JP2001119854A - Fault-detecting circuit - Google Patents

Fault-detecting circuit

Info

Publication number
JP2001119854A
JP2001119854A JP29321599A JP29321599A JP2001119854A JP 2001119854 A JP2001119854 A JP 2001119854A JP 29321599 A JP29321599 A JP 29321599A JP 29321599 A JP29321599 A JP 29321599A JP 2001119854 A JP2001119854 A JP 2001119854A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detection circuit
circuit
relay
failure
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP29321599A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hironori Kubo
洋記 久保
Fumio Yoshida
二三男 吉田
Original Assignee
Toyo Electric Mfg Co Ltd
東洋電機製造株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyo Electric Mfg Co Ltd, 東洋電機製造株式会社 filed Critical Toyo Electric Mfg Co Ltd
Priority to JP29321599A priority Critical patent/JP2001119854A/en
Publication of JP2001119854A publication Critical patent/JP2001119854A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a fault-detecting circuit which enables fail/safe operation which does not cause reliability to be lowered, by quickly detecting the fault of a drive circuit for an on/off apparatus for a relay, a solenoid valve, etc. SOLUTION: This fault-detecting circuit is composed of an on/off apparatus for a relay, a solenoid valve, etc., a plurality of semiconductor switches which turn them on and off by control signals, being connected in series to this on/off apparatus, and a voltage-detecting circuit which detected the voltage across the on/off apparatus, being connected in parallel with the above on/off apparatus, and one which decides whether the on/off apparatus drive circuit is out of order, by periodically superposing the OFF pulse signals with proper time widths each with different phases to the on control signal of the semiconductor switch, and monitoring the output of the voltage-detecting circuit.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は継電器、電磁弁等の
負荷をオンオフ制御するオンオフ器駆動回路の故障検出
回路に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a failure detection circuit for an ON / OFF device driving circuit for controlling ON / OFF of a load such as a relay or an electromagnetic valve.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、継電器、電磁弁等のオンオフ器に
より重要な負荷を制御する場合、その駆動回路の故障に
よりシステムに致命的な影響を与えることが考えられる
ので、信頼性、フェイルセーフの観点からその駆動回路
を2重系にすることがある。図5はそのオンオフ器の一
例として継電器の駆動回路の従来例を示した回路ブロッ
ク図である。図5において、継電器11に半導体スイッ
チ12、13を直列に接続し、2重系の構成としてい
る。ただしこの従来例は、継電器がオフした状態での故
障がフェイルセーフであるシステムの例である。また半
導体スイッチ12、13の一例として図中ではトランジ
スタを使用し、本発明と関係のない構成部品は図中省略
してある。
2. Description of the Related Art Conventionally, when an important load is controlled by an on / off device such as a relay or an electromagnetic valve, a failure of a drive circuit may have a fatal effect on a system. From the viewpoint, the driving circuit may be a double system. FIG. 5 is a circuit block diagram showing a conventional example of a drive circuit of a relay as an example of the on / off device. In FIG. 5, semiconductor switches 12 and 13 are connected in series to a relay 11 to form a double system. However, this conventional example is an example of a system in which a failure in a state where a relay is turned off is fail-safe. In the drawings, transistors are used as examples of the semiconductor switches 12 and 13, and components not related to the present invention are omitted in the drawings.
【0003】以下図5により動作を説明する。このよう
な駆動回路において、半導体スイッチ12、13にオン
制御信号を与えると半導体スイッチ12、13がオン
し、継電器11のコイル111が励磁され、継電器の動
作遅れ時間Ton後に継電器11の接点112がオンす
る。また半導体スイッチ12、13にオフ制御信号を与
えると半導体スイッチ12、13がオフし、継電器11
のコイル111が消磁され、継電器の動作遅れ時間To
ff後に継電器の接点112がオフする。ここで半導体
スイッチが短絡故障した場合、半導体スイッチを1つし
か使用しない1重系ならば継電器11の接点112がオ
ンしてしまい、システムに致命的な影響を与える可能性
があるが、2重系であるため正常な方の半導体スイッチ
をオフすることにより接点112をオフすることができ
る。
The operation will be described below with reference to FIG. In such a drive circuit, when an ON control signal is given to the semiconductor switches 12 and 13, the semiconductor switches 12 and 13 are turned on, the coil 111 of the relay 11 is excited, and the contact 112 of the relay 11 is turned on after the operation delay time Ton of the relay. Turn on. When an off control signal is given to the semiconductor switches 12, 13, the semiconductor switches 12, 13 are turned off, and the relay 11 is turned off.
Coil 111 is demagnetized, and the relay operation delay time To
After ff, the contact 112 of the relay is turned off. If the semiconductor switch is short-circuited, the contact 112 of the relay 11 is turned on in a single system using only one semiconductor switch, which may have a fatal effect on the system. Since the system is a system, the contact 112 can be turned off by turning off the normal semiconductor switch.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】通常駆動回路の故障検
出方法は、半導体スイッチ12、13の制御信号と接点
112の状態を比較して、制御信号がオンなのに接点1
12がオフである場合、また制御信号がオフなのに接点
112がオンである場合に故障として検出するというも
のである。ここで、半導体スイッチ12が短絡故障した
場合を考えると、半導体スイッチ12の制御信号に関わ
らず半導体スイッチ12はオンになる。ところが半導体
スイッチ13の動作により、接点112が正常に動作す
るため見かけ上正常に見え、故障が発生したことを検出
できない。そのため半導体スイッチ12の短絡故障後
は、駆動回路は半導体スイッチ13のみにより駆動され
る1重系となり、信頼性が低下してしまうというという
問題があった。
The method of detecting a failure of a normal drive circuit is based on a comparison between the control signals of the semiconductor switches 12 and 13 and the state of the contact 112, and the control signal is turned on and the contact 1 is detected.
If the switch 12 is off, or if the control signal is off but the contact 112 is on, it is detected as a failure. Here, considering the case where the semiconductor switch 12 is short-circuited, the semiconductor switch 12 is turned on regardless of the control signal of the semiconductor switch 12. However, since the contact 112 operates normally due to the operation of the semiconductor switch 13, the contact 112 looks apparently normal, and it cannot be detected that a failure has occurred. Therefore, after a short-circuit failure of the semiconductor switch 12, the drive circuit becomes a single system driven only by the semiconductor switch 13, and there is a problem that reliability is reduced.
【0005】さらに、半導体スイッチ13も故障すれば
故障を検出することができるが、それが短絡故障であっ
たなら接点112がオンするためシステムに致命的な影
響を与える可能性があり、フェイルセーフの点で問題が
あった。本発明は上述した点に鑑みて創案されたもの
で、その目的とするところは、これらの課題を解消し、
継電器、電磁弁等のオンオフ器の駆動回路の故障を速や
かに検出でき、信頼性を低下させないフェイルセーフを
可能ならしめる故障検出回路を提供するものである。
Further, if the semiconductor switch 13 also fails, the failure can be detected. However, if it is a short-circuit failure, the contact 112 is turned on, which may have a fatal effect on the system, and fail-safe. There was a problem in the point. The present invention has been made in view of the above points, and aims to solve these problems.
An object of the present invention is to provide a failure detection circuit that can quickly detect a failure in a drive circuit of an ON / OFF device such as a relay or a solenoid valve and that enables a fail-safe without reducing reliability.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】つまり、その目的を達成
するための手段は、(1)請求項1において、継電器や
電磁弁などのオンオフ器と、このオンオフ器と直列に接
続された制御信号によりオンオフする複数の半導体スイ
ッチと、前記オンオフ器と並列に接続されたオンオフ器
の両端電圧を検出する電圧検出回路とで構成され、前記
半導体スイッチのオン制御信号に適度な時間幅のオフパ
ルス信号をそれぞれ異なる位相で周期的に重畳し、前記
電圧検出回路の出力を監視することでオンオフ器駆動回
路が故障しているかどうか判断するものである。
Means for achieving the object are as follows: (1) In claim 1, an on / off device such as a relay or a solenoid valve, and a control signal connected in series with the on / off device. A plurality of semiconductor switches that are turned on and off by a voltage detection circuit that detects a voltage between both ends of an on-off device connected in parallel with the on-off device, and outputs an off-pulse signal having an appropriate time width to an on-control signal of the semiconductor switch. It superimposes periodically in different phases, and monitors the output of the voltage detection circuit to judge whether or not the ON / OFF device drive circuit has failed.
【0007】(2)請求項2において、継電器や電磁弁
などのオンオフ器と、このオンオフ器と直列に接続され
た制御信号によりオンオフする複数の半導体スイッチ
と、前記オンオフ器と並列に接続されたオンオフ器の両
端電圧を検出する電圧検出回路とで構成され、前記半導
体スイッチのオフ制御信号に適度な時間幅のオンパルス
信号をそれぞれ異なる位相で周期的に重畳し、前記電圧
検出回路の出力を監視することでオンオフ器駆動回路が
故障しているかどうか判断するものである。
(2) In claim 2, an on / off device such as a relay or a solenoid valve, a plurality of semiconductor switches which are turned on / off by a control signal connected in series with the on / off device, and are connected in parallel with the on / off device. A voltage detection circuit for detecting a voltage between both ends of the on / off device, and superimposing periodically on-pulse signals of an appropriate time width with different phases on the off-control signal of the semiconductor switch to monitor the output of the voltage detection circuit. By doing so, it is determined whether or not the ON / OFF device drive circuit has failed.
【0008】(3)請求項3において、車両用ドア制御
回路の故障検出回路に前記(1)、(2)を使用するも
のである。以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳
述する。
(3) In the third aspect, the above (1) and (2) are used in a failure detection circuit of a vehicle door control circuit. Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
【0009】[0009]
【発明の実施の形態】図1は本発明にかかる故障検出回
路の第1、第2実施例を示した回路ブロック図で、オン
オフ器の一例として継電器を使用している。図2は第1
実施例の動作を説明するための波形図である。図1にお
いて、11はコイル111、接点112から成る継電
器、12、13は制御信号によりオンオフする半導体ス
イッチ、14はコイル111の両端に電圧がある場合に
「H」を出力し、電圧がない時に「L」を出力する電圧
検出回路である。ただしこの実施例は、継電器がオフし
た状態での故障がフェイルセーフであるシステムの例で
ある。実施例では半導体スイッチとしてトランジスタを
使用し、また本発明と関係のない構成部品は図中省略し
てある。
FIG. 1 is a circuit block diagram showing first and second embodiments of a failure detection circuit according to the present invention, wherein a relay is used as an example of an on / off device. FIG. 2 shows the first
FIG. 6 is a waveform chart for explaining the operation of the example. In FIG. 1, 11 is a relay comprising a coil 111 and a contact 112, 12 and 13 are semiconductor switches which are turned on and off by a control signal, and 14 outputs "H" when voltage is present at both ends of the coil 111, and when there is no voltage, This is a voltage detection circuit that outputs “L”. However, this embodiment is an example of a system in which a failure in a state where the relay is off is fail-safe. In the embodiment, a transistor is used as a semiconductor switch, and components not related to the present invention are omitted in the drawings.
【0010】半導体スイッチ12、13が共にオンの状
態で継電器11の接点112がオンしている状態での故
障検出について以下図1、図2により説明する。半導体
スイッチ12の制御信号に図2のような時間幅t1のオ
フ信号を周期T毎に重畳する。また半導体スイッチ13
の制御信号にも時間幅t1のオフ信号を、半導体スイッ
チ12に加えたものと位相をずらして重畳する。ただし
オフ信号の時間幅t1は、従来例で説明した継電器の動
作遅れ時間Toffよりも十分短く設定する。そのため
このオフ信号により接点112がオフすることはなく、
接点112により駆動される負荷に影響は与えない。ま
たこのオフ信号を加えることによりコイル111の両端
の平均電圧が低下するが、それが継電器11の動作に影
響を与えないように周期Tを設定する。
Failure detection in a state where both the semiconductor switches 12 and 13 are on and the contact 112 of the relay 11 is on will be described below with reference to FIGS. An off signal having a time width t1 as shown in FIG. 2 is superimposed on the control signal of the semiconductor switch 12 every period T. The semiconductor switch 13
The control signal is also superimposed with an off signal having a time width t1 with a phase shifted from that applied to the semiconductor switch 12. However, the time width t1 of the OFF signal is set sufficiently shorter than the operation delay time Toff of the relay described in the conventional example. Therefore, the contact 112 is not turned off by this off signal,
The load driven by the contact 112 is not affected. The average voltage at both ends of the coil 111 is reduced by adding the off signal, but the period T is set so that the average voltage does not affect the operation of the relay 11.
【0011】半導体スイッチ12、13が共にオン時に
はコイル111の両端に電圧が加わり、どちらかがオフ
するとコイル111の両端には電圧が加わらなくなる。
従って半導体スイッチ12、13が正常時には電圧検出
回路14の出力は図2のような平均周期T/2のパルス
となる。半導体スイッチ12が図2に示した時点で短絡
故障した場合を考えると、半導体スイッチ12は制御信
号に関わらずオン状態となるため、故障後の電圧検出回
路14の出力は図2のように周期Tのパルスとなる。
When the semiconductor switches 12 and 13 are both on, a voltage is applied to both ends of the coil 111. When either of them is turned off, no voltage is applied to both ends of the coil 111.
Therefore, when the semiconductor switches 12 and 13 are normal, the output of the voltage detection circuit 14 is a pulse having an average period T / 2 as shown in FIG. Considering the case where the semiconductor switch 12 has a short-circuit fault at the time shown in FIG. 2, the semiconductor switch 12 is turned on regardless of the control signal, and the output of the voltage detection circuit 14 after the fault is cycled as shown in FIG. It becomes a T pulse.
【0012】また半導体スイッチ12が図2に示した時
点で開放故障した場合を考えると、半導体スイッチ12
は制御信号に関わらずオフ状態となるため、故障後の電
圧検出回路14の出力は図2のように「L」固定とな
る。このように電圧検出回路14の出力は、半導体スイ
ッチ12、13が共に正常時のみ平均周期T/2のパル
スとなる。従って、電圧検出回路14の出力を監視すれ
ば半導体スイッチが1つだけ故障した場合でも、故障を
速やかに検出することができるようになるため、信頼性
を低下させることがない。また故障検出後に半導体スイ
ッチ13をオフすれば接点112がオフするためフェイ
ルセーフの点でも問題がない。また電圧検出回路14の
出力パルス信号で故障を検出するため、電圧検出回路1
4が故障して出力が固定された場合でも故障として検出
することができる。
Considering the case where the semiconductor switch 12 has an open fault at the time shown in FIG.
Is turned off irrespective of the control signal, the output of the voltage detection circuit 14 after the failure is fixed at "L" as shown in FIG. As described above, the output of the voltage detection circuit 14 becomes a pulse having the average period T / 2 only when both the semiconductor switches 12 and 13 are normal. Therefore, if the output of the voltage detection circuit 14 is monitored, even if only one semiconductor switch has failed, the failure can be promptly detected, so that the reliability is not reduced. If the semiconductor switch 13 is turned off after the failure is detected, the contact 112 is turned off, so that there is no problem in terms of fail-safe. Further, in order to detect a failure by the output pulse signal of the voltage detection circuit 14, the voltage detection circuit 1
4 can be detected as a failure even when the output fails and the output is fixed.
【0013】図3は第2実施例の動作を説明するための
波形図である。以下、図1、図3により、半導体スイッ
チ12、13が共にオフの状態で継電器11の接点11
2がオフしている状態での故障検出について説明する。
半導体スイッチ12の制御信号に図3のような時間幅t
1のオン信号を周期T毎に重畳する。また半導体スイッ
チ13の制御信号にも時間幅t1のオン信号を、半導体
スイッチ12に加えたものと位相をずらして重畳する。
ただしオン信号の時間幅t1は、従来例で説明した継電
器の動作遅れ時間Tonよりも十分短く設定する。その
ためこのオン信号により接点112がオンすることはな
く、接点112により駆動される負荷に影響は与えな
い。またこのオン信号を加えることによりコイル111
の両端の平均電圧が上昇するが、それが継電器11の動
作に影響を与えないように周期Tを設定する。半導体ス
イッチ12、13が正常時には半導体スイッチ12、1
3が同時にオンすることがないため、電圧検出回路14
の出力は図3のように「L」固定となる。
FIG. 3 is a waveform chart for explaining the operation of the second embodiment. Hereinafter, according to FIGS. 1 and 3, when the semiconductor switches 12 and 13 are both off, the contact 11 of the relay 11
A description will be given of the failure detection in a state where 2 is off.
The time width t as shown in FIG.
One ON signal is superimposed every period T. The control signal of the semiconductor switch 13 is also superimposed with the ON signal of the time width t1 with a phase shifted from that applied to the semiconductor switch 12.
However, the time width t1 of the ON signal is set to be sufficiently shorter than the operation delay time Ton of the relay described in the conventional example. Therefore, the contact 112 is not turned on by this ON signal, and the load driven by the contact 112 is not affected. Also, by adding this ON signal, the coil 111
The period T is set so that the average voltage at both ends increases without affecting the operation of the relay 11. When the semiconductor switches 12, 13 are normal, the semiconductor switches 12, 1
3 are not turned on at the same time, the voltage detection circuit 14
Is fixed at "L" as shown in FIG.
【0014】半導体スイッチ12が図3に示した時点で
短絡故障した場合を考えると、半導体スイッチ12は制
御信号に関わらずオン状態となるため、故障後の電圧検
出回路14の出力は図3のように周期Tのパルスとな
る。また半導体スイッチ12が図3に示した時点で開放
故障した場合を考えると、半導体スイッチ12は制御信
号に関わらずオフ状態となるため、故障後の電圧検出回
路14の出力は図3のように「L」固定となる。
Considering that the semiconductor switch 12 is short-circuited at the time shown in FIG. 3, since the semiconductor switch 12 is turned on regardless of the control signal, the output of the voltage detection circuit 14 after the failure is as shown in FIG. Thus, a pulse having a period T is obtained. Considering the case where the semiconductor switch 12 has an open failure at the time shown in FIG. 3, the semiconductor switch 12 is turned off regardless of the control signal, so that the output of the voltage detection circuit 14 after the failure is as shown in FIG. "L" is fixed.
【0015】このように電圧検出回路14の出力は、半
導体スイッチ12の短絡故障時のみ周期Tのパルスとな
る。よって電圧検出回路14の出力を監視すれば、フェ
イルセーフではない故障モードである短絡故障を速やか
に検出することができるようになるため、信頼性を低下
させることがない。また電圧検出回路14の出力は正常
時と開放故障時とで同じ波形となるため、接点112が
オフしている状態では開放故障を検出できないが、開放
故障はフェイルセーフの故障モードであるため次に接点
112をオンさせようとしたときに故障検出しても問題
はない。
As described above, the output of the voltage detection circuit 14 becomes a pulse having a period T only when the semiconductor switch 12 has a short-circuit fault. Therefore, if the output of the voltage detection circuit 14 is monitored, a short-circuit fault, which is a failure mode that is not fail-safe, can be promptly detected, so that reliability is not reduced. Further, since the output of the voltage detection circuit 14 has the same waveform in a normal state and in an open fault, an open fault cannot be detected when the contact 112 is off, but the open fault is a fail-safe failure mode, so that There is no problem even if a failure is detected when the contact 112 is turned on in advance.
【0016】電車等に使用されるドアの制御回路は、電
磁弁をオンオフすることでドアの開閉を行うことがある
が、走行中にドアが開くようなことがあってはいけない
ため、電磁弁の駆動回路に信頼性、フェイルセーフが要
求される。図4は本発明にかかる故障検出回路をドア制
御用の電磁弁駆動回路に適用した場合の実施例を示した
回路ブロック図である。図4において、41は電磁弁で
ある。半導体スイッチ12、13をオンオフすることで
電磁弁41をオンオフさせ、ドアの開閉を行う構成とな
っている。なお図1と同一記号のものは、図1と同じ物で
あるので説明は省略する。また本発明と関係のない構成
部品は図中省略してある。
A door control circuit used in a train or the like sometimes opens and closes a door by turning on and off an electromagnetic valve. However, since the door must not be opened during traveling, the solenoid valve is not controlled. Drive circuits require reliability and fail-safe. FIG. 4 is a circuit block diagram showing an embodiment in which the failure detection circuit according to the present invention is applied to an electromagnetic valve drive circuit for door control. In FIG. 4, reference numeral 41 denotes a solenoid valve. By turning on and off the semiconductor switches 12 and 13, the electromagnetic valve 41 is turned on and off to open and close the door. Components having the same symbols as those in FIG. 1 are the same as those in FIG. Components not related to the present invention are omitted in the drawings.
【0017】ただしこの実施例は、電磁弁がオフした状
態での故障がフェイルセーフであるシステムの例であ
る。この場合も前述したのと同様に半導体スイッチ1
2、13の制御信号に時間幅t1のオンまたはオフ信号
を周期T毎に位相をずらして重畳することにより、故障
検出することができる。この時前述したのと同様に時間
幅t1は電磁弁が実際に動作しないように電磁弁の動作
遅れ時間Ton、Toffよりも十分に短く設定する必
要があるが、電磁弁は空気等を制御するため動作遅れ時
間は通常継電器に比べて大きいので、より容易に故障検
出を実施できるという特徴がある。
However, this embodiment is an example of a system in which a failure in a state where the solenoid valve is turned off is fail-safe. In this case as well, as described above, the semiconductor switch 1
A fault can be detected by superimposing the ON or OFF signal of the time width t1 on the control signals 2 and 13 with the phase shifted for each cycle T. At this time, similarly to the above, the time width t1 needs to be set sufficiently shorter than the operation delay times Ton and Toff of the solenoid valve so that the solenoid valve does not actually operate, but the solenoid valve controls air and the like. Therefore, since the operation delay time is usually longer than that of the relay, there is a feature that the failure detection can be performed more easily.
【0018】上記実施例では半導体スイッチ2個の場合
について述べているが、半導体スイッチが3個以上の場
合でも同様の効果を得ることができる。また半導体スイ
ッチにトランジスタを使用し、オンオフ器に継電器、電
磁弁を使用した場合について説明しているが、本発明は
これに限られるものではない。また上記実施例は、オン
オフ器がオフした状態での故障がフェイルセーフである
システムについて説明しているが、オンオフ器がオンし
た状態での故障がフェイルセーフであるシステムの場合
は、半導体スイッチ12、13を直列ではなく並列に接
続することで上記実施例を応用した方法で故障を検出す
ることができるようになる。
In the above embodiment, the case where two semiconductor switches are used is described. However, the same effect can be obtained when three or more semiconductor switches are used. Further, the case where a transistor is used for a semiconductor switch and a relay and an electromagnetic valve are used for an on / off device has been described, but the present invention is not limited to this. In the above-described embodiment, the system in which the failure when the on-off device is off is fail-safe is described. However, in the case of the system in which the failure when the on-off device is on is fail-safe, the semiconductor switch 12 is used. , 13 are connected in parallel instead of in series, so that a fault can be detected by a method applying the above embodiment.
【0019】[0019]
【発明の効果】以上説明したように本発明にかかる故障
検出回路によれば、システムに致命的な影響を与える故
障モードの故障が半導体スイッチ1個に発生した時点
で、故障を確実かつ速やかに検出することが可能となる
ので、継電器、電磁弁等のオンオフ器の駆動回路のフェ
イルセーフな保護が可能となり、また信頼性を低下させ
る1重系での動作時間を短縮することが可能となり、実
用上、極めて有用性の高いものである。
As described above, according to the failure detection circuit of the present invention, when a failure in a failure mode that has a fatal effect on the system occurs in one semiconductor switch, the failure can be reliably and promptly detected. Since detection is possible, fail-safe protection of a drive circuit of an ON / OFF device such as a relay or a solenoid valve can be performed, and an operation time in a single system that reduces reliability can be shortened. It is extremely useful in practice.
【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]
【図1】本発明の第1、第2実施例を示した回路ブロッ
ク図である。
FIG. 1 is a circuit block diagram showing first and second embodiments of the present invention.
【図2】本発明の第1実施例の動作を説明するための波
形図である。
FIG. 2 is a waveform chart for explaining the operation of the first embodiment of the present invention.
【図3】本発明の第2実施例の動作を説明するための波
形図である。
FIG. 3 is a waveform chart for explaining the operation of the second embodiment of the present invention.
【図4】本発明の第3実施例を示した回路ブロック図で
ある。
FIG. 4 is a circuit block diagram showing a third embodiment of the present invention.
【図5】従来の実施例を示した回路ブロック図である。FIG. 5 is a circuit block diagram showing a conventional example.
【符号の説明】[Explanation of symbols]
11 継電器 12、13 半導体スイッチ 14 電圧検出回路 41 電磁弁 111 コイル 112 接点 DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Relay 12, 13 Semiconductor switch 14 Voltage detection circuit 41 Solenoid valve 111 Coil 112 Contact

Claims (3)

    【特許請求の範囲】[Claims]
  1. 【請求項1】 負荷をオンオフ駆動するオンオフ器駆動
    回路の故障検出回路において、継電器や電磁弁などのオ
    ンオフ器と、該オンオフ器と直列に接続された制御信号
    によりオンオフする複数の半導体スイッチと、前記オン
    オフ器と並列に接続されたオンオフ器の両端電圧を検出
    する電圧検出回路とを有し、前記複数の半導体スイッチ
    のオン制御信号に所定の時間幅のオフパルス信号をそれ
    ぞれ異なる位相で周期的に重畳し、前記電圧検出回路の
    出力を監視することでオンオフ器及び複数の半導体から
    なるオンオフ器駆動回路が故障しているかどうか判断す
    るよう構成したことを特徴とする故障検出回路。
    1. A failure detection circuit for an on / off device driving circuit for driving a load on / off, comprising: an on / off device such as a relay or a solenoid valve; and a plurality of semiconductor switches that are turned on / off by a control signal connected in series with the on / off device. A voltage detection circuit that detects a voltage between both ends of the on / off device connected in parallel with the on / off device, and periodically outputs off pulse signals of a predetermined time width at different phases to the on control signals of the plurality of semiconductor switches. A failure detection circuit configured to superimpose and monitor an output of the voltage detection circuit to determine whether an ON / OFF device and an ON / OFF device drive circuit including a plurality of semiconductors are faulty.
  2. 【請求項2】 前記複数の半導体スイッチのオフ制御信
    号に所定の時間幅のオンパルス信号をそれぞれ異なる位
    相で周期的に重畳するよう構成した請求項1記載の故障
    検出回路。
    2. The fault detection circuit according to claim 1, wherein an on-pulse signal having a predetermined time width is periodically superimposed on an off-control signal of said plurality of semiconductor switches at different phases.
  3. 【請求項3】 車両用ドア制御回路の故障検出回路に適
    用する請求項1又は2記載の故障検出回路。
    3. The failure detection circuit according to claim 1, wherein the failure detection circuit is applied to a failure detection circuit of a vehicle door control circuit.
JP29321599A 1999-10-15 1999-10-15 Fault-detecting circuit Pending JP2001119854A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29321599A JP2001119854A (en) 1999-10-15 1999-10-15 Fault-detecting circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29321599A JP2001119854A (en) 1999-10-15 1999-10-15 Fault-detecting circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001119854A true JP2001119854A (en) 2001-04-27

Family

ID=17791925

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP29321599A Pending JP2001119854A (en) 1999-10-15 1999-10-15 Fault-detecting circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001119854A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005236101A (en) * 2004-02-20 2005-09-02 Hitachi Ltd Fault detecting apparatus of solenoid
JP2010146841A (en) * 2008-12-18 2010-07-01 Digital Electronics Corp Failure diagnostic device and failure diagnosis method
CN109617600A (en) * 2018-12-28 2019-04-12 东南大学 Direct impulse waveform Self-debugging system and method based on the identification of PON link failure

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005236101A (en) * 2004-02-20 2005-09-02 Hitachi Ltd Fault detecting apparatus of solenoid
JP4708714B2 (en) * 2004-02-20 2011-06-22 日立オートモティブシステムズ株式会社 Solenoid abnormality detection device
JP2010146841A (en) * 2008-12-18 2010-07-01 Digital Electronics Corp Failure diagnostic device and failure diagnosis method
CN109617600A (en) * 2018-12-28 2019-04-12 东南大学 Direct impulse waveform Self-debugging system and method based on the identification of PON link failure

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6034449A (en) Load drive circuit
JP2005501200A (en) Safety switch module and switching element OFF capability inspection method
JP3955500B2 (en) Fuse trigger circuit and method for protecting electrohydraulic system including fuse
US7218120B2 (en) Fault detection circuit for a driver circuit
US7656116B2 (en) Power supply system with function of short circuit detection
JP6339617B2 (en) Power shut-off device
US20090079435A1 (en) Load Drive Circuit
KR20060046198A (en) Relay control device for a direct current electrical apparatus
JP3757208B2 (en) Emergency stop circuit
US9606184B2 (en) Method and circuit unit for determining fault states in a half-bridge circuit
EP2246968B1 (en) Drive circuit for inductive load
JP3807294B2 (en) Electric load drive
US5737199A (en) Fail Check Device and method for switching signal lines
US7701738B2 (en) Supply unit for a driver circuit and method for operating same
JP2005253156A (en) Fault detector in motor controller for vehicle
US7969107B2 (en) Motor control device
JP2001119854A (en) Fault-detecting circuit
JP2005295655A (en) State detecting circuit for driving circuit
JP2005318791A (en) Fault detection circuit of driving device
US6320405B1 (en) Circuit for the switching of loads
KR20050036034A (en) Circuit for controlling a relay of the railroad signal and method thereof
JP3602378B2 (en) Safety device for a plurality of electric loads and power supply interruption method for a plurality of electric loads
KR20200081477A (en) Brake drive control circuit and its fault detection method
JP2728902B2 (en) Power cut-off device
US7352544B2 (en) Method and apparatus for providing a remedial strategy for an electrical circuit