JP2001230055A - Abnormality detection device for heater drive - Google Patents

Abnormality detection device for heater drive

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JP2001230055A
JP2001230055A JP2000036479A JP2000036479A JP2001230055A JP 2001230055 A JP2001230055 A JP 2001230055A JP 2000036479 A JP2000036479 A JP 2000036479A JP 2000036479 A JP2000036479 A JP 2000036479A JP 2001230055 A JP2001230055 A JP 2001230055A
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heater
signal
conduction
abnormality
state
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JP2000036479A
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Michitaka Fukuda
道隆 福田
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Canon Inc
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To detect steadily and promptly the abnormality related to heater drive by a combination of logic of heater drive signal and conduction detection signal. SOLUTION: A heater drive circuit b1 is connected with an alternating current power source AC and drives a heater b3 in compliance with a heater trigger signal s1 which instructs the conduction of the heater b3. An abnormality decision circuit b2, which is composed of a logic circuit, detects a combination of abnormal state or changes of the heater trigger signal s1 and the conduction detection signal s4, based on the conduction detection signal s4 showing the conduction state of the heater obtained from heater drive circuit b1 and the heater trigger signal, and outputs it as a decision signal s5.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、交流電源により駆
動される定着ヒータ等の負荷の駆動に関し、特にその異
常検出装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to driving of a load such as a fixing heater driven by an AC power supply, and more particularly to a device for detecting an abnormality thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、複写機、プリンタ、ファクシミリ
等の画像形成装置であって、トナー画像の定着のため
に、交流電源により駆動されるヒータを用いるものがあ
る。
2. Description of the Related Art Conventionally, there has been an image forming apparatus such as a copying machine, a printer, a facsimile, etc., which uses a heater driven by an AC power supply for fixing a toner image.

【0003】このような定着ヒータを駆動するヒータ駆
動回路では、ヒータ導通検知信号をコンデンサで平滑し
て、この平滑出力をコンパレータを介してCPUのI/
O等に接続して、トライアックやヒータの異常を検出す
る方法が一般的となっている。この方式の利点は、異常
検出手段をアナログ回路で簡単に構成できる点である。
In a heater driving circuit for driving such a fixing heater, a heater conduction detection signal is smoothed by a capacitor, and the smoothed output is output to a CPU I / O via a comparator.
A method of detecting an abnormality of a triac or a heater by connecting to an O or the like is generally used. The advantage of this method is that the abnormality detecting means can be easily constituted by an analog circuit.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の方式には次のような欠点がある。 (1)異常検出手段をアナログ回路で構成しているため
に、使用部品の特性のばらつきによって異常判定用コン
パレータのしきい値や導通検知信号(アナログ値)その
ものがばらついてしまう。 (2)コンパレータ出力自体の異常により出力信号が高
また低レベルへ固定化されることによって目的とする異
常を検出できなくなる場合がある。 (3)電源切断直後に導通検知信号ラインが低レベルに
下がる際に、制御電源の電荷がこれより後の時間まで放
電しきれずに残ることにより、結果として異常と認識さ
れてエラー処理・記憶を行ってしまう恐れがある。これ
を防止するためには、ソフトウェアでメイン電源切断を
認識してその時間分はエラー処理を行わないなど、特別
な処理を設ける必要があった。また、この構成は、ソフ
トウェアが介在することになり、安全システムとしては
好ましくない形態でもある。 (4)ヒータの全波オンまたは完全オフ時にはある程度
対応できるが、位相制御中の異常監視においては、その
オン/オフ(ON/OFF)デューティによっては対応
できない場合があり、総合的にみて信頼性の面で不確実
なところがあった。
However, the above conventional method has the following disadvantages. (1) Since the abnormality detection means is configured by an analog circuit, the threshold value of the abnormality determination comparator and the conduction detection signal (analog value) itself vary due to variations in the characteristics of the components used. (2) The output signal may be fixed to a high or low level due to an abnormality in the comparator output itself, so that a target abnormality may not be detected. (3) When the conduction detection signal line falls to a low level immediately after the power is turned off, the charge of the control power supply remains without being completely discharged until a time after this, and as a result, it is recognized as abnormal and error processing and storage are performed. There is a risk of going. In order to prevent this, it is necessary to provide a special process such that the main power supply is recognized by software and error processing is not performed for the time. In addition, this configuration involves software, which is not preferable as a safety system. (4) It is possible to cope to some extent when the heater is full-wave on or completely off, but it may not be able to cope with abnormality monitoring during phase control depending on its on / off (ON / OFF) duty. There was an uncertain point in terms of.

【0005】本発明はこのような従来の背景に鑑みてな
されたものであり、その目的は、従来のコンパレータに
よるアナログ信号としきい値レベルとの比較によること
なく、ヒータ駆動信号と導通検知信号の論理の組み合わ
せにより、すなわちデジタル回路化することにより、ヒ
ータ駆動関連の異常を確実にかつ迅速に検出することが
できるヒータ駆動異常検出装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of such a conventional background, and an object of the present invention is to compare a heater drive signal and a conduction detection signal without using a conventional comparator to compare an analog signal with a threshold level. An object of the present invention is to provide a heater drive abnormality detection device that can reliably and quickly detect an abnormality related to heater drive by combining logics, that is, by forming a digital circuit.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明によるヒータ駆動
異常検出装置は、交流電源により駆動されるヒータと、
このヒータの導通を指示するヒータトリガ信号に応じ
て、ヒータへの導通を制御するスイッチング手段と、前
記ヒータの導通状態を検知し、導通検知信号を発生する
導通検知回路と、前記ヒータトリガ信号および前記導通
検知信号の、正常状態ではあり得ない状態および変化の
組み合わせを検出する異常判定用論理回路とを備えたこ
とを特徴とする。
A heater driving abnormality detecting device according to the present invention comprises a heater driven by an AC power supply;
Switching means for controlling conduction to the heater in response to a heater trigger signal for instructing conduction of the heater; a conduction detection circuit for detecting a conduction state of the heater and generating a conduction detection signal; An abnormality determination logic circuit for detecting a combination of a state and a change of the detection signal that cannot be in a normal state.

【0007】このようにデジタル信号とハードウェア論
理回路を用いることにより、ヒータ駆動関連の異常を確
実にかつ迅速に検出することができ、また、装置の信頼
性を向上させることができる。
[0007] By using the digital signal and the hardware logic circuit as described above, it is possible to reliably and quickly detect an abnormality related to the heater drive, and to improve the reliability of the apparatus.

【0008】前記異常判定用論理回路は、第1の形態に
おいて、前記ヒータトリガ信号がヒータの導通を指示し
たときに前記導通検知信号が既に導通状態を示している
場合を検出し、これに応じて異常状態の発生を示す信号
を出力する。
In the first embodiment, the abnormality determination logic circuit detects a case where the conduction detection signal has already indicated a conduction state when the heater trigger signal indicates conduction of the heater, and responds accordingly. A signal indicating the occurrence of an abnormal state is output.

【0009】前記異常判定用論理回路は、第2の形態に
おいて、前記ヒータトリガ信号がヒータの導通を指示し
ていないときに前記導通検知信号が非導通状態から導通
状態へ変化した場合を検出し、これに応じて異常状態の
発生を示す信号を出力する。
In the second embodiment, the abnormality determination logic circuit detects a case where the conduction detection signal changes from a non-conduction state to a conduction state when the heater trigger signal does not indicate conduction of the heater, In response, a signal indicating the occurrence of an abnormal state is output.

【0010】前記異常判定用論理回路は、第3の形態に
おいて、前記ヒータトリガ信号がヒータ導通を指示した
にも拘わらず、前記導通検知信号がヒータの導通状態を
示さない場合を検出し、これに応じて異常状態の発生を
示す信号を出力する。
In the third embodiment, the abnormality determination logic circuit detects a case where the conduction detection signal does not indicate the conduction state of the heater despite the heater trigger signal indicating the conduction of the heater. In response, a signal indicating the occurrence of an abnormal state is output.

【0011】このような第1、第2、第3の形態は、よ
り具体的には、前記ヒータトリガ信号および前記導通検
知信号の一方を信号入力端に受けてこれを取り込む第1
のフリップフロップと、この第1のフリップフロップの
出力を入力端に受けてこれを取り込む第2のフリップフ
ロップと、前記第1および第2のフリップフロップの一
方の非反転出力および他方の反転出力を第1および第2
の入力端に受けると共に、前記前記ヒータトリガ信号お
よび前記導通検知信号の他方を第3の入力端に受ける論
理積ゲートとにより構成することができる。
More specifically, the first, second, and third embodiments have a first configuration in which one of the heater trigger signal and the conduction detection signal is received at a signal input terminal and is received.
, A second flip-flop which receives an output of the first flip-flop at an input terminal and takes in the same, and outputs a non-inverted output of one of the first and second flip-flops and an inverted output of the other. First and second
And an AND gate that receives the other of the heater trigger signal and the conduction detection signal at a third input terminal.

【0012】また、好ましくは、前記異常状態の発生を
示す信号が所定の時間内に複数回連続して発生した場合
に異常状態と判定し、当該信号が前記所定の時間内に複
数回連続して発生しなかった場合は、異常状態と判定し
ないようにする。これにより、電源電圧の瞬断のよう
な、一時的に異常状態となった後、自動的に直ちに正常
状態に復帰したような場合を、異常状態と判定しないよ
うにすることができる。
[0012] Preferably, when the signal indicating the occurrence of the abnormal state is generated plural times continuously within a predetermined time, it is determined that the signal is abnormal, and the signal is continuously generated plural times within the predetermined time. If it does not occur, it is determined not to be judged as abnormal. Thus, it is possible to prevent a case in which an abnormal state is temporarily returned to a normal state immediately after an abnormal state, such as a momentary interruption of the power supply voltage, from being determined as an abnormal state.

【0013】これは、より具体的には、前記異常状態の
発生を示す信号により起動され、前記所定の時間に相当
する時間幅の時限信号を発生するタイマと、前記時限信
号の発生期間中に前記異常状態の発生を示す信号の発生
回数を計数するカウンタと、このカウンタの計数値が予
め定めた値に達したとき異常状態の発生を示す最終的な
信号を出力する比較器とを有し、前記時限信号が非発生
状態に戻ることにより、前記計数値が予め定めた値に達
する前であっても前記カウンタをリセットするようにす
ることで実現できる。
More specifically, the timer is activated by a signal indicating the occurrence of the abnormal state, and generates a time signal having a time width corresponding to the predetermined time. A counter that counts the number of occurrences of the signal indicating the occurrence of the abnormal state, and a comparator that outputs a final signal indicating the occurrence of the abnormal state when the count value of the counter reaches a predetermined value. By returning to the non-generating state of the timed signal, the counter can be reset even before the count value reaches a predetermined value.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照して詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0015】図1は、本発明によるヒータ駆動異常検出
装置全体の概略構成を示す。この装置は、ヒータ駆動回
路b1と、ヒータ駆動異常判定回路(異常判定用論理回
路)b2とからなる。ヒータ駆動回路b1は、交流電源
ACに接続されて、外部からのヒータトリガ信号s1お
よびリレー駆動信号s2に従い、ヒータb3を駆動す
る。ヒータトリガ信号s1は、ヒータb3の検知温度に
応じて生成され、ヒータb3の導通を指示するパルス信
号である。リレー駆動信号s2は、後述するように、異
常発生時にヒータb3の電源電圧の遮断を指示するため
の信号である。ヒータ駆動異常判定回路b2は、ヒータ
駆動回路b1からの導通検知信号s4を受けるととも
に、外部からのヒータトリガ信号s1に基づいて異常判
定を行い、判定結果に応じた異常判定信号s5を出力す
る。異常判定信号s5が異常を示す場合は、図示しない
制御回路により、以降のヒータトリガs1の発生を停止
し、かつ、リレー駆動信号s2をオフにしてヒータb3
への電源電圧供給を遮断する。
FIG. 1 shows a schematic configuration of the entire heater drive abnormality detecting device according to the present invention. This device includes a heater drive circuit b1 and a heater drive abnormality determination circuit (abnormality determination logic circuit) b2. The heater drive circuit b1 is connected to an AC power supply AC and drives the heater b3 according to a heater trigger signal s1 and a relay drive signal s2 from outside. The heater trigger signal s1 is a pulse signal generated according to the detected temperature of the heater b3 and instructing conduction of the heater b3. The relay drive signal s2 is a signal for instructing to shut off the power supply voltage of the heater b3 when an abnormality occurs, as described later. The heater drive abnormality determination circuit b2 receives the conduction detection signal s4 from the heater drive circuit b1, performs an abnormality determination based on an external heater trigger signal s1, and outputs an abnormality determination signal s5 according to the determination result. If the abnormality determination signal s5 indicates an abnormality, the control circuit (not shown) stops the subsequent generation of the heater trigger s1 and turns off the relay drive signal s2 to turn off the heater b3.
Power supply to the power supply is cut off.

【0016】図2は、図1のヒータ駆動回路b1の内部
の具体的な回路構成を、ヒータb3とともに示す回路図
である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing a specific circuit configuration inside the heater drive circuit b1 of FIG. 1 together with the heater b3.

【0017】交流電源ACに接続されたコンデンサC1
01の両端は、リレーRL101およびサイリスタCR
101(スイッチング手段)を介してヒータb3に接続
される。リレーRL101に並列に接続されたダイオー
ドD101はリレーRL101の応答速度を向上させる
ための素子である。また、サイリスタCR101に並列
接続された抵抗およびコンデンサの直列接続体SQ10
1は、サイリスタCR101の保護用素子である。リレ
ーRL101は、リレー駆動信号s2により駆動回路
(トランジスタQ102および抵抗)を介して通常はオ
ンされ、異常時にオフされる。一方、サイリスタCR1
01は、ヒータトリガ信号s1により、駆動回路(フォ
トカプラPC101等)を介して導通制御される。具体
的には、リレー駆動信号s2がオンの状態で、かつ、ヒ
ータトリガ信号s1がオンとなったタイミングでオン
し、交流電源電圧(コンデンサC101の両端電圧)が
0V近辺まで低下したときオフする。したがって、ヒー
タトリガ信号s1のオンタイミングの位相に応じてヒー
タb3への供給電力量が変化し、その結果、ヒータb3
の温度が制御される。なお、抵抗R101に並列接続さ
れたコンデンサC102は、サイリスタCR101のト
リガ信号のノイズを除去するために設けられた素子であ
る。
The capacitor C1 connected to the AC power supply AC
01 are connected to the relay RL101 and the thyristor CR
It is connected to the heater b3 via 101 (switching means). The diode D101 connected in parallel with the relay RL101 is an element for improving the response speed of the relay RL101. In addition, a series connection SQ10 of a resistor and a capacitor connected in parallel to the thyristor CR101.
1 is a protection element of the thyristor CR101. Relay RL101 is normally turned on by a relay drive signal s2 via a drive circuit (transistor Q102 and resistor), and is turned off when an abnormality occurs. On the other hand, thyristor CR1
01 is conductively controlled by a heater trigger signal s1 via a drive circuit (such as the photocoupler PC101). Specifically, the relay turns on when the relay drive signal s2 is on and when the heater trigger signal s1 turns on, and turns off when the AC power supply voltage (the voltage across the capacitor C101) drops to around 0V. Therefore, the amount of power supplied to the heater b3 changes according to the phase of the ON timing of the heater trigger signal s1, and as a result, the heater b3
Is controlled. Note that the capacitor C102 connected in parallel with the resistor R101 is an element provided for removing noise of a trigger signal of the thyristor CR101.

【0018】抵抗R104を介してヒータb3の両端に
接続されたフォトカプラPC102(導通検知回路を構
成する)は、ヒータb3の両端の電位差が所定値以上で
ある場合に、その出力フォトトランジスタが導通し、出
力信号である導通検知信号s4を低レベルとする。ヒー
タb3の両端の電位差が所定値に達しない期間は、導通
検知信号s4は高レベルとなる。この導通検知信号s4
およびヒータトリガ信号s1に基づいて、次に詳述する
異常判定回路b2が論理的に異常判定を行う。
The photocoupler PC102 (constituting a conduction detecting circuit) connected to both ends of the heater b3 via the resistor R104 turns on its output phototransistor when the potential difference between both ends of the heater b3 is equal to or larger than a predetermined value. Then, the conduction detection signal s4, which is an output signal, is set to a low level. During a period in which the potential difference between both ends of the heater b3 does not reach the predetermined value, the conduction detection signal s4 is at a high level. This conduction detection signal s4
Based on the heater trigger signal s1 and an abnormality determination circuit b2, which will be described in detail below, logically determines abnormality.

【0019】図3に、このような判定を行うための回路
の一例を第1の異常判定回路30として示す。この異常
判定回路30は、ヒータトリガ信号s1の立ち上がり時
(すなわちヒータの導通指示時)に導通検知信号s4を
確認して、導通検知信号s4が既に導通状態にあること
を示している場合(すなわち低レベル:Lにある場
合)、判定信号s5に「異常」を示す高レベル(H)を
出力する。これは、ヒータの非導通状態にしかヒータト
リガ信号s1が立ち上がることがあり得ないため、ヒー
タの導通状態にあるときにヒータトリガ信号s1が立ち
上がった場合を検出して、これを第1の異常状態と判定
するものである。
FIG. 3 shows an example of a circuit for making such a determination as a first abnormality determination circuit 30. The abnormality determination circuit 30 checks the conduction detection signal s4 when the heater trigger signal s1 rises (that is, when a heater conduction instruction is given), and indicates that the conduction detection signal s4 is already in a conduction state (that is, low). When the level is L), a high level (H) indicating "abnormal" is output to the determination signal s5. This is because the heater trigger signal s1 can only rise when the heater is in the non-conductive state. Therefore, when the heater trigger signal s1 rises while the heater is in the conductive state, this is detected as the first abnormal state. It is to judge.

【0020】図3において、Dフリップフロップ(F
F)32は、クロック信号CLKに同期してヒータトリ
ガ信号s1を取り込み、そのQ出力端に出力する。クロ
ック信号CLKの周波数は、他の信号s1,s4等の変
化に比べて高いものとする。フリップフロップ32の後
段のDフリップフロップ33は、同じクロック信号CL
Kに同期してフリップフロップ32のQ出力を取り込
む。すなわち、フリップフロップ33はフリップフロッ
プ32より1クロック前のヒータトリガ信号s1の状態
を取り込むことになる。フリップフロップ33は、取り
込んだ信号の反転信号を/Q出力端に出力する(ここ
に”/”は反転のバーを表す)。フリップフロップ33
の/Q出力が高レベルである(これは、1クロック前に
フリップフロップ32に取り込まれたヒータトリガ信号
s1が低レベルであったことを示す)と同時に、フリッ
プフロップ32のQ出力が高レベルである(これは、今
回のクロック時点でフリップフロップ32に取り込まれ
たヒータトリガ信号s1が高レベルであることを示す)
とき、これは、ヒータトリガ信号s1が低レベルから高
レベルへ変化した(立ち上がった)ことを意味する。こ
の状態を検知するために、3入力AND(論理積)ゲー
ト34の2つの入力端に、フリップフロップ32のQ出
力とフリップフロップ33の/Q出力を入力している。
さらに、導通検知信号s4をインバータ31を介してA
NDゲート34の残りの1入力端に入力している。この
入力端が高レベルとなるのは導通検知信号s4が低レベ
ルにあるときである。従って、ANDゲート34は、導
通検知信号s4が低レベルにある場合に、ヒータトリガ
信号s1が低レベルから高レベルへ変化した(立ち上が
った)とき、高レベルの出力信号を発生する。これは、
前述した条件に合致する。
In FIG. 3, D flip-flops (F
F) 32 fetches the heater trigger signal s1 in synchronization with the clock signal CLK and outputs it to its Q output terminal. It is assumed that the frequency of the clock signal CLK is higher than changes in other signals s1, s4, and the like. The D flip-flop 33 at the subsequent stage of the flip-flop 32 outputs the same clock signal CL.
The Q output of the flip-flop 32 is taken in synchronization with K. That is, the flip-flop 33 captures the state of the heater trigger signal s1 one clock before the flip-flop 32. The flip-flop 33 outputs an inverted signal of the fetched signal to the / Q output terminal ("/" represents an inverted bar here). Flip-flop 33
/ Q output is high level (this indicates that the heater trigger signal s1 taken into the flip-flop 32 one clock before was low level), and at the same time, the Q output of the flip-flop 32 is high level. There is (this indicates that the heater trigger signal s1 taken into the flip-flop 32 at the time of the current clock is at a high level)
At this time, this means that the heater trigger signal s1 has changed (rising) from a low level to a high level. To detect this state, the Q output of the flip-flop 32 and the / Q output of the flip-flop 33 are input to two input terminals of a three-input AND (logical product) gate 34.
Further, the continuity detection signal s4 is transmitted to A through the inverter 31.
The remaining one input terminal of the ND gate 34 is input. The input terminal goes to a high level when the conduction detection signal s4 is at a low level. Accordingly, the AND gate 34 generates a high-level output signal when the heater trigger signal s1 changes from a low level to a high level (rises) when the conduction detection signal s4 is at a low level. this is,
The above conditions are met.

【0021】ANDゲート34の高レベル出力は、後段
のDフリップフロップ35のイネーブル(EN)入力端
に入力される。このフリップフロップ35のD入力端は
高レベルに固定されている。したがって、フリップフロ
ップ35のイネーブル入力端(EN)に前記フリップフ
ロップ34からの高レベルが入力されているときにクロ
ック信号が立ち上がったタイミングで、フリップフロッ
プ35のQ出力が初期状態の低レベルから高レベルへ変
化する。このようにして、フリップフロップ35のQ出
力端に、異常状態の発生を示す高レベルの判定信号s5
が生成される。なお、このフリップフロップ35が異常
状態を検知した状態は、低レベルのリセット信号(/R
ESET)が入るまで保持される。
The high-level output of the AND gate 34 is input to an enable (EN) input terminal of a subsequent D flip-flop 35. The D input terminal of the flip-flop 35 is fixed at a high level. Therefore, the Q output of the flip-flop 35 changes from the initial low level to the high level at the timing when the clock signal rises when the high level is input from the flip-flop 34 to the enable input terminal (EN) of the flip-flop 35. Change to level. Thus, the high-level determination signal s5 indicating the occurrence of the abnormal state is output to the Q output terminal of the flip-flop 35.
Is generated. The state where the flip-flop 35 detects the abnormal state is determined by a low-level reset signal (/ R
ESET) is held.

【0022】図4に、図3の異常判定回路30の主要部
の信号波形(タイミング図)を示す。但し、図4の最上
部の「ゼロクロス」の波形は交流電源電圧のゼロ付近の
位置(波形の低レベル部分)を示すために図示したもの
である。ヒータトリガ信号s1は、必要時に、隣接する
ゼロクロス位置の中間のどこか(指示された位相角位
置)でオンされる。ヒータトリガ信号s1の立ち上がり
に応じてトライアック(図1のCR101)が導通開始
し、導通検知信号s4が低レベルとなる。トライアック
は、電源電圧がゼロ付近まで低下したとき(すなわちゼ
ロクロス位置で)、非導通状態となり、導通検知信号s
4が高レベルに戻る。図4の時点t41、t42はいず
れもヒータトリガ信号s1の立ち上がり時点を示してい
る。時点t41では、導通検知信号s4は高レベル(す
なわち非導通状態)なので、この状態は正常と考えられ
る。これに対して、時点t42では、導通検知信号s4
が既に低レベル(すなわち導通状態)にある。このよう
な状態は、前述したように、正常時では起こり得ないも
のであり、図3のANDゲート34の出力を高レベルに
変化させ、その結果、フリップフロップ35からの判定
信号s5が高レベル(異常)となる。
FIG. 4 shows a signal waveform (timing diagram) of a main part of the abnormality determination circuit 30 of FIG. However, the waveform of “zero cross” at the top of FIG. 4 is illustrated to show a position near zero of the AC power supply voltage (low-level portion of the waveform). When necessary, the heater trigger signal s1 is turned on somewhere in the middle of the adjacent zero-cross position (instructed phase angle position). In response to the rise of the heater trigger signal s1, the triac (CR101 in FIG. 1) starts conducting, and the conduction detection signal s4 becomes low. When the power supply voltage drops to near zero (that is, at the zero-cross position), the triac is turned off and the conduction detection signal s
4 returns to high level. Each of the time points t41 and t42 in FIG. 4 indicates a rising time point of the heater trigger signal s1. At time t41, the conduction detection signal s4 is at a high level (ie, non-conduction state), so this state is considered normal. On the other hand, at time t42, the conduction detection signal s4
Is already at a low level (ie, conducting state). As described above, such a state cannot occur in a normal state, and the output of the AND gate 34 in FIG. 3 is changed to a high level. As a result, the determination signal s5 from the flip-flop 35 is changed to a high level. (Abnormal).

【0023】ヒータ駆動回路(図1のb1)において正
常状態では生じ得ない信号の状態および変化の組み合わ
せは、上記以外にもある。第2の組み合わせは、ヒータ
トリガ信号s1がヒータ導通を指示しないにも拘わらず
ヒータが導通した(導通検知信号s4が高レベルから低
レベルへ変化した、すなわち立ち下がった)場合であ
る。
There are other combinations of signal states and changes that cannot occur in a normal state in the heater drive circuit (b1 in FIG. 1). The second combination is a case where the heater is turned on even though the heater trigger signal s1 does not indicate that the heater is turned on (the conduction detection signal s4 has changed from a high level to a low level, that is, has fallen).

【0024】図5に、この第2の異常状態を検知するた
めの第2の異常判定回路50の具体的な回路構成を示
す。直列接続されたフリップフロップ52,53は、図
3のフリップフロップ32,33と同様の動作を行う。
但し、その入力信号はヒータトリガ信号s1ではなく導
通検知信号s4である。また、図5の前段のフリップフ
ロップ52からは/Q出力がANDゲート54に入力さ
れると共に、後段のフリップフロップ53からはそのQ
出力がANDゲート54に入力されている。したがっ
て、フリップフロップ53のQ出力が高レベルである
(すなわち導通検知信号s4が1クロック前に高レベル
であった)場合に、フリップフロップ52の/Q出力が
高レベルである(すなわち導通検知信号s4が今回のク
ロックで低レベルとなった)とき、このことは、導通検
知信号s4が高レベルから低レベルへ変化した(立ち下
がった)ことを意味する。一方、図3のインバータ31
に対応するものとして、インバータ51が設けられてい
る。但し、このインバータ51への入力は導通検知信号
s4ではなくヒータトリガ信号s1である。したがっ
て、ANDゲート54は、ヒータトリガ信号s1が低レ
ベルにある場合に、導通検知信号s4が高レベルから低
レベルへ変化した(立ち下がった)とき、高レベルの出
力信号を発生する。これは、図3のフリップフロップ3
5と同様に、フリップフロップ55をイネーブルして、
そのQ出力(判定信号s5)を高レベルに変化させる。
FIG. 5 shows a specific circuit configuration of the second abnormality judging circuit 50 for detecting the second abnormal state. The flip-flops 52 and 53 connected in series perform the same operation as the flip-flops 32 and 33 in FIG.
However, the input signal is not the heater trigger signal s1 but the conduction detection signal s4. The / Q output from the preceding flip-flop 52 in FIG. 5 is input to the AND gate 54, and the Q output from the subsequent flip-flop 53 is output.
The output is input to the AND gate 54. Therefore, when the Q output of flip-flop 53 is at a high level (ie, conduction detection signal s4 was at a high level one clock before), the / Q output of flip-flop 52 is at a high level (ie, conduction detection signal s4). When s4 goes low in the current clock), this means that the conduction detection signal s4 has changed (falled) from high to low. On the other hand, the inverter 31 of FIG.
Is provided with an inverter 51. However, the input to the inverter 51 is not the conduction detection signal s4 but the heater trigger signal s1. Therefore, the AND gate 54 generates a high-level output signal when the conduction detection signal s4 changes from a high level to a low level (falls) when the heater trigger signal s1 is at a low level. This is the flip-flop 3 in FIG.
5, the flip-flop 55 is enabled,
The Q output (judgment signal s5) is changed to a high level.

【0025】図6は、図5に示した第2の異常判定回路
50の主要信号波形を示す。導通検知信号s4が立ち下
がった時点t61では、ヒータトリガ信号s1は高レベ
ル(すなわち非導通状態)なので、この状態は正常と考
えられる。これに対して、同じく導通検知信号s4が立
ち下がった時点t62では、ヒータトリガ信号s1が既
に低レベル(すなわち導通状態)にある。このような状
態は、前述したように、正常時では起こり得ないもので
あり、図5のANDゲート54の出力を高レベルに変化
させ、その結果、フリップフロップ55からの判定信号
s5が高レベル(異常)となる。
FIG. 6 shows a main signal waveform of the second abnormality judging circuit 50 shown in FIG. At time t61 when the conduction detection signal s4 falls, the heater trigger signal s1 is at a high level (that is, non-conduction state), so this state is considered normal. On the other hand, at time t62 when the conduction detection signal s4 falls, the heater trigger signal s1 is already at the low level (that is, the conduction state). As described above, such a state cannot occur in a normal state, and the output of the AND gate 54 in FIG. 5 is changed to a high level. As a result, the determination signal s5 from the flip-flop 55 is changed to a high level. (Abnormal).

【0026】ヒータ駆動回路(図1のb1)において正
常状態では生じ得ない信号の状態および変化の第3の組
み合わせは、ヒータトリガ信号s1を立ち上げたにも拘
わらず、トライアックが導通しない(すなわち導通検知
信号s4が高レベルのまま変化しない)場合である。
In the third combination of signal states and changes that cannot occur in a normal state in the heater drive circuit (b1 in FIG. 1), the triac is not conductive (ie, conductive) despite the rise of the heater trigger signal s1. This is the case where the detection signal s4 remains unchanged at the high level.

【0027】図7にこの第3の組み合わせを検知するた
めの第3の異常判定回路70を示す。フリップフロップ
71,72の組み合わせは、図5の第2の異常判定回路
50のフリップフロップ52,53と同じである。但
し、その入力信号が導通検知信号s4ではなくヒータト
リガ信号s1である点で、図5の場合と異なる。したが
って、フリップフロップ71,72とANDゲート73
は、ヒータトリガ信号s1の立ち下がり時点を検知する
ための構成である。ヒータトリガ信号s1の立ち下がり
時点を検知するのは、その所定時間前にヒータトリガ信
号s1が立ち上げられていると考えられるからである。
よって、ヒータトリガ信号s1の立ち下がり時点は、正
常ならば、導通検知信号s4が導通状態を示す低レベル
となっているべき時点に対応する。この時点で導通検知
信号s4が高レベルのままであることは、何らかの異常
が発生したことを意味する。そこで、導通検知信号s4
はANDゲート73の残りの入力端にそのまま入力す
る。かくして、ANDゲート73は、ヒータトリガ信号
s1の立ち下がり時点で導通検知信号s4が高レベルで
あるとき(すなわち、ヒータトリガ信号s1がヒータ導
通を指示したにも拘わらず、ヒータが導通しない場合)
に、高レベル信号を発生し、これがフリップフロップ7
4のQ出力である判定信号s5を高レベルに変化させ
る。
FIG. 7 shows a third abnormality determination circuit 70 for detecting the third combination. The combination of the flip-flops 71 and 72 is the same as the flip-flops 52 and 53 of the second abnormality determination circuit 50 in FIG. However, it differs from the case of FIG. 5 in that the input signal is not the conduction detection signal s4 but the heater trigger signal s1. Therefore, flip-flops 71 and 72 and AND gate 73
Is a configuration for detecting the falling point of the heater trigger signal s1. The reason for detecting the falling point of the heater trigger signal s1 is that it is considered that the heater trigger signal s1 has risen a predetermined time before that.
Therefore, the falling point of the heater trigger signal s1 corresponds to the point in time when the conduction detection signal s4 should be at a low level indicating the conduction state, if it is normal. At this point, the fact that the conduction detection signal s4 remains at a high level means that some abnormality has occurred. Therefore, the conduction detection signal s4
Is input to the other input terminal of the AND gate 73 as it is. Thus, when the conduction detection signal s4 is at a high level at the time when the heater trigger signal s1 falls (that is, when the heater does not conduct even though the heater trigger signal s1 indicates that the heater is conducting), the AND gate 73 operates as follows.
Generates a high-level signal, which is
The determination signal s5, which is the Q output of No. 4, is changed to a high level.

【0028】図8は、図7の第3の異常判定回路70の
主要部の信号波形を示す。ヒータトリガ信号s1が立ち
下がった時点t81では、導通検知信号s4は既に低レ
ベル(すなわち非導通状態)になっているので、この状
態は正常と考えられる。これに対して、同じくヒータト
リガ信号s1が立ち下がった時点t82では、導通検知
信号s4が高レベル(すなわち非導通状態)のままにな
っている。このような状態は、前述したように、正常時
では起こり得ないものであり、図7のANDゲート73
の出力を高レベルに変化させ、その結果、フリップフロ
ップ74からの判定信号s5が高レベル(異常)とな
る。
FIG. 8 shows a signal waveform of a main part of the third abnormality judging circuit 70 of FIG. At time t81 when the heater trigger signal s1 falls, the conduction detection signal s4 is already at a low level (that is, non-conduction state), so this state is considered normal. On the other hand, at time t82 when the heater trigger signal s1 falls, the conduction detection signal s4 remains at a high level (that is, non-conduction state). As described above, such a state cannot occur in a normal state, and the AND gate 73 shown in FIG.
Is changed to a high level, and as a result, the determination signal s5 from the flip-flop 74 becomes a high level (abnormal).

【0029】以上説明した第1〜第3の異常判定回路で
は、上記のような信号の状態および変化の組み合わせが
1回でも生ずれば、異常状態と判定する。しかし、電源
電圧の瞬断等の原因により瞬間的に異常と判定される状
態が出現しても、その直後に正常状態に復帰する場合が
ある。このような場合にまで異常と判定して、ヒータ駆
動を停止する必要はない。
In the first to third abnormality determination circuits described above, if the combination of the signal state and the change as described above occurs even once, it is determined that the state is abnormal. However, even if a state that is determined to be abnormal momentarily due to a cause such as a momentary interruption of the power supply voltage appears, the state may be restored to the normal state immediately thereafter. In such a case, it is not necessary to determine that there is an abnormality and stop driving the heater.

【0030】そこで、次に、上記の異常判定回路に回路
要素を追加することにより、上記の異常判定状態が数回
連続して発生したことを確認した後に判定信号s5を高
レベルとするようにする。
Then, by adding a circuit element to the above-mentioned abnormality determination circuit, the determination signal s5 is set to a high level after confirming that the above-mentioned abnormality determination state has occurred several times in succession. I do.

【0031】図9は、図3に示した第1の異常判定回路
30を利用してこれに時間的判定のための追加回路部分
99を加えた第4の異常判定回路90の回路構成を示
す。但し、図3では異常判定回路30のANDゲート3
4の出力をフリップフロップ35のイネーブル入力とし
て利用したが、図9の異常判定回路90では、ANDゲ
ート34の出力をフリップフロップ35のD入力として
利用している。これは、図3の異常判定回路30では1
回の異常判定結果で判定信号s5を高レベルに固定した
のに対し、図9の異常判定回路90では1回の異常判定
結果のみでは異常と判定しないようにするためである。
その結果、異常状態が瞬間的ではなくある程度の時間継
続したとき、フリップフロップ35の出力信号s6は図
10に示すように、オン/オフを繰り返すことになる。
図9の左半分の回路は異常判定回路30と全く同じでは
ないので符号30’で示してある。
FIG. 9 shows a circuit configuration of a fourth abnormality judging circuit 90 using the first abnormality judging circuit 30 shown in FIG. 3 and adding an additional circuit portion 99 for temporal judgment. . However, in FIG. 3, the AND gate 3 of the abnormality determination circuit 30
Although the output of the flip-flop 35 is used as the enable input of the flip-flop 35, the output of the AND gate 34 is used as the D input of the flip-flop 35 in the abnormality determination circuit 90 of FIG. This is 1 in the abnormality determination circuit 30 of FIG.
This is because the abnormality determination circuit 90 shown in FIG. 9 does not determine that the abnormality is abnormal only by one abnormality determination result, while the determination signal s5 is fixed at a high level in the results of the abnormality determinations.
As a result, when the abnormal state continues for a certain period of time, not instantaneously, the output signal s6 of the flip-flop 35 repeats on / off as shown in FIG.
Since the circuit on the left half of FIG. 9 is not exactly the same as the abnormality determination circuit 30, it is indicated by reference numeral 30 '.

【0032】この異常判定回路30’に対する追加回路
部分99は、タイマ91、カウンタ92、比較器93、
Dフリップフロップ94、ANDゲート95である。タ
イマ91は、そのTRG入力端において異常判定回路3
0’の出力信号s6の立ち上がりでトリガされ、予め定
めた比較的長い時間幅(例えば2、3秒程度)のパルス
を時限信号s7として発生する。この間にTRG入力端
に入力される出力信号s6の変化は無視される。時限信
号s7が低レベルであった間は、ANDゲート95を介
してカウンタ92をリセット状態に維持していたが、時
限信号s7が高レベルになったことにより(ANDゲー
ト95の他方の入力であるリセット信号/RESETは
通常高レベルなので)、カウンタ92のリセット状態が
解除される。
An additional circuit portion 99 for the abnormality determination circuit 30 'includes a timer 91, a counter 92, a comparator 93,
A D flip-flop 94 and an AND gate 95. The timer 91 has an abnormality determination circuit 3 at its TRG input terminal.
Triggered by the rise of the output signal s6 of 0 ', a pulse having a predetermined relatively long time width (for example, about 2 or 3 seconds) is generated as the timed signal s7. During this time, changes in the output signal s6 input to the TRG input terminal are ignored. While the time signal s7 was at the low level, the counter 92 was maintained in the reset state via the AND gate 95. However, when the time signal s7 became the high level (when the other input of the AND gate 95 Since a certain reset signal / RESET is normally at a high level), the reset state of the counter 92 is released.

【0033】カウンタ92のイネーブル端子ENには異
常判定回路30’の出力信号s6が入力され、カウンタ
92のクロック入力端子にはクロック信号(CLK)が
入力される。カウンタ92は、図10から分かるよう
に、タイマ91の時限信号s7が高レベルの間、出力信
号s6が1クロック期間分高レベルになる度にカウンタ
92がクロックを計数していく。この計数値s8は比較
器93(図9)で所定の計数値(例えば1より大きい整
数値n)と比較される。計数値s8が所定値nに達した
とき、比較器93の比較出力s9が高レベルになり、こ
れに応じてDフリップフロップ94が異常の発生を示す
高レベルの判定信号s5を出力する。但し、瞬断などの
場合に、計数値s8が所定値nに達する前に、正常状態
に復帰して出力信号s6が低レベルのまま変化しなくな
る場合もある。このような場合には、タイマ91の時限
信号s7が高レベルに維持されている間にカウンタ92
の計数値s8が所定値nに達することなく、時限信号s
7が低レベルに戻る。これにより、ANDゲート95を
介してカウンタ92がリセット状態となる。そのため
に、比較器93の出力は高レベルになることはなく、最
終段のフリップフロップ94からの判定信号s5が高レ
ベルになることもない。このようにして、瞬断等の極短
時間の異常は無視することができるようになる。
The output signal s6 of the abnormality determination circuit 30 'is input to the enable terminal EN of the counter 92, and the clock signal (CLK) is input to the clock input terminal of the counter 92. As can be seen from FIG. 10, the counter 92 counts the clock each time the output signal s6 becomes high for one clock period while the timed signal s7 of the timer 91 is high. The count value s8 is compared with a predetermined count value (for example, an integer value n larger than 1) in the comparator 93 (FIG. 9). When the count value s8 reaches the predetermined value n, the comparison output s9 of the comparator 93 goes high, and in response, the D flip-flop 94 outputs a high-level determination signal s5 indicating the occurrence of an abnormality. However, in the case of an instantaneous interruption or the like, before the count value s8 reaches the predetermined value n, the state may return to the normal state and the output signal s6 may remain unchanged at a low level. In such a case, while the time signal s7 of the timer 91 is maintained at a high level, the counter 92
Of the timed signal s8 without reaching the predetermined value n
7 returns to low level. As a result, the counter 92 is reset via the AND gate 95. Therefore, the output of the comparator 93 does not go high, and the determination signal s5 from the last-stage flip-flop 94 does not go high. In this way, abnormalities in a very short time, such as instantaneous interruption, can be ignored.

【0034】図11は、図5に示した第2の異常判定回
路50を若干修正した異常判定回路50’を用いて図9
と同様の時間的判定のための回路要素を追加した第5の
異常判定回路110の構成例を示す。追加回路部分99
の構成および動作は、図9に示したものと同じである。
また、異常判定回路50’の動作は図5の異常判定回路
50を基本としており、異常判定回路30’の場合から
容易に類推されるように、その出力が1回の異常発生で
固定されないようにしたものである。したがって、図1
1の異常判定回路110の信号波形は特に示さない。
FIG. 11 is a circuit diagram of FIG. 9 using an abnormality determination circuit 50 'obtained by slightly modifying the second abnormality determination circuit 50 shown in FIG.
15 shows a configuration example of a fifth abnormality determination circuit 110 to which a circuit element for temporal determination similar to the above is added. Additional circuit part 99
Are the same as those shown in FIG.
The operation of the abnormality determination circuit 50 'is based on the abnormality determination circuit 50 shown in FIG. 5, and the output of the abnormality determination circuit 50' is not fixed by a single occurrence of an abnormality, as can be easily inferred from the case of the abnormality determination circuit 30 '. It was made. Therefore, FIG.
The signal waveform of the abnormality determination circuit 110 is not particularly shown.

【0035】図12は、図7に示した第3の異常判定回
路70を若干修正した異常判定回路70’を用いて図9
と同様の時間的判定のための回路要素を追加した第6の
異常判定回路120の構成例を示す。追加回路部分99
の構成および動作は、図9に示したものと同じである。
また、異常判定回路70’の動作も図7の異常判定回路
70を基本としており、異常判定回路30’の場合から
容易に類推されるように、その出力が1回の異常発生で
固定されないようにしたものである。したがって、図1
2の異常判定回路120の信号波形も特に示さない。
FIG. 12 is a circuit diagram of FIG. 9 using an abnormality determination circuit 70 'obtained by slightly modifying the third abnormality determination circuit 70 shown in FIG.
13 shows a configuration example of a sixth abnormality determination circuit 120 to which a circuit element for temporal determination similar to the above is added. Additional circuit part 99
Are the same as those shown in FIG.
Also, the operation of the abnormality determination circuit 70 'is based on the abnormality determination circuit 70 of FIG. 7, and its output is not fixed by one abnormality occurrence as easily analogized from the case of the abnormality determination circuit 30'. It was made. Therefore, FIG.
The signal waveform of the abnormality determination circuit 120 of No. 2 is not particularly shown.

【0036】最後に、それぞれ図9、図11、図12の
第4、第5、第6の異常判定回路90,110,120
の機能をすべて組み合わせた異常判定回路130の回路
構成例を図13に示す。この異常判定回路130では、
共通の追加回路部分99を1つだけ用意し、その前段の
異常判定回路30’,50’,70’の3つの出力信号
をOR(論理和)ゲート131で論理和演算している。
その演算結果信号s10を、追加回路部分99に対する
前記出力信号s6の代わりに用いている。この回路構成
により、以上説明した第1、第2、第3の、信号の状態
および変化の異常な組み合わせのすべてに対処し、か
つ、瞬断等の一時的な異常状態への対処も可能となる。
Finally, the fourth, fifth, and sixth abnormality determination circuits 90, 110, and 120 in FIGS. 9, 11, and 12, respectively.
FIG. 13 shows a circuit configuration example of the abnormality determination circuit 130 in which all the functions described above are combined. In this abnormality determination circuit 130,
Only one common additional circuit portion 99 is prepared, and the three output signals of the preceding abnormality determination circuits 30 ′, 50 ′, and 70 ′ are ORed by an OR (logical OR) gate 131.
The operation result signal s10 is used instead of the output signal s6 for the additional circuit section 99. With this circuit configuration, it is possible to cope with all the abnormal combinations of the first, second, and third signal states and changes described above, and to cope with a temporary abnormal state such as an instantaneous interruption. Become.

【0037】以上、本発明の好適な実施の形態について
説明したが、種々の変形、変更が可能である。例えば、
回路要素として用いる素子やその具体的な組み合わせは
上記のものに限るものではなく、実質的に同等な回路構
成であれば足りる。また、信号の高レベル、低レベルの
意味づけ(正論理、負論理の別)等は上記説明と逆の場
合もありうる。
Although the preferred embodiment of the present invention has been described above, various modifications and changes are possible. For example,
The elements used as circuit elements and their specific combinations are not limited to those described above, and a substantially equivalent circuit configuration is sufficient. Further, the meaning of the high level and the low level of the signal (whether positive logic or negative logic) or the like may be reversed from the above description.

【0038】[0038]

【発明の効果】本発明によれば、従来の異常判定回路を
デジタル論理回路に置き換えて、ヒータの位相制御中は
もちろんのこと、半波制御時やヒータOFF時のあらゆ
る場面においてヒータやスイッチング素子(トライアッ
ク)の異常やその検知線の断線に至るまでヒータ駆動関
連の異常を確実に検出することが可能である。なおか
つ、時間的要因を考慮した実施形態においては、ノイズ
による誤動作を確実に防止でき、交流電源の瞬断に対し
ても誤検知によるエラー処理を発生することなく対応が
できる。さらに、ソフトウエアの介在を全く必要としな
いので、異常判定の信頼性が向上する。
According to the present invention, the conventional abnormality determination circuit is replaced with a digital logic circuit, and the heater and the switching element are used not only during the phase control of the heater, but also in the half-wave control and when the heater is turned off. It is possible to reliably detect a heater drive-related abnormality up to the (triac) abnormality or the disconnection of the detection line. Further, in the embodiment in which the time factor is taken into consideration, a malfunction due to noise can be reliably prevented, and an instantaneous interruption of the AC power supply can be dealt with without generating error processing due to false detection. Further, since no software intervention is required, the reliability of abnormality determination is improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明によるヒータ駆動異常検出装置全体の概
略構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of an entire heater drive abnormality detection device according to the present invention.

【図2】図1のヒータ駆動回路b1の内部の具体的な回
路構成を、ヒータb3とともに示す回路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing a specific circuit configuration inside a heater drive circuit b1 of FIG. 1 together with a heater b3.

【図3】図1の異常判定回路b2の第1の構成例である
第1の異常判定回路30の回路図である
FIG. 3 is a circuit diagram of a first abnormality determination circuit 30 which is a first configuration example of the abnormality determination circuit b2 of FIG. 1;

【図4】図3の異常判定回路30の主要部の信号波形を
示すタイミング図である。
FIG. 4 is a timing chart showing signal waveforms of main parts of the abnormality determination circuit 30 of FIG.

【図5】図1の異常判定回路b2の第2の構成例である
第2の異常判定回路50の回路図である。
FIG. 5 is a circuit diagram of a second abnormality determination circuit 50 which is a second configuration example of the abnormality determination circuit b2 of FIG.

【図6】図5の異常判定回路50の主要部の信号波形を
示すタイミング図である。
FIG. 6 is a timing chart showing signal waveforms of main parts of the abnormality determination circuit 50 of FIG.

【図7】図1の異常判定回路b2の第3の構成例である
第3の異常判定回路70の回路図である。
FIG. 7 is a circuit diagram of a third abnormality determination circuit 70 which is a third configuration example of the abnormality determination circuit b2 of FIG.

【図8】図7の異常判定回路70の主要部の信号波形を
示すタイミング図である。
8 is a timing chart showing signal waveforms of main parts of the abnormality determination circuit 70 of FIG.

【図9】図1の異常判定回路b2の第4の構成例である
第4の異常判定回路90の回路構成を示す回路図であ
る。
9 is a circuit diagram showing a circuit configuration of a fourth abnormality determination circuit 90 which is a fourth configuration example of the abnormality determination circuit b2 of FIG.

【図10】図9の異常判定回路90の主要部の信号波形
を示すタイミング図である。
FIG. 10 is a timing chart showing signal waveforms of main parts of the abnormality determination circuit 90 of FIG. 9;

【図11】図1の異常判定回路b2の第5の構成例であ
る第5の異常判定回路110の回路構成を示す回路図で
ある。
11 is a circuit diagram illustrating a circuit configuration of a fifth abnormality determination circuit 110 which is a fifth configuration example of the abnormality determination circuit b2 of FIG.

【図12】図1の異常判定回路b2の第6の構成例であ
る第6の異常判定回路120の回路構成を示す回路図で
ある。
12 is a circuit diagram showing a circuit configuration of a sixth abnormality determination circuit 120 which is a sixth configuration example of the abnormality determination circuit b2 of FIG.

【図13】図1の異常判定回路b2の第7の構成例であ
る第7の異常判定回路130の回路構成を示す回路図で
ある。
FIG. 13 is a circuit diagram showing a circuit configuration of a seventh abnormality determination circuit 130 which is a seventh configuration example of the abnormality determination circuit b2 of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

b1 ヒータ駆動回路 b2 ヒータ駆動異常判定回路 b3 ヒータ s1 ヒータトリガ信号 s2 リレー駆動信号 s4 導通検知信号 s5 異常判定信号 s6 出力信号 s7 時限信号 s9 比較出力 32,33,35,55,74 Dフリップフロップ 34,54,73,95 ANDゲート 91 タイマ 92 カウンタ 93 比較器 131 ORゲート b1 heater drive circuit b2 heater drive abnormality determination circuit b3 heater s1 heater trigger signal s2 relay drive signal s4 conduction detection signal s5 abnormality determination signal s6 output signal s7 timed signal s9 comparison output 32, 33, 35, 55, 74 D flip-flop 34, 54, 73, 95 AND gate 91 Timer 92 Counter 93 Comparator 131 OR gate

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H027 DA38 DA48 DA50 ED25 EK00 2H033 AA35 CA01 CA34 3K058 AA11 BA18 CB02 CD01 5H323 AA36 BB17 CA08 CB02 DA01 DB04 DB06 JJ03 KK05 LL13 MM02 MM12 NN02 NN06 NN08 NN11 QQ02 QQ04 QQ06 RR01 RR02 SS05 SS08 SS10 TT02 TT05  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F-term (reference) 2H027 DA38 DA48 DA50 ED25 EK00 2H033 AA35 CA01 CA34 3K058 AA11 BA18 CB02 CD01 5H323 AA36 BB17 CA08 CB02 DA01 DB04 DB06 JJ03 KK05 LL13 MM02 MM12 NN02 Q01 NN06 NN06 SS08 SS10 TT02 TT05

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】交流電源により駆動されるヒータと、 このヒータの導通を指示するヒータトリガ信号に応じ
て、ヒータへの導通を制御するスイッチング手段と、 前記ヒータの導通状態を検知し、導通検知信号を発生す
る導通検知回路と、 前記ヒータトリガ信号および前記導通検知信号の、正常
状態ではあり得ない状態および変化の組み合わせを検出
する異常判定用論理回路と、 を備えたヒータ駆動異常検出装置。
1. A heater driven by an AC power supply, switching means for controlling conduction to the heater in response to a heater trigger signal instructing conduction of the heater, and a conduction detection signal for detecting a conduction state of the heater. And a malfunction detection logic circuit for detecting a combination of a state and a change of the heater trigger signal and the conduction detection signal that cannot be in a normal state.
【請求項2】前記異常判定用論理回路からの異常を示す
出力信号に基づいて、ヒータ駆動を緊急停止する手段を
備えたことを特徴とする請求項1記載のヒータ駆動異常
検出装置。
2. The heater drive abnormality detection device according to claim 1, further comprising means for urgently stopping heater drive based on an output signal indicating an abnormality from the abnormality determination logic circuit.
【請求項3】前記異常判定用論理回路は、前記ヒータト
リガ信号がヒータの導通を指示したときに前記導通検知
信号が既に導通状態を示している場合を検出し、これに
応じて異常状態の発生を示す信号を出力する請求項1ま
たは2記載のヒータ駆動異常検出装置。
3. The abnormality determining logic circuit detects a case where the conduction detection signal already indicates a conduction state when the heater trigger signal indicates conduction of the heater, and generates an abnormal state accordingly. The heater drive abnormality detecting device according to claim 1, wherein the device outputs a signal indicating the following.
【請求項4】前記異常判定用論理回路は、前記ヒータト
リガ信号がヒータの導通を指示していないときに前記導
通検知信号が非導通状態から導通状態へ変化した場合を
検出し、これに応じて異常状態の発生を示す信号を出力
する請求項1、2または3記載のヒータ駆動異常検出装
置。
4. The abnormality determining logic circuit detects a case where the conduction detection signal changes from a non-conduction state to a conduction state when the heater trigger signal does not indicate conduction of the heater, and responds accordingly. 4. The heater drive abnormality detecting device according to claim 1, wherein the device outputs a signal indicating occurrence of an abnormal state.
【請求項5】前記異常判定用論理回路は、前記ヒータト
リガ信号がヒータ導通を指示したにも拘わらず、前記導
通検知信号がヒータの導通状態を示さない場合を検出
し、これに応じて異常状態の発生を示す信号を出力する
請求項1、2、3または4記載のヒータ駆動異常検出装
置。
5. The abnormality determination logic circuit detects a case where the conduction detection signal does not indicate the conduction state of the heater, even though the heater trigger signal indicates the conduction of the heater. 5. The heater drive abnormality detection device according to claim 1, wherein a signal indicating the occurrence of the occurrence is output.
【請求項6】前記ヒータトリガ信号および前記導通検知
信号の一方を信号入力端に受けてこれを取り込む第1の
フリップフロップと、 この第1のフリップフロップの出力を入力端に受けてこ
れを取り込む第2のフリップフロップと、 前記第1および第2のフリップフロップの一方の非反転
出力および他方の反転出力を第1および第2の入力端に
受けると共に、前記前記ヒータトリガ信号および前記導
通検知信号の他方を第3の入力端に受ける論理積ゲート
と、 を有することを特徴とする請求項3、4または5記載の
ヒータ駆動異常検出装置。
6. A first flip-flop which receives one of the heater trigger signal and the conduction detection signal at a signal input terminal and captures the signal, and a second flip-flop which receives an output of the first flip-flop at an input terminal and captures the signal. And a non-inverted output of one of the first and second flip-flops and an inverted output of the other are received at first and second input terminals, and the other of the heater trigger signal and the conduction detection signal The heater drive abnormality detecting device according to claim 3, further comprising: a logical product gate receiving the third input terminal at a third input terminal.
【請求項7】前記異常状態の発生を示す信号が所定の時
間内に複数回連続して発生した場合に異常状態と判定
し、当該信号が前記所定の時間内に複数回連続して発生
しなかった場合は、異常状態と判定しないことを特徴と
する請求項1〜6のいずれかに記載のヒータ駆動異常検
出装置。
7. When the signal indicating the occurrence of the abnormal condition occurs continuously plural times within a predetermined time, it is determined that the signal is abnormal, and the signal is generated plural times continuously within the predetermined time. The heater drive abnormality detecting device according to claim 1, wherein the abnormality is not determined when there is no abnormality.
【請求項8】前記異常状態の発生を示す信号により起動
され、前記所定の時間に相当する時間幅の時限信号を発
生するタイマと、 前記時限信号の発生期間中に前記異常状態の発生を示す
信号の発生回数を計数するカウンタと、 このカウンタの計数値が予め定めた値に達したとき異常
状態の発生を示す最終的な信号を出力する比較器とを有
し、 前記時限信号が非発生状態に戻ることにより、前記計数
値が予め定めた値に達する前であっても前記カウンタを
リセットすることを特徴とする請求項7記載のヒータ駆
動異常検出装置。
8. A timer which is activated by a signal indicating occurrence of the abnormal state and generates a time signal having a time width corresponding to the predetermined time, and indicates the occurrence of the abnormal state during the time period of generation of the time signal. A counter that counts the number of signal occurrences, and a comparator that outputs a final signal indicating the occurrence of an abnormal state when the count value of the counter reaches a predetermined value, wherein the timed signal is not generated 8. The heater drive abnormality detecting device according to claim 7, wherein returning to the state resets the counter even before the count value reaches a predetermined value.
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