JP2001198427A - ケミカルフィルターユニットおよび半導体装置の製造方法 - Google Patents

ケミカルフィルターユニットおよび半導体装置の製造方法

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JP2001198427A
JP2001198427A JP2000009719A JP2000009719A JP2001198427A JP 2001198427 A JP2001198427 A JP 2001198427A JP 2000009719 A JP2000009719 A JP 2000009719A JP 2000009719 A JP2000009719 A JP 2000009719A JP 2001198427 A JP2001198427 A JP 2001198427A
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air
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filter housing
holder
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JP2000009719A
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Toru Yamaguchi
徹 山口
Yasukazu Mukogawa
泰和 向川
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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  • Separation Of Gases By Adsorption (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 フィルターハウジングを分解することなく、
フィルターハウジング内のフィルター交換を容易におこ
なうことができ、フィルターの除去性能の劣化も短時間
で判定することができるケミカルフィルターユニットを
提供する。 【解決手段】 連結しているフィルターホルダーの、フ
ィルターハウジング外部のフィルターホルダーに、未使
用のフィルターを取り付け、フィルターハウジングの第
1の開口部から第2の開口部に向かって、フィルターホ
ルダーを移動させることで、フィルターハウジング内部
のフィルターホルダーに保持されている使用済みのフィ
ルターをフィルターハウジングの外部に排出し、未使用
のフィルターをフィルターハウジング内部に挿入する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体デバイス
を製造する半導体製造装置や半導体デバイスを保管する
保管設備、また、半導体デバイスを製造・保管するクリ
ーンルームに対して、半導体デバイスの品質に影響を与
える化学的な物質を除外したエアーを供給するケミカル
フィルターユニットと半導体装置の製造方法に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】半導体デバイスを製造・保管する装置や
設備、またクリーンルーム内には、微量ではあるが半導
体デバイスの品質に影響を与える化学的な物質が存在し
ている。従来、ケミカルフィルターユニットを用いて、
このような化学的な物質を除去し、例えばクリーンルー
ム等にケミカル物質を供給している。また、定期的にエ
アーをサンプリングして、ケミカル物質の濃度を測定し
ている。
【0003】図8は、従来のケミカルフィルターユニッ
トの一例を示す断面模式図である。ケミカルフィルター
ユニットは、エアー中のケミカル物質を除外するため
に、半導体デバイスを製造する製造装置、半導体デバイ
スを保管する保管設備、半導体デバイスを製造・保管す
るクリーンルームなどに対してエアーを供給するエアダ
クト中に設けられている装置である。
【0004】以下、図8を参照して従来のケミカルフィ
ルターユニットについて説明する。図8において、31
はエアダクト、32はエアダクト31の間に設けられた
フィルターハウジング、33はケミカル物質を除去する
ためにフィルターハウジング32内に設けられたフィル
ターである。また、Aはフィルターハウジング32に供
給されるケミカル物質含有エアー、Bはフィルターハウ
ジング32から排出されるケミカル物質除去エアーであ
る。
【0005】エアダクト31から供給されたケミカル物
質含有エアーAは、フィルターハウジング32内に入
り、フィルター33を通過する。フィルターハウジング
32は、ケミカル物質含有エアーAとフィルター33と
の接触面積が大きくなるように、エアー流れ方向の断面
積がエアダクト31より大きく設定されている。
【0006】ケミカル物質含有エアーAが、フィルター
33を通過することによりケミカル物質含有エアーA中
のケミカル物質成分がフィルター33に吸着され、ケミ
カル物質除去エアーBとなってフィルターハウジング3
2よりエアダクト31へ排出される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】このケミカル物質を除
去するフィルター33は、ケミカル物質の除去性能に限
界があり、一定量のケミカル物質を吸着するとそれ以上
のケミカル物質を吸着・除去しなくなるため、吸着性能
が劣化する前にフィルター交換する必要がある。よっ
て、従来のケミカルフィルターユニットでは、内部のフ
ィルター33のケミカル物質除去性能の劣化を判断する
必要がある。
【0008】しかし、フィルター33の吸着限界を判断
するためには、エアー中のケミカル物質濃度を測定する
必要があるが、エアー中のケミカル物質濃度測定は、ケ
ミカル物質が微量で濃度が低いため、長時間エアーをサ
ンプルし、専用の分析装置のあるところでの分析をおこ
なわなければならない。そのため、吸着性能の劣化の判
断に時間がかかっており、的確なフィルター交換がおこ
なえない。
【0009】また、フィルター33は、フィルターハウ
ジング32の内部に設けられているため、フィルター3
3の交換時にはフィルターハウジング32を分解してフ
ィルター33を取り出し、新たなフィルター33を挿入
して再度フィルターハウジングを組立なくてはならない
ため、フィルター交換に時間を要し、その間にエアダク
トからのケミカル物質含有エアーAの供給を停止させな
ければならない。
【0010】この発明の一つの目的は、上記のような問
題点を解決するためになされたもので、フィルター交換
を容易におこない、フィルターの除去性能の劣化を短時
間で判定できるフィルターハウジングを得ることを目的
とする。また、この発明のもう一つの目的は、半導体装
置の信頼性に影響を与えるケミカル物質を除去したエア
ーの供給をおこない、信頼性の高い半導体装置を製造す
ることを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】この発明に係るケミカル
フィルターユニットは、エアーを導入するエアダクトと
排出するエアダクトの間に設けられ、側面に第1の開口
部とこの側面に対向する側面に第2の開口部とを有する
フィルターハウジングと、フィルターハウジング内部の
気流全面に接している第1のフィルターを保持している
第1のフィルターホルダーと、第1のフィルターホルダ
ーに連結され、フィルターハウジング外部に設けられた
第2のフィルターホルダーとを備え、第2のフィルター
ホルダーに第2のフィルターを取り付け、フィルターハ
ウジングの第1の開口部から第2の開口部に向かって、
第2のフィルターホルダーを移動させることで、フィル
ターハウジング内部の第1のフィルターホルダーに保持
されている第1のフィルターをフィルターハウジングの
外部に排出し、第2のフィルターホルダーに保持されて
いる第2のフィルターがフィルターハウジング内部に挿
入されるものである。
【0012】また、この発明に係るケミカルフィルター
ユニットは、エアーを導入するエアダクトと排出するエ
アダクトの間に設けられ、周囲側面に開口部を有するフ
ィルターハウジングと、フィルターハウジングの内部の
気流全面に接している第1のフィルター部を保持してい
る円盤状のフィルターホルダーと、円盤状のフィルター
ホルダー上のフィルターハウジング外部に配置された第
2のフィルター部と、円盤状のフィルターホルダーの中
心に設けられたフィルターホルダー回転軸とを備え、円
盤状のフィルターホルダーをフィルター回転軸を回転さ
せることで、フィルターハウジング内部の第1のフィル
ター部をフィルターハウジング外部に移動させ、第2の
フィルター部がフィルターハウジング内部に挿入される
ものである。
【0013】さらにまた、この発明に係るケミカルフィ
ルターユニットは、エアーを導入するエアダクトと排出
するエアダクトの間に設けられ、側面とこの側面に対向
する側面に開口部を有するフィルターハウジングと、第
1のフィルター部と第2のフィルター部を保持して、フ
ィルターハウジングの開口部を貫通してフィルターハウ
ジング内部を循環するループ式のフィルターホルダー
と、フィルターホルダーを駆動させるフィルターホルダ
ー回転ローラーとを備え、フィルターホルダー回転ロー
ラーを駆動することにより、フィルターハウジング内部
の第1のフィルター部を、フィルターハウジング外部に
移動させ、第2のフィルター部がフィルターハウジング
内部に挿入されるものである。
【0014】また、この発明に係るケミカルフィルター
ユニットは、フィルターハウジング外部に配置され、フ
ィルターハウジング外部に移動された第1のフィルター
部を、フィルターハウジング内部での第1のフィルター
部のエアー接触面積より大きいエアー接触面積で挟み込
むフィルター再生チャンバーをさらに備え、フィルター
再生チャンバーは、この内部に有機物分解手段を有して
おり、第1のフィルター部を有機物分解手段により再生
するものである。
【0015】さらにまた、この発明に係るケミカルフィ
ルターユニットは、エアーを導入するエアダクトと排出
するエアダクトの間に設けられたフィルターハウジング
と、フィルターハウジング内部の気流全面に接している
フィルターを保持しているフィルターホルダーと、フィ
ルターハウジング内部のエアーの上流側に配置され、ケ
ミカルガスを注入するガス注入管と、フィルターハウジ
ング内部のエアーの下流側に配置され、ケミカルガスを
吸引するガス吸引管とを備えたものである。
【0016】また、この発明に係るケミカルフィルター
ユニットは、フィルター再生チャンバー内部にケミカル
ガスを注入するガス注入管とケミカルガスを吸引するガ
ス吸引管とをさらに備えたものである。
【0017】さらにまた、ケミカルフィルターユニット
により、エアー中のケミカル物質を除去したケミカル物
質除去エアーを半導体製造装置またはクリーンルームに
供給する工程と、ケミカル物質除去エアーの雰囲気下に
おいて、半導体装置を製造する工程とを備えたものであ
る。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を図
面に基づいて説明する。
【0019】実施の形態1.まず、この発明の実施の形
態1におけるケミカルフィルターユニットの構成につい
て説明する。図1は、この発明の実施の形態1における
ケミカルフィルターユニットの断面構造図である。ま
た、図1においては、フィルターの交換状態も示してい
る。
【0020】図1において、1は装置、設備、クリーン
ルーム等にエアーを供給するエアダクト、2はエアダク
ト1の間に設けられたフィルターハウジング、3はケミ
カル物質を除去するためにフィルターハウジング2内に
設けられたフィルター、4はフィルター3を保持するた
めのフィルターホルダーである。フィルターハウジング
2内に設けられた複数のフィルター3は、それぞれフィ
ルターホルダー4に保持されている。
【0021】また、Aはフィルターハウジング2に供給
されるケミカル物質含有エアー、Bはフィルターハウジ
ング2から排出されるケミカル物質除去エアー、Cはフ
ィルター3の交換時に、フィルターホルダー4を動かす
方向を示すフィルターホルダー移動方向、D1はフィル
ターホルダー4へフィルター3を取り付けるフィルター
取り付け方向、D2はフィルターホルダー4からフィル
ター3を取り外すフィルター取り外し方向である。
【0022】フィルターホルダー4は、フィルター3を
保持する部分が2つ連結されており、一つは、フィルタ
ー3を保持した状態でフィルターハウジング2の側面の
開口部(図示せず)を通して、フィルターハウジング2
内部に挿入されている。もう一つは、フィルターハウジ
ング2外部に配置されおり、通常フィルターは保持され
ていない。フィルターホルダー4は、フィルターハウジ
ング2内部の側面に接しており、フィルターホルダー4
に保持されたフィルターハウジング2内部のフィルター
3は、フィルター面の全面が、フィルターハウジング2
内のエアー流れ(気流)に接するように挿入されてい
る。
【0023】また、フィルターハウジング2の側面に対
向するもう一方の側面にも、同様にフィルターホルダー
4が通る開口部(図示せず)が設けられており、通常の
状態ではフィルターホルダー4の側面によってふさがれ
ている。このように構成されたケミカルフィルターユニ
ットにおいて、フィルターハウジング2内の使用済みの
フィルター3を交換する時には、使用済みのフィルター
3が保持されているフィルターホルダー4に連結してい
るフィルターハウジング2外部のフィルターホルダー4
に、未使用のフィルター3をフィルター取り付け方向D
1に示す方向で取り付ける。
【0024】その後、フィルターホルダー4をホルダー
移動方向Cに示す方向に動かすことにより、フィルター
ハウジング2内部の使用済みフィルター3をフィルター
ハウジング2外部に排出して、フィルターハウジング2
外部の未使用のフィルター3をフィルターハウジング2
内部に入れることができる。フィルターハウジング2外
部に排出された使用済みフィルター3は、フィルターホ
ルダー4からフィルター取り外し方向D2に示す方向に
取り外すことにより交換される。
【0025】よって、この実施の形態1においては、フ
ィルターハウジング2内の使用済みのフィルター3をフ
ィルターハウジング2を分解することなく交換すること
ができ、フィルターハウジング2へのケミカル物質含有
エアーAの供給、フィルターハウジング2からのケミカ
ル物質除去エアーBを止めることなくフィルター3の交
換を行うことができる。なお、実施の形態1におけるフ
ィルターハウジング2、フィルター3、フィルターホル
ダー4の形状、位置、個数、配置等は、この実施の形態
1の目的を達成するものであれば上記に限定されるもの
ではない。
【0026】実施の形態2.図2は、実施の形態2にお
けるケミカルフィルターユニットの構造を示す模式図で
ある。図2において、1は装置、設備等にエアーを供給
するエアダクト、2はエアダクト1の間に設けられたフ
ィルターハウジング、3はケミカル物質を除去するため
のフィルター、4はフィルター3を保持するための円盤
状のフィルターホルダー、5はフィルターホルダー4の
中心に設けられたフィルターホルダー回転軸、Aはフィ
ルターハウジング2に供給されるケミカル物質含有エア
ー、Bはフィルターハウジング2から排出されるケミカ
ル物質除去エアー、Cはフィルター3交換時にフィルタ
ーホルダー4を動かす方向を示すフィルターホルダー移
動方向である。
【0027】図2に示すように、フィルターハウジング
2内部のフィルター3、フィルターハウジング2内部の
気流全面に接しており、さらにフィルター3は、フィル
ターハウジング2の内部エアー流れ(気流)の接触面積
より大きく設定されている。フィルターハウジング2に
は周囲側面に開口部があり、この開口部にフィルターホ
ルダー4に保持されたフィルター3が貫通して保持され
ている。また、フィルター3は、複数のフィルターが同
一平面上のフィルターホルダー4に保持されるように構
成されているが、通常は、フィルターハウジング2を貫
通している部分のフィルター3だけがフィルターホルダ
ー4に保持されている。
【0028】このように構成されたケミカルフィルター
ユニットにおいて、使用済みのフィルター3の交換をお
こなうときは、まず未使用のフィルター3aをフィルタ
ーホルダー4に保持させる。そして、フィルターハウジ
ング2に接しながら、未使用フィルター3aをフィルタ
ー回転軸5の回転によってフィルターホルダー移動方向
Cに示す方向に動かし、フィルターハウジング2のある
位置に未使用フィルター3a部分を移動させ、フィルタ
ーハウジング2に貫通させて保持する。フィルターハウ
ジング2外部に移動させた使用済みのフィルター3は、
フィルターホルダー4から取り外す。実施の形態2にお
いては、以上のようにフィルターの交換をおこなう。
【0029】よってこの実施の形態2においては、フィ
ルターハウジング2内で、ケミカル物質含有エアーA中
のケミカル物質を吸着し除去性能が劣化したフィルター
3をフィルターハウジング2を分解することなく交換す
ることができ、フィルターハウジング2へのケミカル物
質含有エアーAの供給、フィルターハウジング2からの
ケミカル物質除去エアーBの排出を止めることなくフィ
ルター3の交換をおこなうことができる。
【0030】実施の形態3.実施の形態3においては、
実施の形態2で述べたフィルターに対して、フィルター
の除去性能を回復させる機構を付加している。図3は、
実施の形態3におけるケミカルフィルターユニットの構
造を示す模式図である。また、図4は図3の断面構造を
示す断面構造図である。
【0031】図3、図4において、1はエアダクト、2
はフィルターハウジング、3はフィルター、4はフィル
ターホルダー、5はフィルターホルダー回転軸、Aはケ
ミカル物質含有エアー、Bはケミカル物質除去エアー、
Cはフィルターホルダ移動方向である。6は、フィルタ
ー3を挟み込み再生するために設けられたフィルター再
生チャンバー、7はフィルター再生チャンバー6内部に
設けられたヒーターである。また、Eはフィルター再生
チャンバー6に供給される再生処理供給エアー、Fはフ
ィルター再生チャンバー6より排出される再生処理排気
エアーである。
【0032】フィルター再生チャンバー6内部でのフィ
ルター3のエアー接触面積は、フィルターハウジング2
内部でのフィルター3のエアー接触面積より大きく設定
されている。また、フィルター再生チャンバー6では、
フィルター3に対してフィルターハウジング2内へのケ
ミカル物質含有エアーA、ケミカル物質除去エアーBの
エアー流れ方向とは逆の方向に再生処理供給エアーEが
供給され、再生処理排気エアーFが排出される。
【0033】また、フィルター再生チャンバー6の内部
には、フィルター3に吸着した有機物質を分解するため
の手段としてのヒーター7が設けられている。また、フ
ィルター3は、フィルターホルダー4内に通常状態で全
てのフィルター3が保持されているか、もしくは分割さ
れることなくフィルターホルダー4内の全体を覆う一つ
のフィルターである。
【0034】ケミカル物質の除去をおこない、除去性能
が劣化した使用済みのフィルター3のは、フィルター回
転軸5の回転によってフィルターホルダー移動方向Cに
示す方向に動かされることにより、フィルターハウジン
グ2に接しながら外部に移動し、フィルター再生チャン
バー6の内部に入る。
【0035】フィルター再生チャンバー6の内部に入っ
た使用済みのフィルター3は、ヒーター7によって加熱
されることにより、フィルター3に付着しているケミカ
ル物質が熱分解され、分子量が小さい物質となり、再生
処理供給エアーEによってフィルター3から離れ、再生
処理排気エアーFに混じってフィルター再生チャンバー
6からエアダクトに排気される。
【0036】よって、実施の形態3ではフィルターハウ
ジング2内でケミカル物質含有エアーA中のケミカル物
質を吸着して除去性能が劣化した使用済みのフィルター
3を、フィルターハウジング2からのケミカル物質除去
エアーBを止めることなく吸着性能が劣化していない未
使用のフィルター3のと交換することができる。また、
実施の形態3では、除去性能が劣化した使用済みのフィ
ルター3を、フィルター再生チャンバー6内でケミカル
物質を分解・除去して再生するため、フィルター3を交
換することなく連続して使用することができる。
【0037】なお、フィルター再生チャンバー6内のヒ
ーター7は、フィルター3に付着したケミカル物質を分
解するための手段であればこれに限定されるものではな
く、例えば、ヒーター7に代わってケミカル分解能力が
ある紫外線をフィルター3に照射するランプを設けても
よく、またこれらを内部に設けることに代わって、ケミ
カル分解能力のあるオゾンを再生処理供給エアーEに混
合して流してもよく、またこれらの手段の組み合わせで
あってもよい。
【0038】実施の形態4.図5は、この発明の実施の
形態4におけるケミカルフィルターユニットの構造を示
す断面構造図である。図5において、1は装置、設備等
にエアーを供給するエアダクト、2はエアダクト1の間
に設けられたフィルターハウジング、3はフィルター、
4はフィルターホルダー、6はフィルター3に吸着した
ケミカル物質の除去をおこなうフィルター再生チャンバ
ー、7はヒーター、8はフィルターホルダー4に保持さ
れたフィルター3を移動させるためのフィルターホルダ
ー回転ローラーである。
【0039】また、Aはフィルターハウジング2に供給
されるケミカル物質含有エアー、Bはフィルターハウジ
ング2から排出されるケミカル物質除去エアー、Cはホ
ルダー回転ローラー8によってフィルターホルダー4に
保持されたフィルター3が動かされるフィルターホルダ
ー移動方向、Eはフィルター再生チャンバー6に供給さ
れる再生処理供給エアー、Fはフィルター再生チャンバ
ー6より排出される再生処理排気エアー、Gはフィルタ
ーホルダー回転ローラー8の回転方向を示すローラー回
転方向である。
【0040】フィルターホルダー4は、フィルターホル
ダー回転ローラー8により駆動されてフィルターハウジ
ング2内部を循環するループ式のフィルターホルダーで
ある。ループ式のフィルターホルダー4は、フィルター
ハウジング2の側面とその対向する側面を貫通して循環
している。フィルターハウジング2の貫通部分は、フィ
ルターハウジング2の内部、外部の間で隙間がないよう
にフィルター3、フィルターホルダー4に接している構
造となっている。また、フィルター3は、フィルターハ
ウジング2内部のエアー流れ(気流)にフィルター3の
全面が接している。
【0041】また、フィルター再生チャンバー6は、フ
ィルターハウジング2の外部に設けられており、フィル
ター3を挟み込むように接して設けられている。フィル
ター再生チャンバー6内でエアーがフィルター3に接す
る面積は、フィルターハウジング2内部でエアーがフィ
ルター3に接する面積よりも大きい。このフィルター再
生チャンバー6には供給、排気を行うエアダクト1、こ
の内部にはフィルター3に吸着したケミカル物質を分解
するためのヒーター7が設けられている。エアダクト1
より再生処理供給エアーEが供給され、再生処理排気エ
アーFが排出される。
【0042】実施の形態4では、フィルターハウジング
2内部のフィルター3においてケミカル物質の除去をお
こない、除去性能が劣化した使用済みのフィルター3
は、フィルターホルダー回転ローラー8をローラー回転
方向Gへ回転させることによって、フィルターハウジン
グ2に接しながらフィルターハウジング2外部に移動さ
せ、フィルター再生チャンバー6の内部に挿入させる。
フィルターハウジング2には、ケミカル物質の除去を行
ったフィルター3の部分がフィルターハウジング2に接
しながら挿入される。
【0043】よって、実施の形態4では、フィルターハ
ウジング2内でケミカル物質含有エアーA中のケミカル
物質を吸着して、除去性能が劣化した使用済みのフィル
ター3をフィルターハウジング2からのケミカル物質除
去エアーBを止めることなく吸着性能が劣化していない
フィルター3と入れ替えることができる。
【0044】また、フィルター再生チャンバー6の内部
に挿入された除去性能が劣化したフィルター3を、ヒー
ター7によって加熱させることにより、フィルター3に
付着しているケミカル物質を熱分解し、分子量が小さな
物質として、再生処理供給エアーEによってフィルター
3から離脱させ、再生処理排気エアーFとしてフィルタ
ー再生チャンバー6からエアダクト1に排気させる。
【0045】これにより、フィルター再生チャンバー6
内でフィルター3に付着したケミカル物質を分解除去す
ることによりフィルター3を再生し、フィルター3を交
換することなく連続して使用することができる。
【0046】実施の形態4では、フィルター再生チャン
バー6内のケミカル物質分解手段としてヒーターを使用
したが、フィルター3に付着したケミカル物質を分解す
るためのケミカル物質分解手段であればこれに限定され
るものではなく、例えばヒーターに代わってケミカル分
解能力がある紫外線をフィルター3に照射するランプを
設けてもよい。また、これらを内部に設けることに代わ
って、ケミカル分解能力のあるオゾンを再生処理供給エ
アーEに混合して流してもよく、またこれらの手段の組
み合わせであってもよい。
【0047】実施の形態5.図6は、実施の形態5にお
けるケミカルフィルターユニットの構造を示す断面構造
図である。図6において、1は装置、設備等にエアーを
供給するエアダクト、2はエアダクト1に設けられたフ
ィルターハウジング、3はフィルターハウジング2内に
設けられたケミカル物質を除去するフィルターであり、
フィルターハウジング2内部の気流全面に接している。
9はガス注入管、10はガス吸引管、Hはガス注入管9
より注入される試験ガス、Iはガス吸引管より吸引され
るサンプリングエアーである。
【0048】図6に示されるように、フィルターハウジ
ング2の外部からフィルターハウジング2内部のフィル
ター3に対して、フィルターハウジング2の内部エアー
流れの上流側にガス注入管9が設けられている。また、
同様に内部エアー流れの下流側のフィルターハウジング
2内部にガス吸引管10が設けられている。
【0049】また、ガス注入管9には、特定のガスを供
給するガス供給手段(図示せず)がつなげられ、ガス吸
引管10にはエアー中のケミカル物質の濃度を測定する
ケミカル物質濃度測定器(図示せず)がつなげられてい
る。
【0050】このように構成されたフィルターハウジン
グ2では、ガス供給手段よりガス注入管9を通してフィ
ルターハウジング2内のフィルター3のエアー流れ上流
側のケミカル物質含有エアーAに、半導体デバイスへの
影響のない低分子の試験ガスHを供給する。これによ
り、フィルター3のエアー流れ上流側は、高濃度の試験
ガスHとなる。フィルター3のエアー流れ下流側のケミ
カル物質除去エアーBにおいても試験ガスHの濃度は、
ある程度の高濃度となるため、サンプリングガスIをガ
ス吸引管10を通してケミカル濃度測定器へ吸引するこ
とにより、高感度、短時間で、試験ガスHのフィルター
3下流での濃度測定がおこなえる。
【0051】よって、この実施の形態5では、ケミカル
物質含有エアーAの流量をa、注入したケミカルガスの
流量をcとすると、ケミカルフィルター3上流側に注入
した試験ガスHの濃度Cinはc/aとなり、下流側のサ
ンプリングガスIを測定した濃度Coutとを比較するこ
とによりフィルター3での試験ガスHの除去率Cout/
Cinを高感度、短時間で求めることができる。これによ
り、フィルター3のケミカル物質除去性能のチェックを
高感度に、短時間で求めることができる。
【0052】実施の形態6.図7はこの発明の実施の形
態6におけるケミカルフィルターユニットの構造を示す
断面構造図である。実施の形態6は、実施の形態3のケ
ミカルフィルターユニットに実施の形態5で示したガス
注入管、ガス吸引管を付加したものである。
【0053】このフィルターハウジング2内のフィルタ
ー3の交換を行うときは、実施の形態3と同様におこな
う。また、フィルター再生チャンバー6でフィルター3
に吸着したケミカル物質を除去する時は、実施の形態3
と同様に、、ヒーター7等の有機物分解手段を用いて分
解する。
【0054】そして、ケミカル物質を熱分解して分子量
の小さな物質とし、再生処理供給エアーEによりフィル
ター3から離脱させ、再生処理排気エアーFとしてフィ
ルター再生チャンバー6からエアダクト1に排気させ
る。フィルター3を再生する場合の再生処理供給エアー
E、再生処理排気エアーFの流れの方向は、それぞれケ
ミカル物質含有エアーA、ケミカル物質除去エアーBと
は逆の方向に流し、除去再生が行われる。
【0055】また、フィルター再生チャンバー6におい
て、フィルター再生処理前のフィルター3のケミカル物
質除去性能劣化、あるいは再生処理後のフィルター3の
性能回復の度合いを測定するときは、実施の形態5と同
様により、ガス注入管9とガス吸引管10を使用してフ
ィルター除去性能のチェックをおこなうことができる。
【0056】具体的には、ガス供給手段よりガス注入管
9を通して、半導体デバイスへの影響のない低分子の試
験ガスHを供給することにより、フィルター3のエアー
上流側は高濃度の試験ガスHとなる。そして、サンプリ
ングガスIをガス吸引管10を通してケミカル濃度測定
器へ吸引することにより、試験ガスHの濃度測定がフィ
ルター3のエアー下流で高感度、短時間でおこなえる。
この時の再生処理供給エアーE、再生処理排気エアーF
の流れ方向は、それぞれケミカル物質含有エアーA、ケ
ミカル物質除去エアーBと同じ方向に流し、フィルター
除去性能のチャックが行われる。。
【0057】よって実施の形態6においては、フィルタ
ーハウジング2内でケミカル物質含有エアーA中のケミ
カル物質を吸着して、除去性能が劣化した使用済みフィ
ルター3をフィルターハウジング2からのケミカル物質
除去エアーBを止めることなく吸着性能が劣化していな
い未使用のフィルター3を交換することができる。
【0058】また、この実施の形態6においては、除去
性能が劣化したフィルター3を、フィルター再生チャン
バー6内で再生するため、フィルター3を交換すること
なく連続して使用することができる。また、実施の形態
6では、実施の形態5と同様に、フィルター3のケミカ
ル物質の除去率を高感度、短時間で求めることができ
る。
【0059】以上のように実施の形態1から実施の形態
6に記載したケミカルフィルターユニットを用いて、半
導体装置を製造するクリーンルームや製造装置内にケミ
カル物質を除去したエアーを供給する。そして、公知の
一般的な半導体装置の製造技術である成膜技術、転写技
術、加工技術を用いて、ウエハ上にパターンを形成する
ことにより半導体装置を製造する。
【0060】
【発明の効果】以上のようにこの発明によるケミカルフ
ィルターユニットによれば、エアーを導入するエアダク
トと排出するエアダクトの間に設けられ、側面に第1の
開口部とこの側面に対向する側面に第2の開口部とを有
するフィルターハウジングと、フィルターハウジング内
部の気流全面に接している第1のフィルターを保持して
いる第1のフィルターホルダーと、第1のフィルターホ
ルダーに連結され、フィルターハウジング外部に設けら
れた第2のフィルターホルダーとを備え、第2のフィル
ターホルダーに第2のフィルターを取り付け、フィルタ
ーハウジングの第1の開口部から第2の開口部に向かっ
て、第2のフィルターホルダーを移動させることで、フ
ィルターハウジング内部の第1のフィルターホルダーに
保持されている第1のフィルターをフィルターハウジン
グの外部に排出し、第2のフィルターホルダーに保持さ
れている第2のフィルターがフィルターハウジング内部
に挿入されるので、フィルターハウジングを分解するこ
となくフィルターハウジング内のフィルターの交換を容
易におこなえる。
【0061】また、エアーを導入するエアダクトと排出
するエアダクトの間に設けられ、周囲側面に開口部を有
するフィルターハウジングと、フィルターハウジング内
部の気流全面に接している第1のフィルター部を保持し
ている円盤状のフィルターホルダーと、円盤状のフィル
ターホルダー上のフィルターハウジング外部に配置され
た第2のフィルター部と、円盤状のフィルターホルダー
の中心に設けられたフィルターホルダー回転軸とを備
え、円盤状のフィルターホルダーをフィルター回転軸を
回転させることで、フィルターハウジング内部の第1の
フィルター部をフィルターハウジング外部に移動させ、
第2のフィルター部がフィルターハウジング内部に挿入
されるので、フィルターハウジングを分解することなく
フィルターハウジング内のフィルターの交換を容易にお
こなえる。
【0062】さらにまた、エアーを導入するエアダクト
と排出するエアダクトの間に設けられ、側面とこの側面
に対向する側面に開口部を有するフィルターハウジング
と、第1のフィルター部と第2のフィルター部を保持し
て、フィルターハウジングの開口部を貫通してフィルタ
ーハウジング内部を循環するループ式のフィルターホル
ダーと、フィルターホルダーを駆動させるフィルターホ
ルダー回転ローラーとを備え、フィルターホルダー回転
ローラーを駆動することにより、フィルターハウジング
内部の第1のフィルター部をフィルターハウジング外部
に移動させ、第2のフィルター部がフィルターハウジン
グ内部に挿入されるので、フィルターハウジングを分解
することなくフィルターの交換を容易におこなえる。
【0063】また、フィルターハウジング外部に配置さ
れ、フィルターハウジング外部に移動された第1のフィ
ルター部を、フィルターハウジング内部での第1のフィ
ルター部のエアー接触面積より大きいエアー接触面積で
挟み込むフィルター再生チャンバーをさらに備え、フィ
ルター再生チャンバーは、この内部に有機物分解手段を
有しており、第1のフィルター部を有機物分解手段によ
り再生するので、フィルターの交換をおこなうことなく
フィルターを連続使用できる。
【0064】さらにまた、エアーを導入するエアダクト
と排出するエアダクトの間に設けられたフィルターハウ
ジングと、フィルターハウジング内部の気流全面に接し
ているフィルターを保持しているフィルターホルダー
と、フィルターハウジング内部のエアーの上流側に配置
され、ケミカルガスを注入するガス注入管と、フィルタ
ーハウジング内部のエアーの下流側に配置され、ケミカ
ルガスを吸引するガス吸引管とを備えたので、フィルタ
ーハウジング内のフィルターのケミカル物質除去性能の
劣化を容易に判断できる。
【0065】また、フィルター再生チャンバー内部にケ
ミカルガスを注入するガス注入管とケミカルガスを吸引
するガス吸引管とをさらに備えたので、フィルターの交
換を行うことなく連続使用できると同時に、フィルター
ハウジング内のフィルターのケミカル物質除去性能の劣
化も容易に判断できる。
【0066】さらにまた、本発明のケミカルフィルター
ユニットにより、エアー中のケミカル物質を除去したケ
ミカル物質除去エアーを半導体製造装置またはクリーン
ルームに供給する工程と、ケミカル物質除去エアーの雰
囲気下において、半導体装置を製造する工程とを備えた
ので、半導体装置の信頼性の低下を防止することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1におけるケミカルフ
ィルターユニットの構造を示す断面模式図である。
【図2】 この発明の実施の形態2におけるケミカルフ
ィルターユニットの構造を示す模式図である。
【図3】 この発明の実施の形態3におけるケミカルフ
ィルターユニットの構造を示す模式図である。
【図4】 この発明の実施の形態3におけるケミカルフ
ィルターユニットの構造を示す断面模式図である。
【図5】 この発明の実施の形態4におけるケミカルフ
ィルターユニットの構造を示す断面模式図である。
【図6】 この発明の実施の形態5におけるケミカルフ
ィルターユニットの構造を示す断面模式図である。
【図7】 この発明の実施の形態6におけるケミカルフ
ィルターユニットの構造を示す断面模式図である。
【図8】 従来のケミカルフィルターユニットの構造を
示す断面模式図である。
【符号の説明】
1 エアダクト、 2 フィルターハウジング、 3
フィルター、 4 フィルターホルダー、 5 フィル
ターホルダー回転軸、 6 フィルター再生チャンバ
ー、 7 ヒーター、 8 フィルターホルダー回転ロ
ーラー、 9 ガス注入管、 10 ガス吸引管、

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 エアーを導入するエアダクトと排出する
    エアダクトの間に設けられ、側面に第1の開口部とこの
    側面に対向する側面に第2の開口部とを有するフィルタ
    ーハウジングと、 前記フィルターハウジング内部の気流全面に接している
    第1のフィルターを保持している第1のフィルターホル
    ダーと、 前記第1のフィルターホルダーに連結され、前記フィル
    ターハウジング外部に設けられた第2のフィルターホル
    ダーとを備え、 前記第2のフィルターホルダーに第2のフィルターを取
    り付け、前記フィルターハウジングの前記第1の開口部
    から前記第2の開口部に向かって、前記第2のフィルタ
    ーホルダーを移動させることで、前記フィルターハウジ
    ング内部の前記第1のフィルターホルダーに保持されて
    いる第1のフィルターを前記フィルターハウジングの外
    部に排出し、前記第2のフィルターホルダーに保持され
    ている前記第2のフィルターが前記フィルターハウジン
    グ内部に挿入されることを特徴とするケミカルフィルタ
    ーユニット。
  2. 【請求項2】 エアーを導入するエアダクトと排出する
    エアダクトの間に設けられ、周囲側面に開口部を有する
    フィルターハウジングと、 前記フィルターハウジング内部の気流全面に接している
    第1のフィルター部を保持している円盤状のフィルター
    ホルダーと、 前記円盤状のフィルターホルダー上の前記フィルターハ
    ウジング外部に配置された第2のフィルター部と、 前記円盤状のフィルターホルダーの中心に設けられたフ
    ィルターホルダー回転軸とを備え、 前記円盤状のフィルターホルダーを前記フィルター回転
    軸を回転させることで、前記フィルターハウジング内部
    の前記第1のフィルター部を前記フィルターハウジング
    外部に移動させ、前記第2のフィルター部が前記フィル
    ターハウジング内部に挿入されることを特徴とするケミ
    カルフィルターユニット。
  3. 【請求項3】 エアーを導入するエアダクトと排出する
    エアダクトの間に設けられ、側面とこの側面に対向する
    側面に開口部を有するフィルターハウジングと、 第1のフィルター部と第2のフィルター部を保持して、
    前記フィルターハウジングの開口部を貫通して前記フィ
    ルターハウジング内部を循環するループ式のフィルター
    ホルダーと、 前記フィルターホルダーを駆動させるフィルターホルダ
    ー回転ローラーとを備え、 前記フィルターホルダー回転ローラーを駆動することに
    より、前記フィルターハウジング内部の前記第1のフィ
    ルター部を、前記フィルターハウジング外部に移動さ
    せ、前記第2のフィルター部が前記フィルターハウジン
    グ内部に挿入されることを特徴とするケミカルフィルタ
    ーユニット。
  4. 【請求項4】 フィルターハウジング外部に配置され、
    前記フィルターハウジング外部に移動された第1のフィ
    ルター部を、前記フィルターハウジング内部での第1の
    フィルター部のエアー接触面積より大きいエアー接触面
    積で挟み込むフィルター再生チャンバーをさらに備え、 前記フィルター再生チャンバーは、この内部に有機物分
    解手段を有しており、前記第1のフィルター部を前記有
    機物分解手段により再生することを特徴とする請求項2
    または請求項3記載のケミカルフィルターユニット。
  5. 【請求項5】 エアーを導入するエアダクトと排出する
    エアダクトの間に設けられたフィルターハウジングと、 前記フィルターハウジング内部の気流全面に接している
    フィルターを保持しているフィルターホルダーと、 前記フィルターハウジング内部の前記エアーの上流側に
    配置され、ケミカルガスを注入するガス注入管と、 前記フィルターハウジング内部の前記エアーの下流側に
    配置され、ケミカルガスを吸引するガス吸引管とを備え
    た、ケミカルフィルターユニット。
  6. 【請求項6】 フィルター再生チャンバー内部にケミカ
    ルガスを注入するガス注入管とケミカルガスを吸引する
    ガス吸引管とをさらに備えたことを特徴とする請求項4
    記載のケミカルフィルターユニット。
  7. 【請求項7】 請求項1ないし請求項6のいずれか1項
    に記載したケミカルフィルターユニットにより、エアー
    中のケミカル物質を除去したケミカル物質除去エアーを
    半導体製造装置またはクリーンルームに供給する工程
    と、 前記ケミカル物質除去エアーの雰囲気下において、半導
    体装置を製造する工程と、を備えたことを特徴とする半
    導体装置の製造方法。
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