JP2001015471A - 異物除去装置 - Google Patents

異物除去装置

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JP2001015471A
JP2001015471A JP18331199A JP18331199A JP2001015471A JP 2001015471 A JP2001015471 A JP 2001015471A JP 18331199 A JP18331199 A JP 18331199A JP 18331199 A JP18331199 A JP 18331199A JP 2001015471 A JP2001015471 A JP 2001015471A
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JP
Japan
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box
foreign matter
suction port
nozzle
semiconductor device
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Pending
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JP18331199A
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English (en)
Inventor
Masayuki Borino
正幸 堀ノ
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Toshiba Corp
Japan Semiconductor Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Iwate Toshiba Electronics Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体装置の異物除去が効率的に行え、また
高密度化したものについても歩留を向上させることがで
きる異物除去装置を提供する。 【解決手段】 CCDのセラミックパッケージ16を導
入し異物除去面の撮像面17を上方に向けて下端開口部
2aに保持する第1のボックス2と、この下端開口部2
aに保持されたセラミックパッケージ16を下方側から
囲むようにして第1のボックス2の下端に配置される第
2のボックス3と、第1のボックス2内に設けられ揺動
しながらノズル8から撮像面17での圧力が9.81×
10〜4.903×10パスカルとなるように空気
を吹き付けるノズル部5と、第1のボックス2及び第2
のボックス3に設けられた第1の吸引口6及び第2の吸
引口15とを備え、撮像面17の異物除去を第1の吸引
口6及び第2の吸引口15での吸引を行いながらノズル
部5により空気を吹き付けて行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、CCDなどの固体
撮像素子やイメージセンサ等の半導体装置の製造過程で
用いる異物除去装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えばCCDなどの固体撮像素子では、
より精細な画像を得るために画素数を飛躍的に増加させ
た高密度化されたものとなってきている。そして、この
ような中で異物の除去が大きな課題となっており、固体
撮像素子の製造過程では、1つの工程から次の工程に進
む間に異物を除去するためのクリーニング工程を設ける
などして、異物の除去が常になされている。このような
状況のもと、マウントキュア後のセラミックパッケージ
についてはボンディングワイヤのボンディングがなされ
るが、このマウントキュア工程からボンディング工程に
移行する間については、従来、特に異物除去の必要がな
かった。
【0003】しかし、高密度化が進むに連れてマウント
キュア後のセラミックパッケージの撮像面に付着した従
来では許容されていた異物によって歩留が悪化してしま
う状況になってきている。このため、マウントキュア工
程から次のボンディング工程に送り込む際に、セラミッ
クパッケージに付着した異物の除去を有効に行うことが
できる異物除去装置が強く望まれている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記のような状況に鑑
みて本発明はなされたもので、その目的とするところは
半導体装置等の異物除去を効率的に行うことができ、高
密度化したものについても歩留を向上させることができ
る異物除去装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の異物除去装置
は、半導体装置を導入して異物除去面を上方に向けた状
態で下端開口部に保持する第1のボックスと、この第1
のボックスの下端開口部に保持された半導体装置を下方
側から囲むようにして第1のボックスの下端に配置され
る第2のボックスと、第1のボックス内に設けられ揺動
しながら半導体装置の異物除去面に所定圧力で気体を吹
き付けるノズル部と、第1のボックス及び第2のボック
スにそれぞれ設けられた第1の吸引口及び第2の吸引口
とを具備していることを特徴とするものであり、さら
に、吹付け気体により異物除去面が受ける圧力が、9.
81×10〜4.903×10パスカルであること
を特徴とするものであり、さらに、吹出気体が、空気あ
るいは窒素ガスであることを特徴とするものであり、さ
らに、ノズル部が、1つまたは多数のノズル孔を有する
ものであることを特徴とするものであり、さらにい、異
物除去の際、ノズル部からの気体吹出と第1の吸引口及
び第2の吸引口による吸引を同時に行うようにしたこと
を特徴とするものである。
【0006】
【発明の実施の形態】以下本発明の一実施形態を、図1
を参照して説明する。図1は概略構成を示す縦断面図で
あって、図1において、異物除去装置1は、互いに上下
方向に進退して接近したり離れたりするよう動作する第
1のボックス2と第2のボックス3とを備え、また第1
のボックス2と第2のボックス3とはそれぞれ下端開口
部2a及び上端開口部3a有するものとなっている。そ
して、第1のボックス2の内部には上部に揺動軸4を中
心に揺動するよう支持されたノズル部5が設けられてい
る。さらに、第1のボックス2の直筒状の側壁2bに
は、内部に開口するように第1の吸引口6が形成されて
おり、第1の吸引口6には図示しない真空ポンプ等の減
圧源が接続されていて、第1の吸引口6を介し第1のボ
ックス2の内部の吸引が行われるようになっている。
【0007】また、ノズル部5は、中間部に駆動軸7が
設けられていて、駆動軸7が図示しない駆動機構によっ
て紙面内で左右方向に駆動されることにより、下端側が
矢印Aで示すように垂直下方から左右方向に所定範囲で
揺動するようになっている。さらに、ノズル部5の下端
部分には、図示しない1つあるいは多数のノズル孔が形
成されたノズル8が固定されており、またノズル部5の
上部にはノズル8に連通する接続口9が設けられてい
る。そして、接続口9には可撓性を有するパイプ10の
一端が接続されており、またパイプ10の他端は第1の
ボックス2の天井部2cに貫通するように設けられた貫
通継手11の内方側に接続されている。なお、貫通継手
11の外方側には図示しない高圧送気装置に接続された
送気パイプ12が接続されている。
【0008】一方、第2のボックス3は、第1のボック
ス2の下端開口部2aと略同形状の上端開口部3aが形
成された大形状部13と、これより小形状の小形状部1
4とでなるもので、両形状部13,14は中間開口部1
4aを介して連通し、小形状部14の下端は底部14c
により閉塞されている。また、小形状部14の直筒状の
側壁14bには、内部に開口するよう第2の吸引口15
が形成されており、第2の吸引口15には第1のボック
ス2に設けられた第1の吸引口6と同様に、真空ポンプ
等の減圧源が接続されていて、第2の吸引口15を介し
第2のボックス3の内部の吸引が行われるようになって
いる。そして、第2のボックス3は、第1のボックス2
の下端開口部2aの直下に上端開口部3aが位置するよ
うに配置されている。
【0009】また、16は異物除去を行う対象のマウン
トキュア後の半導体装置、例えばCCDのセラミックパ
ッケージであり、CCDのセラミックパッケージ16は
撮像面17を上方側として搬送治具18に支持され、そ
の状態のままで図示しないが製造ラインを搬送されるよ
うになっている。
【0010】そして、上記のように構成された異物除去
装置1によるCCDのセラミックパッケージ16の撮像
面17に付着した異物除去は、次のようにして行われ
る。すなわち、先ず第1の過程で第1のボックス2と第
2のボックス3とが上下に後退した位置にある状態で、
搬送治具18に支持されたCCDのセラミックパッケー
ジ16が第1のボックス2の下端開口部2aの直下に搬
送され、位置決めされる。続いて、第1のボックス2と
第2のボックス3とを互いに近づく方向に進行させて、
セラミックパッケージ16を両ボックス2,3内に収納
するようにする。この時、両ボックス2,3の下端開口
部2a、上端開口部3aのそれぞれの端面を、搬送治具
18を間に挟むようにして略密着させる。
【0011】次に、第2の過程で真空ポンプ等の減圧源
を作動させ、第1の吸引口6及び第2の吸引口15を介
して第1のボックス2と第2のボックス3の内部を、約
6.67×10パスカルの圧力で吸引する。また同時
に、駆動機構と高圧送気装置を作動させ、駆動軸7によ
りノズル部5を駆動し、揺動軸4を中心に揺動させなが
ら、ノズル8のノズル孔から対向するセラミックパッケ
ージ16の撮像面17の全体に、清浄な空気を吹き付け
る。この時、吹き付けられた空気によって撮像面17が
受ける圧力が、異物除去が良好に行われる圧力範囲の
9.81×10〜4.903×10パスカルとなる
ように図示しない調節部で調節する。
【0012】上記のように第1の吸引口6及び第2の吸
引口15での吸引と、ノズル部5による清浄空気の吹付
けを所定時間行い、撮像面17の異物除去を行った後、
第3の過程に移り、第1のボックス2と第2のボックス
3とを上下に後退させる。そして、搬送治具18により
CCDのセラミックパッケージ16を両ボックス2,3
の間から移動させ、次の工程のボンディング工程に移
す。
【0013】以上のように構成し、清浄な空気を撮像面
17に所定圧力で吹き付けると共に吸引を行うことで、
前工程のマウントキュア工程等まで付着したごみ、例え
ばシリコンくずや粘着シートの繊維等が、撮像面17か
ら簡単かつ容易に除去されることになる。この結果、高
密度化したCCDのセラミックパッケージ16において
も、異物の除去が効率的に行え、歩留を向上させること
ができる。
【0014】なお、上記の実施形態においては清浄な空
気を吹き付けるようにしたが、清浄な気体を容易に得る
ことができるNガス等でも同様の効果を得ることがで
き、また水蒸気を混在させた気体を用いてもよい。
【0015】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、半導体装置等の異物除去を効率的かつ容易に
行うことができ、また高密度化した半導体装置等につい
ても歩留を向上させることができる等の効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態の概略構成を示す縦断面図
である。
【符号の説明】
2…第1のボックス 2a…下端開口部 3…第2のボックス 3a…上端開口部 4…揺動軸 5…ノズル部 6…第1の吸引口 8…ノズル 15…第2の吸引口 16…セラミックパッケージ 17…撮像面 18…搬送治具

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体装置を導入して異物除去面を上方
    に向けた状態で下端開口部に保持する第1のボックス
    と、この第1のボックスの下端開口部に保持された前記
    半導体装置を下方側から囲むようにして前記第1のボッ
    クスの下端に配置される第2のボックスと、前記第1の
    ボックス内に設けられ揺動しながら前記半導体装置の異
    物除去面に所定圧力で気体を吹き付けるノズル部と、前
    記第1のボックス及び第2のボックスにそれぞれ設けら
    れた第1の吸引口及び第2の吸引口とを具備しているこ
    とを特徴とする異物除去装置。
  2. 【請求項2】 吹付け気体により異物除去面が受ける圧
    力が、9.81×10 〜4.903×10パスカル
    であることを特徴とする請求項1記載の異物除去装置。
  3. 【請求項3】 吹出気体が、空気あるいは窒素ガスであ
    ることを特徴とする請求項1記載の異物除去装置。
  4. 【請求項4】 ノズル部が、1つまたは多数のノズル孔
    を有するものであることを特徴とする請求項1記載の異
    物除去装置。
  5. 【請求項5】 異物除去の際、ノズル部からの気体吹出
    と第1の吸引口及び第2の吸引口による吸引を同時に行
    うようにしたことを特徴とする請求項1記載の異物除去
    装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100632717B1 (ko) 2005-02-02 2006-10-12 한국생산기술연구원 초음파 증폭기를 이용한 세정장치
CN102293084A (zh) * 2011-06-16 2011-12-28 黑龙江省农业机械工程科学研究院 气力除尘式红外播种监视传感器
JP2015071133A (ja) * 2013-10-02 2015-04-16 Ke・Osマシナリー株式会社 乾式マット清掃装置
CN113500049A (zh) * 2021-08-06 2021-10-15 湖南电子科技职业学院 一种计算机除尘装置

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