JP2001237543A - Printed wiring board - Google Patents
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- JP2001237543A JP2001237543A JP2001020022A JP2001020022A JP2001237543A JP 2001237543 A JP2001237543 A JP 2001237543A JP 2001020022 A JP2001020022 A JP 2001020022A JP 2001020022 A JP2001020022 A JP 2001020022A JP 2001237543 A JP2001237543 A JP 2001237543A
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- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、多層プリント配線
板の製造方法に関し、特に、セミアディティブ法により
形成した導体回路の表面凹凸に起因する層間樹脂絶縁層
の表面凹凸を有利に防止し得る方法についての提案であ
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a multilayer printed wiring board, and more particularly to a method for advantageously preventing surface irregularities of an interlayer resin insulating layer due to surface irregularities of a conductor circuit formed by a semi-additive method. It is a proposal about.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、多層配線基板の高密度化という要
請から、いわゆるビルドアップ多層配線基板が注目され
ている。このビルドアップ多層配線基板は、例えば特公
平4−55555 号公報に開示されているような方法により
製造される。即ち、コア基板上に、感光性の無電解めっ
き用接着剤からなる層間樹脂絶縁剤を塗布し、これを乾
燥したのち露光現像することにより、バイアホール用開
口を有する層間樹脂絶縁層を形成し、次いで、この層間
樹脂絶縁層の表面を酸化剤等による処理にて粗化したの
ち、その粗化面に感光性の樹脂層を露光現像処理してな
るめっきレジストを設け、その後、レジスト非形成部分
に無電解めっきを施してバイアホールを含む導体回路パ
ターンを形成し、このような工程を複数回繰り返すこと
により、多層化したビルドアップ配線基板が得られるの
である。2. Description of the Related Art In recent years, so-called build-up multilayer wiring boards have been receiving attention due to a demand for higher density of the multilayer wiring boards. This build-up multilayer wiring board is manufactured by a method disclosed in, for example, Japanese Patent Publication No. 4-55555. That is, on the core substrate, an interlayer resin insulating agent made of a photosensitive electroless plating adhesive is applied, dried and exposed and developed to form an interlayer resin insulating layer having an opening for a via hole. Then, after the surface of the interlayer resin insulating layer is roughened by a treatment with an oxidizing agent or the like, a plating resist obtained by exposing and developing a photosensitive resin layer on the roughened surface is provided. By performing electroless plating on the portion to form a conductive circuit pattern including via holes and repeating such a process a plurality of times, a multilayered build-up wiring board can be obtained.
【0003】このような方法で製造されるビルドアップ
多層配線基板は、めっきレジストと導体回路の界面での
密着性が悪い。そのため、この種のビルドアップ多層配
線基板は、ICチップ等を搭載した場合、めっきレジス
トと導体回路の熱膨張率差に起因して、これらの界面を
起点とするクラックが層間樹脂絶縁層に発生するという
問題があった。The build-up multilayer wiring board manufactured by such a method has poor adhesion at the interface between the plating resist and the conductor circuit. Therefore, when this type of build-up multilayer wiring board is mounted with an IC chip or the like, cracks originating at the interface between the plating resist and the conductor circuit are generated in the interlayer resin insulation layer due to a difference in thermal expansion coefficient between the plating resist and the conductor circuit. There was a problem of doing.
【0004】これに対し従来、上述した問題を解消でき
る技術として、導体回路の少なくとも側面を粗化処理す
ることにより、その導体回路上に形成される層間樹脂絶
縁層との密着性を改善する方法がある。この方法は、上
記ビルドアップ多層配線基板の製造に適用するには、導
体回路を粗化処理するに先立ち、めっきレジストを除去
することが必要となる。そのため、めっきレジストを除
去して上記問題を解消できるビルドアップ多層配線基板
を製造する方法として、例えばセミアディティブ法が挙
げられる。On the other hand, as a technique capable of solving the above-mentioned problem, a method of improving the adhesion to an interlayer resin insulating layer formed on a conductor circuit by roughening at least a side surface of the conductor circuit has been proposed. There is. In order to apply this method to the manufacture of the build-up multilayer wiring board, it is necessary to remove the plating resist prior to the roughening treatment of the conductor circuit. Therefore, as a method of manufacturing a build-up multilayer wiring board capable of solving the above problem by removing the plating resist, a semi-additive method is exemplified.
【0005】このセミアディティブ法は、まず、層間樹
脂絶縁層の表面に粗化面を設け、その粗化面全体に無電
解めっきを薄く施し、次いで、その無電解めっき膜の非
導体部分にめっきレジストを形成し、そのレジスト非形
成部分に電解めっきを厚く施した後、そのめっきレジス
トとめっきレジスト下の無電解めっき膜を除去すること
により、導体回路パターンを形成する方法である。In this semi-additive method, first, a roughened surface is provided on the surface of an interlayer resin insulating layer, electroless plating is thinly applied on the entire roughened surface, and then a non-conductive portion of the electroless plated film is plated. This is a method of forming a conductive circuit pattern by forming a resist, applying a thick electrolytic plating to a portion where the resist is not formed, and removing the plating resist and an electroless plating film under the plating resist.
【0006】従って、このようにしてセミアディティブ
法により形成した導体回路は、少なくとも側面を粗化処
理することによって、その導体回路上に形成される層間
樹脂絶縁層との密着性が改善される。[0006] Therefore, the conductor circuit formed by the semi-additive method in this manner is improved in adhesion to an interlayer resin insulating layer formed on the conductor circuit by roughening at least the side surface.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このセ
ミアディティブ法により形成した導体回路は、その導体
回路間にめっきレジストが存在しないので、その表面が
凹凸となる。そのため、この導体回路の層上にさらに層
間樹脂絶縁層を形成すると、その層間樹脂絶縁層の表面
には、導体回路の表面凹凸に起因する凹凸が生じる。そ
の結果、セミアディティブ法により多層配線基板を製造
する場合、導体回路の表面凹凸が原因となって、露光現
像によるバイアホール形成用開口の形成不良を招いた
り、ICチップなどの実装不良を招くといった他の問題
があった。また、セミアディティブ法では、導体回路間
に層間樹脂が流れ込むため、全体的に層間樹脂絶縁層が
薄くなる傾向が見られる一方で、この層間樹脂絶縁層を
露光、現像処理すると、表層が現像液に溶けてしまい、
層間樹脂絶縁層が薄くなる(いわゆる膜減り)という問
題があった。さらに、セミアディティブ法では、粗化面
全体に形成した無電解めっき膜のうち、導体を構成しな
い無電解めっき膜をエッチングで除去する必要がある。
そのため、粗化面のアンカーが深すぎると、無電解めっ
き膜をエッチング除去しきれないことから、粗化面のア
ンカー深さは1〜5μm程度と浅くしなければならな
い。ところが、このようなアンカー深さの浅い粗化面で
は、導体回路と層間樹脂絶縁層との密着強度(ピール強
度)が低下してしまうという問題があった。However, the surface of the conductor circuit formed by the semi-additive method is uneven because no plating resist exists between the conductor circuits. Therefore, when an interlayer resin insulating layer is further formed on the layer of the conductor circuit, irregularities due to the surface irregularities of the conductor circuit occur on the surface of the interlayer resin insulating layer. As a result, when a multilayer wiring board is manufactured by the semi-additive method, the formation of via hole forming openings due to exposure and development or the mounting failure of an IC chip or the like is caused due to the surface unevenness of the conductor circuit. There were other problems. In addition, in the semi-additive method, since the interlayer resin flows between the conductive circuits, the interlayer resin insulating layer tends to be thinner as a whole. On the other hand, when the interlayer resin insulating layer is exposed and developed, the surface layer becomes a developing solution. Melted into
There is a problem that the interlayer resin insulating layer becomes thin (so-called film reduction). Furthermore, in the semi-additive method, of the electroless plating films formed on the entire roughened surface, it is necessary to remove the electroless plating films that do not constitute a conductor by etching.
Therefore, if the anchor on the roughened surface is too deep, the electroless plating film cannot be completely removed by etching, so the anchor depth on the roughened surface must be as shallow as about 1 to 5 μm. However, on such a roughened surface having a small anchor depth, there is a problem that the adhesion strength (peel strength) between the conductor circuit and the interlayer resin insulating layer is reduced.
【0008】本発明は、従来技術が抱える上述した問題
を解消するための技術を提案する。すなわち、本発明の
主たる目的は、内層の導体回路に表面凹凸が存在してい
ても、層間樹脂絶縁層の表面を平坦化することのできる
多層プリント配線板の製造方法を提案することにある。
また、本発明の他の目的は、感光性の層間樹脂絶縁剤が
抱えるいわゆる膜減りの問題を解決し、アンカー深さの
浅い粗化面でも実用的なピール強度を得ることができる
多層プリント配線板の製造方法を提案することにある。[0008] The present invention proposes a technique for solving the above-mentioned problems of the prior art. That is, a main object of the present invention is to propose a method for manufacturing a multilayer printed wiring board that can flatten the surface of an interlayer resin insulating layer even when surface conductors are present in inner layer conductive circuits.
Another object of the present invention is to solve the problem of so-called film reduction of a photosensitive interlayer resin insulating material, and to obtain a multilayer printed wiring capable of obtaining a practical peel strength even on a roughened surface having a small anchor depth. It is to propose a method of manufacturing a plate.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】発明者らは、上記目的の
実現に向け鋭意研究した。その結果、層間樹脂絶縁層
の凹凸は、樹脂を硬化させる前にプレスすれば平坦化で
きること、膜減りおよびアンカー深さの浅い粗化面で
のピール強度低下の原因が、感光性の層間樹脂絶縁層を
光重合反応により露光硬化させる際に、その表面の樹脂
重合反応が空気中の酸素により阻害されてしまうためで
あること、を知見した。本発明は、このような知見に基
づいて完成したものであり、その要旨構成は以下のとお
りである。 (1) 多層プリント配線板を製造するに当たり、少なくと
も下記〜の工程、即ち、 .基板の導体回路上に、未硬化の層間樹脂絶縁剤を塗
布して層間樹脂絶縁層を形成する工程、 .この層間樹脂絶縁層を加熱プレスして、その表面を
平坦化する工程、 .平坦化した層間樹脂絶縁層上に導体回路を形成する
工程、を経ることを特徴とする多層プリント配線板の製
造方法である。Means for Solving the Problems The present inventors have made intensive studies to realize the above object. As a result, the unevenness of the interlayer resin insulation layer can be flattened by pressing before the resin is cured, and the cause of film reduction and peel strength reduction on the roughened surface with a small anchor depth is the photosensitive interlayer resin insulation. It has been found that when the layer is exposed and cured by a photopolymerization reaction, the resin polymerization reaction on the surface is inhibited by oxygen in the air. The present invention has been completed based on such findings, and the gist configuration thereof is as follows. (1) In manufacturing a multilayer printed wiring board, at least the following steps (1) to (3): Forming an interlayer resin insulation layer by applying an uncured interlayer resin insulation agent on the conductor circuit of the substrate; Heating the interlayer resin insulation layer to flatten its surface; Forming a conductive circuit on the flattened interlayer resin insulating layer.
【0010】なお、上記(1) に記載の本発明方法におい
て、層間樹脂絶縁剤として、硬化処理によって酸あるい
は酸化剤に難溶性となる未硬化の耐熱性樹脂マトリック
ス中に酸あるいは酸化剤に可溶性の硬化処理された耐熱
性樹脂粒子を分散させた無電解めっき用接着剤を用いる
ことが望ましい。In the method of the present invention described in the above (1), as the interlayer resin insulating agent, the acid or oxidizing agent is dissolved in an uncured heat-resistant resin matrix which becomes hardly soluble in an acid or oxidizing agent by a curing treatment. It is desirable to use an adhesive for electroless plating in which heat-resistant resin particles that have been cured are dispersed.
【0011】また、上記(1) に記載の本発明方法におい
て、層間樹脂絶縁層上に導体回路を形成するに当たり、
まず、粗化した層間樹脂絶縁層上の全面に設けた無電解
めっき膜にめっきレジストを配設して非導体部分を形成
する一方、その非導体部分以外に電解めっきを施して導
体を形成した後、前記めっきレジストとこのめっきレジ
スト下にある前記無電解めっき膜を除去することによ
り、無電解めっき膜と電解めっき膜の2層からなる導体
回路を得ることが望ましい。In the method of the present invention described in the above (1), when forming a conductive circuit on the interlayer resin insulating layer,
First, a non-conductive portion was formed by arranging a plating resist on an electroless plating film provided on the entire surface of the roughened interlayer resin insulating layer, and a conductor was formed by electroplating other than the non-conductive portion. Thereafter, it is desirable to remove the plating resist and the electroless plating film under the plating resist to obtain a conductor circuit including two layers of an electroless plating film and an electrolytic plating film.
【0012】(2) 多層プリント配線板を製造するに当た
り、少なくとも下記〜の工程、即ち、 .基板の導体回路上に、未硬化で感光性の層間樹脂絶
縁剤を塗布して層間樹脂絶縁層を形成する工程、 .この層間樹脂絶縁層を加熱プレスして、その表面を
平坦化する工程、 .平坦化した層間樹脂絶縁層を露光、現像処理して、
バイアホール形成用の開口を設ける工程、 .開口を設けた層間樹脂絶縁層に導体回路およびバイ
アホールを形成する工程、を経ることを特徴とする多層
プリント配線板の製造方法である。(2) In manufacturing a multilayer printed wiring board, at least the following steps (1) to (3): Forming an interlayer resin insulation layer by applying an uncured and photosensitive interlayer resin insulation agent on the conductor circuit of the substrate; Heating the interlayer resin insulation layer to flatten its surface; Exposure and development of the planarized interlayer resin insulation layer,
Providing an opening for forming a via hole; Forming a conductive circuit and a via hole in an interlayer resin insulating layer having an opening.
【0013】なお、上記(2) に記載の本発明方法におい
て、感光性の層間樹脂絶縁剤として、硬化処理によって
酸あるいは酸化剤に難溶性となる未硬化で感光性の耐熱
性樹脂マトリックス中に酸あるいは酸化剤に可溶性の硬
化処理された耐熱性樹脂粒子を分散させた無電解めっき
用接着剤を用いることが望ましい。In the method of the present invention described in the above (2), an uncured and photosensitive heat-resistant resin matrix which becomes hardly soluble in an acid or an oxidizing agent by curing treatment is used as a photosensitive interlayer resin insulating agent. It is desirable to use an adhesive for electroless plating in which hardened heat-resistant resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent are dispersed.
【0014】また、上記(2) に記載の本発明方法におい
て、層間樹脂絶縁層に導体回路およびバイアホールを形
成するに当たり、まず、粗化した層間樹脂絶縁層上の全
面に設けた無電解めっき膜にめっきレジストを配設して
非導体部分を形成する一方、その非導体部分以外に電解
めっきを施して導体を形成した後、前記めっきレジスト
とこのめっきレジスト下にある前記無電解めっき膜を除
去することにより、無電解めっき膜と電解めっき膜の2
層からなる導体回路およびバイアホールを得ることが望
ましい。In the method of the present invention described in the above (2), when forming the conductor circuit and the via hole in the interlayer resin insulating layer, first, the electroless plating provided on the entire surface of the roughened interlayer resin insulating layer is performed. A plating resist is disposed on the film to form a non-conductive portion, and after the non-conductive portion is subjected to electrolytic plating to form a conductor, the plating resist and the electroless plating film under the plating resist are removed. By removing, 2 of electroless plating film and electrolytic plating film
It is desirable to obtain conductor circuits and via holes consisting of layers.
【0015】さらに、上記(1),(2) に記載の本発明方法
において、基板の導体回路上に層間樹脂絶縁剤を塗布す
るに先立ち、前記導体回路の少なくとも側面を含む表面
を粗化処理することが望ましい。また、上記(1),(2)に
記載の本発明方法において、層間樹脂絶縁層の加熱プレ
スは、層間樹脂絶縁層を加熱しながら金属板または金属
ロールを押圧して行うことが望ましい。Further, in the method of the present invention described in the above (1) and (2), prior to applying the interlayer resin insulating agent on the conductive circuit of the substrate, the surface including at least the side surface of the conductive circuit is roughened. It is desirable to do. In the method of the present invention described in the above (1) and (2), it is preferable that the hot pressing of the interlayer resin insulating layer is performed by pressing a metal plate or a metal roll while heating the interlayer resin insulating layer.
【0016】[0016]
【発明の実施の形態】さて、前述のようにセミアディテ
ィブ法により形成した導体回路は、その導体回路間にめ
っきレジストが存在しないので、その表面が凹凸とな
る。この凹凸面に未硬化の層間樹脂絶縁剤をロールコー
タなどで塗布すると、形成される層間樹脂絶縁層にもま
た表面凹凸が生じる。例えば、図23に示すように、導体
回路の面積が広い領域に形成される層間樹脂絶縁層は、
その厚みが相対的に厚く、導体回路の面積が狭い領域
(導体回路パターン領域)に形成される層間樹脂絶縁層
は、パターン間に層間樹脂絶縁剤が入りこむので、その
厚みが薄くなる。このように、層間樹脂絶縁層は、その
厚みが内層導体回路の表面凹凸により変化するので、そ
の表面に凹凸が発生するのである。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS As described above, the surface of a conductor circuit formed by the semi-additive method has irregularities because no plating resist exists between the conductor circuits. When an uncured interlayer resin insulating agent is applied to the uneven surface by a roll coater or the like, the formed interlayer resin insulating layer also has surface unevenness. For example, as shown in FIG. 23, the interlayer resin insulating layer formed in a region where the area of the conductor circuit is large is
The interlayer resin insulating layer formed in a region having a relatively large thickness and a small conductor circuit area (conductor circuit pattern region) has a small thickness because the interlayer resin insulating agent enters between the patterns. As described above, since the thickness of the interlayer resin insulating layer changes due to the surface unevenness of the inner-layer conductor circuit, unevenness occurs on the surface.
【0017】この点、本発明の方法は、基板の導体回路
上に、未硬化の層間樹脂絶縁層を形成した後、金属板や
金属ロールなどで加熱プレスして、層間樹脂絶縁層の表
面を平坦化する点に特徴がある。これにより、基板の導
体回路上に形成される層間樹脂絶縁層は、表面凹凸が発
生することはない。しかも、導体回路の表面凹凸(即
ち、層間樹脂絶縁層の厚さの相違)が原因となって、露
光現像によるバイアホール形成用開口の形成不良を招い
たり、ICチップなどの実装不良を招くこともない。In this respect, the method of the present invention comprises forming an uncured interlayer resin insulation layer on a conductor circuit of a substrate, and then heating and pressing the interlayer resin insulation layer with a metal plate or a metal roll to form a surface of the interlayer resin insulation layer. The feature is that it is flattened. Thus, the interlayer resin insulating layer formed on the conductor circuit of the substrate does not have surface irregularities. In addition, the surface irregularities of the conductor circuit (that is, the difference in the thickness of the interlayer resin insulating layer) causes the formation of the opening for forming the via hole due to the exposure and development, or the mounting failure of the IC chip or the like. Nor.
【0018】また、本発明では、層間樹脂絶縁層に透光
性フィルムを貼付して露光硬化を行っているので、酸素
による硬化反応の阻害が防止される結果、その後に現像
処理しても膜減りを防止でき、また粗化処理して浅い粗
化層を形成してもピール強度の低下を招くことはない。Further, in the present invention, since the light-transmitting film is attached to the interlayer resin insulating layer and exposed and cured, the inhibition of the curing reaction by oxygen is prevented. The decrease in peel strength can be prevented, and even if the surface is roughened to form a shallow roughened layer, the peel strength does not decrease.
【0019】次に、本発明にかかるプリント配線板の製
造方法を、セミアディティブ法を例に挙げて具体的に説
明する。 (1) まず、基板の表面に導体回路を形成した配線基板を
作製する。この配線基板の導体回路は、銅張積層板をエ
ッチングして行う方法、あるいは、ガラスエポキシ基板
やポリイミド基板、セラミック基板、金属基板などの基
板に無電解めっき用接着剤層を形成し、この接着剤層表
面を粗化して粗化面とし、ここに無電解めっきを施す方
法、もしくはいわゆるセミアディティブ法(その粗化面
全体に無電解めっきを施し、めっきレジストを形成し、
めっきレジスト非形成部分に電解めっきを施した後、め
っきレジストを除去し、エッチング処理して、電解めっ
き膜と無電解めっき膜とからなる導体回路を形成する方
法)により形成される。Next, a method for manufacturing a printed wiring board according to the present invention will be specifically described by taking a semi-additive method as an example. (1) First, a wiring board having a conductor circuit formed on the surface of the board is manufactured. The conductor circuit of this wiring board is formed by etching a copper-clad laminate, or by forming an adhesive layer for electroless plating on a substrate such as a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a ceramic substrate, or a metal substrate, and bonding the substrate. The surface of the agent layer is roughened to a roughened surface, and a method of applying electroless plating thereto or a so-called semi-additive method (electroless plating is performed on the entire roughened surface to form a plating resist,
After the electroplating is performed on the portion where the plating resist is not formed, the plating resist is removed, and an etching process is performed to form a conductor circuit including an electroplating film and an electroless plating film.
【0020】なお、上記配線基板の導体回路は、側面を
含む表面に、銅−ニッケル−リンからなる粗化層を形成
することにより、この導体回路の上に形成される層間樹
脂絶縁層との密着性を改善することができる。この粗化
層は、無電解めっきにより形成することが望ましい。そ
の無電解めっきの液組成は、銅イオン濃度、ニッケルイ
オン濃度、次亜リン酸イオン濃度が、それぞれ 2.2×10
-2〜 4.1×10-2 mol/l、 2.2×10-3〜 4.1×10-3 mol
/l、0.20〜0.25 mol/lであることが望ましい。この
範囲で析出する皮膜は、結晶構造が針状構造であり、ア
ンカー効果に優れるからである。なお、無電解めっき浴
には上記化合物に加えて錯化剤や添加剤を加えてもよ
い。粗化層を形成する他の方法として、導体回路表面を
酸化(黒化)−還元処理したり、エッチング処理して形
成する方法などがある。The conductor circuit of the wiring board is formed by forming a roughened layer made of copper-nickel-phosphorus on a surface including a side surface, thereby forming a roughened layer made of copper-nickel-phosphorus with an interlayer resin insulating layer formed on the conductor circuit. Adhesion can be improved. This roughened layer is desirably formed by electroless plating. The composition of the electroless plating solution was such that the copper ion concentration, nickel ion concentration, and hypophosphite ion concentration were 2.2 × 10
-2 to 4.1 × 10 -2 mol / l, 2.2 × 10 -3 to 4.1 × 10 -3 mol
/ L, 0.20 to 0.25 mol / l. This is because the film deposited in this range has a needle-like crystal structure and is excellent in anchor effect. In addition, you may add a complexing agent and an additive in addition to the said compound to an electroless plating bath. Other methods of forming the roughened layer include a method of forming (oxidizing (blackening) and reducing) or etching the surface of the conductor circuit.
【0021】この粗化層は、イオン化傾向が銅より大き
くかつチタン以下である金属または貴金属の層で被覆さ
れていてもよい。これらの金属または貴金属の層は、粗
化層を被覆し、層間樹脂絶縁層を粗化する際に起こる局
部電極反応による導体回路の溶解を防止できるからであ
る。その層の厚さは 0.1〜2μmがよい。このような金
属としては、チタン、アルミニウム、亜鉛、鉄、インジ
ウム、タリウム、コバルト、ニッケル、スズ、鉛、ビス
マスから選ばれるいずれか少なくとも1種がある。貴金
属としては、金、銀、白金、パラジウムがある。これら
のうち、特にスズがよい。スズは無電解置換めっきによ
り薄い層を形成でき、粗化層に追従できるため有利であ
る。このスズの場合、ホウフッ化スズ−チオ尿素、塩化
スズ−チオ尿素液を使用する。そして、Cu−Snの置換反
応により 0.1〜2μm程度のSn層が形成される。貴金属
の場合は、スパッタや蒸着などの方法が採用できる。The roughened layer may be covered with a layer of a metal or a noble metal whose ionization tendency is larger than copper and equal to or less than titanium. This is because these metal or noble metal layers cover the roughened layer and can prevent the conductor circuit from dissolving due to a local electrode reaction that occurs when the interlayer resin insulating layer is roughened. The thickness of the layer is preferably 0.1 to 2 μm. Examples of such a metal include at least one selected from titanium, aluminum, zinc, iron, indium, thallium, cobalt, nickel, tin, lead, and bismuth. Noble metals include gold, silver, platinum and palladium. Of these, tin is particularly preferred. Tin is advantageous because it can form a thin layer by electroless displacement plating and can follow the roughened layer. In the case of tin, tin borofluoride-thiourea or tin chloride-thiourea liquid is used. Then, a Sn layer having a thickness of about 0.1 to 2 μm is formed by the substitution reaction of Cu—Sn. In the case of a noble metal, a method such as sputtering or vapor deposition can be adopted.
【0022】また、コア基板には、スルーホールが形成
され、このスルーホールを介して表面と裏面の配線層を
電気的に接続することができる。さらに、スルーホール
およびコア基板の導体回路間にビスフェノールF型エポ
キシ樹脂などの低粘度の樹脂を充填し、配線基板の平滑
性を確保してもよい。Further, a through hole is formed in the core substrate, and the wiring layer on the front surface and the back surface can be electrically connected through the through hole. Further, a low-viscosity resin such as a bisphenol F-type epoxy resin may be filled between the through-holes and the conductor circuit of the core board to ensure the smoothness of the wiring board.
【0023】(2) 次に、前記(1) で作製した配線基板の
上に、層間樹脂絶縁剤を塗布する。特に本発明では、層
間樹脂絶縁剤を感光性とすることが望ましい。露光、現
像処理によりバイアホール用開口を設けることができる
からである。層間樹脂絶縁剤としては、硬化処理によっ
て酸あるいは酸化剤に難溶性となる未硬化の耐熱性樹脂
マトリックス中に酸あるいは酸化剤に可溶性の硬化処理
された耐熱性樹脂粒子を分散させた無電解めっき用接着
剤を用いることが望ましい。この理由は、酸や酸化剤で
処理することにより、耐熱性樹脂粒子が溶解除去され
て、表面に蛸つぼ状のアンカーからなる粗化面を形成で
きるからである。(2) Next, an interlayer resin insulating agent is applied on the wiring board prepared in the above (1). In particular, in the present invention, it is desirable that the interlayer resin insulating agent is photosensitive. This is because a via hole opening can be provided by exposure and development processing. As an interlayer resin insulating material, electroless plating in which cured heat-resistant resin particles soluble in acid or oxidant are dispersed in an uncured heat-resistant resin matrix that becomes hardly soluble in acid or oxidant by curing treatment It is desirable to use a bonding adhesive. The reason for this is that by treating with an acid or an oxidizing agent, the heat-resistant resin particles are dissolved and removed, and a roughened surface composed of an octopus pot-shaped anchor can be formed on the surface.
【0024】ここで、上記無電解めっき用接着剤を構成
する耐熱性樹脂マトリックスとしては、熱硬化性樹脂
(熱硬化基の一部を感光化したものも含む)と熱可塑性
樹脂の複合体を用いることができる。熱硬化性樹脂とし
ては、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂
などを用いることができる。感光化する場合は、熱硬化
性樹脂の熱硬化基をメタクリル酸やアクリル酸などと反
応させてアクリル化する。特にエポキシ樹脂のアクリレ
ートが最適である。熱可塑性樹脂としては、ポリエーテ
ルスルフォン、ポリスルフォンなどを用いることができ
る。Here, as the heat-resistant resin matrix constituting the adhesive for electroless plating, a composite of a thermosetting resin (including one in which a part of the thermosetting group is sensitized) and a thermoplastic resin is used. Can be used. As the thermosetting resin, an epoxy resin, a phenol resin, a polyimide resin, or the like can be used. In the case of photosensitization, a thermosetting group of a thermosetting resin is reacted with methacrylic acid, acrylic acid, or the like to acrylate. Particularly, acrylate of epoxy resin is most suitable. Polyethersulfone, polysulfone, or the like can be used as the thermoplastic resin.
【0025】上記無電解めっき用接着剤を構成する耐熱
性樹脂粒子としては、アミノ樹脂(メラミン樹脂、尿素
樹脂、グアナミン樹脂など)、エポキシ樹脂、ビスマレ
イミドトリアジン樹脂などを用いることができる。As the heat-resistant resin particles constituting the adhesive for electroless plating, amino resins (melamine resins, urea resins, guanamine resins, etc.), epoxy resins, bismaleimide triazine resins and the like can be used.
【0026】この耐熱性樹脂粒子は、平均粒径の大きな
粗粒子と平均粒径の小さな微粒子を混合したものがよ
い。酸や酸化剤でこれら平均粒径の異なる耐熱性樹脂粒
子を溶解除去させた場合に、複雑なアンカー形状を実現
できるからである。この耐熱性樹脂粒子は、平均粒径10
μm以下がよい。The heat-resistant resin particles are preferably a mixture of coarse particles having a large average particle diameter and fine particles having a small average particle diameter. This is because when the heat-resistant resin particles having different average particle diameters are dissolved and removed with an acid or an oxidizing agent, a complicated anchor shape can be realized. The heat resistant resin particles have an average particle size of 10
μm or less is preferred.
【0027】上記耐熱性樹脂粒子における粗粒子と微粒
子の混合割合は、重量比で、粗粒子/微粒子= 100/1
〜1/100 がよい。この理由は、粗粒子が多すぎるとア
ンカーの深さが深くなりすぎて無電解めっき膜をエッチ
ング除去しにくくなり、一方、粗粒子が少なすぎるとめ
っき膜との高い密着強度が得られないからである。The mixing ratio of the coarse particles and the fine particles in the heat-resistant resin particles is expressed by a weight ratio of coarse particles / fine particles = 100/1.
~ 1/100 is good. The reason for this is that if the amount of coarse particles is too large, the depth of the anchor becomes too deep, making it difficult to remove the electroless plated film by etching.On the other hand, if the amount of coarse particles is too small, high adhesion strength with the plated film cannot be obtained. It is.
【0028】前記粗粒子は接着剤の固形分に対して10重
量%〜40重量%がよい。また、前記微粒子は、接着剤の
固形分に対して1重量%〜15重量%がよい。この重量百
分率の範囲で粗粒子の重量が微粒子よりも多くなるよう
に調整する。The amount of the coarse particles is preferably from 10% by weight to 40% by weight based on the solid content of the adhesive. The fine particles are preferably contained in an amount of 1% by weight to 15% by weight based on the solid content of the adhesive. The weight is adjusted so that the weight of the coarse particles is greater than that of the fine particles in this weight percentage range.
【0029】また、耐熱性樹脂粒子は予め硬化処理され
ていることが必要である。硬化されていないと樹脂マト
リックスを溶解させる溶剤に溶解してしまい、均一混合
してしまい、酸や酸化剤でこの耐熱性樹脂粒子のみを選
択的に溶解除去できなくなるからである。It is necessary that the heat-resistant resin particles have been cured beforehand. If it is not cured, it will be dissolved in a solvent that dissolves the resin matrix and will be uniformly mixed, and it will not be possible to selectively dissolve and remove only the heat-resistant resin particles with an acid or an oxidizing agent.
【0030】なお、層間樹脂絶縁層を複数層とし、各層
における耐熱性樹脂粒子の粒子径を変えてもよい。例え
ば、下層を粗粒子=0.5 μmとし、上層を粗粒子/微粒
子=3.0μm/0.5 μmとして、耐熱性樹脂粒子の粒子
径が異なる接着剤で構成してもよい。層間樹脂絶縁剤の
塗布は、ロールコータ、カーテンコータなどを使用でき
る。Incidentally, the interlayer resin insulating layer may have a plurality of layers, and the particle diameter of the heat-resistant resin particles in each layer may be changed. For example, the lower layer may have coarse particles = 0.5 μm, and the upper layer may have coarse particles / fine particles = 3.0 μm / 0.5 μm, and may be made of adhesives having different particle diameters of heat-resistant resin particles. For applying the interlayer resin insulating agent, a roll coater, a curtain coater, or the like can be used.
【0031】(3) 次に、塗布した層間樹脂絶縁剤(無電
解めっき用接着剤)を乾燥する。この時点では、基板の
導体回路上に設けた層間樹脂絶縁層は、導体回路パター
ン領域上の層間樹脂絶縁層の厚さは薄く、導体回路の面
積が広い領域上の層間樹脂絶縁層の厚さは厚く、凹凸が
発生している状態である(図15(a) 参照)。(3) Next, the applied interlayer resin insulating agent (adhesive for electroless plating) is dried. At this time, the thickness of the interlayer resin insulating layer provided on the conductive circuit of the substrate is small, and the thickness of the interlayer resin insulating layer on the area where the area of the conductive circuit is large is small. Is thick and has irregularities (see FIG. 15 (a)).
【0032】(4) 次に、凹凸状態にある層間樹脂絶縁層
を、金属板や金属ロールを用いて加熱しながら押圧(加
熱プレス)し、その表面を平坦化する(図15(b) 参
照)。ここで用いる金属板や金属ロールは、ステンレス
製のものがよい。その理由は耐腐食性に優れるからであ
る。加熱プレスは、層間樹脂絶縁層を設けた基板を金属
板または金属ロールにて挟持し、加熱雰囲気でプレスす
ることにより行う。この加熱プレスにより、層間絶縁剤
の樹脂が流動して層間樹脂絶縁層の表面が平坦になる。
この加熱プレスにおける加熱温度、圧力、時間は、層間
樹脂絶縁剤に用いる樹脂により異なる。例えば、エポキ
シ樹脂のアクリレートとポリエーテルスルフォンの複合
体を樹脂マトリックスとし、エポキシ樹脂粒子を耐熱性
樹脂粒子とした無電解めっき用接着剤を層間樹脂絶縁剤
に用いる場合は、加熱温度を60〜70℃、圧力を15〜25 k
gf/cm2 、時間を15〜25分とすることが望ましい。(4) Next, the interlayer resin insulating layer in the uneven state is pressed (heat-pressed) while heating using a metal plate or a metal roll, and the surface thereof is flattened (see FIG. 15B). ). The metal plate and metal roll used here are preferably made of stainless steel. The reason is that it has excellent corrosion resistance. The heating press is performed by sandwiching the substrate provided with the interlayer resin insulating layer with a metal plate or a metal roll and pressing in a heating atmosphere. By this heating press, the resin of the interlayer insulating agent flows and the surface of the interlayer resin insulating layer becomes flat.
The heating temperature, pressure and time in this heating press differ depending on the resin used for the interlayer resin insulating agent. For example, when a composite of epoxy resin acrylate and polyether sulfone is used as a resin matrix, and an adhesive for electroless plating using epoxy resin particles as heat-resistant resin particles is used as an interlayer resin insulating agent, the heating temperature is 60 to 70. ℃, pressure 15 ~ 25k
gf / cm 2 , and the time is desirably 15 to 25 minutes.
【0033】なお、金属ロールを用いる場合は、搬送し
ながら加熱プレスすることができ、量産性の観点から有
利である。特に、ゴムのような弾性体のロールと金属ロ
ールを組み合わせて用いることが有利である。例えば、
図15(b) に示すように、最初にゴムロール200 により加
熱プレスし、次いで、金属ロール201 にて加熱プレスす
る。この場合、層間樹脂絶縁層を設けた基板は最初のゴ
ムロール200 により予備加熱され、予備加熱されたその
基板は金属ロール201 により平坦化される。When a metal roll is used, it can be heated and pressed while being conveyed, which is advantageous from the viewpoint of mass productivity. In particular, it is advantageous to use a combination of an elastic roll such as rubber and a metal roll. For example,
As shown in FIG. 15 (b), heat press is first performed with a rubber roll 200, and then heat press is performed with a metal roll 201. In this case, the substrate provided with the interlayer resin insulating layer is preheated by the first rubber roll 200, and the preheated substrate is flattened by the metal roll 201.
【0034】本発明では、層間樹脂絶縁剤が感光性の場
合は、必要に応じて加熱プレス前に透光性フィルムを層
間樹脂絶縁層上に貼り付けることができる。この透光性
フィルムは、光重合反応の際に酸素が反応を阻害して、
現像時の膜減りやピール強度の低下を招くのを防止する
ために使用される。このため、浅いアンカー深さでも、
ピール強度の低下は見られない。この透光性フィルム
は、熱可塑性樹脂フィルムが望ましく、例えば、ポリエ
チレンテレフタレート(PET)やポリエチレン(P
E)、ポリビニルアルコール(PVA)、ポリエーテル
エーテルケトン(PEEK)、ポリエーテルサルフォン
(PES)、ポリプロピレン(PP)、ポリ塩化ビニル
(PVC)などのフィルムがよい。In the present invention, if the interlayer resin insulating material is photosensitive, a translucent film can be attached on the interlayer resin insulating layer before heat pressing, if necessary. In this translucent film, oxygen inhibits the reaction during the photopolymerization reaction,
It is used in order to prevent a reduction in film thickness and peel strength during development. For this reason, even if the anchor depth is shallow,
No decrease in peel strength is observed. The translucent film is desirably a thermoplastic resin film, such as polyethylene terephthalate (PET) or polyethylene (P).
E), a film of polyvinyl alcohol (PVA), polyetheretherketone (PEEK), polyethersulfone (PES), polypropylene (PP), polyvinyl chloride (PVC) and the like are preferable.
【0035】なお、これらのフィルムは、貼着側の面に
粘着剤を塗布しておくことが望ましい。その理由は、層
間樹脂絶縁層との密着性を確保できるからである。この
粘着剤は、特に限定されないが、「伊保内 賢、小松 公
栄、北崎 寧昭 編著、工業調査会発行 粘着剤活用ノー
ト」に記載されたものを使用できる。例えば、天然ゴム
系、スチレンーブタジエン系、ポリイソブチレン系、イ
ソプレン系、アクリル系、アクリルエマルジョン系、シ
リコーン系、天然ゴム−ブタジエンラテックス系の粘着
剤が挙げられる。具体的には、次のような組成の粘着剤
を挙げることができる。It is desirable that these films have an adhesive applied to the surface on the sticking side. The reason is that adhesion to the interlayer resin insulating layer can be ensured. The pressure-sensitive adhesive is not particularly limited, but those described in "Notes on Adhesive Utilization, edited by Ken Ibouchi, Koei Komatsu, Yasuaki Kitazaki, published by the Industrial Research Institute" can be used. For example, natural rubber-based, styrene-butadiene-based, polyisobutylene-based, isoprene-based, acrylic-based, acrylic emulsion-based, silicone-based, and natural rubber-butadiene latex-based pressure-sensitive adhesives can be used. Specifically, an adhesive having the following composition can be used.
【0036】(1) 天然ゴム系 天然ゴム 100 重量部 粘着付与剤樹脂 150〜120 重量部 亜鉛華 25〜50 重量部 炭酸カルシウム 35〜60 重量部 カーボンブラック 〜15 重量部 老化防止剤 〜1.5 重量部 イオウ 0.5〜2.25 重量部 (2) スチレン−ブタジエン系 ゴムラテックス 100 重量部 高融点粘着付与剤 89 重量部 石鹸生成樹脂酸 5.6 重量部 抵酸化剤 4.8 重量部 アンモニア水 0.7 重量部 水 151 重量部 (3) ポリイソブチレン系 ポリイソブチレン 100 重量部 ポリブテン 10 重量部 ホワイトオイル 20 重量部 (4) イソプレン系 クラレ製、商品名:クラプレンIR−10 (5) アクリル系 アクリル酸2−エチルヘキシン 78 重量部 アクリル酸メチル 20 重量部 無水マレイン酸 2 重量部 ヘキサメチレンジアミン 0.5 重量部 (6) アクリルエマルジョン系 2−エチルヘキシルアクリレート 70 重量部 酢酸ビニル 30 重量部 アクリル酸 2 重量部 (7) シリコーン系 シリコーンゴム 100 重量部 シリコーンレジン 80〜120 重量部 縮合触媒 0.01〜0.5 重量部 溶剤 100〜150 重量部(1) Natural rubber-based natural rubber 100 parts by weight Tackifier resin 150 to 120 parts by weight Zinc flower 25 to 50 parts by weight Calcium carbonate 35 to 60 parts by weight Carbon black 部 15 parts by weight Antioxidant 1.51.5 parts by weight Sulfur 0.5 to 2.25 parts by weight (2) Styrene-butadiene rubber latex 100 parts by weight High melting point tackifier 89 parts by weight Soap-forming resin acid 5.6 parts by weight Antioxidant 4.8 parts by weight Aqueous ammonia 0.7 parts by weight Water 151 parts by weight (3 ) Polyisobutylene-based polyisobutylene 100 parts by weight Polybutene 10 parts by weight White oil 20 parts by weight (4) Isoprene-based Kuraray, trade name: Klaprene IR-10 (5) Acrylic 78 parts by weight of 2-ethylhexyne acrylate Methyl acrylate 20 Parts by weight Maleic anhydride 2 parts by weight Hexamethylenediamine 0.5 parts by weight (6) Acrylic emulsion-based 2-ethylhexyl acrylate 70 parts by weight Parts by weight Vinyl acetate 30 parts by weight Acrylic acid 2 parts by weight (7) Silicone silicone rubber 100 parts by weight Silicone resin 80-120 parts by weight Condensation catalyst 0.01-0.5 parts by weight Solvent 100-150 parts by weight
【0037】本発明では、透光性フィルムを、凹凸状態
にある層間樹脂絶縁層に貼着し、これを加熱プレス(図
15(a),(b) 参照)してもよく、図24のように、凹凸状態
にある層間樹脂絶縁層を加熱プレスして平坦化した後に
透光性フィルムを貼着してもよい。平坦化した後に透光
性フィルムを貼着した方が、樹脂が動きやすく層間樹脂
絶縁層を平坦化しやすいため、有利である。In the present invention, a light-transmitting film is adhered to an interlayer resin insulating layer in an uneven state, and this is pressed with a heat press (FIG.
15 (a) and (b)), and as shown in FIG. 24, a translucent film may be attached after flattening the interlayer resin insulating layer in an uneven state by hot pressing. Adhering a translucent film after flattening is advantageous because the resin is easy to move and the interlayer resin insulating layer is easily flattened.
【0038】(5) 次に、層間樹脂絶縁層を硬化する一方
で、その層間樹脂絶縁層にバイアホール形成用の開口を
設ける。層間樹脂絶縁層の硬化処理は、層間樹脂絶縁剤
が熱硬化性樹脂からなる場合は熱硬化して行い、一方、
層間樹脂絶縁剤が感光性樹脂からなる場合は紫外線など
を露光して行う。バイアホール形成用の開口は、層間樹
脂絶縁剤が熱硬化性の場合は、レーザ光や酸素プラズマ
などを用いて穿孔し、一方、層間樹脂絶縁剤が感光性の
場合は、露光現像処理にて穿孔される。なお、露光現像
処理は、感光性の層間樹脂絶縁層に上に、バイアホール
形成のための円パターンが描画されたフォトマスク(ガ
ラス基板がよい)を密着させて載置したのち、露光、現
像処理する。(5) Next, while curing the interlayer resin insulation layer, an opening for forming a via hole is provided in the interlayer resin insulation layer. When the interlayer resin insulating layer is made of a thermosetting resin, the curing treatment of the interlayer resin insulating layer is performed by thermosetting.
When the interlayer resin insulating material is made of a photosensitive resin, the process is performed by exposing to ultraviolet rays or the like. The opening for forming the via hole is perforated by using a laser beam or oxygen plasma when the interlayer resin insulating material is thermosetting, while it is exposed and developed when the interlayer resin insulating material is photosensitive. Perforated. In the exposure and development process, a photomask (preferably a glass substrate) on which a circular pattern for forming a via hole is drawn is placed in close contact with the photosensitive interlayer resin insulating layer, and then exposed and developed. To process.
【0039】(6) 次に、バイアホール形成用開口を設け
た層間樹脂絶縁層(無電解めっき用接着剤層)の表面を
粗化する。特に、無電解めっき用接着剤層の場合は、そ
の表面に存在する耐熱性樹脂粒子を酸あるいは酸化剤に
よって溶解除去することにより、接着剤層表面を粗化処
理する。このとき、粗化面の深さは、1〜5μm程度が
よい。ここで、上記酸としては、リン酸、塩酸、硫酸、
あるいは蟻酸や酢酸などの有機酸があるが、特に有機酸
を用いることが望ましい。粗化処理した場合に、バイア
ホールから露出する金属導体層を腐食させにくいからで
ある。一方、上記酸化剤としては、クロム酸、過マンガ
ン酸塩(過マンガン酸カリウムなど)を用いることが望
ましい。(6) Next, the surface of the interlayer resin insulating layer (adhesive layer for electroless plating) provided with openings for forming via holes is roughened. Particularly, in the case of the adhesive layer for electroless plating, the surface of the adhesive layer is roughened by dissolving and removing the heat-resistant resin particles present on the surface with an acid or an oxidizing agent. At this time, the depth of the roughened surface is preferably about 1 to 5 μm. Here, as the acid, phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid,
Alternatively, there are organic acids such as formic acid and acetic acid, and it is particularly preferable to use an organic acid. This is because when the roughening treatment is performed, the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded. On the other hand, it is desirable to use chromic acid and permanganate (such as potassium permanganate) as the oxidizing agent.
【0040】(7) 次に、層間樹脂絶縁層の粗化面に触媒
核を付与する。触媒核の付与には、貴金属イオンや貴金
属コロイドなどを用いることが望ましく、一般的には、
塩化パラジウムやパラジウムコロイドを使用する。な
お、触媒核を固定するために加熱処理を行うことが望ま
しい。このような触媒核としてはパラジウムがよい。(7) Next, catalyst nuclei are provided on the roughened surface of the interlayer resin insulating layer. It is desirable to use a noble metal ion or a noble metal colloid for providing the catalyst nucleus.
Use palladium chloride or palladium colloid. Note that it is desirable to perform a heat treatment to fix the catalyst core. Palladium is preferred as such a catalyst core.
【0041】(8) 次に、粗化した層間樹脂絶縁層上の全
面に薄膜の無電解めっき膜を形成する。この無電解めっ
き膜は、厚みを 0.1〜5μm、より望ましくは1〜2μ
mとする。(8) Next, a thin electroless plating film is formed on the entire surface of the roughened interlayer resin insulating layer. This electroless plating film has a thickness of 0.1 to 5 μm, more preferably 1 to 2 μm.
m.
【0042】(9) 次に、前記(8) で設けた無電解めっき
膜上に感光性樹脂フィルム(ドライフィルム)をラミネ
ートし、この感光性樹脂フィルム上に、めっきレジスト
パターンが描画されたフォトマスク(ガラス基板がよ
い)を密着させて載置し、露光、現像処理することによ
り、めっきレジストを配設した非導体部分を形成する。(9) Next, a photosensitive resin film (dry film) is laminated on the electroless plating film provided in (8), and a photo resist pattern is drawn on the photosensitive resin film. A mask (preferably a glass substrate) is placed in close contact with the substrate, and exposed and developed to form a non-conductive portion provided with a plating resist.
【0043】(10)次に、無電解めっき膜上の非導体部分
以外に電解めっき膜を形成し、導体回路、ならびにバイ
アホールとなる導体部を設ける。ここで、電解めっきと
しては、電解銅めっきを用いることが望ましく、その厚
みは、10〜20μmがよい。(10) Next, an electrolytic plating film is formed on a portion other than the non-conductive portion on the electroless plating film, and a conductor circuit and a conductor portion serving as a via hole are provided. Here, it is desirable to use electrolytic copper plating as the electrolytic plating, and its thickness is preferably 10 to 20 μm.
【0044】(11)次に、非導体部分のめっきレジストを
除去した後、さらに、硫酸と過酸化水素の混合液や過硫
酸ナトリウム、過硫酸アンモニウムなどのエッチング液
にて無電解めっき膜を溶解除去し、無電解めっき膜と電
解めっき膜の2層からなる独立した導体回路、ならびに
バイアホールを得る。(11) Next, after removing the plating resist of the non-conductive portion, the electroless plating film is further dissolved and removed with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide or an etching solution such as sodium persulfate and ammonium persulfate. Then, an independent conductor circuit composed of two layers of an electroless plating film and an electrolytic plating film, and a via hole are obtained.
【0045】(12)次に、前記(11)で得た導体回路、なら
びにバイアホールの表面に粗化層を形成する。この粗化
層の形成方法としては、エッチング処理、研磨処理、酸
化還元処理あるいはめっき処理がある。酸化還元処理
は、酸化浴(黒化浴)としてNaOH(10g/l)、NaClO2
(40gl)、Na3PO4(6g/l)を用い、還元浴として
NaOH(10g/l)、NaBH4 (g/l)を用いて行う。ま
た、銅−ニッケル−リン合金層による粗化層を形成する
場合は無電解めっきにより析出させる。この合金の無電
解めっき液としては、硫酸銅1〜40g/l、硫酸ニッケ
ル0.1〜6.0 g/l、クエン酸10〜20g/l、次亜リン
酸塩10〜100 g/l、ホウ酸10〜40g/l、界面活性剤
0.01〜10g/lからなる液組成のめっき浴を用いること
が望ましい。(12) Next, a roughened layer is formed on the surface of the conductor circuit obtained in (11) and the via hole. As a method for forming the roughened layer, there are an etching treatment, a polishing treatment, an oxidation-reduction treatment and a plating treatment. The oxidation-reduction treatment is performed by using NaOH (10 g / l) and NaClO 2 as an oxidation bath (blackening bath).
(40 gl) and Na 3 PO 4 (6 g / l) as a reducing bath
This is performed using NaOH (10 g / l) and NaBH 4 (g / l). When forming a roughened layer of a copper-nickel-phosphorus alloy layer, it is deposited by electroless plating. Electroless plating solutions for this alloy include copper sulfate 1 to 40 g / l, nickel sulfate 0.1 to 6.0 g / l, citric acid 10 to 20 g / l, hypophosphite 10 to 100 g / l, boric acid 10 ~ 40g / l, surfactant
It is desirable to use a plating bath having a liquid composition of 0.01 to 10 g / l.
【0046】(13)次に、この基板上に(2)〜(4) の工程
に従い、層間樹脂絶縁層を形成する。(14)さらに、上述
した (5)〜(11)の工程を必要に応じて繰り返すことによ
り多層化し、多層配線基板を製造する。(13) Next, an interlayer resin insulating layer is formed on the substrate according to the steps (2) to (4). (14) Further, the above-mentioned steps (5) to (11) are repeated as necessary to form a multilayer, thereby producing a multilayer wiring board.
【0047】[0047]
【実施例】(実施例1) (1)厚さ 0.6mmのガラスエポキシ樹脂またはBT(ビス
マレイミドトリアジン樹脂からなる基板1の両面に18μ
mの銅箔18がラミネートされてなる銅張積層板を出発材
料とした(図1参照)。この銅張積層板をドリル削孔
し、無電解めっきを施し、銅箔8を常法に従いパターン
状にエッチングすることにより、基板1の両面に内層導
体回路4とスルーホール9を形成した。この内層導体回
路4とスルーホール9の表面を酸化(黒化)−還元処理
して粗化し(図2参照)、導体回路間とスルーホール内
に、充填樹脂10としてビスフェノールF型エポキシ樹脂
を充填した後、その基板表面を、導体回路表面およびス
ルーホールのランド表面が露出するまで研磨して平坦化
した(図3参照)。EXAMPLES (Example 1) (1) 18 μm on both sides of a substrate 1 made of glass epoxy resin or BT (bismaleimide triazine resin) having a thickness of 0.6 mm.
A copper-clad laminate obtained by laminating copper foils 18 of m was used as a starting material (see FIG. 1). The copper-clad laminate was drilled, subjected to electroless plating, and the copper foil 8 was etched in a pattern according to a conventional method to form the inner conductor circuit 4 and the through holes 9 on both surfaces of the substrate 1. The surfaces of the inner layer conductor circuit 4 and the through hole 9 are roughened by oxidation (blackening) -reduction treatment (see FIG. 2), and bisphenol F type epoxy resin is filled between the conductor circuits and in the through hole as the filling resin 10. After that, the substrate surface was polished and flattened until the conductor circuit surface and the land surface of the through hole were exposed (see FIG. 3).
【0048】(2) 前記(1) の処理を施した基板を水洗い
し、乾燥した後、その基板を酸性脱脂してソフトエッチ
ングし、次いで、塩化パラジウムと有機酸からなる触媒
溶液で処理して、Pd触媒を付与し、この触媒を活性化
した後、硫酸銅8g/l、硫酸ニッケル 0.6g/l、ク
エン酸15g/l、次亜リン酸ナトリウム29g/l、ホウ
酸31g/l、界面活性剤 0.1g/l、pH=9からなる
無電解めっき浴にてめっきを施し、銅導体回路の露出し
た表面にCu−Ni−P合金からなる厚さ 2.5μmの粗化層
11(凹凸層)を形成した。さらに、その基板を、0.1mol
/lホウふっ化スズ−1.0mol/lチオ尿素液からなる無
電解スズ置換めっき浴に50℃で1時間浸漬し、前記粗化
層11の表面に厚さ0.3μmのスズ置換めっき層を設けた
(図4参照、但しスズ層については図示しない)。(2) The substrate subjected to the treatment of (1) is washed with water and dried, then the substrate is acid-degreased and soft-etched, and then treated with a catalyst solution comprising palladium chloride and an organic acid. , A Pd catalyst, and after activating this catalyst, copper sulfate 8 g / l, nickel sulfate 0.6 g / l, citric acid 15 g / l, sodium hypophosphite 29 g / l, boric acid 31 g / l, interface Plating is performed in an electroless plating bath consisting of activator 0.1 g / l and pH = 9, and a 2.5 μm thick roughened layer made of Cu-Ni-P alloy is formed on the exposed surface of the copper conductor circuit.
11 (uneven layer) was formed. In addition, the substrate is
/ L tin borofluoride-1.0 mol / l immersion in an electroless tin displacement plating bath consisting of a thiourea solution at 50 ° C for 1 hour to form a 0.3 μm thick tin displacement plating layer on the surface of the roughened layer 11. (See FIG. 4, but the tin layer is not shown).
【0049】(3) DMDG(ジエチレングリコールジメ
チルエーテル)に溶解したクレゾールノボラック型エポ
キシ樹脂(日本化薬製、分子量2500)の25%アクリル化
物を34重量部、ポリエーテルスルフォン(PES)12重
量部、イミダゾール硬化剤(四国化成製、商品名:2E4M
Z-CN)2重量部、感光性モノマーであるカプロラクトン
変成トリス(アクロキシエチル)イソシアヌレート(東
亜合成製、商品名:アロニックスM315 )4重量部、光
開始剤(チバガイギー社製、商品名:イルガキュアー90
7 )2重量部、光増感剤(日本化薬製、商品名:DETX−
S)0.2 重量部、さらに、エポキシ樹脂粒子(三洋化成
製、商品名:ポリマーポール) の平均粒径3.0μmのも
のを25重量部、平均粒径 0.5μmのものを10重量部を混
合した後、NMP(ノルマルメチルピロリドン)30.0重
量部を添加しながら混合し、ホモディスパー攪拌機で粘
度7Pa・sに調整し、続いて3本ロールで混練して感光
性の無電解めっき用接着剤溶液(層間樹脂絶縁剤)を得
た。(3) 34 parts by weight of 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku, molecular weight 2500) dissolved in DMDG (diethylene glycol dimethyl ether), 12 parts by weight of polyether sulfone (PES), imidazole cured (Shikoku Chemicals, trade name: 2E4M
2 parts by weight of Z-CN), 4 parts by weight of caprolactone-modified tris (acroxyethyl) isocyanurate (trade name, manufactured by Toagosei Co., Ltd., Aronix M315), a photoinitiator (trade name: Irga, manufactured by Ciba Geigy) Cure 90
7) 2 parts by weight, photosensitizer (manufactured by Nippon Kayaku, trade name: DETX-
S) 0.2 part by weight, 25 parts by weight of an epoxy resin particle (manufactured by Sanyo Chemical Industries, trade name: polymer pole) having an average particle size of 3.0 μm, and 10 parts by weight of an epoxy resin particle having an average particle size of 0.5 μm were mixed. , NMP (normal methylpyrrolidone), 30.0 parts by weight, and the mixture was adjusted to a viscosity of 7 Pa · s with a homodisper stirrer, and then kneaded with three rolls to form a photosensitive adhesive solution for electroless plating (interlayer). (Resin insulating agent).
【0050】(4) 前記(3) で得た感光性の接着剤溶液
を、前記(2) の処理を終えた基板の両面に、ロールコー
タを用いて塗布し、水平状態で20分間放置してから、60
℃で30分間の乾燥を行い、厚さ60μmの接着剤層2を形
成した(図5参照)。(4) The photosensitive adhesive solution obtained in the above (3) is applied to both sides of the substrate after the treatment in the above (2) using a roll coater, and is left in a horizontal state for 20 minutes. And then 60
Drying was performed at 30 ° C. for 30 minutes to form an adhesive layer 2 having a thickness of 60 μm (see FIG. 5).
【0051】(5) 前記(4) で基板の両面に形成した接着
剤層2の上に、粘着剤を介してポリエチレンテレフタレ
ートフィルム18を貼着した。そして、厚さ5μmの遮光
インクによってバイアホールと同形の円パターン(マス
クパターン190 )が描画された厚さ5mmのソーダライム
ガラス基板19を、円パターンが描画された側を接着剤層
2に密着させて載置し、紫外線を照射して露光した(図
6参照)。(5) A polyethylene terephthalate film 18 was adhered via an adhesive onto the adhesive layer 2 formed on both sides of the substrate in the above (4). Then, a soda lime glass substrate 19 having a thickness of 5 mm on which a circular pattern (mask pattern 190) having the same shape as the via hole is drawn by a light-shielding ink having a thickness of 5 μm, and the side on which the circular pattern is drawn is brought into close contact with the adhesive layer 2. The wafer was then placed and exposed to ultraviolet light (see FIG. 6).
【0052】(6) 露光した基板をDMTG(トリエチレ
ングリコールジメチルエーテル)溶液でスプレー現像す
ることにより、接着剤層2にバイアホールとなる 100μ
mφの開口を形成した。さらに、当該基板を超高圧水銀
灯にて3000mJ/cm2 で露光し、100℃で1時間、その後
150℃で5時間にて加熱処理することにより、フォトマ
スクフィルムに相当する寸法精度に優れ、開口(バイア
ホール形成用開口)6を有する厚さ50μmの接着剤層2
を形成した。なお、バイアホールとなる開口6には、粗
化層11を部分的に露出させた(図7参照)。(6) The exposed substrate is spray-developed with a DMTG (triethylene glycol dimethyl ether) solution, so that the adhesive layer 2 has a via hole of 100 μm.
An opening of mφ was formed. Further, the substrate is exposed at 3000 mJ / cm 2 using an ultra-high pressure mercury lamp, and is exposed at 100 ° C. for 1 hour.
By performing a heat treatment at 150 ° C. for 5 hours, an adhesive layer 2 having an opening (opening for forming a via hole) 6 having excellent dimensional accuracy equivalent to a photomask film and having a thickness of 50 μm.
Was formed. Note that the roughened layer 11 was partially exposed in the opening 6 serving as a via hole (see FIG. 7).
【0053】(7) 前記(5),(6) でバイアホール形成用開
口6を形成した基板を、クロム酸に2分間浸漬し、接着
剤層2の表面に存在するエポキシ樹脂粒子を溶解除去し
て、当該接着剤層2の表面を粗化し、その後、中和溶液
(シプレイ社製)に浸漬してから水洗した(図8参
照)。(7) The substrate having the via hole forming openings 6 formed in the above (5) and (6) is immersed in chromic acid for 2 minutes to dissolve and remove the epoxy resin particles present on the surface of the adhesive layer 2. Then, the surface of the adhesive layer 2 was roughened, and then immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley Co., Ltd.) and then washed with water (see FIG. 8).
【0054】(8) 前記(7) で粗面化処理(粗化深さ5μ
m)を行った基板に対し、パラジウム触媒(アトテック
製)を付与することにより、接着剤層2およびバイアホ
ール用開口6の表面に触媒核を付与した。(8) The surface roughening treatment (roughening depth 5 μm)
By applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the substrate subjected to m), catalyst nuclei were provided on the surfaces of the adhesive layer 2 and the via hole openings 6.
【0055】(9) 以下に示す組成の無電解銅めっき浴中
に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ3μmの無電解銅め
っき膜12を形成した(図9参照)。 〔無電解めっき液〕 EDTA 150 g/l 硫酸銅 20 g/l HCHO 30ml/l NaOH 40 g/l α、α′−ビピリジル 80 mg/l PEG 0.1 g/l 〔無電解めっき条件〕70℃の液温度で30分(9) The substrate was immersed in an electroless copper plating bath having the following composition to form an electroless copper plating film 12 having a thickness of 3 μm on the entire rough surface (see FIG. 9). [Electroless plating solution] EDTA 150 g / l Copper sulfate 20 g / l HCHO 30 ml / l NaOH 40 g / l α, α'-bipyridyl 80 mg / l PEG 0.1 g / l [Electroless plating conditions] 30 minutes at liquid temperature
【0056】(10)前記(9) で形成した無電解銅めっき膜
12上に市販の感光性樹脂フィルム(ドライフィルム31)
を熱圧着して貼り付け、さらに、このドライフィルム31
上に、クロム層によってめっきレジスト非形成部分がマ
スクパターン190 として描画された厚さ5mmのソーダラ
イムガラス基板19を、クロム層が形成された側をドライ
フィルム31に密着させて載置し、 110mJ/cm2 で露光し
(図10参照)、0.8 %炭酸ナトリウムで現像処理し、厚
さ15μmのめっきレジストパターン3を設けた(図11
参照)。(10) Electroless copper plating film formed in (9)
Commercially available photosensitive resin film (dry film 31) on 12
Thermo-compression bonding, and then dry film 31
A 5 mm-thick soda lime glass substrate 19 on which a plating resist non-formed portion is drawn as a mask pattern 190 by the chromium layer is placed on the dry film 31 with the chromium layer formed side in close contact with the dry film 31. / Cm 2 (see FIG. 10), developed with 0.8% sodium carbonate, and provided a plating resist pattern 3 having a thickness of 15 μm (FIG. 11).
reference).
【0057】(11)次に、めっきレジスト非形成部分に、
以下に示す条件で電解銅めっきを施し、厚さ15μmの電
解銅めっき膜13を形成した(図12参照)。 〔電解めっき液〕 硫酸 180 g/l 硫酸銅 80 g/l 添加剤(アトテックジャパン製 商品名:カパラシドG
L) 1 ml/l 〔電解めっき条件〕 電流密度 1.2 A/dm2 時間 30 分 温度 室温(11) Next, in the portion where the plating resist is not formed,
Electroplate copper under the conditions shown below, and use a 15μm thick
A copper-plated copper film 13 was formed (see FIG. 12). [Electrolytic plating solution] Sulfuric acid 180 g / l Copper sulfate 80 g / l Additive (trade name: Capalaside G, manufactured by Atotech Japan)
L) 1 ml / l [Electroplating conditions] Current density 1.2 A / dmTwo Time 30 minutes Temperature Room temperature
【0058】(12)めっきレジスト3を5%KOH をスプレ
ーして剥離除去した後、そのめっきレジスト3下の無電
解めっき膜12を、硫酸と過酸化水素の混合液でエッチン
グ処理して溶解除去し、無電解銅めっき膜12と電解銅め
っき膜13からなる厚さ18μmの内層導体回路5を形成し
た。さらに、粗化面11に残っているPdをクロム酸( 800
g/l)に1〜2分浸漬して除去した(図13参照)。(12) After the plating resist 3 is removed by spraying with 5% KOH, the electroless plating film 12 under the plating resist 3 is dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide. Then, an 18 μm thick inner conductor circuit 5 composed of the electroless copper plating film 12 and the electrolytic copper plating film 13 was formed. Further, Pd remaining on the roughened surface 11 is replaced with chromic acid (800
g / l) for 1 to 2 minutes to remove (see FIG. 13).
【0059】(13)導体回路5を形成した基板を、硫酸銅
8g/l、硫酸ニッケル 0.6g/l、クエン酸15g/
l、次亜リン酸ナトリウム29g/l、ホウ酸31g/l、
界面活性剤 0.1g/lからなるpH=9の無電解めっき
液に浸漬し、該導体回路5の表面に厚さ3μmの銅−ニ
ッケル−リンからなる粗化層11を形成した。このとき、
粗化層11をEPMA(蛍光X線分析装置)で分析したと
ころ、Cu:98mol%、Ni:1.5mol %、P: 0.5mol%の組成
比であった。そしてさらに、その基板を水洗いし、0.1m
ol/lホウふっ化スズ−1.0mol/lチオ尿素液からなる
無電解スズ置換めっき浴に50℃で1時間浸漬し、前記粗
化層11の表面に厚さ 0.3μmのスズ置換めっき層を形成
した(図14参照、ズズ置換層は図示しない)。(13) The substrate on which the conductor circuit 5 is formed is made of copper sulfate
8g / l, nickel sulfate 0.6g / l, citric acid 15g /
1, sodium hypophosphite 29 g / l, boric acid 31 g / l,
The surface of the conductor circuit 5 was immersed in an electroless plating solution having a pH of 9 containing 0.1 g / l of a surfactant to form a roughened layer 11 made of copper-nickel-phosphorus having a thickness of 3 μm. At this time,
When the roughened layer 11 was analyzed by EPMA (X-ray fluorescence spectrometer), the composition ratio was 98 mol% for Cu, 1.5 mol% for Ni, and 0.5 mol% for P. Then, further rinse the board with water,
ol / l tin borofluoride-1.0 mol / l immersed in an electroless tin displacement plating bath composed of a thiourea solution at 50 ° C. for 1 hour to form a 0.3 μm thick tin displacement plating layer on the surface of the roughened layer 11. (Refer to FIG. 14, the tin-substituted layer is not shown).
【0060】(14)次に、前記(4) の工程に従って、接着
剤層2をさらに設け、その表面にポリエチレンテレフタ
レートフィルム18を貼着した後(図15(a) 参照)、ス
テンレス板20で配線板を挟み、20 kgf/cm2 で加圧し、
加熱炉内で65℃で加熱しながら、20分間加熱プレスした
(図15(b) の左図参照)。この加熱プレスにより、接
着剤層2の表面を平坦化して層間樹脂絶縁層とした(図
15(c) 参照)。(14) Next, the adhesive layer 2 is further provided according to the step (4), and a polyethylene terephthalate film 18 is adhered to the surface of the adhesive layer 2 (see FIG. 15A). Sandwich the wiring board, pressurize at 20 kgf / cm 2 ,
Heat press was performed for 20 minutes while heating at 65 ° C. in a heating furnace (see the left diagram in FIG. 15B). With this heating press, the surface of the adhesive layer 2 was flattened to form an interlayer resin insulating layer (see FIG. 15C).
【0061】(15)そして前記 (5)〜(13)の工程を繰り返
すことにより、さらに導体回路を設けた。ついで導体回
路の表面に銅−ニッケル−リンからなる粗化層11を設け
た。但し、粗化層11表面にはスズ置換めっき層を形成し
なかった(図16〜20参照)。(15) By repeating the above steps (5) to (13), a conductor circuit was further provided. Then, a roughened layer 11 made of copper-nickel-phosphorus was provided on the surface of the conductor circuit. However, no tin-substituted plating layer was formed on the surface of the roughened layer 11 (see FIGS. 16 to 20).
【0062】(16)一方、DMDGに溶解させた60重量%
のクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製)
のエポキシ基50%をアクリル化した感光性付与のオリゴ
マー(分子量4000)を 46.67重量部、メチルエチルケト
ンに溶解させた80重量%のビスフェノールA型エポキシ
樹脂(油化シェル製、商品名:エピコート1001)15.0重
量部、イミダゾール硬化剤(四国化成製、商品名:2E4M
Z-CN)1.6 重量部、感光性モノマーである多価アクリル
モノマー(日本化薬製、商品名:R604 )3重量部、同
じく多価アクリルモノマー(共栄社化学製、商品名:DP
E6A ) 1.5重量部、分散系消泡剤(サンノプコ社製、商
品名:S−65)0.71重量部を混合し、さらにこれらの混
合物に対して光開始剤としてのベンゾフェノン(関東化
学製)2重量部、光増感剤としてのミヒラーケトン(関
東化学製)0.2 重量部を加えて、粘度を25℃で 2.0Pa・
sに調整したソルダーレジスト組成物を得た。なお、粘
度測定は、B型粘度計(東京計器、 DVL-B型)で 60rpm
の場合はローターNo.4、6rpm の場合はローターNo.3に
よった。(16) On the other hand, 60% by weight dissolved in DMDG
Cresol novolak epoxy resin (Nippon Kayaku)
14.6% bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell Co., trade name: Epikote 1001) in which 46.67 parts by weight of a photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) obtained by acrylate of 50% of epoxy groups of the above is dissolved in methyl ethyl ketone 15.0 Parts by weight, imidazole curing agent (Shikoku Chemicals, trade name: 2E4M
1.6 parts by weight of Z-CN), 3 parts by weight of a photosensitive acrylic monomer (manufactured by Nippon Kayaku, trade name: R604), and also a polyvalent acrylic monomer (manufactured by Kyoeisha Chemical, trade name: DP)
E6A) 1.5 parts by weight, 0.71 parts by weight of a dispersant antifoaming agent (manufactured by San Nopco, trade name: S-65), and 2 parts by weight of benzophenone (Kanto Chemical) as a photoinitiator with respect to these mixtures Parts, 0.2 parts by weight of Michler's ketone (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd.) as a photosensitizer, and add
s was obtained. The viscosity was measured at 60 rpm using a B-type viscometer (Tokyo Keiki, DVL-B type).
In the case of the rotor No. 4, the rotor No. 3 was used in the case of 6 rpm.
【0063】(17)前記(15)で得た基板の両面に、上記ソ
ルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗布した。次い
で、70℃で20分間、70℃で30分間の乾燥処理を行った
後、クロム層によってソルダーレジスト開口部の円パタ
ーン(マスクパターン190 )が描画された厚さ5mmのソ
ーダライムガラス基板19を、クロム層が形成された側を
ソルダーレジスト層に密着させて載置し、1000mJ/cm2
の紫外線で露光し(図21参照)、DMTG現像処理した。
そしてさらに、80℃で1時間、 100℃で1時間、120℃
で1時間、 150℃で3時間の条件で加熱処理し、はんだ
パッドの上面、バイアホールとそのランド部分を開口し
た(開口径 200μm)ソルダーレジストパターン層14
(厚み20μm)を形成した。(17) The above solder resist composition was applied to both sides of the substrate obtained in the above (15) in a thickness of 20 μm. Next, after performing a drying process at 70 ° C. for 20 minutes and at 70 ° C. for 30 minutes, a 5 mm-thick soda-lime glass substrate 19 on which a circular pattern (mask pattern 190) of the solder resist opening is drawn by a chromium layer is removed. And the side on which the chromium layer is formed is placed in close contact with the solder resist layer, and is placed at 1000 mJ / cm 2
(See FIG. 21) and subjected to a DMTG development treatment.
And then at 80 ° C for 1 hour, at 100 ° C for 1 hour, at 120 ° C
For 1 hour and at 150 ° C. for 3 hours to form a solder resist pattern layer 14 (opening diameter: 200 μm) in which the upper surface of the solder pad, the via hole and its land were opened.
(Thickness: 20 μm).
【0064】(18)次に、ソルダーレジストパターン層14
を形成した基板を、塩化ニッケル30g/l、次亜リン酸
ナトリウム10g/l、クエン酸ナトリウム10g/lから
なるpH=5の無電解ニッケルめっき液に20分間浸漬し
て、開口部に厚さ5μmのニッケルめっき層15を形成し
た。さらに、その基板を、シアン化金カリウム2g/
l、塩化アンモニウム75g/l、クエン酸ナトリウム50
g/l、次亜リン酸ナトリウム10g/lからなる無電解
金めっき液に93℃の条件で23秒間浸漬して、ニッケルめ
っき層15上に厚さ0.03μmの金めっき層16を形成した。(18) Next, the solder resist pattern layer 14
The substrate on which was formed was immersed in an electroless nickel plating solution having a pH of 5 consisting of 30 g / l of nickel chloride, 10 g / l of sodium hypophosphite, and 10 g / l of sodium citrate for 20 minutes, and the thickness of the opening was measured. A nickel plating layer 15 of 5 μm was formed. Further, the substrate was treated with 2 g of potassium potassium cyanide /
l, ammonium chloride 75 g / l, sodium citrate 50
The gold plating layer 16 having a thickness of 0.03 μm was formed on the nickel plating layer 15 by immersing it in an electroless gold plating solution containing g / l and sodium hypophosphite 10 g / l at 93 ° C. for 23 seconds.
【0065】(19)そして、ソルダーレジストパターン層
14の開口部に、はんだペーストを印刷して 200℃でリフ
ローすることによりはんだバンプ(はんだ体)17を形成
し、はんだバンプ17を有するプリント配線板を製造した
(図22参照)。(19) Solder resist pattern layer
Solder paste was printed in the openings 14 and reflowed at 200 ° C. to form solder bumps (solder bodies) 17, thereby producing a printed wiring board having the solder bumps 17 (see FIG. 22).
【0066】(比較例1)層間樹脂絶縁層の加熱プレス
を行わなかったこと以外は、実施例と同様にしてはんだ
バンプを有するプリント配線板を製造した。(Comparative Example 1) A printed wiring board having solder bumps was manufactured in the same manner as in the example except that the interlayer resin insulating layer was not heated and pressed.
【0067】(比較例2)ポリエチレンテレフタレート
フィルムを貼着しなかったこと以外は、実施例と同様に
してはんだバンプを有するプリント配線板を製造した。Comparative Example 2 A printed wiring board having solder bumps was manufactured in the same manner as in Example except that the polyethylene terephthalate film was not adhered.
【0068】このようにして製造した実施例と比較例の
プリント配線板を比較すると、実施例では、各層間樹脂
絶縁層が平坦となっており、バイアホール用開口の形成
不良は見られなかったのに対して、比較例では、層間樹
脂絶縁層の厚みが異なるため、バイアホール用開口の未
開口部分が観察された。また、ICチップを実装しよう
とすると、実施例では実装不良がみられなかったのに対
して、比較例では、はんだバンプ群にうねりが見られ、
実装できなかった。さらに、−55℃〜125 ℃のヒートサ
イクル試験を実施したところ、実施例のプリント配線板
の層間樹脂絶縁層にはクラックは発生しなかった。When the printed wiring boards manufactured in this way and the comparative example were compared, in the example, each interlayer resin insulation layer was flat, and no formation failure of the via hole opening was observed. On the other hand, in the comparative example, since the thickness of the interlayer resin insulating layer was different, an unopened portion of the via hole opening was observed. In addition, when trying to mount an IC chip, in the example, no mounting failure was observed, whereas in the comparative example, undulation was observed in the solder bump group,
Could not be implemented. Further, when a heat cycle test at -55 ° C to 125 ° C was performed, no crack was generated in the interlayer resin insulating layer of the printed wiring board of the example.
【0069】そしてさらに、得られた実施例と比較例2
のプリント配線板について、ピール強度をJIS-C-6486に
従い測定した。その結果、実施例では、1.2 kg/cm、比
較例2では、0.6 kg/cmであった。また、膜減りは、実
施例では5μmであったのに対して、比較例2では10μ
mに達した。このような差が発生する理由は、実施例で
はポリエチレンテレフタレートフィルムを貼着して層間
樹脂絶縁層表面の樹脂と酸素との接触を防止できるが、
比較例2では、層間樹脂絶縁層表面の樹脂が酸素と接触
するため、光重合反応が阻害され、充分に硬化せず、そ
のため溶剤に樹脂が溶解して膜減りが起こり、また硬化
が不充分であるためピール強度の低下が見られるものと
推定される。Further, the obtained example and comparative example 2
The peel strength of the printed wiring board was measured in accordance with JIS-C-6486. As a result, it was 1.2 kg / cm in the example and 0.6 kg / cm in the comparative example 2. In addition, the film reduction was 5 μm in the example, but 10 μm in the comparative example 2.
m. The reason why such a difference occurs is that, in the example, a polyethylene terephthalate film can be attached to prevent the contact between the resin on the surface of the interlayer resin insulating layer and oxygen,
In Comparative Example 2, since the resin on the surface of the interlayer resin insulating layer comes into contact with oxygen, the photopolymerization reaction was inhibited and did not cure sufficiently, so that the resin was dissolved in the solvent and the film was reduced, and the curing was insufficient. Therefore, it is estimated that the peel strength is reduced.
【0070】[0070]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、内
層の導体回路に起因する層間樹脂絶縁層の表面凹凸を防
止して、バイアホール用開口の形成不良や実装面でのは
んだバンプ群のうねりを抑制することができるととも
に、感光性樹脂を含んだ層間樹脂絶縁層に透光性フィル
ムを貼付して露光硬化を行なうので、膜減りを防止する
ことができる。しかも、本発明によれば、内層の導体回
路に起因する層間樹脂絶縁層の表面凹凸を防止できるの
で、ヒートサイクル特性に優れるビルドアップ多層配線
板をセミアディティブ法にて製造することができる。As described above, according to the present invention, the surface irregularities of the interlayer resin insulation layer caused by the conductor circuit in the inner layer are prevented, and the formation of via hole openings and the formation of solder bumps on the mounting surface are prevented. In addition to suppressing undulation, a light-transmitting film is attached to an interlayer resin insulating layer containing a photosensitive resin and exposure and curing are performed, so that film reduction can be prevented. Moreover, according to the present invention, surface irregularities of the interlayer resin insulating layer caused by the inner conductive circuit can be prevented, so that a build-up multilayer wiring board having excellent heat cycle characteristics can be manufactured by the semi-additive method.
【図1】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法に
おける各工程を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing each step in a method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図2】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法に
おける各工程を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing each step in a method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図3】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法に
おける各工程を示す図である。FIG. 3 is a view showing each step in a method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図4】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法に
おける各工程を示す図である。FIG. 4 is a view showing each step in a method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図5】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法に
おける各工程を示す図である。FIG. 5 is a view showing each step in a method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図6】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法に
おける各工程を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing each step in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図7】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法に
おける各工程を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing each step in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図8】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法に
おける各工程を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing each step in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図9】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法に
おける各工程を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing each step in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図10】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法
における各工程を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing each step in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図11】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法
における各工程を示す図である。FIG. 11 is a view showing each step in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図12】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法
における各工程を示す図である。FIG. 12 is a diagram showing each step in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図13】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法
における各工程を示す図である。FIG. 13 is a diagram showing each step in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図14】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法
における各工程を示す図である。FIG. 14 is a diagram showing each step in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図15】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法
における各工程を示す図である。FIG. 15 is a diagram showing each step in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図16】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法
における各工程を示す図である。FIG. 16 is a diagram showing each step in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図17】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法
における各工程を示す図である。FIG. 17 is a diagram showing each step in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図18】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法
における各工程を示す図である。FIG. 18 is a diagram showing each step in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図19】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法
における各工程を示す図である。FIG. 19 is a diagram showing each step in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図20】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法
における各工程を示す図である。FIG. 20 is a diagram showing each step in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図21】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法
における各工程を示す図である。FIG. 21 is a diagram showing each step in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図22】発明にかかる多層プリント配線板の製造方法
における各工程を示す図である。FIG. 22 is a diagram showing each step in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図23】内層の導体回路に起因する層間樹脂絶縁層の
表面凹凸を示す図である。FIG. 23 is a diagram showing surface irregularities of an interlayer resin insulating layer caused by an inner conductor circuit.
【図24】凹凸状態にある層間樹脂絶縁層を平坦化した
後に透光性フィルムを貼着する方法を示す図である。FIG. 24 is a view showing a method of attaching a light-transmitting film after flattening an interlayer resin insulating layer in an uneven state.
1 基板 2 層間樹脂絶縁層(接着剤層) 3 めっきレジスト(永久レジスト) 31 ドライフィルム 4、5 内層導体回路 6 バイアホール用開口 7 バイアホール 8 銅箔 9 スルーホール 10 充填樹脂 11 粗化層 12 無電解銅めっき膜 13 電解めっき膜 14 ソルダーレジスト層 15 ニッケルめっき層 16 金めっき層 17 はんだ体(はんだバンプ) 18 透光性フィルム 19 ガラス基板 190 マスクパターン 20 金属板(ステンレス板) 200 ゴムロール 201 金属ロール Reference Signs List 1 substrate 2 interlayer resin insulating layer (adhesive layer) 3 plating resist (permanent resist) 31 dry film 4, 5 inner conductor circuit 6 opening for via hole 7 via hole 8 copper foil 9 through hole 10 filling resin 11 roughened layer 12 Electroless copper plating film 13 Electrolytic plating film 14 Solder resist layer 15 Nickel plating layer 16 Gold plating layer 17 Solder body (solder bump) 18 Translucent film 19 Glass substrate 190 Mask pattern 20 Metal plate (stainless plate) 200 Rubber roll 201 Metal roll
Claims (6)
り、少なくとも下記〜の工程、即ち、 .基板の導体回路上に、未硬化の層間樹脂絶縁剤を塗
布して層間樹脂絶縁層を形成する工程、 .この層間樹脂絶縁層を加熱プレスして、その表面を
平坦化する工程、 .平坦化した層間樹脂絶縁層上に導体回路を形成する
工程、を経ることを特徴とする多層プリント配線板の製
造方法。In producing a multilayer printed wiring board, at least the following steps (1) to (3): Forming an interlayer resin insulation layer by applying an uncured interlayer resin insulation agent on the conductor circuit of the substrate; Heating the interlayer resin insulation layer to flatten its surface; Forming a conductive circuit on the planarized interlayer resin insulating layer.
り、少なくとも下記〜の工程、即ち、 .基板の導体回路上に、未硬化で感光性の層間樹脂絶
縁剤を塗布して層間樹脂絶縁層を形成する工程、 .この層間樹脂絶縁層を加熱プレスして、その表面を
平坦化する工程、 .平坦化した層間樹脂絶縁層を露光、現像処理して、
バイアホール形成用の開口を設ける工程、 .開口を設けた層間樹脂絶縁層に導体回路およびバイ
アホールを形成する工程、を経ることを特徴とする多層
プリント配線板の製造方法。2. In manufacturing a multilayer printed wiring board, at least the following steps: Forming an interlayer resin insulation layer by applying an uncured and photosensitive interlayer resin insulation agent on the conductor circuit of the substrate; Heating the interlayer resin insulation layer to flatten its surface; Exposure and development of the planarized interlayer resin insulation layer,
Providing an opening for forming a via hole; Forming a conductive circuit and a via hole in an interlayer resin insulating layer having an opening.
て酸あるいは酸化剤に難溶性となる未硬化の耐熱性樹脂
マトリックス中に酸あるいは酸化剤に可溶性の硬化処理
された耐熱性樹脂粒子を分散させた無電解めっき用接着
剤を用いることを特徴とする請求項1または2に記載の
製造方法。3. An inter-layer resin insulating agent, wherein hardened heat-resistant resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent are dispersed in an uncured heat-resistant resin matrix which becomes hardly soluble in an acid or an oxidizing agent by a hardening treatment. The method according to claim 1, wherein an adhesive for electroless plating is used.
に当たり、まず、粗化した層間樹脂絶縁層上に設けた無
電解めっき膜にめっきレジストを配設して非導体部分を
形成する一方、その非導体部分以外に電解めっきを施し
て導体を形成した後、前記めっきレジストとこのめっき
レジスト下にある前記無電解めっき膜を除去することに
より、無電解めっき膜と電解めっき膜の2層からなる導
体回路を得ることを特徴とする請求項1または2に記載
の製造方法。4. When forming a conductive circuit on an interlayer resin insulating layer, first, a plating resist is disposed on an electroless plating film provided on the roughened interlayer resin insulating layer to form a non-conductive portion. After performing electroplating on portions other than the non-conductive portion to form a conductor, the plating resist and the electroless plating film under the plating resist are removed to form two layers of an electroless plating film and an electrolytic plating film. The method according to claim 1, wherein a conductor circuit comprising:
るに先立ち、前記導体回路の少なくとも側面を粗化処理
することを特徴する請求項1または2に記載の製造方
法。5. The method according to claim 1, wherein prior to applying the interlayer insulating agent on the conductor circuit of the substrate, at least a side surface of the conductor circuit is roughened.
脂絶縁層を加熱しながら金属板または金属ロールを押圧
して行うことを特徴とする請求項1または2に記載の製
造方法。6. The method according to claim 1, wherein the hot pressing of the interlayer resin insulating layer is performed by pressing a metal plate or a metal roll while heating the interlayer resin insulating layer.
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JP9-83774 | 1997-04-02 | ||
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Cited By (3)
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JP2007049106A (en) * | 2005-08-11 | 2007-02-22 | Sanei Kagaku Kk | Planarized resin-coated printed wiring board |
JP2012039143A (en) * | 2011-09-22 | 2012-02-23 | Sanei Kagaku Kk | Planarized resin-coated printed circuit board |
CN114096068A (en) * | 2021-11-30 | 2022-02-25 | 广东依顿电子科技股份有限公司 | Production method of white oil board |
-
2001
- 2001-01-29 JP JP2001020022A patent/JP2001237543A/en active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2012039143A (en) * | 2011-09-22 | 2012-02-23 | Sanei Kagaku Kk | Planarized resin-coated printed circuit board |
CN114096068A (en) * | 2021-11-30 | 2022-02-25 | 广东依顿电子科技股份有限公司 | Production method of white oil board |
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