JP2001079901A - 半導体封止装置及び半導体装置の製造方法 - Google Patents

半導体封止装置及び半導体装置の製造方法

Info

Publication number
JP2001079901A
JP2001079901A JP26035699A JP26035699A JP2001079901A JP 2001079901 A JP2001079901 A JP 2001079901A JP 26035699 A JP26035699 A JP 26035699A JP 26035699 A JP26035699 A JP 26035699A JP 2001079901 A JP2001079901 A JP 2001079901A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cavity
plate
semiconductor
sealing device
lower mold
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP26035699A
Other languages
English (en)
Inventor
Seiji Kato
清治 加藤
Hiromichi Yamada
弘道 山田
Tetsuya Hirose
哲也 広瀬
Toru Ueno
透 上野
Hiroki Saegusa
寛樹 三枝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd, Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd
Priority to JP26035699A priority Critical patent/JP2001079901A/ja
Publication of JP2001079901A publication Critical patent/JP2001079901A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】 モールド金型に設置するエジェクタピンを抹
消・削減することにより、高精度穴加工の減少等を実現
し得る半導体封止装置を得る。 【解決手段】 下型リテーナ1の上面内には下型キャビ
ティインサート4が組み込まれている。下型キャビティ
インサート4の底面内には下型キャビティ直下ブロック
5が配置されている。下型キャビティ直下ブロック5の
上面上には、弾性を有する下型薄板6が配置されてい
る。下型キャビティ2の底面は下型薄板6によって構成
されており、下型キャビティ2の側面は下型薄板6の上
方の下型キャビティインサート4の側壁によって構成さ
れている。バッキングプレート9内には通気管7が配置
されており、通気管7は下型リテーナ1内及び下型キャ
ビティ直下ブロック5内を通って、下型キャビティ2の
ほぼ中央下方において下型キャビティ直下ブロック5の
上面に到達している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体封止装置
及び半導体装置の製造方法に関するものであり、特に、
リードフレーム上に搭載された半導体素子をモールド樹
脂によって封止するために用いられるモールド金型の構
造に関する。
【0002】
【従来の技術】図15,16は、従来の半導体樹脂封止
装置の構成を示す側面図である。特に図15は封止動作
開始前の状態を表しており、図16は離型動作完了後の
状態を表している。下型キャビティブロック101は、
下型キャビティ102と、チャンバ103と、下型エジ
ェクタピン104と、プランジャ105とを有してい
る。また、上型キャビティブロック107は、上型キャ
ビティ108と、ランナ109と、上型エジェクタピン
110とを有している。下型エジェクタピン104及び
上型エジェクタピン110は、図示しないエジェクタ機
構にそれぞれ接続されている。また、封止対象たる半導
体素子113は、リードフレーム111上に搭載され、
ボンディングワイヤ112が接続されている。
【0003】以下、動作について説明する。まず、図1
5に示すように、リードフレーム111上に搭載された
半導体素子113を、下型キャビティ102及び上型キ
ャビティ108に位置合わせして配置するとともに、モ
ールド樹脂106をチャンバ103内に投入する。ま
た、図示しないヒータによって、下型キャビティブロッ
ク101及び上型キャビティブロック107を高温に保
持する。
【0004】次に、クランプ動作により、下型キャビテ
ィブロック101と上型キャビティブロック107とに
よってリードフレーム111を上下から挟み込む。次
に、プランジャ105を上昇させることにより、チャン
バ103内で溶融したモールド樹脂106をランナ10
9を介して下型キャビティ102及び上型キャビティ1
08内に導入する。一定時間が経過してモールド樹脂1
06が硬化すると、下型キャビティ102及び上型キャ
ビティ108内に導入されたモールド樹脂106によっ
て半導体素子113が封止され、半導体樹脂パッケージ
114が成形される。
【0005】次に、下型キャビティ102及び上型キャ
ビティ108からの半導体樹脂パッケージ114の離型
動作に移行する。図16に示すように、下型キャビティ
ブロック101及び上型キャビティブロック107を開
くとともに、図示しないエジェクタ機構によって、下型
エジェクタピン104及び上型エジェクタピン110を
それぞれ上方向及び下方向に駆動する。このように下型
エジェクタピン104及び上型エジェクタピン110の
駆動を併用するのは、モールド樹脂106の接着力によ
り、半導体樹脂パッケージ114と下型キャビティ10
2及び上型キャビティ108とが固着して外れにくくな
っているためである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の半導体
樹脂封止装置には以下のような問題がある。
【0007】図15に示すように、下型エジェクタピン
104及び上型エジェクタピン110やエジェクタ機構
の製作誤差の吸収等を目的として、下型エジェクタピン
104及び上型エジェクタピン110の先端は、それぞ
れ下型キャビティ102及び上型キャビティ108の底
面から突出している。そのため、図16に示すように、
半導体樹脂パッケージ114の表面には、下型エジェク
タピン104及び上型エジェクタピン110の突出する
先端に対応する箇所に凹部115が形成されてしまう。
その結果、凹部115が形成されている部分において樹
脂の厚みが薄くなり、特に薄型のパッケージを成形する
場合に、パッケージ内の半導体素子113やボンディン
グワイヤ112等がパッケージ表面から露出するおそれ
があるという問題がある。
【0008】また、近年における半導体装置のリードフ
レームのパッケージレイアウトは、より多くのパッケー
ジを効率良く製造するために多列化が進んでおり、その
ため、1フレーム当たりのエジェクタピンの本数も非常
に多くなっている。従来の半導体樹脂封止装置では、下
型エジェクタピン104及び上型エジェクタピン110
を貫通させるための穴を、その本数に応じて下型キャビ
ティブロック101内及び上型キャビティブロック10
7内に高精度に形成しなければならず、製作時間の長期
化やコストの上昇を招くという問題もある。
【0009】さらに、エジェクタピンの本数が増加する
と、それを戻すための圧縮バネの個数も増加するが、チ
ェイスブロック内には型締め時の型当たり補強のための
弾性ポストが設けられており、設置できる圧縮バネの個
数は限られている。しかも、型当たりの悪化やパッケー
ジのリード部分における薄バリの発生を考慮すると、エ
ジェクタピンや圧縮バネを増加するために弾性ポストの
レイアウトを変更することは望ましくない。従って、設
置する圧縮バネの個数の増加に伴って、モールド金型が
大型化するという問題もある。
【0010】本発明は以上のような問題を解決するため
に成されたものであり、モールド金型に設置するエジェ
クタピンを抹消あるいは削減することにより、高精度穴
加工の減少やモールド金型の小型化を実現し得る半導体
封止装置を得ること、及び該半導体封止装置を用いた半
導体装置の製造方法を得ることを目的とするものであ
る。
【0011】
【課題を解決するための手段】この発明のうち請求項1
に記載の半導体封止装置は、キャビティを有するモール
ド金型と、キャビティの底面を構成し、弾性を有する板
状体と、キャビティ内に成形された封止対象をキャビテ
ィから離型する方向に板状体を凸状に加圧変形させるた
めの加圧手段とを備えるものである。
【0012】また、この発明のうち請求項2に記載の半
導体封止装置は、請求項1に記載の半導体封止装置であ
って、加圧手段は、キャビティとは反対側の板状体の裏
面の一部に流体を吹き付けることにより板状体を変形さ
せることを特徴とするものである。
【0013】また、この発明のうち請求項3に記載の半
導体封止装置は、請求項2に記載の半導体封止装置であ
って、板状体は、キャビティの底面を構成する第1の薄
板と、キャビティとは反対側の第1の薄板の裏面に対向
して配置され、第1の薄板との間に密閉空間を形成し、
流体を密閉空間内に導入するための流体導入口を有する
第2の薄板とを有し、流体は、流体導入口及び密閉空間
をこの順に介して第1の薄板の裏面の一部に吹き付けら
れることを特徴とするものである。
【0014】また、この発明のうち請求項4に記載の半
導体封止装置は、請求項2に記載の半導体封止装置であ
って、加圧手段は、通気性を有し、板状体の裏面側から
板状体を支持する支持ブロックを有し、流体は支持ブロ
ックを介して板状体の裏面の一部に吹き付けられること
を特徴とするものである。
【0015】また、この発明のうち請求項5に記載の半
導体封止装置は、請求項2〜4のいずれか一つに記載の
半導体封止装置であって、キャビティ及び加圧手段は対
となって複数存在し、複数の加圧手段に流体を共通して
供給するための流体発生源をさらに備えることを特徴と
するものである。
【0016】また、この発明のうち請求項6に記載の半
導体封止装置は、請求項5に記載の半導体封止装置であ
って、板状体の裏面側から板状体を支持するブロックを
さらに備え、板状体は、複数のキャビティに渡ってブロ
ック上に全面形成されていることを特徴とするものであ
る。
【0017】また、この発明のうち請求項7に記載の半
導体封止装置は、請求項5又は6に記載の半導体封止装
置であって、板状体上に着脱自在に配置され、キャビテ
ィの側面を規定する部材をさらに備えることを特徴とす
るものである。
【0018】また、この発明のうち請求項8に記載の半
導体封止装置は、請求項2〜7のいずれか一つに記載の
半導体封止装置であって、キャビティ及び加圧手段が配
置されているチェイスブロックの裏面上に着脱自在に配
置され、流体を加圧手段に供給するための配管が配置さ
れた分配プレートをさらに備えることを特徴とするもの
である。
【0019】また、この発明のうち請求項9に記載の半
導体封止装置は、請求項1に記載の半導体封止装置であ
って、加圧手段は、キャビティとは反対側の板状体の裏
面の一部を押圧することにより板状体を変形させるエジ
ェクタ機構であることを特徴とするものである。
【0020】また、この発明のうち請求項10に記載の
半導体封止装置は、請求項1に記載の半導体封止装置で
あって、加圧手段は、キャビティとは反対側の板状体の
裏面の一部を振動的に押圧することにより板状体を繰り
返し変形させる振動発生機構であることを特徴とするも
のである。
【0021】また、この発明のうち請求項11に記載の
半導体封止装置は、請求項10に記載の半導体封止装置
であって、振動発生機構は、キャビティ及び加圧手段が
配置されているチェイスブロック内に配置されることを
特徴とするものである。
【0022】また、この発明のうち請求項12に記載の
半導体封止装置は、請求項1〜11のいずれか一つに記
載の半導体封止装置であって、板状体は、キャビティの
底面の一部のみを構成することを特徴とするものであ
る。
【0023】また、この発明のうち請求項13に記載の
半導体封止装置は、請求項1〜12のいずれか一つに記
載の半導体封止装置であって、封止対象は、リードフレ
ーム上に搭載された半導体素子であり、キャビティから
の封止対象の離型時に、封止対象をキャビティから離型
する方向にリードフレームを押圧するための押圧機構を
さらに備えることを特徴とするものである。
【0024】また、この発明のうち請求項14に記載の
半導体封止装置は、請求項13に記載の半導体封止装置
であって、押圧機構は、リードフレームに接触する押圧
ピンと、流体の圧力によって、リードフレームを押し上
げる方向に押圧ピンを駆動する押圧ピン駆動部とを有す
ることを特徴とするものである。
【0025】また、この発明のうち請求項15に記載の
半導体封止装置は、請求項1〜14のいずれか一つに記
載の半導体封止装置であって、キャビティの側面を規定
する側壁部を有し、キャビティからの封止対象の離型時
において、型締めにより圧縮された弾性体の反発力によ
って、キャビティ内に成形された封止対象をキャビティ
から離型する方向に封止対象を押圧するキャビティイン
サートをさらに備えることを特徴とするものである。
【0026】また、この発明のうち請求項16に記載の
半導体装置の製造方法は、請求項1に記載の半導体封止
装置を用いた半導体装置の製造方法であって、(a)キ
ャビティ内に封止対象を成形する工程と、(b)加圧手
段によって板状体を凸状に加圧変形することにより、キ
ャビティから封止対象を離型する工程とを備えるもので
ある。
【0027】
【発明の実施の形態】実施の形態1.図1,2は、本発
明の実施の形態1に係る半導体樹脂封止装置の構成を示
す側面図である。特に図1は封止動作開始前の状態を表
しており、図2は離型動作完了後の状態を表している。
下型リテーナ1の上面内には凹部が設けられており、そ
の凹部内には下型キャビティインサート4が組み込まれ
ている。下型キャビティインサート4の底面内には凹部
が設けられており、その凹部内には下型キャビティ直下
ブロック5が配置されている。下型キャビティ直下ブロ
ック5の上面上には、弾性を有する下型薄板6が載置あ
るいは周縁部のみ接着等により固定されている。下型薄
板6と下型キャビティ直下ブロック5との間の気密性を
確保するために、Oリング等のシール材を周縁部に設け
てもよい。下型キャビティ2の底面は下型薄板6によっ
て構成されており、下型キャビティ2の側面は下型薄板
6の上方の下型キャビティインサート4の側壁によって
構成されている。下型キャビティ直下ブロック5及び下
型薄板6の幅は、下型キャビティ2の底面の幅よりも若
干広くなっている。
【0028】下型リテーナ1の底面上にはバッキングプ
レート9が配置されている。バッキングプレート9内に
は通気管7が配置されており、通気管7は下型リテーナ
1内及び下型キャビティ直下ブロック5内を通って、下
型キャビティ2のほぼ中央下方において下型キャビティ
直下ブロック5の上面に到達している。また、通気管7
は下型チェイスブロックの外部に配置されたエアバルブ
8に繋がっている。下型リテーナ1の上面内には、モー
ルド樹脂11が投入されるチャンバ3が設けられてお
り、その下方にはプランジャ10が配置されている。
【0029】上型リテーナ12も下型リテーナ1とほぼ
同様の構成を有している。即ち上型リテーナ12は、下
型リテーナ1と同様の配置関係の、上型キャビティ13
と、上型キャビティインサート15と、上型キャビティ
直下ブロック16と、上型薄板17と、通気管18と、
エアバルブ19と、バッキングプレート20とを有して
いる。また、上型リテーナ12の上面内にはランナ14
が設けられている。また、封止対象たる半導体素子23
は、リードフレーム21上に搭載され、ボンディングワ
イヤ22が接続されている。
【0030】以下、動作について説明する。まず、図1
に示すように、リードフレーム21上に搭載された半導
体素子23を、下型キャビティ2及び上型キャビティ1
3に位置合わせして配置するとともに、モールド樹脂1
1をチャンバ3内に投入する。また、図示しないヒータ
によって、下型チェイスブロック及び上型チェイスブロ
ックを高温に保持する。
【0031】次に、クランプ動作により、下型チェイス
ブロックと上型チェイスブロックとによってリードフレ
ーム21を上下から挟み込んで型締めする。次に、プラ
ンジャ10を上昇させることにより、チャンバ3内で溶
融したモールド樹脂11をランナ14を介して下型キャ
ビティ2及び上型キャビティ13内に導入する。ここ
で、下型キャビティ直下ブロック5及び上型キャビティ
直下ブロック16は、下型キャビティ2及び上型キャビ
ティ13内に導入されたモールド樹脂11の圧力に対し
て、下型薄板6及び上型薄板17を裏面側から支持する
機能を有している。一定時間が経過してモールド樹脂1
1が硬化すると、下型キャビティ2及び上型キャビティ
13内に導入されたモールド樹脂11によって半導体素
子23が封止され、半導体樹脂パッケージ24が成形さ
れる。
【0032】次に、下型キャビティ2及び上型キャビテ
ィ13からの半導体樹脂パッケージ24の離型動作に移
行する。図2に示すように、下型チェイスブロックと上
型チェイスブロックとの型締めを解くとともに、エアバ
ルブ8,19を開くことにより、圧縮空気や高圧ガス等
の流体を通気管7,18を介して下型薄板6の裏面及び
上型薄板17の裏面にそれぞれ吹き付ける。下型薄板6
及び上型薄板17は吹き付けられた流体の圧力によって
押圧されてそれぞれ凸状に変形し、これにより、半導体
樹脂パッケージ24は下型キャビティ2及び上型キャビ
ティ13から離型される。
【0033】このように本実施の形態1に係る半導体樹
脂封止装置によれば、従来のようなエジェクタピンの駆
動による離型ではなく、キャビティの底面を構成する板
状体への流体の吹き付けによって板状体を凸状に変形さ
せ、これによりキャビティから封止対象を離型する。従
って、エジェクタピンが不要となるため、エジェクタピ
ンを貫通させるための穴をチェイスブロック内に形成す
る必要がなく、製作コストの低減及び装置の小型化を図
ることができる。
【0034】また、エジェクタピンの局所的押圧に起因
する製品の欠けや、部分的に樹脂厚が薄くなることに起
因する半導体素子やボンディングワイヤ等の内部実装物
の製品表面への露出の問題を回避することもできる。
【0035】さらに、エジェクタピンによる局所的な押
圧ではなく、製品への接触面積の大きい板状体の変形に
よってキャビティからの離型を行うため、特に薄型の製
品等に生じやすい反りの発生を抑制することもできる。
【0036】以下、本発明の実施の形態1に係る半導体
樹脂封止装置の変形例について述べる。以下の説明では
下型チェイスブロックの構成のみについて説明するが、
上型チェイスブロックについても同様の構成に変形する
ことは可能である。
【0037】図3は、本発明の実施の形態1に係る半導
体樹脂封止装置の第1の変形例を示す側面図である。図
1,2に示した下型薄板6を、下型キャビティ2の底面
を構成する上側薄板25と、上側薄板25の裏面に対向
して配置された下側薄板26とによって構成したもので
ある。上側薄板25と下側薄板26との間には、周囲を
気密にすることにより密閉空間が形成されている。ま
た、下側薄板26には、通気管7から供給される流体を
上記密閉空間内に導入するための流体導入口が形成され
ている。流体は、流体導入口及び密閉空間をこの順に介
して上側薄板25の裏面に吹き付けられる。上側薄板2
5及び下側薄板26の材質としては、弾性を有し、樹脂
成形温度を満たす耐熱性と、モールド樹脂11の流動に
よる耐摩耗性を備えた材質(例えば金属や樹脂等)を採
用することができる。また、上側薄板25と下側薄板2
6とで異なる材質を採用してもよい。例えば、下型キャ
ビティ2の底面を構成する上側薄板25には弾性及び耐
摩耗性に優れた材質を採用し、通気管7から流体が導入
される下側薄板26には耐熱性及び流体の気密性に優れ
た材質を採用するのが望ましい。このように本実施の形
態1に係る半導体樹脂封止装置の第1の変形例によれ
ば、図1,2に示した半導体樹脂封止装置と比較して、
流体の気密性を高めることができる。
【0038】図4は、本発明の実施の形態1に係る半導
体樹脂封止装置の第2の変形例を示す側面図である。図
1,2に示した下型キャビティ直下ブロック5の中央部
を、通気性金属等の下型キャビティ直下ブロック27で
構成したものである。下型キャビティ直下ブロック27
は、下型キャビティ直下ブロック5と同様に、下型キャ
ビティ2内に導入されたモールド樹脂11の圧力に対し
て、下型薄板6を裏面側から支持する機能を有してい
る。通気管7は、下型キャビティ直下ブロック27の底
面直下まで設けられており、通気管7から供給される流
体は、下型キャビティ直下ブロック27を介して下型薄
板6の裏面に吹き付けられる。このように本実施の形態
1に係る半導体樹脂封止装置の第2の変形例によれば、
図1,2に示したように下型薄板6の裏面が通気管7の
開口部分に接触することはないため、モールド樹脂11
の圧力によって製品表面の上記開口部分に対応する箇所
に凸部が形成されることを回避することができる。ま
た、下型キャビティ直下ブロック27の内部には、通気
管7を通すための穴を形成する必要がないため、作製も
容易である。
【0039】図5は、本発明の実施の形態1に係る半導
体樹脂封止装置の第3の変形例を示す側面図である。図
1,2に示した通気管7及びエアバルブ8の代わりに、
エジェクタピン29、圧縮バネ30、押え板31、エジ
ェクタプレート32、及びエジェクタロッド33を有す
る周知のエジェクタ機構を下型チェイスブロック内に配
置した。そして、図1,2に示した下型キャビティ直下
ブロック5の中央部を、エジェクタピン29に繋がる押
圧ピース28によって構成したものである。下型薄板6
は、下型キャビティ2からの半導体樹脂パッケージ24
の離型動作時において、エジェクタ機構によって下型薄
板6の裏面を押圧することにより凸状に変形される。こ
のように本実施の形態1に係る半導体樹脂封止装置の第
3の変形例によれば、上記第2の変形例により得られる
効果と同様の効果が得られることに加えて、下型チェイ
スブロック内への通気管7等の配管経路の配置を省略す
ることもできる。しかも、押圧ピース28を組み込むた
めに下型キャビティ直下ブロック5に設ける穴は、従来
の半導体樹脂封止装置における下型エジェクタピン10
4を配置するために設ける穴と比べて直径が大きく、そ
れ程精度も必要とされない。そのため、下型エジェクタ
ピン104用の穴よりも低コストで加工することができ
る。
【0040】図6は、本発明の実施の形態1に係る半導
体樹脂封止装置の第4の変形例を示す側面図である。図
1,2に示した通気管7及びエアバルブ8の代わりに、
例えば圧電素子等の振動発生装置35を下型チェイスブ
ロック内に配置した。そして、図1,2に示した下型キ
ャビティ直下ブロック5の中央部を、振動発生装置35
に繋がる振動伝達ピース34によって構成したものであ
る。下型キャビティ2からの半導体樹脂パッケージ24
の離型動作時において、下型薄板6には、振動発生装置
35から振動伝達ピース34を介して上下方向の振動が
繰り返し与えられる。このように本実施の形態1に係る
半導体樹脂封止装置の第4の変形例によれば、上記第3
の変形例により得られる効果と同様の効果が得られる。
【0041】図7は、本発明の実施の形態1に係る半導
体樹脂封止装置の第5の変形例を示す側面図である。下
型チェイスブロックが複数の下型キャビティ2を有する
場合に、複数の下型キャビティ2に渡って下型キャビテ
ィ直下ブロック5上に全面形成された下型薄板36を設
けた。そして、複数の下型キャビティ2の各底面を構成
する下型薄板36に対して流体を共通に供給するための
通気管37を設けたものである。下型キャビティ2の側
面を規定する下型キャビティインサート4は、下型薄板
36上に着脱自在に設けられている。また、図8に示す
下型薄板38のように、半導体樹脂パッケージ24の表
面をつや消し加工するための梨地面39を、下型キャビ
ティ2の底面形状に合わせて複数配列してもよい。この
場合、複数の梨地面39同士のピッチは、複数の下型キ
ャビティ2同士のピッチに等しくなる。但し、梨地面3
9の大きさは、キャビティ2の底面形状に対して小さく
ても大きくてもよい。また、複数のキャビティ2にまた
がるような大きさでもよい。さらに、下型薄板36,3
8と下型キャビティ直下ブロック5との間の気密性を確
保するために、下型キャビティ2の下方以外の下型薄板
36,38の周縁部分を下型キャビティ直下ブロック5
の上面に接着等により固定してしてもよい。このように
本実施の形態1に係る半導体樹脂封止装置の第5の変形
例によれば、下型キャビティ2からの離型動作を複数の
半導体樹脂パッケージ24に関して同時に実行すること
ができるため、生産性の向上を図ることができる。ま
た、下型キャビティインサート4は下型薄板36から着
脱自在であるため、下型キャビティインサート4のみを
交換することで、サイズや形状の異なる複数種類の半導
体樹脂パッケージ24の製造が可能となる。
【0042】図9は、本発明の実施の形態1に係る半導
体樹脂封止装置の第6の変形例を示す側面図である。図
1,2に示した下型薄板6は下型キャビティ直下ブロッ
ク5の上面上に全面配置されており、下型キャビティ2
の底面は全面的に下型薄板6によって構成されていた。
これに対し第6の変形例では、図1,2に示した下型薄
板6の代わりに、下型キャビティ2の底面の一部(中央
部分が望ましい)のみを構成する下型薄板60を設けた
ものである。図9は、第6の変形例を図6に示した第4
の変形例に対して適用した場合の例を示しているが、こ
の場合は、振動伝達ピース34の上方以外の下型薄板6
0の周縁部分を、下型キャビティ直下ブロック5の上面
に接着剤等で固定してもよい。このように本実施の形態
1に係る半導体樹脂封止装置の第6の変形例によれば、
下型キャビティ2からの半導体樹脂パッケージ24の離
型動作時において、押圧に伴う下型薄板60の上下方向
への変位量を小さくすることができるため、制御性を向
上することができる。
【0043】また、バッキングプレート9,20を下型
リテーナ1及び上型リテーナ12から着脱自在としても
よい。これにより、サイズ等が異なる複数種類のパッケ
ージの成形において、下型リテーナ1及び上型リテーナ
12を取り替えることによりバッキングプレート9,2
0を共用することができ、段取り替え性の向上を図るこ
とができる。但し、バッキングプレート9,20からの
通気管7,18の取り出し位置を所定箇所に固定すると
ともに、下型リテーナ1及び上型リテーナ12の底面に
おける通気管7,18の取り入れ位置を上記所定箇所に
対応させて配置する必要がある。
【0044】実施の形態2.図10は、本発明の実施の
形態2に係る半導体樹脂封止装置の構成を示す側面図で
ある。上記実施の形態1に係る半導体樹脂封止装置を基
礎として、下型キャビティ2からの半導体樹脂パッケー
ジ24の離型時にリードフレーム21を押圧するための
押圧機構を、下型チェイスブロック内に備えたものであ
る。押圧機構としては、例えば図5に示した周知のエジ
ェクタ機構を採用することができる。
【0045】下型キャビティ2からの半導体樹脂パッケ
ージ24の離型時において、押圧機構によってフレーム
ノックアウトピン50を上方向に駆動する。これによ
り、リードフレーム21はフレームノックアウトピン5
0によって押し上げられ、下型薄板6による離型動作の
補助となる。また、離型した半導体樹脂パッケージ24
を図示しない搬送装置によって搬送するために、フレー
ムノックアウトピン50の駆動によりリードフレーム2
1を持ち上げて、搬送装置の爪をリードフレーム21の
下にもぐり込ませることもできる。
【0046】図11は、本発明の実施の形態2に係る半
導体樹脂封止装置の変形例を示す側面図である。上記押
圧機構として、リードフレーム21に接触するエア駆動
ピン40と、下型キャビティインサート4の底面に固定
された一端を有する圧縮バネ41と、気密性を確保する
ためのOリング42と、例えば圧縮空気等の流体を導く
ためのノズル43及びエアバルブ44とを有するエア駆
動機構を採用したものである。下型キャビティ2からの
半導体樹脂パッケージ24の離型時において、エアバル
ブ44を開くことにより、エア駆動ピン40はノズル4
3から供給される流体の圧力によって上昇し、下型キャ
ビティインサート4の上面から先端が突出する。離型動
作完了後、エアバルブ44を閉めることにより、圧縮バ
ネ41の反発力によってエア駆動ピン40は元の位置に
戻る。
【0047】このように本実施の形態2に係る半導体樹
脂封止装置によれば、下型キャビティ2からの半導体樹
脂パッケージ24の離型時において、下型薄板6によっ
て半導体樹脂パッケージ24の底面を押し上げるととも
に、フレームノックアウトピン50あるいはエア駆動ピ
ン40によってリードフレーム21を押し上げるため、
半導体樹脂パッケージ24の離型が容易となる。
【0048】実施の形態3.図12〜14は、本発明の
実施の形態3に係る半導体樹脂封止装置の構成を示す側
面図である。特に図12は封止動作開始前の状態を表し
ており、図13は型締め動作完了後の状態を表してお
り、図14は離型動作完了後の状態を表している。下型
キャビティインサート45の高さは、下型リテーナ1の
上面内に設けられた凹部の深さよりも低くなっている。
また、下型リテーナ1内には、下型キャビティインサー
ト45の底面に固着された一端と、下型リテーナ1の底
面に固着された他端とを有する圧縮バネ46が配置され
ている。そして、封止動作開始前の状態において、下型
キャビティインサート45は圧縮バネ46によってフロ
ーティングに保持されている。本実施の形態3に係る半
導体樹脂封止装置のその他の構成は、図1,2に示した
上記実施の形態1に係る半導体樹脂封止装置の構成と同
様である。
【0049】以下、動作について説明する。まず、図1
2に示すように、リードフレーム21上に搭載された半
導体素子23を、下型キャビティ2及び上型キャビティ
13に位置合わせして配置するとともに、モールド樹脂
11をチャンバ3内に投入する。また、図示しないヒー
タによって、下型チェイスブロック及び上型チェイスブ
ロックを高温に保持する。
【0050】次に、下型チェイスブロックと上型チェイ
スブロックとによってリードフレーム21を上下から挟
み込んで型締めをする。このとき、図13に示すよう
に、下型キャビティインサート45はリードフレーム2
1を介して上型キャビティインサート15によって押し
下げられる。ここで、下型キャビティインサート45の
底面と下型リテーナ1との間に若干の隙間が残るように
下型キャビティインサート45の高さを設計しておくこ
とにより、上型キャビティインサート15からの型締め
力の全てを、下型キャビティインサート45、下型薄板
6、及び下型キャビティ直下ブロック5に与えることが
でき、下型キャビティインサート45と下型薄板6との
間の隙間を完全に無くすことができる。次に、プランジ
ャ10を上昇させることにより、チャンバ3内で溶融し
たモールド樹脂11をランナ14を介して下型キャビテ
ィ2及び上型キャビティ13内に導入する。一定時間が
経過してモールド樹脂11が硬化すると、下型キャビテ
ィ2及び上型キャビティ13内に導入されたモールド樹
脂11によって半導体素子23が封止され、半導体樹脂
パッケージ24が成形される。
【0051】次に、下型キャビティ2及び上型キャビテ
ィ13からの半導体樹脂パッケージ24の離型動作に移
行する。上型キャビティ13からの半導体樹脂パッケー
ジ24の離型は、上記実施の形態1と同様の方法により
行うことができる。即ち、下型チェイスブロックと上型
チェイスブロックとの型締めを解くとともに、エアバル
ブ19を開くことにより、圧縮空気等の流体を通気管1
8を介して上型薄板17の裏面に吹き付ける。上型薄板
17は吹き付けられた流体の圧力によって押圧されて凸
状に変形し、これにより、上型キャビティ13から半導
体樹脂パッケージ24を離型することができる。
【0052】図14に示すように、下型チェイスブロッ
クと上型チェイスブロックとの型締めを解くと、型締め
時に圧縮された圧縮バネ46の反発力によって、下型キ
ャビティインサート45の上面がリードフレーム21を
上方向に押し上げる。また、下型キャビティインサート
45の側壁部が半導体樹脂パッケージ24の側面部分を
押し上げる。これにより、半導体樹脂パッケージ24の
底面部分が下型キャビティ2から離型される。次に、エ
アバルブ8を開くことにより、圧縮空気等の流体を通気
管7を介して下型薄板6の裏面に吹き付ける。下型薄板
6は吹き付けられた流体の圧力によって押圧されて凸状
に変形し、半導体樹脂パッケージ24の底面が下型薄板
6によって押し上げられる。これにより、半導体樹脂パ
ッケージ24の側面部分が下型キャビティ2から離型さ
れる。
【0053】このように本実施の形態3に係る半導体樹
脂封止装置によれば、下型キャビティ2からの半導体樹
脂パッケージ24の離型時において、半導体樹脂パッケ
ージ24は、下型薄板6の変形によって底面部分を押し
上げられるとともに、下型キャビティインサート45の
変位によってリードフレーム21及び側面部分を押し上
げられる。従って、上記実施の形態1,2に係る半導体
樹脂封止装置と比較すると、下型キャビティ2からの半
導体樹脂パッケージ24の離型が容易となる。
【0054】
【発明の効果】この発明のうち請求項1に係るものによ
れば、加圧手段によって板状体を凸状に加圧変形するこ
とにより、キャビティから封止対象を離型することがで
きる。従って、エジェクタピンが不要となるため、製作
コストの低減及び装置の小型化を図ることができる。ま
た、エジェクタピンの局所的加圧に起因する封止対象の
欠けや、部分的に封止材の厚さが薄くなることに起因す
る内部実装物の封止対象表面への露出の問題を回避する
こともできる。さらに、エジェクタピンによる局所的な
加圧ではなく、封止対象への接触面積の大きい板状体の
変形によってキャビティからの離型を行うため、特に薄
型の封止対象等に生じやすい反りの発生を抑制すること
もできる。
【0055】また、この発明のうち請求項2に係るもの
によれば、裏面の一部に吹き付けられた流体の圧力によ
って、板状体を凸状に加圧変形することができる。
【0056】また、この発明のうち請求項3に係るもの
によれば、第1の薄板と第2の薄板との二層構造によ
り、流体の気密性を高めることができる。しかも、目的
・機能に応じて、第1の薄板と第2の薄板とで異なる材
質を選択することができる。
【0057】また、この発明のうち請求項4に係るもの
によれば、板状体の裏面は支持ブロックの上面に均一に
接触するため、封止材の圧力によって封止対象の表面に
凹凸が形成されることを回避することができる。
【0058】また、この発明のうち請求項5に係るもの
によれば、複数の封止対象を同時にキャビティから離型
することができる。
【0059】また、この発明のうち請求項6に係るもの
によれば、ブロック上に板状体を全面形成するため、板
状体の表面に段差が生じることはない。従って、製造工
程を複雑化することなく、板状体上に他の構造物を形成
することができる。
【0060】また、この発明のうち請求項7に係るもの
によれば、キャビティの底面を構成する板状体は共用
し、キャビティの側面を規定する部材のみを交換するこ
とで、サイズや形状の異なる複数種類の半導体素子の封
止が簡易となる。
【0061】また、この発明のうち請求項8に係るもの
によれば、分配プレートは共用してチェイスブロックの
みを交換することで、サイズ等が異なる複数種類の半導
体素子の封止が簡易となる。
【0062】また、この発明のうち請求項9に係るもの
によれば、キャビティや加圧手段が配置されているチェ
イスブロック内への配管経路の配置を省略することがで
きるため、請求項2に係る半導体封止装置と比較して構
造を簡略化することができる。
【0063】また、この発明のうち請求項10に係るも
のによれば、キャビティや加圧手段が配置されているチ
ェイスブロック内への配管経路の配置を省略することが
できるため、請求項2に係る半導体封止装置と比較して
構造を簡略化することができる。
【0064】また、この発明のうち請求項11に係るも
のによれば、振動発生機構はチェイスブロック内に配置
されているため、異なる種類の半導体素子の封止を実行
する際に、その都度振動発生機構のレイアウトを変更し
直すという煩雑な作業を省略することができる。
【0065】また、この発明のうち請求項12に係るも
のによれば、キャビティの底面の全面を板状体によって
構成する場合と比較すると、加圧に伴う板状体の変位量
を小さくすることができるため、制御性を向上すること
ができる。
【0066】また、この発明のうち請求項13に係るも
のによれば、キャビティからの封止対象の離型時におい
て、板状体によって封止対象を加圧するとともに、押圧
機構によってリードフレームを押圧できるため、キャビ
ティからの封止対象の離型が容易となる。
【0067】また、この発明のうち請求項14に係るも
のによれば、流体の圧力によって押圧ピンを駆動するこ
とによってリードフレームを押し上げることができ、封
止対象をキャビティから容易に離型することが可能とな
る。
【0068】また、この発明のうち請求項15に係るも
のによれば、キャビティからの封止対象の離型時におい
て、封止対象は、加圧手段によって加圧されるとともに
キャビティインサートによっても押圧される。従って、
キャビティからの封止対象の離型が容易となる。
【0069】また、この発明のうち請求項16に係るも
のによれば、エジェクタピンが不要となるため、製作コ
ストの低減及び装置の小型化を図ることができる。ま
た、エジェクタピンの局所的加圧に起因する封止対象の
欠けや、部分的に封止材の厚さが薄くなることに起因す
る内部実装物の封止対象表面への露出の問題を回避する
こともできる。さらに、エジェクタピンによる局所的な
加圧ではなく、封止対象への接触面積の大きい板状体の
変形によってキャビティからの離型を行うため、特に薄
型の封止対象等に生じやすい反りの発生を抑制すること
もできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の形態1に係る半導体樹脂封止
装置の構成を示す側面図である。
【図2】 本発明の実施の形態1に係る半導体樹脂封止
装置の構成を示す側面図である。
【図3】 本発明の実施の形態1に係る半導体樹脂封止
装置の第1の変形例を示す側面図である。
【図4】 本発明の実施の形態1に係る半導体樹脂封止
装置の第2の変形例を示す側面図である。
【図5】 本発明の実施の形態1に係る半導体樹脂封止
装置の第3の変形例を示す側面図である。
【図6】 本発明の実施の形態1に係る半導体樹脂封止
装置の第4の変形例を示す側面図である。
【図7】 本発明の実施の形態1に係る半導体樹脂封止
装置の第5の変形例を示す側面図である。
【図8】 下型薄板の構成を示す上面図である。
【図9】 本発明の実施の形態1に係る半導体樹脂封止
装置の第6の変形例を示す側面図である。
【図10】 本発明の実施の形態2に係る半導体樹脂封
止装置の構成を示す側面図である。
【図11】 本発明の実施の形態2に係る半導体樹脂封
止装置の変形例を示す側面図である。
【図12】 本発明の実施の形態3に係る半導体樹脂封
止装置の構成を示す側面図である。
【図13】 本発明の実施の形態3に係る半導体樹脂封
止装置の構成を示す側面図である。
【図14】 本発明の実施の形態3に係る半導体樹脂封
止装置の構成を示す側面図である。
【図15】 従来の半導体樹脂封止装置の構成を示す側
面図である。
【図16】 従来の半導体樹脂封止装置の構成を示す側
面図である。
【符号の説明】
1 下型リテーナ、2 下型キャビティ、4,45,6
1 下型キャビティインサート、5,27 下型キャビ
ティ直下ブロック、6,36,38,60 下型薄板、
7,18,37 通気管、9,20 バッキングプレー
ト、11 モールド樹脂、21 リードフレーム、22
ボンディングワイヤ、23 半導体素子、24 半導
体樹脂パッケージ、25 上側薄板、26 下側薄板、
28 押圧ピース、34 振動伝達ピース、35 振動
発生装置、50 フレームノックアウトピン、40 エ
ア駆動ピン、46 圧縮バネ。
フロントページの続き (72)発明者 山田 弘道 東京都千代田区大手町二丁目6番2号 三 菱電機エンジニアリング株式会社内 (72)発明者 広瀬 哲也 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 上野 透 東京都千代田区大手町二丁目6番2号 三 菱電機エンジニアリング株式会社内 (72)発明者 三枝 寛樹 東京都千代田区大手町二丁目6番2号 三 菱電機エンジニアリング株式会社内 Fターム(参考) 4F202 AH37 AM35 CA12 CB01 CB17 CK13 CK89 CM02 CM16 CM90 CQ03 4F206 AH37 AM35 JA02 JB17 JM06 JN27 JN41 JP03 JQ81 5F061 AA01 BA01 CA21 DA01 DA06 DA15

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 キャビティを有するモールド金型と、 前記キャビティの底面を構成し、弾性を有する板状体
    と、 前記キャビティ内に成形された封止対象を前記キャビテ
    ィから離型する方向に前記板状体を凸状に加圧変形させ
    るための加圧手段とを備える半導体封止装置。
  2. 【請求項2】 前記加圧手段は、前記キャビティとは反
    対側の前記板状体の裏面の一部に流体を吹き付けること
    により前記板状体を変形させる、請求項1に記載の半導
    体封止装置。
  3. 【請求項3】 前記板状体は、 前記キャビティの前記底面を構成する第1の薄板と、 前記キャビティとは反対側の前記第1の薄板の裏面に対
    向して配置され、前記第1の薄板との間に密閉空間を形
    成し、前記流体を前記密閉空間内に導入するための流体
    導入口を有する第2の薄板とを有し、 前記流体は、前記流体導入口及び前記密閉空間をこの順
    に介して前記第1の薄板の前記裏面の前記一部に吹き付
    けられる、請求項2に記載の半導体封止装置。
  4. 【請求項4】 前記加圧手段は、通気性を有し、前記板
    状体の前記裏面側から前記板状体を支持する支持ブロッ
    クを有し、 前記流体は前記支持ブロックを介して前記板状体の前記
    裏面の前記一部に吹き付けられる、請求項2に記載の半
    導体封止装置。
  5. 【請求項5】 前記キャビティ及び前記加圧手段は対と
    なって複数存在し、 複数の前記加圧手段に前記流体を共通して供給するため
    の流体発生源をさらに備える、請求項2〜4のいずれか
    一つに記載の半導体封止装置。
  6. 【請求項6】 前記板状体の前記裏面側から前記板状体
    を支持するブロックをさらに備え、 前記板状体は、複数の前記キャビティに渡って前記ブロ
    ック上に全面形成されていることを特徴とする、請求項
    5に記載の半導体封止装置。
  7. 【請求項7】 前記板状体上に着脱自在に配置され、前
    記キャビティの側面を規定する部材をさらに備える、請
    求項5又は6に記載の半導体封止装置。
  8. 【請求項8】 前記キャビティ及び前記加圧手段が配置
    されているチェイスブロックの裏面上に着脱自在に配置
    され、前記流体を前記加圧手段に供給するための配管が
    配置された分配プレートをさらに備える、請求項2〜7
    のいずれか一つに記載の半導体封止装置。
  9. 【請求項9】 前記加圧手段は、前記キャビティとは反
    対側の前記板状体の裏面の一部を押圧することにより前
    記板状体を変形させるエジェクタ機構である、請求項1
    に記載の半導体封止装置。
  10. 【請求項10】 前記加圧手段は、前記キャビティとは
    反対側の前記板状体の裏面の一部を振動的に押圧するこ
    とにより前記板状体を繰り返し変形させる振動発生機構
    である、請求項1に記載の半導体封止装置。
  11. 【請求項11】 前記振動発生機構は、前記キャビティ
    及び前記加圧手段が配置されているチェイスブロック内
    に配置される、請求項10に記載の半導体封止装置。
  12. 【請求項12】 前記板状体は、前記キャビティの前記
    底面の一部のみを構成する、請求項1〜11のいずれか
    一つに記載の半導体封止装置。
  13. 【請求項13】 前記封止対象は、リードフレーム上に
    搭載された半導体素子であり、 前記キャビティからの前記封止対象の離型時に、前記封
    止対象を前記キャビティから離型する方向に前記リード
    フレームを押圧するための押圧機構をさらに備える、請
    求項1〜12のいずれか一つに記載の半導体封止装置。
  14. 【請求項14】 前記押圧機構は、 前記リードフレームに接触する押圧ピンと、 流体の圧力によって、前記リードフレームを押し上げる
    方向に前記押圧ピンを駆動する押圧ピン駆動部とを有す
    る、請求項13に記載の半導体封止装置。
  15. 【請求項15】 前記キャビティの側面を規定する側壁
    部を有し、前記キャビティからの前記封止対象の離型時
    において、型締めにより圧縮された弾性体の反発力によ
    って、前記キャビティ内に成形された封止対象を前記キ
    ャビティから離型する方向に前記封止対象を押圧するキ
    ャビティインサートをさらに備える、請求項1〜14の
    いずれか一つに記載の半導体封止装置。
  16. 【請求項16】 請求項1に記載の半導体封止装置を用
    いた半導体装置の製造方法であって、 (a)前記キャビティ内に前記封止対象を成形する工程
    と、 (b)前記加圧手段によって前記板状体を凸状に加圧変
    形することにより、前記キャビティから封止対象を離型
    する工程とを備える、半導体装置の製造方法。
JP26035699A 1999-09-14 1999-09-14 半導体封止装置及び半導体装置の製造方法 Pending JP2001079901A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26035699A JP2001079901A (ja) 1999-09-14 1999-09-14 半導体封止装置及び半導体装置の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26035699A JP2001079901A (ja) 1999-09-14 1999-09-14 半導体封止装置及び半導体装置の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001079901A true JP2001079901A (ja) 2001-03-27

Family

ID=17346824

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26035699A Pending JP2001079901A (ja) 1999-09-14 1999-09-14 半導体封止装置及び半導体装置の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001079901A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6530764B2 (en) * 2000-07-25 2003-03-11 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Mold for resin-sealing of semiconductor devices
JP2006168256A (ja) * 2004-12-17 2006-06-29 Towa Corp 樹脂成形型及び樹脂成形方法
JP2014172287A (ja) * 2013-03-08 2014-09-22 Apic Yamada Corp 樹脂モールド金型、樹脂モールド装置、樹脂モールド方法、および樹脂モールド金型の評価方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6530764B2 (en) * 2000-07-25 2003-03-11 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Mold for resin-sealing of semiconductor devices
JP2006168256A (ja) * 2004-12-17 2006-06-29 Towa Corp 樹脂成形型及び樹脂成形方法
JP2014172287A (ja) * 2013-03-08 2014-09-22 Apic Yamada Corp 樹脂モールド金型、樹脂モールド装置、樹脂モールド方法、および樹脂モールド金型の評価方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0933808B1 (en) Resin sealing method and apparatus for a semiconductor device
WO2017038254A1 (ja) 樹脂成形装置及び樹脂成形品製造方法
JP2009051107A (ja) 光素子の樹脂封止成形方法及び装置
CN109020173A (zh) 一种正压曲面玻璃成型模具及其加热设备
KR100682179B1 (ko) 수지 성형용 형 및 수지 성형 방법
TWI456640B (zh) 半導體晶片之壓縮成形方法及壓縮成形模具
JP5419070B2 (ja) 樹脂封止装置
JP6557428B2 (ja) 樹脂封止装置及び樹脂封止方法
US20190109021A1 (en) Resin-sealing device and resin-sealing method
JP2001079901A (ja) 半導体封止装置及び半導体装置の製造方法
JP2005191064A (ja) 樹脂封止方法および樹脂封止装置
JP5870385B2 (ja) 成形金型および樹脂封止装置
WO2018139631A1 (ja) 樹脂封止装置及び樹脂封止方法
CN209259924U (zh) 一种正压曲面玻璃成型模具及其加热设备
JP2000280298A (ja) 半導体素子用樹脂封止金型及び半導体素子の樹脂封止方法
JP2005324341A (ja) 樹脂モールド方法および樹脂モールド装置
JP5694486B2 (ja) 樹脂封止装置
JP5771865B2 (ja) モールド金型
WO2006129343A1 (ja) 半導体装置の製造装置及び半導体装置の製造方法
JP2009090503A (ja) 電子部品の樹脂封止成形用金型
TW201831301A (zh) 樹脂成形裝置,樹脂成形方法,及用於製造樹脂成形產品的方法
TWI716820B (zh) 樹脂成形裝置以及樹脂成形品的製造方法
JP2006073600A5 (ja)
JP4373059B2 (ja) 電子部品の樹脂封止成形方法
JP2010143160A (ja) スプリングユニット及び金型