JP2001212848A - 樹脂成形用金型 - Google Patents

樹脂成形用金型

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JP2001212848A
JP2001212848A JP2000027102A JP2000027102A JP2001212848A JP 2001212848 A JP2001212848 A JP 2001212848A JP 2000027102 A JP2000027102 A JP 2000027102A JP 2000027102 A JP2000027102 A JP 2000027102A JP 2001212848 A JP2001212848 A JP 2001212848A
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JP
Japan
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resin
mold
cavity
passage
molten resin
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JP2000027102A
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English (en)
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Koichi Araki
晃一 荒木
Akiyuki Harada
昭如 原田
Keigo Nimata
圭吾 二俣
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Towa Corp
Original Assignee
Towa Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 樹脂通路で溶融樹脂を均一に流動させ、ボイ
ド等の発生を防止して、品質と信頼性とに優れた成形品
を成形する樹脂成形用金型を提供する。 【解決手段】 上型1と下型2とからなる樹脂成形用金
型に、上型1に設けられたピン穴7と、下型2に設けら
れた樹脂通路4と、上型1と下型2とに設けられた空間
であって溶融樹脂が注入されるキャビティ3と、樹脂通
路4の一部であってキャビティ3に向かって絞り込むよ
うにして設けられたゲート部5Aと、開口6の面積にほ
ぼ等しい均一な断面積を有する新たなゲート部9Aを形
成するためにピン穴7に嵌合され樹脂通路4に突出する
ピン8Aとを備える。これにより、溶融樹脂は、小さい
断面積を有する新たなゲート部9Aにおいて均一に加熱
され均一な粘度を維持して、開口6を経由してキャビテ
ィ3に安定して注入される。したがって、ボイド等の発
生が抑制されるので成形品の品質と信頼性とが向上す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、樹脂成形用金型で
あって、特に、精密な成形品を成形する際に使用される
樹脂成形用金型に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の樹脂成形用金型を、図3を参照し
て説明する。図3は、従来の樹脂成形用金型が型締めし
た状態を示す断面図である。図3において、20は上
型、21は下型であって、上型20と下型21とは併せ
て樹脂成形用金型を構成する。22は、上型20と下型
21とにそれぞれ設けられた凹部からなる空間であっ
て、型締めされた状態で溶融樹脂が注入され硬化するこ
とにより、成形品が形成されるためのキャビティであ
る。23は、下型21に設けられ、プランジャによって
押圧された溶融樹脂(いずれも図示なし)がキャビティ
22に向かって流動する樹脂通路である。24は、樹脂
通路23の一部であって、キャビティ22に向かって絞
り込むようにして設けられたゲート部である。25は、
ゲート部24からキャビティ22に溶融樹脂を注入する
開口である。A,B,Cは、それぞれ、樹脂通路23に
おいて流動する溶融樹脂の一部を示したものである。溶
融樹脂Aは上型20に近い部分を、溶融樹脂Bは中央に
近い部分を、溶融樹脂Cは下型21に近い部分を、それ
ぞれゲート部24、更にはキャビティ22に向かって流
動する。溶融樹脂は、それぞれヒータ(図示なし)を内
蔵する上型20と下型21とにより加熱されて溶融状態
を維持し、キャビティ22に注入された後に硬化して、
キャビティ22において成形品を形成する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の樹脂成形用金型によれば、流動時の溶融樹脂の温度
差に起因して成形品の品質が低下する場合がある。すな
わち、溶融樹脂A,B,Cが樹脂通路23を流動する際
に、流動樹脂A,Cはそれぞれ上型20,下型21に近
い部分を流動するので加熱されやすく、樹脂粘度が低
い。一方、溶融樹脂Bは、樹脂通路23の中央に近い部
分を流動するので加熱されにくく、樹脂粘度が高い。こ
のような樹脂粘度の差により、樹脂通路23において溶
融樹脂の流動が不均一になって、溶融樹脂に気泡が発生
することがある。その結果、成形品において、ボイドや
ブリスター等の成形不良が発生するおそれがある。これ
らの成形不良は、外観不良の原因になる。また、精密な
成形品を必要とする場合、例えば、半導体チップとリー
ドフレームとの電極同士をワイヤでボンディングした後
に、半導体チップとリードフレームとを樹脂封止する場
合には、ワイヤ流れや断線の原因になり、製品の信頼性
を低下させる。
【0004】本発明は、上述の課題を解決するためにな
されたものであり、樹脂通路において溶融樹脂を均一に
流動させることにより、成形不良の発生を抑制して、優
れた品質と信頼性とを有する成形品を成形できる樹脂成
形用金型を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上述の技術的課題を解決
するために、本発明に係る樹脂成形用金型は、金型に設
けられた空間であって金型によって加熱された溶融樹脂
が注入され硬化することにより成形品を形成するための
キャビティと、金型に設けられた空間であってキャビテ
ィに向かって溶融樹脂が流動する樹脂通路と、樹脂通路
の一部であってキャビティに向かって絞り込むようにし
て設けられるとともに、開口を経由してキャビティに溶
融樹脂を注入するゲート部と、少なくとも開口を含む樹
脂通路において、樹脂通路の断面積を狭めるようにして
設けられた絞り部とを備えたことを特徴とする。
【0006】これによれば、絞り部によって、キャビテ
ィに溶融樹脂を注入する開口を含む樹脂通路の断面積が
小さくなる。したがって、断面積が小さくなった樹脂通
路を流動する溶融樹脂は、金型によって均一に加熱され
るので、キャビティに注入される溶融樹脂が均一な粘度
を有する。このことにより、成形品が成形される際のボ
イド等の発生が抑制される。
【0007】また、本発明に係る樹脂成形用金型は、上
述の樹脂成形用金型において、ゲート部において絞り部
によって狭められた部分の断面積は、開口の面積にほぼ
等しいことを特徴とする。
【0008】これによれば、絞り部によって、開口につ
ながる樹脂通路の断面積が、開口の面積とほぼ同等にま
で小さくなる。したがって、開口の面積とほぼ同等の断
面積を有する樹脂通路において、溶融樹脂は均一に加熱
されるとともに安定して流動して、均一な粘度を有する
状態でキャビティに注入される。このことにより、成形
品が成形される際のボイド等の発生が抑制される。
【0009】また、本発明に係る樹脂成形用金型は、上
述の樹脂成形用金型において、絞り部は金型に一体的に
形成されていることを特徴とする。
【0010】これによれば、絞り部と金型とが一体的に
形成されているので、断面積が小さくなった樹脂通路が
安定して形成される。
【0011】また、本発明に係る樹脂成形用金型は、上
述の樹脂成形用金型において、絞り部は樹脂通路内に突
出するようにして金型に取り付けられていることを特徴
とする。
【0012】これによれば、絞り部が金型とは別個に形
成されているので、溶融樹脂の仕様や加熱温度等に応じ
て、同一の金型に対して異なるピンを使用して樹脂成形
することができる。
【0013】
【発明の実施の形態】本発明に係る樹脂成形用金型の実
施例を、半導体チップとリードフレームとを樹脂封止し
て、集積回路のパッケージを製造する場合を例にとっ
て、図1を参照しながら説明する。図1(1),(2)
は、本発明に係る樹脂成形用金型の実施例において、ピ
ンが嵌合される前で樹脂成形用金型が型締めされた状態
と、ピンが嵌合された後で樹脂成形用金型が型締めされ
た状態とをそれぞれ示す断面図である。
【0014】図1(1)において、1は上型、2は下型
であって、上型1と下型2とは併せて樹脂成形用金型を
構成する。3は、上型1と下型2とにそれぞれ設けられ
た凹部からなる空間であって、型締めされた状態で溶融
樹脂が注入され硬化することにより、成形品が形成され
るためのキャビティである。このキャビティ3に、半導
体チップが装着されたリードフレーム(いずれも図示な
し)が載置される。ここで、半導体チップとリードフレ
ームとがそれぞれ有する電極同士が、ワイヤによってボ
ンディングされている。4は、下型2に設けられた空間
であって、プランジャによって押圧された溶融樹脂(い
ずれも図示なし)がキャビティ3に向かって流動する樹
脂通路である。5Aは、樹脂通路4の一部であって、キ
ャビティ3に向かって絞り込むように、すなわちテーパ
状に設けられたゲート部である。6は、ゲート部5Aか
らキャビティ3に溶融樹脂を注入する開口である。7
は、ゲート部5Aを含む樹脂通路4において開口を形成
するようにして上型1に設けられたピン穴である。
【0015】図1(2)において、8Aは、キャビティ
3に向かうゲート部5Aを含む樹脂通路4に突出し、か
つ樹脂通路4の断面積を小さくするようにして、ピン穴
7に嵌合されたピンであって、平坦面とその両側の斜面
からなる先端部を有する。このピン8Aは、上型1によ
って予め加熱されている。9Aは、下型2とピン8Aと
の間の空間であって、ピン8Aによって狭められ、開口
6の断面積とほぼ等しい均一な断面積を有する新たなゲ
ート部である。
【0016】本実施例によれば、樹脂通路4を流動して
きた溶融樹脂(図示なし)は、ピン8Aの先端面に沿っ
て新たなゲート部9Aに導かれる。ここで、新たなゲー
ト部9Aは、もとのゲート部5Aよりも小さい均一な断
面積を有するので、溶融樹脂は、ゲート部9Aを流動し
ている間にピン8Aと下型2とによって均一に加熱され
る。これにより、溶融樹脂は均一な粘度を維持して、新
たなゲート部9Aを流動し、開口6を経由してキャビテ
ィ3に安定して注入される。したがって、キャビティ3
内において、リードフレームと半導体チップとの電極同
士を接続するワイヤに、溶融樹脂によって印加される圧
力が抑制される。その結果、ワイヤ流れや断線を防止で
きるので、集積回路のパッケージの信頼性が向上する。
また、溶融樹脂がキャビティ3に安定して注入されるこ
とにより、キャビティ3において、ボイドやブリスター
等の成形不良の発生が抑制されるので、集積回路のパッ
ケージの品質が向上する。
【0017】図2(1),(2)は、本発明に係る樹脂
成形用金型の他の実施例において、ピンが嵌合される前
で樹脂成形用金型が型締めされた状態と、ピンが嵌合さ
れた後で樹脂成形用金型が型締めされた状態とをそれぞ
れ示す断面図である。図2(1)においては、ゲート部
5Bは、図1(1)のゲート部5Aに比較して、キャビ
ティ3に向かって緩やかに絞り込まれている。したがっ
て、このゲート部5Bのテーパ状の形状に対応して、ピ
ン8Bの断面形状が決定され、ピン8Bは2つの斜面か
らなる先端部を有する。その結果、下型2とピン8Bと
の間において、新たなゲート部9Bが、開口6の断面積
とほぼ等しい均一な断面積を有するようにして形成され
る。
【0018】本実施例によっても、溶融樹脂は、ゲート
部9Bを流動している間にピン8Bと下型2とによって
均一に加熱され、均一な粘度を維持して、キャビティ3
に安定して注入される。したがって、キャビティ3内に
おいて、ワイヤ流れや断線を防止できるのでパッケージ
の信頼性が向上するとともに、ボイドやブリスター等の
成形不良の発生が抑制されるのでパッケージの品質が向
上する。
【0019】なお、上述の各実施例においては、下型2
に樹脂通路4を設け、上型1に設けられたピン穴7にピ
ン8A,8Bを嵌合させて、新たなゲート部9A,9B
を形成した。これに代えて、上型に樹脂通路を設け、下
型に設けられたピン穴にピンを嵌合させてもよい。更
に、予め上型又は下型に、新たなゲート部を形成するた
めの凸状の形状を、一体的に設けておいてもよい。
【0020】また、新たなゲート部9A,9Bを、それ
ぞれ均一な断面積を有するように形成した。これに限ら
ず、溶融樹脂が供給される側から開口6に向かって徐々
に断面積が小さくなるように、新たなゲート部9A,9
Bを形成してもよい。すなわち、新たなゲート部9A,
9Bが有する正面から見た断面形状は、溶融樹脂の特性
や加熱温度等を考慮して、最適な形状に決定すればよ
い。
【0021】また、上述の各実施例においては、集積回
路のパッケージを製造する場合を例にとって説明した。
これに限らず、他の精密な成形品、例えば光ファイバー
用コネクタのハウジング等を製造する場合にも、本発明
を適用することができる。
【0022】
【発明の効果】本発明によれば、キャビティに溶融樹脂
を注入する開口を含む樹脂通路の断面積が小さくなるの
で、この樹脂通路を流動する溶融樹脂は、金型によって
均一に加熱される。その結果、キャビティに注入される
溶融樹脂が均一な粘度を有するので、成形品が成形され
る際のボイド等の発生が抑制される。これにより、成形
品の品質と信頼性とを向上させることができる。したが
って、本発明は、優れた品質と信頼性とを有する成形品
を成形する樹脂成形用金型を提供できるという、優れた
実用的な効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】(1),(2)は、本発明に係る樹脂成形用金
型の実施例において、ピンが嵌合される前で樹脂成形用
金型が型締めされた状態と、ピンが嵌合された後で樹脂
成形用金型が型締めされた状態とをそれぞれ示す断面図
である。
【図2】(1),(2)は、本発明に係る樹脂成形用金
型の他の実施例において、ピンが嵌合される前で樹脂成
形用金型が型締めされた状態と、ピンが嵌合された後で
樹脂成形用金型が型締めされた状態とをそれぞれ示す断
面図である。
【図3】従来の樹脂成形用金型が型締めした状態を示す
断面図である。
【符号の説明】
1 上型 2 下型 3 キャビティ 4 樹脂通路 5A,5B ゲート部 6 開口 7 ピン穴 8A,8B ピン(絞り部) 9A,9B 新たなゲート部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4F202 AH33 AM32 CA12 CB01 CB12 CK01 CK07 5F061 AA01 BA01 CA21 DA05 DA06

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 金型に設けられた空間であって該金型に
    よって加熱された溶融樹脂が注入され硬化することによ
    り成形品を形成するためのキャビティと、 前記金型に設けられた空間であって前記キャビティに向
    かって前記溶融樹脂が流動する樹脂通路と、 前記樹脂通路の一部であって前記キャビティに向かって
    絞り込むようにして設けられるとともに、開口を経由し
    て前記キャビティに前記溶融樹脂を注入するゲート部
    と、 少なくとも前記開口を含む前記樹脂通路において、該樹
    脂通路の断面積を狭めるようにして設けられた絞り部と
    を備えたことを特徴とする樹脂成形用金型。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の樹脂成形用金型におい
    て、 前記ゲート部において前記絞り部によって狭められた部
    分の断面積は、前記開口の面積にほぼ等しいことを特徴
    とする樹脂成形用金型。
  3. 【請求項3】 請求項1又は2のいずれか1つに記載の
    樹脂成形用金型において、 前記絞り部は前記金型に一体的に形成されていることを
    特徴とする樹脂成形用金型。
  4. 【請求項4】 請求項1又は2のいずれか1つに記載の
    樹脂成形用金型において、 前記絞り部は前記樹脂通路内に突出するようにして前記
    金型に取り付けられていることを特徴とする樹脂成形用
    金型。
JP2000027102A 2000-02-04 2000-02-04 樹脂成形用金型 Pending JP2001212848A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102224582A (zh) * 2008-11-21 2011-10-19 飞科公司 用于至少部分封装具有电子元件的封闭扁平载体的装置和方法

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CN102224582A (zh) * 2008-11-21 2011-10-19 飞科公司 用于至少部分封装具有电子元件的封闭扁平载体的装置和方法

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