JP2012134370A - Chamber, vacuum processing apparatus, substrate transfer method - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a load chamber in which throughput can be enhanced while reducing the cost.SOLUTION: A load chamber LL1 having a sub-chamber 42 can form an airtight space at the top in the sub-chamber 42 by using a substrate cassette base 47 as a partition when the substrate cassette base 47, moving vertically in the sub-chamber 42 and mounting a substrate cassette 5L, is at a raised position, and can transfer a substrate from the substrate cassette 5L to a carrier device when the substrate cassette base 47 is at a lowered position. Since a GV for discharging a substrate supplemented in the sub-chamber 42 to the carrier device side is not required, the number of components can be reduced. Furthermore, since a space requiring exhaustion and ventilation when a substrate 13 is supplemented to the substrate cassette 5L is limited, the throughput can be enhanced.

Description

本発明は、チャンバ、真空処理装置、基板移載方法に係り、特に、大気圧側から真空排気された容器内に基板を投入又は搬出するチャンバ、真空処理装置、基板移載方法に関する。   The present invention relates to a chamber, a vacuum processing apparatus, and a substrate transfer method, and more particularly to a chamber, a vacuum processing apparatus, and a substrate transfer method for loading or unloading a substrate into a container evacuated from the atmospheric pressure side.

大気側から供給される成膜処理前の基板を真空雰囲気のプロセスチャンバ内に投入するためのロードチャンバや、所定の真空処理が終了した基板を大気側のパスライン(基板搬送ライン)に排出するためのアンロードチャンバを備えた真空処理装置が知られている。そして、高スループットのロードチャンバやアンロードチャンバでは、プロセスチャンバ側の搬送チャンバと、基板搬送ライン側のサブチャンバとに内部構造が分かれている真空処理装置が知られている(例えば、特許文献1、2参照)。   A load chamber for feeding a substrate before film formation processing supplied from the atmosphere side into a process chamber in a vacuum atmosphere, or a substrate after a predetermined vacuum processing is discharged to a pass line (substrate transfer line) on the atmosphere side. A vacuum processing apparatus having an unload chamber is known. In a high-throughput load chamber or unload chamber, a vacuum processing apparatus is known in which the internal structure is divided into a transfer chamber on the process chamber side and a sub-chamber on the substrate transfer line side (for example, Patent Document 1). 2).

サブチャンバは、基板を載せる基板カセットを内部に備え、基板の投入側と排出側にGV(ゲートバルブ)を有している。そして、大気側の基板収納部から成膜処理前の基板を投入する作業毎、または、所定の成膜処理が終了した基板をサブチャンバから搬出する作業毎に大気圧と真空雰囲気に調整するため、ベント及び真空排気が頻繁に行われる。ロードチャンバに比べて内部容積の小さいサブチャンバを備えることで、真空排気に必要な時間を短縮しスループットの向上を図っている。   The sub-chamber includes a substrate cassette on which a substrate is placed, and has GVs (gate valves) on the substrate input side and the substrate discharge side. In order to adjust the atmospheric pressure and the vacuum atmosphere every time the substrate before the film formation process is loaded from the atmosphere-side substrate storage section or every time the substrate after the predetermined film formation process is carried out from the sub-chamber. Venting and evacuation are frequently performed. By providing a sub-chamber with a smaller internal volume than the load chamber, the time required for evacuation is shortened and the throughput is improved.

特開平8−274142号公報JP-A-8-274142 特開2001−210695号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2001-210695

しかしながら、特許文献1、2に開示された真空処理装置においても、プロセスチャンバ側のタクトタイム短縮の要請からサブチャンバの真空排気に使用できる時間に制約がある。これにより、排気容量の大きな真空ポンプを使用しなくてはならず、さらなる低コスト化を困難にしていた。 However, even in the vacuum processing apparatuses disclosed in Patent Documents 1 and 2, there is a limitation in the time that can be used for evacuating the sub-chamber because of the demand for shortening the tact time on the process chamber side. As a result, a vacuum pump having a large exhaust capacity must be used, which makes it difficult to further reduce the cost.

本発明の目的は、上記問題に鑑み、スループットの向上を図るとともに低コスト化に資するチャンバ、真空処理装置、基板移載方法を提供することにある。   In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a chamber, a vacuum processing apparatus, and a substrate transfer method that improve throughput and contribute to cost reduction.

本発明に係るチャンバは、基板に所定の真空処理が行われる処理チャンバに向けて基板を供給し、又は真空処理後の基板が排出されるチャンバであって、基板が装填される基板カセットが配置される移動可能なカセット保持部と、所定位置に移動したカセット保持部に当接し、前記チャンバ内に気密な第1の空間を形成できるようにチャンバの内壁に沿って設けられたシール部と、チャンバに設けられ、開放することで第1の空間内の基板カセットに基板を投入又は排出可能な状態となるゲートバルブと、第1の空間のみを真空排気できる真空排気装置と、第1の空間のみにガス導入できるガス導入装置とを有することを特徴とする。
或いは、本発明に係る基板移載方法は上述のチャンバを用い、カセット保持部を所定位置に移動させるとともにゲートバルブを開放して、カセット保持部に配置されている基板カセットに未処理基板を装填する基板投入工程と、カセット保持部を所定位置に位置させた状態でゲートバルブを閉じて第1の空間を形成するとともに第1の空間を真空排気し、ロボットチャンバ内と同等の真空度にする排気工程と、カセット保持部を所定位置から移動させて、基板カセットをロボットチャンバと連通する空間に移動するカセット保持部移動工程と、基板カセットに配設された未処理基板を前記ロボットによって搬送装置に移載する基板移載工程とを有することを特徴とする。
The chamber according to the present invention is a chamber for supplying a substrate toward a processing chamber in which a predetermined vacuum processing is performed on the substrate, or for discharging the substrate after the vacuum processing, and a substrate cassette in which the substrate is loaded is disposed. A movable cassette holding part, a seal part provided along the inner wall of the chamber so as to be in contact with the cassette holding part moved to a predetermined position and to form an airtight first space in the chamber; A gate valve that is provided in the chamber and opens to allow a substrate to be loaded into or discharged from the substrate cassette in the first space, a vacuum exhaust device that can evacuate only the first space, and the first space And a gas introduction device that can introduce gas only into the gas.
Alternatively, the substrate transfer method according to the present invention uses the above-described chamber, moves the cassette holding unit to a predetermined position, opens the gate valve, and loads an unprocessed substrate into the substrate cassette disposed in the cassette holding unit. The substrate loading step, the gate valve is closed with the cassette holding portion positioned at a predetermined position to form the first space, and the first space is evacuated to a vacuum level equivalent to that in the robot chamber. An evacuation step, a cassette holding portion moving step for moving the cassette holding portion from a predetermined position to move the substrate cassette to a space communicating with the robot chamber, and a transfer device for unprocessed substrates disposed in the substrate cassette by the robot And a substrate transfer step of transferring to the substrate.

本発明によれば、真空処理装置のスループットを落とすことなく、必要な排気時間を確保することができるチャンバ、真空処理装置及び基板移載方法を提供することができる。また、大出力の真空ポンプを必要とせず、ロボットやゲートバルブなどの部材の必要数を減ずることができるため低コストでチャンバ、真空処理装置を提供することができる。   According to the present invention, it is possible to provide a chamber, a vacuum processing apparatus, and a substrate transfer method capable of ensuring a necessary exhaust time without reducing the throughput of the vacuum processing apparatus. Further, since a required number of members such as a robot and a gate valve can be reduced without requiring a high output vacuum pump, a chamber and a vacuum processing apparatus can be provided at low cost.

本発明の第1実施形態に係る真空処理装置の概略図である。1 is a schematic view of a vacuum processing apparatus according to a first embodiment of the present invention. 本発明の第1実施形態に係るキャリアの概略図である。1 is a schematic view of a carrier according to a first embodiment of the present invention. 本発明の第1実施形態に係るロードチャンバの断面図(A−A断面図)である。It is sectional drawing (AA sectional drawing) of the load chamber which concerns on 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2実施形態に係るロードチャンバの断面図である。It is sectional drawing of the load chamber which concerns on 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態に係るロードチャンバの動作説明図である。It is operation | movement explanatory drawing of the load chamber which concerns on 3rd Embodiment of this invention.

以下に、本発明の一実施形態について図面を参照して説明する。なお、以下に説明する部材、配置等は発明を具体化した一例であって本発明を限定するものではなく、本発明の趣旨に沿って各種改変することができることは勿論である。なお、本明細書中においてロード/アンロードチャンバユニット(又は単にチャンバ)とは、ロードチャンバとアンロードチャンバのいずれか一方又は両方を示す用語とする。また、以下に記載する各実施形態において、基板カセットベース47,56は上下方向に移動可能に構成されるが、移動方向は重力方向に平行な方向に限定されないことはもちろんである。例えば、基板カセットベース47,56は重力方向に角度を有する方向に移動してもよい。また、後述する第1の空間などが形成される構造であれば基板カセットベース47,56が水平方向に移動する構成であっても本発明を適用できるものとする。   An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. It should be noted that the members, arrangements, and the like described below are examples embodying the present invention and do not limit the present invention, and it goes without saying that various modifications can be made in accordance with the spirit of the present invention. In this specification, the load / unload chamber unit (or simply chamber) is a term indicating either one or both of the load chamber and the unload chamber. In each of the embodiments described below, the substrate cassette bases 47 and 56 are configured to be movable in the vertical direction. However, the movement direction is not limited to a direction parallel to the gravity direction. For example, the substrate cassette bases 47 and 56 may move in a direction having an angle with respect to the direction of gravity. Further, the present invention can be applied to a structure in which the substrate cassette bases 47 and 56 move in the horizontal direction as long as the first space described later is formed.

(第1実施形態)
図1〜図3は、本発明の第1実施形態に係る真空処理装置について説明した図であり、図1は真空処理装置の概略図(上面図)、図2はキャリアの概略図(斜視図)、図3はロードチャンバの断面図(図1のA−A断面図)である。なお、図面の煩雑化を防ぐため一部を除いて省略している。
(First embodiment)
1 to 3 are diagrams for explaining a vacuum processing apparatus according to a first embodiment of the present invention. FIG. 1 is a schematic view of the vacuum processing apparatus (top view), and FIG. 2 is a schematic view of a carrier (perspective view). 3 is a cross-sectional view of the load chamber (A-A cross-sectional view of FIG. 1). In order to prevent complication of the drawing, the illustration is omitted except for a part.

図1に示す真空処理装置Sは、ゲートバルブGVを介して無端状に連結された複数のチャンバS1と、チャンバS1に連結されたロードチャンバLL1及びアンロードチャンバULを備えているインライン型の成膜装置である。基板13は、基板カセット5Lに搭載された状態でロードチャンバLL1に装填され、ロボット23L(基板移載装置)によって後述するキャリア11に移載され、基板搬送装置(搬送装置)によって各チャンバS1に搬送される。基板は、基板搬送装置によってキャリア11に搭載された状態で基板搬送路10に沿ってチャンバS1内を搬送されながら所定の真空処理が施される。チャンバS1には、プロセスチャンバや搬送チャンバ29,31、その他の処理室として機能するチャンバを含むものとする。なお、基板13はロードチャンバLL1内に固定された基板カセット5Lに補充する機構としてもよい。   The vacuum processing apparatus S shown in FIG. 1 includes an inline type configuration including a plurality of chambers S1 connected endlessly via a gate valve GV, and a load chamber LL1 and an unload chamber UL connected to the chamber S1. It is a membrane device. The substrate 13 is loaded in the load chamber LL1 in a state of being mounted on the substrate cassette 5L, transferred to the carrier 11 described later by the robot 23L (substrate transfer device), and placed in each chamber S1 by the substrate transfer device (transfer device). Be transported. The substrate is subjected to a predetermined vacuum process while being transported in the chamber S1 along the substrate transport path 10 while being mounted on the carrier 11 by the substrate transport device. The chamber S1 includes process chambers, transfer chambers 29 and 31, and other chambers that function as processing chambers. The substrate 13 may be a mechanism for replenishing the substrate cassette 5L fixed in the load chamber LL1.

図2にキャリア11の概略図を示す。キャリア11は、基板搬送路10から推進力を得る機構部が設けられたスライダー12上に、基板13を支持できるホルダ14が接続されて構成されている。基板搬送路10は公知の磁気ネジ機構を有して構成され、機構部は磁気ネジ機構の磁石と磁気カップリングを形成する永久磁石を有して構成されている。ホルダ14には基板13を起立した姿勢で所定位置に支持するための基板支持爪15が3つ設けられている。基板支持爪15は屈曲形状の板ばねから構成されている。本実施形態において用いられるキャリア11は2つのホルダ14を備えているため基板13を同時に2枚搭載することができる。   FIG. 2 shows a schematic diagram of the carrier 11. The carrier 11 is configured by connecting a holder 14 capable of supporting the substrate 13 on a slider 12 provided with a mechanism unit for obtaining a propulsive force from the substrate conveyance path 10. The substrate transport path 10 is configured with a known magnetic screw mechanism, and the mechanism portion is configured with a permanent magnet that forms a magnetic coupling with a magnet of the magnetic screw mechanism. The holder 14 is provided with three substrate support claws 15 for supporting the substrate 13 in a standing position at a predetermined position. The substrate support claw 15 is constituted by a bent leaf spring. Since the carrier 11 used in this embodiment includes two holders 14, two substrates 13 can be mounted simultaneously.

キャリア11は、基板13を搭載した状態で搬送チャンバ29などのチャンバS1内の基板搬送路10に沿って移動可能であり、後述する基板13の移載動作中、搬送チャンバ29,31内の所定位置(基板移載位置)に停止制御される。キャリア11は、各チャンバS1内を循環するように移動し、真空処理装置Sの外側の雰囲気に曝されることがないためチャンバS1内の汚染を抑えることができる。なお、キャリア11の形状は機構部に応じて変更できるものとする。基板13を支持するための基板支持爪15の形状や数量も適宜変更可能である。磁気ネジ機構に替えてリニアモータやラックアンドピニオンを用いた機構を採用することもできる。   The carrier 11 is movable along the substrate transfer path 10 in the chamber S1 such as the transfer chamber 29 in a state where the substrate 13 is mounted. During the transfer operation of the substrate 13 to be described later, predetermined carriers in the transfer chambers 29 and 31 are provided. Stop control is performed at the position (substrate transfer position). The carrier 11 moves so as to circulate in each chamber S1, and since it is not exposed to the atmosphere outside the vacuum processing apparatus S, contamination in the chamber S1 can be suppressed. In addition, the shape of the carrier 11 shall be changeable according to a mechanism part. The shape and quantity of the substrate support claws 15 for supporting the substrate 13 can be changed as appropriate. Instead of the magnetic screw mechanism, a mechanism using a linear motor or a rack and pinion may be employed.

本実施形態における基板13としては、磁気ディスクや光ディスクなどの記憶メディアに用いられる円盤状部材が用いられ、特に、中心部分に円形の開口部(センタ孔)を有する円盤状部材が好適に用いられる。しかし、キャリア11に取り付けられた基板ホルダ14を交換することにより、種々の形状のガラス基板、アルミニウム若しくはアルミニウム合金などの金属基板、シリコン基板、樹脂基板などを用いることができる。   As the substrate 13 in the present embodiment, a disk-shaped member used for a storage medium such as a magnetic disk or an optical disk is used, and in particular, a disk-shaped member having a circular opening (center hole) at the center is preferably used. . However, by replacing the substrate holder 14 attached to the carrier 11, glass substrates having various shapes, metal substrates such as aluminum or aluminum alloy, silicon substrates, resin substrates, and the like can be used.

本実施形態における基板搬送装置は、インライン型のスパッタリング成膜装置に適用した例(真空処理装置S)であり、少なくともキャリア11と基板搬送路10を有する装置として説明されるが、搬送装置としてはこれに限定されない。すなわち基板搬送装置は、ロードチャンバ(アンロードチャンバ)とチャンバS1(処理チャンバ)との間で基板を搬送できる装置を意味するものとし、クラスター型のスパッタリング成膜装置、電子ビームなどを使用した薄膜形成、若しくは、表面改質、ドライエッチングのような内部に基板搬送機構を備える真空処理装置に幅広く適用可能なものである。   The substrate transfer apparatus in the present embodiment is an example (vacuum processing apparatus S) applied to an inline-type sputtering film forming apparatus, and is described as an apparatus having at least a carrier 11 and a substrate transfer path 10. It is not limited to this. That is, the substrate transfer apparatus means an apparatus capable of transferring a substrate between the load chamber (unload chamber) and the chamber S1 (processing chamber), and a thin film using a cluster type sputtering film forming apparatus, an electron beam, or the like. The present invention can be widely applied to vacuum processing apparatuses having a substrate transfer mechanism inside such as formation, surface modification, and dry etching.

図3はロードチャンバの断面図である。なお、図3はロードチャンバについて示したが、アンロードチャンバにも同様の構成を採用できることはもちろんである。本実施形態に係るロードチャンバLL1は、サブチャンバ42とロボットチャンバ41が一体に連結された構成を有しており、ロボットチャンバ41は内部空間が一体となるように搬送チャンバ29と連結されている。搬送チャンバ29は、ゲートバルブGVを介して他のチャンバS1と連結されるチャンバであり、他のチャンバS1にキャリア11を搬送する基板搬送路10(基板搬送装置)が内部に設けられている。   FIG. 3 is a cross-sectional view of the load chamber. Although FIG. 3 shows the load chamber, it goes without saying that the same configuration can be adopted for the unload chamber. The load chamber LL1 according to this embodiment has a configuration in which a sub chamber 42 and a robot chamber 41 are integrally connected. The robot chamber 41 is connected to the transfer chamber 29 so that the internal space is integrated. . The transfer chamber 29 is a chamber connected to another chamber S1 through a gate valve GV, and a substrate transfer path 10 (substrate transfer device) for transferring the carrier 11 to the other chamber S1 is provided inside.

ロボットチャンバ41は、ロボット23Lが設けられているチャンバであり、一方側でサブチャンバ42に連結され、他方側で搬送チャンバ29に連結されている。また、搬送チャンバ29と同等な圧力に真空排気するための真空ポンプが取り付けられている。ロボット23Lは、駆動部232Lによって駆動制御できるスカラアーム231Lを備えた公知の基板搬送ロボットであり、スカラアーム231Lの先端には基板を載せるようにして保持できるピック(把持部)が取り付けられている。また少なくともピックが取り付けられている部分は上下動可能に構成されているため、基板13の開口部(センタ孔)にピックを挿し込んで上下動させることにより基板13を保持及び載置することができる。サブチャンバ42(後述するサブ搬送部42b)とロボットチャンバ41と搬送チャンバ29は内部が連続しているため、サブチャンバ42内の基板カセットに装填されている基板13をロボット23Lによって搬送チャンバ29内のキャリア11に移載(基板移載動作)することができる。   The robot chamber 41 is a chamber in which the robot 23L is provided, and is connected to the sub chamber 42 on one side and to the transfer chamber 29 on the other side. A vacuum pump for evacuating to a pressure equivalent to that of the transfer chamber 29 is attached. The robot 23L is a known substrate transfer robot provided with a scalar arm 231L that can be driven and controlled by the drive unit 232L, and a pick (gripping unit) that can hold the substrate so as to place the substrate is attached to the tip of the scalar arm 231L. . In addition, since at least the portion to which the pick is attached is configured to be movable up and down, the substrate 13 can be held and placed by inserting the pick into the opening (center hole) of the substrate 13 and moving it up and down. it can. Since the inside of the sub chamber 42 (sub transport section 42b described later), the robot chamber 41, and the transport chamber 29 are continuous, the substrate 13 loaded in the substrate cassette in the sub chamber 42 is moved into the transport chamber 29 by the robot 23L. The substrate 11 can be transferred (substrate transfer operation).

サブチャンバ42は、その内壁から内側に向かって張り出したシール部45と、上下方向に移動可能(上下動作)な基板カセットベース47(カセット保持部)を内部に備えている。基板カセットベース47は、基板カセット5Lを載置できる板状部材であり、駆動機構部44によってサブチャンバ42内を移動可能に設けられている。駆動機構部44は、モータ44cによって支柱44aを介して基板カセットベース47(カセット保持部)を移動させる機構であり、ベローズ44bによりサブチャンバ42内のシールを保つ構造とされているが、ベローズ44bに替えてOリングなどのシール材による軸シールなどの構造を採用することもできる。また、モータ44cに替えて公知のシリンダなどのアクチュエータを用いてもよい。   The sub-chamber 42 includes a seal portion 45 projecting inward from the inner wall thereof and a substrate cassette base 47 (cassette holding portion) that is movable in the vertical direction (vertical movement). The substrate cassette base 47 is a plate-like member on which the substrate cassette 5L can be placed, and is provided so as to be movable in the sub chamber 42 by the drive mechanism unit 44. The drive mechanism unit 44 is a mechanism for moving the substrate cassette base 47 (cassette holding unit) via the support column 44a by the motor 44c. The drive mechanism unit 44 is configured to keep the seal in the sub-chamber 42 by the bellows 44b. Instead of this, a structure such as a shaft seal using a sealing material such as an O-ring may be employed. Further, a known actuator such as a cylinder may be used instead of the motor 44c.

シール部45は、サブチャンバ42の内周の一周(無端状)に亘って板状若しくは突起状に張り出している部分であり、サブチャンバ42の内側に張り出したシール部45の先端(内縁)は、基板カセットベース47の外縁に重なるように調整されている。このため、基板カセットベース47が上昇して、基板カセットベース47の外縁に沿った部分がシール部45に当接する位置(所定位置)となると、基板カセットベース47の基板カセット5Lを載置した面(上面)の外縁に沿った無端状の領域がシール部45の下側(下面)の内縁に沿った無端状の領域と当接する。この無端状の当接面がシール面として作用するため、基板カセットベース47を真空隔壁としてサブチャンバ42内の空間を上部と下部に分割することができる。なお、後述するように基板カセットベース47の上面には外縁に沿ってシール材としてのOリング47aが装着されているので、本実施形態におけるシール面はシール部45の下面とOリング47aとの当接部分に沿って形成される。   The seal portion 45 is a portion that protrudes in a plate shape or a protrusion shape over the entire circumference (endless shape) of the inner circumference of the sub chamber 42, and the tip (inner edge) of the seal portion 45 that protrudes inside the sub chamber 42 is The adjustment is made so as to overlap the outer edge of the substrate cassette base 47. For this reason, when the substrate cassette base 47 rises and the portion along the outer edge of the substrate cassette base 47 reaches a position (predetermined position) where it abuts the seal portion 45, the surface of the substrate cassette base 47 on which the substrate cassette 5L is placed. The endless region along the outer edge of the (upper surface) abuts the endless region along the inner edge of the lower side (lower surface) of the seal portion 45. Since this endless contact surface acts as a sealing surface, the space in the sub-chamber 42 can be divided into an upper part and a lower part using the substrate cassette base 47 as a vacuum partition. As will be described later, since an O-ring 47a as a sealing material is mounted on the upper surface of the substrate cassette base 47 along the outer edge, the sealing surface in this embodiment is the lower surface of the seal portion 45 and the O-ring 47a. It is formed along the contact portion.

基板カセットベース47が真空隔壁として機能しているとき、サブチャンバ42内は基板投入部42aとサブ搬送部42bに分割される。サブチャンバ42内の上側に形成される空間が基板投入部42a(第1の空間)であり、そのときにサブチャンバ42内の下側に形成される空間はサブ搬送部42bである。シール部45が設けられる高さはロボットチャンバ41の天板41aの高さ付近であるため、基板投入部42aとサブ搬送部42bは天板41aの高さ付近を境目にしている。   When the substrate cassette base 47 functions as a vacuum partition, the sub chamber 42 is divided into a substrate loading portion 42a and a sub transport portion 42b. A space formed on the upper side in the sub-chamber 42 is a substrate loading portion 42a (first space), and a space formed on the lower side in the sub-chamber 42 at that time is a sub-transport portion 42b. Since the height at which the seal portion 45 is provided is in the vicinity of the height of the top plate 41a of the robot chamber 41, the substrate loading portion 42a and the sub-transport portion 42b are bordered around the height of the top plate 41a.

基板投入室42aは、基板カセットベース47が所定位置にあるときにサブチャンバ42の上側に形成される領域(第1の空間)であり、基板カセットベース47の基板カセット5Lを載置した面とサブチャンバ42内の上部の内壁に囲まれている。基板投入部42aの側壁(サブチャンバ42の上部の壁面)には、基板や基板カセット5Lの出し入れができるゲートバルブ(GV)48が設けられ、GV48を開放することで基板や基板カセットを基板投入室42a内に投入することができる。   The substrate loading chamber 42a is a region (first space) formed on the upper side of the sub chamber 42 when the substrate cassette base 47 is in a predetermined position, and includes a surface on which the substrate cassette 5L of the substrate cassette base 47 is placed. The sub-chamber 42 is surrounded by an upper inner wall. A gate valve (GV) 48 is provided on the side wall (upper wall surface of the sub chamber 42) of the substrate loading portion 42a so that the substrate and the substrate cassette 5L can be taken in and out. By opening the GV 48, the substrate and the substrate cassette are loaded. It can be put into the chamber 42a.

また、基板投入部42aには不図示の調圧装置が接続されている。調圧装置は、基板投入部42aだけを独立して真空排気可能な真空排気装置61と、基板投入部42aにだけ任意のガスを導入できるベント装置(ガス導入装置)62とを備えて構成されている。サブ搬送部42bは、基板カセットベース47が所定位置にあるときにサブチャンバ42の下側に形成される領域であり、基板カセットベース47の基板カセット5Lを載置する面の裏面とサブチャンバ42内の下部の内壁に囲まれる領域であるが、ロボットチャンバ41に連結されているため内部空間は常にロボットチャンバ41と一体に連続している。   Further, a pressure adjusting device (not shown) is connected to the substrate loading portion 42a. The pressure adjusting device includes an evacuation device 61 that can evacuate only the substrate loading portion 42a independently, and a vent device (gas introduction device) 62 that can introduce an arbitrary gas only into the substrate loading portion 42a. ing. The sub-transport portion 42b is an area formed below the sub-chamber 42 when the substrate cassette base 47 is in a predetermined position. The sub-transport portion 42b and the back surface of the surface on which the substrate cassette 5L is placed and the sub-chamber 42 are placed. The inner space is always continuous with the robot chamber 41 because it is connected to the robot chamber 41.

このように本実施形態に係るロードチャンバLL1は、基板の投入や排出に際して、真空排気とベントを繰り返すのはサブチャンバ42内に形成される基板投入部42a(第1の空間)だけとなる。すなわち、基板カセットベース47と駆動機構部44により、真空排気とベントを繰り返す体積を限定することで真空排気やベントに要する時間を短縮し、基板を出し入れする際のスループットの向上を図っている。また、移動できる基板カセットベース47を真空隔壁として活用することで、基板投入部42aとサブ搬送部の間にゲートバルブを設置する必要がなく部品点数を減らすことができる。   As described above, in the load chamber LL1 according to the present embodiment, only the substrate loading portion 42a (first space) formed in the sub-chamber 42 is repeatedly evacuated and vented when loading and unloading the substrate. That is, the substrate cassette base 47 and the drive mechanism unit 44 limit the volume of repeated evacuation and venting, thereby shortening the time required for evacuation and venting and improving the throughput when taking in and out the substrate. Further, by utilizing the movable substrate cassette base 47 as a vacuum partition, it is not necessary to install a gate valve between the substrate loading unit 42a and the sub-transporting unit, and the number of components can be reduced.

ここで、本実施形態に係るロードチャンバLL1の使用方法について説明する。
まず、大気圧雰囲気である真空処理装置Sの外側(系外)より投入される基板13(未処理基板)は、開放されたGV48を通して基板カセットベース47に設置されている基板カセット5Lに搭載される(基板投入工程)。このとき、基板カセットベース47はシール部45と当接する上昇位置(所定位置)に移動されるとともにGV48は開放されている。すなわち、シール部45と基板カセットベース47とでシールされ、サブチャンバ42の上方側は大気圧、下方側は真空雰囲気となっている。なお、基板投入工程は基板13が搭載された基板カセット5Lを基板カセットベース47に設置する工程でもよく、この場合、基板13が搭載された基板カセット5Lを、基板13を移載されて空になった基板カセットと交換する。
Here, a method of using the load chamber LL1 according to the present embodiment will be described.
First, the substrate 13 (unprocessed substrate) introduced from the outside (outside) of the vacuum processing apparatus S, which is an atmospheric pressure atmosphere, is mounted on the substrate cassette 5L installed in the substrate cassette base 47 through the opened GV48. (Substrate loading process). At this time, the substrate cassette base 47 is moved to a raised position (predetermined position) in contact with the seal portion 45 and the GV 48 is opened. That is, the sealing portion 45 and the substrate cassette base 47 are sealed, and the upper side of the sub-chamber 42 is an atmospheric pressure and the lower side is a vacuum atmosphere. The substrate loading step may be a step of installing the substrate cassette 5L on which the substrate 13 is mounted on the substrate cassette base 47. In this case, the substrate cassette 5L on which the substrate 13 is mounted is transferred to the substrate 13 and emptied. Replace with a new substrate cassette.

次に、GV48を閉じて基板カセットベース47上方の空間(第1の空間)を所定の真空度に到達するまで真空排気する(排気工程)。所定の真空度とはロボットチャンバ41内と同等の真空雰囲気のことである。所定の真空度に到達した後に基板カセットベース47を降下させる(カセット保持部移動工程)。基板カセットベース47が降下した状態で基板13のキャリア11への移載がロボット43によって順次行われる(基板移載工程)。   Next, the GV 48 is closed, and the space (first space) above the substrate cassette base 47 is evacuated until a predetermined degree of vacuum is reached (exhaust process). The predetermined degree of vacuum is a vacuum atmosphere equivalent to that in the robot chamber 41. After reaching a predetermined degree of vacuum, the substrate cassette base 47 is lowered (cassette holder moving step). With the substrate cassette base 47 lowered, the transfer of the substrate 13 to the carrier 11 is sequentially performed by the robot 43 (substrate transfer step).

基板カセット5Lに保持された基板13がなくなると、基板カセットベース47を再び上昇させる。基板カセットベース47の縁部分をシール部45に密着させてシールし、サブチャンバ42の上方側(第1の空間)をベントして系外と同じ雰囲気(大気圧)にする(ベント工程)。このとき、サブチャンバ42の下方側が大気暴露されることはない。ベント工程で第1の空間に導入されるガスには、ベント装置(ガス導入装置)によって水分などの不純物成分が管理された窒素ガスが用いられることが望ましい。ベント工程の後に、GV48が開放されて上述の基板投入工程が行われる。   When the substrate 13 held in the substrate cassette 5L runs out, the substrate cassette base 47 is raised again. The edge portion of the substrate cassette base 47 is in close contact with the seal portion 45 and sealed, and the upper side (first space) of the sub-chamber 42 is vented to the same atmosphere (atmospheric pressure) as outside the system (bent process). At this time, the lower side of the sub-chamber 42 is not exposed to the atmosphere. As the gas introduced into the first space in the venting process, it is desirable to use nitrogen gas in which impurity components such as moisture are controlled by a vent device (gas introduction device). After the venting process, the GV 48 is opened and the above-described substrate loading process is performed.

上記の基板投入工程〜ベント工程を繰り返すことで基板処理装置Sへの基板13の補充が連続的に行われる。本実施形態に係るロードチャンバLL1はこのような使い方ができるため、基板13の補充の際にも真空排気やベントされる領域はシール部45の上方側(第1の空間)に限定することができる。すなわち、排気やベント時間を短縮することでスループットの向上を図ることができる。   The substrate processing apparatus S is continuously replenished with the substrate 13 by repeating the above-described substrate loading step to venting step. Since the load chamber LL1 according to the present embodiment can be used in this way, the region to be evacuated or vented even when the substrate 13 is replenished may be limited to the upper side (first space) of the seal portion 45. it can. That is, the throughput can be improved by shortening the exhaust time and the vent time.

アンロードチャンバULはロードチャンバLL1とほぼ同様に構成されている。すなわち、搬送チャンバ31内のキャリア11に搭載された処理済の基板13は、ロボット23Uの動作によって基板カセット5Uに格納される。そして、アンロードチャンバULの基板カセットベースが上昇して、その基板カセットベースの縁部分をシール部のシール面に密着させてシールし、サブチャンバの上方側をベントし大気圧にした後、アンロードチャンバULから取り出されパスラインに歯位置される。従って、ロードチャンバLL1とアンロードチャンバUL(チャンバ)を用いることで基板処理装置1への基板13の補充と排出を連続的に行うことができる。   The unload chamber UL is configured in substantially the same manner as the load chamber LL1. That is, the processed substrate 13 mounted on the carrier 11 in the transfer chamber 31 is stored in the substrate cassette 5U by the operation of the robot 23U. Then, the substrate cassette base of the unload chamber UL is raised, the edge portion of the substrate cassette base is tightly adhered to the seal surface of the seal portion, and the upper side of the sub chamber is vented to atmospheric pressure, and then the unload chamber UL is opened. It is removed from the load chamber UL and is positioned on the pass line. Therefore, the substrate 13 can be replenished and discharged continuously by using the load chamber LL1 and the unload chamber UL (chamber).

(第2実施形態)
図4,5は、本発明の第2実施形態に係る真空処理装置について説明した図であり、図4は真空処理装置のロードチャンバの断面図、図5はロードチャンバの動作説明図である。第1実施形態の構成要素と同一の構成要素については同一の参照番号を付して説明を省略する。なお、図4に示したロードチャンバLL2の断面図は、図1のロードチャンバLL1に替えてロードチャンバLL2を取り付けた場合のA−A断面図に相当する図である。また、図4、5はロードチャンバ側について示したがアンロードチャンバにも同様の構成を採用できることはもちろんである。
(Second Embodiment)
4 and 5 are diagrams for explaining a vacuum processing apparatus according to the second embodiment of the present invention. FIG. 4 is a cross-sectional view of a load chamber of the vacuum processing apparatus, and FIG. 5 is an operation explanatory view of the load chamber. The same components as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted. The cross-sectional view of the load chamber LL2 shown in FIG. 4 is a view corresponding to a cross-sectional view taken along the line AA when the load chamber LL2 is attached instead of the load chamber LL1 of FIG. 4 and 5 show the load chamber side, it is needless to say that the same configuration can be adopted for the unload chamber.

本実施形態に係るロードチャンバLL2は、サブチャンバ52とロボットチャンバ41が一体に連結された構成を有しており、ロボットチャンバ41は内部空間が一体となるように搬送チャンバ29と連結されている。サブチャンバ52は、サブチャンバ42の内側に張り出したシール部55(55a,55b)、移動(上下動作)可能な基板カセットベース56(カセット保持部)、基板カセットベース56に連結された第2カセットベース57(第2カセット保持部)を内部に備えている。基板カセットベース56は基板カセット5L(基板カセット)を、第2カセットベース57は基板カセット6L(第2基板カセット)をそれぞれ設置できる板状部材であり、駆動機構部54によりサブチャンバ52内を上下方向に移動可能に設けられている。   The load chamber LL2 according to the present embodiment has a configuration in which the sub chamber 52 and the robot chamber 41 are integrally connected, and the robot chamber 41 is connected to the transfer chamber 29 so that the internal space is integrated. . The sub chamber 52 includes a seal portion 55 (55a, 55b) projecting inside the sub chamber 42, a movable (up and down operation) substrate cassette base 56 (cassette holding portion), and a second cassette connected to the substrate cassette base 56. A base 57 (second cassette holder) is provided inside. The substrate cassette base 56 is a plate-like member on which the substrate cassette 5L (substrate cassette) can be installed, and the second cassette base 57 is a plate-like member on which the substrate cassette 6L (second substrate cassette) can be installed. It is provided to be movable in the direction.

第2カセットベース57は係止部材57aによって基板カセットベース56の下方側に固定されているため駆動機構部54により基板カセットベース56と同期して移動する構造である。係止部材57aは剛性を有する棒状部材であり、第2カセットベース57を基板カセットベース56に固定している。
サブチャンバ52は第1の実施形態のサブチャンバ42よりも下方側に拡張された形状を有しており、第2カセットベース57を移動させることで、ロボットチャンバ41の底板41bの高さよりも低い位置に基板カセット6Lを配置することができる。
Since the second cassette base 57 is fixed to the lower side of the substrate cassette base 56 by a locking member 57a, the second cassette base 57 moves in synchronization with the substrate cassette base 56 by the drive mechanism 54. The locking member 57 a is a rigid rod-like member, and fixes the second cassette base 57 to the substrate cassette base 56.
The sub-chamber 52 has a shape expanded below the sub-chamber 42 of the first embodiment, and is lower than the height of the bottom plate 41b of the robot chamber 41 by moving the second cassette base 57. The substrate cassette 6L can be disposed at the position.

基板カセットベース56は、第1の実施形態の基板カセットベース47と同様な構成であるが、係止部材57aが連結されている点と、駆動機構部54に連結されていない点、また、後述のようにシール部55bにも当接してシールできる点で主に異なっている。駆動機構部54は第1の実施形態の駆動機構部44と同様な構成であるが第2カセットベース57に連結されている点で異なっている。   The substrate cassette base 56 has the same configuration as the substrate cassette base 47 of the first embodiment, except that the locking member 57a is connected, the drive mechanism unit 54 is not connected, and will be described later. As described above, the main difference is that the seal portion 55b can be contacted and sealed. The drive mechanism portion 54 has the same configuration as the drive mechanism portion 44 of the first embodiment, but differs in that it is connected to the second cassette base 57.

サブチャンバ52には、シール部55(55a,55b)が2箇所形成されている。シール部55aは第1の実施形態のシール部45と同様な構成である。シール部55bはサブチャンバ42の内周の一周に亘ってシール部55aと同様に無端状に張り出している部分である。シール部55bはロボットチャンバ41の底板41bの高さ付近に設けられている。シール部55bの先端(内縁)は、基板カセットベース56の外縁に重なるように調整されており、基板カセットベース56はロボットチャンバ41の天板41aと底板41bの高さ間を移動できるように構成されている。なお、サブチャンバ52の上方に形成されているシール部をシール部55a,下方に形成さているシール部を第2シール部55b(第2シール部)とする。基板カセットベース56の移動方向に対して、第2シール部55bが当接する基板カセットベース56の部分は、シール部55aが当接する部分の逆側に位置している。   In the sub chamber 52, two seal portions 55 (55a, 55b) are formed. The seal portion 55a has the same configuration as the seal portion 45 of the first embodiment. The seal portion 55b is a portion that projects endlessly along the inner circumference of the sub-chamber 42 in the same manner as the seal portion 55a. The seal portion 55 b is provided in the vicinity of the height of the bottom plate 41 b of the robot chamber 41. The front end (inner edge) of the seal portion 55b is adjusted so as to overlap the outer edge of the substrate cassette base 56, and the substrate cassette base 56 is configured to be movable between the height of the top plate 41a and the bottom plate 41b of the robot chamber 41. Has been. The seal portion formed above the sub-chamber 52 is referred to as a seal portion 55a, and the seal portion formed below is referred to as a second seal portion 55b (second seal portion). With respect to the moving direction of the substrate cassette base 56, the portion of the substrate cassette base 56 with which the second seal portion 55b abuts is located on the opposite side of the portion with which the seal portion 55a abuts.

基板カセットベース56には、シール材59a,59b(Oリングなど)が上面と下面に1つずつ装着されている。シール材59a,59bはシール部55a,55bとそれぞれ当接してシール面を形成することができる。このため、基板カセットベース56がシール部55aに接する位置(所定位置)まで上昇したとき、基板カセットベース56の基板カセット5Lを載置した面(上面)の外縁に沿った無端状の領域が、Oリング59aと当接してシール部55bの上面の内縁に沿った無端状のシール面を形成する。このとき、基板カセットベース56を真空隔壁としてサブチャンバ52内の空間を上部と下部に分割することができる。   On the substrate cassette base 56, sealing materials 59a and 59b (O-rings and the like) are mounted on the upper surface and the lower surface, respectively. The sealing materials 59a and 59b can contact the sealing portions 55a and 55b, respectively, to form a sealing surface. For this reason, when the substrate cassette base 56 rises to a position (predetermined position) in contact with the seal portion 55a, an endless region along the outer edge of the surface (upper surface) of the substrate cassette base 56 on which the substrate cassette 5L is placed is An endless seal surface is formed along the inner edge of the upper surface of the seal portion 55b in contact with the O-ring 59a. At this time, the space in the sub chamber 52 can be divided into an upper part and a lower part by using the substrate cassette base 56 as a vacuum partition.

一方、基板カセットベース56がシール部55bに接する位置(第2の所定位置)まで下降したとき、基板カセットベース56の基板カセット5Lを載置した面の裏面(下面)の外縁に沿った無端状の領域が、Oリング59bと当接してシール部55bの上面の内縁に沿った無端状のシール面を形成する。このとき、基板カセットベース56を真空隔壁としてサブチャンバ52内の空間を上部と下部に分割することができる。   On the other hand, when the substrate cassette base 56 is lowered to a position (second predetermined position) in contact with the seal portion 55b, an endless shape along the outer edge of the back surface (lower surface) of the surface on which the substrate cassette 5L of the substrate cassette base 56 is placed. This region contacts the O-ring 59b to form an endless seal surface along the inner edge of the upper surface of the seal portion 55b. At this time, the space in the sub chamber 52 can be divided into an upper part and a lower part by using the substrate cassette base 56 as a vacuum partition.

基板カセットベース56の上面(Oリング59a)がシール部55aと当接した状態で、サブチャンバ52内の上側に形成される空間が基板投入部52a(第1の空間)であり、一方、基板カセットベース56の下面(Oリング59b)がシール部55bと当接した状態で、サブチャンバ42内の下側に形成される空間は第2基板投入部52c(第2の空間)である。また、ロボットチャンバ41の天板41aの高さと底板41bの高さの間に位置するサブチャンバ52内の空間をサブ搬送部52bとする。   The space formed on the upper side in the sub-chamber 52 in a state where the upper surface (O-ring 59a) of the substrate cassette base 56 is in contact with the seal portion 55a is the substrate loading portion 52a (first space), A space formed on the lower side in the sub-chamber 42 in a state where the lower surface (O-ring 59b) of the cassette base 56 is in contact with the seal portion 55b is a second substrate loading portion 52c (second space). A space in the sub chamber 52 located between the height of the top plate 41a and the height of the bottom plate 41b of the robot chamber 41 is defined as a sub transport unit 52b.

上述のように、基板投入室52aは、基板カセットベース56の基板カセット5Lを載置した面とシール部55aよりも上側のサブチャンバ52の内壁に囲まれて気密に区画される領域(第1の空間)である。この基板投入部52aの側壁(サブチャンバ52の上部の壁面)には基板や基板カセット5Lの出し入れができるゲートバルブ(GV)58aが設けられている。同様に、第2基板投入部52cの側壁(サブチャンバ52の下部の壁面)には基板や基板カセット6Lの出し入れができるゲートバルブ(GV)58b(第2ゲートバルブ)が設けられている。   As described above, the substrate loading chamber 52a is airtightly partitioned by being surrounded by the surface of the substrate cassette base 56 on which the substrate cassette 5L is placed and the inner wall of the sub-chamber 52 above the seal portion 55a (the first compartment). Space). A gate valve (GV) 58a through which the substrate and the substrate cassette 5L can be taken in and out is provided on the side wall (the upper wall surface of the sub chamber 52) of the substrate loading portion 52a. Similarly, a gate valve (GV) 58b (second gate valve) through which the substrate and the substrate cassette 6L can be taken in and out is provided on the side wall of the second substrate loading unit 52c (the wall surface below the sub chamber 52).

GV58aを開放することで基板や基板カセットを基板投入部52a内に投入することができ、GV58bを開放することで基板や基板カセットを基板投入室52c内に投入することができる。また、基板投入部52aだけを独立して真空排気な真空ポンプ(真空排気装置)61と、基板投入部52aだけに任意のガスを導入できるベント装置(ガス導入装置)62とを有する調圧装置が基板投入部52aに接続されている。同様に、ロードチャンバLL2は第2基板投入部52cだけを独立して真空排気できる真空ポンプ(第2真空排気装置)63及びガスを導入できるベント装置(第2ガス導入装置)64を有する調圧装置(第2調圧装置)が第2基板投入部52cに接続されている。   By opening the GV 58a, the substrate and the substrate cassette can be loaded into the substrate loading unit 52a, and by opening the GV 58b, the substrate and the substrate cassette can be loaded into the substrate loading chamber 52c. In addition, the pressure regulator includes a vacuum pump (evacuation device) 61 that evacuates only the substrate loading unit 52a independently, and a vent device (gas introduction device) 62 that can introduce an arbitrary gas only into the substrate loading unit 52a. Is connected to the substrate loading part 52a. Similarly, the load chamber LL2 includes a vacuum pump (second evacuation device) 63 capable of independently evacuating only the second substrate loading portion 52c and a vent device (second gas introduction device) 64 capable of introducing gas. A device (second pressure adjusting device) is connected to the second substrate loading unit 52c.

ここで、図5(a),(b)に基づいて、本実施形態に係るロードチャンバLL2の動作について説明する。なお、図5では簡略化のため真空ポンプ61,63、ベント装置62,64を不図示とする。
図5(a)は、基板カセット5L,6Lが載置された基板カセットベース56,57を駆動機構部54により上昇させた状態であり、基板カセットベース56(Oリング59a)がシール部55aに当接する高さ(所定位置)に移動しており、また、サブチャンバ52上側のGV58aが開放されている。このため、基板カセットベース56のシール材59aによりロボットチャンバ41及びサブチャンバ52の下側(サブ搬送部52bと基板投入部52c)はシールされ所定の真空度に保持される。この状態ではロボットチャンバ51の真空を維持しつつ、サブチャンバ52上側(基板投入部52a:第1の空間)にガス導入するベントを行う(ベント工程)。
Here, the operation of the load chamber LL2 according to the present embodiment will be described based on FIGS. 5 (a) and 5 (b). In FIG. 5, the vacuum pumps 61 and 63 and the vent devices 62 and 64 are not shown for simplification.
FIG. 5A shows a state in which the substrate cassette bases 56 and 57 on which the substrate cassettes 5L and 6L are placed are raised by the drive mechanism 54, and the substrate cassette base 56 (O-ring 59a) is attached to the seal portion 55a. The GV 58a on the upper side of the sub chamber 52 is opened. For this reason, the lower side of the robot chamber 41 and the sub chamber 52 (the sub transfer unit 52b and the substrate loading unit 52c) is sealed by the sealing material 59a of the substrate cassette base 56 and maintained at a predetermined degree of vacuum. In this state, while the vacuum of the robot chamber 51 is maintained, venting for introducing gas into the upper side of the sub-chamber 52 (substrate loading part 52a: first space) is performed (venting process).

基板投入部52aのベント完了後、サブチャンバ52上側のGV58aを開き、基板カセット5Lに基板13(未処理基板)を投入する(基板投入工程)。この基板投入工程は基板13が搭載された基板カセット5Lを基板カセットベース56に設置する工程でもよいものとする。基板投入工程の終了後、GV58aを閉じて再び第1の空間を形成し、ロボットチャンバ41内と同等の真空度になるまで真空排気を行う(排気工程)。ロボットチャンバ内と同等の真空度になった後、基板カセットベース56(Oリング59b)がシール部55bに当接する高さ(第2の所定位置)に移動して、基板カセット5Lをサブ搬送部52b内に位置させる(カセット保持部移動工程、又は、第2のカセット保持部移動工程)。この基板カセットベース56が降下した状態で基板13のキャリア11への移載がロボット23Uによって行われる(基板移載工程)。   After venting of the substrate loading unit 52a is completed, the GV 58a on the upper side of the sub chamber 52 is opened, and the substrate 13 (unprocessed substrate) is loaded into the substrate cassette 5L (substrate loading step). This substrate loading step may be a step of installing the substrate cassette 5L on which the substrate 13 is mounted on the substrate cassette base 56. After completion of the substrate loading process, the GV 58a is closed to form the first space again, and evacuation is performed until the degree of vacuum is the same as that in the robot chamber 41 (evacuation process). After the degree of vacuum is the same as that in the robot chamber, the substrate cassette base 56 (O-ring 59b) moves to a height (second predetermined position) where it abuts against the seal portion 55b, and the substrate cassette 5L is moved to the sub-transport portion. It is located in 52b (a cassette holding part moving process or a 2nd cassette holding part moving process). With the substrate cassette base 56 lowered, the substrate 13 is transferred onto the carrier 11 by the robot 23U (substrate transfer step).

図5(b)は、基板カセットベース56(Oリング59b)がシール部55bに当接する位置(第2所定位置)に移動するとともにサブチャンバ52下側の空間(基板投入部52c:第2の空間)がベント(第2ベント工程)された後に、GV58bが開放された状態である。すなわち、第2のカセット保持部移動工程(又は、カセット保持部移動工程)が実行された後の状態である。このとき、基板カセットベース56のシール材59bによりロボットチャンバ41及びサブチャンバ52の上側(基板投入部52aとサブ搬送部52b)はシールされ所定の真空度に保持されている。この状態で基板カセットベース57上の基板カセット6Lに基板13(未処理基板)を投入する(第2の基板投入工程)。   FIG. 5B shows that the substrate cassette base 56 (O-ring 59b) moves to a position (second predetermined position) where the substrate cassette base 56 (O-ring 59b) contacts the seal portion 55b, and the space below the sub-chamber 52 (substrate input portion 52c: second). After the space is vented (second venting step), the GV 58b is opened. That is, it is a state after the second cassette holding unit moving step (or cassette holding unit moving step) is executed. At this time, the robot chamber 41 and the upper side of the sub chamber 52 (the substrate loading unit 52a and the sub transfer unit 52b) are sealed by the sealing material 59b of the substrate cassette base 56 and maintained at a predetermined degree of vacuum. In this state, the substrate 13 (unprocessed substrate) is loaded into the substrate cassette 6L on the substrate cassette base 57 (second substrate loading step).

その後、GV58bを閉じて第2の空間を形成し、ロボットチャンバ内と同等の真空度になるまで真空排気を行う(第2排気工程)。第2排気工程の後、基板カセットベース56(Oリング59a)をシール部55aに当接する位置(所定位置)に移動させて、基板カセット6Lをロボットチャンバと連通する空間に移動し(第3のカセット保持部移動工程)、下側基板カセット6Lに配設された基板13をロボット23Lによってキャリア11(搬送装置)に移載する(第2基板移載工程)。下側基板カセット6L上の基板13は、ロボット23Lにより順次キャリア50へ移載される。第2基板移載工程の実行中にサブチャンバ52上側(基板投入部52a)にガス導入するベントを行った後、GV58aを開き、基板カセット5Lに基板13(未処理基板)を投入する工程(基板投入工程)が行われる。第2基板移載工程の実行中に行われる基板投入工程は図5(a)に基づいて上述した状態である。   Thereafter, the GV 58b is closed to form a second space, and evacuation is performed until the degree of vacuum is the same as that in the robot chamber (second evacuation step). After the second evacuation step, the substrate cassette base 56 (O-ring 59a) is moved to a position (predetermined position) in contact with the seal portion 55a, and the substrate cassette 6L is moved to a space communicating with the robot chamber (third Cassette holding part moving step), the substrate 13 disposed in the lower substrate cassette 6L is transferred to the carrier 11 (conveying device) by the robot 23L (second substrate transferring step). The substrates 13 on the lower substrate cassette 6L are sequentially transferred to the carrier 50 by the robot 23L. A step of introducing a gas into the upper side of the sub-chamber 52 (substrate loading unit 52a) during execution of the second substrate transfer step, then opening the GV 58a, and loading the substrate 13 (unprocessed substrate) into the substrate cassette 5L ( Substrate loading step) is performed. The substrate loading process performed during the execution of the second substrate transfer process is the state described above with reference to FIG.

図5(a),(b)に基づいて説明した上述の工程(基板投入工程〜第2基板移載工程)を繰り返し行うことにより、ロードチャンバLL2内に配設されるロボットを1台とし、ロボットチャンバ41内のGVを必要としないと構造が可能となる。   By repeatedly performing the above-described steps (substrate loading step to second substrate transfer step) described based on FIGS. 5A and 5B, one robot is provided in the load chamber LL2. If the GV in the robot chamber 41 is not required, the structure is possible.

本実施形態のロードチャンバLL2は、基板カセットベース56に載置された基板カセットからの移載作業が行われている間に第2カセットベース57上に載置された基板カセットがある空間の排気やベント作業を行うことができる。このため、1つのサブチャンバのみ備える従来の真空処理装置のロードチャンバLLやアンロードチャンバULに比較して、基板カセットが配置される空間の排気時間やベント時間を十分に確保することが可能となる。   The load chamber LL2 of the present embodiment exhausts the space in which the substrate cassette placed on the second cassette base 57 is located while the transfer operation from the substrate cassette placed on the substrate cassette base 56 is performed. And venting work. For this reason, as compared with the load chamber LL and unload chamber UL of the conventional vacuum processing apparatus having only one sub-chamber, it is possible to sufficiently secure the exhaust time and vent time of the space in which the substrate cassette is arranged. Become.

すなわち、本実施形態に係るロードチャンバLL2により、基板13の補充の際にも真空排気やベントされる領域はシール部55aの上方側、又はシール部55bの下方側に限定することができる。すなわち、排気やベント時間を短縮することでスループットの向上を図ることができる。   That is, by the load chamber LL2 according to this embodiment, the region to be evacuated or vented even when the substrate 13 is replenished can be limited to the upper side of the seal portion 55a or the lower side of the seal portion 55b. That is, the throughput can be improved by shortening the exhaust time and the vent time.

本発明に係るチャンバを用いることで、基板カセットが配置される空間の排気時間やベント時間を多くとることができるため、投入時に基板に付着した水成分などの成膜に与える有害物質を取り除くとともに、搬出時には時間をかけてベントすることが可能となる。そのため、基板とベントガスとの化学的、物理的ダメージを軽減することができる。化学的ダメージとは例えばベント用の窒素ガスによる基板の窒化であり、物理的ダメージとは例えばベント(真空排気動作)のガス流により巻き上がったパーティクルによって基板を損傷することである。   By using the chamber according to the present invention, it is possible to increase the exhaust time and vent time of the space in which the substrate cassette is placed, so that harmful substances that are applied to the film formation such as water components attached to the substrate at the time of loading are removed. It becomes possible to vent over time when carrying out. Therefore, chemical and physical damage between the substrate and the vent gas can be reduced. The chemical damage is, for example, nitriding of the substrate with a nitrogen gas for venting, and the physical damage is, for example, damaging the substrate by particles rolled up by the gas flow of the vent (evacuation operation).

本発明に係るチャンバを用いることで、排気容量の大きな真空ポンプを使用する必要がなきためコストの上昇を抑えることができる。また、基板カセットベースが上下方向に移動することで、基板カセットを搬送装置側に近い位置に配置することができるため、ロードチャンバ内に配設されるロボットを1台にすることができ、さらに、サブチャンバに基板を排出するためのGV(ゲートバルブ)を取り付ける必要がないため、部品点数を減少させることができる。   By using the chamber according to the present invention, it is not necessary to use a vacuum pump having a large exhaust capacity, so that an increase in cost can be suppressed. In addition, since the substrate cassette base moves in the vertical direction, the substrate cassette can be disposed at a position close to the transfer device side, so that one robot can be disposed in the load chamber. Since there is no need to attach a GV (gate valve) for discharging the substrate to the sub-chamber, the number of parts can be reduced.

本発明は、成膜用装置として発明されたが、広く真空を利用する産業や、液体、気体などの隔壁を必要とする装置に応用することが可能である。また、基板カセット5L,5U,6Lは、基板13を25枚若しくは50枚ずつ二列に並べることができる。本実施形態における基板の投入及び搬出は、所定数量の基板を基板カセットに移載することで行われるが、交換する基板を搭載した基板カセット自体を交換してもよい。   Although the present invention was invented as a film forming apparatus, it can be applied to industries that widely use vacuum and apparatuses that require partition walls such as liquid and gas. In addition, the substrate cassettes 5L, 5U, and 6L can arrange 25 or 50 substrates 13 in two rows. In the present embodiment, loading and unloading of substrates are performed by transferring a predetermined number of substrates to the substrate cassette. However, the substrate cassette itself carrying the substrate to be replaced may be replaced.

本発明に係るチャンバ若しくはサブチャンバは、基板カセットベースが上下方向に移動する構成だけではなく、水平方向に移動する構成にも適用することが可能である。基板カセットベースが上下方向に移動する場合は、基板カセットベースの基板カセットが載置される面の両側に板状のシール部材を起立して取り付けるとよい。すなわち、このシール部材を真空隔壁として用いることで水平方向の移動に本発明を適用することができる。   The chamber or sub-chamber according to the present invention can be applied not only to a configuration in which the substrate cassette base moves in the vertical direction but also to a configuration in which the substrate cassette base moves in the horizontal direction. When the substrate cassette base moves in the vertical direction, plate-like seal members may be installed upright on both sides of the surface of the substrate cassette base on which the substrate cassette is placed. In other words, the present invention can be applied to horizontal movement by using this seal member as a vacuum partition.

また、チャンバの構造を工夫することにより、ロードチャンバ(基板供給装置)とアンロードチャンバ(基板排出装置)の両者の機能を1つのチャンバ(ロードチャンバ)で実行できるように構成することもできる。例えば、ロボットを1台設置したロボットチャンバを、基板の投入側と排出側のチャンバに連通させて、キャリアからの基板の取り外し動作と搭載動作を1台のロボットで行うようにすることもできる。この場合、投入側と排出側のチャンバに取り付けられた基板カセットベースを連動させれば、基板カセットベースの駆動系を1つにまとめることができる。   Further, by devising the structure of the chamber, it is possible to configure so that the functions of both the load chamber (substrate supply device) and the unload chamber (substrate discharge device) can be executed in one chamber (load chamber). For example, a robot chamber in which one robot is installed can be communicated with chambers on the substrate input side and substrate discharge side so that the substrate can be removed from the carrier and loaded by a single robot. In this case, if the substrate cassette bases attached to the input-side and discharge-side chambers are interlocked, the drive system of the substrate cassette base can be integrated.

S 真空処理装置
S1 成膜室(チャンバ)
LL1,LL2 ロードチャンバ
UL アンロードチャンバ
5,5L,5U,6L 基板カセット
48,58a,58b GV(ゲートバルブ)
10 基板搬送路
11 キャリア
12 スライダー
13 基板
14 ホルダ
15 基板支持爪
23L,23U ロボット
29,31 搬送チャンバ
41 ロボットチャンバ
42,52 サブチャンバ
42a,52a 基板投入部
42b,52b サブ搬送部
42c,52c 第2基板投入部
47a,59a,59b シール材
44,54 駆動機構部
44a 支柱
44b ベローズ
44c モータ
45,55a,55b シール部
47,56 基板カセットベース
57 第2カセットベース
61,63 真空ポンプ
62,64 ベント装置

S Vacuum processing device S1 Deposition chamber (chamber)
LL1, LL2 Load chamber UL Unload chamber 5, 5L, 5U, 6L Substrate cassette 48, 58a, 58b GV (gate valve)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Substrate conveyance path 11 Carrier 12 Slider 13 Substrate 14 Holder 15 Substrate support claw 23L, 23U Robot 29, 31 Transfer chamber 41 Robot chamber 42, 52 Sub chamber 42a, 52a Substrate input part 42b, 52b Sub transfer part 42c, 52c Second Substrate loading portion 47a, 59a, 59b Sealing member 44, 54 Drive mechanism 44a Strut 44b Bellows 44c Motor 45, 55a, 55b Sealing portion 47, 56 Substrate cassette base 57 Second cassette base 61, 63 Vacuum pump 62, 64 Vent device

Claims (7)

基板に所定の真空処理が行われる処理チャンバに向けて基板を供給し、又は前記真空処理後の基板が排出されるチャンバであって、
基板が装填される基板カセットが配置される移動可能なカセット保持部と、
所定位置に移動した前記カセット保持部に当接し、前記チャンバ内に気密な第1の空間を形成できるように前記チャンバの内壁に沿って設けられたシール部と、
前記チャンバに設けられ、開放することで前記第1の空間内の前記基板カセットに基板を投入又は排出可能な状態となるゲートバルブと、
前記第1の空間のみを真空排気できる真空排気装置と、
前記第1の空間のみにガス導入できるガス導入装置とを有することを特徴とするチャンバ。
A chamber for supplying a substrate toward a processing chamber in which a predetermined vacuum processing is performed on the substrate, or for discharging the substrate after the vacuum processing;
A movable cassette holder in which a substrate cassette loaded with a substrate is disposed;
A seal portion provided along the inner wall of the chamber so as to contact the cassette holding portion moved to a predetermined position and form an airtight first space in the chamber;
A gate valve that is provided in the chamber and is opened to allow the substrate cassette in the first space to be loaded or unloaded.
An evacuation apparatus capable of evacuating only the first space;
And a gas introduction device capable of introducing gas only into the first space.
基板が装填される第2基板カセットが配置されるとともに、前記カセット保持部と同期して移動可能な第2カセット保持部と、
前記カセット保持部が前記所定位置とは異なる第2の所定位置に移動したときに当接し、前記チャンバ内に気密な第2の空間を形成できるように、前記チャンバの内壁に沿って設けられた第2シール部と、
前記チャンバに設けられ、開放することで前記第2の空間内の前記第2基板カセットに基板を投入又は排出可能な第2ゲートバルブと、
前記第2の空間のみを真空排気できる第2真空排気装置と、
前記第2の空間のみにガス導入できる第2ガス導入装置と、をさらに有し、
前記カセット保持部の前記第2シール部が当接する部分は、前記カセット保持部の移動方向に対して、前記カセット保持部の前記シール部が当接する部分の逆側であることを特徴とする請求項1に記載のチャンバ。
A second substrate cassette loaded with a substrate, and a second cassette holder that is movable in synchronization with the cassette holder;
The cassette holding portion is provided along the inner wall of the chamber so that the cassette holding portion can be brought into contact with the second predetermined position different from the predetermined position to form an airtight second space in the chamber. A second seal portion;
A second gate valve that is provided in the chamber and can be opened or removed to open or remove the substrate from the second substrate cassette in the second space;
A second evacuation device capable of evacuating only the second space;
A second gas introduction device capable of introducing gas only into the second space;
The portion of the cassette holding portion with which the second seal portion abuts is opposite to the portion of the cassette holding portion with which the seal portion abuts with respect to the moving direction of the cassette holding portion. Item 2. The chamber according to Item 1.
前記第1の空間を内部に形成できるサブチャンバと、
前記サブチャンバに連結されるとともに、基板に所定の真空処理を行う処理チャンバとの間で基板を搬送する搬送装置に接続されるロボットチャンバと、
前記ロボットチャンバ内に配設され、前記サブチャンバ内の前記基板カセットと前記搬送装置との間で基板を移載するロボットとを備えていることを特徴とする請求項1に記載のチャンバ。
A subchamber capable of forming the first space therein;
A robot chamber connected to the sub-chamber and connected to a transfer device that transfers the substrate to and from a processing chamber that performs predetermined vacuum processing on the substrate;
The chamber according to claim 1, further comprising a robot that is disposed in the robot chamber and transfers a substrate between the substrate cassette in the sub-chamber and the transfer device.
前記第1の空間及び前記第2の空間を内部に形成できるサブチャンバと、
基板に所定の真空処理を行う処理チャンバとの間で基板を搬送する搬送装置に接続されるとともに、前記サブチャンバに連結されたロボットチャンバと、
前記ロボットチャンバ内に配設され、前記サブチャンバ内の前記基板カセット又は前記第2基板カセットと前記搬送装置との間で基板を移載するロボットとを備えていることを特徴とする請求項2に記載のチャンバ。
A subchamber capable of forming the first space and the second space therein;
A robot chamber connected to a transfer device that transfers the substrate to and from a processing chamber that performs predetermined vacuum processing on the substrate; and a robot chamber connected to the sub-chamber;
3. A robot disposed in the robot chamber and transferring a substrate between the substrate cassette or the second substrate cassette in the sub chamber and the transfer device. Chamber.
請求項1乃至4のいずれか1項に記載されたチャンバと、
基板に所定の真空処理を行う処理チャンバと、
前記チャンバと前記処理チャンバとの間で基板を搬送する搬送装置とを備えていることを特徴とする真空処理装置。
A chamber according to any one of claims 1 to 4;
A processing chamber for performing predetermined vacuum processing on the substrate;
A vacuum processing apparatus comprising: a transfer device that transfers a substrate between the chamber and the processing chamber.
請求項3に記載されたチャンバを用いた基板移載方法であって、
前記カセット保持部を前記所定位置に移動させるとともに前記ゲートバルブを開放して、前記カセット保持部に配置されている前記基板カセットに未処理基板を装填する基板投入工程と、
前記カセット保持部を前記所定位置に位置させた状態で前記ゲートバルブを閉じて前記第1の空間を形成するとともに前記第1の空間を真空排気し、前記ロボットチャンバ内と同等の真空度にする排気工程と、
前記カセット保持部を前記所定位置から移動させて、前記基板カセットを前記ロボットチャンバと連通する空間に移動するカセット保持部移動工程と、
前記基板カセットに配設された前記未処理基板を前記ロボットによって前記搬送装置に移載する基板移載工程とを有することを特徴とする基板移載方法。
A substrate transfer method using the chamber according to claim 3,
A substrate loading step of moving the cassette holding portion to the predetermined position and opening the gate valve to load an unprocessed substrate into the substrate cassette disposed in the cassette holding portion;
The gate valve is closed with the cassette holding portion positioned at the predetermined position to form the first space, and the first space is evacuated to the same degree of vacuum as in the robot chamber. An exhaust process;
A cassette holding unit moving step of moving the cassette holding unit from the predetermined position and moving the substrate cassette to a space communicating with the robot chamber;
A substrate transfer method comprising: a substrate transfer step of transferring the unprocessed substrate disposed in the substrate cassette to the transfer device by the robot.
請求項4に記載されたチャンバを用いた基板移載方法であって、
前記カセット保持部が前記所定位置に移動するとともに前記ゲートバルブを開放して、前記カセット保持部に配置される前記基板カセットに未処理基板を装填する基板投入工程と、
前記カセット保持部を前記所定位置に位置させた状態で前記ゲートバルブを閉じて前記第1の空間を形成するとともに前記第1の空間を真空排気し、前記ロボットチャンバ内と同等の真空度にする排気工程と、
前記カセット保持部を前記第2の所定位置に移動させて、前記基板カセットを前記ロボットチャンバと連通する空間に移動する第2のカセット保持部移動工程と、
前記基板カセットに配設された前記未処理基板を前記ロボットによって前記搬送装置に移載する基板移載工程と、
前記基板移載工程と同時に行われ、前記第2ゲートバルブを開放するとともに前記第2カセット保持部に配置される前記第2基板カセットに未処理基板を装填する第2の基板投入工程と、
前記第2ゲートバルブを閉じて前記第2の空間を形成するとともに前記第2の空間を真空排気し、前記ロボットチャンバ内と同等の真空度にする第2排気工程と、
前記カセット保持部を前記所定位置に移動させて、前記第2基板カセットを前記ロボットチャンバと連通する空間に移動する第3のカセット保持部移動工程と、
前記第2基板カセットに配設された前記未処理基板を前記ロボットによって前記搬送装置に移載する第2基板移載工程とを有することを特徴とする基板移載方法。
A substrate transfer method using the chamber according to claim 4,
A substrate loading step of loading the unprocessed substrate into the substrate cassette disposed in the cassette holding portion by moving the cassette holding portion to the predetermined position and opening the gate valve;
The gate valve is closed with the cassette holding portion positioned at the predetermined position to form the first space, and the first space is evacuated to the same degree of vacuum as in the robot chamber. An exhaust process;
A second cassette holding unit moving step of moving the cassette holding unit to the second predetermined position and moving the substrate cassette to a space communicating with the robot chamber;
A substrate transfer step of transferring the unprocessed substrate disposed in the substrate cassette to the transfer device by the robot;
A second substrate loading step that is performed simultaneously with the substrate transfer step, opens the second gate valve, and loads an unprocessed substrate into the second substrate cassette disposed in the second cassette holding unit;
A second evacuation step of closing the second gate valve to form the second space and evacuating the second space to a degree of vacuum equivalent to that in the robot chamber;
A third cassette holding unit moving step of moving the cassette holding unit to the predetermined position and moving the second substrate cassette to a space communicating with the robot chamber;
A substrate transfer method comprising: a second substrate transfer step of transferring the unprocessed substrate disposed in the second substrate cassette to the transfer device by the robot.
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