JP2001142092A - Liquid crystal display device and method of producing the same - Google Patents

Liquid crystal display device and method of producing the same

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JP2001142092A
JP2001142092A JP31956599A JP31956599A JP2001142092A JP 2001142092 A JP2001142092 A JP 2001142092A JP 31956599 A JP31956599 A JP 31956599A JP 31956599 A JP31956599 A JP 31956599A JP 2001142092 A JP2001142092 A JP 2001142092A
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JP
Japan
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layer
electrode
wiring
liquid crystal
film
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JP31956599A
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Japanese (ja)
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Toshiteru Kaneko
寿輝 金子
Kikuo Ono
記久雄 小野
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To decrease the contact resistance of a semiconductor layer with a source electrode and a drain electrode, to improve the adhesion property and to prevent cutting in lines due to intrusion of a chemical liquid during etching a transparent conductive film. SOLUTION: A gate electrode 4, gate insulating film GI, A-Si layer 7 as a semiconductor layer, N(+)a-Si layer 8 as a contact layer and transparent conductive layer 11 are formed in this order on the inner face of an insulating substrate 1 (SUB1) which constitutes an active matrix substrate where a thin film transistor is formed, and a silicide layer 10 is inserted between the N(+)a-Si layer 8 and the transparent conductive layer 11.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置に係
り、特に薄膜トランジスタ(TFT)方式等のアクティ
ブマトリクス型の液晶表示装置において、製造工程を簡
略して効率的な横電界方式の駆動を可能とした液晶表示
装置とその製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly to an active matrix type liquid crystal display device such as a thin film transistor (TFT) type, which can simplify a manufacturing process and drive efficiently an in-plane switching method. And a method of manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】静止画や動画を含めた各種の画像を表示
するデバイスとして液晶表示装置が広く用いられてい
る。液晶表示装置は、基本的には少なくとも一方が透明
なガラス等からなる二枚の基板の間に液晶層を挟持し、
上記基板に形成した画素形成用の各種電極に選択的に電
圧を印加して所定画素の点灯と消灯を行う型式(所謂、
単純マトリクス型)の液晶パネルを用いるものと、各画
素毎にスイッチング素子を形成してこのスイッチング素
子を選択することにより所定画素の点灯と消灯を行う型
式(所謂、薄膜トランジスタ(TFT)等をスイッチン
グ素子として用いるアクティブマトリクス型)の液晶パ
ネルを用いるものとに分類される。
2. Description of the Related Art Liquid crystal displays are widely used as devices for displaying various images including still images and moving images. A liquid crystal display device basically sandwiches a liquid crystal layer between two substrates at least one of which is made of transparent glass or the like,
A type in which predetermined pixels are turned on and off by selectively applying voltages to various electrodes for pixel formation formed on the substrate (so-called,
A liquid crystal panel using a simple matrix type, and a type in which a switching element is formed for each pixel and a predetermined pixel is turned on and off by selecting the switching element (a so-called switching element such as a thin film transistor (TFT)). (Active matrix type liquid crystal panel used as a liquid crystal panel).

【0003】特に、後者のアクティブマトリクス型の液
晶表示装置は、コントラスト性能、高速表示性能等から
液晶表示装置の主流となっている。アクティブマトリク
ス型液晶表示装置は、一方の基板に形成した電極と他方
の基板に形成した電極との間に液晶層の配向方向を変え
るための電界を印加する縦電界方式が一般的であった
が、最近は液晶に印加する電界の方向を基板面とほぼ平
行な方向とする横電界方式(In−Plane Swi
tching Mode:IPS方式)の液晶表示装置
が実用化されている。この方式では,液晶分子が基板平
面内で回転するため、原理的にコントラストの視野角依
存性が大幅に向上し、複数の人が異なる方向から見るデ
ィスプレイに適した方式である。
In particular, the latter active matrix type liquid crystal display device has become the mainstream of the liquid crystal display device because of its contrast performance, high-speed display performance and the like. Active matrix liquid crystal display devices generally employ a vertical electric field method in which an electric field for changing the orientation of a liquid crystal layer is applied between an electrode formed on one substrate and an electrode formed on the other substrate. Recently, an in-plane electric field method (In-Plane Swi) in which the direction of an electric field applied to a liquid crystal is made substantially parallel to the substrate surface.
(Tching Mode: IPS mode) liquid crystal display devices have been put to practical use. In this method, since the liquid crystal molecules rotate in the plane of the substrate, the viewing angle dependence of the contrast is greatly improved in principle, and this method is suitable for a display in which a plurality of persons view from different directions.

【0004】アクティブマトリクス方式の液晶表示装置
では、スイッチング素子としての薄膜トランジスタは、
ゲート電極の上層に絶縁層を介して半導体層を形成し、
この半導体層の上にドレイン電極とソース電極を形成し
ている。
In an active matrix type liquid crystal display device, a thin film transistor as a switching element is
Forming a semiconductor layer on the gate electrode via an insulating layer,
A drain electrode and a source electrode are formed on this semiconductor layer.

【0005】さらに、横電界式の液晶表示装置では、基
板に平行に形成した電極間に電界を印加するため、原理
的には透明電極は不要となる。しかし、一方では、端子
部分の信頼性を確保するため、すなわち、通電により配
線材料が酸化して腐食または溶解する恐れがあるため、
端子部分を化学的に安定な酸化物である透明導電膜で被
覆することが必要であった。
Further, in a lateral electric field type liquid crystal display device, an electric field is applied between electrodes formed in parallel with the substrate, and thus, in principle, a transparent electrode becomes unnecessary. However, on the other hand, in order to ensure the reliability of the terminal part, that is, the wiring material may be oxidized and corroded or dissolved by energization,
It was necessary to cover the terminal portion with a transparent conductive film that was a chemically stable oxide.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上記したように、アク
ティブマトリクス方式の液晶表示装置では、スイッチン
グ素子としての薄膜トランジスタは、ゲート電極の上層
に絶縁層を介して半導体層を形成し、この半導体層の上
にドレイン電極とソース電極を形成している。この半導
体層とドレイン電極とソース電極とは、当該半導体層上
に形成した半導体コンタクト層で所要のコンタクトを得
るように構成される。
As described above, in an active matrix type liquid crystal display device, a thin film transistor as a switching element has a semiconductor layer formed above a gate electrode with an insulating layer interposed therebetween. A drain electrode and a source electrode are formed thereon. The semiconductor layer, the drain electrode, and the source electrode are configured to obtain a required contact with a semiconductor contact layer formed on the semiconductor layer.

【0007】しかし、ドレイン電極とソース電極とはI
TO等の酸化物透明電極からなり、下層の半導体コンタ
クト層との密着性が良好とは言えず、またそのコンタク
ト抵抗の低抵抗化には限界がある。さらに、上記密着性
が不十分であると上層に形成する透明導電膜のエッチン
グ加工時に薬液が滲み込み、特性が劣化する恐れがあ
る。
However, the drain electrode and the source electrode are
It is made of an oxide transparent electrode such as TO, and cannot be said to have good adhesion to the underlying semiconductor contact layer, and there is a limit to reducing the contact resistance. Further, if the adhesion is insufficient, a chemical solution may permeate during etching of the transparent conductive film formed on the upper layer, and the characteristics may be deteriorated.

【0008】また、横電界方式の液晶表示装置では、櫛
歯状の電極間に電圧を印加することで液晶の分子を回転
させるため、その電極部は光が透過せず、したがって縦
電界方式よりも光の透過率が低下するという問題点があ
った。
In a horizontal electric field type liquid crystal display device, since a liquid crystal molecule is rotated by applying a voltage between comb-shaped electrodes, light is not transmitted through the electrode portion, and therefore, the liquid crystal display device is different from the vertical electric field type. Also, there is a problem that the light transmittance is reduced.

【0009】また、特願平7−211742号公報に記
載のように、光の透過率を向上させることを目的として
画素電極を導体配線とは別に透明導電膜で電極を形成し
たものも提案されている。しかし、この公報に記載の構
造は、その製造工程が複雑になり、製造コストが増加し
てしまうという問題点があった。
Also, as described in Japanese Patent Application No. 7-211742, a pixel electrode formed of a transparent conductive film separately from conductive wiring has been proposed for the purpose of improving light transmittance. ing. However, the structure described in this publication has a problem that the manufacturing process is complicated and the manufacturing cost is increased.

【0010】本発明の目的は、上記従来技術の問題を解
消し、薄膜トランジスタを構成する半導体層とドレイン
電極およびソース電極となる酸化物の透明電極とのコン
タクト性と低抵抗化、および上記透明電極のエッチング
加工時の薬液滲み込みを抑制し、また横電界方式の液晶
表示装置における開口率を向上すると共に、配線の端子
部での接続安定性を確保して製品の信頼性の高い横電界
方式の液晶表示装置とその製造方法を供給することにあ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, and to reduce the contact property and the resistance of a semiconductor layer constituting a thin film transistor and a transparent electrode of an oxide serving as a drain electrode and a source electrode. In addition to suppressing the penetration of chemicals during the etching process, improving the aperture ratio in the horizontal electric field type liquid crystal display device, and ensuring the connection stability at the terminal of the wiring, the horizontal electric field type with high product reliability And a method of manufacturing the same.

【0011】本発明による液晶表示装置は、汎用の液晶
表示装置に適用することはもちろんのこと、特に、小型
ではあるが広い視野角が必要な車載用ディスプレイや個
人用小型テレビに適している。
The liquid crystal display device according to the present invention is not only applicable to a general-purpose liquid crystal display device, but is particularly suitable for an in-vehicle display and a small personal television that are small but require a wide viewing angle.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ため、本発明は、異種金属間の腐食電位差による腐食速
度の相違を利用したものであり、本発明による液晶表示
装置の構成は下記(1)〜(6)に記載の構成としたこ
とを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention utilizes a difference in corrosion rate due to a difference in corrosion potential between different metals, and the structure of a liquid crystal display device according to the present invention is as follows. 1) to (6).

【0013】(1)、絶縁基板の内面に薄膜トランジス
タを形成したアクティブマトリックス基板を有する液晶
パネルと、薄膜トランジスタの駆動で画素を点灯させる
ための駆動信号電圧を印加する駆動回路とを具備し、前
記薄膜トランジスタが、前記絶縁基板の内面にゲート電
極、ゲート絶縁膜、半導体層としてA−Si層、コンタ
クト層としてN(+)a−Si層、透明導電層をこの順
で形成してなり、前記N(+)a−Si層と透明導電層
の間にシリサイド層を介挿した。
(1) A liquid crystal panel having an active matrix substrate in which a thin film transistor is formed on an inner surface of an insulating substrate, and a drive circuit for applying a drive signal voltage for lighting a pixel by driving the thin film transistor, wherein the thin film transistor A gate electrode, a gate insulating film, an A-Si layer as a semiconductor layer, an N (+) a-Si layer as a contact layer, and a transparent conductive layer formed in this order on the inner surface of the insulating substrate. +) A silicide layer was interposed between the a-Si layer and the transparent conductive layer.

【0014】(2)、一方の絶縁基板の内面にゲート配
線およびゲート電極と、コモン配線およびコモン電極
と、画素電極と、半導体層、ドレイン配線およびソース
電極とドレイン電極、画素電極、ゲート絶縁層、半導体
層、コンタクト層、パッシベーション層を形成した薄膜
トランジスタを有するアクティブマトリックス基板と、
他方の絶縁基板の内面にブラックマトリクスと、カラー
フィルタ層と、平滑層を形成したカラーフィルタ基板と
の対向間隙に液晶組成物を封入した液晶パネルと、前記
ゲート配線とドレイン配線および前記コモン配線に薄膜
トランジスタの駆動で画素を点灯させるための駆動信号
電圧を印加する駆動回路とを具備し、前記ゲート配線お
よびゲート電極とコモン配線およびコモン電極を透明導
電膜と金属膜との積層膜で同層に形成した。
(2) A gate wiring and a gate electrode, a common wiring and a common electrode, a pixel electrode, a semiconductor layer, a drain wiring and a source electrode, a drain electrode, a pixel electrode, and a gate insulating layer are formed on the inner surface of one of the insulating substrates. An active matrix substrate having a thin film transistor formed with a semiconductor layer, a contact layer, and a passivation layer,
A black matrix on the inner surface of the other insulating substrate, a color filter layer, a liquid crystal panel in which a liquid crystal composition is sealed in a facing gap between the color filter substrate on which the smooth layer is formed, and the gate wiring, the drain wiring, and the common wiring. A driving circuit for applying a driving signal voltage for lighting a pixel by driving the thin film transistor, wherein the gate wiring and the gate electrode and the common wiring and the common electrode are formed in the same layer with a laminated film of a transparent conductive film and a metal film. Formed.

【0015】(3)、一方の絶縁基板の内面にゲート配
線およびゲート電極と、コモン配線およびコモン電極
と、画素電極と、半導体層、ドレイン配線およびソース
電極とドレイン電極、画素電極、ゲート絶縁層、半導体
層、コンタクト層、パッシベーション層を形成した薄膜
トランジスタを有するアクティブマトリックス基板と、
他方の絶縁基板の内面にブラックマトリクスと、カラー
フィルタ層と、平滑層を形成したカラーフィルタ基板と
の対向間隙に液晶組成物を封入した液晶パネルと、前記
ゲート配線とドレイン配線および前記コモン配線に薄膜
トランジスタの駆動で画素を点灯させるための駆動信号
電圧を印加する駆動回路とを具備し、前記ゲート配線お
よびゲート電極とコモン配線を透明導電膜と金属膜との
積層膜で形成し、前記コモン電極を透明導電膜の単層で
形成し、前記ゲート配線およびゲート電極と前記コモン
配線およびコモン電極のそれぞれを同層に形成した。
(3) A gate wiring and a gate electrode, a common wiring and a common electrode, a pixel electrode, a semiconductor layer, a drain wiring and a source electrode, a drain electrode, a pixel electrode, and a gate insulating layer are formed on the inner surface of one insulating substrate. An active matrix substrate having a thin film transistor formed with a semiconductor layer, a contact layer, and a passivation layer,
A black matrix on the inner surface of the other insulating substrate, a color filter layer, a liquid crystal panel in which a liquid crystal composition is sealed in a facing gap between the color filter substrate on which the smooth layer is formed, and the gate wiring, the drain wiring, and the common wiring. A drive circuit for applying a drive signal voltage for lighting a pixel by driving the thin film transistor; wherein the gate wiring, the gate electrode, and the common wiring are formed of a laminated film of a transparent conductive film and a metal film; Was formed in a single layer of a transparent conductive film, and the gate wiring and the gate electrode and the common wiring and the common electrode were formed in the same layer.

【0016】(4)、(2)または(3)における前記
画素電極を透明導電膜で形成し、前記コモン電極と共に
交互に櫛歯状に配置した。
The pixel electrodes in (4), (2) or (3) are formed of a transparent conductive film, and are alternately arranged in a comb shape with the common electrodes.

【0017】(5)、(1)〜(4)における前記透明
導電膜をアモルファス透明導電膜とした。
(5) The transparent conductive film in (1) to (4) is an amorphous transparent conductive film.

【0018】(6)、(2)〜(5)における前記半導
体層と前記透明導電層の間にシリサイド層を形成した。
(6) In each of (2) to (5), a silicide layer was formed between the semiconductor layer and the transparent conductive layer.

【0019】また、本発明による液晶表示装置の製造方
法は下記(7)〜(9)の構成とした点に特徴を有す
る。
Further, the method of manufacturing a liquid crystal display device according to the present invention is characterized in having the following constitutions (7) to (9).

【0020】(7)、液晶表示装置の液晶パネルを構成
する一方の基板上に、ゲート配線およびゲート電極、コ
モン配線およびコモン電極、ドレイン配線およびドレイ
ン電極、ソース配線およびソース電極を、透明導電膜を
上層とし金属膜を下層とした積層構造膜のパターニング
で形成する液晶表示装置の製造方法であって、前記基板
上に、ゲート配線およびゲート電極、コモン配線および
コモン電極を形成した後、これらを覆ってゲート絶縁膜
を成膜し、前記ドレイン配線およびドレイン電極、およ
び前記ゲート配線およびゲート電極の所要部の上層にア
モルファスシリコン半導体層を形成し、アモルファスシ
リコン半導体層上にコンタクト層としてN(+)アモル
ファスシリコン半導体層を形成し、前記N(+)アモル
ファスシリコン半導体層上に、シリサイド形成傾向が大
きい金属薄膜を成膜し、エッチングしてシリサイド層を
形成し、前記シリサイド層の上に透明導電膜を成膜し、
パターニングしてドレイン電極とソース電極を形成し、
最後に、保護膜としてのパッシベーション層を成膜して
アクティブマトリクス基板を得る。
(7) A gate wiring and a gate electrode, a common wiring and a common electrode, a drain wiring and a drain electrode, a source wiring and a source electrode are formed on one substrate constituting a liquid crystal panel of a liquid crystal display device by a transparent conductive film. A method for manufacturing a liquid crystal display device formed by patterning a laminated structure film having a metal film as a lower layer with an upper layer, wherein a gate wiring and a gate electrode, a common wiring and a common electrode are formed on the substrate, and then these are formed. A gate insulating film is formed so as to cover the amorphous silicon semiconductor layer, and an amorphous silicon semiconductor layer is formed on the drain wiring and the drain electrode and a required portion of the gate wiring and the gate electrode, and N (+) is formed on the amorphous silicon semiconductor layer as a contact layer. A) forming an amorphous silicon semiconductor layer and forming said N (+) amorphous silicon On the body layer, a large metal thin silicide formation tends to deposition, is etched to form a silicide layer, a transparent conductive film on said silicide layer,
Patterning to form drain and source electrodes,
Finally, a passivation layer as a protective film is formed to obtain an active matrix substrate.

【0021】(8)、液晶表示装置の液晶パネルを構成
する一方の基板上に、ゲート配線およびゲート電極、コ
モン配線、ドレイン配線およびドレイン電極、ソース配
線およびソース電極を、透明導電膜を上層とし金属膜を
下層とした積層構造膜のパターニングで形成し、前記コ
モン電極を前記積層構造膜の上層と同一の透明導電膜単
層のパターニングで形成する液晶表示装置の製造方法で
あって、前記基板上に、ゲート配線およびゲート電極、
コモン配線およびコモン電極を形成した後、これらを覆
ってゲート絶縁膜を成膜し、前記ドレイン配線およびド
レイン電極、および前記ゲート配線およびゲート電極の
所要部の上層にアモルファスシリコン半導体層を形成
し、アモルファスシリコン半導体層上にコンタクト層と
してN(+)アモルファスシリコン半導体層を形成し、
前記N(+)アモルファスシリコン半導体層上に、シリ
サイド形成傾向が大きい金属薄膜を成膜し、エッチング
してシリサイド層を形成し、前記シリサイド層の上に透
明導電膜を成膜し、パターニングしてドレイン電極とソ
ース電極を形成し、最後に、保護膜としてのパッシベー
ション層を成膜してアクティブマトリクス基板を得る。
(8) A gate wiring and a gate electrode, a common wiring, a drain wiring and a drain electrode, a source wiring and a source electrode, and a transparent conductive film as an upper layer on one substrate constituting a liquid crystal panel of a liquid crystal display device. A method of manufacturing a liquid crystal display device, wherein the substrate is formed by patterning a laminated structure film having a metal film as a lower layer, and the common electrode is formed by patterning the same transparent conductive film single layer as an upper layer of the laminated structure film. On top, gate wiring and gate electrode,
After forming a common wiring and a common electrode, a gate insulating film is formed to cover them, and an amorphous silicon semiconductor layer is formed on a required layer of the drain wiring and the drain electrode and the gate wiring and the gate electrode. Forming an N (+) amorphous silicon semiconductor layer as a contact layer on the amorphous silicon semiconductor layer,
A metal thin film having a high tendency to form silicide is formed on the N (+) amorphous silicon semiconductor layer, and a silicide layer is formed by etching. A transparent conductive film is formed on the silicide layer and patterned. A drain electrode and a source electrode are formed, and finally, a passivation layer as a protective film is formed to obtain an active matrix substrate.

【0022】(9)、(7)または(8)における前記
積層構造膜の下層を構成する金属膜を、クロム、モリブ
デン、クロム−モリブデン合金の何れかまたはそれらの
積層膜とし、前記シリサイド層を形成する金属層を、モ
リブデン、タングステン、チタン、クロム、タンタル等
の1つまたはそれらの合金とした。
The metal film constituting the lower layer of the laminated structure film in (9), (7) or (8) is any one of chromium, molybdenum, chromium-molybdenum alloy or a laminated film thereof, and the silicide layer is The metal layer to be formed was one of molybdenum, tungsten, titanium, chromium, tantalum, or the like, or an alloy thereof.

【0023】上記の各構成によって、前記した本発明の
目的が達成される理由について説明する。
The reason why the above-described object of the present invention is achieved by each of the above structures will be described.

【0024】横電界方式の液晶表示装置を構成する液晶
パネルの一方の基板上にアクティブマトリクス素子を形
成する際、ゲート配線およびゲート電極、ドレイン配線
およびドレイン電極、ソース電極、コモン配線およびコ
モン電極を形成する。
When forming an active matrix element on one substrate of a liquid crystal panel constituting a liquid crystal display device of a horizontal electric field type, a gate wiring and a gate electrode, a drain wiring and a drain electrode, a source electrode, a common wiring and a common electrode are formed. Form.

【0025】これらの配線と電極の内、低配線抵抗が必
要なゲート配線およびコモン配線は上層が酸化物からな
る透明導電膜、下層が金属膜からなる2層以上の積層構
造膜で構成する。
Of these wirings and electrodes, the gate wiring and the common wiring, which require low wiring resistance, are composed of a transparent conductive film made of an oxide on the upper layer and a laminated structure of two or more layers made of a metal film on the lower layer.

【0026】一方、小型の表示装置では、さほど低抵抗
化する必要の無いソース配線およびドレイン配線を透明
導電膜の単層で形成することにより、横電界方式の液晶
パネルで櫛歯状の電極を構成するソース電極の近傍にお
いて、透明電極の内側への光の回り込みにより、画素内
での光の透過率を向上させることができる。
On the other hand, in the case of a small-sized display device, by forming the source wiring and the drain wiring, which do not need to be reduced so much, by a single layer of a transparent conductive film, a comb-shaped electrode is formed in a horizontal electric field type liquid crystal panel. In the vicinity of the source electrode to be configured, the light wrap around the inside of the transparent electrode can improve the light transmittance in the pixel.

【0027】端子部を構成するゲート電極、コモン電
極、ドレイン電極は、全てその表面が透明導電膜である
ため、その配線端子部において端子の酸化によるプリン
ト基板や駆動回路の配線との接続信頼性を確保できる。
これにより、端子保護のためだけにホトリソグラフィ工
程を増加させる必要は無くなる。
Since the surfaces of the gate electrode, common electrode, and drain electrode constituting the terminal portion are all made of a transparent conductive film, the connection reliability of the wiring terminal portion with the printed circuit board or the drive circuit wiring due to oxidation of the terminal at the wiring terminal portion. Can be secured.
Thus, it is not necessary to increase the number of photolithography steps only for protecting terminals.

【0028】また、薄膜トランジスタはゲート電極上に
絶縁層を介して半導体層を有している。酸化物からなる
透明導電膜を単層膜で半導体層とコンタクトさせるため
には、その間に酸化に対して安定なシリサイドを形成さ
せることが有効である。
Further, the thin film transistor has a semiconductor layer on the gate electrode via an insulating layer. In order for the transparent conductive film made of oxide to contact the semiconductor layer with a single-layer film, it is effective to form a silicide that is stable against oxidation during the contact.

【0029】酸化物からなる透明導電膜の酸素はシリサ
イドと接触し、半導体層と接触することはないため、半
導体層とソース電極およびドレイン電極のコンタクト抵
抗が増加することはない。
Since oxygen in the transparent conductive film made of oxide contacts silicide and does not contact the semiconductor layer, the contact resistance between the semiconductor layer and the source and drain electrodes does not increase.

【0030】さらに、ドレイン配線に沿って半導体層と
シリサイド層を連続して形成することにより、透明導電
膜単層での配線抵抗を単独の場合に比較して低下させる
ことができる。またさらに、密着性を向上させることに
より透明導電膜のエッチング時の薬液の染みこみによる
断線を防止できる。
Further, by forming the semiconductor layer and the silicide layer continuously along the drain wiring, the wiring resistance of the single layer of the transparent conductive film can be reduced as compared with the case of the single layer. Further, by improving the adhesion, disconnection due to penetration of a chemical solution during etching of the transparent conductive film can be prevented.

【0031】ゲート配線およびゲート電極とコモン配線
およびコモン電極を透明導電膜と金属膜の積層構造膜と
同時、同層にパターニングすることで製造工程を簡略化
できる。透明導電層と金属層とを別工程で加工した場
合、工程数は増加する。しかし、画素内の部分の櫛歯電
極を形成するコモン電極を透明導電層のみで形成し、ゲ
ート配線およびゲート電極とコモン配線(コモンバスラ
イン)を透明導電層と金属層との積層構造膜で構成する
ことにより、低配線抵抗を確保しつつ、コモン電極が透
明化でき、光透過率の向上が実現できる。
The manufacturing process can be simplified by patterning the gate wiring, the gate electrode, the common wiring, and the common electrode in the same layer as the transparent conductive film and the metal film at the same time. When the transparent conductive layer and the metal layer are processed in different steps, the number of steps increases. However, the common electrode forming the comb-shaped electrode in the pixel portion is formed only of the transparent conductive layer, and the gate wiring and the gate electrode and the common wiring (common bus line) are formed of a laminated structure film of the transparent conductive layer and the metal layer. With this configuration, the common electrode can be made transparent while ensuring low wiring resistance, and an improvement in light transmittance can be realized.

【0032】なお、本発明は上記の構成および後述する
実施例の構成に限定されるものではなく、本発明の技術
思想を逸脱することなく種々の変更が可能である。
It should be noted that the present invention is not limited to the above configuration and the configuration of the embodiment described later, and various modifications can be made without departing from the technical idea of the present invention.

【0033】[0033]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、実施例の図面を参照して詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.

【0034】図1は本発明による液晶表示装置の第1実
施例を説明する要部断面図である。また、図2は本発明
による液晶表示装置の一画素付近の構成を説明する平面
図である。以下の説明では、理解し易いように主要な構
成には、その機能を表す記号も併せて示し、製造工程の
説明で構造を説明する。
FIG. 1 is a sectional view of a principal part for explaining a first embodiment of the liquid crystal display device according to the present invention. FIG. 2 is a plan view illustrating a configuration near one pixel of the liquid crystal display device according to the present invention. In the following description, for the sake of easy understanding, the main components are indicated with symbols indicating their functions, and the structure is described in the description of the manufacturing process.

【0035】ガラス基板SUB1上に金属膜2としてク
ロム(Cr)、モリブデン(Mo)、クロム−モリブデ
ン合金(Cr−Mo)の何れかの膜を成膜する。本実施
例ではクロム(Cr)を用いている。
Any one of chromium (Cr), molybdenum (Mo), and a chromium-molybdenum alloy (Cr-Mo) is formed as the metal film 2 on the glass substrate SUB1. In this embodiment, chromium (Cr) is used.

【0036】この上に透明導電膜3としてインジウムス
ズオキサイドITO(In−Sn−O)、やインジウム
亜鉛オキサイドIZO(In−Zn−O)を連続して成
膜する。本実施例ではIZOを用いている。
On this film, indium tin oxide ITO (In—Sn—O) or indium zinc oxide IZO (In—Zn—O) is continuously formed as a transparent conductive film 3. In this embodiment, IZO is used.

【0037】次いで、上記透明導電膜3の上にホトリソ
グラフィー工程で形成した感光性レジストをマスクとし
て、エッチング加工でゲート配線4(GL)とコモン配
線(CL)5とを同時に加工する。なお、図1では、ゲ
ート配線4(GL)はゲート電極GTを構成し、コモン
配線(CT)5にはコモン電極CTがつながっている。
また、ソース電極11(SD2)につながる画素電極2
6(PX)は透明電極IZOの単層で形成されている。
図示しないが、ゲート配線4(GL)の端子部はIZO
の単層で形成されている。
Next, the gate wiring 4 (GL) and the common wiring (CL) 5 are simultaneously processed by etching using the photosensitive resist formed on the transparent conductive film 3 in the photolithography step as a mask. In FIG. 1, the gate wiring 4 (GL) forms the gate electrode GT, and the common wiring (CT) 5 is connected to the common electrode CT.
The pixel electrode 2 connected to the source electrode 11 (SD2)
6 (PX) is formed of a single layer of the transparent electrode IZO.
Although not shown, the terminal portion of the gate wiring 4 (GL) is IZO
In a single layer.

【0038】このエッチング加工には、結晶性の透明導
電膜を用いる場合にはドライエッチで行い、非晶質(ア
モルファス)透明導電膜を用いる場合にはウエットエッ
チングを用いる。透明導電膜3にIZO膜を用いると、
下層の金属膜2と同じエッチング液で一括エッチングで
きる。
This etching process is performed by dry etching when a crystalline transparent conductive film is used, and wet etching is used when an amorphous (amorphous) transparent conductive film is used. When an IZO film is used for the transparent conductive film 3,
Batch etching can be performed with the same etchant as the lower metal film 2.

【0039】その上にゲート絶縁層6(GI)として窒
化シリコン(SiN)膜、半導体層7としてa−Si層
7(AS)、コンタクト層8としてホスフィンをドーピ
ングしたN(+)a−Si(以下n+ a−Siと表記す
る)膜(N+ AS)をCVD法で連続成膜する。
A silicon nitride (SiN) film as a gate insulating layer 6 (GI), an a-Si layer 7 (AS) as a semiconductor layer 7 and phosphine-doped N (+) a-Si ( A film (hereinafter, referred to as n + a-Si) (N + AS) is continuously formed by a CVD method.

【0040】次に、シリサイド層10(SSD)を形成
するため、シリサイド形成元素であるモリブデンMo、
クロムCr、タングステンW、チタンTi等の内少なく
とも1つをスパッタリング法で形成する。本実施例で
は、モリブデンを用いた。
Next, in order to form the silicide layer 10 (SSD), molybdenum Mo, which is a silicide forming element,
At least one of chromium Cr, tungsten W, titanium Ti and the like is formed by a sputtering method. In this example, molybdenum was used.

【0041】このシリサイド形成元素のスパッタリング
中に半導体膜(a−Si膜)7(AS)上の金属膜(モ
リブデン)とa−Si膜7との界面で金属膜と金属元素
がSi元素と結合し、シリサイド層10(SSD)が形
成される。その後、この金属膜を全面エッチングする
と、金属部分はエッチング除去され、界面に形成された
薄いシリサイド層SSDのみがa−Si膜7(AS)上
に残る。
During the sputtering of the silicide forming element, the metal film and the metal element combine with the Si element at the interface between the metal film (molybdenum) on the semiconductor film (a-Si film) 7 (AS) and the a-Si film 7. Then, a silicide layer 10 (SSD) is formed. Thereafter, when this metal film is entirely etched, the metal portion is removed by etching, and only the thin silicide layer SSD formed at the interface remains on the a-Si film 7 (AS).

【0042】次に、a−Siアイランドパターン9(A
SL)を形成する。エッチングにはHClガスを用いた
ドライエッチングを用いる。
Next, the a-Si island pattern 9 (A
SL). Dry etching using HCl gas is used for the etching.

【0043】そして、透明導電膜11として多結晶(ア
モルファス)IZO膜をスパッタリング法で形成する。
ホトリソグラフィ工程にてドレイン電極12(SD1)
とソース電極13(SD2)を形成する。このエッチン
グにはウエットエッチング法を用い、エッチング液とし
ては臭化水素酸(HBr)または王水を用いる。
Then, a polycrystalline (amorphous) IZO film is formed as the transparent conductive film 11 by a sputtering method.
Drain electrode 12 (SD1) in photolithography process
And a source electrode 13 (SD2). A wet etching method is used for this etching, and hydrobromic acid (HBr) or aqua regia is used as an etchant.

【0044】ソース電極13(SD2)は櫛歯状電極と
して寸法精度良く加工する必要があるため、エッチング
後退量の少ないHBrの方が本発明には適している。
Since the source electrode 13 (SD2) needs to be processed with high dimensional accuracy as a comb-shaped electrode, HBr having a small amount of etching retreat is more suitable for the present invention.

【0045】透明導電層11(IZO)とコンタクト層
8(n+ a−Si膜(N+ AS))との界面には酸化物
からの酸素の拡散に対してシリサイド層10(SSD)
がブロッキング層として働くことで、コンタクト抵抗が
増加することがない。
The interface between the transparent conductive layer 11 (IZO) and the contact layer 8 (n + a-Si film (N + AS)) has a silicide layer 10 (SSD) against diffusion of oxygen from oxide.
Works as a blocking layer, so that the contact resistance does not increase.

【0046】コンタクト層8(n+ a−Si膜(N+
S))上にブロッキング層としてシリサイド層10(S
SD)を形成する以外に、n+ a−Si膜(N+ AS)
のコンタクト層8のコンタクト抵抗を大幅に低減し、コ
ンタクト抵抗のマージンを大きく取ってもよい。そのた
めには、コンタクト層の材料をアモルファスn+ a−S
i膜8(N+ AS)から微結晶シリコン膜(μc−S
i)に変更しても良い。
The contact layer 8 (n + a-Si film (N + A
S)) A silicide layer 10 (S
SD), an n + a-Si film (N + AS)
The contact resistance of the contact layer 8 may be significantly reduced, and a large margin of the contact resistance may be secured. For this purpose, the material of the contact layer is changed to amorphous n + a-S
i-film 8 (N + AS) to microcrystalline silicon film (μc-S
It may be changed to i).

【0047】μc−Si膜をコンタクト層として用いた
場合は、その比抵抗が同じホスフィン濃度で添加したア
モルファスSi(102 S/cm)に比べ,10-2S/
cmと、その比抵抗は約4桁小さくなる。この低いコン
タクト抵抗において、ソース、ドレイン電極でのコンタ
クト特性は低抵抗となる。さらに、透明導電膜からの酸
素の拡散があっても、画質に影響を及ぼすようなコンタ
クト特性の増加は見られない。
When the μc-Si film is used as a contact layer, its specific resistance is 10 −2 S / cm compared to amorphous Si (10 2 S / cm) added at the same phosphine concentration.
cm and its specific resistance is reduced by about four orders of magnitude. At this low contact resistance, the contact characteristics at the source and drain electrodes are low. Furthermore, even if oxygen diffuses from the transparent conductive film, no increase in contact characteristics that affects image quality is observed.

【0048】最後に、パッシベーション層14(PA
S)としてSiN膜をプラズマCVD法で成膜する。
Finally, the passivation layer 14 (PA
As S), a SiN film is formed by a plasma CVD method.

【0049】図3は本実施例におけるゲート端子部とコ
モン端子部を説明図する模式図であり、(a)は要部平
面図、(b)は(a)のA−A線に沿った断面図を示
す。
FIGS. 3A and 3B are schematic diagrams for explaining the gate terminal portion and the common terminal portion in the present embodiment. FIG. 3A is a plan view of a main portion, and FIG. 3B is a view along the line AA in FIG. FIG.

【0050】このゲート端子部GTM(とコモン端子部
CTM)は、前記したゲート配線GL(コモン配線C
L)の引出し線であり、上層に透明導電膜IZOと下層
に金属膜Crを配した積層構造膜に上にゲート絶縁層G
Iと保護膜PASを被覆してある。なお、SUB2はカ
ラーフィルタ基板を示す。
The gate terminal GTM (and the common terminal CTM) are connected to the gate line GL (common line C).
L), and a gate insulating layer G is formed on a laminated structure film having a transparent conductive film IZO as an upper layer and a metal film Cr as a lower layer.
I and a protective film PAS. SUB2 indicates a color filter substrate.

【0051】ゲート端子GTM(コモン端子CTM)の
ゲート絶縁層GIと保護膜PASにスルーホール15を
形成してゲート配線GL(コモン配線CL)を露出させ
る。ゲート端子GTM(コモン端子CTM)はゲート絶
縁層6(GI)と保護膜であるパッシベーション層14
(PAS)の下にあるので、スルーホール15の形成時
には、この両者を一括エッチングする。
A through hole 15 is formed in the gate insulating layer GI of the gate terminal GTM (common terminal CTM) and the protective film PAS to expose the gate line GL (common line CL). The gate terminal GTM (common terminal CTM) includes the gate insulating layer 6 (GI) and the passivation layer 14 serving as a protective film.
(PAS), when forming the through hole 15, both are etched at once.

【0052】このエッチングにはSF6 ガスを用いたド
ライエッチング法を用いる。ドライエッチング終了時に
は、ドライエッチングプラズマに透明導電層(IZO
層)が曝されるが、IZO層は酸化物でエッチングガス
に対して安定であるため、プラズマダメージはない。
For this etching, a dry etching method using SF 6 gas is used. At the end of dry etching, the transparent conductive layer (IZO
Layer), but there is no plasma damage because the IZO layer is an oxide and is stable to an etching gas.

【0053】これらの端子部の露出部に全て透明導電膜
IZOが存在するようにスルーホール15を形成するこ
とで、端子部の金属層(下層であるCr層)がプラズマ
及びスルーホール形成後も空気にさらされることがない
ため、安定な端子接続が可能となる。
By forming the through-holes 15 so that the transparent conductive film IZO is present in all of the exposed portions of the terminal portions, the metal layer (the lower Cr layer) of the terminal portions is maintained even after plasma and through-hole formation. Since it is not exposed to air, stable terminal connection is possible.

【0054】図4は本実施例におけるドレイン端子部を
説明図する模式図であり、(a)は要部平面図、(b)
は(a)のB−B線に沿った断面図を示す。ドレイン端
子DTMは透明導電層単層であるため、端子部には保護
膜であるパッシベーション層PASが被覆されているの
で、ドレイン端子DTMの部分のみのパッシベーション
層PASを除去してもよく、また端子部のパッシベーシ
ョン層PASの全てをエッチング除去しても良い。本例
は後者を示す。
FIGS. 4A and 4B are schematic views for explaining the drain terminal portion in the present embodiment. FIG. 4A is a plan view of a main part, and FIG.
3A is a cross-sectional view along the line BB in FIG. Since the drain terminal DTM is a single layer of a transparent conductive layer, the terminal portion is covered with a passivation layer PAS which is a protective film. Therefore, the passivation layer PAS only at the drain terminal DTM may be removed. The entire passivation layer PAS may be removed by etching. This example illustrates the latter.

【0055】ドレイン端子はIZOで形成されているた
め、プラズマ及びスルーホール形成後も空気にさらされ
ることがないため、安定な端子接続が可能となる。
Since the drain terminal is formed of IZO, the terminal is not exposed to air even after the plasma and the through hole are formed, so that a stable terminal connection is possible.

【0056】本実施例により、ソース電極につながる櫛
歯電極である画素電極26(PX)を透明導電膜で形成
するため、横電界方式の液晶パネルを構成するアクティ
ブマトリクス基板(SUB1)を4回のホトリソグラフ
ィー工程で作成することができる。
According to this embodiment, since the pixel electrode 26 (PX), which is a comb-tooth electrode connected to the source electrode, is formed of a transparent conductive film, the active matrix substrate (SUB1) constituting the in-plane switching mode liquid crystal panel is formed four times. In the photolithography process.

【0057】このようにして作成したアクティブマトリ
クス基板と別途制作したカラーフィルタ基板(SUB
2)とを貼り合わせ、その間隙に液晶組成物を封入して
液晶パネルを構成し、その光透過率を測定した。その結
果、画素電極とコモン電極を共に金属膜で構成したアク
ティブマトリクス基板を用いた液晶パネルと比べ、画素
電極PXの画素内に占める面積に対応して、光透過率が
約10%向上していた。
The active matrix substrate thus produced and a color filter substrate (SUB) produced separately.
2) was adhered, and a liquid crystal composition was sealed in the gap to form a liquid crystal panel, and the light transmittance was measured. As a result, as compared with a liquid crystal panel using an active matrix substrate in which both the pixel electrode and the common electrode are formed of a metal film, the light transmittance is improved by about 10% corresponding to the area of the pixel electrode PX in the pixel. Was.

【0058】本実施例により、製造工程が簡略化され、
光透過率が高く、明るい液晶表示装置を得ることができ
る。
According to this embodiment, the manufacturing process is simplified.
A bright liquid crystal display device having high light transmittance can be obtained.

【0059】図5は本発明による液晶表示装置の第2実
施例を説明する要部断面図である。また、図6は本発明
による液晶表示装置の一画素付近の構成を説明する平面
図である。以下の説明では、前記した第1実施例と同様
に、理解し易いように主要な構成には、その機能を表す
記号も併せて図面に示してある。
FIG. 5 is a sectional view of a principal part for explaining a second embodiment of the liquid crystal display device according to the present invention. FIG. 6 is a plan view illustrating a configuration near one pixel of the liquid crystal display device according to the present invention. In the following description, similar to the first embodiment, the main components are shown in the drawings together with symbols indicating their functions for easy understanding.

【0060】まず、ガラス基板SUB1上に金属膜とし
てクロム膜2(Cr)を成膜し、ホトエッチングにより
ゲート配線4(GL/ゲート電極GT)およびコモン配
線CLを加工する。次に、透明導電膜3としてITO膜
を成膜し、ホトエッチングによりゲート配線4(GL/
ゲート電極GT)とコモン配線5(CL)の表面を覆う
ように、かつコモン電極5(CT)部分に単層となるよ
うに透明導電膜ITOを加工する。
First, a chromium film 2 (Cr) is formed as a metal film on the glass substrate SUB1, and the gate wiring 4 (GL / gate electrode GT) and the common wiring CL are processed by photoetching. Next, an ITO film is formed as the transparent conductive film 3, and the gate wiring 4 (GL /
The transparent conductive film ITO is processed so as to cover the surfaces of the gate electrode GT) and the common wiring 5 (CL) and to form a single layer at the common electrode 5 (CT) portion.

【0061】すなわち、本実施例では、ゲート配線4
(GL)はゲート電極GTを構成し、コモン配線(C
L)5はゲート配線4(GL)とゲート電極GTと同様
の積層構造膜であり、コモン配線5(CL)につながる
コモン電極CTはITO単層で形成される。
That is, in this embodiment, the gate wiring 4
(GL) constitutes the gate electrode GT, and the common wiring (C
L) 5 is a laminated structure film similar to the gate wiring 4 (GL) and the gate electrode GT, and the common electrode CT connected to the common wiring 5 (CL) is formed of a single ITO layer.

【0062】また、ソース電極11(SD2)につなが
る画素電極26(PX)は透明電極IZOの単層で形成
されている。図示しないが、ゲート配線4(GL)の端
子部はIZOの単層で形成されている。
The pixel electrode 26 (PX) connected to the source electrode 11 (SD2) is formed as a single layer of the transparent electrode IZO. Although not shown, the terminal portion of the gate wiring 4 (GL) is formed of a single layer of IZO.

【0063】このエッチング加工には、結晶性の透明導
電膜を用いる場合にはドライエッチで行い、非晶質(ア
モルファス)透明導電膜を用いる場合にはウエットエッ
チングを用いる。
This etching process is performed by dry etching when a crystalline transparent conductive film is used, and wet etching when an amorphous (amorphous) transparent conductive film is used.

【0064】その上にゲート絶縁層6(GI)として窒
化シリコン(SiN)膜、半導体層7としてa−Si層
7(AS)、コンタクト層8としてホスフィンをドーピ
ングしたN(+)a−Si(以下n+ a−Siと表記す
る)膜(N+ AS)をCVD法で連続成膜する。
A silicon nitride (SiN) film as the gate insulating layer 6 (GI), an a-Si layer 7 (AS) as the semiconductor layer 7, and phosphine-doped N (+) a-Si ( A film (hereinafter, referred to as n + a-Si) (N + AS) is continuously formed by a CVD method.

【0065】次に、シリサイド層10(SSD)を形成
するため、シリサイド形成元素であるモリブデンMo、
クロムCr、タングステンW、チタンTi等の内少なく
とも1つをスパッタリング法で形成する。本実施例で
は、モリブデンを用いた。
Next, in order to form the silicide layer 10 (SSD), molybdenum Mo which is a silicide forming element,
At least one of chromium Cr, tungsten W, titanium Ti and the like is formed by a sputtering method. In this example, molybdenum was used.

【0066】シリサイド層10(SSD)の形成は前記
第1実施例と同様に行われ、a−Si膜7(AS)上に
このシリサイド層10(SSD)が形成される。
The formation of the silicide layer 10 (SSD) is performed in the same manner as in the first embodiment, and the silicide layer 10 (SSD) is formed on the a-Si film 7 (AS).

【0067】次に、a−Si層7(AS)をHClガス
を用いたドライエッチングでa−Siアイランドパター
ン9(ASL)を形成する。
Next, an a-Si island pattern 9 (ASL) is formed on the a-Si layer 7 (AS) by dry etching using HCl gas.

【0068】そして、透明導電膜11として多結晶(ア
モルファス)IZO膜をスパッタリング法で形成し、臭
化水素酸(HBr)または王水を用いたエッチングでド
レイン電極12(SD1)とソース電極13(SD2)
を形成する。
Then, a polycrystalline (amorphous) IZO film is formed as the transparent conductive film 11 by a sputtering method, and the drain electrode 12 (SD1) and the source electrode 13 (SD1) are etched by using hydrobromic acid (HBr) or aqua regia. SD2)
To form

【0069】この構成でも、透明導電層11(ITO)
とコンタクト層8(n+ a−Si膜(N+ AS))との
界面には酸化物からの酸素の拡散に対してシリサイド層
10(SSD)がブロッキング層として働くことで、コ
ンタクト抵抗が増加することがない。
Also in this configuration, the transparent conductive layer 11 (ITO)
The contact resistance increases due to the silicide layer 10 (SSD) acting as a blocking layer against the diffusion of oxygen from the oxide at the interface between the contact layer 8 and the contact layer 8 (n + a-Si film (N + AS)). Never do.

【0070】コンタクト層8(n+ a−Si膜(N+
S))上にブロッキング層としてシリサイド層10(S
SD)は、n+ a−Si膜(N+ AS)に代えて微結晶
シリコン膜(μc−Si)を用いても良い。μc−Si
膜をコンタクト層として用いた場合の比抵抗が同じホス
フィン濃度で添加したアモルファスSi(102 S/c
m)に比べ、10-2S/cmとなり、その比抵抗は約4
桁小さくなる。この低いコンタクト抵抗でソース電極、
ドレイン電極でのコンタクト特性は低抵抗となる。さら
に、透明導電膜からの酸素の拡散があっても、画質に影
響を及ぼすようなコンタクト特性の増加は見られない。
The contact layer 8 (n + a-Si film (N + A
S)) A silicide layer 10 (S
For SD), a microcrystalline silicon film (μc-Si) may be used instead of the n + a-Si film (N + AS). μc-Si
Amorphous Si (10 2 S / c) doped at the same phosphine concentration has the same specific resistance when the film is used as a contact layer.
m) and 10 -2 S / cm, and the specific resistance is about 4
Order of magnitude smaller. With this low contact resistance, the source electrode,
The contact characteristics at the drain electrode are low. Furthermore, even if oxygen diffuses from the transparent conductive film, no increase in contact characteristics that affects image quality is observed.

【0071】最後に、パッシベーション層14(PA
S)としてSiN膜をプラズマCVD法で成膜する。
Finally, the passivation layer 14 (PA
As S), a SiN film is formed by a plasma CVD method.

【0072】本実施例の構成により、その結果、横電界
方式の櫛歯電極は、コモン電極CTと画素電極PXは共
に透明電極化できる。その結果、コモン電極CTも光が
透過し、画素電極PXとコモン電極CTを金属電極とし
たものに比較して、画素内に占めるコモン電極の面積に
相当した約10%増加する。
According to the configuration of this embodiment, as a result, in the lateral electric field type comb-teeth electrode, both the common electrode CT and the pixel electrode PX can be made transparent electrodes. As a result, light is transmitted through the common electrode CT as well, which is increased by about 10% corresponding to the area of the common electrode occupying in the pixel as compared with the case where the pixel electrode PX and the common electrode CT are metal electrodes.

【0073】このように、本実施例では、画素電極の透
明導電膜化と合わせることにより、5回のホトリソグラ
フィ工程で、金属櫛歯電極に比較して合計約20%の光
透過率の向上が得られる。また、本実施例における端子
部の構成は前記図3および図4で説明したものと同様で
ある。
As described above, in this embodiment, by combining with the formation of the transparent conductive film of the pixel electrode, the light transmittance can be improved by a total of about 20% as compared with the metal comb electrode in the five photolithography steps. Is obtained. Further, the configuration of the terminal portion in the present embodiment is the same as that described with reference to FIGS.

【0074】本実施例によっても、製造工程が簡略化さ
れ、光透過率が高く、明るい液晶表示装置を得ることが
できる。
According to this embodiment, the manufacturing process is simplified, and a liquid crystal display device having a high light transmittance and a high brightness can be obtained.

【0075】次に、本発明の液晶表示装置の駆動回路と
駆動方法および全体構成について、図7〜図9を参照し
て説明する。
Next, a driving circuit, a driving method, and an entire configuration of the liquid crystal display device of the present invention will be described with reference to FIGS.

【0076】図7は本発明による液晶表示装置の駆動回
路の概念図であって、CONT/PWSはコントロール
回路/電源回路、GDRはゲート電極駆動回路(走査電
極駆動回路)、DDRはドレイン電極駆動回路(信号電
極駆動回路)、CDRはコモン電極駆動回路(共通電極
駆動回路)、PNLは液晶パネル(有効表示領域)であ
る。なお、CLCは液晶の容量成分、CS は保持容量を示
す。
FIG. 7 is a conceptual diagram of a driving circuit of a liquid crystal display device according to the present invention, wherein CONT / PWS is a control circuit / power supply circuit, GDR is a gate electrode driving circuit (scanning electrode driving circuit), and DDR is a drain electrode driving circuit. A circuit (signal electrode drive circuit), CDR is a common electrode drive circuit (common electrode drive circuit), and PNL is a liquid crystal panel (effective display area). Incidentally, C LC is the capacitance component of the liquid crystal, the C S indicates a holding capacitance.

【0077】液晶パネルPNLの各画素をスイッチング
する薄膜トランジスタTFTは、ゲート電極駆動回路G
DR、ドレイン電極駆動回路DDRおよびコモン電極駆
動回路CDRにより選択的にオン/オフされる。このオ
ン/オフはコントロール回路CONTによって制御され
る。
A thin film transistor TFT for switching each pixel of the liquid crystal panel PNL includes a gate electrode driving circuit G
It is selectively turned on / off by the DR, the drain electrode drive circuit DDR, and the common electrode drive circuit CDR. This on / off is controlled by the control circuit CONT.

【0078】図8は本発明による液晶表示装置の駆動波
形の一例の説明図である。同図では、対向電圧をVCH
とVCLの2値の交流矩形波にし、それに同期させて走
査信号VG(i−1)、VG(i)の非選択電圧を1走
査期間毎に、VCHとVCLの2値で変化させる。対向
電圧の振幅幅と非選択電圧の振幅値は同一にする。
FIG. 8 is an explanatory diagram of an example of a driving waveform of the liquid crystal display device according to the present invention. In the figure, the opposite voltage is VCH
And a VCL and a binary AC rectangular wave, and in synchronism therewith, the non-selection voltages of the scanning signals VG (i-1) and VG (i) are changed by the binary values of VCH and VCL every scanning period. The amplitude width of the counter voltage and the amplitude value of the non-selection voltage are the same.

【0079】映像信号電圧は、液晶層に印加したい電圧
から対向電圧の振幅の1/2を差し引いた電圧である。
The video signal voltage is a voltage obtained by subtracting 振幅 of the amplitude of the counter voltage from the voltage to be applied to the liquid crystal layer.

【0080】対向電圧は直流でも良いが、交流化するこ
とで映像信号電圧の最大振幅を低減でき、映像信号駆動
回路(信号側ドライバ)に耐圧の低いものを用いること
が可能になる。
The counter voltage may be DC, but by converting it to AC, the maximum amplitude of the video signal voltage can be reduced, and a video signal drive circuit (signal-side driver) having a low withstand voltage can be used.

【0081】図9は本発明による液晶表示装置の全体構
成を説明する展開斜視図であり、液晶表示装置(以下、
2枚の基板SUB1,SUB2を貼り合わせてなる液晶
パネル、駆動手段、バックライト、その他の構成部材を
一体化した液晶表示モジュール:MDLと称する)の具
体的構造を説明するものである。
FIG. 9 is an exploded perspective view for explaining the overall structure of the liquid crystal display device according to the present invention.
A liquid crystal display module in which two substrates SUB1 and SUB2 are bonded to each other, a driving unit, a backlight, and a liquid crystal display module (hereinafter, referred to as an MDL) in which other components are integrated is described.

【0082】SHDは金属板からなるシールドケース
(メタルフレームとも言う)、WDは表示窓、INS1
〜3は絶縁シート、PCB1〜3は駆動手段を構成する
回路基板(PCB1はドレイン側回路基板(ドレイン線
駆動回路:映像信号線駆動用回路基板)、PCB2はゲ
ート側回路基板(ゲート線駆動回路:走査線駆動回
路)、PCB3はインターフェース回路基板(コントロ
ール回路基板)、JN1〜3は回路基板PCB1〜3同
士を電気的に接続するジョイナ、TCP1,TCP2は
テープキャリアパッケージ、PNLは液晶パネル、GC
はゴムクッション、ILSは遮光スペーサ、PRSはプ
リズムシート、SPSは拡散シート、GLBは導光板、
RFSは反射シート、MCAは一体化成形により形成さ
れた下側ケース(モールドフレーム)、MOはMCAの
開口、LPは蛍光管、LPCはランプケーブル、GBは
蛍光管LPを支持するゴムブッシュ、BATは両面粘着
テープ、BLは蛍光管や導光板等からなるバックライト
を示し、図示の配置関係で拡散板部材を積み重ねて液晶
表示モジュールMDLが組立てられる。
SHD is a shield case (also called a metal frame) made of a metal plate, WD is a display window, INS1
3 to 3 are insulating sheets, PCB1 to 3 are circuit boards constituting a driving means (PCB1 is a drain side circuit board (drain line driving circuit: circuit board for video signal line driving), PCB2 is a gate side circuit board (gate line driving circuit) : Scanning line drive circuit), PCB3 is an interface circuit board (control circuit board), JN1 to 3 are joiners for electrically connecting the circuit boards PCB1 to 3, TCP1 and TCP2 are tape carrier packages, PNL is a liquid crystal panel, GC
Is a rubber cushion, ILS is a light shielding spacer, PRS is a prism sheet, SPS is a diffusion sheet, GLB is a light guide plate,
RFS is a reflection sheet, MCA is a lower case (mold frame) formed by integral molding, MO is an opening of the MCA, LP is a fluorescent tube, LPC is a lamp cable, GB is a rubber bush supporting the fluorescent tube LP, BAT Denotes a double-sided adhesive tape, BL denotes a backlight composed of a fluorescent tube, a light guide plate and the like, and a liquid crystal display module MDL is assembled by stacking diffusion plate members in the arrangement shown in the figure.

【0083】液晶表示モジュールMDLは、下側ケース
MCAとシールドケースSHDの2種の収納・保持部材
を有し、絶縁シートINS1〜3、回路基板PCB1〜
3、液晶パネルPNLを収納固定した金属製のシールド
ケースSHDと、蛍光管LP、導光板GLB、プリズム
シートPRS等からなるバックライトBLを収納した下
側ケースMCAとを合体させてなる。
The liquid crystal display module MDL has two kinds of storage / holding members of a lower case MCA and a shield case SHD, and includes insulating sheets INS1 to INS3 and circuit boards PCB1 to PCB1.
3. A metal shield case SHD in which a liquid crystal panel PNL is stored and fixed, and a lower case MCA in which a backlight BL including a fluorescent tube LP, a light guide plate GLB, a prism sheet PRS, and the like are stored are combined.

【0084】ドレイン側回路基板PCB1には液晶パネ
ルPNLの各画素を駆動するための集積回路チップが搭
載され、またコントロール回路基板PCB3には外部ホ
ストからの映像信号の受入れ、タイミング信号等の制御
信号を受け入れる集積回路チップ、およびタイミングを
加工してクロック信号を生成するタイミングコンバータ
TCON等が搭載される。
An integrated circuit chip for driving each pixel of the liquid crystal panel PNL is mounted on the drain side circuit board PCB1, and a control signal such as a reception of a video signal from an external host and a timing signal is mounted on the control circuit board PCB3. , And a timing converter TCON for processing the timing to generate a clock signal.

【0085】上記タイミングコンバータで生成されたク
ロック信号はインターフェース回路基板PCB3および
ドレイン側回路基板PCB1に敷設されたクロック信号
ラインCLLを介してドレイン側回路基板PCB1に搭
載された集積回路チップに供給される。
The clock signal generated by the timing converter is supplied to the integrated circuit chip mounted on the drain-side circuit board PCB1 via the clock signal line CLL laid on the interface circuit board PCB3 and the drain-side circuit board PCB1. .

【0086】コントロール回路基板PCB3およびドレ
イン側回路基板PCB1は多層配線基板であり、上記ク
ロック信号ラインCLLはコントロール回路基板PCB
3およびドレイン側回路基板PCB1の内層配線として
形成される。
The control circuit board PCB3 and the drain side circuit board PCB1 are multilayer wiring boards, and the clock signal line CLL is connected to the control circuit board PCB.
3 and the inner wiring of the drain-side circuit board PCB1.

【0087】なお、液晶パネルPNLとドレイン側回路
基板PCB1、ゲート側回路基板PCB2およびコント
ロール回路基板PCB3はテープキャリアパッケージT
CP1,TCP2で接続され、各回路基板間はジョイナ
JN1,2,3で接続されている。また、各駆動回路を
液晶パネルPNLの一方の基板(通常は、アクティブマ
トリクス基板SUB1)の周辺部に直接作り込んだ構成
としてもよい。
The liquid crystal panel PNL, the drain-side circuit board PCB1, the gate-side circuit board PCB2 and the control circuit board PCB3 are formed of a tape carrier package T.
The circuit boards are connected by CP1 and TCP2, and the circuit boards are connected by joiners JN1, JN2, JN3. In addition, a configuration may be adopted in which each drive circuit is directly formed in a peripheral portion of one substrate (normally, the active matrix substrate SUB1) of the liquid crystal panel PNL.

【0088】このような液晶表示装置を構成するアクテ
ィブマトリクス基板上に形成する薄膜トランジスタ、各
種の配線および電極に前記した本発明の各実施例の構造
および製造方法を適用することで、薄膜トランジスタを
構成する半導体層とドレイン電極およびソース電極とな
る酸化物の透明電極とのコンタクト性と低抵抗化、およ
び上記透明電極のエッチング加工時の薬液滲み込みを抑
制し、また横電界方式の液晶表示装置における開口率を
向上すると共に、配線の端子部での接続安定性が確保で
き、信頼性の高い液晶表示装置を得ることはできる。
A thin film transistor is formed by applying the structure and the manufacturing method of each embodiment of the present invention to the thin film transistor, various wirings and electrodes formed on the active matrix substrate constituting such a liquid crystal display device. The contact property and low resistance of the semiconductor layer and the transparent electrode of the oxide serving as the drain electrode and the source electrode are reduced, and the penetration of the chemical solution during the etching of the transparent electrode is suppressed. As a result, the connection stability at the terminal portion of the wiring can be secured, and a highly reliable liquid crystal display device can be obtained.

【0089】[0089]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ゲート配線およびゲート電極、コモン配線およびコモン
電極またはコモン配線を透明導電膜と金属膜との積層構
造とし、ソース電極およびソース電極につながる画素電
極、ドレイン配線を透明導電層単層とすることにより、
高視野角の液晶表示装置の光透過率を向上させるととも
に端子部の信頼性を向上でき、かつ製造工程を簡略化し
て製造コストの低い液晶表示装置を提供することができ
る。
As described above, according to the present invention,
By forming the gate wiring and the gate electrode, the common wiring and the common electrode or the common wiring into a laminated structure of a transparent conductive film and a metal film, and forming the source electrode and the pixel electrode connected to the source electrode and the drain wiring into a single transparent conductive layer,
The light transmittance of a liquid crystal display device with a high viewing angle can be improved, the reliability of the terminal portion can be improved, and the manufacturing process can be simplified to provide a liquid crystal display device with low manufacturing cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明による液晶表示装置の第1実施例を説明
する要部断面図である。
FIG. 1 is a sectional view of a principal part for explaining a first embodiment of a liquid crystal display device according to the present invention.

【図2】本発明による液晶表示装置の一画素付近の構成
を説明する平面図である。
FIG. 2 is a plan view illustrating a configuration near one pixel of the liquid crystal display device according to the present invention.

【図3】本発明による液晶表示装置の第1実施例におけ
るゲート端子部とコモン端子部を説明する模式図であ
る。
FIG. 3 is a schematic diagram illustrating a gate terminal portion and a common terminal portion in the first embodiment of the liquid crystal display device according to the present invention.

【図4】本発明による液晶表示装置の第1実施例におけ
るドレイン端子部を説明する模式図である。
FIG. 4 is a schematic diagram illustrating a drain terminal portion in the first embodiment of the liquid crystal display device according to the present invention.

【図5】本発明による液晶表示装置の第2実施例を説明
する要部断面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating a main part of a liquid crystal display device according to a second embodiment of the present invention.

【図6】本発明による液晶表示装置の一画素付近の構成
を説明する平面図である。
FIG. 6 is a plan view illustrating a configuration near one pixel of the liquid crystal display device according to the present invention.

【図7】本発明による液晶表示装置の駆動回路の概念図
である。
FIG. 7 is a conceptual diagram of a driving circuit of a liquid crystal display device according to the present invention.

【図8】本発明による液晶表示装置の駆動波形の一例の
説明図である。
FIG. 8 is an explanatory diagram of an example of a driving waveform of the liquid crystal display device according to the present invention.

【図9】本発明による液晶表示装置の全体構成を説明す
る展開斜視図である。
FIG. 9 is an exploded perspective view illustrating the overall configuration of the liquid crystal display device according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 一方の基板(ガラス基板) 2 金属配線層 3 透明導電層 4 ゲート配線/ゲート電極 5 コモン配線/コモン電極 6 ゲート絶縁層 7 a−Si半導体層 8 コンタクト層 9 a−Siアイランド 10 シリサイド層 11 透明導電層 12 ドレイン電極 13 ソース電極 14 パッシベーション層 15 スルーホール 20 他方の基板(ガラス基板) 21 ブラックマトリクス 22 カラーフィルタ 23 オーバーコート層 25 ドレイン配線 26 画素電極。 Reference Signs List 1 one substrate (glass substrate) 2 metal wiring layer 3 transparent conductive layer 4 gate wiring / gate electrode 5 common wiring / common electrode 6 gate insulating layer 7 a-Si semiconductor layer 8 contact layer 9 a-Si island 10 silicide layer 11 Transparent conductive layer 12 Drain electrode 13 Source electrode 14 Passivation layer 15 Through hole 20 The other substrate (glass substrate) 21 Black matrix 22 Color filter 23 Overcoat layer 25 Drain wiring 26 Pixel electrode.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H092 GA14 JA26 JA29 JA33 JA35 JA38 JA39 JA42 JA44 JA46 JB13 JB23 JB27 JB32 JB33 JB51 JB57 JB63 JB69 KA05 KA07 MA05 MA14 MA15 MA16 MA18 MA19 MA20 MA27 MA33 MA35 MA37 MA41 NA15 NA25 NA27 NA28 NA29 PA05 PA08 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2H092 GA14 JA26 JA29 JA33 JA35 JA38 JA39 JA42 JA44 JA46 JB13 JB23 JB27 JB32 JB33 JB51 JB57 JB63 JB69 KA05 KA07 MA05 MA14 MA15 MA16 MA18 MA19 MA20 MA27 MA33 MA35 MA37 NA27 NA25 NA25 NA29 PA05 PA08

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】絶縁基板の内面に薄膜トランジスタを形成
したアクティブマトリックス基板を有する液晶パネル
と、薄膜トランジスタの駆動で画素を点灯させるための
駆動信号電圧を印加する駆動回路とを具備した液晶表示
装置であって、 前記薄膜トランジスタが、前記絶縁基板の内面にゲート
電極、ゲート絶縁膜、半導体層としてA−Si層、コン
タクト層としてN(+)a−Si層、透明導電層をこの
順で形成してなり、前記N(+)a−Si層と透明導電
層の間にシリサイド層を介挿したことを特徴とする液晶
表示装置。
1. A liquid crystal display device comprising: a liquid crystal panel having an active matrix substrate in which a thin film transistor is formed on an inner surface of an insulating substrate; and a driving circuit for applying a driving signal voltage for lighting a pixel by driving the thin film transistor. The thin film transistor comprises a gate electrode, a gate insulating film, an A-Si layer as a semiconductor layer, an N (+) a-Si layer as a contact layer, and a transparent conductive layer formed in this order on the inner surface of the insulating substrate. And a silicide layer interposed between the N (+) a-Si layer and the transparent conductive layer.
【請求項2】一方の絶縁基板の内面にゲート配線および
ゲート電極と、コモン配線およびコモン電極と、画素電
極と、半導体層、ドレイン配線およびソース電極とドレ
イン電極、画素電極、ゲート絶縁層、半導体層、コンタ
クト層、パッシベーション層を形成した薄膜トランジス
タを有するアクティブマトリックス基板と、他方の絶縁
基板の内面にブラックマトリクスと、カラーフィルタ層
と、平滑層を形成したカラーフィルタ基板との対向間隙
に液晶組成物を封入した液晶パネルと、前記ゲート配線
とドレイン配線および前記コモン配線に薄膜トランジス
タの駆動で画素を点灯させるための駆動信号電圧を印加
する駆動回路とを具備し、 前記ゲート配線およびゲート電極とコモン配線およびコ
モン電極が透明導電膜と金属膜との積層膜を同層に形成
されていることを特徴とする液晶表示装置。
2. A gate wiring and a gate electrode, a common wiring and a common electrode, a pixel electrode, a semiconductor layer, a drain wiring and a source electrode and a drain electrode, a pixel electrode, a gate insulating layer, and a semiconductor on an inner surface of one of the insulating substrates. An active matrix substrate having a thin film transistor on which a layer, a contact layer, and a passivation layer are formed; and a black matrix, a color filter layer, and a liquid crystal composition in a facing gap between the color filter substrate on which the smooth layer is formed on the inner surface of the other insulating substrate. And a driving circuit for applying a driving signal voltage for lighting a pixel by driving a thin film transistor to the gate wiring, the drain wiring, and the common wiring, and the common wiring and the gate wiring. And the common electrode is the same as the laminated film of the transparent conductive film and the metal film. A liquid crystal display device formed in a layer.
【請求項3】一方の絶縁基板の内面にゲート配線および
ゲート電極と、コモン配線およびコモン電極と、画素電
極と、半導体層、ドレイン配線およびソース電極とドレ
イン電極、画素電極、ゲート絶縁層、半導体層、コンタ
クト層、パッシベーション層を形成した薄膜トランジス
タを有するアクティブマトリックス基板と、他方の絶縁
基板の内面にブラックマトリクスと、カラーフィルタ層
と、平滑層を形成したカラーフィルタ基板との対向間隙
に液晶組成物を封入した液晶パネルと、前記ゲート配線
とドレイン配線および前記コモン配線に薄膜トランジス
タの駆動で画素を点灯させるための駆動信号電圧を印加
する駆動回路とを具備し、 前記ゲート配線およびゲート電極とコモン配線が透明導
電膜と金属膜との積層膜で形成され、前記コモン電極が
透明導電膜の単層で形成され、前記ゲート配線およびゲ
ート電極と前記コモン配線およびコモン電極のそれぞれ
が同層に形成されていることを特徴とする液晶表示装
置。
3. An insulated substrate having a gate wiring and a gate electrode, a common wiring and a common electrode, a pixel electrode, a semiconductor layer, a drain wiring and a source electrode and a drain electrode, a pixel electrode, a gate insulating layer, and a semiconductor on an inner surface thereof. An active matrix substrate having a thin film transistor on which a layer, a contact layer and a passivation layer are formed, a black matrix on the inner surface of the other insulating substrate, a color filter layer, and a liquid crystal composition in a facing gap between the color filter substrate on which a smooth layer is formed. And a driving circuit for applying a driving signal voltage for lighting a pixel by driving a thin film transistor to the gate wiring, the drain wiring, and the common wiring, and the common wiring and the gate wiring. Is formed of a laminated film of a transparent conductive film and a metal film, A liquid crystal display device, wherein a gate electrode is formed of a single layer of a transparent conductive film, and each of the gate wiring and the gate electrode and each of the common wiring and the common electrode are formed in the same layer.
【請求項4】前記画素電極が透明導電膜で形成され、前
記コモン電極と共に交互に櫛歯状に配置したことを特徴
とする請求項2または3の何れかに記載の液晶表示装
置。
4. The liquid crystal display device according to claim 2, wherein said pixel electrodes are formed of a transparent conductive film, and are alternately arranged in a comb shape with said common electrodes.
【請求項5】前記透明導電膜がアモルファス透明導電膜
であることを特徴とする請求項1〜4の何れかに記載の
液晶表示装置。
5. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein said transparent conductive film is an amorphous transparent conductive film.
【請求項6】前記半導体層と前記透明導電層の間にシリ
サイド層を有することを特徴とする請求項2〜5の何れ
かに記載の液晶表示装置。
6. The liquid crystal display device according to claim 2, further comprising a silicide layer between said semiconductor layer and said transparent conductive layer.
【請求項7】液晶表示装置の液晶パネルを構成する一方
の基板上に、ゲート配線およびゲート電極、コモン配線
およびコモン電極、ドレイン配線およびドレイン電極、
ソース配線およびソース電極を、透明導電膜を上層とし
金属膜を下層とした積層構造膜のパターニングで形成す
る液晶表示装置の製造方法であって、 前記基板上に、ゲート配線およびゲート電極、コモン配
線およびコモン電極を形成した後、これらを覆ってゲー
ト絶縁膜を成膜し、 前記ドレイン配線およびドレイン電極、および前記ゲー
ト配線およびゲート電極の所要部の上層にアモルファス
シリコン半導体層を形成し、アモルファスシリコン半導
体層上にコンタクト層としてN(+)アモルファスシリ
コン半導体層を形成し、 前記N(+)アモルファスシリコン半導体層上に、シリ
サイド形成傾向が大きい金属薄膜を成膜し、エッチング
してシリサイド層を形成し、 前記シリサイド層の上に透明導電膜を成膜し、パターニ
ングしてドレイン電極とソース電極を形成し、 最後に、保護膜としてのパッシベーション層を成膜して
アクティブマトリクス基板を得ることを特徴とする液晶
表示装置の製造方法。
7. A gate wiring and a gate electrode, a common wiring and a common electrode, a drain wiring and a drain electrode, on one substrate constituting a liquid crystal panel of a liquid crystal display device.
A method for manufacturing a liquid crystal display device, wherein a source wiring and a source electrode are formed by patterning a laminated structure film having a transparent conductive film as an upper layer and a metal film as a lower layer, wherein a gate wiring, a gate electrode, and a common wiring are formed on the substrate. Forming a gate insulating film covering the drain electrode and the common electrode, forming an amorphous silicon semiconductor layer on the drain wiring and the drain electrode, and a required portion of the gate wiring and the gate electrode, Forming an N (+) amorphous silicon semiconductor layer as a contact layer on the semiconductor layer; forming a metal thin film having a high tendency to form silicide on the N (+) amorphous silicon semiconductor layer; and etching to form a silicide layer Forming a transparent conductive film on the silicide layer, patterning and conducting A method for manufacturing a liquid crystal display device, comprising: forming a source electrode and a source electrode; and finally forming a passivation layer as a protective film to obtain an active matrix substrate.
【請求項8】液晶表示装置の液晶パネルを構成する一方
の基板上に、ゲート配線およびゲート電極、コモン配
線、ドレイン配線およびドレイン電極、ソース配線およ
びソース電極を、透明導電膜を上層とし金属膜を下層と
した積層構造膜のパターニングで形成し、前記コモン電
極を前記積層構造膜の上層と同一の透明導電膜単層のパ
ターニングで形成する液晶表示装置の製造方法であっ
て、 前記基板上に、ゲート配線およびゲート電極、コモン配
線およびコモン電極を形成した後、これらを覆ってゲー
ト絶縁膜を成膜し、 前記ドレイン配線およびドレイン電極、および前記ゲー
ト配線およびゲート電極の所要部の上層にアモルファス
シリコン半導体層を形成し、アモルファスシリコン半導
体層上にコンタクト層としてN(+)アモルファスシリ
コン半導体層を形成し、 前記N(+)アモルファスシリコン半導体層上に、シリ
サイド形成傾向が大きい金属薄膜を成膜し、エッチング
してシリサイド層を形成し、 前記シリサイド層の上に透明導電膜を成膜し、パターニ
ングしてドレイン電極とソース電極を形成し、 最後に、保護膜としてのパッシベーション層を成膜して
アクティブマトリクス基板を得ることを特徴とする液晶
表示装置の製造方法。
8. A metal film having a gate wiring and a gate electrode, a common wiring, a drain wiring and a drain electrode, a source wiring and a source electrode, a transparent conductive film as an upper layer, and a metal film on one substrate constituting a liquid crystal panel of a liquid crystal display device. Is formed by patterning a laminated structure film having a lower layer, and the common electrode is formed by patterning the same transparent conductive film single layer as the upper layer of the laminated structure film, the method for manufacturing a liquid crystal display device, comprising: After forming a gate wiring and a gate electrode, a common wiring and a common electrode, a gate insulating film is formed so as to cover them, and an amorphous layer is formed on a required layer of the drain wiring and the drain electrode and the gate wiring and the gate electrode. A silicon semiconductor layer is formed, and N (+) amorphous is formed as a contact layer on the amorphous silicon semiconductor layer. Forming a silicon thin film on the N (+) amorphous silicon semiconductor layer, forming a silicide layer by etching, and forming a transparent conductive film on the silicide layer; A method for manufacturing a liquid crystal display device, comprising: forming a film and patterning to form a drain electrode and a source electrode; and finally forming a passivation layer as a protective film to obtain an active matrix substrate.
【請求項9】前記積層構造膜の下層を構成する金属膜
が、クロム、モリブデン、クロム−モリブデン合金の何
れかまたはそれらの積層膜であり、前記シリサイド層を
形成する金属層が、モリブデン、タングステン、チタ
ン、クロム、タンタル等の1つまたはそれらの合金であ
ることを特徴とする請求項7または8の何れかに記載の
液晶表示装置の製造方法。
9. A metal film constituting a lower layer of the laminated structure film is any one of chromium, molybdenum, and chromium-molybdenum alloy or a laminated film thereof, and the metal layer forming the silicide layer is molybdenum, tungsten 9. The method for manufacturing a liquid crystal display device according to claim 7, wherein the material is one of titanium, chromium, tantalum and the like or an alloy thereof.
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Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003015146A (en) * 2001-07-04 2003-01-15 Hitachi Ltd Liquid crystal display device
JP2003216068A (en) * 2002-01-28 2003-07-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd Display device and substrate for display device, and method of manufacturing the same
JP2003228081A (en) * 2002-01-31 2003-08-15 Nec Corp Liquid crystal display device and manufacturing method therefor
JP2004191958A (en) * 2002-11-27 2004-07-08 Sharp Corp Method for forming conductive element and method for forming reflective electrode of liquid crystal display
JP2009003187A (en) * 2007-06-21 2009-01-08 Hitachi Displays Ltd Liquid crystal display device
JP2009058225A (en) * 2007-08-29 2009-03-19 Iinuma Gauge Seisakusho:Kk Method for vibration measurement and inspection of thin-film forming apparatus
JP2009086114A (en) * 2007-09-28 2009-04-23 Epson Imaging Devices Corp Liquid crystal display, manufacturing method therefor, and electronic equipment
JP2009251070A (en) * 2008-04-02 2009-10-29 Epson Imaging Devices Corp In-plane switching mode liquid crystal display panel
JP2010230781A (en) * 2009-03-26 2010-10-14 Sony Corp Liquid crystal display device and method for manufacturing the same
JP2010230780A (en) * 2009-03-26 2010-10-14 Sony Corp Liquid crystal display device and method for manufacturing the same
US8773627B2 (en) 2011-10-07 2014-07-08 Japan Display West Inc. Liquid crystal display device and method for manufacturing liquid crystal display device
KR20150146370A (en) * 2014-06-23 2015-12-31 에버디스플레이 옵트로닉스 (상하이) 리미티드 One kine of low resistance metal wire technology for amoled device
JP2018120045A (en) * 2017-01-24 2018-08-02 パナソニック液晶ディスプレイ株式会社 Liquid crystal display device

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003015146A (en) * 2001-07-04 2003-01-15 Hitachi Ltd Liquid crystal display device
JP2003216068A (en) * 2002-01-28 2003-07-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd Display device and substrate for display device, and method of manufacturing the same
JP2003228081A (en) * 2002-01-31 2003-08-15 Nec Corp Liquid crystal display device and manufacturing method therefor
US7012665B2 (en) 2002-01-31 2006-03-14 Nec Lcd Technologies, Ltd. Liquid crystal display device and method for manufacturing the same
US7518667B2 (en) 2002-01-31 2009-04-14 Nec Lcd Technologies, Ltd. Method for manufacturing a liquid crystal display device
JP2004191958A (en) * 2002-11-27 2004-07-08 Sharp Corp Method for forming conductive element and method for forming reflective electrode of liquid crystal display
JP2009003187A (en) * 2007-06-21 2009-01-08 Hitachi Displays Ltd Liquid crystal display device
JP2009058225A (en) * 2007-08-29 2009-03-19 Iinuma Gauge Seisakusho:Kk Method for vibration measurement and inspection of thin-film forming apparatus
JP2009086114A (en) * 2007-09-28 2009-04-23 Epson Imaging Devices Corp Liquid crystal display, manufacturing method therefor, and electronic equipment
JP4650471B2 (en) * 2007-09-28 2011-03-16 ソニー株式会社 Liquid crystal display device, manufacturing method thereof and electronic apparatus
US8243242B2 (en) 2007-09-28 2012-08-14 Sony Corporation Liquid crystal display device, method for producing same, and electronic apparatus
JP2009251070A (en) * 2008-04-02 2009-10-29 Epson Imaging Devices Corp In-plane switching mode liquid crystal display panel
JP2010230781A (en) * 2009-03-26 2010-10-14 Sony Corp Liquid crystal display device and method for manufacturing the same
JP2010230780A (en) * 2009-03-26 2010-10-14 Sony Corp Liquid crystal display device and method for manufacturing the same
US8773627B2 (en) 2011-10-07 2014-07-08 Japan Display West Inc. Liquid crystal display device and method for manufacturing liquid crystal display device
US8988641B2 (en) 2011-10-07 2015-03-24 Japan Display West Inc. Liquid crystal display device and method for manufacturing liquid crystal display device
KR20150146370A (en) * 2014-06-23 2015-12-31 에버디스플레이 옵트로닉스 (상하이) 리미티드 One kine of low resistance metal wire technology for amoled device
KR101602793B1 (en) 2014-06-23 2016-03-11 에버디스플레이 옵트로닉스 (상하이) 리미티드 One kine of low resistance metal wire technology for amoled device
JP2018120045A (en) * 2017-01-24 2018-08-02 パナソニック液晶ディスプレイ株式会社 Liquid crystal display device

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