JP2001251039A - Glass substrate, its manufacturing method and semiconductor device - Google Patents

Glass substrate, its manufacturing method and semiconductor device

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JP2001251039A
JP2001251039A JP2000062299A JP2000062299A JP2001251039A JP 2001251039 A JP2001251039 A JP 2001251039A JP 2000062299 A JP2000062299 A JP 2000062299A JP 2000062299 A JP2000062299 A JP 2000062299A JP 2001251039 A JP2001251039 A JP 2001251039A
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JP
Japan
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glass substrate
groove
wiring pattern
glass
wiring patterns
Prior art date
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Kuniyasu Matsui
邦容 松井
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a glass substrate wherein adhesion between glass and wiring patterns is superior and one circuit can be formed by using wiring patterns formed on both surfaces, a manufacturing method of the glass substrate and a semiconductor device. SOLUTION: In the glass substrate 10, trench parts 12 which correspond to arrangement of the wiring patterns and have depth which is at least one-half of the glass substrate 10 are formed on both surfaces of a glass plate 11. Wiring patterns 14a, 14b are formed on the respective surfaces so as to be buried in the trench parts 12. Thereby the wiring patterns 14a, 14b are electrically connected with each other, and the one circuit can be formed by using the wiring patterns 14a, 14b. It is also possible that a penetrating hole is formed in the trench parts 12 with a laser light or the like, and the wiring patterns 14a and 14b are connected.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ガラス基板および
その製造方法ならびに半導体装置に係り、特にガラス基
板の両面に配線パターンを形成して用いるのに好適なも
のに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a glass substrate, a method of manufacturing the same, and a semiconductor device, and more particularly to a glass substrate suitable for forming a wiring pattern on both surfaces of a glass substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】ガラス基板は、無機系材料から形成され
る基板の一種として以前から広く利用されており、LC
D用としての利用が多い。最近では、電子機器の小型
化、軽量化を目的として、周辺回路を形成する素子を実
装することも多くなっている。
2. Description of the Related Art A glass substrate has been widely used as a kind of a substrate formed of an inorganic material.
There are many uses for D. Recently, for the purpose of reducing the size and weight of electronic devices, devices for forming peripheral circuits are often mounted.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来技術に
係るガラス基板においては、一般的にスパッタリングな
どの方法によりガラスの表面に配線パターンを形成して
いる。しかしながら、この方法により配線パターンを形
成すると、ガラスと配線パターンの密着性が必ずしも良
くない。くわえて、ガラス基板の両面に配線パターンを
形成する場合、これらを電気的に接続するためには、配
線パターンを形成する工程とは別にスルーホールを形成
する工程を設ける必要がある。
In a glass substrate according to the prior art, a wiring pattern is generally formed on the surface of glass by a method such as sputtering. However, when a wiring pattern is formed by this method, the adhesion between the glass and the wiring pattern is not always good. In addition, when wiring patterns are formed on both surfaces of the glass substrate, it is necessary to provide a step of forming a through hole separately from the step of forming the wiring pattern in order to electrically connect them.

【0004】そこで、本発明は、前記した従来技術の欠
点を解消するためになされたもので、ガラスと配線パタ
ーンの密着性が良く、積層された半導体チップと外部装
置等とを電気的に接続することが可能であるとともに、
ガラス基板の両面に形成された配線パターンを容易に接
続できるガラス基板およびその製造方法ならびに半導体
装置を提供することを目的としている。
Accordingly, the present invention has been made to solve the above-mentioned drawbacks of the prior art, and has good adhesion between glass and a wiring pattern, and electrically connects a laminated semiconductor chip to an external device or the like. It is possible to
It is an object of the present invention to provide a glass substrate that can easily connect wiring patterns formed on both surfaces of the glass substrate, a method for manufacturing the same, and a semiconductor device.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】そこで、本発明は、上記
の目的を達成するために、少なくとも一方の面に配線パ
ターンを形成してなるガラス基板において、前記配線パ
ターンを、前記配線パターンに対応して形成された前記
ガラス基板の溝部を充填するように形成してなることを
特徴とするものとした。
In order to achieve the above object, the present invention provides a glass substrate having a wiring pattern formed on at least one surface, the wiring pattern corresponding to the wiring pattern. The glass substrate is formed so as to fill the groove of the glass substrate.

【0006】このように構成した本発明においては、配
線パターンとガラスとが付着している面積が大きくなる
ので、配線パターンの密着性が良くなる。
In the present invention thus configured, the area where the wiring pattern and the glass are adhered to each other is increased, so that the adhesion of the wiring pattern is improved.

【0007】また、上記のガラス基板において、前記配
線パターンを前記ガラス基板の両面に形成するととも
に、前記溝部に形成されてなる貫通孔内において前記両
面に形成した前記配線パターン同士を接続してなること
を特徴とするものとした。
In the above glass substrate, the wiring patterns are formed on both surfaces of the glass substrate, and the wiring patterns formed on the both surfaces are connected to each other in a through hole formed in the groove. It is characterized by the following.

【0008】このように構成した本発明においては、ガ
ラス基板の両面にそれぞれ形成された配線パターン全体
で1つの回路を形成することが容易にできる。
In the present invention having such a configuration, one circuit can be easily formed by the entire wiring patterns formed on both surfaces of the glass substrate.

【0009】なお、貫通孔は、ガラス基板の両面に形成
された溝部の深さをガラス基板の厚さの半分以上にする
ことにより形成することが好ましい。溝部の深さをこの
ように設定することにより、両面の配線パターンが交差
した部分に貫通孔を簡単に形成することができる。
The through hole is preferably formed by making the depth of the groove formed on both surfaces of the glass substrate at least half the thickness of the glass substrate. By setting the depth of the groove in this way, a through hole can be easily formed at a portion where the wiring patterns on both surfaces intersect.

【0010】また、上記のガラス基板において、前記溝
部をエッチングにより形成してなることを特徴とするも
のとした。
In the above-mentioned glass substrate, the groove is formed by etching.

【0011】このように構成した本発明においては、細
密な配線パターンに対応する溝部を形成することが容易
にできる。
In the present invention having such a configuration, it is possible to easily form a groove corresponding to a fine wiring pattern.

【0012】また、上記のガラス基板において、前記配
線パターンを無電解メッキにより形成してなることを特
徴とするものとした。
Further, in the above-mentioned glass substrate, the wiring pattern is formed by electroless plating.

【0013】このように構成した本発明においては、ガ
ラスに容易に配線が形成できる。
In the present invention having such a configuration, wiring can be easily formed on glass.

【0014】また、上記のガラス基板において、前記ガ
ラス基板に光導波路を形成してなることを特徴とするも
のとした。
In the above-mentioned glass substrate, an optical waveguide is formed on the glass substrate.

【0015】このように構成した本発明においては、ガ
ラス基板を光通信等に利用することが可能になる。
In the present invention having such a configuration, the glass substrate can be used for optical communication and the like.

【0016】さらに、ガラス基板の形成方法において、
ガラス板の少なくとも片面に、形成されるべき配線パタ
ーンに対応する溝部を形成する第1の工程と、前記ガラ
ス板の前記溝部を形成した面に、前記溝部を充填するよ
うに配線パターンを形成する第2の工程と、を少なくと
も有することを特徴とするものとした。
Further, in the method for forming a glass substrate,
A first step of forming a groove corresponding to a wiring pattern to be formed on at least one surface of a glass plate; and forming a wiring pattern on the surface of the glass plate on which the groove is formed so as to fill the groove. And a second step.

【0017】このように構成した本発明においては、配
線パターンとガラスとの付着している面積が大きく、配
線パターンの密着性が良いガラス基板を製造することが
容易にできる。
In the present invention configured as described above, it is easy to manufacture a glass substrate having a large area where the wiring pattern and the glass adhere to each other and having good adhesion of the wiring pattern.

【0018】また、ガラス基板の形成方法において、前
記第1の工程と第2の工程との間に、前記溝部の所定部
位にレーザ光を照射して、前記溝部に開口部を形成する
工程を有することを特徴とするものとした。更に、前記
溝部を充填する配線パターンを形成した後、前記配線パ
ターンを溝部内にのみ残留させるように表面を研磨する
工程を有するものとすれば、溝部の内部にのみ配線を残
すことができるため、平坦な配線パターン付きのガラス
基板を製造することができる。
In the method of forming a glass substrate, a step of irradiating a predetermined portion of the groove with laser light between the first step and the second step to form an opening in the groove is provided. It is characterized by having. Furthermore, if a step of polishing the surface so as to leave the wiring pattern only in the groove after forming the wiring pattern filling the groove can be performed, the wiring can be left only inside the groove. A glass substrate with a flat wiring pattern can be manufactured.

【0019】同様に、本発明に係る製造方法は、ガラス
基板の形成方法において、ガラス板の両面に、形成され
るべき配線パターンに対応する溝部を形成する第1の工
程と、前記ガラス板の前記溝部を形成した両面に、前記
溝部を充填するように配線パターンを一括無電解めっき
で形成する第2の工程と、を有する構成とすることがで
きる。特に、斯かる構成では、工程が単純化できるメリ
ットがある。
Similarly, in the manufacturing method according to the present invention, in the method for forming a glass substrate, a first step of forming grooves corresponding to a wiring pattern to be formed on both surfaces of the glass plate; A second step of forming a wiring pattern by batch electroless plating so as to fill the groove on both surfaces where the groove is formed. In particular, such a configuration has an advantage that the process can be simplified.

【0020】このように構成した本発明においては、溝
部に設けた開口部に配線パターンを形成する材料を充填
することができるので、ガラス基板の両面に配線パター
ンを形成した場合には、両面に形成した配線パターンで
1つの回路を形成することが可能になる。また、片面の
みに配線パターンを形成した場合は、開口部の配線パタ
ーンを形成していない側にバンプ等の電気的接続を媒介
するものを設けることにより、当該ガラス基板の配線パ
ターンを形成していない側に配置される外部装置と、当
該配線パターンとを電気的に接続することが容易にでき
る。
In the present invention configured as described above, the material for forming the wiring pattern can be filled in the opening provided in the groove, so that when the wiring pattern is formed on both sides of the glass substrate, the material is formed on both sides. One circuit can be formed with the formed wiring pattern. When the wiring pattern is formed only on one side, the wiring pattern of the glass substrate is formed by providing a medium such as a bump on the side of the opening where the wiring pattern is not formed, such as a bump. It is possible to easily electrically connect an external device disposed on the non-existing side and the wiring pattern.

【0021】くわえて、少なくとも1個の半導体チップ
と、前記半導体チップを実装してなる少なくとも1枚の
ガラス基板と、を有してなる半導体装置において、前記
ガラス基板の少なくとも一方の面に溝部を形成し、当該
溝部を充填するように配線パターンを形成してなること
を特徴とするものとした。
In addition, in a semiconductor device having at least one semiconductor chip and at least one glass substrate on which the semiconductor chip is mounted, a groove is formed on at least one surface of the glass substrate. And forming a wiring pattern so as to fill the groove.

【0022】このように構成した本発明においては、配
線パターンとガラスとが付着している面積が大きくなる
ので、配線パターンの密着性が良くなり、ひいては半導
体装置の信頼性が高まる。
In the present invention configured as described above, since the area where the wiring pattern and the glass are adhered is increased, the adhesion of the wiring pattern is improved, and the reliability of the semiconductor device is improved.

【0023】また、上記の半導体装置において、前記溝
部をエッチングにより形成してなることを特徴とするも
のとした。
In the above semiconductor device, the groove is formed by etching.

【0024】このように構成した本発明においては、細
密な配線パターンに対応する溝部を形成することが容易
にできる。
In the present invention configured as described above, it is easy to form a groove corresponding to a fine wiring pattern.

【0025】また、上記の半導体装置において、前記配
線パターンを前記ガラス基板の両面に形成するととも
に、前記溝部に形成されてなる貫通孔内において前記両
面に形成した前記配線パターン同士を接続してなること
を特徴とするものとした。
In the above semiconductor device, the wiring patterns are formed on both surfaces of the glass substrate, and the wiring patterns formed on the both surfaces are connected to each other in a through hole formed in the groove. It is characterized by the following.

【0026】このように構成した本発明においては、ガ
ラス基板の両面にそれぞれ形成された配線パターン全体
で1つの回路を形成することが容易にできる。
In the present invention configured as above, one circuit can be easily formed by the entire wiring patterns formed on both surfaces of the glass substrate.

【0027】また、上記の半導体装置において、前記ガ
ラス基板に光導波路を形成してなることを特徴とするも
のとした。
In the above semiconductor device, an optical waveguide is formed on the glass substrate.

【0028】このように構成した本発明においては、ガ
ラス基板を光通信等に利用することが可能になり、ひい
ては半導体装置の用途を拡大することが可能になる。
In the present invention configured as described above, the glass substrate can be used for optical communication or the like, and the use of the semiconductor device can be expanded.

【0029】[0029]

【発明の実施の形態】以下に、本発明に係るガラス基板
およびその製造方法ならびに半導体装置の好適な実施の
形態について添付図面を参照しながら詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of a glass substrate, a method of manufacturing the same, and a semiconductor device according to the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.

【0030】図1は、本発明の実施の形態に係るガラス
基板の概略を示す斜視図である。また、図2は、本発明
の実施の形態に係るガラス基板の製造工程を説明する断
面図(1)である。また、図3は、本発明の実施の形態
に係るガラス基板の製造工程を説明する断面図(2)で
ある。また、図4は、本発明の実施の形態に係るガラス
基板の製造工程の変形例を説明する断面図である。ま
た、図4は、本発明の実施の形態に係るガラス基板の開
口部形成工程の変形例を説明する断面図である。また、
図5は、本発明の実施の形態に係るガラス基板の製造工
程の変形例を説明する断面図である。さらに、図6は、
本発明の実施の形態に係る半導体装置の概略を示す斜視
図である。
FIG. 1 is a perspective view schematically showing a glass substrate according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a cross-sectional view (1) illustrating a manufacturing process of the glass substrate according to the embodiment of the present invention. FIG. 3 is a cross-sectional view (2) for explaining the manufacturing process of the glass substrate according to the embodiment of the present invention. FIG. 4 is a cross-sectional view illustrating a modification of the manufacturing process of the glass substrate according to the embodiment of the present invention. FIG. 4 is a cross-sectional view illustrating a modification of the step of forming an opening in a glass substrate according to the embodiment of the present invention. Also,
FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating a modification of the manufacturing process of the glass substrate according to the embodiment of the present invention. Further, FIG.
FIG. 1 is a perspective view schematically showing a semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【0031】本発明の実施の形態に係るガラス基板つい
て、図1に基づいて説明する。なお、図1はガラス基板
10の一部分を表したものであり、また、配線パターン
14aは、その中央部で2つに切断された状態で表して
いる。この実施の形態に係るガラス基板10は、ガラス
板11の両面に、配線パターンの配置に対応した溝部1
2を形成している。また、溝部12を埋めるように、配
線パターン14a、14bとをそれぞれの面に形成して
いる。なお、溝部12の深さは、ガラス基板10の厚さ
の半分上の大きさを持つ。配線パターン14a、14b
の材質は、ニッケル(Ni)である。
A glass substrate according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 shows a part of the glass substrate 10, and the wiring pattern 14a is shown as being cut into two at the center thereof. The glass substrate 10 according to this embodiment has a groove 1 corresponding to an arrangement of a wiring pattern on both surfaces of a glass plate 11.
2 are formed. Further, wiring patterns 14a and 14b are formed on the respective surfaces so as to fill the grooves 12. Note that the depth of the groove 12 is half the thickness of the glass substrate 10. Wiring patterns 14a, 14b
Is nickel (Ni).

【0032】さらに、配線パターン14a、14bが交
差している部分、すなわち溝部12が交差している部分
は、2つの溝部14が重なり合うことにより溝部14の
底部が開口して、開口部16が形成されている。また、
配線パターン14a、14bは、この開口部16におい
て接続されている。よって、配線パターン14a、14
bは1つの回路を形成している。
Further, at the portion where the wiring patterns 14a and 14b intersect, that is, the portion where the groove 12 intersects, the bottom of the groove 14 is opened by the overlap of the two grooves 14, and the opening 16 is formed. Have been. Also,
The wiring patterns 14a and 14b are connected at the opening 16. Therefore, the wiring patterns 14a, 14
b forms one circuit.

【0033】以上の構成によれば、ガラス基板10は、
ガラス板11の表面に形成された溝部12を埋めるよう
に配線パターン14a、14bを形成しているので、平
坦面に配線パターンを付着させた従来のガラス基板より
も配線パターンの付着面積が大きくなり、配線パターン
14a、14bの密着性が高まる。また、配線パターン
14a、14bは、開口部16において接続されている
ので、ガラス基板11の両面に形成された配線パターン
で1つの回路を構成することが可能になる。
According to the above configuration, the glass substrate 10
Since the wiring patterns 14a and 14b are formed so as to fill the grooves 12 formed on the surface of the glass plate 11, the area for attaching the wiring patterns becomes larger than that of a conventional glass substrate having the wiring patterns attached to a flat surface. Thus, the adhesion between the wiring patterns 14a and 14b is improved. Further, since the wiring patterns 14a and 14b are connected at the opening 16, one circuit can be formed by the wiring patterns formed on both surfaces of the glass substrate 11.

【0034】なお、ガラス板11の材質は、けい酸塩ガ
ラス、ほうけい酸ガラス、合成石英ガラスなど、一般的
にガラス基板の製造に用いられるものであればどのよう
なものであっても良い。また、配線パターン14a、1
4bは、ニッケルの他に、銀(Ag)、銅(Cu)、金
(Au)など他の導電性の良い金属で形成しても良い。
さらに、ニッケル−金(Ni−Au)、ニッケル−金−
銅(Ni−Au−Cu)など無電界めっき又は電気めっ
きにより形成した積層体であってもよい。くわえて、金
属の代わりに導電性樹脂で形成するか、金属膜を形成し
た後に樹脂を充填して形成しても良い。
The glass plate 11 may be made of any material, such as silicate glass, borosilicate glass, or synthetic quartz glass, as long as it is generally used for manufacturing glass substrates. . In addition, the wiring patterns 14a, 1
4b may be made of other conductive metals such as silver (Ag), copper (Cu), and gold (Au), in addition to nickel.
Further, nickel-gold (Ni-Au), nickel-gold-
A laminate formed by electroless plating or electroplating such as copper (Ni-Au-Cu) may be used. In addition, a conductive resin may be used instead of a metal, or a resin may be filled after forming a metal film.

【0035】さらに、配線パターン14a、14bは接
続されていなくとも良い。この場合、溝部14の深さを
ガラス板11の厚さの半分よりも小さくすると、ガラス
基板10の両面に形成した溝部14が交差した部分に開
口部16が形成されないので、配線パターン14a、1
4bが接続されることがない。また、配線パターンをガ
ラス板11の片面のみに設けるものとしても良い。さら
に、1つの面に複数の回路を形成するように複数の配線
パターンを形成しても良い。また、溝部14の深さをガ
ラス板11の厚さの半分よりも小さくしておき、所定の
箇所にのみ後述する方法により貫通孔を形成して、配線
パターン14a、14bを接続しても良い。
Further, the wiring patterns 14a and 14b may not be connected. In this case, if the depth of the groove 14 is smaller than half the thickness of the glass plate 11, the opening 16 will not be formed at the intersection of the grooves 14 formed on both sides of the glass substrate 10, so that the wiring patterns 14a, 1
4b is not connected. Further, the wiring pattern may be provided on only one surface of the glass plate 11. Further, a plurality of wiring patterns may be formed such that a plurality of circuits are formed on one surface. Alternatively, the depth of the groove 14 may be smaller than half the thickness of the glass plate 11, and a through-hole may be formed only at a predetermined location by a method described later to connect the wiring patterns 14a and 14b. .

【0036】また、溝部14の深さをガラス基板11の
厚さの半分よりも小さくしたガラス基板10において、
後述するように、所定箇所にレーザ光を用いてガラス板
11を開口させることにより開口部16を形成しても良
い。このようにして開口部16を形成する場合、レーザ
光を照射する工程が必要となるが、開口部16を任意の
箇所に自在に形成することができる。
Further, in the glass substrate 10 in which the depth of the groove 14 is smaller than half the thickness of the glass substrate 11,
As will be described later, the opening 16 may be formed by opening the glass plate 11 at a predetermined location using laser light. When the opening 16 is formed in this manner, a step of irradiating a laser beam is required, but the opening 16 can be freely formed at an arbitrary position.

【0037】次に、本発明の実施の形態に係るガラス基
板の製造方法について、その概略を各工程毎に説明す
る。
Next, a method of manufacturing a glass substrate according to an embodiment of the present invention will be outlined for each step.

【0038】まず、図2(A)に示すように、ガラス板
11の両面ににフォトレジストを塗布して、フォトレジ
スト膜20a、20bを形成する。
First, as shown in FIG. 2A, a photoresist is applied to both surfaces of the glass plate 11 to form photoresist films 20a and 20b.

【0039】次に、図2(B)に示すように、フォトレ
ジスト膜20(20a、20b)の露光・現像・ポスト
ベークを行い、フォトレジスト膜20の溝部を形成する
領域、つまり配線パターンを形成する領域に対応する部
分を除去して、開口部22a、22bを形成する。
Next, as shown in FIG. 2B, exposure, development, and post-baking of the photoresist film 20 (20a, 20b) are performed to form a region for forming a groove of the photoresist film 20, ie, a wiring pattern. Openings 22a and 22b are formed by removing a portion corresponding to a region to be formed.

【0040】フォトレジスト膜20処理と成膜後の開口
部22(22a、22b)の形成処理は、片面ずつ行な
ってもよい。すなわち、片面レジスト塗布後に露光・現
像・ポストベークを行なって片面に開口22aを形成
し、次に他面側にて同様に、レジスト塗布後に露光・現
像・ポストベークを行なって他面側に開口22bを形成
するようにしてもよい。
The processing of the photoresist film 20 and the processing of forming the openings 22 (22a, 22b) after the film formation may be performed one by one. That is, exposure, development, and post-baking are performed after application of the resist on one side to form an opening 22a on one side, and then exposure, development, and post-baking are performed on the other side after application of the resist similarly on the other side. 22b may be formed.

【0041】次に、図2(C)に示すように、エッチン
グにより、ガラス板11の両面の開口部22a、22b
に対応する領域に溝部12a、12bを形成する。溝部
12a、12bの深さをガラス基板11の厚みの半分以
上に設定することにより、両溝部12a、12bは交差
部分で連通する。なお、この場合のエッチングは、ウェ
ットエッチング又はドライエッチングで行なうことがで
きるが、フッ酸等を用いて比較的容易にしかも短時間で
できるウェットエッチングで行うことが好ましい。な
お、また、溝部12は、ガラス板11にフォトレジスト
の塗布・露光・現像の工程、およびエッチングの工程を
行わずに、レーザ光を照射して形成するものとしても良
い。
Next, as shown in FIG. 2C, the openings 22a and 22b on both sides of the glass plate 11 are etched.
Are formed in regions corresponding to. By setting the depth of the grooves 12a, 12b to be at least half the thickness of the glass substrate 11, the two grooves 12a, 12b communicate at the intersection. Note that the etching in this case can be performed by wet etching or dry etching, but is preferably performed by wet etching that can be performed relatively easily and in a short time using hydrofluoric acid or the like. The groove 12 may be formed by irradiating the glass plate 11 with a laser beam without performing the steps of applying, exposing and developing a photoresist on the glass plate 11 and the step of etching.

【0042】次に、図2(D)に示すように、ガラス板
11の両面に一括でパラジウム処理を行なう。すなわ
ち、ガラス板11をパラジウム(Pd)・コロイドの溶
液に浸潤して、溝部12およびフォトレジスト膜20に
パラジウムの触媒核42を付着させる。
Next, as shown in FIG. 2D, both surfaces of the glass plate 11 are subjected to palladium treatment at once. That is, the glass plate 11 is immersed in a solution of palladium (Pd) colloid, and the catalyst core 42 of palladium is attached to the groove 12 and the photoresist film 20.

【0043】次に、図2(E)に示すように、フォトレ
ジスト膜20を除去し、続けてニッケルの無電解メッキ
を行って、ガラス板11の両面に配線パターン14a、
14bを形成する。両面の溝12が交差する箇所では両
面パターン14a、14bが導通状態となり、両面で一
つの回路が形成されることになる。
Next, as shown in FIG. 2E, the photoresist film 20 is removed, and then electroless plating of nickel is performed to form wiring patterns 14a on both surfaces of the glass plate 11.
14b is formed. At the places where the grooves 12 on both sides intersect, the two-sided patterns 14a and 14b are in a conductive state, and one circuit is formed on both sides.

【0044】ところで、配線パターンを細密化する場合
には、溝部14の深さ大きくとれない。このような場合
には、上記工程の一部を変更して以下に示すように行う
ことが好ましい。
When the wiring pattern is made finer, the depth of the groove 14 cannot be increased. In such a case, it is preferable that a part of the above steps be changed and performed as described below.

【0045】すなわち、まず、図3(A)に示すよう
に、ガラス基板11の両面にレジスト膜20a、20b
を形成し、図3(B)に示すように、フォトレジスト膜
20(20a、20b)の露光・現像・ポストベークを
行い、配線パターンを形成する領域に対応する部分を除
去して、開口部22a、22bを形成する。図3(C)
に示すように、エッチングにより、ガラス板11の両面
の開口部22a、22bに対応する領域に溝部12a、
12bを形成する。ガラス基板11の両面の溝部12
a、12bが交差する箇所は、図示のようにスルーホー
ルが形成されない。
That is, first, as shown in FIG. 3A, resist films 20a, 20b
Then, as shown in FIG. 3B, the photoresist film 20 (20a, 20b) is exposed, developed, and post-baked to remove a portion corresponding to a region where a wiring pattern is to be formed. 22a and 22b are formed. FIG. 3 (C)
As shown in FIG. 5, grooves 12a, 22a, 22b,
12b is formed. Grooves 12 on both sides of glass substrate 11
A portion where a and 12b intersect does not have a through hole as shown.

【0046】そこで、図3(D)に示すように、レーザ
光40を照射する。そうすると、溝部12内に開口部
(スルーホール)16が形成される。続けて、図3
(E)に示すように、ガラス板11をパラジウム(P
d)・コロイドの溶液に浸潤して、溝部12a、12b
およびフォトレジスト膜20、開口部16にパラジウム
の触媒核42を一括で付着させる。
Then, as shown in FIG. 3D, a laser beam 40 is irradiated. Then, an opening (through hole) 16 is formed in the groove 12. Continuing, FIG.
As shown in (E), the glass plate 11 is made of palladium (P
d) ・ The grooves 12a, 12b are infiltrated with the colloid solution.
Then, a catalyst core 42 of palladium is collectively attached to the photoresist film 20 and the opening 16.

【0047】次に、図3(F)に示すように、フォトレ
ジスト膜20を除去し、続けてガラス基板11の両面に
一括でニッケルの無電解メッキを行って、配線パターン
14a、14bを両面同時に形成する。配線パターン1
4a、14bは、開口部16において接続される。
Next, as shown in FIG. 3 (F), the photoresist film 20 is removed, and then both sides of the glass substrate 11 are subjected to electroless plating of nickel at a time to form the wiring patterns 14a and 14b on both sides. Form at the same time. Wiring pattern 1
4 a and 14 b are connected at the opening 16.

【0048】図4には、他の製造方法の工程を示してい
る。
FIG. 4 shows steps of another manufacturing method.

【0049】まず、図4(A)に示すように、ガラス基
板11の両面にレジスト膜20a、20bを形成し、次
いで図4(B)に示すように、フォトレジスト膜20
(20a、20b)の露光・現像・ポストベークを行
い、配線パターンを形成する領域に対応する部分を除去
して、開口部22a、22bを形成する。図4(C)に
示すように、エッチングにより、ガラス板11の両面の
開口部22a、22bに対応する領域に溝部12a、1
2bを形成する。ここまでの工程においても、フォトレ
ジスト膜20処理と成膜後の開口部22(22a、22
b)の形成処理は、片面ずつ行なってもよい。次に、図
4(C)に示すように、エッチングにより、ガラス板1
1の両面の開口部22a、22bに対応する領域に溝部
12a、12bを形成する。
First, as shown in FIG. 4A, resist films 20a and 20b are formed on both surfaces of the glass substrate 11, and then, as shown in FIG.
Exposure, development, and post-baking of (20a, 20b) are performed, and portions corresponding to regions where wiring patterns are to be formed are removed to form openings 22a, 22b. As shown in FIG. 4C, the grooves 12a, 1b are formed by etching in regions corresponding to the openings 22a, 22b on both surfaces of the glass plate 11.
2b is formed. Also in the steps up to this point, the openings 22 (22a, 22a) after the photoresist film 20 treatment and film formation are performed.
The formation process of b) may be performed on each side. Next, as shown in FIG. 4 (C), the glass plate 1 is etched.
Grooves 12a, 12b are formed in regions corresponding to the openings 22a, 22b on both surfaces of the first.

【0050】次に、図4(D)に示すように、両面のレ
ジスト膜20a、20bの剥離を行ない、、図4(E)
に示すように、ガラス板11の両面に一括でパラジウム
処理を行なう。すなわち、ガラス基板11をパラジウム
(Pd)・コロイドの溶液に浸潤して、溝部12および
フォトレジスト膜20にパラジウムの触媒核42を付着
させるのである。
Next, as shown in FIG. 4D, the resist films 20a and 20b on both sides are peeled off, and FIG.
As shown in (1), palladium treatment is performed on both surfaces of the glass plate 11 at once. That is, the glass substrate 11 is immersed in a solution of palladium (Pd) colloid, and the catalyst nucleus 42 of palladium is attached to the groove 12 and the photoresist film 20.

【0051】次に、図4(F)に示すように、前面に一
括でニッケルの無電解メッキを行い、最終的に図4
(G)に示す如く、配線部分以外の領域で基板11のガ
ラス表面が露出するまで、CMP(ケミカルメカニカル
ポリッシング)などの研磨手法を用いて両面を研磨し、
ガラス板11の両面に配線パターン14a、14bを確
定させるのである。
Next, as shown in FIG. 4F, electroless plating of nickel is performed on the front surface all at once, and finally, as shown in FIG.
As shown in (G), both surfaces are polished using a polishing method such as CMP (chemical mechanical polishing) until the glass surface of the substrate 11 is exposed in a region other than the wiring portion,
The wiring patterns 14a and 14b are determined on both surfaces of the glass plate 11.

【0052】上述の例はガラス基板11の両面を一括処
理することにより配線パターンを形成するものである
が、以下に説明するように、片面ずつ処理することも可
能である。
In the above-described example, the wiring pattern is formed by processing both surfaces of the glass substrate 11 collectively. However, as described below, the processing can be performed on each surface.

【0053】まず、図5(A)に示すように、ガラス板
11にフォトレジストを塗布して、フォトレジスト膜2
0を形成する。
First, as shown in FIG. 5A, a photoresist is applied to a glass plate 11 and a photoresist film 2 is formed.
0 is formed.

【0054】次に、図5(B)に示すように、フォトレ
ジスト膜20の露光・現像を行い、フォトレジスト膜2
0の溝部を形成する領域、つまり配線パターンを形成す
る領域に対応する部分を除去して、開口部22を形成す
る。
Next, as shown in FIG. 5B, the photoresist film 20 is exposed and developed, and the photoresist film 20 is exposed.
An opening 22 is formed by removing a region corresponding to a region where a groove of 0 is formed, that is, a region corresponding to a region where a wiring pattern is formed.

【0055】次に、図5(C)に示すように、エッチン
グにより、ガラス板11の開口部22に対応する領域に
溝部12を形成する。なお、溝部の深さ92は、後述す
るように、ガラス板11の両面に形成した配線パターン
の交差する部分において開口部が形成されるようにする
場合には、ガラス基板の厚さ90の2分の1より大きく
し、当該開口部が形成されないようにする場合には、ガ
ラス基板の厚さ90の2分の1より小さくする。また、
溝部12は、ガラス板11にフォトレジストの塗布・露
光・現像の工程、およびエッチングの工程を行わずに、
レーザ光を照射して形成するものとしても良い。
Next, as shown in FIG. 5C, a groove 12 is formed in a region corresponding to the opening 22 of the glass plate 11 by etching. Note that, as will be described later, when the opening is formed at the intersection of the wiring patterns formed on both surfaces of the glass plate 11, the depth 92 of the groove is set to 2 times the thickness 90 of the glass substrate. In the case where the thickness is made larger than one half and the opening is not formed, the thickness is made smaller than one half of the thickness 90 of the glass substrate. Also,
The groove portion 12 is formed without performing a process of applying, exposing, and developing a photoresist on the glass plate 11 and a process of etching.
It may be formed by irradiating a laser beam.

【0056】次に、図5(D)に示すように、ガラス板
11をパラジウム(Pd)・コロイドの溶液に浸潤し
て、溝部12およびフォトレジスト膜20にパラジウム
の触媒核42を付着させる。
Next, as shown in FIG. 5D, the glass plate 11 is immersed in a solution of palladium (Pd) colloid, and a catalyst nucleus 42 of palladium is attached to the groove 12 and the photoresist film 20.

【0057】次に、図5(E)に示すように、フォトレ
ジスト膜20を除去し、続けてニッケルの無電解メッキ
を行って、配線パターン14aを形成する。なお、配線
パターンを片面のみに形成する場合は、この工程で終了
となる。
Next, as shown in FIG. 5E, the photoresist film 20 is removed, and subsequently, electroless plating of nickel is performed to form a wiring pattern 14a. In the case where the wiring pattern is formed only on one side, the process ends.

【0058】さらに、図6(A)に示すように、ガラス
板11の配線パターン14aを形成した面と反対側の面
にフォトレジスト膜20を形成する。
Further, as shown in FIG. 6A, a photoresist film 20 is formed on the surface of the glass plate 11 opposite to the surface on which the wiring patterns 14a are formed.

【0059】次に、図6(B)に示すように、フォトレ
ジスト膜20の露光・現像・ポストベークを行い、配線
パターンを形成する領域に対応する部分を除去して、開
口部22を形成する。
Next, as shown in FIG. 6B, exposure, development and post-baking of the photoresist film 20 are performed to remove a portion corresponding to a region where a wiring pattern is to be formed, thereby forming an opening 22. I do.

【0060】次に、図6(C)に示すように、エッチン
グによりガラス板11に溝部12を形成する。これによ
り、溝部12の底部に開口部16が形成され、この開口
部16において配線パターン14aが露出する。
Next, as shown in FIG. 6C, a groove 12 is formed in the glass plate 11 by etching. As a result, an opening 16 is formed at the bottom of the groove 12, and the wiring pattern 14a is exposed in the opening 16.

【0061】次に、図6(D)に示すように、ガラス板
11をパラジウム(Pd)・コロイドの溶液に浸潤し
て、溝部12およびフォトレジスト膜20にパラジウム
の触媒核42を付着させる。
Next, as shown in FIG. 6 (D), the glass plate 11 is immersed in a solution of palladium (Pd) colloid, and the catalyst nucleus 42 of palladium is attached to the groove 12 and the photoresist film 20.

【0062】次に、図6(E)に示すように、フォトレ
ジスト膜20を除去し、続けてニッケルの無電解メッキ
を行って、配線パターン14bを形成する。配線パター
ン14a、14bは、開口部16において接続される。
Next, as shown in FIG. 6E, the photoresist film 20 is removed, and then electroless plating of nickel is performed to form a wiring pattern 14b. The wiring patterns 14a and 14b are connected at the opening 16.

【0063】なお、溝部14の深さをガラス基板11の
厚さの半分よりも小さくしたガラス基板10において、
配線パターン14a、14bを接続する場合は、上記工
程の一部を変更して以下に示すように行うことが好まし
い。
In the glass substrate 10 in which the depth of the groove 14 is smaller than half the thickness of the glass substrate 11,
When the wiring patterns 14a and 14b are connected, it is preferable to perform the following as a part of the above-mentioned process with some changes.

【0064】すなわち、まず、図7(A)に示すよう
に、ガラス基板11の一方の面に配線パターン14aを
形成し、他方の面に溝部12を形成した段階、すなわち
図6(C)に相当する段階において、溝部12にレーザ
光40を照射する。
That is, first, as shown in FIG. 7A, the wiring pattern 14a is formed on one surface of the glass substrate 11, and the groove 12 is formed on the other surface, that is, as shown in FIG. At a corresponding stage, the groove 12 is irradiated with the laser light 40.

【0065】そうすると、図7(B)に示すように、溝
部12内に開口部16が形成される。続けて、ガラス板
11をパラジウム(Pd)・コロイドの溶液に浸潤し
て、溝部12およびフォトレジスト膜20にパラジウム
の触媒核42を付着させる。
Then, as shown in FIG. 7B, an opening 16 is formed in the groove 12. Subsequently, the glass plate 11 is immersed in a solution of palladium (Pd) / colloid to attach the catalyst core 42 of palladium to the groove 12 and the photoresist film 20.

【0066】次に、図7(C)に示すように、フォトレ
ジスト膜20を除去し、続けてニッケルの無電解メッキ
を行って、配線パターン14bを形成する。配線パター
ン14a、14bは、開口部16において接続される。
Next, as shown in FIG. 7C, the photoresist film 20 is removed, and then electroless plating of nickel is performed to form a wiring pattern 14b. The wiring patterns 14a and 14b are connected at the opening 16.

【0067】また、ガラス基板の両面に配線パターンを
形成し、これらの配線パターンを接続する場合における
当該ガラス基板の製造方法については、以下に示す方法
を用いても良い。
In the case where wiring patterns are formed on both surfaces of the glass substrate and these wiring patterns are connected, the following method may be used for manufacturing the glass substrate.

【0068】すなわち、図8(A)に示すように、ガラ
ス基板の両面に形成された配線パターン同士を接続する
コンタクトとなる部分のみについて、図5および図6、
または図7に示した方法により形成する。これにより、
ガラス板11の両面に導電材36a、36bが外部に露
出した状態に形成されるとともに、導電材36a、36
bが開口部16を介して接続された状態となる。
That is, as shown in FIG. 8A, only the portions serving as contacts for connecting the wiring patterns formed on both surfaces of the glass substrate are shown in FIGS.
Alternatively, it is formed by the method shown in FIG. This allows
The conductive materials 36a and 36b are formed on both surfaces of the glass plate 11 so as to be exposed to the outside.
b is connected via the opening 16.

【0069】次に、図8(B)に示すように、導電材3
6aを含む配線パターン形成領域に、産業用のインクジ
ェットノズル38でパラジウム・コロイドの溶液また
は、パラジウムの粉体を吹き付ける。なお、パラジウム
の粉体を吹き付ける場合は、配線パターン形成領域に予
め接着剤など、ガラス板上にパラジウムの粉体を定着さ
せるものを設けておくことが好ましい。
Next, as shown in FIG.
A palladium / colloidal solution or palladium powder is sprayed onto the wiring pattern formation region including the layer 6a by the industrial inkjet nozzle 38. When palladium powder is sprayed, it is preferable to provide an adhesive or the like that fixes the palladium powder on the glass plate in advance in the wiring pattern forming region.

【0070】次に、図8(C)に示すように、ニッケル
の無電解メッキを行って、配線パターン14aを形成す
る。
Next, as shown in FIG. 8C, electroless plating of nickel is performed to form a wiring pattern 14a.

【0071】さらに、図8(D)に示すように、導電材
36b側にも同じ工程により配線パターン14bを形成
する。
Further, as shown in FIG. 8D, a wiring pattern 14b is formed on the conductive material 36b by the same process.

【0072】以上の工程により、配線パターン14a、
14bが開口部16において接続されたガラス基板10
を形成することができる。
By the above steps, the wiring patterns 14a,
The glass substrate 10 connected to the opening 14b at the opening 16
Can be formed.

【0073】さらに、本発明の実施の形態に係る半導体
装置について説明する。
Further, a semiconductor device according to an embodiment of the present invention will be described.

【0074】図9に示すように、半導体装置100は、
半導体チップ30a、30b、30cを、それぞれの能
動素子形成面を同方向に揃えた状態で積層されている。
また、半導体チップ30c上には、ガラス基板10が積
層して設けられている。また、半導体チップ30a、3
0b、30cは、絶縁樹脂32a、32bによって相互
に接着されている。さらに、半導体チップ30a、30
b、30cの図示しない電極パッドは、それぞれ半導体
チップ30a、30b、30cの側面側に露出して形成
されるとともに、導電材34に接続されている。
As shown in FIG. 9, the semiconductor device 100
The semiconductor chips 30a, 30b, and 30c are stacked with their active element forming surfaces aligned in the same direction.
The glass substrate 10 is provided on the semiconductor chip 30c in a stacked manner. In addition, the semiconductor chips 30a, 3
Ob and 30c are mutually bonded by insulating resins 32a and 32b. Further, the semiconductor chips 30a, 30
The electrode pads b, 30c (not shown) are formed so as to be exposed on the side surfaces of the semiconductor chips 30a, 30b, 30c, respectively, and are connected to the conductive material 34.

【0075】また、導電材34は、ガラス基板10に形
成された配線パターン14bに接続されている。また、
ガラス基板10には、光導波路領域18が形成されてお
り、半導体チップ30cの能動素子形成面に設けられた
図示しない受光素子および発光素子の光通信に供され
る。さらに、配線パターン14bを形成した側の面の裏
面、すなわち半導体チップ30cと相対向する側の面
に、配線パターン14aが形成されている。くわえて、
配線パターン14a、14bは、前述の構成により相互
に接続されている。
The conductive material 34 is connected to the wiring pattern 14b formed on the glass substrate 10. Also,
An optical waveguide region 18 is formed on the glass substrate 10, and is used for optical communication of a light receiving element and a light emitting element (not shown) provided on the active element forming surface of the semiconductor chip 30c. Further, the wiring pattern 14a is formed on the back surface of the surface on which the wiring pattern 14b is formed, that is, on the surface facing the semiconductor chip 30c. In addition,
The wiring patterns 14a and 14b are mutually connected by the above-described configuration.

【0076】以上説明した本発明の実施の形態によれ
ば、半導体チップ30a、30b、30cは、導電材3
4を介してガラス基板の配線パターン14a、14bに
接続されており、全体で1つの回路を形成している。ま
た、ガラス基板10には、光導波路領域18が形成され
ているので、半導体チップ30cに形成されたの図示し
ない受光素子および発光素子を用いることにより、外部
装置との光通信が可能である。したがって、半導体装置
100においては、外部装置との電気的接続および光学
的接続が可能である。
According to the embodiment of the present invention described above, the semiconductor chips 30a, 30b and 30c are
4 are connected to the wiring patterns 14a and 14b of the glass substrate via the circuit board 4 to form one circuit as a whole. In addition, since the optical waveguide region 18 is formed on the glass substrate 10, optical communication with an external device is possible by using a light receiving element and a light emitting element (not shown) formed on the semiconductor chip 30c. Therefore, in the semiconductor device 100, electrical connection and optical connection with external devices are possible.

【0077】以上述べたように、本発明の実施の形態に
係るガラス基板10は、ガラス板に溝部を設けて、配線
パターンとガラス板との接続面積を大きくして両者の密
着性を高めたので、従来技術に係るガラス基板よりも配
線パターンの密着性がよい。また、配線パターンをガラ
ス基板の表裏両面に形成し、配線パターン同士を電気的
に接続したので、比較的小型のガラス基板に複雑で大規
模な回路を形成することが可能である。さらに、ガラス
基板を小型化できる分だけ用い半導体装置の実装面積の
縮小化を図ることが可能になる。
As described above, in the glass substrate 10 according to the embodiment of the present invention, the grooves are provided in the glass plate to increase the connection area between the wiring pattern and the glass plate to enhance the adhesion between them. Therefore, the adhesion of the wiring pattern is better than that of the glass substrate according to the related art. Further, since the wiring patterns are formed on both the front and back surfaces of the glass substrate and the wiring patterns are electrically connected to each other, it is possible to form a complicated and large-scale circuit on a relatively small glass substrate. Further, it is possible to reduce the mounting area of the semiconductor device by using only the glass substrate which can be reduced in size.

【0078】[0078]

【発明の効果】以上に説明したように、本発明によれ
ば、少なくとも一方の面に配線パターンを形成してなる
ガラス基板において、前記配線パターンを、前記配線パ
ターンに対応して形成された前記ガラス基板の溝部を充
填するように形成してなる構成としているため、ガラス
と配線パターンの密着性が良くなり、信頼性の高いガラ
ス基板を製造することが可能になる。また、前記配線パ
ターンを前記ガラス基板の両面に形成するとともに、前
記溝部に形成されてなる貫通孔内において前記両面に形
成した前記配線パターン同士を接続してなる構成として
いるため、1つのガラス基板の両面に形成された複数の
配線パターンで1つの回路を形成することができる。ひ
いては、半導体装置の小型化にも寄与する。
As described above, according to the present invention, in a glass substrate having a wiring pattern formed on at least one surface, the wiring pattern is formed corresponding to the wiring pattern. Since the structure is formed so as to fill the groove of the glass substrate, the adhesion between the glass and the wiring pattern is improved, and a highly reliable glass substrate can be manufactured. In addition, since the wiring patterns are formed on both surfaces of the glass substrate and the wiring patterns formed on the both surfaces are connected to each other in a through hole formed in the groove, one glass substrate One circuit can be formed by a plurality of wiring patterns formed on both sides of the circuit. As a result, the size of the semiconductor device can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態に係るガラス基板の概略を
示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view schematically showing a glass substrate according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施の形態に係るガラス基板の第1の
製造工程例を説明する断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a first example of a manufacturing process of the glass substrate according to the embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施の形態に係るガラス基板の第2の
製造工程例を説明する断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating a second example of the manufacturing process of the glass substrate according to the embodiment of the present invention.

【図4】本発明の実施の形態に係るガラス基板の第3の
製造工程例を説明する断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view illustrating a third example of the manufacturing process of the glass substrate according to the embodiment of the present invention.

【図5】本発明の実施の形態に係るガラス基板の第4の
製造工程例を説明する断面図(1)である。
FIG. 5 is a cross-sectional view (1) illustrating a fourth example of the manufacturing process of the glass substrate according to the embodiment of the present invention.

【図6】本発明の実施の形態に係るガラス基板の第4の
製造工程例を説明する断面図(2)である。
FIG. 6 is a sectional view (2) illustrating a fourth example of the manufacturing process of the glass substrate according to the embodiment of the present invention.

【図7】本発明の実施の形態に係るガラス基板の第5の
製造工程例を説明する断面図である。
FIG. 7 is a cross-sectional view illustrating a fifth example of the manufacturing process of the glass substrate according to the embodiment of the present invention.

【図8】本発明の実施の形態に係るガラス基板の第6の
製造工程例を説明する断面図である。
FIG. 8 is a sectional view illustrating a sixth example of the manufacturing process of the glass substrate according to the embodiment of the present invention.

【図9】本発明の実施の形態に係る半導体装置の概略を
示す斜視図である。
FIG. 9 is a perspective view schematically showing a semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10………ガラス基板 11………ガラス板 12………溝部 14a………配線パターン 14b………配線パターン 16………開口部 18………光導波路領域 20………フォトレジスト膜 22………開口部 30a………半導体チップ 30b………半導体チップ 30c………半導体チップ 32a………絶縁樹脂 32b………絶縁樹脂 34………導電材 36a………導電材 36b………導電材 38………インクジェットノズル 40………レーザ光 42………触媒核 90………ガラス基板の厚さ 92………溝部の深さ 100………半導体装置 10 Glass substrate 11 Glass plate 12 Groove 14a Wiring pattern 14b Wiring pattern 16 Opening 18 Optical waveguide region 20 Photoresist film 22 Opening 30a Semiconductor chip 30b Semiconductor chip 30c Semiconductor chip 32a Insulating resin 32b Insulating resin 34 Conductive material 36a Conductive material 36b ... conductive material 38 ... inkjet nozzle 40 ... laser beam 42 ... catalyst core 90 ... thickness of glass substrate 92 ... depth of groove 100 ... semiconductor device

Claims (14)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 少なくとも一方の面に配線パターンを形
成してなるガラス基板において、 前記配線パターンを、前記配線パターンに対応して形成
された前記ガラス基板の溝部を充填するように形成して
なることを特徴とするガラス基板。
1. A glass substrate having a wiring pattern formed on at least one surface thereof, wherein the wiring pattern is formed so as to fill a groove of the glass substrate formed corresponding to the wiring pattern. A glass substrate, characterized in that:
【請求項2】 前記配線パターンを前記ガラス基板の両
面に形成するとともに、前記溝部に形成されてなる貫通
孔内において前記両面に形成した前記配線パターン同士
を接続してなることを特徴とする請求項1に記載のガラ
ス基板。
2. The method according to claim 1, wherein the wiring patterns are formed on both surfaces of the glass substrate, and the wiring patterns formed on the both surfaces are connected to each other in a through hole formed in the groove. Item 2. The glass substrate according to Item 1.
【請求項3】 前記溝部をエッチングにより形成してな
ることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のガ
ラス基板。
3. The glass substrate according to claim 1, wherein the groove is formed by etching.
【請求項4】 前記配線パターンを無電解メッキにより
形成してなることを特徴とする請求項1ないし請求項3
のいずれかに記載のガラス基板。
4. The wiring pattern according to claim 1, wherein said wiring pattern is formed by electroless plating.
The glass substrate according to any one of the above.
【請求項5】 前記ガラス基板に光導波路を形成してな
ることを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか
に記載のガラス基板。
5. The glass substrate according to claim 1, wherein an optical waveguide is formed on the glass substrate.
【請求項6】 ガラス基板の形成方法において、 ガラス板の少なくとも片面に、形成されるべき配線パタ
ーンに対応する溝部を形成する第1の工程と、 前記ガラス板の前記溝部を形成した面に、前記溝部を充
填するように配線パターンを形成する第2の工程と、を
少なくとも有することを特徴とするガラス基板の製造方
法。
6. A method for forming a glass substrate, comprising: a first step of forming a groove corresponding to a wiring pattern to be formed on at least one surface of a glass plate; and forming a groove on the surface of the glass plate on which the groove is formed. And a second step of forming a wiring pattern so as to fill the groove.
【請求項7】 前記第1の工程と第2の工程との間に、
前記溝部の所定部位にレーザ光を照射して、前記溝部に
開口部を形成する工程を有することを特徴とする請求項
6に記載のガラス基板の製造方法。
7. The method according to claim 1, further comprising the step of:
The method for manufacturing a glass substrate according to claim 6, further comprising a step of irradiating a predetermined portion of the groove with a laser beam to form an opening in the groove.
【請求項8】 前記溝部を充填する配線パターンを形成
した後、前記配線パターンを溝部内にのみ残留させるよ
うに表面を研磨する工程を有することを特徴とする請求
項6または7に記載のガラス基板の製造方法。
8. The glass according to claim 6, further comprising, after forming a wiring pattern filling the groove, polishing the surface so that the wiring pattern remains only in the groove. Substrate manufacturing method.
【請求項9】 ガラス基板の形成方法において、 ガラス板の両面に、形成されるべき配線パターンに対応
する溝部を形成する第1の工程と、 前記ガラス板の前記溝部を形成した両面に、前記溝部を
充填するように配線パターンを一括無電解めっきで形成
する第2の工程と、を有することを特徴とするガラス基
板の製造方法。
9. A method for forming a glass substrate, comprising: a first step of forming grooves corresponding to a wiring pattern to be formed on both surfaces of a glass plate; and forming the grooves on both surfaces of the glass plate where the grooves are formed. A second step of forming a wiring pattern by collective electroless plating so as to fill the groove, and a method of manufacturing a glass substrate.
【請求項10】 少なくとも1個の半導体チップと、前
記半導体チップを実装してなる少なくとも1枚のガラス
基板と、を有してなる半導体装置において、 前記ガラス基板の少なくとも一方の面に溝部を形成し、
当該溝部を充填するように配線パターンを形成してなる
ことを特徴とする半導体装置。
10. A semiconductor device having at least one semiconductor chip and at least one glass substrate on which the semiconductor chip is mounted, wherein a groove is formed on at least one surface of the glass substrate. And
A semiconductor device comprising a wiring pattern formed so as to fill the groove.
【請求項11】 前記溝部をエッチングにより形成して
なることを特徴とする請求項8に記載の半導体装置。
11. The semiconductor device according to claim 8, wherein said groove is formed by etching.
【請求項12】 前記配線パターンを無電解メッキによ
り形成してなることを特徴とする請求項8または請求項
9に記載の半導体装置。
12. The semiconductor device according to claim 8, wherein said wiring pattern is formed by electroless plating.
【請求項13】 前記配線パターンを前記ガラス基板の
両面に形成するとともに、前記ガラス基板に形成してな
る貫通孔内において当該両面に形成した前記配線パター
ン同士を接続してなることを特徴とする請求項8ないし
請求項10のいずれかに記載の半導体装置。
13. The wiring pattern is formed on both surfaces of the glass substrate, and the wiring patterns formed on both surfaces are connected to each other in a through hole formed in the glass substrate. The semiconductor device according to claim 8.
【請求項14】 前記ガラス基板に光導波路を形成して
なることを特徴とする請求項8ないし請求項11のいず
れかに記載の半導体装置。
14. The semiconductor device according to claim 8, wherein an optical waveguide is formed on said glass substrate.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004323885A (en) * 2003-04-23 2004-11-18 Shinko Electric Ind Co Ltd Electroless plating method
WO2004110117A1 (en) * 2003-06-04 2004-12-16 Zeon Corporation Substrate and process for producing the same
EP2115781A4 (en) * 2007-02-02 2015-10-07 Solfocus Inc Metal trace fabrication for optical element
WO2020157154A3 (en) * 2019-02-01 2020-11-05 Lpkf Laser & Electronics Ag Metallized microstructures in glass slides

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004323885A (en) * 2003-04-23 2004-11-18 Shinko Electric Ind Co Ltd Electroless plating method
WO2004110117A1 (en) * 2003-06-04 2004-12-16 Zeon Corporation Substrate and process for producing the same
KR100803426B1 (en) * 2003-06-04 2008-02-13 니폰 제온 가부시키가이샤 Substrate and process for producing the same
EP2115781A4 (en) * 2007-02-02 2015-10-07 Solfocus Inc Metal trace fabrication for optical element
WO2020157154A3 (en) * 2019-02-01 2020-11-05 Lpkf Laser & Electronics Ag Metallized microstructures in glass slides

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