JP2001127498A - Method and system for detecting lifting of lead - Google Patents

Method and system for detecting lifting of lead

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JP2001127498A
JP2001127498A JP31050799A JP31050799A JP2001127498A JP 2001127498 A JP2001127498 A JP 2001127498A JP 31050799 A JP31050799 A JP 31050799A JP 31050799 A JP31050799 A JP 31050799A JP 2001127498 A JP2001127498 A JP 2001127498A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To correctly detect lifting of leads and detect lifting of leads in a short computing time, when an electronic component is mounted. SOLUTION: An electronic component 2, sucked by a suction nozzle 8, is positioned above a laser device 9, and the height of leads is detected by irradiating the leads of the electronic components with laser light from the laser device 9. Two lowest leads are extracted from each of the rows of leads A-D and a virtual plane, including the extracted two points a1 and a2 of the lead row and one point c1 of the opposed lead row, is calculated for each lead row, and the amount of distance of the lead from the calculated virtual plane is found. In this constitution, an effective virtual plane can be found more efficiently than through simple extracting of three points from multiple leads for finding a virtual plane, the errors in height based on the machine error can be suppressed, and lifting of the leads can be detected accurately.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品のリード
浮き検出方法及び装置、更に詳細には、レーザ装置から
電子部品のリードに向ってレーザ光を照射して、リード
を含む仮想平面を算出し、この仮想平面に対する各々の
リードの浮き量を検出する電子部品のリード浮き検出方
法及び装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and an apparatus for detecting lead floating of an electronic component, and more particularly, to irradiating a laser beam from a laser device toward a lead of an electronic component to calculate a virtual plane including the lead. The present invention also relates to a method and an apparatus for detecting lead lift of an electronic component for detecting the lift of each lead with respect to this virtual plane.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、電子部品実装装置において
は、部品供給部から供給される電子部品を移載ヘッドの
吸着ノズルで吸着し、移載ヘッドをプリント基板上に移
動して電子部品を基板上の所定位置に実装している。そ
の場合、電子部品が必ずしも正しい姿勢で吸着されるわ
けではないので、撮像装置で電子部品を撮像し、その画
像を処理して部品の位置決めデータを得ている。また、
狭リードピッチ、狭リード幅のQFP、コネクタのよう
な電子部品を実装する際には、リードが浮きを有してい
ると、リードを基板の電極部にボンディングできないこ
とから、レーザ装置から電子部品のリードに向ってレー
ザ光を照射して、リードを含む仮想平面を算出し、この
仮想平面に対する各々のリードの浮き量を求めることに
より、リードの浮きを検出することが知られている(例
えば、特公平7−94976号公報)。
2. Description of the Related Art Conventionally, in an electronic component mounting apparatus, an electronic component supplied from a component supply unit is sucked by a suction nozzle of a transfer head, and the transfer head is moved onto a printed circuit board to transfer the electronic component to the substrate. It is mounted on the upper predetermined position. In this case, since the electronic component is not necessarily sucked in a correct posture, the electronic device is imaged by the imaging device, and the image is processed to obtain the positioning data of the component. Also,
When mounting electronic components such as narrow lead pitch and narrow lead width QFPs and connectors, if the leads have floating, the leads cannot be bonded to the electrodes of the substrate. It is known to detect the floating of a lead by irradiating a laser beam toward the lead, calculating a virtual plane including the lead, and calculating the floating amount of each lead with respect to this virtual plane (for example, And JP-B-7-94976).

【0003】具体的には、図6に示すように、ノズル1
00に吸着された電子部品101のリード102に向っ
て、レーザ装置103からレーザ光を照射し、各々のリ
ード102の基準面Sからの高さZ1、Z2…を求める
ことにより、リード102の浮きを検出している。
[0003] Specifically, as shown in FIG.
The laser device 103 irradiates a laser beam toward the lead 102 of the electronic component 101 adsorbed at 00 and determines the heights Z1, Z2,... Of the respective leads 102 from the reference plane S, thereby lifting the leads 102. Has been detected.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、リードの浮
きの原因としては、リードの屈曲変形の他、ノズルの軸
心の傾斜誤差△θ1、電子部品を吸着するノズルの下面
の傾斜誤差△θ2、更には電子部品のモールド体の上面
の傾斜誤差や移載ヘッドをXY方向に移動させるXYテ
ーブルの位置誤差等がある。このような機械誤差がある
と、電子部品101は、水平面Lに対して角度△θ傾斜
し、△Zの高さ誤差が生じて、リード102の浮きを誤
判断する問題がある。
The causes of the lead lift include bending error of the lead, tilt error 軸 θ1 of the axis of the nozzle, tilt error △ θ2 of the lower surface of the nozzle for sucking electronic components, and the like. Further, there are a tilt error of the upper surface of the mold body of the electronic component and a position error of the XY table for moving the transfer head in the XY directions. If there is such a mechanical error, the electronic component 101 is inclined at an angle △ θ with respect to the horizontal plane L, and a height error of △ Z occurs, and there is a problem that the floating of the lead 102 is erroneously determined.

【0005】また任意にリード3点を選び、この3点で
形成する平面を仮想平面とし、この仮想平面に対する各
リードの上下差を求める方法もあるが前記仮想平面は実
際の取付け面ではないため、実際に平面に電子部品を配
置した状態と大きな誤差が生じるという問題点がある。
その他全てのリードの組み合わせを演算して仮想平面を
求める方法も考えられるが、演算時間が膨大となり実用
面で問題となる。
There is also a method in which three leads are arbitrarily selected, and a plane formed by these three points is defined as a virtual plane, and the vertical difference of each lead with respect to this virtual plane is obtained. However, since the virtual plane is not an actual mounting surface, However, there is a problem that a large error occurs in a state where the electronic components are actually arranged on the plane.
A method of calculating a virtual plane by calculating all other combinations of leads is also conceivable, but the calculation time becomes enormous and poses a practical problem.

【0006】そこで本発明は、上記のような機械誤差を
排除し、リードの浮きを正確に検出することができると
ともに、実際に電子部品が実装される時のリード浮きを
短い演算時間で検出することが可能な電子部品のリード
浮き検出方法及び装置を提供することを課題とする。
Accordingly, the present invention eliminates the mechanical errors as described above, and can accurately detect the floating of the lead and detect the floating of the lead when the electronic component is actually mounted in a short calculation time. An object of the present invention is to provide a method and an apparatus for detecting a floating lead of an electronic component, which can perform the method.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、移載ヘッドの
ノズルに電子部品を吸着して基板に移送する途中におい
て、この電子部品をレーザ装置の上方に位置せしめ、こ
のレーザ装置から電子部品のリードに向ってレーザ光を
照射することにより、リードの3点の高さを検出し、次
いでこの3点を含む仮想平面を算出して、各々のリード
のこの仮想平面に対する浮き量を求めるようにしたもの
であり、各リード列毎に最も低いリードを2点ずつ抽出
し、抽出されたリードの2点と、この2点のあるリード
列と対向するリード列で最も低いリードの1点を含む仮
想平面を各リード列毎に算出し、各算出された仮想平面
に対してリード浮き量を求めることを特徴としている
(第1の特徴)。
According to the present invention, an electronic component is positioned above a laser device while the electronic component is being attracted to a nozzle of a transfer head and is transferred to a substrate. By irradiating a laser beam toward the lead, the height of three points of the lead is detected, and then a virtual plane including the three points is calculated, and the floating amount of each lead with respect to this virtual plane is obtained. In each of the lead rows, the lowest lead is extracted by two points, and two points of the extracted lead and one point of the lowest lead in the lead row opposite to the lead row having these two points are extracted. It is characterized in that a virtual plane including each is calculated for each lead row, and a lead floating amount is calculated for each calculated virtual plane (first characteristic).

【0008】また、本発明では、リード列を4辺に備え
た電子部品の場合には、各リード列の中で最も低いリー
ドを1点各4つのリード列についてそれぞれ抽出し、抽
出された4点のうち3点を選んで形成される仮想平面を
それぞれ算出し、各算出された仮想平面に対してリード
浮き量を求めることも特徴としている(第2の特徴)。
According to the present invention, in the case of an electronic component having lead rows on four sides, the lowest lead among the lead rows is extracted for each of the four lead rows, and the extracted 4 leads are extracted. It is also characterized in that a virtual plane formed by selecting three points among the points is calculated, and the lead floating amount is calculated for each calculated virtual plane (second characteristic).

【0009】また、本発明では、第1と第2の特徴を有
し、抽出された3点を含む仮想平面をそれぞれ算出し、
前記各3点から形成される三角形のうち三角形の中に電
子部品の重心が位置する三角形から該三角形に関連する
仮想平面が各リードより低い位置にあるような仮想平面
を選択し、選択された各仮想平面からリードまでの距離
をリード浮き量とし、あらかじめ設定されたリード浮き
許容量と比較してリード浮きを検出することも特徴とし
ている。
In the present invention, a virtual plane having the first and second features and including the extracted three points is calculated,
Among the triangles formed by the three points, a virtual plane is selected from among the triangles in which the center of gravity of the electronic component is located among the triangles such that the virtual plane associated with the triangle is lower than each lead. It is also characterized in that the distance from each virtual plane to the lead is defined as a lead floating amount, and the lead floating is detected by comparing with a preset lead floating allowable amount.

【0010】いずれの発明でも、多数のリードの中から
単純に3点を抽出して仮想平面を求めるのに比較して、
有効な仮想平面を効率よく見つけ出すことができ、この
仮想平面に対する各々のリードの浮き量を求めるように
しているので、機械誤差に基づく高さ誤差を排除し、各
々のリードの浮きを正確に検出することができる。
In any of the inventions, compared to simply extracting three points from a large number of leads to obtain a virtual plane,
Effective virtual planes can be found efficiently and the amount of floating of each lead with respect to this virtual plane is determined, eliminating height errors based on mechanical errors and accurately detecting the floating of each lead. can do.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、図面に示す実施の形態に基
づき本発明を詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in detail based on an embodiment shown in the drawings.

【0012】図1は、電子部品をプリント基板に実装す
る電子部品実装装置の実装工程図である。電子部品実装
装置では、一連の処理を経て、狭リードピッチの電子部
品を実装する。図1(A)に示す工程では、トレー1に
格納されている電子部品2を実装装置の移載ヘッド7に
取り付けられている吸着ノズル8が吸着してピックアッ
プする。図1(B)に示す工程では、吸着された電子部
品2の画像を位置決め用カメラ6で撮像し、画像処理装
置4を用いて位置決めし、その位置決め情報を得る。そ
して次の工程に移動する間に、リードの延出した方向が
正しくXY方向に向くように、電子部品を回転させて角
度補正を行う。
FIG. 1 is a mounting process diagram of an electronic component mounting apparatus for mounting an electronic component on a printed circuit board. The electronic component mounting apparatus mounts an electronic component having a narrow lead pitch through a series of processes. In the step shown in FIG. 1A, the electronic component 2 stored in the tray 1 is picked up by the suction nozzle 8 attached to the transfer head 7 of the mounting apparatus. In the step shown in FIG. 1B, an image of the sucked electronic component 2 is captured by the positioning camera 6, and is positioned by using the image processing device 4, and the positioning information is obtained. Then, while moving to the next step, the electronic component is rotated and the angle is corrected so that the extending direction of the lead is correctly oriented in the XY directions.

【0013】図1(C)に示す工程では、図1(B)の
工程で得られた位置決め情報を用いて、電子部品2をレ
ーザ装置9の上方に移送し、移載ヘッド7をXY方向に
移動させながら、電子部品2の各々のリードに向ってレ
ーザ光を照射してリード高さを測定する。そしてリード
浮き検出処理を行い、この結果に異常がなければ、図1
(D)に示す工程で、図1(B)の工程で得られた位置
決め情報に基づいてプリント基板3および実装される電
子部品2の補正計算を行い、電子部品2をプリント基板
3の所定の位置に装着する。
In the step shown in FIG. 1C, the electronic component 2 is transferred above the laser device 9 using the positioning information obtained in the step shown in FIG. 1B, and the transfer head 7 is moved in the X and Y directions. The laser beam is irradiated to each lead of the electronic component 2 while moving the lead to measure the lead height. Then, a lead floating detection process is performed, and if there is no abnormality in the result, FIG.
In the step shown in FIG. 1D, a correction calculation of the printed board 3 and the mounted electronic component 2 is performed based on the positioning information obtained in the step of FIG. Attach in position.

【0014】このような部品搭載において、電子部品の
リードが浮きを有していると、リードを基板の電極部に
ボンディングできないことから、本発明では、図1
(C)に示したように、移載ヘッドのノズルに電子部品
を吸着して基板に移送する途中において、この電子部品
をレーザ装置の上方に位置せしめ、このレーザ装置から
電子部品のリードに向ってレーザ光を照射することによ
り、リードの3点の高さを検出し、次いでこの3点を含
む仮想平面を算出して、各々のリードのこの仮想平面に
対する浮き量を検出するようにしている。
In such component mounting, if the lead of the electronic component has a lift, the lead cannot be bonded to the electrode portion of the substrate.
As shown in (C), while the electronic component is attracted to the nozzle of the transfer head and is transferred to the substrate, the electronic component is positioned above the laser device, and is directed from the laser device to the lead of the electronic component. By irradiating a laser beam, the height of three points on the lead is detected, and then a virtual plane including the three points is calculated, and the floating amount of each lead with respect to this virtual plane is detected. .

【0015】日本電子機械工業会規格EIAJ ED−
7401−4で、端子最下面の均一性について以下のよ
うに定義されている。
[0015] Japan Electronic Machinery Manufacturers Association Standard EIAJ ED-
7401-4, the uniformity of the lowermost surface of the terminal is defined as follows.

【0016】「取付け面(仮想平面)より、全ての端子
の最下点までの鉛直方向の距離のばらつきを、端子最下
面の均一性と呼び、最も離れた端子の最下点までの距離
を、yにて定義する、 仮想平面の定義 任意の3本の端子の最下点を通る幾何学的平面のうち、
他の端子の最下点が全てパッケージ本体側に存在する様
な平面を、仮想平面と呼ぶ。但し、その3点で構成され
た三角形の内部又はその辺上に、パッケージの重心が含
まれていること。但し、自重の影響は受けない。」従っ
て、多くのリードの中から単純に3点を抽出するだけで
は上記仮想平面を求めることはできない。そこで、本発
明は、仮想平面を効率よく見つけ出し、機械誤差に基づ
く高さ誤差を排除して、仮想平面に対する各々のリード
の浮き量を求めるようにしたものであり、以下にそれを
詳細に説明する。
The variation in the vertical distance from the mounting surface (virtual plane) to the lowest point of all the terminals is called the uniformity of the terminal lowermost surface, and the distance from the farthest terminal to the lowest point is called the uniformity. , Y Definition of the virtual plane Of the geometric planes passing through the lowest points of any three terminals,
A plane in which the lowest points of the other terminals are all present on the package body side is called a virtual plane. However, the center of gravity of the package must be included inside or on the side of the triangle formed by the three points. However, it is not affected by its own weight. Therefore, the virtual plane cannot be obtained by simply extracting three points from many leads. Therefore, the present invention is to efficiently find a virtual plane, eliminate a height error based on a mechanical error, and obtain a floating amount of each lead with respect to the virtual plane, and it will be described in detail below. I do.

【0017】図2は、電子部品2のリード2aの浮き
(Z方向の誤差)を計測している様子を示している。2
bは電子部品のモールド体であり、これからリード2a
は4方に多数本延出している。またレーザ装置9は、発
光部10の側部に受光部12を有している。このリード
2aは、リードフレームやフィルムキャリアを打ち抜く
などして形成されている。さて、電子部品2をレーザ装
置9の上方に位置せしめ、移載ヘッド7をXY方向に水
平移動させながら、各々のリード2aにレーザ光を照射
し、その反射光を受光部12に受光することにより、各
々のリード2aの基準面Sからの高さZiを検出する。
FIG. 2 shows how the lift (error in the Z direction) of the lead 2a of the electronic component 2 is measured. 2
b is a molded body of the electronic component, and the lead 2a
Are extended to four sides. The laser device 9 has a light receiving unit 12 on a side of the light emitting unit 10. The lead 2a is formed by punching a lead frame or a film carrier. Now, the electronic component 2 is positioned above the laser device 9, and the lead 2 a is irradiated with laser light while the transfer head 7 is horizontally moved in the XY directions, and the reflected light is received by the light receiving unit 12. Thus, the height Zi of each lead 2a from the reference plane S is detected.

【0018】1つの電子部品2に対するリード浮き検出
動作および取り込まれたデータの処理動作の流れの一例
を、図3及び図4に基づいて説明する。
An example of the flow of the lead floating detection operation for one electronic component 2 and the processing operation of the fetched data will be described with reference to FIGS. 3 and 4. FIG.

【0019】まず、ステップS10で部品実装制御部か
ら電子部品に関する情報を受信する。例えばQFPなの
か、端子のピッチと配列等の情報である。ステップS1
1でLED照明を点灯し、電子部品2の底面の2次元画
像を取込み、LED照明を消灯する。
First, in step S10, information on electronic components is received from the component mounting control unit. For example, it is information such as QFP or terminal pitch and arrangement. Step S1
In step 1, the LED lighting is turned on, a two-dimensional image of the bottom surface of the electronic component 2 is captured, and the LED lighting is turned off.

【0020】次いで、ステップS12で、画像が取り込
まれた電子部品2の端子配列計算処理を行う。この計算
処理には、種々の方法(アルゴリズム)があるが、ここ
では代表的なものを説明する。まず、QFPなどの四角
形の電子部品2の1つの辺のリードの傾きを粗く検出す
る。次いで、検出されたリードの中から任意に選択され
た2つのリードの位置を大まかに検出する。最後に、大
まかに検出されたリード位置を基にリード位置を精度良
く検出する。このようにして、QFPのような四角形の
部品の1つの辺のリードの位置が検出されれば、このリ
ード位置を基に、他の辺のリードについては、リード位
置を精度良く検出すればよい。そして検出したリード位
置から電子部品2の端子配列における重心位置を求め
る。
Next, in step S12, a terminal arrangement calculation process of the electronic component 2 from which the image is taken is performed. There are various methods (algorithms) in this calculation process, but a typical one will be described here. First, the inclination of the lead on one side of the rectangular electronic component 2 such as QFP is roughly detected. Next, the positions of two leads arbitrarily selected from the detected leads are roughly detected. Finally, the lead position is accurately detected based on the roughly detected lead position. In this way, if the position of a lead on one side of a quadrangular component such as a QFP is detected, the lead position on the other side may be accurately detected based on this lead position. . Then, the position of the center of gravity in the terminal arrangement of the electronic component 2 is obtained from the detected lead position.

【0021】次いで、ステップS13でステップS12
の計算処理結果と、ステップS10で受信した電子部品
情報を比較して、リードピッチが適正か否か判断する。
適正でなければ、ステップS27で端子配置エラーを出
力する。一方、適正であればステップS14で端子配列
の重心位置、端子配列の傾き(角度)等電子部品検査結
果を部品実装制御部へ送信する。部品実装制御部は電子
部品2を吸着しているノズルを回転させて端子配列がX
Y方向に正しく向くように電子部品2の角度補正を行
う。端子配列計算処理により端子位置は既知であるか
ら、ステップS15で電子部品2をXY移動させて必要
な端子位置にレーザ光を投光させてリードの高さを測定
する。
Next, in step S13, step S12
Is compared with the electronic component information received in step S10 to determine whether the lead pitch is appropriate.
If not, a terminal arrangement error is output in step S27. On the other hand, if appropriate, the electronic component inspection result such as the position of the center of gravity of the terminal arrangement and the inclination (angle) of the terminal arrangement is transmitted to the component mounting controller in step S14. The component mounting control unit rotates the nozzle that is holding the electronic component 2 so that the terminal arrangement becomes X.
The angle of the electronic component 2 is corrected so as to correctly face the Y direction. Since the terminal position is known by the terminal arrangement calculation process, the electronic component 2 is moved XY in step S15, and a laser beam is emitted to a required terminal position to measure the height of the lead.

【0022】ステップS16では各リード列ごとに近似
直線を求める。多重線形回帰
In step S16, an approximate straight line is obtained for each lead row. Multiple linear regression

【0023】[0023]

【数1】 (Equation 1)

【0024】より一次式を求めるからSince a more linear expression is obtained,

【0025】[0025]

【数2】 (Equation 2)

【0026】よりabを求めればよい。It is sufficient to obtain ab more.

【0027】図5において横方向をX、縦方向をYと
し、高さ方向はZとすると、リード列A及びCの求める
近似式はa+by=zであり、リード列B及びDの求め
る近似式はa+bx=zである。
In FIG. 5, assuming that the horizontal direction is X, the vertical direction is Y, and the height direction is Z, the approximate expression for obtaining the lead arrays A and C is a + by = z, and the approximate expression for obtaining the lead arrays B and D is Is a + bx = z.

【0028】ステップS17で求めた近似直線の傾きを
持って各リード高さを通る直線を引き、Z軸切片が最小
となる2点のリードを抽出する。図5の例においては、
リード列Aではa1とa2、リード列Bではb1とb
2、リード列Cではc1とc2、リード列Dではd1と
d2が抽出された切片が最小となるリードを示してい
る。
A straight line passing through each lead height is drawn with the inclination of the approximate straight line obtained in step S17, and two leads with the minimum Z-axis intercept are extracted. In the example of FIG.
A1 and a2 in lead row A, b1 and b in lead row B
2. In the lead row C, c1 and c2 are shown, and in the lead row D, d1 and d2 are extracted with the minimum intercept.

【0029】以下3点のリードで構成する三角形を抽出
するが、前記8点のリードの組み合わせから三角形を抽
出することは組み合わせの数が多く演算時間が長くな
る。そこで本実施形態では、一つのリード列に三角形の
2点が存在する場合と、一つのリード列に三角形の1点
が存在する場合の典型的な二つの事例に分けた工程で三
角形を抽出することとする。
In the following, a triangle composed of three leads is extracted. Extracting a triangle from the combination of the eight leads leads to a large number of combinations and a long calculation time. Therefore, in the present embodiment, triangles are extracted by processes that are divided into two typical cases, that is, a case where two points of a triangle exist in one lead row and a case where one point of a triangle exists in one lead row. It shall be.

【0030】ステップS18で3点のリードで構成する
三角形を抽出する。まず図5(A)に示すように、三角
形の一辺がリード列にある場合から始める。リード列A
を選択し、ステップS17で求めたa1とa2を採用す
る。次にリード列Aに対向するリード列Cを選択し、ス
テップS17で求めたc1とc2の中から高さの低いc
1を採用し、三角形a1a2c1を構成する。なお、こ
のように形成された三角形の中に電子部品の重心Gが位
置しない場合は、この三角形は抽出しないようにする。
In step S18, a triangle composed of three leads is extracted. First, as shown in FIG. 5A, the process starts from a case where one side of the triangle is in the lead row. Lead row A
Is selected, and a1 and a2 obtained in step S17 are adopted. Next, a lead row C opposite to the lead row A is selected, and c is selected from c1 and c2 obtained in step S17.
1 to form a triangle a1a2c1. If the center of gravity G of the electronic component is not located in the triangle thus formed, this triangle is not extracted.

【0031】ステップS19では電子部品2の重心Gに
最も近い三角形の一辺を抽出する。重心Gから三角形の
各辺に引いた垂線の短い辺を選ぶ。ステップS20では
ステップS19で抽出した一辺に平行で、重心Gを通る
直線を求めて、この直線と三角形の他の二辺との交点を
求める。
In step S19, one side of the triangle closest to the center of gravity G of the electronic component 2 is extracted. A short side of a perpendicular drawn from the center of gravity G to each side of the triangle is selected. In step S20, a straight line parallel to the one side extracted in step S19 and passing through the center of gravity G is determined, and the intersection of this straight line and the other two sides of the triangle is determined.

【0032】ステップS21ではステップS20で求め
た交点が、規定範囲内にあるかどうかの判定を行う。各
データはa1(l,m,n)のように3次元のデータを
有している。そしてリード列AのデータのXは同一のプ
ラスの値であり、リード列CのデータのXは同一のマイ
ナスの値である。また、リード列BのデータのYは同一
のプラスの値であり、リード列DのデータのYは同一の
マイナスの値である。このXとYの値の範囲が上記の規
定範囲内を形成する。規定範囲内であれば次のステップ
に進むが、規定範囲外であればステップS18に戻り、
別の三角形を抽出する。例えば次にリード列Bを選び、
b1b2の二点とd1d2の低い方の1点で構成される
三角形である。
In step S21, it is determined whether or not the intersection obtained in step S20 is within a specified range. Each data has three-dimensional data such as a1 (l, m, n). X of the data in the lead row A has the same positive value, and X of the data in the lead row C has the same negative value. In addition, Y of the data in the lead row B has the same positive value, and Y of the data in the lead row D has the same negative value. The range of the values of X and Y forms the above specified range. If it is within the specified range, the process proceeds to the next step. If it is out of the specified range, the process returns to step S18.
Extract another triangle. For example, next select lead row B,
This is a triangle composed of two points b1b2 and one lower point of d1d2.

【0033】ステップS21で抽出された三角形が規定
範囲内であると判定された場合は、ステップS22では
この三角形で構成される面の式を求める。すなわち仮想
平面を算出する。この仮想平面Kの基準面Sに対する高
さZoは(図2)、平面方程式a+bX+cY=Zか
ら、簡単に算出することができる。
If it is determined in step S21 that the extracted triangle is within the specified range, then in step S22, a formula for a plane formed by the triangle is obtained. That is, a virtual plane is calculated. The height Zo of the virtual plane K with respect to the reference plane S (FIG. 2) can be easily calculated from the plane equation a + bX + cY = Z.

【0034】次いでステップS23で予め検出された各
々の全てのリード高さと、仮想平面Kの高さZoの高低
差を求める。つまり、各リードの高さをZiとすれば△
Z=Zi−Zoを求める。続いて、ステップS24で各
リードの高さがすべて仮想平面より上にあるかどうかの
判定を行う。ステップS23で求めた△Zの値がプラス
であればそのリードの高さは仮想平面より上にあり、マ
イナスであれば下にある。マイナスの△Zがあれば、ス
テップS18に戻り、次の三角形を抽出する。
Next, in step S23, a height difference between all the lead heights detected in advance and the height Zo of the virtual plane K is determined. That is, if the height of each lead is Zi, △
Find Z = Zi-Zo. Subsequently, in step S24, it is determined whether the height of each lead is all above the virtual plane. If the value of ΔZ obtained in step S23 is plus, the height of the lead is above the virtual plane, and if it is minus, it is below. If there is a negative ΔZ, the process returns to step S18 to extract the next triangle.

【0035】ステップS25ではステップS24で求め
た△Zの最大値を抽出してメモリーに保存する。ステッ
プS26は全てのリード列について三角形を抽出したか
の判定を行い、終わっていれば次に進む。
In step S25, the maximum value of ΔZ obtained in step S24 is extracted and stored in a memory. In step S26, it is determined whether or not triangles have been extracted for all lead rows.

【0036】続くステップS28では、先に各リード列
から2点ずつ抽出したデータのうち低い方を選択する。
図5(B)の事例ではa1,b2,c1,d1が選択さ
れている。ステップS29はステップS28で選択され
た4点で構成される三角形を抽出する。例えば図5
(B)で示すa1b2c1で構成される三角形である。
In the following step S28, the lower one of the data extracted two points from each lead row is selected.
In the example of FIG. 5B, a1, b2, c1, and d1 are selected. A step S29 extracts a triangle composed of the four points selected in the step S28. For example, FIG.
This is a triangle composed of a1b2c1 shown in (B).

【0037】ステップS30からS37は先に記載した
ステップS19からS26と同一手順であるから記載は
省略する。
Steps S30 to S37 are the same procedures as steps S19 to S26 described above, and therefore will not be described.

【0038】ステップS38ではステップS25とS3
6で保存した△Zの中から最も大きな値をリード浮き量
として採用する。ステップS39はステップS38で採
用されたリード浮き量とあらかじめ決めたしきい値を比
較する。しきい値以上であれば、ステップS40でリー
ド浮きエラーとし、しきい値以下であればリード浮きな
しとして処理を終了とする。なおリード浮きエラーが検
出された場合には、その電子部品2の基板3への実装は
中止する。
In step S38, steps S25 and S3
The largest value among the ΔZ stored in step 6 is adopted as the lead floating amount. A step S39 compares the lead floating amount adopted in the step S38 with a predetermined threshold value. If it is equal to or greater than the threshold value, a read floating error is determined in step S40. If a lead floating error is detected, the mounting of the electronic component 2 on the board 3 is stopped.

【0039】なお、上記実施形態は、QFPのように四
方にリードが延びた電子部品であったが、これに限定さ
れることなく、左右あるいは上下にリードが延びたリー
ド列を2辺に有する電子部品のリード浮き検査にも適用
することができる。
In the above embodiment, the electronic component has leads extending in all directions like QFP. However, the present invention is not limited to this. The present invention can also be applied to lead lift inspection of electronic components.

【0040】[0040]

【発明の効果】以上説明したように、本発明では、移載
ヘッドのノズルに電子部品を吸着して基板に移送する途
中において、この電子部品をレーザ装置の上方に位置せ
しめ、このレーザ装置から電子部品のリードに向ってレ
ーザ光を照射することによりリード高さを測定し、次い
で電子部品の取付け面となる仮想平面を算出して、各々
のリードのこの仮想平面に対する浮き量を求めている。
その場合、本発明では、多数のリードの中から単純に3
点を抽出して仮想平面を求めるのに比較して、有効な仮
想平面を効率よく見つけ出すことができるので、リード
の屈曲変形、ノズルの軸心の傾斜誤差、電子部品を吸着
するノズルの下面の傾斜誤差、電子部品のモールド体の
上面の傾斜誤差、移載ヘッドをXY方向に移動させるX
Yテーブルの位置誤差等の様々な原因に起因するリード
の浮きを簡単かつ迅速に求めることができる。しかも、
電子部品を移載ヘッドのノズルに吸着して基板に移送す
る途中において、すなわち電子部品を基板に実装する作
業の途中において、リードの浮きを検出できるので、電
子部品を基板に実装するのに要するタクトタイムを大幅
に短縮し、高速度かつ高能率で電子部品を基板に実装す
ることができる。
As described above, according to the present invention, the electronic component is positioned above the laser device during the transfer of the electronic component to the substrate by attracting the electronic component to the nozzle of the transfer head. The height of the lead is measured by irradiating a laser beam toward the lead of the electronic component, and then a virtual plane serving as a mounting surface of the electronic component is calculated, and the floating amount of each lead with respect to this virtual plane is obtained. .
In this case, in the present invention, simply three out of many leads is used.
Compared to extracting a point and finding a virtual plane, it is possible to efficiently find an effective virtual plane, so that the bending deformation of the lead, the inclination error of the nozzle axis, and the lower surface of the nozzle that sucks electronic components Tilt error, tilt error of the upper surface of the electronic component mold body, X for moving the transfer head in the XY directions
It is possible to easily and quickly find the lead floating caused by various causes such as a position error of the Y table. Moreover,
While the electronic component is attracted to the nozzle of the transfer head and transferred to the substrate, that is, during the operation of mounting the electronic component on the substrate, the floating of the lead can be detected, so it is necessary to mount the electronic component on the substrate. Tact time can be significantly reduced, and electronic components can be mounted on a board at high speed and high efficiency.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】電子部品の搭載の流れを説明する説明図であ
る。
FIG. 1 is an explanatory diagram illustrating a flow of mounting an electronic component.

【図2】電子部品のリードの高さを検出する構成を示し
た構成図である。
FIG. 2 is a configuration diagram showing a configuration for detecting a height of a lead of an electronic component.

【図3】リード浮きを検出する流れを示したフローチャ
ート図である。
FIG. 3 is a flowchart showing a flow of detecting lead floating.

【図4】リード浮きを検出する流れを示したフローチャ
ート図である。
FIG. 4 is a flowchart showing a flow of detecting lead floating.

【図5】仮想平面を算出する過程を示した説明図であ
る。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing a process of calculating a virtual plane.

【図6】機械的な誤差に基づくリード浮きを示した説明
図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing lead floating based on a mechanical error.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 電子部品 3 プリント基板 8 吸着ノズル 9 レーザ装置 2 Electronic components 3 Printed circuit board 8 Suction nozzle 9 Laser device

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 本体部より、外方へ延出した複数のリー
ドが一列に並んだリード列を複数備えた電子部品のリー
ド浮き検査方法において、 移載ヘッドのノズルに電子部品を吸着して基板に移送す
る途中において、この電子部品をレーザ装置の上方に位
置せしめ、 このレーザ装置から電子部品のリードに向って下方から
レーザ光を照射することによりリードの高さを検出し、 次いで各リード列毎に最も低いリードを2点ずつ抽出
し、 抽出されたリードの2点と、この2点のあるリード列と
対向するリード列で最も低いリードの1点の3点を含む
仮想平面を各リード列毎に算出し、 各算出された仮想平面に対して各仮想平面からリードま
での距離をリード浮き量とし、あらかじめ設定されたリ
ード浮き許容量と比較してリード浮き量を求めるように
したことを特徴とする電子部品のリード浮き検出方法。
1. A method for inspecting lead floating of an electronic component comprising a plurality of lead rows in which a plurality of leads extending outward from a main body part are arranged in a line, wherein the electronic component is attracted to a nozzle of a transfer head. During the transfer to the substrate, the electronic component is positioned above the laser device, and the laser device emits laser light from below toward the leads of the electronic component to detect the height of the leads. Two points of the lowest lead are extracted for each row, and a virtual plane including two points of the extracted lead and one point of the lowest lead in the lead row opposite to the lead row having these two points is defined as: For each lead row, calculate the distance from each virtual plane to the lead for each calculated virtual plane as the lead floating amount, and compare with the preset lead floating allowable amount to determine the lead floating amount. Lead floating detection method of the electronic component, characterized in that the.
【請求項2】 前記3点からなる各三角形のうち三角形
の中に電子部品の重心が位置する三角形から該三角形に
関連する仮想平面が各リードより低い位置にあるような
仮想平面を選択し、 リード列を4辺に備えた電子部品の場合には、各リード
列の中で最も低いリードを1点各4つのリード列につい
てそれぞれ抽出し、 抽出された4点のうち3点を含む仮想平面をそれぞれ算
出し、 前記各3点から形成される三角形のうち三角形の中に電
子部品の重心が位置する三角形から該三角形に関連する
仮想平面が各リードより低い位置にあるような仮想平面
を選択することを特徴とする請求項1に記載の電子部品
のリード浮き検出方法。
2. A virtual plane in which a virtual plane associated with the triangle is located lower than each lead from triangles in which the center of gravity of the electronic component is located among the triangles among the three triangles, In the case of an electronic component having lead rows on four sides, the lowest lead in each lead row is extracted for each of the four lead rows, and a virtual plane including three of the extracted four points. Is selected from among the triangles formed by the three points, from among the triangles in which the center of gravity of the electronic component is located in the triangle, the virtual plane associated with the triangle is located lower than each lead. 2. The method according to claim 1, further comprising the steps of:
【請求項3】 抽出された三角形の中に電子部品の重心
が位置する三角形であるかを判定するために、前記重心
に最も近い三角形の一辺を抽出し、前記一辺に平行で前
記重心を通る直線が前記三角形の他の二辺と、XY座標
の所定範囲内で交わるときにのみ該三角形に関連する仮
想平面が各リードより低い位置にあるかどうかを判定す
ることを特徴とする請求項2に記載の電子部品のリード
浮き検出方法。
3. To determine whether the center of gravity of the electronic component is a triangle located in the extracted triangle, extract one side of the triangle closest to the center of gravity and pass through the center of gravity in parallel with the one side. 3. The method according to claim 2, further comprising: determining whether a virtual plane associated with the triangle is positioned lower than each lead only when the straight line intersects the other two sides of the triangle within a predetermined range of XY coordinates. 4. A method for detecting lead floating of an electronic component according to claim 1.
【請求項4】 各リード列毎にリード高さに関する近似
直線を算出して、前記近似直線の傾きをもって各リード
高さを通る直線のZ軸(高さ方向)切片が最も低いリー
ドを2点ずつ抽出することを特徴とする請求項1に記載
の電子部品のリード浮き検出方法。
4. An approximate straight line related to the lead height is calculated for each lead row, and two leads having the lowest Z-axis (height direction) intercept of a straight line passing through each lead height with an inclination of the approximate straight line are determined. 2. The method according to claim 1, further comprising extracting the lead floating of the electronic component.
【請求項5】 本体部より、外方へ延出した複数のリー
ドが一列に並んだリード列を4辺に備えた電子部品のリ
ード浮き検出方法において、 移載ヘッドのノズルに電子部品を吸着して基板に移送す
る途中において、この電子部品をレーザ装置の上方に位
置せしめ、 このレーザ装置から電子部品のリードに向って下方から
レーザ光を照射することによりリードの高さを検出し、 各リード列の中で最も低いリードを1点各4つのリード
列についてそれぞれ抽出し、 抽出された4点のうち3点を選んで形成される仮想平面
をそれぞれ算出し、 各算出された仮想平面に対してリード浮き量を求めるよ
うにしたことを特徴とする電子部品のリード浮き検出方
法。
5. A method of detecting lead floating of an electronic component having a plurality of leads arranged on one side and a plurality of leads extending outward from a main body, wherein the electronic component is attracted to a nozzle of a transfer head. During the transfer to the substrate, the electronic component is positioned above the laser device, and the height of the lead is detected by irradiating laser light from below toward the lead of the electronic component from the laser device. The lowest lead among the lead rows is extracted for each of the four lead rows, and a virtual plane formed by selecting three of the extracted four points is calculated. A lead floating detection method for an electronic component, wherein a lead floating amount is obtained.
【請求項6】 本体部より、外方へ延出した複数のリー
ドが一列に並んだリード列を複数備えた電子部品のリー
ド浮き検出装置において、 移載ヘッドのノズルに吸着された電子部品の下方に配置
されたレーザ装置と、 このレーザ装置から電子部品のリードに向って下方から
レーザ光を照射してリードの高さを検出する手段と、 各リード列毎に最も低いリードを2点ずつ抽出する手段
と、 抽出されたリードの2点と、この2点のあるリード列と
対向するリード列で最も低いリードの1点の3点を含む
仮想平面を各リード列毎に算出する手段と、 各算出された仮想平面に対して各仮想平面からリードま
での距離をリード浮き量とし、あらかじめ設定されたリ
ード浮き許容量と比較してリード浮き量を算出する手段
と、 を有することを特徴とする電子部品のリード浮き検出装
置。
6. A lead floating detection device for an electronic component, comprising a plurality of lead rows in which a plurality of leads extending outward from a main body part are arranged in a line, wherein the electronic component sucked by a nozzle of a transfer head is provided. A laser device arranged below, a means for irradiating a laser beam from below toward the leads of the electronic component from the laser device to detect the height of the leads, and two points each having the lowest lead for each lead row Means for extracting two points of the extracted leads, and means for calculating a virtual plane including three points of one point of the lowest lead in the lead row opposite to the lead row having the two points for each lead row Means for calculating a lead floating amount by setting a distance from each virtual plane to the lead to the calculated virtual plane as a lead floating amount and comparing the lead floating amount with a preset lead floating allowable amount. To be Lead lift detection device for electronic components.
【請求項7】 前記3点からなる各三角形のうち三角形
の中に電子部品の重心が位置する三角形から該三角形に
関連する仮想平面が各リードより低い位置にあるような
仮想平面を選択する手段と、 リード列を4辺に備えた電子部品の場合には、各リード
列の中で最も低いリードを1点各4つのリード列につい
てそれぞれ抽出する手段と、 抽出された4点のうち3点を含む仮想平面をそれぞれ算
出する手段と、 前記各3点から形成される三角形のうち三角形の中に電
子部品の重心が位置する三角形から該三角形に関連する
仮想平面が各リードより低い位置にあるような仮想平面
を選択する手段と、を有することを特徴とする請求項6
に記載の電子部品のリード浮き検出装置。
7. A means for selecting, from among the triangles composed of the three points, a virtual plane whose center of gravity of the electronic component is located within the triangle, such that a virtual plane associated with the triangle is located lower than each lead. In the case of an electronic component having a lead array on four sides, means for extracting one point of the lowest lead in each lead array for each of the four lead arrays, and three points of the extracted four points Means for calculating virtual planes each including: from among the triangles formed from the three points, the virtual plane associated with the triangle is located lower than each lead from the triangle in which the center of gravity of the electronic component is located in the triangle Means for selecting such a virtual plane.
4. A lead lift detection device for an electronic component according to claim 1.
【請求項8】 各リード列毎にリード高さに関する近似
直線を算出して、前記近似直線の傾きをもって各リード
高さを通る直線のZ軸(高さ方向)切片が最も低いリー
ドを2点ずつ抽出することを特徴とする請求項6に記載
の電子部品のリード浮き検出装置。
8. An approximate straight line relating to a lead height is calculated for each lead row, and two leads having the lowest Z-axis (height direction) intercept of a straight line passing through each lead height with an inclination of the approximate straight line are determined. 7. The lead lift detecting device for an electronic component according to claim 6, wherein the electronic component is extracted one by one.
【請求項9】 抽出された三角形の中に電子部品の重心
が位置する三角形であるかを判定するために、前記重心
に最も近い三角形の一辺を抽出し、前記一辺に平行で前
記重心を通る直線が前記三角形の他の二辺と、XY座標
の所定範囲内で交わるときにのみ該三角形に関連する仮
想平面が各リードより低い位置にあるかどうかを判定す
ることを特徴とする請求項7に記載の電子部品のリード
浮き検出装置。
9. In order to determine whether the center of gravity of the electronic component is a triangle located in the extracted triangle, one side of the triangle closest to the center of gravity is extracted and passes through the center of gravity in parallel with the one side. 8. The method according to claim 7, further comprising determining whether a virtual plane associated with the triangle is positioned lower than each of the leads only when the straight line intersects the other two sides of the triangle within a predetermined range of XY coordinates. 4. A lead lift detection device for an electronic component according to claim 1.
【請求項10】 本体部より、外方へ延出した複数のリ
ードが一列に並んだリード列を4辺に備えた電子部品の
リード浮き検出装置において、 移載ヘッドのノズルに吸着された電子部品の下方に配置
されたレーザ装置と、 このレーザ装置から電子部品のリードに向って下方から
レーザ光を照射してリードの高さを検出する手段と、 各リード列の中で最も低いリードを1点各4つのリード
列についてそれぞれ抽出する手段と、 抽出された4点のうち3点を選んで形成される仮想平面
をそれぞれ算出する手段と、 各算出された仮想平面に対するリード浮き量を算出する
手段と、 を有することを特徴とする電子部品のリード浮き検出装
置。
10. A lead float detection device for an electronic component having a plurality of leads extending outwardly from a main body part arranged in a row on four sides of an electronic component. A laser device disposed below the component, means for irradiating a laser beam from below toward the lead of the electronic component from the laser device to detect the height of the lead, and the lowest lead in each lead row. Means for extracting four lead rows for each one point; means for calculating virtual planes formed by selecting three points from the extracted four points; calculating lead floating amount for each calculated virtual plane Means for detecting the floating of a lead of an electronic component, comprising:
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN110487189A (en) * 2018-05-11 2019-11-22 胜美达集团株式会社 Flatness detection method, flatness detection device and flatness detect program

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