JP2001067671A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 この発明は、光ディスク装置の内部温度が変
化しても最適な条件で光ディスクに記録できる記録補償
を有する。 【解決手段】 この発明は、光ピックアップの近傍の温
度の変化（光ディスク装置の内部温度の変化）を検知
し、変化に従った最適な、記録するマークの前後のスペ
ースの大きさにより、実際に記録する時の照射の開始位
置（ファーストパルスの立ち上がり位置）と照射の終了
位置（ラストパルスの立ち下がり位置）を変化させる記
録補償テーブルを用いるようにしたものである。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、ＤＶＤ−ＲＡＭ
等の光ディスクに対してデータを記録したり、記録され
ているデータを再生する光ディスク装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】最近、ＤＶＤ−ＲＡＭ等の光ディスクに
対してデータを記録したり、記録されているデータを再
生する光ディスク装置が実用化されている。

【０００３】このような光ディスク（ＤＶＤ−ＲＡＭ）
としては、その記憶が大容量（２．６ＧＢ、４．７Ｇ
Ｂ）のため、パソコン（ＰＣ）等の外部記憶手段として
用いられるようになってきている。

【０００４】上記光ディスク（ＤＶＤ−ＲＡＭ）では、
光学ヘッドからのレーザビームにより、実データがグル
ーブあるいはランドに層変化によりピット列として記録
されるようになっている。

【０００５】この場合、光ディスク装置では、前後のピ
ット列の状態によりピットの開始位置と終了位置とを、
所定のパラメータにより変化させることにより、記録補
償を行っている。

【０００６】このような光ディスク装置での記録補償
は、光ディスクのパラメータを一回決めるとその値を使
い続けるようになっている。

【０００７】しかし、光学ヘッドの周囲温度の変化によ
り光ディスクヘの記録特性が変化してしまい、上記パラ
メータでは必ずしも適切に記録できなくなってしまうと
いう欠点がある。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】この発明は、光学ヘッ
ドの周囲温度の変化により光ディスクヘの記録特性が変
化してしまい、必ずしも適切に記録できなくなってしま
うという欠点を除去するもので、光学ヘッドの周囲温度
の変化により光ディスクヘの記録特性が変化しても最適
な条件で光ディスクに記録できる記録補償を有する光デ
ィスク装置を提供することにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】この発明の光ディスク装
置は、光学ヘッドから出力されるレーザビームに基づい
て層変化によるピット列が形成されることにより光ディ
スクにデータが記録されるものにおいて、上記光学ヘッ
ドの近傍の温度に基づいて上記ピット列の各ピットの形
成開始位置と形成終了位置を変更する変更手段からな
る。

【００１０】この発明の光ディスク装置は、光学ヘッド
から出力されるレーザビームに基づいて層変化によるピ
ット列が形成されることにより光ディスクにデータが記
録されるものにおいて、上記光学ヘッドの近傍の温度を
検知する検知手段と、この検知手段による検知温度に基
づいて上記ピット列の各ピットの形成開始位置と形成終
了位置を変更する変更手段とからなる。

【００１１】この発明の光ディスク装置は、光学ヘッド
から出力されるレーザビームに基づいて層変化によるピ
ット列が形成されることにより光ディスクにデータが記
録されるものにおいて、記録するデータに基づくパルス
を生成する生成手段と、上記光学ヘッド内に設けられ、
上記生成手段により生成されるパルスに応じてレーザビ
ームを出力する出力手段と、上記光学ヘッドの近傍の温
度変化に準じて変化する上記出力手段による電流値を検
知する検知手段と、この検知手段により検知した電流値
に基づいて、上記生成手段により生成されるパルスの開
始位置と終了位置を変更することにより、上記ピット列
の各ピットの形成開始位置と形成終了位置を変更する変
更手段とからなる。

【００１２】この発明の光ディスク装置は、光学ヘッド
から出力されるレーザビームに基づいて層変化によるピ
ットが形成され、可変長のピットとピットの間隔と、可
変長の各ピットの長さにより光ディスクにデータが記録
されるものにおいて、上記光学ヘッドの近傍の温度と前
後のピットとの間隔と形成するピットの長さとに基づい
て、上記ピット列の各ピットの形成開始位置と形成終了
位置を変更する変更手段からなる。

【００１３】この発明の光ディスク装置は、光学ヘッド
から出力されるレーザビームに基づいて層変化によるピ
ットが形成され、可変長のピットとピットの間隔と、可
変長の各ピットの長さにより光ディスクにデータが記録
されるものにおいて、上記光学ヘッドの近傍の温度を検
知する検知手段と、この検知手段による検知温度と前後
のピットとの間隔と形成するピットの長さとに基づい
て、上記ピット列の各ピットの形成開始位置と形成終了
位置を変更する変更手段とからなる。

【００１４】この発明の光ディスク装置は、光学ヘッド
から出力されるレーザビームに基づいて層変化によるピ
ットが形成され、可変長のピットとピットの間隔と、可
変長の各ピットの長さにより光ディスクにデータが記録
されるものにおいて、記録するデータに基づくパルスを
生成する生成手段と、上記光学ヘッド内に設けられ、上
記生成手段により生成されるパルスに応じてレーザビー
ムを出力する出力手段と、上記光学ヘッドの近傍の温度
変化に準じて変化する上記出力手段による電流値を検知
する検知手段と、この検知手段により検知した電流値と
前後のピットとの間隔と形成するピットの長さとに基づ
いて、上記生成手段により生成されるパルスの開始位置
と終了位置を変更することにより、上記ピット列の各ピ
ットの形成開始位置と形成終了位置を変更する変更手段
とからなる。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの発明の
実施形態の光ディスク装置を説明する。

【００１６】図１は、光ディスク装置３０を示すもので
ある。この光ディスク装置３０は、光ディスク（ＤＶＤ
−ＲＡＭ）１へのデータの記録及びこの光ディスク１か
らデータを再生するものである。

【００１７】この光ディスク装置３０は、うずまき状又
は同心円状のデータを記録するグルーブおよびランドの
トラックを有し、一定長のグルーブおよびランドからな
りアドレスデータからなるヘッダ部（図示しない）とデ
ータが記録される記録領域（図示しない）とからなる複
数のセクタを有し、上記複数のトラックずつの複数のゾ
ーンからなる光ディスク１を各ゾーンごとに異なった回
転数で回転した状態で、上記光ディスク１に対してデー
タを記録したり、この光ディスク１に記録されているデ
ータを再生するものである。

【００１８】この光ディスク装置３０は、ＤＶＤ−ＲＡ
Ｍのみならず他のＤＶＤディスクからもデータの読み出
しが可能で、書換可能なＤＶＤディスクに対してデータ
の書き込みが可能な装置として構成されている。

【００１９】したがって、光ピックアップ（光学ヘッ
ド）２は、対物レンズ３を有している。光ピックアップ
２内には、対物レンズ３に対応して半導体レーザユニッ
ト（図示せず）が設けられ、レーザ制御ユニット５によ
って付勢され、対応する波長のレーザビームを発生す
る。半導体レーザユニットが付勢されると、光ディスク
１に対応するレーザビームが対応する対物レンズ３に向
けられ、この対物レンズ３によって光ディスク１に収束
される。この収束されたレーザビームで光ディスク１に
データが書き込まれ（ピット列の生成：可変長のピット
とピットの間隔と、可変長の各ピットの長さにより光デ
ィスクにデータが記録される）、或いは、再生される。

【００２０】レーザ制御ユニット５は、データ処理ユニ
ット６によってその設定がセットされるが、その設定
は、再生信号を得る再生モード、データを記録する記録
モード及びデータを消去する消去モードで異なってい
る。レーザビームは、再生モード、記録モード及び消去
モードの３つのモードでそれぞれ異なるレベルのパワー
を有し、そのモードに対応したパワーのレーザビームが
発生されるように半導体レーザユニットがレーザ制御ユ
ニット５によって付勢される。

【００２１】たとえば、レーザ制御ユニット５は、図２
に示すように、抵抗Ｒ１とトランジスタＴ１により構成
され、電源電圧が抵抗Ｒ１とトランジスタＴ１と半導体
レーザユニットとしての半導体レーザ発振器Ｄに印加さ
れるようになっている。

【００２２】これにより、トランジスタＴ１のベース電
流により増幅率が異なり、半導体レーザ発振器Ｄに異な
る電流が流れ、強度の異なったレーザビームが発生され
るようになっている。すなわち、後述する記録波形生成
回路４５からの記録波形の信号レベルに応じた記録モー
ドにおけるレーザパワーが発生されるようになってい
る。

【００２３】また、上記レーザ制御ユニット５の近傍に
は、上記光ディスク装置１の内部の温度として上記光ピ
ックアップ２の近傍の温度を検知する検知手段としての
温度検知部４０が設けられている。この温度検知部４０
からの検知温度はＡ／Ｄ変換器４１によりディジタルに
変換されて後述するＣＰＵ２５に出力される。

【００２４】対物レンズ３に対向して光ディスク１が配
置されるように、この光ディスク１は、直接或いはディ
スクカートリッジ１ａに収納されてトレー７によって装
置内に搬送される。このトレー７を駆動する為のトレー
モータ８が装置内に設けられている。また、装填された
光ディスク１は、スタンパ９によって回転可能にスピン
ドルモータ１０上に保持され、このスピンドルモータ１
０によって回転される。

【００２５】光ピックアップ２は、その内にレーザビー
ムを検出する光検出器（図示せず）を有している。この
光検出器は、光ディスク１で反射されて対物レンズ３を
介して戻されたレーザビームを検出している。光検出器
からの検出信号（電流信号）は、電流／電圧変換器（Ｉ
／Ｖ）１２で電圧信号に変換され、この信号は、リファ
レンスアンプ（ＲＦアンプ）１３及びサーボアンプ１４
に供給される。リファレンスアンプ１３からは、ヘッダ
部のデータの再生用としてのトラッキングエラー信号と
記録領域のデータの再生用としての加算信号がＤＶＤデ
ータ処理ユニット６に出力される。サーボアンプ１４か
らのサーボ信号（トラックエラー信号、フォーカス信
号）は、サーボシーク制御ユニット１５に出力される。

【００２６】フォーカスずれ量を光学的に検出する方法
としては、たとえば次のようなものがある。

【００２７】［非点収差法］ 光ディスク１の光反射膜
または光反射性記録膜で反射されたレーザ光の検出光路
に非点収差を発生させる光学素子（図示せず）を配置
し、光検出器上に照射されるレーザ光の形状変化を検出
する方法である。光検出領域は対角線状に４分割されて
いる。各検出領域から得られる検出信号に対し、ＤＶＤ
サーボシーク制御ユニット１５内で対角和間の差を取っ
てフォーカスエラー検出信号（フォーカス信号）を得
る。

【００２８】［ナイフエッジ法］ 光ディスク１で反射
されたレーザ光に対して非対称に一部を遮光するナイフ
エッジを配置する方法である。光検出領域は２分割さ
れ、各検出領域から得られる検出信号間の差を取ってフ
ォーカスエラー検出信号を得る。

【００２９】通常、上記非点収差法あるいはナイフエッ
ジ法のいずれかが採用される。

【００３０】光ディスク１はスパイラル状または同心円
状のトラックを有し、トラック上に情報が記録される。
このトラックに沿って集光スポットをトレースさせて情
報の再生または記録／消去を行う。安定して集光スポッ
トをトラックに沿ってトレースさせるため、トラックと
集光スポットの相対的位置ずれを光学的に検出する必要
がある。

【００３１】トラックずれ検出方法としては一般に、次
の方法が用いられている。

【００３２】［位相差検出（Differential Phase Detec
tion）法］ 光ディスク１の光反射膜または光反射性記
録膜で反射されたレーザ光の光検出器上での強度分布変
化を検出する。光検出領域は対角線上に４分割されてい
る。各検出領域から得られる検出信号に対し、ＤＶＤサ
ーボシーク制御ユニット１５内で対角和間の差を取って
トラックエラー検出信号（トラッキング信号）を得る。

【００３３】［プッシュプル（Push-Pull ）法］ 光デ
ィスク１で反射されたレーザ光の光検出器上での強度分
布変化を検出する。光検出領域は２分割され、各検出領
域から得られる検出信号間の差を取ってトラックエラー
検出信号を得る。

【００３４】［ツインスポット（Twin-Spot ）法］ 半
導体レーザ素子と光ディスク１間の送光系に回折素子な
どを配置して光を複数に波面分割し、光ディスク１上に
照射する±１次回折光の反射光量変化を検出する。再生
信号検出用の光検出領域とは別に＋１次回折光の反射光
量と−１次回折光の反射光量を個々に検出する光検出領
域を配置し、それぞれの検出信号の差を取ってトラック
エラー検出信号を得る。

【００３５】ＤＶＤモードでは、ＤＶＤサーボシーク制
御ユニット１５からフォーカス信号、トラッキング信号
及び送り信号がフォーカス及びトラッキングアクチュエ
ータドライバ並びに送りモータドライバ１７に送られ、
このドライバ１７によって対物レンズ３がフォーカスサ
ーボ制御され、また、トラッキングサーボ制御される。

【００３６】更に、アクセス信号に応じてドライバ１７
から付勢信号が送りモータ１１に供給され光ピックアッ
プ２が搬送制御される。

【００３７】このサーボシーク制御ユニット１５は、デ
ータ処理ユニット６によって制御される。例えば、デー
タ処理ユニット６からアクセス信号がサーボシーク制御
ユニット１５に供給されて送り信号が生成される。

【００３８】また、データ処理ユニット６からの制御信
号でスピンドルモータドライバ１８及びトレーモータド
ライバ１９が制御され、スピンドルモータ１０及びトレ
ーモータ８が付勢され、スピンドルモータ１０が所定回
転数で回転され、トレーモータ８がトレーを適切に制御
することとなる。

【００３９】データ処理ユニット６に供給されたヘッダ
部のデータに対応する再生信号は、後述するＣＰＵ２５
に供給される。これにより、上記ＣＰＵ２５は、その再
生信号によりヘッダ部のアドレスとしてのセクタ番号を
判断し、アクセスする（データを記録するあるいは記録
されているデータを再生する）アドレスとしてのセクタ
番号との比較を行うようになっている。

【００４０】データ処理ユニット６に供給された記録領
域のデータに対応する再生信号は、ＲＡＭ２０に必要な
データが格納され、再生信号がこのデータ処理ユニット
６で処理されてバッファとしてのＲＡＭ２１を有するＳ
ＣＳＩインタフェース制御部２２に供給され、ＳＣＳＩ
３２を介して他の装置、例えば、パーソナルコンピュー
タ（外部装置、ＰＣ）３１に再生処理信号が供給され
る。

【００４１】図１に示す各部は、ＲＯＭ２４に格納され
た手順に従って、ＣＰＵ２５によって制御される。ＲＡ
Ｍ２６はＣＰＵ２５のメモリとして用いられる。

【００４２】上記ＲＯＭ２４には、光ピックアップ２の
近傍の温度ごとに異る複数の記録保障テーブル４２ａ、
４２ｂ、４２ｃ、４３ａ、４３ｂ、４３ｃがあらかじめ
登録されている。

【００４３】たとえば、記録保障テーブル４２ａは、０
度におけるテーブルであり、図３に示すように、マーク
長（３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、６Ｔ以上）に対する前後（たと
えばリーディング）のスペースの長さに基づく、記録信
号（変調信号、ＮＲＺＩ信号）の立ち上がり時から記録
波形のファーストパルスの立ち上げ位置までの時間（Ｔ
_ＳＦＰ）であり、変調信号に応じて変更されるようにな
っている。この時間としてはｎｓｅｃのオーダーとなっ
ている。

【００４４】この際、時間（Ｔ_ＳＦＰ）は、マーク長が
長くなるにしたがって時間が短くなり、前後のスペース
が長くなるにしたがって時間が長くなるようになってい
る。

【００４５】また、記録保障テーブル４２ｂ、４２ｃ
は、２０度、４０度におけるテーブルである。テーブル
の内容としては温度が上がることにより、記録保障テー
ブル４２ａの場合に比べ、時間が短くなるようになって
いる。

【００４６】また、記録保障テーブル４３ａは、０度に
おけるテーブルであり、図４に示すように、マーク長
（３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、６Ｔ以上）に対する前後（たとえ
ばトレイリング）のスペースの長さに基づく、ラストパ
ルスの立ち上げ位置の手前のマルチパルスが出力される
タイミングからラストパルスの立ち下げ位置までの時間
（Ｔ_ＥＬＰ）であり、変調信号に応じて変更されるよう
になっている。この時間としてはｎｓｅｃのオーダーと
なっている。

【００４７】この際、時間（Ｔ_ＥＬＰ）は、マーク長が
長くなるにしたがって時間が短くなり、前後のスペース
が長くなるにしたがって時間が長くなるようになってい
る。

【００４８】また、記録保障テーブル４３ｂ、４３ｃ
は、２０度、４０度におけるテーブルである。テーブル
の内容としては温度が上がることにより、記録保障テー
ブル４３ａの場合に比べ、時間が短くなるようになって
いる。

【００４９】上記データ処理ユニット６には、図１に示
すように、変調回路４４と記録波形生成回路４５を有し
ている。

【００５０】変調回路４４は、ＰＣ３１からの記録デー
タを変調し、ＣＰＵ２５へ出力するものである。

【００５１】記録波形生成回路４５は、変調回路４４か
らの変調信号に基づいてＣＰＵ２５から供給される切換
信号とに基づいて、マルチパルス信号の記録パルスを生
成するものである。

【００５２】記録波形生成回路４５は、図５に示すよう
に、電源電圧供給部４６、４７、４８、切換スイッチ４
９、５０、５１、加算器５２、５３により構成されてい
る。

【００５３】切換スイッチ４８、４９、５０は、ＣＰＵ
２５からの切換信号によりオン、オフされるものであ
る。切換スイッチ４９がオンした際に、電源電圧供給部
４６からの電源電圧が切換スイッチ４９を介して加算器
５２に供給され、切換スイッチ５０がオンした際に、電
源電圧供給部４７からの電源電圧が切換スイッチ５０を
介して加算器５２に供給され、切換スイッチ５１がオン
した際に、電源電圧供給部４８からの電源電圧が切換ス
イッチ５１を介して加算器５３に供給される。加算器５
２は切換スイッチ４９、５０からの信号を加算するもの
であり、加算器５３は加算器５２からの信号と切換スイ
ッチ５１からの信号を加算するものである。

【００５４】切換スイッチ４９、５０、５１がすべてオ
ンされている際に、加算器５３からは電源電圧供給部４
６、４７、４８からの電源電圧を加算したピークパワー
の信号が出力され、切換スイッチ４９、５０の２つがオ
ンされている際に、加算器５３からは電源電圧供給部４
６、４７からの電源電圧を加算したバイアスパワー１の
信号が出力され、切換スイッチ４９だけがオンされてい
る際に、加算器５３からは電源電圧供給部４６からの電
源電圧のバイアスパワー２の信号が出力され、切換スイ
ッチ４９、５０、５１がすべてオフされている際に、加
算器５３からはバイアスパワー３（ゼロレベル）の信号
が出力される。

【００５５】なお、ピークパワーの信号、バイアスパワ
ー１の信号、バイアスパワー２の信号、バイアスパワー
３の信号の順に電源電圧が低いものとなっている。（ピ
ークパワーの信号＞バイアスパワー１の信号＞バイアス
パワー２の信号＞バイアスパワー３の信号）たとえば、
変調回路４４からの変調信号（ＮＲＺＩ信号）として５
Ｔが供給された際に生成される記録波形について、図６
の（ａ）（ｂ）を用いて説明する。

【００５６】すなわち、変調信号の立ち上り時、変調信
号のローレベル時の切換スイッチ４９、５０の２つがオ
ンされた状態で、加算器５３からバイアスパワー１の信
号の出力が維持されている。

【００５７】そして、変調信号の立ち上りから時間Ｔ
_ＳＦＰが経過した際、切換スイッチ５１がさらにオンさ
れることにより加算器５３からファーストパルスの立ち
上がりとしてのピークパワーの信号が出力され、この
後、変調信号の立ち上りから所定時間経過した際に、切
換スイッチ４９、５０、５１がすべてオフされることに
より加算器５３からファーストパルスの立ち下がりとし
てのバイアスパワー３の信号が出力され、この後、切換
スイッチ４９、５０、５１がすべてオンされることによ
り加算器５３からマルチパルスの立ち上がりとしてのピ
ークパワーの信号が出力され、この後、切換スイッチ４
９、５０、５１がすべてオフされることにより加算器５
３からマルチパルスの立ち下がりとしてのバイアスパワ
ー３の信号が出力される。このマルチパルスが出力され
た後、次のマルチパルスを立ち上げるタイミングより所
定時間送らせて切換スイッチ４９、５０、５１がすべて
オンされることにより加算器５３からラストパルスを立
ち上がりとしてのピークパワーの信号が出力され、上記
マルチパルスが出力されるタイミングより時間Ｔ_ＥＬＰ
後に切換スイッチ４９だけがオンされることにより加算
器５３からラストパルスの立ち下がりとしてのバイアス
パワー２の信号が出力される。

【００５８】なお、変調信号ごとの記録波形は、３Ｔの
場合、１パルス構成であり、４Ｔの場合、ファーストパ
ルスと、ラストパルスの２パルス構成であり、５Ｔの場
合、ファーストパルスと、マルチパルス（１つ）と、ラ
ストパルスの３パルス構成であり、６Ｔ以上の場合、フ
ァーストパルスと、マルチパルス（１つずつふえる）
と、ラストパルスの４パルスから１つずつ増える構成と
なっている。

【００５９】次に、上記作成されたＤＶＤ−ＲＡＭの光
ディスク１の構造について説明する。

【００６０】上記光ディスク１は、例えばガラスあるい
はプラスチックス等で円形に形成された基板の表面に金
属被膜層がドーナツ型にコーティングされて構成され、
同心円状あるいはスパイラル状のグルーブおよびランド
の両方を用いてデータの記録あるいは記録されているデ
ータの再生が行われ、マスタリング工程で記録マークに
より所定間隔ごとにアドレスデータが記録されている相
変化形で書換え形のディスクである。

【００６１】次に、上記のような構成において、動作を
説明する。

【００６２】まず、光ピックアップ２の近傍の温度を温
度検知器４０により検知する。この温度検知器４０から
の検知内容がＡ／Ｄ変換器４１を介してＣＰＵ２５に供
給される。これにより、ＣＰＵ２５は上記温度検知器４
１から供給される検知温度に基づいて使用する記録保障
テーブル４２ａ、４２ｂ、４２ｃ、４３ａ、４３ｂ、４
３ｃを選択する。

【００６３】この状態において、ＣＰＵ２５はＰＣ３１
等からＳＣＳＩインタフェース制御部２２を介して供給
される記録データを変調回路４４により変調して、ＣＰ
Ｕ２５に供給する。これにより、ＣＰＵ２５は供給され
る変調信号と、現在選択している記録保障テーブルにお
ける時間（時間Ｔ_ＳＦＰと時間Ｔ_ＥＬＰ）とに応じた、
切換信号を記録波形生成回路４５へ出力する。

【００６４】すると、記録波形生成回路４５はＣＰＵ２
５から供給される切換信号により記録波形（図６の
（ａ）（ｂ）参照）を生成し、記録パルスとしてレーザ
制御ユニット５のトランジスタＴ１のベースに供給され
る。

【００６５】これにより、上記記録パルスに基づいて、
半導体レーザ発振器Ｄからレーザビームが発生され、光
ディスク１上に記録ピットが生成される。

【００６６】上記記録波形を生成する際、ＣＰＵ２５は
現在選択しているテーブルの値に基づいて時間Ｔ_ＳＦＰ
と時間Ｔ_ＥＬＰとを決定している。これにより、レーザ
制御ユニット５の近傍の温度に応じた記録ピットを生成
することができる。

【００６７】そして、上記温度検知器４０からの検知内
容が変更された際、ＣＰＵ２５は選択するテーブルを変
更し、その変更したテーブルを用いて時間Ｔ_ＳＦＰと時
間Ｔ _ＥＬＰとを決定する。

【００６８】なお、温度検知器の代りにレーザ制御ユニ
ット５の電流値により温度を判断するようにしても良
い。この場合、図７に示すように、抵抗Ｒ１とトランジ
スタＴ１との接続点の電流値を検知する電流値検知回路
６０を設け、この電流値検知回路６０により検知した電
流値をＣＰＵ２５に出力し、ＣＰＵ２５により電流値検
知回路６０により検知した電流値に基づく温度により記
録保障テーブル４２ａ、４２ｂ、４２ｃ、４３ａ、４３
ｂ、４３ｃを選択するようになっている。電流値検知回
路６０は電流値をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器
６１とこのＡ／Ｄ変換器６１からの信号をＣＰＵ２５へ
出力するＩ／Ｏ６２とにより構成されている。

【００６９】この際、電流値と温度との関係は、図８に
示すように、光ピックアップ２の近傍の温度に基づいて
順電流が変化するようになっている。これにより、電流
値が１ａの際に、０度と判断し、電流値が１ｂの際に、
２０度と判断し、電流値が１ｃの際に、４０度と判断す 上記したように、光ピックアップの近傍の温度の変化
（光ディスク装置の内部温度の変化）を検知し、変化に
従った最適な、記録するマークの前後のスペースの大き
さにより、実際に記録する時の照射の開始位置（ファー
ストパルスの立ち上がり位置）と照射の終了位置（ラス
トパルスの立ち下がり位置）を変化させる記録補償テー
ブルを用いるようにしたものである。

【００７０】これにより、光ディスク装置の内部温度が
変化しても最適な条件で光ディスクに記録できる記録補
償を有する光ディスク装置を実現する事ができる。

【００７１】

【発明の効果】以上詳述したように、この発明によれ
ば、光学ヘッドの周囲温度の変化により光ディスクヘの
記録特性が変化しても最適な条件で光ディスクに記録で
きる記録補償を有する光ディスク装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の実施形態の光ディスク装置の概略構
成を示す図。

【図２】レーザ制御ユニットの構成を示す回路図。

【図３】記録保障テーブルの登録例を示す図。

【図４】記録保障テーブルの登録例を示す図。

【図５】記録波形生成回路の構成を示す回路図。

【図６】変調信号に対する記録波形を示す波形図。

【図７】レーザ制御ユニットの構成を示す回路図。

【図８】レーザ制御ユニットにおける電流値と温度との
関係を示す図。

【符号の説明】

１…光ディスク ２…光ピックアップ（光学ヘッド） ５…レーザ制御ユニット ６…データ処理ユニット ２５…ＣＰＵ ３０…光ディスク装置 ４０…温度検知器 ４２ａ、４２ｂ、４２ｃ、４３ａ、４３ｂ、４３ｃ…記
録保障テーブル ４４…変調回路 ４５…記録波形生成回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 5D090 AA01 BB04 CC01 CC05 CC16 DD03 DD05 EE01 FF33 GG05 HH01 JJ07 LL08 5D119 AA22 BA01 BB03 DA01 FA02 HA09

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光学ヘッドから出力されるレーザビーム
   に基づいて層変化によるピット列が形成されることによ
   り光ディスクにデータが記録される光ディスク装置にお
   いて、 上記光学ヘッドの近傍の温度に基づいて上記ピット列の
   各ピットの形成開始位置と形成終了位置を変更する変更
   手段を具備したことを特徴とする光ディスク装置。
2. 【請求項２】 光学ヘッドから出力されるレーザビーム
   に基づいて層変化によるピット列が形成されることによ
   り光ディスクにデータが記録される光ディスク装置にお
   いて、 上記光学ヘッドの近傍の温度を検知する検知手段と、 この検知手段による検知温度に基づいて上記ピット列の
   各ピットの形成開始位置と形成終了位置を変更する変更
   手段と、 を具備したことを特徴とする光ディスク装置。
3. 【請求項３】 光学ヘッドから出力されるレーザビーム
   に基づいて層変化によるピット列が形成されることによ
   り光ディスクにデータが記録される光ディスク装置にお
   いて、 記録するデータに基づくパルスを生成する生成手段と、 上記光学ヘッド内に設けられ、上記生成手段により生成
   されるパルスに応じてレーザビームを出力する出力手段
   と、 上記光学ヘッドの近傍の温度変化に準じて変化する上記
   出力手段による電流値を検知する検知手段と、 この検知手段により検知した電流値に基づいて、上記生
   成手段により生成されるパルスの開始位置と終了位置を
   変更することにより、上記ピット列の各ピットの形成開
   始位置と形成終了位置を変更する変更手段と、 を具備したことを特徴とする光ディスク装置。
4. 【請求項４】 光学ヘッドから出力されるレーザビーム
   に基づいて層変化によるピットが形成され、可変長のピ
   ットとピットの間隔と、可変長の各ピットの長さにより
   光ディスクにデータが記録される光ディスク装置におい
   て、 上記光学ヘッドの近傍の温度と前後のピットとの間隔と
   形成するピットの長さとに基づいて、上記ピット列の各
   ピットの形成開始位置と形成終了位置を変更する変更手
   段を具備したことを特徴とする光ディスク装置。
5. 【請求項５】 光学ヘッドから出力されるレーザビーム
   に基づいて層変化によるピットが形成され、可変長のピ
   ットとピットの間隔と、可変長の各ピットの長さにより
   光ディスクにデータが記録される光ディスク装置におい
   て、 上記光学ヘッドの近傍の温度を検知する検知手段と、 この検知手段による検知温度と前後のピットとの間隔と
   形成するピットの長さとに基づいて、上記ピット列の各
   ピットの形成開始位置と形成終了位置を変更する変更手
   段と、 を具備したことを特徴とする光ディスク装置。
6. 【請求項６】 光学ヘッドから出力されるレーザビーム
   に基づいて層変化によるピットが形成され、可変長のピ
   ットとピットの間隔と、可変長の各ピットの長さにより
   光ディスクにデータが記録される光ディスク装置におい
   て、 記録するデータに基づくパルスを生成する生成手段と、 上記光学ヘッド内に設けられ、上記生成手段により生成
   されるパルスに応じてレーザビームを出力する出力手段
   と、 上記光学ヘッドの近傍の温度変化に準じて変化する上記
   出力手段による電流値を検知する検知手段と、 この検知手段により検知した電流値と前後のピットとの
   間隔と形成するピットの長さとに基づいて、上記生成手
   段により生成されるパルスの開始位置と終了位置を変更
   することにより、上記ピット列の各ピットの形成開始位
   置と形成終了位置を変更する変更手段と、 を具備したことを特徴とする光ディスク装置。