JP2001017412A - 個体認証装置 - Google Patents
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Landscapes
- Measurement And Recording Of Electrical Phenomena And Electrical Characteristics Of The Living Body (AREA)
- Image Input (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Measurement Of The Respiration, Hearing Ability, Form, And Blood Characteristics Of Living Organisms (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】第1の電極群の両端の電極を電圧波形検出のた
めの電極として使用しないことで個体認識のための照合
精度を向上する。 【解決手段】複数の出力電極22からなる第1の電極群
23と入力電極24に対して指21を接触させ、各出力
電極に対して出力電極ドライブ回路25から択一的に所
定周波数の信号を供給し、入力電極から検出回路26で
信号を検出する。そして検出回路でこの信号を検波し、
デジタル変換して外部装置に供給する。外部装置では各
出力電極のうち、両端の出力電極に対応したデータを削
除し、残りの出力電極に対応したデータにより予め登録
してあるデータと比較照合して個人の認証を行う。
めの電極として使用しないことで個体認識のための照合
精度を向上する。 【解決手段】複数の出力電極22からなる第1の電極群
23と入力電極24に対して指21を接触させ、各出力
電極に対して出力電極ドライブ回路25から択一的に所
定周波数の信号を供給し、入力電極から検出回路26で
信号を検出する。そして検出回路でこの信号を検波し、
デジタル変換して外部装置に供給する。外部装置では各
出力電極のうち、両端の出力電極に対応したデータを削
除し、残りの出力電極に対応したデータにより予め登録
してあるデータと比較照合して個人の認証を行う。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、指のしわの凹凸情
報などから個体認証を行う個体認証装置に関する。
報などから個体認証を行う個体認証装置に関する。
【0002】
【従来の技術】個体、例えば、人を識別する方式とし
て、例えば、バイオメトリクス方式、すなわち、生体認
証方式と呼ばれるものが知られている。これは、個人の
身体的特徴を利用した個人認証技術で、指紋、指の関節
しわ、虹彩、網膜、耳、顔、声などによって識別するよ
うになっている。
て、例えば、バイオメトリクス方式、すなわち、生体認
証方式と呼ばれるものが知られている。これは、個人の
身体的特徴を利用した個人認証技術で、指紋、指の関節
しわ、虹彩、網膜、耳、顔、声などによって識別するよ
うになっている。
【0003】例えば、指の関節しわから個人認証を行う
ものとしては、特開平10−261088号公報のもの
が知られている。これは、図12に示すように、被認証
者の照合すべき指1の長手方向と直交する方向に長い線
状の複数の出力電極2を指1の長手方向に沿って所定間
隔で配列した線状電極アレイ3を備えるとともに、この
線状電極アレイ3の指1の長手方向に沿った端部に指の
長手方向の幅が出力電極2よりも広い単一の入力電極4
を備えている。
ものとしては、特開平10−261088号公報のもの
が知られている。これは、図12に示すように、被認証
者の照合すべき指1の長手方向と直交する方向に長い線
状の複数の出力電極2を指1の長手方向に沿って所定間
隔で配列した線状電極アレイ3を備えるとともに、この
線状電極アレイ3の指1の長手方向に沿った端部に指の
長手方向の幅が出力電極2よりも広い単一の入力電極4
を備えている。
【0004】そして、各出力電極2にアナログスイッチ
群5の各スイッチを接続するとともに、この各スイッチ
をタイミングパルス発生部6からのタイミングパルスに
より順次オン、オフ制御し、指1を線状電極アレイ3の
各出力電極2及び入力電極4に接触させている状態で発
振器7からアナログスイッチ群5の各スイッチを介して
各出力電極2に、例えば、1MHzの発振周波数信号を
供給し、同時に入力電極4からの電圧信号を検波回路8
で検波し、A/D変換器9でデジタル信号に変換して出
力するという構成になっている。
群5の各スイッチを接続するとともに、この各スイッチ
をタイミングパルス発生部6からのタイミングパルスに
より順次オン、オフ制御し、指1を線状電極アレイ3の
各出力電極2及び入力電極4に接触させている状態で発
振器7からアナログスイッチ群5の各スイッチを介して
各出力電極2に、例えば、1MHzの発振周波数信号を
供給し、同時に入力電極4からの電圧信号を検波回路8
で検波し、A/D変換器9でデジタル信号に変換して出
力するという構成になっている。
【0005】この公報のものは、指1の第3関節部近傍
を入力電極4に接触させた状態で図13に示すように、
第1関節部及び第2関節部を線状電極アレイ3の各出力
電極2の上に接触させる操作を行う。このようにする
と、図中(a)の部分のように指1と出力電極2とが密着
している部分では指1と出力電極2との容量性結合が強
くなり、そのインピーダンスが小さくなるためにその部
分の信号V(i)の値は大きくなる。逆に図中(b)の第1関
節付近の横しわ、図中(c1)、(c2)の第2関節付近の横し
わの部分のように指1と出力電極2とが密着していない
部分では指1と出力電極2との容量性結合が弱くなり、
そのインピーダンスが大きくなるためにその部分の信号
V(i)の値は小さくなる。こうして指のしわの凹凸情報
を得ることができる。そして、この検出したしわの凹凸
情報を予め登録してある個人のしわの凹凸情報と比較照
合することで本人か否かの個人認証を行うことができ
る。
を入力電極4に接触させた状態で図13に示すように、
第1関節部及び第2関節部を線状電極アレイ3の各出力
電極2の上に接触させる操作を行う。このようにする
と、図中(a)の部分のように指1と出力電極2とが密着
している部分では指1と出力電極2との容量性結合が強
くなり、そのインピーダンスが小さくなるためにその部
分の信号V(i)の値は大きくなる。逆に図中(b)の第1関
節付近の横しわ、図中(c1)、(c2)の第2関節付近の横し
わの部分のように指1と出力電極2とが密着していない
部分では指1と出力電極2との容量性結合が弱くなり、
そのインピーダンスが大きくなるためにその部分の信号
V(i)の値は小さくなる。こうして指のしわの凹凸情報
を得ることができる。そして、この検出したしわの凹凸
情報を予め登録してある個人のしわの凹凸情報と比較照
合することで本人か否かの個人認証を行うことができ
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、検出回路8
が入力電極4から検出する電圧波形は、図14に示すよ
うに、線状電極アレイ3の各出力電極2のうち、両端に
位置する出力電極21,22に対する検出電圧がその出力
電極21,22よりも内側の出力電極2に対する検出電圧
よりも大きくなるという現象が発生する。
が入力電極4から検出する電圧波形は、図14に示すよ
うに、線状電極アレイ3の各出力電極2のうち、両端に
位置する出力電極21,22に対する検出電圧がその出力
電極21,22よりも内側の出力電極2に対する検出電圧
よりも大きくなるという現象が発生する。
【0007】この現象の原因を確認するために、図15
に示すように、線状電極アレイ3の各出力電極及び入力
電極4の上に、例えば、厚さ10μmのステンレス製シ
ステープ(導電シート)10を被せ、この上に密着性を
良くするために厚さ10mm程度のゲル11を介して負荷
荷重12をかけ、この状態で各出力電極2に電圧信号を
択一的に印加すると共に入力電極4から信号を検出する
試験を行ったところ、図16に示すような両端の波形が
極端に大きくなる電圧波形が検出された。すなわち、導
電シート10は各出力電極2及び入力電極4に対して密
着しているので、導電シートと各電極との間隔は一定で
あり、従って、検出した電圧波形はほぼ平坦になるはず
である。しかしながら、実際には各出力電極2のうち、
両端の出力電極に対する電圧波形が他の出力電極に対す
る電圧波形に比べて極端に大きくなった。
に示すように、線状電極アレイ3の各出力電極及び入力
電極4の上に、例えば、厚さ10μmのステンレス製シ
ステープ(導電シート)10を被せ、この上に密着性を
良くするために厚さ10mm程度のゲル11を介して負荷
荷重12をかけ、この状態で各出力電極2に電圧信号を
択一的に印加すると共に入力電極4から信号を検出する
試験を行ったところ、図16に示すような両端の波形が
極端に大きくなる電圧波形が検出された。すなわち、導
電シート10は各出力電極2及び入力電極4に対して密
着しているので、導電シートと各電極との間隔は一定で
あり、従って、検出した電圧波形はほぼ平坦になるはず
である。しかしながら、実際には各出力電極2のうち、
両端の出力電極に対する電圧波形が他の出力電極に対す
る電圧波形に比べて極端に大きくなった。
【0008】ところで、検出される電圧波形の大きさ
は、選択された出力電極2と入力電極4との間の全イン
ピーダンスに影響される。すなわち、図17に示すよう
に、インピーダンスは、選択された出力電極2と指1と
の間の静電容量を主とするインピーダンス成分Z1と、
選択された出力電極2に近接した指1の位置から入力電
極4に近接した指1の位置までの間のインピーダンス成
分Z2と、入力電極4と指1との間の静電容量を主とす
るインピーダンス成分Z3及び出力電極2の寄生インピ
ーダンス成分Z4からなる出力に影響することになる。
これを式で示すと、V(i)=R*V0/{f(Z1、Z2、
Z3、Z4、R)}となる。
は、選択された出力電極2と入力電極4との間の全イン
ピーダンスに影響される。すなわち、図17に示すよう
に、インピーダンスは、選択された出力電極2と指1と
の間の静電容量を主とするインピーダンス成分Z1と、
選択された出力電極2に近接した指1の位置から入力電
極4に近接した指1の位置までの間のインピーダンス成
分Z2と、入力電極4と指1との間の静電容量を主とす
るインピーダンス成分Z3及び出力電極2の寄生インピ
ーダンス成分Z4からなる出力に影響することになる。
これを式で示すと、V(i)=R*V0/{f(Z1、Z2、
Z3、Z4、R)}となる。
【0009】寄生インピーダンス成分Z4としては、近
接の出力電極との間の静電容量を主とするインピーダン
ス成分Z41、プリント回路基板13のベース基材を通じ
てのインピーダンス成分Z43、両端の出力電極の電極側
面と指1との間に発生する静電容量を主とするインピー
ダンス成分Z42などがあげられる。特に、インピーダン
ス成分Z41、Z42、Z43は出力電極の両端部とその内側
の出力電極との間で違いが生じ、この違いが出力に影響
を与えているものと考えられる。
接の出力電極との間の静電容量を主とするインピーダン
ス成分Z41、プリント回路基板13のベース基材を通じ
てのインピーダンス成分Z43、両端の出力電極の電極側
面と指1との間に発生する静電容量を主とするインピー
ダンス成分Z42などがあげられる。特に、インピーダン
ス成分Z41、Z42、Z43は出力電極の両端部とその内側
の出力電極との間で違いが生じ、この違いが出力に影響
を与えているものと考えられる。
【0010】なお、図17の(a)は、指1の先端側に位
置する端の出力電極2が選択されて発振器7から電圧V
0の発信周波数信号が供給されたときのインピーダンス
を示し、図17の(b)は、端から2番目の出力電極2が
選択されて発振器7から電圧V0の発信周波数信号が供
給されたときのインピーダンスを示し、図17の(c)
は、端から3番目の出力電極2が選択されて発振器7か
ら電圧V0の発信周波数信号が供給されたときのインピ
ーダンスを示している。
置する端の出力電極2が選択されて発振器7から電圧V
0の発信周波数信号が供給されたときのインピーダンス
を示し、図17の(b)は、端から2番目の出力電極2が
選択されて発振器7から電圧V0の発信周波数信号が供
給されたときのインピーダンスを示し、図17の(c)
は、端から3番目の出力電極2が選択されて発振器7か
ら電圧V0の発信周波数信号が供給されたときのインピ
ーダンスを示している。
【0011】端の出力電極2が選択されたときは、図1
7の(a)に示すように、インピーダンス成分Z42が発生
すると共に隣りの2番目の出力電極2のみとの間の静電
容量を主とするインピーダンス成分Z41/2が発生す
る。また、2番目の出力電極2が選択されたときは、図
17の(b)に示すように、インピーダンス成分Z42は発
生せず、隣りの1番目、3番目の出力電極2との間の静
電容量を主とするインピーダンス成分Z41/2、Z41/
2が発生する。また、インピーダンス成分Z2はZ2’に
変化する。また、3番目の出力電極2が選択されたとき
は、図17の(c)に示すように、インピーダンス成分Z4
2は発生せず、隣りの2番目、4番目の出力電極2との
間の静電容量を主とするインピーダンス成分Z41/2、
Z41/2が発生する。また、インピーダンス成分Z2は
Z2”に変化する。
7の(a)に示すように、インピーダンス成分Z42が発生
すると共に隣りの2番目の出力電極2のみとの間の静電
容量を主とするインピーダンス成分Z41/2が発生す
る。また、2番目の出力電極2が選択されたときは、図
17の(b)に示すように、インピーダンス成分Z42は発
生せず、隣りの1番目、3番目の出力電極2との間の静
電容量を主とするインピーダンス成分Z41/2、Z41/
2が発生する。また、インピーダンス成分Z2はZ2’に
変化する。また、3番目の出力電極2が選択されたとき
は、図17の(c)に示すように、インピーダンス成分Z4
2は発生せず、隣りの2番目、4番目の出力電極2との
間の静電容量を主とするインピーダンス成分Z41/2、
Z41/2が発生する。また、インピーダンス成分Z2は
Z2”に変化する。
【0012】図15に示すように指1の代わりに導電性
シート10を使用した場合には、抵抗値がほとんどなく
インピーダンス成分Z2はほぼ0と考えられる。また、
インピーダンス成分Z1は、出力電極2と導電性シート
10との間に介在するソルダーレジストの膜厚によって
決まり一定値と考えて良い。従って、両端の出力電極と
その内側の出力電極とで出力が大きく変ってしまう原因
は、隣接する出力電極へのもれ成分Z41/2や端の出力
電極からの回り込み成分Z42などが影響していると考え
られる。
シート10を使用した場合には、抵抗値がほとんどなく
インピーダンス成分Z2はほぼ0と考えられる。また、
インピーダンス成分Z1は、出力電極2と導電性シート
10との間に介在するソルダーレジストの膜厚によって
決まり一定値と考えて良い。従って、両端の出力電極と
その内側の出力電極とで出力が大きく変ってしまう原因
は、隣接する出力電極へのもれ成分Z41/2や端の出力
電極からの回り込み成分Z42などが影響していると考え
られる。
【0013】しかし、従来は、両端の出力電極が選択さ
れたときに発生する電圧波形もその内側の出力電極が選
択されたときの電圧波形と合成されて指1のしわの凹凸
情報を検出するための特徴波形として認識されることに
なって照合精度を低下させるという問題があった。
れたときに発生する電圧波形もその内側の出力電極が選
択されたときの電圧波形と合成されて指1のしわの凹凸
情報を検出するための特徴波形として認識されることに
なって照合精度を低下させるという問題があった。
【0014】そこで、請求項1及び2記載の発明は、第
1の電極群の両端の電極を電圧波形検出のための電極と
して使用しないことで個体認識のための照合精度を向上
できる個体認識装置を提供する。また、請求項3記載の
発明は、第1の電極群の両端の電極の外側にダミー電極
を配列することで、個体認識のための照合精度を向上で
きる個体認識装置を提供する。
1の電極群の両端の電極を電圧波形検出のための電極と
して使用しないことで個体認識のための照合精度を向上
できる個体認識装置を提供する。また、請求項3記載の
発明は、第1の電極群の両端の電極の外側にダミー電極
を配列することで、個体認識のための照合精度を向上で
きる個体認識装置を提供する。
【0015】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
複数の電極を所定の間隔をあけて配列した第1の電極群
と、この第1の電極群の各電極の配列方向に沿って認証
すべき個体をその各電極に接触させたときにこの個体が
同時に接触する第2の電極とを備え、第1の電極群の各
電極に電気信号を択一的に印加し、第1の電極群の各電
極のうち、両端の電極を除いた残りの電極に印加された
電気信号を第2の電極で検出し、この検出した信号に基
づいて個体認証を行うことにある。
複数の電極を所定の間隔をあけて配列した第1の電極群
と、この第1の電極群の各電極の配列方向に沿って認証
すべき個体をその各電極に接触させたときにこの個体が
同時に接触する第2の電極とを備え、第1の電極群の各
電極に電気信号を択一的に印加し、第1の電極群の各電
極のうち、両端の電極を除いた残りの電極に印加された
電気信号を第2の電極で検出し、この検出した信号に基
づいて個体認証を行うことにある。
【0016】請求項2記載の発明は、複数の電極を所定
の間隔をあけて配列した第1の電極群と、この第1の電
極群の各電極の配列方向に沿って認証すべき個体をその
各電極に接触させたときにこの個体が同時に接触する第
2の電極とを備え、第1の電極群の各電極のうち、両端
の電極を除いた残りの電極に電気信号を択一的に印加
し、第1の電極群に印加された電気信号を第2の電極で
検出し、この検出した信号に基づいて個体認証を行うこ
とにある。
の間隔をあけて配列した第1の電極群と、この第1の電
極群の各電極の配列方向に沿って認証すべき個体をその
各電極に接触させたときにこの個体が同時に接触する第
2の電極とを備え、第1の電極群の各電極のうち、両端
の電極を除いた残りの電極に電気信号を択一的に印加
し、第1の電極群に印加された電気信号を第2の電極で
検出し、この検出した信号に基づいて個体認証を行うこ
とにある。
【0017】請求項3記載の発明は、複数の電極を所定
の間隔をあけて配列した第1の電極群と、この第1の電
極群の両端の電極の外側に第1の電極群の各電極と同じ
間隔で配置したダミー電極と、第1の電極群の各電極の
配列方向に沿って認証すべき個体をその各電極に接触さ
せたときにこの個体が同時に接触する第2の電極とを備
え、第1の電極群の各電極に電気信号を択一的に印加
し、この第1の電極群の各電極に印加された電気信号を
第2の電極で検出し、この検出した信号に基づいて個体
認証を行うことにある。
の間隔をあけて配列した第1の電極群と、この第1の電
極群の両端の電極の外側に第1の電極群の各電極と同じ
間隔で配置したダミー電極と、第1の電極群の各電極の
配列方向に沿って認証すべき個体をその各電極に接触さ
せたときにこの個体が同時に接触する第2の電極とを備
え、第1の電極群の各電極に電気信号を択一的に印加
し、この第1の電極群の各電極に印加された電気信号を
第2の電極で検出し、この検出した信号に基づいて個体
認証を行うことにある。
【0018】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面を参照
して説明する。なお、この実施の形態は本発明を指のし
わの凹凸情報を検出して照合し認証する個人認証装置に
適用したものについて述べる。
して説明する。なお、この実施の形態は本発明を指のし
わの凹凸情報を検出して照合し認証する個人認証装置に
適用したものについて述べる。
【0019】(第1の実施の形態)図1の(a)、(b)に示
すように、被測定者の指21の第1関節21a及び第2
関節21bをカバーするように指の長手方向に沿って複
数の電極を出力電極22として配列した第1の電極群2
3を設け、この第1の電極群23の外側である指の付根
側に所定の間隔を開けて単一の入力電極24を配置して
いる。すなわち、前記入力電極24は前記第1の電極群
23に指21の長手方向を沿わせて接触させた時、その
指21の付根近傍が接触するようになっている。
すように、被測定者の指21の第1関節21a及び第2
関節21bをカバーするように指の長手方向に沿って複
数の電極を出力電極22として配列した第1の電極群2
3を設け、この第1の電極群23の外側である指の付根
側に所定の間隔を開けて単一の入力電極24を配置して
いる。すなわち、前記入力電極24は前記第1の電極群
23に指21の長手方向を沿わせて接触させた時、その
指21の付根近傍が接触するようになっている。
【0020】前記第1の電極群23の各出力電極22
は、例えば、0.2mmピッチで200本配列し、全体で長
さが40mmで指21の第1関節21a及び第2関節21
bを充分にカバーできる長さになっている。
は、例えば、0.2mmピッチで200本配列し、全体で長
さが40mmで指21の第1関節21a及び第2関節21
bを充分にカバーできる長さになっている。
【0021】そして、前記第1の電極群23及び入力電
極24に対して指21を接触している状態で前記第1の
電極群23の各出力電極22に所定周波数の信号を択一
的に供給する出力電極ドライブ回路25を設け、また、
前記第1の電極群23及び入力電極24に対して指21
を接触している状態で前記入力電極24から信号を検出
する検出回路26を設けている。
極24に対して指21を接触している状態で前記第1の
電極群23の各出力電極22に所定周波数の信号を択一
的に供給する出力電極ドライブ回路25を設け、また、
前記第1の電極群23及び入力電極24に対して指21
を接触している状態で前記入力電極24から信号を検出
する検出回路26を設けている。
【0022】前記出力電極ドライブ回路25は、図2に
示すように、200個の2入力アンドゲートAND1,
AND2,AND3,…AND200を設け、この各アンド
ゲートAND1〜AND200の一方の入力端子に図3の
(b)に示すような電極選択信号SEL1,SEL2,SE
L3,…SEL200をそれぞれ順次択一的に供給すると共
に他方の入力端子に図3の(a)に示すような共通のキャ
リア信号を供給している。
示すように、200個の2入力アンドゲートAND1,
AND2,AND3,…AND200を設け、この各アンド
ゲートAND1〜AND200の一方の入力端子に図3の
(b)に示すような電極選択信号SEL1,SEL2,SE
L3,…SEL200をそれぞれ順次択一的に供給すると共
に他方の入力端子に図3の(a)に示すような共通のキャ
リア信号を供給している。
【0023】前記キャリア信号は、数百kHz〜数MH
z程度の周波数、例えば、2MHzの周波数で所定振幅
の高周波信号で、前記電極選択信号SEL1,SEL2,
SEL3,…SEL200が前記アンドゲートAND1〜A
ND200に入力するタイミングで前記各出力電極22(1)
〜22(200)に順次択一的に供給するようになってい
る。例えば、図4に示すように、電極選択信号SEL1
がアンドゲートAND1に入力するタイミングでキャリ
ア信号がその期間だけ第1の出力電極22(1)に駆動信
号として供給することになる。
z程度の周波数、例えば、2MHzの周波数で所定振幅
の高周波信号で、前記電極選択信号SEL1,SEL2,
SEL3,…SEL200が前記アンドゲートAND1〜A
ND200に入力するタイミングで前記各出力電極22(1)
〜22(200)に順次択一的に供給するようになってい
る。例えば、図4に示すように、電極選択信号SEL1
がアンドゲートAND1に入力するタイミングでキャリ
ア信号がその期間だけ第1の出力電極22(1)に駆動信
号として供給することになる。
【0024】前記検出回路26は、図5に示すように、
増幅器27、検波回路28、A/D変換器29、発振器
30、制御回路31、I/F(インターフェース)回路
32からなり、前記入力電極24からの微弱信号を前記
増幅器27で増幅した後、前記検波回路28で検波し、
この検波出力を前記A/D変換器29でデジタル信号に
変換してから前記制御回路31に供給するようになって
いる。
増幅器27、検波回路28、A/D変換器29、発振器
30、制御回路31、I/F(インターフェース)回路
32からなり、前記入力電極24からの微弱信号を前記
増幅器27で増幅した後、前記検波回路28で検波し、
この検波出力を前記A/D変換器29でデジタル信号に
変換してから前記制御回路31に供給するようになって
いる。
【0025】前記発振器30は前記検波回路28及びA
/D変換器29に動作クロックを供給してその動作タイ
ミングを作っている。前記制御回路31はI/F回路3
2を制御し、A/D変換器29からのデジタル信号をI
/F回路32を経由してパーソナルコンピュータ(P
C)などの外部装置33に送信するようになっている。
/D変換器29に動作クロックを供給してその動作タイ
ミングを作っている。前記制御回路31はI/F回路3
2を制御し、A/D変換器29からのデジタル信号をI
/F回路32を経由してパーソナルコンピュータ(P
C)などの外部装置33に送信するようになっている。
【0026】このような構成においては、第1の電極群
23の各出力電極22及び入力電極24に指21を接触
させた状態で電極選択信号SEL1〜SEL200を各出力
電極22に順次択一的に供給すると、あるタイミングで
は図6に示すように出力電極22の1つからキャリア信
号がその電極上の指の位置から指の中を通って入力電極
24に流れる。そして、入力電極24からキャリア信号
に乗ったインピーダンス情報が取出される。
23の各出力電極22及び入力電極24に指21を接触
させた状態で電極選択信号SEL1〜SEL200を各出力
電極22に順次択一的に供給すると、あるタイミングで
は図6に示すように出力電極22の1つからキャリア信
号がその電極上の指の位置から指の中を通って入力電極
24に流れる。そして、入力電極24からキャリア信号
に乗ったインピーダンス情報が取出される。
【0027】キャリア信号の振幅はインピーダンスに応
じて上下する。入力電極24からのキャリア信号を検出
回路26で検出し、これを検出回路26において増幅器
27で増幅した後、検波回路28を通してキャリア成分
を除去し、A/D変換器29でデジタル信号に変換す
る。そして、外部装置33はこのデジタル信号を取込
む。このデジタル信号から指21の局所的なしわの凹凸
情報を得ることができる。
じて上下する。入力電極24からのキャリア信号を検出
回路26で検出し、これを検出回路26において増幅器
27で増幅した後、検波回路28を通してキャリア成分
を除去し、A/D変換器29でデジタル信号に変換す
る。そして、外部装置33はこのデジタル信号を取込
む。このデジタル信号から指21の局所的なしわの凹凸
情報を得ることができる。
【0028】図7は指21を第1の電極群23と入力電
極24からなるセンサ部に載せるときの状態を示す斜視
図で、指21をセンサ面である第1の電極群23の各出
力電極22と入力電極24の上に置いて各出力電極22
に対するキャリア信号の択一的供給を行うと、検出回路
26が検出する指のしわの凹凸情報の特徴波形は図8に
示すようになる。
極24からなるセンサ部に載せるときの状態を示す斜視
図で、指21をセンサ面である第1の電極群23の各出
力電極22と入力電極24の上に置いて各出力電極22
に対するキャリア信号の択一的供給を行うと、検出回路
26が検出する指のしわの凹凸情報の特徴波形は図8に
示すようになる。
【0029】このような信号波形を外部装置33がデジ
タル信号として取込んだ後、バンドパスフィルタ処理を
行ってDC成分や高周波成分を除去するデジタル処理を
行ってから振幅を規格化し最終的に個人のしわの凹凸情
報のデータとして取出す。このとき、凹凸情報のデータ
から最初のデータと最後のデータを削除する。すなわ
ち、第1の電極群23の各出力電極22のうち、両端の
出力電極に対応するデータを削除する。なお、この時、
両端のデータを削除せずに、1つ内側のデータと同じデ
ータに置き換えても良い。
タル信号として取込んだ後、バンドパスフィルタ処理を
行ってDC成分や高周波成分を除去するデジタル処理を
行ってから振幅を規格化し最終的に個人のしわの凹凸情
報のデータとして取出す。このとき、凹凸情報のデータ
から最初のデータと最後のデータを削除する。すなわ
ち、第1の電極群23の各出力電極22のうち、両端の
出力電極に対応するデータを削除する。なお、この時、
両端のデータを削除せずに、1つ内側のデータと同じデ
ータに置き換えても良い。
【0030】こうして得たしわの凹凸情報のデータを予
め登録してある各個人のデータと比較照合することで個
人の認証を行う。この比較照合時にはデータの位置合わ
せを行う。比較照合する2つのデータ間の誤差を算出す
る方法は各種あるが、例えば、位置合わせ後に単純に2
つのデータの差の絶対値、さらには差の絶対値の二乗の
累積を計算して誤差を求める。
め登録してある各個人のデータと比較照合することで個
人の認証を行う。この比較照合時にはデータの位置合わ
せを行う。比較照合する2つのデータ間の誤差を算出す
る方法は各種あるが、例えば、位置合わせ後に単純に2
つのデータの差の絶対値、さらには差の絶対値の二乗の
累積を計算して誤差を求める。
【0031】通常の照合方法は、予め登録してあるデー
タと取込んだデータの双方に同じ何等かのフィルタをデ
ジタル処理にてかけ、信号の規格化を行った後に両者の
位置合わせを行い照合率を任意の方法で計算して類似度
を算出し、類似度が設定した閾値を越えたか否かで本人
か他人かを判別する。
タと取込んだデータの双方に同じ何等かのフィルタをデ
ジタル処理にてかけ、信号の規格化を行った後に両者の
位置合わせを行い照合率を任意の方法で計算して類似度
を算出し、類似度が設定した閾値を越えたか否かで本人
か他人かを判別する。
【0032】すなわち、図9に示すように、外部装置3
3は予め検出回路26から個人毎に指のしわの凹凸情報
を複数回取込み、このデータをフィルタリング手段33
1にてフィルタリングしてDC成分と高周波成分を取り
除いた後、振幅、規格化手段332にて規格化して辞書
データ格納部333に辞書データとして格納しておく。
そして、比較照合時には、振幅、規格化手段332にて
規格化したデータと辞書データ格納部333のデータを
位置合わせ手段334にて位置合わせを行ってから照合
/判別手段335にて比較照合し個人の認証判定を行
う。
3は予め検出回路26から個人毎に指のしわの凹凸情報
を複数回取込み、このデータをフィルタリング手段33
1にてフィルタリングしてDC成分と高周波成分を取り
除いた後、振幅、規格化手段332にて規格化して辞書
データ格納部333に辞書データとして格納しておく。
そして、比較照合時には、振幅、規格化手段332にて
規格化したデータと辞書データ格納部333のデータを
位置合わせ手段334にて位置合わせを行ってから照合
/判別手段335にて比較照合し個人の認証判定を行
う。
【0033】照合に使用する閾値は、通常、取込んだ多
人数のデータからFAR(False Acceptance Rate 他人
受入率)とFRR(False Rejection Rate 本人拒否率)を
算出し、任意の一定値に設定する。すなわち、沢山のサ
ンプルから算出した平均的なFRR、FARの特性カー
ブから閾値を決める。なお、FARとは、他人を本人と
間違えて受入れてしまう確率を表わし、FRRとは、本
人なのに拒絶してしまう確率を表わす。従って、FAR
とFRRは相反する特性であり、一方を厳しくすると他
方が甘くなり、閾値の設定次第で特性を変化させること
が可能となる。
人数のデータからFAR(False Acceptance Rate 他人
受入率)とFRR(False Rejection Rate 本人拒否率)を
算出し、任意の一定値に設定する。すなわち、沢山のサ
ンプルから算出した平均的なFRR、FARの特性カー
ブから閾値を決める。なお、FARとは、他人を本人と
間違えて受入れてしまう確率を表わし、FRRとは、本
人なのに拒絶してしまう確率を表わす。従って、FAR
とFRRは相反する特性であり、一方を厳しくすると他
方が甘くなり、閾値の設定次第で特性を変化させること
が可能となる。
【0034】このように、各出力電極22に対応した信
号波形から得た検出データのうち、両端の出力電極に対
応した検出データを削除するか内側のデータと置き換え
るかして照合に使用しないようにしているので、両端の
出力電極に現れる異常に高い電圧波形が照合に全く関与
しないので、照合精度を向上させることができる。
号波形から得た検出データのうち、両端の出力電極に対
応した検出データを削除するか内側のデータと置き換え
るかして照合に使用しないようにしているので、両端の
出力電極に現れる異常に高い電圧波形が照合に全く関与
しないので、照合精度を向上させることができる。
【0035】なお、この実施の形態では、フィルタリン
グ手段、振幅、規格化手段、辞書データ格納部、位置合
わせ手段及び照合/判別手段を外部装置33に設け、こ
の外部装置33で比較照合処理を行うようにしたが必ず
しもこれに限定するものではなく、これらを検出回路2
6内に設け、検出回路内で比較照合処理を行うようにし
てもよい。
グ手段、振幅、規格化手段、辞書データ格納部、位置合
わせ手段及び照合/判別手段を外部装置33に設け、こ
の外部装置33で比較照合処理を行うようにしたが必ず
しもこれに限定するものではなく、これらを検出回路2
6内に設け、検出回路内で比較照合処理を行うようにし
てもよい。
【0036】(第2の実施の形態)これは、図10に示
すように、第1の電極群23の各出力電極22のうち、
両端の出力電極221、222を除く残りの出力電極22
に対してのみ出力電極ドライブ回路からキャリア信号を
択一的に供給するようにしている。
すように、第1の電極群23の各出力電極22のうち、
両端の出力電極221、222を除く残りの出力電極22
に対してのみ出力電極ドライブ回路からキャリア信号を
択一的に供給するようにしている。
【0037】このようすれば、両端の出力電極に対応す
る電圧波形が検出されることはなく、検出される電圧波
形は両端の出力電極を除く内側の198本の出力電極に
対応する電圧波形のみとなる。すなわち、照合に関与す
る検出電圧波形は全て同じ寄生インピーダンス成分をも
つ条件の出力電極に対応して検出された電圧波形であ
り、従って、図10に示すように検出電圧波形において
両端に異常に大きいレベルの電圧波形が現れることはな
い。従って、この検出電圧波形を検波しデジタル処理し
て比較照合することで、しわの凹凸の照合精度を向上さ
せることができる。
る電圧波形が検出されることはなく、検出される電圧波
形は両端の出力電極を除く内側の198本の出力電極に
対応する電圧波形のみとなる。すなわち、照合に関与す
る検出電圧波形は全て同じ寄生インピーダンス成分をも
つ条件の出力電極に対応して検出された電圧波形であ
り、従って、図10に示すように検出電圧波形において
両端に異常に大きいレベルの電圧波形が現れることはな
い。従って、この検出電圧波形を検波しデジタル処理し
て比較照合することで、しわの凹凸の照合精度を向上さ
せることができる。
【0038】なお、このものにおいて、両端の出力電極
221、222をGND(グランド)に接続するとともに
残りの出力電極22のうち、選択された出力電極以外の
出力電極もGNDに接続するようにすれば、電極間の浮
遊容量や配線の引き回しなどに伴う浮遊容量等の影響で
発生する出力のばらつきを抑えることができる。
221、222をGND(グランド)に接続するとともに
残りの出力電極22のうち、選択された出力電極以外の
出力電極もGNDに接続するようにすれば、電極間の浮
遊容量や配線の引き回しなどに伴う浮遊容量等の影響で
発生する出力のばらつきを抑えることができる。
【0039】(第3の実施の形態)これは、図11に示
すように、第1の電極群23の各出力電極22における
両端の出力電極の外側にこの第1の電極群23の各出力
電極22と同じ形状、同じ材質、同じ間隔のダミー電極
341、342を配列したものである。この場合は、第1
の電極群23の各出力電極22全てに出力電極ドライブ
回路からキャリア信号を択一的に供給する。
すように、第1の電極群23の各出力電極22における
両端の出力電極の外側にこの第1の電極群23の各出力
電極22と同じ形状、同じ材質、同じ間隔のダミー電極
341、342を配列したものである。この場合は、第1
の電極群23の各出力電極22全てに出力電極ドライブ
回路からキャリア信号を択一的に供給する。
【0040】このようすれば、第1の電極群23の両端
の出力電極22における寄生インピーダンス成分Z4に
おける、近接の出力電極との間の静電容量を主とするイ
ンピーダンス成分Z41及びプリント回路基板のベース基
材を通じてのインピーダンス成分Z43が内側の各出力電
極22における寄生インピーダンス成分Z4における、
インピーダンス成分Z41及びインピーダンス成分Z43と
同じになるので、両端の出力電極に対応する検出電圧波
形のレベルが異常に高くなるという現象は発生しなくな
る。
の出力電極22における寄生インピーダンス成分Z4に
おける、近接の出力電極との間の静電容量を主とするイ
ンピーダンス成分Z41及びプリント回路基板のベース基
材を通じてのインピーダンス成分Z43が内側の各出力電
極22における寄生インピーダンス成分Z4における、
インピーダンス成分Z41及びインピーダンス成分Z43と
同じになるので、両端の出力電極に対応する検出電圧波
形のレベルが異常に高くなるという現象は発生しなくな
る。
【0041】従って、第1の電極群23の各出力電極に
対応して発生した検出電圧波形を検波しデジタル処理し
て比較照合することで、しわの凹凸の照合精度を向上さ
せることができる。また、両端の出力電極を犠牲にする
ことなく、200本の出力電極の全てを有効に使用でき
る。
対応して発生した検出電圧波形を検波しデジタル処理し
て比較照合することで、しわの凹凸の照合精度を向上さ
せることができる。また、両端の出力電極を犠牲にする
ことなく、200本の出力電極の全てを有効に使用でき
る。
【0042】なお、このものにおいて、両端のダミー電
極341、342をGND(グランド)に接続するととも
に各出力電極22のうち、選択された出力電極以外の出
力電極もGNDに接続するようにすれば、電極間の浮遊
容量や配線の引き回しなどに伴う浮遊容量等の影響で発
生する出力のばらつきを抑えることができる。
極341、342をGND(グランド)に接続するととも
に各出力電極22のうち、選択された出力電極以外の出
力電極もGNDに接続するようにすれば、電極間の浮遊
容量や配線の引き回しなどに伴う浮遊容量等の影響で発
生する出力のばらつきを抑えることができる。
【0043】なお、前述した各実施の形態は第1の電極
群を出力電極とし、単一の電極を入力電極としたが必ず
しもこれに限定するものではなく、逆に、第1の電極群
の各電極を入力電極とし、単一の電極を出力電極として
も良い。この場合は、単一の出力電極からキャリア信号
を供給し、各入力電極から択一的に信号を検出し、これ
を合成して検出電圧波形を得ることになる。
群を出力電極とし、単一の電極を入力電極としたが必ず
しもこれに限定するものではなく、逆に、第1の電極群
の各電極を入力電極とし、単一の電極を出力電極として
も良い。この場合は、単一の出力電極からキャリア信号
を供給し、各入力電極から択一的に信号を検出し、これ
を合成して検出電圧波形を得ることになる。
【0044】なお、前述した各実施の形態はこの発明を
指のしわの凹凸情報を検出して照合し認証する個人認証
装置に適用したものについて述べたが必ずしもこれに限
定するものではなく、指の指紋を検出して照合し認証す
る個人認証装置にも適用でき、さらには、人以外の個体
認証にも適用できるものである。
指のしわの凹凸情報を検出して照合し認証する個人認証
装置に適用したものについて述べたが必ずしもこれに限
定するものではなく、指の指紋を検出して照合し認証す
る個人認証装置にも適用でき、さらには、人以外の個体
認証にも適用できるものである。
【0045】
【発明の効果】請求項1及び2記載の発明によれば、第
1の電極群の両端の電極を電圧波形検出のための電極と
して使用しないことで個体認識のための照合精度を向上
できる。
1の電極群の両端の電極を電圧波形検出のための電極と
して使用しないことで個体認識のための照合精度を向上
できる。
【0046】また、請求項3記載の発明によれば、第1
の電極群の両端の電極の外側にダミー電極を配列するこ
とで、個体認識のための照合精度を向上できる。
の電極群の両端の電極の外側にダミー電極を配列するこ
とで、個体認識のための照合精度を向上できる。
【図1】本発明の第1の実施の形態を示すセンサ部を含
むブロック図。
むブロック図。
【図2】同実施の形態における出力電極ドライブ回路の
回路構成図。
回路構成図。
【図3】同実施の形態における出力電極ドライブ回路か
らの入力信号を示す信号波形図。
らの入力信号を示す信号波形図。
【図4】同実施の形態における出力電極ドライブ回路か
らの入力信号例を示す信号波形図。
らの入力信号例を示す信号波形図。
【図5】同実施の形態における検出回路の構成を示すブ
ロック図。
ロック図。
【図6】同実施の形態におけるセンサ部への指の接触と
信号の流れを説明するための図。
信号の流れを説明するための図。
【図7】同実施の形態におけるセンサ部に指の載せる状
態を示す斜視図。
態を示す斜視図。
【図8】同実施の形態における指のしわの凹凸情報の特
徴波形を示す図。
徴波形を示す図。
【図9】同実施の形態における外部装置の機能ブロック
図。
図。
【図10】本発明の第2の実施の形態における出力電極
配列と検出電圧波形との関係を示す図。
配列と検出電圧波形との関係を示す図。
【図11】本発明の第3の実施の形態における出力電極
とダミー電極の配列関係を示す図。
とダミー電極の配列関係を示す図。
【図12】従来例を示すブロック図。
【図13】同従来例の指の凹凸情報検出動作を説明する
ための図。
ための図。
【図14】同従来例における出力電極配列と検出電圧波
形との関係を示す図。
形との関係を示す図。
【図15】両端の出力電極に対応した検出電圧波形の電
圧レベルが異常に高くなる現象を確認するための一例を
説明するための図。
圧レベルが異常に高くなる現象を確認するための一例を
説明するための図。
【図16】図15において検出した電圧波形を示す図。
【図17】センサ部に指を載せて選択する出力電極を端
から変化させて入力電極から電圧波形を検出する場合
に、検出に関与する各インピーダンス成分を説明するた
めの図。
から変化させて入力電極から電圧波形を検出する場合
に、検出に関与する各インピーダンス成分を説明するた
めの図。
21…指 22…出力電極 23…第1の電極群 24…入力電極 25…出力電極ドライブ回路 26…検出回路 33…外部装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 井手 賢一 神奈川県川崎市幸区柳町70番地 株式会社 東芝柳町工場内 Fターム(参考) 2F063 AA41 BA29 DA02 DA05 DD06 HA04 4C027 AA06 DD05 EE01 FF00 FF01 KK01 KK03 4C038 FF01 FF05 FG00 5B047 AA23 BA02 BC01
Claims (3)
- 【請求項1】 複数の電極を所定の間隔をあけて配列し
た第1の電極群と、この第1の電極群の各電極の配列方
向に沿って認証すべき個体をその各電極に接触させたと
きにこの個体が同時に接触する第2の電極とを備え、前
記第1の電極群の各電極に電気信号を択一的に印加し、
前記第1の電極群の各電極のうち、両端の電極を除いた
残りの電極に印加された電気信号を前記第2の電極で検
出し、この検出した信号に基づいて個体認証を行うこと
を特徴とする個体認証装置。 - 【請求項2】 複数の電極を所定の間隔をあけて配列し
た第1の電極群と、この第1の電極群の各電極の配列方
向に沿って認証すべき個体をその各電極に接触させたと
きにこの個体が同時に接触する第2の電極とを備え、前
記第1の電極群の各電極のうち、両端の電極を除いた残
りの電極に電気信号を択一的に印加し、前記第1の電極
群に印加された電気信号を前記第2の電極で検出し、こ
の検出した信号に基づいて個体認証を行うことを特徴と
する個体認証装置。 - 【請求項3】 複数の電極を所定の間隔をあけて配列し
た第1の電極群と、この第1の電極群の両端の電極の外
側に第1の電極群の各電極と同じ間隔で配置したダミー
電極と、前記第1の電極群の各電極の配列方向に沿って
認証すべき個体をその各電極に接触させたときにこの個
体が同時に接触する第2の電極とを備え、前記第1の電
極群の各電極に電気信号を択一的に印加し、この第1の
電極群の各電極に印加された電気信号を前記第2の電極
で検出し、この検出した信号に基づいて個体認証を行う
ことを特徴とする個体認証装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11197513A JP2001017412A (ja) | 1999-07-12 | 1999-07-12 | 個体認証装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11197513A JP2001017412A (ja) | 1999-07-12 | 1999-07-12 | 個体認証装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001017412A true JP2001017412A (ja) | 2001-01-23 |
Family
ID=16375726
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11197513A Pending JP2001017412A (ja) | 1999-07-12 | 1999-07-12 | 個体認証装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001017412A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005520615A (ja) * | 2002-03-25 | 2005-07-14 | ストッキンジヤー,クリスチァン | 測定装置と測定誤差を減らす方法 |
WO2010050607A1 (ja) * | 2008-10-31 | 2010-05-06 | 株式会社フジクラ | 静電容量型センサ |
WO2016110847A1 (en) | 2015-01-08 | 2016-07-14 | Medasense Biometrics Ltd. | An electrode array for physiological monitoring and device including or utilizing same |
KR20200097718A (ko) * | 2017-12-21 | 2020-08-19 | 핑거프린트 카드즈 에이비 | 에지 보정 구조를 갖는 지문 감지 장치 |
-
1999
- 1999-07-12 JP JP11197513A patent/JP2001017412A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005520615A (ja) * | 2002-03-25 | 2005-07-14 | ストッキンジヤー,クリスチァン | 測定装置と測定誤差を減らす方法 |
WO2010050607A1 (ja) * | 2008-10-31 | 2010-05-06 | 株式会社フジクラ | 静電容量型センサ |
CN102203547A (zh) * | 2008-10-31 | 2011-09-28 | 株式会社藤仓 | 静电容量型传感器 |
WO2016110847A1 (en) | 2015-01-08 | 2016-07-14 | Medasense Biometrics Ltd. | An electrode array for physiological monitoring and device including or utilizing same |
EP3242593A4 (en) * | 2015-01-08 | 2018-11-07 | Medasense Biometrics Ltd. | An electrode array for physiological monitoring and device including or utilizing same |
JP2021168996A (ja) * | 2015-01-08 | 2021-10-28 | メダセンス バイオメトリクス リミテッド | 生物学的監視のための電極アレイ及び同を含む又は同を活用する装置 |
KR20200097718A (ko) * | 2017-12-21 | 2020-08-19 | 핑거프린트 카드즈 에이비 | 에지 보정 구조를 갖는 지문 감지 장치 |
JP2021509026A (ja) * | 2017-12-21 | 2021-03-18 | フィンガープリント カーズ アクティエボラーグ | エッジ補償構造を有する指紋検出装置 |
KR102712497B1 (ko) * | 2017-12-21 | 2024-10-02 | 핑거프린트 카드즈 아나카툼 아이피 에이비 | 에지 보정 구조를 갖는 지문 감지 장치 |
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