JP2001003170A - Film forming device - Google Patents

Film forming device

Info

Publication number
JP2001003170A
JP2001003170A JP11175429A JP17542999A JP2001003170A JP 2001003170 A JP2001003170 A JP 2001003170A JP 11175429 A JP11175429 A JP 11175429A JP 17542999 A JP17542999 A JP 17542999A JP 2001003170 A JP2001003170 A JP 2001003170A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film forming
film
exhaust
exhaust passage
flow rate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11175429A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Kanda
広行 神田
Yasuhiro Seta
康弘 瀬田
Shigeo Yamada
茂男 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Soda Co Ltd
Original Assignee
Nippon Soda Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Soda Co Ltd filed Critical Nippon Soda Co Ltd
Priority to JP11175429A priority Critical patent/JP2001003170A/en
Publication of JP2001003170A publication Critical patent/JP2001003170A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a film forming device with which the working rate of a film forming line is increased and the productivity is improved by preventing the deposition of a film on the wall face, or the like, of an exhausting passage. SOLUTION: In a film forming device provided with a film forming furnace 60 demarcating a space storing a glass substrate, a feed tube 61 feeding the raw material of a film to the inside of the film forming furnace 60 and an exhaust tube 62 exhausting the inside of the film forming furnace, and forming a film on the surface of a substrate by a chemical vapor phase film forming method, a heat insulating member 72 is provided on the outer wall face of the exhaust tube 62 and also in the region disposed with a pressure gauge 70 and a stop valve 71.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、CVD法(化学的
気相成膜法)により基板に膜を形成する成膜装置に関
し、特に、ガラス基板等にSiO2 膜等を形成する成膜
装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a film forming apparatus for forming a film on a substrate by a CVD method (chemical vapor deposition method), and more particularly to a film forming apparatus for forming an SiO 2 film or the like on a glass substrate or the like. About.

【0002】[0002]

【従来の技術】電卓、時計、タイマー等の表示部、ある
いは、デジタルカメラ等の液晶表示部又はコンピュータ
に接続された入力用のタッチパネル等として用いられる
ITOガラス基板の製造に際しては、洗浄装置、選別装
置、搬送装置、成膜装置等により構成される製造ライン
が用いられている。
2. Description of the Related Art When manufacturing an ITO glass substrate used as a display unit such as a calculator, a clock, a timer, or a liquid crystal display unit such as a digital camera or an input touch panel connected to a computer, a cleaning device and a sorting machine are used. A production line including an apparatus, a transport apparatus, a film forming apparatus, and the like is used.

【0003】この製造ラインにおける成膜装置では、C
VD法による成膜法を用いており、この成膜法は、原料
薬剤を加熱して蒸発させ気相状態とし、ガラス基板上に
膜を形成させるものである。
In a film forming apparatus in this production line, C
A film forming method based on the VD method is used. In this film forming method, a raw material chemical is heated and evaporated to a gaseous phase to form a film on a glass substrate.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】このCVD法による膜
形成手法は、気相状態にある原料薬剤の有効成分と固体
との接触による反応を利用しているため、膜となり得る
有効成分が回り込める領域であれば、あらゆる固体に対
して膜が形成されることになる。その結果、ガラス基板
のみならず、成膜炉の内壁面、ガラス基板を搬送するベ
ルトコンベアの表面等にもSiO2 膜あるいはITO膜
が形成されることになる。
This film forming technique by the CVD method utilizes a reaction by contact between an active ingredient of a raw material chemical in a gaseous phase and a solid, so that an effective ingredient that can be a film can be circulated. In the region, a film is formed for any solid. As a result, the SiO 2 film or the ITO film is formed not only on the glass substrate but also on the inner wall surface of the film forming furnace, the surface of the belt conveyor for transporting the glass substrate, and the like.

【0005】特に、成膜炉の中央部から離れた排気通路
の領域においては、排気温度が低下し易いこともあっ
て、発生したSiO2 の粒子がその内壁面に付着して排
気通路の目詰まりを生じ、圧力計及び開閉バルブが配置
されている領域でこの目詰まりを生じると、排気流量を
調節することができず成膜そのものができなくなる。さ
らに、付着した粒子が、剥離片すなわちゴミとなってガ
ラス基板上に落下すると、ITOガラス基板上にピンホ
ール等の欠陥を招くことになる。
In particular, in the region of the exhaust passage remote from the center of the film forming furnace, the exhaust gas temperature tends to decrease, so that the generated SiO 2 particles adhere to the inner wall surface of the exhaust passage and cause the exhaust passage to close. If clogging occurs and this clogging occurs in the area where the pressure gauge and the opening / closing valve are arranged, the exhaust gas flow rate cannot be adjusted, and the film formation itself cannot be performed. Furthermore, if the attached particles fall on the glass substrate as exfoliated pieces, that is, dust, they cause defects such as pinholes on the ITO glass substrate.

【0006】したがって、上記のような排気通路の目詰
まりあるいは欠陥が生じないように、定期的に例えば数
時間おきに成膜装置を解体して、排気通路の内壁面に付
着したSiO2 の膜等を剥離させて除去する清掃作業を
行なっていた。この清掃作業中は、その成膜ラインにお
ける成膜処理を中断しなければならないのは勿論のこ
と、この清掃作業により粉塵、埃等が発生する場合は、
一つの成膜ラインを清掃していても他の成膜ラインでの
成膜処理を中断しなければならず、生産性が低下すると
いう問題があった。
Accordingly, in order to prevent the above-described clogging or defects of the exhaust passage, the film forming apparatus is periodically dismantled, for example, every several hours, and the SiO 2 film adhering to the inner wall surface of the exhaust passage is removed. Cleaning work was carried out to peel off and remove the like. During this cleaning work, it is needless to say that the film forming process in the film forming line must be interrupted.
Even if one film forming line is being cleaned, the film forming process in another film forming line must be interrupted, and there is a problem that productivity is reduced.

【0007】本発明は、上記従来技術の問題点に鑑みて
成されたものであり、その目的とするところは、排気通
路の壁面等に膜が付着するのを防止して、成膜ラインの
稼働率を高めて、生産性の向上を図れる成膜装置を提供
することにある。
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and an object of the present invention is to prevent a film from adhering to a wall or the like of an exhaust passage and to form a film forming line. It is an object of the present invention to provide a film forming apparatus capable of improving an operation rate and improving productivity.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明者は、上記の目的
を達成するべく鋭意検討を重ねた結果、以下の如き構成
をなす発明を見出すに至った。すなわち、本発明の成膜
装置は、基板を収容する空間を画定する成膜炉と、この
成膜炉の内部に膜の原料を供給する原料供給通路と、成
膜炉の内部を排気する排気通路とを備えて、化学的気相
成膜法により基板の表面に膜を生成する成膜装置であっ
て、上記排気通路を画定する壁面の周りには、少なくと
も成膜炉に接続された領域の近傍において、断熱部材が
設けられている、ことを特徴としている。この構成によ
れば、断熱部材が作用して排気通路の壁面から熱が逃げ
るのを遮断する。したがって、排気通路内を流れる排気
温度の低下が防止され、膜となり得る気相状態の有効成
分、例えばSiO2 粒子等の排気通路内壁面への付着が
防止ないしは抑制される。
Means for Solving the Problems As a result of intensive studies to achieve the above object, the present inventor has come to find an invention having the following structure. That is, the film forming apparatus of the present invention includes a film forming furnace for defining a space for accommodating a substrate, a material supply passage for supplying a film material to the inside of the film forming furnace, and an exhaust for exhausting the inside of the film forming furnace. A film forming apparatus for forming a film on the surface of the substrate by a chemical vapor deposition method, comprising a passage connected to at least a film forming furnace around a wall defining the exhaust passage. , A heat insulating member is provided in the vicinity of. According to this configuration, the heat insulating member acts to block heat from escaping from the wall surface of the exhaust passage. Therefore, a decrease in the temperature of the exhaust gas flowing in the exhaust passage is prevented, and the adhesion of the effective component in a gaseous state that can be a film, for example, SiO 2 particles, to the inner wall surface of the exhaust passage is prevented or suppressed.

【0009】上記構成において、排気通路には、その内
部を流れる排気の流量を調節する流量調節手段が設けら
れており、断熱部材は、流量調節手段が設けられた領域
を含むように配置された構成を採用することができ、
又、この流量調節手段としては、少なくとも圧力計又は
開閉バルブを有する構成を採用することができる。この
構成によれば、断熱部材が作用して排気通路の壁面から
熱が逃げるのを遮断する。したがって、排気通路内を流
れる排気温度の低下が防止され、膜となり得る気相状態
の有効成分、例えばSiO2 粒子等が、流量調節手段が
設けられた領域の排気通路の内壁面に付着するのが防止
ないしは抑制される。これにより、流量調節手段の所期
の機能が長期にわたって維持されることになる。
In the above structure, the exhaust passage is provided with a flow rate adjusting means for adjusting the flow rate of the exhaust gas flowing therein, and the heat insulating member is arranged so as to include a region where the flow rate adjusting means is provided. Configuration can be adopted,
Further, as the flow rate adjusting means, a configuration having at least a pressure gauge or an on-off valve can be adopted. According to this configuration, the heat insulating member acts to block heat from escaping from the wall surface of the exhaust passage. Therefore, a decrease in the temperature of the exhaust gas flowing in the exhaust passage is prevented, and the effective component in a gaseous state, for example, SiO 2 particles, which can form a film, adheres to the inner wall surface of the exhaust passage in the region where the flow rate control means is provided. Is prevented or suppressed. As a result, the intended function of the flow rate adjusting means is maintained for a long time.

【0010】本発明の成膜装置は、基板を収容する空間
を画定する成膜炉と、この成膜炉の内部に膜の原料を供
給する原料供給通路と、成膜炉の内部を排気する排気通
路とを備えて、化学的気相成膜法により基板の表面に膜
を生成する成膜装置であって、上記排気通路を画定する
壁面の周りには、少なくとも成膜炉に接続された領域の
近傍において、内部を流れる排気を加熱する加熱手段が
設けられている、ことを特徴としている。この構成によ
れば、加熱手段により排気通路の壁面が加熱されて、排
気通路内を流れる排気が所望の温度に調節される。した
がって、膜となり得る気相状態の有効成分、例えばSi
2 粒子等の排気通路内壁面への付着が防止ないしは抑
制される。
A film forming apparatus according to the present invention includes a film forming furnace for defining a space for accommodating a substrate, a material supply passage for supplying a film material to the inside of the film forming furnace, and an exhaust inside the film forming furnace. An exhaust path, comprising: a film forming apparatus that forms a film on the surface of a substrate by a chemical vapor deposition method, wherein at least a wall around a wall defining the exhaust path is connected to a film forming furnace. In the vicinity of the region, a heating means for heating exhaust gas flowing inside is provided. According to this configuration, the wall of the exhaust passage is heated by the heating means, and the exhaust gas flowing in the exhaust passage is adjusted to a desired temperature. Therefore, the active ingredient in a gaseous state that can be a film, for example, Si
The adhesion of O 2 particles and the like to the inner wall surface of the exhaust passage is prevented or suppressed.

【0011】上記構成において、排気通路には、その内
部を流れる排気の流量を調節する流量調節手段が設けら
れており、加熱手段は、流量調節手段が設けられた領域
を含むように配置された構成を採用することができ、
又、この流量調節手段としては、少なくとも圧力計又は
開閉バルブを有する構成を採用することができる。この
構成によれば、加熱手段により排気通路の壁面が加熱さ
れて、排気通路内を流れる排気が所望の温度に調節され
る。したがって、膜となり得る気相状態の有効成分、例
えばSiO2 粒子等の排気通路内壁面への付着が防止な
いしは抑制される。これにより、流量調節手段の所期の
機能が長期にわたって維持されることになる。
In the above configuration, the exhaust passage is provided with a flow rate adjusting means for adjusting the flow rate of the exhaust gas flowing therein, and the heating means is arranged so as to include a region provided with the flow rate adjusting means. Configuration can be adopted,
Further, as the flow rate adjusting means, a configuration having at least a pressure gauge or an on-off valve can be adopted. According to this configuration, the wall of the exhaust passage is heated by the heating means, and the exhaust gas flowing in the exhaust passage is adjusted to a desired temperature. Therefore, the adhesion of the effective component in a gaseous state that can be a film, for example, SiO 2 particles to the inner wall surface of the exhaust passage is prevented or suppressed. As a result, the intended function of the flow rate adjusting means is maintained for a long time.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、添付図面に基づき説明する。図1及び図2は、本発
明に係る成膜装置を示した概略構成図であり、この成膜
装置を備えた製造ラインにおいては、電卓、時計、タイ
マー、デジタルカメラ等の液晶ディスプレイ、エレクト
ロルミネッセンスディスプレイ、面発熱体、コンピュー
タに接続された入力用のタッチパネル等として用いられ
るITOガラス基板を製造するものである。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIGS. 1 and 2 are schematic structural views showing a film forming apparatus according to the present invention. In a production line equipped with this film forming apparatus, a liquid crystal display such as a calculator, a clock, a timer, and a digital camera, an electroluminescence The present invention is to manufacture an ITO glass substrate used as a display, a surface heating element, a touch panel for input connected to a computer, and the like.

【0013】この製造ラインにおいては、先ず原料であ
るガラス基板をカセットに詰めた状態で洗浄装置に送
り、ガラス基板の洗浄を行なう。この洗浄工程では、カ
セットごと洗浄槽に漬けて超音波によりガラス基板の表
面に付着した汚れを落とし、水道水、純水等でリンス
し、IPA(イソプロピルアルコール)で置換し、最後
にIPAの蒸気で乾燥させる。
In this production line, a glass substrate as a raw material is first sent to a cleaning device in a state packed in a cassette, and the glass substrate is cleaned. In this cleaning step, the cassette is immersed in a cleaning tank, ultrasonically used to remove dirt attached to the surface of the glass substrate, rinsed with tap water, pure water, etc., replaced with IPA (isopropyl alcohol), and finally vaporized with IPA vapor. And dry.

【0014】この洗浄工程が終了すると、選別装置によ
り、ガラス基板のサイズに応じてカセットの搬送先を選
別し、複数のラインからなる成膜装置のそれぞれの成膜
ラインに向けて選択的に送り出す。
When the cleaning step is completed, the destination of the cassette is selected by the sorting device according to the size of the glass substrate, and is selectively sent out to each of the film forming lines of the film forming device including a plurality of lines. .

【0015】成膜装置は、常圧CVD法の一種であるパ
イロゾル成膜法を用いたものであり、この成膜工程で
は、それぞれの成膜ラインにおいて、ロボット(不図
示)等を用いてカセットからガラス基板を取り出して搬
送手段に載置する。そして、ガラス基板を一枚一枚搬送
させつつ約500°C程度に予め加熱し、この加熱され
たガラス基板上にSiO2 膜及びITO膜を順次に積層
する。続いて、これらの膜が形成されたガラス基板、す
なわち、ITOガラス基板を室温まで冷却する。
The film forming apparatus uses a pyrosol film forming method, which is a kind of normal pressure CVD method. In this film forming process, a cassette (not shown) is used in each film forming line using a robot (not shown). The glass substrate is taken out and placed on the transport means. Then, the glass substrates are preliminarily heated to about 500 ° C. while being conveyed one by one, and an SiO 2 film and an ITO film are sequentially laminated on the heated glass substrate. Subsequently, the glass substrate on which these films are formed, that is, the ITO glass substrate is cooled to room temperature.

【0016】上記成膜装置のそれぞれの成膜ラインは、
図1、図2に示すように、ガラス基板を載置した状態で
連続的に一方向に搬送するベルトコンベア50と、この
ベルトコンベア50の一部及びベルトコンベアに載置さ
れたガラス基板を覆う空間を画定する成膜炉すなわちS
iO2 膜を形成する複数の第1成膜炉60及びITO膜
を形成する複数の第2成膜炉80と、これら第1成膜炉
60及び第2成膜炉80の内部に膜の原料を供給する原
料供給通路を画定する供給管61、81と、第1成膜炉
60及び第2成膜炉80の内部を排気する排気通路を画
定する排気管62、82等を備えている。
Each of the film forming lines of the above film forming apparatus includes:
As shown in FIGS. 1 and 2, a belt conveyor 50 that continuously conveys a glass substrate in one direction in a state where the glass substrate is placed, and covers a part of the belt conveyor 50 and a glass substrate placed on the belt conveyor. A film-forming furnace for defining a space, ie, S
A plurality of first film forming furnaces 60 for forming the iO 2 film and a plurality of second film forming furnaces 80 for forming the ITO film, and film raw materials are provided inside the first film forming furnace 60 and the second film forming furnace 80. Supply pipes 61 and 81 for defining a raw material supply passage for supplying the gas, and exhaust pipes 62 and 82 for defining exhaust paths for exhausting the insides of the first film forming furnace 60 and the second film forming furnace 80.

【0017】第1成膜炉60は、成膜装置の上流側に設
けられており、図1に示すように、ベルトコンベア50
の上面を包囲すると共に成膜空間を画定するマッフル本
体63を有し、このマッフル本体63は、水平方向に伸
長すると共にガラス基板を載置したベルトコンベア50
を囲繞する略矩形断面の搬送通路部63aと、この搬送
通路部63aの上側の壁面から上方に突出すると共に略
矩形断面をなすチャンバー部63bと、ガラス基板の搬
送方向においてこのチャンバー部63bを挟むように配
置され搬送通路部63aの上側の壁面から上方に突出す
ると共に略矩形断面をなす排気通路部63cとにより形
成されている。この排気通路部63cは、この上端のフ
ランジ部63c’に接続される排気管62と共に一つの
排気通路を形成している。
The first film forming furnace 60 is provided on the upstream side of the film forming apparatus, and as shown in FIG.
Has a muffle body 63 surrounding the upper surface of the substrate and defining a film formation space. The muffle body 63 extends in the horizontal direction and has a belt conveyor 50 on which a glass substrate is placed.
, A transfer passage 63a having a substantially rectangular cross section, a chamber 63b projecting upward from the upper wall surface of the transfer passage 63a, and forming a substantially rectangular cross section, and sandwiching the chamber 63b in the transfer direction of the glass substrate. And an exhaust passage 63c projecting upward from the upper wall surface of the transport passage 63a and having a substantially rectangular cross section. The exhaust passage portion 63c forms one exhaust passage together with the exhaust pipe 62 connected to the upper flange portion 63c '.

【0018】上記チャンバー部63bには、図1に示す
ように、SiO2 膜を形成する際の原料、例えばアルコ
キシラン等を気化して供給する供給管61が接続されて
いる。また、このチャンバー部63bには、その上端開
口を塞ぐ蓋体66が着脱可能に設けられている。
As shown in FIG. 1, a supply pipe 61 for supplying a raw material for forming an SiO 2 film, for example, an alkoxysilane or the like, is connected to the chamber 63b. Further, a lid 66 for closing the upper end opening is detachably provided in the chamber portion 63b.

【0019】上記搬送通路部63a内のおいては、気相
状態にある原料の有効成分は、チャンバー部63bから
ベルトコンベア50に載置されたガラス基板の上面に流
れ、ベルトコンベア50に沿って水平方向に流れ、排気
通路部63cから排気管62に向けて排出されることに
なる。
In the transport passage section 63a, the effective component of the raw material in a gaseous phase flows from the chamber section 63b to the upper surface of the glass substrate placed on the belt conveyor 50, and flows along the belt conveyor 50. The air flows in the horizontal direction and is discharged from the exhaust passage portion 63c toward the exhaust pipe 62.

【0020】上記第1成膜炉60に接続された排気管6
2の下方領域、すなわち、排気通路部63cのフランジ
部63c’寄りの排気管62には、図1に示すように、
その壁面を貫通して内部に連通するように配置された流
量調節手段の一部をなす圧力計70と、排気管62内を
流れる排気の流量を調節する流量調節手段の一部として
の開閉バルブ71とが設けられている。この圧力計70
及び開閉バルブ71が設けられた領域の排気管62は、
マッフル本体63の排気通路部63cに比べて通路面積
が狭くなるように絞られており、その下流側が集合排気
管62’に接続されている。
The exhaust pipe 6 connected to the first film forming furnace 60
As shown in FIG. 1, in the lower region of FIG. 2, that is, in the exhaust pipe 62 near the flange 63 c ′ of the exhaust passage 63 c,
A pressure gauge 70 forming a part of a flow control means disposed so as to penetrate the wall and communicate with the inside, and an opening / closing valve as a part of a flow control means for controlling a flow rate of exhaust gas flowing through the exhaust pipe 62. 71 are provided. This pressure gauge 70
The exhaust pipe 62 in the area where the opening and closing valve 71 is provided
The passage area is narrowed as compared with the exhaust passage portion 63c of the muffle main body 63, and the downstream side thereof is connected to the collective exhaust pipe 62 '.

【0021】そして、この圧力計70及び開閉バルブ7
1が設けられた領域を含むようにして、排気管62の外
周壁に断熱部材72が設けられている。この断熱部材7
2は、排気管62の内部を流れる排気の温度を極力低下
させず、500°C前後の温度に維持するものであれば
よく、例えばグラスウール、ロックウール等の繊維系の
断熱材を使用することができる。
The pressure gauge 70 and the open / close valve 7
A heat insulating member 72 is provided on the outer peripheral wall of the exhaust pipe 62 so as to include the region where the first member 1 is provided. This heat insulating member 7
2 may be any material that does not lower the temperature of the exhaust gas flowing inside the exhaust pipe 62 as much as possible and maintains the temperature at around 500 ° C. For example, a fiber-based heat insulating material such as glass wool or rock wool is used. Can be.

【0022】このような断熱部材72を設けることによ
り、排気管62の壁面からの放熱が遮断され、排気管6
2内を流れる排気の温度低下が防止される。その結果、
膜となり得る気相状態の有効成分、すなわち、SiO2
粒子等の排気管62内壁面への付着が防止ないしは抑制
される。
By providing such a heat insulating member 72, heat radiation from the wall of the exhaust pipe 62 is blocked, and the exhaust pipe 6
The temperature of the exhaust flowing through the inside of the fuel cell 2 is prevented from lowering. as a result,
The active ingredient in a gaseous state that can be a film, that is, SiO 2
The adhesion of particles and the like to the inner wall surface of the exhaust pipe 62 is prevented or suppressed.

【0023】特に、流量調節手段である圧力計70及び
開閉バルブ71が設けられた領域の排気管62の内壁面
に対して、SiO2 粒子等が付着しなくなりあるいは付
着が抑制される。これにより、圧力計70及び開閉バル
ブ71の所期の機能が長期にわたって維持されることに
なる。
In particular, the SiO 2 particles and the like do not adhere to the inner wall surface of the exhaust pipe 62 in the area where the pressure gauge 70 and the opening / closing valve 71 as the flow rate adjusting means are provided, or the adhesion is suppressed. As a result, the desired functions of the pressure gauge 70 and the opening / closing valve 71 are maintained for a long time.

【0024】この実施形態においては、上記断熱部材7
2を、圧力計70及び開閉バルブ71が配置された領域
に設けたが、この領域だけに限らず、マッフル本体63
を形成する排気通路部63cの外壁面に設けることも可
能である。この領域にも設けることで、圧力計70及び
開閉バルブ71が配置された位置よりも上流側におい
て、排気の温度が低下するのを防止あるいは抑制でき
る。
In this embodiment, the heat insulating member 7
2 is provided in the area where the pressure gauge 70 and the opening / closing valve 71 are arranged, but is not limited to this area.
May be provided on the outer wall surface of the exhaust passage portion 63c that forms By providing it also in this region, it is possible to prevent or suppress a decrease in the temperature of exhaust gas upstream of the position where the pressure gauge 70 and the on-off valve 71 are arranged.

【0025】第2成膜炉80は、第1成膜炉60よりも
下流側に設けられており、図2に示すように、ベルトコ
ンベア50の上面を包囲すると共に成膜空間を画定する
マッフル本体83を有し、このマッフル本体83は、水
平方向に伸長すると共にガラス基板を載置したベルトコ
ンベア50を囲繞する略矩形断面の搬送通路部83a
と、この搬送通路部83aの上側の壁面から上方に突出
すると共に略矩形断面をなすチャンバー部83bと、ガ
ラス基板の搬送方向においてこのチャンバー部83bを
挟むように配置され搬送通路部83aの上側の壁面から
上方に突出すると共に略矩形断面をなす排気通路部83
cとにより形成されている。この排気通路部83cは、
この上端のフランジ部83c’に接続される排気管82
と共に一つの排気通路を形成している。
The second film forming furnace 80 is provided downstream of the first film forming furnace 60 and, as shown in FIG. 2, surrounds the upper surface of the belt conveyor 50 and defines a muffle for defining a film forming space. The muffle main body 83 has a substantially rectangular cross section conveying passage 83a which extends in the horizontal direction and surrounds the belt conveyor 50 on which the glass substrate is placed.
A chamber portion 83b projecting upward from the upper wall surface of the transfer passage portion 83a and having a substantially rectangular cross section; and a chamber portion 83b disposed above the transfer passage portion 83a and arranged so as to sandwich the chamber portion 83b in the glass substrate transfer direction. Exhaust passage 83 projecting upward from the wall surface and having a substantially rectangular cross section
c. This exhaust passage 83c is
Exhaust pipe 82 connected to this upper end flange 83c '
Together form one exhaust passage.

【0026】上記チャンバー部83bには、図2に示す
ように、ITO膜を形成する際の原料例えばInCl3
のCH3 OH溶液にSnCl4 を添加した溶液を霧化し
て供給する供給管81が接続されている。また、このチ
ャンバー部83bには、その上端開口を塞ぐ蓋体86が
着脱可能に設けられている。上記搬送通路部83a内に
おいては、気相状態にある原料の有効成分は、チャンバ
ー部83bからベルトコンベア50に載置されたガラス
基板の上面に流れ、ベルトコンベア50に沿って水平方
向に流れ、排気通路部83cから排気管82に向けて排
出されることになる。
As shown in FIG. 2, a raw material for forming an ITO film, for example, InCl 3
A supply pipe 81 for supplying a solution obtained by adding SnCl 4 to a CH 3 OH solution of the present invention is connected. In addition, a lid 86 that covers the upper end opening of the chamber 83b is detachably provided. In the transport passage section 83a, the active ingredient of the raw material in a gaseous phase flows from the chamber section 83b to the upper surface of the glass substrate placed on the belt conveyor 50, and flows horizontally along the belt conveyor 50, The exhaust gas is discharged from the exhaust passage 83c toward the exhaust pipe 82.

【0027】上記第2成膜炉80に接続された排気管8
2の下方領域、すなわち、排気通路部83cのフランジ
部83c’寄りの排気管82には、図2に示すように、
その壁面を貫通して内部に連通するように配置された流
量調節手段の一部をなす圧力計90と、排気管82内を
流れる排気の流量を調節する流量調節手段の一部として
の開閉バルブ91とが設けられている。この圧力計90
及び開閉バルブ91が設けられた領域の排気管82は、
マッフル本体83の排気通路部83cに比べて通路面積
が狭くなるように絞られており、その下流側が集合排気
管82’に接続されている。
The exhaust pipe 8 connected to the second film forming furnace 80
As shown in FIG. 2, in the lower region of FIG. 2, that is, in the exhaust pipe 82 near the flange portion 83c ′ of the exhaust passage portion 83c,
A pressure gauge 90 forming a part of a flow control means disposed so as to penetrate the wall surface and communicate with the inside, and an opening / closing valve as a part of a flow control means for controlling a flow rate of exhaust gas flowing through an exhaust pipe 82. 91 are provided. This pressure gauge 90
The exhaust pipe 82 in the area where the opening and closing valve 91 is provided
The passage area is narrowed as compared with the exhaust passage section 83c of the muffle main body 83, and the downstream side thereof is connected to the collective exhaust pipe 82 '.

【0028】そして、この圧力計90及び開閉バルブ9
1が設けられた領域を含むようにして、排気管82の外
周壁に断熱部材92が設けられている。この断熱部材9
2は、排気管82の内部を流れる排気の温度を極力低下
させず、500°C前後の温度に維持するものであれば
よく、例えばグラスウール、ロックウール等の繊維系の
断熱材を使用することができる。
The pressure gauge 90 and the open / close valve 9
A heat insulating member 92 is provided on the outer peripheral wall of the exhaust pipe 82 so as to include the region where the first member 1 is provided. This heat insulating member 9
2 may be any material that does not lower the temperature of the exhaust gas flowing inside the exhaust pipe 82 as much as possible and maintains the temperature at around 500 ° C., for example, using a fiber-based heat insulating material such as glass wool or rock wool. Can be.

【0029】ITO膜形成用の第2成膜炉80において
は、SiO2 膜形成用の第1成膜炉60に比べて、それ
ほど排気管内の付着、目詰まり等が問題とならないた
め、このような断熱部材92を設けなくてもよいが、こ
のような断熱部材92を設けることにより、排気管82
の壁面からの放熱が遮断され、排気管82内を流れる排
気の温度低下が防止される。その結果、膜となり得る気
相状態の有効成分等の排気管82内壁面への付着が、よ
り確実に防止ないしは抑制される。これにより、特に流
量調節手段である圧力計90及び開閉バルブ91の所期
の機能がより長期にわたって確実に維持されることにな
る。
In the second film forming furnace 80 for forming an ITO film, the adhesion and clogging in the exhaust pipe are not so much a problem as compared with the first film forming furnace 60 for forming an SiO 2 film. It is not necessary to provide a simple heat insulating member 92, but by providing such a heat insulating member 92, the exhaust pipe 82
Of the exhaust gas flowing through the exhaust pipe 82 is prevented from lowering. As a result, the adhesion of the gaseous state effective component or the like that can become a film to the inner wall surface of the exhaust pipe 82 is more reliably prevented or suppressed. As a result, the intended functions of the pressure gauge 90 and the opening / closing valve 91, which are flow rate adjusting means, are surely maintained for a longer period of time.

【0030】この実施形態においては、上記断熱部材9
2を、圧力計90及び開閉バルブ91が配置された領域
に設けたが、この領域だけに限らず、マッフル本体83
を形成する排気通路部83cの外壁面に設けることも可
能である。この領域にも設けることで、圧力計90及び
開閉バルブ91が配置された位置よりも上流側におい
て、排気の温度が低下するのをより確実に防止あるいは
抑制できる。
In this embodiment, the heat insulating member 9
2 is provided in the area where the pressure gauge 90 and the opening / closing valve 91 are arranged, but is not limited to this area.
May be provided on the outer wall surface of the exhaust passage portion 83c that forms By providing it also in this region, it is possible to more reliably prevent or suppress a decrease in the temperature of exhaust gas on the upstream side of the position where the pressure gauge 90 and the opening / closing valve 91 are arranged.

【0031】図3及び図4は、本発明に係る成膜装置の
他の実施形態を示す断面図である。この実施形態に係る
成膜装置では、前述の実施形態における断熱部材72、
92の代わりに、加熱手段としてのヒータ100、11
0を採用した以外は、前述実施形態と同一である。した
がって、ここでは、前述実施形態と同一の構成について
の説明は省略する。
FIGS. 3 and 4 are sectional views showing another embodiment of the film forming apparatus according to the present invention. In the film forming apparatus according to this embodiment, the heat insulating member 72 in the above-described embodiment,
Instead of 92, heaters 100 and 11 as heating means
It is the same as the previous embodiment except that 0 was adopted. Therefore, description of the same configuration as that of the above-described embodiment will be omitted.

【0032】すなわち、この実施形態では、第1成膜炉
60において、図3に示すように、圧力計70及び開閉
バルブ71が設けられた領域を含むようにして、排気管
62の外周壁に加熱手段としての電気式のヒータ100
が設けられている。このヒータ100は、排気管62の
内部を流れる排気の温度を極力低下させず、500°C
前後の温度に維持するものであればよく、特に、加熱温
度を可変的に調節できるものであれば、適宜所望の加熱
温度に設定できるため好ましい。
That is, in this embodiment, as shown in FIG. 3, a heating means is provided on the outer peripheral wall of the exhaust pipe 62 so as to include a region where the pressure gauge 70 and the opening / closing valve 71 are provided. Electric heater 100 as
Is provided. The heater 100 does not lower the temperature of the exhaust gas flowing inside the exhaust pipe 62 as much as
What is necessary is just to maintain the temperature before and after. Particularly, if the heating temperature can be variably adjusted, it is preferable because the desired heating temperature can be appropriately set.

【0033】このようなヒータ100を設けることによ
り、排気管62の外壁面を所望の温度に加熱して、排気
管62内を流れる排気を所望の温度に調節することがで
きる。したがって、膜となり得る気相状態の有効成分、
すなわち、SiO2 粒子等が排気管62の内壁面へ付着
しないような温度に加熱することにより、排気管62内
の目詰まり等を防止できる。これにより、特に、流量調
節手段である圧力計70及び開閉バルブ71が設けられ
た領域の排気管62の内壁面に対して、SiO 2 粒子等
が付着しなくなりあるいは付着が抑制される。したがっ
て、圧力計70及び開閉バルブ71の所期の機能が長期
にわたって維持されることになる。
By providing such a heater 100,
Heating the outer wall surface of the exhaust pipe 62 to a desired temperature,
The exhaust gas flowing through the pipe 62 can be adjusted to a desired temperature.
Wear. Therefore, the active ingredient in a gas phase state that can be a film,
That is, SiOTwoParticles adhere to the inner wall surface of the exhaust pipe 62
By heating to a temperature that does not cause
Clogging can be prevented. This allows, among other things,
A pressure gauge 70 and an opening / closing valve 71 as joint means are provided.
The inner wall surface of the exhaust pipe 62 in the TwoParticles
Does not adhere or adhesion is suppressed. Accordingly
The expected functions of the pressure gauge 70 and the opening / closing valve 71 are long
Will be maintained over time.

【0034】この実施形態においては、上記ヒータ10
0を、圧力計70及び開閉バルブ71が配置された領域
に設けたが、この領域だけに限らず、マッフル本体63
を形成する排気通路部63cの外壁面に設けることも可
能である。この領域にも設けることで、圧力計70及び
開閉バルブ71が配置された位置よりも上流側において
も、排気の温度を所望の温度に調節することができる。
In this embodiment, the heater 10
0 is provided in the area where the pressure gauge 70 and the opening / closing valve 71 are arranged, but is not limited to this area.
May be provided on the outer wall surface of the exhaust passage portion 63c that forms By providing it in this region, the temperature of the exhaust gas can be adjusted to a desired temperature even on the upstream side of the position where the pressure gauge 70 and the opening / closing valve 71 are arranged.

【0035】また、第2成膜炉80において、図4に示
すように、圧力計90及び開閉バルブ91が設けられた
領域を含むようにして、排気管82の外周壁に加熱手段
としてのヒータ110が設けられている。このヒータ1
10は、排気管82の内部を流れる排気の温度を極力低
下させず、500°C前後の温度に維持するものであれ
ばよく、特に、加熱温度を可変的に調節できるものであ
れば、適宜所望の加熱温度に設定できるため好ましい。
In the second film forming furnace 80, as shown in FIG. 4, a heater 110 as a heating means is provided on the outer peripheral wall of the exhaust pipe 82 so as to include a region where the pressure gauge 90 and the opening / closing valve 91 are provided. Is provided. This heater 1
Reference numeral 10 may be any as long as it does not lower the temperature of the exhaust gas flowing inside the exhaust pipe 82 as much as possible and maintains it at a temperature of about 500 ° C. In particular, as long as the heating temperature can be variably adjusted, This is preferable because a desired heating temperature can be set.

【0036】SiO2 成膜に用いられる原料であるテト
ラアルコキシランよりも高沸点である原料を用いて成膜
を行なう場合、それほど排気管内の付着、目詰まり等が
問題とならないため、このようなヒータ110を設けな
くてもよいが、このようなヒータ110を設けることに
より、排気管82の壁面からの放熱を遮断でき、排気管
82内を流れる排気の温度低下を防止できるのは勿論の
こと、排気管82内を流れる排気の温度を所望の温度に
調節することができる。
When a film is formed using a raw material having a boiling point higher than that of tetraalkoxylan, which is a raw material used for forming SiO 2 , adhesion and clogging in the exhaust pipe do not cause much problems. It is not necessary to provide the heater 110. However, by providing such a heater 110, heat radiation from the wall surface of the exhaust pipe 82 can be cut off, and the temperature of exhaust flowing through the exhaust pipe 82 can be prevented from lowering. The temperature of the exhaust gas flowing through the exhaust pipe 82 can be adjusted to a desired temperature.

【0037】その結果、膜となり得る気相状態の有効成
分等の排気管82内壁面への付着が、より確実に防止な
いしは抑制される。これにより、特に流量調節手段であ
る圧力計90及び開閉バルブ91の所期の機能がより長
期にわたって確実に維持されることになる。
As a result, the adhesion of the gaseous state effective component or the like which can be a film to the inner wall surface of the exhaust pipe 82 is more reliably prevented or suppressed. As a result, the intended functions of the pressure gauge 90 and the opening / closing valve 91, which are flow rate adjusting means, are surely maintained for a longer period of time.

【0038】この実施形態においては、上記ヒータ11
0を、圧力計90及び開閉バルブ91が配置された領域
に設けたが、この領域だけに限らず、マッフル本体83
を形成する排気通路部83cの外壁面に設けることも可
能である。この領域にも設けることで、圧力計90及び
開閉バルブ91が配置された位置よりも上流側において
も、排気の温度を所望の温度に調節することができる。
In this embodiment, the heater 11
0 is provided in the area where the pressure gauge 90 and the opening / closing valve 91 are arranged, but is not limited to this area.
May be provided on the outer wall surface of the exhaust passage portion 83c that forms By providing it also in this region, the temperature of the exhaust gas can be adjusted to a desired temperature even on the upstream side of the position where the pressure gauge 90 and the opening / closing valve 91 are arranged.

【0039】上記実施形態においては、断熱部材72,
92と、ヒータ100,110とを別々に設けたが、両
者を兼ね備える構成を採用することも可能である。この
場合、効率良く排気の温度を調節することができる。ま
た、上記実施形態においては、連続的に成膜を行なう成
膜装置において、断熱部材あるいは加熱手段を設ける構
成を示したが、これに限るものではなく、ガラス基板一
枚ずつ処理する枚葉式の成膜装置等においても、本発明
に係る断熱部材あるいは加熱手段を適用することができ
る。
In the above embodiment, the heat insulating member 72,
Although the heater 92 and the heaters 100 and 110 are separately provided, a configuration having both of them may be employed. In this case, the temperature of the exhaust gas can be adjusted efficiently. Further, in the above-described embodiment, a configuration in which a heat insulating member or a heating unit is provided in a film forming apparatus that continuously forms a film is described. However, the present invention is not limited to this. The heat insulating member or the heating means according to the present invention can be applied to the film forming apparatus described above.

【0040】[0040]

【発明の効果】以上述べたように、本発明の成膜装置に
よれば、化学的気相成膜法により基板の表面に膜を生成
する成膜炉の内部を排気する排気通路に対して、この排
気通路を画定する壁面の周りに断熱部材あるいは加熱手
段を設けたことにより、排気通路の壁面からの放熱を遮
断あるいは排気通路内を流れる排気の温度を所望の温度
に調節することができる。
As described above, according to the film forming apparatus of the present invention, an exhaust passage for exhausting the inside of a film forming furnace for forming a film on the surface of a substrate by a chemical vapor deposition method is provided. By providing a heat insulating member or a heating means around the wall defining the exhaust passage, heat radiation from the wall of the exhaust passage can be blocked or the temperature of exhaust flowing through the exhaust passage can be adjusted to a desired temperature. .

【0041】したがって、排気通路内を流れる排気温度
の低下を防止でき、膜となり得る気相状態の有効成分、
例えばSiO2 粒子等が排気通路内壁面へ付着すのを防
止ないしは抑制できる。これにより、清掃作業を従来の
ように頻繁に行なう必要がなく、ピンホール等の不良品
の発生率を抑えつつ、成膜ラインの稼働率を高めて、生
産性を向上させることができる。
Therefore, it is possible to prevent a decrease in the temperature of the exhaust gas flowing through the exhaust passage, and to form a gas-phase effective component that can form a film.
For example, it is possible to prevent or suppress SiO 2 particles and the like from adhering to the inner wall surface of the exhaust passage. As a result, it is not necessary to perform the cleaning work as frequently as in the related art, and it is possible to improve the productivity of the film formation line while suppressing the occurrence rate of defective products such as pinholes.

【0042】また、上記断熱部材あるいは加熱手段を、
圧力計又は開閉バルブ等の流量調節手段が設けられた領
域の近傍に配置することにより、排気通路の目詰まり等
を防止して、流量調節手段の所期の機能を長期にわたっ
て維持することができる。
Further, the heat insulating member or the heating means may be
By arranging in the vicinity of the area where the flow rate adjusting means such as a pressure gauge or an opening / closing valve is provided, clogging of the exhaust passage and the like can be prevented, and the expected function of the flow rate adjusting means can be maintained for a long time. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】SiO2 膜を生成する第1成膜炉の排気管に断
熱部材を設けた概略構成を示す断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a schematic configuration in which a heat insulating member is provided in an exhaust pipe of a first film forming furnace for producing a SiO 2 film.

【図2】ITO膜を生成する第2成膜炉の排気管に断熱
部材を設けた概略構成を示す断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing a schematic configuration in which a heat insulating member is provided in an exhaust pipe of a second film forming furnace for forming an ITO film.

【図3】SiO2 膜を生成する第1成膜炉の排気管に加
熱手段を設けた概略構成を示す断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a schematic configuration in which a heating means is provided in an exhaust pipe of a first film forming furnace for forming an SiO 2 film.

【図4】ITO膜を生成する第2成膜炉の排気管に加熱
手段を設けた概略構成を示す断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a schematic configuration in which a heating means is provided in an exhaust pipe of a second film forming furnace for forming an ITO film.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

60・・・第1成膜炉 61・・・供給管(原料供給通路) 62・・・排気管(排気通路) 63・・・マッフル本体 63a・・・搬送通路部 63b・・・チャンバー部 63c・・・排気通路部(排気通路) 70・・・圧力計(流量調節手段) 71・・・開閉バルブ(流量調節手段) 72・・・断熱部材 80・・・第2成膜炉 81・・・供給管(原料供給通路) 82・・・排気管(排気通路) 83・・・マッフル本体 83a・・・搬送通路部 83b・・・チャンバー部 83c・・・排気通路部(排気通路) 90・・・圧力計(流量調節手段) 91・・・開閉バルブ(流量調節手段) 92・・・ヒータ(加熱手段) 100・・・断熱部材 110・・・ヒータ(加熱手段) Reference numeral 60: First film forming furnace 61: Supply pipe (source supply passage) 62: Exhaust pipe (exhaust passage) 63: Muffle main body 63a: Transport passage 63b: Chamber 63c ... Exhaust passage section (exhaust passage) 70 ... Pressure gauge (flow rate adjusting means) 71 ... Open / close valve (flow rate adjusting means) 72 ... Heat insulation member 80 ... Second film forming furnace 81 ... · Supply pipe (raw material supply passage) 82 ··· Exhaust pipe (exhaust passage) 83 ··· Muffle main body 83a ··· Conveyance passage section 83b ··· Chamber section 83c ··· Exhaust passage section (exhaust passage) 90 · ..Pressure gauge (flow rate adjusting means) 91 ... open / close valve (flow rate adjusting means) 92 ... heater (heating means) 100 ... heat insulating member 110 ... heater (heating means)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山田 茂男 千葉県市原市五井南海岸12−8 日本曹達 株式会社千葉工場内 Fターム(参考) 4K030 BA44 CA06 CA12 EA11 JA05 KA25 5F045 AA03 AB32 AD09 AE29 AF07 BB14 EF20 EG02  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing from the front page (72) Inventor Shigeo Yamada 12-8, Goi-minamikaigan, Ichihara-shi, Chiba F-term (reference) in Nippon Soda Co., Ltd. Chiba Plant 4K030 BA44 CA06 CA12 EA11 JA05 KA25 5F045 AA03 AB32 AD09 AE29 AF07 BB14 EF20 EG02

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板を収容する空間を画定する成膜炉
と、前記成膜炉の内部に膜の原料を供給する原料供給通
路と、前記成膜炉の内部を排気する排気通路とを備え
て、化学的気相成膜法により基板の表面に膜を生成する
成膜装置であって、 前記排気通路を画定する壁面の周りには、少なくとも前
記成膜炉に接続された領域の近傍において、断熱部材が
設けられている、ことを特徴とする成膜装置。
1. A film forming furnace for defining a space for accommodating a substrate, a material supply passage for supplying a film material into the film forming furnace, and an exhaust passage for exhausting the inside of the film forming furnace. A film forming apparatus for forming a film on a surface of a substrate by a chemical vapor deposition method, wherein at least a region connected to the film forming furnace is provided around a wall defining the exhaust passage. And a heat insulating member.
【請求項2】 前記排気通路には、その内部を流れる排
気の流量を調節する流量調節手段が設けられており、 前記断熱部材は、前記流量調節手段が設けられた領域を
含むように配置されている、ことを特徴とする請求項1
記載の成膜装置。
2. The exhaust passage is provided with flow rate adjusting means for adjusting a flow rate of exhaust gas flowing through the exhaust passage, and the heat insulating member is arranged to include a region where the flow rate adjusting means is provided. 2. The method according to claim 1, wherein
A film forming apparatus as described in the above.
【請求項3】 前記流量調節手段は、少なくとも圧力計
又は開閉バルブを有する、ことを特徴とする請求項2記
載の成膜装置。
3. The film forming apparatus according to claim 2, wherein said flow rate adjusting means has at least a pressure gauge or an on-off valve.
【請求項4】 基板を収容する空間を画定する成膜炉
と、前記成膜炉の内部に膜の原料を供給する原料供給通
路と、前記成膜炉の内部を排気する排気通路とを備え
て、化学的気相成膜法により基板の表面に膜を生成する
成膜装置であって、 前記排気通路を画定する壁面の周りには、少なくとも前
記成膜炉に接続された領域の近傍において、内部を流れ
る排気を加熱する加熱手段が設けられている、ことを特
徴とする成膜装置。
4. A film forming furnace for defining a space for accommodating a substrate, a material supply passage for supplying a film material to the inside of the film forming furnace, and an exhaust passage for exhausting the inside of the film forming furnace. A film forming apparatus for forming a film on a surface of a substrate by a chemical vapor deposition method, wherein at least a region connected to the film forming furnace is provided around a wall defining the exhaust passage. And a heating means for heating exhaust gas flowing through the inside of the film forming apparatus.
【請求項5】 前記排気通路には、その内部を流れる排
気の流量を調節する流量調節手段が設けられており、 前記加熱手段は、前記流量調節手段が設けられた領域を
含むように配置されている、ことを特徴とする請求項4
記載の成膜装置。
5. The exhaust passage is provided with flow rate adjusting means for adjusting the flow rate of exhaust gas flowing inside the exhaust passage, and the heating means is arranged so as to include a region where the flow rate adjusting means is provided. 5. The method according to claim 4, wherein
A film forming apparatus as described in the above.
【請求項6】 前記流量調節手段は、圧力計又は開閉バ
ルブを有する、ことを特徴とする請求項5記載の成膜装
置。
6. The film forming apparatus according to claim 5, wherein said flow rate adjusting means has a pressure gauge or an on-off valve.
JP11175429A 1999-06-22 1999-06-22 Film forming device Pending JP2001003170A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11175429A JP2001003170A (en) 1999-06-22 1999-06-22 Film forming device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11175429A JP2001003170A (en) 1999-06-22 1999-06-22 Film forming device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001003170A true JP2001003170A (en) 2001-01-09

Family

ID=15995958

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11175429A Pending JP2001003170A (en) 1999-06-22 1999-06-22 Film forming device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001003170A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6578589B1 (en) Apparatus for manufacturing semiconductor wafer
CN101205062B (en) Reaction chamber for manufacturing a carbon nanotube, apparatus for manufacturing the carbon nanotube and system for manufacturing the carbon nanotube
JP5124760B2 (en) Film forming method and film forming apparatus
JP5919388B2 (en) Substrate processing apparatus for supplying reaction gas having phase difference
JP5844919B2 (en) Substrate processing apparatus including auxiliary gas supply port
JP5848832B2 (en) Substrate processing apparatus including a heat shield plate
JPH02138473A (en) Treating device and treating method
JP6060172B2 (en) Substrate processing apparatus including a plurality of exhaust ports and method thereof
JP5149437B1 (en) Film forming apparatus and film forming method
CN103649368B (en) Gas injection device, apparatus for atomic layer deposition and use the Atomic layer deposition method of this apparatus for atomic layer deposition
WO1993013244A1 (en) Surface reaction film formation apparatus
US20090061651A1 (en) Substrate processing apparatus and method for manufacturing semiconductor device
TW201226337A (en) Apparatus for producing float plate glass and method for producing float plate glass
JP2001003170A (en) Film forming device
JP3179864B2 (en) Thin film forming equipment
JP2001023907A (en) Film-forming device
KR101431087B1 (en) apparatus for Selctive Epitaxial Growth and Cluster Apparatus
TWI503868B (en) Vacuum processing device
US20030175426A1 (en) Heat treatment apparatus and method for processing substrates
JP2008103388A (en) Semiconductor manufacturing system
JP2006186015A (en) Substrate processor
JP2011216848A (en) Method of manufacturing semiconductor device, and manufacturing method and processing apparatus for substrate
JPH10275776A (en) Semiconductor wafer manufacturing equipment
JP2006059938A (en) Substrate processing device
US20230307255A1 (en) Systems and methods for controlling accretion in semiconductor processing system exhaust arrangements

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060119

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080925

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080930

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081201

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091201

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100201

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100302