JP2001053452A - Pattern registration system for printed wiring board - Google Patents

Pattern registration system for printed wiring board

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JP2001053452A
JP2001053452A JP22962599A JP22962599A JP2001053452A JP 2001053452 A JP2001053452 A JP 2001053452A JP 22962599 A JP22962599 A JP 22962599A JP 22962599 A JP22962599 A JP 22962599A JP 2001053452 A JP2001053452 A JP 2001053452A
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JP
Japan
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pattern
layer
mark
recognition mark
wiring board
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Tsutomu Nagai
強 永井
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Nippon Avionics Co Ltd
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Nippon Avionics Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the relative misregistration between patterns by providing a low-layer pattern recognition mark on the pattern which is one layer below a layer on which a pattern is to be formed and reading the mark with a camera for position detection through the insulating resin of the layer on which the pattern is to be formed, and then, registering the mark with an exposure recognition mark. SOLUTION: In the formation of a build layer pattern, a lower-layer pattern recognition mark 7 is formed simultaneously with the pattern in the lower-layer recognition mark and exposure recognition mark indicating area 5 of a mask film for exposing the surface-layer pattern of a core layer. Then the mark 7 is recognized with a camera for position detection incorporated in an exposing device through the resin of a build layer and registered with the exposure recognition mark 8 of a mask film for forming the pattern of the build layer. When the mark 7 is formed in the above-mentioned way, the sticking deviation between a base material and a film can be controlled with high accuracy, because the mark 7 can be registered directly with a pattern or hole to be registered instead of a visually deformed reference hole.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は多層プリント配線板
の製造工程に係り、パターン位置合わせ方式に関するも
のである。ここで、パターン位置合わせとは、各層のパ
ターン同志、パターンに対してスルーホール、スルーホ
ールに対してパターンの位置合わせの総称とする。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a process for manufacturing a multilayer printed wiring board, and more particularly to a pattern alignment method. Here, the pattern alignment is a general term for pattern alignment of each layer, through holes for patterns, and alignment of patterns for through holes.

【0002】[0002]

【従来の技術】多層プリント配線板を製造するには、各
層のパターン位置およびスルーホール位置の相対的ずれ
量を設計時の許容誤差範囲内に抑える必要がある。従来
から、位置合わせのために基準孔合わせ方式を採用する
ことが一般的に行われている。すなわち、製造用治具は
すべて基準孔位置を基準に作成し、内層用基材に穿設し
た内層材基準孔を製造工程中のすべての位置合わせ基準
とすることでパターンおよびスルーホールの位置のずれ
量を許容範囲内に抑える方式である。
2. Description of the Related Art In order to manufacture a multilayer printed wiring board, it is necessary to keep the relative displacement between the pattern position and the through hole position of each layer within an allowable error range at the time of design. 2. Description of the Related Art Conventionally, a reference hole alignment method is generally used for alignment. In other words, all manufacturing jigs are created based on the reference hole positions, and the inner layer material reference holes drilled in the inner layer base material are used as all the alignment references during the manufacturing process, so that the pattern and through hole positions can be determined. This is a method in which the amount of deviation is kept within an allowable range.

【0003】以下、従来工法における基準孔合わせ方式
について工程図に従い具体例を説明する。図4は、精細
パターンを形成するのに有利なセミアディティブ工法ビ
ルドアッププリント配線板の主要工程の例を示す。基準
孔合わせに関連する工程名には先頭に丸付き数字を付与
してある。 コア層内層製作においては、内層基材に予め穿設した
内層材基準孔と内層パターンフィルム上に設けた位置合
わせマークを合わせて、内層基材上にパターン形成す
る。コア層積層においては、各内層の内層材基準孔を
ボンディングプレートの基準ピンで固定して積層するこ
とにより各層の導体パターンの位置を合わせる。コア
層IVH用孔穿設においては、基準孔でNCドリルマシ
ンのベッドに固定しIVH用孔を穿設する。ドリルデー
タの原点とドリルマシンの原点は共に基準孔との位置関
係の整合をとることで合わせを行っている。コア層レ
ジスト処理工程でのパターン露光時のマスクフィルム合
わせは、基準孔とマスクフィルムに設けた位置合わせマ
ークで露光機内臓のカメラアライメント機構により行
う。ビルド層ビアホール用孔穿設においては、基準孔
で位置合わせしてレーザにより穿孔することで基準孔と
ビアホールの位置合わせを行う。ビルド層レジスト処
理工程におけるマスクフィルム合わせは、基準孔とマス
クフィルムの位置合わせマークを使用し露光機内臓のカ
メラアライメント機構により行う。図5は、基準孔およ
び前記ビルド層レジスト処理工程におけるマスクフィ
ルム合わせに使用するマスクフィルム位置合わせマーク
の従来工法具体例を示す。12は基材10の基準孔を、
13はマスクフィルム11の位置合わせマークを示す。
Hereinafter, a specific example of the reference hole alignment method in the conventional method will be described with reference to process drawings. FIG. 4 shows an example of main steps of a semi-additive method build-up printed wiring board which is advantageous for forming a fine pattern. The process name related to the reference hole alignment is provided with a circled number at the beginning. In manufacturing the inner layer of the core layer, a pattern is formed on the inner layer base material by aligning an inner layer material reference hole preliminarily formed in the inner layer base material with an alignment mark provided on the inner layer pattern film. In laminating the core layers, the positions of the conductor patterns of each layer are adjusted by laminating the inner layer material reference holes of the respective inner layers with the reference pins of the bonding plate. In drilling holes for the core layer IVH, the holes are fixed to the bed of the NC drill machine with reference holes. The origin of the drill data and the origin of the drill machine are aligned by matching the positional relationship with the reference hole. Mask film alignment at the time of pattern exposure in the core layer resist processing step is performed by a camera alignment mechanism built into the exposure machine using the reference holes and alignment marks provided on the mask film. In drilling a via hole for a build layer, the reference hole and the via hole are aligned by positioning with the reference hole and drilling with a laser. The mask film alignment in the build layer resist processing step is performed by a camera alignment mechanism built in the exposure machine using the reference holes and the alignment marks of the mask film. FIG. 5 shows a specific example of a conventional method of a reference hole and a mask film alignment mark used for mask film alignment in the build layer resist processing step. 12 is a reference hole of the base material 10,
Reference numeral 13 denotes an alignment mark of the mask film 11.

【0004】上記のように、従来の基準孔合わせの方式
は、すべての合わせの基準を基準孔にしているので一見
合理的であるが、基準孔には次のような問題がある。内
層材基準孔は真円に近似しており、項の内層パターン
形成時に位置合わせ基準としての使用ならびに項の積
層準備時に積層用治具であるボンディングプレートのス
タックピンへの挿入固定に適切である。しかしながら、
の積層時の加熱加圧により各内層基材の微妙な伸縮と
接着材であるプリプレグの樹脂の流れがあり、前記ボン
ディングプレートのスタックピン位置で、スタックピン
を抜いた形状で基準孔が形成される。従って、基準孔と
呼んではいるものの前記したように形成段階ですでに誤
差を含んだものであることと、円筒状に抜けた基準孔の
形状は完全な円筒形状ではなく微妙に変形した形状であ
る。この微妙な変形は、ピンでドリルマシンへ固定する
場合は問題ないが、位置検出カメラで見た場合に中心位
置検出誤差となって現れる。また、その後に続くパネル
銅めっきにおいて微妙に変形した基準孔内周形状の歪み
が強調され、特に視覚的にすなわち前記位置検出カメラ
で見た場合に強調される。
As described above, the conventional reference hole alignment method is seemingly rational because all alignment references are used as reference holes, but the reference holes have the following problems. The inner layer material reference hole is close to a perfect circle, and is suitable for use as an alignment reference when forming the inner layer pattern of the item, and for inserting and fixing the bonding plate, which is a jig for lamination, to the stack pins when preparing the item for lamination. . However,
There is a slight expansion and contraction of each inner layer base material and the flow of the resin of the prepreg as an adhesive due to the heating and pressing at the time of lamination, and a reference hole is formed at the stack pin position of the bonding plate in a shape where the stack pin is pulled out. You. Therefore, although it is called a reference hole, it has already included an error in the forming stage as described above, and the shape of the reference hole which has come off in a cylindrical shape is not a perfect cylindrical shape but a slightly deformed shape. is there. This fine deformation is not a problem when fixed to the drill machine with a pin, but appears as a center position detection error when viewed with a position detection camera. Further, the distortion of the inner peripheral shape of the reference hole that is slightly deformed in the subsequent panel copper plating is emphasized, particularly visually, that is, when viewed with the position detection camera.

【0005】一方、プリント配線板製造時の誤差は、合
わせ誤差以外に基材の伸縮、マスクフィルムの伸縮があ
り、また設備や工具等の加工精度も無視できない。基材
の伸縮、マスクフィルム伸縮については、伸縮抑制策を
講じたり穿孔データやマスクフィルムに補正を加えるこ
とで相対的位置精度の向上を図っている。設備や工具等
についても工夫が加えられ、加工精度が飛躍的に向上し
てきている。
On the other hand, errors in manufacturing a printed wiring board include expansion and contraction of a substrate and expansion and contraction of a mask film in addition to alignment errors, and the processing accuracy of equipment and tools cannot be ignored. With respect to the expansion and contraction of the base material and the expansion and contraction of the mask film, the relative position accuracy is improved by taking measures to suppress expansion and contraction and making corrections to the perforation data and the mask film. Equipment and tools have also been devised, and processing accuracy has been dramatically improved.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、プリン
ト配線板に搭載する部品の小型化、高集積化に伴い、プ
リント配線板の配線密度と層数が高くなり、プリント配
線板設計時の製造許容誤差を更に小さくする必要が高ま
っている。したがって各種誤差要因を減らす改善を加え
ない限り歩留まり低下あるいは製造不能となってきた。
本技術は、上記課題を解決するための方策として、従来
の基準孔合わせの方式を全面的に見直し、合わせ誤差に
類するパターンの相対的位置ずれを減少するパターン位
置合わせ方式を提供することを目的とする。
However, with the miniaturization and high integration of the components mounted on the printed wiring board, the wiring density and the number of layers of the printed wiring board are increased, and the manufacturing tolerance in designing the printed wiring board is increased. There is a growing need to further reduce. Therefore, the yield has been reduced or manufacturing has become impossible unless improvements are made to reduce various error factors.
An object of the present technology is to provide a pattern alignment method that completely reviews the conventional reference hole alignment method and reduces a relative displacement of a pattern similar to an alignment error as a measure for solving the above-described problem. And

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】請求項1のプリント配線
板のパターン位置合わせ方式は、多層プリント配線板の
パターン露光用マスクフィルムの位置合わせにおいて、
パターン形成すべき層の1層下層のパターンに予め下層
パターン認識マークを設け、パターン形成すべき層の絶
縁樹脂を透して該下層パターン認識マークを位置検出用
カメラで読み取り、パターン形成すべき層のパターン露
光用マスクフィルムの露光認識マークと合わせることを
特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a printed wiring board pattern alignment method, comprising:
A lower-layer pattern recognition mark is provided in advance on the pattern of the lower layer of the layer on which the pattern is to be formed, and the lower-layer pattern recognition mark is read by a position detection camera through the insulating resin of the layer on which the pattern is to be formed, and the layer on which the pattern is formed And the exposure recognition mark of the pattern exposure mask film.

【0008】請求項1のプリント配線板のパターン位置
合わせ方式によれば、下層パターンおよび上層パターン
を各々基準孔を介して間接的に位置合わせする従来方式
と異なり、下層パターンと上層パターンを直接位置合わ
せるので誤差介入機会が少ない。また、基準孔を使用し
ないので基準孔の変形に伴う基準孔中心点読み取り誤差
の影響を受けない。
According to the pattern alignment system of the first aspect of the present invention, unlike the conventional system in which the lower layer pattern and the upper layer pattern are indirectly aligned via the respective reference holes, the lower layer pattern and the upper layer pattern are directly positioned. There are few opportunities for error intervention because they are combined. Further, since the reference hole is not used, there is no influence of the reference hole center point reading error due to the deformation of the reference hole.

【0009】請求項2のプリント配線板のパターン位置
合わせ方式は、多層プリント配線板の各層パターン位置
およびスルーホール位置の位置合わせにおいて、積層工
程完了後のスルーホール用孔穿設時に併せ、基準孔近傍
に新たな第2の基準孔を元の基準孔に基づき穿設し、該
第2の基準孔に合わせてパターン露光用マスクフィルム
の位置合わせをすることを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a method of aligning a pattern of a printed wiring board, the method comprising the steps of: A new second reference hole is formed in the vicinity based on the original reference hole, and the position of the pattern exposure mask film is aligned with the second reference hole.

【0010】請求項2のプリント配線板のパターン位置
合わせ方式によれば、元の基準孔が積層時の応力で変形
し、つづく銅めっき工程で基準孔周辺の変形部分に銅が
異常析出することで、位置検出用カメラでの基準孔中心
点読み取りが困難になるのに対し、新たな第2の基準孔
はほぼ真円を呈するので、基準孔中心点読み取り精度が
高くなる。
According to the second aspect of the present invention, the original reference hole is deformed by stress at the time of lamination, and copper is abnormally deposited on a deformed portion around the reference hole in a subsequent copper plating process. Thus, while it is difficult to read the center point of the reference hole by the position detection camera, the accuracy of reading the center point of the reference hole is increased because the new second reference hole has a substantially perfect circle.

【0011】請求項3のプリント配線板のパターン位置
合わせ方式は、ビルドアッププリント配線板のビルド層
ビアホール用孔穿設において、予め1層下層のパターン
にレーザ孔あけ専用マークを設け、ビルド層の絶縁樹脂
積層後、該樹脂を透して前記レーザ孔あけ専用マークを
位置検出用カメラで読み取り、位置合わせすることを特
徴とする。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a pattern alignment method for a printed wiring board, wherein a special mark for laser drilling is provided in advance in a pattern of one layer below in forming a via hole for a build layer of a build-up printed wiring board. After laminating the insulating resin, the mark dedicated to laser drilling is read by a position detection camera through the resin and aligned.

【0012】請求項3のプリント配線板のパターン位置
合わせ方式によれば、途中基準孔が位置合わせに介入せ
ず、直接下層のパターンとビルド層のビアホール用孔デ
ータとを合わせるので誤差介入機会が少ない。また、基
準孔を使用しないので基準孔の変形に伴う基準孔中心点
読み取り誤差の影響を受けない。
According to the printed wiring board pattern alignment method of the present invention, the reference hole does not intervene in the alignment, and the lower layer pattern is directly aligned with the via hole hole data in the build layer. Few. Further, since the reference hole is not used, there is no influence of the reference hole center point reading error due to the deformation of the reference hole.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
工程順を追って説明する。表1は、ビルドアッププリン
ト配線板製造工程中でパターン位置合わせに関連する工
程を抜粋し、合わせる対象、合わせ手段、請求項との関
係について一覧したものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of the present invention will be described step by step. Table 1 lists the steps related to pattern alignment in the build-up printed wiring board manufacturing process, and lists the objects to be aligned, the alignment means, and the relationships with the claims.

【表1】 表1において、、項が本発明の実施例関連工程で
あり、、、項は従来と同じ方式で合わせを行う工
程である。
[Table 1] In Table 1, the item is a step related to the embodiment of the present invention, and the item is a step of performing matching by the same method as in the related art.

【0014】以下、図1、図2、図3に示す各種合わせ
基準を参照して説明する。図1は各種基準マークの設定
例で、1は作業ボード領域、2は製品領域を示す。3、
4、5、6は、製品領域2外の作業ボード領域1の4角
にそれぞれ1ヶ所設けたもので、3は基準孔、4は第2
基準孔、5は下層認識マークおよび露光認識マーク表示
領域、6はレーザ孔あけ専用マーク表示領域である。図
2は下層認識マークおよび露光認識マーク表示領域5内
の下層パターン認識マークと露光認識マークの実施例
を、図3はレーザ孔あけ専用マーク表示領域6内のレー
ザ孔あけ専用マークの実施例を示す。先ず、図1の基準
孔3が前述したように視覚的に変形しているので、の
ドリル工程で、前記基準孔3によりドリルマシンのベッ
ドにピンで固定してIVH用孔穿設を行うのに併せて、
新たに第2基準孔4をドリルにより穿設する。のコア
層表層パターン露光時に、前記第2基準孔4とマスクフ
ィルム位置合わせマークとで位置合わせを行う。(請求
項2記載の方式) この合わせ方式は、IVH用孔と第2基準孔との位置関
係が同一条件で穿設されるので、IVH用孔とコア層表
層パターンの位置合わせをする目的に最適である。
A description will be given below with reference to various matching criteria shown in FIGS. 1, 2 and 3. FIG. 1 shows an example of setting various reference marks, 1 indicates a work board area, and 2 indicates a product area. 3,
Reference numerals 4, 5, and 6 are provided at each of the four corners of the work board area 1 outside the product area 2, 3 is a reference hole, and 4 is a second hole.
Reference holes 5, 5 are lower layer recognition marks and exposure recognition mark display areas, and 6 is a laser drilling dedicated mark display area. FIG. 2 shows an embodiment of the lower layer recognition mark and the exposure recognition mark in the lower layer recognition mark and the exposure recognition mark display area 5, and FIG. 3 shows an embodiment of the laser drilling exclusive mark in the laser hole only mark display area 6. Show. First, since the reference hole 3 in FIG. 1 is visually deformed as described above, in the drilling process, the hole for the IVH is fixed by fixing the reference hole 3 to the bed of the drill machine with a pin. Along with
A second reference hole 4 is newly formed by a drill. At the time of exposing the surface layer pattern of the core layer, the second reference hole 4 is aligned with the mask film alignment mark. (The method according to claim 2) In this alignment method, since the positional relationship between the IVH hole and the second reference hole is formed under the same condition, the alignment method is performed for the purpose of aligning the IVH hole and the core layer surface layer pattern. Optimal.

【0015】次に、のビルド層ビア用孔穿設におい
て、予めコア層表層パターン露光用マスクフィルムのレ
ーザ孔あけ専用マーク表示領域6部分に設けられ、パタ
ーンと同時に形成したレーザ孔あけ専用マーク9をビル
ド層樹脂を透してレーザ孔あけ機内臓の位置検出用カメ
ラで認識し、位置合わせする。(請求項3記載の方式)
この合わせ方式は、コア層表層パターンとレーザ孔あけ
専用マークとが同一フィルム上に作画されているので、
コア層表層パターンとビルド層ビアの位置合わせをする
目的に最適である。
Next, in the drilling of the via hole for the build layer, a dedicated mark for laser drilling 9 is provided in advance in the laser drilling mark display area 6 of the mask film for exposing the core layer surface pattern, and is formed simultaneously with the pattern. Is recognized by a camera for detecting the position of the laser drilling machine through the build layer resin, and is aligned. (Method according to claim 3)
In this alignment method, the core layer surface layer pattern and the laser drilling dedicated mark are drawn on the same film,
It is most suitable for the purpose of aligning the core layer surface pattern and the build layer via.

【0016】最後に、のビルド層パターン形成におい
て、予めコア層表層パターン露光用マスクフィルムの下
層認識マークおよび露光認識マーク表示領域5部分に設
けられ、パターンと同時に形成した下層パターン認識マ
ーク7をビルド層樹脂を透して露光機内臓の位置検出用
カメラで認識し、ビルド層パターン形成用マスクフィル
ムの露光認識マーク8と位置合わせする。(請求項1記
載の方式) 第2ビルド層パターン形成も同様に、第1ビルド層の下
層パターン認識マーク7’に第2ビルド層の露光認識マ
ーク8’を合わせることで実施可能である。なお、ビル
ド層樹脂は、レーザ孔あけ後のスミア除去工程のため表
面が粗化され、かつ、パネル銅めっき工程で該樹脂表面
に銅めっきが施されてしまうので、前記下層パターン認
識マーク部分をレーザ孔あけ後、スミア除去前に、マス
キングテープ貼付により保護する。レジスト処理工程に
おける感光性ドライフィルムをラミネート後、前記マス
キングテープ部分をくり貫き、ビルド層樹脂を透して前
記下層パターン認識マーク7が鮮明に読み取れるように
する。この合わせ方式は、1層下層パターンと直ぐ上層
のビルド層パターンの位置合わせをする目的に最適であ
る。
Finally, in the formation of the build layer pattern, the lower layer recognition mark 7 which is provided in advance in the lower layer recognition mark and the exposure recognition mark display area 5 of the mask film for exposing the core layer surface pattern and is formed simultaneously with the pattern is built. Through the layer resin, it is recognized by a position detection camera built in the exposure machine, and is aligned with the exposure recognition mark 8 of the build layer pattern forming mask film. (Method of Claim 1) Similarly, the second build layer pattern can be formed by aligning the exposure recognition mark 8 'of the second build layer with the lower layer pattern recognition mark 7' of the first build layer. In addition, since the surface of the build layer resin is roughened due to a smear removing step after laser drilling, and the resin surface is subjected to copper plating in a panel copper plating step, the lower layer pattern recognition mark portion is removed. After laser drilling and before smear removal, protect by applying masking tape. After laminating the photosensitive dry film in the resist processing step, the masking tape portion is pierced so that the lower layer pattern recognition mark 7 can be clearly read through the build layer resin. This alignment method is most suitable for the purpose of aligning the lower layer pattern of one layer and the build layer pattern immediately above.

【0017】[0017]

【発明の効果】本発明によれば、視覚的に変形した基準
孔の代わりに、合わせたいパターンまたは孔位置と直接
位置合わせできるので、フィルム補正、穿孔データ補正
を併用することで基材とフィルムの貼り合わせずれ量を
高精度に制御できる。本実施例による実績値では、従来
10μmオーダーの中心からのずれ量が、最大2.1μ
mに改善された。
According to the present invention, instead of a visually deformed reference hole, direct alignment with the pattern or hole position to be aligned can be performed. Can be controlled with high precision. In the actual value according to the present embodiment, the deviation amount from the center of the conventional 10 μm order is 2.1 μm at the maximum.
m.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1は本発明の1実施形態である各種基準マー
ク設定例を示す。
FIG. 1 shows an example of setting various reference marks according to an embodiment of the present invention.

【図2】図2は下層パターン認識マークおよび露光認識
マークの実施例と位置合わせした状態を示す。
FIG. 2 shows a state where the lower layer pattern recognition mark and the exposure recognition mark are aligned with the embodiment.

【図3】図3はレーザ孔あけ専用マークの実施例を示
す。
FIG. 3 shows an embodiment of a mark dedicated to laser drilling.

【図4】図4はセミアディティブ工法ビルドアッププリ
ント配線板の主要製造工程を示す。
FIG. 4 shows main manufacturing steps of a semi-additive build-up printed wiring board.

【図5】図5は従来工法の基材とフィルムの合わせを示
す。
FIG. 5 shows a combination of a substrate and a film according to a conventional method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 作業ボード領域 2 製品領域 3 基準孔 4 第2基準孔 5 下層認識マークおよび露光認識マーク表示領域 6 レーザ孔あけ専用マーク表示領域 7 下層パターン認識マーク 8 露光認識マーク 9 レーザ孔あけ専用マーク 10 基材 11 マスクフィルム 12 基準孔 13 位置合わせマーク 1 Work Board Area 2 Product Area 3 Reference Hole 4 Second Reference Hole 5 Lower Layer Recognition Mark and Exposure Recognition Mark Display Area 6 Laser Hole Dedicated Mark Display Area 7 Lower Layer Pattern Recognition Mark 8 Exposure Recognition Mark 9 Laser Hole Dedicated Mark 10 Material 11 Mask film 12 Reference hole 13 Alignment mark

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 多層プリント配線板のパターン露光用マ
スクフィルムの位置合わせにおいて、パターン形成すべ
き層の1層下層のパターンに予め下層パターン認識マー
クを設け、パターン形成すべき層の絶縁樹脂を透して該
下層パターン認識マークを位置検出用カメラで読み取
り、パターン形成すべき層のパターン露光用マスクフィ
ルムの露光認識マークと合わせることを特徴とするプリ
ント配線板のパターン位置合わせ方式。
In positioning a mask film for pattern exposure on a multilayer printed wiring board, a lower layer pattern recognition mark is provided in advance on a pattern of one layer below a layer to be patterned, and the insulating resin of the layer to be patterned is transparent. And reading the lower layer pattern recognition mark with a position detection camera and aligning the lower layer pattern recognition mark with an exposure recognition mark of a pattern exposure mask film of a layer on which a pattern is to be formed.
【請求項2】 多層プリント配線板の各層パターン位置
およびスルーホール位置の位置合わせにおいて、積層工
程完了後のスルーホール用孔穿設時に併せ、基準孔近傍
に新たな第2の基準孔を元の基準孔に基づき穿設し、該
第2の基準孔に合わせてパターン露光用マスクフィルム
の位置合わせをすることを特徴とするプリント配線板の
パターン位置合わせ方式。
2. A method for positioning a position of each layer pattern and a position of a through hole in a multilayer printed wiring board, the method including the steps of: A pattern positioning method for a printed wiring board, wherein a pattern exposure mask film is positioned in accordance with the second reference hole.
【請求項3】 ビルドアッププリント配線板のビルド層
ビアホール用孔穿設において、予め1層下層のパターン
にレーザ孔あけ専用マークを設け、ビルド層の絶縁樹脂
積層後、該樹脂を透して前記レーザ孔あけ専用マークを
位置検出用カメラで読み取り、位置合わせすることを特
徴とするプリント配線板のパターン位置合わせ方式。
3. A method of forming a via hole for a build layer of a build-up printed wiring board, in which a mark dedicated to laser drilling is provided in advance in a pattern of a lower layer, and after laminating an insulating resin of the build layer, the resin is passed through the resin. A pattern alignment method for a printed wiring board, wherein a mark dedicated to laser drilling is read by a position detection camera and aligned.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103179812A (en) * 2013-04-18 2013-06-26 梅州市志浩电子科技有限公司 Manufacturing method of high-order multistage HDI (High Density Interconnection) printed circuit board
CN104883818A (en) * 2014-02-28 2015-09-02 深圳崇达多层线路板有限公司 Printed circuit board contraposition method
WO2022006981A1 (en) * 2020-07-08 2022-01-13 瑞声声学科技(深圳)有限公司 Inner-layer board structure for lcp substrate and lcp substrate

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103179812A (en) * 2013-04-18 2013-06-26 梅州市志浩电子科技有限公司 Manufacturing method of high-order multistage HDI (High Density Interconnection) printed circuit board
CN104883818A (en) * 2014-02-28 2015-09-02 深圳崇达多层线路板有限公司 Printed circuit board contraposition method
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