JP2001004660A - Contactor and test board - Google Patents

Contactor and test board

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JP2001004660A
JP2001004660A JP11172895A JP17289599A JP2001004660A JP 2001004660 A JP2001004660 A JP 2001004660A JP 11172895 A JP11172895 A JP 11172895A JP 17289599 A JP17289599 A JP 17289599A JP 2001004660 A JP2001004660 A JP 2001004660A
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JP
Japan
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contactor
hole
test board
contact
tapered surface
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JP11172895A
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Japanese (ja)
Inventor
Tadashi Makabe
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Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a contactor and a test board capable of retaining the contactor onto a wiring board firmly while reducing the inductance generated at the connection to an object to be measured. SOLUTION: A contactor 11 is provided with a cup 13 having a roughly cylindrical supporting hole 13a in it, and a contact 12 stored in the supporting hole 13a so as to protrude/retreat and energized in the protruding direction. This contactor 11 involves the external surface of the cup 13 having a tapered surface gradually tapering in the opposite direction to the protruding direction as the whole, and the tapered surface is formed with an external thread 13b.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、コンタクタ及びテ
ストボードに関し、特に、突出方向に向かって付勢され
た接触子を有するコンタクタ、及び、該コンタクタを備
えたテストボードに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a contactor and a test board, and more particularly, to a contactor having contacts urged in a protruding direction, and a test board provided with the contactor.

【0002】[0002]

【従来の技術】出荷に先立って半導体集積回路(以下、
測定対象ICと呼ぶ)に対する試験を行う場合、測定対
象ICとテストボードとの間で電気的な接触を得るため
にコンタクタが使用される。
2. Description of the Related Art Prior to shipment, a semiconductor integrated circuit (hereinafter, referred to as a semiconductor integrated circuit)
When performing a test on a measurement target IC), a contactor is used to obtain electrical contact between the measurement target IC and the test board.

【0003】従来のコンタクタを用いたテストボードが
特開平01-109670号公報に記載されている。図4は、こ
の公報に記載のコンタクタを示す断面図であり、(a)は
コンタクタの自由状態、(b)はコンタクタの接触状態、
(c)はコンタクタを実装したテストボードの要部を夫々
示す。
A test board using a conventional contactor is described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 01-109670. FIG. 4 is a cross-sectional view showing the contactor described in this publication, (a) is a free state of the contactor, (b) is a contact state of the contactor,
(c) shows the main part of the test board on which the contactor is mounted, respectively.

【0004】図4(a)、(b)に示すように、コンタクタ5
0は円筒状の外筒51を有し、外筒51の内部には接触
子52が摺動自在に収容される。接触子52は、先端5
2aと後端52bとが夫々外筒51の内径とほぼ等しく
形成され、後端52bが圧縮スプリング53によって外
部に向かって付勢される。外筒51は、前端51bが漏
斗状に形成され、中間部に、内部に突出する突起51a
を有する。接触子52は、後端52bが突起51aに係
合することにより、外筒51からの脱落が規制される。
As shown in FIGS. 4A and 4B, the contactor 5
Reference numeral 0 has a cylindrical outer cylinder 51, and a contact 52 is slidably accommodated inside the outer cylinder 51. The contact 52 has a tip 5
The rear end 2b and the rear end 52b are formed substantially equal to the inner diameter of the outer cylinder 51, and the rear end 52b is urged outward by the compression spring 53. The outer cylinder 51 has a front end 51b formed in a funnel shape, and a projection 51a protruding inward at an intermediate portion.
Having. When the rear end 52b of the contact 52 engages with the projection 51a, the contact 52 is prevented from falling off from the outer cylinder 51.

【0005】図4(c)に示すように、接続器57に接続
した測定対象ICに対する試験を行うテストボードは、
円筒状の複数のスルーホール54aが形成された配線板
54を有する。各スルーホール54aには、金属材料か
ら成る円筒状のソケット55が嵌合され、各ソケット5
5にはコンタクタ50が嵌合される。接続器57には、
接続された測定対象ICに導通するリード56が、テス
トボードのコンタクタ50と同じピッチで配設されてい
る。
[0005] As shown in FIG. 4 (c), a test board for testing the IC to be measured connected to the connector 57 is
The wiring board 54 has a plurality of cylindrical through holes 54a. A cylindrical socket 55 made of a metal material is fitted into each through hole 54a.
5 is fitted with a contactor 50. In the connector 57,
Leads 56 that are electrically connected to the connected IC to be measured are arranged at the same pitch as the contactors 50 of the test board.

【0006】テストボード54に対しリード56を押し
当てて試験を行う際には、先端部52aがリード56の
先端で外筒51の内部に押し込まれ、接触子52とリー
ド56との間で所要の接触圧が得られる。これにより、
スプリングコンタクタ50は、先端52a及び外筒51
を介して、測定対象ICと測定装置との間の電気的導通
を得る。
When a test is performed by pressing the lead 56 against the test board 54, the tip 52 a is pushed into the outer cylinder 51 at the tip of the lead 56, and the required distance between the contact 52 and the lead 56 is required. Is obtained. This allows
The spring contactor 50 includes a tip 52a and an outer cylinder 51.
, Electrical continuity between the IC to be measured and the measuring device is obtained.

【0007】一般に、測定対象ICの特性を測定する周
波数が高い場合に、測定対象ICと測定装置との間の接
続部分にインピーダンス整合がとられずにインダクタン
スを形成する箇所があると、測定した特性が実際の特性
よりも悪く示される。この際に、測定特性と実際の特性
との間のずれはインダクタンスが大きい程大きく、単線
におけるインダクタンスは上記接続部分の長さに比例す
る。
In general, when the frequency at which the characteristic of the IC to be measured is measured is high, it is measured that there is a portion where an inductance is not formed at the connection between the IC to be measured and the measuring device and impedance is not obtained. Properties are shown to be worse than actual properties. At this time, the deviation between the measured characteristic and the actual characteristic is larger as the inductance is larger, and the inductance of the single wire is proportional to the length of the connection portion.

【0008】上記公報に記載のテストボードでは、コン
タクタ50は、配線板54に埋め込まれた状態で外筒5
1内の接触子52が配線板54の配線と導通するので、
外筒51から配線板54の配線までの距離が短くなっ
て、接続部分に形成されるインダクタンスが微小にな
る。
In the test board described in the above-mentioned publication, the contactor 50 is embedded in the wiring board 54 while the outer cylinder 5
1 is electrically connected to the wiring of the wiring board 54,
The distance from the outer cylinder 51 to the wiring of the wiring board 54 is shortened, and the inductance formed at the connection part is reduced.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記公報に記
載のテストボードでは、円筒状のコンタクタ50が円筒
状のソケット55に、また、このソケット55が円筒状
のスルーホール54aに単に挿入されて配線板54に保
持されるので、リード56からの押圧力が過度に大きい
等の場合には、コンタクタ50がスルーホール54aか
ら脱落するおそれがあった。
However, in the test board described in the above publication, the cylindrical contactor 50 is simply inserted into the cylindrical socket 55, and the socket 55 is simply inserted into the cylindrical through hole 54a. Since the contactor 50 is held by the wiring board 54, if the pressing force from the lead 56 is excessively large, the contactor 50 may fall off from the through hole 54a.

【0010】本発明は、上記に鑑み、測定対象との接続
で生じるインダクタンスを小さくしながらも、コンタク
タを配線板に堅固に保持できるコンタクタ及びテストボ
ードを提供することを目的とする。
[0010] In view of the above, it is an object of the present invention to provide a contactor and a test board capable of firmly holding a contactor on a wiring board while reducing inductance generated by connection with an object to be measured.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のコンタクタは、内部に略円筒形状の支持孔
を有するコンタクタ本体と、前記支持孔に突出/後退自
在に収容され且つ突出方向に向かって付勢された接触子
とを備えたコンタクタにおいて、前記コンタクタ本体の
外面が、全体として前記突出方向と逆の方向に向かって
徐々に細くなるテーパ面を成し、該テーパ面に雄ねじが
形成されることを特徴とする。
In order to achieve the above object, a contactor according to the present invention comprises a contactor body having a substantially cylindrical support hole therein, and a contactor body which is accommodated in the support hole so as to be able to protrude / retract freely. And a contactor urged in a direction, wherein an outer surface of the contactor body forms a tapered surface that gradually becomes narrower in a direction opposite to the projecting direction as a whole. A male screw is formed.

【0012】本発明のコンタクタでは、コンタクタ本体
の外面がテーパ面を成すので、例えば、配線板に備えた
スルーホールの内面がテーパ面を成す場合、このスルー
ホールにコンタクタ本体を嵌合することにより、接触子
が押し込まれた際の力をスルーホール内面とコンタクタ
本体外面との係合で堅固に支持することが可能になる。
このため、測定時に接触子に加わる押圧力が過度に大き
い場合でも、コンタクタ本体が配線板から脱落すること
はない。また、例えば、スルーホール側に全体としてテ
ーパ形状の雌ねじが形成されれば、この雌ねじに雄ねじ
を結合させることによって、コンタクタをスルーホール
側に堅固に固定できる。この際に、配線板に埋め込まれ
た状態で支持孔内の接触子が配線板の配線と導通するの
で、コンタクタ本体から配線板の配線までの距離が短く
なって、接続部分に形成されるインダクタンスが低減す
る。
In the contactor of the present invention, since the outer surface of the contactor body forms a tapered surface, for example, when the inner surface of a through hole provided in a wiring board forms a tapered surface, the contactor body is fitted into this through hole. Thus, the force when the contact is pushed can be firmly supported by the engagement between the inner surface of the through hole and the outer surface of the contactor body.
For this reason, even when the pressing force applied to the contact at the time of measurement is excessively large, the contactor main body does not fall off the wiring board. Further, for example, if a female screw having a tapered shape as a whole is formed on the through hole side, by connecting a male screw to the female screw, the contactor can be firmly fixed to the through hole side. At this time, since the contacts in the support holes are electrically connected to the wiring of the wiring board in a state of being embedded in the wiring board, the distance from the contactor body to the wiring of the wiring board is shortened, and the inductance formed in the connection portion is reduced. Is reduced.

【0013】本発明のテストボードは、前記コンタクタ
を、配線板に備えたスルーホールに嵌合して支持したテ
ストボードにおいて、前記スルーホールの内面が、全体
として、嵌合した前記コンタクタの接触子の突出方向と
逆の方向に向かって徐々に細くなる別のテーパ面を成し
ていることを特徴とする。
[0013] The test board of the present invention is a test board in which the contactor is fitted and supported in a through hole provided in a wiring board, wherein the inner surface of the through hole is entirely fitted with the contactor of the contactor. Is characterized in that it has another tapered surface that gradually becomes thinner in the direction opposite to the direction in which it projects.

【0014】本発明のテストボードでは、コンタクタ本
体の外面がテーパ面を成すので、配線板に備えたスルー
ホールの内面がテーパ面を成す場合、このスルーホール
にコンタクタ本体を嵌合することにより、接触子が押し
込まれた際の力をスルーホール内面とコンタクタ本体外
面との係合で堅固に支持することができる。このため、
測定時に接触子に加わる押圧力が過度に大きい場合で
も、コンタクタ本体が配線板から脱落することはない。
この際に、配線板に埋め込まれた状態で支持孔内の接触
子が配線板の配線と導通するので、コンタクタ本体から
配線板の配線までの距離が短くなって、接続部分に形成
されるインダクタンスが低減する。
In the test board of the present invention, since the outer surface of the contactor body forms a tapered surface, when the inner surface of the through hole provided on the wiring board forms a tapered surface, the contactor body is fitted into this through hole. The force when the contact is pushed in can be firmly supported by the engagement between the inner surface of the through hole and the outer surface of the contactor body. For this reason,
Even when the pressing force applied to the contact at the time of measurement is excessively large, the contactor body does not fall off the wiring board.
At this time, since the contacts in the support holes are electrically connected to the wiring of the wiring board in a state of being embedded in the wiring board, the distance from the contactor body to the wiring of the wiring board is shortened, and the inductance formed in the connection portion is reduced. Is reduced.

【0015】ここで、本発明の好ましいテストボードで
は、前記別のテーパ面に、前記雄ねじに適合する雌ねじ
が形成されることが好ましい。この場合、雌ねじに雄ね
じをねじ込むことでコンタクタをスルーホールに直接に
固定できるので、固定構造が簡略化する。
Here, in a preferable test board of the present invention, it is preferable that a female screw matching the male screw is formed on the another tapered surface. In this case, since the contactor can be directly fixed to the through hole by screwing the male screw into the female screw, the fixing structure is simplified.

【0016】或いは、上記に代えて、前記コンタクタ本
体と前記スルーホールとの間には、前記雄ねじに適合す
る雌ねじを有する内面と前記スルーホールのテーパ面に
適合する形状の外面とを備えたソケットが介在されるこ
とも好ましい態様である。この場合、ソケットの雌ねじ
に雄ねじをねじ込むことで、コンタクタをスルーホール
側に堅固に固定できると共に、配線板に対するコンタク
タ本体の脱着が容易になる。
Alternatively, instead of the above, between the contactor main body and the through hole, a socket having an inner surface having a female screw matching the male screw and an outer surface having a shape matching the tapered surface of the through hole. Is also a preferred embodiment. In this case, by screwing the male screw into the female screw of the socket, the contactor can be firmly fixed to the through-hole side, and the contactor body can be easily attached to and detached from the wiring board.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照し、本発明の実
施形態例に基づいて本発明を更に詳細に説明する。図1
は、本発明の一実施形態例におけるコンタクタの構成を
示す正面図である。コンタクタ11は、上方に向かって
徐々に外径が小さくなる形状の接触子12と、中心に円
筒状の支持孔13aを有するカップ13とを有する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in more detail based on embodiments of the present invention with reference to the drawings. FIG.
FIG. 1 is a front view showing a configuration of a contactor according to an embodiment of the present invention. The contactor 11 has a contact 12 whose outer diameter gradually decreases upward and a cup 13 having a cylindrical support hole 13a at the center.

【0018】カップ13の支持孔13aには、接触子1
2が圧縮スプリング14で外部に向かって付勢された状
態で突出/後退自在に嵌合している。カップ13の外面
は、全体として接触子12の突出方向と逆の方向に向か
って徐々に細くなる(外径が小さくなる)テーパ面を成
しており、このテーパ面にはスパイラル状の雄ねじ13
bが形成されている。
The contact hole 13a of the cup 13 has a contact 1
2 are fitted so as to be able to protrude / retract freely while being urged outward by the compression spring 14. The outer surface of the cup 13 has a tapered surface that gradually becomes thinner (outer diameter becomes smaller) in a direction opposite to the direction in which the contact 12 protrudes, and the spiral external thread 13 is formed on the tapered surface.
b is formed.

【0019】支持孔13aの開口部には、接触子12の
脱落を規制する規制部(図示せず)が形成される。接触
子12、カップ13及び圧縮スプリング14は何れも導
電性が高い金属材から構成されており、接触子12は、
支持孔13a内面との摺接及び圧縮スプリング14との
接触によってカップ13と電気的に結合される。
At the opening of the support hole 13a, a regulating portion (not shown) for regulating the contact 12 from falling off is formed. The contact 12, the cup 13, and the compression spring 14 are all made of a highly conductive metal material.
It is electrically connected to the cup 13 by sliding contact with the inner surface of the support hole 13a and contact with the compression spring 14.

【0020】図2は、本実施形態例のコンタクタを支持
するテストボードの一部を示す断面図であり、(a)は接
触子の自由状態、(b)は接触子の押込み状態を夫々示
す。
FIGS. 2A and 2B are cross-sectional views showing a part of a test board supporting the contactor of the present embodiment. FIG. 2A shows a free state of the contact, and FIG. 2B shows a pressed state of the contact. .

【0021】テストボード10は、複数のスルーホール
17aを有する多層の配線板17を有しており、各スル
ーホール17aは、全体として、嵌合したコンタクタ1
1の接触子12の突出方向と逆の方向に向かって徐々に
細くなる(内径が小さくなる)テーパ面を成している。
The test board 10 has a multilayer wiring board 17 having a plurality of through-holes 17a.
The first contact 12 has a tapered surface that gradually becomes thinner (the inner diameter becomes smaller) in the direction opposite to the direction in which the contactor 12 protrudes.

【0022】スルーホール17aには、外面が、接触子
12の突出方向と逆の方向に向かって徐々に細くなるテ
ーパ面を成すソケット18が嵌合される。ソケット18
は、内面も、外面と同じ方向に向かって徐々に細くなる
テーパ面を成しており、このテーパ面には、雄ねじ13
bとねじ結合するスパイラル状の雌ねじ18aが形成さ
れる。雄ねじ13b及び雌ねじ18aには、双方の間の
導電性をより高めるための導電性めっきが施される。配
線板17内の例えば電源パターン24は、スルーホール
17a内に露出しており、スルーホール17aに嵌合さ
れたソケット18と電気的に結合する。
A socket 18 having a tapered surface whose outer surface gradually narrows in a direction opposite to the direction in which the contact 12 protrudes is fitted into the through hole 17a. Socket 18
The inner surface also has a tapered surface that gradually narrows in the same direction as the outer surface.
A spiral female screw 18a is formed to be screw-coupled to b. The male screw 13b and the female screw 18a are provided with a conductive plating for further increasing the conductivity between them. For example, the power supply pattern 24 in the wiring board 17 is exposed in the through hole 17a and is electrically coupled to the socket 18 fitted in the through hole 17a.

【0023】次に、本実施形態例のテストボード10を
用いた試験について説明する。図3は、この試験時にお
ける測定対象IC、テストボード及びテスタの接続状態
を概略的に示す図である。
Next, a test using the test board 10 of this embodiment will be described. FIG. 3 is a diagram schematically showing the connection state of the IC to be measured, the test board, and the tester during this test.

【0024】まず、試験に先立って、テストボード10
にテスタ(測定装置)19を接続する。この場合、テス
タ19のIN/OUT(以下、I/Oと呼ぶ)ピン20をテス
トボード10のI/Oパターン23に、電源ピン21を電
源パターン24に、GNDピン22をGNDパターン2
5に夫々接続し、各ソケット18にテスタ19を導通さ
せる。
First, prior to the test, the test board 10
To a tester (measuring device) 19. In this case, the IN / OUT (hereinafter referred to as I / O) pin 20 of the tester 19 is used as the I / O pattern 23 of the test board 10, the power supply pin 21 is used as the power supply pattern 24, and the GND pin 22 is used as the GND pattern 2.
5 are connected to each other, and a tester 19 is conducted to each socket 18.

【0025】測定が開始されると、測定対象ICを接続
した接続器15がテストボード10に対して押しつけら
れ、測定対象ICに導通する各リード16が、対応する
コンタクタ11の接触子12の先端を押下する。これに
より、接触子12が圧縮スプリング14に抗してカップ
13の内部に押し込まれて所要の接触圧が得られ、コン
タクタ11とリード16との電気的な接触が確保され
る。
When the measurement is started, the connector 15 to which the IC to be measured is connected is pressed against the test board 10, and each lead 16 that conducts to the IC to be measured is connected to the tip of the contact 12 of the corresponding contactor 11. Press. As a result, the contact 12 is pushed into the inside of the cup 13 against the compression spring 14 and a required contact pressure is obtained, so that electrical contact between the contactor 11 and the lead 16 is ensured.

【0026】この際に、ソケット18は、外面が全体と
してテーパ面を成しているので、下方に向かった過度に
大きい力が接触子12を介して作用しても、対応するテ
ーパ形状のスルーホール17aから下方に抜けることな
く堅固に保持される。コンタクタ11は、テーパ面に形
成された雄ねじ13bが、同様にテーパ面に形成された
雌ねじ18aにねじ結合されるので、ソケット18に対
して堅固に保持される。従って、測定時に接触子12に
加わる押圧力が大きい場合でも、カップ13が配線板1
7から脱落することはない。
At this time, since the outer surface of the socket 18 has a tapered surface as a whole, even if an excessively large downward force acts through the contact 12, the corresponding tapered through hole is formed. It is firmly held without falling down from the hole 17a. The contactor 11 is firmly held with respect to the socket 18 because the male screw 13b formed on the tapered surface is screwed to the female screw 18a similarly formed on the tapered surface. Therefore, even when the pressing force applied to the contact 12 during measurement is large, the cup 13 is
Never drop out of 7.

【0027】コンタクタ11では、ソケット18を介し
て、配線板17に埋め込まれた状態でカップ13内の接
触子12が配線板17の配線と導通するので、カップ1
3から配線板17の配線までの距離が短くなって、接続
部分に形成されるインダクタンスが低減する。
In the contactor 11, the contact 12 in the cup 13 is electrically connected to the wiring of the wiring board 17 through the socket 18 while being embedded in the wiring board 17.
The distance from 3 to the wiring of the wiring board 17 is reduced, and the inductance formed at the connection portion is reduced.

【0028】本実施形態例では、スルーホール17aに
ソケット18を介してコンタクタ11を嵌合支持した
が、本発明はこれに限られず、雌ねじ18aに相当する
全体としてテーパ形状の雌ねじをスルーホール17a内
面に形成し、この雌ねじにカップ13外面の雄ねじ13
bを直接にねじ込むことで、スルーホール17aにコン
タクタ11を嵌合支持することもできる。この場合、ス
ルーホール17a内に導電性めっきを施し、配線板17
の例えば電源パターン24を上記導電性めっきに接続す
れば、スルーホール17aに直接にねじ込まれたカップ
13と電源パターン24との間の導電性を高めることが
できる。このような構成によっても、上記実施形態例と
同様の効果が得られる。
In the present embodiment, the contactor 11 is fitted and supported in the through hole 17a via the socket 18. However, the present invention is not limited to this, and an overall tapered female screw corresponding to the female screw 18a is formed in the through hole 17a. Formed on the inner surface, this female screw is
By directly screwing b, the contactor 11 can be fitted and supported in the through hole 17a. In this case, conductive plating is applied to the through hole 17a,
For example, if the power supply pattern 24 is connected to the conductive plating, the conductivity between the cup 13 directly screwed into the through hole 17a and the power supply pattern 24 can be increased. With such a configuration, the same effect as in the above embodiment can be obtained.

【0029】以上、本発明をその好適な実施形態例に基
づいて説明したが、本発明のコンタクタ及びテストボー
ドは、上記実施形態例の構成にのみ限定されるものでは
なく、上記実施形態例の構成から種々の修正及び変更を
施したコンタクタ及びテストボードも、本発明の範囲に
含まれる。
Although the present invention has been described based on the preferred embodiment, the contactor and the test board of the present invention are not limited to only the configuration of the above-described embodiment, and are not limited thereto. Contactors and test boards with various modifications and changes from the configuration are also included in the scope of the present invention.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のコンタク
タ及びテストボードによると、測定対象との接続で生じ
るインダクタンスを小さくしながらも、コンタクタを配
線板に堅固に保持することができる。
As described above, according to the contactor and the test board of the present invention, the contactor can be firmly held on the wiring board while reducing the inductance generated by the connection with the object to be measured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態例におけるコンタクタの構
成を示す正面図である。
FIG. 1 is a front view showing a configuration of a contactor according to an embodiment of the present invention.

【図2】本実施形態例のテストボードの一部を示す断面
図であり、(a)は接触子の自由状態、(b)は接触子の押込
み状態を夫々示す。
FIGS. 2A and 2B are cross-sectional views each showing a part of a test board according to an embodiment of the present invention. FIG. 2A shows a free state of a contact, and FIG. 2B shows a pressed state of the contact.

【図3】本実施形態例のテストボードを用いた試験時の
測定対象IC、テストボード及びテスタの接続状態を概
略的に示す図である。
FIG. 3 is a diagram schematically illustrating a connection state of an IC to be measured, a test board, and a tester during a test using the test board of the embodiment.

【図4】従来のコンタクタを示し、(a)はコンタクタの
自由状態を示す断面図、(b)はコンタクタの接触状態を
示す断面図、(c)はコンタクタを実装したテストボード
の要部を拡大して示す断面図である。
FIG. 4 shows a conventional contactor, (a) is a cross-sectional view showing a free state of the contactor, (b) is a cross-sectional view showing a contact state of the contactor, and (c) is a main part of a test board on which the contactor is mounted. It is sectional drawing which expands and shows.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10:テストボード 11:コンタクタ 12:接触子 13:カップ(コンタクタ本体) 13a:支持孔 13b:雄ねじ 14:圧縮スプリング 15:接続器 16:リード 17:配線板 17a:スルーホール 18:ソケット 18a:雌ねじ 19:テスタ 20:IN/OUTピン 21:電源ピン 22:GNDピン 23:I/Oパターン 24:電源パターン 25:GNDパターン 10: Test board 11: Contactor 12: Contact 13: Cup (contactor body) 13a: Support hole 13b: Male screw 14: Compression spring 15: Connector 16: Lead 17: Wiring board 17a: Through hole 18: Socket 18a: Female screw 19: Tester 20: IN / OUT pin 21: Power supply pin 22: GND pin 23: I / O pattern 24: Power supply pattern 25: GND pattern

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 内部に略円筒形状の支持孔を有するコン
タクタ本体と、前記支持孔に突出/後退自在に収容され
且つ突出方向に向かって付勢された接触子とを備えたコ
ンタクタにおいて、 前記コンタクタ本体の外面が、全体として前記突出方向
と逆の方向に向かって徐々に細くなるテーパ面を成し、
該テーパ面に雄ねじが形成されることを特徴とするコン
タクタ。
1. A contactor comprising: a contactor main body having a substantially cylindrical support hole therein; and a contactor accommodated in the support hole so as to be able to protrude / retract and urged in a protruding direction. The outer surface of the contactor body forms a tapered surface that gradually becomes thinner as a whole in a direction opposite to the protruding direction,
A contactor, wherein a male screw is formed on the tapered surface.
【請求項2】 請求項1に記載のコンタクタを、配線板
に備えたスルーホールに嵌合して支持したテストボード
において、 前記スルーホールの内面が、全体として、嵌合した前記
コンタクタの接触子の突出方向と逆の方向に向かって徐
々に細くなる別のテーパ面を成していることを特徴とす
るテストボード。
2. A contact board of the contactor, wherein the contactor according to claim 1 is fitted and supported in a through-hole provided in a wiring board, and an inner surface of the through-hole is fitted as a whole. A test board characterized by having another tapered surface that gradually becomes thinner in a direction opposite to the direction of protrusion of the test board.
【請求項3】 前記別のテーパ面に、前記雄ねじに適合
する雌ねじが形成される、請求項2に記載のテストボー
ド。
3. The test board according to claim 2, wherein a female screw matching the male screw is formed on the another tapered surface.
【請求項4】 前記コンタクタ本体と前記スルーホール
との間には、前記雄ねじに適合する雌ねじを有する内面
と前記スルーホールのテーパ面に適合する形状の外面と
を備えたソケットが介在される、請求項2に記載のテス
トボード。
4. A socket is provided between the contactor body and the through hole, the socket having an inner surface having a female screw that matches the male screw and an outer surface having a shape matching the tapered surface of the through hole. The test board according to claim 2.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003107130A (en) * 2001-09-28 2003-04-09 Yokowo Co Ltd Inspection head

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