JP2001067341A - 高次回帰分析自動傾向線作成システム - Google Patents

高次回帰分析自動傾向線作成システム

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JP2001067341A
JP2001067341A JP23917499A JP23917499A JP2001067341A JP 2001067341 A JP2001067341 A JP 2001067341A JP 23917499 A JP23917499 A JP 23917499A JP 23917499 A JP23917499 A JP 23917499A JP 2001067341 A JP2001067341 A JP 2001067341A
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JP23917499A
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Inventor
Akihiro Oyama
晃弘 大山
Atsushi Motoyama
厚 元山
Satoshi Hashimoto
聡 橋本
Atsushi Hiroi
篤 廣井
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明の課題は従来の高次回帰分析の一次式等
で表示された図形式の散布図でのプロッタが、どのよう
な分析項目であるかは表形式を見ないと判断出来ないた
め一度表形式に戻る手間が掛っている。また一次式等の
上部に出る異常値にの削除に関しても同様に、表形式の
分析項目を削除する事により、グラフのプロッタの削除
を行う。また、プロッタをグラフ上で移動する事が出来
ない等、表形式とグラフ形式の両方を見ないと判断出来
ない課題がある。 【解決手段】本システムは従来表形式とグラフ形式の両
方を見なければ判断出来なかった各種の課題をグラフ形
式で行える様にするものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、購入品、外注加工
品等の購入価格を下げる原価低減を行う場合、散布図の
X軸に購入価格(X値)、Y軸にその価格に影響を及ぼす
と見られるデメンジョン(Y値)を表すコストデメンジ
ョン分析。または売価と値引き率の関連、身長と体重の
関連等、2つの分析項目のX,Y軸の関連がどのように成
っているかを、高次回帰分析の散布図を用いて行う分析
のシステムとして活用する。
【0002】
【従来の技術】従来の技術は分析したい分析品目と2っ
の分析項目に関して表に入力する。次にその分析品目の
2つの分析項目の関連をグラフの散布図にX軸、Y軸にプ
ロットで表現する。その平均をY=a1X+a2X2+……+anX
n+Cの計算式で、その一次式からn次式の何通りかの直
線、曲線をセレクトし傾向線を表示するようにするシス
テム化は行われている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は従来の
高次回帰分析の一次式等で表示された図形式の散布図で
のプロッタが、どのような分析項目であるかは表形式を
見ないと判断出来ないため一度表形式に戻る手間が掛っ
ている。また一次式等の上部に出る異常値にの削除に関
しても同様に、表形式の分析項目を削除する事により、
グラフのプロッタの削除を行う。また、プロッタをグラ
フ上で移動する事が出来ない等、表形式とグラフ形式の
両方を見ないと判断出来ない課題がある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本システムは従来表形式
とグラフ形式の両方を見なければ判断出来なかった各種
の課題をグラフ形式で行える様にするものである。
【0005】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態は、システム
の概要としては図1に示す様に表データ入力部10、X
軸、Y軸座標取得部11、プロット描写部12、グラフ
(直線、曲線)の計算部13、グラフ(直線、曲線)の
描写部14、グラフプロット修正部15から成ってい
る。最初に分析品目の2っの分析項目(X値、Y値)を図
11を表データ入力部10から入力し、表1のような表
形式を作成しファイル1に格納する。この場合の例は変
圧器の例であり、分析項目は容量(KVA)(X値)と購
入価格(Y値)である。次にX軸、Y軸の座標取得部11
により、散布図のグラフにXY軸の関係で、図6のように
プロット描写部12でを表示する。各項目が全てプロッ
ト表示完了後、次にグラフ(直線、曲線)の計算部13
で一次式または二次、三次式の計算を行い、グラフ(直
線、曲線)の描写部14、直線または曲線で図1のよう
に描写する。この機能に関しては従来でも使用してい
る。本案はこれら散布図に描写された各プロットをグラ
フプロット修正部15でグラフ上で消去、移動させそれ
により、傾向線のグラフの計算と、描写を行いビジュア
ルに判断するものである。
【0006】散布図でのプロットの消去と傾向線の表示
の業務は図2のようなシステムフローで、画面に関して
は図7に表す通りである。消去したいプロットをマウス
でダブルクリック20する。それによりそのプロットの
X軸、Y軸座標取得21を行い、グラフへプロットする
か、消去を判断22し、プロット消去の場合はプロット
消去23を行いグラフ(直線、曲線)消去24を行い、
再度直線、曲線の計算25を行い、グラフ(直線、曲
線)の描写26を行い新しい計算式Y=a1X+b1の表示を行
う。
【0007】次にグラフ上のプロットが何かの表示に関
してはシステムフローは図3で、画面表示内容は図9の
通りである。操作としては画面上のプロットをマウスで
クリック30する事によりX軸、Y軸座標取得21を行
う。次にプロット内容表示か?32で判断を行い表示と
なると、プロット内容(分析品目、X軸分析項目、Y軸分
析項目)抽出33を行いポップアップ画面表示34を行
い図9の様にプロット内容表示35を行う。
【0008】次に、異常値を1っずつ消去しながら、そ
の都度計算式を登録し、何回か繰返ししそれらの計算式
を順次登録し、X値の独立変数を入力する異により、Y値
がどのように変動し差違が出るかを計算する物である
が、そのシステムフローは図4、画面は図8の通りであ
る。図4の20から25までは請求項1と同様である。
操作方法は20から25は図2と同様で必な要プロット
を順次消去する。1っ消去を行うと、その計算式を図8
の様に表に表に計算式を登録40が行われる。それを何
回か繰返し行う。図8の例は4回行った内容である。消
去が完了したらY値の差額推移表示を行うか41の判断
で、行うとすると入力装置からX値入力43を行うと直
線、曲線の計算44を行いY値を表へ出力45を順次行
う。最終的にはY値差額計算46が完了し表示される。
図8の例は最初120000円であったものが、プロッ
トを消去する事により低減され、最終的には合計で31
000円の低減が出来た事になる。
【0009】次に、これはプロットをマウスでドラック
&ドロップしX軸、Y軸の位置を変更する事により、傾向
線がどう変化するか、計算式がどう変わるかをビジュア
ルに分析する例である。システムフローは図5、画面イ
メージは図10の通りである。操作としては移動したい
プロットをマウスの右クリッツク50を行いX軸、Y軸座
標取得21を行う。次にグラフのドッロップか?22の
判断でドラック&ドロップを行う場合は入力装置からの
入力待ち51が行われ、入力有、無52の判断で有りと
なるとドラック&ドロップ操作53を行い、移動位置のX
軸、Y軸の座標取得21を行い、グラフの消去24を行
う。次に移動位置にプロット描写54を行う。次に傾向
線の描写のため直線、曲線の計算25がおこなわれ、グ
ラフの描写26を行い、計算式表示を行う。
【0010】
【発明の効果】本発明の効果は散布図の画面上で表示さ
れたプロットを消去する事により、傾向線の直線の一次
式または曲線の二次、三次式がどのように変化するか、
またプロットをマウスでクリックする事でそのプロット
の分析品目、と2っの分析項目の内容がリアルに判る。
また、プロットを順次消去すると消去した順次、傾向線
の計算式が表に登録され、その表の独立変数のX値に数
字を入力する事により従属変数のY値が計算され、最初
と最後の計算との差違が表示され、どの位の効果が出た
かが判る。またプロットをドラック&ドロップする事に
より、傾向線がどのように変化し計算式がどう変わるか
が判る。グラフの表示で傾向線、計算式が変化する様子
がビジュアルにリアルタイムに判る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本システムの全体構成概要図。
【図2】グラフプロッタの消去と傾向線表示フロー。
【図3】グラフプロッタのプロット内容表示フロー。
【図4】Y値(従属変数)の差額計算処理フロー。
【図5】グラフプロッタのドラック、ドロップ及び傾向
線描写フロー。
【図6】散布図と傾向線図。
【図7】プロット消去と消去後画面と計算式。
【図8】各種計算式と効果の画面例。
【図9】プロットの内容画面例。
【図10】プロットのドラッツク&ドロップと計算式の
例。
【図11】変圧器の容量と価格の関連表。
【符号の説明】
10…表データ入力部、11…X軸、Y軸座標取得部、1
2…プロット描写部、13…グラフ(直線、曲線)の計
算部、14…グラフ(直線、曲線)の描写部、15…グ
ラフプロット修正部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 橋本 聡 神奈川県川崎市幸区鹿島田890番地 株式 会社日立製作所情報システム事業部内 (72)発明者 廣井 篤 神奈川県川崎市幸区鹿島田890番地 株式 会社日立製作所情報システム事業部内 Fターム(参考) 5B056 AA00 BB66 BB95 HH01

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】購入品等の原価低減を行ったり、2っの分
    析項目の相対関係を調査する高次解析分析で、表とグラ
    フの散布図を活用し分析をする技法に於いて、その分析
    する分析品目を表形式で、その分析品目に関連する2つ
    の分析項目(X値、Y値)の関連数字を縦軸に入力し、そ
    の入力データを元に、その2つの分析項目(X値、Y値)
    の関連を、グラフの散布図のX軸、Y軸の関連でプロット
    で表現し、すべての分析項目のプロット表示が完了した
    段階で、その平均をY=a1X+a2X2+……+anXn+Cの計算
    式で、一次式からn次式の何通りかの直線、曲線をセレ
    クトし傾向線を表示し、次にその線から上の異常値をク
    リックする事により、その分析項目の取り消しが出来、
    取消した分析項目以外の関連数字で、新しくその平均を
    Y=a1X+a2X2+……+anXn+Cの計算式で傾向線を引く高
    次回帰分析自動傾向線作成システム。
JP23917499A 1999-08-26 1999-08-26 高次回帰分析自動傾向線作成システム Pending JP2001067341A (ja)

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