのCu合金が
使用され、回路基板3の導体部6に半田付けより強固に
溶接等の手段で固着される。
【0012】半田ボール8は、円柱ピン7が半田の濡れ
性が良いので、円柱ピン7の周囲に容易に形成すること
ができる。
【0013】図2は本発明の第1の実施形態のBGAパ
ッケージを基板に実装した状態を示す断面図である。
【0014】外部端子が円柱ピン7と半田ボール8で形
成されているので、実装した際、半田ボール8は溶解し
て基板9の導体部に広がってパッケージを基板9に装着
する。
【0015】このとき、半田ボール8の中に円柱ピン7
が存在しているので、パッケージと基板9との間に円柱
ピン7の高さ分のすき間が形成される。
【0016】そのため、パッケージを基板9から取りは
ずすのは極めて容易で、半田ボール8は溶解して無くな
るが、円柱ピン7はパッケージにそのまま残った状態と
なる。
【0017】以上のように、第1の実施形態によれば、
BGAパッケージの外部端子を円柱ピン7と半田ボール
8で形成したので、パッケージを基板9から取りはずし
た際も円柱ピン7が残ってパッケージとしての外部端子
の機能は残り、再装着が十分可能になる。
【0018】即ち、パッケージを取りはずした際に、残
った円柱ピン7に半田を補充して半田ボール8を形成す
ることは簡単なので、BGAパッケージとしての機能を
容易に復活させることができる。
【0019】図3は本発明の第2の実施形態を示す断面
図で、BGAパッケージと基板との実装構造を示してい
る。
【0020】BGAパッケージは従来と同じパッケージ
で、外部端子の半田ボール10の中には柱状ピンは無
い。
【0021】パッケージが実装される基板11は多層基
板が主流であるが、その上位層基板111に穴112を
設ける。この穴112は半田ボール10が溶着する基板
11の対応部分に開けられ、穴112の直径は半田ボー
ル10の直径と同等に、穴112の深さは半田ボール1
0の半径と同等に形成される。
【0022】穴112の底部は下位層基板113の上面
で形成され、穴112の周壁及び底部は金属メッキ等で
導体に形成される。上位基板111では、穴112の周
囲等の上面の必要な部分が導体にされているのは勿論で
ある。
【0023】このように形成した基板11にパッケージ
を実装する際、半田ボール10は対応する穴112に挿
入され、溶解した半田ボール10の半分位が穴112の
中に入り込み残りの半分程がパッケージと上位層基板1
11とのすき間に入った状態で装着される。図では樹脂
5を高くしているが、これを低くすれば密着型の実装を
行うことができる。
【0024】BGAパッケージを基板11から取りはず
した際は、パッケージ側の半田ボール10は溶解して無
くなるが、基板11側では、穴112の中に半田が残っ
た状態となっている。
【0025】以上のように、第2の実施形態によれば、
BGAパッケージの外部端子が装着される基板11の対
応部分に穴112を設けたので、基板11からパッケー
ジを取りはずした際にも穴112の中に半田を残すこと
ができ、再装着する際に穴112の中の半田を利用して
パッケージを基板11に実装することができる。
【0026】図4は本発明の第3の実施形態を示す断面
図でBGAパッケージと基板との実装構造を示してい
る。
【0027】BGAパッケージは図1に示した第1の実
施形態と同じで、基板11は図3に示したものと同じで
ある。
【0028】基板11にBGAパッケージを実装する
際、円柱ピン7と半田ボール8から成る外部端子が穴1
12に挿入され、溶解した半田ボール8が円柱ピン7と
穴112のすき間及びパッケージと上位層基板111の
間に入り込んだ状態で装着される。図では樹脂5を高く
しているが、これを低くすれば密着型の実装を行うこと
ができる。
【0029】穴112の直径は半田ボール8の直径と同
等にしても、またそれよりやや小さくしても、また円柱
ピン7と同等にしても良い。穴112の深さは半田ボー
ル8の半径と同等、即ち円柱ピン7の長さと同等位が良
い。
【0030】穴112の直径を円柱ピン7の直径と同等
にした場合には、円柱ピン7と穴112とが密着して接
合することになる。
【0031】以上のように、第3の実施形態によれば、
BGAパッケージの外部端子を半田ボール8とその中の
円柱ピン7とで形成し、外部端子が装着される基板11
の対応部分に穴112を設けたので、基板11からパッ
ケージを取りはずした際にもパッケージには円柱ピン7
が残り、基板11側には穴112の中に半田が残り、再
装着する際も円柱ピン7と穴112の中の半田を利用し
てパッケージを基板11に実装することができる。
【0032】その際、パッケージ側は円柱ピン7で、基
板11側は穴112で装着する位置が明確に示されてい
るので、再装着における位置合わせが容易でかつ正確に
実施できる効果がある。
【0033】上記の実施形態では、キャビティダウン型
のBGAパッケージを例にして説明したが、これに限ら
ず、他のBGAパッケージでも良く、またチップサイズ
のBGAパッケージでも良い。従って、柱状ピンを取り
付ける部分も、回路基板の導体部に限らず、TAB(Ta
pe Automated Bonding)テープの導体部でも、Cuポス
トでも良く、要は半田付けより熱的に強固な溶接等で固
着できれば良い。
【0034】
【発明の効果】上記したように、本発明は半導体素子の
外部端子を柱状ピンとその周りに被せた半田ボールとで
形成する。
【0035】あるいは半田ボールが溶着する基板の対応
部分に穴を設けることによって、BGAパッケージを基
板から取りはずした後で再装着することが容易にできる
という効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態を示す断面図
【図2】第1の実施形態を基板実装した状態を示す断面
【図3】本発明の第2の実施形態を示す断面図
【図4】本発明の第3の実施形態を示す断面図
【符号の説明】
1 半導体素子 3 回路基板 6 導体部 7 円柱ピン 8,10 半田ボール 9,11 基板 112 穴

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体素子の外部端子を、柱状ピンと、
    前記柱状ピンの周りに被せた半田ボールとで形成したこ
    とを特徴とするBGAパッケージ。
  2. 【請求項2】 前記柱状ピンが円柱ピンであることを特
    徴とする請求項1記載のBGAパッケージ。
  3. 【請求項3】 半導体素子の外部端子を半田ボールで形
    成したBGAパッケージと基板とで構成され、前記半田
    ボールが溶着する前記基板の対応部分に周壁及び底部が
    導体で形成された穴を設け、前記BGAパッケージを実
    装する際に、溶解した前記半田ボールが前記穴に入り込
    んで前記BGAパッケージと基板を装着することを特徴
    とするBGAパッケージと基板との装着構造。
  4. 【請求項4】 請求項1又は2記載のBGAパッケージ
    と基板とで構成され、前記半田ボールが溶着する前記基
    板の対応部分に周壁及び底部が導体で形成された穴を設
    け、前記BGAパッケージを実装する際に、前記柱状ピ
    ンと溶解した前記半田ボールが前記穴に入り込んで前記
    BGAパッケージと基板を装着することを特徴とするB
    GAパッケージと基板との実装構造。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7753489B2 (en) 2004-09-27 2010-07-13 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Connection structure of flexible wiring substrate and connection method using same
CN103178043A (zh) * 2011-12-20 2013-06-26 日本特殊陶业株式会社 布线基板及其制造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7753489B2 (en) 2004-09-27 2010-07-13 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Connection structure of flexible wiring substrate and connection method using same
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