JP2001194784A - Photosensitive polyimide precursor composition - Google Patents

Photosensitive polyimide precursor composition

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JP2001194784A
JP2001194784A JP2000325032A JP2000325032A JP2001194784A JP 2001194784 A JP2001194784 A JP 2001194784A JP 2000325032 A JP2000325032 A JP 2000325032A JP 2000325032 A JP2000325032 A JP 2000325032A JP 2001194784 A JP2001194784 A JP 2001194784A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a photosensitive polyimide precursor composition having good suitability to patterning, giving a cured film excellent in adhesion to a sealing resin and producible in a short producing step without carrying out the reprecipitation of a polymer and to obtain a method for producing the composition. SOLUTION: The photosensitive polyimide precursor composition is obtained by reacting (a) a polymer or oligomer having a structural unit of formula 1 (where R1 is a tri- or tetravalent >=2C organic group; R2 is a divalent >=2C organic group; R3 is H, an alkali metal ion, an ammonium ion or at least one of 1-30C organic groups, 30-100 mol% of R3 is H; and (n) is 1 or 2) with (b) a vinyl ether compound of formula 2 (where R4 is a 1-30C organic group and 50-100 mol% R4 is an organic group containing a photosensitive group).

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体デバイス、
多層配線基板などの電気、電子材料の製造に有用なポリ
イミド前駆体組成物に関するものであり、さらに詳しく
は、良好なパターン加工性を有し、硬化膜の封止樹脂と
の密着性に優れ、ポリマーの沈殿工程を経由せずに、短
い製造工程で製造可能な感光性ポリイミド前駆体組成物
およびその製造方法に関するものである。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a semiconductor device,
It relates to a polyimide precursor composition useful for the production of electric and electronic materials such as a multilayer wiring board, and more specifically, has a good pattern workability, and has excellent adhesion to a sealing resin of a cured film, The present invention relates to a photosensitive polyimide precursor composition that can be produced in a short production step without passing through a polymer precipitation step, and a method for producing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】ポリイミドはその優れた耐熱性、電気特
性、機械特性のため、半導体チップや配線の保護膜、多
層配線基板の層間絶縁膜、ストレスバッファーコートな
どに広く実用化されている。さらに、感光性ポリイミド
については自身がパターン加工性を有するため、通常の
非感光性ポリイミドをレジスト等を用いてパターン加工
する場合と比べて、プロセスの簡略化が可能である。
2. Description of the Related Art Due to its excellent heat resistance, electrical properties and mechanical properties, polyimides have been widely put to practical use in protective films for semiconductor chips and wiring, interlayer insulating films for multilayer wiring boards, stress buffer coats, and the like. Further, since the photosensitive polyimide itself has pattern processability, the process can be simplified as compared with a case where a normal non-photosensitive polyimide is patterned using a resist or the like.

【0003】例えば、特公昭55−41422号公報に
記載されているように、ポリアミド酸の側鎖のカルボキ
シル基にメタクリル酸−2−ヒドロキシエチルといっ
た、光感応基を含んだアルコールを縮合させてエステル
としたポリマーを主成分とした組成物などは、良好なパ
ターン加工性を有し、組成物の保存安定性も良好であ
る。このポリマーを作製するために現在最も一般的に行
われる方法として、酸二無水物とアルコールを反応させ
たのち、得られたジカルボン酸ジエステルとジアミンを
DCCを用いて重合する方法(特開昭60−22853
7号公報)が挙げられる。しかし、この製造方法はポリ
マーの沈殿工程が必要となるため製造工程が長くなる欠
点を有する。また、得られたポリマーについては、硬化
する時に光感応基が容易に脱離せず、封止樹脂との密着
性が悪いといった問題が見られる。
For example, as described in JP-B-55-41422, an ester containing a photosensitive group-containing alcohol such as 2-hydroxyethyl methacrylate is condensed with a carboxyl group on the side chain of a polyamic acid. A composition containing a polymer as a main component has good pattern processability, and also has good storage stability of the composition. The most commonly used method for producing this polymer is to react an acid dianhydride with an alcohol, and then polymerize the resulting dicarboxylic diester and diamine using DCC (Japanese Patent Application Laid-Open No. -22853
No. 7). However, this production method has a disadvantage that the production step is lengthened because a polymer precipitation step is required. In addition, the obtained polymer has a problem that the photosensitive group is not easily detached when cured, and the adhesion to the sealing resin is poor.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】本発明はかかる従来技
術の諸欠点に鑑み創案されたもので、本発明の目的は良
好なパターン加工性を有し、硬化膜の封止樹脂との密着
性に優れ、ポリマーの沈殿工程を経由せずに、短い製造
工程で製造可能な感光性ポリイミド前駆体組成物を提供
することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned drawbacks of the prior art. It is an object of the present invention to have good pattern workability and adhesion of a cured film to a sealing resin. It is an object of the present invention to provide a photosensitive polyimide precursor composition which is excellent in the above process and can be produced in a short production step without going through a polymer precipitation step.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明はすなわち、
(a)一般式(1)で表される構造単位を有するポリマ
ーないしはオリゴマーと、(b)一般式(2)で表され
るビニルエーテル化合物を反応させて得ることを特徴と
する感光性ポリイミド前駆体組成物である。
The present invention provides:
(A) a photosensitive polyimide precursor obtained by reacting a polymer or oligomer having a structural unit represented by the general formula (1) with (b) a vinyl ether compound represented by the general formula (2) A composition.

【0006】[0006]

【化4】 Embedded image

【0007】(R1は少なくとも2個以上の炭素原子を
有する3価または4価の有機基を表し、R2は少なくと
も2個以上の炭素原子を有する2価の有機基を表す。R
3は水素、アルカリ金属イオン、アンモニウムイオン、
または、炭素数1〜30の有機基より選ばれた少なくと
も1種を表し、うち30〜100モル%は水素からな
る。nは1または2を表す。)
(R 1 represents a trivalent or tetravalent organic group having at least two or more carbon atoms, and R 2 represents a divalent organic group having at least two or more carbon atoms.
3 is hydrogen, alkali metal ion, ammonium ion,
Alternatively, it represents at least one selected from organic groups having 1 to 30 carbon atoms, of which 30 to 100 mol% is composed of hydrogen. n represents 1 or 2. )

【0008】[0008]

【化5】 Embedded image

【0009】(R4は炭素数1〜30の有機基を表し、
うち50〜100モル%は光感応性基を含んだ有機基を
表す。)
(R 4 represents an organic group having 1 to 30 carbon atoms,
Of these, 50 to 100 mol% represents an organic group containing a photosensitive group. )

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】本発明は、ポリアミド酸の側鎖カ
ルボキシル基に光感応基を含んだビニルエーテル化合物
を反応させてエステルとすることによって得た感光性ポ
リイミド前駆体組成物である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention is a photosensitive polyimide precursor composition obtained by reacting a vinyl ether compound containing a photosensitive group with a side chain carboxyl group of a polyamic acid to form an ester.

【0011】本発明におけるポリイミド前駆体組成物と
は、ポリマー溶液状態のものであってもよいし、また、
基材に塗布、乾燥後の被膜の状態のものであっても良
い。
The polyimide precursor composition in the present invention may be in a polymer solution state,
It may be in the form of a film after being applied to a substrate and dried.

【0012】本発明のポリイミド前駆体は一般式(1)
で表される構造単位を有し、加熱あるいは適当な触媒に
よりイミド環や、その他環状構造を有するポリマー(以
後、「ポリイミド系ポリマー」と呼ぶ)となり得るもの
をあげることができる。
The polyimide precursor of the present invention has the general formula (1)
And a polymer (hereinafter, referred to as a "polyimide polymer") having an imide ring or other cyclic structure by heating or using a suitable catalyst.

【0013】上記一般式(1)中、R1は少なくとも2
個以上の炭素原子を有する3価または4価の有機基であ
り、ポリイミド系ポリマーの耐熱性から、芳香族環また
は芳香族複素環を含有し、かつ炭素数6〜30の4価の
基が好ましい。R1の好ましい具体的な例としては、
3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸、
3,3’,4,4’−ジフェニルエーテルテトラカルボ
ン酸、3,3’,4,4’−ジフェニルヘキサフルオロ
プロパンテトラカルボン酸、3,3’,4,4’−ベン
ゾフェノンテトラカルボン酸、3,3’,4,4’−ジ
フェニルスルホンテトラカルボン酸、ピロメリット酸、
ブタンテトラカルボン酸、シクロペンタンテトラカルボ
ン酸などの残基が挙げられるが、これらに限定されな
い。ポリイミド系ポリマーの耐熱性の点から、特に好ま
しい具体例としては、3,3’,4,4’−ビフェニル
テトラカルボン酸、3,3’,4,4’−ジフェニルエ
ーテルテトラカルボン酸、3,3’,4,4’−ジフェ
ニルヘキサフルオロプロパンテトラカルボン酸、3,
3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸、
3,3’,4,4’−ジフェニルスルホンテトラカルボ
ン酸、ピロメリット酸、などの残基が挙げられる。
In the general formula (1), R 1 is at least 2
A trivalent or tetravalent organic group having at least two carbon atoms, and from the heat resistance of the polyimide polymer, a tetravalent group containing an aromatic ring or an aromatic heterocyclic ring and having 6 to 30 carbon atoms. preferable. Preferred specific examples of R 1 include:
3,3 ′, 4,4′-biphenyltetracarboxylic acid,
3,3 ′, 4,4′-diphenylethertetracarboxylic acid, 3,3 ′, 4,4′-diphenylhexafluoropropanetetracarboxylic acid, 3,3 ′, 4,4′-benzophenonetetracarboxylic acid, 3, 3 ′, 4,4′-diphenylsulfonetetracarboxylic acid, pyromellitic acid,
Examples include, but are not limited to, residues such as butanetetracarboxylic acid and cyclopentanetetracarboxylic acid. From the viewpoint of the heat resistance of the polyimide polymer, particularly preferred specific examples include 3,3 ′, 4,4′-biphenyltetracarboxylic acid, 3,3 ′, 4,4′-diphenylethertetracarboxylic acid, and 3,3 ', 4,4'-diphenylhexafluoropropanetetracarboxylic acid, 3,
3 ′, 4,4′-benzophenonetetracarboxylic acid,
Residues such as 3,3 ′, 4,4′-diphenylsulfonetetracarboxylic acid and pyromellitic acid are exemplified.

【0014】本発明におけるポリイミド前駆体は、R1
が1種であっても良いし、2種以上から構成される共重
合体であっても構わない。
In the present invention, the polyimide precursor is R 1
May be one type or a copolymer composed of two or more types.

【0015】上記一般式(1)中、R2は少なくとも2
個以上の炭素原子を有する2価の有機基である。ポリイ
ミド系ポリマーの耐熱性の点から、R2は芳香族環また
は芳香族複素環を含有し、かつ炭素数6〜30の2価の
基が好ましい。R2の好ましい具体的な例としては、パ
ラフェニレンジアミン、メタフェニレンジアミン、メチ
ルパラフェニレンジアミン、メチルメタフェニレンジア
ミン、ジメチルパラフェニレンジアミン、ジメチルメタ
フェニレンジアミン、トリメチルパラフェニレンジアミ
ン、トリメチルメタフェニレンジアミン、テトラメチル
パラフェニレンジアミン、テトラメチルメタフェニレン
ジアミン、トリフルオロメチルパラフェニレンジアミ
ン、トリフルオロメチルメタフェニレンジアミン、ビス
(トリフルオロメチル)パラフェニレンジアミン、ビス
(トリフルオロメチル)メタフェニレンジアミン、メト
キシパラフェニレンジアミン、メトキシメタフェニレン
ジアミン、トリフルオロメトキシパラフェニレンジアミ
ン、トリフルオロメトキシメタフェニレンジアミン、フ
ルオロパラフェニレンジアミン、フルオロメタフェニレ
ンジアミン、クロロパラフェニレンジアミン、クロロメ
タフェニレンジアミン、ブロモパラフェニレンジアミ
ン、ブロモメタフェニレンジアミン、カルボキシパラフ
ェニレンジアミン、カルボキシメタフェニレンジアミ
ン、メトキシカルボニルパラフェニレンジアミン、メト
キシカルボニルメタフェニレンジアミン、ジアミノジフ
ェニルメタン、ビス(アミノメチルフェニル)メタン、
ビス(アミノトリフルオロメチルフェニル)メタン、ビ
ス(アミノエチルフェニル)メタン、ビス(アミノクロ
ロフェニル)メタン、ビス(アミノジメチルフェニル)
メタン、ビス(アミノジエチルフェニル)メタン、ジア
ミノジフェニルプロパン、ビス(アミノメチルフェニ
ル)プロパン、ビス(アミノトリフルオロメチルフェニ
ル)プロパン、ビス(アミノエチルフェニル)プロパ
ン、ビス(アミノクロロフェニル)プロパン、ビス(ア
ミノジメチルフェニル)プロパン、ビス(アミノジエチ
ルフェニル)プロパン、ジアミノジフェニルヘキサフル
オロプロパン、ビス(アミノメチルフェニル)ヘキサフ
ルオロプロパン、ビス(アミノトリフルオロメチルフェ
ニル)ヘキサフルオロプロパン、ビス(アミノエチルフ
ェニル)ヘキサフルオロプロパン、ビス(アミノクロロ
フェニル)ヘキサフルオロプロパン、ビス(アミノジメ
チルフェニル)ヘキサフルオロプロパン、ビス(アミノ
ジエチルフェニル)ヘキサフルオロプロパン、ジアミノ
ジフェニルスルホン、ビス(アミノメチルフェニル)ス
ルホン、ビス(アミノエチルフェニル)スルホン、ビス
(アミノトリフルオロメチルフェニル)スルホン、ビス
(アミノジメチルフェニル)スルホン、ビス(アミノジ
エチルフェニル)スルホン、ジアミノジフェニルエーテ
ル、ビス(アミノメチルフェニル)エーテル、ビス(ア
ミノトリフルオロメチルフェニル)エーテル、ビス(ア
ミノエチルフェニル)エーテル、ビス(アミノジメチル
フェニル)エーテル、ビス(アミノジエチルフェニル)
エーテル、ジメチルベンジジン、ビス(トリフルオロメ
チル)ベンジジン、ジクロロベンジジン、ビス(アミノ
フェノキシ)ベンゼン、ビス(アミノフェノキシフェニ
ル)プロパン、ビス(アミノフェノキシフェニル)ヘキ
サフルオロプロパン、ビス(アミノフェノキシフェニ
ル)エーテル、ビス(アミノフェノキシフェニル)メタ
ン、ビス(アミノフェノキシフェニル)スルホン、3,
5−ジアミノ安息香酸メタクロイルエチルエステル、
3,5−ジアミノ安息香酸アクロイルエチルエステル、
2,4−ジアミノ安息香酸メタクロイルエチルエステ
ル、2,4−ジアミノ安息香酸アクロイルエチルエステ
ルなどの残基及びその水添化合物の残基などが挙げられ
るが、これらに限定されない。
In the above general formula (1), R 2 is at least 2
It is a divalent organic group having at least two carbon atoms. In view of the heat resistance of the polyimide polymer, R 2 is preferably a divalent group containing an aromatic ring or an aromatic heterocyclic ring and having 6 to 30 carbon atoms. Preferred specific examples of R 2 include paraphenylenediamine, metaphenylenediamine, methylparaphenylenediamine, methylmetaphenylenediamine, dimethylparaphenylenediamine, dimethylmetaphenylenediamine, trimethylparaphenylenediamine, trimethylmetaphenylenediamine, and tetramethyldiphenylenediamine. Methyl paraphenylenediamine, tetramethyl metaphenylenediamine, trifluoromethyl paraphenylenediamine, trifluoromethyl metaphenylenediamine, bis (trifluoromethyl) paraphenylenediamine, bis (trifluoromethyl) metaphenylenediamine, methoxyparaphenylenediamine, Methoxymetaphenylenediamine, trifluoromethoxyparaphenylenediamine, trifluoromethoxymetaphe Diamine, fluoroparaphenylenediamine, fluorometaphenylenediamine, chloroparaphenylenediamine, chlorometaphenylenediamine, bromoparaphenylenediamine, bromometaphenylenediamine, carboxyparaphenylenediamine, carboxymetaphenylenediamine, methoxycarbonylparaphenylenediamine, methoxy Carbonyl metaphenylenediamine, diaminodiphenylmethane, bis (aminomethylphenyl) methane,
Bis (aminotrifluoromethylphenyl) methane, bis (aminoethylphenyl) methane, bis (aminochlorophenyl) methane, bis (aminodimethylphenyl)
Methane, bis (aminodiethylphenyl) methane, diaminodiphenylpropane, bis (aminomethylphenyl) propane, bis (aminotrifluoromethylphenyl) propane, bis (aminoethylphenyl) propane, bis (aminochlorophenyl) propane, bis (amino Dimethylphenyl) propane, bis (aminodiethylphenyl) propane, diaminodiphenylhexafluoropropane, bis (aminomethylphenyl) hexafluoropropane, bis (aminotrifluoromethylphenyl) hexafluoropropane, bis (aminoethylphenyl) hexafluoropropane Bis (aminochlorophenyl) hexafluoropropane, bis (aminodimethylphenyl) hexafluoropropane, bis (aminodiethylphenyl) Safluoropropane, diaminodiphenylsulfone, bis (aminomethylphenyl) sulfone, bis (aminoethylphenyl) sulfone, bis (aminotrifluoromethylphenyl) sulfone, bis (aminodimethylphenyl) sulfone, bis (aminodiethylphenyl) sulfone, Diaminodiphenyl ether, bis (aminomethylphenyl) ether, bis (aminotrifluoromethylphenyl) ether, bis (aminoethylphenyl) ether, bis (aminodimethylphenyl) ether, bis (aminodiethylphenyl)
Ether, dimethylbenzidine, bis (trifluoromethyl) benzidine, dichlorobenzidine, bis (aminophenoxy) benzene, bis (aminophenoxyphenyl) propane, bis (aminophenoxyphenyl) hexafluoropropane, bis (aminophenoxyphenyl) ether, bis (Aminophenoxyphenyl) methane, bis (aminophenoxyphenyl) sulfone, 3,
5-diaminobenzoic acid methacryloyl ethyl ester,
3,5-diaminobenzoic acid acroyl ethyl ester,
Examples include, but are not limited to, residues such as 2,4-diaminobenzoic acid methacryloyl ethyl ester and 2,4-diaminobenzoic acid acroyl ethyl ester, and residues of hydrogenated compounds thereof.

【0016】本発明におけるポリイミド前駆体は、R2
がこれらのうち1種から構成されていても良いし、2種
以上から構成される共重合体であっても構わない。
The polyimide precursor according to the present invention comprises R 2
May be composed of one of these, or may be a copolymer composed of two or more.

【0017】さらに、ポリイミド系ポリマーの接着性を
向上させるため、耐熱性を低下させない範囲でR2とし
て、シロキサン結合を有する脂肪族性の基を共重合する
ことも可能である。好ましい具体例としては、ビス(3
−アミノプロピル)テトラメチルジシロキサンなどが挙
げられるが、これに限定されない。
Further, in order to improve the adhesiveness of the polyimide-based polymer, it is possible to copolymerize an aliphatic group having a siloxane bond as R 2 as long as the heat resistance is not reduced. A preferred specific example is bis (3
-Aminopropyl) tetramethyldisiloxane and the like, but are not limited thereto.

【0018】上記一般式(1)中、R3は水素、アルカ
リ金属イオン、アンモニウムイオン、または、炭素数1
〜30の有機基より選ばれた少なくとも1種の構造を表
し、うち30〜100モル%は水素からなる。炭素数1
〜30の有機基としては脂肪族有機基が好ましく、含有
される有機基としては、炭化水素基、水酸基、カルボニ
ル基、カルボキシル基、ウレタン基、ウレア基、アミド
基などが挙げられるがこれらに限定されない。好ましい
具体例としては、メチル基、エチル基、イソプロピル
基、ブチル基、t−ブチル基などが挙げられるがこれら
に限定されない。R3の50〜100モル%が水素であ
ることがより好ましく、80〜100モル%であること
がさらに好ましい。水素の割合が増えるほど一般式
(2)で表されたビニルエーテル化合物との反応点も増
えるので、組成物のパターン加工性能が向上するという
利点がある。また上記R3はそれぞれ単独種であっても
よいし、2種以上の混合であってもよい。
In the general formula (1), R 3 is hydrogen, an alkali metal ion, an ammonium ion, or a compound having 1 carbon atom.
Represents at least one kind of structure selected from organic groups of 30 to 30, in which 30 to 100 mol% is composed of hydrogen. Carbon number 1
As the organic group of ~ 30, an aliphatic organic group is preferable, and the organic group to be contained includes, but is not limited to, a hydrocarbon group, a hydroxyl group, a carbonyl group, a carboxyl group, a urethane group, a urea group and an amide group. Not done. Preferred specific examples include, but are not limited to, methyl, ethyl, isopropyl, butyl, t-butyl and the like. More preferably, 50 to 100 mol% of R 3 is hydrogen, and even more preferably, 80 to 100 mol%. As the proportion of hydrogen increases, the number of reaction points with the vinyl ether compound represented by the general formula (2) also increases, so that there is an advantage that the pattern processing performance of the composition is improved. R 3 may be a single species or a mixture of two or more species.

【0019】本発明におけるポリイミド前駆体は、一般
式(1)で表される構造単位のみから成るものであって
も良いし、他の構造単位との共重合体あるいはブレンド
体であっても良い。その際、一般式(1)で表される構
造単位を80%以上含有していることが好ましい。共重
合またはブレンドに用いられる構造単位の種類、量は最
終加熱処理によって得られるポリイミド系ポリマーの耐
熱性を著しく損なわない範囲で選択するのが好ましい。
The polyimide precursor in the present invention may be composed of only the structural unit represented by the general formula (1), or may be a copolymer or a blend with another structural unit. . At that time, it is preferable that the content of the structural unit represented by the general formula (1) is 80% or more. The type and amount of the structural unit used for copolymerization or blending are preferably selected within a range that does not significantly impair the heat resistance of the polyimide-based polymer obtained by the final heat treatment.

【0020】これらのポリイミド前駆体は種々の公知の
方法によって合成されるが、特にR 3が水素である場合
はテトラカルボン酸二無水物とジアミンとのアシル化反
応によって合成することが好ましい方法といえる。酸二
無水物とジイソシアナートとの反応でも合成できるが、
ポリマーのイミド化率の上昇を招く恐れがあるので注意
が必要である。そのときに使用する重合溶媒としては、
N−メチル−2−ピロリドン、N,N−ジメチルアセト
アミド、N,N−ジメチルホルムアミド、ジメチルスル
ホキシド、ヘキサメチルホスホロトリアミドなどを主成
分とする極性溶媒や、γ−ブチロラクトンを主成分とす
る溶媒などが好ましく用いられる。
These polyimide precursors can be any of various known
Synthesized by the method ThreeIs hydrogen
Is the acylation reaction between tetracarboxylic dianhydride and diamine.
It can be said that it is preferable to synthesize by reaction. Acid two
It can also be synthesized by the reaction of anhydride and diisocyanate,
Be careful as this may lead to an increase in the imidization rate of the polymer
is necessary. As the polymerization solvent used at that time,
N-methyl-2-pyrrolidone, N, N-dimethylaceto
Amide, N, N-dimethylformamide, dimethyl sulf
Mainly composed of foxide, hexamethyl phosphorotriamide, etc.
Polar solvent or γ-butyrolactone as a main component.
Solvents and the like are preferably used.

【0021】上記一般式(2)中R4は炭素数1〜30
の有機基を表し、うち50〜100モル%は光感応性基
を含んだ有機基を表す。好ましくは70〜100モル%
であり最も好ましくは85〜100モル%である。光感
応性基の濃度が増すほどパターン加工性の向上に好まし
いと言える。炭素数1〜30の有機基としては脂肪族有
機基が好ましく、含有される有機基としては、炭化水素
基、水酸基、カルボニル基、カルボキシル基、ウレタン
基、ウレア基、アミド基などが挙げられるがこれらに限
定されない。好ましい一般式(2)の具体例としては下
記構造式で表されるものなどが挙げられるがこれらに限
定されない。
In the above general formula (2), R 4 has 1 to 30 carbon atoms.
Of which 50 to 100 mol% represents an organic group containing a photosensitive group. Preferably 70 to 100 mol%
And most preferably 85 to 100 mol%. It can be said that the higher the concentration of the photosensitive group, the better the improvement in pattern processability. As the organic group having 1 to 30 carbon atoms, an aliphatic organic group is preferable, and examples of the contained organic group include a hydrocarbon group, a hydroxyl group, a carbonyl group, a carboxyl group, a urethane group, a urea group, and an amide group. It is not limited to these. Specific examples of preferred general formula (2) include, but are not limited to, those represented by the following structural formulas.

【0022】[0022]

【化6】 Embedded image

【0023】一般式(2)で表されたビニルエーテル化
合物は一般式(1)で表されるポリマーないしはオリゴ
マーが生成した後に加えて反応させるのが好ましい方法
であるといえる。加える量として好ましい量とは、一般
式(1)の構造単位に対して20〜500モル%、さら
に好ましい量としては40〜400モル%、最も好まし
い量としては100〜300モル%である。この量より
多いと、硬化後のポリイミド膜の機械物性の低下を招
き、この量より少ないと十分なパターン加工性能が得ら
れないので注意を要する。
It can be said that the vinyl ether compound represented by the general formula (2) is preferably added and reacted after the formation of the polymer or oligomer represented by the general formula (1). The preferred amount to be added is 20 to 500 mol%, more preferably 40 to 400 mol%, and most preferably 100 to 300 mol%, based on the structural unit of the general formula (1). If the amount is larger than this amount, the mechanical properties of the cured polyimide film will be reduced. If the amount is smaller than this amount, sufficient pattern processing performance cannot be obtained, so care must be taken.

【0024】一般式(1)で表された化合物と一般式
(2)で表されたビニルエーテル化合物とを溶液中で反
応させる場合、反応時の温度は0〜70℃、より好まし
くは10〜60℃、最も好ましくは20〜50℃であ
る。この範囲より高いと、光感応性基の変性が起こり、
この範囲より小さいと、反応が十分に進行しないので注
意が必要である。反応時間は反応温度によって、1時間
〜240時間の間で選択されるのが好ましい。また、必
ずしも溶液中で反応させる必要はなく、溶液を基材に塗
布して露光前に乾燥する際の乾燥温度や乾燥時間を適正
にすることで製膜工程中に反応させる、ないしは、溶液
中である程度起こった反応をさらに進行させることもで
きる。この乾燥温度の好ましい範囲としては40〜15
0℃、好ましい時間としては1分〜数時間であるが、特
に限定されない。
When the compound represented by the general formula (1) and the vinyl ether compound represented by the general formula (2) are reacted in a solution, the reaction temperature is 0 to 70 ° C., preferably 10 to 60 ° C. ° C, most preferably from 20 to 50 ° C. Above this range, modification of the photosensitive group occurs,
Care must be taken when the ratio is smaller than this range, since the reaction does not proceed sufficiently. The reaction time is preferably selected from 1 hour to 240 hours depending on the reaction temperature. Further, the reaction is not necessarily required to be performed in the solution, and the solution is reacted during the film forming process by adjusting the drying temperature and the drying time when the solution is applied to the substrate and dried before exposure, or in the solution. The reaction which has occurred to some extent can further proceed. The preferable range of the drying temperature is 40 to 15
0 ° C., the preferable time is 1 minute to several hours, but is not particularly limited.

【0025】また、溶液中あるいは製膜工程中における
エステル化反応を速めるために、酸触媒を組成物中に加
えることが好ましい。具体的な例としては、リン酸、トル
エンスルホン酸、トルエンスルホン酸ピリジン塩などが挙げら
れるが、これらに限定されない。
It is preferable to add an acid catalyst to the composition in order to accelerate the esterification reaction in the solution or during the film forming process. Specific examples include, but are not limited to, phosphoric acid, toluenesulfonic acid, and toluenesulfonic acid pyridine salt.

【0026】酸触媒の添加量として好ましい範囲はポリ
マー重量に対して1ppm〜10000ppm、より好
ましくは10〜1000ppmである。この範囲より多
いと、ポリマーの分解を伴い、この範囲より小さいと触
媒の効果がないので注意を要する。
The preferred range of the acid catalyst is 1 ppm to 10000 ppm, more preferably 10 ppm to 1000 ppm, based on the weight of the polymer. If the amount is larger than the above range, the polymer is decomposed.

【0027】さらに現像後の膜厚保持率、パターン解像
度を向上させる点から、感光性ポリイミド前駆体組成物
は一般式(3)で表されるアミン化合物を含んでいても
良い。一般式(3)のR5、R6、R7は炭素数1〜30
の有機基であり、うち、少なくとも1つは光感応性基を
含む有機基である。炭素数1〜30の有機基としては脂
肪族有機基が好ましく、含有される有機基としては、炭
化水素基、水酸基、カルボニル基、カルボキシル基、ウ
レタン基、ウレア基、アミド基などが挙げられるがこれ
らに限定されない。このときの含有量は一般式(1)の
構造単位に対して20〜200モル%であることが好ま
しい。この範囲より小さいと現像後の膜厚保持率の低下
を招き、この範囲を越えると解像度の低下、加熱硬化後
のポリイミド膜の伸度低下を招くので注意を要する。よ
り好ましくは30〜150モル%の範囲にあり、さらに
好ましくは40〜100モル%の範囲にあることであ
る。一般式(3)の好ましい具体例としては、アクリル
酸ジメチルアミノエチル、アクリル酸ジエチルアミノエ
チル、メタクリル酸ジメチルアミノエチル、メタクリル
酸ジエチルアミノエチル、メタクリル酸ジメチルアミノ
プロピル、メタクリル酸ジメチルアミノブチル、メタク
リル酸ジメチルアミノヘキシル、N−(2−ジメチルア
ミノエチル)メタクリルアミド、N−(3−ジメチルア
ミノプロピル)メタクリルアミド、N−(2−ジエチル
アミノエチル)メタクリルアミド、N−(3−ジエチル
アミノプロピル)アクリルアミド、N−(2−ジメチル
アミノエチル)アクリルアミド、N−(3−ジメチルア
ミノプロピル)アクリルアミド、N−(2−ジエチルア
ミノエチル)アクリルアミド、N−(3−ジエチルアミ
ノプロピル)アクリルアミド、アクリロイルモルホリ
ン、メタクリロイルモルホリン、アクリロイルピペリジ
ン、メタクリロイルピペリジン、アリルアミン、ジアリ
ルアミン、トリアリルアミン、メタリルアミン、ビニル
ピリジン、メタクリル酸エチルトリメチルアンモニウム
塩、メタクリル酸−2−ヒドロキシプロピルトリメチル
アンモニウム塩、パラ(またはメタ)アジド安息香酸ジ
メチルアミノエチルエステル、パラ(またはメタ)アジ
ド安息香酸ジエチルアミノエチルエステル、パラ(また
はメタ)アジド安息香酸ジメチルアミノプロピルエステ
ル、パラ(またはメタ)アジド安息香酸ジエチルアミノ
プロピルエステル、パラ(またはメタ)アジドスルホニ
ル安息香酸ジメチルアミノエチルエステル、パラ(また
はメタ)アジドスルホニル安息香酸ジエチルアミノエチ
ルエステル、パラ(またはメタ)アジドスルホニル安息
香酸ジメチルアミノプロピルエステル、パラ(またはメ
タ)アジドスルホニル安息香酸ジエチルアミノプロピル
エステルに示される化合物などが挙げられるが、これら
に限定されない。上記添加化合物は単独種であっても良
いし、2種以上の混合であっても良い。
Further, from the viewpoint of improving the film thickness retention after development and the pattern resolution, the photosensitive polyimide precursor composition may contain an amine compound represented by the general formula (3). R 5 , R 6 and R 7 in the general formula (3) have 1 to 30 carbon atoms.
Of which at least one is an organic group containing a photosensitive group. As the organic group having 1 to 30 carbon atoms, an aliphatic organic group is preferable, and examples of the contained organic group include a hydrocarbon group, a hydroxyl group, a carbonyl group, a carboxyl group, a urethane group, a urea group, and an amide group. It is not limited to these. The content at this time is preferably from 20 to 200 mol% based on the structural unit of the general formula (1). If the ratio is smaller than this range, the film thickness retention after development is reduced. If the ratio is beyond this range, the resolution is lowered and the elongation of the polyimide film after heat curing is lowered. It is more preferably in the range of 30 to 150 mol%, and still more preferably in the range of 40 to 100 mol%. Preferred specific examples of the general formula (3) include dimethylaminoethyl acrylate, diethylaminoethyl acrylate, dimethylaminoethyl methacrylate, diethylaminoethyl methacrylate, dimethylaminopropyl methacrylate, dimethylaminobutyl methacrylate, dimethylamino methacrylate Hexyl, N- (2-dimethylaminoethyl) methacrylamide, N- (3-dimethylaminopropyl) methacrylamide, N- (2-diethylaminoethyl) methacrylamide, N- (3-diethylaminopropyl) acrylamide, N- ( 2-dimethylaminoethyl) acrylamide, N- (3-dimethylaminopropyl) acrylamide, N- (2-diethylaminoethyl) acrylamide, N- (3-diethylaminopropyl) acryl Mido, acryloylmorpholine, methacryloylmorpholine, acryloylpiperidine, methacryloylpiperidine, allylamine, diallylamine, triallylamine, methallylamine, vinylpyridine, ethyltrimethylammonium methacrylate, 2-hydroxypropyltrimethylammonium methacrylate, para (or meth) azide Dimethylaminoethyl benzoate, diethylaminoethyl para (or meta) azidobenzoate, dimethylaminopropyl para (or meta) azidobenzoate, diethylaminopropyl para (or meta) azidobenzoate, para (or meta) azide Sulfonylbenzoic acid dimethylaminoethyl ester, para (or meta) azidosulfonylbenzoic acid diethyl Aminoethyl ester, para (or meta) Ajidosuruhoniru acid dimethylaminopropyl ester, para (or meta) but such Ajidosuruhoniru compound represented benzoic acid diethylaminopropyl ester include, but are not limited to. The additive compound may be a single compound or a mixture of two or more compounds.

【0028】さらに、本発明の組成物をアルカリ現像用
として使用する場合、アルカリ現像液でのパターン加工
性能を向上させるために、厚さ10μmのプリベーク膜
におけるポリマーのカルボキシル基濃度が構造単位に対
して10〜150モル%であることが好ましい。この範
囲より小さいとアルカリ現像液への溶解性がほとんどな
く、この範囲より大きいと現像時の膜べりが大きくなる
ので注意が必要である。またより好ましくは20〜14
0モル%であり、最も好ましくは30〜130モル%で
ある。
Further, when the composition of the present invention is used for alkali development, the carboxyl group concentration of the polymer in the prebaked film having a thickness of 10 μm is based on the structural unit in order to improve the pattern processing performance with an alkali developer. It is preferably 10 to 150 mol%. If the ratio is smaller than this range, there is almost no solubility in an alkali developing solution, and if the ratio is larger than this range, the film loss at the time of development increases. Also more preferably, 20 to 14
0 mol%, most preferably 30 to 130 mol%.

【0029】本発明における「厚さ10μmのプリベー
ク膜」とは、基材に組成物ワニスを塗布後、ホットプレ
ートを用いて80℃で3分熱処理した被膜と定義する。
The term “prebaked film having a thickness of 10 μm” in the present invention is defined as a film obtained by applying a composition varnish to a substrate and heat-treating it at 80 ° C. for 3 minutes using a hot plate.

【0030】さらに、アルカリ現像液でのパターン加工
性能を向上させるために、厚さ10μmのプリベーク膜
におけるポリマーのイミド化率が0〜0.4であること
が好ましい。この範囲より大きいと、組成物のアルカリ
現像液への溶解性が著しく低下してパターンが形成され
ない恐れがあるので注意が必要である。またより好まし
くは0〜0.3であり、最も好ましくは0〜0.2であ
る。
Further, in order to improve the pattern processing performance with an alkali developer, the imidation ratio of the polymer in the prebaked film having a thickness of 10 μm is preferably 0 to 0.4. If the ratio is larger than this range, care must be taken because the solubility of the composition in an alkali developing solution is significantly reduced and a pattern may not be formed. More preferably, it is 0 to 0.3, and most preferably 0 to 0.2.

【0031】以下、イミド化率Ia、カルボキシル基濃
度Caの求め方について述べる。カルボキシル基濃度C
aの測定は、まず、試料ワニスをスピンコート法により
シリコンウェハー上に塗布し、ホットプレートを用いて
80℃で3分熱処理して厚さ10μmのプリベーク膜を
作製する。この膜を核磁気共鳴スペクトル(NMR)測
定用溶媒(ジメチル−d6 スルホキシド)に溶解させ
る。この溶液について1H−NMRの測定を行い、ポリ
アミド酸のカルボキシル基の水素、及び、ポリアミド酸
の芳香族炭素に結合した水素に相当するピークについて
1Hの積分値を算出する。両者の積分値をそれぞれC
1、C2、また測定に用いたポリアミド酸の構造単位当
たりにおける芳香族炭素に結合した水素の数をMとする
とカルボキシル基濃度Ca(モル%)を表す式は、Ca
=(M×C1/C2)×100となる。
Hereinafter, a method for obtaining the imidation ratio Ia and the carboxyl group concentration Ca will be described. Carboxyl group concentration C
In the measurement of a, first, a sample varnish is applied on a silicon wafer by a spin coating method, and heat-treated at 80 ° C. for 3 minutes using a hot plate to form a prebaked film having a thickness of 10 μm. This film is dissolved in a solvent for nuclear magnetic resonance spectrum (NMR) measurement (dimethyl-d6 sulfoxide). The solution was subjected to 1 H-NMR measurement to determine the peaks corresponding to the hydrogen of the carboxyl group of the polyamic acid and the hydrogen bonded to the aromatic carbon of the polyamic acid.
Calculating an integral value of 1 H. Let the integral of both be C
Assuming that the number of hydrogens bonded to aromatic carbons per structural unit of polyamic acid used in the measurement is 1, M, and C, the carboxyl group concentration Ca (mol%) is represented by Ca
= (M × C1 / C2) × 100.

【0032】イミド化率Iaの値は、透過赤外スペクト
ル(IR)測定によって、試料となるポリイミド前駆体
組成物(以下試料ワニスと称する)のイミド基に起因す
る波数における吸光度を求め、これより算出する。吸光
度測定に用いるイミド基に起因する振動波数としては、
通常、1750〜1800cm-1または1350〜14
00cm-1の波数を用い、イミド基の吸光度の算出を行
う。以下、算出法の詳細について述べる。
The value of the imidation ratio Ia is determined by measuring the absorbance at a wave number due to an imide group of a polyimide precursor composition (hereinafter, referred to as a sample varnish) as a sample by transmission infrared spectrum (IR) measurement. calculate. As the vibration wave number due to the imide group used for the absorbance measurement,
Usually 1750-1800 cm -1 or 1350-14
Using the wave number of 00 cm −1 , the absorbance of the imide group is calculated. Hereinafter, details of the calculation method will be described.

【0033】まず、試料ワニスをスピンコート法により
シリコンウェハー上に塗布する。ついで、80℃で3分
ベークして厚さ10μmのプリベーク膜とし、IR測定
により、イミド基の吸光度Iを求める。次に、この膜を
オーブンにて窒素気流下350℃で2時間熱処理(キュ
ア)してイミド化を100%進行させる。この、100
%イミド化させた試料についてIR測定を行い、イミド
基に起因する波数の吸光度I1を求める。
First, a sample varnish is applied on a silicon wafer by a spin coating method. Next, the film is baked at 80 ° C. for 3 minutes to form a prebaked film having a thickness of 10 μm, and the absorbance I of the imide group is determined by IR measurement. Next, the film is heat-treated (cured) at 350 ° C. for 2 hours in a nitrogen stream in an oven to allow imidization to proceed by 100%. This, 100
% For imidized allowed samples subjected to IR measurement, determine the absorbance I 1 wavenumber due to imide groups.

【0034】このときの、イミド基の吸光度Iとイミド
化率Iaの関係を示す式は、Ia=I/I1となる。
At this time, the equation showing the relationship between the absorbance I of the imide group and the imidization ratio Ia is Ia = I / I 1 .

【0035】イミド基に起因するピークについての吸光
度の測定は、図1のように、求めるピークの両端を結ん
で補助線を引き、ピークの頂点からIRスペクトルの横
軸に垂直に降ろした線との交点を求め、その交点とピー
クの頂点との長さXを吸光度とする。
As shown in FIG. 1, the absorbance of a peak due to an imide group was measured by drawing an auxiliary line connecting both ends of the peak to be obtained and a line perpendicular to the horizontal axis of the IR spectrum from the peak apex. And the length X between the intersection and the peak apex is defined as the absorbance.

【0036】現像後のパターンにおいてさらに高い感
度、高い解像度を得るために、光開始剤、光増感剤を含
有するのが好ましい。これら2つを各々用いる、あるい
は2つのいずれも同時に用いるなど、用いる方法は限定
されない。
In order to obtain higher sensitivity and higher resolution in the pattern after development, it is preferable to contain a photoinitiator and a photosensitizer. The method used is not limited, such as using each of these two or using both at the same time.

【0037】本発明に適した光開始剤としては、N−フ
ェニルジエタノールアミン、N−フェニルグリシン、ミ
ヒラーズケトンなどの芳香族アミン、3−フェニル−5
−イソオキサゾロンに代表される環状オキシム化合物、
1−フェニルプロパンジオン−2−(O−エトキシカル
ボニル)オキシムに代表される鎖状オキシム化合物、ベ
ンゾフェノン、o−ベンゾイル安息香酸メチル、ジベン
ジルケトン、フルオレノンなどのベンゾフェノン誘導
体、チオキサントン、2−メチルチオキサントン、2−
イソプロピルチオキサントンなどのチオキサントン誘導
体、などが挙げられるがこれらに限定されない。
The photoinitiator suitable for the present invention includes aromatic amines such as N-phenyldiethanolamine, N-phenylglycine and Michler's ketone, and 3-phenyl-5.
-A cyclic oxime compound represented by isoxazolone,
Linear oxime compounds represented by 1-phenylpropanedione-2- (O-ethoxycarbonyl) oxime, benzophenones, benzophenone derivatives such as methyl o-benzoylbenzoate, dibenzyl ketone and fluorenone, thioxanthon, 2-methylthioxanthone, 2-
Thioxanthone derivatives such as isopropylthioxanthone; and the like, but are not limited thereto.

【0038】本発明に適した増感剤としては、アジドア
ントラキノン、アジドベンザルアセトフェノンなどの芳
香族モノアジド、3,3’−カルボニルビス(ジエチル
アミノクマリン)などのクマリン化合物、ベンズアント
ロン、フェナントレンキノンなどの芳香族ケトンなど一
般に光硬化性樹脂に使用されるようなもの、その他電子
写真の電荷移動剤として使用されるものであれば好まし
く使用できることもある。
Examples of sensitizers suitable for the present invention include aromatic monoazides such as azidoanthraquinone and azidobenzalacetophenone, coumarin compounds such as 3,3'-carbonylbis (diethylaminocoumarin), benzanthrone and phenanthrenequinone. In some cases, aromatic ketones such as those generally used for photocurable resins and those used as charge transfer agents for electrophotography can be preferably used.

【0039】光開始剤や増感剤はポリマーに対して0.
01〜30重量%、さらに好ましくは0.1〜20重量
%添加するのが好ましい。この範囲を外れると感光性が
低下したり、ポリマーの機械特性が低下したりするので
注意を要する。これらの光開始剤や増感剤は、単独で、
あるいは2種以上混合して用いることができる。
The photoinitiator and the sensitizer are added to the polymer in an amount of 0.1%.
It is preferably added in an amount of 01 to 30% by weight, more preferably 0.1 to 20% by weight. If the ratio is outside this range, the photosensitivity is lowered and the mechanical properties of the polymer are lowered. These photoinitiators and sensitizers alone,
Alternatively, two or more kinds can be used in combination.

【0040】本発明の組成物の塗膜または加熱処理後の
ポリイミド被膜と支持体との接着性を向上させるために
適宜接着助剤を用いることもできる。
In order to improve the adhesion between the coating film of the composition of the present invention or the polyimide film after the heat treatment and the support, an adhesion aid may be appropriately used.

【0041】接着助剤としては、オキシプロピルトリメ
トキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシ
シラン、γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、γ−
メタクリルオキシプロピルトリメトキシシランなどの有
機珪素化合物、あるいはアルミニウムモノエチルアセト
アセテートジイソプロピレート、アルミニウムトリス
(アセチルアセトネート)などのアルミニウムキレート
化合物あるいはチタニウムビス(アセチルアセトネー
ト)などのチタニウムキレート化合物などが好ましく用
いられる。さらに、他の添加剤が基板との接着性、感
度、耐熱性が大幅に低下しない範囲で含んでいても良
い。
Examples of the adhesion aid include oxypropyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, γ-aminopropyltriethoxysilane, γ-
Organic silicon compounds such as methacryloxypropyltrimethoxysilane, or aluminum chelate compounds such as aluminum monoethylacetoacetate diisopropylate and aluminum tris (acetylacetonate) or titanium chelate compounds such as titanium bis (acetylacetonate) are preferable. Used. Further, other additives may be contained in such a range that the adhesion to the substrate, the sensitivity and the heat resistance are not significantly reduced.

【0042】次に本発明の組成物の使用方法について説
明をする。本発明の組成物は化学線を用いた周知の微細
加工技術でパターン加工が可能である。
Next, the method of using the composition of the present invention will be described. The composition of the present invention can be patterned by a known fine processing technique using actinic radiation.

【0043】まず、本発明の組成物を適当な支持体の上
に塗布する。支持体の材質としては、例えば、金属、ガ
ラス、半導体、金属酸化絶縁膜、窒化ケイ素などが挙げ
られるが、これらに限定されない。
First, the composition of the present invention is coated on a suitable support. Examples of the material of the support include, but are not limited to, metal, glass, semiconductor, metal oxide insulating film, and silicon nitride.

【0044】塗布方法としては、スピンナーを用いた回
転塗布、スプレーコーターを用いた噴霧塗布、浸漬、印
刷、ロールコーティングなどの手段が可能である。塗布
膜厚は塗布手段、組成物の固形分濃度、粘度によって調
節することができるが、通常0.1〜150μmの範囲
になるように塗布される。
As a coating method, means such as spin coating using a spinner, spray coating using a spray coater, dipping, printing, and roll coating are possible. The thickness of the applied film can be adjusted depending on the application means, the solid content concentration and the viscosity of the composition, but is usually applied in the range of 0.1 to 150 μm.

【0045】次にポリイミド前駆体を塗布した基板を乾
燥して、ポリイミド前駆体組成物被膜を得る。乾燥は、
オーブン、ホットプレート、赤外線などを利用し、40
〜150℃の範囲で行うのが好ましく、60〜120℃
の範囲で行うのがより好ましい。乾燥時間は1分〜数時
間行うのが好ましい。
Next, the substrate coated with the polyimide precursor is dried to obtain a polyimide precursor composition film. Drying is
Use an oven, hot plate, infrared, etc.
To 150 ° C., preferably 60 to 120 ° C.
It is more preferable to carry out within the range. The drying time is preferably from one minute to several hours.

【0046】次に、所望のパターンを有するマスクを用
い、露光を行う。露光量としては50〜1000mJ/
cm2の範囲が好ましい。特に好ましい範囲は100〜
600mJ/cm2である。適当な増感剤を用いること
によって、i線ステッパー、g線ステッパー、マスクア
ライナー、ミラープロジェクションなどの露光機を用い
て露光が可能である。
Next, exposure is performed using a mask having a desired pattern. The exposure amount is 50 to 1000 mJ /
A range of cm 2 is preferred. A particularly preferred range is 100 to
It is 600 mJ / cm 2 . By using an appropriate sensitizer, exposure can be performed using an exposure machine such as an i-line stepper, a g-line stepper, a mask aligner, and a mirror projection.

【0047】現像時のパターンの解像度が向上したり、
現像条件の許容幅が増大する場合には、現像前にベーク
処理をする工程を取り入れても差し支えない。この温度
としては50〜180℃の範囲が好ましく、特に60〜
150℃の範囲がより好ましい。時間は10秒〜数時間
が好ましい。この範囲を外れると、反応が進行しなかっ
たり、全ての領域が溶解しなくなるなどの恐れがあるの
で注意を要する。
The resolution of the pattern at the time of development is improved,
When the allowable range of the developing conditions is increased, a step of performing a baking process before the development may be adopted. The temperature is preferably in the range of 50 to 180 ° C., particularly preferably 60 to 180 ° C.
A range of 150 ° C. is more preferred. The time is preferably from 10 seconds to several hours. If the ratio is out of this range, the reaction may not proceed or all the regions may not be dissolved.

【0048】ついで未照射部を現像液で溶解除去するこ
とによりレリーフパターンを得る。現像液はポリイミド
前駆体の構造に合わせて適当なものを選択することがで
きるが、アルカリ現像で使用する場合、アンモニア、テ
トラメチルアンモニウムハイドロオキサイド、ジエタノ
ールアミンなどのアルカリ水溶液などを好ましく使用す
ることができる。また、有機現像で使用する場合は、本
組成物の溶媒であるN−メチル−2−ピロリドン、N−
アセチル−2−ピロリドン、N,N−ジメチルホルムア
ミド、N,N−ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホ
キシド、ヘキサメチルホスホルトリアミド、γ−ブチロ
ラクトン、あるいは、シクロペンタノン、シクロヘキサ
ノンなどを単独あるいはメタノール、エタノール、イソ
プロピルアルコール、水、メチルカルビトール、エチル
カルビトール、トルエン、キシレン、乳酸エチル、ピル
ビン酸エチル、プロピレングリコールモノメチルエーテ
ルアセテート、メチル−3−メトキシプロピオネート、
エチル−3−エトキシプロピオネート、2−ヘプタノ
ン、酢酸エチルなどとの混合液も好ましく使用すること
ができる。
Next, a relief pattern is obtained by dissolving and removing the unirradiated portion with a developing solution. A suitable developer can be selected according to the structure of the polyimide precursor, but when used in alkali development, ammonia, tetramethylammonium hydroxide, an alkaline aqueous solution such as diethanolamine and the like can be preferably used. . When used in organic development, N-methyl-2-pyrrolidone, N-
Acetyl-2-pyrrolidone, N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, dimethylsulfoxide, hexamethylphosphortriamide, γ-butyrolactone, cyclopentanone, cyclohexanone, etc. alone or methanol, ethanol, isopropyl alcohol , Water, methyl carbitol, ethyl carbitol, toluene, xylene, ethyl lactate, ethyl pyruvate, propylene glycol monomethyl ether acetate, methyl-3-methoxypropionate,
A mixed solution with ethyl-3-ethoxypropionate, 2-heptanone, ethyl acetate and the like can also be preferably used.

【0049】現像は上記の現像液を塗膜面にそのまま、
あるいは、霧状にして放射する、現像液中に浸漬する、
あるいは浸漬しながら超音波をかけるなどの方法によっ
て行うことができる。
In the development, the above-mentioned developer is applied to the coating film surface as it is.
Alternatively, emit in the form of a mist, immerse in a developer,
Alternatively, it can be performed by a method such as applying ultrasonic waves while dipping.

【0050】ついでリンス液により、現像によって形成
したレリーフパターンを洗浄することが好ましい。リン
ス液としては水や有機溶媒が用いられるが、有機溶媒で
リンスをする場合、現像液との混和性の良いメタノー
ル、エタノール、イソプロピルアルコール、乳酸エチ
ル、ピルビン酸エチル、プロピレングリコールモノメチ
ルエーテルアセテート、メチル−3−メトキシプロピオ
ネート、エチル−3−エトキシプロピオネート、2−ヘ
プタノン、酢酸エチルなどが好ましく用いられる。
Next, it is preferable to wash the relief pattern formed by development with a rinsing liquid. Water or an organic solvent is used as the rinsing liquid, but when rinsing with an organic solvent, methanol, ethanol, isopropyl alcohol, ethyl lactate, ethyl pyruvate, propylene glycol monomethyl ether acetate, methyl -3-Methoxypropionate, ethyl-3-ethoxypropionate, 2-heptanone, ethyl acetate and the like are preferably used.

【0051】上記の処理によって得られたレリーフパタ
ーンのポリマーは耐熱性を有するポリイミド系ポリマー
の前駆体であり、加熱処理によりイミド環やその他の環
状構造を有する耐熱性ポリマーとなる。熱処理温度とし
ては、135〜500℃で行うのが好ましく、300〜
450℃で行うのがより好ましい。熱処理は通常、段階
的にあるいは連続的に昇温しながら行われる。
The polymer of the relief pattern obtained by the above treatment is a precursor of a heat-resistant polyimide-based polymer, and becomes a heat-resistant polymer having an imide ring or other cyclic structure by heat treatment. The heat treatment is preferably performed at 135 to 500 ° C.,
More preferably, it is performed at 450 ° C. The heat treatment is usually performed stepwise or continuously while increasing the temperature.

【0052】[0052]

【実施例】以下に実施例を示すが、本発明はこれら実施
例に限定されない。評価については以下の(1)〜
(4)の項目について行った。
EXAMPLES Examples are shown below, but the present invention is not limited to these examples. The following (1)-about evaluation
The item (4) was performed.

【0053】(1)ワニスの評価 (1−a)カルボキシル基濃度Ca(モル%)の算出 まず、試料ワニスをスピンコート法によりシリコンウェ
ハー上に塗布し、ホットプレート(装置は(株)大日本
スクリーン製造製SKW−636)を用いて80℃で3
分熱処理して厚さ10μmのプリベーク膜を作製した。
この膜を核磁気共鳴スペクトル(装置は日本分光(株)
製)測定用溶媒(ジメチル−d6 スルホキシド)に溶
解させた。この溶液について1H−NMRの測定を行
い、ポリアミド酸のカルボキシル基の水素、及び、ポリ
アミド酸の芳香族炭素に結合した水素に相当するピーク
について1Hの積分値を算出した。両者の積分値をそれ
ぞれC1、C2、また測定に用いたポリアミド酸の構造
単位当たりにおける芳香族炭素に結合した水素の数をM
とするとカルボキシル基濃度Ca(モル%)を表す式
は、Ca=(M×C1/C2)×100となる。
(1) Evaluation of Varnish (1-a) Calculation of Carboxyl Group Concentration Ca (Mole%) First, a sample varnish was applied on a silicon wafer by a spin coating method, and a hot plate (apparatus was Dainippon Co., Ltd.) SKW-636 manufactured by Screen Manufacturing Co., Ltd. at 80 ° C.
By performing a partial heat treatment, a prebaked film having a thickness of 10 μm was prepared.
This film was analyzed by nuclear magnetic resonance spectroscopy (apparatus: JASCO Corporation)
Was dissolved in a measuring solvent (dimethyl-d6 sulfoxide). The solution was subjected to 1 H-NMR measurement, and the integrated value of 1 H was calculated for peaks corresponding to the hydrogen of the carboxyl group of the polyamic acid and the hydrogen bonded to the aromatic carbon of the polyamic acid. The integrated values of the two are respectively C1 and C2, and the number of hydrogen bonded to aromatic carbon per structural unit of the polyamic acid used for the measurement is M
Then, the formula expressing the carboxyl group concentration Ca (mol%) is Ca = (M × C1 / C2) × 100.

【0054】(1−b)イミド化率Iaの算出方法 まず、試料ワニスをスピンコート法によりシリコンウェ
ハー上に塗布する。次いで、80℃のホットプレートで
3分ベーク(装置は大日本スクリーン製造(株)製SK
W−636)し、最終的に厚さ10μmのプリベーク膜
を作製した。IR測定(装置:(株)堀場製作所製、F
T−720)により、1350〜1400cm-1の波数
にあるイミド基の吸光度Iを求める。次に、この膜をオ
ーブンにて窒素気流下350℃で2時間熱処理(キュ
ア)してイミド化を100%進行させる。この、100
%イミド化させた試料についてIR測定を行い、イミド
基に起因する波数の吸光度I1を求める。
(1-b) Method for calculating imidation ratio Ia First, a sample varnish is applied on a silicon wafer by a spin coating method. Then, bake for 3 minutes on a hot plate at 80 ° C. (the device is SK manufactured by Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd.)
W-636), and finally a pre-baked film having a thickness of 10 μm was formed. IR measurement (Equipment: manufactured by Horiba Ltd., F
T-720), the absorbance I of the imide group having a wave number of 1350 to 1400 cm -1 is determined. Next, the film is heat-treated (cured) at 350 ° C. for 2 hours in a nitrogen stream in an oven to allow imidization to proceed by 100%. This, 100
% For imidized allowed samples subjected to IR measurement, determine the absorbance I 1 wavenumber due to imide groups.

【0055】このときの、イミド基の吸光度Iとイミド
化率Iaの関係を示す次式、Ia=I/I1より、イミ
ド化率Iaを算出した。
[0055] In this case, the following equation indicating the relationship between absorbance I and imidization Ia of the imide groups, from Ia = I / I 1, to calculate the imidization Ia.

【0056】(2)パターン加工性能評価 シリコンウェハー上にワニスを回転塗布し、次いで、8
0℃のホットプレートで3分(装置は大日本スクリーン
製造(株)製SKW−636)し、最終的に厚さ10μ
mのプリベーク膜を作製した。この膜について、以下の
2水準の条件で露光を行った。
(2) Evaluation of pattern processing performance A varnish was spin-coated on a silicon wafer,
3 minutes on a hot plate at 0 ° C (apparatus: SKW-636 manufactured by Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd.)
m was prepared. This film was exposed under the following two conditions.

【0057】(2−a)i線露光の場合 i線ステッパー(GCA社製DSW−8000)を用い
て400mJ/cm2の露光量で露光した。
(2-a) In the case of i-line exposure The light was exposed at an exposure of 400 mJ / cm 2 using an i-line stepper (DSW-8000 manufactured by GCA).

【0058】(2−b)全波長露光の場合 マスクアライナー(キヤノン(株)製PLA−501
F)を用いて露光した。i線にて測定した露光量は20
0mJ/cm2であった。
(2-b) In the case of full wavelength exposure: Mask aligner (PLA-501 manufactured by Canon Inc.)
Exposure was performed using F). Exposure measured at i-line is 20
It was 0 mJ / cm 2 .

【0059】露光後、60℃のホットプレートで1分ベ
ーク(装置は大日本スクリーン製造(株)製SKW−6
36)し、以下の3水準の条件で現像を行った。
After exposure, baking for 1 minute on a hot plate at 60 ° C. (apparatus: SKW-6 manufactured by Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd.)
36) Then, development was performed under the following three conditions.

【0060】(2−c)現像条件1 シクロヘキサノン/メタノール=49/1(重量比)の
現像液で現像、次いでプロピレングリコールモノメチル
エーテルアセテートでリンスして乾燥させた。
(2-c) Developing condition 1 Developed with a developer of cyclohexanone / methanol = 49/1 (weight ratio), rinsed with propylene glycol monomethyl ether acetate, and dried.

【0061】(2−d)現像条件2 N−メチル−2−ピロリドン/プロピレングリコールモ
ノメチルエーテルアセテート/水=9/1/1(重量
比)の現像液で現像、次いで2−プロパノールでリンス
して乾燥させた。
(2-d) Developing condition 2 Developed with a developing solution of N-methyl-2-pyrrolidone / propylene glycol monomethyl ether acetate / water = 9/1/1 (weight ratio), and then rinsed with 2-propanol. Let dry.

【0062】(2−e)現像条件3 濃度2.38%のテトラメチルアンモニウムハイドロオ
キサイド水溶液で現像、次いで純水でリンスして乾燥さ
せた。
(2-e) Developing condition 3 The film was developed with an aqueous solution of 2.38% tetramethylammonium hydroxide, rinsed with pure water and dried.

【0063】乾燥後、以下の2種類のパターン評価を行
った。
After drying, the following two types of pattern evaluation were performed.

【0064】(2−f)パターン寸法 100μm×100μmのパターンを観察して、パター
ンが逆テーパでなく、かつ寸法が90〜110μmの範
囲に入っていれば良好である。逆テーパーが認められた
り、寸法が上記範囲をはずれたものは不良である。
(2-f) Pattern Size Observing a pattern of 100 μm × 100 μm, it is good if the pattern does not have a reverse taper and the size is in the range of 90 to 110 μm. A taper having a reverse taper or a size out of the above range is defective.

【0065】(2−g)現像後の膜厚保持率 現像後の膜厚/現像前の膜厚=0.7以上なら良好、
0.7未満なら不良とした。
(2-g) Retention of film thickness after development If the film thickness after development / the film thickness before development = 0.7 or more, it is good.
If it was less than 0.7, it was determined to be defective.

【0066】(3)封止樹脂との密着性 ベアシリコンウェハー上に評価(2)と同様の方法でプ
リベーク膜の作製まで行った。この膜をオーブンに投入
して140℃で30分、次いで300℃で1時間キュア
してポリイミド膜を得た。キュアは窒素中で行った。ポ
リイミド膜上に東レ(株)製封止樹脂TM20−100
を高さ5mm、直径5mmの円柱状にトランスファー成
形によって形成した。”テンシロン”(RTM−10
0;オリエンテック(株)製)を用い、封止樹脂がポリ
イミド膜から引き剥がされる際の強度を求めた。このと
き、破断時の強度が40MPaを越えていれば良好、4
0MPa未満ならば不良である。
(3) Adhesion to Sealing Resin A pre-baked film was formed on a bare silicon wafer in the same manner as in the evaluation (2). This film was put into an oven and cured at 140 ° C. for 30 minutes and then at 300 ° C. for 1 hour to obtain a polyimide film. Cure was performed in nitrogen. Sealing resin TM20-100 manufactured by Toray Industries, Inc. on the polyimide film
Was formed into a column having a height of 5 mm and a diameter of 5 mm by transfer molding. "Tensilon" (RTM-10
0; manufactured by Orientec Co., Ltd.) to determine the strength at which the sealing resin was peeled off from the polyimide film. At this time, if the strength at break exceeds 40 MPa, it is good.
If it is less than 0 MPa, it is defective.

【0067】(4)製造にかかった時間 最初のジアミンを投入してから、感光性ポリイミド前駆
体組成物を調製完了するまでの総時間を測定した。
(4) Time Required for Production The total time from the introduction of the first diamine to the completion of the preparation of the photosensitive polyimide precursor composition was measured.

【0068】なお合成例、実施例においてポリイミド原
料の略号を下記の要領で使用する。 4,4’−DAE :4,4’−ジアミノジフェニルエ
ーテル m−BAPS:ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フ
ェニル]スルホン SiDA:ビス(3−アミノプロピル)テトラメチルジ
シロキサン PMDA:無水ピロメリット酸 BTDA:3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラ
カルボン酸二無水物 ODPA:3,3’,4,4’−ジフェニルエーテルテ
トラカルボン酸二無水物 NPG :N−フェニルグリシン BOX :ビス(α−イソニトロソプロピオフェノンオ
キシム)イソフタル NNAP:1−ニトロソ−2−ナフトール CmA :7−ジエチルアミノ−3−ベンゾイルクマリ
ン DEM :メタクリル酸ジエチルアミノエチル HEMA:メタクリル酸−2−ヒドロキシエチル NMP :N−メチル−2−ピロリドン γ−BL:ガンマーブチロラクトン。
In the synthesis examples and examples, abbreviations of polyimide raw materials are used in the following manner. 4,4'-DAE: 4,4'-diaminodiphenyl ether m-BAPS: bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] sulfone SiDA: bis (3-aminopropyl) tetramethyldisiloxane PMDA: pyromellitic anhydride BTDA: 3,3 ', 4,4'-benzophenonetetracarboxylic dianhydride ODPA: 3,3', 4,4'-diphenylethertetracarboxylic dianhydride NPG: N-phenylglycine BOX: bis (α- Isonitrosopropiophenone oxime) isophthal NNAP: 1-nitroso-2-naphthol CmA: 7-diethylamino-3-benzoylcoumarin DEM: diethylaminoethyl methacrylate HEMA: 2-hydroxyethyl methacrylate NMP: N-methyl-2- Pyrrolidone γ-BL: cancer Butyrolactone.

【0069】合成例1(ビニルエーテルモノマーMBV
Eの合成) 乾燥空気気流下、1リットルの4つ口フラスコ内でヒド
ロキシブチルビニルエーテル58.0g(0.5モル)
を100gの酢酸エチルに20℃で溶解させた。この溶
液にトリエチルアミン50.6g(0.5モル)を加
え、氷浴につけて温度を10℃以下とし、酢酸エチル5
0.0gにメタクリル酸クロライド52.3g(0.5
モル)を溶解させたものを、10℃以下の温度を保った
ままで1時間かけて滴下した。氷浴中でさらに1時間攪
拌した後、フラスコを室温に戻してさらに3時間攪拌し
た。3時間後、沈殿物を濾別し、得られた濾液に、酢酸
エチル200g、飽和炭酸水素ナトリウム水溶液100
gを加え、分液漏斗にて激しく揺動した。水相を除去し
た後、酢酸エチル相を純水200gでさらに3回洗浄
し、酢酸エチル相のみ分別した。得られた酢酸エチル相
を無水硫酸ナトリウムで乾燥し、無機塩を濾別して、濾
液にフェノチアジンを0.5g添加、ついで酢酸エチル
をエバポレーションによって除去した。得られた溶液を
減圧蒸留して、目的のビニルエーテルモノマーを得た。
このモノマーをMBVEとした。
Synthesis Example 1 (Vinyl ether monomer MBV
Synthesis of E) 58.0 g (0.5 mol) of hydroxybutyl vinyl ether in a 1-liter four-necked flask under a stream of dry air
Was dissolved in 100 g of ethyl acetate at 20 ° C. To this solution, 50.6 g (0.5 mol) of triethylamine was added, and the mixture was placed in an ice bath to lower the temperature to 10 ° C. or lower.
52.3 g (0.5 g) of methacrylic acid chloride was added to 0.0 g.
) Was added dropwise over 1 hour while maintaining the temperature at 10 ° C or lower. After stirring for another 1 hour in an ice bath, the flask was returned to room temperature and further stirred for 3 hours. After 3 hours, the precipitate was separated by filtration, and 200 g of ethyl acetate and 100 parts of a saturated aqueous solution of sodium hydrogencarbonate were added to the obtained filtrate.
g was added and shaken vigorously with a separatory funnel. After removing the aqueous phase, the ethyl acetate phase was further washed three times with 200 g of pure water, and only the ethyl acetate phase was separated. The obtained ethyl acetate phase was dried over anhydrous sodium sulfate, the inorganic salts were separated by filtration, and 0.5 g of phenothiazine was added to the filtrate, and the ethyl acetate was removed by evaporation. The obtained solution was distilled under reduced pressure to obtain a target vinyl ether monomer.
This monomer was designated as MBVE.

【0070】合成例2(ビニルエーテルモノマーMEV
Eの合成) 合成例1のヒドロキシブチルビニルエーテル58.0g
をヒドロキシエチルビニルエーテル44.0g(0.5
モル)に変えた他は合成例1と同様に行った。得られた
モノマーをMEVEとした。
Synthesis Example 2 (Vinyl ether monomer MEV)
Synthesis of E) 58.0 g of hydroxybutyl vinyl ether of Synthesis Example 1
To hydroxyethyl vinyl ether 44.0 g (0.5
Mol), and the same procedure as in Synthesis Example 1 was carried out. The obtained monomer was designated as MEVE.

【0071】合成例3(ビニルエーテルモノマーABV
Eの合成) 合成例1のメタクリル酸クロライド52.3gをアクリ
ル酸クロライド45.3g(0.5モル)に変えた他は
合成例1と同様に行った。得られたモノマーをABVE
とした。
Synthesis Example 3 (Vinyl ether monomer ABV
Synthesis of E) The procedure of Synthesis Example 1 was repeated except that 52.3 g of methacrylic chloride in Synthesis Example 1 was changed to 45.3 g (0.5 mol) of acrylic acid chloride. ABVE
And

【0072】合成例4(ビニルエーテルモノマーMCH
MVEの合成) 合成例1のヒドロキシブチルビニルエーテル58.0g
をシクロヘキサンジメタノールモノビニルエーテル8
5.0g(0.5モル)に変えた他は合成例1と同様に
行った。得られたモノマーをMCHMVEとした。
Synthesis Example 4 (Vinyl ether monomer MCH
Synthesis of MVE) 58.0 g of hydroxybutyl vinyl ether of Synthesis Example 1
To cyclohexanedimethanol monovinyl ether 8
The same procedure as in Synthesis Example 1 was carried out except that the amount was changed to 5.0 g (0.5 mol). The obtained monomer was designated as MCHMVE.

【0073】合成例5(ビニルエーテルモノマーMMV
Eの合成) 合成例1のヒドロキシブチルビニルエーテル58.0g
をジエチレングリコールモノビニルエーテル66.0g
(0.5モル)に変えた他は合成例1と同様に行った。
得られたモノマーをMMVEとした。
Synthesis Example 5 (Vinyl ether monomer MMV)
Synthesis of E) 58.0 g of hydroxybutyl vinyl ether of Synthesis Example 1
To 66.0 g of diethylene glycol monovinyl ether
(0.5 mol) in the same manner as in Synthesis Example 1.
The obtained monomer was MMVE.

【0074】合成例6(ビニルエーテルモノマーMOB
VEの合成) 乾燥空気気流下、1リットルの4つ口フラスコ内でヒド
ロキシブチルビニルエーテル58.0g(0.5モル)
を100gの酢酸エチルに20℃で溶解させた。この溶
液にラウリン酸−n−ブチル錫1.00gを加え、氷浴
につけて温度を10℃以下とし、酢酸エチル50.0g
にカレンズMOI(昭和電工(株)製)77.6g
(0.5モル)を溶解させたものを、10℃以下の温度
を保ったままで1時間かけて滴下した。氷浴中でさらに
1時間攪拌した後、フラスコを室温に戻してさらに12
時間攪拌した。12時間後、この溶液に、酢酸エチル2
00g、飽和炭酸水素ナトリウム水溶液100gを加
え、分液漏斗にて激しく揺動した。水相を除去した後、
酢酸エチル相を純水200gでさらに3回洗浄し、酢酸
エチル相のみ分別した。得られた酢酸エチル相を無水硫
酸ナトリウムで乾燥し、無機塩を濾別して、濾液にフェ
ノチアジンを0.1g添加、ついで酢酸エチルをエバポ
レーションによって除去して、目的のビニルエーテルモ
ノマーを得た。このモノマーをMOBVEとした。
Synthesis Example 6 (Vinyl ether monomer MOB
Synthesis of VE) 58.0 g (0.5 mol) of hydroxybutyl vinyl ether in a 1-liter four-necked flask under a stream of dry air
Was dissolved in 100 g of ethyl acetate at 20 ° C. To this solution, 1.00 g of n-butyltin laurate was added, and the mixture was placed in an ice bath to adjust the temperature to 10 ° C. or lower, and 50.0 g of ethyl acetate was added.
Nikarinzu MOI (manufactured by Showa Denko KK) 77.6 g
(0.5 mol) was added dropwise over 1 hour while maintaining the temperature at 10 ° C. or lower. After stirring for another hour in an ice bath, the flask was brought to room temperature and
Stirred for hours. After 12 hours, the solution was added to ethyl acetate 2
Then, 00 g and 100 g of a saturated aqueous solution of sodium hydrogen carbonate were added, and the mixture was vigorously shaken with a separating funnel. After removing the aqueous phase,
The ethyl acetate phase was further washed three times with 200 g of pure water, and only the ethyl acetate phase was separated. The obtained ethyl acetate phase was dried over anhydrous sodium sulfate, the inorganic salt was separated by filtration, 0.1 g of phenothiazine was added to the filtrate, and the ethyl acetate was removed by evaporation to obtain the desired vinyl ether monomer. This monomer was named MOBVE.

【0075】合成例7 乾燥空気気流下、1リットルの4つ口フラスコ内でm−
BAPS41.1g(0.095モル)、SiDA1.
24g(0.005モル)をγ−BL132gに20℃
で溶解させた。その後、PMDA6.54g(0.03
0モル)、BTDA9.67g(0.030モル)、O
DPA12.4g(0.040モル)を加え、55℃で
4時間反応させた。4時間後に溶液を1時間で室温に戻
してMBVE46gを添加し、50℃で2時間攪拌し
た。この溶液にBOX2.13g、NPG2.13g、
NNAP0.03gを添加し、γ−BLで希釈して最終
粘度が5ポイズ(25℃にて測定)のワニスを得た。こ
のワニスをワニスAとした。
Synthesis Example 7 In a 1-liter four-necked flask, m-
BAPS 41.1 g (0.095 mol), SiDA1.
24 g (0.005 mol) is added to γ-BL 132 g at 20 ° C.
And dissolved. Thereafter, 6.54 g of PMDA (0.03 g)
0 mol), 9.67 g (0.030 mol) of BTDA, O
12.4 g (0.040 mol) of DPA was added and reacted at 55 ° C. for 4 hours. After 4 hours, the solution was returned to room temperature in 1 hour, 46 g of MBVE was added, and the mixture was stirred at 50 ° C. for 2 hours. BOX 2.13 g, NPG 2.13 g,
0.03 g of NNAP was added and diluted with γ-BL to obtain a varnish having a final viscosity of 5 poise (measured at 25 ° C.). This varnish was designated as varnish A.

【0076】合成例8 合成例7のMBVEを添加しないこと以外は合成例7と
同様に行った。得られたワニスをワニスBとした。
Synthesis Example 8 The same procedure as in Synthesis Example 7 was carried out except that MBVE was not added. The obtained varnish was designated as varnish B.

【0077】合成例9 合成例7のMBVEをシクロヘキシルビニルエーテル3
2gに変えた他は合成例7と同様に行った。得られたワ
ニスをワニスCとした。
Synthesis Example 9 MBVE of Synthesis Example 7 was converted to cyclohexyl vinyl ether 3
The procedure was performed in the same manner as in Synthesis Example 7 except that the amount was changed to 2 g. The varnish obtained was used as varnish C.

【0078】合成例10 合成例7のMBVEをシクロヘキシルビニルエーテル1
6g、MBVE23gに変えた他は合成例7と同様に行
った。得られたワニスをワニスDとした。
Synthesis Example 10 MBVE of Synthesis Example 7 was converted to cyclohexyl vinyl ether 1
The procedure was performed in the same manner as in Synthesis Example 7, except that the amount was changed to 6 g and 23 g of MBVE. The obtained varnish was designated as varnish D.

【0079】合成例11 合成例7のMBVEをHEMA33gに変えた他は合成
例7と同様に行った。得られたワニスをワニスEとし
た。
Synthesis Example 11 Synthesis Example 7 was carried out in the same manner as in Synthesis Example 7 except that MBVE was changed to 33 g of HEMA. The obtained varnish was designated as varnish E.

【0080】合成例12 乾燥空気気流下、1リットルの4つ口フラスコ内でm−
BAPS41.1g(0.095モル)、SiDA1.
24g(0.005モル)をγ−BL132gに20℃
で溶解させた。その後、PMDA6.54g(0.03
0モル)、BTDA9.67g(0.030モル)、O
DPA12.4g(0.040モル)を加え、55℃で
4時間反応させた。4時間後に溶液を1時間で室温に戻
してMBVE46gを添加し、50℃で2時間攪拌し
た。この溶液にBOX2.13g、NPG2.13g、
NNAP0.03g、DEM18.5gを添加し、γ−
BLで希釈して最終粘度が5ポイズ(25℃にて測定)
のワニスを得た。このワニスをワニスFとした。
Synthesis Example 12 In a 1-liter four-necked flask, m-
BAPS 41.1 g (0.095 mol), SiDA1.
24 g (0.005 mol) is added to γ-BL 132 g at 20 ° C.
And dissolved. Thereafter, 6.54 g of PMDA (0.03 g)
0 mol), 9.67 g (0.030 mol) of BTDA, O
12.4 g (0.040 mol) of DPA was added and reacted at 55 ° C. for 4 hours. After 4 hours, the solution was returned to room temperature in 1 hour, 46 g of MBVE was added, and the mixture was stirred at 50 ° C. for 2 hours. BOX 2.13 g, NPG 2.13 g,
0.03 g of NNAP and 18.5 g of DEM were added, and γ-
Diluted with BL to a final viscosity of 5 poise (measured at 25 ° C)
Varnish was obtained. This varnish was used as varnish F.

【0081】合成例13 合成例7のMBVEをMEVE39gに変えた他は合成
例7と同様に行った。得られたワニスをワニスGとし
た。
Synthesis Example 13 Synthesis Example 13 was carried out in the same manner as in Synthesis Example 7 except that MBVE was changed to 39 g of MEVE. The obtained varnish was used as varnish G.

【0082】合成例14 合成例7のMBVEをABVE43gに変えた他は合成
例7と同様に行った。得られたワニスをワニスHとし
た。
Synthesis Example 14 The same procedure was performed as in Synthesis Example 7 except that MBVE in Synthesis Example 7 was changed to 43 g of ABVE. The obtained varnish was designated as varnish H.

【0083】合成例15 合成例7のMBVEをMCHMVE60gに変えた他は
合成例7と同様に行った。得られたワニスをワニスIと
した。
Synthesis Example 15 Synthesis Example 7 was carried out in the same manner as in Synthesis Example 7 except that MBVE was changed to 60 g of MCHMVE. The obtained varnish was designated as varnish I.

【0084】合成例16 合成例7のMBVEをMMVE50gに変えた他は合成
例7と同様に行った。得られたワニスをワニスJとし
た。
Synthesis Example 16 Synthesis Example 7 was carried out in the same manner as in Synthesis Example 7 except that MBVE was changed to 50 g of MMVE. The obtained varnish was designated as varnish J.

【0085】合成例17 合成例7のMBVE46gを35gに変えた他は合成例
7と同様に行った。得られたワニスをワニスKとした。
Synthesis Example 17 The procedure of Synthesis Example 7 was repeated except that 46 g of MBVE was changed to 35 g. The obtained varnish was designated as varnish K.

【0086】合成例18 乾燥空気気流下、1リットルの4つ口フラスコ内で4,
4’−DAE19.0g(0.095モル)、SiDA
1.24g(0.005モル)をNMP100gに20
℃で溶解させた。その後、PMDA6.54g(0.0
30モル)、BTDA9.67g(0.030モル)、
ODPA12.4g(0.040モル)を加え、55℃
で4時間反応させた。4時間後に溶液を1時間で室温に
戻して、そのまま室温で8時間攪拌した。この溶液にB
OX1.47g、NPG1.47g、NNAP0.02
g、CmA0.25g、DEM37gを添加し、NMP
で希釈して最終粘度が15ポイズ(25℃にて測定)の
ワニスを得た。このワニスをワニスLとした。
Synthesis Example 18 In a 1-liter four-necked flask,
4′-DAE 19.0 g (0.095 mol), SiDA
1.24 g (0.005 mol) is added to NMP 100 g for 20
Dissolved at ° C. Thereafter, 6.54 g of PMDA (0.0
30 mol), BTDA 9.67 g (0.030 mol),
12.4 g (0.040 mol) of ODPA was added, and 55 ° C.
For 4 hours. After 4 hours, the solution was returned to room temperature in 1 hour and stirred at room temperature for 8 hours. B in this solution
OX 1.47 g, NPG 1.47 g, NNAP 0.02
g, CmA 0.25 g and DEM 37 g were added.
To obtain a varnish having a final viscosity of 15 poise (measured at 25 ° C.). This varnish was designated as varnish L.

【0087】合成例19 乾燥空気気流下、1リットルの4つ口フラスコ内で4,
4’−DAE19.0g(0.095モル)、SiDA
1.24g(0.005モル)をγ−BL100gに2
0℃で溶解させた。その後、ODPA29.8g(0.
096モル)を加え、55℃で4時間反応させた。4時
間後に溶液を1時間で室温に戻してMBVE35gを添
加し、そのまま50℃で2時間攪拌した。この溶液にB
OX1.47g、NPG1.47g、NNAP0.02
g、CmA0.25gを添加し、γ−BLで希釈して最
終粘度が15ポイズ(25℃にて測定)のワニスを得
た。このワニスをワニスMとした。
Synthesis Example 19 In a 1-liter four-necked flask,
4′-DAE 19.0 g (0.095 mol), SiDA
1.24 g (0.005 mol) is added to 100 g of γ-BL.
Dissolved at 0 ° C. Thereafter, 29.8 g of ODPA (0.
096 mol) and reacted at 55 ° C. for 4 hours. After 4 hours, the solution was returned to room temperature in 1 hour, 35 g of MBVE was added, and the mixture was stirred at 50 ° C. for 2 hours. B in this solution
OX 1.47 g, NPG 1.47 g, NNAP 0.02
g and 0.25 g of CmA were added and diluted with γ-BL to obtain a varnish having a final viscosity of 15 poise (measured at 25 ° C.). This varnish was used as varnish M.

【0088】合成例20 合成例19のMBVE35gを43gに変えた他は合成
例19と同様に行った。得られたワニスをワニスNとし
た。
Synthesis Example 20 The same procedure was performed as in Synthesis Example 19 except that 35 g of MBVE in Synthesis Example 19 was changed to 43 g. The varnish obtained was named Varnish N.

【0089】合成例21 合成例19のMBVE35gを11gに変えた他は合成
例19と同様に行った。得られたワニスをワニスOとし
た。
Synthesis Example 21 The same procedure was performed as in Synthesis Example 19, except that 35 g of MBVE in Synthesis Example 19 was changed to 11 g. The obtained varnish was designated as varnish O.

【0090】合成例22 合成例19のポリマーの反応温度55℃を95℃にし、
合成例19のMBVE35gを11gに変えた他は合成
例19と同様に行った。得られたワニスをワニスPとし
た。
Synthesis Example 22 The reaction temperature of the polymer of Synthesis Example 19 was changed from 55 ° C. to 95 ° C.
The same procedures as in Synthesis Example 19 were conducted except that MBVE in Synthesis Example 19 was changed to 35 g in 11 g. The obtained varnish was designated as varnish P.

【0091】合成例23 合成例19のポリマーの反応温度55℃を80℃にし、
合成例19のMBVE35gを22gに変えた他は合成
例19と同様に行った。得られたワニスをワニスQとし
た。
Synthesis Example 23 The reaction temperature of the polymer of Synthesis Example 19 was changed from 55 ° C. to 80 ° C.
The same procedures were performed as in Synthesis Example 19 except that MBVE in Synthesis Example 19 was changed from 35 g to 22 g. The varnish obtained was used as Varnish Q.

【0092】合成例24 合成例7のMBVEをMOBVE68gに変えた他は合
成例7と同様に行った。得られたワニスをワニスRとし
た。
Synthesis Example 24 The same procedures as in Synthesis Example 7 were conducted except that MBVE in Synthesis Example 7 was changed to 68 g of MOBVE. The obtained varnish was designated as varnish R.

【0093】合成例25 乾燥空気気流下、2リットルの4つ口フラスコにPMD
A52.3g(0.261モル)、ODPA49.6g
(0.16モル)、HEMA62.4g(0.48モ
ル)、エタノール14.7g(0.32モル)、γ−B
L320gを入れ、氷冷下、かきまぜながらピリジン6
4.2gを加えた。発熱終了後室温まで放冷し16時間
放置した後、ジシクロヘキシルカルボジイミド166g
をγ−BL120gに溶かした溶液を氷冷下、かきまぜ
ながら40分間で加え、続いて4,4’−DAE74.
5g(0.372モル)をγ−BL150gに懸濁した
ものを氷冷下、かきまぜながら60分間で加えた。室温
で2時間かきまぜた後、エタノール30gを加えて1時
間かきまぜ、ジメチルアセトアミド250gとテトラヒ
ドロフラン400gを加えた後、沈殿を濾過により除い
て得られた反応液を15リットルのエタノールに加え、
生成した沈殿を濾別した後、真空乾燥してポリマー粉末
を得た。この粉末100gにBOX3.00g、NPG
3.00g、CmA0.50g、NNAP0.05gを
添加し、NMPで希釈して最終粘度が15ポイズ(25
℃にて測定)のワニスを得た。このワニスをワニスSと
した。
Synthesis Example 25 PMD was placed in a two-liter four-necked flask under a stream of dry air.
A52.3 g (0.261 mol), ODPA49.6 g
(0.16 mol), HEMA 62.4 g (0.48 mol), ethanol 14.7 g (0.32 mol), γ-B
Add L320g and stir pyridine 6 under ice-cooling.
4.2 g were added. After completion of the heat generation, the mixture was allowed to cool to room temperature and left for 16 hours, and then 166 g of dicyclohexylcarbodiimide was obtained.
Was dissolved in 120 g of γ-BL under ice-cooling for 40 minutes while stirring, followed by 4,4′-DAE74.
A suspension of 5 g (0.372 mol) in 150 g of γ-BL was added over 60 minutes while stirring under ice-cooling. After stirring at room temperature for 2 hours, 30 g of ethanol was added and the mixture was stirred for 1 hour, 250 g of dimethylacetamide and 400 g of tetrahydrofuran were added, and the reaction solution obtained by removing the precipitate by filtration was added to 15 liters of ethanol.
The resulting precipitate was separated by filtration and dried under vacuum to obtain a polymer powder. BOX3.00g, NPG to 100g of this powder
3.00 g, CmA 0.50 g, and NNAP 0.05 g were added, and diluted with NMP to a final viscosity of 15 poise (25 poise).
Varnish). This varnish was used as varnish S.

【0094】実施例1〜16、比較例1〜6 ワニスA〜Sについて上述した(1)〜(3)の評価を
行った。ワニス評価結果、R4のうち光感応基が占める
割合、パターン加工条件、パターン加工評価結果、密着
性評価結果、製造時間を表1にそれぞれ示す。
Examples 1 to 16 and Comparative Examples 1 to 6 Varnishes A to S were evaluated in (1) to (3) described above. Varnishes evaluation results are shown respectively proportion of among light-sensitive group R 4, pattern processing conditions, patterning evaluation result, adhesion evaluation result, the manufacturing time in Table 1.

【0095】[0095]

【表1】 [Table 1]

【0096】[0096]

【発明の効果】本発明によれば、良好なパターン加工性
を有し、硬化膜の封止樹脂との密着性に優れ、ポリマー
の再沈を経由せずに、短い製造工程で製造可能な感光性
ポリイミド前駆体組成物およびその製造方法を得ること
ができる。
According to the present invention, it has good pattern processability, excellent adhesion of the cured film to the sealing resin, and can be manufactured in a short manufacturing process without re-precipitation of the polymer. A photosensitive polyimide precursor composition and a method for producing the same can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】IRスペクトルからイミド基に起因する吸光度
を求める方法を示す概略図。
FIG. 1 is a schematic diagram showing a method for determining absorbance due to an imide group from an IR spectrum.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/027 H01L 21/30 502R ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H01L 21/027 H01L 21/30 502R

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】(a)一般式(1)で表される構造単位を
有するポリマーないしはオリゴマーと、(b)一般式
(2)で表されるビニルエーテル化合物を反応させて得
ることを特徴とする感光性ポリイミド前駆体組成物。 【化1】 (R1は少なくとも2個以上の炭素原子を有する3価ま
たは4価の有機基を表し、R2は少なくとも2個以上の
炭素原子を有する2価の有機基を表す。R3は水素、ア
ルカリ金属イオン、アンモニウムイオン、または、炭素
数1〜30の有機基より選ばれた少なくとも1種を表
し、うち30〜100モル%は水素からなる。nは1ま
たは2を表す。) 【化2】 (R4は炭素数1〜30の有機基を表し、うち50〜1
00モル%は光感応性基を含んだ有機基を表す。)
1. A method comprising the steps of: (a) reacting a polymer or oligomer having a structural unit represented by the general formula (1) with (b) a vinyl ether compound represented by the general formula (2). Photosensitive polyimide precursor composition. Embedded image (R 1 represents a trivalent or tetravalent organic group having at least 2 or more carbon atoms, R 2 represents a divalent organic group having at least 2 or more carbon atoms. R 3 represents hydrogen, alkali Represents at least one selected from a metal ion, an ammonium ion, or an organic group having 1 to 30 carbon atoms, of which 30 to 100 mol% consists of hydrogen, and n represents 1 or 2. (R 4 represents an organic group having 1 to 30 carbon atoms, of which 50 to 1
00 mol% represents an organic group containing a photosensitive group. )
【請求項2】一般式(3)で表されるアミン化合物を含
むことを特徴とする請求項1記載の感光性ポリイミド前
駆体組成物 【化3】 (R5、R6、R7は炭素数1〜30の有機基であり、う
ち、少なくとも1つは光感応性基を含む有機基であ
る。)
2. The photosensitive polyimide precursor composition according to claim 1, comprising an amine compound represented by the general formula (3). (R 5 , R 6 , and R 7 are organic groups having 1 to 30 carbon atoms, at least one of which is an organic group containing a photosensitive group.)
【請求項3】厚さ10μmのプリベーク膜におけるポリ
マーのカルボキシル基濃度が構造単位に対して10〜1
50モル%であることを特徴とする請求項1記載の感光
性ポリイミド前駆体組成物。
3. The carboxyl group concentration of the polymer in the prebaked film having a thickness of 10 μm is 10 to 1 with respect to the structural unit.
The photosensitive polyimide precursor composition according to claim 1, wherein the content is 50 mol%.
【請求項4】厚さ10μmのプリベーク膜におけるポリ
マーのイミド化率が0〜0.4であることを特徴とする
請求項1記載の感光性ポリイミド前駆体組成物。
4. The photosensitive polyimide precursor composition according to claim 1, wherein the imidation ratio of the polymer in the prebaked film having a thickness of 10 μm is from 0 to 0.4.
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