JP2001116707A - Cassette in which wafer is housed and fluorescent x-ray analyzing apparatus for analyzing wafer housed in cassette - Google Patents
Cassette in which wafer is housed and fluorescent x-ray analyzing apparatus for analyzing wafer housed in cassetteInfo
- Publication number
- JP2001116707A JP2001116707A JP29612199A JP29612199A JP2001116707A JP 2001116707 A JP2001116707 A JP 2001116707A JP 29612199 A JP29612199 A JP 29612199A JP 29612199 A JP29612199 A JP 29612199A JP 2001116707 A JP2001116707 A JP 2001116707A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cassette
- wafer
- wafers
- ray fluorescence
- analyzing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ等の
ウエハが収納されるカセットと、そのようなカセットに
収納されたウエハを分析する蛍光X線分析装置に関する
ものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a cassette for storing wafers such as semiconductor wafers and an X-ray fluorescence analyzer for analyzing wafers stored in such a cassette.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来より、いわゆる蛍光X線分析装置を
用いて、半導体ウエハの汚染分析等が行われているが、
ウエハは円板状で、150mm(6インチ)、200mm
(8インチ)、300mm(12インチ)等複数種類の直
径のものがあり、それぞれ、ウエハの直径に応じた所定
の規格(SEMI;Semiconductor Equipment andMater
ials International )の寸法形状をもつ既製の(量産
品の)カセットに収納されて取り扱われる。既製のカセ
ット22の一例を、ウエハを出し入れする側22aの反
対側22dから見た斜視図である図6に示す。2. Description of the Related Art Conventionally, contamination analysis of a semiconductor wafer has been performed using a so-called fluorescent X-ray analyzer.
Wafer is disk-shaped, 150mm (6 inch), 200mm
(8 inches), 300 mm (12 inches), etc., with a plurality of diameters, each of which has a predetermined standard (SEMI; Semiconductor Equipment and Material) corresponding to the diameter of the wafer.
ials International) in a ready-made (mass-produced) cassette with dimensions and shape. One example of the ready-made cassette 22 is shown in FIG. 6 which is a perspective view seen from the side 22d opposite to the side 22a for loading and unloading wafers.
【0003】ここで、図7の正面の部分図に示すよう
に、カセット22は、ウエハ1の出し入れのために一面
22a(この面を上面にして使用される場合等もある
が、本願ではこの面を前面として使用し、以下、前面と
呼ぶ)が開放され、左右の側壁22bの内側にウエハを
1枚ずつ収納する1対の溝22cが所定の間隔pで上下
に多数対形成されている。例えば、150mm用のカセッ
ト22には4.76mm間隔の溝が25対あってウエハ1
が25枚まで収納でき、200mm用のカセット22には
6.35mm間隔の溝が25対または26対あってウエハ
1が25枚または26枚まで収納でき、300mm用のカ
セット22には10mm間隔の溝が13対または25対あ
ってウエハ1が13枚または25枚まで収納できる。な
お、図6に示すように、前面22a、後面22d、側壁
22bに対して上面22eには、持ち運びのための把手
22fが形成されている。As shown in a partial front view of FIG. 7, the cassette 22 has a surface 22a (in some cases, this surface is used as an upper surface) for loading and unloading the wafer 1, but in the present application, this cassette 22 is used. The front surface is used as a front surface, hereinafter referred to as a front surface), and a large number of pairs of grooves 22c for accommodating wafers one by one are formed vertically at predetermined intervals p inside left and right side walls 22b. . For example, the cassette 22 for 150 mm has 25 pairs of grooves at 4.76 mm intervals and the wafer 1
The cassette 22 for 200 mm has 25 or 26 pairs of grooves at 6.35 mm intervals to accommodate 25 or 26 wafers 1, and the cassette 22 for 300 mm has grooves at 10 mm intervals. There are 13 or 25 pairs of grooves, and up to 13 or 25 wafers 1 can be stored. As shown in FIG. 6, a handle 22f for carrying is formed on the upper surface 22e with respect to the front surface 22a, the rear surface 22d, and the side wall 22b.
【0004】一方、このようなカセット22に収納され
たウエハ1を分析する蛍光X線分析装置においては、カ
セット台に載置されたカセット22中のウエハ1を1枚
ずつ搬送手段であるロボットハンドで搬出入して試料台
で分析を行う。ここで、直径の大きいウエハ1ほど重い
ので、それを搬送するロボットハンドも剛性を高めるべ
く先端のハンド部等を厚く形成する。したがって、ロボ
ットハンドのハンド部が干渉せずにウエハ1間に挿入で
きるように、前述したように、ウエハ1の直径が大きく
なるほど、対応する図7のカセット22の溝の間隔pも
大きくなっている。On the other hand, in an X-ray fluorescence analyzer for analyzing the wafers 1 stored in such a cassette 22, a robot hand as a transport means for the wafers 1 in the cassettes 22 mounted on the cassette table one by one. And carry out the analysis on the sample table. Here, since the larger the diameter of the wafer 1 is, the heavier the robot hand that transports the wafer 1 is to form a thicker hand portion or the like in order to increase rigidity. Accordingly, as described above, as the diameter of the wafer 1 increases, the corresponding gap p between the grooves of the cassette 22 in FIG. 7 also increases, so that the hand portion of the robot hand can be inserted between the wafers 1 without interference. I have.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかし、3種類の直径
のウエハ1を分析対象とする、すなわち、3種類のサイ
ズのカセット22を扱う蛍光X線分析装置においては、
構造の簡単のため、ロボットハンドは、最も重い300
mmのウエハ1に対応するものを備えて、150mm、20
0mmのウエハ1にも用いる。そうすると、6.35mm間
隔で収納された200mmのウエハ1は搬出入できるとし
ても、4.76mm間隔で収納された150mmのウエハ1
に対しては、ウエハ1間の隙間が狭すぎてハンド部が挿
入できず、無理に挿入しようとすると、ウエハ1に干渉
してウエハ1の損傷、破損を招くおそれがある。However, in a fluorescent X-ray analyzer for analyzing wafers 1 of three different diameters, that is, a cassette 22 of three different sizes,
The robot hand is the heaviest 300
equipped with a wafer 1 of 150 mm, 20 mm
Also used for 0 mm wafer 1. Then, even if the 200 mm wafers 1 stored at 6.35 mm intervals can be carried in and out, the 150 mm wafers 1 stored at 4.76 mm intervals can be loaded and unloaded.
In contrast, the gap between the wafers 1 is too narrow to insert the hand part, and if the user tries to insert it forcibly, it may interfere with the wafer 1 and cause damage or breakage of the wafer 1.
【0006】これを回避するために、150mm用のカセ
ット22については、操作者が注意して、例えば溝22
cの1つおきに、すなわち9.52mm間隔でウエハ1を
収納することも考えられるが、ミスが生じやすく、それ
だけでは確実でない。また、カセット22はその目的、
形状から樹脂成形により製作されるが、規格品よりも収
納間隔pを広げた150mm用のカセット22を樹脂成形
により製作するには膨大な費用を要し、現実的でない。In order to avoid this, the operator carefully pays attention to the cassette 22 for 150 mm, for example, in the groove 22.
It is conceivable to store the wafers 1 every other c, that is, at intervals of 9.52 mm, but mistakes are likely to occur, and this alone is not reliable. The cassette 22 has its purpose,
Although it is manufactured by resin molding from the shape, it is not realistic to manufacture a cassette 22 for 150 mm having a larger storage interval p than a standard product by resin molding, because it requires enormous cost.
【0007】本発明は前記従来の問題に鑑みてなされた
もので、ウエハが収納されるカセットや、カセットに収
納されたウエハを分析する蛍光X線分析装置において、
カセット中のウエハを、損傷等のトラブルを防止して安
全確実に搬出入できるものを提供することを目的とす
る。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and is directed to a cassette for storing wafers and an X-ray fluorescence analyzer for analyzing wafers stored in the cassette.
It is an object of the present invention to provide a cassette which can safely and reliably carry in and out wafers in a cassette while preventing troubles such as damage.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、請求項1のカセットは、所定の直径のウエハが収納
されるカセットであって、ウエハの出し入れのために前
面が開放され、左右の側壁の内側にウエハを1枚ずつ収
納する1対の溝が所定の間隔で上下に多数対形成された
カセットに対し、少なくとも左右いずれかの側壁におい
て、前記溝の少なくとも1つおきにウエハの収納を阻止
する障害物を設けている。According to another aspect of the present invention, there is provided a cassette for storing a wafer having a predetermined diameter, wherein a front surface is opened for taking in and out of the wafer, For a cassette in which a large number of pairs of grooves for accommodating wafers one by one are formed inside the side wall of the cassette at predetermined intervals, at least one of the grooves is formed on at least one of the left and right side walls. There are obstacles to prevent storage.
【0009】請求項1のカセットによれば、例えば、従
来より用いられている150mm用の規格品である既製の
カセットの側壁に、溝の1つおきにウエハの収納を阻止
する障害物を設けるという簡単な構成で、150mmのウ
エハにおいて9.52mmの収納間隔を確保でき、300
mmのウエハに対応したロボットハンドを用いてもウエハ
間の隙間に容易に挿入できるので、損傷等のトラブルを
防止して安全確実にウエハを搬出入できる。According to the first aspect of the present invention, for example, an obstacle is provided on the side wall of a conventional cassette which is conventionally used as a standard product for 150 mm and which prevents wafer storage at every other groove. With this simple configuration, a storage interval of 9.52 mm can be secured for a 150 mm wafer,
Even if a robot hand corresponding to a mm wafer is used, it can be easily inserted into the gap between the wafers, so that troubles such as damage can be prevented, and the wafer can be safely loaded and unloaded.
【0010】請求項2の蛍光X線分析装置は、カセット
に収納されたウエハを分析する蛍光X線分析装置であっ
て、前記カセットは、請求項1のカセットの底部の外側
に判別用の凹部を形成したカセットである。そして、こ
の蛍光X線分析装置は、前記凹部に係合する凸部が形成
されてカセットが載置されるカセット台を備えている。According to a second aspect of the present invention, there is provided an X-ray fluorescence analyzer for analyzing wafers stored in a cassette, wherein the cassette has a recess for discrimination outside the bottom of the cassette. Is a cassette formed with. The X-ray fluorescence spectrometer includes a cassette table on which a cassette is mounted with a projection that engages with the recess.
【0011】請求項2の装置によれば、まず、通常は請
求項1の特徴を備えたカセットを用いるので、前述した
ように、例えば、150mmのウエハにおいて9.52mm
の収納間隔を確保でき、300mmのウエハに対応したロ
ボットハンドを用いてもウエハ間の隙間に容易に挿入で
き、損傷等のトラブルを防止して安全確実にウエハを搬
出入できる。According to the apparatus of claim 2, first, a cassette having the features of claim 1 is usually used.
The space between the wafers can be secured, and even if a robot hand corresponding to a 300 mm wafer is used, the wafer can be easily inserted into the gap between the wafers, and trouble such as damage can be prevented, and the wafer can be safely loaded and unloaded.
【0012】しかも、通常用いるカセットは底部の外側
に既製のカセットにない判別用の凹部を形成したもので
あり、その凹部に係合する凸部が形成されたカセット台
を本装置が備えているので、例えば、操作者が誤って
4.76mm間隔でウエハを収納した150mm用の既製の
カセットをカセット台に載置しようとしてもカセット台
の凸部が係合しないために正常に載置できず、それが警
告となって操作者が載置してはならないことに気がつく
から、300mmのウエハに対応したロボットハンドがウ
エハに干渉して損傷させること等が防止され、いっそう
安全確実にウエハを搬出入できる。In addition, a commonly used cassette has a recess for discrimination, which is not provided in a ready-made cassette, formed on the outer side of the bottom, and the present apparatus is provided with a cassette table having a projection for engaging with the recess. Therefore, for example, even if the operator erroneously attempts to place a ready-made cassette for 150 mm containing wafers at 4.76 mm intervals on the cassette table, the projections of the cassette table do not engage, so that the cassette cannot be placed normally. As a warning, the operator notices that it must not be placed on the wafer. This prevents the robot hand corresponding to a 300 mm wafer from interfering with the wafer and damaging it, etc. You can enter.
【0013】請求項3の蛍光X線分析装置は、カセット
に収納されたウエハを分析する蛍光X線分析装置であっ
て、前記カセットは、請求項1のカセットの底部の外側
に判別用の凸部を形成したカセットである。そして、こ
の蛍光X線分析装置は、前記凸部に対応して凹入するス
イッチを有してカセットが載置されるカセット台と、そ
のカセット台に載置されたカセットからウエハを搬送す
る搬送手段と、前記スイッチの凹入に対応して前記搬送
手段を駆動可能にする判別手段とを備えている。According to a third aspect of the present invention, there is provided an X-ray fluorescence analyzer for analyzing a wafer housed in a cassette, wherein the cassette has a projection for determination on the outside of the bottom of the cassette. It is a cassette in which a part is formed. The X-ray fluorescence analyzer has a cassette table on which a cassette is mounted with a switch recessed corresponding to the convex portion, and a transfer apparatus for transferring a wafer from the cassette mounted on the cassette table. Means for determining whether the transport means can be driven in response to the depression of the switch.
【0014】請求項3の装置によれば、まず、通常は請
求項1の特徴を備えたカセットを用いるので、前述した
ように、例えば、150mmのウエハにおいて9.52mm
の収納間隔を確保でき、300mmのウエハに対応したロ
ボットハンド(搬送手段)を用いてもウエハ間の隙間に
容易に挿入でき、損傷等のトラブルを防止して安全確実
にウエハを搬出入できる。According to the apparatus of claim 3, first, a cassette having the features of claim 1 is usually used.
Can be easily inserted into the gap between the wafers even if a robot hand (transporting means) corresponding to a 300 mm wafer is used, and trouble such as damage can be prevented and the wafer can be safely loaded and unloaded.
【0015】しかも、通常用いるカセットは底部の外側
に既製のカセットにない判別用の凸部を形成したもので
あり、その凸部に対応して凹入するスイッチを有するカ
セット台と、前記スイッチの凹入に対応してロボットハ
ンドを駆動可能にする判別手段とを本装置が備えている
ので、例えば、操作者が誤って4.76mm間隔でウエハ
を収納した150mm用の既製のカセットをカセット台に
載置してもスイッチが凹入しないために判別手段により
ロボットハンドが駆動可能とならないから、300mmの
ウエハに対応したロボットハンドがウエハに干渉して損
傷させること等が防止され、いっそう安全確実にウエハ
を搬出入できる。In addition, a commonly used cassette has a convex portion for discrimination which is not provided in a ready-made cassette outside the bottom portion. A cassette base having a switch recessed corresponding to the convex portion, Since the present apparatus is provided with a discriminating means for driving the robot hand in response to the depression, for example, the operator mistakenly replaces a ready-made cassette for 150 mm containing wafers at 4.76 mm intervals with a cassette table. Since the switch does not dent even if placed on the robot, the robot hand cannot be driven by the discriminating means, so that the robot hand corresponding to a 300 mm wafer is prevented from interfering with and damaging the wafer, etc. Wafers can be loaded and unloaded.
【0016】請求項4の蛍光X線分析装置は、まず、ウ
エハの出し入れのために前面が開放され、左右の側壁の
内側にウエハを1枚ずつ収納する1対の溝が所定の間隔
で上下に多数対形成されたカセットに収納された所定の
直径のウエハを分析する蛍光X線分析装置である。そし
て、カセットが載置されるカセット台と、ウエハを検知
する検知手段と、前記カセット台と検知手段を相対的に
上下方向に移動させる移動手段と、前記カセット台に載
置されたカセットからウエハを搬送する搬送手段とを備
えている。さらに、前記移動手段を駆動し、前記検知手
段からの検知信号に基づいて前記カセット台に載置され
たカセットにおけるウエハの収納間隔が所定の基準値よ
りも小さい場合に基準値逸脱検出信号を発する検出手段
を備えている。According to a fourth aspect of the present invention, there is provided an X-ray fluorescence spectrometer, wherein a front surface is first opened for taking in and out of a wafer, and a pair of grooves for accommodating one wafer at a time is provided inside the left and right side walls at predetermined intervals. This is an X-ray fluorescence analyzer for analyzing wafers of a predetermined diameter stored in cassettes formed in a large number of pairs. Then, a cassette table on which the cassette is mounted, detecting means for detecting the wafer, moving means for relatively moving the cassette table and the detecting means in the vertical direction, and moving the wafer from the cassette mounted on the cassette table. Transport means for transporting the image. Furthermore, the moving means is driven, and a reference value deviation detection signal is issued based on a detection signal from the detecting means when a storage interval of wafers in the cassette mounted on the cassette table is smaller than a predetermined reference value. It has a detecting means.
【0017】請求項4の装置では、既製のカセットを用
い、例えば、150mm用のカセットについては操作者が
注意して溝の1つおきに(9.52mm間隔で)ウエハを
収納して用いるが、操作者が誤って4.76mm間隔でウ
エハを収納してカセット台に載置しても、前記構成によ
り、4.76mmという収納間隔が、本装置が備えている
ロボットハンド(搬送手段)を容易にウエハ間に挿入で
きる所定の基準値(例えば6mm)よりも小さい場合に
は、検出手段が基準値逸脱検出信号を発するから、30
0mmのウエハに対応したロボットハンドがウエハに干渉
して損傷させること等を防止するための対処が可能にな
り、安全確実にウエハを搬出入できる。In the apparatus according to the fourth aspect, an off-the-shelf cassette is used. For example, in the case of a cassette for 150 mm, the operator pays attention to use the wafer in every other groove (at intervals of 9.52 mm). Even if the operator erroneously stores wafers at 4.76 mm intervals and mounts them on the cassette table, the storage interval of 4.76 mm causes the robot hand (transfer means) provided in the present apparatus to have a storage interval of 4.76 mm. If the detection value is smaller than a predetermined reference value (for example, 6 mm) which can be easily inserted between the wafers, the detection means issues a reference value deviation detection signal.
Measures can be taken to prevent the robot hand corresponding to the 0 mm wafer from interfering with and damaging the wafer, and the wafer can be safely loaded and unloaded.
【0018】請求項5の蛍光X線分析装置は、まず、ウ
エハの出し入れのために前面が開放され、左右の側壁の
内側にウエハを1枚ずつ収納する1対の溝が所定の間隔
で上下に多数対形成されたカセットに収納された所定の
直径のウエハを分析する蛍光X線分析装置である。そし
て、カセットが載置されるカセット台と、ウエハを検知
する検知手段と、前記カセット台と検知手段を相対的に
上下方向に移動させる移動手段と、前記カセット台に載
置されたカセットからウエハを搬送する搬送手段とを備
えている。さらに、前記移動手段を駆動し、前記検知手
段からの検知信号に基づいて前記カセット台に載置され
たカセットにおけるウエハの収納間隔が所定の基準値よ
りも小さい場合に警告を発するとともに、前記搬送手段
を駆動不能にする警告手段を備えている。According to a fifth aspect of the present invention, there is provided an X-ray fluorescence spectrometer, wherein a front surface is first opened for taking in and out of a wafer, and a pair of grooves for accommodating one wafer at a time is provided inside the left and right side walls at predetermined intervals. This is an X-ray fluorescence analyzer for analyzing wafers of a predetermined diameter stored in cassettes formed in a large number of pairs. Then, a cassette table on which the cassette is mounted, detecting means for detecting the wafer, moving means for relatively moving the cassette table and the detecting means in the vertical direction, and moving the wafer from the cassette mounted on the cassette table. Transport means for transporting the image. Further, when the moving means is driven, a warning is issued when the storage interval of the wafers in the cassette mounted on the cassette table is smaller than a predetermined reference value based on a detection signal from the detecting means, and the transfer is performed. Warning means for disabling the means are provided.
【0019】請求項5の装置では、既製のカセットを用
い、例えば、150mm用のカセットについては操作者が
注意して溝の1つおきに(9.52mm間隔で)ウエハを
収納して用いるが、操作者が誤って4.76mm間隔でウ
エハを収納してカセット台に載置しても、前記構成によ
り、4.76mmという収納間隔が、本装置が備えている
ロボットハンド(搬送手段)を容易にウエハ間に挿入で
きる所定の基準値(例えば6mm)よりも小さい場合に
は、警告手段が警告を発するとともに、ロボットハンド
を駆動不能にするから、300mmのウエハに対応したロ
ボットハンドがウエハに干渉して損傷させること等が防
止され、安全確実にウエハを搬出入できる。In the apparatus according to the fifth aspect, an off-the-shelf cassette is used. For example, in the case of a cassette for 150 mm, an operator pays attention and uses a wafer in every other groove (at intervals of 9.52 mm). Even if the operator erroneously stores wafers at 4.76 mm intervals and mounts them on the cassette table, the storage interval of 4.76 mm causes the robot hand (transfer means) provided in the present apparatus to have a storage interval of 4.76 mm. If the value is smaller than a predetermined reference value (for example, 6 mm) that can be easily inserted between the wafers, the warning unit issues a warning and disables the driving of the robot hand. Interference and damage can be prevented, and the wafer can be safely loaded and unloaded.
【0020】[0020]
【発明の実施の形態】以下、本発明の第1実施形態の装
置について説明する。この装置は、150mm、200m
m、300mmの3種類の直径のウエハ1を分析対象と
し、図1の側面図に示すように、試料台5に載置された
試料であるウエハ1にX線管等のX線源6から1次X線
7を照射して、発生する蛍光X線8の強度を検出手段1
2で測定して分析する蛍光X線分析装置である。検出手
段12は、ウエハ1から発生する蛍光X線8を分光する
分光素子9と、その分光素子9で分光された蛍光X線1
0の強度を測定する検出器11等からなるが、分光素子
9を用いずにエネルギー分解能の高い検出器例えばSS
D等で構成してもよい。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An apparatus according to a first embodiment of the present invention will be described below. This device is 150mm, 200m
As shown in the side view of FIG. 1, a wafer 1 having three diameters of m and 300 mm is analyzed, and a wafer 1 which is a sample placed on a sample stage 5 is supplied from an X-ray source 6 such as an X-ray tube. Irradiating primary X-rays 7 and detecting the intensity of the fluorescent X-rays 8 generated
This is a fluorescent X-ray analyzer for measuring and analyzing in 2. The detecting means 12 includes a spectroscopic element 9 for separating the fluorescent X-rays 8 generated from the wafer 1 and the fluorescent X-rays 1 separated by the spectroscopic element 9.
A detector 11 having a high energy resolution without using the spectroscopic element 9, for example, a SS 11.
D or the like.
【0021】また、この装置は、ウエハ1が収納された
カセット2,22が載置されるカセット台3と、そのカ
セット台3に載置されたカセット2,22から試料台5
へウエハ1を搬出し、逆に試料台5からカセット2,2
2へウエハ1を搬入する搬送手段であるロボットハンド
4とを備えている。このロボットハンド4は、最も重い
300mmのウエハ1を十分な剛性をもって支持できるよ
うに、先端のハンド部4a等が適切な寸法形状に形成さ
れており、ハンド部4aは、任意の高さの水平面内にお
いて任意の位置で任意の方向を向くことができる。試料
台5には、ウエハ1の搬出入に支障がないように、ハン
ド部4aが通過できる切り欠き部5aが形成されてい
る。The apparatus comprises a cassette table 3 on which the cassettes 2 and 22 containing the wafers 1 are mounted, and a sample table 5 from the cassettes 2 and 22 mounted on the cassette table 3.
The wafer 1 is unloaded to the cassette 2,
And a robot hand 4 as a transfer means for transferring the wafer 1 into the wafer 2. The robot hand 4 has a hand portion 4a at an end thereof formed in an appropriate size and shape so that the heaviest 300 mm wafer 1 can be supported with sufficient rigidity. In any direction in any direction. The sample stage 5 is formed with a cutout portion 5a through which the hand portion 4a can pass so as not to hinder the loading and unloading of the wafer 1.
【0022】このような構成により、カセット台3に載
置されたカセット2,22からウエハ1を1枚ずつロボ
ットハンド4で搬出して試料台5へ載置し、X線源6か
ら1次X線7を照射して、発生する蛍光X線8の強度を
検出手段12で測定した後、ロボットハンド4でカセッ
ト2,22のもとの位置(溝22c)に搬入することを
繰り返し、カセット2,22に収納されたすべてのウエ
ハ1について分析を行うことができる。なお、実際には
試料台5は真空容器内にあるので、その中に第2の搬送
手段である搬送装置を設け、その外にロボットハンド4
とカセット台3を設け、ロボットハンド4でカセット
2,22と搬送装置との間でウエハ1を搬送し、搬送装
置でロボットハンド4と試料台5との間でウエハ1を搬
送するようにしてもよい。With such a configuration, the wafers 1 are unloaded one by one from the cassettes 2 and 22 placed on the cassette table 3 by the robot hand 4 and placed on the sample table 5, and the primary After irradiating the X-rays 7 and measuring the intensity of the generated fluorescent X-rays 8 with the detecting means 12, the robot hand 4 repeatedly carries the cassettes 2 and 22 into the original positions (grooves 22c). The analysis can be performed for all the wafers 1 stored in the wafers 2 and 22. Since the sample table 5 is actually in a vacuum vessel, a transfer device as a second transfer means is provided therein, and the robot hand 4
And the cassette table 3 are provided, and the robot hand 4 transfers the wafer 1 between the cassettes 2 and 22 and the transfer device, and the transfer device transfers the wafer 1 between the robot hand 4 and the sample table 5. Is also good.
【0023】この装置のロボットハンド4のハンド部4
aは、10mm間隔で既製のカセット22に収納された3
00mmのウエハ1間、および、6.35mm間隔で既製の
カセット22に収納された200mmのウエハ1間には容
易に挿入できるが、4.76mm間隔で既製のカセット2
2に収納された150mmのウエハ1に対しては、ウエハ
1間の隙間が狭すぎて挿入できない。そこで、この装置
においては、300mmおよび200mmのウエハ1につい
てはそれぞれ既製のカセット22に収納して分析に供す
るが、150mmのウエハ1については以下のようなカセ
ット2に収納して分析に供する。The hand part 4 of the robot hand 4 of this device
“a” indicates that 3 is stored in the ready-made cassette 22 at an interval of 10 mm.
It can be easily inserted between the 00 mm wafers 1 and the 200 mm wafers 1 stored in the ready-made cassette 22 at 6.35 mm intervals, but the ready-made cassettes 2 can be inserted at 4.76 mm intervals.
The gap between the wafers 1 cannot be inserted into the 150 mm wafer 1 accommodated in the wafer 2 because the gap between the wafers 1 is too small. Therefore, in this apparatus, the 300 mm and 200 mm wafers 1 are stored in the ready-made cassettes 22 for analysis, while the 150 mm wafer 1 is stored in the cassette 2 as described below for analysis.
【0024】すなわち、図2の正面の部分図に示すよう
に、所定の直径ここでは150mmのウエハ1が収納され
るカセット2であって、ウエハ1の出し入れのために前
面22aが開放され、左右の側壁22bの内側にウエハ
1を1枚ずつ収納する1対の溝22cが所定の間隔pで
上下に多数対形成された既製のカセット22(図7)に
対し、左右の側壁22bにおいて、溝22cの1つおき
にウエハ1の収納を阻止する障害物2d(図2において
ハッチングを施す)を設け、さらに、図1の局部断面に
示すように、底部の外側に、既製のカセット22にない
判別用の凹部2fを形成しているカセット2である。な
お、このような凹部2fは、切削加工等で形成できる。That is, as shown in the partial front view of FIG. 2, a cassette 2 for storing a wafer 1 having a predetermined diameter, here 150 mm, in which a front surface 22a is opened for taking in and out of the wafer 1, The pair of grooves 22c for accommodating the wafers 1 one by one is formed inside the side wall 22b at a predetermined interval p. Obstacles 2d (hatched in FIG. 2) for preventing storage of the wafer 1 are provided at every other 22c. Further, as shown in the local cross section of FIG. This is a cassette 2 having a concave portion 2f for determination. Note that such a concave portion 2f can be formed by cutting or the like.
【0025】図2に示すように、溝22cの1つおきに
ウエハ1の収納を阻止する障害物2dとは、具体的に
は、同じ高さにある左右1対の溝22cの前部(図2の
紙面垂直方向の手前側)を、上下方向において溝22c
の1対おきに、埋めるように取り付けられる樹脂片2d
であり、取り付けは、接着や側壁22bの外側からのね
じ止め等による。As shown in FIG. 2, the obstacle 2d for preventing the wafer 1 from being stored at every other groove 22c is, specifically, a front portion (a pair of left and right grooves 22c at the same height). The vertical side of FIG. 2) is inserted into the groove 22c in the vertical direction.
2d resin pieces that are attached to fill every other pair
The attachment is performed by bonding, screwing from the outside of the side wall 22b, or the like.
【0026】また、このような樹脂片2dの代わりに、
図3の正面の部分図に示すように、左右の側壁22bの
前側(図3の紙面垂直方向の手前側)の端面に、同じ高
さにある左右1対の溝22cの前部を、上下方向におい
て溝22cの1対おきに塞ぐ樹脂板2eを接着等で取り
付けてもよい。図6に示すように、既製のカセット22
の側壁22bは前側(前面22a側)で左右に広がり端
面が幅広になっているので、図3のような樹脂板2eを
取り付けやすい。なお、図2の樹脂片2dや図3の樹脂
板2eは、ウエハ1の収納を十分阻止できるのであれ
ば、カセット2の左右の側壁22bのうち、いずれか一
方のみに取り付けてもよい。さらに、この第1実施形態
の装置は、図1の前記カセット2の凹部2fに係合する
凸部3fが形成されてカセット2が載置されるカセット
台3を備えている。なお、このような凸部3fは、樹脂
片等を接着、ねじ止め等することにより形成できる。Further, instead of such a resin piece 2d,
As shown in the partial front view of FIG. 3, the front portions of the pair of left and right grooves 22c at the same height are attached to the front end surfaces of the left and right side walls 22b (front side in the direction perpendicular to the paper surface of FIG. 3). Resin plates 2e that plug every other pair of grooves 22c in the direction may be attached by bonding or the like. As shown in FIG.
The side wall 22b has a wide front end (toward the front surface 22a) and a wide end face, so that it is easy to attach the resin plate 2e as shown in FIG. The resin piece 2d in FIG. 2 or the resin plate 2e in FIG. 3 may be attached to only one of the left and right side walls 22b of the cassette 2 as long as the storage of the wafer 1 can be sufficiently prevented. Further, the apparatus according to the first embodiment includes a cassette table 3 on which the cassette 2 is mounted with a convex portion 3f which engages with the concave portion 2f of the cassette 2 in FIG. In addition, such a convex part 3f can be formed by bonding or screwing a resin piece or the like.
【0027】第1実施形態の装置によれば、まず、15
0mm用については通常は前述したようなカセット2を用
いるので、150mmのウエハ1において9.52mmの収
納間隔を確保でき、300mmのウエハ1に対応したロボ
ットハンド4を用いても150mmのウエハ1間の隙間に
容易にハンド部4aを挿入でき、損傷等のトラブルを防
止して安全確実にウエハ1を搬出入できる。なお、この
ようなカセット2は、図2、図3に示すように、従来よ
り用いられている150mm用の規格品である既製のカセ
ット22(図7)の側壁22bに、ウエハ1の収納を溝
22cの1つおきに阻止する障害物2d,2eを設ける
ことにより、簡単に構成できる。According to the apparatus of the first embodiment, first, 15
For the 0 mm wafer, the cassette 2 as described above is usually used, so that a storage interval of 9.52 mm can be secured in the 150 mm wafer 1, and even if the robot hand 4 corresponding to the 300 mm wafer 1 is used, the distance between the 150 mm wafers 1 can be secured. The hand portion 4a can be easily inserted into the gap, and trouble such as damage can be prevented, and the wafer 1 can be carried in and out safely. As shown in FIGS. 2 and 3, such a cassette 2 stores the wafer 1 on the side wall 22b of a ready-made cassette 22 (FIG. 7) which is a standard product for 150 mm which has been conventionally used. By providing obstacles 2d and 2e for blocking every other groove 22c, the configuration can be simplified.
【0028】しかも、図1に示すように、150mm用に
通常用いるカセット2は底部の外側に既製のカセット2
2(図6)にない判別用の凹部2fを形成したものであ
り、その凹部2fに係合する凸部3fが形成されたカセ
ット台3を本装置が備えているので、例えば、操作者が
誤って4.76mm間隔でウエハ1を収納した150mm用
の既製のカセット22をカセット台3に載置しようとし
てもカセット台3の凸部3fが係合しないために正常に
載置できず、それが警告となって実際には操作者が載置
しないから、300mmのウエハ1に対応したロボットハ
ンド4のハンド部4aがウエハ1に干渉して損傷させる
こと等が防止され、いっそう安全確実にウエハ1を搬出
入できる。Further, as shown in FIG. 1, the cassette 2 normally used for 150 mm is a ready-made cassette 2 on the outside of the bottom.
2 (FIG. 6), the present apparatus is provided with a cassette table 3 in which a convex portion 3f engaging with the concave portion 2f is formed. Even if the ready-made cassette 22 for 150 mm containing the wafers 1 at 4.76 mm intervals is erroneously placed on the cassette table 3, it cannot be normally placed because the projection 3 f of the cassette table 3 does not engage. Is a warning, and the operator is not actually placed on the wafer 1. Therefore, it is possible to prevent the hand portion 4a of the robot hand 4 corresponding to the 300 mm wafer 1 from interfering with and damaging the wafer 1, and to more securely and reliably mount the wafer. 1 can be carried in and out.
【0029】なお、既製のカセット22は、サイズによ
って、すなわち収納するウエハ1の直径によって、底部
の外側の凹凸形状が異なるから、それを利用して、20
0mm用および300mm用の既製のカセット22について
はそのままカセット台3に正常に載置できるように、カ
セット台3における各サイズのカセット22を載置する
位置や凸部3fの位置、凸部3fの寸法形状を定めるこ
とができる。また、1つのカセット台3をすべてのサイ
ズのカセット2,22について共用する必要はなく、例
えば150mm用および200mm用のカセット2,22に
ついて1つのカセット台3を備え、300mm用のカセッ
ト2,22について別のカセット台3を備えてもよい。Incidentally, since the shape of the unevenness on the outside of the bottom of the ready-made cassette 22 differs depending on the size, that is, the diameter of the wafer 1 to be stored.
With respect to the ready-made cassettes 22 for 0 mm and 300 mm, the positions where the cassettes 22 of each size are placed on the cassette table 3, the positions of the projections 3 f, and Dimensions and shapes can be determined. It is not necessary to share one cassette table 3 for all sizes of cassettes 2 and 22. For example, one cassette table 3 is provided for cassettes 2 and 22 for 150 mm and 200 mm, and cassettes 2 and 22 for 300 mm are provided. May be provided with another cassette table 3.
【0030】次に、本発明の第2実施形態の装置につい
て説明する。この装置も、前記第1実施形態の装置と同
様に、150mm、200mm、300mmの3種類の直径の
ウエハ1を分析対象とし、図4の側面図に示すように、
試料台5に載置されたウエハ1に1次X線7を照射して
発生する蛍光X線8の強度を測定して分析する蛍光X線
分析装置であり、カセット台3、ロボットハンド4を備
えている。ロボットハンド4のハンド部4aが、既製の
カセット22に4.76mm間隔で収納された150mmの
ウエハ1に対しては、ウエハ1間の隙間が狭すぎて挿入
できないために、150mmのウエハ1については前記障
害物2d,2e(図2、図3)を設けたカセット2に収
納して分析に供する点も、第1実施形態の装置と同様で
ある。Next, an apparatus according to a second embodiment of the present invention will be described. Similarly to the apparatus of the first embodiment, this apparatus analyzes wafers 1 having three diameters of 150 mm, 200 mm, and 300 mm, as shown in the side view of FIG.
This is a fluorescent X-ray analyzer that irradiates the primary X-rays 7 to the wafer 1 placed on the sample table 5 to measure and analyze the intensity of the fluorescent X-rays 8 generated. Have. When the hand unit 4a of the robot hand 4 inserts the 150 mm wafers 1 stored in the ready-made cassette 22 at 4.76 mm intervals because the gap between the wafers 1 is too narrow to insert, the 150 mm wafers 1 Is similar to the apparatus of the first embodiment in that it is stored in a cassette 2 provided with the obstacles 2d and 2e (FIGS. 2 and 3) and used for analysis.
【0031】ただし、第2実施形態の装置で150mm用
に通常用いられるカセット2は、図4の局部断面に示す
ように、底部の外側に、既製のカセット22にない判別
用の凸部2gを形成しており、この第2実施形態の装置
のカセット台3は、前記凸部2gに対応して凹入するス
イッチ3gを有している。なお、カセット2の凸部2g
は、樹脂片等を接着、ねじ止め等することにより形成で
き、カセット台3においてスイッチ3gを埋め込む凹部
3hは、切削加工等で形成できる。さらに、この装置
は、前記スイッチ3gの凹入に対応してロボットハンド
4を駆動可能にする判別手段13を備えている。However, the cassette 2 normally used for 150 mm in the apparatus of the second embodiment is provided with a discriminating projection 2g, which is not provided in the ready-made cassette 22, outside the bottom as shown in the local cross section of FIG. The cassette table 3 of the apparatus according to the second embodiment has a switch 3g which is recessed corresponding to the projection 2g. The projection 2g of the cassette 2
Can be formed by bonding or screwing a resin piece or the like, and the recess 3h in which the switch 3g is embedded in the cassette table 3 can be formed by cutting or the like. Further, this device is provided with a discriminating means 13 for driving the robot hand 4 in response to the depression of the switch 3g.
【0032】第2実施形態の装置によれば、まず、第1
実施形態の装置と同様に、150mm用については通常は
前述したようなカセット2を用いるので、150mmのウ
エハ1において9.52mmの収納間隔を確保でき、30
0mmのウエハ1に対応したロボットハンド4を用いても
150mmのウエハ1間の隙間に容易にハンド部4aを挿
入でき、損傷等のトラブルを防止して安全確実にウエハ
1を搬出入できる。According to the apparatus of the second embodiment, first, the first
As in the case of the apparatus of the embodiment, the cassette 2 as described above is usually used for a 150 mm wafer.
Even if the robot hand 4 corresponding to the 0 mm wafer 1 is used, the hand portion 4a can be easily inserted into the gap between the 150 mm wafers 1, and trouble such as damage can be prevented, and the wafer 1 can be carried in and out safely.
【0033】しかも、150mm用に通常用いるカセット
2は底部の外側に既製のカセット22にない判別用の凸
部2gを形成したものであり、その凸部2gに対応して
凹入するスイッチ3gを有するカセット台3と、スイッ
チ3gの凹入に対応してロボットハンド4を駆動可能に
する判別手段13とを本装置が備えているので、例え
ば、操作者が誤って4.76mm間隔でウエハ1を収納し
た150mm用の既製のカセット22をカセット台3に載
置してもスイッチ3gが凹入しないために判別手段13
によりロボットハンド4が駆動可能とならないから、3
00mmのウエハ1に対応したロボットハンド4がウエハ
1に干渉して損傷させること等が防止され、いっそう安
全確実にウエハ1を搬出入できる。In addition, the cassette 2 normally used for 150 mm has a convex portion 2g for discrimination which is not provided in the ready-made cassette 22 outside the bottom portion, and a switch 3g which is recessed corresponding to the convex portion 2g is provided. Since the present apparatus is equipped with the cassette table 3 and the discriminating means 13 for driving the robot hand 4 in response to the depression of the switch 3g, for example, the operator erroneously sets the wafer 1 at an interval of 4.76 mm. The switch 3g is not recessed even when the ready-made cassette 22 for 150 mm containing
Does not allow the robot hand 4 to be driven,
It is possible to prevent the robot hand 4 corresponding to the 00 mm wafer 1 from interfering with and damaging the wafer 1, and to carry the wafer 1 in and out more safely and reliably.
【0034】なお、既製のカセット22は、サイズによ
って、すなわち収納するウエハ1の直径によって、底部
の外側の凹凸形状が異なるから、それを利用して、20
0mm用および300mm用の既製のカセット22について
はそのままカセット台3に載置してもロボットハンド4
が駆動可能となるように、カセット台3における各サイ
ズのカセット22を載置する位置を定め、カセット2,
22のサイズを判別して200mm用および300mm用の
場合には前記判別手段13を機能させないサイズ判別手
段を設けることができる。また、前述したように、カセ
ット1のサイズに応じてカセット台3を複数備えること
もできる。Incidentally, the shape of the unevenness on the outside of the bottom of the ready-made cassette 22 differs depending on the size, that is, the diameter of the wafer 1 to be stored.
Regarding the ready-made cassettes 22 for 0 mm and 300 mm, the robot hand 4
Are set on the cassette table 3 so that the cassettes 22 can be driven.
A size discriminating means which does not function the discriminating means 13 can be provided for the 200 mm and 300 mm discs by discriminating the size of 22. Further, as described above, a plurality of cassette tables 3 can be provided according to the size of the cassette 1.
【0035】次に、本発明の第3実施形態の装置につい
て説明する。この装置も、前記第1、第2実施形態の装
置と同様に、150mm、200mm、300mmの3種類の
直径のウエハ1を分析対象とし、図5の側面図に示すよ
うに、試料台5に載置されたウエハ1に1次X線7を照
射して発生する蛍光X線8の強度を測定して分析する蛍
光X線分析装置であり、カセット台3、ロボットハンド
4を備えている。ロボットハンド4のハンド部4aが、
既製のカセット22に4.76mm間隔で収納された15
0mmのウエハ1に対しては、ウエハ1間の隙間が狭すぎ
て挿入できない点についても、第1、第2実施形態の装
置と同様であるが、この第3実施形態の装置では、前述
したような側壁22bに障害物2d,2e(図2、図
3)を設けたカセット2は用いず、既製のカセット22
のみを用いる。Next, an apparatus according to a third embodiment of the present invention will be described. This apparatus also analyzes wafers 1 having three diameters of 150 mm, 200 mm, and 300 mm in the same manner as the apparatuses of the first and second embodiments, and as shown in the side view of FIG. This is a fluorescent X-ray analyzer that measures and analyzes the intensity of fluorescent X-rays 8 generated by irradiating the placed wafer 1 with primary X-rays 7 and includes a cassette table 3 and a robot hand 4. The hand section 4a of the robot hand 4
15 stored in the ready-made cassette 22 at an interval of 4.76 mm
The point that the gap between the wafers 1 is too small to be inserted into the wafer 1 of 0 mm is the same as in the apparatuses of the first and second embodiments, but in the apparatus of the third embodiment, The cassette 2 having the obstacles 2d and 2e (FIGS. 2 and 3) provided on the side wall 22b is not used.
Use only
【0036】そして、この装置は、ウエハ1を検知する
検知手段14と、カセット台3と検知手段14を相対的
に上下方向に移動させる移動手段15とを備え、さら
に、移動手段15を駆動し、検知手段14からの検知信
号に基づいてカセット台3に載置されたカセット22に
おけるウエハ1の収納間隔qが所定の基準値よりも小さ
い場合に警告を発するとともに、ロボットハンド4を駆
動不能にする警告手段16を備えている。具体的には、
検知手段14は、例えば透過型レーザセンサであって、
カセット台3に載置されたカセット22を挟んで対向す
るように配置された発光器14aと受光器14bとから
なり、発光器14aから出て受光器14bに届いていた
レーザ光がウエハ1により遮断されることにより、ウエ
ハ1を検知する。なお、警告手段16は、移動手段15
を駆動して検知手段14からの検知信号に基づいてカセ
ット台3に載置されたカセット22におけるウエハ1の
収納間隔qが所定の基準値よりも小さい場合に基準値逸
脱検出信号を発する検出手段の一種である。The apparatus comprises a detecting means 14 for detecting the wafer 1, a moving means 15 for moving the cassette table 3 and the detecting means 14 relatively vertically, and further driving the moving means 15. When the storage interval q of the wafer 1 in the cassette 22 mounted on the cassette table 3 is smaller than a predetermined reference value based on the detection signal from the detection means 14, a warning is issued and the robot hand 4 is disabled. The warning means 16 is provided. In particular,
The detection unit 14 is, for example, a transmission laser sensor,
A light emitting device 14a and a light receiving device 14b are disposed so as to face each other with the cassette 22 placed on the cassette table 3 interposed therebetween, and the laser light that has exited from the light emitting device 14a and has reached the light receiving device 14b is changed by the wafer 1. The wafer 1 is detected by being shut off. The warning means 16 is provided by the moving means 15.
Detecting means for generating a reference value deviation detection signal when the storage interval q of the wafer 1 in the cassette 22 mounted on the cassette table 3 is smaller than a predetermined reference value based on the detection signal from the detection means 14 Is a kind of
【0037】移動手段15は、パルスモータおよびその
回転軸に連結されて発光器14aと受光器14bを支持
するスライド機構等からなり、発光器14aと受光器1
4bを同じ高さに維持しつつ双方を上下させる。なお、
移動手段15は、固定された検知手段14に対し、カセ
ット22を載置したカセット台3を上下させるものであ
ってもよい。The moving means 15 comprises a pulse motor and a slide mechanism or the like connected to the rotation shaft thereof and supporting the light emitting device 14a and the light receiving device 14b.
4b is moved up and down while maintaining 4b at the same height. In addition,
The moving means 15 may move the cassette table 3 on which the cassette 22 is mounted with respect to the fixed detecting means 14 up and down.
【0038】警告手段16は、移動手段15を駆動して
検知手段14を例えばカセット22の上端近傍の高さか
ら下へ移動させ、検知手段14からの検知信号に基づい
て、カセット台3に載置されたカセット22におけるウ
エハ1の収納間隔qが所定の基準値例えば6mmよりも小
さい場合に、CRT等の表示手段16aに、ウエハ1間
の隙間が狭すぎてロボットハンド4のハンド部4aを挿
入できない旨の警告を表示するとともに、ロボットハン
ド4を駆動不能にする。The warning means 16 drives the moving means 15 to move the detecting means 14 downward, for example, from a height near the upper end of the cassette 22, and places the detecting means 14 on the cassette table 3 based on a detection signal from the detecting means 14. When the storage interval q of the wafers 1 in the placed cassette 22 is smaller than a predetermined reference value, for example, 6 mm, the display unit 16a such as a CRT displays the hand unit 4a of the robot hand 4 because the gap between the wafers 1 is too narrow. A warning that insertion is impossible is displayed, and the robot hand 4 is disabled.
【0039】ここで、所定の基準値は、ロボットハンド
4のハンド部4aを容易にウエハ1間に挿入できるよう
なウエハ1の収納間隔として定めることができる。ま
た、表示手段16aは、分析結果の表示等にも用いるこ
とができる。なお、警告手段16による警告は、音声等
によってもよい。さらに、検知手段14からの検知信号
に基づいて、カセット22におけるどの高さ(位置)に
ウエハ1が収納されているかを判定するいわゆるマッピ
ングを行ったり、カセット22のサイズすなわち収納さ
れたウエハ1の直径を求めることもできる(特願平10
−266314号参照)。Here, the predetermined reference value can be determined as a storage interval of the wafer 1 such that the hand portion 4a of the robot hand 4 can be easily inserted between the wafers 1. The display means 16a can also be used for displaying analysis results and the like. The warning by the warning means 16 may be by voice or the like. Further, based on a detection signal from the detecting means 14, so-called mapping for determining at which height (position) the wafer 1 is stored in the cassette 22 is performed, or the size of the cassette 22, ie, the size of the stored wafer 1 is determined. The diameter can also be determined (Japanese Patent Application No. Hei 10
-266314).
【0040】第3実施形態の装置では、既製のカセット
22を用い、150mm用のカセット22については操作
者が注意して溝22c(図7)の1つおきにすなわち
9.52mm間隔でウエハ1を収納して用いるが、操作者
が誤って4.76mm間隔でウエハ1を収納してカセット
台3に載置しても、4.76mmという収納間隔が、本装
置が備えているロボットハンド4のハンド部4aを容易
にウエハ1間に挿入できる所定の基準値(6mm)よりも
小さい場合には、警告手段16が警告を発するととも
に、ロボットハンド4を駆動不能にするから、300mm
のウエハ1に対応したロボットハンド4がウエハ1に干
渉して損傷させること等が防止され、安全確実にウエハ
1を搬出入できる。In the apparatus according to the third embodiment, an off-the-shelf cassette 22 is used. For the cassette 22 for 150 mm, the operator pays attention to every other groove 22c (FIG. 7), that is, the wafer 1 at intervals of 9.52 mm. However, even if the operator erroneously stores the wafers 1 at 4.76 mm intervals and places them on the cassette table 3, the robot hand 4 provided in the present apparatus has a storage interval of 4.76 mm. If the hand unit 4a is smaller than a predetermined reference value (6 mm) at which the robot hand 4 can be easily inserted between the wafers 1, the warning unit 16 issues a warning and disables the robot hand 4 from driving.
The robot hand 4 corresponding to the wafer 1 can prevent the wafer 1 from interfering with and damaging the wafer 1, and the wafer 1 can be safely loaded and unloaded.
【0041】なお、以上の第1ないし第3実施形態の装
置では、図1等のロボットハンド4のハンド部4aが、
10mm間隔で既製のカセット22に収納された300mm
のウエハ1間、および、6.35mm間隔で既製のカセッ
ト22に収納された200mmのウエハ1間には容易に挿
入できるとしたが、破損した標準試料であるウエハの破
片を別のウエハ1に貼り付けて標準試料として使用を続
ける等、通常のウエハ1よりも厚いウエハ1をもカセッ
ト2,22に収納して分析に供する場合には、300mm
用や200mm用の既製のカセット22を用いる場合に
も、ウエハ1間の隙間が狭すぎてハンド部4aが挿入で
きないためにウエハ1の損傷等を招くおそれがある。In the apparatus of the first to third embodiments, the hand unit 4a of the robot hand 4 shown in FIG.
300mm stored in ready-made cassette 22 at 10mm intervals
And between the 200 mm wafers 1 stored in the ready-made cassette 22 at 6.35 mm intervals, it is assumed that the broken pieces of the standard sample wafer can be inserted into another wafer 1. When a wafer 1 thicker than a normal wafer 1 is to be stored in the cassettes 2 and 22 for analysis, such as by sticking and continuing to use as a standard sample, 300 mm
Also, when using a ready-made cassette 22 for use with a wafer or 200 mm, the gap between the wafers 1 is too narrow to insert the hand portion 4a, so that the wafer 1 may be damaged.
【0042】そのような場合には、第1、第2実施形態
の装置に対しては、300mm用や200mm用についても
障害物2d,2e(図2、図3)を設けたカセット2を
用いることができ、障害物2d,2e(図2、図3)を
設ける間隔も適切に設定できる。また、そのような30
0mm用や200mm用のカセット2にも既製のカセット2
2にない判別用の凹部2fや凸部2g(図4)を形成す
ることができ、その凹部や凸部(図4)に対応するカセ
ット台3等を装置に備えることができる。第3実施形態
の装置においては、図5の警告手段16において前記所
定の基準値をより大きく設定することにより対処でき
る。In such a case, a cassette 2 provided with obstacles 2d and 2e (FIGS. 2 and 3) for 300 mm and 200 mm is used for the apparatus of the first and second embodiments. The distance between the obstacles 2d and 2e (FIGS. 2 and 3) can be set appropriately. Also, such 30
Ready-made cassettes 2 for cassettes 2 for 0 mm and 200 mm
2, a concave portion 2f and a convex portion 2g (FIG. 4) for discrimination can be formed, and the cassette table 3 or the like corresponding to the concave portion or the convex portion (FIG. 4) can be provided in the apparatus. In the device according to the third embodiment, this can be dealt with by setting the predetermined reference value larger in the warning means 16 of FIG.
【0043】[0043]
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、ウエハが収納されるカセットや、カセットに収納
されたウエハを分析する蛍光X線分析装置において、カ
セット中のウエハを、損傷等のトラブルを防止して安全
確実に搬出入できる。As described above in detail, according to the present invention, in a cassette in which wafers are stored or in an X-ray fluorescence analyzer for analyzing wafers stored in a cassette, wafers in the cassettes are damaged. Can be carried in and out safely and securely.
【図1】本発明の第1実施形態の蛍光X線分析装置の側
面図である。FIG. 1 is a side view of an X-ray fluorescence analyzer according to a first embodiment of the present invention.
【図2】同装置が分析するウエハを収納するカセットの
一例の正面の部分図である。FIG. 2 is a partial front view of an example of a cassette that stores wafers to be analyzed by the apparatus.
【図3】同装置が分析するウエハを収納するカセットの
別の例の正面の部分図である。FIG. 3 is a partial front view of another example of a cassette that stores wafers to be analyzed by the apparatus.
【図4】本発明の第2実施形態の蛍光X線分析装置の側
面図である。FIG. 4 is a side view of an X-ray fluorescence spectrometer according to a second embodiment of the present invention.
【図5】本発明の第3実施形態の蛍光X線分析装置の側
面図である。FIG. 5 is a side view of an X-ray fluorescence analyzer according to a third embodiment of the present invention.
【図6】既製のカセットの一例を後方から見た斜視図で
ある。FIG. 6 is a perspective view of an example of a ready-made cassette as viewed from the rear.
【図7】同カセットの正面の部分図である。FIG. 7 is a partial front view of the cassette.
1…ウエハ、2…本発明のカセット、2d,2e…障害
物、2f…カセットの凹部、2g…カセットの凸部、3
…カセット台、3f…カセット台の凸部、3g…スイッ
チ、4…搬送手段(ロボットハンド)、13…判別手
段、14…検知手段、15…移動手段、16…警告手
段、22…既製のカセット、22a…カセットの前面、
22b…カセットの側壁、22c…溝、p…所定の間
隔、q…所定の基準値。DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Wafer, 2 ... cassette of this invention, 2d, 2e ... Obstacle, 2f ... Cassette recessed part, 2g ... Cassette projected part, 3
... Cassette table, 3f ... Convex part of cassette table, 3g ... Switch, 4 ... Transportation means (robot hand), 13 ... Discrimination means, 14 ... Detection means, 15 ... Movement means, 16 ... Warning means, 22 ... Pre-made cassette , 22a ... front of the cassette,
22b: side wall of the cassette, 22c: groove, p: predetermined interval, q: predetermined reference value.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G001 AA01 BA04 CA01 DA01 DA02 EA01 EA03 GA01 KA01 LA11 MA05 PA01 PA14 PA30 QA02 QA10 5F031 CA02 DA01 EA06 EA20 FA01 FA07 FA11 GA43 JA02 JA05 JA12 LA07 MA33 PA20 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on front page F term (reference) 2G001 AA01 BA04 CA01 DA01 DA02 EA01 EA03 GA01 KA01 LA11 MA05 PA01 PA14 PA30 QA02 QA10 5F031 CA02 DA01 EA06 EA20 FA01 FA07 FA11 GA43 JA02 JA05 JA12 LA07 MA33 PA20
Claims (5)
トであって、 ウエハの出し入れのために前面が開放され、左右の側壁
の内側にウエハを1枚ずつ収納する1対の溝が所定の間
隔で上下に多数対形成されたカセットに対し、 少なくとも左右いずれかの側壁において、前記溝の少な
くとも1つおきにウエハの収納を阻止する障害物を設け
たカセット。1. A cassette for storing wafers having a predetermined diameter, wherein a front surface is opened for taking in and out of wafers, and a pair of grooves for storing wafers one by one is provided inside left and right side walls. A cassette in which a plurality of pairs of upper and lower cassettes are formed at intervals, and at least one of the right and left side walls is provided with an obstacle for preventing the accommodation of a wafer in at least every other groove.
蛍光X線分析装置であって、 前記カセットは、請求項1のカセットの底部の外側に判
別用の凹部を形成したカセットであり、 前記凹部に係合する凸部が形成されてカセットが載置さ
れるカセット台を備えた蛍光X線分析装置。2. An X-ray fluorescence analyzer for analyzing wafers stored in a cassette, wherein said cassette is a cassette having a discriminating recess formed outside a bottom of said cassette. An X-ray fluorescence spectrometer comprising a cassette table on which a cassette is mounted with a projection that engages with the cassette.
蛍光X線分析装置であって、 前記カセットは、請求項1のカセットの底部の外側に判
別用の凸部を形成したカセットであり、 前記凸部に対応して凹入するスイッチを有してカセット
が載置されるカセット台と、 そのカセット台に載置されたカセットからウエハを搬送
する搬送手段と、 前記スイッチの凹入に対応して前記搬送手段を駆動可能
にする判別手段とを備えた蛍光X線分析装置。3. An X-ray fluorescence spectrometer for analyzing wafers stored in a cassette, wherein the cassette is a cassette having a discriminating projection formed outside the bottom of the cassette of claim 1. A cassette table on which a cassette is mounted with a switch recessed corresponding to the projection, a transfer means for transferring wafers from the cassette mounted on the cassette table, X-ray fluorescence analyzer comprising: a discriminating means for driving the transport means.
れ、左右の側壁の内側にウエハを1枚ずつ収納する1対
の溝が所定の間隔で上下に多数対形成されたカセットに
収納された所定の直径のウエハを分析する蛍光X線分析
装置であって、 カセットが載置されるカセット台と、 ウエハを検知する検知手段と、 前記カセット台と検知手段を相対的に上下方向に移動さ
せる移動手段と、 前記カセット台に載置されたカセットからウエハを搬送
する搬送手段と、 前記移動手段を駆動し、前記検知手段からの検知信号に
基づいて前記カセット台に載置されたカセットにおける
ウエハの収納間隔が所定の基準値よりも小さい場合に基
準値逸脱検出信号を発する検出手段とを備えた蛍光X線
分析装置。4. A front face is opened for taking in and out of wafers, and a pair of grooves for accommodating wafers one by one are housed inside a cassette formed at upper and lower sides at predetermined intervals inside left and right side walls. An X-ray fluorescence spectrometer for analyzing a wafer having a predetermined diameter, comprising: a cassette table on which a cassette is placed; detection means for detecting a wafer; and moving the cassette table and the detection means relatively vertically. Moving means, conveying means for conveying wafers from a cassette mounted on the cassette table, driving the moving means, and wafers in the cassette mounted on the cassette table based on a detection signal from the detecting means X-ray fluorescence analyzer comprising: a detection unit that issues a reference value deviation detection signal when the storage interval of the reference is smaller than a predetermined reference value.
れ、左右の側壁の内側にウエハを1枚ずつ収納する1対
の溝が所定の間隔で上下に多数対形成されたカセットに
収納された所定の直径のウエハを分析する蛍光X線分析
装置であって、 カセットが載置されるカセット台と、 ウエハを検知する検知手段と、 前記カセット台と検知手段を相対的に上下方向に移動さ
せる移動手段と、 前記カセット台に載置されたカセットからウエハを搬送
する搬送手段と、 前記移動手段を駆動し、前記検知手段からの検知信号に
基づいて前記カセット台に載置されたカセットにおける
ウエハの収納間隔が所定の基準値よりも小さい場合に警
告を発するとともに、前記搬送手段を駆動不能にする警
告手段とを備えた蛍光X線分析装置。5. A front face is opened for taking in and out of wafers, and a pair of grooves for accommodating wafers one by one is housed in a cassette formed in a plurality of upper and lower pairs at predetermined intervals inside left and right side walls. An X-ray fluorescence spectrometer for analyzing a wafer having a predetermined diameter, comprising: a cassette table on which a cassette is placed; detection means for detecting a wafer; and moving the cassette table and the detection means relatively vertically. Moving means, conveying means for conveying wafers from a cassette mounted on the cassette table, driving the moving means, and wafers in the cassette mounted on the cassette table based on a detection signal from the detecting means An X-ray fluorescence spectrometer comprising: a warning unit that issues a warning when the storage interval is smaller than a predetermined reference value, and that disables the driving of the transport unit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29612199A JP3370030B2 (en) | 1999-10-19 | 1999-10-19 | Cassette for storing wafers and X-ray fluorescence analyzer for analyzing wafers stored in the cassette |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29612199A JP3370030B2 (en) | 1999-10-19 | 1999-10-19 | Cassette for storing wafers and X-ray fluorescence analyzer for analyzing wafers stored in the cassette |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002291552A Division JP3600850B2 (en) | 2002-10-03 | 2002-10-03 | X-ray fluorescence analyzer for analyzing wafers stored in cassettes |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001116707A true JP2001116707A (en) | 2001-04-27 |
JP3370030B2 JP3370030B2 (en) | 2003-01-27 |
Family
ID=17829419
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29612199A Expired - Fee Related JP3370030B2 (en) | 1999-10-19 | 1999-10-19 | Cassette for storing wafers and X-ray fluorescence analyzer for analyzing wafers stored in the cassette |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3370030B2 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015032702A (en) * | 2013-08-02 | 2015-02-16 | 光洋サーモシステム株式会社 | Wafer transfer device |
JP2017147473A (en) * | 2017-06-05 | 2017-08-24 | 光洋サーモシステム株式会社 | Wafer transfer device |
-
1999
- 1999-10-19 JP JP29612199A patent/JP3370030B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015032702A (en) * | 2013-08-02 | 2015-02-16 | 光洋サーモシステム株式会社 | Wafer transfer device |
JP2017147473A (en) * | 2017-06-05 | 2017-08-24 | 光洋サーモシステム株式会社 | Wafer transfer device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3370030B2 (en) | 2003-01-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100616125B1 (en) | Opening system compatible with a vertiacl interface | |
US9835639B2 (en) | Gripping mechanism | |
JP5243364B2 (en) | Laboratory storage and unloading system and how to handle laboratory sample tubes | |
TW533176B (en) | Semiconductor wafer pod | |
TW460690B (en) | Device and method for delivering various transparent substrates into a high-precision measuring instrument | |
KR101736351B1 (en) | Load port for transporting wafer | |
TW201222704A (en) | Cassette adapter | |
JP2003142551A (en) | Placement apparatus | |
TWI724194B (en) | Judging device | |
JP7073697B2 (en) | Load port | |
JP2824421B2 (en) | Indexing device used for magazine shelves in a magazine and wafer-like objects stored in the magazine shelves | |
JPH0620922B2 (en) | Conveyance device for test object | |
US20020130785A1 (en) | Semiconductor wafer imaging system | |
JP2001116707A (en) | Cassette in which wafer is housed and fluorescent x-ray analyzing apparatus for analyzing wafer housed in cassette | |
WO2017094695A1 (en) | Adapter that is mounted on mount of load port, and load port | |
TW200946422A (en) | Bare reticle storage chamber and stocker | |
JP2020136395A (en) | Load port | |
JP3600850B2 (en) | X-ray fluorescence analyzer for analyzing wafers stored in cassettes | |
JP3218015B2 (en) | Semiconductor wafer observation device | |
JP5875316B2 (en) | Processing equipment | |
JP2004207507A (en) | Substrate detecting apparatus | |
JP3270828B2 (en) | X-ray fluorescence analyzer | |
KR102590268B1 (en) | Substrate processing apparatus and method | |
JPH05291382A (en) | Thin plate storing apparatus | |
JPH1010153A (en) | Storeroom for probe unit and inspecting system using the storeroom |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |