JP2001285211A - アンプ測定装置 - Google Patents
アンプ測定装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 アンプの特性を測定する装置において測定時
間の短縮化を目的とする。 【解決手段】 図１において、信号発生器１と、被試験
装置のアンプ３と、選択レベル計９とからなる測定シス
テムに、分配器４、検波器５、プログラマブル電源６、
演算増幅器７、低域フイルタ８、可変アッテネータ２か
ら構成される回路を付加してアンプ３の出力レベル一定
の状態を実現して、アンプの歪等の特性を選択レベル計
９にて測定することにより、測定時間の短縮化を実現す
る。
間の短縮化を目的とする。 【解決手段】 図１において、信号発生器１と、被試験
装置のアンプ３と、選択レベル計９とからなる測定シス
テムに、分配器４、検波器５、プログラマブル電源６、
演算増幅器７、低域フイルタ８、可変アッテネータ２か
ら構成される回路を付加してアンプ３の出力レベル一定
の状態を実現して、アンプの歪等の特性を選択レベル計
９にて測定することにより、測定時間の短縮化を実現す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、超高周波帯用アン
プのゲインや歪み等の特性を測定するためのアンプ測定
装置に関する。
プのゲインや歪み等の特性を測定するためのアンプ測定
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、携帯電話等の情報通信の高度化に
つれて超高周波帯域で使用するアンプのゲインや歪み等
の特性の迅速かつ正確な測定装置が要請されている。従
来、超高周波用アンプの測定を行う場合は図３に示すよ
うに、測定する周波数、アンプの入力レベルよりも大き
い出力レベルおよび所定の形式の変調を発生する信号発
生器１と、ＤＵＴ（被試験装置）３が出力した信号を入
力してスペクトラム解析を行う選択レベル計９と、選択
レベル計９が出力した測定値に応じて、信号発生器１の
出力レベルを再設定する判定手段４から構成され、選択
レベル計９のレベル測定値に応じて、信号発生器１の出
力レベルを変更して、アンプの出力レベルを一定に保
ち、ゲイン、高調波レベル測定、混変調などの特性の測
定を行っている。
つれて超高周波帯域で使用するアンプのゲインや歪み等
の特性の迅速かつ正確な測定装置が要請されている。従
来、超高周波用アンプの測定を行う場合は図３に示すよ
うに、測定する周波数、アンプの入力レベルよりも大き
い出力レベルおよび所定の形式の変調を発生する信号発
生器１と、ＤＵＴ（被試験装置）３が出力した信号を入
力してスペクトラム解析を行う選択レベル計９と、選択
レベル計９が出力した測定値に応じて、信号発生器１の
出力レベルを再設定する判定手段４から構成され、選択
レベル計９のレベル測定値に応じて、信号発生器１の出
力レベルを変更して、アンプの出力レベルを一定に保
ち、ゲイン、高調波レベル測定、混変調などの特性の測
定を行っている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図３に
説明する従来技術では、ＤＵＴ（被試験装置）３に電源
電圧が与えられ、ＤＵＴ３が発熱する。それに伴い、ア
ンプのゲインが一定に保たれないために、出力レベルを
一定にして測定を行う高調波レベル測定およぴ混変調測
定において高い精度を得ようとすると、ＤＵＴ３の温度
が安定化するまでの時間だけ待機する必要があり、測定
時間が長大化するという問題点がある。本発明は、かか
る従来技術の問題点に鑑みてなされたもので、迅速かつ
正確な超高周波帯用アンプのゲイン、歪み等の特性の測
定を実現することを目的としている。
説明する従来技術では、ＤＵＴ（被試験装置）３に電源
電圧が与えられ、ＤＵＴ３が発熱する。それに伴い、ア
ンプのゲインが一定に保たれないために、出力レベルを
一定にして測定を行う高調波レベル測定およぴ混変調測
定において高い精度を得ようとすると、ＤＵＴ３の温度
が安定化するまでの時間だけ待機する必要があり、測定
時間が長大化するという問題点がある。本発明は、かか
る従来技術の問題点に鑑みてなされたもので、迅速かつ
正確な超高周波帯用アンプのゲイン、歪み等の特性の測
定を実現することを目的としている。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
め、請求項１記載の本発明は、アンプの歪み等の特性を
測定する装置において、測定する周波数およびアンプの
入力レベルを満足する信号を発生する信号発生器と、入
力するＤＣ電圧に応じて信号発生器からアンプへの入力
レベルの減衰量を変化させる可変アッテネータと、測定
を行うアンプの出力を２つに分配する分配器と、分配さ
れた一方の出力のスペクトラム解析を行う選択レベル計
と、分配器から分配された他方の出力信号レベルに応じ
てＤＣ電圧を出力する検波回路と、所定の大きさの電圧
を出力することができるプログラマブル電源と、検波回
路からの出力ＤＣ電圧とプログラマブル電源からの出力
電圧を入力して入力電圧差を増幅する演算増幅器と、演
算増幅器が出力した電圧を入力して前記可変アッテネー
タにＤＣ電圧を与える低域フイルタとから構成されてい
る。
め、請求項１記載の本発明は、アンプの歪み等の特性を
測定する装置において、測定する周波数およびアンプの
入力レベルを満足する信号を発生する信号発生器と、入
力するＤＣ電圧に応じて信号発生器からアンプへの入力
レベルの減衰量を変化させる可変アッテネータと、測定
を行うアンプの出力を２つに分配する分配器と、分配さ
れた一方の出力のスペクトラム解析を行う選択レベル計
と、分配器から分配された他方の出力信号レベルに応じ
てＤＣ電圧を出力する検波回路と、所定の大きさの電圧
を出力することができるプログラマブル電源と、検波回
路からの出力ＤＣ電圧とプログラマブル電源からの出力
電圧を入力して入力電圧差を増幅する演算増幅器と、演
算増幅器が出力した電圧を入力して前記可変アッテネー
タにＤＣ電圧を与える低域フイルタとから構成されてい
る。
【０００５】この構成により、もし測定中のアンプの発
熱等による動作環境の変化に応じてアンプのゲインが変
化して出力レベルが高くなった場合、検波器が出力する
ＤＣ電圧のレベルはプログラマブル電源の所定の出力電
圧よりも高くなり、演算増幅器の出力電圧は低下する。
これにより、可変アッテネータに入力する電圧は低下
し、可変アッテネータの減衰量が増加し、アンプへ入力
する信号の入力レベルが低下する。定常状態において
は、プログラマブル電源が出力する電圧と検波器が出力
する電圧とが等しくなり、ループの状態が安定する。も
しプログラマブル電源が出力する設定電圧を変更する
と、上記と同様の動作により被試験装置のアンプの出力
レベルを変更することが可能である。
熱等による動作環境の変化に応じてアンプのゲインが変
化して出力レベルが高くなった場合、検波器が出力する
ＤＣ電圧のレベルはプログラマブル電源の所定の出力電
圧よりも高くなり、演算増幅器の出力電圧は低下する。
これにより、可変アッテネータに入力する電圧は低下
し、可変アッテネータの減衰量が増加し、アンプへ入力
する信号の入力レベルが低下する。定常状態において
は、プログラマブル電源が出力する電圧と検波器が出力
する電圧とが等しくなり、ループの状態が安定する。も
しプログラマブル電源が出力する設定電圧を変更する
と、上記と同様の動作により被試験装置のアンプの出力
レベルを変更することが可能である。
【０００６】さらに請求項２記載の本発明のアンプ測定
装置によれば、プログラマブル電源が出力する所定の大
きさの電圧を、あらかじめ測定したアンプの出力に基づ
いて設定している。かかる構成によれば、あらかじめ基
準となるアンプを用いて出力レベルを選択レベル計にて
測定して、プログラマブル電源の設定電圧とアンプの出
力レベルの関係を計測しておく。これにより、次回以降
の測定では、プログラマブル電源の設定のみで所定の出
力レベルが得られており、選択レベル計による所定の出
力レベルのための測定を省略することができる。
装置によれば、プログラマブル電源が出力する所定の大
きさの電圧を、あらかじめ測定したアンプの出力に基づ
いて設定している。かかる構成によれば、あらかじめ基
準となるアンプを用いて出力レベルを選択レベル計にて
測定して、プログラマブル電源の設定電圧とアンプの出
力レベルの関係を計測しておく。これにより、次回以降
の測定では、プログラマブル電源の設定のみで所定の出
力レベルが得られており、選択レベル計による所定の出
力レベルのための測定を省略することができる。
【０００７】さらに請求項３記載の本発明のアンプ測定
装置によれば、低域フイルタのカットオフ周波数を切り
替える手段を有する。この構成により、アンプの試験を
開始する際、低域フイルタのカットオフ周波数を切り替
えることによって試験の開始時間を短縮することができ
る。測定装置の回路を安定化させるまでの間は広いルー
プ帯域に、安定後に測定を実施する際には狭いループ帯
域に切り替えることにより、迅速かつ正確な測定を行う
ことができる。
装置によれば、低域フイルタのカットオフ周波数を切り
替える手段を有する。この構成により、アンプの試験を
開始する際、低域フイルタのカットオフ周波数を切り替
えることによって試験の開始時間を短縮することができ
る。測定装置の回路を安定化させるまでの間は広いルー
プ帯域に、安定後に測定を実施する際には狭いループ帯
域に切り替えることにより、迅速かつ正確な測定を行う
ことができる。
【０００８】さらに本発明のアンプ測定装置によれば、
可変アッテネータのＤＣ電圧入力にプリチャージ回路を
接続した構成を有する。かかる構成によれば、プリチャ
ージの分だけアンプ測定装置のループを定常状態に要す
る時間を短縮でき、試験を開始する際の開始時間を短縮
することができる。
可変アッテネータのＤＣ電圧入力にプリチャージ回路を
接続した構成を有する。かかる構成によれば、プリチャ
ージの分だけアンプ測定装置のループを定常状態に要す
る時間を短縮でき、試験を開始する際の開始時間を短縮
することができる。
【０００９】さらに本発明のアンプ測定装置によれば、
可変アッテネータのＤＣ電圧入力にリミッタ回路を設け
た構成を有する。この構成により、減衰量を定めるＤＣ
電圧の上限、下限を定めるものであり、被試験装置のア
ンプに過大な信号が入力することを避けて、可変アッテ
ネータおよび検波器の線型の動作領域で自動制御するこ
とができる。
可変アッテネータのＤＣ電圧入力にリミッタ回路を設け
た構成を有する。この構成により、減衰量を定めるＤＣ
電圧の上限、下限を定めるものであり、被試験装置のア
ンプに過大な信号が入力することを避けて、可変アッテ
ネータおよび検波器の線型の動作領域で自動制御するこ
とができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】図１は、本発明の第一の実施の形
態によるアンプの出力信号の歪みを測定する装置を示す
ブロック図である。図１において、信号発生器１は、可
変アッテネータ２に結合されていて、これら信号発生器
１と可変アッテネータ２との組み合わせにより、ＤＵＴ
（被試験装置）３が要求する周波数、レベル、変調を満
足するＲＦ信号を発生するものである。可変アッテネー
タ２には、低域フイルタ８から出力されたＤＣ電圧が入
力されていて、そのＤＣ電圧に応じてＤＵＴ（被試験装
置）３に出力するＲＦ信号のレベルを減衰させるもので
ある。本実施の形態においては、可変アッテネータ２の
特性は、ＤＣ電圧が低い時ほど、減衰量が高くなるもの
とする。
態によるアンプの出力信号の歪みを測定する装置を示す
ブロック図である。図１において、信号発生器１は、可
変アッテネータ２に結合されていて、これら信号発生器
１と可変アッテネータ２との組み合わせにより、ＤＵＴ
（被試験装置）３が要求する周波数、レベル、変調を満
足するＲＦ信号を発生するものである。可変アッテネー
タ２には、低域フイルタ８から出力されたＤＣ電圧が入
力されていて、そのＤＣ電圧に応じてＤＵＴ（被試験装
置）３に出力するＲＦ信号のレベルを減衰させるもので
ある。本実施の形態においては、可変アッテネータ２の
特性は、ＤＣ電圧が低い時ほど、減衰量が高くなるもの
とする。
【００１１】分配器４は、ＤＵＴ３が出力したＲＦ信号
を選択レベル計９および検波器５に出力するものであ
る。検波器５は分配器４より入力したＲＦ信号のレベル
に応じたＤＣ電圧を出力するものである。演算増幅器７
は、検波器５が出力したＤＣ電圧を負極側に入力し、プ
ログラマブル電源６によって与えられる電圧を正極側に
入力している。演算増幅器７は正極側から負極側を差し
引いた差分に応じて出力電圧を変動するものである。低
域フイルタ８は演算増幅器７が出力した比較信号を平滑
化し、可変アッテネータ２に入力する。この低域フイル
タ８は、可変アッテネータ２、ＤＴＵ３、分配器４、検
波器５、演算増幅器７、低域フイルタ８から構成される
ＡＬＣ回路の動作帯域を制限している。
を選択レベル計９および検波器５に出力するものであ
る。検波器５は分配器４より入力したＲＦ信号のレベル
に応じたＤＣ電圧を出力するものである。演算増幅器７
は、検波器５が出力したＤＣ電圧を負極側に入力し、プ
ログラマブル電源６によって与えられる電圧を正極側に
入力している。演算増幅器７は正極側から負極側を差し
引いた差分に応じて出力電圧を変動するものである。低
域フイルタ８は演算増幅器７が出力した比較信号を平滑
化し、可変アッテネータ２に入力する。この低域フイル
タ８は、可変アッテネータ２、ＤＴＵ３、分配器４、検
波器５、演算増幅器７、低域フイルタ８から構成される
ＡＬＣ回路の動作帯域を制限している。
【００１２】上記の回路の動作は、もしＤＵＴ３の発熱
等による動作環境の変化に応じて、ＤＵＴ３のゲインが
変化して出力レベルが高くなった場合、検波器５が出力
するレベルはプログラマブル電源６の出力電圧よりも高
くなり、演算増幅器７の出力電圧は低下する。これによ
り、可変アッテネータ２に入力する電圧は低下し、可変
アッテネータ２の減衰量が増加し、その出力するＲＦレ
ベルが低下する。定常状態においては、プログラマブル
電源６が出力する電圧と検波器５が出力する電圧とが等
しくなり、ループの状態が安定する。もしプログラマブ
ル電源６が出力する設定電圧を変更すると、上記と同様
の動作によりＤＵＴ３の出力レベルを変更することが可
能である。
等による動作環境の変化に応じて、ＤＵＴ３のゲインが
変化して出力レベルが高くなった場合、検波器５が出力
するレベルはプログラマブル電源６の出力電圧よりも高
くなり、演算増幅器７の出力電圧は低下する。これによ
り、可変アッテネータ２に入力する電圧は低下し、可変
アッテネータ２の減衰量が増加し、その出力するＲＦレ
ベルが低下する。定常状態においては、プログラマブル
電源６が出力する電圧と検波器５が出力する電圧とが等
しくなり、ループの状態が安定する。もしプログラマブ
ル電源６が出力する設定電圧を変更すると、上記と同様
の動作によりＤＵＴ３の出力レベルを変更することが可
能である。
【００１３】このため、あらかじめ基準となるＤＵＴ３
を用いて出力レベルを選択レベル計９にて測定して、プ
ログラマブル電源６の設定電圧とＤＵＴ３の出力レベル
の関係を計測しておく。次回以降の測定では、プログラ
マブル電源６の設定のみで、所定の出力レベルが得られ
ており、選択レベル計９による所定の出力レベルのため
の測定を省略することができる。
を用いて出力レベルを選択レベル計９にて測定して、プ
ログラマブル電源６の設定電圧とＤＵＴ３の出力レベル
の関係を計測しておく。次回以降の測定では、プログラ
マブル電源６の設定のみで、所定の出力レベルが得られ
ており、選択レベル計９による所定の出力レベルのため
の測定を省略することができる。
【００１４】図２は本発明の第二の実施の形態を示すブ
ロック図である。ＤＵＴ３のアンプのゲイン、高調波歪
み、混変調、入力の定在波比を測定する装置である。信
号発生器１、可変アッテネータ２、ＤＵＴ３、検波器
５、プログラマブル電源６、選択レベル計９は、図１に
示した第一の実施形態における構成と同様の動作を行う
ものである。
ロック図である。ＤＵＴ３のアンプのゲイン、高調波歪
み、混変調、入力の定在波比を測定する装置である。信
号発生器１、可変アッテネータ２、ＤＵＴ３、検波器
５、プログラマブル電源６、選択レベル計９は、図１に
示した第一の実施形態における構成と同様の動作を行う
ものである。
【００１５】方向性結合器Ａ１は、ＤＴＵ３のゲインを
算出することを目的としたものである。可変アッテネー
タ２からＲＦ信号を入力し、通過するＲＦ信号を方向性
結合器Ａ２に出力し、ＤＵＴ３に入力するＲＦ信号の進
行波成分をセレクタ１１のスイッチＳＷ５を通して、選
択レベル計９でレベル測定を行う。進行波成分を測定す
ることにより、ＤＵＴ３のゲインを算出する。ＤＵＴ３
の出力レベルが一定になるようにＡＬＣ回路が動作する
ので、進行波成分のレベルはＤＵＴ３のゲインに反比例
する。
算出することを目的としたものである。可変アッテネー
タ２からＲＦ信号を入力し、通過するＲＦ信号を方向性
結合器Ａ２に出力し、ＤＵＴ３に入力するＲＦ信号の進
行波成分をセレクタ１１のスイッチＳＷ５を通して、選
択レベル計９でレベル測定を行う。進行波成分を測定す
ることにより、ＤＵＴ３のゲインを算出する。ＤＵＴ３
の出力レベルが一定になるようにＡＬＣ回路が動作する
ので、進行波成分のレベルはＤＵＴ３のゲインに反比例
する。
【００１６】方向性結合器Ａ２は、ＤＵＴ３の定在波比
を算出することを目的としたものであり、方向性結合器
Ａ１が出力した通過信号を入力し、方向性結合器Ａ２を
通過した信号をＤＵＴ３に出力し、ＲＦ信号の反射成分
をセレクタ１１のスイッチＳＷ４を通して、選択レベル
計９でレベル測定を行う。ＤＴＵ３に入力されるＲＦ信
号の反射成分を測定することができ、方向性結合器Ａ
１、Ａ２の挿入損失および変換損失の補正を行った後、
ＤＴＵ３の定在波比を算出する。定在波比Γは、進行波
成分に対する反射波成分の比ｒに対して Γ＝（１＋ｒ）／（１−ｒ） である。
を算出することを目的としたものであり、方向性結合器
Ａ１が出力した通過信号を入力し、方向性結合器Ａ２を
通過した信号をＤＵＴ３に出力し、ＲＦ信号の反射成分
をセレクタ１１のスイッチＳＷ４を通して、選択レベル
計９でレベル測定を行う。ＤＴＵ３に入力されるＲＦ信
号の反射成分を測定することができ、方向性結合器Ａ
１、Ａ２の挿入損失および変換損失の補正を行った後、
ＤＴＵ３の定在波比を算出する。定在波比Γは、進行波
成分に対する反射波成分の比ｒに対して Γ＝（１＋ｒ）／（１−ｒ） である。
【００１７】方向性結合器Ａ３は、図１に示す第１の実
施形態における分配器４に相当するものであり、アッテ
ネータ１２から出力されたＲＦ信号の進行波成分を検波
器５に出力し、通過した信号をセレクタ１１のスイッチ
ＳＷ３を通して選択レベル計９で、高調波歪み、混変調
の測定を行う。
施形態における分配器４に相当するものであり、アッテ
ネータ１２から出力されたＲＦ信号の進行波成分を検波
器５に出力し、通過した信号をセレクタ１１のスイッチ
ＳＷ３を通して選択レベル計９で、高調波歪み、混変調
の測定を行う。
【００１８】セレクタ１１は、ＲＦ信号を切り替えるス
イッチＳＷ３、ＳＷ４、ＳＷ５を有し、各々、インピー
ダンス整合を行うためのダミーロードであるＲＬ１、Ｒ
Ｌ２、ＲＬ３が接続されている。スイッチＳＷ３、ＳＷ
４、ＳＷ５はいずれか一つのみを選択レベル計９に接続
することができる。上述の通り、ＤＵＴ３の入力信号の
進行波を測定する際にはスイッチＳＷ５のみを、ＤＵＴ
３の定在波比を測定する際にはスイッチＳＷ４のみを、
ＤＵＴ３の出力信号の高調波歪み、混変調を測定する際
にはＳＷ３のみを、選択レベル計９側に接続する。
イッチＳＷ３、ＳＷ４、ＳＷ５を有し、各々、インピー
ダンス整合を行うためのダミーロードであるＲＬ１、Ｒ
Ｌ２、ＲＬ３が接続されている。スイッチＳＷ３、ＳＷ
４、ＳＷ５はいずれか一つのみを選択レベル計９に接続
することができる。上述の通り、ＤＵＴ３の入力信号の
進行波を測定する際にはスイッチＳＷ５のみを、ＤＵＴ
３の定在波比を測定する際にはスイッチＳＷ４のみを、
ＤＵＴ３の出力信号の高調波歪み、混変調を測定する際
にはＳＷ３のみを、選択レベル計９側に接続する。
【００１９】低域フイルタ８は、コンデンサＣ、スイッ
チＳＷ２、抵抗Ｒ３、電圧源Ｅによって構成されるプリ
チャージ回路と、ＡＬＣ回路の安定化時間を定める抵抗
Ｒ１と、スイッチＳＷ１と抵抗Ｒ２によって構成される
スピードアップ回路によって構成されている。
チＳＷ２、抵抗Ｒ３、電圧源Ｅによって構成されるプリ
チャージ回路と、ＡＬＣ回路の安定化時間を定める抵抗
Ｒ１と、スイッチＳＷ１と抵抗Ｒ２によって構成される
スピードアップ回路によって構成されている。
【００２０】電圧リミッタ１０は、低域フイルタ８が出
力するＤＣ電圧を入力して、可変アッテネータ２のＲＦ
信号減衰量を定めるＤＣ電圧の上限、下限を定めるもの
であり、ＤＵＴ３に対して過大なＲＦ信号を入力するこ
とを避け、可変アッテネータ２および検波器５が線型の
動作領域で自動制御することを目的としている。
力するＤＣ電圧を入力して、可変アッテネータ２のＲＦ
信号減衰量を定めるＤＣ電圧の上限、下限を定めるもの
であり、ＤＵＴ３に対して過大なＲＦ信号を入力するこ
とを避け、可変アッテネータ２および検波器５が線型の
動作領域で自動制御することを目的としている。
【００２１】この実施形態において、ＤＵＴ３の試験を
開始する際。低域フイルタ８の制御によって試験の開始
時間を短縮する方法を説明する。一般に、低域フイルタ
８のカットオフ（遮断）周波数を高めに設定して、ＡＬ
Ｃ回路のループ帯域を広くすると、制御電圧に混入する
ノイズの帯域は広くなり、従って測定結果のバラツキに
影響を及ぼす、一方、低域フイルタ８のカットオフ（遮
断）周波数を低くめに設定して、ＡＬＣ回路のループ帯
域を狭くすると、ＡＬＣ回路の安定化に要する時間が増
大する。
開始する際。低域フイルタ８の制御によって試験の開始
時間を短縮する方法を説明する。一般に、低域フイルタ
８のカットオフ（遮断）周波数を高めに設定して、ＡＬ
Ｃ回路のループ帯域を広くすると、制御電圧に混入する
ノイズの帯域は広くなり、従って測定結果のバラツキに
影響を及ぼす、一方、低域フイルタ８のカットオフ（遮
断）周波数を低くめに設定して、ＡＬＣ回路のループ帯
域を狭くすると、ＡＬＣ回路の安定化に要する時間が増
大する。
【００２２】このため、ＡＬＣ回路を安定化させるまで
の間は広いループ帯域に、安定後、測定を実施する際に
は狭いループ帯域に切り替えることにより、迅速かつ正
確な測定を行うことができる。この手順は以下の１、
２、３による。
の間は広いループ帯域に、安定後、測定を実施する際に
は狭いループ帯域に切り替えることにより、迅速かつ正
確な測定を行うことができる。この手順は以下の１、
２、３による。
【００２３】手順１： 試験を開始する際には、スイッ
チＳＷ２を抵抗Ｒ３の側に接続する。スイッチＳＷ１は
オンの状態にする。この際、ＡＬＣ回路はオープンルー
プ状態になるが、コンデンサＣの電位は抵抗Ｒ３とコン
デンサＣの時定数に応じた時刻で電圧源Ｅに近づく。
チＳＷ２を抵抗Ｒ３の側に接続する。スイッチＳＷ１は
オンの状態にする。この際、ＡＬＣ回路はオープンルー
プ状態になるが、コンデンサＣの電位は抵抗Ｒ３とコン
デンサＣの時定数に応じた時刻で電圧源Ｅに近づく。
【００２４】手順２： コンデンサＣの電位がほぼ電圧
源Ｅと等しくなった時点で、スイッチＳＷ２を抵抗Ｒ１
側に接続する。この際、コンデンサＣの電圧は所定の電
圧に変化するが、この時の安定化時間は抵抗Ｒ１と抵抗
Ｒ２の並列接続による抵抗値とコンデンサＣの時定数に
より決まるため、スピードアップを図ることができる。
源Ｅと等しくなった時点で、スイッチＳＷ２を抵抗Ｒ１
側に接続する。この際、コンデンサＣの電圧は所定の電
圧に変化するが、この時の安定化時間は抵抗Ｒ１と抵抗
Ｒ２の並列接続による抵抗値とコンデンサＣの時定数に
より決まるため、スピードアップを図ることができる。
【００２５】手順３： 安定な電圧に達すると予想され
る時点において、スイッチＳＷ１をオフにしてスイッチ
ＳＷ２を抵抗Ｒ１側に接続した状態で、アンプの測定を
実施する。この時点ではコンデンサＣの電位は上記の手
順１、２の状態と比べてほとんど変動が無く安定であ
る。この時のループの安定化時間は抵抗Ｒ１の抵抗値と
コンデンサＣの時定数により定まる。
る時点において、スイッチＳＷ１をオフにしてスイッチ
ＳＷ２を抵抗Ｒ１側に接続した状態で、アンプの測定を
実施する。この時点ではコンデンサＣの電位は上記の手
順１、２の状態と比べてほとんど変動が無く安定であ
る。この時のループの安定化時間は抵抗Ｒ１の抵抗値と
コンデンサＣの時定数により定まる。
【００２６】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
１記載の本発明のアンプ測定装置は、測定されるアンプ
の出力レベル一定の状態を、信号発生器、可変アッテネ
ータ、ＤＴＵ（被試験装置）、分配器、検波器、プログ
ラマブル電源、演算増幅器、低域フイルタから構成され
るＡＬＣ回路を用いて達成しており、アンプの特性の測
定時間の短縮化を実現できる効果を有する。さらに、請
求項２記載の本発明のアンプ測定装置では、プログラマ
ブル電源の設定で所定の出力レベルを被試験装置のアン
プから得ることができるので、選択レベル計による所定
出力レベルのための測定を省略して測定時間の短縮化が
できる効果を有する。さらに、請求項３および請求項４
記載の本発明のアンプ測定装置は、アンプの試験の開始
時間を短縮することができるという効果を有する。さら
に、請求項５記載の本発明のアンプ測定装置によれば、
被試験装置のアンプに過大な信号が入力することを避け
て、測定装置の線型の動作領域で自動制御をすることが
できる効果を有する。
１記載の本発明のアンプ測定装置は、測定されるアンプ
の出力レベル一定の状態を、信号発生器、可変アッテネ
ータ、ＤＴＵ（被試験装置）、分配器、検波器、プログ
ラマブル電源、演算増幅器、低域フイルタから構成され
るＡＬＣ回路を用いて達成しており、アンプの特性の測
定時間の短縮化を実現できる効果を有する。さらに、請
求項２記載の本発明のアンプ測定装置では、プログラマ
ブル電源の設定で所定の出力レベルを被試験装置のアン
プから得ることができるので、選択レベル計による所定
出力レベルのための測定を省略して測定時間の短縮化が
できる効果を有する。さらに、請求項３および請求項４
記載の本発明のアンプ測定装置は、アンプの試験の開始
時間を短縮することができるという効果を有する。さら
に、請求項５記載の本発明のアンプ測定装置によれば、
被試験装置のアンプに過大な信号が入力することを避け
て、測定装置の線型の動作領域で自動制御をすることが
できる効果を有する。
【図１】本発明の第一の実施形態によるアンプ測定装置
を示すブロック図
を示すブロック図
【図２】本発明の第二の実施形態によるアンプ測定装置
を示すブロック図
を示すブロック図
【図３】従来のアンプ測定装置を示すブロック図
１ 信号発生器 ２ 可変アッテネータ ３ ＤＴＵ（被試験装置） ４ 分配器 ５ 検波器 ６ プログラマブル電源 ７ 演算増幅器 ８ 低域フイルタ ９ 選択レベル計 １０ 電圧リミッタ １１ セレクタ １２ アッテネータ Ａ１、Ａ２、Ａ３ 方向性結合器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高橋 一喜 神奈川県横浜市港北区綱島東４丁目３番１ 号 松下通信工業株式会社内 Ｆターム(参考） 5K042 AA06 BA11 CA13 DA14 DA16
Claims (5)
- 【請求項１】 アンプの特性を測定する装置において、
測定する周波数およびアンプの入力レベルを満足する信
号を発生する信号発生器と、入力するＤＣ電圧に応じて
前記信号発生器からアンプへの入力レベルの減衰量を変
化させる可変アッテネータと、測定を行うアンプの出力
を２つに分配する分配器と、分配された一方の出力のス
ペクトラム解析を行う選択レベル計と、前記分配器から
分配された他方の出力に応じてＤＣ電圧を出力する検波
回路と、所定の大きさの電圧を出力することができるプ
ログラマブル電源と、前記検波回路からの出力ＤＣ電圧
と前記プログラマブル電源からの出力電圧を入力して入
力電圧差を増幅する演算増幅器と、前記演算増幅器が出
力した電圧を入力して前記可変アッテネータにＤＣ電圧
を与える低域フイルタとから構成されたアンプ測定装
置。 - 【請求項２】 前記プログラマブル電源が出力する前記
所定の大きさの電圧を、あらかじめ測定したアンプの出
力に基づいて設定したことを特徴とする請求項１記載の
アンプ測定装置。 - 【請求項３】 前記低域フイルタのカットオフ周波数を
切り替える手段を有する請求項１または２記載のアンプ
測定装置。 - 【請求項４】 前記可変アッテネータのＤＣ電圧入力に
プリチャージ回路を接続した請求項１ないし３いずれか
記載のアンプ測定装置。 - 【請求項５】 前記可変アッテネータのＤＣ電圧入力に
リミッタ回路を設けた請求項１ないし４いずれか記載の
アンプ測定装置。
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|---|---|---|---|---|
| KR100706218B1 (ko) * | 2003-05-23 | 2007-04-12 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 위상 측정 장치, 방법 및 기록 매체 |
| JPWO2005073738A1 (ja) * | 2004-01-30 | 2007-09-13 | 株式会社アドバンテスト | 位相測定装置、方法、プログラムおよび記録媒体 |
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| US7466141B2 (en) | 2004-01-30 | 2008-12-16 | Advantest Corporation | Phase measurement device, method, program, and recording medium |
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