JP2001126253A - 光ディスク装置の光駆動方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光ディスクの記録領域の始端及び終端におけ
る記録材料の劣化を抑制することができる光ディスク装
置の光駆動方法を提供すること。 【構成】 データを記録する記録領域１１６とアドレス
領域１１３とを有する光ディスクに記録再生を行う光デ
ィスク装置の駆動方法において、データを記録する場
合、前記アドレス領域の全部又は一部を、再生に用いる
光のパワー１３３より大きいパワーの光１３２で照射
し、且つその照射は、前記記録動作を開始する時刻の所
定時間前から行い、及び／又は前記記録動作の終了後、
所定時間経過後まで行う光ディスク装置の光駆動方法。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光学的に記録再生を行
う光ディスク装置の光駆動方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、光ディスク装置は大容量のデータ
を記録再生する手段として盛んに開発が行われている。

【０００３】以下図面を参照しながら、ＳＳ（サンプル
サーボ）方式でトラッキング制御を行う光ディスク及び
光ディスク装置を例にとって説明する。

【０００４】図１１に従来のＳＳ（サンプルサーボ）方
式の相変化型光ディスクのフォーマットの一例を示す。
光ディスク１１１は全周が複数のセクタ１１２に分かれ
ている。各セクタ１１２は１つのアドレス領域１１３
と、複数のセグメント１１４に分かれており、各セグメ
ント１１４はサーボ領域１１５と記録領域１１６に分か
れている。

【０００５】サーボ領域１１５には千鳥足状のウォーブ
ルピット１１８ａ、１１８ｂとクロックピット１１９が
形成されている。１１７はトラックの中心位置である。
１１１０はレーザの光スポットである。光スポット１１
１０がトラックの中心にあるときは千鳥足状のウォーブ
ルピット１１８ａと１１８ｂにおいて返ってくる反射光
量が等しくなることから、ウォーブルピット１１８ａ、
１１８ｂから得られる信号の差からトラッキング信号を
つくることができる。

【０００６】又、クロックピット１１９は光スポット１
１１０がウォーブルピット１１８ａ、１１８ｂを通過し
たときにおのおのの反射光量を検出するタイミングをつ
くるためのピットである。ウォーブルピット１１８ａ、
１１８ｂ、クロックピット１１９はスタンピングの時に
あらかじめ作られている。

【０００７】図１２に従来の相変化型光ディスク装置の
トラッキング信号検出回路の一例を示す。光スポット１
１１０が通過したときの反射光量から得られる再生信号
１２１はスイッチ回路１２３へ導かれる。スイッチ回路
１２３では、クロックピット１１９の再生信号からつく
られたサンプルホールド回路切り替え信号１２２によっ
て、例えばウォーブルピット１１８ａの再生信号はサン
プルホールド回路１２４ａへ導かれ、ウォーブルピット
１１８ｂの再生信号はサンプルホールド回路１２４ｂへ
導かれる。サンプルホールド回路１２４ａ、１２４ｂか
ら出力される信号は、差動増幅器１２５に入力され、そ
こでサンプルホールドされた信号の差をとることにより
トラッキング信号１２６が出力される。

【０００８】図１３は、従来の光ディスク装置において
データを記録する場合に、図１１の光ディスク１１１の
サーボ領域１１５と記録領域１１６を光スポット１１１
０が通過するときの領域ごとのレーザ光の照射パワーを
示したものである。

【０００９】記録領域１１６では結晶状態からアモルフ
ァス状態へ相変化させるために必要な記録パワー１３１
とアモルファス状態から結晶状態へ相変化させるために
必要な消去パワー１３２の２値（データの１、０情報に
対応する）でレーザを変調させて記録を行う。

【００１０】サーボ領域１１５では、記録パワー１３１
や消去パワー１３２のパワーに比べて、パワーの小さい
再生パワー１３３でレーザを発光させ、光スポット１１
１０がウォーブルピット１１８ａ、１１８ｂ、クロック
ピット１１９を通過したときの反射光量を検出する。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、通常記
録パワー１３１および消去パワー１３２は再生パワー１
３３に比べて非常に大きい。一般に記録パワー１３１は
１５ｍＷから２０ｍＷ、消去パワー１３２は記録パワー
１３１の半分程度、再生パワー１３３は１ｍＷから２ｍ
Ｗ程度である。そのため記録パワー１３１および消去パ
ワー１３２の照射される領域と再生パワー１３３の照射
される領域とでは相変化材料の熱条件が大きく異なる。

【００１２】従って上記のような構成では、繰り返し記
録を行ったとき光ディスク１１１において最も急激に熱
条件の変わる記録領域の始端及び終端から記録材料の劣
化が始まるという課題がある。本発明は、従来の光ディ
スクの劣化におけるこのような課題を考慮し、光ディス
クの記録領域の始端及び終端における記録材料の劣化を
抑制することができる光ディスク装置の光駆動方法を提
供することを目的とするものである。

【００１３】なお参考に、相変化型光ディスクにおける
熱膨張による物質移動について説明する。

【００１４】相変化型光ディスク１１１は一般にガラス
やポリカーボネートの基板、ゲルマニウム、アンチモ
ン、テルルなどからなる記録膜、記録膜の上下にあって
記録膜を保護するための誘電体の保護膜、金やアルミニ
ウムの反射膜から構成されるが保護膜は記録膜に比べて
熱吸収が小さい。このために記録膜は熱吸収によって熱
膨張をしやすいけれども保護膜はしにくいと考えられ
る。従って記録膜が熱膨張するとき、上下の保護膜から
記録膜の熱膨張を妨げようとする力を受けることが予想
される。

【００１５】この様子を図１４に示す。図１４（ａ）
は、相変化型光ディスク１１１及び、その記録領域１１
６の一部断面図である。相変化型光ディスク１１１は、
基板１４８の表面に保護膜１４２が形成され、その保護
膜１４２の表面に記録膜１４１が形成され、その記録膜
１４１の表面に保護膜１４２が形成され、その保護膜１
４２の表面に反射膜１４７が形成された円盤状の光記録
媒体である。図１４（ｂ）は、図１４（ａ）に示される
記録領域１１６の断面における記録膜１４１および保護
膜１４２の拡大図である。１４３は記録膜１４１の熱膨
張をしている部分である。１４５は熱膨張をしている部
分の移動前の位置、１４６は移動後の位置である。１４
４は熱膨張を妨げようとする力である。図１４（ｂ）で
は熱膨張を妨げる力１４４の水平方向成分の力は図面上
向かって右側なので、熱膨張している部分１４３は元の
大きさに戻るときに図面上向かって右側に移動する。

【００１６】このように、繰り返し記録を行ったとき、
熱膨張を妨げようとする力１４４のために記録膜１４１
は水平方向にわずかに物質移動させられ、移動により記
録膜物質の少なくなったところから劣化が始まる。

【００１７】

【課題を解決するための手段】本発明は、データを記録
する記録領域とアドレス領域とを有する光ディスクに記
録再生を行う光ディスク装置の光駆動方法において、前
記データを記録する場合、前記アドレス領域の全部又は
一部を、再生に用いる光のパワーより大きいパワーの光
で照射し、且つその照射は、前記記録動作を開始する時
刻の所定時間前から行い、及び／又は前記記録動作の終
了後、所定時間経過後まで行うことを特徴とする光ディ
スク装置の光駆動方法である。

【００１８】また、本発明は、前記再生に用いる光のパ
ワーより大きいパワーの前記光が、前記記録動作に用い
られる消去パワーである上記光ディスク装置の光駆動方
法である。

【００１９】

【作用】本発明は、光パワー変更手段が、データを記録
する場合、アドレス領域の全部又は一部を照射する光の
パワーを、再生に用いる光のパワーより大きいパワーの
光に変更し、データを記録するために必要な制御などの
制御情報を光ディスクのアドレス領域から再生する場
合、その変更された光により行う。

【００２０】

【発明の実施の形態】以下に、本発明をその実施の形態
を示す図面に基づいて説明する。

【００２１】図１は、本発明にかかる第１の実施の形態
の光ディスク装置及びその光駆動方法における、領域毎
のレーザ光の照射パワーの波形を示す図である。図１に
おいて、光ディスクは図１１と同様のフォーマットであ
り、サーボ領域１１５と記録領域１１６を光スポット１
１１０が通過するときの領域ごとのレーザ光の照射パワ
ーを示す。

【００２２】まず、記録領域１１６では、結晶状態から
アモルファス状態へ相変化させるために必要な記録パワ
ー１３１とアモルファス状態から結晶状態へ相変化させ
るために必要な消去パワー１３２の２値を記録するデー
タに応じて用い、レーザを発光させてパワー変調を行
う。

【００２３】一方、サーボ領域１１５では、再生パワー
１３３よりも大きい、例えば消去パワー１３２によりレ
ーザを発光させ、その光スポット１１１０がウォーブル
ピット１１８ａ、１１８ｂ、クロックピット１１９を通
過したときの反射光量を検出する。

【００２４】このように、サーボ領域１１５を消去パワ
ー１３２のレーザ光により照射すれば、記録領域１１６
とサーボ領域１１５との熱条件が大きく変化することを
抑制できる。

【００２５】図２に上記実施の形態の相変化型光ディス
ク装置のトラッキング信号検出系のブロック図を示す。
すなわち、トラッキング信号検出系の回路には、サーボ
領域１１５から入力された再生信号２０のゲインを、ゲ
イン切り替え信号２２に応じて切り替えるゲイン切り替
え回路２１が設けられ、そのゲイン切り替え回路２１に
は、トラッキング信号１２６を出力するトラッキング信
号検出回路１２０が接続されている。そのトラッキング
信号検出回路１２０は、サンプルホールド切り替え信号
１２２に応じて入力信号を切り替えるスイッチ回路１２
３、切り替えられた入力信号をそれぞれサンプルホール
ドするサンプルホールド回路１２４ａ，１２４ｂ、及び
サンプルホールドされた信号の差をとり、トラッキング
信号１２６を出力する差動増幅器１２５により構成され
ている。

【００２６】前述のように、サーボ領域１１５は再生パ
ワー１３３よりも大きいパワーでレーザ光を照射するた
めサーボ信号を次のようにして得る。

【００２７】まず、光スポット１１１０が通過したとき
の反射光から得られる再生信号２０はゲイン切り替え回
路２１に入力される。

【００２８】図３は、ゲイン切り替え回路２１の一例を
示すブロック図である。ゲイン切り換え回路２１は、サ
ーボ領域１１５からの、記録時と再生時における再生信
号２０のレベル（記録時は消去パワー１３２用いて再生
するため、再生時と比べてレベルが異なっている）を合
わせるために、経路を切り替えるための回路である。
又、増幅器３５，３６及び抵抗器３１，３２，３３，３
４が減衰器を構成し、ゲイン切り替え信号２２により、
スイッチ回路３７が切り替わる。

【００２９】再生時にはスイッチ回路３７の接点３９側
がＯＮとなり、再生信号２０は直接接点３９を通って信
号３１０として出力される。

【００３０】一方、記録時にはスイッチ回路３７の接点
３８側がＯＮとなり、増幅器３５、３６により減衰さ
れ、接点３８を通って信号３１０として出力される。こ
のようにスイッチ回路３７を切り替えるのは、上述した
ようにサーボ領域１１５を再生パワー１３３よりも大き
い、例えば消去パワー１３２のレーザ光を照射するので
反射光量が再生時よりも大きくなるからである。

【００３１】このようにして記録時における再生と再生
時とで照射するレーザ光のパワーが異なっても、ゲイン
切り替え回路２１によって光スポット１１１０が記録時
における再生と再生時とで同じ位置を通過するときには
同じ大きさの信号３１０が得られる。

【００３２】ゲイン切り替え回路２１から出力された信
号３１０は、次にトラッキング信号検出回路１２０に入
力される。トラッキング信号検出回路１２０では、まず
信号３１０がスイッチ回路１２３へ入力され、そこでク
ロックピット１１９からの再生信号からつくられたサン
プルホールド回路切り換え信号１２２によって、例えば
ウォーブルピット１１８ａからの再生信号はサンプルホ
ールド回路１２４ａへ導かれ、ウォーブルピット１１８
ｂからの再生信号はサンプルホールド回路１２４ｂへ導
かれるように切り替えられる。

【００３３】次に、サンプルホールド回路１２４ａ、１
２４ｂでサンプルホールドされた出力信号は、差動増幅
器１２５に入力され、その入力の差をとることによりト
ラッキング信号１２６が得られる。

【００３４】以上のように本例によれば、サーボ領域１
１５を消去パワー１３２のレーザ光で照射することによ
り、従来繰り返し記録を行ったときに光ディスクにおい
て最も急激に熱条件の変わっていた記録領域１１６の始
端及び終端における記録材料の劣化を抑えることが出来
る。

【００３５】更に、ここまではトラッキング信号１２６
の検出を例に説明をしてきたが、ＳＳ（サンプルサー
ボ）方式におけるフォーカスを行う領域や、ＳＳ（サン
プルサーボ）方式あるいは連続溝方式におけるアドレス
領域も、一般に再生パワー１３３のレーザ光を照射す
る。ここで、再生時に再生パワー１３３のレーザ光を照
射する記録領域以外の任意の領域（例えば凹凸で形成さ
れた領域）を再生領域（再生専用領域）と呼ぶことにす
る。

【００３６】なお、上記実施の形態では、ゲイン切り替
え回路２１において再生信号２０は、再生時には接点３
９をそのまま通り、記録時には増幅器３５、３６により
減衰されて接点３８から信号３１０になると説明した
が、これに代えて、例えば記録時に接点３９をそのまま
通り、再生時に増幅器３５、３６により増幅されて接点
３８から信号３１０となる場合も同等の効果を有する。

【００３７】また、上記実施の形態では、光ディスクの
フォーマットは図１１で示されるフォーマットを例に説
明したが、これに限らず、記録領域と再生領域が隣接す
る任意の書換型の光ディスクに対しても同等の効果を有
する。

【００３８】図４は、本発明にかかる第２の実施の形態
の光ディスク装置のブロック図である。図４において、
４０は光ディスク１１１に記録再生を行う光学ヘッド、
４１はその光学ヘッド４０のレーザを発光させるレーザ
駆動回路である。それら光学ヘッド４０及びレーザ駆動
回路４１のブロック図を図６に示す。

【００３９】図６において、光学ヘッド４０に設けられ
た６８はレーザ、６９は受光素子である。又、レーザ駆
動回路４１の、６５は再生パワー１３３でレーザ６８を
発光させるための電流源、６６は消去パワー１３２でレ
ーザ６８を発光させるための電流源である。このときレ
ーザ６８は電流源６５、６６を流れる２つの電流の合成
により消去パワー１３２で発光する。６７はレーザ６８
を記録パワー１３１で発光させるための電流源である。
このときレーザ６８は電流源６５、６６、６７を流れる
３つの電流の合成により記録パワー１３１で発光する。

【００４０】又、６１は電流源６６を制御するスイッチ
であり、このスイッチ６１は信号２２が立ち上がるとオ
ンされる。６２は電流源６７を制御するスイッチであ
り、このスイッチ６２は信号４１１が立ち上がるとオン
される。

【００４１】図４において、４２は光学ヘッド４０から
の出力を再生する再生回路である。再生回路４２の出力
である再生信号２０は、第１の実施の形態と同様にゲイ
ン切り替え回路２１に入力され、光スポット１１１０が
記録時における再生と再生時とで同じ位置を通過すると
きには同じ大きさの信号３１０が得られる。

【００４２】信号３１０はトラッキング信号検出回路１
２０に入力され、トラッキング信号１２６が出力され
る。４３はアドレス検出回路であり、信号３１０からア
ドレスを検出する。４４は記録するべき領域のアドレス
を検出する記録アドレス検出回路である。

【００４３】４８はゲイン切り替え信号発生回路であ
り、このゲイン切り替え信号発生回路４８は、例えばア
ンド回路４５、４６とセットリセットフリップフロップ
４７から構成される。

【００４４】以上のアドレス検出回路４３がアドレス検
出手段を構成し、ゲイン切り替え信号発生回路４８が変
更信号出力手段を構成し、レーザ駆動回路４１がパワー
制御手段を構成し、又、それらアドレス検出手段、変更
信号出力手段及び、パワー制御手段が光パワー変更手段
を構成している。

【００４５】又、ゲイン切り替え信号発生回路４８は、
アドレス検出回路４３の出力信号４９と記録アドレス検
出回路４４の出力信号４１０からゲイン切り替え信号２
２を出力する。この様子を図５に示す。

【００４６】図５は、ゲイン切り替え信号２２を生成す
るためのタイミングチャートおよびレーザ６８の光スポ
ット１１１０が通過する領域ごとのレーザ光の照射パワ
ーを示す。なお図５は記録開始時および記録終了時のレ
ーザ光の照射パワーの様子を明確にするために二つのア
ドレス領域１１３の間にある記録領域１１６及びサーボ
領域１１５の数を減らして示している。

【００４７】図５において、４９はアドレス検出回路４
３の出力信号であり、アドレスを検出するとクロックが
立つ。４１０は記録アドレス検出回路４４の出力信号で
あり、記録するべきアドレスを検出するとクロックが立
つ。

【００４８】ゲイン切り替え信号発生回路４８の出力で
あるゲイン切り替え信号２２は信号４９のクロックと信
号４１０のクロックが共に立ったときに立ち上がり、次
に信号４９のクロックだけが立ったときに立ち下がる。

【００４９】ゲイン切り替え信号２２が立ち上がるとゲ
イン切り替え回路２１のスイッチ回路３７のスイッチが
切り替わると共にレーザ駆動回路４１のスイッチ６１が
オンになり、レーザ６８は消去パワー１３２で発光す
る。この状態で記録信号４１１が記録領域１１６で立ち
上がると、レーザ駆動回路４１のスイッチ６２がオンに
なり、レーザ６８は記録パワー１３１で発光する。

【００５０】５５はレーザ６８の光スポット１１１０が
通過する領域ごとのレーザ光の照射パワーを示す。記録
は記録領域１１６ａの始端から開始する。記録領域１１
６ａの始端で再生パワー１３３から消去パワー１３２あ
るいは記録パワー１３１に立ち上がり（記録開始時の最
初の記録信号４１１の状態による）、レーザ６８は、記
録領域１１６ａ、１１６ｂ、１１６ｃ、１１６ｄでは信
号２２、４１１に対応して記録パワー１３１と消去パワ
ー１３２の２値で発光し、アドレス領域１１３ｂ、サー
ボ領域１１５ａ、１１５ｂでは信号２２に対応して消去
パワー１３２で発光する。

【００５１】データの記録は記録領域１１６ｄの終端で
終了するが、レーザ光は消去パワー１３２で発光を続
け、アドレス領域１１３ｃの終端で信号２２に同期して
消去パワー１３２から再生パワー１３３に立ち下がる。
従って記録領域１１６ｄの終端とアドレス領域１１３ｃ
の始端における記録終了時の急激な熱条件の変化は抑え
られる。

【００５２】以上のように、本実施の形態の光ディスク
装置では記録中に再生領域（図５では、サーボ領域１１
５ａ，１１５ｂ及びアドレス領域１１３ｂ，１１３ｃ）
を消去パワー１３２のレーザ光により照射することで、
記録領域の始端及び終端における急激な熱条件の変化を
抑えるとともに、記録する最後の記録領域の終端とその
隣の再生領域の始端における急激な熱条件の変化をも抑
えることが可能になり、光ディスクの劣化をより抑える
ことができる。

【００５３】更に、記録時において、光スポットが再生
領域を通過する際に、照射するレーザ光のパワーを再生
パワー１３３まで落とす必要がなく、記録パワー１３１
と消去パワー１３２の２値で照射パワーを制御すればよ
いので、記録のための回路を簡単にできる。

【００５４】なお、上記実施の形態では、光ディスクの
フォーマットは図１１で示されるフォーマットを例に説
明したが、これに限らず、記録領域と再生領域が隣接す
る任意の書換型の光ディスクに対しても同等の効果を有
する。

【００５５】図７は、本発明にかかる第３の実施の形態
の光ディスク装置のブロック図である。図７において、
本実施の形態の光ディスク装置の構成が第２の実施の形
態の光ディスク装置と異なるところは、記録するべき領
域のアドレスを検出する記録アドレス検出回路４４の代
わりに、記録するべき領域のアドレスの１つ前のアドレ
スを検出する記録直前アドレス検出回路７１と、ゲイン
切り替え信号を一定時間遅延させる遅延回路７２を用い
るところである。

【００５６】ゲイン切り替え信号発生回路４８は、アド
レス検出回路４３の出力信号４９と記録直前アドレス検
出回路７１の出力信号８２に基づいて信号８３を出力す
る。信号８３は遅延回路７２に入力され、一定時間だけ
遅延されてゲイン切り替え信号８４として出力される。
この様子を図８に示す。

【００５７】図８は、ゲイン切り替え信号８４を生成す
るためのタイミングチャートおよびレーザ６８の光スポ
ット１１１０が通過する領域ごとのレーザ光の照射パワ
ーを示す。なお図８は記録開始時および記録終了時のレ
ーザ光の照射パワーの様子を明確にするために二つのア
ドレス領域１１３の間にある記録領域１１６及びサーボ
領域１１５の数を減らしてある。

【００５８】図８において、４９はアドレス検出回路４
３の出力信号であり、アドレスを検出するたびにクロッ
クが立つ。８２は記録直前アドレス検出回路７１の出力
信号であり、記録するべきアドレスの１つ前のアドレス
を検出するとクロックが立つ。８３はゲイン切り替え信
号発生回路４８の出力であり、信号４９のクロックと信
号８２のクロックが共に立ったときに立ち上がり、次に
信号４９のクロックだけが立ったときに立ち下がる。

【００５９】信号８３は遅延回路７２に入力されて一定
時間だけ遅延されてゲイン切り替え信号８４になる。こ
のときの遅延時間は、ゲイン切り替え信号８４がアドレ
ス領域の途中で立ち上がるように設定する。

【００６０】ゲイン切り替え信号８４が立ち上がると、
ゲイン切り替え回路２１のスイッチ回路３７のスイッチ
が切り替わると共にレーザ駆動回路４１のスイッチ６１
がオンになり、レーザ６８は消去パワー１３２で発光す
る。この状態で記録信号４１１が記録領域１１６で立ち
上がるとレーザ駆動回路４１のスイッチ６２がオンにな
り、レーザ６８は記録パワー１３１で発光する。

【００６１】８５はレーザ６８の光スポット１１１０が
通過する領域ごとのレーザ光の照射パワーを示す。記録
は記録領域１１６ａの始端から開始するが、レーザ光の
パワーは、信号８４に同期してアドレス領域１１３ａの
途中で再生パワー１３３から消去パワー１３２に立ち上
がり、レーザ６８は、記録領域１１６ａ、１１６ｂ、１
１６ｃ、１１６ｄでは信号８４、４１１に対応して記録
パワー１３１と消去パワー１３２の２値で発光し、アド
レス領域１１３ｂ、サーボ領域１１５ａ、１１５ｂでは
信号８４に対応して消去パワー１３２で発光する。

【００６２】記録は記録領域１１６ｄの終端で終了する
がレーザ光は消去パワー１３２で発光を続け、アドレス
領域１１３ｃの途中で信号８４に同期して消去パワー１
３２から再生パワー１３３に立ち下がる。

【００６３】従って、記録開始時のアドレス領域１１３
ａの終端と記録領域１１６ａの始端における急激な熱条
件の変化がなくなり、さらに記録動作終了時の記録領域
１１６ｄの終端とアドレス領域１１３ｃの始端における
急激な熱条件の変化もなくなる。

【００６４】以上のように、本実施の形態の光ディスク
装置では記録中に再生領域を消去パワー１３２のレーザ
光で照射することにより、記録領域の始端及び終端にお
ける急激な熱条件の変化を抑えるとともに、記録動作に
入る直前の再生領域の終端とその隣の記録領域の始端、
および記録する最後の記録領域の終端とその隣の再生領
域の始端における急激な熱条件の変化を抑えることが可
能になり、光ディスクの劣化を更に抑えることができ
る。

【００６５】なお、上記実施の形態では、光ディスクの
フォーマットは図１１で示されるフォーマットを例に説
明したが、これに限らず、記録領域と再生領域が隣接す
る任意の書換型の光ディスクに対しても同等の効果を有
する。

【００６６】また、上記実施の形態では、いずれもサー
ボ領域１１５を消去パワー１３２でレーザ光を照射する
ようにしたが、これに限らず、再生パワー１３３よりも
大きい任意のパワーのレーザ光を照射するようにしても
よい。

【００６７】また、上記実施の形態では、いずれも再生
領域としてサーボ領域１１５を例に説明したが、これに
限らず、前述のように記録領域以外の任意の再生領域に
適用しても勿論よい。

【００６８】また、上記実施の形態では、いずれも記録
時における消去パワー１３２による再生を、全部の再生
領域及び、各再生領域の全期間について行ったが、これ
に限らず、一部の再生領域のみでもよく、又、再生領域
の始端と終端付近の一部の期間のみ消去パワー１３２に
より再生するようにしてもよい。

【００６９】図９は、本発明に関連する一例の光ディス
クのフォーマットの例を示す図である。すなわち、光デ
ィスク９１は全周が複数のセクタ９２に分かれており、
各セクタ９２は１つのアドレス領域１１３と、複数のセ
グメント９４に分かれている。各セグメント９４はサー
ボ領域９５と記録領域１１６に分かれている。

【００７０】サーボ領域９５には千鳥足状のウォーブル
ピット１１８ａ、１１８ｂ及びクロックピット１１９が
従来例と同様に形成され、更にサーボ領域９５の両端部
にサーボ情報とは関係のないプリピット９６ａ、９６ｂ
が形成されている。これらウォーブルピット１１８ａ、
１１８ｂ、クロックピット１１９、プリピット９６ａ、
９６ｂはスタンピングの時にあらかじめ作られている。
又、１１７はトラックの中心位置であり、１１１０は光
スポットである。

【００７１】図１０は、プリピット９６ａ、９６ｂ付近
の光ディスクの一部を拡大した断面及び上面を示す図で
ある。プリピット９６ａの左側（図面上）及びプリピッ
ト９６ｂの右側（図面上）は記録領域１１６である。プ
リピット９６ａの右側（図面上）及びプリピット９６ｂ
の左側（図面上）はサーボ領域９５である。

【００７２】まず、記録領域１１６で繰り返し記録が行
われると、記録膜１４１は熱による膨張、収縮を繰り返
す。保護膜１４２は熱吸収量が記録膜１４１よりも小さ
いので熱膨張しにくいため、熱膨張をしている部分１０
２は保護膜１４２から熱膨張を妨げる力１０１ａもしく
は１０１ｂを受ける。

【００７３】次に、熱膨張を妨げる力１０１ａの水平方
向成分の力１０１０ａが記録膜中を伝わって、最終的に
プリピット９６ａのすぐ左側の部分に伝わり更に右方向
に移動しようとするがプリピット９６ａが障壁となって
移動が抑えられる。

【００７４】又、熱膨張を妨げる力１０１ｂの水平方向
成分の力１０１０ｂが記録膜中を伝わって、最終的にプ
リピット９６ｂのすぐ右側の部分に伝わり更に左方向に
移動しようとするがプリピット９６ｂが障壁となって移
動が抑えられる。

【００７５】以上のように、記録領域１１６の外側にサ
ーボ情報とは関係のないプリピット９６ａ、９６ｂを設
けることにより、プリピット９６ａ、９６ｂが障壁とな
って繰り返し記録を行ったときの記録膜物質の移動を抑
えることができる。

【００７６】なお、上記例では、サーボ領域９５の端部
に円形状のプリピット９６ａ，９６ｂを設けて記録材料
である記録膜物質の移動を抑制したが、これに限らず、
例えば四角形等他の形状であってもよく、要するに記録
材料の移動を抑制できるように保護膜が曲がっておれば
よい。

【００７７】また、上記例では、プリピット９６ａ，９
６ｂをサーボ領域９５の最端部に設けたが、これに限ら
ず、記録材料の移動を抑制できれば、記録領域の外側の
任意の場所であってもよい。

【００７８】

【発明の効果】以上述べたところから明らかなように本
発明は、光ディスクの記録領域の始端及び終端における
記録材料の劣化を抑制することができるという長所を有
する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明にかかる第１の実施の形態の光ディスク
装置及びその光駆動方法における、領域ごとのレーザ光
の照射パワーの波形を示す図である。

【図２】同実施の形態の光ディスク装置のトラッキング
信号検出系のブロック図である。

【図３】同実施の形態の光ディスク装置のゲイン切り替
え回路のブロック図である。

【図４】本発明にかかる第２の実施の形態の光ディスク
装置のブロック図である。

【図５】同実施の形態におけるタイミングチャートであ
る。

【図６】同実施の形態の光ディスク装置のレーザ駆動回
路及び光学ヘッドのブロック図である。

【図７】本発明にかかる第３の実施の形態の光ディスク
装置のブロック図である。

【図８】同実施の形態におけるタイミングチャートであ
る。

【図９】本発明に関連する一例の光ディスクのフォーマ
ットの例を示す図である。

【図１０】同例の記録膜の熱膨張を説明する図である。

【図１１】従来の光ディスクのフォーマットの例を示す
図である。

【図１２】従来の光ディスク装置のトラッキング信号検
出回路のブロック図である。

【図１３】従来の光ディスク装置における領域ごとのレ
ーザ光の照射パワーの波形を示す図である。

【図１４】同図（ａ）は、従来の光ディスクの一部断面
図、同図（ｂ）は、その断面の拡大図である。

【符号の説明】

２０ 再生信号 ２１ ゲイン切り替え回路 ２２ ゲイン切り替え信号 ３７ スイッチ回路 ４０ 光学ヘッド ４１ レーザ駆動回路 ４２ 再生回路 ４３ アドレス検出回路 ４４ 記録アドレス検出回路 ４８ ゲイン切り替え信号発生回路 ７１ 記録直前アドレス検出回路 ７２ 遅延回路 ９１ 光ディスク ９２ セクタ ９４ セグメント ９５ サーボ領域 ９６ プリピット １１１ 光ディスク １１２ セクタ １１３ アドレス領域 １１４ セグメント １１５ サーボ領域 １１６ 記録領域 １３１ 記録パワー １３２ 消去パワー １３３ 再生パワー １４１ 記録膜 １４２ 保護膜

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 石田 隆 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 宮端 佳之 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 データを記録する記録領域とアドレス領
   域とを有する光ディスクに記録再生を行う光ディスク装
   置の光駆動方法において、 前記データを記録する場合、前記アドレス領域の全部又
   は一部を、再生に用いる光のパワーより大きいパワーの
   光で照射し、且つその照射は、前記記録動作を開始する
   時刻の所定時間前から行い、及び／又は前記記録動作の
   終了後、所定時間経過後まで行うことを特徴とする光デ
   ィスク装置の光駆動方法。
2. 【請求項２】 前記再生に用いる光のパワーより大きい
   パワーの前記光は、前記記録動作に用いられる消去パワ
   ーであることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装
   置の光駆動方法。
3. 【請求項３】 図面に示す構成の光ディスク装置の光駆
   動方法。