JP2001235776A - 光信号のための光学ヘテロダイン検出システム及び光信号をモニタする方法 - Google Patents

光信号のための光学ヘテロダイン検出システム及び光信号をモニタする方法

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JP2001235776A JP2001002246A JP2001002246A JP2001235776A JP 2001235776 A JP2001235776 A JP 2001235776A JP 2001002246 A JP2001002246 A JP 2001002246A JP 2001002246 A JP2001002246 A JP 2001002246A JP 2001235776 A JP2001235776 A JP 2001235776A
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ウェイン・ヴイ・ソリン
Douglas M Baney
ダグラス・エム・ベイニー
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Abstract

(57)【要約】 【課題】偏光からの独立性をもたらすと共に強度ノイズ
を抑制することのできる光学ヘテロダイン検出システム
を提供すること。 【解決手段】光学ヘテロダイン検出システムは、入力信
号（３０２）及び局部発振器信号（３０６）を組み合わ
せて組み合わせ光信号を形成し、その組み合わせ光信号
の第１のビーム及び第２のビームを出力する２つの出力
を備えた光カプラ（３１０）と、その２つの出力に光学
的に結合されてその偏光状態に基づいてビームを分割し
第１及び第２のビームの２つの偏光部分のそれぞれを出
力する４つの出力を備えている偏光ビーム・スプリッタ
（３２４）と、分割された４つのビームのそれぞれに応
答して電気信号を発生する４つの光検出器を含む受信機
（３１２）と、得られた電気信号を処理するプロセッサ
（３１６）とを含む。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般に、光学測定
及び測定システムに関するものであり、とりわけ、光信
号の光学ヘテロダイン検出システム及び方法に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】光学ヘテロダイン検出システムを利用し
て、光信号が分析される。図１には、局部発振器のファ
イバ１０４からの局部発振器信号１０２と局部発振器の
ファイバ１０８からの局部発振器信号１０６を組み合わ
せる光カプラ１１０を含む、先行技術による光学ヘテロ
ダイン検出システムが描かれている。組み合わせられた
光信号は、出力ファイバ１１８内を進行し、光検出器１
１２によって検出される。光検出器によって、組み合わ
せられた光信号からの放射光が電気信号に変換される。
電気信号は、信号プロセッサ１１６によって処理され、
波長及び振幅のような入力信号の特性が求められる。光
学ヘテロダイン検出を最適化するために、入力信号と局
部発振器信号の偏光を整合させることが重要である。局
部発振器信号の偏光と入力信号の偏光を整合させるた
め、局部発振器光ファイバにおける２つのループによっ
て表示された偏光コントローラ１２０には、局部発振器
信号が含まれている。図１のこの光学ヘテロダイン検出
システムの欠点は、入力信号の検出が、入力信号の偏光
によって大きく左右されるという点である。
【０００３】偏波ダイバーシティ受信機を光学ヘテロダ
イン検出システムに組み込むことによって、偏光から独
立した信号検出が可能になる。図２には、偏波ダイバー
シティ受信機を組み込んだ光学ヘテロダイン検出システ
ムが描かれている。この明細書全体を通じて、同様の構
成要素は、同様の要素参照番号によって表示される。光
学ヘテロダイン検出システムには、局部発振器ファイバ
２０８における偏光コントローラ２２０、光カプラ２１
０、偏光ビーム・スプリッタ２２４、２つの光検出器２
１２及び２１４、及び、プロセッサ２１６が含まれてい
る。偏光ビーム・スプリッタは、組み合わせられた光信
号を分割して、それぞれの光検出器によって個別に検出
される２つの偏光ビームにする。２つの光検出器によっ
て検出される偏光ビームには、強度ノイズ成分と、光学
ヘテロダイン検出の分野において既知のヘテロダイン成
分が含まれている。偏光ビームのヘテロダイン成分を利
用して、波長及び振幅のような入力光信号の所望の特性
が求められる。
【０００４】２つの光検出器２１２及び２１４によって
生じる電気信号の処理には、２つの偏光ビームから生じ
た電気信号を二乗し、二乗項に低域フィルタリングを施
し、更に、フィルタリングを施された項を合計すること
が必要とされる。偏波ダイバーシティ受信機によれば、
偏光から独立した信号検出が可能になるが、組み合わせ
光信号のヘテロダイン成分から強度ノイズ成分を分離す
る方法は得られない。感度及びダイナミック・レンジと
いったパラメータに関して、ヘテロダイン検出システム
の性能を向上させるには、入力信号と局部発振器信号を
含む組み合わせ光信号の強度ノイズ成分からヘテロダイ
ン成分を明確に識別できることが必要になる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、偏光
からの独立性をもたらし、強度ノイズを抑制する光学ヘ
テロダイン検出システムを提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】光信号の光学ヘテロダイ
ン検出システム及び方法には、光カプラと、組み合わせ
られた入力信号及び局部発振器信号を４つの偏光ビーム
に分割する偏光ビーム・スプリッタが含まれている。４
つの偏光ビームは、４つの偏光ビームに応答して、４つ
の異なる電気信号を発生する４つの光検出器によって検
出される。次に、４つの電気信号に処理を加えて、もと
の入力信号の偏光状態とは関係のない、強度ノイズが抑
制された、出力応答が得られるようにする。強度ノイズ
を抑制する電気信号の処理には、同様の偏光ビームに関
連した信号を減算して、同様の偏光ビームの強度ノイズ
成分を相殺することが必要とされる。偏波ダイバーシテ
ィをもたらす電気信号の処理には、、２つの減算操作か
ら生じる値を二乗し、二乗値に低域フィルタリングを施
し、更に、フィルタリングを施された値を合計すること
が必要とされる。
【０００７】光学ヘテロダイン検出システムの実施態様
には、光カプラで組み合わせられて、組み合わせ光信号
を生じることになる、入力信号と局部発振器信号が含ま
れている。光カプラには、組み合わせ光信号の第１のビ
ーム及び第２のビームを出力するための２つの出力が含
まれている。偏光ビーム・スプリッタは、第１のビーム
と第２のビームを受光するため、光カプラに光学的に接
続されている。偏光ビーム・スプリッタには、第１のビ
ームの２つの偏光部分をと、第２のビームの２つの偏光
部分を含む４つのビームを出力するための４つの出力が
含まれている。４つの光検出器は、４つのビームのそれ
ぞれに応答して、４つの電気信号を発生する。
【０００８】ある実施態様では、第１の光検出器は、第
１のビームの通常部分に対応し、第２の光検出器は、第
１のビームの異常部分に対応する。第３の光検出器は、
第２のビームの工程に対応し、第４の光検出器は、第２
のビームの異常部分に対応する。４つのビームに関連し
た強度ノイズを抑制するため、システムには、更に、第
１の光検出器から生じた電気信号を、第３の光検出器か
ら生じた電気信号から減算することによって、第１の減
算信号が得られるようにし、第２の光検出器から生じた
電気信号を、第４の光検出器から生じた電気信号から減
算することによって、第２の減算信号が得られるように
するためのプロセッサが含まれている。
【０００９】もとの入力信号の偏光とは関係のない出力
信号を生成するため、プロセッサは、第１の減算信号を
二乗することによって、第１の二乗信号を生成し、第２
の減算信号を二乗することによって、第２の二乗信号を
生成し、低域フィルタリングで第１と第２の二乗信号に
フィルタリングを施すことによって、第１と第２のフィ
ルタリングを施された信号を生成し、更に、第１のフィ
ルタリングを施された信号を第２のフィルタリングを施
された信号に加算する。
【００１０】このシステムを利用して、入力信号を測定
する前に、システムの較正が必要になる可能性がある。
システムに入力信号を阻止するスイッチを含めて、光カ
プラ、偏光ビーム・スプリッタ、及び、光検出器の応答
性を較正できるようにすることが可能である。
【００１１】光学ヘテロダイン検出を利用して、光信号
をモニタするための方法には、入力信号と局部発振器信
号を組み合わせて、組み合わせ光信号の第１と第２のビ
ームを出力することが必要とされる。第１のビームは、
第１の偏光状態を備えた第１の分割ビームと、第２の偏
光状態を備えた第２の分割ビームに分割される。第２の
ビームは、第１の偏光状態を備えた第３の分割ビーム
と、第２の偏光状態を備えた第４の分割ビームに分割さ
れる。第１の分割ビームが検出され、第１の分割ビーム
に応答して、第１の電気信号が発生する。第２の分割ビ
ームが検出され、第２の分割ビームに応答して、第２の
電気信号が発生する。第３の分割ビームが検出され、第
３の分割ビームに応答して、第３の電気信号が発生す
る。第４の分割ビームが検出され、第４の分割ビームに
応答して、第４の電気信号が発生する。４つのビームの
強度ノイズ成分を抑制し、偏光独立性を実現するため、
第１、第２、第３、及び、第４の電気信号の処理が行わ
れる。
【００１２】ある実施態様では、処理には、強度ノイズ
を抑制するため、第３の電気信号から第１の電気信号を
減算することによって、第１の減算信号を生成すること
と、強度ノイズを抑制するため、第４の電気信号から第
２の電気信号を減算することによって、第２の減算信号
を生成することと、第１の減算信号を二乗することによ
って、第１の二乗信号を生成することと、第２の減算信
号を二乗することによって、第２の二乗信号を生成する
ことと、第１と第２の二乗信号に低域フィルタリングを
施すことによって、第１と第２のフィルタリングを施さ
れた信号を生成することと、偏光独立性を実現するた
め、第１のフィルタリングを施された信号を第２のフィ
ルタリングを施された信号に加算することが必要とされ
る。
【００１３】光学ヘテロダイン検出システム及び方法に
よれば、ある波長範囲にわたって正確な光学測定システ
ムが得られる。光学ヘテロダイン検出システム及び方法
を分光分析器として利用し、未知の入力信号の特性を明
らかにすることが可能である。また、光学ヘテロダイン
検出システム及び方法は、既知の信号が入力され、その
出力信号が検出システムによって測定される、光ネット
ワーク・アナライザとして利用することも可能である。
【００１４】本発明の他の態様及び利点については、例
証として本発明の原理を示す添付の図面に関連して記述
された、下記の詳細な説明から明らかになるであろう。
【００１５】
【発明の実施の形態】図３は、入力信号３０２、信号フ
ァイバ３０４、局部発振器信号３０６、局部発振器ファ
イバ３０８、光カプラ３１０、偏光ビーム・スプリッタ
３２４、象限受信機（Quadrant Receiver: 四区分受信
機）３１２、及び、プロセッサ３１６を含む光学ヘテロ
ダイン検出システムの平面図である。
【００１６】入力信号３０２及び局部発振器信号３０６
には、光通信システムの分野において既知の従来の装置
から生じる光信号が含まれている。例えば、入力信号及
び局部発振器信号は、レーザによって発生することが可
能である。入力信号は、単一波長から構成することもで
きるし、あるいは、入力信号に、波長分割多重化の分野
において既知のように、複数波長を含むことも可能であ
る。入力信号は、未知の光学特性を備えた光信号とする
ことが可能であり、その場合、光学ヘテロダイン検出シ
ステムは、分光分析に利用することが可能である。ある
いはまた、信号は、既知の光学特性を備えた、入力光信
号とすることもできるが、この場合、光学ヘテロダイン
検出システムを利用して、光ネットワーク分析を行うこ
とが可能である。局部発信器信号は、広帯域同調可能レ
ーザから発生した広範囲にわたる同調が可能な光信号で
ある。例えば、局部発振器信号は、１ナノメートル以上
の範囲にわたって同調可能である。入力信号の検出中
は、一般に、入力信号を検出するため、ある波長範囲に
わたって、局部発振器信号の掃引が行われる。
【００１７】信号ファイバ３０４は、システムによって
検出されるべき入力信号を伝搬する。ある実施態様で
は、信号ファイバは、当該技術において既知の単モード
光ファイバであるが、他の光導波路を利用することも可
能である。更に、導波路について解説するが、光信号
は、システムに入力することもできるし、あるいは、シ
ステム内の自由空間を伝送することも可能である。
【００１８】局部発振器ファイバ３０８は、局部発振器
信号を伝搬する、単モード光ファイバのような光ファイ
バである。局部発振器ファイバには、局部発振器信号の
偏光状態を制御する偏光コントローラ３２０を含むこと
が可能である。単モード光ファイバの代わりに、偏光保
存ファイバのような他の光導波路を利用することも可能
である。あるいはまた、局部発振器信号は、導波路を用
いずに、自由空間を介して伝送することも可能である。
【００１９】光カプラ３１０によって、入力信号と局部
発振器信号が組み合わせられて、共通導波路に送り込ま
れる。図３に示すように、光カプラによって、入力信号
と局部発振器信号が組み合わせられて、組み合わせられ
た光信号は、２つの出力ファイバ３１８及び３２８に分
配される。ある実施態様では、入力信号と局部発振器信
号は、入力信号と局部発振器信号が確実に空間的に重な
り合うように組み合わせられるので、入力信号と局部発
振器信号の間に完全な干渉が生じることになる。２つの
ファイバ間における入力信号と局部発振器信号のパワー
配分は、光カプラによって影響され、所望のパワー配分
を実現するように制御可能である。ある実施態様では、
組み合わせ光信号のパワーは、２つの出力ファイバ間に
おいてほぼ均等に配分される。
【００２０】光カプラ３１０は、光学試行性３ｄＢファ
イバ・カプラであるが、他の光カプラを用いることも可
能である。ある実施態様の場合、光カプラは、光信号の
偏光とはほとんど関係がない。ある実施態様では、光カ
プラは、組み合わせ光信号の偏光を行わない。光カプラ
に接続された２つの出力ファイバ３１８及び３２８は、
組み合わせ光信号を偏光ビーム・スプリッタに伝送す
る。ある実施態様の場合、２つの出力ファイバの長さ
は、入力信号又は局部発振器信号の光が、いずれかの出
力ファイバの端部に達する前に、任意のクラッド・モー
ドの十分な減衰が得られるように選択される。例えば、
２つの出力ファイバの長さは、クラッド・モード光は、
各出力ファイバから放出される光全体の１％未満の割合
になるように選択すべきである。
【００２１】偏光ビーム・スプリッタ３２４によって、
入射光ビームが２つの偏光ビームに分割される。偏光ビ
ーム・スプリッタには、例えば、ルチル型のウォーク・
オフ結晶のような偏光ウォーク・オフを生じさせる複屈
折結晶を含むことが可能である。後述するように、組み
合わせ光信号は、それぞれ、偏光ビーム・スプリッタに
よって、異なる偏光状態を備えた２つのビームに分割さ
れる。偏光ビーム・スプリッタによって、入射ビームの
それぞれが、偏光方向が直交する２つの直線偏光成分に
分割されるのが望ましい。
【００２２】偏光ビーム・スプリッタは、単一デバイス
として説明されるが、ビーム偏光に基づいて入射ビーム
を分割するタスクを実施する構成の複数ビーム・スプリ
ッタを含むことも可能である。更に、光カプラ及び偏光
ビーム・スプリッタは、光ファイバによって接続された
物理的に独立したデバイスとして示されているが、光カ
プラ及び偏光ビーム・スプリッタは、光ファイバ接続を
必要としない平面導波回路に組み込むことも可能であ
る。留意しておくべきは、他の偏光ビーム・スプリッタ
の利用も可能であるということである。
【００２３】図４は、偏光ビーム・スプリッタ３２４、
象限受信機３１２、及び、プロセッサ３１６の側面図で
ある。図４には、組み合わせ光信号が、点線４４０及び
４４２によって識別される２つの別様の偏光ビームに分
割される方法が示されている。図４に示すように、下部
ビーム４４０は、「通常」経路を辿り、通常ビームと呼
ばれる。上部ビーム４４２は、「異常」経路を辿り、異
常ビームと呼ばれる。
【００２４】ある実施態様の場合、局部発振器信号の偏
光は、局部発振器信号のパワーが、象限受信機３１２の
４つの象限間においてほぼ均等に分配されるように制御
される。
【００２５】象限受信機３１２には、偏光ビーム・スプ
リッタ３２４から出力される４つの偏光ビームを別個に
検出するようにアライメントがとられた、４つの独立し
た光検出器が含まれている。４つの独立した光検出器
は、パッケージングの理由から、単一ユニットをなすよ
うに組み合わせられているが、代替案として、例えば、
物理的に分離された４つの光検出器とすることも可能で
ある。図示されていないが、受信機には、当該分野にお
いて既知のように、信号増幅器及びフィルタを含むこと
も可能である。
【００２６】図５は、４つの光検出器５４４、５４６、
５４８、５５０を含む、図３及び４に示す象限受信機３
１２の実施態様の正面図である。図５に示すように、受
信機の２つの左側光検出器５４４及び５４６は、光カプ
ラ３１０の第１の出力ファイバ３１８から出力されるビ
ーム（ビーム１）に対応する「１」によって部分的に識
別される。２つの右側光検出器５４８及び５５０は、光
カプラ３１０の第２の出力ファイバ３２８から出力され
るビーム（ビーム２）に対応する「２」によって部分的
に識別される。２つの下部光検出器５４４及び５４８
は、偏光ビーム・スプリッタから出射する通常ビームに
対応する文字「ｏ」によって部分的に識別される。２つ
の上部光検出器５４６及び５５０は、偏光ビーム・スプ
リッタから出射する異常ビームに対応する文字「ｅ」に
よって部分的に識別される。この規則に従って、４つの
ビーム及びそれぞれの光検出器は、「１ｏ」、「１
ｅ」、「２ｏ」、及び、「２ｅ」として識別される。
【００２７】象限受信機３１２における４つの光検出器
５４４、５４６、５４８、及び、５５０のそれぞれによ
って生じる電気信号は、個別にプロセッサ３１６に送り
込まれる。象限受信機とプロセッサの間の４つの接続
は、図３及び図４に４つのライン３５２によって示され
ている。
【００２８】プロセッサ３１６は、象限受信機３１２か
ら電気信号を受信して、処理を加え、有用なデータにす
る。プロセッサには、アナログ信号処理回路要素及び／
又はデジタル信号処理回路要素を含むことが可能であ
る。ある実施態様の場合、受信機からのアナログ信号
が、デジタル信号に変換され、デジタル信号は、図６に
関連して後述するように、引き続き処理を受ける。もち
ろん、デジタル処理には、光検出器からの電気信号を、
もとの電気信号を表したデジタル信号に変換することが
必要とされる。
【００２９】図３乃至図５に関連して解説されるシステ
ムの動作には、光カプラ３１０において入力信号と、掃
引局部発振器信号を組み合わせることが含まれる。組み
合わせられた光信号は、次に、それぞれ、入力信号の一
部と局部発振器の一部を含む２つのビームに分割され
る。次に、組み合わせ光信号を含む２つのビームのそれ
ぞれが、偏光ビーム・スプリッタ３２４によって、異な
る偏光状態を有する２つの偏光ビームに分割される。次
に、偏光ビームは、象限受信機３１２によって検出さ
れ、受信機内の４つの光検出器が、それぞれ、検出され
た光ビームの強度に比例した電気信号を発生する。次
に、４つの光検出器によって生じた電気信号が、プロセ
ッサ３１６によって受信され、組み合わせ光信号のヘテ
ロダイン項を分離し、最大にするように処理される。電
気信号の処理には、強度ノイズ抑制と偏波ダイバーシテ
ィを施すことが必要とされる。後述のように、このシス
テムは、正確な結果を得るため、初期較正操作を必要と
する可能性がある。
【００３０】図６は、組み合わせ光信号に応答して、４
つの光検出器６４４、６４６、６４８、及び、６５０か
ら発生した電気信号に処理を加えて、強度ノイズ及び偏
波ダイバーシティを実現する方法の一例を図示したもの
である。上述のように、信号処理には、デジタル信号処
理を伴うのが望ましいが、これはクリティカルではな
い。最初に、「１ｏ」信号と「２ｏ」信号の間、及び、
「１ｅ」信号と「２ｅ」信号の間で信号減算が実施され
る。減算機能が、それぞれ、減算ユニット６５４及び６
５６によって表されている。減算機能は、各光検出器が
受信する光信号の強度ノイズ成分を相殺することによっ
て、強度ノイズ成分を抑制するために実施される。強度
ノイズは、各信号間において共通であるため、減算機能
によって、強度ノイズは相殺される。すなわち、「１
ｅ」及び「２ｅ」の振幅が、同期して、互いに同じ割合
で揺動し、「１ｏ」及び「２ｏ」の振幅が、同期して、
互いに同じ割合で揺動する。
【００３１】減算信号に追加信号処理を施すことによっ
て、偏波ダイバーシティが得られる。組み合わせられた
光信号ビームは、直交する偏光状態をなすように分割さ
れるので、ビームの一方は、ｃｏｓθに比例し、ビーム
のもう一方は、ｓｉｎθに比例するが、ここで、θは入
力信号の偏光角である。図６の例の場合、通常ビーム部
分から生じる電気信号には、ｃｏｓθ項が含まれてお
り、異常ビーム部分から生じる電気信号には、ｓｉｎθ
が含まれている。ｃｏｓθは、二乗装置６５８によって
表されているように二乗され、ｓｉｎθは、二乗装置６
６０によって表されているように二乗される。二乗装置
は、入力信号の二乗に比例する出力信号を発生する。二
乗装置からの出力信号は、それぞれ、低域フィルタリン
グ装置６６４及び６６８に接続されている。低域フィル
タリング装置は、二乗された出力信号に低域フィルタリ
ングを施す。低域フィルタリング装置からの出力信号
は、それぞれ、６７０で表示された加算装置の入力端子
に接続され、加算装置は、低域フィルタリング装置から
の信号の和に比例した読み取り信号を送り出す。ｃｏｓ
θ項及びｓｉｎθ項を二乗し、前記項に低域フィルタリ
ングを施し、更に、二乗され、フィルタリングを施され
たｃｏｓθ項と、二乗され、フィルタリングを施された
ｓｉｎθ項を加算することによって、入力信号の偏光角
（θ）に関係のない結果、従って、異なる偏光が得られ
る。もちろん、デジタル・システムの場合、減算、二
乗、低域フィルタリング、及び、加算装置は、多機能プ
ロセッサをなすように統合することが可能である。
【００３２】偏光ビーム・スプリッタ３２４、象限受信
機３１２、プロセッサ３１６、及び、信号処理装置６５
４、６５６、６５８、６６０、６６４、６６８、及び、
６７０を組み合わせることによって、入力信号の偏光状
態に感応せず、４つの光検出器によって検出された分割
ビームの強度ノイズを抑制するシステムが得られる。
【００３３】図７には、図３乃至図６に関連して解説の
システムと同様の光学ヘテロダイン検出システムの実施
態様が描かれている。図７のシステムには、信号ファイ
バ７０４に関連したスイッチ７６４、及び、２つの出力
ファイバ７１８及び７２８と偏光ビーム・スプリッタ７
２４の間に配置されたレンズ７６６が含まれている。レ
ンズは、出力ファイバからの光ビームを偏光ビーム・ス
プリッタに送り込み、最終的に、象限受信機７１２に達
するようにするために利用される。単一レンズが示され
ているが、ファイバに特有のレンズのような複数レンズ
を用いることも可能である。
【００３４】システムの較正のため、スイッチ７６４を
利用して、入力信号の透過が選択的に阻止される。例え
ば、入力信号がオフの間に、ある波長範囲にわたって局
部発振器信号の掃引を行うことによって、カプラの結合
係数を波長の関数として求めることができる。更に、入
力信号がオフの間に、局部発振器信号の掃引を行うこと
によって、光検出器の応答性を波長の関数として求める
ことができる。
【００３５】更に、入力信号がオフの間に、局部発振器
信号の掃引を行うことによって、光検出器に対する局部
発振器信号の配分を波長の関数として求めることができ
る。局部発振器信号は、受信機の４つの光検出器の間で
ほぼ均等に分配されるのが望ましい。局部発振器信号
が、受信機の４つの光検出器の間でほぼ均等に分配され
ない場合には、偏光コントローラ７２０を利用して、局
部発振器信号のパワー配分を調整することが可能であ
る。
【００３６】ここでは、光学ヘテロダイン検出を利用し
て、光信号をモニタする方法が解説され、図８のプロセ
ス流れ図に描かれている。工程８０２において、光信号
と局部発振器信号が組み合わせられ、組み合わせられた
光信号と局部発振器信号の第１のビームと第２のビーム
が出力される。工程８０４では、第１のビームが、第１
の偏光状態を有する第１の分割ビームと、第２の偏光状
態を有する第２の分割ビームに分割される。工程８０６
では、第２のビームが、第１の偏光状態を有する第３の
分割ビームと、第２の偏光状態を有する第４の分割ビー
ムに分割される。すなわち、第１の分割ビーム及び第３
の分割ビームは、偏光状態が同じであり、同様に、第２
の分割ビーム及び第４の分割ビームも、偏光状態が同じ
である。工程８０８では、第１の電気信号が、第１の分
割ビームに応答して発生する。工程８１０では、第２の
電気信号が、第２の分割ビームに応答して発生する。工
程８１２では、第３の電気信号が、第３の分割ビームに
応答して発生する。工程８１４では、第４の電気信号
が、第４の分割ビームに応答して発生する。工程８１６
では、入射ビームの強度ノイズ成分を抑制し、偏光独立
性を実現するため、第１、第２、第３、及び、第４の電
気信号が処理される。
【００３７】図９には、図８の工程８１６で述べた処理
の詳細が示されている。工程９０２において、この処理
には、強度ノイズを抑制するため、第３の電気信号から
第１の電気信号を減算することによって、第１の減算信
号を生じさせ、第４の電気信号から第２の電気信号を減
算することによって、第２の減算信号を生じさせること
が含まれる。
【００３８】追加工程９０４において、この処理には、
更に、第１の減算信号を二乗することによって、第１の
二乗信号を生じさせ、第２の減算信号を二乗することに
よって、第２の二乗信号を生じさせることが含まれる。
【００３９】追加工程９０６において、この処理には、
更に、第１の二乗信号に低域フィルタリングを施すこと
によって、第１のフィルタリングを施された信号を生じ
させ、第２の二乗信号に低域フィルタリングを施すこと
によって、第２のフィルタリングを施された信号を生じ
させることが含まれる。
【００４０】追加工程９０８において、この処理には、
更に、偏光独立性を実現するため、第１のフィルタリン
グを施された信号と第２のフィルタリングを施された信
号の加算が含まれる。
【００４１】以上のように本発明の好適実施形態となる
光信号のための光学ヘテロダイン検出システム及び光信
号をモニタする方法について説明したが、これはあくま
でも例示的なものであり、当業者によって様々な変形変
更が可能である。
【００４２】上述の実施形態に即して本発明を説明する
と、本発明は、光学ヘテロダイン検出システムであっ
て、入力信号（３０２）及び局部発振器信号（３０６）
を組み合わせて、組み合わせ光信号にするようになって
おり、前記組み合わせ光信号の第１のビーム及び第２の
ビームを出力するための２つの出力を備えた光カプラ
（３１０）と、その偏光状態に基づいてビームを分割
し、前記光カプラの前記２つの出力に光学的に結合され
て、前記第１のビーム及び前記第２のビームを受光する
ようになっており、前記第１のビームの２つの偏光部分
及び前記第２のビームの２つの偏光部分を出力するため
の４つの出力を備えている偏光ビーム・スプリッタ（３
２４）と、それぞれ、前記第１のビームの前記２つの偏
光部分及び前記第２のビームの前記２つの偏光部分の異
なる１つを受光するように光学的に接続されており、前
記４つのビームのそれぞれに応答して、電気信号を発生
する第１、第２、第３、及び、第４の光検出器（５４
４、５４６、５４８、５５０）が含まれている、ことを
特徴とする光学ヘテロダイン検出システムを提供する。
【００４３】好ましくは、更に、前記入力信号の強度ノ
イズ成分が抑制される、出力信号を供給するためのプロ
セッサ（３１６）が含まれている。
【００４４】好ましくは、前記プロセッサ（３１６）
に、前記入力信号（３０２）の偏光にほぼ依存しない手
法により、前記出力信号を供給するための回路要素が含
まれている。
【００４５】好ましくは、前記第１の光検出器（５４
４）が、前記第１のビームの通常部分に対応して前記電
気信号のうち第１の信号を発生し、前記第２の光検出器
（５４６）が、前記第１のビームの異常部分に対応して
前記電気信号のうち第２の信号を発生し、前記第３の光
検出器（５４８）が、前記第２のビームの通常部分に対
応し、前記電気信号のうち第３の信号を発生して前記第
４の光検出器（５５０）が、前記第２のビームの異常部
分に対応して前記電気信号のうち第４の信号を発生し、
更に、前記システムに、前記入力信号に関連した強度ノ
イズを抑制するため、前記電気信号のうち前記第３の信
号から前記電気信号のうち前記第１の信号を減算して、
第１の減算信号を生成し、一方、前記電気信号のうち前
記第４の信号から前記電気信号のうち前記第２の信号を
減算して、第２の減算信号を生成する、減算装置（６５
４、６５６）が含まれる。
【００４６】好ましくは、更に、前記第１の減算信号を
二乗して、第１の二乗信号を生成し、前記第２の減算信
号を二乗して、第２の減算信号を生成するための二乗装
置（６５８、６６０）と、前記第１の二乗信号を前記第
２の二乗信号に加算して、前記入力信号の偏光に関係の
ない出力信号を生成するための加算装置（６７０）とが
含まれている。
【００４７】好ましくは、更に、前記第１の二乗信号が
前記加算信号に入力される前に、前記第１の二乗信号に
低域フィルタリングを施し、前記第２の二乗信号が前記
加算信号に入力される前に、前記第２の二乗信号に低域
フィルタリングを施すための低域フィルタリング装置
（６６４、６６８）が含まれる。
【００４８】好ましくは、前記偏光ビーム・スプリッタ
（３２４）に、前記光カプラから前記第１のビーム及び
前記第２のビームを受光するように接続されたウォーク
・オフ結晶が含まれる。
【００４９】好ましくは、更に、前記光カプラ、前記偏
光ビーム・スプリッタ、又は、前記光検出器を較正する
ために、前記入力信号をオフにするためのスイッチ（７
６４）が含まれる。
【００５０】更に本発明は、光学ヘテロダイン検出を利
用して、光信号をモニタするための方法であって、入力
信号と局部発振器信号を組み合わせて、前記入力信号及
び前記局部発振器信号の一部を含む第１のビームと、前
記入力信号及び前記局部発振器信号の一部を含む第２の
ビームを出力する工程（８０２）と、前記第１のビーム
を、第１の偏光状態を有する第１の分割ビームと、第２
の偏光状態を有する第２の分割ビームに分割する工程
（８０４）と、前記第２のビームを、前記第１の偏光状
態を有する第３の分割ビームと、前記第２の偏光状態を
有する第４の分割ビームに分割する工程（８０６）と、
前記第１の分割ビームに応答して、第１の電気信号を発
生する工程（８０８）と、前記第２の分割ビームに応答
し、第２の電気信号を発生する工程（８１０）と、前記
第３の分割ビームに応答し、第３の電気信号を発生する
工程（８１２）と、前記第４の分割ビームに応答し、第
４の電気信号を発生する工程（８１４）と、前記第１、
第２、第３、及び、第４の分割ビームの強度ノイズ成分
を抑制して、偏光独立性を実現するために、前記第１、
第２、第３、及び、第４の電気信号に処理を加える工程
（８１６）が含まれていることを特徴とする、光信号を
モニタする方法を提供する。
【００５１】好ましくは、前記処理を加える工程に、強
度ノイズを抑制するため、前記第３の電気信号から前記
第１の電気信号を減算することによって、第１の減算信
号が生成されるようにする工程（９０２）と、強度ノイ
ズを抑制するため、前記第４の電気信号から前記第２の
電気信号を減算することによって、第２の減算信号が生
成されるようにする工程と、前記第１の減算信号を二乗
することによって、第１の二乗信号が生成されるように
する工程（９０４）と、前記第２の減算信号を二乗する
ことによって、第２の二乗信号が生成されるようにする
工程と、前記第１の二乗信号に低域フィルタリングを施
すことによって、第１のフィルタリングを施された信号
が生成されるようにする工程（９０６）と、前記第２の
二乗信号に低域フィルタリングを施すことによって、第
２のフィルタリングを施された信号が生成されるように
する工程と、偏光独立性を実現するために、前記第１の
フィルタリングを施された信号を前記第２のフィルタリ
ングを施された信号に加算する工程（９０８）が含まれ
る。
【図面の簡単な説明】
【図１】先行技術による単一光検出器を含む光学ヘテロ
ダイン検出システムの図である。
【図２】先行技術による偏光ダイバーシティ受信機を含
む光学ヘテロダイン検出システムの図である。
【図３】本発明による偏光ビーム・スプリッタ及び象限
受信機を含む光学ヘテロダイン検出システムの平面図で
ある。
【図４】本発明による偏光ビーム・スプリッタ及び象限
受信機を含む図３の光学ヘテロダイン検出システムの部
分側面図である。
【図５】本発明による図３及び４に示す象限受信機の正
面図である。
【図６】本発明による図５の象限受信機から生じる電気
信号に施される信号処理の説明図である。
【図７】本発明によるスイッチ及びレンズを含む図３及
び４の光学ヘテロダイン検出システムと同様の光学ヘテ
ロダイン検出システムの平面図である。
【図８】光学ヘテロダイン検出を利用して入力信号をモ
ニタするための方法のプロセス流れ図である。
【図９】図８に関連した追加処理工程のプロセス流れ図
である。
【符号の説明】
３０２ 入力信号 ３０６ 局部発振器信号 ３１０ 光カプラ ３１６ プロセッサ ３２４ 偏光ビーム・スプリッタ ５４４、６４４ 第１の光検出器 ５４６、６４６ 第２の光検出器 ５４８、６４８ 第３の光検出器 ５５０、６５０ 第４の光検出器 ６５４ 減算装置 ６５６ 減算装置 ６５８ 二乗装置 ６６０ 二乗装置 ６６４ 低域フィルタリング装置 ６６８ 低域フィルタリング装置 ６７０ 加算装置 ７６４ スイッチ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 399117121 395 Ｐａｇｅ Ｍｉｌｌ Ｒｏａｄ Ｐ ａｌｏ Ａｌｔｏ，Ｃａｌｉｆｏｒｎｉａ Ｕ．Ｓ．Ａ. (72)発明者 ダグラス・エム・ベイニー アメリカ合衆国カリフォルニア州ロス・ア ルトス クリントン アベニュー897

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】光学ヘテロダイン検出システムであって、 入力信号及び局部発振器信号を組み合わせて、組み合わ
    せ光信号にするようになっており、前記組み合わせ光信
    号の第１のビーム及び第２のビームを出力するための２
    つの出力を備えた光カプラと、 その偏光状態に基づいてビームを分割し、前記光カプラ
    の前記２つの出力に光学的に結合されて、前記第１のビ
    ーム及び前記第２のビームを受光するようになってお
    り、前記第１のビームの２つの偏光部分及び前記第２の
    ビームの２つの偏光部分を出力するための４つの出力を
    備えている偏光ビーム・スプリッタと、 それぞれ、前記第１のビームの前記２つの偏光部分及び
    前記第２のビームの前記２つの偏光部分の異なる１つを
    受光するように光学的に接続されており、前記４つのビ
    ームのそれぞれに応答して、電気信号を発生する第１、
    第２、第３、及び、第４の光検出器が含まれている、こ
    とを特徴とする光学ヘテロダイン検出システム。
  2. 【請求項２】更に、前記入力信号の強度ノイズ成分が抑
    制される、出力信号を供給するためのプロセッサが含ま
    れていることを特徴とする、請求項１に記載のシステ
    ム。
  3. 【請求項３】前記プロセッサに、前記入力信号の偏光に
    ほぼ依存しない手法により、前記出力信号を供給するた
    めの回路要素が含まれていることを特徴とする、請求項
    １に記載のシステム。
  4. 【請求項４】前記第１の光検出器が、前記第１のビーム
    の通常部分に対応し、前記電気信号のうち第１の信号を
    発生することと、 前記第２の光検出器が、前記第１のビームの異常部分に
    対応し、前記電気信号のうち第２の信号を発生すること
    と、 前記第３の光検出器が、前記第２のビームの通常部分に
    対応し、前記電気信号のうち第３の信号を発生すること
    と、 前記第４の光検出器が、前記第２のビームの異常部分に
    対応し、前記電気信号のうち第４の信号を発生すること
    と、 更に、前記システムに、 前記入力信号に関連した強度ノイズを抑制するため、前
    記電気信号のうち前記第３の信号から前記電気信号のう
    ち前記第１の信号を減算して、第１の減算信号を生成
    し、一方、前記電気信号のうち前記第４の信号から前記
    電気信号のうち前記第２の信号を減算して、第２の減算
    信号を生成する、減算装置が含まれていることを特徴と
    する、請求項１に記載のシステム。
  5. 【請求項５】更に、前記第１の減算信号を二乗して、第
    １の二乗信号を生成し、前記第２の減算信号を二乗し
    て、第２の減算信号を生成するための二乗装置と、 前記第１の二乗信号を前記第２の二乗信号に加算して、
    前記入力信号の偏光に関係のない出力信号を生成するた
    めの加算装置とが含まれていることを特徴とすることを
    特徴とする、請求項４に記載のシステム。
  6. 【請求項６】更に、前記第１の二乗信号が前記加算信号
    に入力される前に、前記第１の二乗信号に低域フィルタ
    リングを施し、前記第２の二乗信号が前記加算信号に入
    力される前に、前記第２の二乗信号に低域フィルタリン
    グを施すための低域フィルタリング装置が含まれている
    ことを特徴とする、請求項５に記載のシステム。
  7. 【請求項７】前記偏光ビーム・スプリッタに、前記光カ
    プラから前記第１のビーム及び前記第２のビームを受光
    するように接続されたウォーク・オフ結晶が含まれるこ
    とを特徴とする、請求項１に記載のシステム。
  8. 【請求項８】更に、前記光カプラ、前記偏光ビーム・ス
    プリッタ、又は、前記光検出器を較正するために、前記
    入力信号をオフにするためのスイッチが含まれているこ
    とを特徴とする、請求項１に記載のシステム。
  9. 【請求項９】光学ヘテロダイン検出を利用して、光信号
    をモニタするための方法であって、 入力信号と局部発振器信号を組み合わせて、前記入力信
    号及び前記局部発振器信号の一部を含む第１のビーム
    と、前記入力信号及び前記局部発振器信号の一部を含む
    第２のビームを出力する工程と、 前記第１のビームを、第１の偏光状態を有する第１の分
    割ビームと、第２の偏光状態を有する第２の分割ビーム
    に分割する工程と、 前記第２のビームを、前記第１の偏光状態を有する第３
    の分割ビームと、前記第２の偏光状態を有する第４の分
    割ビームに分割する工程と、 前記第１の分割ビームに応答して、第１の電気信号を発
    生する工程と、 前記第２の分割ビームに応答して、第２の電気信号を発
    生する工程と、 前記第３の分割ビームに応答して、第３の電気信号を発
    生する工程と、 前記第４の分割ビームに応答して、第４の電気信号を発
    生する工程と、 前記第１、第２、第３、及び、第４の分割ビームの強度
    ノイズ成分を抑制して、偏光独立性を実現するために、
    前記第１、第２、第３、及び、第４の電気信号に処理を
    加える工程が含まれていることを特徴とする、光信号を
    モニタする方法。
  10. 【請求項１０】前記処理を加える工程に、 強度ノイズを抑制するため、前記第３の電気信号から前
    記第１の電気信号を減算することによって、第１の減算
    信号が生成されるようにする工程と、 強度ノイズを抑制するため、前記第４の電気信号から前
    記第２の電気信号を減算することによって、第２の減算
    信号が生成されるようにする工程と、 前記第１の減算信号を二乗することによって、第１の二
    乗信号が生成されるようにする工程と、 前記第２の減算信号を二乗することによって、第２の二
    乗信号が生成されるようにする工程と、 前記第１の二乗信号に低域フィルタリングを施すことに
    よって、第１のフィルタリングを施された信号が生成さ
    れるようにする工程と、 前記第２の二乗信号に低域フィルタリングを施すことに
    よって、第２のフィルタリングを施された信号が生成さ
    れるようにする工程と、 偏光独立性を実現するために、前記第１のフィルタリン
    グを施された信号を前記第２のフィルタリングを施され
    た信号に加算する工程が含まれていることを特徴とす
    る、請求項９に記載の光信号をモニタする方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012141493A (ja) * 2011-01-05 2012-07-26 Nec Corp 電気光学変調器

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6646746B1 (en) * 2000-10-02 2003-11-11 Agilent Technologies, Inc. Method and system for optical heterodyne detection of an optical signal
US6856400B1 (en) * 2000-12-14 2005-02-15 Luna Technologies Apparatus and method for the complete characterization of optical devices including loss, birefringence and dispersion effects
US20030016425A1 (en) * 2001-07-19 2003-01-23 Tan Tun Sein Polarization diversity receiver with planar waveguide and polarizing beam splitter
US6882428B2 (en) * 2001-08-28 2005-04-19 Agilent Technologies, Inc. Optical analyzer and method for reducing relative intensity noise in interferometric optical measurements using a continuously tunable laser
US11243296B2 (en) 2017-06-15 2022-02-08 Analog Photonics LLC Integrated optical structures for LiDAR and other applications employing multiple detectors
KR102158203B1 (ko) 2019-10-24 2020-09-22 울산과학기술원 헤테로다인 방식의 이차원 적외선 분광장치 및 이를 이용한 분광방법
CN113406744B (zh) * 2021-06-28 2022-07-22 中国电子科技集团公司信息科学研究院 傅里叶型波导分光芯片

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1290019C (en) * 1986-06-20 1991-10-01 Hideo Kuwahara Dual balanced optical signal receiver
DE3621734A1 (de) * 1986-06-28 1988-01-07 Standard Elektrik Lorenz Ag Optischer ueberlagerungsempfaenger
US5093563A (en) * 1987-02-05 1992-03-03 Hughes Aircraft Company Electronically phased detector arrays for optical imaging
US5477369A (en) 1987-04-20 1995-12-19 U.S. Philips Corporation Device for optical heterodyne or homodyne detection of an optical signal beam and receiver provided with such a device
US5060312A (en) * 1990-03-05 1991-10-22 At&T Bell Laboratories Polarization independent coherent lightwave detection arrangement
US5202745A (en) 1990-11-07 1993-04-13 Hewlett-Packard Company Polarization independent optical coherence-domain reflectometry
DE59105787D1 (de) * 1990-11-15 1995-07-27 Sel Alcatel Ag Vorrichtung für den optischen Überlagerungsempfang von Signalen.
US5268741A (en) 1992-01-31 1993-12-07 Hewlett-Packard Company Method and apparatus for calibrating a polarization independent optical coherence domain reflectometer
US5663793A (en) * 1995-09-05 1997-09-02 Zygo Corporation Homodyne interferometric receiver and calibration method having improved accuracy and functionality

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012141493A (ja) * 2011-01-05 2012-07-26 Nec Corp 電気光学変調器

Also Published As

Publication number Publication date
DE60023443D1 (de) 2005-12-01
DE60023443T2 (de) 2006-07-27
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EP1130814A3 (en) 2004-01-07
EP1130814B1 (en) 2005-10-26
US6548801B1 (en) 2003-04-15

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