JP2001035146A - Semiconductor memory device - Google Patents

Semiconductor memory device

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JP2001035146A
JP2001035146A JP20770199A JP20770199A JP2001035146A JP 2001035146 A JP2001035146 A JP 2001035146A JP 20770199 A JP20770199 A JP 20770199A JP 20770199 A JP20770199 A JP 20770199A JP 2001035146 A JP2001035146 A JP 2001035146A
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JP
Japan
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address
signal
chip
semiconductor
memory device
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Application number
JP20770199A
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Japanese (ja)
Inventor
Shigeru Nakajima
繁 中島
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Hitachi Ltd
Hitachi Solutions Technology Ltd
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Hitachi Ltd
Hitachi ULSI Systems Co Ltd
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Publication date
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    • Y02DCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
    • Y02D10/00Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management

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  • Memory System (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor memory device capable of reading/writing data to a memory under control similar to a storage device of one chip and attaining reduction of power consumption concerning the semiconductor memory device with which plural semiconductor chips are sealed in one package. SOLUTION: Concerning a semiconductor memory device 1 with built-in plural semiconductor chips 2 and 3 provided with memory arrays 22 and 32, this device is provided with control means 21 and 26 for deactivating at least one part of circuits 23 and 27 of the semiconductor chips 2 and 3 when a signal AX+1 of the most significant bits of an address signal is inputted to the respective semiconductor chips 2 and 3 and this signal AX+1 is not a prescribed signal. On the basis of the signal AX+1 of the most significant bit of the address signal, any one of the plural semiconductor chips 2 and 3 is operated and the other semiconductor chip is deactivated so as not to operate.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、DRAM(Dyna
mic Random Access memory)やSRAM(StaticRandom
Access memory)およびフラッシュメモリなどの半導体
記憶装置に適用して有用な技術に関し、特に、複数の半
導体チップを1つのパッケージに収めた積層チップ型の
半導体記憶装置に利用して特に有用な技術に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a DRAM (Dyna
mic Random Access memory) or SRAM (StaticRandom
The present invention relates to a technique that is useful when applied to a semiconductor memory device such as an access memory and a flash memory, and particularly relates to a technique that is particularly useful when applied to a stacked chip type semiconductor memory device in which a plurality of semiconductor chips are housed in one package.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、複数のメモリチップを例えば積層
してパッケージングすることで、面積あたりのメモリ容
量を倍増させる技術が実用化されている。
2. Description of the Related Art In recent years, a technique of doubling a memory capacity per area by, for example, stacking and packaging a plurality of memory chips has been put to practical use.

【0003】複数の半導体チップを備えた従来の記憶装
置100では、図5に示すように、各チップ110,1
20毎に独立したアドレス空間が設定されていると共
に、チップセレクト信号CS1,CS2により何れかの
チップ110,120を選択することで、選択したチッ
プ110,120に対応するアドレス空間に切り換えて
メモリアクセスを行っていた。上記チップセレクト信号
CS1,CS2は、例えば、コントロール線CTLを介
して外部から送信される制御信号の1つとして入力され
るようにされていた。
In a conventional storage device 100 having a plurality of semiconductor chips, as shown in FIG.
Independent address spaces are set for each of the memory chips 20, and by selecting one of the chips 110 and 120 by the chip select signals CS1 and CS2, the memory space is switched to the address space corresponding to the selected chip 110 or 120. Had gone. For example, the chip select signals CS1 and CS2 are input as one of the control signals transmitted from the outside via the control line CTL.

【0004】このような記憶装置100をアクセスして
データの読出しや書込みをするには、先ず、コントロー
ル線CTLを介して記憶装置100にチップイネーブル
信号CEを出力して記憶装置100をアクティブにし、
次に、コントロール線CTLを介して2つのチップセレ
クト信号CS1,CS2のうち何れかを出力して2つの
チップ110,120のうち何れか1つを選択し、その
後、各チップ毎に独立して設定されているアドレス信号
0〜AX、リード/ライトの制御内容を示すライトイネ
ーブル信号WEなどの制御信号、データ信号D0〜DY
送信してメモリアクセスを行う。
To read and write data by accessing such a storage device 100, first, a chip enable signal CE is output to the storage device 100 via a control line CTL to activate the storage device 100,
Next, one of the two chip select signals CS1 and CS2 is output via the control line CTL to select one of the two chips 110 and 120, and thereafter, each chip is independently controlled. set the address signal a 0 are to a X, the control signals such as write enable signal WE indicating the control contents of the read / write, and transmits the data signal D 0 to D Y performs memory access.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の複数チップを備えた記憶装置では、単位面積あたり
のメモリ容量は増えるものの、メモリアクセス時にチッ
プセレクト信号CS1,CS2の何れかを出力して複数
のチップのうち1つを選択する必要があったため、全体
的なメモリアクセス(例えば2つのチップにまたがった
メモリアクセス)の制御処理が複雑になると云う課題が
あった。更に、各チップ毎に独立した複数のメモリアド
レス空間を扱わなければならないことから、総合的なア
ドレスの割り当てなどアドレスに係る処理も煩雑になる
と云った課題があった。
However, in the conventional memory device having a plurality of chips, although the memory capacity per unit area is increased, any one of the chip select signals CS1 and CS2 is output at the time of accessing the memory. However, since it is necessary to select one of the chips, the control processing of the entire memory access (for example, memory access over two chips) is complicated. Furthermore, since a plurality of independent memory address spaces must be handled for each chip, there is a problem that processing related to addresses such as comprehensive address assignment becomes complicated.

【0006】ところで、通常の半導体記憶装置では、1
つのパッケージに1つのチップを内蔵して構成されるの
が一般であった。そして、メモリモジュールなどでは、
このような半導体記憶装置を1つの電子基板上に複数実
装すると共に、これら複数の半導体記憶装置の全体制御
を行うコントローラを同一基板上に実装して構成してい
た。
Incidentally, in a typical semiconductor memory device, 1
In general, one chip is built in one package. And in memory modules etc.
A plurality of such semiconductor storage devices are mounted on one electronic board, and a controller for controlling the entirety of the plurality of semiconductor storage devices is mounted on the same board.

【0007】しかしながら、前述のように複数のメモリ
チップを1つのパッケージに封入した積層チップ型の半
導体記憶装置は、見た目は1つのメモリであるにも拘ら
ず、1つのパッケージに2種類のチップセレクト信号C
S1,CS2が入力されることになるので、1チップの
半導体記憶装置に較べて外部端子の数が1本増えるとい
う課題があった。それゆえ、積層チップ型の半導体記憶
装置を基板に実装してメモリモジュールを構成する場合
には、従来規格のコントローラやシステム基板の利用が
図れず、コントローラや基板配線の設計変更をする必要
が生じ、開発に遅延をもたらすといった課題があった。
However, as described above, a stacked chip type semiconductor memory device in which a plurality of memory chips are sealed in a single package has two types of chip select in a single package despite the appearance of a single memory. Signal C
Since S1 and CS2 are input, there is a problem that the number of external terminals is increased by one as compared with a one-chip semiconductor memory device. Therefore, when a stacked chip type semiconductor memory device is mounted on a substrate to form a memory module, it is not possible to use a controller and a system substrate of the conventional standard, and it is necessary to change the design of the controller and the substrate wiring. However, there was a problem that the development was delayed.

【0008】ところで、近年では、DRAMやフラッシ
ュメモリなどの半導体メモリを携帯電子機器で使用する
ことが多くなっており、それゆえ半導体メモリの消費電
力の低減が重要な課題となっている。しかしながら、従
来の積層チップ型の半導体記憶装置では、一方のチップ
が選択されてメモリアクセスされている間、他方のチッ
プの各回路(例えば、メモリアレイ、アドレスバッフ
ァ、I/Oバッファ、アドレスデコーダなど)も絶えず
活性化されており消費電力を増加させていた。
[0008] In recent years, semiconductor memories such as DRAMs and flash memories have been increasingly used in portable electronic devices. Therefore, reducing the power consumption of semiconductor memories has become an important issue. However, in the conventional stacked chip type semiconductor memory device, while one chip is selected and accessed for memory, each circuit (for example, a memory array, an address buffer, an I / O buffer, an address decoder, etc.) of the other chip is used. ) Were also constantly activated, increasing power consumption.

【0009】この発明の目的は、複数の半導体チップを
備えた半導体記憶装置であっても、アドレス空間の設定
を変更するのみで、後は1チップの記憶装置と同様の制
御でメモリアクセス可能な半導体記憶装置を提供するこ
とにある。
An object of the present invention is to provide a semiconductor memory device having a plurality of semiconductor chips, only by changing the setting of the address space, and thereafter making it possible to access the memory under the same control as the one-chip memory device. It is to provide a semiconductor memory device.

【0010】この発明の他の目的は、消費電力の低減の
図れる半導体記憶装置を提供することにある。
Another object of the present invention is to provide a semiconductor memory device capable of reducing power consumption.

【0011】この発明の上記ならびにそのほかの目的と
新規な特徴については、本明細書の記述および添附図面
から明らかになるであろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、下記のと
おりである。
The outline of a typical invention among the inventions disclosed in the present application is as follows.

【0013】すなわち、メモリアレイを備えた半導体チ
ップを複数内蔵した半導体記憶装置において、各半導体
チップに、アドレス信号の所定ビット(例えば最上位ビ
ット)の信号を入力すると共に該信号が各チップに対応
する所定の信号(例えばローレベルやハイレベルの信
号)でない場合に該半導体チップの少なくとも1部の回
路を非活性とするコントロール手段を設け、アドレス信
号の上記所定ビットの信号に基づいて、複数の半導体チ
ップの何れかを動作させ、且つ、他の半導体チップを非
活性化して動作させないようにする。
That is, in a semiconductor memory device having a plurality of built-in semiconductor chips having a memory array, a signal of a predetermined bit (for example, the most significant bit) of an address signal is input to each semiconductor chip, and the signal corresponds to each chip. Control means for inactivating at least a part of the circuit of the semiconductor chip when the signal is not a predetermined signal (for example, a low-level signal or a high-level signal). One of the semiconductor chips is operated, and the other semiconductor chips are deactivated so as not to operate.

【0014】このような手段によれば、アドレス信号の
所定ビットの信号に基づいてチップ選択が行われるの
で、半導体記憶装置をアクセスする外部装置の側におい
ては、チップセレクト信号を増やす必要がなく、単にメ
モリアドレス空間の設定を各半導体記憶装置に適合させ
るだけで対応することが出来る。従って、半導体記憶装
置をアクセスする外部装置の側にとっては、従来の複数
のメモリチップを備えた半導体記憶装置へのアクセスに
較べて、アクセス処理が単純化され、1チップを内蔵し
た半導体記憶装置と同様に簡単な処理でアクセスするこ
とができる。
According to such means, the chip selection is performed based on the predetermined bit signal of the address signal. Therefore, it is not necessary for the external device accessing the semiconductor memory device to increase the chip select signal. This can be dealt with simply by adjusting the setting of the memory address space to each semiconductor memory device. Therefore, for an external device accessing the semiconductor memory device, the access processing is simplified as compared with the conventional access to the semiconductor memory device having a plurality of memory chips, and the semiconductor memory device having one chip is built in. Similarly, it can be accessed with simple processing.

【0015】更に、この半導体記憶装置をプリント基板
等に実装して任意のシステムを作成する場合でも、同一
記憶容量を有する半導体記憶装置が実装されるプリント
基板や実装された複数の半導体記憶装置を外部から制御
するコントローラとして、従来のものをそのまま流用す
ることが出来るし、同一記憶容量の1チップの半導体記
憶装置と本発明の半導体記憶装置とを混在させて使用す
ることも出来る。
Furthermore, even when this semiconductor memory device is mounted on a printed circuit board or the like to create an arbitrary system, a printed circuit board on which a semiconductor memory device having the same storage capacity is mounted or a plurality of mounted semiconductor memory devices is used. As a controller for external control, a conventional controller can be used as it is, or a one-chip semiconductor memory device having the same storage capacity and the semiconductor memory device of the present invention can be used in combination.

【0016】また、一方の半導体チップにメモリアクセ
スが行われる際、他方の半導体チップでは1部の回路が
非活性化されているので、その分、消費電力の低減を図
ることが出来る。
Further, when memory access is performed to one semiconductor chip, since a part of the circuit is inactivated in the other semiconductor chip, power consumption can be reduced accordingly.

【0017】上述した手段は、複数の半導体チップが積
層された状態で1つのパッケージに封入され、且つ、パ
ッケージ外部に、制御信号線に接続される制御端子、ア
ドレス信号線に接続されるアドレス端子、データ信号線
に接続されるI/O端子(データ端子)がそれぞれ設け
られてなる積層チップ型の半導体記憶装置において特に
有用である。
[0017] The above-mentioned means is provided such that a plurality of semiconductor chips are stacked and sealed in one package, and a control terminal connected to a control signal line and an address terminal connected to an address signal line are provided outside the package. This is particularly useful in a stacked chip type semiconductor memory device provided with I / O terminals (data terminals) connected to data signal lines.

【0018】望ましくは、各チップの端子を独立した外
部端子とするのでなく、複数の半導体チップの入出力端
子(制御信号、アドレス信号、データ信号、それぞれの
入出力端子)を対応する端子同士を共通化して外部端子
に接続するように構成する。これにより、外部から見た
場合には1チップのメモリとまったく同じ端子構成とな
り、1チップの半導体記憶装置と同様に取り扱うことが
出来る。
Desirably, terminals corresponding to input / output terminals (control signals, address signals, data signals, and respective input / output terminals) of a plurality of semiconductor chips are not used as independent external terminals. It is configured to be shared and connected to external terminals. As a result, when viewed from the outside, the terminal configuration becomes exactly the same as that of a one-chip memory, and can be handled in the same manner as a one-chip semiconductor memory device.

【0019】また、具体的には、上記のコントロール手
段により非活性化される回路は、アドレスデータのバッ
ファ回路(アドレスバッファ)、および/又は、入出力
データのバッファ回路(I/Oバッファ)などとするこ
とが出来る。また、回路の電源電圧やグランド電位を遮
断して電源供給を停止する手段を設けることにより、こ
れらの回路の電源を遮断して非活性とすることで、消費
電力をより低減させるようにすることが出来る。
More specifically, the circuit inactivated by the control means includes an address data buffer circuit (address buffer) and / or an input / output data buffer circuit (I / O buffer). It can be. Further, by providing a means for shutting off the power supply by shutting off the power supply voltage and ground potential of the circuits, the power supply of these circuits is cut off and deactivated, thereby further reducing the power consumption. Can be done.

【0020】さらに、望ましくは、上記複数の半導体チ
ップにそれぞれアドレスを自動生成するアドレスカウン
タを設け、上記アドレス端子の所定ビットに対応するア
ドレスカウンタのビットが変化した場合に、この変化に
よりデータアクセスの生じる半導体チップのアドレスカ
ウンタを連携させて続くアドレス生成を行うように構成
する。この構成により、1つのアドレス入力で連続した
データの書き込みや読み出しを行える連続アクセスモー
ド(例えばページモード)の制御を、1チップの記憶装
置と同様の制御で実行することができる。
Preferably, an address counter for automatically generating an address is provided for each of the plurality of semiconductor chips, and when a bit of the address counter corresponding to a predetermined bit of the address terminal changes, the change causes a data access. The following address generation is performed in cooperation with the address counter of the resulting semiconductor chip. According to this configuration, control of a continuous access mode (for example, page mode) in which continuous writing and reading of data can be performed by one address input can be performed under the same control as that of a one-chip storage device.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施例を図
1〜図4の図面に基づいて説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A preferred embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.

【0022】[第1実施例]図1は、本発明を適用して
好適な第1実施例のメモリ(半導体記憶装置)1を示す
ブロック構成図、図2は、このメモリ1のパッケージ構
造を示すもので、(a)はその外観斜視図、(b)は縦
断面図である。
[First Embodiment] FIG. 1 is a block diagram showing a memory (semiconductor memory device) 1 according to a first embodiment of the present invention, and FIG. (A) is an external perspective view, and (b) is a longitudinal sectional view.

【0023】この実施例のメモリ1は、2枚の半導体チ
ップ2,3を積層してパッケージした積層チップ型のフ
ラッシュメモリであり、パッケージ50の外部には、制
御端子、アドレス端子、I/O端子および電源端子など
の外部端子51…が設けられている。制御端子はコント
ロール系信号が送信される制御信号線に接続され、アド
レス端子はアドレス系信号が送信されるアドレス信号線
に接続され、I/O端子はI/O系信号が送受信される
データ信号線に接続されるものである。半導体チップ
2,3は、図2(b)に示すように、例えば、互いのチ
ップ裏面側を接着剤で貼り合わせると共に、シリコンラ
バー等の緩衝材を介してパッケージ50の内側に固定さ
れる。各半導体チップ2,3の端子であるパッドは、パ
ッケージ基板50a側の外部端子51…に例えば金製の
ボンディングワイヤ53,53などを介して接続され
る。
The memory 1 of this embodiment is a stacked chip type flash memory in which two semiconductor chips 2 and 3 are stacked and packaged, and a control terminal, an address terminal, an I / O External terminals 51 such as terminals and power supply terminals are provided. The control terminal is connected to a control signal line for transmitting a control signal, the address terminal is connected to an address signal line for transmitting an address signal, and the I / O terminal is a data signal for transmitting and receiving the I / O signal. It is connected to the wire. As shown in FIG. 2B, for example, the semiconductor chips 2 and 3 are bonded to each other on the back surfaces of the chips with an adhesive and fixed inside the package 50 via a cushioning material such as silicon rubber. Pads, which are terminals of each of the semiconductor chips 2 and 3, are connected to external terminals 51 on the package substrate 50a side, for example, via bonding wires 53 made of gold.

【0024】上記2枚の半導体チップ2,3はほぼ同一
構成のものである。そのうちの1つである半導体チップ
2は、多数のメモリセルがマトリックス状に配置された
メモリマット(メモリアレイ)22、アクセスするメモ
リセルのアドレス信号を取り込んで保持する通常アドレ
スバッファ23、取り込まれたアドレス信号をデコード
してメモリマット22内の対応するワード線を選択レベ
ルにするXデコーダ24、および、対応するビット線を
選択レベルにするYデコーダ25、アドレス信号に応じ
て選択されたメモリセルからの読出しデータおよび外部
からの書込みデータを蓄積するI/Oバッファ27、チ
ップセレクト信号を保持するチップ選択アドレスバッフ
ァ26、並びに、上記アドレスバッファ23やI/Oバ
ッファ27に活性化信号を出力したり停止して活性また
は非活性化とすることでデータの書込みや読出しの制御
を行うコントロール回路21等が設けられている。
The two semiconductor chips 2 and 3 have substantially the same configuration. The semiconductor chip 2, which is one of them, has a memory mat (memory array) 22, in which a large number of memory cells are arranged in a matrix, a normal address buffer 23, which captures and holds address signals of memory cells to be accessed. An X decoder 24 that decodes an address signal to set a corresponding word line in memory mat 22 to a select level, and a Y decoder 25 that sets a corresponding bit line to a select level, from a memory cell selected according to an address signal An I / O buffer 27 for accumulating read data and external write data, a chip select address buffer 26 for holding a chip select signal, and outputting an activation signal to the address buffer 23 and the I / O buffer 27. Write data by stopping and activating or deactivating Control circuit 21 or the like for controlling and reading is provided.

【0025】メモリマット22の記憶容量は、外部から
入力されるアドレス信号A0〜AX+1に対応する容量の半
分である。通常アドレスバッファ23に入力される信号
は、アドレス信号A0〜AX+1のうち下位Xビットの信号
0〜AXであり、メモリマット22のメモリ容量は、こ
れら下位Xビットの信号A0〜AXに対応している。
The storage capacity of the memory mat 22 is half the capacity corresponding to the address signals A 0 to A X + 1 input from the outside. Normally, the signals input to address buffer 23 are lower-order X-bit signals A 0 to A X of address signals A 0 to A X + 1 , and the memory capacity of memory mat 22 corresponds to lower-order X-bit signal A 0. which corresponds to 0 ~A X.

【0026】チップ選択アドレスバッファ26には、1
つの入力端子からローレベル(Vss)またはハイレベ
ル(Vcc)の活性化信号が入力される一方、他の外部
端子(アドレス端子TAD)から入力されるアドレス信号
の最上位ビットの信号AX+1が入力される。そして、活
性化信号がローレベル(Vss)であれば最上位ビット
の信号AX+1がローレベルの信号のときにこのチップ2
が選択されていることを示すチップセレクト信号CSを
コントロール回路21に出力し、信号AX+1がハイレベ
ルの信号であればチップセレクト信号CSの出力を行わ
ないように構成されている。この実施例では上記のチッ
プ選択アドレスバッファ26の活性化信号は、チップの
所定の外部端子が電源電圧Vssに固定されることでロ
ーレベルが供給されるようにされている。但し、このチ
ップ選択アドレスバッファ26の活性化信号はその入力
制御をコントロール回路21が行い、外部からのチップ
イネーブル信号CEの入力に基づいてVcc又はVss
が入力されるように構成しても良い。
The chip select address buffer 26 has 1
While a low-level (Vss) or high-level (Vcc) activation signal is input from one input terminal, a signal A X + of the most significant bit of an address signal input from another external terminal (address terminal T AD ) is input. 1 is entered. If the activation signal is low level (Vss), this chip 2 is used when the signal A X + 1 of the most significant bit is a low level signal.
Is output to the control circuit 21 indicating that is selected, and if the signal AX + 1 is a high-level signal, the chip select signal CS is not output. In this embodiment, the activation signal of the chip select address buffer 26 is supplied at a low level by fixing a predetermined external terminal of the chip to the power supply voltage Vss. However, the activation signal of the chip select address buffer 26 is controlled by the control circuit 21 to control its input, and based on the input of an external chip enable signal CE, Vcc or Vss.
May be input.

【0027】一方、チップ3のチップ選択アドレスバッ
ファ36は、活性化信号としてハイレベル(Vcc)が
入力されており、これによりチップ2の場合と対照的に
最上位ビットの信号AX+1がハイレベルの信号の場合に
有効なチップセレクト信号CSをコントロール回路31
へ出力するようになっている。このように、チップ2,
3のレベルでは、チップ選択アドレスバッファ26,3
6は同一構成である。なお、チップ2と3に各々活性化
信号としてVssとVccを与える代りに、Vss(ま
たはVcc)を共通に与えると共に、パッケージ基板5
0a上のアドレス端子TADの最上位ビットを供給する信
号線の途中にインバータ回路を設けて、チップ3にはチ
ップ2に供給される信号(最上位ビット)を反転した信
号を与えるように構成することで、上述と同様な対照的
な動作を行わせるようにしても良い。
On the other hand, a high level (Vcc) is input as an activation signal to the chip selection address buffer 36 of the chip 3, whereby the signal A X + 1 of the most significant bit is output in contrast to the case of the chip 2. A valid chip select signal CS is output to the control circuit 31 in the case of a high level signal.
Output to Thus, chip 2,
At level 3, the chip select address buffers 26, 3
6 has the same configuration. Instead of supplying Vss and Vcc as activation signals to the chips 2 and 3 respectively, Vss (or Vcc) is commonly supplied and the package substrate 5 is supplied.
It provided an inverter circuit in the middle of the signal line for supplying the most significant bits of the address terminal T AD on 0a, configured to provide a signal obtained by inverting the signal (most significant bit) supplied to the chip 2 to the tip 3 By doing so, a contrasting operation similar to the above may be performed.

【0028】コントロール回路21は、外部からのチッ
プイネーブル信号CEと、チップ選択アドレスバッファ
26からのチップセレクト信号CSの入力に基づきI/
Oバッファ27や通常アドレスバッファ23を活性化さ
せ、また、Xデコーダ24やYデコーダ25、並びに、
メモリマット22のドライバ回路(センスアンプ、プリ
チャージ回路、イレーズ回路等)を活性化させる。な
お、各回路の活性化/非活性化は、電源電圧Vccの接
続/遮断やグランド電位Vssとの接続/遮断により行
われる。また、コントロール回路21は、ライト/リー
ドの制御内容を示す外部からのライトイネーブル信号W
Eに基づきI/Oバッファ27等を切り換えて書込み/
読出しの制御を行う。
The control circuit 21 receives an I / O signal based on an external chip enable signal CE and a chip select signal CS from a chip select address buffer 26.
The O buffer 27 and the normal address buffer 23 are activated, and the X decoder 24, the Y decoder 25,
A driver circuit (a sense amplifier, a precharge circuit, an erase circuit, etc.) of the memory mat 22 is activated. The activation / deactivation of each circuit is performed by connecting / cutting off the power supply voltage Vcc and connecting / cutting off the ground potential Vss. The control circuit 21 also receives an external write enable signal W indicating write / read control contents.
E by switching the I / O buffer 27 etc.
Controls reading.

【0029】次に、上記のように構成されたメモリ1の
動作説明を行う。
Next, the operation of the memory 1 configured as described above will be described.

【0030】外部からチップイネーブル信号CEが入力
されていない場合、メモリ1はパワーセーブモードとな
り、コントロール回路21,31とチップ選択アドレス
バッファ26,36のみ活性化され、その他の回路は非
活性化される。なお、リフレッシュを必要とするDRA
M等の記憶装置の場合は、セルフリフレッシュを行う制
御回路等も活性化されるようにしておく。
When the chip enable signal CE is not inputted from the outside, the memory 1 is in the power save mode, only the control circuits 21 and 31 and the chip select address buffers 26 and 36 are activated, and the other circuits are deactivated. You. In addition, DRA which needs refresh
In the case of a storage device such as M, a control circuit for performing self-refresh is also activated.

【0031】外部からメモリアクセスするには、先ず、
チップイネーブル信号CEを入力する。するとコントロ
ール回路21,31により必要な回路の活性化が行われ
る。また、コントロール回路21,31によりチップ選
択アドレスバッファ26,36を活性化させる構成の場
合、このタイミングでチップ選択アドレスバッファ2
6,36に活性化信号が出力されて該バッファが活性化
される。
To access the memory from the outside, first,
The chip enable signal CE is input. Then, the necessary circuits are activated by the control circuits 21 and 31. In the case where the chip selection address buffers 26 and 36 are activated by the control circuits 21 and 31, the chip selection address buffer 2 is activated at this timing.
An activation signal is output to 6, 36 to activate the buffer.

【0032】次いで、このチップイネーブル信号CEの
入力中に、外部からアドレス信号A0〜AX+1とデータの
読出しか書き込みかを指示するためのライトイネーブル
信号WEが入力される。このとき、アドレス信号の最上
位ビットの信号AX+1は、両チップ2,3のチップ選択
アドレスバッファ26,36にそれぞれ入力される。そ
して、最上位ビットの信号AX+1がローレベルであれ
ば、下位アドレス側のチップ2のチップ選択アドレスバ
ッファ26からコントロール回路21にチップセレクト
信号CSが出力される一方、上位アドレス側のチップ3
ではチップ選択アドレスバッファ36からチップセレク
ト信号CSが出力されない。
Next, during the input of the chip enable signal CE, the address signals A 0 to A X + 1 and the write enable signal WE for instructing whether to read or write data are input from outside. At this time, the signal A X + 1 of the most significant bit of the address signal is input to the chip select address buffers 26 and 36 of both chips 2 and 3, respectively. If the signal A X + 1 of the most significant bit is at a low level, a chip select signal CS is output from the chip select address buffer 26 of the chip 2 on the lower address side to the control circuit 21 while a chip select signal CS on the upper address side is output. 3
In this case, the chip select signal CS is not output from the chip select address buffer 36.

【0033】下位アドレス側のチップ2では、有効なチ
ップセレクト信号CSが入力されると、コントロール回
路21の制御により通常アドレスバッファ23、I/O
バッファ27、Xデコーダ24、Yデコーダ25および
メモリマット22のドライバ回路等が活性化されてメモ
リアクセスが可能となる。そして、チップセレクト信号
CSの出力中、まだ、外部からはアドレス信号A0〜A
X+1が入力されているので、該アドレス信号A0〜AX+1
の最上位ビットを除くXビットの信号A0〜AXが通常ア
ドレスバッファ23にラッチされる。
When a valid chip select signal CS is input to the chip 2 on the lower address side, the control circuit 21 controls the normal address buffer 23, I / O
The buffer 27, the X decoder 24, the Y decoder 25, the driver circuit of the memory mat 22, and the like are activated to enable memory access. While the chip select signal CS is being output, the address signals A 0 -A
Since X + 1 is input, the address signals A 0 to A X + 1
X signals A 0 to A X excluding the most significant bit are latched in the normal address buffer 23.

【0034】一方、有効なチップセレクト信号CSが入
力されていない上位アドレス側のチップ3では、通常ア
ドレスバッファ33、I/Oバッファ37、Xデコーダ
34、Yデコーダ35、メモリマット32のドライバ回
路等が非活性のままとされメモリアクセスを受け付けな
い。
On the other hand, in the upper address side chip 3 to which the valid chip select signal CS is not input, the normal address buffer 33, the I / O buffer 37, the X decoder 34, the Y decoder 35, the driver circuit of the memory mat 32, etc. Is inactive and does not accept memory access.

【0035】そして、外部からのアドレス信号A0〜A
X+1の入力後、予め設定された時間経過後にメモリマッ
トへの22へのデータの入出力が行われる。即ち、デー
タの読出しの場合には、上記アドレス信号A0〜AXに対
応したメモリセルに記憶されていたデータが読み出され
てI/Oバッファ27にラッチされてデータ端子TI/O
に出力される。また、データの書込みの場合には、制御
端子TCTLから書込みであることを示すライトイネーブ
ル信号WEが入力され、I/O端子TI/Oから書込みデ
ータD0〜DYが入力され、該データD0〜DYがI/Oバ
ッファ27とYデコーダ25のYゲート回路を介してメ
モリマット22内の選択されているメモリセルに書き込
まれる。
Then, external address signals A 0 -A
After the input of X + 1 , data input / output to / from the memory mat 22 is performed after a preset time has elapsed. That is, in the case of data reading, the data stored in the memory cells corresponding to the address signals A 0 to A X is read out, latched by the I / O buffer 27, and stored in the data terminal T I / O.
Is output to In the case of data write, the control terminal T CTL write enable signal WE indicating the writing is input from, I / O terminals T I / O write from the data D 0 to D Y is input, the The data D 0 to D Y are written to the selected memory cell in the memory mat 22 via the I / O buffer 27 and the Y gate circuit of the Y decoder 25.

【0036】なお、フラッシュメモリなどにおいては、
メモリ1へのデータの書き込み処理を、一度に入出力さ
れる0〜YビットのデータD0〜DY毎に行わずに、所定
量のデータになるまで一旦I/Oバッファ27,37に
蓄積した後、コントロール回路21,31によりチップ
内部で書込み制御を行い、蓄積された所定量のデータを
まとめてメモリマット22,32に書き込むように構成
される。この方式の場合、チップ内部での書込み制御
中、外部からのデータ入力は一旦停止され、書込み制御
の完了後に外部に終了信号を送信してデータ入力を再開
するようにされる。
In a flash memory or the like,
The process of writing data to the memory 1 is not performed for each of the 0 to Y bit data D 0 to DY input / output at a time, but is temporarily stored in the I / O buffers 27 and 37 until a predetermined amount of data is obtained. After that, the write control is performed inside the chip by the control circuits 21 and 31, and the stored predetermined amount of data is collectively written to the memory mats 22 and 32. In the case of this method, during write control inside the chip, data input from the outside is temporarily stopped, and after the write control is completed, an end signal is transmitted to the outside to restart data input.

【0037】一方、上記アドレス信号A0〜AX+1の入力
の際、最上位ビットの信号AX+1がハイレベルの場合に
は、逆に、上位アドレス側のチップ3が活性化されてア
クセス可能となり、下位アドレス側のチップ2が非活性
化されアクセス不能となる。そして、活性化された上位
アドレス側のチップ3は上述の動作と同様の動作に従っ
てデータの読み出し又は書込みが行われる。
On the other hand, when the address signals A 0 to A X + 1 are input and the signal A X + 1 of the most significant bit is at a high level, the chip 3 on the upper address side is activated. And the chip 2 on the lower address side is inactivated and cannot be accessed. Then, the activated upper address side chip 3 reads or writes data according to the same operation as that described above.

【0038】以上のように、この実施例のメモリ1によ
れば、アドレス信号A0〜AX+1の最上位ビットの信号A
x+1によりパッケージ内の下位アドレス側のチップ2と
上位アドレス側のチップ3の何れかの選択が行われるの
で、メモリ1をアクセスする外部装置の側では、チップ
セレクト信号を増やして複雑な制御をする必要がなく、
単にメモリアドレス空間の設定を適合させるだけで対応
することが出来る。すなわち、複数チップをパッケージ
した従来の半導体記憶装置にアクセスする場合に較べ
て、外部からのメモリアクセス処理を、1チップの半導
体記憶装置と同様に単純な処理で行うことができる。
As described above, according to the memory 1 of this embodiment, the signal A of the most significant bit of the address signals A 0 to A X + 1 is used.
Since either the chip 2 on the lower address side or the chip 3 on the upper address side in the package is selected by x + 1, the external device accessing the memory 1 increases the chip select signal to perform complicated control. No need to
This can be dealt with simply by adjusting the setting of the memory address space. That is, as compared with the case of accessing a conventional semiconductor memory device in which a plurality of chips are packaged, external memory access processing can be performed by a simple process as in the case of a one-chip semiconductor memory device.

【0039】更に、このメモリをプリント基板等に実装
して任意のシステムを作成する場合でも、同一記憶容量
の1チップのメモリに使用されるプリント基板や、実装
される複数のメモリを外部から制御するコントローラと
して従来のものをそのまま流用することが出来るし、ま
た、同一容量の1チップのメモリとこの実施例のメモリ
1とを混在させて使用することも可能である。
Furthermore, even when this memory is mounted on a printed circuit board or the like to create an arbitrary system, a printed circuit board used for a one-chip memory having the same storage capacity and a plurality of mounted memories are externally controlled. A conventional controller can be used as it is, and a one-chip memory of the same capacity and the memory 1 of this embodiment can be used in combination.

【0040】また、本実施例のメモリは一方の半導体チ
ップ2にメモリアクセスが行われている間、他方の半導
体チップ3では上述したようにほとんどの回路が非活性
化されているので、その分、消費電力が低減される。
Also, in the memory of this embodiment, while the memory access to one semiconductor chip 2 is being performed, most circuits in the other semiconductor chip 3 are inactive as described above. Power consumption is reduced.

【0041】また、半導体チップ2,3の入出力端子
(制御信号、アドレス信号、データ信号、それぞれの入
出力端子)を、それぞれ対応する端子同士を共通化し、
パッケージ50内部で1本にまとめて外部端子TCTL
AD,TI/Oとして外部に露出させているので、外部か
ら見た場合には1チップのメモリとまったく同じ端子構
成となり、1チップのメモリとまったく同じように扱う
ことが出来る。
The input / output terminals (control signal, address signal, data signal, and respective input / output terminals) of the semiconductor chips 2 and 3 are shared by corresponding terminals.
The external terminals T CTL ,
Since it is exposed to the outside as T AD and T I / O , when viewed from the outside, it has exactly the same terminal configuration as a one-chip memory, and can be handled in exactly the same way as a one-chip memory.

【0042】なお、第1実施例の半導体チップ2,3
は、そのチップを用いて、パッケージ内に1チップのみ
実装した通常パッケージのメモリを構成することも出来
る。
Note that the semiconductor chips 2 and 3 of the first embodiment
Can use the chip to constitute a memory of a normal package in which only one chip is mounted in the package.

【0043】図3は、第1実施例と同様の半導体チップ
を用いて1チップの通常パッケージを構成した場合のブ
ロック図である。4は、図1のチップ2又は3と同じ構
成のチップである。
FIG. 3 is a block diagram in the case where a one-chip normal package is formed using the same semiconductor chips as in the first embodiment. Reference numeral 4 denotes a chip having the same configuration as the chip 2 or 3 in FIG.

【0044】この実施例では、チップ選択アドレスバッ
ファ46の信号線46a(アドレス信号の最上位ビット
X+1が入力される信号線)と活性化信号の入出力端子
を例えばチップ外の回路により常時ハイレベルに固定
(プルアップ)しておく。これにより、当該チップは常
に活性化された状態となる。また、このようにしたとき
チップのアドレスのビット数は第1実施例のメモリ1よ
り1ビット少なくなる。その結果、従来の1チップのメ
モリと同じメモリパッケージが構成されることとなる。
In this embodiment, the signal line 46a of the chip select address buffer 46 (the signal line to which the most significant bit A X + 1 of the address signal is input) and the input / output terminal of the activation signal are connected by a circuit outside the chip, for example. Always fixed (pulled up) to high level. As a result, the chip is always activated. In this case, the number of bits of the address of the chip is one bit smaller than that of the memory 1 of the first embodiment. As a result, the same memory package as the conventional one-chip memory is formed.

【0045】[第2実施例]図4は、本発明を適用して
好適な第2実施例のメモリ1Bを示すブロック構成図で
ある。
[Second Embodiment] FIG. 4 is a block diagram showing a memory 1B according to a second embodiment of the present invention.

【0046】この実施例のメモリ1Bは、各チップ7,
8にチップ選択アドレスカウンタ78,88を設けてア
ドレスの自動生成を行うことにより、2つのチップ7,
8間に亘る連続したデータの読み出し、書き込みを可能
とするものである。その他の回路(コントロール回路7
1,81、メモリマット72,82、通常アドレスバッ
ファ73,83、Xデコーダ74,84,Yデコーダ7
5,85、チップ選択アドレスバッファ76,86、I
/Oバッファ77,87など)は第1実施例のものとほ
ぼ同様の構成である。
The memory 1B of this embodiment includes the chips 7,
8 are provided with chip selection address counters 78 and 88 to automatically generate addresses, thereby enabling the two chips 7 and
It enables reading and writing of continuous data over eight intervals. Other circuits (control circuit 7
1, 81, memory mats 72, 82, normal address buffers 73, 83, X decoders 74, 84, Y decoder 7
5, 85, chip select address buffers 76, 86, I
/ O buffers 77 and 87) have substantially the same configuration as that of the first embodiment.

【0047】外部から制御端子TCTRに入力されるコ
ントロール系信号には、新たにモードセレクト信号MS
が追加される。このモードセレクト信号MSの入力に基
づきコントロール回路71,81はチップ選択アドレス
カウンタ78,88に制御信号を出力してこれらカウン
タを作動させるチップ選択アドレスカウンタ78,88
は、アドレス信号の最上位ビットの信号AX+1に関係な
く、メモリ1Bにチップイネーブル信号CEが入力され
るとアクティブになるように構成されている。
The control signals externally input to the control terminal TCTR include a new mode select signal MS.
Is added. Based on the input of the mode select signal MS, the control circuits 71 and 81 output control signals to the chip select address counters 78 and 88 and operate the chip select address counters 78 and 88.
Are configured to be active when the chip enable signal CE is input to the memory 1B, regardless of the signal A X + 1 of the most significant bit of the address signal.

【0048】このチップ選択アドレスカウンタ78,8
8は、アドレス信号A0〜AX+1と同一ビット数のカウン
タであり、更に、アドレス線に出力されるアドレス信号
0〜AX+1のデータをロードする機能を備えている。カ
ウントは、アドレス信号A0〜AX+1の最上位ビットの信
号AX+1をトリガとして開始され、また、アドレスのロ
ードは、アドレス信号A0〜AX+1の最上位ビットの信号
X+1をトリガとして行われる。
The chip selection address counters 78 and 8
Reference numeral 8 denotes a counter having the same number of bits as the address signals A 0 to A X + 1 and further has a function of loading data of the address signals A 0 to A X + 1 output to the address lines. Count is initiated signals A X + 1 most significant bits of the address signal A 0 ~A X + 1 as a trigger, and load addresses, the address signal A 0 ~A X + 1 of the most significant bit of the signal This is performed using A X + 1 as a trigger.

【0049】例えば、下位アドレス側のチップ選択アド
レスカウンタ78は、コントロール回路71からの制御
信号により起動されると、先ず、外部から入力されてい
るアドレス信号A0〜AX+1の最上位ビットの信号AX+1
を取り込んで、この信号AX+1がローレベルである場合
に、残りのアドレス信号A0〜AXをロードして自らのカ
ウント値とする。そして、所定周期毎に「1」ずつカウ
ントアップを行う。カウントはコントロール回路71,
81からの制御信号の終了に基づいて終了される。一
方、入力した最上位ビットの信号AX+1がハイレベルで
ある場合にはカウントを行わない。
For example, when activated by a control signal from the control circuit 71, the chip selection address counter 78 on the lower address side firstly activates the most significant bit of the externally input address signals A 0 to A X + 1. Signal A X + 1
When the signal A X + 1 is at a low level, the remaining address signals A 0 to A X are loaded and set as their own count values. Then, the count is incremented by "1" every predetermined period. The count is calculated by the control circuit 71,
The process is terminated based on the termination of the control signal from 81. On the other hand, when the input most significant bit signal A X + 1 is at the high level, the counting is not performed.

【0050】上位アドレス側のチップ選択アドレスカウ
ンタ88は、入力された最上位ビットの信号AX+1がハ
イレベルである場合に、アドレス信号A0〜AXをロード
して自らのカウント値とし、所定周期毎に「1」カウン
トずつカウントアップを行う。一方、入力された最上位
ビットの信号AX+1がローレベルである場合にはカウン
トを行わない。
When the input most significant bit signal A X + 1 is at a high level, the chip address selector 88 on the upper address side loads the address signals A 0 -A X and sets them as its own count value. Is incremented by "1" every predetermined period. On the other hand, when the input most significant bit signal A X + 1 is at the low level, the counting is not performed.

【0051】これらチップ選択アドレスカウンタ78,
88のカウントデータは、同じチップ上の通常アドレス
バッファ73,83とチップ選択アドレスバッファ7
6,86に供給される一方、アドレス線を介して隣のチ
ップのチップ選択アドレスカウンタ78,88にも出力
される。例えば、下位アドレス側のチップ選択アドレス
カウンタ78のカウント中、カウントデータの下位0〜
Xビットの信号が通常アドレスバッファ73に、最上位
の1ビットの信号がチップ選択アドレスバッファ76に
入力されると共に、同時に上記カウントデータは、アド
レス線を介して隣のチップのチップ選択アドレスカウン
タ88にも出力される。そして、この出力により、カウ
ントの進行中に最上位の信号が反転したことが伝達され
て、両チップ7,8のチップ選択アドレスカウンタ7
8,88で以下のように連携が図られることになる。
These chip selection address counters 78,
The count data of 88 is stored in the normal address buffers 73 and 83 and the chip select address buffer 7 on the same chip.
6, 86, and is also output to the chip select address counters 78, 88 of the adjacent chip via the address line. For example, during counting of the chip selection address counter 78 on the lower address side, the lower 0 to lower 0 of the count data is counted.
The X-bit signal is input to the normal address buffer 73 and the most significant 1-bit signal is input to the chip select address buffer 76. At the same time, the count data is sent to the chip select address counter 88 of the next chip via the address line. Is also output to Then, by this output, it is transmitted that the most significant signal is inverted during the progress of the count, and the chip select address counters 7 of both chips 7 and 8 are transmitted.
At 8,88, cooperation is achieved as follows.

【0052】次に、上記チップ選択アドレスカウンタ7
8,88を利用した連続的なメモリアクセスの動作(1
回のアドレス信号の入力で連続した複数回のメモリアク
セスを行う動作)についてより詳しく説明する。
Next, the chip selection address counter 7
Operation of continuous memory access using 8,88 (1
The operation of continuously performing a plurality of memory accesses by inputting the address signal twice) will be described in more detail.

【0053】連続的なメモリアクセスを行う場合には、
先ず、外部から制御端子TCTLを介してモードセレクト
信号MSを入力し、連続アクセスモードを選択する。す
ると、両チップ7,8のコントロール回路71,81か
ら所定の制御信号が出力されてチップ選択アドレスカウ
ンタ78、88が活性化される。
When performing continuous memory access,
First, a mode select signal MS is input from the outside via the control terminal TCTL to select the continuous access mode. Then, predetermined control signals are output from control circuits 71 and 81 of both chips 7 and 8, and chip select address counters 78 and 88 are activated.

【0054】次いで、データアクセスする先頭アドレス
のアドレス信号A0〜AX+1が外部から入力される。アド
レス信号が入力されると、その最上位ビットの信号A
X+1に応じて該信号がローレベルであれば、下位アドレ
ス側のチップ選択アドレスカウンタ78がアドレスデー
タをロードしてカウントを開始すると共に、上位アドレ
ス側のチップ選択アドレスカウンタ88は待機状態とな
り最上位ビットの信号AX+1がハイレベルに変化される
までカウントを行わない。
Next, address signals A 0 to A X + 1 of the head address for data access are externally input. When an address signal is input, the most significant bit signal A
If the signal is at a low level in response to X + 1 , the lower address side chip selection address counter 78 loads address data and starts counting, and the upper address side chip selection address counter 88 enters a standby state. The counting is not performed until the signal A X + 1 of the most significant bit is changed to the high level.

【0055】一方、入力されたアドレス信号の最上位ビ
ットの信号AX+1がハイレベルであれば、上位アドレス
側のチップ選択アドレスカウンタ88がアドレスデータ
をロードしてカウントを開始すると共に、下位アドレス
側のチップ選択アドレスカウンタ78は待機状態となり
最上位ビットの信号AX+1がローレベルになるまでカウ
ントを行わない。
On the other hand, if the signal A X + 1 of the most significant bit of the input address signal is at a high level, the chip selection address counter 88 on the upper address side loads address data and starts counting, and at the same time, starts counting. The address-side chip selection address counter 78 is in a standby state and does not count until the signal A X + 1 of the most significant bit becomes low level.

【0056】これらのカウント中、カウントデータの最
上位ビットに繰り上がりが生じて該最上位ビットのデー
タが反転すると、カウントデータが外部へ出力されるた
め、アドレス信号線の最上位ビットの信号線上の信号A
X+1もハイレベルからローレベルへ、或いはローレベル
からハイレベルへと反転される。
During these counts, when the most significant bit of the count data carries up and the data of the most significant bit is inverted, the count data is output to the outside, so that the most significant bit of the address signal line is output. Signal A
X + 1 is also inverted from high level to low level or from low level to high level.

【0057】このように、カウントが進行して最上位ビ
ットの信号AX+1が反転した場合には、今までカウント
を行っていた側のチップ選択アドレスカウンタ78(,
88)はカウントを停止して待機状態となる一方、今ま
で待機状態だったチップ選択アドレスカウンタ88(,
78)はアドレス信号線に出力されているカウントデー
タ値をロードして続くカウントを開始し、連続カウント
動作が行われる。
As described above, when the count advances and the signal A X + 1 of the most significant bit is inverted, the chip selection address counter 78 (,
88) stops counting and enters a standby state, while the chip selection address counter 88 (,
In step 78), the count data value output to the address signal line is loaded to start the subsequent counting, and the continuous counting operation is performed.

【0058】そして、上述した一連のカウント中、デー
タの書き込み時には、外部からメモリへのデータ入力が
カウントと同期するように予め設定された周期で所定の
期間連続して行われる。また、データの読出し時には、
I/Oバッファ77,87から外部にデータ出力がカウ
ントと同期して行われる。この書込み動作と読出し動作
は第1実施例で説明した動作と同様である。
During data writing during the above-described series of counting, data input from the outside to the memory is performed continuously for a predetermined period at a preset cycle so as to synchronize with the counting. When reading data,
Data output from the I / O buffers 77 and 87 to the outside is performed in synchronization with the count. The write operation and the read operation are the same as the operations described in the first embodiment.

【0059】なお、フラッシュメモリなどのように、メ
モリ1Bへのデータの書き込みが、一回で入出力される
0〜YビットのデータD0〜DY毎に行われるのでなく、
所定量のデータになるまで一旦I/Oバッファ77,8
7に蓄積し、その後、チップ内部で書込み制御を行っ
て、蓄積された所定量のデータをまとめてメモリマット
72,82に書き込むタイプである場合には、例えば、
下位アドレス側のチップ7で書込みを行っている間に、
上位アドレス側のチップ8ではデータの蓄積を行いこれ
を交互に繰り返すことで連続的な書込み処理が可能とな
り、この制御により書き込み処理にかかるトータルの所
定時間を短縮することが出来る。
It is to be noted that writing of data to the memory 1B is not performed for each of the data D 0 to D Y of 0 to Y bits input / output at a time as in a flash memory or the like.
I / O buffers 77 and 8 are temporarily stored until a predetermined amount of data is obtained.
7 and then write control is performed inside the chip to collectively write a predetermined amount of stored data to the memory mats 72 and 82.
While writing is performed by the chip 7 on the lower address side,
The chip 8 on the upper address side accumulates data and alternately repeats the data, thereby enabling a continuous writing process. By this control, the total predetermined time required for the writing process can be reduced.

【0060】以上のように、この実施例のメモリ1Bに
よれば、1チップのメモリと全く同じように扱うことが
出来ると共に、消費電力の低減を図ることが出来るとい
った第1実施例の効果に加え、自動的にアドレスを生成
するチップ選択アドレスカウンタ78,88により、ア
ドレスを自動生成して連続的なデータアクセスが可能に
なると共に、2チップ7,8間に亘る連続的なデータア
クセスでも、両チップ7,8それぞれのチップ選択アド
レスカウンタ78,88が連携してアドレスのカウント
をつづけるので、連続アクセスモード(例えばページモ
ード)を1チップのメモリと同様の制御で実現すること
が出来る。
As described above, according to the memory 1B of this embodiment, it is possible to handle the memory in exactly the same manner as a one-chip memory, and to reduce the power consumption. In addition, the chip selection address counters 78 and 88 that automatically generate addresses enable continuous data access by automatically generating addresses, and enable continuous data access between two chips 7 and 8. Since the chip selection address counters 78 and 88 of both chips 7 and 8 cooperate to continue counting addresses, a continuous access mode (for example, a page mode) can be realized by the same control as a one-chip memory.

【0061】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。
Although the invention made by the inventor has been specifically described based on the embodiments, the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications can be made without departing from the gist of the invention. Needless to say.

【0062】例えば、上記実施例では、2枚の半導体チ
ップを積層して構成される積層チップ型の半導体記憶装
置を例に説明してきたが、2枚でなく3枚以上の半導体
チップをまとめても良いし、更に、チップの実装形式や
パッケージの形式などは特に限定されるものではない。
半導体チップを3枚や4枚にした場合には、チップ選択
のためにアドレス信号の中の2ビットの信号を割り当て
てやれば良い。
For example, in the above-described embodiment, a laminated chip type semiconductor memory device constituted by laminating two semiconductor chips has been described as an example, but not two but three or more semiconductor chips are collectively collected. Alternatively, the chip mounting format and the package format are not particularly limited.
When three or four semiconductor chips are used, a 2-bit signal among address signals may be assigned for chip selection.

【0063】また、複数のチップのうち1つを選択する
信号は、アドレス信号A0〜AX+1の最上位ビットの信号
X+1にすることが望ましいが、最下位ビットの信号A
0の信号としたり中間ビットの信号としても良い。
It is desirable that the signal for selecting one of the plurality of chips be the most significant bit signal A X + 1 of the address signals A 0 to A X + 1 , but the least significant bit signal A X + 1 is selected.
The signal may be 0 or an intermediate bit signal.

【0064】更に、メモリマットへの書込み制御や読出
し制御シーケンスは、この実施例で具体的に示した方式
に限られず、種々の変形例があることは云うまでもな
い。
Further, the write control and read control sequence for the memory mat is not limited to the method specifically shown in this embodiment, and it goes without saying that there are various modifications.

【0065】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野であるフラッ
シュメモリについて説明したがこの発明はそれに限定さ
れるものでなく、DRAMやSRAMなど種々の半導体
記憶装置に広く利用することができる。
In the above description, the invention made by the present inventor has been mainly described with respect to a flash memory which is a field of application which is the background of the invention. However, the present invention is not limited thereto, and various types of semiconductor memory such as DRAM and SRAM can be used. Can be widely used in equipment.

【0066】[0066]

【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
のとおりである。
The effects obtained by typical ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

【0067】すなわち、本発明に従うと、アドレス信号
の所定ビットの信号により、内蔵された複数の半導体チ
ップの中からチップ選択を行うので、外部から半導体記
憶装置にアクセスする側では、1チップを内蔵した半導
体記憶装置と同様に単純な処理でアクセスすることがで
きるという効果がある。
That is, according to the present invention, a chip is selected from a plurality of built-in semiconductor chips by a signal of a predetermined bit of an address signal. There is an effect that access can be made by simple processing as in the semiconductor memory device described above.

【0068】更に、内蔵された一方の半導体チップにメ
モリアクセスが行われる際、他方の半導体チップでは回
路の非活性化が行われているので、その分、消費電力の
低減を図ることが出来るという効果がある。
Further, when memory access is performed to one of the built-in semiconductor chips, the circuit is inactivated in the other semiconductor chip, so that power consumption can be reduced accordingly. effective.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明を適用して好適なメモリの第1実施例を
示すブロック構成図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a first preferred embodiment of a memory to which the present invention is applied.

【図2】第1実施例のメモリのパッケージ構造を示すも
ので、(a)はその外観斜視図、(b)は縦断面図であ
る。
FIGS. 2A and 2B show a package structure of a memory according to a first embodiment, wherein FIG. 2A is an external perspective view and FIG. 2B is a longitudinal sectional view.

【図3】第1実施例の半導体チップを用いて1チップの
通常パッケージを構成した場合のブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram in the case of forming a one-chip normal package using the semiconductor chip of the first embodiment.

【図4】本発明を適用して好適なメモリの第2実施例を
示すブロック構成図である。
FIG. 4 is a block diagram showing a second preferred embodiment of a memory to which the present invention is applied;

【図5】従来の積層チップ型半導体記憶装置の一例を示
すブロック図である。
FIG. 5 is a block diagram showing an example of a conventional stacked chip type semiconductor memory device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 メモリ(第1実施例の半導体記憶装置) 2,3 半導体チップ 21,31 コントロール回路(コントロール手
段) 22,32 メモリマット(メモリアレイ) 23,33 通常アドレスバッファ 24,34 Xデコーダ 25,35 Yデコーダ 26,36 チップ選択アドレスバッファ(コント
ロール手段 27,37 I/Oバッファ 50 パッケージ 51… 外部端子 1B メモリ(第2実施例の半導体記憶装置) 7,8 半導体チップ 78,88 チップ選択アドレスカウンタ(アドレ
スカウンタ) TCTL 制御端子 TAD アドレス端子 TI/O データ端子 CS チップセレクト信号 CE チップイネーブル信号 A0〜AX+1 アドレス信号
Reference Signs List 1 memory (semiconductor storage device of first embodiment) 2, 3 semiconductor chip 21, 31 control circuit (control means) 22, 32 memory mat (memory array) 23, 33 normal address buffer 24, 34 X decoder 25, 35 Y Decoders 26, 36 Chip selection address buffer (control means 27, 37 I / O buffer 50 Package 51 ... External terminal 1B Memory (semiconductor storage device of second embodiment) 7, 8 Semiconductor chip 78, 88 Chip selection address counter (address) Counter) T CTL control terminal T AD address terminal T I / O data terminal CS Chip select signal CE Chip enable signal A 0 -A X + 1 address signal

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G11C 11/401 G11C 11/34 301E 16/02 345 371K 17/00 601Z Fターム(参考) 5B015 JJ00 JJ07 KB32 KB33 KB42 KB45 KB47 KB74 PP03 5B024 AA01 AA11 BA17 BA18 BA29 CA16 CA21 CA27 5B025 AD00 AD01 AD02 AE00 AE06 5B060 AB18 CA11 MM16 MM19 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI theme coat ゛ (reference) G11C 11/401 G11C 11/34 301E 16/02 345 371K 17/00 601Z F-term (reference) 5B015 JJ00 JJ07 KB32 KB33 KB42 KB45 KB47 KB74 PP03 5B024 AA01 AA11 BA17 BA18 BA29 CA16 CA21 CA27 5B025 AD00 AD01 AD02 AE00 AE06 5B060 AB18 CA11 MM16 MM19

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 メモリアレイを備えた半導体チップを複
数内蔵し、外部端子として、制御信号線に接続される制
御端子、アドレス信号線に接続されるアドレス端子、デ
ータ信号線に接続されるI/O端子がそれぞれ設けられ
た半導体記憶装置であって、 上記複数の半導体チップには、上記アドレス端子の所定
ビットの端子に接続され該所定ビットの端子から各半導
体チップに対応した所定の信号が入力されない場合に当
該半導体チップの少なくとも1部の回路を非活性とする
コントロール手段がそれぞれ設けられ、アドレス端子の
上記所定ビットの信号に基づいて、上記複数の半導体チ
ップの何れかを動作させ、他の半導体チップを非活性化
して動作させないように構成されてなることを特徴とす
る半導体記憶装置。
A plurality of semiconductor chips each including a memory array; and external terminals including a control terminal connected to a control signal line, an address terminal connected to an address signal line, and an I / O connected to a data signal line. A semiconductor memory device provided with an O terminal, wherein a plurality of semiconductor chips are connected to a predetermined bit terminal of the address terminal, and a predetermined signal corresponding to each semiconductor chip is input from the predetermined bit terminal. Control means for inactivating at least a part of the circuit of the semiconductor chip when not performed, and operating any one of the plurality of semiconductor chips based on a signal of the predetermined bit of an address terminal, A semiconductor memory device characterized in that a semiconductor chip is configured to be inactivated and not operated.
【請求項2】 上記複数の半導体チップは積層されて1
つのパッケージに封入されていることを特徴とする請求
項1記載の半導体記憶装置。
2. The method according to claim 1, wherein the plurality of semiconductor chips are stacked to form one
2. The semiconductor memory device according to claim 1, wherein the semiconductor memory device is enclosed in one package.
【請求項3】 上記複数の半導体チップは、それぞれ制
御信号、アドレス信号、データ信号を入出力する端子を
備え、複数の半導体チップ間で対応する端子同士が共通
化されてパッケージ外部に設けられた外部端子にそれぞ
れ接続されていることを特徴とする請求項1又は2記載
の半導体記憶装置。
3. The plurality of semiconductor chips each include a terminal for inputting and outputting a control signal, an address signal, and a data signal, and the corresponding terminals are shared among the plurality of semiconductor chips and provided outside the package. 3. The semiconductor memory device according to claim 1, wherein the semiconductor memory device is connected to an external terminal.
【請求項4】 上記コントロール手段により非活性化さ
れる回路は、アドレス信号のバッファ回路、および/又
は、入出力データ信号のバッファ回路であることを特徴
とする請求項1〜3の何れかに記載の半導体記憶装置。
4. The circuit according to claim 1, wherein said circuit deactivated by said control means is an address signal buffer circuit and / or an input / output data signal buffer circuit. 13. The semiconductor memory device according to claim 1.
【請求項5】 上記コントロール手段は、非活性化した
い回路の電源供給を停止することでこれら回路を非活性
化するように構成されてなることを特徴とする請求項1
〜4の何れかに記載の半導体記憶装置。
5. The control means according to claim 1, wherein said control means is configured to deactivate circuits to be deactivated by stopping power supply to those circuits.
5. The semiconductor memory device according to any one of items 1 to 4,
【請求項6】 上記複数の半導体チップにはそれぞれア
ドレスを自動生成するアドレスカウンタが設けられ、こ
のアドレスカウンタによるカウントにより、アドレス端
子の上記所定ビットに対応するアドレスカウンタのビッ
トのデータ値が変化した場合に、この変化により他の半
導体チップのアドレスカウンタが連携して続くアドレス
生成を行うように構成されてなることを特徴とする請求
項1〜5の何れかに記載の半導体記憶装置。
6. The plurality of semiconductor chips are provided with an address counter for automatically generating an address, and the data value of the bit of the address counter corresponding to the predetermined bit of the address terminal changes according to the count by the address counter. 6. The semiconductor memory device according to claim 1, wherein, in this case, an address counter of another semiconductor chip performs a subsequent address generation in cooperation with the change.
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