JP2001091942A - Liquid crystal device and production of liquid crystal device - Google Patents

Liquid crystal device and production of liquid crystal device

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JP2001091942A
JP2001091942A JP26600799A JP26600799A JP2001091942A JP 2001091942 A JP2001091942 A JP 2001091942A JP 26600799 A JP26600799 A JP 26600799A JP 26600799 A JP26600799 A JP 26600799A JP 2001091942 A JP2001091942 A JP 2001091942A
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liquid crystal
transparent conductive
layer
crystal device
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Yoshifumi Kobayashi
由文 小林
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Seiko Epson Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide techniques for the production of a liquid crystal device having a reflection electrode consisting of a soft metal thin film such as aluminum, in which the metal thin film is not damaged but has similar handling property to a transparent conductive material in a production method thereof, and reliability of a wiring part or fabrication structure can be improved, and moreover, the technique which can suppress complication of the production process. SOLUTION: A photosensitive resist is applied on the surface of a transparent conductive layer 3, exposed through a specified mask pattern and developed to form a resist layer 4. The transparent conductive layer 3 is patterned by using the resist layer 4 as a mask pattern. Then the resist layer 4 is peeled while a reflection layer 2 is patterned by wet etching using an alkali solution such as 4 to 5% concentration potassium hydroxide aqueous solution. In this step, the reflection layer 2 is etched through the transparent conductive layer 3 as a mask which is already patterned and has etching selectivity.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は液晶装置、及び液晶
装置の製造方法に係り、特に、金属薄膜からなる反射電
極を備えた液晶装置を構成する場合に好適な製造技術に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal device and a method of manufacturing the liquid crystal device, and more particularly to a manufacturing technique suitable for forming a liquid crystal device having a reflective electrode made of a metal thin film.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、反射型或いは半透過型の液晶装
置では、2枚の基板間に液晶を封入してなるとともに、
一方の基板における他方の基板に対向する表面上に、金
属薄膜からなる反射電極を備え、この反射電極に対向す
る透明電極を他方の基板の表面上に備えた液晶パネルを
有する。外光が液晶パネル内に入射すると、液晶層を通
過した光は上記反射電極によって反射され、再び液晶層
を通過して視認される。
2. Description of the Related Art Generally, in a reflection type or semi-transmission type liquid crystal device, a liquid crystal is sealed between two substrates.
A liquid crystal panel includes a reflective electrode made of a metal thin film on a surface of one substrate facing the other substrate, and a transparent electrode facing the reflective electrode on the surface of the other substrate. When external light enters the liquid crystal panel, the light that has passed through the liquid crystal layer is reflected by the reflective electrode, passes through the liquid crystal layer again, and is visually recognized.

【0003】反射電極としては、アルミニウム薄膜から
なるものがもっとも一般的に用いられている。また、反
射率を高める目的でアルミニウムに酸化チタンや酸化ジ
ルコニウムなどを添加した合金が用いられることもあ
る。
As the reflection electrode, an electrode made of an aluminum thin film is most generally used. In addition, an alloy obtained by adding titanium oxide, zirconium oxide, or the like to aluminum may be used in order to increase the reflectance.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の液晶装置においては、一方の基板表面上の反射電極
及び配線を構成するアルミニウム薄膜は、柔らかく傷つ
きやすい、表面が酸化しやすい、55〜60度程度の温
水にも溶けてしまう、電蝕(コロージョン)が発生しや
すいなどの欠点があり、従来の透過型液晶パネルにおい
て形成されるITO(インジウムスズ酸化物)からなる
硬質で耐薬品性も高い透明導電体に比べて極めて取り扱
いが難しいという問題点がある。
However, in the above-mentioned conventional liquid crystal device, the aluminum thin film forming the reflection electrode and the wiring on one substrate surface is soft and easily damaged, and the surface is easily oxidized by 55 to 60 degrees. It has the drawbacks that it is soluble in moderately warm water and that it is susceptible to electrolytic corrosion (corrosion). It is made of ITO (indium tin oxide), which is formed in a conventional transmission type liquid crystal panel, and is hard and has high chemical resistance. There is a problem that handling is extremely difficult as compared with a transparent conductor.

【0005】また、上記の反射電極及び配線上に無機絶
縁体等からなる保護膜を被覆形成することも考えられる
が、配線を完全に保護膜によって覆うことにすると、配
線に対して集積回路チップや配線部材等を実装する前
に、この保護膜を除去する工程が別途必要になり、一
方、最初から配線の実装部分を避けて保護膜を形成する
ことにすると、保護膜のパターニング工程が必要になる
とともに、配線の実装部分を保護することができないの
で配線の損傷等が避けられず、配線部分の電気的信頼性
が損なわれるという問題点がある。
It is also conceivable to form a protective film made of an inorganic insulator or the like on the reflective electrode and the wiring. However, if the wiring is completely covered with the protective film, the integrated circuit chip is not covered by the wiring. Before the mounting of wiring or wiring members, a step of removing this protective film is required separately.On the other hand, if the protective film is formed from the beginning avoiding the mounting part of the wiring, a patterning step of the protective film is required In addition, since the mounting portion of the wiring cannot be protected, there is a problem that damage to the wiring and the like cannot be avoided, and the electrical reliability of the wiring portion is impaired.

【0006】さらに、アルミニウムからなる配線を形成
した場合、上記のように配線表面の酸化や損傷が発生し
やすいこともあり、例えば、配線の先端に形成された外
部端子部に対して異方性導電フィルム(ACF)を介し
てドライバIC等の集積回路チップやフレキシブル配線
基板等の配線部材を熱圧着する場合、外部接続端子部と
異方性導電フィルムとの接着性が悪く、実装構造の電気
的信頼性に劣るという問題点もある。
Further, when a wiring made of aluminum is formed, the surface of the wiring may be easily oxidized or damaged as described above. For example, the wiring is anisotropic with respect to an external terminal formed at the tip of the wiring. When an integrated circuit chip such as a driver IC or a wiring member such as a flexible wiring board is thermocompression-bonded via a conductive film (ACF), the adhesiveness between the external connection terminal portion and the anisotropic conductive film is poor, so that the mounting structure has There is also a problem of poor reliability.

【0007】そこで本発明は上記問題点を解決するもの
であり、その課題は、アルミニウムなどの軟質の金属薄
膜からなる反射電極を備えた液晶装置において、金属薄
膜に損傷を与えず、しかも、透明導電体に対する製造方
法と同様の取り扱い性を有する上に、配線部分や実装構
造の信頼性も向上させることができる液晶装置を提供す
るものである。更には、製造工程の複雑化を抑制するこ
との可能な液晶装置の製造技術を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a liquid crystal device having a reflective electrode made of a soft metal thin film of aluminum or the like without damaging the metal thin film and at the same time being transparent. An object of the present invention is to provide a liquid crystal device which has the same handling properties as a method for manufacturing a conductor and can improve the reliability of a wiring portion and a mounting structure. It is still another object of the present invention to provide a liquid crystal device manufacturing technique capable of suppressing the complexity of the manufacturing process.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明の液晶装置は、表面に反射電極を備えた第1基
板と、該第1基板に対向する透明な第2基板とを有し、
前記第1基板と前記第2基板との間に液晶を挟持してな
る液晶装置であって、前記反射電極は、金属材料からな
る反射層と前記反射層の上に直接被着された透明導電層
とを有することを特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problems, a liquid crystal device according to the present invention has a first substrate provided with a reflective electrode on a surface thereof, and a transparent second substrate opposed to the first substrate. And
A liquid crystal device comprising a liquid crystal sandwiched between the first substrate and the second substrate, wherein the reflective electrode includes a reflective layer made of a metal material and a transparent conductive material directly adhered on the reflective layer. And a layer.

【0009】この発明によれば、反射電極が金属材料か
らなる反射層の上に透明導電材料を被着させてなる積層
構造に形成されることにより、反射層が透明導電材料に
よる被覆によって保護されるため、製造工程中に反射層
の表面が酸化されたり、損傷を受けたりすることがなく
なり、反射層の当初形成された表面状態が維持されるの
で、高品位の光学特性を有する反射電極を構成すること
ができる。
According to the present invention, since the reflective electrode is formed in a laminated structure in which the transparent conductive material is applied on the reflective layer made of a metal material, the reflective layer is protected by the coating with the transparent conductive material. Therefore, the surface of the reflective layer is not oxidized or damaged during the manufacturing process, and the initially formed surface state of the reflective layer is maintained, so that a reflective electrode having high-quality optical characteristics is used. Can be configured.

【0010】また、前記反射電極に導電接続され、その
先端に外部端子部を構成する配線を有してなり、前記外
部端子部は、前記金属材料からなる前記反射層と前記反
射層の上に直接被着された前記透明導電層とを有すると
好ましい。
[0010] The semiconductor device may further include a wiring that is conductively connected to the reflection electrode and constitutes an external terminal portion at a tip of the reflection electrode. The external terminal portion is provided on the reflection layer made of the metal material and on the reflection layer. It is preferred to have the transparent conductive layer directly applied.

【0011】この発明によれば、配線もまた上記の積層
構造に形成されることにより、製造工程中における配線
の表面酸化や損傷を防止することができるとともに、特
に、保護膜や配向膜によって被覆されず、露出した外部
接続部に形成された配線部分においても表面酸化、損
傷、洗浄時の溶出などを防止することができるから、製
造工程における取り扱い性が著しく向上し、外部接続部
の電気的信頼性を向上させることができる。
According to the present invention, since the wiring is also formed in the above-mentioned laminated structure, it is possible to prevent the surface of the wiring from being oxidized or damaged during the manufacturing process, and particularly to cover the wiring with a protective film or an alignment film. However, surface oxidation, damage, elution at the time of cleaning, etc. can be prevented even at the wiring portion formed at the exposed external connection portion, so that the handling property in the manufacturing process is significantly improved, and the electrical connection of the external connection portion is improved. Reliability can be improved.

【0012】次に、本発明の液晶装置の製造方法は、表
面に金属材料からなる反射層及び該反射層の上に形成さ
れた透明導電材料からなる透明電極層を積層してなる反
射電極を備えた第1基板と、該第1基板に対向する透明
な第2基板とを有し、前記第1基板と前記第2基板との
間に液晶を挟持してなる液晶装置の製造方法であって、
前記第1基板の表面上にマスクパターンを形成し、該マ
スクパターンを用いて前記透明導電材料を選択的に除去
し、次に、前記マスクパターン又はパターニングされた
前記透明導電材料を用いて前記金属材料を選択的に除去
するパターニング工程を有することを特徴とする。この
発明によれば、金属材料と透明導電材料の積層構造に対
して一度のパターニング工程(例えば一度のフォトリソ
グラフィ工程)にてパターニングすることができるの
で、製造工程の増加を抑制することができる。ここで、
マスクパターンの除去と、金属材料の選択的除去とのい
ずれを先に行ってもよい。マスクパターンの除去を先に
行う場合として、既にパターニングされた透明導電材料
をマスクとして金属材料を選択的に除去してもよく、逆
に、マスクパターンによって金属材料の選択的除去を先
に行い、その後に、マスクパターンの除去を行っても構
わない。さらに、請求項4に記載したようにマスクパタ
ーンの除去と、金属材料の選択的除去とを同時に(同じ
エッチング工程にて)行ってもよい。
Next, the method for manufacturing a liquid crystal device according to the present invention comprises the steps of: forming a reflective electrode formed by laminating a reflective layer made of a metal material on the surface and a transparent electrode layer made of a transparent conductive material formed on the reflective layer; A method for manufacturing a liquid crystal device, comprising: a first substrate provided; and a transparent second substrate facing the first substrate, wherein a liquid crystal is sandwiched between the first substrate and the second substrate. hand,
A mask pattern is formed on the surface of the first substrate, the transparent conductive material is selectively removed using the mask pattern, and then the metal is formed using the mask pattern or the patterned transparent conductive material. A patterning step of selectively removing a material; According to the present invention, the laminated structure of the metal material and the transparent conductive material can be patterned in one patterning step (for example, one photolithography step), so that an increase in the number of manufacturing steps can be suppressed. here,
Either the removal of the mask pattern or the selective removal of the metal material may be performed first. As a case of removing the mask pattern first, the metal material may be selectively removed using the already patterned transparent conductive material as a mask, and conversely, the selective removal of the metal material is performed first by the mask pattern, After that, the mask pattern may be removed. Further, as described in claim 4, the removal of the mask pattern and the selective removal of the metal material may be performed simultaneously (in the same etching step).

【0013】次に、本発明のさらに別の液晶装置の製造
方法は、表面に金属材料からなる反射層及び該反射層の
上に形成された透明導電材料からなる透明電極層を積層
してなる反射電極を備えた第1基板と、該第1基板に対
向する透明な第2基板とを有し、前記第1基板と前記第
2基板との間に液晶を挟持してなる液晶装置の製造方法
であって、前記第1基板の表面上に前記金属材料と前記
透明導電材料とを順次堆積させ、前記透明導電材料の表
面にマスクパターンを形成し、該マスクパターンを用い
て前記透明導電材料を選択的に除去し、次に、前記マス
クパターンを除去すると同時に、前記金属材料を、既に
パターニングされた前記透明導電材料によって前記方法
により選択的に除去するパターニング工程を有すること
を特徴とする。この発明によれば、マスクパターンの除
去と金属材料の選択的除去とを同じ方法で一度に行うこ
とによって、除去工程の数をも低減することができるの
で、さらに製造コストを低減できる。特に、金属材料と
透明導電材料とは一般的に耐薬品性が大きく異なるの
で、同じ方法で一度にパターニングすることはきわめて
困難であるが、本発明のようにマスクパターンと金属材
料とを同じ方法で一度に除去する方法(薬品など)を選
択することは容易である。
Next, still another method of manufacturing a liquid crystal device according to the present invention comprises laminating a reflective layer made of a metal material on the surface and a transparent electrode layer made of a transparent conductive material formed on the reflective layer. Manufacturing of a liquid crystal device having a first substrate provided with a reflective electrode, and a transparent second substrate facing the first substrate, wherein a liquid crystal is sandwiched between the first substrate and the second substrate. A method of sequentially depositing the metal material and the transparent conductive material on a surface of the first substrate, forming a mask pattern on a surface of the transparent conductive material, and using the mask pattern to form the transparent conductive material. And then selectively removing the metal material by the method using the already patterned transparent conductive material at the same time as removing the mask pattern. According to the present invention, since the removal of the mask pattern and the selective removal of the metal material are performed at the same time at the same time, the number of removal steps can be reduced, so that the manufacturing cost can be further reduced. In particular, since a metal material and a transparent conductive material generally differ greatly in chemical resistance, it is extremely difficult to pattern them all at once by the same method. However, as in the present invention, the mask pattern and the metal material are formed by the same method. It is easy to select a method (chemicals etc.) for removing at once.

【0014】尚、本発明においてマスクパターンとして
は、金属材料を除去可能な方法であり、且つITO等の
透明導電材料に対して十分な選択性を有する方法によっ
て除去され得るマスクパターンを使用する必要性があ
る。
In the present invention, it is necessary to use a mask pattern which can remove a metal material and which can be removed by a method having sufficient selectivity to a transparent conductive material such as ITO. There is.

【0015】本発明において、前記パターニング工程に
おいては、前記反射電極と同時に、前記反射電極と同じ
積層構造の配線をパターニングすることが好ましい。
In the present invention, it is preferable that in the patterning step, a wiring having the same laminated structure as the reflective electrode is patterned simultaneously with the reflective electrode.

【0016】本発明において、前記金属材料はアルミニ
ウム若しくはアルミニウムを主体とする合金であり、前
記透明導電材料はインジウムスズ酸化物若しくは酸化ス
ズであることが好ましい。
In the present invention, the metal material is preferably aluminum or an alloy mainly containing aluminum, and the transparent conductive material is preferably indium tin oxide or tin oxide.

【0017】この発明によれば、アルミニウム若しくは
アルミニウムを主体とする合金は、酸化しやすく、柔ら
かく、温水によって溶出しやすいのに対して、インジウ
ムスズ酸化物や酸化スズは金属酸化物或いは無機酸化物
であることから、酸化しにくく、硬く、温水にも影響さ
れないので、金属材料が透明導電材料で被覆されること
によって、製造工程中の取り扱い性が向上する。また、
上記のインジウムスズ酸化物や酸化スズは異方性導電フ
ィルムに対する接着性もアルミニウムに比べて良好であ
るので、集積回路チップや配線部材に対する実装部分の
電気的信頼性を向上させることができる。
According to the present invention, aluminum or an alloy mainly composed of aluminum is easily oxidized, soft, and easily eluted with warm water, whereas indium tin oxide and tin oxide are metal oxides or inorganic oxides. Therefore, the metal material is hardly oxidized, hard, and is not affected by warm water. Therefore, the handleability during the manufacturing process is improved by coating the metal material with the transparent conductive material. Also,
Since the above-mentioned indium tin oxide and tin oxide also have better adhesiveness to anisotropic conductive films than aluminum, it is possible to improve the electrical reliability of a mounting portion for an integrated circuit chip or a wiring member.

【0018】本発明において、前記マスクパターンの除
去及び前記金属材料の選択的除去は、アルカリ溶液を用
いるウエットエッチングにより同時に行うことが好まし
い。
In the present invention, the removal of the mask pattern and the selective removal of the metal material are preferably performed simultaneously by wet etching using an alkaline solution.

【0019】この発明によれば、多くの感光性レジスト
を用いて形成したマスクパターンはアルカリ溶液によっ
て容易に剥離することができるとともに、アルミニウム
を主体とする金属材料もまたアルカリ溶液に溶解させる
ことができるので、フォトリソグラフィ法等によってマ
スクパターンを形成するための素材を容易に選択するこ
とができる。また、マスクパターンの除去と、金属材料
の選択的除去とを同時に行うことができるので、製造コ
ストを低減することができる。
According to the present invention, a mask pattern formed using many photosensitive resists can be easily peeled off with an alkaline solution, and a metal material mainly composed of aluminum can be dissolved in the alkaline solution. Therefore, a material for forming a mask pattern by a photolithography method or the like can be easily selected. Further, since the removal of the mask pattern and the selective removal of the metal material can be performed at the same time, the manufacturing cost can be reduced.

【0020】本発明において、前記マスクパターンを感
光性レジストによって形成することが好ましい。
In the present invention, it is preferable that the mask pattern is formed of a photosensitive resist.

【0021】この発明によれば、フォトリソグラフィ法
によってマスクパターンを形成することにより、容易に
パターニングを行うことができる。
According to the present invention, patterning can be easily performed by forming a mask pattern by a photolithography method.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】次に、添付図面を参照して本発明
に係る液晶装置の製造方法の実施形態について詳細に説
明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, an embodiment of a method for manufacturing a liquid crystal device according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

【0023】[反射電極形成工程の実施例]図1は本実
施形態の製造方法の概要を示す模式的な工程説明図
(a)〜(e)である。図1(a)に示すように、ガラ
スなどによって形成される基板1の表面上にスパッタリ
ング法や蒸着法によってアルミニウム薄膜からなる反射
層2を全面的に形成する。反射層2は、例えば200〜
300オングストローム程度の厚さに形成される。次
に、図1(b)に示すように、この反射層2の表面上に
スパッタリング法などによってITO(インジウムスズ
酸化物)からなる透明導電層3を全面的に形成する。こ
の透明導電層3の厚さは、電極及び配線として必要な抵
抗率が得られるように適宜に設計されるが、例えば、2
00〜3000オングストローム程度である。
[Example of Step of Forming Reflective Electrode] FIGS. 1A to 1E are schematic process explanatory views showing the outline of the manufacturing method of this embodiment. As shown in FIG. 1A, a reflective layer 2 made of an aluminum thin film is entirely formed on a surface of a substrate 1 made of glass or the like by a sputtering method or an evaporation method. The reflection layer 2 is, for example, 200 to
It is formed to a thickness of about 300 angstroms. Next, as shown in FIG. 1B, a transparent conductive layer 3 made of ITO (indium tin oxide) is entirely formed on the surface of the reflective layer 2 by a sputtering method or the like. The thickness of the transparent conductive layer 3 is appropriately designed so as to obtain the necessary resistivity as an electrode and a wiring.
It is about 00 to 3000 angstroms.

【0024】次に、上記の透明導電層3の表面上に感光
性レジストを塗布し、所定のマスクパターンによって露
光し、現像することによって、図1(c)に示すよう
に、所定パターンのレジスト層4を形成する。現像はア
ルカリ溶液、例えば、濃度1%の水酸化カリウム水溶液
によって行う。感光性レジストとしては、例えばノボラ
ック樹脂からなるポジ型レジストを用いることができ
る。そして、このレジスト層4をマスクパターンとし
て、図1(d)に示すように透明導電層3をパターニン
グする。このパターニングは、例えば、塩化第2鉄及び
塩酸を含む水溶液を用いたウエットエッチングによって
行うことができる。
Next, a photosensitive resist is applied on the surface of the transparent conductive layer 3, exposed by a predetermined mask pattern, and developed to form a resist having a predetermined pattern as shown in FIG. The layer 4 is formed. The development is performed with an alkaline solution, for example, a 1% aqueous solution of potassium hydroxide. As the photosensitive resist, for example, a positive resist made of a novolak resin can be used. Then, using the resist layer 4 as a mask pattern, the transparent conductive layer 3 is patterned as shown in FIG. This patterning can be performed, for example, by wet etching using an aqueous solution containing ferric chloride and hydrochloric acid.

【0025】次に、アルカリ溶液、例えば、濃度4〜5
%の水酸化カリウム水溶液を用いたウエットエッチング
により、図1(e)に示すようにレジスト層4を剥離す
ると同時に反射層2をパターニングする。このとき、反
射層2は、既にパターニングされた、十分なエッチング
選択性を有する透明導電層3をマスクとしてエッチング
される。このようにして、基板1上には、アルミニウム
薄膜からなる反射層2と、この反射層2の上に直接に積
層されたITOからなる透明導電層3との積層構造によ
って構成された反射電極及び配線が形成される。
Next, an alkaline solution, for example, having a concentration of 4 to 5
As shown in FIG. 1E, the reflection layer 2 is patterned while the resist layer 4 is peeled off by wet etching using an aqueous solution of potassium hydroxide. At this time, the reflective layer 2 is etched using the already patterned transparent conductive layer 3 having sufficient etching selectivity as a mask. In this manner, on the substrate 1, the reflective electrode constituted by the laminated structure of the reflective layer 2 composed of the aluminum thin film and the transparent conductive layer 3 composed of ITO directly laminated on the reflective layer 2 is provided. Wiring is formed.

【0026】なお、上記方法では、レジスト層4の剥離
と、反射層2のエッチング処理とを同時に同一のエッチ
ング液によって行っているが、レジスト層4の剥離と反
射層2の選択的除去とを別々の方法で行ってもよい。例
えば、レジスト層4の剥離をアルカリ溶液によって行
い、その後、既にパターニングされた透明導電層3をマ
スクとして塩酸等によって反射層2のエッチングを行っ
てもよい。逆に、レジスト層4をマスクとして反射層2
を塩酸等によりエッチングし、その後、アルカリ溶液に
よってレジスト層4を剥離してもよい。この場合でも、
エッチング工程は一つ増えるが、マスクパターンとして
レジスト層4のみを用いる単一のパターニング工程にて
処理できる。
In the above method, the peeling of the resist layer 4 and the etching of the reflective layer 2 are simultaneously performed with the same etching solution. However, the peeling of the resist layer 4 and the selective removal of the reflective layer 2 are performed. You may carry out by a different method. For example, the resist layer 4 may be stripped with an alkaline solution, and then the reflective layer 2 may be etched with hydrochloric acid or the like using the already patterned transparent conductive layer 3 as a mask. Conversely, the reflection layer 2 is formed using the resist layer 4 as a mask.
May be etched with hydrochloric acid or the like, and then the resist layer 4 may be stripped with an alkaline solution. Even in this case,
Although the number of etching steps is increased by one, processing can be performed by a single patterning step using only the resist layer 4 as a mask pattern.

【0027】[液晶装置の製造方法の概要]次に、上記
の反射電極形成工程の実施例を用いた液晶装置の製造方
法の概要について説明する。図2は本実施形態の製造方
法において用いる第1母基板11の平面図(a)及び第
2母基板の平面図(b)である。また、図3(a)は本
実施形態によって形成した液晶パネル100の概略構造
を模式的に示す概略断面図であり、図3(b)は液晶パ
ネル100の平面構造を、その張出領域を中心にして示
す平面図である。
[Outline of Method of Manufacturing Liquid Crystal Device] Next, an outline of a method of manufacturing a liquid crystal device using the embodiment of the above-described reflective electrode forming step will be described. FIG. 2 is a plan view (a) of the first mother substrate 11 and a plan view (b) of the second mother substrate used in the manufacturing method of the present embodiment. FIG. 3A is a schematic cross-sectional view schematically showing a schematic structure of the liquid crystal panel 100 formed according to the present embodiment. FIG. It is a top view shown centering on it.

【0028】図2(a)に示すように、第1母基板11
には、上記と同様の方法で、アルミニウムとITOが順
次堆積された後、フォトリソグラフィ法によってパター
ニングされることにより、各パネル予定領域11xにそ
れぞれ複数の反射電極13、配線14及び接続端子15
0が形成される。また、図2(a)に示すように第1母
基板11の表面上にアライメント用のアライメントマー
ク11aが形成される場合には、上記反射電極13、配
線14及び接続端子150と同時に同材質にて形成され
ていることが好ましい。ここで、反射電極13は、図3
(a)に示すように、上記の反射層2と同様の反射層1
31と、上記の透明導電層3と同様の透明電極層132
の積層構造によって構成される。また、配線14は、上
記反射層2と同様の金属配線層141と、上記透明導電
層3と同様の透明配線層142との積層構造によって構
成される。さらに、接続端子150は、上記の反射層2
と同様の金属端子層151と、上記の透明導電層3と同
様の透明端子層152との積層構造によって構成され
る。
As shown in FIG. 2A, the first mother substrate 11
In the same manner as described above, aluminum and ITO are sequentially deposited and then patterned by photolithography, so that a plurality of reflective electrodes 13, wirings 14, and connection terminals 15
0 is formed. When an alignment mark 11a for alignment is formed on the surface of the first mother substrate 11, as shown in FIG. 2A, the reflective electrode 13, the wiring 14, and the connection terminal 150 are made of the same material at the same time. It is preferable that it is formed. Here, the reflection electrode 13 is shown in FIG.
As shown in (a), a reflective layer 1 similar to the reflective layer 2 described above.
31 and a transparent electrode layer 132 similar to the transparent conductive layer 3 described above.
Are formed. The wiring 14 has a laminated structure of a metal wiring layer 141 similar to the reflective layer 2 and a transparent wiring layer 142 similar to the transparent conductive layer 3. Further, the connection terminal 150 is connected to the reflection layer 2.
And a transparent terminal layer 152 similar to the transparent conductive layer 3 described above.

【0029】複数の反射電極13は、図2(a)に示す
ように、各パネル予定領域11xの液晶封入予定領域1
1A内に形成される。図示しないが、反射電極13はそ
れぞれストライプ状であり、相互に並列するように形成
されている。複数の配線14は各パネル予定領域11x
の液晶封入予定領域11Aから張出予定領域11Bへと
引き出されるように形成される。接続端子150は、張
出予定領域11Bに複数並列するように形成される。
As shown in FIG. 2A, the plurality of reflective electrodes 13 are arranged in the liquid crystal encapsulation area 1 of each panel area 11x.
Formed in 1A. Although not shown, each of the reflection electrodes 13 has a stripe shape and is formed to be parallel to each other. The plurality of wirings 14 are arranged in each panel scheduled area 11x.
Is formed so as to be drawn out from the expected liquid crystal enclosing area 11A to the projected area 11B. The plurality of connection terminals 150 are formed so as to be arranged in parallel with the projected area 11B.

【0030】次に、液晶封入領域11Aの反射電極13
及び配線14の一部上にSiO、TiOなどの硬質
の無機絶縁体からなる保護膜15を、例えばフレキソ印
刷法などによってシリカスラリー液を塗布し、焼成する
ことにより形成する。この保護膜15はトップコート膜
とも呼ばれるものであり、後述する液晶パネル構造にお
いて透明電極と反射電極との間に塵埃が混入することに
よる電極間の短絡不良や基板から液晶層への不純物の溶
出を防止するためのものである。保護膜15は、張出予
定領域11Bのうちの少なくとも図3に示す外部端子部
11Cを覆わないようなパターンで形成されていればよ
く、図2(a)に示すように、図示縦方向に隣接する複
数の液晶封入予定領域11Aを一体に覆うように形成さ
れていても構わない。
Next, the reflection electrode 13 in the liquid crystal enclosure region 11A
In addition, a protective film 15 made of a hard inorganic insulator such as SiO 2 or TiO 2 is formed on a part of the wiring 14 by applying a silica slurry liquid by, for example, flexographic printing or the like and baking it. The protective film 15 is also called a top coat film. In a liquid crystal panel structure described later, short-circuit failure between electrodes due to dust being mixed between the transparent electrode and the reflective electrode, and elution of impurities from the substrate to the liquid crystal layer. It is for preventing. The protective film 15 only needs to be formed in a pattern that does not cover at least the external terminal portion 11C shown in FIG. 3 in the projected area 11B, and as shown in FIG. It may be formed so as to integrally cover a plurality of adjacent liquid crystal encapsulation scheduled areas 11A.

【0031】次に、上記保護膜15及び配線14の一部
を覆うように、配向膜16が形成される。配向膜16
は、ポリイミド樹脂をフレキソ印刷法などによって印刷
し、焼成することによって形成される。配向膜16は、
基本的には液晶封入予定領域11Aに形成され、張出予
定領域11Bのうち少なくとも図3に示す外部端子部1
1Cを覆うことの無いように形成される。例えば、図2
(a)に示すように図示縦方向に隣接する複数のパネル
予定領域11xを一体に覆うように形成されていても構
わない。なお、配向膜16は、上記の保護膜15を覆う
ように、特に、保護膜15の外縁部を配向膜16が完全
に覆うように形成されていることが、ラビング処理時に
おけるラビングムラを低減する上で好ましい。
Next, an alignment film 16 is formed so as to cover the protective film 15 and a part of the wiring 14. Alignment film 16
Is formed by printing a polyimide resin by a flexographic printing method or the like and baking it. The alignment film 16
Basically, the external terminal portion 1 shown in FIG.
It is formed so as not to cover 1C. For example, FIG.
As shown in (a), it may be formed so as to integrally cover a plurality of scheduled panel regions 11x adjacent in the vertical direction in the figure. The alignment film 16 is formed so as to cover the protective film 15 described above, particularly, to completely cover the outer edge of the protective film 15 with the alignment film 16, thereby reducing rubbing unevenness during rubbing. Preferred above.

【0032】次に、適宜の長さを有する毛を表面に密集
した状態に備えたラビング布をローラの周面に貼り付け
てラビングローラを形成し、このラビングローラを回転
させ、基板表面を擦りながら移動させることにより、上
記配向膜16にラビング処理を施す。このとき、保護膜
15及び配向膜16に覆われていない配線14の一部
は、直接ラビングローラに接触して擦られることになる
が、配線14の表面はアルミニウムに比べて硬度の高い
透明配線層142によって金属配線層141が完全に覆
われているので、金属配線層141がラビングによって
損傷を受けることがない。
Next, a rubbing cloth provided with bristles having an appropriate length densely attached to the surface is attached to the peripheral surface of the roller to form a rubbing roller, and the rubbing roller is rotated to rub the substrate surface. While moving, the alignment film 16 is subjected to a rubbing process. At this time, a part of the wiring 14 which is not covered with the protective film 15 and the alignment film 16 is directly in contact with the rubbing roller and is rubbed, but the surface of the wiring 14 is a transparent wiring having higher hardness than aluminum. Since the metal wiring layer 141 is completely covered by the layer 142, the metal wiring layer 141 is not damaged by rubbing.

【0033】一方、図2(b)に示す第1母基板12に
ついても、上記液晶封入予定領域11Aと対応した液晶
封入予定領域12Aが複数設定され、この各液晶封入予
定領域12A内に、ITO(インジウムスズ酸化物)な
どからなる透明導電体で構成される多数の透明電極17
が形成される。透明電極17はそれぞれストライプ状に
形成され、相互に並列した状態で各領域にパターニング
される。また、透明電極17の上には上記と同様の配向
膜18が形成され、上記と同様にラビング処理が施され
る。
On the other hand, also in the first mother substrate 12 shown in FIG. 2B, a plurality of liquid crystal encapsulation areas 12A corresponding to the liquid crystal encapsulation areas 11A are set. Numerous transparent electrodes 17 composed of a transparent conductor made of (indium tin oxide) or the like
Is formed. The transparent electrodes 17 are each formed in a stripe shape, and are patterned in respective regions in a state where they are arranged in parallel with each other. Further, an alignment film 18 similar to the above is formed on the transparent electrode 17, and a rubbing process is performed as described above.

【0034】上記のように形成された第1母基板11上
には、図2(a)に示すようにシール材19が各液晶封
入予定領域11Aを取り囲むように形成される。このよ
うに形成された各シール材19にはそれぞれ液晶封入口
19aが形成される。第1母基板11は、シール材19
を介して第2母基板12に貼りあわされる。そして、そ
の貼り合わせ状態が所定の基板間ギャップ(例えば5〜
10μm程度)になるように加圧され、この状態で、加
熱若しくは光照射等が施されてシール材19が硬化され
る。このようにして母パネルが形成される。
On the first mother substrate 11 formed as described above, as shown in FIG. 2A, a sealing material 19 is formed so as to surround each liquid crystal enclosing area 11A. Each sealing material 19 thus formed has a liquid crystal sealing opening 19a. The first mother substrate 11 includes a sealing material 19
Is adhered to the second motherboard 12 through the substrate. Then, the bonding state is a predetermined gap between the substrates (for example, 5 to 5).
(Approximately 10 μm), and in this state, the sealing material 19 is cured by heating or light irradiation. Thus, a mother panel is formed.

【0035】次に、この母パネルを短冊状に切断(スク
ライブ・ブレイク)して、短冊状パネルにする。この短
冊状パネルにすることによって、図2(a)に示すシー
ル材19の液晶注入口19aが露出するので、液晶注入
口19aから液晶を注入する。液晶の注入は、公知のよ
うに減圧下にて液晶注入口19aを液晶中に浸漬するか
又は液晶注入口19aに液晶を滴下することにより、液
晶注入口19aを液晶によって閉鎖し、この状態で周囲
圧力を大気圧に向けて上昇させることにより、内外圧力
差によって液晶をパネル内に進入させることによって行
う。そして、液晶注入が完了すると、上記の液晶注入口
19aを封止樹脂によって封止して液晶をシール材19
の内側に閉じ込める。
Next, the mother panel is cut into strips (scribe-break) to form strip-shaped panels. With this strip-shaped panel, the liquid crystal injection port 19a of the sealing material 19 shown in FIG. 2A is exposed, so that liquid crystal is injected from the liquid crystal injection port 19a. As is known, the liquid crystal injection port 19a is closed by the liquid crystal by immersing the liquid crystal injection port 19a in the liquid crystal under reduced pressure or by dropping the liquid crystal into the liquid crystal injection port 19a as is known. This is performed by increasing the ambient pressure toward the atmospheric pressure, and causing the liquid crystal to enter the panel by a pressure difference between the inside and outside. When the liquid crystal injection is completed, the liquid crystal injection port 19a is sealed with a sealing resin, and the liquid crystal is sealed with the sealing material 19.
Trap inside.

【0036】次に、上述の短冊状パネルに対して、第2
母基板12の一部を切断除去し、第1母基板11におけ
る上記張出予定領域11Bであった張出領域11B’を
張り出した状態に形成する。さらに、この短冊状パネル
を個々の液晶封入予定領域11A、12A毎に切断し
て、個々の液晶パネル100に分離する。この状態で
は、液晶パネル100の断面を示す図3(a)に示され
ているように、第1母基板11の一部である基板110
の外縁部が第2母基板12の一部である基板120の外
縁部よりも外側に張り出して張出領域11B’となって
いる。そして、この張出領域11B’の表面上には上述
のように複数の配線14が引き出されている。
Next, with respect to the above-mentioned strip-shaped panel,
A portion of the mother substrate 12 is cut and removed, and the first mother substrate 11 is formed so as to protrude the overhang region 11B ', which was the overhang region 11B. Further, the strip-shaped panel is cut into each of the liquid crystal encapsulation planned areas 11A and 12A, and separated into individual liquid crystal panels 100. In this state, as shown in FIG. 3A showing a cross section of the liquid crystal panel 100, a substrate 110 which is a part of the first mother substrate 11 is provided.
Of the substrate 120, which is a part of the second motherboard 12, extends outside the outer edge of the substrate 120 to form an overhang region 11B '. The plurality of wirings 14 are drawn out on the surface of the overhang region 11B 'as described above.

【0037】また、図3(b)に示すように、基板11
0と基板120とが相互に貼り合わされた液晶封入領域
11A’(上述の液晶封入予定領域11Aに相当す
る。)には、反射電極13に導電接続されたアルミニウ
ムからなる引出配線14aが張出領域11B’上へと引
き出されている。
Further, as shown in FIG.
In the liquid crystal enclosing area 11A '(corresponding to the above-described liquid crystal encapsulating area 11A) where the substrate 0 and the substrate 120 are bonded to each other, a lead-out wiring 14a made of aluminum conductively connected to the reflective electrode 13 is provided. 11B 'has been drawn up.

【0038】また、基板110と基板120との間に配
置されたシール材19の外側には、シール材19とほぼ
同様の樹脂剤中に導電粒子(例えば樹脂球の表面上に鍍
金処理を施したもの)を分散させた上下導通材21が配
置されている。上下導通材21は、上記の第1母基板1
1と第2母基板12とが貼り合わされ、加圧されたと
き、上記導電粒子によってセル厚さ方向(基板厚さ方
向)にのみ導電性を呈するように構成された異方性導電
体である。
On the outside of the sealing material 19 disposed between the substrate 110 and the substrate 120, conductive particles (for example, a plating process is performed on the surface of a resin ball) in the same resin material as the sealing material 19. ) Are arranged. The vertical conductive member 21 is formed of the first motherboard 1
The first and second mother substrates 12 are anisotropic conductors that are configured to exhibit conductivity only in the cell thickness direction (substrate thickness direction) by the conductive particles when pressed and pressed. .

【0039】この上下導通材21が基板110と接触す
る部分には、上記反射電極13とともに形成されたアル
ミニウムとITOの積層構造からなる連結配線14bの
基端部が形成されている。連結配線14bはこの上下導
通材21と接触する基端部から張出領域11B’上の外
部接続部11Cに達するように伸びている。一方、上下
導通材21が基板120と接触する部分には、透明電極
17と一体に形成された透明導電体からなる配線17a
の先端部が形成されている。この結果、基板120の表
面に形成された透明電極17と、張出領域11B’上の
連結配線14bとは、上下導通材21を介して導電接続
されていることになる。
At the portion where the upper / lower conductive material 21 comes into contact with the substrate 110, the base end of the connecting wiring 14b formed with the reflective electrode 13 and having a laminated structure of aluminum and ITO is formed. The connection wiring 14b extends from the base end contacting the vertical conductive material 21 to reach the external connection portion 11C on the overhang region 11B '. On the other hand, a wiring 17 a made of a transparent conductor integrally formed with the transparent electrode 17 is provided at a portion where the vertical conductive material 21 contacts the substrate 120.
Is formed. As a result, the transparent electrode 17 formed on the surface of the substrate 120 and the connection wiring 14b on the overhang region 11B 'are conductively connected via the vertical conductive material 21.

【0040】なお、本実施形態とは異なり、シール材1
9自体に導電粒子を分散させ、異方性導電体として形成
することによって、上記の上下導通材21を不要にする
ことも可能である。すなわち、シール材19の一部によ
って上記の上下導通材21の役割をさせるのである。
Note that, unlike the present embodiment, the sealing material 1
By dispersing conductive particles in 9 itself and forming it as an anisotropic conductor, it is also possible to make the above-mentioned vertical conducting material 21 unnecessary. That is, a part of the sealing material 19 serves as the above-mentioned vertical conductive material 21.

【0041】上記のようにして液晶パネル100が完成
すると、液晶パネル100全体を純水等によって洗浄
し、図4に示すように、外部接続部11Cに異方性導電
フィルム22を貼着し、この異方性導電フィルム22上
にドライバIC等の集積回路チップ23を押し付けた状
態で、熱圧着する。異方性導電フィルム22は、熱可塑
性樹脂などの樹脂中に導電粒子(例えば、樹脂球の表面
に鍍金を施したものなど)を分散させたものであり、熱
圧着させることにより樹脂が軟化して、集積回路チップ
23の導電パッド23aと、配線14の先端に形成され
た外部端子とが導電粒子によって導通した状態になる。
また、異方性導電フィルム22上にはフレキシブル配線
基板等の配線部材24もまた熱圧着され、配線部材24
の配線24aと、接続端子150とが導電粒子を介して
導電接続される。
When the liquid crystal panel 100 is completed as described above, the entire liquid crystal panel 100 is washed with pure water or the like, and as shown in FIG. 4, an anisotropic conductive film 22 is attached to the external connection portion 11C. While the integrated circuit chip 23 such as a driver IC is pressed onto the anisotropic conductive film 22, thermocompression bonding is performed. The anisotropic conductive film 22 is a film in which conductive particles (for example, a resin ball whose surface is plated) are dispersed in a resin such as a thermoplastic resin, and the resin is softened by thermocompression bonding. As a result, the conductive pads 23a of the integrated circuit chip 23 and the external terminals formed at the tips of the wirings 14 are brought into conduction by the conductive particles.
A wiring member 24 such as a flexible wiring board is also thermocompression-bonded on the anisotropic conductive film 22 so that the wiring member 24
Of the wiring 24a and the connection terminal 150 are conductively connected via conductive particles.

【0042】以上説明したように、本実施形態では、反
射電極13、配線14及び接続端子150をアルミニウ
ムからなる第1層と、この上に直接形成されたITOか
らなる第2層との積層構造によって構成していることに
より、第1層のアルミニウムが第2層のITOによって
覆われているため、アルミニウムの表面の酸化や損傷或
いは温水による溶解を防止することができる。
As described above, in the present embodiment, the reflective electrode 13, the wiring 14, and the connection terminal 150 are formed in a laminated structure of the first layer made of aluminum and the second layer made of ITO directly formed thereon. Since the first layer of aluminum is covered with the second layer of ITO, it is possible to prevent oxidation or damage to the surface of aluminum or dissolution by hot water.

【0043】特に、図1に示す反射層2に相当する反射
層131が形成された後、直ちに図1の透明導電層3に
相当する透明電極層132が形成され、反射層131が
硬度の高い金属酸化物(無機酸化物)である透明電極層
132によって覆われていることによって、反射層13
1表面の製造工程中における酸化や損傷が回避され、反
射層131の形成当初の状態を保つことができるので、
反射率などの光学特性を高品位に形成することができ
る。なお、反射層131の表面上に微細な凹凸構造を形
成することによって直接反射光による背景の映りこみや
幻惑、或いは、コントラストの低下などを防止すること
ができ、この場合にも、反射層131の微細な表面凹凸
構造を透明電極層132によって保護することができ
る。
In particular, immediately after the reflection layer 131 corresponding to the reflection layer 2 shown in FIG. 1 is formed, the transparent electrode layer 132 corresponding to the transparent conductive layer 3 shown in FIG. 1 is immediately formed, and the reflection layer 131 has high hardness. By being covered with the transparent electrode layer 132 which is a metal oxide (inorganic oxide), the reflection layer 13
Oxidation and damage during the manufacturing process of one surface can be avoided, and the initial state of the formation of the reflective layer 131 can be maintained.
Optical characteristics such as reflectance can be formed with high quality. Note that by forming a fine uneven structure on the surface of the reflective layer 131, it is possible to prevent the background from being reflected or dazzled by direct reflected light, or to prevent a decrease in contrast. Can be protected by the transparent electrode layer 132.

【0044】また、上記のように金属からなる第1層
と、透明導電体からなる第2層との積層構造によって反
射電極13、配線14及び接続端子150が形成されて
いることにより、電極、配線、端子等として必要な導電
性を第1層又は第2層の個々の厚さに制約を受けること
なく設定することができる。例えば、透明電極層13
2、透明配線層142及び透明端子層152に関して
は、下層に良導体であるアルミニウムが形成されている
ことによって、必要な導電性を確保するための厚さが従
来よりも薄くて足りる。
Further, since the reflective electrode 13, the wiring 14, and the connection terminal 150 are formed by the laminated structure of the first layer made of a metal and the second layer made of a transparent conductor as described above, the electrode, The conductivity required for wiring, terminals, and the like can be set without being restricted by the individual thickness of the first layer or the second layer. For example, the transparent electrode layer 13
2. Regarding the transparent wiring layer 142 and the transparent terminal layer 152, since a good conductor, aluminum, is formed in the lower layer, the thickness for securing the necessary conductivity is smaller than that of the related art.

【0045】また、一旦、反射電極13、配線14及び
接続端子150を形成した後には、従来の透明導電体の
みを用いた液晶装置の製造技術をそのまま適用すること
ができるので、製造コスト上及び工程管理上きわめて有
利である。特に、従来の製造技術は透明導電体の硬度や
耐薬品性を前提に構成されているので、アルミニウムが
露出している状態にて処理を行う場合には、酸化しやす
く、柔らかく、耐薬品性にも劣るアルミニウムに対して
全く異なる条件を設定しなければならない。
Further, once the reflective electrode 13, the wiring 14, and the connection terminal 150 are formed, the conventional technique for manufacturing a liquid crystal device using only a transparent conductor can be applied as it is. This is extremely advantageous in process control. In particular, the conventional manufacturing technology is configured on the premise of the hardness and chemical resistance of the transparent conductor, so when processing in the state where aluminum is exposed, it is easily oxidized, soft, and chemically resistant. Completely different conditions must be set for inferior aluminum.

【0046】本実施形態では、最初にアルミニウムとI
TOを積層して反射層2と透明導電層3を形成し、次
に、レジスト層4を積層構造上に形成してから、透明導
電層3のみを除去してパターニングし、その後、レジス
ト層4と反射層2を同時に除去することによって、既に
パターニングされた透明導電層3をマスクとしてパター
ニングするようにしている。したがって、単一のフォト
リソグラフィ工程にて、しかも2回のエッチング工程で
反射層2と透明導電層3のパターニングを完了させるこ
とができるので、製造工程の増加を抑制することができ
る。特に、金属薄膜である反射層2と、無機酸化物であ
る透明導電層3とは薬品に対する特性が大きく異なるた
め、通常は別々のパターニング工程が必要となるが、上
記方法では、きわめて容易にパターニング処理を完了さ
せることができる。
In this embodiment, first, aluminum and I
The reflective layer 2 and the transparent conductive layer 3 are formed by laminating the TO, then the resist layer 4 is formed on the laminated structure, and then only the transparent conductive layer 3 is removed and patterned. And the reflective layer 2 are removed at the same time, so that the patterned transparent conductive layer 3 is used as a mask for patterning. Therefore, the patterning of the reflective layer 2 and the transparent conductive layer 3 can be completed in a single photolithography step and two etching steps, so that an increase in the number of manufacturing steps can be suppressed. In particular, since the reflective layer 2, which is a metal thin film, and the transparent conductive layer 3, which is an inorganic oxide, have greatly different properties with respect to chemicals, usually a separate patterning step is required. Processing can be completed.

【0047】尚、本発明の液晶装置の製造方法は、上述
の図示例にのみ限定されるものではなく、本発明の要旨
を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは
勿論である。
The method of manufacturing the liquid crystal device according to the present invention is not limited to the illustrated example described above, but various changes can be made without departing from the scope of the present invention.

【0048】[0048]

【発明の効果】以上、説明したように本発明によれば、
反射電極が金属材料からなる反射層の上に透明導電材料
を被着させてなる積層構造に形成されることにより、反
射層が透明導電材料による被覆によって保護されるた
め、製造工程中に反射層の表面が酸化されたり、損傷を
受けたりすることがなくなり、反射層の当初形成された
表面状態が維持されるので、高品位の光学特性を有する
反射電極を構成することができる。また、配線も上記積
層構造に形成されることにより、製造工程中における配
線の表面酸化や損傷を防止することができるとともに、
特に、保護膜や配向膜によって被覆されず、露出した外
部接続部に形成された配線部分においても表面酸化、損
傷、洗浄時の溶出などを防止することができるから、製
造工程における取り扱い性が著しく向上し、配線部分や
外部接続部の電気的信頼性を向上させることができる。
As described above, according to the present invention,
Since the reflective electrode is formed in a laminated structure in which a transparent conductive material is applied on the reflective layer made of a metal material, the reflective layer is protected by coating with the transparent conductive material. The surface of the reflective layer is not oxidized or damaged, and the surface state of the reflective layer originally formed is maintained, so that a reflective electrode having high-quality optical characteristics can be formed. In addition, since the wiring is also formed in the laminated structure, it is possible to prevent surface oxidation and damage of the wiring during the manufacturing process, and
In particular, surface oxidation, damage, elution at the time of cleaning, etc. can be prevented even at the wiring portion formed at the exposed external connection portion without being covered by the protective film or the alignment film, so that the handleability in the manufacturing process is remarkable. The electrical reliability of the wiring portion and the external connection portion can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る液晶装置の製造方法の実施形態に
おける反射電極の形成工程を模式的に示す工程説明図
(a)〜(e)である。
FIGS. 1A to 1E are process explanatory views schematically showing a process of forming a reflective electrode in an embodiment of a method for manufacturing a liquid crystal device according to the present invention.

【図2】同実施形態における第1母基板の表面構造を示
す平面図(a)及び第2母基板の表面構造を示す平面図
(b)である。
FIGS. 2A and 2B are a plan view showing a surface structure of a first motherboard and a plan view showing a surface structure of a second motherboard in the same embodiment. FIGS.

【図3】同実施形態によって形成された液晶パネルの構
造を示す概略縦断面図(a)及び張出領域を中心にして
示す拡大部分平面図(b)である。
FIG. 3 is a schematic longitudinal sectional view (a) showing a structure of a liquid crystal panel formed by the same embodiment, and an enlarged partial plan view (b) showing a projection region as a center.

【図4】図3に示す液晶パネルに集積回路チップ及び配
線部材を実装した状態を示す概略縦断面図(a)及び張
出領域を中心にして示す拡大部分平面透視図(b)であ
る。
4A is a schematic longitudinal sectional view showing a state in which an integrated circuit chip and a wiring member are mounted on the liquid crystal panel shown in FIG. 3, and FIG. 4B is an enlarged partial plan view mainly showing an overhang region.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 反射層 3 透明導電層 4 レジスト層 11 第1母基板 12 第2母基板 13 反射電極 131 反射層 132 透明電極層 14 配線 141 金属配線層 142 透明配線層 15 保護膜 16 配向膜 17 透明電極 18 配向膜 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Reflective layer 3 Transparent conductive layer 4 Resist layer 11 1st motherboard 12 2nd motherboard 13 Reflective electrode 131 Reflective layer 132 Transparent electrode layer 14 Wiring 141 Metal wiring layer 142 Transparent wiring layer 15 Protective film 16 Alignment film 17 Transparent Electrode 18 Alignment film

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 表面に反射電極を備えた第1基板と、該
第1基板に対向する透明な第2基板とを有し、前記第1
基板と前記第2基板との間に液晶を挟持してなる液晶装
置であって、 前記反射電極は、金属材料からなる反射層と前記反射層
の上に直接被着された透明導電層とを有することを特徴
とする液晶装置。
A first substrate having a reflective electrode on a surface thereof; and a transparent second substrate facing the first substrate,
A liquid crystal device having a liquid crystal sandwiched between a substrate and the second substrate, wherein the reflective electrode includes a reflective layer made of a metal material and a transparent conductive layer directly adhered on the reflective layer. A liquid crystal device comprising:
【請求項2】 請求項1において、前記反射電極に導電
接続され、その先端に外部端子部を構成する配線を有し
てなり、前記外部端子部は、前記金属材料からなる前記
反射層と前記反射層の上に直接被着された前記透明導電
層とを有することを特徴とする液晶装置。
2. The reflection terminal according to claim 1, further comprising a wiring that is conductively connected to the reflection electrode, and that has a wire that constitutes an external terminal at the tip thereof. A liquid crystal device comprising: the transparent conductive layer directly applied on a reflective layer.
【請求項3】 表面に金属材料からなる反射層及び該反
射層の上に形成された透明導電材料からなる透明電極層
を積層してなる反射電極を備えた第1基板と、該第1基
板に対向する透明な第2基板とを有し、前記第1基板と
前記第2基板との間に液晶を挟持してなる液晶装置の製
造方法であって、 前記第1基板の表面にマスクパターンを形成し、該マス
クパターンを用いて前記透明導電材料を選択的に除去
し、次に、前記マスクパターン又はパターニングされた
前記透明導電材料を用いて前記金属材料を選択的に除去
するパターニング工程を有することを特徴とする液晶装
置の製造方法。
3. A first substrate provided with a reflective electrode formed by laminating a reflective layer made of a metal material on the surface and a transparent electrode layer made of a transparent conductive material formed on the reflective layer, and the first substrate. A method for manufacturing a liquid crystal device, comprising: a transparent second substrate facing the first substrate; and a liquid crystal interposed between the first substrate and the second substrate, wherein a mask pattern is formed on a surface of the first substrate. A patterning step of selectively removing the transparent conductive material using the mask pattern, and then selectively removing the metal material using the mask pattern or the patterned transparent conductive material. A method for manufacturing a liquid crystal device, comprising:
【請求項4】 表面に金属材料からなる反射層及び該反
射層の上に形成された透明導電材料からなる透明電極層
を積層してなる反射電極を備えた第1基板と、該第1基
板に対向する透明な第2基板とを有し、前記第1基板と
前記第2基板との間に液晶を挟持してなる液晶装置の製
造方法であって、 前記第1基板の表面上に前記金属材料と前記透明導電材
料とを順次堆積させ、前記透明導電材料の表面上にマス
クパターンを形成し、該マスクパターンを用いて前記透
明導電材料を選択的に除去し、次に、前記マスクパター
ンを除去すると同時に、前記金属材料を、既にパターニ
ングされた前記透明導電材料によって前記方法により選
択的に除去するパターニング工程を有することを特徴と
する液晶装置の製造方法。
4. A first substrate having a reflective electrode formed by laminating a reflective layer made of a metal material on the surface and a transparent electrode layer made of a transparent conductive material formed on the reflective layer, and the first substrate. A method for manufacturing a liquid crystal device, comprising: a transparent second substrate facing the first substrate, wherein a liquid crystal is sandwiched between the first substrate and the second substrate. A metal material and the transparent conductive material are sequentially deposited, a mask pattern is formed on the surface of the transparent conductive material, and the transparent conductive material is selectively removed using the mask pattern. And a patterning step of selectively removing the metal material by the method using the already patterned transparent conductive material at the same time as removing the metal material.
【請求項5】 請求項3又は請求項4において、前記パ
ターニング工程においては、前記反射電極と同時に前記
反射電極と同じ積層構造の配線をパターニングすること
を特徴とする液晶装置の製造方法。
5. The method for manufacturing a liquid crystal device according to claim 3, wherein in the patterning step, wiring of the same laminated structure as the reflective electrode is patterned simultaneously with the reflective electrode.
【請求項6】 請求項3から請求項5までのいずれか1
項において、前記金属材料はアルミニウム若しくはアル
ミニウムを主体とする合金であり、前記透明導電材料は
インジウムスズ酸化物若しくは酸化スズであることを特
徴とする液晶装置の製造方法。
6. One of claims 3 to 5
3. The method for manufacturing a liquid crystal device according to item 1, wherein the metal material is aluminum or an alloy mainly containing aluminum, and the transparent conductive material is indium tin oxide or tin oxide.
【請求項7】 請求項6において、前記マスクパターン
の除去及び前記金属材料の選択的除去は、アルカリ溶液
を用いるウエットエッチングにより同時に行うことを特
徴とする液晶装置の製造方法。
7. The method according to claim 6, wherein the removal of the mask pattern and the selective removal of the metal material are performed simultaneously by wet etching using an alkaline solution.
【請求項8】 請求項6又は請求項7において、前記マ
スクパターンを感光性レジストによって形成することを
特徴とする液晶装置の製造方法。
8. The method according to claim 6, wherein the mask pattern is formed of a photosensitive resist.
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WO2002078481A1 (en) 2001-03-28 2002-10-10 Phild Co., Ltd. Health ornament containing titanium powder and method for manufacture thereof
WO2004070812A1 (en) * 2003-02-05 2004-08-19 Idemitsu Kosan Co.,Ltd. Method for manufacturing semi-transparent semi-reflective electrode substrate, reflective element substrate, method for manufacturing same, etching composition used for the method for manufacturing the reflective electrode substrate
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002078481A1 (en) 2001-03-28 2002-10-10 Phild Co., Ltd. Health ornament containing titanium powder and method for manufacture thereof
WO2004070812A1 (en) * 2003-02-05 2004-08-19 Idemitsu Kosan Co.,Ltd. Method for manufacturing semi-transparent semi-reflective electrode substrate, reflective element substrate, method for manufacturing same, etching composition used for the method for manufacturing the reflective electrode substrate
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