JP2001267481A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JP2001267481A
JP2001267481A JP2000077829A JP2000077829A JP2001267481A JP 2001267481 A JP2001267481 A JP 2001267481A JP 2000077829 A JP2000077829 A JP 2000077829A JP 2000077829 A JP2000077829 A JP 2000077829A JP 2001267481 A JP2001267481 A JP 2001267481A
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Japan
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heat transfer
transfer member
electrode
heat
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Application number
JP2000077829A
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English (en)
Inventor
Masahiro Shiozawa
方浩 塩澤
Takahiko Yoshida
貴彦 吉田
Atsushi Hashikawa
淳 橋川
Yasuyoshi Hirai
平井  康義
Kazuhito Nomura
和仁 野村
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Denso Corp
Soken Inc
Original Assignee
Denso Corp
Nippon Soken Inc
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体素子を冷却する冷却機構を備えた半導
体装置において、熱膨張による変形が発生しても、半導
体素子と冷却部材との良好な熱的接触を確保できるよう
にする。 【解決手段】 半導体素子1、2は、第1の電極板3と
第2の電極板4により挟まれ、第1の電極板3は絶縁板
6を介して冷却部材7に接しており、第2の電極板4は
可とう性を有する銅等よりなる伝熱部材5に接してい
る。これらの積層体は、伝熱部材5の上方から皿バネ9
を介してケース10と冷却部材7とをねじ締めすること
により、圧接状態となっている。ここで、伝熱部材5の
一部は冷却部材7に形成された突起部7aと接してお
り、半導体素子1、2は両面から放熱可能となってい
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、発熱を伴う半導体
素子を冷却する冷却機構を備えた半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】パワーMOSFETやIGBT(Ins
ulated Gate Bipolar Trans
istor)等の半導体素子は、大電流を制御する素子
であるため、自己発熱が大きい。
【0003】従来より、半導体素子の冷却機構を備えた
半導体装置としては、例えば特許第2598236号公
報に記載のものが提案されている。このものは、半導体
素子に冷却機構としての冷却フィンを設けてなる半導体
装置において、半導体素子と冷却フィンとを、熱伝導性
の良好なコンパウンドを塗布して圧着することにより、
冷却効率を向上させるものである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、半導体
装置は大容量化が進み、発熱量が増大しているため、さ
らなる冷却性能の向上が要求されている。また、発熱量
の増大に伴い、各部材の熱膨張による変形が発生し、半
導体素子と冷却部材との熱的な接触状態が損なわれるた
め、冷却性能が悪くなるという問題が発生する。
【0005】本発明は上記問題に鑑み、半導体素子を冷
却する冷却機構を備えた半導体装置において、熱膨張に
よる変形が発生しても、半導体素子と冷却部材との良好
な熱的接触を確保できるようにすることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1の発明では、半導体素子(1、2)と、こ
の半導体素子の一面側に設置された冷却部材(7)と、
半導体素子の他面側に設置された可とう性及び熱伝導性
を有する材料よりなる伝熱部材(5)とを備え、伝熱部
材の一部が、半導体素子の外部にて前記冷却部材に接し
ており、伝熱部材及び冷却部材により、半導体素子の一
面及び他面から放熱可能となっていることを特徴として
いる。
【0007】それによれば、半導体素子の熱は、一面側
からは冷却部材に放熱され、他面側からは伝熱部材を介
して冷却部材へ放熱され、両面での放熱が可能となる。
また、各部材が熱膨張して変形しても、その変形に応じ
て伝熱部材がたわむため、半導体素子と伝熱部材との熱
的接触状態の変化を抑制することができる。よって、本
発明によれば、熱膨張による変形が発生しても、半導体
素子と冷却部材との良好な熱的接触を確保できる。
【0008】また、請求項2の発明では、半導体素子
(1、2)と、この半導体素子の一面側に設置された冷
却部材(7)と、半導体素子の他面側に設置され、その
一部が他の部位よりもたわみやすい可とう部(5a)を
有する熱伝導性の伝熱部材(5)とを備え、伝熱部材の
一部が、半導体素子の外部にて冷却部材に接しており、
伝熱部材及び冷却部材により、半導体素子の一面及び他
面から放熱可能となっていることを特徴としている。
【0009】それによれば、半導体素子の放熱経路は、
請求項1の半導体装置と同様であり、また、伝熱部材が
可とう部を有するため、請求項1の発明と同様に、各部
材が熱膨張して変形しても、半導体素子と伝熱部材との
熱的接触状態の変化を抑制することができる。従って、
本発明によれば、熱膨張による変形が発生しても、半導
体素子と冷却部材との良好な熱的接触を確保できる。
【0010】また、請求項3の発明のように、半導体素
子(1、2)に対して冷却部材(7)及び伝熱部材
(5)を押しつけるように加圧する加圧機構を備えてい
るものとすれば、半導体素子と冷却部材及び伝熱部材と
の熱的接触を、より確実に確保することができる。
【0011】ここで、請求項4の発明では、上記加圧機
構が皿バネ(9)を有し、この皿バネを加圧力として用
いるものであることを特徴としており、変位量に関わら
ずバネ力が一定であるという皿バネの特性を利用して、
加圧力を一定に維持可能な加圧機構を実現することがで
きる。
【0012】また、請求項5の発明のように、半導体素
子(1、2)と冷却部材(7)及び伝熱部材(5)と
を、熱伝導性を高めるための中間材(12)を介して熱
的に接触させれば、より高いレベルにて放熱経路を確保
でき、好ましい。
【0013】また、請求項6の発明では、半導体素子
(1、2)の一面、他面において、それぞれ、冷却部材
(7)、伝熱部材(5)との間に、半導体素子の電極と
して機能する電極板(3、4)を介在させた場合、この
電極板のすくなくとも一方を、絶縁板上に導電材を一体
に形成したものとしたことを特徴としている。
【0014】それにより、この電極板は、電極兼絶縁板
として用いられ、冷却部材または伝熱部材との電気的絶
縁を確保しつつ、半導体素子の電極として機能させるこ
とができる。また、この電極兼絶縁板を用いれば、該電
極板と冷却部材または伝熱部材との間に、更に絶縁板を
設ける必要が無くなるため、装置における部材の接触界
面数が低減され、放熱性が良くなる。
【0015】また、請求項7の発明では、半導体素子
(1、2)の一面、他面において、それぞれ、冷却部材
(7)、伝熱部材(5)との間に、半導体素子の電極と
して機能する電極板(3、4)を介在させた場合、この
電極板のすくなくとも一方を、熱緩衝機能を有するもの
としたことを特徴としている。
【0016】それにより、この電極板は、電極兼熱緩衝
板として用いられ、熱緩衝機能を有するため、半導体素
子と該電極板との間の熱膨張の違いによりこすれ、半導
体素子が破壊するのを防止することができる。また、こ
の電極兼熱緩衝板を用いれば、該電極板と半導体素子と
の間に、更に熱緩衝板を設ける必要が無くなるため、装
置における部材の接触界面数が低減され、放熱性が良く
なる。
【0017】なお、上記各手段の括弧内の符号は、後述
する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示す一
例である。
【0018】
【発明の実施の形態】(第1実施形態)図1は、本発明
の第1実施形態に係る半導体装置100の概略断面図で
あり、図2は、この半導体装置100の各構成部材を分
解した状態にて示す斜視図である。本半導体装置100
は、例えば、電気自動車におけるバッテリとモータの間
で直流−交流変換を行なうインバータ等に適用すること
ができる。
【0019】1はIGBT素子であり、2はダイオード
である。本実施形態では、これらIGBT素子1及びダ
イオード2が、ペアで回路を構成し、本発明でいう半導
体素子に相当する。なお、図1はIGBT素子1の厚み
方向に沿った断面を示しており、本例においては、図2
に示す様に、IGBT素子1が2個、ダイオード2が4
個備えられている。
【0020】3は、半導体素子1、2の一面(図中の下
方側の面)側に設けられた電極板(第1の電極板、エミ
ッタ電極兼熱緩衝板)であり、この第1の電極板3は、
本例ではIGBT素子1のエミッタ電極として機能す
る。4は、半導体素子1、2の他面(図中の上方側の
面)側に設けられた電極板(第2の電極板、コレクタ電
極兼絶縁板)であり、この第2の電極板4は、本例では
IGBT素子1のコレクタ電極として機能する。
【0021】また、第1の電極板3は、例えば半導体素
子1、2を構成するSiと熱膨張係数の近いMo(モリ
ブデン)やW(タングステン)等よりなり、熱緩衝板と
しても機能する(電極兼熱緩衝板)。つまり、第1の電
極板3は、熱緩衝機能を有するため、半導体素子1、2
と該電極板3との間の線膨張係数の違いによる両者のこ
すれが抑制され、半導体素子1、2の破壊を防止するこ
とができる。
【0022】また、第2の電極板4は、例えば窒化アル
ミニウム(AlN)等の電気絶縁材料よりなる絶縁板の
一面(半導体素子1、2と対向する面)に、銅やアルミ
等の導電材を、ロウ付け等にて一体に形成したものより
なり、電極兼絶縁板として機能する。即ち、半導体素子
1、2と後述する伝熱部材5との電気的絶縁を確保しつ
つ、半導体素子1、2の電極として機能する。
【0023】このように、第1の電極板3と第2の電極
板4により挟まれた半導体素子1、2において、さら
に、半導体素子1、2の一面側に位置する第1の電極板
3の外面には、絶縁板(例えば窒化アルミニウム等の
板)6を介して、冷却部材7が設置されている。この冷
却部材7は、本例では矩形ブロック状をなし、アルミニ
ウム等の熱伝導性に優れた材料よりなる。冷却部材7の
内部には、図1に示す様に、冷却水101が流通する通
路が設けられ、この通路内面には、冷却水101により
冷却される冷却フィン102が形成されている。
【0024】また、第1の電極板3と第2の電極板4に
より挟まれた半導体素子1、2において、さらに、半導
体素子1、2の他面側に位置する第2の電極板4の外面
には、上記伝熱部材5が設置されている。この伝熱部材
5は、例えば、銅やグラファイト等の可とう性及び熱伝
導性を有する材料よりなる板状のもので、熱膨張による
半導体素子1、2や電極板3、4の厚み方向(各部材1
〜4の積層方向、図中、矢印Yにて図示)への反り等の
変形に応じて、たわんで変形することが可能となってい
る。
【0025】本例では、伝熱部材5は、厚さ0.1mm
の銅板を6枚積層したもので、第2の電極板4との接触
部の両側に略V字溝状をなす可とう部5aを有する。そ
して、伝熱部材5の構成材料自身が可とう性を有するこ
とに加えて、この可とう部5aが伝熱部材5における他
の部位よりも変形しやすい部分となっている。そして、
例えば、上記積層方向Yへの反りによる膨らみや凹みに
応じて、伝熱部材5は、可とう部5aを中心に変形する
ようになっている。
【0026】また、冷却部材7には、半導体素子1、2
側に突出する突起部7aが形成されており、この突起部
7aと伝熱部材5の周辺部とが、半導体素子1、2の外
部にて接触するようになっている。伝熱部材5の外側
(図中の上方)には、加圧プレート8を介して例えば鉄
製の皿バネ(加圧スプリング、バネ部材)9が設けら
れ、更に、皿バネ9の外側には、例えば鉄製のケース1
0が設けられている。
【0027】そして、上記各部材1〜10は、図2に示
す様に、伝熱部材5及びケース10に形成されたネジ穴
5a、10aと冷却部材7に形成された雌ネジ7bとが
一致するように積み重ねられ、図示しない雄ネジによ
り、ネジ結合することにより、図1に示す様に、圧接さ
れ組み付けられた状態となる。
【0028】ここで、図2に示す各寸法S1、S2、S
3は、例えば、次のようにできる。矩形ブロック状の冷
却部材7における長辺長さS1は100mm、短辺長さ
S2は47mm、図1のように組み付けられた状態にお
ける半導体装置の高さ(冷却部材7の下端面からケース
10の上端面までの長さ)S3は、27mmとすること
ができる。
【0029】なお、図2に示す様に、本例では、一対の
第1の電極板3はコネクタ(信号線取り出し電極兼コネ
クタ)11により、電気的に接続されている。このコネ
クタ11は、IGBT素子1のゲート電極等の機能を有
するものである。また、コネクタ11のピン11aは、
皿バネ9の中空穴及びケース10に形成された穴10b
を通して、外部と接続可能となっている。また、第1及
び第2の電極板3、4も、その端部に端子部が形成さ
れ、外部と接続可能となっている。
【0030】係る半導体装置においては、上記ネジ結合
の軸力及び皿バネ9の弾性力により、半導体素子1、2
に対して、上記積層方向Yへ各部材3〜10が押しつけ
られるように加圧され、圧接構造を形成している。従っ
て、これらネジ結合のためのネジ穴5a、10aや雌ネ
ジ7b、上記雄ネジ、皿バネ9により、加圧機構が構成
されている。
【0031】そして、半導体素子1、2と外部との信号
のやりとりは、上記両電極板3、4及びコネクタ11に
より行われ、また、必要に応じてIGBT素子1に内蔵
される温度センサ、電流センサ等の信号は、コネクタ1
1により行われる。
【0032】また、本半導体装置100における半導体
素子1、2の放熱経路については、半導体素子1、2の
一面側からは、第1の電極板3、絶縁板6を介して冷却
部材7に放熱され、半導体素子1、2の他面側からは、
第2の電極板4、伝熱部材5を介して、冷却部材7の突
起部7aから、冷却部材7に放熱される。冷却部材7に
伝わった熱の多くは、冷却部材7内を流れる冷却水10
1によって冷却され、一部は突起部7aよりケース10
に伝わり、ケース10より大気に放熱される。
【0033】こうして、半導体素子1、2は、その両面
から放熱が可能となっているため、冷却性能が高く、素
子1、2の発熱量が多くても、素子1、2の温度を適正
な動作に維持可能な温度以下に保つことができる。
【0034】ところで、本実施形態によれば、半導体素
子1、2の熱が、その両面から放熱可能となっていると
ともに、各部材が熱膨張して変形しても、その変形に応
じて伝熱部材5がたわむため、第2の電極板4を介した
半導体素子1、2と伝熱部材5との熱的接触状態の変化
を抑制することができる。つまり、第2の電極板4と伝
熱部材5との接触面積を略一定とできる。そのため、伝
熱部材5を介した半導体素子1、2と冷却部材7との熱
的接触において、熱膨張による変形が発生しても、良好
な接触状態を確保できる。
【0035】なお、上記例では、伝熱部材5は、その構
成材料そのものに可とう性を有するものとしたが、構成
材料自身には可とう性がない場合(例えばアルミニウ
ム)でも、図示例のように、可とう部5aが形成されて
いれば良い。また、可とう部5aはV溝形状でなくと
も、他の部位よりも厚さが薄くなるようにくびれた形状
(くびれ部)であっても良い。また、伝熱部材5の構成
材料自身を可とう性のものとした場合、たわみ変形しや
すい可とう部が無くても良いが、本例のように、可とう
部5aがあった方が好ましい。
【0036】また、本実施形態によれば、半導体素子
1、2に対して冷却部材7及び伝熱部材5を押しつける
ように加圧する加圧機構を備えているため、半導体素子
1、2と冷却部材7、伝熱部材5及び電極板3、4等と
の熱的接触を、より確実に確保することができる。
【0037】さらに、加圧機構が皿バネ9を有し、この
皿バネ9を加圧力として用いるものとしている。変位量
に関わらずバネ力が一定であるという皿バネの特性(非
直線性)を利用して、熱膨張があっても加圧力を一定に
維持可能な加圧機構を実現することができる。
【0038】また、本実施形態において、半導体素子
1、2と冷却部材7及び伝熱部材5とを、熱伝導性を高
めるための中間材12を介して熱的に接触させれば、よ
り高いレベルにて放熱経路を確保でき、好ましい。本例
では、中間材12として、冷却部材7と絶縁板6との界
面、及び、絶縁板6と第1の電極板3との界面に、グラ
ファイトシートを挿入し、第1の電極板3とIGBT素
子1との界面、及び、IGBT素子1と第2の電極板4
との界面に、銀粉を挿入し、冷却性能を上げている。な
お、中間材12は図2にて示してあり、図1では省略し
てある。
【0039】また、本例では、第1の電極板3を電極兼
熱緩衝板とし、第2の電極板4を電極兼絶縁板として構
成しているため、半導体素子1、2と電極板3、4との
間に別体の熱緩衝板を設けたり、半導体素子1、2を挟
む電極板3、4の外側に、別体の絶縁板を設ける必要が
無くなる。そのため、装置における部材の接触界面数が
低減され、放熱性が良くなる。
【0040】(第2実施形態)本発明の第2実施形態に
係る半導体装置200の概略断面を図3に示す。本半導
体装置200は、上記半導体装置100と比べて、半導
体素子1、2を挟む電極板に、熱緩衝機能や電気絶縁機
能を有しないものを用いたものである。上記第1実施形
態との相違点について主として説明し、上記図1と同一
部分には図3中、同一符号を付してある。
【0041】本半導体装置200においては、半導体素
子1、2の両面にMoやW等よりなる熱緩衝板13、1
4を設け、これら熱緩衝板13、14の外側に電極板1
5、16を設けている。また、半導体素子1、2の他面
(図中、上方の面)側の電極板16の外側には、絶縁板
17を介して伝熱部材5が設けられている。
【0042】係る本半導体装置200においても、上記
半導体装置100と同様に、半導体素子1、2の両面か
ら放熱可能であり、その信号経路も同様である。また、
加圧機構による効果も同様である。そして、本実施形態
においても、伝熱部材5による効果は、同様に発揮さ
れ、熱膨張による変形が発生しても、半導体素子1、2
と冷却部材7との良好な熱的接触を確保できる。
【0043】(他の実施形態)なお、上記半導体装置1
00の例とは逆に、第1の電極板3が電極兼絶縁板であ
り、第2の電極板4が電極兼熱緩衝板であっても良い。
この場合、第1の電極板3と冷却部材7との間には絶縁
板6は、不要であり、代わりに、絶縁板6は、第2の電
極板4と伝熱部材5との間に介在させるようにすればよ
い。
【0044】また、IGBT素子1のエミッタ面とコレ
クタ面とは、上記半導体装置100の例とは逆であって
も良い。この場合、冷却部材7側から、第2の電極板
(コレクタ電極兼絶縁板)4、半導体素子1、2、第1
の電極板(コレクタ電極兼熱緩衝板)3、絶縁板6、伝
熱部材5、加圧プレート8、皿バネ9、ケース10とい
う順番にて構成される。
【0045】また、必要に応じて、皿バネ9はコイルバ
ネ等、他のバネ部材にて代用しても良く、さらに、圧接
状態が適度に確保可能であれば、皿バネ9等のバネ部材
は無くても良い。また、図3に示す半導体装置200に
おいては、必要に応じて熱緩衝板13、14は無いもの
としても良い。
【0046】また、半導体素子1、2外部における冷却
部材7と伝熱部材5との接触は、冷却部材7に形成され
た突起部7aを介して行っているが、伝熱部材5の可と
う性が確保されるならば、突起部7aを形成せずに、伝
熱部材5を冷却部材7側へ延ばすように変形させる等に
より、両部材5、7の接触を行っても良い。
【0047】要するに、本発明は、半導体素子の一面側
に冷却部材、他面側に可とう性及び熱伝導性を有する伝
熱部材とを設置した半導体装置であって、伝熱部材の一
部を、半導体素子の外部にて冷却部材に接触させ、伝熱
部材及び冷却部材により、半導体素子の両面から放熱可
能としたことを主たる特徴とするものであり、他の部分
は適宜設計変更して良い。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態に係る半導体装置の概略
断面図である。
【図2】図1に示す半導体装置の分解斜視図である。
【図3】本発明の第2実施形態に係る半導体装置の概略
断面図である。
【符号の説明】
1…IGBT素子、2…ダイオード、3…第1の電極
板、4…第2の電極板、5…伝熱部材、5a…可とう
部、7…冷却部材、9…皿バネ、12…中間材。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉田 貴彦 愛知県西尾市下羽角町岩谷14番地 株式会 社日本自動車部品総合研究所内 (72)発明者 橋川 淳 愛知県西尾市下羽角町岩谷14番地 株式会 社日本自動車部品総合研究所内 (72)発明者 平井 康義 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 株式会 社デンソー内 (72)発明者 野村 和仁 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 株式会 社デンソー内 Fターム(参考) 3L044 AA04 BA06 CA13 DA01 FA04 KA04 5F036 AA01 BB21 BC09 BE06 5F047 JA06 JA15 JA16

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体素子(1、2)と、 この半導体素子の一面側に設置された冷却部材(7)
    と、 前記半導体素子の他面側に設置された可とう性及び熱伝
    導性を有する材料よりなる伝熱部材(5)とを備え、 前記伝熱部材の一部が、前記半導体素子の外部にて前記
    冷却部材に接しており、 前記伝熱部材及び前記冷却部材により、前記半導体素子
    の前記一面及び前記他面から放熱可能となっていること
    を特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 半導体素子(1、2)と、 この半導体素子の一面側に設置された冷却部材(7)
    と、 前記半導体素子の他面側に設置され、その一部が他の部
    位よりもたわみやすい可とう部(5a)を有する熱伝導
    性の伝熱部材(5)とを備え、 前記伝熱部材の一部が、前記半導体素子の外部にて前記
    冷却部材に接しており、 前記伝熱部材及び前記冷却部材により、前記半導体素子
    の前記一面及び前記他面から放熱可能となっていること
    を特徴とする半導体装置。
  3. 【請求項3】 前記半導体素子(1、2)に対して前記
    冷却部材(7)及び前記伝熱部材(5)を押しつけるよ
    うに加圧する加圧機構を備えていることを特徴とする請
    求項1または2に記載の半導体装置。
  4. 【請求項4】 前記加圧機構は皿バネ(9)を有し、こ
    の皿バネを加圧力として用いるものであることを特徴と
    する請求項1ないし3のいずれか1つに記載の半導体装
    置。
  5. 【請求項5】 前記半導体素子(1、2)と前記冷却部
    材(7)及び前記伝熱部材(5)とは、熱伝導性を高め
    るための中間材(12)を介して熱的に接触しているこ
    とを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1つに記載
    の半導体装置。
  6. 【請求項6】 前記半導体素子(1、2)の一面、他面
    において、それぞれ、前記冷却部材(7)、前記伝熱部
    材(5)との間に、前記半導体素子の電極として機能す
    る電極板(3、4)が介在しており、 この電極板のすくなくとも一方は、絶縁板上に導電材を
    一体に形成したものであることを特徴とする請求項1な
    いし5のいずれか1つに記載の半導体装置。
  7. 【請求項7】 前記半導体素子(1、2)の一面、他面
    において、それぞれ、前記冷却部材(7)、前記伝熱部
    材(5)との間に、前記半導体素子の電極として機能す
    る電極板(3、4)が介在しており、 この電極板のすくなくとも一方は、熱緩衝機能を有する
    ものであることを特徴とする請求項1ないし5のいずれ
    か1つに記載の半導体装置。
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KR100701380B1 (ko) 2002-12-30 2007-03-28 동부일렉트로닉스 주식회사 열발산형 반도체 패키지 구조
JP2014033119A (ja) * 2012-08-06 2014-02-20 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
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