JP2001077172A - Substrate processing apparatus, substrate transfer member, and manufacture of electronic component - Google Patents

Substrate processing apparatus, substrate transfer member, and manufacture of electronic component

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JP2001077172A
JP2001077172A JP24795499A JP24795499A JP2001077172A JP 2001077172 A JP2001077172 A JP 2001077172A JP 24795499 A JP24795499 A JP 24795499A JP 24795499 A JP24795499 A JP 24795499A JP 2001077172 A JP2001077172 A JP 2001077172A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate processing apparatus, a substrate transfer member and a method for processing a substrate, which can significantly reduce the volume of a carry-in/carry-out chamber, to improve the production unit time by reduction of suction time and can omit complex air-conditioning adjustments. SOLUTION: A transfer mechanism for transferring a substrate 2 from a carry-in/carry-out chamber 5 to a robot chamber 4 is provided on a side of the chamber 4, the substrate 2 is provided between the chambers 5 and 4, so as to sequentially lowered to a prescribed position through a take-out port 31 which is openable by a gate valve 32 and be taken out one by one by the transfer mechanism from a nearly fixed horizontal position and be sent to the robot chamber 4.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、半導体装
置、液晶表示装置、イメージセンサー等、基板(ウエ
ハ)上に薄膜形成やパターン形成等の各種処理工程を実
施することによって製造される電子部品の製造工程にお
いて適用されるものであり、特に、数百mm径や数百m
m角以上の大型基板を用いてクリーンルーム内での処理
を行う場合に適した基板の処理装置、基板の搬送体、並
びに電子部品の製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic component such as a semiconductor device, a liquid crystal display device, an image sensor and the like manufactured by performing various processing steps such as thin film formation and pattern formation on a substrate (wafer). Is applied in the manufacturing process of, especially, several hundred mm in diameter and several hundred m.
The present invention relates to a substrate processing apparatus, a substrate transporter, and a method for manufacturing an electronic component, which are suitable for performing processing in a clean room using a large substrate having a size of m square or more.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、半導体装置、液晶表示装置、イ
メージセンサー等の電子部品は、基板(ウエハ)上に薄
膜形成やパターン形成等の各種処理工程を実施すること
によって製造される。このような各種電子部品の製造工
程においては、部品を一括して効率良く製造できるよう
に、同一の基板上に多数個の製品を同時に製造したり、
あるいは、大型の表示装置などを製造するために、大型
の基板が用いられる。
2. Description of the Related Art Generally, electronic components such as semiconductor devices, liquid crystal display devices, and image sensors are manufactured by performing various processing steps such as thin film formation and pattern formation on a substrate (wafer). In the manufacturing process of such various electronic components, a large number of products are simultaneously manufactured on the same substrate so that the components can be efficiently manufactured at once.
Alternatively, a large-sized substrate is used for manufacturing a large-sized display device or the like.

【0003】上述のような電子部品の製造工程では、被
処理体である基板に対して、CVD法やスパッタ法によ
る薄膜形成工程、熱拡散法による不純物濃度領域の形成
工程、各種薄膜のパターン形成工程等、通常多くの処理
工程を有し、これら各種工程において処理装置が多数使
用されている。そして、同一基板で多数個の製品を同時
に製造する場合には更なる取れ数の増加を図ったり、大
型の表示装置などを製造する場合にはさらなる部品の大
型化を目指すため、各種生産技術や処理装置が、益々大
きな基板サイズでも製造できるように年々あるいは日
々、開発され、実用化されている。
In the above-described electronic component manufacturing process, a thin film forming process by a CVD method or a sputtering method, an impurity concentration region forming process by a thermal diffusion method, a pattern forming of various thin films are performed on a substrate to be processed. There are usually many processing steps such as steps, and many processing apparatuses are used in these various steps. To manufacture a large number of products simultaneously on the same substrate, we need to increase the number of products to be manufactured.To manufacture large-sized display devices, we aim to further increase the size of parts. Processing devices are being developed and put into practical use year by year or every day so that even larger substrate sizes can be manufactured.

【0004】また、これらの電子部品ではμmオーダー
の微細パターンが数万個以上形成されており、しかも、
先の基板の大型化と同様に更なる高精細化も追求されて
いる。このため、パターン形成工程中において、目視で
きないような異物やガスが浮遊している場合、これらの
異物およびガスがパターン形成中の化学反応の欠陥原因
となる。したがって、従来の製造設備においては、通
常、処理装置、検査装置、搬送装置などからなる工程全
体を、例えばクラス1や10などの清浄度を有すクリー
ンルームの中に納め、更に各種の空調管理をすることに
よって、工程中の異物やガスを排除している。
Further, in these electronic parts, tens of thousands of fine patterns on the order of μm are formed.
Similar to the enlargement of the substrate, higher definition is being pursued. For this reason, if foreign substances or gases that cannot be seen are floating during the pattern forming process, these foreign substances and gases cause defects in the chemical reaction during pattern formation. Therefore, in the conventional manufacturing equipment, usually, the entire process including the processing device, the inspection device, and the transport device is housed in a clean room having a cleanliness of, for example, class 1 or 10, and various air conditioning management is performed. By doing so, foreign substances and gases in the process are eliminated.

【0005】しかしながら、クリーンルームの設備は、
その清浄度が増すにつれて極端に建設コストが増す。ま
た、特に大型基板を扱う大工場を新規に立ち上げる場合
等では、クリーンルームの設備に関するトラブルが頻繁
に発生しがちであり、要所での清浄度の管理や維持が難
しいため、建設コスト以外にランニングコストも増す。
さらに、工程内の作業者に対しては、防塵服などの防塵
策の管理が増すため、作業者自身の作業環境も悪化する
こととなる。
[0005] However, clean room equipment is
Extremely high construction costs as its cleanliness increases. Also, especially when starting up a large factory that handles large substrates, troubles related to clean room equipment tend to occur frequently, and it is difficult to control and maintain cleanliness at key points. Running costs also increase.
Further, for workers in the process, management of dust-proofing measures such as dust-proof clothes is increased, so that the working environment of the workers themselves is deteriorated.

【0006】これらの問題を改善する策としては、例え
ば、特開平6−196545号公報、特開平7−161
797号公報、特開平7−297257号公報などに記
載の処理装置がある。これら公報はいずれも、基板を多
数納めたカセットと着脱可能なカバー部とを一式とする
ポット(またはポッド、カセット収容容器)を、各種処
理装置間においてクリーンな基板搬送を行うために使用
する。これにより、ライン全体の高清浄度スペースを低
減することができ、設備コストの改善が図れる。
[0006] As measures for resolving these problems, for example, Japanese Patent Application Laid-Open Nos. Hei 6-196545 and Hei 7-161
There is a processing apparatus described in JP-A-797-797, JP-A-7-297257 and the like. In each of these publications, a pot (or a pod or a cassette accommodating container), which includes a cassette containing a large number of substrates and a detachable cover unit, is used to carry clean substrates between various processing apparatuses. As a result, the high cleanliness space of the entire line can be reduced, and the equipment cost can be improved.

【0007】ここで、特開平7−161797号公報に
おいて開示されている処理装置の構造を説明する。
Here, the structure of the processing apparatus disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-161797 will be described.

【0008】上記処理装置は、図12および図13に示
すように、プロセスチューブ101、ロードロック室1
02、搬出入室103、カセット収容容器用ポート10
4、および保持体収容室105によって主要部が構成さ
れている。上記プロセスチューブ101は、被処理体で
あるウエハWに所定の処理を施す処理室である。上記ロ
ードロック室102は、上記プロセスチューブ101に
対して、多数枚(例えば100枚)のウエハWを収納し
た保持体としてのウエハボート106を挿脱するための
室であり、そのための移送機構107を備えている。上
記搬出入室103は、上記ロードロック室102に対し
てウエハWを搬出入するための室であり、その内部にカ
セット収容容器用ポート104が形成されている。ま
た、上記保持体収容室105は、ロードロック室102
と搬出入室103との間に配置されるウエハボート10
6を収容するための室である。
[0008] As shown in FIGS. 12 and 13, the processing apparatus includes a process tube 101, a load lock chamber 1.
02, loading / unloading chamber 103, cassette container port 10
The main part is constituted by 4 and the holder housing chamber 105. The process tube 101 is a processing chamber for performing a predetermined process on a wafer W as an object to be processed. The load lock chamber 102 is a chamber for inserting / removing a wafer boat 106 as a holder holding a large number (for example, 100) of wafers W with respect to the process tube 101, and a transfer mechanism 107 therefor. It has. The loading / unloading chamber 103 is a chamber for loading / unloading the wafer W into / from the load lock chamber 102, and has a cassette housing container port 104 formed therein. Further, the holding body storage chamber 105 is provided in the load lock chamber 102.
Boat 10 arranged between the loading and unloading chamber 103
It is a room for accommodating 6.

【0009】上記搬出入室103はHEPA(High Effi
ciency Particulate Air) フィルタ108を介して導入
される清浄気体により大気雰囲気下に置かれている。こ
の搬出入室103内には、上記カセット収容容器用ポー
ト104が配設されており、該カセット収容容器用ポー
ト104には、複数枚(例えば25枚)のウエハWを収
納するウエハキャリア(カセット)Cが内部に納められ
たカセット収容容器109が設置される。
The loading / unloading chamber 103 is a HEPA (High Efficiency).
(Ciency Particulate Air) It is placed under an atmospheric atmosphere by a clean gas introduced through a filter 108. In the loading / unloading chamber 103, the cassette housing container port 104 is disposed, and the cassette housing container port 104 has a wafer carrier (cassette) for accommodating a plurality of (for example, 25) wafers W. A cassette housing container 109 in which C is accommodated is installed.

【0010】ここで、図14に示すように、カセット収
容容器109は1つのカセットCを収容し得る程度の大
きさであり、下部が開口された容器本体110と、この
開口部を密閉可能に閉塞する容器底部111とにより構
成されている。また、上記カセット収容容器109は内
部にカセットCを収容した状態で、大気圧に対して陽圧
になされた高い清浄度の清浄空気或いは不活性ガスが充
填されているか、もしくは真空引きされている。このカ
セット収容容器109としては、例えば市販のSMIF
−POD(商標)が用いられる。
Here, as shown in FIG. 14, the cassette accommodating container 109 is large enough to accommodate one cassette C, and has a container main body 110 having an open lower portion, and an opening capable of sealing the opening. The container bottom 111 is closed. Further, the cassette accommodating container 109 accommodates the cassette C therein and is filled with high-purity clean air or an inert gas which is made positive with respect to the atmospheric pressure, or is evacuated. . As the cassette container 109, for example, a commercially available SMIF
-POD (trademark) is used.

【0011】一方、上記カセット収容容器用ポート10
4は、搬出入室103の側壁をこの内部へ凹部状にへこ
ませるようにして成形されており、容器本体110を実
際に載置するポート載置台112には、容器本体110
のフランジ部110Aの内径よりも大きく、且つその外
径よりも小さくなされたカセット挿通孔113が形成さ
れている。この挿通孔113には、周縁部をその外方へ
下向き傾斜させてテーパ状に形成することによりポート
載置台112より下方向に着脱可能とした容器底部載置
台114が設けられる。
On the other hand, the port 10 for the cassette housing container
4 is formed so that the side wall of the carry-in / out chamber 103 is recessed into the inside of the carry-in / out chamber 103, and the port mounting table 112 on which the container main body 110 is actually mounted is provided with the container main body 110.
A cassette insertion hole 113 which is larger than the inner diameter of the flange 110A and smaller than the outer diameter of the flange 110A is formed. The insertion hole 113 is provided with a container bottom mounting table 114 which is detachable downward from the port mounting table 112 by forming a peripheral edge of the container into a tapered shape by inclining outwardly downward.

【0012】また、この容器底部載置台114は、図1
2にも示すように、ボールネジ部115によって垂直方
向(上下方向)へ移動可能になされた垂直移動アーム1
16の先端にボールネジ部115から大きく突出するよ
うに取り付けられている。上記ボールネジ部115は、
容器底部載置台114のほぼ側方に配置されており、容
器本体110を上方に残して容器底部111とこの上面
に載置されているカセットCとのみを沈み込ませて搬出
入室103内に取り込むようになっている。
Further, the container bottom mounting table 114 is provided in the container shown in FIG.
As shown in FIG. 2, a vertical movement arm 1 which can be moved vertically (up and down) by a ball screw portion 115.
It is attached to the tip of 16 so as to protrude greatly from the ball screw portion 115. The ball screw 115 is
It is arranged substantially on the side of the container bottom mounting table 114, and only the container bottom 111 and the cassette C mounted on the upper surface thereof are sunk while leaving the container main body 110 above, and are taken into the carry-in / out chamber 103. It has become.

【0013】そして図15に示すように、上記ボールネ
ジ部115には、上記容器底部載置台114の下方に位
置させて水平方向へ起倒して屈曲可能になされた多関節
アームよりなる水平移動アーム117が設けられてお
り、その先端には常に水平状態になるように遊嵌状態で
首振り可能になされたアーム補助部材117Aが設けら
れ、その両端には開閉可能になされた爪部118が設け
られている。水平移動アーム117を屈曲させた状態で
この爪部118を開閉作動することにより沈み込んだ上
記カセットCの側壁を把持し得るようになっている。ま
た図12に示すように、カセット収容容器用ポート10
4の入口には、この部分を開閉して作業エリアとの連通
・遮断を行うためのシャッタ機構119が設けられてい
る。
As shown in FIG. 15, the ball screw portion 115 has a horizontally movable arm 117 composed of a multi-joint arm which is positioned below the container bottom mounting table 114 and can be bent up and down in the horizontal direction. An arm assisting member 117A is provided at the tip of the arm assisting member 117A so as to be able to swing in a loose fit state so as to always be in a horizontal state, and claw portions 118 which can be opened and closed are provided at both ends thereof. ing. By opening and closing the claw portion 118 with the horizontal moving arm 117 bent, the side wall of the submerged cassette C can be gripped. Further, as shown in FIG.
A shutter mechanism 119 is provided at the entrance of the shutter 4 to open and close this part to communicate with and block the work area.

【0014】また、搬出入室103内には、カセット収
容容器用ポート104の直ぐ後側位置にキャリアトラン
スファ120がエレベータ121を介して昇降可能に設
置されている。このキャリアトランスファ120の後側
にトランスファステージ122が設置されると共に、こ
のトランスファステージ122の上方にキャリアストッ
クステージ123が設けられている。このキャリアスト
ックステージ123は、上記カセット収容容器用ポート
104からキャリアトランスファ120により搬送され
てくるウエハキャリアCをそれぞれ横向きで、例えば2
列4段に保管できる複数の棚にて形成されている。
In the loading / unloading chamber 103, a carrier transfer 120 is installed via the elevator 121 at a position immediately behind the cassette housing port 104 via an elevator 121. A transfer stage 122 is provided behind the carrier transfer 120, and a carrier stock stage 123 is provided above the transfer stage 122. The carrier stock stage 123 holds the wafer carriers C transported by the carrier transfer 120 from the cassette accommodating container port 104 in a horizontal direction, for example, by 2
It is formed of a plurality of shelves that can be stored in four rows.

【0015】また、搬出入室103の保持体収容室10
5側にはウエハトランスファ124が移載用エレベータ
125によって昇降可能に支持されて設置されている。
このウエハトランスファ124は、昇降しながら、トラ
ンスファステージ122上のウエハキャリアC内のウエ
ハWを1枚ずつ取り出して、保持体収容室105内に収
容されたウエハボート106に収納保持させたり、その
逆にウエハボート106からウエハWをトランスファス
テージ122上のウエハキャリアC内に戻す働きをなす
ように構成されている。
Further, the holding body accommodating chamber 10 of the carry-in / out chamber 103 is provided.
On the fifth side, a wafer transfer 124 is supported by a transfer elevator 125 so as to be movable up and down.
The wafer transfer 124 takes out the wafers W in the wafer carrier C on the transfer stage 122 one by one while moving up and down, and stores the wafers W in the wafer boat 106 housed in the holder housing chamber 105, or vice versa. The wafer W is configured to return the wafer W from the wafer boat 106 to the inside of the wafer carrier C on the transfer stage 122.

【0016】更に、上記キャリアストックステージ12
3に並設させて内部HEPAフィルタ126が設けられ
ており、この上方から導入した清浄度の高い清浄空気を
水平方向及び下方向へ順次屈曲させて上記ポート用HE
PAフィルタ127を通過させた後、カセット収容容器
用ポート104を通ってその下方へ流し、室内へ循環さ
せてワンスルーで排気するようになっている。
Further, the carrier stock stage 12
3, an internal HEPA filter 126 is provided, and the high-purity clean air introduced from above is bent sequentially in the horizontal direction and the downward direction to form the port HEPA filter 126.
After passing through the PA filter 127, it flows downward through the cassette accommodating container port 104, circulates indoors, and is exhausted one-through.

【0017】また、特開平6−196545号公報に記
載の装置は、図16(a)および(b)に示すように、
処理装置128が搬出入室129を備えている。上記装
置においては、複数のウエハ130を収納するウエハカ
セット131をボックスドア132上に載置し、ボック
ス(ボックストップまたはポッド)133内に収容した
コンテナ134が用いられる。ここでは、特開平7−1
61797と異なり搬出入室129内には、ウエハ13
0を収納したウエハーカセット131と、これを載置し
たボックスドア132とのみが持ち込まれる。
The device described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-196545 discloses a device as shown in FIGS. 16 (a) and 16 (b).
The processing device 128 includes a carry-in / out room 129. In the above apparatus, a container 134 is used in which a wafer cassette 131 containing a plurality of wafers 130 is placed on a box door 132 and is housed in a box (box top or pod) 133. Here, JP-A-7-17-1
Unlike the 61797, the wafer 13 is contained in the loading / unloading chamber 129.
0 and a box door 132 on which the wafer cassette 131 is placed.

【0018】ただし、上記特開平6−196545号公
報に記載の装置の場合も、特開平7−161797号公
報の装置と同様に、搬出入室129内において、ウエハ
カセット131の昇降部の側部に配置される昇降機構1
35、処理室内へ搬入されるウエハカセット131を載
置する処理前ステージ136、ウエハカセット131ご
と該処理前ステージ136へ搬送するマニプレータアー
ム137などの搬送機構が配置されている。
However, in the case of the apparatus described in JP-A-6-196545, similar to the apparatus described in JP-A-7-161797, the side of the elevating part of the wafer cassette 131 is located in the loading / unloading chamber 129. Lifting mechanism 1 to be arranged
35, a transfer mechanism such as a pre-processing stage 136 on which the wafer cassette 131 loaded into the processing chamber is mounted, and a manipulator arm 137 for transferring the wafer cassette 131 to the pre-processing stage 136 are arranged.

【0019】また、特開平7−297257号公報に記
載の装置は、カセット収容容器に収められた状態のカセ
ットCが容器保管ステージに複数個保管され、該カセッ
トCは保持体収容室内に搬入される時点でカセット収容
容器から取り出される。すなわち、カセットCを搬出入
室においてカセット収容容器から取り出して、キャリア
ストックステージに保管する特開平7−161797号
公報に記載の装置と異なり、その分、高清浄度を要する
空間の小スペース化が図れる。
In the apparatus described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-297257, a plurality of cassettes C stored in cassette storage containers are stored in a container storage stage, and the cassettes C are carried into a holder storage chamber. At some point, it is removed from the cassette housing container. That is, unlike the apparatus described in JP-A-7-161797, in which the cassette C is taken out of the cassette accommodating container in the loading / unloading room and stored in the carrier stock stage, the space requiring high cleanliness can be reduced accordingly. .

【0020】また、カセット内のおける基板の支持につ
いては、例えば上記基板を液晶表示装置に使用する場合
では、全面の支持を行うと基板における傷発生と発塵な
どの問題が生じるため、基板底面の対向する2辺におい
てその端部の10数mm程度を受ける形状のものが多
い。
Further, with respect to the support of the substrate in the cassette, for example, when the above-mentioned substrate is used for a liquid crystal display device, if the entire surface is supported, problems such as generation of scratches and dust on the substrate occur. In many cases, the two sides facing each other receive a shape of about 10 mm or more at the end.

【0021】[0021]

【発明が解決しようとする課題】前述したように、半導
体装置、液晶表示装置などの各種電子部品の製造工程に
おいては、製造基板の大型化が進展しており、しかも、
工程数や処理装置数が多いため、大規模な工場施設が必
要になってきている。このような施設においては、建設
や保守、維持費などを抑え、装置のメーカーから工場ま
でのトラックなどの搬送を容易にし、製造や工程管理な
どの作業性を図るためには、各処理や移載装置あるいは
付帯設備などの小型化を図る必要がある。
As described above, in the manufacturing process of various electronic parts such as semiconductor devices and liquid crystal display devices, the size of manufacturing substrates has been increasing, and moreover,
Due to the large number of processes and the number of processing devices, large-scale factory facilities are required. In such a facility, to reduce construction, maintenance, and maintenance costs, to facilitate transport of trucks and other equipment from the manufacturer of the equipment to the factory, and to improve workability in manufacturing and process management, various processes and transfers are required. It is necessary to reduce the size of the mounting device or auxiliary equipment.

【0022】ところが、特開平7−161797号公報
あるいは特開平7−297257号公報に記載の従来装
置では、特に、ロードロック室等に対して安定した清浄
度の下で基板を受け渡すための予備室として搬出入室が
設けられており、該搬出入室のスペースは、カセット収
容容器の外周容積の数十倍以上(図面面内方向に20倍
以上、図面奥行き方向に2〜3倍以上)といった極めて
大きなスペースが必要となる。これは、特に以下の〜
の課題に起因するものである。 搬出入室内に複数のカセットおよびカセット収容容
器を納めている。 カセットおよびカセット収容容器の移載・昇降機構
が、搬出入室内に納められている。 カセットまたはカセット収容容器の昇降機構を、搬
出入室内においてカセットまたはカセット収容容器の側
部に形成している。このような稼動・摺動部を搬出入室
に設けると、発塵などにより製品の品質や歩留りが低下
し易くなるといった問題が生じる。また、特に液晶表示
装置では数百mm角以上の大型基板を用いる場合が多
く、この場合、カセットなどを含めた重量が大きくなる
ため図12に示すような片持ち構造で摺動部を設ける
と、大きなモーメントに耐えるよう、垂直移動アーム1
16、水平移動アーム117、ボールネジ115やその
軸受けが一回り大きくなったり、寿命が短くなるなどの
問題がある。また、軸受けが搬出入室内にあると、メン
テナンスの作業時間も増し、装置の稼働率が下がる虞も
ある。 例えば、特開平7−161797号公報に記載の装
置のように、搬出入室内の清浄度を安定化するため、複
数台(上記公報では3台)のHEPAを配置し、その流
量や位置を調整するような複雑な空調調整が必要とな
る。これにより、搬出入室内においてもHEPAの配置
スペースが必要となる。 特に液晶表示装置では数百mm角以上の大型の基板
が用いられ、その厚みも0.5〜1.1mmと薄いもの
なので、従来のように、前述の2辺支持構造では10〜
数十mm程度の反りが発生する。このため、基板受渡し
時などの干渉や割れを防止するため、基板間の間隔を大
きく取る必要があるが、カセットやカセット収容容器が
大きくなり、重量も増すため、項〜項の課題を相乗
的に大きくする。
However, in the conventional apparatus described in JP-A-7-161797 or JP-A-7-297257, in particular, a backup device for transferring a substrate to a load lock chamber or the like under a stable cleanliness. A loading / unloading room is provided as a room, and the space of the loading / unloading room is extremely tens of times or more (20 times or more in the drawing plane direction and 2 to 3 times or more in the drawing depth direction) the outer peripheral volume of the cassette container. Large space is required. This is especially true for
This is due to the problem described above. A plurality of cassettes and cassette storage containers are housed in the loading / unloading chamber. A cassette and a mechanism for transferring and elevating the cassette accommodating container are housed in the loading / unloading chamber. A mechanism for elevating the cassette or the cassette accommodating container is formed on the side of the cassette or the cassette accommodating container in the loading / unloading chamber. If such an operation / sliding portion is provided in the carry-in / out room, there arises a problem that the quality of the product and the yield are easily reduced due to dust generation or the like. In addition, especially in the case of a liquid crystal display device, a large substrate having a size of several hundred mm square or more is often used. In this case, the weight including the cassette and the like becomes large. Vertical movement arm 1 to withstand large moments
16, the horizontal moving arm 117, the ball screw 115, and the bearing thereof become one size larger and the life is shortened. Further, when the bearing is in the carry-in / out room, the maintenance work time is increased, and the operation rate of the apparatus may be reduced. For example, as in the device described in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 7-161797, a plurality of (three in the above-mentioned publications) HEPAs are arranged to stabilize the cleanliness of the loading / unloading room, and the flow rate and position thereof are adjusted. This requires complicated air conditioning adjustment. Accordingly, a space for arranging the HEPA is required even in the loading / unloading room. In particular, a large-sized substrate of several hundred mm square or more is used in a liquid crystal display device, and its thickness is as thin as 0.5 to 1.1 mm.
Warpage of about several tens mm occurs. For this reason, it is necessary to increase the distance between the substrates in order to prevent interference and cracking during the transfer of the substrates, but the cassette and the cassette accommodating container become large and the weight increases, so that the problems of the items (1) to (4) are synergistically performed. To be larger.

【0023】このように、搬出入室の容積が大きくなる
と、該搬出入室の真空引き時間が増大して生産のタクト
が落ちたり、特開平7−161797号公報に示すよう
な複数台のHEPAを用いてこれを調整するような複雑
な空調調整が必要となるといった問題が生じる。したが
って、生産のタクトを落とさないよう真空引き時間など
を低減し、上述のような複雑な空調調整を不要にしつつ
清浄度を安定化させるためにも、ロードロック室等に基
板を受け渡すための予備室、すなわち搬出入室の容積を
なるべく小さくする必要がある。
As described above, when the volume of the loading / unloading chamber is increased, the evacuation time of the loading / unloading chamber is increased, so that the tact of production is reduced, or a plurality of HEPAs as disclosed in JP-A-7-161797 are used. This causes a problem that complicated air conditioning adjustment for adjusting the air conditioning is required. Therefore, in order to reduce the evacuation time and the like so as not to reduce the tact of production, and to stabilize cleanliness while eliminating the need for complicated air conditioning adjustment as described above, it is necessary to transfer substrates to a load lock chamber or the like. It is necessary to make the volume of the spare room, that is, the carry-in / out room, as small as possible.

【0024】また、特開平6−196545号公報記載
の装置では、前述の項の問題は低減されるが、項〜
項の問題は同様に存在するものであり、図16のよう
に、カセット寸法に比べて、同図の面内方向においてカ
セットの10倍前後のスペースを必要とする。
In the apparatus described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-196545, the problems of the above-mentioned items are reduced.
The problem of item (2) similarly exists, and as shown in FIG. 16, the space in the in-plane direction of FIG.

【0025】本発明は、上記の問題点を解決するために
なされたもので、その目的は、搬出入室の容積を大幅に
低減し、真空引き時間の低減による生産タクトの向上、
且つ複雑な空調調整の省略を図ることができる基板の処
理装置、基板の搬送体、並びに基板の処理方法を提供す
ることにある。
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to significantly reduce the volume of a loading / unloading chamber, improve the production tact time by reducing the evacuation time,
Another object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus, a substrate transporter, and a substrate processing method that can omit complicated air conditioning adjustment.

【0026】[0026]

【課題を解決するための手段】本発明の基板の処理装置
は、上記の課題を解決するために、複数枚の基板を収容
したカセットを清浄度の高い雰囲気中に保持しながら搬
送可能とする搬送体を、搬出入室を通じて装置内に取り
込み、取り込まれた上記搬送体内の基板を直接または別
室を介して処理室へ移送し、当該処理室で基板に対して
所定の処理を施す基板の処理装置において、上記搬出入
室と、上記処理室または別室であって、上記搬出入室に
隣接する隣接室との間には、基板の取り出しまたは取り
入れ時の移送のための出入口が設けられ、該出入口は開
閉手段によって開閉可能であると共に、上記搬出入室に
は、上記開閉手段によって上記出入口が閉じられている
状態で、室内のガス排気または室内へのガス導入によっ
て室内雰囲気を変更可能とするガス導入/排気手段と、
搬入された上記搬送体から、基板を収容するカセットを
昇降させて取り入れする昇降機構とが備えられ、上記隣
接室には、上記基板を搬出入室から隣接室へ移送する移
送機構が備えられていることを特徴としている。
In order to solve the above-mentioned problems, a substrate processing apparatus according to the present invention enables a cassette containing a plurality of substrates to be transported while being held in a highly clean atmosphere. A substrate processing apparatus that takes in a carrier into the apparatus through a loading / unloading chamber, transfers the loaded substrate in the carrier directly or through another chamber to a processing chamber, and performs a predetermined process on the substrate in the processing chamber. , An entrance for transfer at the time of taking out or taking in a substrate is provided between the carrying-in / out chamber and the adjacent processing chamber or the separate chamber adjacent to the carrying-in / out chamber, and the entrance is opened and closed. In the state where the entrance is closed by the opening / closing means, the indoor atmosphere can be changed by exhausting gas or introducing gas into the room. A gas introduction / exhaust means for enabling,
An elevating mechanism for elevating and taking in a cassette accommodating a substrate from the loaded transport body; and a transfer mechanism for transferring the substrate from the carry-in / out chamber to the adjacent chamber in the adjacent chamber. It is characterized by:

【0027】あるいは、本発明の基板の処理装置は、上
記の課題を解決するために、複数枚の基板を収容したカ
セットを清浄度の高い雰囲気中に保持しながら搬送可能
とする搬送体を、搬出入室を通じて装置内に取り込み、
取り込まれた上記搬送体内の基板を直接または別室を介
して処理室へ移送し、当該処理室で基板に対して所定の
処理を施す基板の処理装置において、上記搬出入室と、
上記処理室または別室であって、上記搬出入室に隣接す
る隣接室との間には、基板の取り出しまたは取り入れ時
の移送のための出入口が設けられ、該出入口は開閉手段
によって開閉可能であると共に、上記搬出入室には、上
記開閉手段によって上記出入口が閉じられている状態
で、室内のガス排気または室内へのガス導入によって室
内雰囲気を変更可能とするガス導入/排気手段と、搬入
された上記搬送体から、基板を収容するカセットを昇降
させて取り入れする昇降機構とが備えられ、上記搬出入
室には、上記基板を搬出入室から隣接室へ移送する押出
式の移送機構が備えられており、上記移送機構の駆動部
は前記搬出入室内空間と密閉遮断されて搬出入室の外部
に配置されていることを特徴としている。
Alternatively, in order to solve the above-mentioned problems, the substrate processing apparatus of the present invention provides a transporter capable of transporting a cassette containing a plurality of substrates while maintaining the cassette in a highly clean atmosphere. Take in the equipment through the loading / unloading room,
In the substrate processing apparatus for transferring the captured substrate in the transfer body directly or through another chamber to the processing chamber and performing a predetermined process on the substrate in the processing chamber, the loading / unloading chamber;
Between the processing chamber or the separate chamber and an adjacent chamber adjacent to the carry-in / out chamber, an entrance / exit for transfer when taking out or taking in the substrate is provided, and the entrance / exit can be opened / closed by opening / closing means. A gas introduction / exhaust means for changing the indoor atmosphere by exhausting gas in the room or introducing gas into the room in a state where the entrance is closed by the opening / closing means; A lifting mechanism for raising and lowering a cassette accommodating the substrate from the carrier, and taking in the cassette, and the carry-in / out chamber is provided with an extrusion-type transfer mechanism for transferring the substrate from the carry-in / out chamber to an adjacent chamber; The drive unit of the transfer mechanism is hermetically sealed from the carry-in / out room space and is disposed outside the carry-in / out room.

【0028】上記の構成によれば、上記搬出入室内で
は、複数のカセットおよび搬送体を保管するような構成
は無く、搬出入室から隣接室への基板の移送も、隣接室
側に配置された移送機構によって、あるいは、駆動部が
搬出入室の外部に配置された押出式の移送機構によって
行われる。尚、上記押出式の移送機構では、基板の移送
時においては、移送される基板の配置スペース内におい
て往復運動されるのみであり、搬出入出内にその駆動ス
ペースを設ける必要は特にない。また、上記押出式の移
送機構の駆動部を前記搬出入室内空間と密閉遮断するた
めには、例えばベローズシール等を用いるのが好適であ
る。
According to the above configuration, there is no configuration for storing a plurality of cassettes and carriers in the loading / unloading chamber, and the transfer of the substrate from the loading / unloading chamber to the adjacent chamber is arranged on the adjacent chamber side. The transfer is performed by a transfer mechanism or an extruding transfer mechanism in which a driving unit is disposed outside the loading / unloading chamber. In the transfer mechanism of the extrusion type, when the substrate is transferred, the substrate is only reciprocated in the arrangement space of the transferred substrate, and there is no particular need to provide a drive space in the carry-in / out. Further, in order to hermetically shut off the drive unit of the extrusion-type transfer mechanism from the carry-in / out room space, it is preferable to use, for example, a bellows seal or the like.

【0029】したがって、搬出入室においては、搬送体
からカセットを取り出すために、カセットの高さに相当
する1ストローク分の空間があれば良く、容積のほぼ2
倍程度と装置を格段に小さくすることができる。尚、上
記隣接室とは、基板が搬出入室から処理室へ直接移送さ
れる場合には該処理室が隣接室に相当し、基板が搬出入
室から別室(例えば、搬送(ロボット)室、ロードロッ
ク室等)を介して処理室へ移送される場合には該別室が
隣接室に相当する。
Therefore, in the loading / unloading chamber, a space for one stroke corresponding to the height of the cassette is sufficient for taking out the cassette from the transporting body, and the volume is about 2 times.
The size of the apparatus can be remarkably reduced to about twice. When the substrate is directly transferred from the loading / unloading chamber to the processing chamber, the processing chamber corresponds to the adjacent chamber, and the substrate is transferred from the loading / unloading chamber to another chamber (for example, a transfer (robot) chamber, a load lock chamber). , Etc.), the separate room corresponds to the adjacent room.

【0030】このように、上記搬出入室の小型化を図る
ことにより、半導体装置、液晶表示装置などの各種電子
部品の清浄気体密封容器内基板搬送式製造工程におい
て、大型基板が用いられたり、工程数や処理装置数が多
い場合であっても、各処理装置を格段に小型化(従来の
数分の1以下に)でき、工場施設も最小限にできる。こ
れにより、工場の建設や保守、維持費などが抑えられ
る。また、処理装置が小型になることにより、該処理装
置のメーカーから処理工場までの装置自体を搬送する時
のトラックなどによる搬送が容易になり、製造や工程管
理などの作業性を向上できる。
As described above, by reducing the size of the loading / unloading chamber, a large-sized substrate may be used in the process of transporting various electronic components such as a semiconductor device and a liquid crystal display device into a substrate in a clean gas-tight container. Even when the number of processing units and the number of processing units are large, each processing unit can be remarkably reduced in size (to a fraction of the conventional size) and the number of factory facilities can be minimized. As a result, the construction, maintenance, and maintenance costs of the factory can be reduced. In addition, since the processing apparatus is reduced in size, it is easy to transport the apparatus itself from a maker of the processing apparatus to a processing factory by a truck or the like, so that workability such as manufacturing and process management can be improved.

【0031】また、上記搬送体が取り入れられた搬出入
室においては、上記ガス導入/排気手段により室内が清
浄気体に置換されるか、あるいは真空引きされる。この
時、搬出入室と隣接室との間の開閉手段が閉じられ、該
搬出入室は密閉状態とされる。そして、搬出入室のガス
置換または真空引きされた後、上記開閉手段が開放さ
れ、カセット内の基板が移送機構によって搬出入室から
隣接室へ移送される。
In the carry-in / out room into which the carrier is taken, the room is replaced with a clean gas or evacuated by the gas introduction / exhaust means. At this time, the opening / closing means between the carry-in / out room and the adjacent room is closed, and the carry-in / out room is closed. After the gas in the loading / unloading chamber is replaced or evacuated, the opening / closing means is opened, and the substrate in the cassette is transferred from the loading / unloading chamber to the adjacent chamber by the transfer mechanism.

【0032】ここで、上述のように搬出入室が小型化さ
れた構成では、搬出入室の真空引き時間などが低減され
るため、製造タクトを抑えることができると共に、特開
平7−161797号公報のように3台のHEPAを調
整するような複雑な空調調整を行うことなく、清浄度を
安定化させることができ、製品の品質や歩留まりを向上
できる。
In the configuration in which the loading / unloading chamber is miniaturized as described above, the evacuation time of the loading / unloading chamber is reduced, so that the manufacturing tact can be suppressed and the Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 7-161797 discloses. Thus, the cleanliness can be stabilized without complicated air conditioning adjustment such as adjusting three HEPAs, and the quality and yield of products can be improved.

【0033】さらに、上記処理装置は、上記搬出入室と
上記隣接室との間での基板受け渡しの際には、上記昇降
機構によって上記搬送体内のカセットを、取り出される
基板が上記出入口に対向する所定位置まで順次移動さ
せ、該出入口におけるほぼ一定の水平位置から上記移送
機構によって基板を1枚ずつ搬出入室と隣接室との間で
移送することを特徴としている。
Further, when the substrate is transferred between the loading / unloading chamber and the adjacent chamber, the processing apparatus moves the cassette in the transporting body by the elevating mechanism to a predetermined position where the substrate to be taken out faces the entrance. The transfer mechanism sequentially moves the substrates one by one between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber from the substantially constant horizontal position at the entrance.

【0034】従来、搬出入室と上記隣接室との間での基
板受け渡し、すなわち、複数の基板を収容したカセット
から基板を抜き出す際には、カセット内で上下方向に積
載される基板の位置に合わせて移送機構の昇降を行うこ
とがあるが、上記構成によれば、昇降機構によってカセ
ット自体が上記所定位置まで順次移動され、ほぼ一定の
水平位置から上記移送機構によって基板が1枚ずつ移送
される。
Conventionally, when a substrate is transferred between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber, that is, when a substrate is extracted from a cassette containing a plurality of substrates, the substrate is aligned with the position of the substrate stacked vertically in the cassette. According to the above configuration, the cassette itself is sequentially moved to the predetermined position by the elevating mechanism, and the substrates are transferred one by one by the transfer mechanism from a substantially constant horizontal position. .

【0035】これにより、上記移送機構においては、従
来のような昇降機能が不必要となり、該移送機構を簡素
化することができる。上記移送機構の簡素化は、これを
収容する隣接室等の小型化、ひいては処理装置の小型化
に繋がる。
As a result, the above-described transfer mechanism does not require a conventional elevating function, and the transfer mechanism can be simplified. The simplification of the transfer mechanism leads to a reduction in the size of an adjacent room or the like accommodating the transfer mechanism and a reduction in the size of the processing apparatus.

【0036】また、ほぼ一定の水平位置から基板を1枚
ずつ移送する方法では、搬出入室と隣接室との間におけ
る出入口は、少なくとも1枚の基板を搬出できる大きさ
を有しておれば良く、該出入口を小さくできるため、こ
れを開閉する開閉手段の構成を簡略化できる。これによ
り、装置の小型化、出入口開閉時間の短縮、シール部の
長寿命化を図ることができる。
In the method of transferring substrates one by one from a substantially constant horizontal position, the entrance between the loading / unloading chamber and the adjacent chamber only needs to be large enough to carry at least one substrate. Since the entrance can be reduced, the structure of the opening / closing means for opening / closing the entrance / exit can be simplified. Thus, it is possible to reduce the size of the device, shorten the opening / closing time of the entrance / exit, and extend the life of the seal portion.

【0037】さらに、上記処理装置は、上記ガス導入/
排気手段が、上記搬出入室に上記搬送体が搬入された
後、該搬出入室内を真空引きし、上記移送手段が搬出入
室と隣接室との間での基板受け渡しを真空雰囲気下で行
うことを特徴としている。
Further, the processing apparatus is provided with the gas introduction /
After the carrier is loaded into the loading / unloading chamber, the exhaust means evacuates the loading / unloading chamber, and the transfer means transfers the substrate between the loading / unloading chamber and the adjacent chamber under a vacuum atmosphere. Features.

【0038】成膜などの多くの処理装置では、隣接室等
と処理室との間の基板受け渡しは真空雰囲気下で行われ
るものであるため、上述のように、上記ガス導入/排気
手段により搬出入室内を真空引きし、搬出入室と隣接室
との間での基板受け渡しを真空雰囲気下で行う構成とす
れば、上記隣接室は、常に真空状態に維持すればよいこ
ととなる。これにより、上記隣接室においては、ガスの
導入等が不要となり、雰囲気の維持が容易となる。ま
た、隣接室の真空引き時間などが低減されるため、製造
タクトを抑えることができる。
In many processing apparatuses such as a film forming apparatus, a substrate is transferred between an adjacent chamber or the like and a processing chamber in a vacuum atmosphere. If the entrance chamber is evacuated and the substrate transfer between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber is performed in a vacuum atmosphere, the adjacent chamber may be constantly maintained in a vacuum state. This eliminates the need for gas introduction and the like in the adjacent chamber, and facilitates the maintenance of the atmosphere. Further, since the evacuation time of the adjacent chamber is reduced, manufacturing tact time can be suppressed.

【0039】さらに、上記処理装置では、上記ガス導入
排気手段は、上記搬出入室に上記搬送体が搬入された後
で、かつ、該搬送体から基板を収容するカセットが取り
出される前の段階で、該搬出入室内を清浄気体に置換
し、該搬送体から基板を収容するカセットが取り出され
た後の段階で、該搬出入室内を真空引きすることを特徴
としている。
Further, in the above processing apparatus, the gas introduction / exhaust means is provided at a stage after the transfer body is loaded into the loading / unloading chamber and before the cassette housing the substrate is taken out of the transfer body. The loading / unloading chamber is replaced with clean gas, and the loading / unloading chamber is evacuated at a stage after the cassette accommodating the substrate is taken out of the carrier.

【0040】上記搬出入室内において搬送体からカセッ
トを取り出す際には、搬出入室内の清浄度を高い状態と
する必要がある。このためには、搬出入室内を清浄気体
に置換する、あるいは真空引きする等の方法が考えられ
るが、搬送体内には清浄気体が密封されているため、搬
出入室に上記搬送体が搬入された段階で該搬出入室を真
空引きすると、搬送体の内外で圧力差が生じる。したが
って、この場合には、上記搬送体がこの圧力差に耐え得
るだけの強度を持つ必要が生じ、このことは搬送体の重
量化およびコストアップを招く。また、直接真空引きを
行なうと、真空系のフィルターに負担がかかったり、清
浄時間が増す場合がある。
When taking out the cassette from the carrier in the loading / unloading room, it is necessary to keep the cleanliness of the loading / unloading room high. For this purpose, a method of replacing the loading / unloading chamber with a clean gas or evacuating the vacuum is conceivable.However, since the clean gas is sealed in the transporting body, the transporting body is loaded into the loading / unloading chamber. When the loading / unloading chamber is evacuated at the stage, a pressure difference occurs between the inside and outside of the carrier. Therefore, in this case, it is necessary that the carrier has a strength enough to withstand the pressure difference, which leads to an increase in the weight and cost of the carrier. Further, if the evacuation is performed directly, a load may be applied to the vacuum filter or the cleaning time may be increased.

【0041】これに対し、上記構成によれば、上記搬送
体からカセットが取り出される前の段階では搬出入室内
は清浄気体雰囲気であり、該搬送体からカセットが取り
出された後の段階で該搬出入室内が真空引きされるた
め、上述のような搬送体の内外での圧力差は生じない。
したがって、上記搬送体において必要以上の強度を持た
せる必要はなく、搬送体の軽量化およびコストダウンに
繋がる。また、清浄時間を短くできる。
On the other hand, according to the above configuration, the loading / unloading chamber is in a clean gas atmosphere before the cassette is taken out of the carrier, and the loading / unloading chamber is taken at a stage after the cassette is taken out of the carrier. Since the entrance is evacuated, there is no pressure difference between the inside and outside of the carrier as described above.
Therefore, it is not necessary to provide the carrier with unnecessarily high strength, which leads to weight reduction and cost reduction of the carrier. Further, the cleaning time can be shortened.

【0042】さらに、上記処理装置は、前記昇降機構の
昇降部(例えば、昇降用シャフト)は、前記基板または
前記カセットのほぼ重心直下となる位置に設けられ、前
記昇降機構の駆動部およびガイド受け部は前記搬出入室
の外部に設けられ、前記搬出入室内の前記昇降部はベロ
ーズで前記搬出入室内空間と密閉遮断されていることを
特徴としている。
Further, in the above-mentioned processing apparatus, an elevating part (for example, an elevating shaft) of the elevating mechanism is provided at a position substantially immediately below the center of gravity of the substrate or the cassette, and a driving part and a guide receiver of the elevating mechanism are provided. The portion is provided outside the loading / unloading room, and the elevating unit in the loading / unloading room is sealed off from the loading / unloading room space by a bellows.

【0043】このように、上記昇降機構の駆動部等を搬
出入室の外部し、かつ、昇降部をカセットの重心直下付
近に配置することで、保守作業が容易となると共に、ネ
ジ部や軸部などの設計強度も低減できるため、昇降機構
の小型化が図れる。また、搬出入室内の昇降部をベロー
ズで前記搬出入室内空間と密閉遮断することで、摺動部
などの発塵などによる、製品の品質や歩留りの低下を無
くすことができる。
As described above, by arranging the drive unit and the like of the elevating mechanism outside the loading / unloading chamber and arranging the elevating unit just below the center of gravity of the cassette, maintenance work is facilitated, and the screw unit and the shaft unit are arranged. Because the design strength of the lifting mechanism can be reduced, the lifting mechanism can be downsized. In addition, since the elevating section in the loading / unloading chamber is hermetically sealed from the loading / unloading indoor space by bellows, it is possible to eliminate a decrease in product quality and yield due to dust generation of the sliding section and the like.

【0044】さらに、基板の搬送体の側部には昇降機構
が存在しないため、搬送体の搬入経路を小さくでき、移
送装置の機構なども簡素にできる。このため、搬出入室
の設計の自由度も高く、例えば基板の搬送体の側部に確
認のための内圧計や、押出し式の基板搬入機構(移送機
構)を容易に取付けたり、基板の覗き窓を取り付け、基
板の異常等を容易に目視確認ができる。
Further, since there is no elevating mechanism on the side of the substrate transporter, the carry-in path of the transporter can be reduced, and the mechanism of the transfer device can be simplified. For this reason, the degree of freedom in the design of the loading / unloading chamber is high. For example, an internal pressure gauge for checking the side of the substrate transfer body, an extruding type substrate loading mechanism (transporting mechanism) can be easily attached, and a viewing window for the substrate is provided. Can be easily visually checked for abnormalities of the substrate.

【0045】本発明の基板の搬送体は、複数の基板を搭
載したカセットを、容器本体および底板によって形成さ
れる密閉空間内に、清浄度の高いドライガスと共に密封
し、上記基板に対して各種処理工程を実施することによ
って製造される電子部品の製造工程中の処理装置間を搬
送する基板の搬送体において、上記カセットは、搭載さ
れる各基板を載置支持するために、基板1枚当たりに対
して、基板面内に4箇所から6箇所が突出して形成され
ている基板支持部を有し、前記基板支持部の先端近傍に
は、前記基板に当接して基板を支持する樹脂から成るピ
ン部が形成されていることを特徴としている。
In the substrate carrier of the present invention, a cassette mounting a plurality of substrates is sealed in a closed space formed by a container body and a bottom plate together with a highly clean dry gas, and various substrates are sealed with respect to the substrate. In a substrate transporter that transports between processing devices during a manufacturing process of an electronic component manufactured by performing a processing process, the cassette includes a substrate for mounting and supporting each mounted substrate. A substrate support portion formed by projecting from four places to six places in the substrate surface, and near the tip of the substrate support part, a resin is provided which is in contact with the substrate and supports the substrate. It is characterized in that a pin portion is formed.

【0046】基板の2点支持を行う場合、2次元理想解
では基板の最大たわみは支持間距離の3乗に比例し、基
板の厚みの3乗に反比例するので、基板が大きく、ある
いは薄くなるほど極端に基板の反り量が増す。このた
め、上記基板支持部を基板面内方向に突出させ、支持点
の距離を小さくすることにより基板の反りが減り、基板
の受け渡し時などの異常振動やわずかな位置ずれ等によ
る干渉で発生する基板のかけや割れなどの不良を低減で
きる。また、基板の反りが減少することにより、カセッ
ト内の基板間隔も小さくして、基板搬送体の小型化も図
れる。さらに、基板の搬送体の軽量小型化は、処理装置
における搬出入室の小型化にも繋がる。
When the substrate is supported at two points, the maximum deflection of the substrate is proportional to the cube of the distance between supports and inversely proportional to the cube of the thickness of the substrate in the two-dimensional ideal solution. The amount of warpage of the substrate is extremely increased. For this reason, by warping the substrate supporting portion in the in-plane direction of the substrate and reducing the distance between the supporting points, the warpage of the substrate is reduced, and the vibration is generated due to abnormal vibration at the time of transfer of the substrate or interference due to slight displacement. Defects such as chipping and cracking of the substrate can be reduced. In addition, since the warpage of the substrate is reduced, the distance between the substrates in the cassette is reduced, and the size of the substrate transporter can be reduced. Further, the reduction in the size and weight of the substrate transporter leads to a reduction in the size of the loading / unloading room in the processing apparatus.

【0047】また、カセット内での基板支持において、
エッジ2辺近傍の線支持や広範な面(例えば、ほぼ全
面)支持は、基板との接触部が増し、異物付着や傷つき
などの確率が増すため好ましくない、また、広範な面の
支持部を設けるとカセット全体の重量が増し、基板の受
け取りなどが困難となり好ましくなく、したがって上記
基板支持部は4〜6点程度の凸状突出部とすることが好
ましい。特に液晶などの大型の四角形状の基板において
は、反り低減とカセットの軽量化とをバランス良く両立
させるためには、突出部は6箇所程度が好ましい(2次
元理想解では、反りを約1/8程度に低減できる。)。
In supporting a substrate in a cassette,
It is not preferable to support the line near the two sides of the edge or to support a wide surface (for example, almost the entire surface) because the number of contact portions with the substrate increases and the probability of adhesion of foreign matter or damage increases. If provided, the weight of the entire cassette increases, and it becomes difficult to receive the substrate, which is not preferable. Therefore, it is preferable that the substrate supporting portion is a convex projecting portion having about 4 to 6 points. In particular, in the case of a large rectangular substrate such as a liquid crystal, it is preferable that the number of protrusions be about six (in the two-dimensional ideal solution, the warp is about 1/20) in order to achieve a good balance between the reduction in warpage and the weight reduction of the cassette. It can be reduced to about 8.)

【0048】また、上記基板支持部は、剛性を確保で
き、比較的軽量で、定期的などに洗浄が容易なアルミニ
ウムが好ましく、基板との当接部は、基板に傷をつける
ことなく、当接する部材も摩耗やかけが少なく、酸性洗
浄材などに対する耐薬品性の高いテフロンなどの樹脂が
好ましい。
The substrate supporting portion is preferably made of aluminum, which can secure rigidity, is relatively lightweight, and is easy to clean on a regular basis, and the contact portion with the substrate does not damage the substrate. A resin such as Teflon, which is in contact with the member and has less wear and spatter, and has high chemical resistance to acidic cleaning materials and the like is preferable.

【0049】さらに、上記搬送体は、前記基板支持部
が、基板面内においてなめらかな曲線外縁を持つ山形形
状であることを特徴としている。
Further, the carrier is characterized in that the substrate supporting portion has a chevron shape having a smooth curved outer edge in the substrate plane.

【0050】基板支持部の軽量化と剛性を確保するため
には、片持ち支持構造の基板支持部において応力が均一
になるような断面形状を有することが好ましいが、これ
を基板間隔を最小にし、かつ、板材など加工と組み立て
が容易となるように、均一な厚みを有する板材で実現す
るために、上記基板支持部は山形(波型)形状であるこ
とが好ましい。また、上記基板支持部において、角部な
どをなくし、基板との接触時の傷つけや発塵を防止する
ため、なめらかな曲線外縁とすることが好ましい。
In order to secure the weight and rigidity of the substrate supporting portion, it is preferable that the substrate supporting portion of the cantilever support structure has a cross-sectional shape such that stress is uniform. In addition, in order to realize a plate material having a uniform thickness so as to facilitate processing and assembling of the plate material or the like, it is preferable that the substrate supporting portion has a mountain shape (corrugated shape). In addition, it is preferable that the substrate supporting portion has a smooth curved outer edge in order to eliminate corners and the like and prevent damage and dust generation at the time of contact with the substrate.

【0051】本発明の電子部品の製造方法は、上述の基
板の搬送体を用いて、複数枚の基板を収容したカセット
を清浄度の高い雰囲気中に保持しながら、上述の基板の
処理装置間で搬送し、基板上に上記各処理装置によって
処理工程を施すことにより電子部品を製造することを特
徴としている。
According to the method of manufacturing an electronic component of the present invention, the above-mentioned substrate carrier is used to hold a cassette accommodating a plurality of substrates in an atmosphere of high cleanliness while maintaining the cassette between the above-described substrate processing apparatuses. And electronic components are manufactured by performing processing steps on the substrate by the above-described processing apparatuses.

【0052】これにより、上述の基板の搬送体、基板の
処理装置と同様に、処理装置における搬出入室の小型化
が図れる。
As a result, the size of the loading / unloading chamber in the processing apparatus can be reduced in the same manner as in the above-described substrate transporter and substrate processing apparatus.

【0053】また、上記電子部品の製造方法では、前記
基板の搬送体内に前記基板を収容したカセットを保持し
ながら搬送する際、該基板の搬送体の内圧を陽圧とする
ことを特徴としている。
Further, in the above electronic component manufacturing method, the internal pressure of the substrate carrier is set to a positive pressure when the substrate is transported while holding the cassette in the substrate carrier. .

【0054】搬送体の内部は、基本的には清浄な気体で
あれば真空圧でも良いが、搬送体の内圧がその周囲の圧
力(大気圧)よりも小さい場合には、Oリングなどの破
損や寿命などにより、搬送体の内と外での気密が破れた
場合に、外部の清浄でない空気が入り込む虞があるた
め、基板の搬送体の内圧を陽圧とすることが好ましい。
また、基板取り出し時の大気圧開放や底板開放など一連
の作業性と時間短縮のためにも、大気圧よりわずかに陽
圧にすることが好ましい。
The inside of the carrier may be at a vacuum pressure as long as it is basically a clean gas, but if the internal pressure of the carrier is lower than the surrounding pressure (atmospheric pressure), the O-ring or the like may be damaged. If the airtightness inside and outside the transfer body is broken due to, for example, the service life or the like, there is a possibility that the outside unclean air may enter. Therefore, it is preferable to set the internal pressure of the transfer body of the substrate to a positive pressure.
Further, it is preferable that the pressure is slightly higher than the atmospheric pressure, in order to reduce the time required for a series of operations such as opening the atmospheric pressure and opening the bottom plate when removing the substrate.

【0055】[0055]

【発明の実施の形態】本発明の実施の一形態について図
1ないし図11に基づいて説明すれば、以下の通りであ
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.

【0056】本実施の形態に係る基板の処理装置の概略
構成を図1および図2に示す。上記処理装置1は、被処
理体である基板に対して単一あるいは連続処理を行うも
のであり、その処理内容としては、スパッタリング、C
VDなどの薄膜形成、検査、レジスト塗布、露光、パタ
ーニングなどのパターン形成、加熱、乾燥、洗浄、イオ
ン注入などの何れであってもよい。
FIGS. 1 and 2 show a schematic configuration of a substrate processing apparatus according to the present embodiment. The processing apparatus 1 performs single or continuous processing on a substrate as an object to be processed, and includes sputtering, C
It may be any one of pattern formation such as thin film formation such as VD, inspection, resist coating, exposure, patterning, heating, drying, washing, and ion implantation.

【0057】上記処理装置1は、図1に示すように、被
処理体である基板2に所定の処理を施す処理室3と、該
処理室3に対して上記基板2を挿脱する移送機構7(図
2参照)を有するロボット室4と、このロボット室4に
対してカセット8内に収容されている複数の基板2を搬
出入する搬出入室5とを備えており、ロボット室4が搬
出入室5の隣接室となっている。
As shown in FIG. 1, the processing apparatus 1 includes a processing chamber 3 for performing predetermined processing on a substrate 2 which is a processing target, and a transfer mechanism for inserting and removing the substrate 2 into and from the processing chamber 3. 7 (see FIG. 2), and a loading / unloading chamber 5 for loading / unloading a plurality of substrates 2 accommodated in a cassette 8 with respect to the robot chamber 4. The room is adjacent to Entry 5.

【0058】また、上記処理室3、ロボット室4、およ
び搬出入室5は、1台の処理装置1に対して1つずつで
ある必要はなく、例えば図2に示すように、複数の処理
室3および搬出入室5に対してロボット室4を共有する
構成であっても良い。また、処理室3において基板2の
処理を行う前に、該基板2を予め昇温させるための昇温
室6が設けられていても良い。上記処理室3、ロボット
室4、搬出入室5、および昇温室6は、それぞれ個別に
真空排気することが可能である。さらに、処理室3と搬
出入室5とが連接して設けられており、搬出入室5から
処理室3へ直接基板を移送する構成であってもよく、こ
の場合は、処理室3が搬出入室5の隣接室となる。
The processing chamber 3, the robot chamber 4, and the loading / unloading chamber 5 do not need to be provided one by one for one processing apparatus 1. For example, as shown in FIG. The configuration may be such that the robot room 4 is shared with the transfer room 3 and the loading / unloading room 5. Further, before performing the processing of the substrate 2 in the processing chamber 3, a temperature raising chamber 6 for raising the temperature of the substrate 2 in advance may be provided. The processing chamber 3, the robot chamber 4, the loading / unloading chamber 5, and the heating chamber 6 can be individually evacuated. Further, the processing chamber 3 and the loading / unloading chamber 5 are provided in a continuous manner, and the substrate may be directly transferred from the loading / unloading chamber 5 to the processing chamber 3. In this case, the processing chamber 3 is provided with the loading / unloading chamber 5. Next to the room.

【0059】上記搬出入室5には、カセット8を収容し
た基板の搬送体としてのカセット収容容器10が搬入さ
れる。上記カセット収容容器10は、図3に示すよう
に、内部に収容されるカセット8、底板11、ポッド蓋
(容器本体)12からなり、底板11上に載置されるカ
セット8をポッド蓋12によって覆っている構成であ
る。上記底板11とポッド蓋12との間には、該カセッ
ト収容容器10の内部空間を密閉するために、Oリング
13が設けられている。上記カセット収容容器10の中
には、清浄度の高い不活性ガスを大気圧よりもやや陽圧
状態で充填している。また、上記カセット8、底板1
1、ポッド蓋12は、該カセット収容容器10を軽量化
するために、材質として例えばアルミニウムが用いられ
る。
A cassette accommodating container 10 serving as a substrate carrier for accommodating the cassette 8 is carried into the carry-in / out chamber 5. As shown in FIG. 3, the cassette housing container 10 includes a cassette 8 housed therein, a bottom plate 11, and a pod lid (container main body) 12, and the cassette 8 placed on the bottom plate 11 is held by the pod lid 12. It is a configuration that covers. An O-ring 13 is provided between the bottom plate 11 and the pod lid 12 to seal the internal space of the cassette container 10. The cassette accommodating container 10 is filled with an inert gas having a high degree of cleanliness at a slightly higher positive pressure than the atmospheric pressure. In addition, the cassette 8, the bottom plate 1
1. The pod lid 12 is made of aluminum, for example, in order to reduce the weight of the cassette container 10.

【0060】尚、上記カセット収容容器10の内部は、
基本的には清浄な気体であれば真空圧でも良いが、カセ
ット収容容器10の内圧がその周囲の圧力(大気圧)よ
りも小さい場合には、Oリング13などの破損や寿命な
どにより、カセット収容容器10の内と外での気密が破
れた場合に、外部の清浄でない空気が入り込む虞があ
る。このため、カセット収容容器10の内圧を陽圧とす
ることが好ましい。また、基板2の取り出し時の大気圧
開放や底板11の開放など一連の作業性と時間短縮のた
めにも、カセット収容容器10の内圧を大気圧よりわず
かに陽圧にすることが好ましい。
The inside of the cassette housing container 10 is
Basically, vacuum pressure may be used as long as the gas is clean, but if the internal pressure of the cassette housing container 10 is smaller than the surrounding pressure (atmospheric pressure), the cassette ring may be damaged due to breakage of the O-ring 13 or the like and life. When the airtightness inside and outside the storage container 10 is broken, there is a possibility that outside unclean air may enter. For this reason, it is preferable that the internal pressure of the cassette housing container 10 be a positive pressure. Also, in order to reduce the time required for a series of operations such as release of the atmospheric pressure at the time of taking out the substrate 2 and opening of the bottom plate 11, it is preferable that the internal pressure of the cassette accommodating container 10 be slightly positive than the atmospheric pressure.

【0061】上記カセット8には、図4に示すように、
収容される基板2を受けるために、厚み約3mmでなめ
らかな山形などの形状をした基板支持部14が、例えば
アルミニウムを材質として設けられている。該基板支持
部14は、これによって支持される基板2の面内方向に
4〜6箇所(同図では6箇所)突出して設けられてお
り、上記突出部の先端近傍に上記基板2に当接して支持
するピン(ピン部)15が例えばテフロン樹脂を材質と
して形成されている。例えば、基板2のサイズが、厚み
1.1mm、幅550mm、長さ650mmである場
合、該基板2の幅方向に対して、図5に示すように、基
板2の両端部から約150mm内側の位置をピン15で
受け、更に、基板2の端部はローラ16で押さえること
により、基板2の反りをおおよそ10mm以下に抑える
ことができる。これにより、上記カセット8において
は、各基板2の上下間隔を30mm程度とし、この間隙
でカセット8内に20枚の基板2を収容している。
The cassette 8 includes, as shown in FIG.
In order to receive the accommodated substrate 2, a substrate support portion 14 having a thickness of about 3 mm and having a smooth mountain shape or the like is provided, for example, using aluminum as a material. The substrate supporting portions 14 are provided so as to protrude in four to six places (six places in the drawing) in the in-plane direction of the substrate 2 supported thereby, and come into contact with the substrate 2 near the tip of the protruding portion. The pin (pin portion) 15 to be supported is formed of, for example, Teflon resin. For example, when the size of the substrate 2 is 1.1 mm in thickness, 550 mm in width, and 650 mm in length, as shown in FIG. The position of the substrate 2 is received by the pins 15, and the end of the substrate 2 is pressed by the roller 16, so that the warpage of the substrate 2 can be suppressed to about 10 mm or less. Thus, in the cassette 8, the vertical distance between the substrates 2 is set to about 30 mm, and the cassette 8 accommodates 20 substrates 2 in this gap.

【0062】すなわち、基板2の2点支持を行う場合、
2次元理想解では基板の最大たわみは支持間距離の3乗
に比例し、基板の厚みの3乗に反比例するので、基板2
が大きく、あるいは薄くなるほど極端に反り量が増す。
このため、上記基板支持部14を基板面内方向に突出さ
せ、支持点の距離を小さくすることにより基板2の反り
が減り、基板2の受け渡し時などの異常振動やわずかな
位置ずれ等による干渉で発生する基板のかけや割れなど
の不良を低減できる。また、基板2の反りが減少するこ
とにより、カセット8内の基板間隔も小さくして、カセ
ット収容容器10の小型化も図れる。さらに、カセット
収容容器10の軽量小型化は、処理装置1における搬出
入室5の小型化にも繋がるといった利点がある。
That is, when supporting the substrate 2 at two points,
In the two-dimensional ideal solution, the maximum deflection of the substrate is proportional to the cube of the distance between supports and inversely proportional to the cube of the thickness of the substrate.
The larger or thinner the film, the more the amount of warpage increases extremely.
For this reason, by warping the substrate 2 by projecting the substrate support portion 14 in the in-plane direction of the substrate and reducing the distance between the support points, interference due to abnormal vibration or slight displacement during transfer of the substrate 2 or the like. Defects, such as chipping and cracking of the substrate, which occur in the step (1), can be reduced. Further, since the warpage of the substrate 2 is reduced, the distance between the substrates in the cassette 8 is reduced, and the size of the cassette container 10 can be reduced. Furthermore, there is an advantage that the reduction in weight and size of the cassette container 10 also leads to the reduction in the size of the loading / unloading room 5 in the processing apparatus 1.

【0063】また、カセット8内での基板支持におい
て、エッジ2辺近傍の線支持や広範な面(例えば、ほぼ
全面)支持は、基板2との接触部が増し、異物付着や傷
つきなどの確率が増すうえ、カセット8の全体重量が増
し、基板2の受け取りなどが困難となるため好ましくな
い。したがって、上記基板支持部14は4〜6点程度の
凸状突出部とすることが好ましい。特に液晶などの大型
の四角形状の基板においては、反り低減とカセットの軽
量化とをバランス良く両立させるためには、基板支持部
14は6箇所程度が好ましい(2次元理想解では、反り
を約1/8程度に低減できる。)。
In the substrate support in the cassette 8, line support near two edges and support on a wide surface (for example, almost the entire surface) increase the number of contact portions with the substrate 2 and increase the probability of adhesion of foreign matter and damage. In addition, the total weight of the cassette 8 increases, which makes it difficult to receive the substrate 2 or the like. Therefore, it is preferable that the substrate supporting portion 14 is a convex projecting portion having about 4 to 6 points. In particular, in the case of a large square substrate such as a liquid crystal, the substrate supporting portion 14 is preferably provided at about six places in order to achieve a good balance between the reduction of the warp and the weight reduction of the cassette (in the two-dimensional ideal solution, the warp is reduced to about 6 places). It can be reduced to about 1/8.)

【0064】さらに、上記基板支持部14は、剛性を確
保でき、比較的軽量で、定期的などに洗浄が容易なアル
ミニウムが好ましく、基板2との当接部となるピン15
は、基板2に傷をつけることなく、当接するピン15自
体にも摩耗やかけが少なく、酸性洗浄材などに対する耐
薬品性の高いテフロンなどの樹脂が好ましい。
Further, the substrate supporting portion 14 is preferably made of aluminum, which can secure rigidity, is relatively lightweight, and is easy to clean on a regular basis or the like.
It is preferable to use a resin such as Teflon, which does not damage the substrate 2 and has little abrasion or sprinkling on the pin 15 itself, which has high chemical resistance to acidic cleaning materials.

【0065】また、上記基板支持部14を山形形状とす
る理由は以下の通りである。すなわち、基板支持部14
の軽量化と剛性を確保するためには、片持ち支持構造の
基板支持部14において応力が均一になるような断面形
状を有することが好ましいが、これを基板間隔を最小に
し、かつ、板材など加工と組み立てが容易となるよう
に、均一な厚みを有する板材で実現するためには、上記
基板支持部14は山形(波型)形状であることが好まし
い。また、上記基板支持部14において、角部などをな
くし、基板2との接触時の傷つけや発塵を防止するた
め、なめらかな曲線外縁とすることが好ましい。
The reason why the substrate supporting portion 14 is formed in a chevron shape is as follows. That is, the substrate support 14
In order to secure the weight and rigidity of the substrate, it is preferable to have a cross-sectional shape such that the stress is uniform in the substrate support portion 14 of the cantilever support structure. In order to facilitate the processing and assembly with a plate material having a uniform thickness, it is preferable that the substrate supporting portion 14 has a chevron (corrugated) shape. Further, it is preferable that the substrate supporting portion 14 has a smooth curved outer edge in order to eliminate corners and the like and prevent damage and dust generation at the time of contact with the substrate 2.

【0066】上記処理装置1は、図1に示すように、搬
出入室5内に搬入されたカセット収容容器10におい
て、複数の基板2を収納したカセット8を昇降させるた
めの昇降機構17を有する。上記昇降機構17の昇降部
(シャフト)18は上記基板2または上記カセット8の
ほぼ重心真下近くに設けられ、上記昇降機構17のガイ
ド部(摺動部)19や図示しない駆動部は上記搬出入室
5の外部に設けられている。そして、上記搬出入室5内
において上記昇降部18はベローズ20で囲まれ、上記
搬出入室5と遮断されている。
As shown in FIG. 1, the processing apparatus 1 has an elevating mechanism 17 for elevating the cassette 8 accommodating a plurality of substrates 2 in the cassette accommodating container 10 carried into the carry-in / out chamber 5. An elevating part (shaft) 18 of the elevating mechanism 17 is provided almost immediately below the center of gravity of the substrate 2 or the cassette 8, and a guide part (sliding part) 19 and a driving part (not shown) of the elevating mechanism 17 are provided in the loading / unloading chamber. 5 is provided outside. In the loading / unloading chamber 5, the elevating unit 18 is surrounded by a bellows 20 and is isolated from the loading / unloading chamber 5.

【0067】このように、上記昇降機構17のガイド部
19や駆動部を搬出入室5の外部に配置することで、昇
降機構全体を搬出入室内に配置する従来の構成と比べて
上記搬出入室5の容積を大幅に低減できる。より具体的
には、上記カセット8の外周容積の約2倍程度で、大き
くとも約3倍以下となるように搬出入室5の小型化を図
ることができる。また、搬出入室5内の昇降部18をベ
ローズ20で前記搬出入室5内の空間と密閉遮断するこ
とで、ガイド部19の発塵などによる、製品の品質や歩
留りの低下を無くすことができる。
As described above, by disposing the guide portion 19 and the driving portion of the elevating mechanism 17 outside the loading / unloading chamber 5, the loading / unloading chamber 5 is compared with the conventional configuration in which the entire lifting mechanism is disposed in the loading / unloading chamber. Can be significantly reduced. More specifically, the size of the loading / unloading chamber 5 can be reduced so as to be about twice as large as the outer peripheral volume of the cassette 8 and at most about three times or less. In addition, since the elevating section 18 in the carry-in / out chamber 5 is hermetically sealed off from the space in the carry-in / out chamber 5 by the bellows 20, deterioration of product quality and yield due to dust generation of the guide section 19 can be eliminated.

【0068】尚、上記昇降機構17では、該昇降機構1
7の昇降部18を基板2またはカセット8のほぼ真下に
設けているが、これは、簡易な構成の昇降機構17によ
ってカセット8の昇降を行わせるためである。すなわ
ち、昇降機構をカセット8の側方に配置し片持ち構造に
よって該カセット8を保持しようとすると、カセット8
の重量による大きなモーメントに耐えられるように、シ
ャフトや軸受け等を大型化する必要があるが、昇降部を
カセット8の重心下に配置すると、シャフトに対してモ
ーメントが作用しないため該昇降機構を小型化できる。
It should be noted that the lifting mechanism 17 includes the lifting mechanism 1
The elevating part 18 of 7 is provided almost directly below the substrate 2 or the cassette 8, because the elevating mechanism 17 having a simple structure moves the cassette 8 up and down. That is, when the elevating mechanism is arranged beside the cassette 8 and the cassette 8 is held by the cantilever structure, the cassette 8
It is necessary to increase the size of the shaft and bearings so as to withstand a large moment due to the weight of the cassette. However, if the elevating unit is disposed below the center of gravity of the cassette 8, no moment acts on the shaft, so that the elevating mechanism is small. Can be

【0069】さらに、カセット収容容器10の側部には
昇降機構17が存在しないため、カセット収容容器10
の搬入経路を小さくでき、移送装置の機構なども簡素に
できる。このため、搬出入室5の設計の自由度も高く、
例えばカセット収容容器10の側部に確認のための内圧
計や、基板2の覗き窓や、押出し式の基板搬入機構を容
易に取付けたり、目視確認をすることもできる。
Further, since there is no elevating mechanism 17 on the side of the cassette housing container 10, the cassette housing container 10
Can be reduced, and the mechanism of the transfer device can be simplified. For this reason, the degree of freedom in designing the loading / unloading room 5 is high,
For example, an internal pressure gauge for checking, a viewing window for the substrate 2, a push-out type substrate loading mechanism, or the like can be easily attached to the side of the cassette accommodating container 10 or can be visually checked.

【0070】尚、上記押出し式の基板搬入機構とは、図
2に示すようなロボットアーム式の移送機構7ではな
く、図6に示すような移送機構40を示す。上記移送機
構40は、駆動源であるピストンシリンダ41と、これ
によって往復駆動されるアーム42によって構成される
ものであり、カセット8内の基板2をアーム42によっ
てロボット室4側に押し出すことによって基板の移送を
行なう。このため、上記移送機構40はロボット室4側
ではなく、搬出入室5側部の隣接室(移送機構に図2に
示すようなロボットアーム式の移送機構7を用いていな
いため、ロボット室とはならない)の反対側に配置され
るものとなるが、上記移送機構40は移送される基板2
のカセット8内での配置スペース内において往復運動さ
れるのみであり、搬出入室5内にその駆動スペースを設
ける必要は特にない。したがって、上記移送機構40を
搬出入室5側に配置しても、該搬出入室5のスペース増
加を招くことは無い。また、上記移送機構40の駆動源
であるピストンシリンダ41は搬出入室5の外部に配置
され、搬出入室5内の空間とはベローズ43によって密
閉遮断される。これにより、搬出入室5のスペース増加
を防ぐと共に、ピストンの摺動部の発塵などによる製品
の品質や歩留りの低下を無くすことができる。さらに、
上記移送機構40を用いた構成では、搬出入室5とロボ
ット室4との間の基板移送経路において、基板支持ロー
ラ44を設けることが好ましい。
The extruding type substrate carrying mechanism is not a robot arm type transferring mechanism 7 as shown in FIG. 2, but a transferring mechanism 40 as shown in FIG. The transfer mechanism 40 includes a piston cylinder 41 as a driving source and an arm 42 reciprocally driven by the piston cylinder 41. The substrate 2 in the cassette 8 is pushed out by the arm 42 to the robot chamber 4 side. Is carried out. For this reason, the transfer mechanism 40 is not on the robot room 4 side, but an adjacent room on the side of the loading / unloading room 5 (the robot arm type transfer mechanism 7 as shown in FIG. The transfer mechanism 40 is disposed on the opposite side of the substrate 2 to be transferred.
Is reciprocated only in the arrangement space in the cassette 8, and there is no particular need to provide a drive space in the carry-in / out room 5. Therefore, even if the transfer mechanism 40 is arranged on the carry-in / out room 5 side, the space of the carry-in / out room 5 does not increase. The piston cylinder 41, which is a driving source of the transfer mechanism 40, is disposed outside the loading / unloading chamber 5, and is sealed off from the space in the loading / unloading chamber 5 by the bellows 43. As a result, it is possible to prevent an increase in the space of the carry-in / out chamber 5 and to prevent a decrease in product quality and yield due to dust generation at the sliding portion of the piston. further,
In the configuration using the transfer mechanism 40, it is preferable to provide the substrate support roller 44 in the substrate transfer path between the carry-in / out chamber 5 and the robot chamber 4.

【0071】但し、本発明においては、上記昇降部をカ
セット8の重心下に配置する構成に限定されるものでは
なく、図7に示すように、カセット8の側方に配置され
る昇降機構21を用いてもよい。この場合は、単なる片
持ち構造とすると該昇降機構21の大型化が避けられな
いため、カセット8を保持するステージ22の下にガイ
ドロット23を設けることが好ましい。
However, the present invention is not limited to the configuration in which the elevating section is disposed below the center of gravity of the cassette 8, and as shown in FIG. May be used. In this case, a simple cantilever structure inevitably increases the size of the elevating mechanism 21. Therefore, it is preferable to provide the guide lot 23 below the stage 22 holding the cassette 8.

【0072】続いて、本実施の形態に係る処理装置1に
おいて、搬出入室5からロボット室4への基板2の受渡
し方法を、図8(a)ないし図8(c)を用いて説明す
る。
Next, a method of transferring the substrate 2 from the loading / unloading room 5 to the robot room 4 in the processing apparatus 1 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 8 (a) to 8 (c).

【0073】まず、図8(a)に示すように、カセット
収容容器10を搬入するために、処理装置1の搬出入室
5の搬入扉24を開放する。そして、複数の基板2が搭
載されたカセット8を収容してなるカセット収容容器1
0を昇降機構17の上面に形成されているステージ25
上に載置する。この時、上記カセット収容容器10は、
ポッド蓋12と底板11とによって形成される空間内に
おいて上記カセット8を清浄度の高いドライエアと共に
密封した状態で収容している。また、上記搬出入室5の
内部は大気雰囲気となっている。
First, as shown in FIG. 8A, the loading door 24 of the loading / unloading chamber 5 of the processing apparatus 1 is opened in order to load the cassette accommodating container 10. Then, a cassette housing container 1 that houses a cassette 8 on which a plurality of substrates 2 are mounted.
0 is a stage 25 formed on the upper surface of the elevating mechanism 17.
Place on top. At this time, the cassette storage container 10
The cassette 8 is housed in a space formed by the pod lid 12 and the bottom plate 11 in a state sealed with dry air having high cleanliness. The inside of the loading / unloading chamber 5 is in an air atmosphere.

【0074】次に、図8(b)に示すように、搬入扉2
4を閉めて、搬出入室5の下部にあるガス導入/排気管
26より、大気圧より僅かに陽圧の清浄なN2 などの不
活性ガスをカセット収容容器10の下方において充填
し、搬出入室5内の大気と置換させる。その後、上記昇
降機構17を駆動させステージ25を降下させることに
より、該ステージ25上に載置されているカセット収容
容器10の底板11とカセット8とを僅かに下降させ
る。尚、この時、カセット収容容器10のポッド蓋12
の底部27は、搬出入室5内の側壁突出部28とOリン
グ29などを介して当接している(図1参照)。これに
より、上記当接部分が真空シールとして作用するため、
上記ポッド蓋12の外部と内部とが遮断され、該ポッド
蓋12の上部および側部の大気がカセット収容容器10
に入り込まない。したがって、清浄度の低い大気に露出
したポッド蓋12の上面からポッド蓋12の内面や下面
に異物等が回り込むことを低減し、真空引き等の時間短
縮が可能となる。尚、図2に示す処理装置1において
も、搬出入室5には、カセット収容容器10ごとカセッ
ト8が搬入されたのち、上記と同様の手順でカセット8
が該カセット収容容器10内から取り出されるが、同図
においては、カセット収容容器10の図示を省略してい
る。
Next, as shown in FIG.
4 is closed, and an inert gas, such as N 2, which is slightly more positive than the atmospheric pressure and is clean, is filled under the cassette container 10 through a gas introduction / exhaust pipe 26 provided at a lower portion of the loading / unloading chamber 5. 5. Replace with the atmosphere in 5. Thereafter, by driving the elevating mechanism 17 to lower the stage 25, the bottom plate 11 of the cassette container 10 and the cassette 8 placed on the stage 25 are slightly lowered. At this time, the pod cover 12 of the cassette container 10 is
Bottom portion 27 is in contact with a side wall protruding portion 28 in the carry-in / out chamber 5 via an O-ring 29 or the like (see FIG. 1). As a result, the contact portion acts as a vacuum seal,
The outside and the inside of the pod lid 12 are shut off, and the atmosphere at the top and side of the pod lid 12 is
Do not enter. Therefore, it is possible to reduce foreign substances and the like from flowing from the upper surface of the pod lid 12 exposed to the atmosphere having low cleanliness to the inner surface and the lower surface of the pod lid 12, thereby shortening the time for evacuation or the like. In the processing apparatus 1 shown in FIG. 2 as well, after the cassette 8 together with the cassette container 10 is loaded into the loading / unloading chamber 5, the cassette 8 is loaded in the same manner as described above.
Are taken out of the cassette accommodating container 10, but the illustration of the cassette accommodating container 10 is omitted in FIG.

【0075】その後、図8(c)に示すように、ガス導
入/排気手段としてのガス導入/排気管26およびガス
排出管30により搬出入室5の上部および下部領域、す
なわち上記ポッド蓋12の外部および内部領域を同時に
真空引き排気する。尚、この時、ポッド蓋12の底部2
7と搬出入室5内の側壁突出部28とのシールが完全で
あれば、内部領域のみの真空引きでも十分であるが、内
部領域と外部領域とを同時に真空引きすることにより、
シールの消耗等によって工程中にステージ25が大気に
さらされ、灰塵が搬出入室5の内部領域に侵入すること
が低減される。そして、搬出入室5とロボット室4との
間における基板の取り出し口である基板移送口31を開
閉するゲートバルブ(開閉手段)32を開いた後、ロボ
ット室4側に配置された移送機構7であるロボットによ
りカセット8に収容された基板2を1枚ずつロボット室
4へ移送する。一枚の基板2が移送される毎に、上記昇
降機構17はカセット8を順次下降させ、次段の基板2
が上記基板移送口27の横に来るようにする。また、処
理が完了した基板2は、逆にカセット8に戻される。
Thereafter, as shown in FIG. 8C, the gas introduction / exhaust pipes 26 and gas exhaust pipes 30 serving as gas introduction / exhaust means are provided in the upper and lower regions of the loading / unloading chamber 5, ie, outside the pod lid 12. And the interior region is simultaneously evacuated and evacuated. At this time, the bottom 2 of the pod lid 12
If the seal between the inner wall 7 and the side wall protruding portion 28 in the loading / unloading chamber 5 is perfect, it is sufficient to evacuate only the inner region. However, by evacuating the inner region and the outer region simultaneously,
The stage 25 is exposed to the atmosphere during the process due to the consumption of the seal and the like, and the intrusion of ash dust into the internal area of the carry-in / out chamber 5 is reduced. Then, after opening a gate valve (opening / closing means) 32 for opening and closing a substrate transfer port 31 which is a substrate take-out port between the carry-in / out chamber 5 and the robot chamber 4, the transfer mechanism 7 arranged on the robot chamber 4 side opens the gate valve (opening / closing means). The substrate 2 accommodated in the cassette 8 is transferred one by one to the robot chamber 4 by a certain robot. Each time one substrate 2 is transferred, the elevating mechanism 17 lowers the cassette 8 sequentially, and moves the substrate 2 of the next stage.
Is located beside the substrate transfer port 27. The processed substrate 2 is returned to the cassette 8 on the contrary.

【0076】搬出入室5とロボット室4との間での基板
2の受け渡しでは、複数の基板2を収容したカセット8
から各基板2を抜き出す動作が含まれる。この時、従来
では、上記カセット内で上下方向に積載される基板の位
置に合わせて移送機構の昇降を行う必要があった。これ
に対し、本実施の形態に係る処理装置1では、昇降機構
17によってカセット8自体が所定位置(すなわち、取
り出される基板2が取り出し口31に対向する位置)ま
で順次下降され、ほぼ一定の水平位置から移送機構7に
よって基板2が1枚ずつ移送されるため、上記移送機構
7において、従来のような昇降機能が不必要となり、該
移送機構7を簡素化することができる。上記移送機構7
の簡素化は、これを収容するロボット室4の小型化、ひ
いては処理装置1の小型化に繋がる。
In the transfer of the substrate 2 between the loading / unloading room 5 and the robot room 4, the cassette 8 accommodating the plurality of substrates 2 is used.
The operation includes extracting each substrate 2 from the substrate. At this time, conventionally, it has been necessary to raise and lower the transfer mechanism in accordance with the position of the substrates stacked vertically in the cassette. On the other hand, in the processing apparatus 1 according to the present embodiment, the cassette 8 itself is sequentially lowered by the elevating mechanism 17 to a predetermined position (that is, the position where the substrate 2 to be taken out faces the take-out port 31), and a substantially constant horizontal Since the substrates 2 are transferred one by one from the position by the transfer mechanism 7, the transfer mechanism 7 does not require a conventional elevating function, and the transfer mechanism 7 can be simplified. The transfer mechanism 7
Simplification leads to downsizing of the robot room 4 for accommodating this, and eventually downsizing of the processing apparatus 1.

【0077】また、上述のように、ほぼ一定の水平位置
から基板2を1枚ずつ移送する方法では、搬出入室5と
ロボット室4との間における基板移送口31は、少なく
とも1枚の基板2を搬出できる大きさを有しておれば良
く、基板移送口31を小さくできるため、ゲートバルブ
32の構成を簡略化できる。
Further, as described above, in the method of transferring the substrates 2 one by one from a substantially constant horizontal position, the substrate transfer port 31 between the loading / unloading chamber 5 and the robot chamber 4 has at least one substrate 2. It is sufficient that the substrate transfer port 31 is small, and the configuration of the gate valve 32 can be simplified.

【0078】尚、上記図8(b)に示す工程において、
搬出入室5内の大気を不活性ガスと置換させる理由は以
下の通りである。すなわち、上記搬出入室5内において
カセット収容容器10からカセット8を取り出す際に
は、搬出入室5内の清浄度を高い状態とするために、搬
出入室5内を清浄気体に置換するか、あるいは真空引き
する必要がある。しかしながら、上記カセット収容容器
10の内部には、上述したように、清浄度の高い不活性
ガスが陽圧状態で充填されているため、搬出入室5に上
記カセット収容容器10が搬入された段階で該搬出入室
5を真空引きすると、カセット収容容器10の内外で圧
力差が生じる。したがって、この場合には、上記カセッ
ト収容容器10がこの圧力差に耐え得るだけの強度を持
つ必要が生じ、このことはカセット収容容器10の重量
化およびコストアップを招く。
In the process shown in FIG. 8B,
The reason for replacing the atmosphere in the loading / unloading chamber 5 with the inert gas is as follows. That is, when taking out the cassette 8 from the cassette accommodating container 10 in the loading / unloading chamber 5, the inside of the loading / unloading chamber 5 is replaced with a clean gas or a vacuum is used in order to increase the cleanliness in the loading / unloading chamber 5. I need to pull. However, as described above, the inside of the cassette housing container 10 is filled with an inert gas having a high degree of cleanliness in a positive pressure state, and therefore, at the stage when the cassette housing container 10 is carried into the carry-in / out chamber 5. When the loading / unloading chamber 5 is evacuated, a pressure difference is generated inside and outside the cassette housing container 10. Therefore, in this case, it is necessary that the cassette container 10 has a strength enough to withstand the pressure difference, which leads to an increase in weight and cost of the cassette container 10.

【0079】これに対し、上記カセット収容容器10か
らカセット8が取り出される前の段階において、搬出入
室5内を清浄な不活性ガスと置換するのみであれば、上
述のようなカセット収容容器10の内外での圧力差は生
じず、上記問題を回避できる。また、真空系のフィルタ
ーの負担を低減して寿命を延ばすこと等により、メンテ
ナンスにかかる時間を低減できる等のメリットがある。
On the other hand, if only the inside of the carry-in / out chamber 5 is replaced with a clean inert gas at the stage before the cassette 8 is taken out from the cassette housing container 10, the cassette housing container 10 as described above is not used. There is no pressure difference between inside and outside, and the above problem can be avoided. Further, there is an advantage that the time required for maintenance can be reduced by reducing the load on the vacuum filter and extending the life.

【0080】また、上記図8(c)に示す工程におい
て、カセット収容容器10からカセット8を取り出され
た後、搬出入室5内を真空引き理由は以下の通りであ
る。すなわち、上述のように搬出入室5内を真空引きす
ることにより、搬出入室5とロボット室4との間での基
板2の受け渡しは真空雰囲気下で行われる。また、通
常、ロボット室4と処理室3との間での基板2の受け渡
しは真空雰囲気下で行われるため、搬出入室5とロボッ
ト室4との間での基板2の受け渡しをも真空雰囲気下に
行うことにより、上記ロボット室4は、常に真空状態に
維持すればよいこととなる。
In the step shown in FIG. 8C, after the cassette 8 is taken out from the cassette accommodating container 10, the inside of the loading / unloading chamber 5 is evacuated for the following reason. That is, as described above, the transfer of the substrate 2 between the carry-in / out room 5 and the robot room 4 is performed in a vacuum atmosphere by evacuating the inside of the carry-in / out room 5. Since the transfer of the substrate 2 between the robot chamber 4 and the processing chamber 3 is usually performed in a vacuum atmosphere, the transfer of the substrate 2 between the transfer chamber 5 and the robot chamber 4 is also performed in a vacuum atmosphere. By doing so, the robot chamber 4 only needs to be constantly maintained in a vacuum state.

【0081】この場合、上記ロボット室4においては、
ガスの導入等が不要となりガスの排気手段のみ設ければ
良いため、ロボット室4の雰囲気維持のための構成が簡
素化できる。また、ロボット室4において、ガス導入状
態から真空状態へ移行するための真空引き時間などが不
要となるため、製造タクトを抑えることができる。
In this case, in the robot room 4,
Since it is not necessary to introduce gas or the like and only the gas exhaust means needs to be provided, the configuration for maintaining the atmosphere in the robot chamber 4 can be simplified. Further, in the robot room 4, the evacuation time for shifting from the gas introduction state to the vacuum state is not required, so that manufacturing tact can be suppressed.

【0082】上記移送機構7は、図9に示すように、ロ
ボットアーム33の先端に基板2を載置搬送するハンド
34が形成されているものである。上記ハンド34は略
U字形状をしており、上記基板2を搬送する時には2本
のアーム部に該基板2を載置して搬送する。この時、上
記ハンド34における上記アーム部は、カセット8にお
いて基板2を周縁部で支持する場合よりも、該基板2の
内側を支持するため発生する反りは格段に減少する。す
なわち、カセット8における基板2の周縁部支持は、図
10(a)に示すように、2つの支点が端部近くを支え
るため、自重による曲げモーメントは支点間に集中し、
基板2の撓み量(反り)が増大する。これに対して、移
送機構7のハンド34によって基板2を支持する場合
は、図10(b)に示すように、支点が基板2の中央よ
りに位置するため、支点間において生じる曲げモーメン
トと、支点外側において生じる曲げモーメントとが互い
に逆方向となり基板2の反りを打ち消し合うため反りが
発生しにくい。また、図9に示すように、上記移送機構
7のハンド34の基板載置面に吸着パッド35を設け、
基板2を吸着させることによって基板2の反りをより低
減させることも可能である。すなわち、この場合は、図
10(c)に示すように、基板載置面において基板2を
吸着することにより該基板2の基板載置面との接面が水
平に保たれるため、基板2の反りがより減少する。
As shown in FIG. 9, the transfer mechanism 7 has a hand 34 for placing and transporting the substrate 2 at the tip of a robot arm 33. The hand 34 has a substantially U shape, and when transporting the substrate 2, the substrate 2 is placed on two arms and transported. At this time, since the arm portion of the hand 34 supports the inside of the substrate 2 in the cassette 8 at the peripheral edge thereof, the warpage generated is significantly reduced. That is, as shown in FIG. 10 (a), in supporting the peripheral portion of the substrate 2 in the cassette 8, since two fulcrums support near the end, the bending moment due to its own weight is concentrated between the fulcrums.
The amount of deflection (warpage) of the substrate 2 increases. On the other hand, when the substrate 2 is supported by the hand 34 of the transfer mechanism 7, as shown in FIG. 10B, since the fulcrum is located closer to the center of the substrate 2, the bending moment generated between the fulcrums and Since the bending moments generated outside the fulcrum become opposite to each other, the warpage of the substrate 2 is canceled out, so that the warp hardly occurs. Further, as shown in FIG. 9, a suction pad 35 is provided on the substrate mounting surface of the hand 34 of the transfer mechanism 7,
By adsorbing the substrate 2, the warpage of the substrate 2 can be further reduced. That is, in this case, as shown in FIG. 10C, the substrate 2 is attracted to the substrate mounting surface, so that the contact surface of the substrate 2 with the substrate mounting surface is kept horizontal. Warpage is further reduced.

【0083】さらに、カセット8において基板2を収容
する場合は、図4において説明したように、基板2の端
部がローラ16で押さえられていることにより、基板2
を抜き差しする際に該ローラ16が障害となることもあ
り得る。したがって、図11に示すように、移送機構7
のハンド34に段差部36を設けることにより、より安
定した搬送が可能となる。すなわち、基板2を移送機構
7のハンド34に載置するだけでは、基板2の搬送方向
に対して障害があるとハンド34と基板2との間で滑り
が生じて搬送が不安定になる虞があるが、該基板2を上
記ハンド34の段差部36に引っかけて搬送すれば、上
述のような滑りが生じない。また、図8に示すような吸
着パッド35によって基板2をハンド34に吸着させな
がら搬送しても同様の効果が得られるが、特に基板2を
カセット8に挿入する時は、ローラ16の抵抗が大きく
なるため、段差部36による搬送を行う方がより滑りが
生じ難く安定した搬送が行える。さらに、ハンド34に
よる基板2の移送時と、カセット8内における基板2の
収容時とでは、該基板2の反り状態が異なるため、搬送
途中の基板2の形状をカセット8内に基板2が収容され
る形状に修正するためのガイド部を設けることが好まし
い。
Further, when the substrate 2 is stored in the cassette 8, the end of the substrate 2 is pressed by the roller 16 as described with reference to FIG.
When inserting and removing the roller, the roller 16 may be an obstacle. Therefore, as shown in FIG.
By providing the step portion 36 in the hand 34, more stable conveyance is possible. That is, if the substrate 2 is simply placed on the hand 34 of the transfer mechanism 7, if there is an obstacle in the transport direction of the substrate 2, a slip may occur between the hand 34 and the substrate 2 and the transport may be unstable. However, if the substrate 2 is conveyed by being hooked on the step portion 36 of the hand 34, the above-described slip does not occur. The same effect can be obtained when the substrate 2 is transported while being suctioned to the hand 34 by the suction pad 35 as shown in FIG. 8, but the resistance of the roller 16 is particularly low when the substrate 2 is inserted into the cassette 8. Since the transfer becomes larger, the transfer by the stepped portion 36 is less likely to cause a slip, and the transfer can be stably performed. Furthermore, since the warped state of the substrate 2 is different between when the substrate 2 is transferred by the hand 34 and when the substrate 2 is stored in the cassette 8, the shape of the substrate 2 being transported is stored in the cassette 8. It is preferable to provide a guide portion for correcting the shape to be formed.

【0084】尚、以上の説明では、搬出入室5において
1つのカセット収容容器10を搬入する構成を示した
が、上記搬出入室5内にn個のカセット収容容器10を
横置きなどにして、上記搬出入室の容積がカセット収容
容器10の1つあたりの容積の(2n+α)倍となるよ
うにして(最小2n強であり、αはゲートバルブ数や移
載スペースの取り方による)、基板2の1枚当りにかか
る真空引き等の基板取り込み時間を低減しても良い。
In the above description, the configuration in which one cassette accommodating container 10 is carried in the carry-in / out room 5 has been described. The capacity of the substrate 2 is adjusted so that the volume of the loading / unloading chamber is (2n + α) times the volume per one of the cassette storage containers 10 (minimum 2n or more, α is dependent on the number of gate valves and the way of the transfer space). The substrate loading time such as evacuation or the like per sheet may be reduced.

【0085】[0085]

【発明の効果】本発明の基板の処理装置は、以上のよう
に、上記搬出入室と上記隣接室との間には、基板の取り
出しまたは取り入れ時の移送のための出入口が設けら
れ、該出入口は開閉手段によって開閉可能であると共
に、上記搬出入室には、上記開閉手段によって上記出入
口が閉じられている状態で、室内のガス排気または室内
へのガス導入によって室内雰囲気を変更可能とするガス
導入/排気手段と、搬入された上記搬送体から、基板を
収容するカセットを昇降させて取り入れする昇降機構と
が備えられ、上記隣接室には、上記基板を搬出入室から
隣接室へ移送する移送機構が備えられている構成であ
る。
As described above, the substrate processing apparatus of the present invention is provided with an entrance for transferring the substrate when taking out or taking in the substrate, between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber. Can be opened and closed by an opening / closing means, and can be changed into a room atmosphere by exhausting gas or introducing gas into the room in a state where the entrance is closed by the opening / closing means. / Evacuation means, and an elevating mechanism for elevating and lowering a cassette accommodating a substrate from the transported transport body, and a transport mechanism for transporting the substrate from the transport chamber to the adjacent chamber in the adjacent chamber. Is provided.

【0086】あるいは、本発明の基板の処理装置は、以
上のように、上記搬出入室と上記隣接室との間には、基
板の取り出しまたは取り入れ時の移送のための出入口が
設けられ、該出入口は開閉手段によって開閉可能である
と共に、上記搬出入室には、上記開閉手段によって上記
出入口が閉じられている状態で、室内のガス排気または
室内へのガス導入によって室内雰囲気を変更可能とする
ガス導入/排気手段と、搬入された上記搬送体から、基
板を収容するカセットを昇降させて取り入れする昇降機
構とが備えられ、上記搬出入室には、上記基板を搬出入
室から隣接室へ移送する押出式の移送機構が備えられて
おり、上記移送機構の駆動部は前記搬出入室内空間と密
閉遮断されて搬出入室の外部に配置されている構成であ
る。
Alternatively, in the substrate processing apparatus of the present invention, as described above, an entrance for transferring the substrate when taking out or taking in the substrate is provided between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber. Can be opened and closed by an opening / closing means, and can be changed into a room atmosphere by exhausting gas or introducing gas into the room in a state where the entrance is closed by the opening / closing means. / Exhaust means and an elevating mechanism for elevating and lowering a cassette accommodating a substrate from the transported transport body, and an extruder for transferring the substrate from the transport chamber to an adjacent chamber in the transport chamber. And a drive unit of the transfer mechanism is hermetically sealed from the carry-in / out room space and arranged outside the carry-in / out room.

【0087】それゆえ、上記搬出入室内では、搬出入室
から隣接室への基板の移送が隣接室側に配置された移送
機構、または、駆動部が搬出入室の外部に配置された押
出式の移送機構によって行われ、搬出入室においては、
搬送体からカセットを取り出すためにカセットの高さに
相当する1ストローク分の空間があれば良く、上記カセ
ットの容積のほぼ2倍程度と装置を格段に小さくするこ
とができる。このように、上記搬出入室の小型を図るこ
とにより、各処理装置を格段に小型化(従来の数分の1
以下に)でき、工場施設も最小限にできる。これによ
り、工場の建設や保守、維持費などが抑えられると共
に、製造や工程管理などの作業性を向上できるという効
果を奏する。
Therefore, in the loading / unloading chamber, the transfer mechanism for transferring the substrate from the loading / unloading chamber to the adjacent chamber is located on the adjacent chamber side, or an extruding transfer mechanism in which the driving unit is located outside the loading / unloading chamber. It is performed by the mechanism, and in the carry-in / out room,
It is sufficient if there is a space for one stroke corresponding to the height of the cassette in order to take out the cassette from the carrier, and the size of the apparatus can be remarkably reduced to approximately twice the volume of the cassette. In this way, by reducing the size of the loading / unloading room, each processing apparatus can be significantly reduced in size (a fraction of the conventional size).
Below) and minimize the number of factory facilities. As a result, there is an effect that the cost of construction, maintenance, and maintenance of the factory can be suppressed, and workability such as manufacturing and process management can be improved.

【0088】また、上述のように搬出入室が小型化され
た構成では、搬出入室の真空引き時間などが低減される
ため、製造タクトを抑えることができると共に、複雑な
空調調整を行うことなく清浄度を安定化させることがで
き、製品の品質や歩留まりを向上できるという効果を併
せて奏する。
Further, in the configuration in which the loading / unloading chamber is miniaturized as described above, the vacuuming time of the loading / unloading chamber is reduced, so that the manufacturing tact can be suppressed and the cleaning can be performed without complicated air conditioning adjustment. The degree of stability can be stabilized, and the effect of improving the quality and yield of the product can be achieved.

【0089】さらに、上記処理装置は、上記搬出入室と
上記隣接室との間での基板受け渡しの際には、上記昇降
機構によって上記搬送体内のカセットを、取り出される
基板が上記出入口に対向する所定位置まで順次移動さ
せ、該出入口におけるほぼ一定の水平位置から上記移送
機構によって基板を1枚ずつ取り出して隣接室へ移送す
る構成である。
Further, when the substrate is transferred between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber, the processing apparatus moves the cassette in the transport body by the elevating mechanism so that the substrate to be taken out faces the entrance. The substrate is sequentially moved to a position, and the substrates are taken out one by one by the above-mentioned transfer mechanism from a substantially constant horizontal position at the entrance and transferred to an adjacent chamber.

【0090】これにより、上記移送機構においては、従
来のようなカセット内で上下方向に積載される基板の位
置に合わせて移送機構の昇降を行う昇降機能が不必要と
なり、該移送機構を簡素化することができる。上記移送
機構の簡素化により、これを収容する隣接室の小型化、
ひいては処理装置の小型化を図ることができるという効
果を奏する。
As a result, the transfer mechanism does not need a lifting function for raising and lowering the transfer mechanism in accordance with the position of the substrates stacked in the cassette in the vertical direction, as in the prior art, thereby simplifying the transfer mechanism. can do. By simplifying the transfer mechanism, the size of the adjacent room that accommodates it is reduced,
As a result, there is an effect that the size of the processing apparatus can be reduced.

【0091】また、このようなほぼ一定の水平位置から
基板を1枚ずつ移送する方法では、搬出入室と隣接室と
の間における取り出し口を小さくできるため、これを開
閉する開閉手段の構成をも簡略化できるという効果を併
せて奏する。
In such a method of transferring substrates one by one from a substantially constant horizontal position, the take-out opening between the carry-in / out room and the adjacent room can be made small. An effect that simplification can be achieved is also exhibited.

【0092】さらに、上記処理装置は、上記ガス導入/
排気手段が、上記搬出入室に上記搬送体が搬入された
後、該搬出入室内を真空引きし、上記移送手段が搬出入
室と隣接室との間での基板受け渡しを真空雰囲気下で行
う構成である。
Further, the above-mentioned processing apparatus is provided with the above-mentioned gas introduction /
After the carrier is carried into the carry-in / out chamber, the exhaust means evacuates the carry-in / out chamber, and the transfer means performs substrate transfer between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber in a vacuum atmosphere. is there.

【0093】通常、隣接室と処理室との間の基板受け渡
しは真空雰囲気下で行われるものであるため、搬出入室
と隣接室との間での基板受け渡しをも真空雰囲気下で行
う構成とすれば、上記隣接室は、常に真空状態に維持す
ればよいこととなる。これにより、上記隣接室において
は、雰囲気の維持が容易となると共に、隣接室の真空引
き時間などが低減されるため、製造タクトを抑えること
ができるという効果を奏する。
Usually, the transfer of the substrate between the adjacent chamber and the processing chamber is performed in a vacuum atmosphere. Therefore, the transfer of the substrate between the loading / unloading chamber and the adjacent chamber is also performed in the vacuum atmosphere. In this case, the adjacent chamber should always be maintained in a vacuum state. Thereby, in the adjacent chamber, the atmosphere can be easily maintained, and the time for evacuation of the adjacent chamber is reduced, so that there is an effect that manufacturing tact can be suppressed.

【0094】さらに、上記処理装置では、上記ガス導入
排気手段は、上記搬出入室に上記搬送体が搬入された後
で、かつ、該搬送体から基板を収容するカセットが取り
出される前の段階で、該搬出入室内を清浄気体に置換
し、該搬送体から基板を収容するカセットが取り出され
た後の段階で、該搬出入室内を真空引きする構成であ
る。
Further, in the above-mentioned processing apparatus, the gas introduction / exhaust means is provided at a stage after the transfer body is loaded into the transfer chamber and before the cassette for accommodating the substrate is taken out of the transfer body. The inside of the carry-in / out chamber is replaced with clean gas, and the inside of the carry-in / out chamber is evacuated at a stage after the cassette accommodating the substrate is taken out of the carrier.

【0095】上記搬送体からカセットが取り出される前
の段階では搬出入室内は清浄気体雰囲気であり、該搬送
体からカセットが取り出された後の段階で該搬出入室内
が真空引きされるため、真空引きによる搬送体の内外で
の圧力差は生じない。したがって、上記搬送体において
必要以上の強度を持たせる必要はなく、搬送体の軽量化
およびコストダウンを図ることができるという効果を奏
する。
At the stage before the cassette is taken out from the carrier, the loading / unloading chamber is in a clean gas atmosphere. At the stage after the cassette is taken out from the carrier, the loading / unloading chamber is evacuated. There is no pressure difference between the inside and outside of the carrier due to the pulling. Therefore, it is not necessary to provide the carrier with unnecessarily high strength, and it is possible to reduce the weight and cost of the carrier.

【0096】さらに、上記処理装置では、前記昇降機構
の昇降部(例えば、昇降用シャフト)は、前記基板また
は前記カセットのほぼ重心直下となる位置に設けられ、
前記昇降機構の駆動部およびガイド受け部は前記搬出入
室の外部に設けられ、前記搬出入室内の前記昇降部はベ
ローズで前記搬出入室内空間と密閉遮断されている構成
である。
Further, in the above-described processing apparatus, the elevating unit (for example, the elevating shaft) of the elevating mechanism is provided at a position substantially immediately below the center of gravity of the substrate or the cassette,
The drive unit and the guide receiving unit of the elevating mechanism are provided outside the carry-in / out room, and the elevating unit in the carry-in / out room is sealed off from the carry-in / out room space by a bellows.

【0097】このように、上記昇降機構の駆動部等を搬
出入室の外部し、かつ、昇降部をカセットの重心直下付
近に配置することで、保守作業が容易となり、昇降機構
の小型化が図れると共に、搬出入室内の昇降部をベロー
ズで前記搬出入室内空間と密閉遮断することで、摺動部
などの発塵などによる、製品の品質や歩留りの低下を無
くすことができるという効果を奏する。
As described above, by arranging the drive unit and the like of the elevating mechanism outside the loading / unloading room and arranging the elevating unit just below the center of gravity of the cassette, maintenance work becomes easy and the elevating mechanism can be downsized. At the same time, since the elevating section in the loading / unloading chamber is hermetically sealed off from the loading / unloading indoor space with bellows, it is possible to eliminate the reduction in product quality and yield due to dust generation of the sliding section and the like.

【0098】本発明の基板の搬送体は、上記カセット
は、搭載される各基板を載置支持するために、基板1枚
当たりに対して、基板面内に4箇所から6箇所が突出し
て形成されている基板支持部を有し、前記基板支持部の
先端近傍には、前記基板に当接して基板を支持する樹脂
から成るピン部が形成されている構成である。
In the substrate carrier according to the present invention, the cassette is formed by projecting four to six portions in the substrate surface per substrate in order to place and support each substrate to be mounted. And a pin portion made of a resin that abuts on the substrate and supports the substrate is formed in the vicinity of the tip of the substrate supporting portion.

【0099】このように、上記基板支持部を基板面内方
向に突出させ、支持点の距離を小さくすることにより基
板の反りが減り、カセット内の基板間隔も小さくして、
基板搬送体の小型化も図れるという効果を奏する。さら
に、基板の搬送体の軽量小型化は、処理装置における搬
出入室の小型化にも繋がる。
As described above, by projecting the substrate supporting portion in the in-plane direction of the substrate and reducing the distance between the supporting points, the warpage of the substrate is reduced, and the interval between the substrates in the cassette is also reduced.
There is an effect that the size of the substrate carrier can be reduced. Further, the reduction in the size and weight of the substrate transporter leads to a reduction in the size of the loading / unloading room in the processing apparatus.

【0100】また、上記基板支持部は4〜6点程度(突
出部は特に6箇所程度が好ましい)の凸状突出部とする
ことで、反り低減とカセットの軽量化とをバランス良く
両立させることができる。
Further, the substrate supporting portion is formed as a convex projecting portion of about 4 to 6 points (the projecting section is particularly preferably about 6 places), so that a reduction in warpage and a reduction in the weight of the cassette can be achieved in a well-balanced manner. Can be.

【0101】また、基板との当接部は、テフロンなどの
樹脂を用いると、基板に傷をつけることなく、当接する
部材も摩耗やかけが少なく、酸性洗浄材などに対する耐
薬品性の高いという利点が得られる。
Further, if a resin such as Teflon is used for the contact portion with the substrate, the member to be in contact with the substrate is less abraded and sprinkled, and has high chemical resistance to acidic cleaning materials without damaging the substrate. Benefits are obtained.

【0102】さらに、上記搬送体は、前記基板支持部
が、基板面内においてなめらかな曲線外縁を持つ山形形
状である構成である。
Further, the above-mentioned carrier has a configuration in which the substrate supporting portion has a chevron shape having a smooth curved outer edge in the substrate plane.

【0103】基板間隔を最小にし、かつ、板材など加工
と組み立てが容易となるように、均一な厚みを有する板
材を用い、基板支持部の軽量化と剛性を確保するために
片持ち支持構造の基板支持部において応力が均一になる
ような断面形状を得ることができるという効果を奏す
る。また、上記基板支持部において、なめらかな曲線外
縁とすることで、角部などをなくし、基板との接触時の
傷つけや発塵を防止することができる。
In order to minimize the distance between the substrates and to facilitate the processing and assembly of the plate material and the like, a plate material having a uniform thickness is used. There is an effect that a cross-sectional shape that makes the stress uniform in the substrate supporting portion can be obtained. In addition, since the substrate supporting portion has a smooth curved outer edge, corners and the like can be eliminated, thereby preventing damage and dust generation at the time of contact with the substrate.

【0104】本発明の電子部品の製造方法は、上述の基
板の搬送体を用いて、複数枚の基板を収容したカセット
を清浄度の高い雰囲気中に保持しながら、上述の基板の
処理装置間で搬送し、基板上に上記各処理装置によって
処理工程を施すことにより電子部品を製造する構成であ
る。
The method of manufacturing an electronic component according to the present invention is a method of manufacturing electronic components using the above-described substrate carrier while maintaining a cassette accommodating a plurality of substrates in an atmosphere of high cleanliness. And electronic components are manufactured by performing processing steps on the substrate by the above-described processing apparatuses.

【0105】これにより、上述の基板の搬送体、基板の
処理装置と同様に、処理装置における搬出入室の小型化
が図れるという効果を奏する。
As a result, as in the above-described substrate transporter and substrate processing apparatus, the size of the loading / unloading chamber in the processing apparatus can be reduced.

【0106】また、上記電子部品の製造方法では、前記
基板の搬送体内に前記基板を収容したカセットを保持し
ながら搬送する際、該基板の搬送体の内圧を陽圧とする
構成である。
Further, in the method of manufacturing an electronic component, the internal pressure of the substrate carrier is set to a positive pressure when the substrate is transported while holding the cassette in the substrate carrier.

【0107】これにより、Oリングなどの破損や寿命な
どにより、搬送体の内と外での気密が破れた場合に、外
部の清浄でない空気が入り込むことを防止できる。ま
た、基板取り出し時の大気圧開放や底板開放などの一連
の作業性の向上や、時間短縮が図れる。
Thus, when airtightness inside and outside of the transport body is broken due to breakage or life of the O-ring or the like, external unclean air can be prevented from entering. Further, it is possible to improve a series of operability such as opening the atmospheric pressure and opening the bottom plate when taking out the substrate, and to shorten the time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態を示すものであり、処理装
置の概略構成を示す断面図である。
FIG. 1 illustrates one embodiment of the present invention, and is a cross-sectional view illustrating a schematic configuration of a processing apparatus.

【図2】本発明の一実施形態を示すものであり、処理装
置の概略構成を示す平面図である。
FIG. 2 illustrates one embodiment of the present invention, and is a plan view illustrating a schematic configuration of a processing apparatus.

【図3】上記処理装置間での基板の搬送に使用されるカ
セット収容容器の概略構成を示す断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating a schematic configuration of a cassette storage container used for transferring a substrate between the processing apparatuses.

【図4】上記カセット収容容器内のカセットにおける、
基板支持部の形状を示す平面図である。
FIG. 4 shows a cassette in the cassette housing container.
It is a top view showing the shape of a substrate supporting part.

【図5】上記基板支持部による基板の支持状態を示す説
明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing a state in which a substrate is supported by the substrate support unit.

【図6】図1の処理装置とは異なる処理装置の概略構成
を示すものであり、押出式の移送機構を用いた処理装置
の断面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating a schematic configuration of a processing apparatus different from the processing apparatus of FIG. 1 and using an extruding transfer mechanism.

【図7】図1の処理装置とは異なる、搬出入室の構成を
示す断面図である。
FIG. 7 is a cross-sectional view showing a configuration of a loading / unloading chamber different from the processing apparatus of FIG. 1;

【図8】図8(a)ないし図8(c)は、図1の処理装
置の搬出入室内における、カセット収容容器からカセッ
トを取り出す時の動作を示す説明図である。
8 (a) to 8 (c) are explanatory views showing the operation of taking out a cassette from a cassette accommodating container in the loading / unloading chamber of the processing apparatus of FIG.

【図9】上記処理装置において、搬出入室とロボット室
との間での基板の移送を行う移送機構の基板載置部分を
示す斜視図である。
FIG. 9 is a perspective view showing a substrate mounting portion of a transfer mechanism for transferring the substrate between the loading / unloading chamber and the robot chamber in the processing apparatus.

【図10】図10(a)ないし図10(c)は、基板を
支持する支点位置と、基板の反り状態との関係を模式的
に示す説明図である。
FIGS. 10A to 10C are explanatory diagrams schematically showing a relationship between a fulcrum position for supporting a substrate and a warped state of the substrate.

【図11】図9に示す移送機構において、基板載置部で
あるハンド形状を示す断面図である。
FIG. 11 is a cross-sectional view illustrating a hand shape as a substrate mounting portion in the transfer mechanism illustrated in FIG. 9;

【図12】従来の処理装置の概略構成を示す断面図であ
る。
FIG. 12 is a cross-sectional view illustrating a schematic configuration of a conventional processing apparatus.

【図13】上記処理装置の概略平面図である。FIG. 13 is a schematic plan view of the processing apparatus.

【図14】上記処理装置のカセット収容容器用ポートを
示す断面図である。
FIG. 14 is a cross-sectional view showing a cassette housing container port of the processing apparatus.

【図15】上記処理装置のカセット水平移動機構を示す
斜視図である。
FIG. 15 is a perspective view showing a cassette horizontal moving mechanism of the processing apparatus.

【図16】図12とは別の従来の処理装置の概略構成を
示す図であり、図16(a)は斜視図、図16(b)は
横断面図である。
16 is a diagram showing a schematic configuration of another conventional processing apparatus different from FIG. 12, in which FIG. 16 (a) is a perspective view and FIG. 16 (b) is a transverse sectional view.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 処理装置(基板の処理装置) 2 基板 3 処理室 4 ロボット室 5 搬出入室 7 移送機構 8 カセット 10 カセット収容容器(基板の搬送体) 11 底板 12 ポッド蓋(容器本体) 14 基板支持部 15 ピン(ピン部) 17 昇降機構 18 昇降部 19 ガイド部 20 ベローズ 26 ガス導入/排気管(ガス導入/排気手段) 30 ガス排気管(ガス導入/排気手段) 31 基板移送口(取り出し口) 32 ゲートバルブ(開閉手段) 40 移送機構(押出式の移送機構) 41 ピストンシリンダ(移送機構の駆動部) 43 ベローズ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Processing apparatus (substrate processing apparatus) 2 Substrate 3 Processing chamber 4 Robot chamber 5 Loading / unloading chamber 7 Transfer mechanism 8 Cassette 10 Cassette storage container (substrate transfer body) 11 Bottom plate 12 Pod lid (container main body) 14 Substrate support 15 pins (Pin part) 17 Elevating mechanism 18 Elevating part 19 Guide part 20 Bellows 26 Gas introduction / exhaust pipe (Gas introduction / exhaust means) 30 Gas exhaust pipe (Gas introduction / exhaust means) 31 Substrate transfer port (Take out port) 32 Gate valve (Opening / closing means) 40 Transfer mechanism (extrusion transfer mechanism) 41 Piston cylinder (drive section of transfer mechanism) 43 Bellows

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/205 H01L 21/205 21/265 603 21/265 603C (72)発明者 大見 忠弘 宮城県仙台市青葉区米ケ袋2−1−17− 301 (72)発明者 田草 康伸 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 Fターム(参考) 3F022 AA08 BB09 CC02 EE05 FF26 KK15 KK20 MM01 MM03 4K029 BD01 KA02 KA09 4K030 GA13 KA28 5F031 CA05 DA01 DA09 FA02 FA03 FA07 FA11 FA12 GA08 GA44 GA47 GA49 HA67 MA04 MA07 MA09 NA02 NA09 5F045 BB08 BB10 BB14 DQ17 EB03 EB08 EB09 EM10 EN04 HA24──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H01L 21/205 H01L 21/205 21/265 603 21/265 603C (72) Inventor Tadahiro Omi Sendai, Miyagi 2-1-17- 301, Yonegabukuro, Aoba-ku, Yokohama-shi (72) Inventor Yasunobu Tagusa 22-22 Nagaikecho, Abeno-ku, Osaka City, Osaka F-term (reference) 3F022 AA08 BB09 CC02 EE05 FF26 KK15 KK20 MM01 MM03 4K029 BD01 KA02 KA09 4K030 GA13 KA28 5F031 CA05 DA01 DA09 FA02 FA03 FA07 FA11 FA12 GA08 GA44 GA47 GA49 HA67 MA04 MA07 MA09 NA02 NA09 5F045 BB08 BB10 BB14 DQ17 EB03 EB08 EB09 EM10 EN04 HA24

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】複数枚の基板を収容したカセットを清浄度
の高い雰囲気中に保持しながら搬送可能とする搬送体
を、搬出入室を通じて装置内に取り込み、取り込まれた
上記搬送体内の基板を直接または別室を介して処理室へ
移送し、当該処理室で基板に対して所定の処理を施す基
板の処理装置において、 上記搬出入室と、上記処理室または別室であって、上記
搬出入室に隣接する隣接室との間には、基板の取り出し
または取り入れ時の移送のための出入口が設けられ、該
出入口は開閉手段によって開閉可能であると共に、 上記搬出入室には、上記開閉手段によって上記出入口が
閉じられている状態で、室内のガス排気または室内への
ガス導入によって室内雰囲気を変更可能とするガス導入
/排気手段と、搬入された上記搬送体から、基板を収容
するカセットを昇降させて取り入れまたは取り出しする
昇降機構とが備えられ、 上記隣接室には、上記基板を搬出入室から隣接室へ移送
する移送機構が備えられていることを特徴とする基板の
処理装置。
1. A transporter capable of transporting a cassette accommodating a plurality of substrates while maintaining the cassette in a highly clean atmosphere is loaded into the apparatus through a loading / unloading chamber, and the loaded substrate in the transporter is directly transferred to the apparatus. Alternatively, in a substrate processing apparatus for transferring a substrate to a processing chamber via a separate chamber and performing predetermined processing on the substrate in the processing chamber, the loading / unloading chamber and the processing chamber or another chamber adjacent to the loading / unloading chamber An entrance is provided between the adjacent room and the transfer for taking out or taking in the substrate. The entrance is openable and closable by opening and closing means. In this state, the substrate is collected from gas introduction / exhaust means capable of changing the indoor atmosphere by exhausting gas into the room or introducing gas into the room, and the transported body that has been loaded. A substrate raising and lowering mechanism for raising and lowering a cassette to be loaded and taken out, and a transfer mechanism for transferring the substrate from the loading / unloading chamber to the adjacent chamber in the adjacent chamber. .
【請求項2】複数枚の基板を収容したカセットを清浄度
の高い雰囲気中に保持しながら搬送可能とする搬送体
を、搬出入室を通じて装置内に取り込み、取り込まれた
上記搬送体内の基板を直接または別室を介して処理室へ
移送し、当該処理室で基板に対して所定の処理を施す基
板の処理装置において、 上記搬出入室と、上記処理室または別室であって、上記
搬出入室に隣接する隣接室との間には、基板の取り出し
または取り入れ時の移送のための出入口が設けられ、該
出入口は開閉手段によって開閉可能であると共に、 上記搬出入室には、上記開閉手段によって上記出入口が
閉じられている状態で、室内のガス排気または室内への
ガス導入によって室内雰囲気を変更可能とするガス導入
/排気手段と、搬入された上記搬送体から、基板を収容
するカセットを昇降させて取り入れする昇降機構とが備
えられ、 上記搬出入室には、上記基板を搬出入室から隣接室へ移
送する押出式の移送機構が備えられており、上記移送機
構の駆動部は前記搬出入室内空間と密閉遮断されて搬出
入室の外部に配置されていることを特徴とする基板の処
理装置。
2. A transfer body capable of carrying a cassette accommodating a plurality of substrates while maintaining the cassette in a high-purity atmosphere, is taken into the apparatus through a carry-in / out chamber, and the taken-in substrates in the carrier are directly transferred to the apparatus. Alternatively, in a substrate processing apparatus for transferring a substrate to a processing chamber via a separate chamber and performing predetermined processing on the substrate in the processing chamber, the loading / unloading chamber and the processing chamber or another chamber adjacent to the loading / unloading chamber An entrance is provided between the adjacent room and the transfer for taking out or taking in the substrate. The entrance is openable and closable by opening and closing means. In this state, the substrate is collected from gas introduction / exhaust means capable of changing the indoor atmosphere by exhausting gas into the room or introducing gas into the room, and the transported body that has been loaded. The loading / unloading chamber is provided with an extruding type transfer mechanism for transferring the substrate from the loading / unloading chamber to an adjacent chamber. A substrate processing apparatus, wherein the substrate processing apparatus is hermetically sealed from the carry-in / out room and is disposed outside the carry-in / out room.
【請求項3】上記搬出入室と上記隣接室との間での基板
受け渡しの際には、上記昇降機構によって上記搬送体内
のカセットを、取り出される基板が上記出入口に対向す
る所定位置まで順次移動させ、該出入口におけるほぼ一
定の水平位置から上記移送機構によって基板を1枚ずつ
搬出入室と隣接室との間で移送することを特徴とする請
求項1または2に記載の基板の処理装置。
3. When transferring a substrate between the carry-in / out room and the adjacent room, the cassette in the carrier is sequentially moved to a predetermined position where the substrate to be taken out faces the entrance by the elevating mechanism. 3. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the transfer mechanism transfers the substrates one by one between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber from the substantially constant horizontal position at the entrance.
【請求項4】上記ガス導入/排気手段は、上記搬出入室
に上記搬送体が搬入された後、該搬出入室内を真空引き
し、上記移送手段は搬出入室と隣接室との間での基板受
け渡しを真空雰囲気下で行うことを特徴とする請求項1
ないし3の何れかに記載の基板の処理装置。
4. The gas introducing / exhausting means evacuates the loading / unloading chamber after the carrier has been loaded into the loading / unloading chamber, and the transfer means includes a substrate between the loading / unloading chamber and an adjacent chamber. 2. The delivery is performed in a vacuum atmosphere.
4. The apparatus for processing a substrate according to any one of claims 3 to 3.
【請求項5】上記ガス導入排気手段は、 上記搬出入室に上記搬送体が搬入された後で、かつ、該
搬送体から基板を収容するカセットが取り出される前の
段階で、該搬出入室内を清浄気体に置換し、 該搬送体から基板を収容するカセットが取り出された後
の段階で、該搬出入室内を真空引きすることを特徴とす
る請求項4に記載の基板の処理装置。
5. The gas introduction / exhaust means is provided in the loading / unloading chamber at a stage after the transporting body is loaded into the loading / unloading chamber and before a cassette containing a substrate is taken out of the transporting body. 5. The substrate processing apparatus according to claim 4, wherein the transfer chamber is evacuated at a stage after the cassette accommodating the substrate is removed from the transfer body after being replaced with a clean gas.
【請求項6】前記昇降機構の昇降部は、前記基板または
前記カセットのほぼ重心直下となる位置に設けられ、前
記昇降機構の駆動部およびガイド受け部は前記搬出入室
の外部に設けられ、 前記搬出入室内の前記昇降部はベローズで前記搬出入室
内空間と密閉遮断されていることを特徴とする請求項1
ないし5の何れかに記載の基板の処理装置。
6. The lifting unit of the lifting mechanism is provided at a position substantially below the center of gravity of the substrate or the cassette, and a driving unit and a guide receiving unit of the lifting mechanism are provided outside the loading / unloading chamber. 2. The lift section in the loading / unloading chamber is hermetically sealed from a space in the loading / unloading chamber by a bellows.
6. The apparatus for processing a substrate according to any one of items 5 to 5.
【請求項7】複数の基板を搭載したカセットを、容器本
体および底板によって形成される密閉空間内に、清浄度
の高いドライガスと共に密封し、上記基板に対して各種
処理工程を実施することによって製造される電子部品の
製造工程中の処理装置間を搬送する基板の搬送体におい
て、 上記カセットは、搭載される各基板を載置支持するため
に、基板1枚当たりに対して、基板面内に4箇所から6
箇所が突出して形成されている基板支持部を有し、 前記基板支持部の先端近傍には、前記基板に当接して基
板を支持する樹脂から成るピン部が形成されていること
を特徴とする基板の搬送体。
7. A cassette having a plurality of substrates mounted thereon is sealed together with a highly clean dry gas in a closed space formed by a container body and a bottom plate, and various processing steps are performed on the substrates. In a substrate transport body that transports between processing devices during a manufacturing process of an electronic component to be manufactured, the cassette includes: a substrate; 6 from 4 places
It has a substrate supporting portion formed by projecting a portion, and a pin portion made of a resin that contacts the substrate and supports the substrate is formed in the vicinity of the tip of the substrate supporting portion. Substrate carrier.
【請求項8】前記基板支持部が、基板面内においてなめ
らかな曲線外縁を持つ山形形状であることを特徴とする
請求項7に記載の基板の搬送体。
8. The substrate carrier according to claim 7, wherein said substrate supporting portion has a chevron shape having a smooth curved outer edge in the substrate plane.
【請求項9】請求項7または8に記載の基板の搬送体を
用いて、複数枚の基板を収容したカセットを清浄度の高
い雰囲気中に保持しながら、請求項1ないし6の何れか
に記載の基板の処理装置間で搬送し、基板上に上記各処
理装置によって処理工程を施すことにより電子部品を製
造する電子部品の製造方法。
9. The method according to claim 1, wherein a cassette accommodating a plurality of substrates is held in an atmosphere having a high degree of cleanliness by using the substrate carrier according to claim 7 or 8. An electronic component manufacturing method for manufacturing an electronic component by transporting the substrate between the processing apparatuses described above and performing a processing step on the substrate by the above processing apparatuses.
【請求項10】前記基板の搬送体内に前記基板を収容し
たカセットを保持しながら搬送する際、該基板の搬送体
の内圧を陽圧とすることを特徴とする請求項9に記載の
電子部品の製造方法。
10. The electronic component according to claim 9, wherein when transporting the substrate while holding the cassette in which the substrate is accommodated in the substrate transporter, the internal pressure of the substrate transporter is set to a positive pressure. Manufacturing method.
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