JP2001215928A - Driving circuit for electrooptical device, electrooptical device and electronic equipment - Google Patents

Driving circuit for electrooptical device, electrooptical device and electronic equipment

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JP2001215928A
JP2001215928A JP2000025723A JP2000025723A JP2001215928A JP 2001215928 A JP2001215928 A JP 2001215928A JP 2000025723 A JP2000025723 A JP 2000025723A JP 2000025723 A JP2000025723 A JP 2000025723A JP 2001215928 A JP2001215928 A JP 2001215928A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent differential noises caused by enable signals ENB1, ENB2 from being superposed on a picture signal line 122. SOLUTION: Two lines of inverted enable signal lines 125 to which inverted enable signals ENBinv, ENBinv are supplied are provided so that time constants of them become the same as those of enable signal lines 124 apart from two lines of the enable signal lines 124 to which enable signals ENB1, ENB2 are supplied. As a result, since differential noises due to the enable signals ENB1, ENB2 are canceled by differential noised due to the inverted enable signals ENBinv, ENBinv, the potential of a picture signal VIDi supplied to the picture signal line 122 becomes a value closed to an original value.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ラインムラなどの
表示上の不具合が発生するのを抑えて高品位な表示が可
能な電気光学装置、および、この電気光学装置を表示部
に用いた電子機器に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electro-optical device capable of suppressing the occurrence of display defects such as line unevenness and providing a high-quality display, and an electronic apparatus using the electro-optical device for a display unit. About.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の電気光学装置、例えば、液晶装置
を駆動する回路は、画像表示領域に配設されたデータ線
や走査線などに、画像信号や走査信号などを所定タイミ
ングで供給するためのデータ線駆動回路や、走査線駆動
回路、サンプリング回路などから構成されている。
2. Description of the Related Art A circuit for driving a conventional electro-optical device such as a liquid crystal device supplies an image signal or a scanning signal to a data line or a scanning line provided in an image display area at a predetermined timing. , A scanning line driving circuit, a sampling circuit, and the like.

【0003】このうち、データ線駆動回路は、一般に
は、複数のラッチ回路を備え、水平走査期間の最初に供
給されるパルス信号をクロック信号に応じて順次シフト
して、これをサンプリング信号として出力するものであ
り、同様に、走査線駆動回路は、複数のラッチ回路を備
え、垂直走査期間の最初に供給されるパルス信号をクロ
ック信号に応じて順次シフトして、これを走査信号とし
て出力するものである。また、サンプリング回路は、デ
ータ線毎に設けられるサンプリング用のスイッチからな
り、画像信号線を介して外部から供給される画像信号
を、サンプリング信号にしたがってサンプリングして、
各データ線に供給するものである。
The data line driving circuit generally includes a plurality of latch circuits, sequentially shifts a pulse signal supplied at the beginning of a horizontal scanning period in accordance with a clock signal, and outputs this as a sampling signal. Similarly, the scanning line driving circuit includes a plurality of latch circuits, sequentially shifts a pulse signal supplied at the beginning of the vertical scanning period in accordance with a clock signal, and outputs the shifted signal as a scanning signal. Things. The sampling circuit includes a sampling switch provided for each data line, and samples an image signal supplied from the outside via an image signal line according to the sampling signal.
This is supplied to each data line.

【0004】ここで、互いに排他的となるべきサンプリ
ング信号が、何らかの理由によりオーバーラップして出
力されると、あるデータ線に本来サンプリングされるべ
き画像信号が、これに隣接するデータ線にもサンプリン
グされてしまう。この結果、いわゆるゴーストやクロス
トークなどが発生して、表示品位が低下する、という問
題が生じる。
Here, if the sampling signals that are to be mutually exclusive are output overlapping for some reason, the image signal that should be sampled on a certain data line is also sampled on the adjacent data line. Will be done. As a result, there arises a problem that a so-called ghost or crosstalk occurs, and the display quality is reduced.

【0005】特に、最近では、ドットクロックの高周波
数化に対処すべく、1系統の画像信号を複数のm系統に
シリアル−パラレル変換(相展開)するとともに時間軸
上にm倍に伸長し、これらm系統の画像信号をサンプリ
ング信号にしたがって同時にサンプリングして、m本の
データ線に供給する技術が開発されているが、このよう
な技術において、サンプリング信号が何らかの理由によ
りオーバーラップして出力されると、データ線のm本を
単位としてゴーストやクロストークなどが発生するの
で、表示品位の低下は、より深刻な問題となる。
In particular, recently, in order to cope with an increase in the frequency of the dot clock, one image signal is serial-parallel converted (phase expanded) to a plurality of m systems, and is expanded m times on the time axis. A technique has been developed in which these m image signals are simultaneously sampled in accordance with the sampling signal and supplied to m data lines. In such a technique, the sampling signals are overlapped and output for some reason. Then, ghosts, crosstalk, and the like occur in units of m data lines, and the deterioration of display quality becomes a more serious problem.

【0006】そこで、このような問題を解決するため
に、近年では、データ線駆動回路におけるラッチ回路の
次段にパルス幅制限回路なるものを設けて、時間的に相
前後して出力されるサンプリング信号が互いにオーバー
ラップしないように、サンプリング信号のパルス幅を、
イネーブル信号線を介して供給される制御信号(イネー
ブル信号)にしたがって制限することが行われている。
In order to solve such a problem, in recent years, a pulse width limiting circuit has been provided at the next stage of the latch circuit in the data line driving circuit, and sampling which is output successively in time is provided. To prevent the signals from overlapping each other, set the pulse width of the sampling signal to
Limiting is performed according to a control signal (enable signal) supplied via an enable signal line.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うなパルス幅制限回路を設けた構成においては、上述し
たゴーストやクロストークなどの発生は抑えられるもの
の、今度は、データ線に沿った縦状のラインムラが発生
する、という問題があった。
However, in the configuration provided with such a pulse width limiting circuit, the occurrence of the above-mentioned ghost and crosstalk can be suppressed, but this time, a vertical line along the data line is required. There is a problem that line unevenness occurs.

【0008】本発明は、上述した事情に鑑みてなされた
もので、その目的とするところは、ゴーストやクロスト
ークなどの発生を抑えた上で、さらにラインムラの発生
を抑えて高品位な表示が可能な電気光学装置の駆動回
路、および、電気光学装置、並びに、この電気光学装置
を表示部に用いた電子機器を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and an object of the present invention is to suppress the occurrence of ghosts, crosstalk, and the like, and further suppress the occurrence of line unevenness to achieve high-quality display. It is an object of the present invention to provide a drive circuit for an electro-optical device, an electro-optical device, and an electronic apparatus using the electro-optical device for a display unit.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】まず、課題を解決するた
めの手段について説明する前に、本件の発明者が、上述
したラインムラの発生機構について調査した結果、次の
点が主な原因である、と考えられた。すなわち、上述し
たイネーブル信号線および画像信号線は、一般には、ガ
ラスや半導体などの基板上において薄膜金属をパターニ
ングしたものであるので、少なからず抵抗を有する。ま
た、イネーブル信号線および画像信号線は、互いに近接
するため、容量的に結合しやすい。したがって、両信号
線にわたって一種の微分回路が形成されるので、画像信
号線には、画像信号のほかに、イネーブル信号のレベル
遷移に伴う微分ノイズが重畳されてしまう。この結果、
データ線には、本来の画像信号に微分ノイズが加わって
印加されるので、さらに、この印加電圧は、データ線毎
に、あるいは、シリアル−パラレル変換する場合には、
データ線のm本毎に異なってしまうので、これによるム
ラが、データ線に沿って発生して表示品位を低下させ
る、と考えられた。
First, before describing the means for solving the problem, the present inventor of the present invention has investigated the mechanism of occurrence of the above-mentioned line unevenness. As a result, the following points are the main causes. ,It was considered. That is, since the above-described enable signal lines and image signal lines are generally formed by patterning a thin-film metal on a substrate such as glass or semiconductor, they have some resistance. Further, since the enable signal line and the image signal line are close to each other, they are easily coupled capacitively. Therefore, since a kind of differentiating circuit is formed across both signal lines, differential noise accompanying the level transition of the enable signal is superimposed on the image signal line in addition to the image signal. As a result,
Since the differential noise is added to the original image signal to the data line, the applied voltage is further applied to each data line or when serial-parallel conversion is performed.
It is considered that the unevenness caused by the data lines is generated along the data lines and degrades the display quality because the data lines are different every m lines.

【0010】そこで、本件の第1の発明にあっては、画
像信号を複数のデータ線に出力する電気光学装置の駆動
回路であって、複数のラッチ回路を備え、各ラッチ回路
により入力信号を順次シフトして出力するシフトレジス
タ回路と、前記ラッチ回路による出力信号のパルス幅
を、イネーブル信号線に供給されるイネーブル信号にし
たがって制限するパルス幅制限回路と、前記イネーブル
信号の論理レベルを反転した反転イネーブル信号を供給
する反転イネーブル信号線と、前記データ線にそれぞれ
対応して設けられ、画像信号線に供給される画像信号
を、前記パルス幅制限回路によってパルス幅の制限され
た信号に基づいてサンプリングして、対応するデータ線
に供給するサンプリングスイッチとを具備することを特
徴としている。
Therefore, according to a first aspect of the present invention, there is provided a drive circuit for an electro-optical device for outputting an image signal to a plurality of data lines, comprising a plurality of latch circuits, wherein each latch circuit outputs an input signal. A shift register circuit for sequentially shifting and outputting, a pulse width limiting circuit for limiting a pulse width of an output signal from the latch circuit according to an enable signal supplied to an enable signal line, and a logic level of the enable signal inverted. An inversion enable signal line that supplies an inversion enable signal, and an image signal that is provided corresponding to each of the data lines and that is supplied to an image signal line, based on a signal whose pulse width is limited by the pulse width limitation circuit. And a sampling switch for sampling and supplying the data to a corresponding data line.

【0011】この発明によれば、画像信号線において
は、イネーブル信号のレベル遷移に伴って重畳される微
分ノイズが、反転イネーブル信号のレベル遷移に伴う微
分ノイズによって打ち消されるので、本来の画像信号の
成分のみが供給されることとなる。したがって、ライン
ムラの発生を抑えた高品位な表示が可能となる。
According to the present invention, in the image signal line, the differential noise superimposed with the level transition of the enable signal is canceled by the differential noise with the level transition of the inverted enable signal. Only the components will be supplied. Therefore, high-quality display in which line unevenness is suppressed can be achieved.

【0012】ところで、本発明において、前記反転イネ
ーブル信号線は、前記イネーブル信号線と略平行に配設
されている構成が望ましい。この構成では、画像信号線
からみた容量的な結合度が、イネーブル信号線と反転イ
ネーブル信号線とでほぼ等しくなるため、イネーブル信
号に起因する微分ノイズがほぼ完全に打ち消すことが可
能となる。
In the present invention, it is preferable that the inversion enable signal line is disposed substantially in parallel with the enable signal line. In this configuration, the degree of capacitive coupling from the viewpoint of the image signal line is substantially equal between the enable signal line and the inverted enable signal line, so that the differential noise caused by the enable signal can be almost completely canceled.

【0013】同様に、本発明において、前記反転イネー
ブル信号線は、前記イネーブル信号線と略同一の容量を
有する構成が望ましい。この構成によっても、イネーブ
ル信号に起因する微分ノイズがほぼ完全に打ち消すこと
が可能となるからである。
Similarly, in the present invention, it is preferable that the inverted enable signal line has substantially the same capacity as the enable signal line. This is because even with this configuration, the differential noise caused by the enable signal can be almost completely canceled.

【0014】同様に、本発明において、前記反転イネー
ブル信号線は、前記イネーブル信号線と略同一の時定数
を有する構成が望ましい。この構成によっても、イネー
ブル信号に起因する微分ノイズがほぼ完全に打ち消すこ
とが可能となるからである。
Similarly, in the present invention, it is preferable that the inverted enable signal line has substantially the same time constant as the enable signal line. This is because even with this configuration, the differential noise caused by the enable signal can be almost completely canceled.

【0015】一方、本発明は、イネーブル信号に起因す
る微分ノイズを、反転イネーブル信号に起因する微分ノ
イズによって打ち消す構成ではあるが、画像信号線と、
イネーブル信号線および反転イネーブル信号線との容量
的な結合度は、本来的に小さい方が良い。このために
は、本発明において、前記イネーブル信号線および前記
反転イネーブル信号線は、前記パルス幅制限回路の形成
領域の一方の側から回り込んで配設される一方、前記画
像信号線は、前記パルス幅制限回路の形成領域の他方の
側から回り込んで配設されている構成が望ましい。この
構成によれば、イネーブル信号線および反転イネーブル
信号線と、画像信号線とが、一旦離間することになるの
で、その分だけ容量的な結合度を小さく抑えることが可
能となる。
On the other hand, the present invention has a configuration in which the differential noise caused by the enable signal is canceled by the differential noise caused by the inverted enable signal.
The smaller the degree of capacitive coupling to the enable signal line and the inverted enable signal line, the better. To this end, in the present invention, the enable signal line and the inverted enable signal line are provided so as to wrap around from one side of the formation region of the pulse width limiting circuit, while the image signal line is It is desirable that the pulse width limiting circuit be provided so as to extend from the other side of the formation region. According to this configuration, since the enable signal line and the inverted enable signal line are once separated from the image signal line, it is possible to reduce the degree of capacitive coupling by that much.

【0016】また、本発明において、前記イネーブル信
号線および前記反転イネーブル信号線と、前記画像信号
線との間に、一定の電位の定電位線が配設されている構
成が望ましい。この構成によれば、定電位線は、イネー
ブル信号線および反転イネーブル信号線と、画像信号線
との間において、一種のシールド線として機能するの
で、両者の容量的な結合度を小さく抑えることが可能と
なる。なお、このような定電位線としては、電源供給線
の高位側配線や、低位側配線、共通電極に接続される配
線などが考えられる。
Further, in the present invention, it is preferable that a constant potential line having a constant potential is disposed between the enable signal line and the inversion enable signal line and the image signal line. According to this configuration, since the constant potential line functions as a kind of shield line between the enable signal line and the inversion enable signal line and the image signal line, it is possible to reduce the capacitive coupling between the two. It becomes possible. Note that, as such a constant potential line, a high-level wiring of a power supply line, a low-level wiring, a wiring connected to a common electrode, and the like can be considered.

【0017】くわえて、前記パルス幅制限回路によるサ
ンプリング信号の論理振幅を拡大して、対応するサンプ
リングスイッチに供給するレベルシフタを備える構成が
望ましい。この構成によれば、イネーブル信号線に供給
されるイネーブル信号および反転イネーブル信号線に供
給される反転イネーブル信号は、レベルシフタにより論
理振幅を拡大する前の低論理振幅信号であるため、画像
信号線に与える影響を本来的に小さくすることが可能と
なる。
In addition, it is desirable that a configuration is provided that includes a level shifter that expands the logical amplitude of the sampling signal by the pulse width limiting circuit and supplies it to the corresponding sampling switch. According to this configuration, the enable signal supplied to the enable signal line and the inverted enable signal supplied to the inverted enable signal line are low logic amplitude signals before the logic amplitude is expanded by the level shifter. It is possible to reduce the influence inherently.

【0018】ところで、本発明における前記パルス幅制
限回路の具体的構成としては、前記ラッチ回路による出
力信号と、前記イネーブル信号との否定論理積信号を出
力する否定論理積回路、または、前記ラッチ回路による
出力信号とはレベル反転の関係にある信号と、前記反転
イネーブル信号との否定論理和信号を出力する否定論理
和回路である構成が想定される。
As a specific configuration of the pulse width limiting circuit in the present invention, a NAND circuit for outputting a NAND signal of an output signal from the latch circuit and the enable signal, or the latch circuit Is assumed to be a configuration of a NOR circuit for outputting a NOR signal of a signal having a level inversion relationship with the output signal of the above and an inversion enable signal.

【0019】また、本発明において、前記画像信号は、
時間軸に伸長されてm(mは2以上の整数とする)本の
系統に変換されたものであり、前記データ線は、m本毎
にブロック化されて、ブロック化されたm本のデータ線
に対応するスイッチが同時に駆動される構成が望まし
い。この構成によれば、画像信号をサンプリングするス
イッチ等の性能を高めることなく、ドットクロックの高
周波数化に対処できるとともに、表示の高コントラスト
化を図ることが可能となる。
In the present invention, the image signal is:
The data line is expanded into a time axis and converted into m (m is an integer of 2 or more) lines, and the data lines are divided into m lines, and the m lines of data are divided into blocks. It is desirable that the switches corresponding to the lines are driven simultaneously. According to this configuration, it is possible to cope with an increase in the frequency of the dot clock without increasing the performance of a switch for sampling an image signal and the like, and it is possible to achieve a high display contrast.

【0020】一方、本発明において、前記サンプリング
スイッチは相補型であり、前記パルス幅制限回路は、前
記ラッチ回路による出力信号と、前記イネーブル信号と
によりパルス幅を制限した正転の信号を生成する第1の
ゲート回路と、前記ラッチ回路による出力信号とはレベ
ル反転の関係にある信号と、前記反転イネーブル信号と
によりパルス幅を制限した反転の信号を生成する第2の
ゲート回路とを有し、前記相補型のサンプリングスイッ
チは、前記正転の信号および前記反転の信号に基づいて
サンプリングを行う構成が望ましい。この構成によれ
ば、サンプリングスイッチにおける入力インピーダンス
が高まるので、パルス幅制限回路に高い駆動能力を持た
せないで済むとともに、一方のチャネル型のみによりサ
ンプリングスイッチを構成する場合と比較して、画像信
号をデータ線にサンプリングする際のプッシュダウンに
よる影響を少なくすることができる。このため、より高
品位な表示が可能となる。
On the other hand, in the present invention, the sampling switch is a complementary type, and the pulse width limiting circuit generates a non-inverted signal whose pulse width is limited by an output signal from the latch circuit and the enable signal. A first gate circuit, and a second gate circuit for generating an inverted signal whose pulse width is limited by the signal having a level inversion relationship with an output signal from the latch circuit and the inversion enable signal. It is preferable that the complementary sampling switch performs sampling based on the normal signal and the inverted signal. According to this configuration, the input impedance of the sampling switch is increased, so that the pulse width limiting circuit does not need to have a high driving capability, and the image signal is compared with the case where the sampling switch is configured using only one channel type. Can be reduced by the push-down when sampling is performed on the data line. For this reason, higher-quality display can be performed.

【0021】このような構成において、前記第1および
第2のゲート回路の負荷を、互いに略同一とすることが
望ましい。これにより、相補型のサンプリングスイッチ
における正負特性を、より均一化することが可能とな
る。
In such a configuration, it is desirable that the loads of the first and second gate circuits are substantially the same. This makes it possible to make the positive / negative characteristics of the complementary sampling switches more uniform.

【0022】また、上記目的を達成するために、本件の
第2の発明に係る電気光学装置あっては、上記電気光学
装置の駆動回路によって駆動されることを特徴としてい
る。これによれば、ゴーストやクロストークのない高品
位な表示が可能となる。
In order to achieve the above object, an electro-optical device according to a second aspect of the present invention is characterized in that the electro-optical device is driven by a driving circuit of the electro-optical device. According to this, high-quality display without ghost or crosstalk can be performed.

【0023】この第2の発明において、複数の走査線
と、複数のデータ線と、前記走査線および前記データ線
の交差部に対応して設けられたスイッチング素子及び画
素電極を備え、前記データ線の各々を駆動する電気光学
装置であって、前記画素電極はマトリクス状に配置され
る一方、前記スイッチング素子は、前記画素電極および
前記データ線の間に介挿されるとともに、前記走査線に
供給される走査信号にしたがって開閉する構成が望まし
い。この構成によれば、スイッチング素子によりオン画
素とオフ画素とを電気的に分離できるので、コントラス
トやレスポンスなどが良好であり、かつ、高精細な表示
が可能となる。
According to the second aspect of the present invention, the data line includes a plurality of scanning lines, a plurality of data lines, and switching elements and pixel electrodes provided corresponding to intersections of the scanning lines and the data lines. Wherein the pixel electrodes are arranged in a matrix, while the switching elements are interposed between the pixel electrodes and the data lines, and are supplied to the scanning lines. It is desirable to have a configuration that opens and closes according to a scanning signal. According to this configuration, the ON pixel and the OFF pixel can be electrically separated by the switching element, so that the contrast and the response are good, and a high-definition display is possible.

【0024】さらに、上記目的を達成するために、本発
明に係る電気機器にあっては、上記電気光学装置を備え
ることを特徴としているので、ゴーストやクロストーク
のない高品位な表示が可能となる。
Further, in order to achieve the above-mentioned object, the electric apparatus according to the present invention is characterized by including the above-mentioned electro-optical device, so that high-quality display without ghost or crosstalk can be achieved. Become.

【0025】[0025]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照して説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0026】<電気光学装置の概略構成>まず、本発明
の第1の実施形態に係る電気光学装置について説明す
る。この電気光学装置は、電気光学材料として液晶を用
いて、その電気光学的な変化により所定の表示を行うも
のである。図1(a)は、この電気光学装置のうち、外
部回路を除いた液晶パネル100の構成を示す斜視図で
あり、図1(b)は、図1(a)におけるA−A’線の
断面図である。
<Schematic Configuration of Electro-Optical Device> First, an electro-optical device according to a first embodiment of the present invention will be described. This electro-optical device uses a liquid crystal as an electro-optical material and performs a predetermined display by an electro-optical change. FIG. 1A is a perspective view showing a configuration of a liquid crystal panel 100 excluding an external circuit in the electro-optical device, and FIG. 1B is a sectional view taken along line AA ′ in FIG. It is sectional drawing.

【0027】これらの図に示されるように、液晶パネル
100は、各種素子や画素電極118等が形成された素
子基板101と、共通電極108等が形成された対向基
板102とが、スペーサ103を含むシール材104に
よって一定の間隙を保って、互いに電極形成面が対向す
るように貼り合わせられるとともに、この間隙に電気光
学材料として例えばTN(Twisted Nematic)型の液晶
105が封入された構成となっている。ここで、素子基
板101には透明性が要求されないので、ガラスや、半
導体、石英などから構成されるが、対向基板102には
透明性が要求されるので、ガラスなどから構成される。
なお、シール材104は、対向基板102の基板周辺に
沿って形成されるが、液晶105を封入するために一部
が開口している。このため、液晶105の封入後に、そ
の開口部分が封止材106によって封止された構成とな
っている。
As shown in these figures, in the liquid crystal panel 100, an element substrate 101 on which various elements and pixel electrodes 118 and the like are formed, and a counter substrate 102 on which a common electrode 108 and the like are formed form a spacer 103. The electrodes are bonded so that the electrode forming surfaces face each other with a certain gap maintained by the sealing material 104 including the sealing material 104, and a liquid crystal 105 of, for example, a TN (Twisted Nematic) type is sealed as an electro-optical material in this gap. ing. Here, since the element substrate 101 does not require transparency, the element substrate 101 is made of glass, a semiconductor, quartz or the like, but the opposing substrate 102 is made of glass or the like because transparency is required.
Note that the sealant 104 is formed along the periphery of the opposing substrate 102, but has a partly opened opening for enclosing the liquid crystal 105. Therefore, after the liquid crystal 105 is sealed, the opening is sealed by the sealing material 106.

【0028】次に、素子基板101の対向面であって、
シール材104の外側一辺の領域140aにおいては、
後述するデータ線駆動回路やサンプリング回路などが形
成されて、データ線を駆動する構成となっている。さら
に、この一辺の外側には、複数の接続端子107が形成
されて、外部回路からの各種信号を入力する構成となっ
ている。また、この一辺に隣接する辺の領域130aに
は、後述するように2個の走査線駆動回路が形成され
て、走査線をそれぞれ両側から駆動する構成となってい
る。なお、走査線に供給される走査信号の遅延が問題に
ならないのであれば、走査線駆動回路を片側1個だけに
形成する構成でも良い。
Next, on the opposing surface of the element substrate 101,
In a region 140a on one outer side of the sealing material 104,
A data line driving circuit and a sampling circuit, which will be described later, are formed to drive the data lines. Further, a plurality of connection terminals 107 are formed outside this one side, and are configured to input various signals from an external circuit. Further, two scanning line driving circuits are formed in the side region 130a adjacent to the one side as described later, and the scanning lines are driven from both sides. If the delay of the scanning signal supplied to the scanning line does not matter, a configuration in which the scanning line driving circuit is formed only on one side may be employed.

【0029】一方、対向基板102の共通電極108
は、後述するように、素子基板101との貼合部分にお
ける4隅のうち、領域140aに近接する2隅に設けら
れた導通材によって、素子基板101に形成された接続
端子107との電気的導通が図られている。なお、導通
材が設けられる地点は、ここでは2箇所であるが、共通
電極108が接続端子107と電気的に導通すれば良い
から、導通材が設けられる地点は少なくとも1箇所であ
れば足りる。ほかに、対向基板102には、画素電極1
18と対向する領域に、着色層(カラーフィルタ)が設
けられる一方、着色層以外の領域には、光のリークによ
るコントラストの低下を防止したり、非表示領域を規定
したりするための遮光層が設けられる。ただし、後述す
るプロジェクタのように色光変調の用途に適用する場
合、対向基板102に着色層や遮光層などを形成する必
要はない。
On the other hand, the common electrode 108 of the opposite substrate 102
As will be described later, among the four corners of the bonding portion with the element substrate 101, the electrical connection with the connection terminal 107 formed on the element substrate 101 is achieved by the conductive material provided at two corners close to the region 140a. The continuity is achieved. Although the conductive material is provided at two locations here, it is sufficient that the common electrode 108 is electrically connected to the connection terminal 107. Therefore, it is sufficient that at least one conductive material is provided. In addition, the opposing substrate 102 has a pixel electrode 1
A colored layer (color filter) is provided in a region opposed to 18, and a light-shielding layer for preventing a decrease in contrast due to light leak and defining a non-display region is provided in a region other than the colored layer. Is provided. However, when the present invention is applied to color light modulation as in a projector described later, it is not necessary to form a coloring layer, a light shielding layer, and the like on the counter substrate 102.

【0030】なお、対向基板102に着色層を設けると
否かとにかかわらず、素子基板101には、光のリーク
により素子の特性低下を防止するための遮光層(図示省
略)が設けられる。また、素子基板101および対向基
板102の対向面には、液晶105における分子の長軸
方向が両基板間で約90度連続的に捻れるようにラビン
グ処理された配向膜(図示省略)が設けられる一方、そ
の各背面側には配向方向に応じた偏光子(図示省略)が
それぞれ設けられる。
Regardless of whether or not the counter substrate 102 is provided with a coloring layer, the element substrate 101 is provided with a light-shielding layer (not shown) for preventing a deterioration in element characteristics due to light leakage. On the opposing surfaces of the element substrate 101 and the opposing substrate 102, an alignment film (not shown) rubbed is provided so that the major axis direction of the molecules of the liquid crystal 105 is continuously twisted by about 90 degrees between the two substrates. On the other hand, a polarizer (not shown) corresponding to the alignment direction is provided on each back side.

【0031】<電気的構成>次に、本実施形態に係る電
気光学装置の電気的な構成について説明する。図2は、
この構成を示すブロック図である。この図に示されるよ
うに、電気光学装置は、上述した液晶パネル100と、
これに必要な信号を供給する外部回路200とを備えて
いる。
<Electrical Configuration> Next, the electrical configuration of the electro-optical device according to the present embodiment will be described. FIG.
FIG. 3 is a block diagram showing this configuration. As shown in this figure, the electro-optical device includes the liquid crystal panel 100 described above,
An external circuit 200 for supplying a signal necessary for this is provided.

【0032】このうち、外部回路200は、さらに、タ
イミングジェネレータ202とS/P(シリアル/パラ
レル)変換回路204とに大別される。前者のタイミン
グジェネレータ202は、図示せぬ上位装置から供給さ
れる垂直走査信号Vs、水平走査信号Hsおよびドット
クロック信号DCLKに基づいて、各部で使用されるク
ロック信号や制御信号など(必要に応じて後述する)を
出力するものである。
The external circuit 200 is further roughly divided into a timing generator 202 and an S / P (serial / parallel) conversion circuit 204. Based on the vertical scanning signal Vs, horizontal scanning signal Hs, and dot clock signal DCLK supplied from a higher-level device (not shown), the former timing generator 202 generates a clock signal, a control signal, and the like used in each unit (as necessary). (To be described later).

【0033】また、後者のS/P変換回路204は、図
6に示されるように、ドットクロックDCLKに同期し
て供給される1系統の画像信号VIDを、6系統に分配
するとともに時間軸に6倍に伸長して、画像信号VID
1〜VID6として出力するものである。ここで、1系
統の画像信号VIDを6系統の画像信号VID1〜VI
D6に変換する理由は、後述するサンプリング回路15
0においてサンプリングスイッチ151を構成する薄膜
トランジスタ(Thin Film Transistor:以下、単に「T
FT」と称する。)のソース領域への画像信号の印加時
間を長くして、サンプリング時間および充放電時間を十
分に確保するためである。
As shown in FIG. 6, the S / P conversion circuit 204 distributes one image signal VID, which is supplied in synchronization with the dot clock DCLK, to six systems, and applies the same to the time axis. The image signal VID is expanded by 6 times.
1 to VID6. Here, one system of image signal VID is replaced with six systems of image signals VID1 to VID.
The reason for conversion to D6 is that a sampling circuit 15 described later is used.
0, a thin film transistor (hereinafter, simply referred to as “T”) constituting the sampling switch 151.
FT ”. This is because the application time of the image signal to the source region in (1) is made longer to sufficiently secure the sampling time and the charge / discharge time.

【0034】なお、S/P変換回路204の出力段に
は、反転・増幅回路(図示省略)が備えられ、シリアル
−パラレル変換した画像信号のうち、極性反転が必要と
なるものを反転させ、この後、適宜、増幅する構成とな
っている。ここで、極性を反転するか否かについては、
一般には、データ線への画像信号の印加方式が走査線
単位の極性反転であるか、データ線単位の極性反転で
あるか、画素単位の極性反転であるかに応じて定めら
れ、その反転周期は、1水平走査期間またはドットクロ
ック周期に設定される。ただし、本実施形態にあっては
説明の便宜上、走査線単位の極性反転である場合を例
にとって説明するが、本発明をこれに限定する趣旨では
ない。
The output stage of the S / P conversion circuit 204 is provided with an inverting / amplifying circuit (not shown) for inverting the serial-parallel-converted image signals which need to be inverted. After that, it is configured to amplify appropriately. Here, as to whether or not to invert the polarity,
In general, the method of applying an image signal to a data line is determined according to whether polarity inversion in scanning line units, polarity inversion in data line units, or polarity inversion in pixel units. Is set to one horizontal scanning period or dot clock cycle. However, in the present embodiment, for convenience of explanation, a case where the polarity is inverted in units of scanning lines will be described as an example, but the present invention is not limited to this.

【0035】また、本実施形態における極性反転とは、
共通電極108の電位LCcom(すなわち、画像信号V
ID1〜VID6の振幅中心電位)を基準として正極性
と負極性とに交互に電圧レベルを反転させることをい
う。さらに、6系統の画像信号VID1〜VID6を液
晶パネル100への供給するタイミングは、本実施形態
では同時とするが、本発明では、ドットクロックDCL
Kに同期して順次シフトさせても良い。
The polarity inversion in the present embodiment is as follows.
The potential LCcom of the common electrode 108 (that is, the image signal V
This means that the voltage level is alternately inverted between positive polarity and negative polarity based on the amplitude center potential of ID1 to VID6. Further, the timing of supplying the six-system image signals VID1 to VID6 to the liquid crystal panel 100 is simultaneous in the present embodiment, but in the present invention, the dot clock DCL is used in the present invention.
The shift may be sequentially performed in synchronization with K.

【0036】さて、液晶パネル100のうち、素子基板
101の表示領域にあっては、複数本の走査線112が
図2において横方向に沿って平行に配列して形成され、
また、複数本のデータ線114が縦方向に沿って平行に
形成されている。そして、これらの走査線112とデー
タ線114とが交差する部分においては、画素を制御す
るためのスイッチング素子たるTFT116のゲート電
極が走査線112に接続される一方、TFT116のソ
ース電極がデータ線114に接続されるとともに、TF
T116のドレイン電極が矩形状の透明な画素電極11
8に接続されている。
Now, in the display area of the element substrate 101 of the liquid crystal panel 100, a plurality of scanning lines 112 are formed in parallel in the horizontal direction in FIG.
Further, a plurality of data lines 114 are formed in parallel along the vertical direction. In a portion where the scanning line 112 and the data line 114 intersect, the gate electrode of the TFT 116 which is a switching element for controlling a pixel is connected to the scanning line 112, while the source electrode of the TFT 116 is connected to the data line 114. And TF
The drain electrode of T116 is a rectangular transparent pixel electrode 11
8 is connected.

【0037】上述したように、液晶パネル100では、
素子基板101と対向基板102との電極形成面の間に
おいて液晶105が挟持されているので、各画素は、画
素電極118と、共通電極108と、これら両電極間に
挟持された液晶105とによって構成されることにな
る。ここで、説明の便宜上、走査線112の総本数を
「m」とし、データ線114の総本数を「6n」とする
と(ただし、m、nは、それぞれ整数)、画素は、走査
線112とデータ線114との各交点に対応して、m行
×6n列のマトリクス状に配列することになる。また、
マトリクス状の画素からなる表示領域には、このほか
に、液晶容量のリークを防止するための蓄積容量が、画
素毎に形成されるが、図示省略されている。
As described above, in the liquid crystal panel 100,
Since the liquid crystal 105 is sandwiched between the electrode forming surfaces of the element substrate 101 and the counter substrate 102, each pixel is constituted by the pixel electrode 118, the common electrode 108, and the liquid crystal 105 sandwiched between these two electrodes. Will be composed. Here, for convenience of explanation, if the total number of the scanning lines 112 is “m” and the total number of the data lines 114 is “6n” (where m and n are integers), the pixels are Corresponding to each intersection with the data line 114, they are arranged in a matrix of m rows × 6n columns. Also,
In addition, in a display area composed of pixels in a matrix, a storage capacitor for preventing leakage of liquid crystal capacitance is formed for each pixel, but is not shown.

【0038】一方、素子基板101の非表示領域には、
周辺回路120が形成されている。この周辺回路120
は、走査線駆動回路130や、データ線駆動回路14
0、サンプリング回路150のほか、製造後に欠陥の有
無を判別するための検査回路を含んだ回路として概念さ
れるものであるが、検査回路については、本件とは直接
関係しないので、その説明については省略することとす
る。
On the other hand, in the non-display area of the element substrate 101,
A peripheral circuit 120 is formed. This peripheral circuit 120
Are the scanning line driving circuit 130 and the data line driving circuit 14
0, it is conceptualized as a circuit including an inspection circuit for determining the presence or absence of a defect after manufacturing in addition to the sampling circuit 150. However, since the inspection circuit is not directly related to the present invention, its description is omitted. It is omitted.

【0039】また、周辺回路120の構成素子は、画素
を駆動するTFT116と共通の製造プロセスで形成さ
れるPチャネル型TFTおよびNチャネル型TFTを組
み合わせて構成されるため、製造効率の向上や、製造コ
ストの低下、素子特性の均一化などが図られている。
The constituent elements of the peripheral circuit 120 are composed of a combination of a TFT 116 for driving a pixel and a P-channel TFT and an N-channel TFT formed by a common manufacturing process. Reduction of manufacturing cost, uniformization of element characteristics, and the like are being attempted.

【0040】さて、周辺回路120のうち、走査線駆動
回路130は、水平走査期間毎に順次アクティブレベル
となる走査信号G1、G2、…、Gmを、垂直走査期間
内に出力するものである。また、データ線駆動回路14
0は、順次アクティブレベルとなるサンプリング信号S
1、S2、…、Snを水平走査期間内に出力するもので
ある。なお、走査線駆動回路130およびデータ線駆動
回路140の詳細については、それぞれ後述することと
する。
In the peripheral circuit 120, the scanning line driving circuit 130 outputs scanning signals G1, G2,..., Gm which sequentially become active levels in each horizontal scanning period during the vertical scanning period. Also, the data line driving circuit 14
0 is a sampling signal S which sequentially becomes active level
1, S2,..., Sn are output within the horizontal scanning period. The details of the scanning line driving circuit 130 and the data line driving circuit 140 will be described later.

【0041】次に、サンプリング回路150は、データ
線114毎に設けられるサンプリングスイッチ151か
ら構成されている。ここで、データ線114は6本毎に
ブロック化されており、図2において左から数えてj
(jは、1、2、…、n)番目のブロックに属するデー
タ線114の6本のうち、最も左に位置するデータ線1
14の一端に接続されるサンプリングスイッチ151
は、画像信号VID1を、サンプリング信号Sjがアク
ティブとなる期間においてサンプリングして、当該デー
タ線114に供給する構成となっている。また、同じく
j番目のブロックに属するデータ線114の6本のう
ち、2番目に位置するデータ線114の一端に接続され
るサンプリングスイッチ151は、画像信号VID2
を、サンプリング信号Sjがアクティブとなる期間にお
いてサンプリングして、当該データ線114に供給する
構成となっている。以下、同様に、j番目のブロックに
属するデータ線114の6本のうち、3、4、5、6番
目に位置するデータ線114の一端に接続されるサンプ
リングスイッチ151の各々は、それぞれ画像信号VI
D3、VID4、VID5、VID6を、サンプリング
信号Sjがアクティブとなる期間においてサンプリング
して、対応するデータ線114に供給する構成となって
いる。
Next, the sampling circuit 150 includes a sampling switch 151 provided for each data line 114. Here, the data lines 114 are divided into blocks every six lines, and j is counted from the left in FIG.
(J is the first, second,..., N) -th data line 1 among the six data lines 114 belonging to the block.
Sampling switch 151 connected to one end of 14
Has a configuration in which the image signal VID1 is sampled during a period in which the sampling signal Sj is active and supplied to the data line 114. The sampling switch 151 connected to one end of the data line 114 located second among the six data lines 114 also belonging to the j-th block outputs the image signal VID2.
Is sampled during a period in which the sampling signal Sj is active, and is supplied to the data line 114. Hereinafter, similarly, among the six data lines 114 belonging to the j-th block, each of the sampling switches 151 connected to one end of the third, fourth, fifth, and sixth data lines 114 respectively receives image signals. VI
D3, VID4, VID5, and VID6 are sampled during a period in which the sampling signal Sj is active and supplied to the corresponding data line 114.

【0042】なお、サンプリングスイッチ151を構成
するTFTについては、本実施形態では、Nチャネル型
とするので、サンプリング信号S1、S2、…、Snが
Hレベルとなればアクティブレベルとなって、対応する
サンプリングスイッチ151が閉じることになる。な
お、サンプリングスイッチ151を構成するTFTにつ
いては、Pチャネル型としても良いし、後述する第3実
施形態のように、両チャネルを組み合わせた相補型とし
ても良い。
Since the TFT constituting the sampling switch 151 is of an N-channel type in this embodiment, it becomes an active level when the sampling signals S1, S2,... The sampling switch 151 is closed. The TFT constituting the sampling switch 151 may be a P-channel type or a complementary type combining both channels as in a third embodiment described later.

【0043】ほかに、素子基板101の非表示領域にあ
っては、データ線114に画像信号VID1〜VID6
をサンプリングする際の負荷を低減するため、各データ
線114を、サンプリングに先行するタイミングにおい
て所定の電位にプリチャージするプリチャージ回路を形
成しても良いが、本件では直接関係しないので、説明を
省略することとする。
In addition, in the non-display area of the element substrate 101, the image signals VID1 to VID6 are
In order to reduce the load at the time of sampling, a precharge circuit for precharging each data line 114 to a predetermined potential at a timing prior to the sampling may be formed. It is omitted.

【0044】なお、走査線駆動回路130は、図2およ
び後述する図3では、走査線112の一端側のみに1個
だけ配置しているが、これは、電気的な構成を説明する
ための便宜上の措置であり、実際には、図1および後述
する図8に示されるように、走査線112の両端に2個
配置している。また、データ線駆動回路140は、図2
および後述する図5にあっては表示領域に対して上方に
位置しているが、これも、電気的な構成を説明するため
の便宜上の措置であり、実際には、図1および後述する
図8に示されるように、表示領域に対して下方に位置し
ている。
In FIG. 2 and FIG. 3, which will be described later, only one scanning line driving circuit 130 is provided only at one end of the scanning line 112. However, this is for the purpose of describing the electrical configuration. This is a measure for convenience. Actually, as shown in FIG. 1 and FIG. 8 to be described later, two are arranged at both ends of the scanning line 112. In addition, the data line driving circuit 140
5 and FIG. 5 described later, it is located above the display area, but this is also a measure for the convenience of explaining the electrical configuration, and in fact, FIG. As shown in FIG. 8, it is located below the display area.

【0045】<データ線駆動回路の構成>次に説明の便
宜上、データ線駆動回路140について説明する。図5
は、データ線駆動回路140の構成を示すブロック図で
ある。この図において、クロック信号CLX、その反転
クロック信号CLXinv、転送開始パルスDX、イネー
ブル信号ENB1、その反転イネーブル信号ENB1in
v、イネーブル信号ENB2、および、その反転イネー
ブル信号ENB2invは、いずれも図2におけるタイミ
ングジェネレータ202によって、画像信号VID1〜
VID6と同期して供給されるものである。
<Structure of Data Line Driving Circuit> Next, for convenience of description, the data line driving circuit 140 will be described. FIG.
3 is a block diagram illustrating a configuration of a data line driving circuit 140. FIG. In this figure, a clock signal CLX, its inverted clock signal CLXinv, a transfer start pulse DX, an enable signal ENB1, and its inverted enable signal ENB1in.
v, the enable signal ENB2, and its inverted enable signal ENB2inv are all output by the timing generator 202 in FIG.
It is supplied in synchronization with VID6.

【0046】さて、データ線駆動回路140は、データ
線114のブロック総数の「n」よりも1段多い(n+
1)段で接続されたラッチ回路1450からなるシフト
レジスタ1440を備えている。なお、この図におい
て、「n」は、奇数である場合を想定している。
Now, the data line drive circuit 140 has one more stage (n +) than the total number “n” of blocks of the data line 114.
1) A shift register 1440 including a latch circuit 1450 connected in stages is provided. In this figure, it is assumed that “n” is an odd number.

【0047】ここで、シフトレジスタ1440のうち、
奇数段目のラッチ回路1450は、次のような構成とな
っている。すなわち、奇数段目のラッチ回路1450
は、第1に、クロック信号CLXの立ち上がり(反転ク
ロック信号CLXinvの立ち下がり)において入力レベ
ルを反転するクロックドインバータ1452と、第2
に、クロックドインバータ1452による出力レベルを
反転するインバータ1454と、第3に、反転クロック
信号CLXinvの立ち上がり(クロック信号CLXの立
ち下がり)においてインバータ1454の出力レベルを
反転して、インバータ1454の入力に帰還するクロッ
クドインバータ1456とから構成される。このため、
奇数段目のラッチ回路1450において、反転クロック
信号CLXinvが立ち上がると、インバータ1454の
出力がクロックドインバータ1456に取り込まれると
ともに、インバータ1454の入力に反転帰還されるの
で、結果的に、その前のクロック信号CLXの立ち上が
りにおいてクロックインバータ1452に取り込まれた
信号は、クロック信号CLX(反転クロック信号CLX
inv)の1周期分保持されることとなる。
Here, of the shift register 1440,
The odd-numbered latch circuit 1450 has the following configuration. That is, the odd-numbered stage latch circuit 1450
First, a clocked inverter 1452 that inverts the input level at the rise of the clock signal CLX (fall of the inverted clock signal CLXinv), and the second
Third, an inverter 1454 that inverts the output level of the clocked inverter 1452, and third, inverts the output level of the inverter 1454 at the rising edge of the inverted clock signal CLXinv (falling edge of the clock signal CLX), And a clocked inverter 1456 that feeds back. For this reason,
When the inverted clock signal CLXinv rises in the odd-numbered stage latch circuit 1450, the output of the inverter 1454 is taken into the clocked inverter 1456 and is inverted and fed back to the input of the inverter 1454. The signal captured by the clock inverter 1452 at the rising edge of the signal CLX is the clock signal CLX (the inverted clock signal CLX).
inv) for one cycle.

【0048】一方、シフトレジスタ1440のうち、偶
数段目のラッチ回路1450は、クロック信号CLYお
よび反転クロック信号CLYinvの対応関係が、奇数段
目のものとは入れ替わっている。このため、偶数段目の
ラッチ回路1450において、クロック信号CLXが立
ち上がると、インバータ1454の出力がクロックドイ
ンバータ1456に取り込まれるとともに、インバータ
1454の入力に反転帰還されるので、結果的に、その
前の反転クロック信号CLXinvの立ち上がりにおいて
クロックインバータ1452に取り込まれた信号は、偶
数段目と同様に、クロック信号CLXの1周期分保持さ
れることとなる。
On the other hand, in the latch circuit 1450 of the even-numbered stage of the shift register 1440, the correspondence relationship between the clock signal CLY and the inverted clock signal CLYinv is interchanged with that of the odd-numbered stage. Therefore, when the clock signal CLX rises in the even-numbered-stage latch circuit 1450, the output of the inverter 1454 is taken into the clocked inverter 1456 and is inverted and fed back to the input of the inverter 1454. The signal captured by the clock inverter 1452 at the rising edge of the inverted clock signal CLXinv is held for one cycle of the clock signal CLX, as in the case of the even-numbered stage.

【0049】このため、シフトレジスタ1440におい
ては、第1段目のラッチ回路1450が、クロック信号
CLXの立ち上がりで転送開始パルスDXを取り込んで
出力し、この出力信号を、第2段目のラッチ回路145
0が、クロック信号CLXの次の立ち下がり(反転クロ
ック信号CLXinvが立ち上がり)で取り込んで出力
し、以下同様の動作を、第3段目〜第n段目までのラッ
チ回路1450が、クロック信号CLX(反転クロック
信号CLXinv)のレベルが遷移する毎に実行すること
になる。
Therefore, in the shift register 1440, the first-stage latch circuit 1450 captures and outputs the transfer start pulse DX at the rising edge of the clock signal CLX, and outputs this output signal to the second-stage latch circuit. 145
0 is fetched and output at the next falling edge of the clock signal CLX (the inverted clock signal CLXinv rises), and the same operation is performed by the third to n-th latch circuits 1450 by the clock signal CLX. It is executed every time the level of (inverted clock signal CLXinv) changes.

【0050】したがって、クロック信号CLXの1周期
に相当する幅の転送開始パルスDXが、水平走査期間の
最初においてシフトレジスタ1440に入力されると、
シフトレジスタ1440における各段のラッチ回路から
出力される信号S1’、S2’、…、Sn’は、図6に
示されるように、当該転送開始パルスDXに対し、クロ
ック信号CLX(反転クロック信号CLXinv)の半周
期分だけ順次遅延させたものとなる。
Therefore, when a transfer start pulse DX having a width corresponding to one cycle of the clock signal CLX is input to the shift register 1440 at the beginning of the horizontal scanning period,
As shown in FIG. 6, signals S1 ′, S2 ′,..., Sn ′ output from the latch circuits of the respective stages in the shift register 1440 correspond to the clock signal CLX (inverted clock signal CLXinv) in response to the transfer start pulse DX. ) Is sequentially delayed by a half cycle.

【0051】続いて、シフトレジスタ1440の次段に
は、パルス幅制限回路1460が設けられている。この
パルス幅制限回路1460は、第1段目から第n段目ま
でのラッチ回路1450に対応したNAND回路146
2から構成されている。このうち、奇数段目のラッチ回
路1450に対応するNAND回路1462は、当該ラ
ッチ回路1450の出力信号と、イネーブル信号線12
4を介して供給されるイネーブル信号ENB1との否定
論理積信号を出力するものであり、また、偶数段目のラ
ッチ回路1450に対応するNAND回路1462は、
当該ラッチ回路1450の出力信号と、イネーブル信号
線124を介して供給されるイネーブル信号ENB2と
の否定論理積信号を出力するものである。
Subsequently, a pulse width limiting circuit 1460 is provided at the next stage of the shift register 1440. The pulse width limiting circuit 1460 includes a NAND circuit 146 corresponding to the first to n-th latch circuits 1450.
2 is comprised. Among them, the NAND circuit 1462 corresponding to the odd-numbered stage latch circuit 1450 is connected to the output signal of the latch circuit 1450 and the enable signal line 12.
The NAND circuit 1462 corresponding to the latch circuit 1450 of the even-numbered stage outputs a NAND signal with the enable signal ENB1 supplied through
It outputs a NAND signal of the output signal of the latch circuit 1450 and the enable signal ENB2 supplied via the enable signal line 124.

【0052】なお、反転イネーブル信号線125には、
イネーブル信号ENB1、ENB2を極性反転した反転
イネーブル信号ENB1inv、ENB2invが供給され
る。ただし、本実施形態では、この反転イネーブル信号
ENB1inv、ENB2invを積極的に使用しない構成と
なっている。
The inversion enable signal line 125 has
Inversion enable signals ENB1inv and ENB2inv obtained by inverting the polarities of the enable signals ENB1 and ENB2 are supplied. However, in the present embodiment, the configuration is such that the inversion enable signals ENB1inv and ENB2inv are not actively used.

【0053】続いて、パルス幅制限回路1460の次段
には、バッファ回路1480が設けられている。このバ
ッファ回路1480は、NAND回路1462の否定論
理積信号をレベル反転するインバータ回路1482から
構成されて、これらのインバータ回路1482による反
転信号が、データ線駆動回路140のサンプリング信号
S1、S2、…、Snとして出力される構成となってい
る。
Subsequently, a buffer circuit 1480 is provided next to the pulse width limiting circuit 1460. This buffer circuit 1480 is composed of inverter circuits 1482 for inverting the level of the NAND signal of the NAND circuit 1462, and the inverted signals of these inverter circuits 1482 are used as sampling signals S1, S2,. It is configured to be output as Sn.

【0054】なお、インバータ回路1482は、図5で
は1段となっているが、同時に制御するサンプリングス
イッチ151の負荷に応じて、3段、5段、…、という
ように複数段設けて、出力インピーダンスを段階的に高
める構成としても良い。
Although the inverter circuit 1482 has one stage in FIG. 5, a plurality of stages such as three stages, five stages,... The configuration may be such that the impedance is increased stepwise.

【0055】<走査線駆動回路>次に、走査線駆動回路
130の詳細について説明する。この走査線駆動回路1
30の構成は、図3に示されるように、出力信号の引き
出し方向と、入力される信号とが異なる以外、基本的に
データ線駆動回路140の構成と同様である。すなわ
ち、走査線駆動回路130は、データ線駆動回路140
を90度回転して配置したものであり、図3に示される
ように、水平走査期間の最初に供給される転送開始パル
スDXの替わりに、垂直走査期間の最初に供給される転
送開始パルスDYを入力するとともに、クロック信号C
LXおよびその反転クロック信号CLXinvの替わり
に、2水平走査期間に相当する周期を有するクロック信
号CLYおよびその反転クロック信号CLYinvを入力
する構成となっている。
<Scanning Line Driving Circuit> Next, details of the scanning line driving circuit 130 will be described. This scanning line driving circuit 1
The configuration of 30 is basically the same as the configuration of the data line driving circuit 140, except that the output signal drawing direction and the input signal are different as shown in FIG. That is, the scanning line driving circuit 130 is
Are rotated by 90 degrees. As shown in FIG. 3, the transfer start pulse DY supplied at the beginning of the vertical scanning period is replaced with the transfer start pulse DY supplied at the beginning of the horizontal scanning period. And the clock signal C
Instead of LX and its inverted clock signal CLXinv, a clock signal CLY having a period corresponding to two horizontal scanning periods and its inverted clock signal CLYinv are input.

【0056】ただし、走査線駆動回路130では、シフ
トレジスタ1350の次段が次のようにデータ線駆動回
路140とは相違している。すなわち、データ線駆動回
路140では、シフトレジスタ1440の各ラッチ回路
1450から出力される信号とイネーブル信号との否定
論理積信号をNAND回路1462により求め、これを
インバータ1468により反転してサンプリング信号S
1、S2、…、Snとして出力する構成となっていた
が、走査線駆動回路130では、相隣接するラッチ回路
1350から出力される信号同士の否定論理積信号をN
AND回路1362により求め、これをインバータ13
68により反転して走査信号G1、G2、…、Gmとし
て出力する構成となっている。このため、走査線駆動回
路130には、データ線駆動回路140におけるイネー
ブル信号ENB1、ENB2に相当する信号が入力され
ていない。
However, in the scanning line driving circuit 130, the next stage of the shift register 1350 is different from the data line driving circuit 140 as follows. That is, in the data line driving circuit 140, the NAND circuit 1462 obtains the NAND signal of the signal output from each latch circuit 1450 of the shift register 1440 and the enable signal, and inverts this signal by the inverter 1468 to invert the sampling signal S.
1, S2,..., Sn, the scanning line drive circuit 130 outputs the NAND signal of the signals output from the adjacent latch circuits 1350 to N
It is obtained by an AND circuit 1362, and this is
68 and output as scanning signals G1, G2,..., Gm. Therefore, signals corresponding to the enable signals ENB1 and ENB2 in the data line drive circuit 140 are not input to the scan line drive circuit 130.

【0057】さて、このような構成において、シフトレ
ジスタ1340の各ラッチ回路1350から出力される
信号G1’、G2’、…、Gm’は、データ線駆動回路
140における信号S1’、S2’、…、Snと同様な
理由によって、図4に示されるように、垂直走査期間の
最初に供給される転送開始パルスDYに対し、クロック
信号CLY(反転クロック信号CLYinv)の半周期分
だけ順次遅延させたものとなる。したがって、NAND
回路1462およびインバータ回路1468の各組によ
り出力される走査信号G1、G2、…、Gmのアクティ
ブ期間は、同図に示されるように、クロック信号CLY
の半周期ずつ順次シフトして出力されることとなる。し
たがって、クロック信号CLYの半周期が1水平走査期
間となって、走査線112が1本毎に順次選択される構
成となっている。
Now, in such a configuration, the signals G1 ', G2',..., Gm 'output from each latch circuit 1350 of the shift register 1340 are the signals S1', S2 ',. , Sn, the transfer start pulse DY supplied at the beginning of the vertical scanning period is sequentially delayed by a half cycle of the clock signal CLY (inverted clock signal CLYinv), as shown in FIG. It will be. Therefore, NAND
The active period of the scanning signals G1, G2,..., Gm output by each set of the circuit 1462 and the inverter circuit 1468 is, as shown in FIG.
Are sequentially shifted and output by a half cycle. Therefore, a half cycle of the clock signal CLY becomes one horizontal scanning period, and the scanning lines 112 are sequentially selected one by one.

【0058】なお、走査線駆動回路130の動作を説明
するための図4と、データ線駆動回路140の動作を説
明するための図6とにおいては、時間軸のスケールが実
際には後者の方が前者よりも遙かに細かい点に留意すべ
きである。すなわち、図4の走査信号G1、G2、…、
Gmがアクティブ期間となる期間、すなわち、1水平走
査期間内において、図6のサンプリング信号S1、S
2、…、Snが順番にアクティブ期間となる関係にあ
る。
In FIG. 4 for explaining the operation of the scanning line driving circuit 130 and FIG. 6 for explaining the operation of the data line driving circuit 140, the scale of the time axis is actually the latter. Should be noted that it is much more detailed than the former. That is, the scanning signals G1, G2,.
In a period in which Gm is an active period, that is, in one horizontal scanning period, the sampling signals S1 and S1 in FIG.
2,..., Sn are in an active period in order.

【0059】<素子基板における配線の概略>続いて、
素子基板101における実際の配線、特に、データ線駆
動回路140およびサンプリング回路150近傍の配線
について説明する。図8は、この配線の概略を示す平面
図である。
<Outline of Wiring on Element Substrate>
Actual wiring on the element substrate 101, particularly, wiring near the data line driving circuit 140 and the sampling circuit 150 will be described. FIG. 8 is a plan view schematically showing the wiring.

【0060】この図において、VssYおよびVssX
は、それぞれ走査線駆動回路130およびデータ線駆動
回路140における電源の低位側電位(接地電位)であ
る。また、VddYおよびVddXは、それぞれ走査線
駆動回路130およびデータ線駆動回路140における
電源の高位側電位である。これらのうち、電源の低位側
電位VssYが印加される信号線は、蓄積容量の共通線
となっているので、各画素にも配設されている。
In this figure, VssY and VssX
Is the lower potential (ground potential) of the power supply in the scanning line driving circuit 130 and the data line driving circuit 140, respectively. VddY and VddX are the higher potentials of the power supplies in the scanning line driving circuit 130 and the data line driving circuit 140, respectively. Among these, the signal line to which the lower potential VssY of the power supply is applied is a common line of the storage capacitor, and therefore is also provided for each pixel.

【0061】また、電位LCcomが印加される2つの電
極109は、シール材104(図1参照)の隅に相当す
る地点にそれぞれ設けられている。このため、対向基板
102と貼り合わせられた際に、電極109と共通電極
108とが導通材を介して接続されて、共通電極108
に電位LCcomが印加される構成となる。ここで、電位
LCcomは、時間軸に対して一定であり、この電位LCc
omを基準にして、S/P変換回路204が、画像信号V
ID1〜VID6を1水平走査期間毎に高位側および低
位側に振り分けて、交流駆動が行われる構成となってい
る。
The two electrodes 109 to which the potential LCcom is applied are provided at points corresponding to corners of the sealing material 104 (see FIG. 1). Therefore, when the electrode 109 and the common electrode 108 are bonded to each other through a conductive material when they are bonded to the opposite substrate 102, the common electrode 108
Is applied to the potential LCcom. Here, the potential LCcom is constant with respect to the time axis.
om as a reference, the S / P conversion circuit 204
ID1 to VID6 are assigned to the high order side and the low order side every one horizontal scanning period, and the AC drive is performed.

【0062】さて、クロック信号CLX(およびその反
転クロック信号CLXinv)が供給されるクロック信号
線は、シフトレジスタ1440近傍において、高位側電
位VddXが印加される信号線によりシールドされてい
る。イネーブル信号線124および反転イネーブル線1
25も、パルス幅制限回路1460およびバッファ回路
1480の間において、高位側電位VddXが印加され
る信号線によりそれぞれシールドされている。このた
め、クロック信号およびイネーブル信号並びにこれらの
反転信号は、ノイズの影響を受け難い構成となってい
る。
The clock signal line to which the clock signal CLX (and its inverted clock signal CLXinv) is supplied is shielded in the vicinity of the shift register 1440 by a signal line to which the higher potential VddX is applied. Enable signal line 124 and inverted enable line 1
25 is also shielded between the pulse width limiting circuit 1460 and the buffer circuit 1480 by a signal line to which the higher potential VddX is applied. For this reason, the clock signal, the enable signal, and the inverted signal thereof are configured to be hardly affected by noise.

【0063】さらに、クロック信号線、イネーブル信号
線124および反転イネーブル線125が配設される領
域は、低位側電位VssXが印加される信号線によって
シールドされている。このため、クロック信号CLXや
イネーブル信号ENB1、ENB2などが、画像信号線
122に対して悪影響を与えないように構成されてい
る。
Further, a region where the clock signal line, the enable signal line 124 and the inversion enable line 125 are provided is shielded by a signal line to which the lower potential VssX is applied. Therefore, the configuration is such that the clock signal CLX and the enable signals ENB1 and ENB2 do not adversely affect the image signal line 122.

【0064】くわえて、画像信号線122の6本は、パ
ルス幅制限回路1460やバッファ回路1480に対し
図で左側から回り込んで、サンプリング回路150の前
段において最終的にX方向に延在するが、クロック信号
線、イネーブル信号線124および反転イネーブル線1
25は、パルス幅制限回路1460に対して右側から回
り込んで最終的にX方向に延在している。このため、画
像信号線122は、イネーブル信号線124および反転
イネーブル線125とは一旦離間した後に、バッファ回
路1480を挟んで対向することになるので、イネーブ
ル信号ENBおよび反転イネーブル信号などから受ける
ノイズの影響が、本来的に小さくなるように配慮されて
いる。
In addition, the six image signal lines 122 wrap around the pulse width limiting circuit 1460 and the buffer circuit 1480 from the left side in the figure, and finally extend in the X direction at a stage preceding the sampling circuit 150. , Clock signal line, enable signal line 124 and inverted enable line 1
Reference numeral 25 wraps around the pulse width limiting circuit 1460 from the right side and finally extends in the X direction. For this reason, the image signal line 122 is once separated from the enable signal line 124 and the inversion enable line 125, and then faces the buffer circuit 1480, so that the noise received from the enable signal ENB and the inversion enable signal is reduced. Care is taken to minimize the effects inherently.

【0065】ところで、イネーブル信号線124および
反転イネーブル線125の4本は、同一薄膜金属層から
略同一幅でパターニングして形成したものである。そし
て、これら4本は、図8に示されるように、等間隔で交
互に形成されるとともに、端子107から略平行かつ略
同一長で配設されている。このため、イネーブル信号線
124および反転イネーブル線125の4本にあって
は、その抵抗分が互いに略同一となり、その容量も互い
に同一となるので、その時定数も互いに略同一となって
いる。
The four enable signal lines 124 and the inversion enable lines 125 are formed by patterning the same thin metal layer with substantially the same width. As shown in FIG. 8, these four are alternately formed at equal intervals, and are disposed substantially parallel to and substantially the same length from the terminal 107. Therefore, the resistances of the four enable signal lines 124 and the inversion enable lines 125 are substantially the same, and the capacitances thereof are also the same. Therefore, the time constants thereof are substantially the same.

【0066】ただし、厳密に言えば、本実施形態におい
てイネーブル信号線124は、パルス幅制限回路146
0のNAND回路1462の入力端に接続される一方、
反転イネーブル信号線125は、何も接続されない構成
となっている。このため、イネーブル信号線124の容
量と、反転イネーブル線125の容量とは互いに異なる
ことになる。また、本実施形態では、ブロックの総数を
示す「n」を奇数としたこととの関係上、イネーブル信
号ENB1は、イネーブル信号ENB2よりも1個多く
NAND回路1462の入力端に供給される構成となっ
ている。このため、イネーブル信号ENB1が供給され
るイネーブル信号線124の容量と、イネーブル信号E
NB2が供給されるイネーブル信号線124の容量とに
ついても互いに異なることになる。
However, strictly speaking, in this embodiment, the enable signal line 124 is connected to the pulse width limiting circuit 146.
0 is connected to the input terminal of a NAND circuit 1462,
The inversion enable signal line 125 has a configuration in which nothing is connected. Therefore, the capacitance of the enable signal line 124 and the capacitance of the inversion enable line 125 are different from each other. Further, in the present embodiment, the enable signal ENB1 is supplied to the input terminal of the NAND circuit 1462 by one more than the enable signal ENB2 because “n” indicating the total number of blocks is an odd number. Has become. Therefore, the capacity of the enable signal line 124 to which the enable signal ENB1 is supplied and the enable signal E
The capacitance of the enable signal line 124 to which NB2 is supplied also differs from each other.

【0067】したがって実際には、イネーブル信号線1
24および反転イネーブル線125の4本の時定数を略
同一とさせるには、これらの点を考慮して、信号線の幅
や、長さ、材質、間隔などを設計したり、ダミーのゲー
ト回路を挿入したりするなどの措置が必要となる。ま
た、ブロックの総数「n」を偶数とする構成も、2本の
イネーブル信号線124の時定数を同一とする限りにお
いて有効な措置と言える。
Therefore, actually, enable signal line 1
In order to make the four time constants of the signal line 24 and the inversion enable line 125 substantially the same, the width, length, material, interval, and the like of the signal line are designed in consideration of these points, and the dummy gate circuit is used. It is necessary to take measures such as inserting Further, a configuration in which the total number “n” of blocks is an even number can be said to be an effective measure as long as the time constants of the two enable signal lines 124 are the same.

【0068】<電気光学装置の動作>次に、上述した構
成に係る電気光学装置の動作について説明する。
<Operation of Electro-Optical Device> Next, the operation of the electro-optical device according to the above configuration will be described.

【0069】まず、走査線駆動回路130には、垂直走
査期間の最初に転送開始パルスDYが供給される。この
転送開始パルスDYは、クロック信号CLY(およびそ
の反転クロック信号CLYinv)によって順次シフトさ
れる結果、図4に示されるように、1水平走査期間毎に
順次アクティブレベルとなる走査信号G1、G2、…、
Gmとして、対応する走査線112に出力される。
First, a transfer start pulse DY is supplied to the scanning line driving circuit 130 at the beginning of the vertical scanning period. The transfer start pulse DY is sequentially shifted by the clock signal CLY (and its inverted clock signal CLYinv), and as a result, as shown in FIG. 4, the scanning signals G1, G2,. …,
Gm is output to the corresponding scanning line 112.

【0070】一方、外部回路200に入力された1系統
の画像信号VIDは、S/P変換回路204によって、
図6に示されるように、画像信号VID1〜VID6に
分配されるとともに、時間軸に対して6倍に伸長され
る。また、データ線駆動回路140には、同図に示され
るように、水平走査期間の最初に転送開始パルスDXが
供給される。この転送開始パルスDXは、シフトレジス
タ1440によって、クロック信号CLX(およびその
反転クロック信号CLXinv)のレベルが遷移する毎に
順次シフトされた信号S1’、S2’、…、Sn’とし
て出力される。そして、この信号S1’、S2’、…、
Sn’は、イネーブル信号ENB1、ENB2のアクテ
ィブレベルである期間SMPaに制限されて、これが図
6に示されるように、サンプリング信号S1、S2、
…、Snとして順次出力されることとなる。
On the other hand, the one-system image signal VID input to the external circuit 200 is
As shown in FIG. 6, the image signals are distributed to the image signals VID1 to VID6 and are expanded six times with respect to the time axis. As shown in the figure, the data line drive circuit 140 is supplied with a transfer start pulse DX at the beginning of the horizontal scanning period. The transfer start pulse DX is output by the shift register 1440 as signals S1 ′, S2 ′,..., Sn ′ sequentially shifted each time the level of the clock signal CLX (and its inverted clock signal CLXinv) changes. Then, the signals S1 ′, S2 ′,.
Sn ′ is limited to a period SMPa during which the enable signals ENB1 and ENB2 are at the active level, and as shown in FIG. 6, the sampling signals S1, S2,.
.., Sn are sequentially output.

【0071】ここで、走査信号G1がアクティブとなる
期間、すなわち、第1番目の水平走査期間において、サ
ンプリング信号S1がアクティブレベルとなると、左か
ら1番目のブロックに属する6本のデータ線114に、
それぞれ画像信号VID1〜VID6がサンプリングさ
れる。そして、これらの画像信号VID1〜VID6
が、図2において上から数えて1本目の走査線112と
当該6本のデータ線114と交差する画素のTFT11
6によってそれぞれ書き込まれることとなる。この後、
サンプリング信号S2がアクティブレベルとなると、今
度は、2番目のブロックに属する6本のデータ線114
に、それぞれ画像信号VID1〜VID6がサンプリン
グされて、これらの画像信号VID1〜VID6が、1
本目の走査線112と当該6本のデータ線114と交差
する画素のTFT116によってそれぞれ書き込まれる
こととなる。
Here, when the sampling signal S1 goes to the active level during the period in which the scanning signal G1 is active, that is, in the first horizontal scanning period, the six data lines 114 belonging to the first block from the left are connected to the six data lines 114. ,
Each of the image signals VID1 to VID6 is sampled. Then, these image signals VID1 to VID6
Are the TFTs 11 of pixels intersecting the first scanning line 112 and the six data lines 114 counted from the top in FIG.
6 will be written respectively. After this,
When the sampling signal S2 becomes active level, the six data lines 114 belonging to the second block
The image signals VID1 to VID6 are sampled, and these image signals VID1 to VID6 are
The data is written by the TFTs 116 of the pixels intersecting with the sixth scanning line 112 and the six data lines 114, respectively.

【0072】以下同様にして、サンプリング信号S3、
S4、……、Snが順次アクティブレベルとなると、第
3番目、第4番目、…、第n番目のブロックに属する6
本のデータ線114にそれぞれ画像信号VID1〜VI
D6がサンプリングされ、これらの画像信号VID1〜
VID6が、1本目の走査線112と、当該6本のデー
タ線114と交差する画素のTFT116によってそれ
ぞれ書き込まれることとなる。これにより、第1行目の
画素のすべてに対する書き込みが完了することになる。
Similarly, the sampling signals S3,
When S4,..., And Sn sequentially become active levels, 6 belonging to the third, fourth,.
Image signals VID1 to VI
D6 is sampled, and these image signals VID1 to
The VID 6 is written by the first scanning line 112 and the TFT 116 of the pixel intersecting the six data lines 114, respectively. Thus, writing to all the pixels in the first row is completed.

【0073】続いて、走査信号G2がアクティブとなる
期間、すなわち、第2番目の水平走査期間においては、
同様にして、第2行目の画素のすべてに対して書き込み
が行われ、以下同様にして、走査信号G3、G4、…、
Gmがアクティブとなって、第3行目、第4行目、第m
行目の画素に対して書き込みが行われることとなる。こ
れにより、第1行目〜第m行目の画素のすべてにわたっ
て書き込みが完了することになる。
Subsequently, during the period when the scanning signal G2 is active, that is, during the second horizontal scanning period,
Similarly, writing is performed on all the pixels in the second row, and similarly, scanning signals G3, G4,.
Gm becomes active, and the third line, the fourth line,
Writing is performed on the pixels in the row. Thus, writing is completed for all of the pixels in the first to m-th rows.

【0074】ここで、画素に画像信号が書き込まれた場
合、画素電極118と共通電極108との間を通過する
光は、両電極に印加される電圧差がゼロであれば、液晶
分子のねじれに沿って約90度旋光する一方、電圧差の
大きさにしたがって、液晶分子が電界方向に傾く結果、
旋光性が消失する。このため、液晶パネル100が例え
ば透過型であれば、入射側と背面側とに、偏光軸が互い
に直交(平行)する偏光子をそれぞれ配置させること
で、両電極に印加される電圧差がゼロであれば、光が透
過(遮断)する一方、両電極に印加される電圧差に応じ
て光が遮断(透過)することになる。したがって、画素
毎に書き込む電圧を画像信号で制御することによって、
所定の表示が可能となっている。
Here, when an image signal is written to a pixel, light passing between the pixel electrode 118 and the common electrode 108 has a twist of liquid crystal molecules if the voltage difference applied to both electrodes is zero. The liquid crystal molecules tilt in the direction of the electric field according to the magnitude of the voltage difference while rotating about 90 degrees along.
Optical rotation disappears. For this reason, if the liquid crystal panel 100 is, for example, a transmission type, polarizers whose polarization axes are orthogonal (parallel) to each other are arranged on the incident side and the rear side, respectively, so that the voltage difference applied to both electrodes is zero. In this case, light is transmitted (blocked), while light is blocked (transmitted) in accordance with the voltage difference applied to both electrodes. Therefore, by controlling the voltage to be written for each pixel by the image signal,
A predetermined display is possible.

【0075】このような駆動では、データ線114を1
本毎に駆動する方式と比較すると、各サンプリングスイ
ッチ151によって画像信号をサンプリングする時間が
6倍となるので、各画素における充放電時間が十分に確
保される。このため、高コントラスト化が図られること
になる。さらに、データ線駆動回路140におけるラッ
チ回路1450の段数、および、クロック信号CLXお
よびその反転クロック信号CLXinvの周波数が、それ
ぞれ1/6に低減されるので、段数の低減化と併せて低
消費電力化も図られることとなる。
In such driving, the data line 114 is set to 1
Compared with the method of driving each unit, the time for sampling the image signal by each sampling switch 151 is six times, so that the charging and discharging time in each pixel is sufficiently ensured. Therefore, high contrast can be achieved. Furthermore, since the number of stages of the latch circuit 1450 and the frequency of the clock signal CLX and its inverted clock signal CLXinv in the data line driving circuit 140 are each reduced to 1/6, the power consumption is reduced along with the reduction in the number of stages. Will also be planned.

【0076】さらに、サンプリング信号S1、S2、
…、Snのアクティブ期間は、イネーブル信号ENB
1、ENB2のアクティブレベルである期間SMPaに
制限されるので、隣接するサンプリング信号同士のオー
バーラップが事前に防止される。このため、あるブロッ
クに属する6本のデータ線114にサンプリングされる
べき画像信号VID1〜VID6が、これに隣接するブ
ロックに属する6本のデータ線114にも同時サンプリ
ングされる事態が防止されて、いわゆるゴーストの発生
が抑えられる結果、高品位な表示が可能となる。
Further, the sampling signals S1, S2,
.., During the active period of Sn, the enable signal ENB
1. Since the period is limited to SMPa, which is the active level of ENB2, overlap between adjacent sampling signals is prevented in advance. For this reason, it is prevented that the image signals VID1 to VID6 to be sampled on the six data lines 114 belonging to a certain block are simultaneously sampled on the six data lines 114 belonging to the block adjacent thereto. As a result of suppressing so-called ghost, high-quality display can be performed.

【0077】ところで、イネーブル信号線124は、図
8に示されるように、画像信号線122の6本とは、バ
ッファ回路1480を挟んでX方向に対向して配設され
た構成となっているので、画像信号線122とイネーブ
ル信号線124とは、その間に低位側電位VssXが供
給される信号線が配設されるものの、少なくからず容量
的に結合する。ここで、イネーブル信号線124のみが
配設された従来の構成では、イネーブル信号ENB1、
ENB2のレベル遷移に伴う微分ノイズが、画像信号V
ID1〜VID6に重畳されてしまい、これが表示品位
を低下させる要因である、と考えられるのは、上述した
通りである。
By the way, as shown in FIG. 8, the enable signal line 124 is arranged so as to be opposed to the six image signal lines 122 in the X direction with the buffer circuit 1480 interposed therebetween. Therefore, the image signal line 122 and the enable signal line 124 are capacitively coupled to each other, although a signal line to which the lower potential VssX is supplied is provided therebetween. Here, in the conventional configuration in which only the enable signal line 124 is provided, the enable signals ENB1,
Differential noise accompanying the level transition of ENB2 is
As described above, the information is superimposed on ID1 to VID6, which is considered to be a factor that degrades the display quality.

【0078】これに対し、本実施形態では、2本のイネ
ーブル信号線124とは別に、2本の反転イネーブル信
号線125が設けられた構成となっている。この構成に
おいて、ある1本の画像信号線122は、図7(a)に
示されるように、イネーブル信号線124および反転イ
ネーブル信号線125と容量的に結合することになる。
なお、図7(a)において、VIDiは、画像信号VI
D1〜VID6を一般化して説明するために、ある1本
の画像信号線122に供給される画像信号を示すもので
ある(iは、1、2、…、6)。
On the other hand, in the present embodiment, two inverted enable signal lines 125 are provided separately from the two enable signal lines 124. In this configuration, one image signal line 122 is capacitively coupled to the enable signal line 124 and the inverted enable signal line 125 as shown in FIG.
In FIG. 7A, VIDi is the image signal VI.
In order to generalize and describe D1 to VID6, they show image signals supplied to one image signal line 122 (i is 1, 2,..., 6).

【0079】ここで、本実施形態において、2本の反転
イネーブル信号線125に供給される信号は、イネーブ
ル信号ENB1、ENB2をそれぞれ反転させた反転イ
ネーブル信号ENB1inv、ENB2invであり、さら
に、2本の反転イネーブル信号線125は、上述したよ
うにイネーブル信号線124と略同一の時定数をそれぞ
れ有する構成となっている。
Here, in this embodiment, the signals supplied to the two inversion enable signal lines 125 are the inversion enable signals ENB1inv and ENB2inv obtained by inverting the enable signals ENB1 and ENB2, respectively. As described above, the inversion enable signal line 125 is configured to have substantially the same time constant as the enable signal line 124.

【0080】このため、図7(b)に示されるように、
イネーブル信号ENB1による微分ノイズa、および、
反転イネーブル信号ENB1invによる微分ノイズb同
士は互いに打ち消し合い、同様に、イネーブル信号EN
B2による微分ノイズc、および、反転イネーブル信号
ENB2invによる微分ノイズd同士も互いに打ち消し
合うこととなる。したがって、本実施形態によれば、任
意の画像信号線122に供給される画像信号VIDiに
は、ノイズが重畳されずに、本来の画像信号のレベルを
維持することになるので、表示品位の低下が防止される
ことなる。
For this reason, as shown in FIG.
Differential noise a due to the enable signal ENB1, and
Differential noises b due to the inverted enable signal ENB1inv cancel each other, and similarly, the enable signal ENB1
The differential noise c due to B2 and the differential noise d due to the inversion enable signal ENB2inv also cancel each other. Therefore, according to the present embodiment, the noise is not superimposed on the image signal VIDi supplied to an arbitrary image signal line 122, and the level of the original image signal is maintained. Is prevented.

【0081】<第2実施形態>上述した第1実施形態で
は、データ線駆動回路140による論理信号がそのまま
サンプリング回路150に供給される構成となっていた
が、液晶105を駆動するためには、実際には瞬時値で
20ボルト程度の比較的高い電圧が必要である。このよ
うな高い電圧を液晶パネル100で直接入力する構成と
した場合、微分ノイズの振幅が大きくなる。この場合
に、イネーブル信号線124、反転イネーブル信号線1
25において、画像信号線122に対する容量結合度の
相違が少しでも異なると、微分ノイズが打ち消されない
で、残留する可能性が高くなる。
<Second Embodiment> In the first embodiment described above, the logic signal from the data line drive circuit 140 is directly supplied to the sampling circuit 150. However, in order to drive the liquid crystal 105, In practice, a relatively high voltage of about 20 volts is required as an instantaneous value. When such a high voltage is directly input to the liquid crystal panel 100, the amplitude of the differential noise increases. In this case, the enable signal line 124 and the inverted enable signal line 1
In 25, if there is any difference in the degree of capacitive coupling to the image signal line 122, the differential noise will not be canceled out and will likely remain.

【0082】そこで、このような不具合を解消するため
には、データ線駆動回路140内部に論理振幅を変換す
るレベルシフタを設けて、低い電圧を液晶パネル100
に入力する構成として、ノイズ振幅を小さく抑えたま
ま、信号処理する構成が望ましいと考えられる。
In order to solve such a problem, a level shifter for converting a logic amplitude is provided in the data line driving circuit 140, and a low voltage is applied to the liquid crystal panel 100.
It is considered that a configuration in which signal processing is performed while the noise amplitude is kept small as a configuration for inputting the signal to the.

【0083】具体的には、図9に示されるデータ線駆動
回路142のように、NAND回路1462とインバー
タ回路1482との間に、低振幅の論理信号を高振幅の
論理信号に変換するレベルシフタ1472を介挿して、
n個のレベルシフタ群1470を設ける構成が望ましい
と考えられる。なお、このようなレベルシフタについて
は、走査線駆動回路130においても同様に、NAND
回路1362とインバータ回路1382との間に介挿す
る構成が望ましい。
More specifically, like a data line drive circuit 142 shown in FIG. 9, a level shifter 1472 for converting a low-amplitude logic signal into a high-amplitude logic signal is provided between a NAND circuit 1462 and an inverter circuit 1482. Interpolating,
It is considered that a configuration in which n level shifter groups 1470 are provided is desirable. It should be noted that such a level shifter is also used in the NAND
It is preferable that a configuration be provided between the circuit 1362 and the inverter circuit 1382.

【0084】<第3実施形態>また、上述した第1およ
び第2実施形態にあっては、反転イネーブル信号線12
5に供給される反転イネーブル信号ENB1inv、EN
B2invを積極的に用いない構成であり、この点におい
て冗長的構成と言えるものであった。
<Third Embodiment> In the first and second embodiments, the inversion enable signal line 12
5, the inversion enable signal ENB1inv, EN
The configuration does not actively use B2inv, and it can be said that this configuration is a redundant configuration.

【0085】そこで、反転イネーブル信号ENB1in
v、ENB2invを積極的に用いるとともに、サンプリン
グ回路150を改良した第3実施形態について説明する
こととする。図10は、この第3実施形態に係るデータ
線駆動回路144の構成を示すブロック図である。
Therefore, the inversion enable signal ENB1in
A third embodiment in which v and ENB2inv are actively used and the sampling circuit 150 is improved will be described. FIG. 10 is a block diagram showing a configuration of the data line driving circuit 144 according to the third embodiment.

【0086】この図において、サンプリング回路150
を構成するスイッチ151は、Pチャネル型およびNチ
ャネル型TFTを組み合わせた相補型となっている。こ
のため、スイッチ151へのサンプリング信号として、
互いに排他的なレベルとなる2つの信号を供給する必要
がある。このうち、一方の信号N1、N2、…、Nnに
ついては、第1実施形態におけるサンプリング信号S
1、S2、…、Snと同様であるが、他方の信号P1、
P2、…、Pnについては、次のようにして出力される
構成となっている。
In this figure, sampling circuit 150
Is a complementary type combining a P-channel type TFT and an N-channel type TFT. Therefore, as a sampling signal to the switch 151,
It is necessary to supply two signals having mutually exclusive levels. Among them, one of the signals N1, N2,..., Nn is the sampling signal S in the first embodiment.
1, S2,..., Sn, but the other signal P1,
P2,..., Pn are configured to be output as follows.

【0087】すなわち、奇数段のラッチ回路1450に
あっては、クロックドインバータ1452(1456)
の出力信号と、反転イネーブル信号ENB1invとの否
定論理和信号を出力する一方、偶数段のラッチ回路14
50にあっては、クロックドインバータ1452(14
56)の出力信号と、反転イネーブル信号ENB2inv
との否定論理和信号を出力するNOR回路1461を備
え、この否定論理和信号をインバータ回路1481によ
って反転して、上述した他方の信号P1、P2、…、P
nとして出力する構成となっている。ここで、クロック
ドインバータ1452(1456)の出力信号は、イン
バータ1454により反転される前の信号であるから、
各段のラッチ回路1450から出力される信号P1’、
P2’、…、Pn’は、信号N1’、N2’、…、N
n’をそれぞれレベル反転した関係になる。
That is, in the odd-numbered stage latch circuit 1450, the clocked inverter 1452 (1456)
, And a NOR signal of the inverted enable signal ENB1inv and the latch circuit 14 of the even-numbered stage
50, the clocked inverter 1452 (14
56) and the inverted enable signal ENB2inv
, A NOR circuit 1461 for outputting a NOR signal, and inverting the NOR signal by an inverter circuit 1481 to output the other signals P1, P2,.
It is configured to output as n. Here, since the output signal of clocked inverter 1452 (1456) is a signal before being inverted by inverter 1454,
A signal P1 ′ output from the latch circuit 1450 of each stage,
, Pn 'are signals N1', N2 ', ..., N
n ′ has a level-inverted relationship.

【0088】なお、インバータ回路1491、1492
は、信号P1、P2、…、Pnと信号N1、N2、…、
Nnとの遅延・負荷が互いに同一となるように、それぞ
れNOR回路1461の出力端およびNAND回路14
62の出力端の間に介挿されたものである。
The inverter circuits 1491 and 1492
Are the signals P1, P2,..., Pn and the signals N1, N2,.
Nn and the output terminal of the NAND circuit 1461 so that the delay and the load with respect to Nn are equal to each other.
It is interposed between the output terminals 62.

【0089】このような構成において、各段のラッチ回
路1450から出力される信号P1’、P2’、…、P
n’は、反転イネーブル信号ENB1inv、ENB2inv
がLレベルである期間SMPaに制限されて、これが図
11に示されるように、一方のサンプリング信号P1、
P2、…、Pnとして順次出力されることとなる。ま
た、各段のラッチ回路1450から出力される信号N
1’、N2’、…、Nn’は、イネーブル信号ENB
1、ENB2がHレベルである期間SMPaに制限され
て、これが図11に示されるように、他方のサンプリン
グ信号N1、N2、…、Nnとして順次出力されること
となる。
In such a configuration, signals P 1 ′, P 2 ′,.
n ′ is an inverted enable signal ENB1inv, ENB2inv
Is at the L level during the period SMPa, which is, as shown in FIG. 11, one sampling signal P1,
, Pn are sequentially output. The signal N output from the latch circuit 1450 of each stage
, Nn 'are the enable signals ENB.
1, is limited to the period SMPa in which the ENB2 is at the H level, and this is sequentially output as the other sampling signals N1, N2,..., Nn as shown in FIG.

【0090】そして、第3実施形態に係るデータ線駆動
回路144によれば、画像信号VID1〜VID6をデ
ータ線114にサンプリングする際におけるTFTのし
きい値電圧が、同一の負荷でかつ相補型のサンプリング
スイッチ151によってキャンセルされる結果、交流駆
動におけるいわゆるプッシュダウンが小さくなって、品
位のより高い表示が可能となる。
According to the data line driving circuit 144 according to the third embodiment, when the image signals VID1 to VID6 are sampled on the data line 114, the threshold voltages of the TFTs are the same and complementary. As a result of being canceled by the sampling switch 151, so-called push-down in AC driving is reduced, and higher quality display is possible.

【0091】さらに、反転イネーブル信号線125は、
パルス幅制限回路1460のNOR回路1461の入力
端に供給されるので、イネーブル信号線124と容量を
略同一とさせるための設計がより容易となる。
Further, the inversion enable signal line 125
Since the signal is supplied to the input terminal of the NOR circuit 1461 of the pulse width limiting circuit 1460, the design for making the capacitance substantially equal to that of the enable signal line 124 becomes easier.

【0092】<変換数と1ブロックを構成するデータ線
数との関係など>ところで、上述した実施形態では、デ
ータ線115の6本を1ブロックとする一方、同一ブロ
ックに属するデータ線114の6本に対し、6系統に変
換された画像信号VID1〜VID6を同時にサンプリ
ングして、画像信号VID1〜VID6の印加を1ブロ
ック毎に順次行うように構成したが、変換数および同時
に印加するデータ線数(すなわち、1ブロックを構成す
るデータ線数)は、「6」に限られるものではない。
<Relationship Between Number of Conversions and Number of Data Lines Constituting One Block> In the above-described embodiment, six of the data lines 115 are regarded as one block, while six of the data lines 114 belonging to the same block. For the book, the image signals VID1 to VID6 converted into six systems are simultaneously sampled, and the application of the image signals VID1 to VID6 is sequentially performed for each block. (That is, the number of data lines constituting one block) is not limited to “6”.

【0093】例えば、サンプリング回路150における
サンプリングスイッチ151の応答速度が十分に高いの
であれば、画像信号をパラレルに変換することなく1本
の画像信号線にシリアル伝送して、データ線114毎に
点順次サンプリングするように構成しても良い。また、
変換数および同時に印加するデータ線の数を「3」や、
「12」、「24」等として、3本や、12本、24本
等のデータ線に対して、3系統変換や、12系統変換、
24系統変換等して並列供給させた画像信号を同時に供
給する構成としても良い。
For example, if the response speed of the sampling switch 151 in the sampling circuit 150 is sufficiently high, the image signal is transmitted serially to one image signal line without converting it into parallel, The sampling may be performed sequentially. Also,
The number of conversions and the number of data lines to be applied simultaneously are "3",
As for "12", "24", etc., three-system conversion, twelve-system conversion,
It is also possible to adopt a configuration in which image signals supplied in parallel by 24 system conversion or the like are simultaneously supplied.

【0094】なお、変換数および同時に印加するデータ
線数としては、カラーの画像信号が3つの原色に係る信
号からなることとの関係上、3の倍数であることが制御
や回路などを簡易化する上で好ましい。ただし、単なる
白色から黒色までの階調表示を行う場合や、後述する3
板式のプロジェクタのライトバルブに適用する場合に
は、変換数および同時に印加するデータ線数を3の倍数
とする必然性はない。
The number of conversions and the number of data lines to be applied at the same time are multiples of 3 in view of the fact that a color image signal is composed of signals for three primary colors, which simplifies control and circuits. It is preferable in doing. However, there are cases where only grayscale display from white to black is performed,
When applied to a light valve of a plate-type projector, it is not necessary to make the number of conversions and the number of data lines applied simultaneously a multiple of three.

【0095】さて、変換数および同時に印加するデータ
線の数を例えば「12」とする場合、素子基板101に
おける配線、とりわけ12本の画像信号線122につい
ては、図12に示される通りとすれば良い。すなわち、
奇数番目の画像信号VID1、VID3、…、VID1
1が供給される画像信号線122については、端子10
7から図において右側から回り込ませる一方、偶数番目
の画像信号VID2、VID4、…、VID12が供給
される画像信号線122については、端子107から左
側から回り込ませて、サンプリング回路150近傍にお
いて左右両側から対向する櫛歯のようにX方向に延在さ
せれば良い。なお、このような配線では、奇数番目の画
像信号が供給される画像信号線122が、イネーブル信
号線124および反転イネーブル線125と同じ側から
回り込むことになるので、この点において図8の配線と
比較して若干不利である。ただし、図12に示される配
線において、クロック信号線、イネーブル信号線124
および反転イネーブル線125は、電源の低位側電位V
ssXによってシールドされている点は、図8における
配線と共通である。このため、図12に示される配線に
おいても、画像信号線122がクロック信号CLXやイ
ネーブル信号ENBなどから受けるノイズの影響は、小
さいと考えられる。
Now, when the number of conversions and the number of data lines to be applied simultaneously are, for example, "12", the wiring on the element substrate 101, in particular, the twelve image signal lines 122 should be as shown in FIG. good. That is,
Odd-numbered image signals VID1, VID3,..., VID1
1 is supplied to the terminal 10
7, the image signal lines 122 to which the even-numbered image signals VID2, VID4,..., VID12 are supplied from the right side in FIG. What is necessary is just to extend in the X direction like the opposing comb teeth. In such a wiring, the image signal line 122 to which an odd-numbered image signal is supplied goes around from the same side as the enable signal line 124 and the inversion enable line 125. It is slightly disadvantageous in comparison. However, in the wiring shown in FIG. 12, the clock signal line and the enable signal line 124
And the inversion enable line 125 are connected to the lower potential V
The point shielded by ssX is common to the wiring in FIG. Therefore, even in the wiring shown in FIG. 12, the influence of noise on the image signal line 122 from the clock signal CLX and the enable signal ENB is considered to be small.

【0096】<その他>なお、上述した実施形態におい
ては、上から下方向へ走査線112を選択する一方、左
から右方向へブロックを選択する構成であったが、これ
とは逆方向で選択する構成でも良いし、用途に応じてい
ずれかの方向を選択可能とする構成でも良い。
<Others> In the above-described embodiment, the scanning line 112 is selected from the top to the bottom, and the block is selected from the left to the right. However, the selection is performed in the opposite direction. The configuration may be such that one of the directions can be selected according to the application.

【0097】また、上述した実施形態において、データ
線駆動回路140では、ラッチ回路1450の出力信号
とイネーブル信号ENB1またはENB2との否定論理
積信号をNAND回路1462により求め、これをイン
バータ回路1482により反転してサンプリング信号S
1、S2、…、Snとして出力する構成としたが、本発
明は、これに限られず、結果的に等価な信号が得られれ
ば良い。例えば、第3実施形態において、信号P1’、
P2’、…、Pn’と反転イネーブル信号ENB1inv
またはENB2invとの否定論理和信号をそれぞれNO
R回路1461により求め、これをそれぞれインバータ
回路1481により反転した信号P1、P2、…、Pn
を、Pチャネル型TFTからなるスイッチのサンプリン
グ信号として供給する構成としても良い。
In the above-described embodiment, in the data line driving circuit 140, the NAND signal of the output signal of the latch circuit 1450 and the enable signal ENB1 or ENB2 is obtained by the NAND circuit 1462, which is inverted by the inverter circuit 1482. And the sampling signal S
, Sn are output, but the present invention is not limited to this, and any equivalent signal may be obtained as a result. For example, in the third embodiment, the signals P1 ′,
, Pn 'and the inversion enable signal ENB1inv
Or the NOR signal with ENB2inv is set to NO
The signals P1, P2,..., Pn obtained by the R circuit 1461 and inverted by the inverter circuit 1481, respectively.
May be supplied as a sampling signal of a switch composed of a P-channel TFT.

【0098】くわえて、上述した実施形態では、素子基
板101にTFT116等が形成された構成となってい
たが、本発明は、これに限られない。例えば、素子基板
101を半導体基板とするとともに、ここに、TFT1
16に替えて相補型トランジスタを形成しても良い。さ
らに、SOI(Silicon On Insulator)の技術を適用
し、サファイヤなどの絶縁性基板にシリコン単結晶膜を
形成して、ここに各種素子を作り込んで素子基板101
としても良い。ただし、素子基板101が透明性を有し
ない場合、画素電極118をアルミニウムで形成した
り、別途反射層を形成したりするなどして、液晶パネル
100を反射型として用いる必要がある。
In addition, in the embodiment described above, the TFT 116 and the like are formed on the element substrate 101, but the present invention is not limited to this. For example, the element substrate 101 is a semiconductor substrate, and the TFT 1
Instead of 16, a complementary transistor may be formed. Further, by applying SOI (Silicon On Insulator) technology, a silicon single crystal film is formed on an insulating substrate such as sapphire, and various elements are formed therein to form an element substrate 101.
It is good. However, when the element substrate 101 does not have transparency, it is necessary to use the liquid crystal panel 100 as a reflective type by forming the pixel electrode 118 with aluminum or separately forming a reflective layer.

【0099】さらに、上述した実施形態では、液晶とし
てTN型を用いたが、BTN(Bi-stable Twisted Nema
tic)型・強誘電型などのメモリ性を有する双安定型
や、高分子分散型、さらには、分子の長軸方向と短軸方
向とで可視光の吸収に異方性を有する染料(ゲスト)を
一定の分子配列の液晶(ホスト)に溶解して、染料分子
を液晶分子と平行に配列させたゲストホスト型などの液
晶を用いても良い。
Further, in the above-described embodiment, a TN type liquid crystal is used, but a BTN (Bi-stable Twisted Nema
tic) type, ferroelectric type and other bistable types having memory properties, polymer dispersed types, and dyes having anisotropy in visible light absorption in the major axis direction and minor axis direction (guests) ) Is dissolved in a liquid crystal (host) having a fixed molecular arrangement, and a guest-host type liquid crystal in which dye molecules are arranged in parallel with the liquid crystal molecules may be used.

【0100】また、電圧無印加時には液晶分子が両基板
に対して垂直方向に配列する一方、電圧印加時には液晶
分子が両基板に対して水平方向に配列する、という垂直
配向(ホメオトロピック配向)の構成としても良いし、
電圧無印加時には液晶分子が両基板に対して水平方向に
配列する一方、電圧印加時には液晶分子が両基板に対し
て垂直方向に配列する、という平行(水平)配向(ホモ
ジニアス配向)の構成としても良い。さらに、対向基板
102に共通電極108を配置するのでなく、素子基板
101上に、画素電極と対向電極とを、互いに間隔を置
いて櫛歯状に配置する構成としても良い。この構成で
は、液晶分子が水平配向して、電極間による横方向の電
界に応じて液晶分子の配向方向が変化することになる。
このように、本発明の駆動方法に適合するものであれ
ば、液晶や配向方式として、種々のものを用いることが
可能である。
The liquid crystal molecules are aligned vertically with respect to both substrates when no voltage is applied, while the liquid crystal molecules are aligned horizontally with respect to both substrates when voltage is applied. It may be configured,
When a voltage is not applied, the liquid crystal molecules are arranged in a horizontal direction with respect to both substrates, while when a voltage is applied, the liquid crystal molecules are arranged in a direction perpendicular to both substrates. good. Further, instead of arranging the common electrode 108 on the opposing substrate 102, the pixel electrode and the opposing electrode may be arranged on the element substrate 101 in a comb-tooth shape at intervals. In this configuration, the liquid crystal molecules are horizontally aligned, and the orientation direction of the liquid crystal molecules changes according to the horizontal electric field between the electrodes.
As described above, as long as the liquid crystal and the alignment method are compatible with the driving method of the present invention, various types can be used.

【0101】くわえて、電気光学装置としては、液晶装
置のほかに、エレクトロルミネッセンス(EL)や、デ
ジタルマイクロミラーデバイス(DMD)、プラズマ発
光や電子放出による蛍光などを用いて、その電気光学効
果により表示を行う種々の電気光学装置に適用可能であ
る。この場合、電気光学材料としては、EL、ミラーデ
バイス、ガス、蛍光体などとなる。なお、電気光学材料
としてELを用いる場合、素子基板101においてEL
が画素電極118と透明導電膜の対向電極との間に介在
することになるので、対向基板102は不要となる。こ
のように、本発明は、上述した構成と類似の構成を有す
る電気光学装置の駆動回路のすべてに適用可能である。
In addition, as an electro-optical device, in addition to a liquid crystal device, electroluminescence (EL), a digital micromirror device (DMD), plasma light emission or fluorescence by electron emission are used, and the electro-optical effect is obtained. The present invention is applicable to various electro-optical devices that perform display. In this case, the electro-optical material is an EL, a mirror device, a gas, a phosphor, or the like. When EL is used as the electro-optical material, the EL substrate 101
Is interposed between the pixel electrode 118 and the counter electrode of the transparent conductive film, so that the counter substrate 102 becomes unnecessary. As described above, the present invention is applicable to all the driving circuits of the electro-optical device having a configuration similar to the above-described configuration.

【0102】<電子機器>次に、上述した電気光学装置
を電子機器に用いた例のいくつかについて説明する。
<Electronic Equipment> Next, some examples in which the above-described electro-optical device is used in electronic equipment will be described.

【0103】<その1:プロジェクタ>まず、上述した
液晶パネル100をライトバルブとして用いたプロジェ
クタについて説明する。図13は、このプロジェクタの
構成を示す平面図である。この図に示されるように、プ
ロジェクタ2100内部には、ハロゲンランプ等の白色
光源からなるランプユニット2102が設けられてい
る。このランプユニット2102から射出された投射光
は、内部に配置された3枚のミラー2106および2枚
のダイクロイックミラー2108によってRGBの3原
色に分離されて、各原色に対応するライトバルブ100
R、100Gおよび100Bにそれぞれ導かれる。ここ
で、ライトバルブ100R、100Gおよび100Bの
構成は、上述した実施形態に係る液晶パネル100と同
様であり、画像信号を入力する外部回路(ここでは図示
省略)から供給されるR、G、Bの原色信号でそれぞれ
駆動されるものである。また、B色の光は、他のR色や
G色と比較すると、光路が長いので、その損失を防ぐた
めに、入射レンズ2122、リレーレンズ2123およ
び出射レンズ2124からなるリレーレンズ系2121
を介して導かれる。
<Part 1: Projector> First, a projector using the above-described liquid crystal panel 100 as a light valve will be described. FIG. 13 is a plan view showing the configuration of this projector. As shown in this figure, inside the projector 2100, a lamp unit 2102 including a white light source such as a halogen lamp is provided. The projection light emitted from the lamp unit 2102 is separated into three primary colors of RGB by three mirrors 2106 and two dichroic mirrors 2108 disposed inside, and the light valve 100 corresponding to each primary color is separated.
R, 100G and 100B respectively. Here, the configuration of the light valves 100R, 100G, and 100B is the same as that of the liquid crystal panel 100 according to the above-described embodiment, and R, G, and B supplied from an external circuit (not shown) for inputting image signals. , Respectively. In addition, since the light of B color has a longer optical path than other R and G colors, a relay lens system 2121 including an entrance lens 2122, a relay lens 2123, and an exit lens 2124 is used to prevent the loss.
Is guided through.

【0104】さて、ライトバルブ100R、100G、
100Bによってそれぞれ変調された光は、ダイクロイ
ックプリズム2112に3方向から入射する。そして、
このダイクロイックプリズム2112において、R色お
よびB色の光は90度に屈折する一方、G色の光は直進
する。したがって、各色の画像が合成されるた後、スク
リーン2120には、投射レンズ2114によってカラ
ー画像が投射されることとなる。
Now, the light valves 100R, 100G,
The lights modulated by 100B respectively enter dichroic prism 2112 from three directions. And
In the dichroic prism 2112, the R and B lights are refracted at 90 degrees, while the G light travels straight. Therefore, after the images of each color are synthesized, a color image is projected on the screen 2120 by the projection lens 2114.

【0105】なお、ライトバルブ100R、100Gお
よび100Bには、ダイクロイックミラー2108によ
って、R、G、Bの各原色に対応する光が入射するの
で、上述したようにカラーフィルタを設ける必要はな
い。また、ライトバルブ100R、100Bの透過像は
ダイクロイックミラー2112により反射した後に投射
されるのに対し、ライトバルブ100Gの透過像はその
まま投射されるので、ライトバルブ100R、100B
による表示像を、ライトバルブ100Gによる表示像に
対して左右反転させる必要がある。
Since light corresponding to the primary colors of R, G, and B is incident on the light valves 100R, 100G, and 100B by the dichroic mirror 2108, it is not necessary to provide a color filter as described above. The transmitted images of the light valves 100R and 100B are projected after being reflected by the dichroic mirror 2112, whereas the transmitted images of the light valve 100G are projected as they are.
Is required to be horizontally inverted with respect to the display image by the light valve 100G.

【0106】<その2:モバイル型コンピュータ>次
に、上述した液晶パネル100を、モバイル型のパーソ
ナルコンピュータに適用した例について説明する。図1
4は、このパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図
である。図において、コンピュータ2200は、キーボ
ード2202を備えた本体部2204と、表示部として
用いられる液晶パネル100とを備えている。なお、こ
の液晶パネル100の背面には、視認性を高めるための
バックライトが設けられる。
<Part 2: Mobile Computer> Next, an example in which the above-described liquid crystal panel 100 is applied to a mobile personal computer will be described. FIG.
FIG. 4 is a perspective view showing the configuration of the personal computer. In the figure, a computer 2200 includes a main body 2204 having a keyboard 2202 and a liquid crystal panel 100 used as a display. Note that a backlight for improving visibility is provided on the back surface of the liquid crystal panel 100.

【0107】<その3:携帯電話>さらに、上述した液
晶パネル100を、携帯電話の表示部に適用した例につ
いて説明する。図15は、この携帯電話の構成を示す斜
視図である。図において、携帯電話2300は、複数の
操作ボタン2302のほか、受話口2304、送話口2
306とともに、上述した液晶パネル100を備えるも
のである。なお、この液晶パネル100の背面にも、視
認性を高めるためのバックライトが設けられる。
<Part 3: Mobile Phone> Further, an example in which the above-described liquid crystal panel 100 is applied to a display unit of a mobile phone will be described. FIG. 15 is a perspective view showing the configuration of the mobile phone. In the figure, a mobile phone 2300 includes a plurality of operation buttons 2302, an earpiece 2304, a mouthpiece 2
The liquid crystal panel 100 described above is provided together with the liquid crystal panel 100 described above. Note that a backlight for improving visibility is also provided on the back surface of the liquid crystal panel 100.

【0108】なお、電子機器としては、図13〜図15
を参照して説明した他にも、液晶テレビや、ビューファ
インダ型・モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カー
ナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワー
ドプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、PO
S端末、ディジタルスチルカメラ、タッチパネルを備え
た機器等などが挙げられる。そして、これらの各種の電
子機器に対して、実施形態や応用形態に係る電気光学装
置が適用可能なのは言うまでもない。
Note that the electronic devices are shown in FIGS.
In addition to those described with reference to, a liquid crystal television, a viewfinder type / monitor direct-view type video tape recorder, a car navigation device, a pager, an electronic organizer, a calculator, a word processor, a workstation, a videophone, a PO
Examples include an S terminal, a digital still camera, a device equipped with a touch panel, and the like. It goes without saying that the electro-optical device according to the embodiment and the applied form can be applied to these various electronic devices.

【0109】[0109]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、画
像信号線において、イネーブル信号のレベルに反転に伴
って重畳される微分ノイズが、反転イネーブル信号のレ
ベル反転に伴う微分ノイズによって打ち消されるので、
本来の画像信号の成分のみが供給される結果、ラインム
ラの発生を抑えた高品位な表示が可能となる。
As described above, according to the present invention, in the image signal line, the differential noise superimposed on the level of the enable signal with the inversion is canceled by the differential noise with the level inversion of the inverted enable signal. So
As a result of supplying only the components of the original image signal, high-quality display with reduced line unevenness can be achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 (a)は、本発明の第1の実施形態に係る電
気光学装置の構成を示す斜視図であり、(b)は、
(a)のA−A’線の断面図である。
FIG. 1A is a perspective view illustrating a configuration of an electro-optical device according to a first embodiment of the invention, and FIG.
It is sectional drawing of the AA 'line of (a).

【図2】 同電気光学装置の電気的な構成を示すブロッ
ク図である。
FIG. 2 is a block diagram illustrating an electrical configuration of the electro-optical device.

【図3】 同電気光学装置における走査線駆動回路の構
成を示すブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a scanning line driving circuit in the same electro-optical device.

【図4】 同走査線駆動回路の動作を説明するためのタ
イミングチャートである。
FIG. 4 is a timing chart for explaining the operation of the scanning line driving circuit.

【図5】 同電気光学装置におけるデータ線駆動回路の
構成を示すブロック図である。
FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of a data line driving circuit in the same electro-optical device.

【図6】 同データ線駆動回路の動作を説明するための
タイミングチャートである。
FIG. 6 is a timing chart for explaining the operation of the data line drive circuit.

【図7】 同電気光学装置における微分ノイズの打ち消
し動作を説明するためのタイミングチャートである。
FIG. 7 is a timing chart for explaining an operation for canceling differential noise in the electro-optical device.

【図8】 同電気光学装置における素子基板の配線を示
す平面図である。
FIG. 8 is a plan view showing wiring of an element substrate in the same electro-optical device.

【図9】 本発明の第2実施形態に係る電気光学装置の
データ線駆動回路の構成を示すブロック図である。
FIG. 9 is a block diagram illustrating a configuration of a data line driving circuit of an electro-optical device according to a second embodiment of the invention.

【図10】 本発明の第3実施形態に係る電気光学装置
のデータ線駆動回路の構成を示すブロック図である。
FIG. 10 is a block diagram illustrating a configuration of a data line driving circuit of an electro-optical device according to a third embodiment of the invention.

【図11】 同電気光学装置の動作を説明するためのタ
イミングチャートである。
FIG. 11 is a timing chart for explaining the operation of the electro-optical device.

【図12】 実施形態に係る電気光学装置においてシリ
アル−パラレルの変換相数が多数になる場合の素子基板
の配線を示す平面図である。
FIG. 12 is a plan view illustrating wiring of an element substrate when the number of serial-parallel conversion phases is large in the electro-optical device according to the embodiment.

【図13】 実施形態に係る電気光学装置を適用した電
子機器の一例たるプロジェクタの構成を示す平面図であ
る。
FIG. 13 is a plan view illustrating a configuration of a projector as an example of an electronic apparatus to which the electro-optical device according to the embodiment is applied.

【図14】 同電気光学装置を適用した電子機器の一例
たるパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図であ
る。
FIG. 14 is a perspective view illustrating a configuration of a personal computer as an example of an electronic apparatus to which the electro-optical device is applied.

【図15】 同電気光学装置を適用した電子機器の一例
たる携帯電話の構成を示す斜視図である。
FIG. 15 is a perspective view showing a configuration of a mobile phone as an example of an electronic apparatus to which the electro-optical device is applied.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100…液晶パネル 101…素子基板 102…対向基板 105…液晶 108…対向基板 112…走査線 114…データ線 116…TFT 118…画素電極 120…周辺回路 122…画像信号線 124…イネーブル信号線 125…反転イネーブル信号線 130…走査線駆動回路 140…データ線駆動回路 150…サンプリング回路 151…サンプリングスイッチ 1440…シフトレジスタ 1450…ラッチ回路 1460…パルス幅制限回路 1461…NOR回路 1462…NAND回路 1472…レベルシフタ 1480…バッファ回路 2100…プロジェクタ 2200…パーソナルコンピュータ 2300…携帯電話 Reference Signs List 100 liquid crystal panel 101 element substrate 102 counter substrate 105 liquid crystal 108 counter substrate 112 scanning line 114 data line 116 TFT 118 pixel electrode 120 peripheral circuit 122 image signal line 124 enable signal line 125 Inversion enable signal line 130 scanning line driving circuit 140 data line driving circuit 150 sampling circuit 151 sampling switch 1440 shift register 1450 latch circuit 1460 pulse width limiting circuit 1461 NOR circuit 1462 NAND circuit 1472 level shifter 1480 ... Buffer circuit 2100 ... Projector 2200 ... Personal computer 2300 ... Mobile phone

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H093 NA16 NA42 NA53 NC12 NC21 NC22 NC34 ND05 ND09 ND15 ND35 ND36 ND40 5C006 AF42 BB16 BC03 BC12 BF03 BF04 BF11 BF25 BF26 BF27 BF46 EC01 EC08 EC11 FA22 FA31 5C080 AA10 BB05 DD05 DD12 EE01 EE17 FF11 JJ02 JJ03 JJ04 JJ06 KK07  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F-term (reference) 2H093 NA16 NA42 NA53 NC12 NC21 NC22 NC34 ND05 ND09 ND15 ND35 ND36 ND40 5C006 AF42 BB16 BC03 BC12 BF03 BF04 BF11 BF25 BF26 BF27 BF46 EC01 EC08 EC11 FA22 FA31 5C05 DD10 FF11 JJ02 JJ03 JJ04 JJ06 KK07

Claims (14)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 画像信号を複数のデータ線に出力する電
気光学装置の駆動回路であって、 複数のラッチ回路を備え、各ラッチ回路により入力信号
を順次シフトして出力するシフトレジスタ回路と、 前記ラッチ回路による出力信号のパルス幅を、イネーブ
ル信号線に供給されるイネーブル信号にしたがって制限
するパルス幅制限回路と、 前記イネーブル信号の論理レベルを反転した反転イネー
ブル信号を供給する反転イネーブル信号線と、 前記データ線にそれぞれ対応して設けられ、画像信号線
に供給される画像信号を、前記パルス幅制限回路によっ
てパルス幅の制限された信号に基づいてサンプリングし
て、対応するデータ線に供給するサンプリングスイッチ
とを具備することを特徴とする電気光学装置の駆動回
路。
1. A drive circuit for an electro-optical device for outputting an image signal to a plurality of data lines, comprising: a plurality of latch circuits; a shift register circuit for sequentially shifting and outputting an input signal by each of the latch circuits; A pulse width limiting circuit that limits a pulse width of an output signal from the latch circuit according to an enable signal supplied to an enable signal line; and an inversion enable signal line that supplies an inversion enable signal obtained by inverting a logic level of the enable signal. An image signal provided to each of the data lines and supplied to an image signal line is sampled based on a signal of which pulse width is limited by the pulse width limiting circuit, and supplied to a corresponding data line; A driving circuit for an electro-optical device, comprising: a sampling switch.
【請求項2】 前記反転イネーブル信号線は、前記イネ
ーブル信号線と略平行に配設されていることを特徴とす
る請求項1に記載の電気光学装置の駆動回路。
2. The drive circuit according to claim 1, wherein the inversion enable signal line is disposed substantially in parallel with the enable signal line.
【請求項3】 前記反転イネーブル信号線は、前記イネ
ーブル信号線と略同一の容量を有することを特徴とする
請求項1に記載の電気光学装置の駆動回路。
3. The driving circuit according to claim 1, wherein the inversion enable signal line has substantially the same capacity as the enable signal line.
【請求項4】 前記反転イネーブル信号線は、前記イネ
ーブル信号線と略同一の時定数を有することを特徴とす
る請求項1に記載の電気光学装置の駆動回路。
4. The driving circuit according to claim 1, wherein the inversion enable signal line has substantially the same time constant as the enable signal line.
【請求項5】 前記イネーブル信号線および前記反転イ
ネーブル信号線は、前記パルス幅制限回路の形成領域の
一方の側から回り込んで配設される一方、 前記画像信号線は、前記パルス幅制限回路の形成領域の
他方の側から回り込んで配設されていることを特徴とす
る請求項1に記載の電気光学装置の駆動回路。
5. The pulse width limiting circuit according to claim 1, wherein the enable signal line and the inversion enable signal line are provided so as to extend from one side of a region where the pulse width limiting circuit is formed. The driving circuit for an electro-optical device according to claim 1, wherein the driving circuit is provided so as to extend from the other side of the formation region of the electro-optical device.
【請求項6】 前記イネーブル信号線および前記反転イ
ネーブル信号線と、前記画像信号線との間に、一定の電
位の定電位線が配設されていることを特徴とする請求項
1に記載の電気光学装置の駆動回路。
6. The constant potential line according to claim 1, wherein a constant potential line having a constant potential is provided between said enable signal line and said inverted enable signal line and said image signal line. Drive circuit for electro-optical device.
【請求項7】 前記パルス幅制限回路によりパルス幅の
制限された信号の論理振幅を拡大して、対応するサンプ
リングスイッチに供給するレベルシフタを備えることを
特徴とする請求項1に記載の電気光学装置の駆動回路。
7. The electro-optical device according to claim 1, further comprising a level shifter for expanding a logical amplitude of a signal whose pulse width is limited by the pulse width limiting circuit and supplying the signal to a corresponding sampling switch. Drive circuit.
【請求項8】 前記パルス幅制限回路は、 前記ラッチ回路による出力信号と、前記イネーブル信号
との否定論理積信号を出力する否定論理積回路、また
は、 前記ラッチ回路による出力信号とはレベル反転の関係に
ある信号と、前記反転イネーブル信号との否定論理和信
号を出力する否定論理和回路であることを特徴とする請
求項1に記載の電気光学装置の駆動回路。
8. The NAND circuit according to claim 1, wherein said pulse width limiting circuit outputs a NAND signal of an output signal of said latch circuit and said enable signal, or an output signal of said latch circuit has a level inversion. 2. The driving circuit for an electro-optical device according to claim 1, wherein the driving circuit is a NOR circuit that outputs a NOR signal of a signal having a relationship and the inversion enable signal.
【請求項9】 前記画像信号は、時間軸に伸長されてm
(mは2以上の整数とする)本の系統に変換されたもの
であり、 前記データ線は、m本毎にブロック化されて、 ブロック化されたm本のデータ線に対応するスイッチが
同時に駆動されることを特徴とする請求項1記載の電気
光学装置の駆動回路。
9. The image signal is expanded on a time axis to obtain m
(Where m is an integer of 2 or more). The data lines are divided into m lines, and the switches corresponding to the m divided data lines are simultaneously switched. The driving circuit according to claim 1, wherein the driving circuit is driven.
【請求項10】 前記サンプリングスイッチは相補型で
あり、 前記パルス幅制限回路は、 前記ラッチ回路による出力信号と、前記イネーブル信号
とによりパルス幅を制限した正転の信号を生成する第1
のゲート回路と、 前記ラッチ回路による出力信号とはレベル反転の関係に
ある信号と、前記反転イネーブル信号とによりパルス幅
を制限した反転の信号を生成する第2のゲート回路とを
有し、 前記相補型のサンプリングスイッチは、前記正転の信号
および前記反転の信号に基づいてサンプリングを行うこ
とを特徴とする請求項1記載の電気光学装置の駆動回
路。
10. The sampling switch is of a complementary type, and the pulse width limiting circuit generates a non-inverted signal having a pulse width limited by an output signal from the latch circuit and the enable signal.
And a second gate circuit that generates an inverted signal whose pulse width is limited by a signal having a level inversion relationship with an output signal of the latch circuit and the inversion enable signal, 2. The driving circuit for an electro-optical device according to claim 1, wherein the complementary sampling switch performs sampling based on the forward signal and the inverted signal.
【請求項11】 前記第1および第2のゲート回路の負
荷を、互いに略同一とすることを特徴とする請求項10
記載の電気光学装置の駆動回路。
11. The load of the first and second gate circuits is substantially equal to each other.
A driving circuit for the electro-optical device according to claim 1.
【請求項12】 請求項1乃至11のいずれか記載の電
気光学装置の駆動回路によって駆動されることを特徴と
する電気光学装置。
12. An electro-optical device driven by the driving circuit of the electro-optical device according to claim 1. Description:
【請求項13】 複数の走査線と、複数のデータ線と、
前記走査線および前記データ線の交差部に対応して設け
られたスイッチング素子及び画素電極を備え、前記デー
タ線の各々を駆動する電気光学装置であって、 前記画素電極がマトリクス状に配置される一方、前記ス
イッチング素子が、前記画素電極および前記データ線の
間に介挿されるとともに、前記走査線に供給される走査
信号にしたがって開閉することを特徴とする請求項12
記載の電気光学装置。
13. A plurality of scanning lines, a plurality of data lines,
An electro-optical device that includes a switching element and a pixel electrode provided corresponding to an intersection of the scanning line and the data line, and drives each of the data lines, wherein the pixel electrodes are arranged in a matrix. On the other hand, the switching element is interposed between the pixel electrode and the data line, and opens and closes according to a scanning signal supplied to the scanning line.
An electro-optical device according to claim 1.
【請求項14】 請求項12または13記載の電気光学
装置を備えることを特徴とする電子機器。
14. An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to claim 12.
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003034395A1 (en) * 2001-10-17 2003-04-24 Sony Corporation Display apparatus
JP2005234212A (en) * 2004-02-19 2005-09-02 Seiko Epson Corp Electrooptical apparatus, its driving circuit, and electronic equipment
US6999055B2 (en) 2001-10-17 2006-02-14 Sony Corporation Display device
US7123235B2 (en) 2002-09-05 2006-10-17 Toppoly Optoelectronics Corp. Method and device for generating sampling signal
JP2008134645A (en) * 2007-12-14 2008-06-12 Seiko Epson Corp Electrooptical device and electronic apparatus
US7750876B2 (en) 2004-06-18 2010-07-06 Seiko Epson Corporation Electro-optical device and electronic apparatus with image signal conversion
JP2011191772A (en) * 2003-06-02 2011-09-29 Seiko Epson Corp Electro-optical device and electronic apparatus including the same
CN112885287A (en) * 2021-03-01 2021-06-01 深圳天德钰科技股份有限公司 Display panel

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003034395A1 (en) * 2001-10-17 2003-04-24 Sony Corporation Display apparatus
US6999055B2 (en) 2001-10-17 2006-02-14 Sony Corporation Display device
CN100359552C (en) * 2001-10-17 2008-01-02 索尼株式会社 Display apparatus
US7123235B2 (en) 2002-09-05 2006-10-17 Toppoly Optoelectronics Corp. Method and device for generating sampling signal
JP2011191772A (en) * 2003-06-02 2011-09-29 Seiko Epson Corp Electro-optical device and electronic apparatus including the same
JP2005234212A (en) * 2004-02-19 2005-09-02 Seiko Epson Corp Electrooptical apparatus, its driving circuit, and electronic equipment
US7750876B2 (en) 2004-06-18 2010-07-06 Seiko Epson Corporation Electro-optical device and electronic apparatus with image signal conversion
JP2008134645A (en) * 2007-12-14 2008-06-12 Seiko Epson Corp Electrooptical device and electronic apparatus
CN112885287A (en) * 2021-03-01 2021-06-01 深圳天德钰科技股份有限公司 Display panel
CN112885287B (en) * 2021-03-01 2023-01-17 深圳天德钰科技股份有限公司 Display panel

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