JP2001249305A - 光アイソレータ - Google Patents
光アイソレータInfo
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- JP2001249305A JP2001249305A JP2000063125A JP2000063125A JP2001249305A JP 2001249305 A JP2001249305 A JP 2001249305A JP 2000063125 A JP2000063125 A JP 2000063125A JP 2000063125 A JP2000063125 A JP 2000063125A JP 2001249305 A JP2001249305 A JP 2001249305A
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- JP
- Japan
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- optical isolator
- optical
- analyzer
- magnet
- polarizer
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Abstract
(57)【要約】
【課題】光アイソレータの性能試験をする際に用いられ
る機器のレンズ等の光学部品、あるいは、半導体レーザ
モジュールを作製する際にともに組み込まれるレンズ等
の光学部品を傷つけることがない、小型で高性能な光ア
イソレータを提供する。 【解決手段】光アイソレータ１は、光の入出射する方向
に偏光子３、ファラデー回転子４および検光子５がこの
順で一体に並べられ、それらの一側面に磁石８が配置さ
れた光アイソレータであって、この方向で磁石８の両端
面７・９が各々、偏光子３の表面２および検光子５の表
面６よりも後退している。
る機器のレンズ等の光学部品、あるいは、半導体レーザ
モジュールを作製する際にともに組み込まれるレンズ等
の光学部品を傷つけることがない、小型で高性能な光ア
イソレータを提供する。 【解決手段】光アイソレータ１は、光の入出射する方向
に偏光子３、ファラデー回転子４および検光子５がこの
順で一体に並べられ、それらの一側面に磁石８が配置さ
れた光アイソレータであって、この方向で磁石８の両端
面７・９が各々、偏光子３の表面２および検光子５の表
面６よりも後退している。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光通信や光計測の
際に、レンズや半導体レーザと共に使用される光学部品
であって、レンズ等を傷つけることがない小型で高性能
な光アイソレータに関するものである。
際に、レンズや半導体レーザと共に使用される光学部品
であって、レンズ等を傷つけることがない小型で高性能
な光アイソレータに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光通信や光計測には光源として半導体レ
ーザが用いられる。半導体レーザで発振した伝送光は光
学系を介して伝送される。その際、一部の光が途中の光
学系の入射端面で反射して光源まで戻るとレーザ発振が
不安定になる。光アイソレータは、そのような戻り光を
遮断するためにレーザと光学系との間に配置されて使用
される光学部品であり、磁石による磁場中で偏光子とフ
ァラデー回転子と検光子とがこの順に並べられたもので
ある。
ーザが用いられる。半導体レーザで発振した伝送光は光
学系を介して伝送される。その際、一部の光が途中の光
学系の入射端面で反射して光源まで戻るとレーザ発振が
不安定になる。光アイソレータは、そのような戻り光を
遮断するためにレーザと光学系との間に配置されて使用
される光学部品であり、磁石による磁場中で偏光子とフ
ァラデー回転子と検光子とがこの順に並べられたもので
ある。
【０００３】このような光アイソレータをレンズや半導
体レーザとともに一体に組み込んだ半導体レーザモジュ
ールの作製のためには、光アイソレータを小型化する必
要がある。小型化のために特開平１０−２２７９９６号
公報には、偏光子とファラデー回転子と検光子とがその
側面で磁石に挟まれて基板上に設置された光アイソレー
タが開示されている。さらに小型化するために、本出願
人は特願平１１−２８８９４３号で、偏光子とファラデ
ー回転子と検光子との一側面に磁石が載置された光アイ
ソレータを出願している。
体レーザとともに一体に組み込んだ半導体レーザモジュ
ールの作製のためには、光アイソレータを小型化する必
要がある。小型化のために特開平１０−２２７９９６号
公報には、偏光子とファラデー回転子と検光子とがその
側面で磁石に挟まれて基板上に設置された光アイソレー
タが開示されている。さらに小型化するために、本出願
人は特願平１１−２８８９４３号で、偏光子とファラデ
ー回転子と検光子との一側面に磁石が載置された光アイ
ソレータを出願している。
【０００４】これらの光アイソレータは、硬い磁性金属
材料である磁石の表面が何ら保護されずに露出している
ものである。そのため、光アイソレータを作製しその挿
入損失等の性能試験をする際、用いられる測定機器のレ
ンズ等のガラス表面が磁石に接触すると傷ついてしま
う。
材料である磁石の表面が何ら保護されずに露出している
ものである。そのため、光アイソレータを作製しその挿
入損失等の性能試験をする際、用いられる測定機器のレ
ンズ等のガラス表面が磁石に接触すると傷ついてしま
う。
【０００５】さらに、半導体レーザモジュールを作製す
る際、光学軸方向を所望の方向に合わせるため光アイソ
レータの位置を調整しつつ、レンズや半導体レーザとと
もに組み込むときにレンズ等のガラス表面が磁石に接触
すると傷ついてしまう。その結果、半導体レーザモジュ
ールとしての性能が低下するという問題があった。
る際、光学軸方向を所望の方向に合わせるため光アイソ
レータの位置を調整しつつ、レンズや半導体レーザとと
もに組み込むときにレンズ等のガラス表面が磁石に接触
すると傷ついてしまう。その結果、半導体レーザモジュ
ールとしての性能が低下するという問題があった。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明は前記の課題を
解決するためなされたもので、光アイソレータの性能試
験をする際に用いられる測定機器のレンズ等の光学部
品、あるいは半導体レーザモジュールを作製する際にと
もに組み込まれるレンズ等の光学部品を傷つけることが
ない、小型で高性能な光アイソレータを提供することを
目的とする。
解決するためなされたもので、光アイソレータの性能試
験をする際に用いられる測定機器のレンズ等の光学部
品、あるいは半導体レーザモジュールを作製する際にと
もに組み込まれるレンズ等の光学部品を傷つけることが
ない、小型で高性能な光アイソレータを提供することを
目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めになされた本発明の光アイソレータ１は、実施例に対
応する図１を参照して説明すると、光の入出射する方向
に偏光子３、ファラデー回転子４および検光子５がこの
順で一体に並べられ、それらの一側面に磁石８が配置さ
れた光アイソレータであって、この方向で磁石８の両端
面７・９が各々、偏光子３の表面２および検光子５の表
面６よりも後退している。
めになされた本発明の光アイソレータ１は、実施例に対
応する図１を参照して説明すると、光の入出射する方向
に偏光子３、ファラデー回転子４および検光子５がこの
順で一体に並べられ、それらの一側面に磁石８が配置さ
れた光アイソレータであって、この方向で磁石８の両端
面７・９が各々、偏光子３の表面２および検光子５の表
面６よりも後退している。
【０００８】磁石８の両端面７・９が後退していると、
光アイソレータ１の性能試験をする際、あるいは光アイ
ソレータ１への光の入出射方向の軸調整しつつ半導体レ
ーザモジュールを作製する際に、レンズをはじめとする
他の光学部品と光アイソレータとが接触しても、レンズ
等は偏光子３の表面２の縁や検光子５の縁に当接するだ
けである。レンズ等は磁石８と接触しないので、レンズ
等のガラス表面が傷つかない。
光アイソレータ１の性能試験をする際、あるいは光アイ
ソレータ１への光の入出射方向の軸調整しつつ半導体レ
ーザモジュールを作製する際に、レンズをはじめとする
他の光学部品と光アイソレータとが接触しても、レンズ
等は偏光子３の表面２の縁や検光子５の縁に当接するだ
けである。レンズ等は磁石８と接触しないので、レンズ
等のガラス表面が傷つかない。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を詳細に説
明する。図１は、本発明を適用する光アイソレータの実
施例の斜視図である。
明する。図１は、本発明を適用する光アイソレータの実
施例の斜視図である。
【００１０】光アイソレータ１は、光の入出射する方向
に並んだ偏光ガラス製の偏光子３、ガーネット結晶体で
あるファラデー回転子４および偏光ガラス製の検光子５
と、それらの側面に光の入出射する方向と平行して配置
された磁石８とからなっている。
に並んだ偏光ガラス製の偏光子３、ガーネット結晶体で
あるファラデー回転子４および偏光ガラス製の検光子５
と、それらの側面に光の入出射する方向と平行して配置
された磁石８とからなっている。
【００１１】偏光子３および検光子５の片面に空気用無
反射コート層が施され、別な片面には接着剤用無反射コ
ート層が施されている。ファラデー回転子の両面には接
着剤用無反射コートが施されている。
反射コート層が施され、別な片面には接着剤用無反射コ
ート層が施されている。ファラデー回転子の両面には接
着剤用無反射コートが施されている。
【００１２】偏光子３の接着剤用無反射コート層の施さ
れた面とファラデー回転子４の片面、検光子５の接着剤
用無反射コート層の施された面とファラデー回転子４の
別な片面が各々、接着剤を介して接着されて、直方体の
光学素子を形成している。
れた面とファラデー回転子４の片面、検光子５の接着剤
用無反射コート層の施された面とファラデー回転子４の
別な片面が各々、接着剤を介して接着されて、直方体の
光学素子を形成している。
【００１３】偏光子３、ファラデー回転子４および検光
子５の直方体の一側面に、磁石８が接着剤により接合固
定されている。
子５の直方体の一側面に、磁石８が接着剤により接合固
定されている。
【００１４】偏光子３の表面２と平行な、磁石８の一方
の端面７が、偏光子３の表面２よりも後退している。こ
の端面７は、偏光子３とファラデー回転子４との接触面
よりも突出している。
の端面７が、偏光子３の表面２よりも後退している。こ
の端面７は、偏光子３とファラデー回転子４との接触面
よりも突出している。
【００１５】一方、検光子５の表面６と平行な、この磁
石８の他方の端面９が、検光子５の表面６よりも後退し
ている。この端面９は、検光子５とファラデー回転子４
との接触面よりも突出している。
石８の他方の端面９が、検光子５の表面６よりも後退し
ている。この端面９は、検光子５とファラデー回転子４
との接触面よりも突出している。
【００１６】この光アイソレータを試作した例について
説明する。実施例１および２は本発明を適用する光アイ
ソレータを試作した例であり、比較例１および２は本発
明を適用外の光アイソレータを試作した例である。
説明する。実施例１および２は本発明を適用する光アイ
ソレータを試作した例であり、比較例１および２は本発
明を適用外の光アイソレータを試作した例である。
【００１７】（実施例１）四方１５ｍｍで厚さ０．５ｍ
ｍの２枚の偏光ガラスの片面に、真空蒸着によりＴｉ２
Ｏ３およびＳｉＯ２からなる空気用無反射コート層を形
成させる。別な片面に、真空蒸着によりＴｉ２Ｏ３およ
びＳｉＯ２からなる接着剤用無反射コート層を形成させ
る。四方１５ｍｍで厚さ０．４ｍｍのビスマス置換希土
類鉄ガーネット単結晶の両面に真空蒸着によりＡｌ２Ｏ
３およびＳｉＯ２からなる接着剤用無反射コート層を形
成させる。
ｍの２枚の偏光ガラスの片面に、真空蒸着によりＴｉ２
Ｏ３およびＳｉＯ２からなる空気用無反射コート層を形
成させる。別な片面に、真空蒸着によりＴｉ２Ｏ３およ
びＳｉＯ２からなる接着剤用無反射コート層を形成させ
る。四方１５ｍｍで厚さ０．４ｍｍのビスマス置換希土
類鉄ガーネット単結晶の両面に真空蒸着によりＡｌ２Ｏ
３およびＳｉＯ２からなる接着剤用無反射コート層を形
成させる。
【００１８】接着剤として熱硬化型シリコン樹脂である
シリコンを介して、２枚の偏光ガラスの各々の接着用反
射コート層を、ガーネット単結晶の両面の接着剤用無反
射コート層に重ね合わせる。磁場中でこれに順方向およ
び逆方向から各々偏光を入射する。偏光ガラスを重ね合
わせる角度を調整して、順方向での挿入損失が最小であ
り、かつ逆方向での挿入損失が最大になるところで、接
着剤で固定させる。これを、四方１ｍｍで厚さＤが１．
４ｍｍの直方体に切断すると、偏光子３、ファラデー回
転子４、検光子５の順に並んだ光学素子が得られる。
シリコンを介して、２枚の偏光ガラスの各々の接着用反
射コート層を、ガーネット単結晶の両面の接着剤用無反
射コート層に重ね合わせる。磁場中でこれに順方向およ
び逆方向から各々偏光を入射する。偏光ガラスを重ね合
わせる角度を調整して、順方向での挿入損失が最小であ
り、かつ逆方向での挿入損失が最大になるところで、接
着剤で固定させる。これを、四方１ｍｍで厚さＤが１．
４ｍｍの直方体に切断すると、偏光子３、ファラデー回
転子４、検光子５の順に並んだ光学素子が得られる。
【００１９】磁石８には、端面が１ｍｍ×０．５ｍｍで
長さｄが１．２ｍｍのサマリウムコバルト磁石を用い
る。磁石８は、その両端面７・９を光学素子への光の入
出射方向と垂直にして配置される。磁石８は、その両端
面７・９を各々、偏光子３の表面２および検光子５の表
面６から同等な距離だけ後退させた位置に配置される。
偏光子３、ファラデー回転子４および検光子５の一側面
に、接着剤であるシリコンを介して接合固定すると、光
アイソレータ１が得られる。
長さｄが１．２ｍｍのサマリウムコバルト磁石を用い
る。磁石８は、その両端面７・９を光学素子への光の入
出射方向と垂直にして配置される。磁石８は、その両端
面７・９を各々、偏光子３の表面２および検光子５の表
面６から同等な距離だけ後退させた位置に配置される。
偏光子３、ファラデー回転子４および検光子５の一側面
に、接着剤であるシリコンを介して接合固定すると、光
アイソレータ１が得られる。
【００２０】（実施例２）偏光子とファラデー回転子と
検光子の一側面を磁石に接合している面は、Ｎｉ／Ａｕ
で真空蒸着メッキ処理を施しハンダ溶接で固定されてい
ること以外、実施例１と同様にして、光アイソレータを
得た。
検光子の一側面を磁石に接合している面は、Ｎｉ／Ａｕ
で真空蒸着メッキ処理を施しハンダ溶接で固定されてい
ること以外、実施例１と同様にして、光アイソレータを
得た。
【００２１】（比較例１および２）磁石の長さｄを各
々、１．４ｍｍおよび１．６ｍｍにしたこと以外は実施
例１と同様にして、光アイソレータを得た。
々、１．４ｍｍおよび１．６ｍｍにしたこと以外は実施
例１と同様にして、光アイソレータを得た。
【００２２】実施例１、２、および比較例１、２で得た
光アイソレータの逆方向の挿入損失を表１に示す。いず
れも優れた特性を有している。
光アイソレータの逆方向の挿入損失を表１に示す。いず
れも優れた特性を有している。
【００２３】次いで、光アイソレータへ入出射する光の
光学軸方向を所望の方向に合わせるため光アイソレータ
の位置を調整しつつ、各々の光アイソレータをレンズと
半導体レーザと一体に組み込み、半導体レーザモジュー
ルを作製した。
光学軸方向を所望の方向に合わせるため光アイソレータ
の位置を調整しつつ、各々の光アイソレータをレンズと
半導体レーザと一体に組み込み、半導体レーザモジュー
ルを作製した。
【００２４】そのとき、レンズおよび半導体レーザのガ
ラス表面の傷の有無を、顕微鏡で５０倍に拡大すること
により観察した結果を表１に示す。
ラス表面の傷の有無を、顕微鏡で５０倍に拡大すること
により観察した結果を表１に示す。
【００２５】
【表１】
【００２６】表１から明らかなとおり、本発明である実
施例１および２の各々の光アイソレータを用い半導体モ
ジュールを作製したとき、レンズのガラス表面と半導体
レーザのガラス表面とには傷が認められなかった。一
方、本発明を適用外で磁石の長さｄが長い比較例１およ
び２の光アイソレータを用いたとき、レンズや半導体レ
ーザのガラス表面には傷が認められた。
施例１および２の各々の光アイソレータを用い半導体モ
ジュールを作製したとき、レンズのガラス表面と半導体
レーザのガラス表面とには傷が認められなかった。一
方、本発明を適用外で磁石の長さｄが長い比較例１およ
び２の光アイソレータを用いたとき、レンズや半導体レ
ーザのガラス表面には傷が認められた。
【００２７】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように本発明の光
アイソレータは、光アイソレータの性能試験をする際に
用いられる測定機器のレンズ等の光学部品、半導体レー
ザモジュールを作製する際にともに組み込まれるレンズ
等の光学部品を傷つけることがない。光アイソレータは
小型で高性能である。
アイソレータは、光アイソレータの性能試験をする際に
用いられる測定機器のレンズ等の光学部品、半導体レー
ザモジュールを作製する際にともに組み込まれるレンズ
等の光学部品を傷つけることがない。光アイソレータは
小型で高性能である。
【図１】本発明を適用する光アイソレータの実施例を示
す斜視図である。
す斜視図である。
１は光アイソレータ、２は偏光子表面、３は偏光子、４
はファラデー回転子、５は検光子、６は検光子表面、７
・９は磁石端面、８は磁石、Ｄは厚さ、ｄは長さであ
る。
はファラデー回転子、５は検光子、６は検光子表面、７
・９は磁石端面、８は磁石、Ｄは厚さ、ｄは長さであ
る。
Claims (1)
- 【請求項１】 光の入出射する方向に偏光子、ファラ
デー回転子および検光子がこの順で一体に並べられ、そ
れらの一側面に磁石が配置された光アイソレータであっ
て、該方向で該磁石の両端面が各々、該偏光子の表面お
よび該検光子の表面よりも後退していることを特徴とす
る光アイソレータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000063125A JP2001249305A (ja) | 2000-03-08 | 2000-03-08 | 光アイソレータ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000063125A JP2001249305A (ja) | 2000-03-08 | 2000-03-08 | 光アイソレータ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001249305A true JP2001249305A (ja) | 2001-09-14 |
Family
ID=18583035
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000063125A Pending JP2001249305A (ja) | 2000-03-08 | 2000-03-08 | 光アイソレータ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001249305A (ja) |
-
2000
- 2000-03-08 JP JP2000063125A patent/JP2001249305A/ja active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050720 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050726 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050922 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051019 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051219 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060123 |