JP2001083056A - 伸び測定装置 - Google Patents
伸び測定装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】試験片の材質や形状に関わらず試験片を安定に
挟持する。 【解決手段】試験片１０を挟むための一対のアームの一
端はベース板１５にピン１９でその軸のまわりで自由に
回動できるように固定されている。アームの他端には試
験片１０に対する複数の接触面を持った右接触子１３と
左接触子１４が取り付けられており、またアームの中程
には左右のアームが互いに近づく方向の力を付勢するバ
ネ１７が設けられている。試験片の材質や形状に応じ
て、接触子を回動し、試験片に対する接触面を選択して
最適な挟持力を得る。
挟持する。 【解決手段】試験片１０を挟むための一対のアームの一
端はベース板１５にピン１９でその軸のまわりで自由に
回動できるように固定されている。アームの他端には試
験片１０に対する複数の接触面を持った右接触子１３と
左接触子１４が取り付けられており、またアームの中程
には左右のアームが互いに近づく方向の力を付勢するバ
ネ１７が設けられている。試験片の材質や形状に応じ
て、接触子を回動し、試験片に対する接触面を選択して
最適な挟持力を得る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、試験片に引張り荷
重をかけながら試験片の伸び量を求め荷重と伸び量との
関係を測定するための材料試験機に付属し、引張られた
結果生じる試験片の伸び量を測定する伸び測定装置に関
する。特にゴムなどの比較的伸び量の大きい材料、また
は、さまざまな断面形状を持つ試験片に適用することが
好適な伸び測定装置に関する。
重をかけながら試験片の伸び量を求め荷重と伸び量との
関係を測定するための材料試験機に付属し、引張られた
結果生じる試験片の伸び量を測定する伸び測定装置に関
する。特にゴムなどの比較的伸び量の大きい材料、また
は、さまざまな断面形状を持つ試験片に適用することが
好適な伸び測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】材料試験機はベースの上に立てられた２
本の支柱とその最上部で左右に渡されたクロスヨークか
らなるフレームの中に、支柱に内蔵されたネジ竿などに
よって上下動可能なクロスヘッドが設けられている。ベ
ース上に上方を向いた形で固定された下チャックとクロ
スヘッドにぶら下がる形で固定された上チャックに試験
片の両端を把持させる。この上下一対のチャックで試験
片を把持させたままクロスヘッドを上方に移動させるこ
とによって試験片を引張り、そのときの引張り荷重は上
チャックに取り付けられたロードセルによって測定さ
れ、試験片の伸びは試験片に取り付けられた伸び測定装
置によって測定される。
本の支柱とその最上部で左右に渡されたクロスヨークか
らなるフレームの中に、支柱に内蔵されたネジ竿などに
よって上下動可能なクロスヘッドが設けられている。ベ
ース上に上方を向いた形で固定された下チャックとクロ
スヘッドにぶら下がる形で固定された上チャックに試験
片の両端を把持させる。この上下一対のチャックで試験
片を把持させたままクロスヘッドを上方に移動させるこ
とによって試験片を引張り、そのときの引張り荷重は上
チャックに取り付けられたロードセルによって測定さ
れ、試験片の伸びは試験片に取り付けられた伸び測定装
置によって測定される。
【０００３】伸び測定装置にはいろいろな形式のものが
知られているが、伸び量が比較的大きな材料の場合に
は、所定位置で試験片を挟む二つのアームが試験片の伸
びに追随して移動するようにしておき、その移動量を測
定して試験片の伸びを測定する形式のものが知られてい
る。
知られているが、伸び量が比較的大きな材料の場合に
は、所定位置で試験片を挟む二つのアームが試験片の伸
びに追随して移動するようにしておき、その移動量を測
定して試験片の伸びを測定する形式のものが知られてい
る。
【０００４】試験片に伸びの荷重を与える上下のチャッ
クに把持された試験片には所定距離だけ離れた２つの位
置が伸び測定の基準位置として指定されている。伸びを
測定する場合には、そのうち上側の位置に伸び測定装置
の上アームを取り付け、下側の位置に下アームを取り付
ける。上アームと下アームはそれぞれがシャフトに沿っ
て非常に軽い力で上下動可能であるから、上側のチャッ
クが上方に移動して試験片が引張られて伸びるのに従っ
て、上アームと下アームも上方に移動していくが、これ
らのアームの移動距離の差が試験片の伸び量として計測
される。
クに把持された試験片には所定距離だけ離れた２つの位
置が伸び測定の基準位置として指定されている。伸びを
測定する場合には、そのうち上側の位置に伸び測定装置
の上アームを取り付け、下側の位置に下アームを取り付
ける。上アームと下アームはそれぞれがシャフトに沿っ
て非常に軽い力で上下動可能であるから、上側のチャッ
クが上方に移動して試験片が引張られて伸びるのに従っ
て、上アームと下アームも上方に移動していくが、これ
らのアームの移動距離の差が試験片の伸び量として計測
される。
【０００５】図５に従来の伸び計におけるアームの一例
を平面図で示した。一つのアームは試験片６０を挟む右
アーム６１と左アーム６２が一枚のベース板６５に取り
付けられている。左右のアームはピン６９を中心に自由
に回動できるようになっており、その左右のアームには
互いに引きつけるような力を付勢するバネ６７が渡され
ている。アームの先端には接触子６３および６４が設け
られており、試験片６０を挟むにあたって接触子６３と
６４がバネ６７の力によって試験片を挟み込み、試験片
の所定の位置にアームが固定される。接触子６３および
６４は円板形をしており、その中心にあるピンの周りで
アームに対して回転可能となっている。接触子６３等の
外周には試験片との間の滑り止めのためＯリングなどが
はめ込まれることもある。
を平面図で示した。一つのアームは試験片６０を挟む右
アーム６１と左アーム６２が一枚のベース板６５に取り
付けられている。左右のアームはピン６９を中心に自由
に回動できるようになっており、その左右のアームには
互いに引きつけるような力を付勢するバネ６７が渡され
ている。アームの先端には接触子６３および６４が設け
られており、試験片６０を挟むにあたって接触子６３と
６４がバネ６７の力によって試験片を挟み込み、試験片
の所定の位置にアームが固定される。接触子６３および
６４は円板形をしており、その中心にあるピンの周りで
アームに対して回転可能となっている。接触子６３等の
外周には試験片との間の滑り止めのためＯリングなどが
はめ込まれることもある。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記で説明したような
従来の接触子が円板形となっているのは、試験片に対す
る接触はなるべく点接触の方がよいと考えられていたた
めである。試験片は引張り荷重を受けて伸ばされていく
に従って変形していくので、接触子の接する試験片の部
分も変形していき接触子との接点も少し滑る状態とな
る。このとき接触子と試験片との間が点接触であれば滑
りの影響は少ない。
従来の接触子が円板形となっているのは、試験片に対す
る接触はなるべく点接触の方がよいと考えられていたた
めである。試験片は引張り荷重を受けて伸ばされていく
に従って変形していくので、接触子の接する試験片の部
分も変形していき接触子との接点も少し滑る状態とな
る。このとき接触子と試験片との間が点接触であれば滑
りの影響は少ない。
【０００７】しかしながら、試験片がゴムのように大き
く伸びる試料では、試験片が伸びるに従って試験片の幅
がかなり細くなるので、左右から試験片を挟んでいる接
触子が試験片の左右の中心からずれたり、試験片からは
ずれてしまうことがある。さらに、試験片の断面形状に
よっては円板形の接触子では安定に試験片を挟めない場
合がある。すなわち、断面形状が円形であるようなひも
状の試験片やチューブのような試験片を長手方向に試験
する場合、円板形の接触子によって試験片を挟むことは
かなり困難である。
く伸びる試料では、試験片が伸びるに従って試験片の幅
がかなり細くなるので、左右から試験片を挟んでいる接
触子が試験片の左右の中心からずれたり、試験片からは
ずれてしまうことがある。さらに、試験片の断面形状に
よっては円板形の接触子では安定に試験片を挟めない場
合がある。すなわち、断面形状が円形であるようなひも
状の試験片やチューブのような試験片を長手方向に試験
する場合、円板形の接触子によって試験片を挟むことは
かなり困難である。
【０００８】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであり、試験片の材質や形状に関わらず伸び測定
装置のアームが常に安定に試験片を挟持することがで
き、もって精度のよい測定ができる伸び測定装置を提供
することを目的とする。
たものであり、試験片の材質や形状に関わらず伸び測定
装置のアームが常に安定に試験片を挟持することがで
き、もって精度のよい測定ができる伸び測定装置を提供
することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するために、試験片の所定箇所を左右から挟持するア
ームを有し、引張り荷重をかけられた該試験片の伸びに
追随して移動する前記アームの試験片伸び方向の移動量
を測定することによって前記試験片の伸び量を測定する
伸び測定装置において、前記左右アームのそれぞれの先
端に、試験片に対して複数の接触面を有する板状の接触
子を備えることを特徴とする。
決するために、試験片の所定箇所を左右から挟持するア
ームを有し、引張り荷重をかけられた該試験片の伸びに
追随して移動する前記アームの試験片伸び方向の移動量
を測定することによって前記試験片の伸び量を測定する
伸び測定装置において、前記左右アームのそれぞれの先
端に、試験片に対して複数の接触面を有する板状の接触
子を備えることを特徴とする。
【００１０】本発明の伸び測定装置では、試験片を挟持
するアームの先端に設けられた接触子の形状が複数の接
触面を有するようにしている。この複数の接触面のそれ
ぞれを種々の試験片の種類や形状などに応じた形態にし
ておき、試験片に応じて接触面を変更することによって
最適な接触子の形態を選択するようにする。たとえば接
触面の一つを引張り方向とは垂直方向に細長くのびた直
線に近い長方形の面とすれば、その直線状の面で左右か
ら試験片を挟むから、試験片が伸びて変形した場合でも
最後まで安定して試験片を挟持していることができる。
さらに、たとえば接触面の他の一つを直線的な面の中央
に窪みを形成したものにすれば、試験片の断面形状が円
形である場合に、その窪みに試験片を挟めるから安定し
て試験片を挟持することができる。この際に、一つの接
触子がそれぞれ形状の異なる複数の接触面を有している
ので、試験片の性質に応じて接触面を変更することが容
易である。
するアームの先端に設けられた接触子の形状が複数の接
触面を有するようにしている。この複数の接触面のそれ
ぞれを種々の試験片の種類や形状などに応じた形態にし
ておき、試験片に応じて接触面を変更することによって
最適な接触子の形態を選択するようにする。たとえば接
触面の一つを引張り方向とは垂直方向に細長くのびた直
線に近い長方形の面とすれば、その直線状の面で左右か
ら試験片を挟むから、試験片が伸びて変形した場合でも
最後まで安定して試験片を挟持していることができる。
さらに、たとえば接触面の他の一つを直線的な面の中央
に窪みを形成したものにすれば、試験片の断面形状が円
形である場合に、その窪みに試験片を挟めるから安定し
て試験片を挟持することができる。この際に、一つの接
触子がそれぞれ形状の異なる複数の接触面を有している
ので、試験片の性質に応じて接触面を変更することが容
易である。
【００１１】
【発明の実施の形態】本発明の一実施の形態を図面を参
照しながら説明する。図１は本発明の伸び測定装置２
を、試験片に伸び荷重を与える材料試験機本体１と共に
示す図である。材料試験機本体１はベース３の上に立て
られた２本の支柱４とその最上部で左右に渡されたクロ
スヨーク５からなるフレームの中に、支柱４に内蔵され
たネジ竿などによって上下動可能なクロスヘッド６が設
けられている。ベース上に上方を向いた形で固定された
下チャック７とクロスヘッド６にぶら下がる形で固定さ
れた上チャック８に試験片１０の両端を把持させる。こ
の上下一対のチャックで試験片を把持させたままクロス
ヘッドを上方に移動させることによって試験片１０を引
張り、そのときの引張り荷重は上チャック８に取り付け
られたロードセル９によって測定され、試験片１０の伸
びは試験片１０に取り付けられた伸び測定装置２によっ
て測定される。
照しながら説明する。図１は本発明の伸び測定装置２
を、試験片に伸び荷重を与える材料試験機本体１と共に
示す図である。材料試験機本体１はベース３の上に立て
られた２本の支柱４とその最上部で左右に渡されたクロ
スヨーク５からなるフレームの中に、支柱４に内蔵され
たネジ竿などによって上下動可能なクロスヘッド６が設
けられている。ベース上に上方を向いた形で固定された
下チャック７とクロスヘッド６にぶら下がる形で固定さ
れた上チャック８に試験片１０の両端を把持させる。こ
の上下一対のチャックで試験片を把持させたままクロス
ヘッドを上方に移動させることによって試験片１０を引
張り、そのときの引張り荷重は上チャック８に取り付け
られたロードセル９によって測定され、試験片１０の伸
びは試験片１０に取り付けられた伸び測定装置２によっ
て測定される。
【００１２】図３に本発明の伸び測定装置２の概略を立
面図で示し、図２には本発明の要部がわかるように伸び
測定装置２のアームの部分を平面図で示している。はじ
めに図２を用いて伸び測定装置のアームを試験片に取り
付ける方法を説明する。図２（ａ）に示されるように、
試験片１０を挟むための一対のアーム（右アーム１１と
左アーム１２）の一端はベース板１５にピン１９でその
ピンの軸のまわりで自由に回動できるように固定されて
いる。アームの他端には試験片１０に接触させるための
右接触子１３と左接触子１４が取り付けられており、ま
たアームの中程には左右のアームが互いに近づく方向の
力を付勢するバネ１７が設けられている。レバー１６は
左右のアームを開閉操作するためのものであって、右ア
ームの一点で回動可能なようにピンで取り付けられ、左
アームに設けられた溝にそってレバー上に設けられたピ
ンが滑るようになっている。レバー１６を矢印Ａの方向
に倒すと左右アームが押し広げられて左右の接触子は試
験片１０から離れ、矢印Ｂの方向に倒すとバネ１７の力
によって左右のアームは閉じられて試験片１０は左右の
接触子１３と１４によって挟まれる。
面図で示し、図２には本発明の要部がわかるように伸び
測定装置２のアームの部分を平面図で示している。はじ
めに図２を用いて伸び測定装置のアームを試験片に取り
付ける方法を説明する。図２（ａ）に示されるように、
試験片１０を挟むための一対のアーム（右アーム１１と
左アーム１２）の一端はベース板１５にピン１９でその
ピンの軸のまわりで自由に回動できるように固定されて
いる。アームの他端には試験片１０に接触させるための
右接触子１３と左接触子１４が取り付けられており、ま
たアームの中程には左右のアームが互いに近づく方向の
力を付勢するバネ１７が設けられている。レバー１６は
左右のアームを開閉操作するためのものであって、右ア
ームの一点で回動可能なようにピンで取り付けられ、左
アームに設けられた溝にそってレバー上に設けられたピ
ンが滑るようになっている。レバー１６を矢印Ａの方向
に倒すと左右アームが押し広げられて左右の接触子は試
験片１０から離れ、矢印Ｂの方向に倒すとバネ１７の力
によって左右のアームは閉じられて試験片１０は左右の
接触子１３と１４によって挟まれる。
【００１３】接触子１３および１４とアーム１１および
１２とは、それぞれピン１８によって回転可能に結合さ
れている。接触子１３と１４は四角形の板によって形成
されており、試験片の種類によって４つの辺のいずれか
を試験片１０に接触させることができる。図２（ｂ）は
接触子１４の部分を矢印Ｃの方向から見た図である。ア
ーム１２の先端は接触子１４を乗せる部分が他の部分に
比べて厚さを薄くされて段加工されており、その上に接
触子１４がピン１８によって結合されている。このとき
接触子１４の一辺とアームの段部分には隙間２０が形成
されている。この隙間２０があることによって接触子１
４が試験片１０に接触したときに、接触子１４がピン１
８を中心に少し回転して試験片表面に接触子の一辺が沿
うように接触するとともに、接触子が試験片から離れて
いるときにアーム１２の長手方向と接触子１４の試験片
との接触面との位置関係（両者がほぼ平行になっている
こと）が大幅に狂うことなく取り扱いが容易になってい
る。ただしアームの段部分は必須のものではなく、単に
アームの上面に接触子を回転可能に固定しておくだけで
もよい。アームと接触子の連結はねじなどでかるく固定
してもよく、要はガタがなく、接触子が少し回転できる
ようになっていればよい。
１２とは、それぞれピン１８によって回転可能に結合さ
れている。接触子１３と１４は四角形の板によって形成
されており、試験片の種類によって４つの辺のいずれか
を試験片１０に接触させることができる。図２（ｂ）は
接触子１４の部分を矢印Ｃの方向から見た図である。ア
ーム１２の先端は接触子１４を乗せる部分が他の部分に
比べて厚さを薄くされて段加工されており、その上に接
触子１４がピン１８によって結合されている。このとき
接触子１４の一辺とアームの段部分には隙間２０が形成
されている。この隙間２０があることによって接触子１
４が試験片１０に接触したときに、接触子１４がピン１
８を中心に少し回転して試験片表面に接触子の一辺が沿
うように接触するとともに、接触子が試験片から離れて
いるときにアーム１２の長手方向と接触子１４の試験片
との接触面との位置関係（両者がほぼ平行になっている
こと）が大幅に狂うことなく取り扱いが容易になってい
る。ただしアームの段部分は必須のものではなく、単に
アームの上面に接触子を回転可能に固定しておくだけで
もよい。アームと接触子の連結はねじなどでかるく固定
してもよく、要はガタがなく、接触子が少し回転できる
ようになっていればよい。
【００１４】次に図３を用いて伸び測定の手順を説明す
る。伸び測定装置は試験片に設定された上側標線の移動
量を測定するための上アーム３１と下側標線の移動量を
測定する下アーム３２を有する。この二つのアームはそ
れぞれが図２を用いて上記で説明したような構造となっ
ている。二つのアームは一本のシャフト３３に対して自
由に上下できるように軸受３７を介して取り付けられて
いる。そしてそれぞれのアームの端に固定されたワイヤ
３８がプーリ３４に巻き付けられ、ワイヤ３８の他端に
はおもり３６がぶら下げられている。アーム部分とおも
り３６が重量的に釣り合っており、上下のアーム３１お
よび３２は非常に小さな力で上下に自由に動くことがで
きる。プーリ３４の回転量はプーリ３４の回転軸に取り
付けられたロータリーエンコーダ３５などによって測定
され、回転量とプーリ３４の直径値などからアーム３１
および３２の移動量が計算される。
る。伸び測定装置は試験片に設定された上側標線の移動
量を測定するための上アーム３１と下側標線の移動量を
測定する下アーム３２を有する。この二つのアームはそ
れぞれが図２を用いて上記で説明したような構造となっ
ている。二つのアームは一本のシャフト３３に対して自
由に上下できるように軸受３７を介して取り付けられて
いる。そしてそれぞれのアームの端に固定されたワイヤ
３８がプーリ３４に巻き付けられ、ワイヤ３８の他端に
はおもり３６がぶら下げられている。アーム部分とおも
り３６が重量的に釣り合っており、上下のアーム３１お
よび３２は非常に小さな力で上下に自由に動くことがで
きる。プーリ３４の回転量はプーリ３４の回転軸に取り
付けられたロータリーエンコーダ３５などによって測定
され、回転量とプーリ３４の直径値などからアーム３１
および３２の移動量が計算される。
【００１５】試験片には基準の長さを示す一組の標線
（仮想的なものでもよい）があり、その上側の標線の位
置に上アームが取り付けられ、下側の標線の位置に下ア
ームが取り付けられる。材料試験機本体１の作用によっ
て試験片１０を保持している上チャック８が上昇を始め
ると、試験片１０は引き伸ばされ、それにつれて上アー
ム３１と下アーム３２がそれぞれ上方に移動していく。
この移動量は上記したようにロータリーエンコーダ３５
によって測定され、上アーム３１の移動量と下アーム３
２の移動量の差が試験片１０の伸び量となる。このよう
にして得られた試験片１０の伸び量と材料試験機本体１
が有するロードセル９によって測定された荷重値に基づ
いて各種の材料試験演算が行われる。
（仮想的なものでもよい）があり、その上側の標線の位
置に上アームが取り付けられ、下側の標線の位置に下ア
ームが取り付けられる。材料試験機本体１の作用によっ
て試験片１０を保持している上チャック８が上昇を始め
ると、試験片１０は引き伸ばされ、それにつれて上アー
ム３１と下アーム３２がそれぞれ上方に移動していく。
この移動量は上記したようにロータリーエンコーダ３５
によって測定され、上アーム３１の移動量と下アーム３
２の移動量の差が試験片１０の伸び量となる。このよう
にして得られた試験片１０の伸び量と材料試験機本体１
が有するロードセル９によって測定された荷重値に基づ
いて各種の材料試験演算が行われる。
【００１６】図４は接触子の試験片に当接する面の形状
の例を示しており、図２の矢印Ｄ方向から見たものであ
って、図４のそれぞれの図の左端部分が試験片に接触す
る面の断面形状を示している。図４（ａ）は幅の狭い平
面で試験片に接触する形状である。（ｂ）は試験片への
接触断面がほぼ半円形の曲線としている。（ｃ）は接触
面の先端をとがらせている。（ｄ）は（ａ）と同じよう
に平面であるが、（ａ）よりも試験片に当たる幅を小さ
くしている。（ｅ）は接触面を小さくし、かつ、先端を
とがらせている。（ｆ）は試験片が円筒形またはチュー
ブ状のときに適した形状であり、（ｇ）に矢印Ｅ方向か
ら見た図を示すように、接触子の試験片に対する接触面
をくぼませて円筒形などの試験片をしっかりと挟み込む
ことができる形状としてある。一つの接触子の各辺に図
４に例示したようないくつかの形状を形成しておけば、
試験片の種類や形状に応じて接触子を回転させて辺を適
宜選択することで、その試験片に対する最適な挟持力を
持たせることができる。
の例を示しており、図２の矢印Ｄ方向から見たものであ
って、図４のそれぞれの図の左端部分が試験片に接触す
る面の断面形状を示している。図４（ａ）は幅の狭い平
面で試験片に接触する形状である。（ｂ）は試験片への
接触断面がほぼ半円形の曲線としている。（ｃ）は接触
面の先端をとがらせている。（ｄ）は（ａ）と同じよう
に平面であるが、（ａ）よりも試験片に当たる幅を小さ
くしている。（ｅ）は接触面を小さくし、かつ、先端を
とがらせている。（ｆ）は試験片が円筒形またはチュー
ブ状のときに適した形状であり、（ｇ）に矢印Ｅ方向か
ら見た図を示すように、接触子の試験片に対する接触面
をくぼませて円筒形などの試験片をしっかりと挟み込む
ことができる形状としてある。一つの接触子の各辺に図
４に例示したようないくつかの形状を形成しておけば、
試験片の種類や形状に応じて接触子を回転させて辺を適
宜選択することで、その試験片に対する最適な挟持力を
持たせることができる。
【００１７】接触子そのものはステンレスなどの金属で
作成されるので試験片には金属材料が接触することにな
る。そのまま試験片を挟持するようにしてもよいが、試
験片の種類などによっては、接触子の試験片に対する接
触面を包むようにビニルテープやセロハンテープなどを
貼り付けてもよい。こうすることによってより安定的に
試験片を挟持することができる。
作成されるので試験片には金属材料が接触することにな
る。そのまま試験片を挟持するようにしてもよいが、試
験片の種類などによっては、接触子の試験片に対する接
触面を包むようにビニルテープやセロハンテープなどを
貼り付けてもよい。こうすることによってより安定的に
試験片を挟持することができる。
【００１８】本発明の伸び測定装置を用いて板状のゴム
の伸び測定を行った結果の一例を示す。伸び計の標線間
距離は20mm、引張試験速度は100mm/minである。接触子
の接触面として図４（ｂ）の形状のものを用いて、同種
の試験片を４個測定し測定値の再現性を確認した。最大
点荷重は４個の測定値が84.7〜87.8Nの範囲におさま
り、最大点伸びの値は86.9〜88.8mmの範囲、破断点伸び
の値は87.2〜88.9mmの範囲におさまって、４回の測定で
よい再現性を示し、本発明の伸び計が効果的であること
が確認できた。
の伸び測定を行った結果の一例を示す。伸び計の標線間
距離は20mm、引張試験速度は100mm/minである。接触子
の接触面として図４（ｂ）の形状のものを用いて、同種
の試験片を４個測定し測定値の再現性を確認した。最大
点荷重は４個の測定値が84.7〜87.8Nの範囲におさま
り、最大点伸びの値は86.9〜88.8mmの範囲、破断点伸び
の値は87.2〜88.9mmの範囲におさまって、４回の測定で
よい再現性を示し、本発明の伸び計が効果的であること
が確認できた。
【００１９】
【発明の効果】本発明の伸び測定装置では、伸び計のア
ームに取り付けられる接触子が複数の接触面を有するの
で、試験片の性質や形状に応じて最適な接触面を選択す
ることができ、精度および再現性のよい伸び測定データ
を得ることができる。また、接触子の試験片に対する接
触面が試験片の伸び方向に対して直角方向の直線状であ
ると、ゴムなどの材料に対して安定してアームが試験片
を挟持することができた。試験片が紐状の材料に関して
は、接触面にその試験片がはまり込むような窪みを付け
ると効果的であった。
ームに取り付けられる接触子が複数の接触面を有するの
で、試験片の性質や形状に応じて最適な接触面を選択す
ることができ、精度および再現性のよい伸び測定データ
を得ることができる。また、接触子の試験片に対する接
触面が試験片の伸び方向に対して直角方向の直線状であ
ると、ゴムなどの材料に対して安定してアームが試験片
を挟持することができた。試験片が紐状の材料に関して
は、接触面にその試験片がはまり込むような窪みを付け
ると効果的であった。
【図１】本発明の伸び測定装置を材料試験機に組み合わ
せた状態を示す図である。
せた状態を示す図である。
【図２】本発明の伸び測定装置のアーム部を示す平面図
である。
である。
【図３】本発明の伸び測定装置を示す立面図である。
【図４】接触子の試験片に対する接触面の断面形状の例
を示す図である。
を示す図である。
【図５】従来の伸び測定装置のアーム部を示す平面図で
ある。
ある。
１…材料試験機本体 ２…伸び測定装置 ３…ベース ４…支柱 ５…クロスヨーク ６…クロスヘッド ７…下チャック ８…上チャック ９…ロードセル １０…試験片 １１…右アーム １２…左アーム １３…右接触子 １４…左接触子 １５…ベース板 １６…レバー １７…バネ １８…ピン １９…ピン
Claims (1)
- 【請求項１】 試験片の所定箇所を左右から挟持するア
ームを有し、引張り荷重をかけられた該試験片の伸びに
追随して移動する前記アームの試験片伸び方向の移動量
を測定することによって前記試験片の伸び量を測定する
伸び測定装置において、前記左右アームのそれぞれの先
端に、試験片に対して複数の接触面を有する板状の接触
子を備えることを特徴とする伸び測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25970399A JP3468173B2 (ja) | 1999-09-14 | 1999-09-14 | 伸び測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25970399A JP3468173B2 (ja) | 1999-09-14 | 1999-09-14 | 伸び測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001083056A true JP2001083056A (ja) | 2001-03-30 |
| JP3468173B2 JP3468173B2 (ja) | 2003-11-17 |
Family
ID=17337769
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25970399A Expired - Lifetime JP3468173B2 (ja) | 1999-09-14 | 1999-09-14 | 伸び測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3468173B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015052563A (ja) * | 2013-09-09 | 2015-03-19 | 株式会社島津製作所 | 変位計 |
| JP2018105627A (ja) * | 2016-12-22 | 2018-07-05 | 株式会社インテスコ | 標線間伸度測定装置及びこれを含んで構成される標線間伸度測定システム |
-
1999
- 1999-09-14 JP JP25970399A patent/JP3468173B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015052563A (ja) * | 2013-09-09 | 2015-03-19 | 株式会社島津製作所 | 変位計 |
| JP2018105627A (ja) * | 2016-12-22 | 2018-07-05 | 株式会社インテスコ | 標線間伸度測定装置及びこれを含んで構成される標線間伸度測定システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3468173B2 (ja) | 2003-11-17 |
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