JP2001084945A - Voice input device in scanning electron microscope or similar apparatus - Google Patents
Voice input device in scanning electron microscope or similar apparatusInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 17
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000012217 deletion Methods 0.000 description 2
- 230000037430 deletion Effects 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、走査形電子顕微鏡
装置あるいは類似装置における操作方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for operating a scanning electron microscope apparatus or similar apparatus.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来の走査形電子顕微鏡は、倍率・加速
電圧・走査速度等の各種制御を行うにあたり、キーボー
ド・マウス・専用操作卓を用いて該当する操作部分のス
イッチを見つけ投下するか、モニタ上に表示されている
メニューに従い選択して操作を行っている。2. Description of the Related Art In a conventional scanning electron microscope, when performing various controls such as magnification, acceleration voltage, and scanning speed, a keyboard, a mouse, and a dedicated console are used to find and drop a switch of a corresponding operation portion. The operation is performed by selecting according to the menu displayed on the monitor.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術において
走査形電子顕微鏡の各種操作を行う場合、目的とする機
能のスイッチを見つけ出して投下するか、キーボード・
マウス等を用いてモニタ上にメニューを表示させた後、
該当項目を選択する操作方法である。前述した操作方法
は操作者が数多いスイッチの場所(位置)、数種類のメ
ニューの位置を覚える必要があり走査形電子顕微鏡の操
作性を煩わしくする一要因となっている。When various operations of the scanning electron microscope are performed in the above-mentioned prior art, a switch of a desired function is found out and dropped or a keyboard or a key switch is operated.
After displaying the menu on the monitor using a mouse etc.,
This is an operation method for selecting a corresponding item. The above-described operation method requires the operator to memorize many switch locations (positions) and several types of menu positions, which is one factor that complicates the operability of the scanning electron microscope.
【0004】また、各種操作スイッチの項目と場所・メ
ニューの内容等は、製作側が一方的に押付けたものであ
り、必ずしも操作者が満足して操作を行っているとは言
えない問題点もある。In addition, the items of the various operation switches, the location, the contents of the menu, and the like are one-sidedly pressed by the production side, and there is a problem that the operator is not always satisfied with the operation. .
【0005】本発明の目的は、初心者から熟練者まで誰
にでも簡単に走査形電子顕微鏡の操作が行えると共に、
操作者にあった操作方法を自由に作成できるようにする
ことで操作性の向上を図ることにある。[0005] An object of the present invention is to make it easy for anyone from beginners to experts to operate a scanning electron microscope.
An object of the present invention is to improve operability by allowing an operation method suitable for an operator to be freely created.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、走査形電子顕微鏡に音声入力・出力装置及び音声制
御装置を付加して、各種の制御項目とのリンクを行うこ
とで音声入力による走査形電子顕微鏡の操作を実現する
ものである。In order to achieve the above object, an audio input / output device and an audio control device are added to a scanning electron microscope, and linking with various control items is performed to enable the input by audio input. The operation of the scanning electron microscope is realized.
【0007】[0007]
【発明の実施の形態】以下、本発明の動作及び構成につ
いて、図1、図2、図3を用いて説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The operation and configuration of the present invention will be described below with reference to FIGS.
【0008】図1は、本発明による走査形電子顕微鏡の
一実施例の装置構成図である。中央演算処理装置1(以
下CPUと呼ぶ)は、走査形電子顕微鏡の全ての制御回
路をコントロールするものであり、D/A変換器2を介
して高圧発生回路3を制御することにより、フィラメン
ト15、ウェーネルト16、アノード17からなる電子
銃より電子線23を発生させる。電子銃から発生された
電子線23は、必ずしもレンズ系の中心を通過するとは
限らずガン1アライメントコイル18及びガン2アライ
メントコイル19をガンアライメントコイル制御回路7
によって制御することでレンズ系の中心を通過するよう
に補正を行う。次に電子線23は収束レンズ制御回路8
によって制御される収束(コンデンサ)レンズ20、2
1で細く絞られる。収束された電子線23は、さらに電
子線23を収束させる対物可動絞り9を通過し、走査速
度等を制御する走査発振回路10、及び電子線を偏向す
る偏向制御回路11、偏向コイル22の作用によって試
料24上を走査する。FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of a scanning electron microscope according to the present invention. The central processing unit 1 (hereinafter referred to as a CPU) controls all control circuits of the scanning electron microscope, and controls the high voltage generation circuit 3 via the D / A converter 2 so that the filament 15 is controlled. An electron beam 23 is generated from an electron gun including a Wehnelt 16 and an anode 17. The electron beam 23 generated from the electron gun does not always pass through the center of the lens system, and the gun 1 alignment coil 18 and the gun 2 alignment coil 19 are connected to the gun alignment coil control circuit 7.
Is corrected so as to pass through the center of the lens system. Next, the electron beam 23 is transmitted to the convergent lens control circuit 8.
(Condenser) lenses 20, 2 controlled by
It is squeezed finely with 1. The converged electron beam 23 passes through the objective movable stop 9 for converging the electron beam 23, and functions of a scanning oscillation circuit 10 for controlling a scanning speed and the like, a deflection control circuit 11 for deflecting the electron beam, and a function of a deflection coil 22. Scans the sample 24.
【0009】試料24上を電子線23が走査することに
より、試料24から2次電子26等の情報信号が発生さ
れ、この情報信号は二次電子検出器14により検出され
る。その後、情報信号は表示回路13を経てCRT12
に表示される。また、試料24を設置するための試料台
25には、試料台25を移動可能にさせる駆動装置が5
軸、設置される。駆動装置はX軸を移動させるX軸駆動
装置27、Y軸を移動させるY軸駆動装置28、試料2
4の高さを移動させるZ軸駆動装置29、試料台25を
傾けるT軸駆動装置30および、試料24を回転させる
R軸駆動装置31よりなる。By scanning the sample 24 with the electron beam 23, information signals such as secondary electrons 26 are generated from the sample 24, and the information signals are detected by the secondary electron detector 14. Thereafter, the information signal is passed through the display circuit 13 to the CRT 12.
Will be displayed. In addition, a driving device that allows the sample stage 25 to move is provided on the sample stage 25 for installing the sample 24.
Axis, installed. The driving device includes an X-axis driving device 27 for moving the X-axis, a Y-axis driving device 28 for moving the Y-axis, and a sample 2.
4, a Z-axis drive unit 29 for moving the height of 4, a T-axis drive unit 30 for tilting the sample table 25, and an R-axis drive unit 31 for rotating the sample 24.
【0010】本発明は前述した各種走査形電子顕微鏡の
制御を、キーボード32、マウス33さらに専用操作卓
34に加え、音声を取り込むマイク36、メッセージを
出力するスピーカ37、さらにマイク36、スピーカ3
7を制御する音声制御装置35から構成される。According to the present invention, the control of the various scanning electron microscopes described above is added to a keyboard 32, a mouse 33 and a dedicated console 34, a microphone 36 for taking in voice, a speaker 37 for outputting a message, a microphone 36, and a speaker 3.
7 is constituted by a voice control device 35 for controlling the control unit 7.
【0011】本機能は、上記で述べた構成において以下
に示す“HV ON”を実施例にとり説明を行う。従来
はHV ONを行う場合、専用操作卓34からハードス
イッチを見つけ出して投下するか、モニタ12上にキー
ボード32・マウス33を用いて該当メニューを表示さ
せた後、ソフトスイッチを見つけ投下しCPU1経由で
高圧発生回路3を制御している。但し、本操作は操作者
がスイッチの場所(位置)、メニューの位置を覚える必
要性があり、場合によっては選択スイッチの押し間違え
等による誤操作の要因となっていた。今回音声制御装置
35、マイク36、スピーカー37を備えた音声入力
(操作)装置を付加しかつCPU1との制御により、音
声にて“HV ON”と言えばマイク36より入力され
た声を音声制御装置35にて入力信号に変換しCPU1
とのリンクをとり高圧発生回路3の制御と判断し後、高
圧を印加させるものである。このように試料台25を移
動可能にさせる駆動装置動装置も含め走査形電子顕微鏡
の全制御が行える構成となっている。This function will be described using "HV ON" shown below as an embodiment in the above-described configuration. Conventionally, when performing HV ON, a hardware switch is found and dropped from the dedicated operation console 34, or a corresponding menu is displayed on the monitor 12 using the keyboard 32 and the mouse 33, and then a soft switch is found and dropped via the CPU 1. Controls the high voltage generation circuit 3. However, this operation requires the operator to remember the position (position) of the switch and the position of the menu, and in some cases, has caused an erroneous operation due to an incorrectly pressed selection switch or the like. This time, a voice input (operation) device including a voice control device 35, a microphone 36, and a speaker 37 is added, and by controlling the CPU 1, the voice input from the microphone 36 can be voice-controlled by speaking "HV ON" by voice. The input signal is converted by the device 35 into the CPU 1
After determining that the high voltage generation circuit 3 is to be controlled, a high voltage is applied. As described above, the entire configuration of the scanning electron microscope including the driving device and the moving device that makes the sample table 25 movable can be performed.
【0012】次に音声入力(操作)装置において、音声
入力された各種操作命令を実行すると共に次に行うべき
操作を音声(返信の音声:スピーカ37)または、モニ
タ12上へのメッセージ表示で支援を行う操作ガイドを
盛り込んだ音声入力(操作)装置について図2のロジッ
ク図(フローチャート)を用いて説明を行う。本機能は
先ず各種の命令の判断処理から始まる。音声にて“HV
ON”と判断した場合、第一処理としてHV ON処理
を行う。通常走査形電子顕微鏡は前回設定値を記憶する
が、観察するサンプルにより明るさの再調整または、フ
ォーカスの再調整を必要とし多くの操作者は何らかの操
作を施す。第二処理は操作者の操作補佐を目的として次
に操作者が行うべき操作を情報格納テーブルからガイド
内容を抽出してスピカー37より音声にて知らしめる
か、モニタ12上にメッセージを表示させることで操作
者の手助けを行うものである。第三処理としてガイドさ
れる内容は学習機能(情報格納テーブルの更新)により
操作者がよく行う操作を記憶し次回の表示に反映するも
のである。Next, in the voice input (operation) device, various operation commands input by voice are executed, and the operation to be performed next is supported by voice (reply voice: speaker 37) or message display on the monitor 12. A voice input (operation) device including an operation guide for performing the operation will be described with reference to a logic diagram (flow chart) of FIG. This function starts with the judgment processing of various instructions. "HV
If it is determined to be “ON”, the HV ON process is performed as the first process. Normally, the scanning electron microscope stores the previous setting value, but it is necessary to readjust the brightness or readjust the focus depending on the sample to be observed. In the second process, for the purpose of assisting the operation of the operator, the operation to be performed next by the operator is extracted from the information storage table, and the speaker 37 informs the user of the operation by voice. The help of the operator is displayed by displaying a message on the monitor 12. The contents guided as the third process are the operations frequently performed by the operator by the learning function (updating the information storage table) and stored in the next process. This is reflected on the display.
【0013】さらに、音声登録・修正・削除が可能な音
声入力装置について図3のロジック図(フローチャー
ト)を用いて説明を行う。本機能は各種機能を音声入力
で操作するにあたり、操作したい単機能を操作者が自由
に単語登録することが可能とした(例:オートブライト
ネス&コントラストの場合“ABC”と登録)、かつ各
種操作の単機能の組合わせによる複数機能を一度に実行
する単語も登録可能である(例:加速電圧を印加した後
に、オートブライトネス&コントラストを実行する場合
“HVABC”と登録)。また、ロジック図に示すよう
に登録した音声の修正・削除も自由に行うことが可能で
あり操作者に適合した音声入力を提供するものである。Further, a voice input device capable of voice registration / correction / deletion will be described with reference to a logic diagram (flow chart) of FIG. This function allows the operator to freely register a single function to be operated when inputting various functions by voice input (eg, “ABC” in the case of auto brightness & contrast) and various operations A word that executes a plurality of functions at once by a combination of the single functions can be registered (for example, “HVABC” is registered when executing the auto brightness and contrast after applying the acceleration voltage). Further, as shown in the logic diagram, the registered voice can be freely corrected and deleted, and a voice input suitable for the operator is provided.
【0014】以上、上記で述べた音声入力操作は、従来
からの操作部(キーボード32・マウス33・専用操作
卓34)と本音声入力装置を併用して操作することも可
能であり、かつ従来の操作部のみ、あるいは音声入力の
みと操作者が任意の操作方法を選択することができるメ
ニュー・スイッチ等を用意し、目的にあった操作を可能
とするものである。As described above, the voice input operation described above can be performed by using a conventional operation unit (keyboard 32, mouse 33, dedicated console 34) and the present voice input device together. A menu switch or the like that allows the operator to select any operation method, such as only the operation unit or only the voice input, and allows the operator to select an arbitrary operation method is provided, and the operation suitable for the purpose can be performed.
【0015】このように、従来の操作方法に加え音声入
力方法を追加することでより操作性の良い製品を提供す
ることが可能となる。As described above, by adding the voice input method in addition to the conventional operation method, it is possible to provide a product with higher operability.
【0016】[0016]
【発明の効果】本発明によれば、初心者から熟練者まで
誰にでも簡単に走査形電子顕微鏡の操作が行えると共
に、操作者にあった操作方法を自由に作成できるように
することで操作性の向上をもたらす効果がある。According to the present invention, anyone from beginner to expert can easily operate the scanning electron microscope and can freely create an operation method suitable for the operator. This has the effect of improving the quality.
【図1】走査形電子顕微鏡の構成図を示す。FIG. 1 shows a configuration diagram of a scanning electron microscope.
【図2】走査形電子顕微鏡の音声入力処理のロジック図
(フローチャート)を示す。FIG. 2 shows a logic diagram (flowchart) of a voice input process of the scanning electron microscope.
【図3】走査形電子顕微鏡の音声登録・削除処理のロジ
ック図(フローチャート)を示す。FIG. 3 shows a logic diagram (flowchart) of voice registration / deletion processing of the scanning electron microscope.
1…CPU、2…D/A変換器、3…高圧制御回路、4
…フィラメント回路、5…バイアス回路、6…エミッシ
ョン電流検出器、7…ガンアライメントコイル制御回
路、8…収束レンズ制御回路、9…対物可動絞り、10
…走査発振回路、11…偏向制御回路、12…CRT、
13…表示回路、14…二次電子検出器、15…フィラ
メント、16…ウェーネルト、17…アノード、18…
ガン1アライメントコリル、19…ガン2アライメント
コイル、20…収束(コンデンサ)1レンズ、21…収
束(コンデンサ)2レンズ、22…偏向コイル、23…
電子線、24…試料、25…試料台、26…二次電子、
27…X軸駆動装置、28…Y軸駆動装置、29…Z軸
駆動装置、30…T軸駆動装置、31…R軸駆動装置、
32…キーボード、33…マウス、34…専用操作卓、
35…音声制御装置、36…マイク、37…スピーカ
ー。DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... CPU, 2 ... D / A converter, 3 ... High voltage control circuit, 4
... Filament circuit, 5 ... Bias circuit, 6 ... Emission current detector, 7 ... Gun alignment coil control circuit, 8 ... Convergent lens control circuit, 9 ... Object movable diaphragm, 10
... scanning oscillation circuit, 11 ... deflection control circuit, 12 ... CRT,
13 ... display circuit, 14 ... secondary electron detector, 15 ... filament, 16 ... Wehnelt, 17 ... anode, 18 ...
Gun 1 alignment choir, 19 ... Gun 2 alignment coil, 20 ... Convergence (condenser) 1 lens, 21 ... Convergence (condenser) 2 lens, 22 ... Deflection coil, 23 ...
Electron beam, 24: sample, 25: sample stage, 26: secondary electron,
27: X-axis drive, 28: Y-axis drive, 29: Z-axis drive, 30: T-axis drive, 31: R-axis drive,
32 ... keyboard, 33 ... mouse, 34 ... dedicated console,
35: Voice control device, 36: Microphone, 37: Speaker.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高島 雅也 茨城県ひたちなか市大字市毛1040番地 株 式会社日立サイエンスシステムズ内 (72)発明者 山下 貢 茨城県ひたちなか市大字市毛1040番地 株 式会社日立サイエンスシステムズ内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Masaya Takashima 1040 Ma, Ishiki, Hitachinaka City, Ibaraki Prefecture Inside Hitachi Science Systems Co., Ltd. Within Science Systems
Claims (4)
レンズ系の中心を通過するように補正するガンアライメ
ントコイルと、電子線を細く絞る収束(コンデンサ)レ
ンズと、前記収束レンズで収束された電子線を試料上で
走査させる偏向コイルと、走査に伴い試料から出力され
る情報信号を検出する検出器と、さらに情報信号をCR
Tに表示する表示回路と、前述した各種機能をキーボー
ド・マウス・専用操作卓で制御を行う操作部を備えた走
査形電子顕微鏡において。各種の操作命令を音声で知ら
しめることでキーボード・マウス・専用操作卓と同等の
操作が可能となる走査形電子顕微鏡として初めて音声入
力(操作)装置を備えたことを特徴とする走査形電子顕
微鏡あるいは類似装置。1. An electron gun, a gun alignment coil for correcting an electron beam generated from the electron gun to pass through the center of a lens system, a converging (condenser) lens for narrowing down the electron beam, and converging by the converging lens. A deflection coil for scanning the sampled electron beam on the sample, a detector for detecting an information signal output from the sample during the scanning, and a CR for detecting the information signal.
A scanning electron microscope including a display circuit for displaying on a T, and an operation unit for controlling the various functions described above with a keyboard, a mouse, and a dedicated console. The scanning electron microscope is the first scanning electron microscope equipped with a voice input (operation) device that can perform the same operation as a keyboard, mouse, and dedicated console by notifying various operation commands by voice. Or similar device.
装置において、各操作命令を音声で知らしめ実行すると
共に、次に行うべき操作を音声(返信の音声)または、
モニタ上へのメッセージで支援することが可能な操作ガ
イドを盛り込んだ音声入力(操作)装置を備えたことを
特徴とする走査形電子顕微鏡あるいは類似装置。2. The voice input (operation) described in claim 1.
In the device, each operation command is notified and executed by voice, and the next operation to be performed is voiced (voice of reply) or
A scanning electron microscope or similar device comprising a voice input (operation) device including an operation guide capable of supporting by a message on a monitor.
装置において、各種機能を音声入力で操作するにあた
り、操作したい単機能を操作者が自由に登録することが
可能であり(例:オートブライトネス&コントラストの
場合“ABC”と登録)、かつ各種操作の単機能の組合
わせによる複数機能を一度に実行する単語も登録可能
(例:加速電圧を印加した後に、オートブライトネス&
コントラストを実行する場合“HVABC”と登録)な
音声入力(操作)装置を備えたことを特徴とする走査形
電子顕微鏡あるいは類似装置。3. The voice input (operation) described in claim 1.
In the apparatus, when operating various functions by voice input, the operator can freely register a single function to be operated (for example, “ABC” is registered in the case of auto brightness & contrast), and Words that execute multiple functions at once by combining single functions can also be registered. (Example: After applying acceleration voltage, auto brightness &
A scanning electron microscope or a similar device, comprising a voice input (operation) device for performing contrast when registering as "HVABC".
装置において、従来からの操作部(キーボード・マウス
・専用操作卓)と本音声入力装置を併用して操作するこ
とも可能であり、かつ従来の操作部のみ、あるいは音声
入力のみと操作方法を選択することが可能な音声入力
(操作)装置を備えたことを特徴とする走査形電子顕微
鏡あるいは類似装置。4. The voice input (operation) described in claim 1.
In the device, it is also possible to operate both the conventional operation unit (keyboard, mouse, dedicated console) and this voice input device, and select only the conventional operation unit or only the voice input and the operation method. A scanning electron microscope or a similar device, comprising a voice input (operation) device capable of performing the operation.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26496699A JP2001084945A (en) | 1999-09-20 | 1999-09-20 | Voice input device in scanning electron microscope or similar apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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ID=17410690
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JP (1) | JP2001084945A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100858982B1 (en) | 2007-07-23 | 2008-09-17 | 서울산업대학교 산학협력단 | Scanning electron microscope having unification control function |
WO2022102140A1 (en) * | 2020-11-16 | 2022-05-19 | 株式会社日立ハイテク | Charged particle beam device and report creation method |
-
1999
- 1999-09-20 JP JP26496699A patent/JP2001084945A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2022102140A1 (en) * | 2020-11-16 | 2022-05-19 | 株式会社日立ハイテク | Charged particle beam device and report creation method |
JPWO2022102140A1 (en) * | 2020-11-16 | 2022-05-19 |
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