JP2001155985A - Filter apparatus and resist coating apparatus - Google Patents

Filter apparatus and resist coating apparatus

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JP2001155985A
JP2001155985A JP33402599A JP33402599A JP2001155985A JP 2001155985 A JP2001155985 A JP 2001155985A JP 33402599 A JP33402599 A JP 33402599A JP 33402599 A JP33402599 A JP 33402599A JP 2001155985 A JP2001155985 A JP 2001155985A
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JP
Japan
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resist
filter device
nozzle
filter
chemical solution
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Application number
JP33402599A
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Japanese (ja)
Inventor
Kazuyuki Yoshimochi
一幸 吉持
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NEC Kyushu Ltd
Original Assignee
NEC Kyushu Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To feed a constant volume of chemical liquid by completely excluding air bubbles in a filter apparatus, in which a constant volume of chemical liquid is introduced, filtered, and fed to other apparatus. SOLUTION: A valve disc 7, that closes a discharge opening for discharging chemical liquid containing air bubbles and remains in the filter apparatus, is provided. A valve seat 9 of the discharge opening is closed after the remaining chemical liquid with air bubbles is pushed out to the outside through the discharge pipe 5 in advance, and the chemical liquid in the housing 2 free of compressive air bubbles is sent out at a constant pressure.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、一方向から薬液が
送給され薬液を濾過し他方向に薬液を排出するフィルタ
及び前記薬液をレジスト液を使用し半導体基板(以下単
にウェハと記す)にレジスト液を塗布するレジスト塗布
装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a filter for supplying a chemical solution from one direction, filtering the chemical solution and discharging the chemical solution in the other direction, and applying the chemical solution to a semiconductor substrate (hereinafter simply referred to as a wafer) using a resist solution. The present invention relates to a resist coating device that applies a resist liquid.

【0002】[0002]

【従来の技術】薬液塗布装置の一種であるレジスト塗布
装置においては、ノズルから吐出する薬液であるレジス
ト液の吐出量は品質上の重要なパラメ−タである。この
レジスト液吐出量が少なければ、シリコン基板に所定の
厚みのレジスト膜が形成されないという問題が生じる。
そこで、安定した薬液吐出量を得られるシステムが必要
となる。
2. Description of the Related Art In a resist coating apparatus, which is a type of chemical liquid coating apparatus, the discharge amount of a resist liquid, which is a chemical liquid discharged from a nozzle, is an important parameter in quality. If the resist solution discharge amount is small, there arises a problem that a resist film having a predetermined thickness is not formed on the silicon substrate.
Therefore, a system that can obtain a stable discharge amount of the chemical solution is required.

【0003】また、コスト削減の観点からは、レジスト
液の使用量を最少限にする必要があり、そのために安定
した吐出量を得ることで1回の吐出量当たりのマ−ジン
を少なくして吐出量そのものを少なくするとともに排出
されるレジスト液の量を減らす必要がある。
Further, from the viewpoint of cost reduction, it is necessary to minimize the amount of the resist solution used. Therefore, by obtaining a stable discharge amount, the margin per discharge amount can be reduced. It is necessary to reduce the discharge amount itself and the amount of the discharged resist liquid.

【0004】このようにレジスト液の削減が図る方法が
種々提案されるものの、一方、レジスト膜の品質に欠陥
をもたらす気泡による異物の析出の問題がある。この気
泡発生の原因は、レジスト供給系統の配管等やフィルタ
装置の配管継手などのリ−クに起因する。特にフィルタ
ハウジングで発生した気泡は、上部に達し大きな気泡に
成長し異物を析出し、この異物がレジスト膜に欠陥を生
じさせたりノズルへのレジスト液の不足など引き起こす
という問題があった。
Although various methods for reducing the amount of the resist solution have been proposed as described above, on the other hand, there is a problem of deposition of foreign matter due to bubbles which cause defects in the quality of the resist film. The cause of the bubble generation is caused by leaks in the piping of the resist supply system and the piping joints of the filter device. In particular, the air bubbles generated in the filter housing reach the upper part, grow into large air bubbles, and deposit foreign matter. This foreign matter causes a defect in the resist film or causes a shortage of the resist solution to the nozzle.

【0005】この気泡の問題を解消するフィルタ装置
が、特開平5−228304号公報に開示されている。
図4は特開平5−228304号公報に開示されたフィ
ルタ装置を示す断面図である。
[0005] A filter device that solves the problem of air bubbles is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-228304.
FIG. 4 is a sectional view showing a filter device disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 5-228304.

【0006】このフィルタ装置は、図4に示すように、
ポンプより圧送されたレジスト液を導入するフィルタ入
口21とレジスト液を排出するフィルタ出口24を有す
るフィルタ容器20と、フィルタ容器20内に内蔵され
押さえ26で固定されるフィルタ部23とを備えてい
る。
[0006] As shown in FIG.
A filter container 20 having a filter inlet 21 for introducing the resist solution pumped from the pump and a filter outlet 24 for discharging the resist solution, and a filter portion 23 built in the filter container 20 and fixed by a retainer 26 are provided. .

【0007】このフィルタ装置の動作は、まず、加圧さ
れたレジスト液がフィルタ入口21よりフィルタ容器2
0に流入してフィルタ部23を通過しフィルタ出口から
排出され他の装置に供給される。
The operation of this filter device is as follows. First, the pressurized resist solution is supplied from the filter inlet 21 to the filter container 2.
0, passes through the filter unit 23, is discharged from the filter outlet, and is supplied to another device.

【0008】このとき振動装置25の振動によりフィル
タ容器20の内壁とフィルタ部23の表面部分に発生し
た気泡を剥離する。剥離された気泡は、フィルタ容器2
0の上部付近に集められ、容器内部が加圧されたとき
に、わずかのレジスト液とともに排出孔27および逆止
弁28を通って排出される。
At this time, the bubbles generated on the inner wall of the filter container 20 and the surface portion of the filter portion 23 by the vibration of the vibration device 25 are separated. The peeled air bubbles form the filter container 2
When the inside of the container is pressurized, it is discharged through a discharge hole 27 and a check valve 28 together with a small amount of resist liquid when the inside of the container is pressurized.

【0009】このように、レジスト液に振動を与え、気
泡を壁やフィルタ部に付着する気泡を剥離させ、容器の
上部に設けられた逆止弁28の排出孔27から気泡を含
むレジスト液を排出することによって気泡を除去してい
た。
As described above, the resist solution is vibrated to remove bubbles adhering to the walls and the filter portion, and the resist solution containing bubbles is discharged from the discharge hole 27 of the check valve 28 provided at the upper part of the container. Air bubbles were removed by discharging.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来のフィル
タ装置では、気泡を排出するのに、僅かな量といえど
も、吐出する毎に気泡とともにレジスト液が排出され消
費するという欠点がある。また、残留するレジスト液に
含む気泡が一定でなく、ポンプの圧力伝達が変化し、吐
出量が安定しないという問題を発生させる。すなわち、
逆止弁から排出された気泡が容器内に逆流することはな
いものの、吐出動作の際に、レジスト液に加わった圧力
が抜けきれない気泡に伝わり、残留する気泡を圧縮させ
圧力がレジスト液に十分伝わらず、レジスト液の吐出量
を変動させる恐れがある。
In the above-mentioned conventional filter device, there is a disadvantage that, even if a small amount is discharged, the resist solution is discharged and consumed together with the bubbles every time the bubbles are discharged. Further, there is a problem that the bubbles contained in the remaining resist liquid are not constant, the pressure transmission of the pump changes, and the discharge amount becomes unstable. That is,
Although the bubbles discharged from the check valve do not flow back into the container, the pressure applied to the resist solution is transmitted to the bubbles that cannot be released during the discharging operation, and the remaining bubbles are compressed and the pressure is applied to the resist solution. There is a possibility that the discharge amount of the resist solution may fluctuate due to insufficient transmission.

【0011】さらに、気泡を壁から離脱させ上昇させる
ために、振動装置を取付けなければならず、装置が大掛
かりになるという欠点がある。その上に、振動装置から
の度々の振動によって、配管継手が緩み、レジスト液が
漏れたり、あるいは、配管継手の隙間から空気が入り配
管内に気泡を生じさせ、レジスト液が送給できなくなる
という問題を含んでいる。
In addition, a vibrating device must be installed in order to remove bubbles from the wall and raise the bubbles, which has the disadvantage that the device becomes large-sized. In addition, frequent vibrations from the vibration device cause the pipe joint to be loosened and the resist liquid to leak, or air to enter through the gap between the pipe joints to generate air bubbles in the pipe, preventing the resist liquid from being supplied. Contains the problem.

【0012】従って、本発明の目的は、気泡をより完全
排除し一定の量の薬液を送給できるフィルタ装置を提供
するとともに薬液であるレジスト液の吐出量を安定させ
より節減できるレジスト塗布装置を提供することにあ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a filter device capable of more completely eliminating bubbles and supplying a fixed amount of a chemical solution, and a resist coating device capable of stabilizing the discharge amount of a resist solution as a chemical solution and further saving. To provide.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本発明の第1の特徴は、
定容量吐出ポンプより供給される薬液が導入される薬液
導入口をもつとともに導入された前記薬液を濾過するフ
ィルタ部を内蔵しかつ導入された前記薬液の一部を排出
する排出口と濾過された前記薬液を排出する供給口とを
有するハウジングと、前記排出口を塞いだり開けたりす
る弁体を具備する開閉弁とを備えるフィルタ装置であ
る。また、前記弁体を押し前記排出口を塞ぐばね部材を
備えることが望ましい。さらに、前記弁体を前記排出口
から引き離す電磁部材を備えるか、あるいは、空圧部材
を備えることが望ましい。
A first feature of the present invention is as follows.
It has a chemical solution inlet through which a chemical solution supplied from a constant-volume discharge pump is introduced, and has a built-in filter unit for filtering the introduced chemical solution, and an outlet through which a part of the introduced chemical solution is discharged, and is filtered. A filter device comprising: a housing having a supply port for discharging the chemical solution; and an on-off valve having a valve element for closing and opening the discharge port. Further, it is preferable that a spring member that presses the valve body and closes the discharge port is provided. Further, it is desirable to provide an electromagnetic member for separating the valve body from the outlet, or to provide a pneumatic member.

【0014】本発明の第2の特徴は、第1の特徴の薬液
がレジスト液であって該レジスト液をノズルから回転す
る半導体基板に滴下し前記半導体基板にレジスト膜を形
成するレジスト塗布装置において、レジスト液貯槽から
吸引し第1の特徴のフィルタ装置の前記導入口に前記レ
ジスト液を圧送する定容量吐出ポンプと、前記フィルタ
装置の供給口と前記ノズルとを連結するノズル配管とを
備えるレジスト塗布装置である。また、前記半導体基板
上の前記ノズルを前記半導体基板から外れた位置に前記
ノズルを移動させる移動機構を備えることが望ましい。
According to a second feature of the present invention, there is provided a resist coating apparatus for forming a resist film on the semiconductor substrate by dropping the resist solution from a nozzle onto a rotating semiconductor substrate. A resist, comprising: a constant volume discharge pump that sucks the resist solution from the resist solution storage tank and pumps the resist solution to the inlet of the filter device according to the first feature; and a nozzle pipe that connects the supply port of the filter device and the nozzle. It is a coating device. Further, it is preferable that a moving mechanism for moving the nozzle to a position where the nozzle on the semiconductor substrate is separated from the semiconductor substrate is provided.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】次に、本発明について図面を参照
して説明する。
Next, the present invention will be described with reference to the drawings.

【0016】図1は本発明の一実施の形態におけるフィ
ルタ装置を示す斜視図である。このフィルタ装置は、図
1に示すように、定量吐出ポンプから供給される薬液を
導入する導入口と接続する導入管4と導入された薬液が
濾過され他の装置に供給する供給口と接続する供給管3
とを備えるハウジング2と、ハウジング2内に残留する
気泡を含む薬液を排出する排出管5と接続する排出口を
塞いたり開けたりする開閉弁1を備えている。
FIG. 1 is a perspective view showing a filter device according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, this filter device is connected to an introduction pipe 4 connected to an introduction port for introducing a chemical solution supplied from a fixed-rate discharge pump, and to a supply port for filtering the introduced chemical solution and supplying it to another device. Supply pipe 3
And an on-off valve 1 for closing or opening a discharge port connected to a discharge pipe 5 for discharging a chemical solution containing air bubbles remaining in the housing 2.

【0017】図2(a)および(b)は図1におけるフ
ィルタ装置の動作を説明するための断面図である。以下
薬液をレジスト液として説明する。このフィルタ装置
は、供給管3から他の部分にレジスト液を供給する場合
は、図2(a)に示すように、バルブディスク8で弁座
9を閉じた状態で、定量吐出ポンプによりレジスト液が
圧送され、導入管4からフィルタ部6を通過し供給管3
から他の部分におくられる。
FIGS. 2A and 2B are cross-sectional views for explaining the operation of the filter device shown in FIG. Hereinafter, the chemical solution will be described as a resist solution. When the resist liquid is supplied from the supply pipe 3 to another portion, the filter liquid is supplied by a constant discharge pump with the valve disc 9 closed with the valve seat 9 as shown in FIG. Is fed through the filter section 6 from the introduction pipe 4 to the supply pipe 3
To other parts.

【0018】また、使用し始めのときに、ハウジング2
内の気泡を抜きたい場合は、図2(b)に示すように、
バルブディスク7を後退さえ弁座9の開口を明け、導入
管4から圧送されるレジスト液の一部を弁座9の開口か
ら排出管5へ流入させ気泡とともに排出する。
At the beginning of use, the housing 2
If you want to remove the air bubbles inside, as shown in FIG.
Even when the valve disk 7 is retracted, the opening of the valve seat 9 is opened, and a part of the resist solution fed from the introduction pipe 4 flows into the discharge pipe 5 through the opening of the valve seat 9 and is discharged together with the bubbles.

【0019】なお、バルブディスク8を後退させるのに
空気圧もしくは電磁力を使用することが望ましい。いず
れにしても、弁座9を閉じる力はスプリング8の反発力
による。この反発力の設定はポンプの吐出圧の少なくと
も2倍にすることが望ましい。そして、故障か何かの事
故により空気切換作動弁もしくは電磁弁への作動信号が
転送されなくとも、バルブディスク7は弁座9をスプリ
ングによって閉じ、気泡を含むレジスト液がハウジング
2内に逆流しないようになっている。
It is desirable to use air pressure or electromagnetic force to retract the valve disk 8. In any case, the force for closing the valve seat 9 is based on the repulsive force of the spring 8. It is desirable to set the repulsion at least twice the discharge pressure of the pump. Then, even if an operation signal to the air switching operation valve or the solenoid valve is not transmitted due to a failure or some other accident, the valve disc 7 closes the valve seat 9 by a spring, and the resist solution containing bubbles does not flow back into the housing 2. It has become.

【0020】このように開閉バルブ1を閉じた状態で吐
出動作を行うと、導入管4から流入したレジスト液の全
部がフィルタ部6で濾過され他の部分に供給される。従
って、レジスト液は無駄なく安定した量で供給される。
When the discharging operation is performed with the opening / closing valve 1 closed as described above, the entire resist liquid flowing from the introduction pipe 4 is filtered by the filter unit 6 and supplied to other parts. Therefore, the resist solution is supplied in a stable amount without waste.

【0021】また、排出管5内に残留し気泡を含むレジ
スト液は、バルブディスク7によってハウジング2内と
隔離されているので、ハウジング2内がたとえ負圧にな
っても逆流することはない。さらに、ハウジング2内の
レジスト液が吐出される際に、加圧されても、気泡が存
在しないので液圧が一定となり吐出量は変動しない。
Further, the resist liquid containing bubbles and remaining in the discharge pipe 5 is isolated from the inside of the housing 2 by the valve disk 7, so that even if the inside of the housing 2 becomes a negative pressure, it does not flow backward. Furthermore, when the resist liquid in the housing 2 is discharged, even if it is pressurized, there is no bubble, so that the liquid pressure is constant and the discharge amount does not fluctuate.

【0022】図3は本発明の一実施の形態におけるレジ
スト塗布装置の概略を示す配管系統図である。このレジ
スト塗布装置は、図3に示すように、スピンチャック1
3に保持されたウェハ29にレジスト液を滴下するノズ
ル11と、レジスト液を貯える薬液槽16と、この薬液
槽16からレジスト液を吸引し送給配管18を経て該レ
ジスト液をフィルタ装置10に圧送するポンプ15と、
フィルタ装置10で濾過されたレジスト液をノズル11
に送液するノズル配管17とを備えている。
FIG. 3 is a piping diagram schematically showing a resist coating apparatus according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 3, the resist coating apparatus includes a spin chuck 1
The nozzle 11 for dropping the resist solution onto the wafer 29 held by the nozzle 3, the chemical solution tank 16 for storing the resist solution, the resist solution is sucked from the chemical solution tank 16, and the resist solution is sent to the filter device 10 via the supply pipe 18. A pump 15 for pumping;
The resist solution filtered by the filter device 10 is passed through the nozzle 11
And a nozzle pipe 17 for sending liquid to the nozzle.

【0023】また、ノズル11を移動するために、例え
ば、旋回継手12を軸としてノズル配管17を旋回させ
るロ−タリアクチュエ−タを設けることが望ましい。一
方、ポンプ15を駆動する電源、トラップタンク14の
エア抜き開閉バルブ、ノズル配管途中に設けられた開閉
バルブ(図示せず)及びフィルタ装置10に直結された
開閉弁1の制御を行う制御部19も備えられている。な
お、フィルタ装置10は、図1のフィルタ装置である。
また、ポンプはベロ−ズポンプである。
In order to move the nozzle 11, it is desirable to provide, for example, a rotary actuator which turns the nozzle pipe 17 around the swivel joint 12. On the other hand, a control unit 19 for controlling a power supply for driving the pump 15, an opening / closing valve for venting the trap tank 14, an opening / closing valve (not shown) provided in the middle of the nozzle pipe, and the opening / closing valve 1 directly connected to the filter device 10. Is also provided. Note that the filter device 10 is the filter device of FIG.
The pump is a bellows pump.

【0024】次に、図2と図3とを参照してこのレジス
ト塗布装置の動作を説明する。まず、図1のポンプ15
の一動作によりレジスト液を薬液槽16から吸引し図2
の導入管4に圧送する。このときは、フィルタ装置10
の開閉弁1は開いている。圧送されたレジスト液は図2
(b)のフィルタ部6を通過しノズル配管17を介して
ノズル11に供給される。このとき、旋回継手12によ
ってウェハ29外に位置したBのノズル11からレジス
ト液が滴下される。また、このときのフィルタ装置の状
態は、図2(b)に示すように、圧送されたレジスト液
の一部は気泡とともに弁座9の開口から排出管5へ排出
される。この動作によって、準備動作における気泡抜き
動作が完了する。
Next, the operation of the resist coating apparatus will be described with reference to FIGS. First, the pump 15 of FIG.
The resist solution is sucked from the chemical solution tank 16 by one operation of FIG.
To the introduction pipe 4. At this time, the filter device 10
Open / close valve 1 is open. Fig. 2
It is supplied to the nozzle 11 via the nozzle pipe 17 after passing through the filter part 6 of (b). At this time, the resist solution is dropped from the nozzle 11 of B located outside the wafer 29 by the swivel joint 12. In addition, as shown in FIG. 2B, the state of the filter device at this time is such that a part of the resist solution that has been fed under pressure is discharged from the opening of the valve seat 9 to the discharge pipe 5 together with bubbles. With this operation, the bubble removing operation in the preparation operation is completed.

【0025】次に、レジスト膜形成動作を説明する。ま
ず、気泡を完全に抜き去ったフィルタ装置10の図2
(a)のバルブディスク7で弁座9の開口を塞ぐ。この
ことは、図3の制御部19から開閉弁の信号断によって
行われる。次に、旋回継手12を軸にしノズル配管17
が旋回し、ノズル11はウェハ29の上の位置Aに位置
決めされる。そして、制御部19からの信号にポンプが
作動しレジスト液がフィルタ装置10に圧送される。
Next, the operation of forming a resist film will be described. First, FIG. 2 of the filter device 10 from which air bubbles have been completely removed.
The opening of the valve seat 9 is closed with the valve disc 7 of FIG. This is performed by the control unit 19 shown in FIG. Next, the nozzle pipe 17 is pivoted around the swivel joint 12.
Turns, and the nozzle 11 is positioned at the position A above the wafer 29. Then, a pump is operated in response to a signal from the control unit 19, and the resist solution is pumped to the filter device 10.

【0026】圧送されたレジスト液は、図2(a)に示
すように、導入管4に入りフィルタ部6で濾過され供給
管から送給される。そして、ノズル配管17を経てレジ
スト液はノズル13からウェハ29に滴下される。そし
て、スピンチャック13の回転によりウェハ29が回転
され、滴下されたレジスト液が外方に伸ばされレジスト
膜が形成される。次に、レジスト膜が形成されたウェハ
29は外され、未処理のウェハがスピンチャック13に
保持され、前述と同様の動作を繰り返して行い。ウェハ
29にレジスト膜を形成する。このように、1ロットの
ウェハの塗布動作を行ったら、気泡抜き動作を行うこと
が望ましい。
As shown in FIG. 2 (a), the resist solution fed under pressure enters the inlet tube 4 and is filtered by the filter unit 6 and sent from the supply tube. Then, the resist solution is dropped from the nozzle 13 onto the wafer 29 via the nozzle pipe 17. Then, the wafer 29 is rotated by the rotation of the spin chuck 13, and the dropped resist liquid is extended outward to form a resist film. Next, the wafer 29 on which the resist film is formed is removed, the unprocessed wafer is held by the spin chuck 13, and the same operation as described above is repeated. A resist film is formed on the wafer 29. As described above, it is desirable to perform the bubble removing operation after performing the coating operation on one lot of wafers.

【0027】このフィルタ装置を使用することによっ
て、このレジスト塗布装置では、1乃至2回の気泡抜き
動作で使用するレジスト液を消費するだけで済み、残り
のレジスト液の殆どは、レジスト膜の形成に使用される
ので、ノズルにレジスト液を供給する毎に逆止弁で気泡
とともにレジスト液を排出する従来のレジスト塗布装置
に比べ半分程度節減できる。
By using this filter device, the resist coating device only needs to consume the resist solution used in one or two bubble removal operations, and most of the remaining resist solution is used for forming the resist film. Therefore, it is possible to save about half as compared with the conventional resist coating apparatus in which the resist liquid is discharged together with the bubbles by the check valve every time the resist liquid is supplied to the nozzle.

【0028】[0028]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、フィルタ
装置に残留する気泡を含む薬液を排出する排出口を塞ぐ
弁体を設け、予め排出口から残留薬液を気泡とともに排
出口外に押してから排出口を塞ぎ、圧縮性がある気泡の
ないハウジング内の薬液を一定の圧力で薬液を圧送でき
るから、供給口から送られる薬液の吐出量は常に安定
し、被薬液塗布物の品質を一定に保つという効果があ
る。
As described above, according to the present invention, a valve element is provided for closing a discharge port for discharging a chemical solution containing air bubbles remaining in a filter device. The outlet can be closed and the chemical in the housing without bubbles with compressibility can be pumped at a constant pressure, so the discharge rate of the chemical from the supply port is always stable, and the quality of the applied liquid is kept constant. This has the effect.

【0029】また、薬液としてレジスト液を使用するレ
ジスト塗布装置に上記フィルタ装置を備えることによっ
て、レジスト液の安定した吐出量をウェハに滴下できる
ので、ウェハに均一なレジスト膜を形成できるという効
果がある。しかも1度か2度の吐出動作で気泡抜きがで
きるので、レジスト液の使用効率が向上する効果もあ
る。
Further, by providing the above-described filter device in a resist coating device using a resist solution as a chemical solution, a stable discharge amount of the resist solution can be dropped onto the wafer, so that a uniform resist film can be formed on the wafer. is there. Moreover, since bubbles can be removed by one or two discharge operations, the use efficiency of the resist solution is also improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態におけるフィルタ装置を
示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a filter device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1におけるフィルタ装置の動作を説明するた
めの断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view for explaining the operation of the filter device in FIG.

【図3】本発明の一実施の形態におけるレジスト塗布装
置の概略を示す配管系統図である。
FIG. 3 is a piping diagram schematically illustrating a resist coating apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図4】特開平5−228304号公報に開示されたフ
ィルタ装置を示す断面図である。
FIG. 4 is a sectional view showing a filter device disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-228304.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 開閉弁 2 ハウジング 3 供給管 4 導入管 5 排出管 6 フィルタ部 7 バルブディスク 8 スプリング 9 弁座 10 フィルタ装置 11 ノズル 12 旋回継手 13 スピンチャック 15 ポンプ 16 薬液槽 17 ノズル配管 18 送給配管 19 制御部 29 ウェハ Reference Signs List 1 opening / closing valve 2 housing 3 supply pipe 4 introduction pipe 5 discharge pipe 6 filter section 7 valve disk 8 spring 9 valve seat 10 filter device 11 nozzle 12 swivel joint 13 spin chuck 15 pump 16 chemical solution tank 17 nozzle pipe 18 supply pipe 19 control Part 29 Wafer

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 定容量吐出ポンプより供給される薬液が
導入される薬液導入口をもつとともに導入された前記薬
液を濾過するフィルタ部を内蔵しかつ導入された前記薬
液の一部を排出する排出口と濾過された前記薬液を排出
する供給口とを有するハウジングと、前記排出口を塞い
だり開けたりする弁体を具備する開閉弁とを備えること
を特徴とするフィルタ装置。
An exhaust system having a chemical solution inlet for introducing a chemical solution supplied from a constant volume discharge pump, a filter unit for filtering the introduced chemical solution, and discharging a part of the introduced chemical solution. A filter device, comprising: a housing having an outlet and a supply port for discharging the filtered chemical solution; and an on-off valve having a valve element for closing and opening the discharge port.
【請求項2】 前記弁体を押し前記排出口を塞ぐばね部
材を備えることを特徴とする請求項1記載のフィルタ装
置。
2. The filter device according to claim 1, further comprising a spring member that presses the valve body and closes the discharge port.
【請求項3】 前記弁体を前記排出口から引き離す電磁
部材を備えることを特徴とする請求項1または請求項2
記載のフィルタ装置。
3. The apparatus according to claim 1, further comprising an electromagnetic member for separating the valve body from the discharge port.
The filter device according to any one of the preceding claims.
【請求項4】 前記弁体を前記排出口から引き離す空圧
部材を備えることを特徴とする請求項1または請求項2
記載のフィルタ装置。
4. The apparatus according to claim 1, further comprising a pneumatic member that separates the valve body from the discharge port.
The filter device according to any one of the preceding claims.
【請求項5】 請求項1記載の薬液がレジスト液であっ
て該レジスト液をノズルから回転する半導体基板に滴下
し前記半導体基板にレジスト膜を形成するレジスト塗布
装置において、レジスト液貯槽から吸引し請求項1記載
のフィルタ装置の前記導入口に前記レジスト液を圧送す
る定容量吐出ポンプと、前記フィルタ装置の供給口と前
記ノズルとを連結するノズル配管とを備えることを特徴
とするレジスト塗布装置。
5. A resist coating apparatus for forming a resist film on a semiconductor substrate, wherein the chemical liquid according to claim 1 is a resist liquid, wherein the resist liquid is dropped from a nozzle onto a rotating semiconductor substrate. 2. A resist coating apparatus, comprising: a constant volume discharge pump for pumping the resist solution to the inlet of the filter device according to claim 1; and a nozzle pipe connecting a supply port of the filter device and the nozzle. .
【請求項6】 前記半導体基板上の前記ノズルを前記半
導体基板から外れた位置に前記ノズルを移動させる移動
機構を備えることを特徴とする請求項5記載のレジスト
塗布装置。
6. The resist coating apparatus according to claim 5, further comprising a moving mechanism for moving the nozzle on the semiconductor substrate to a position outside the semiconductor substrate.
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