JP2001002242A - Electronic parts aligning and feeding device - Google Patents

Electronic parts aligning and feeding device

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JP2001002242A
JP2001002242A JP11181202A JP18120299A JP2001002242A JP 2001002242 A JP2001002242 A JP 2001002242A JP 11181202 A JP11181202 A JP 11181202A JP 18120299 A JP18120299 A JP 18120299A JP 2001002242 A JP2001002242 A JP 2001002242A
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Japan
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air
electronic component
aligning
downstream
electronic components
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JP11181202A
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Japanese (ja)
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Tadashi Shato
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NIPPON RITORU KK
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electronic parts aligning and feeding device in which durability is improved without applying mechanical stress to electronic parts. SOLUTION: An electronic parts aligning and feeding device 1 for aligning and conveying electronic parts, separating the aligned and conveyed electronic parts, and then feeding them to a next process is provided with a conveying passage 11 for aligning and conveying the electronic parts, air supplying means 8, 9 for supplying air from the upstream of the conveying passage 11 and then moving the electronic parts downstream by air pressure, an air shutting means 13 provided downstream of the air supplying means 8, 9 and for jetting out air approximately perpendicularly to the conveying direction of the electronic parts and shutting the conveyance of the electronic parts to be aligned and conveyed by stratums of the air flow by air jetting, a suction means 12 provided among the air supplying means 8, 9 and the air shutting means 13 and for sucking the electronic parts and stopping the electronic parts to be aligned and conveyed, and a passage confirming sensor 14 provided downstream of the suction means 12 and for detecting passage of the electronic parts.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品を整列搬
送するとともに、前記整列搬送される電子部品を分離し
て次工程に供給する電子部品整列供給装置に関し、特
に、搬送時及び分離時に電子部品に機械的なストレスを
与えない電子部品整列供給装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic component aligning and feeding device for aligning and transporting electronic components and separating the electronic components to be aligned and transporting the separated electronic components to a next process. The present invention relates to an electronic component alignment and supply device that does not apply mechanical stress to components.

【0002】[0002]

【従来の技術】抵抗等のチップ(電子部品)は、プリン
ト基板への自動実装等のために、テープに等間隔に一個
ずつ充填された状態で収納される。チップをテーピング
する前工程として、チップの外観検査、不良検査、極性
検査等を行うために、チップはインデックステーブルの
円周上に等間隔で一個ずつ移載される。そのため、イン
デックステーブルへの移載前に、チップを一個ずつ分離
された状態で搬送する必要がある。そこで、電子部品整
列供給装置によって、チップを整列搬送し、さらにチッ
プを一個ずつ分離している。
2. Description of the Related Art Chips (electronic parts) such as resistors are stored in a state where they are filled one by one at regular intervals in a tape for automatic mounting on a printed circuit board. The chips are transferred one by one on the circumference of the index table at equal intervals in order to perform a chip appearance inspection, a defect inspection, a polarity inspection, and the like as a pre-step of taping the chips. Therefore, it is necessary to transport chips in a separated state one by one before transfer to the index table. Therefore, the chips are aligned and transported by the electronic component alignment and supply device, and the chips are separated one by one.

【0003】従来の電子部品整列供給装置は、振動フィ
ーダによる搬送部と搬送部の下流にチップの分離部を備
える。まず、製造されたチップは、ホッパからパーツフ
ィーダに投入される。パーツフィーダは、円周方向にチ
ップを移動させ、外周部の搬送路にチップを一列搬送す
る。そして、パーツフィーダは、チップを振動フィーダ
の搬送路に送り出す。振動フィーダは、振動による搬送
力で、チップを一列に整列した状態で搬送する。このと
き、各チップは、前後のチップと接した状態で搬送され
る。さらに、一列に整列したチップが、分離部で一個ず
つ分離されて、インデックステーブルに移載される。
[0003] A conventional electronic component aligning and feeding device is provided with a conveying section by a vibrating feeder and a chip separating section downstream of the conveying section. First, the manufactured chips are put into a parts feeder from a hopper. The parts feeder moves the chips in the circumferential direction, and conveys the chips in a line to a conveying path on the outer peripheral portion. Then, the parts feeder sends out the chips to the transport path of the vibration feeder. The vibrating feeder conveys the chips in a state of being aligned in a row by a conveying force due to vibration. At this time, each chip is transported in a state of being in contact with the preceding and following chips. Further, chips arranged in a line are separated one by one by a separation unit and transferred to an index table.

【0004】図7に従来の電子部品整列供給装置の分離
部の側断面図を示す。図7の(a)に示すように、分離
部20は、ニードル22を上昇させ、一列に整列したチ
ップC列の搬送を遮断する。その後、図7の(b)に示
すように、分離部20は、ワイヤパッド21を上昇させ
て、一列に整列したチップC,C,・・・の下流から2
番目のチップCを押し上げて停止させる。そして、分離
部20は、ニードル22を下降させ、一列に整列したチ
ップC,C,・・・の最下流のチップCをバキューム2
4,24の吸引力により分離し、インデックステーブル
に送り出す。このとき、分離部20は、チップCの分離
を分離センサ23で検知し、ニードル22及びワイヤパ
ッド21の上昇/下降するタイミングを制御する。
FIG. 7 is a sectional side view of a separating portion of a conventional electronic component aligning and feeding device. As shown in FIG. 7A, the separation unit 20 raises the needle 22 and interrupts the conveyance of the rows of chips C arranged in a line. After that, as shown in FIG. 7B, the separation unit 20 raises the wire pad 21 to remove the chips C, C,.
The chip C is pushed up and stopped. Then, the separation unit 20 lowers the needle 22 and removes the chips C, C,...
It is separated by the suction force of 4, 24 and sent out to the index table. At this time, the separation unit 20 detects the separation of the chip C by the separation sensor 23 and controls the timing at which the needle 22 and the wire pad 21 move up and down.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】従来の電子部品整列供
給装置は、振動フィーダの振動による搬送力でチップ等
の電子部品を搬送するので、電子部品に常時振動を与え
る。さらに、分離部20において、ワイヤパッド21が
チップC(電子部品)の下部を押圧したり、あるいはチ
ップC(電子部品)の先端がニードル22を押圧したり
する。そのため、従来の電子部品整列供給装置は、電子
部品に機械的なストレスを与えていた。特に、振動フィ
ーダによる振動によって、物理的に脆い構造の電子部品
に対して損傷を与える場合があった。また、従来の電子
部品整列供給装置は、常時振動させて電子部品を搬送す
るので、故障等が発生し易く、騒音等の問題もあった。
A conventional electronic component aligning and feeding apparatus transports electronic components such as chips by a transport force generated by the vibration of a vibrating feeder, so that the electronic components are constantly vibrated. Further, in the separation section 20, the wire pad 21 presses the lower part of the chip C (electronic component), or the tip of the chip C (electronic component) presses the needle 22. For this reason, the conventional electronic component aligning and supplying device has given a mechanical stress to the electronic component. In particular, there is a case where the electronic component having a physically fragile structure is damaged by the vibration of the vibration feeder. Further, since the conventional electronic component aligning and feeding device always vibrates and transports the electronic components, a failure or the like is apt to occur, and there are also problems such as noise.

【0006】そこで、本発明の課題は、電子部品に機械
的なストレスを与えることなく、装置自体の耐久性も向
上し、静音の電子部品整列供給装置を提供することにあ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a silent electronic component aligning and supplying device in which the durability of the device itself is improved without applying mechanical stress to the electronic component.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】前記課題を解決した本発
明に係る電子部品整列供給装置は、電子部品を整列搬送
するとともに、前記整列搬送される電子部品を分離して
次工程に供給する電子部品整列供給装置において、前記
電子部品を整列搬送する搬送路と、前記搬送路に上流か
ら下流への空気の流れをつくり、前記空気の流れにより
前記電子部品を移動させる空気搬送手段とを備えること
を特徴とする。この電子部品整列供給装置によれば、搬
送路上に搬送方向の上流から下流への空気の流れをつく
り、この空気の流れによる搬送力で整列された電子部品
を移動させるので、電子部品に機械的なストレスを与え
ない。
According to the present invention, there is provided an electronic component aligning and feeding apparatus according to the present invention, which aligns and transports electronic components, separates the electronic components to be aligned and transported, and supplies the separated electronic components to a next process. In the component aligning and supplying device, a transport path for aligning and transporting the electronic components, and an air transport unit that creates an air flow from upstream to downstream in the transport path and moves the electronic components by the air flow. It is characterized by. According to this electronic component aligning and supplying device, an air flow is created on the transport path from upstream to downstream in the transport direction, and the electronic components arranged by the transport force due to the air flow are moved. Do not give any stress.

【0008】さらに、前記電子部品整列供給装置におい
て、前記空気搬送手段を、前記搬送路の上流から空気を
供給し、空気圧により前記電子部品を下流に移動させる
空気供給手段で構成することを特徴とする。この電子部
品整列供給装置によれば、搬送路上に整列された電子部
品を空気圧による搬送力で移動させるので、電子部品に
機械的なストレスを与えない。
Further, in the electronic component aligning and supplying device, the air transport means is constituted by air supply means for supplying air from upstream of the transport path and moving the electronic component downstream by air pressure. I do. According to this electronic component aligning and supplying device, the electronic components arranged on the transport path are moved by the pneumatic transport force, so that no mechanical stress is applied to the electronic components.

【0009】また、前記課題を解決した本発明に係る電
子部品整列供給装置は、電子部品を整列搬送するととも
に、前記整列搬送される電子部品を分離して次工程に供
給する電子部品整列供給装置において、前記電子部品の
搬送方向に対して垂直方向に空気を噴き出し、この空気
噴出による空気流の層で前記整列搬送される電子部品の
搬送を遮断する空気遮断手段と、前記空気遮断手段の上
流側に設けられ、前記電子部品を吸引し、前記整列搬送
される電子部品を停止させる吸引手段とを備え、前記空
気遮断手段で搬送を遮断されている前記整列搬送される
電子部品を前記吸引手段で吸引した後、前記空気遮断手
段による空気の噴き出しを停止し、前記整列搬送される
電子部品の下流側の電子部品を分離することを特徴とす
る。この電子部品整列供給装置によれば、電子部品を分
離するために、整列搬送される電子部品の停止には吸引
及び整列搬送される電子部品の搬送の遮断には空気流の
層を利用しているので、電子部品に機械的なストレスを
与えない。
An electronic component aligning and supplying apparatus according to the present invention, which solves the above problems, aligns and transports electronic components, and separates the electronic components to be aligned and transported and supplies the separated electronic components to a next process. Air blowing means for blowing air in a direction perpendicular to the direction of transport of the electronic components, and air blocking means for blocking the transport of the aligned and transported electronic components by a layer of air flow by the air blowing, and upstream of the air blocking means. Suction means provided on a side of the electronic component, for sucking the electronic component and stopping the electronic component to be aligned and transported, wherein the suction device is configured to suck the electronic component to be aligned and transported, the transport of which is interrupted by the air shutoff device. After the suction in step (1), the blowing of air by the air shutoff means is stopped, and the electronic components downstream of the electronic components conveyed in a line are separated. According to this electronic component aligning and supplying apparatus, in order to separate the electronic components, suction is used to stop the electronic components to be aligned and transported, and an air flow layer is used to shut off the transport of the electronic components to be aligned and transported. It does not apply mechanical stress to electronic components.

【0010】また、前記電子部品整列供給装置におい
て、前記空気遮断手段および前記吸引手段の上流側に設
けられ、下流方向に空気を供給し、空気圧により前記電
子部品を下流に移動させる空気供給手段を備えることを
特徴とする。この電子部品整列供給装置によれば、電子
部品の下流方向への搬送を空気圧により行うので、電子
部品に機械的なストレスを与えない。
In the electronic component aligning / supplying device, air supply means provided upstream of the air blocking means and the suction means for supplying air in a downstream direction and moving the electronic component downstream by air pressure. It is characterized by having. According to this electronic component aligning and supplying device, the electronic components are conveyed downstream by pneumatic pressure, so that no mechanical stress is applied to the electronic components.

【0011】さらに、前記吸引手段の下流側に設けら
れ、電子部品の通過を検知する通過確認センサを備える
ことを特徴とする。この電子部品整列供給装置によれ
ば、通過確認センサによって電子部品の分離を確実に検
知でき、空気遮断手段と吸引手段の作動タイミングを的
確に制御することができる。
[0011] Further, the invention is characterized in that a passage confirmation sensor is provided downstream of the suction means and detects passage of the electronic component. According to the electronic component aligning and supplying device, the separation of the electronic component can be reliably detected by the passage confirmation sensor, and the operation timing of the air shutoff unit and the suction unit can be accurately controlled.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】本発明に係る電子部品整列供給装
置を図面を参照して詳細に説明する。図1は電子部品整
列供給装置の斜視図、図2は図1の電子部品整列供給装
置の平面図、図3は図1の電子部品整列供給装置の正面
図であり、(a)は全体図、(b)は搬送路近傍の部分
拡大図、図4は図1の電子部品整列供給装置の側面図、
図5は図1の電子部品整列供給装置の分離部の側断面図
であり、(a)はエアシャッタによる遮断中、(b)は
透過型センサによる通過確認中、(c)は透過型センサ
による通過確認後、図6は図1の電子部品整列供給装置
の分離部の動作フローチャートである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An electronic component aligning and supplying apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings. 1 is a perspective view of the electronic component aligning and supplying device, FIG. 2 is a plan view of the electronic component aligning and supplying device of FIG. 1, FIG. 3 is a front view of the electronic component aligning and supplying device of FIG. 1, and FIG. (B) is a partially enlarged view near the conveyance path, FIG. 4 is a side view of the electronic component aligning and feeding device of FIG. 1,
5A and 5B are side cross-sectional views of a separation unit of the electronic component aligning and feeding device of FIG. 1, wherein FIG. 5A shows a state of being shut off by an air shutter, FIG. FIG. 6 is a flowchart showing the operation of the separation unit of the electronic component aligning and feeding device shown in FIG.

【0013】本実施の形態に係る電子部品整列供給装置
は、パーツフィーダから一列に送られてくるチップを搬
送し、インデックステーブルに一個ずつチップを分離供
給する。なお、本実施の形態では電子部品としてチップ
を使用し、チップとしては、抵抗やトランジスタ等、特
に限定しない。また、本実施の形態での幅方向は、チッ
プの搬送方向に対して垂直方向(平面視)とする。
The electronic component aligning and supplying apparatus according to the present embodiment conveys chips sent in a line from a parts feeder and separates and supplies chips one by one to an index table. In this embodiment, a chip is used as an electronic component, and the chip is not particularly limited, such as a resistor and a transistor. In the present embodiment, the width direction is a direction perpendicular to the chip conveyance direction (in plan view).

【0014】まず、図1を参照して、電子部品整列供給
装置1の概要構成とその周辺装置について説明する。電
子部品整列供給装置1は、パーツフィーダPFとインデ
ックステーブルITの間に配置される。パーツフィーダ
PFは、ホッパHからベルトコンベアBCを介して多量
のチップが投入され、ガイドによって一列に整列してチ
ップを移動させる。そして、パーツフィーダPFは、外
周部の搬送路にチップを一列で搬送し、チップを電子部
品整列供給装置1に供給する。電子部品整列供給装置1
は、整列搬送部2と分離部3からなる。整列搬送部2で
は、一列搬送されてくるチップを空気流によって呼び込
み、前後のチップに接した状態で一列に整列させてチッ
プを搬送する。分離部3では、チップ列からチップを一
個ずつに分離してインデックステーブルITに供給す
る。インデックステーブルITは、円周上にチップを載
置する箇所を等間隔に複数備え、ステップ回転しながら
チップが順次載置される。ちなみに、このステップ回転
する毎に、チップの外観検査、不良検査、極性検査等が
行われる。そして、各検査に合格したチップが、テーピ
ングされる。なお、請求項1乃至請求項5における次工
程は、本実施の形態ではインデックステーブルITでの
工程である。また、請求項1乃至請求項2における空気
搬送手段は、電子部品を搬送する動力源を搬送路の上流
から下流に流れる空気とする手段であり、本実施の形態
では、空気供給手段で構成する。
First, referring to FIG. 1, a schematic configuration of an electronic component aligning and supplying device 1 and peripheral devices thereof will be described. The electronic component alignment and supply device 1 is disposed between the parts feeder PF and the index table IT. The parts feeder PF receives a large amount of chips from the hopper H via the belt conveyor BC, and moves the chips in a line by a guide. Then, the parts feeder PF transports the chips in a line to a transport path on the outer peripheral portion, and supplies the chips to the electronic component alignment and supply device 1. Electronic component alignment supply device 1
Consists of an aligning / conveying unit 2 and a separating unit 3. The aligning and transporting unit 2 calls in the chips conveyed in a line by an air flow, and arranges the chips in a line in contact with the front and rear chips to convey the chips. The separation unit 3 separates chips from the chip row one by one and supplies the chips to the index table IT. The index table IT is provided with a plurality of places on the circumference where chips are to be mounted at equal intervals, and the chips are sequentially mounted while rotating stepwise. By the way, every time the step is rotated, a chip appearance inspection, a defect inspection, a polarity inspection and the like are performed. Then, the chips that pass each inspection are taped. The next step in claims 1 to 5 is a step using the index table IT in the present embodiment. Further, the air conveying means in claims 1 and 2 is means for setting the power source for conveying the electronic components to air flowing from upstream to downstream of the conveying path, and in this embodiment, is constituted by an air supply means. .

【0015】次に、図2乃至図4を参照して、整列搬送
部2の構成を詳細に説明する。整列搬送部2は、パーツ
フィーダPFから送り込まれたチップCを一列に整列さ
れて前後するチップC同士を接した状態にして搬送する
(図1参照)。整列搬送部2は、主として、本体4、空
気供給プレート5,5、カバー6、空気供給口8,8及
び空気通路9,9から構成される。
Next, with reference to FIGS. 2 to 4, the configuration of the aligning and conveying unit 2 will be described in detail. The aligning and transporting unit 2 transports the chips C sent from the parts feeder PF in a state where the chips C arranged in a line and the preceding and following chips C are in contact with each other (see FIG. 1). The alignment transport section 2 mainly includes a main body 4, air supply plates 5, 5, a cover 6, air supply ports 8, 8, and air passages 9, 9.

【0016】本体4は、直方体部4bとその上方の段差
部4c,4cからなる(図3参照)。なお、本体4は、
平面視して、パーツフィーダPFの外周形状に沿った形
状を有する切欠部4dが形成される(図1、図2参
照)。直方体部4bは、パーツフィーダPFの端部から
インデックステーブルITの下部まで延びる(図2参
照)。また、直方体部4bは、下面を台座7の第1台座
7aに固設され、上面の中央部分が搬送方向に沿ってチ
ップCの搬送路11となる。ちなみに、台座7は、第1
台座7aの下方に支持部材7b,・・・を介して第2台
座7cが固設され、電子部品整列供給装置1を支持す
る。段差部4c,4cは、中心軸CAに向かって一段の
階段状に形成された階段部4e,4eを有する。また、
段差部4c,4cは、直方体部4bの上面4gから垂直
方向に立ち上がった内側面4f,4fによって、搬送路
11を形成する。この内側面4f,4fの立ち上がり
は、チップCの高さより若干高い高さとする。なお、本
体4は、整列搬送部2の下部中央に配置される。また、
本体4の下流側には分離部3の各部材が組み込まれる
が、この詳細については後で説明する。
The main body 4 comprises a rectangular parallelepiped part 4b and steps 4c, 4c above it (see FIG. 3). In addition, the main body 4
In a plan view, a cutout 4d having a shape along the outer peripheral shape of the parts feeder PF is formed (see FIGS. 1 and 2). The rectangular parallelepiped portion 4b extends from an end of the parts feeder PF to a lower portion of the index table IT (see FIG. 2). The rectangular parallelepiped portion 4b has the lower surface fixed to the first pedestal 7a of the pedestal 7, and the central portion of the upper surface becomes the transport path 11 for the chips C along the transport direction. By the way, the pedestal 7 is the first
A second pedestal 7c is fixed below the pedestal 7a via support members 7b,... And supports the electronic component alignment and supply device 1. The step portions 4c have stepped portions 4e formed in a single step toward the central axis CA. Also,
The step portions 4c, 4c form the transport path 11 by the inner side surfaces 4f, 4f rising vertically from the upper surface 4g of the rectangular parallelepiped portion 4b. The rising of the inner side surfaces 4f, 4f is slightly higher than the height of the chip C. In addition, the main body 4 is arranged at the center of the lower part of the aligning and conveying unit 2. Also,
Each member of the separation unit 3 is incorporated on the downstream side of the main body 4, and details thereof will be described later.

【0017】さらに、本体4は、段差部4c,4cの内
側面4f,4f間で搬送路11の幅方向長さを規定す
る。そして、この内側面4f,4fによって、チップC
の幅方向の移動を規制する。なお、搬送路11の幅方向
長さは、チップCの標準公称寸法より0.1〜0.2m
m程度長い長さとする。したがって、チップCの幅が変
わると、搬送路11の幅も変える必要がある。そのた
め、本体4の段差部4c,4cの内側面4f,4fの間
隔は、チップCの幅によって決定する。さらに、チップ
Cは標準公称寸法は製造会社によって若干誤差があるた
め、内側面4f,4f間は、0.1〜0.3mm程度幅
方向に微調整が可能とする。この幅方向の微調整をする
ために、本体4は、搬送方向にそって、第1部材4hと
第2部材4iの分割構造としている。この第1部材4h
と第2部材4iは、ボルト(図示せず)で固設され、幅
方向の微調整を可能としている。なお、請求項1乃至請
求項2における搬送路は、本実施の形態では搬送路11
であり、本体4の直方体部4bの上面4gと段差部4
c,4cの内側面4f,4fからなる。ちなみに、搬送
路11は、パーツフィーダPFの搬送路に連接する(図
1参照)。
Further, the main body 4 defines the width of the conveying path 11 in the width direction between the inner side surfaces 4f of the steps 4c. Then, the chip C is formed by the inner side surfaces 4f, 4f.
Is restricted in the width direction. The length of the transport path 11 in the width direction is 0.1 to 0.2 m from the standard nominal size of the chip C.
The length is about m longer. Therefore, when the width of the chip C changes, the width of the transport path 11 also needs to be changed. Therefore, the interval between the inner side surfaces 4f, 4f of the steps 4c, 4c of the main body 4 is determined by the width of the chip C. Further, since the standard nominal size of the chip C has a slight error depending on the manufacturer, the fine adjustment can be made in the width direction by about 0.1 to 0.3 mm between the inner side surfaces 4f. In order to make fine adjustment in the width direction, the main body 4 has a divided structure of a first member 4h and a second member 4i along the transport direction. This first member 4h
The second member 4i is fixed with bolts (not shown) to enable fine adjustment in the width direction. The transport path in claims 1 and 2 is the transport path 11 in the present embodiment.
The upper surface 4g of the rectangular parallelepiped portion 4b of the main body 4 and the step portion 4
c, 4c. Incidentally, the transport path 11 is connected to the transport path of the parts feeder PF (see FIG. 1).

【0018】空気供給プレート5,5は、直方体形状で
あり、下面が台座7の第1台座7aに固設される。空気
供給プレート5,5は、本体4の外側面に複数本のボル
ト15,・・・によって各々固設される。したがって、
本体4と空気供給プレート5,5,は、簡単に分解する
ことができる。なお、空気供給プレート5,5の高さ
は、本体4の高さと略同一とする(図3参照)。また、
空気供給プレート5,5は、外側面に空気供給口8,8
が各々取り付けられる。さらに、空気供給プレート5,
5の内部には、空気供給口8,8に接続する空気通路
9,9が各々形成される。なお、空気通路9,9につい
ては、後で詳細に説明する。
The air supply plates 5 and 5 have a rectangular parallelepiped shape, and the lower surface is fixed to the first pedestal 7a of the pedestal 7. The air supply plates 5, 5 are fixed to the outer surface of the main body 4 by a plurality of bolts 15,. Therefore,
The main body 4 and the air supply plates 5, 5 can be easily disassembled. The heights of the air supply plates 5 and 5 are substantially the same as the height of the main body 4 (see FIG. 3). Also,
The air supply plates 5 and 5 have air supply ports 8 and 8 on the outer surface.
Are respectively attached. Further, the air supply plate 5,
Air passages 9, 9 connected to the air supply ports 8, 8 are formed in the inside of the air supply port 5, respectively. The air passages 9 will be described later in detail.

【0019】カバー6,6は、略L字型(正面視)の板
状である(図3参照)。また、カバー6,6は、平面視
して、パーツフィーダPFの外周形状に沿った形状を有
する切欠部6cが形成される(図1、図2参照)。カバ
ー6,6は、整列搬送部2の外側から中心軸CAに向け
て水平方向に延びる水平部6a,6aと水平部6a、6
aの内側先端から下方に向けて垂直方向に延びる垂直部
6b,6bからなる(図3参照)。垂直部6bは、本体
4の段差部4c,4cの階段部4e,4eに係合する形
状を有する。そして、垂直部6bの下方に延びる長さ
は、垂直部6bの下面と本体4の上面4gとの間隔がチ
ップCの高さより若干長くなる長さとする。なお、カバ
ー6,6は、搬送路11を移動するチップCを、垂直部
6b,6bにより上方への移動を規制し、搬送路11か
らのチップCの飛び出しを防止する。さらに、垂直部6
b,6bは、本体4の直方体部4bの上面4gと段差部
4c,4cの内側面4f,4fとともに空気の通路を形
成する。なお、カバー6,6は、本体4の段差部4c,
4cの上面に各々配置され(図3参照)、各4本のネジ
10,・・・によって各々固設される。したがって、本
体4とカバー6,6,は、簡単に分解することができ
る。
The covers 6 and 6 are substantially L-shaped (as viewed from the front) and are plate-like (see FIG. 3). Further, the covers 6 and 6 are formed with a cutout 6c having a shape along the outer peripheral shape of the parts feeder PF in plan view (see FIGS. 1 and 2). The covers 6, 6 are provided with horizontal parts 6 a, 6 a and horizontal parts 6 a, 6
The vertical part 6b extends vertically downward from the inner front end of a (see FIG. 3). The vertical portion 6b has a shape that engages with the steps 4e, 4e of the steps 4c, 4c of the main body 4. The length extending below the vertical portion 6b is set so that the distance between the lower surface of the vertical portion 6b and the upper surface 4g of the main body 4 is slightly longer than the height of the chip C. The covers 6, 6 regulate the upward movement of the chips C moving on the transport path 11 by the vertical portions 6 b, 6 b to prevent the chips C from jumping out of the transport path 11. Further, the vertical part 6
b, 6b form an air passage together with the upper surface 4g of the rectangular parallelepiped portion 4b of the main body 4 and the inner side surfaces 4f, 4f of the steps 4c, 4c. In addition, the covers 6 and 6 are provided with the steps 4 c and 4 c of the main body 4.
4c are respectively arranged on the upper surface (see FIG. 3), and are respectively fixed by four screws 10,. Therefore, the main body 4 and the covers 6, 6 can be easily disassembled.

【0020】なお、チップCの種類が変わってチップC
の外形寸法が変わっても、その外形寸法に対応する段差
部4c,4cの形状を有する本体4及び垂直部6b,6
bの形状を有するカバー6,6に取り替えることによ
り、搬送路11の幅方向長さ等を変えて対応することが
できる。
Note that the type of the chip C is changed and the chip C
Of the main body 4 and the vertical portions 6b, 6 having the shapes of the steps 4c, 4c corresponding to the external dimensions even if the external dimensions of the main body 4 change.
By replacing the cover 6 with the cover 6 having the shape b, the length of the conveying path 11 in the width direction can be changed.

【0021】空気供給口8,8は、チューブ(図示せ
ず)を介してポンプ(図示せず)に繋がり、空気通路
9,9に空気を供給する。空気供給口8,8は、金属の
管形状であり、ナット8a,8aによって空気供給プレ
ート5,5の外側面に各々固設される。なお、供給する
空気圧は、0.05〜0.3kg/cm2 である。
The air supply ports 8 are connected to a pump (not shown) through tubes (not shown) to supply air to the air passages 9. The air supply ports 8, 8 are in the form of metal tubes, and are fixed to the outer surfaces of the air supply plates 5, 5 by nuts 8a, 8a, respectively. The supplied air pressure is 0.05 to 0.3 kg / cm 2 .

【0022】空気通路9,9は、空気供給口8,8から
供給された空気が流れる通路であり、搬送路11上に空
気を排出する。空気通路9は、導入路9a、主通路9
b、上流排出路9c、下流排出路9d、上流排出口9
e、下流排出口9f、分離用排出路9g及び分離用排出
口9hからなる(図2参照)。導入路9aは、空気供給
プレート5内に形成され、空気供給プレート5の外側面
に開口するとともに、主通路9bに繋がる。なお、この
導入路9aの開口する位置に空気供給口8が固設され
る。主通路9bは、空気供給プレート5内に形成され、
搬送方向に延びる。上流排出路9cは、本体4内に形成
され、主通路9bの上流側先端から上流排出口9eに繋
がる。なお、搬送路11に排出する空気の流れ方向を搬
送方向の上流側から下流側にするために、上流排出路9
cは、外側から内側に向かうに従って下流側に傾けて
(平面視)形成される(図2参照)。下流排出路9d
は、本体4内に形成され、主通路9bの下流側から下流
排出口9fに繋がる。なお、搬送路11に排出する空気
の流れ方向を搬送方向の上流側から下流側にするため
に、下流排出路9dは、外側から内側に向かうに従って
下流側に傾けて(平面視)形成される(図2参照)。上
流排出口9eは、本体4の内側面4fに開口し、搬送路
11上に空気を排出する。上流排出口9eは、搬送路1
1の上流側に位置し、空気供給口8から供給される空気
を搬出路11の上流から下流に排出する。ちなみに、上
流排出口9eから排出される空気による空気圧は、主と
して整列搬送部2での搬送力となる。下流排出口9f
は、本体4の内側面4fに開口し、搬送路11上に空気
を排出する。下流排出口9fは、搬送路11の下流側に
位置し、空気供給口8から供給される空気を搬出路11
の下流方向に排出する。分離用排出路9gは、本体4内
に形成され、主通路9bの下流側先端から分離用排出口
9hに繋がる。なお、搬送路11に排出する空気の流れ
方向を搬送方向の上流側から下流側にするために、分離
用排出路9gは、外側から内側に向かうに従って下流側
に傾けて(平面視)形成される(図2参照)。分離用排
出口9hは、本体4の内側面4fに開口し、搬送路11
上に空気を排出する。分離用排出口9hは、搬送路11
の下流側に位置し、空気供給口8から供給される空気を
搬出路11の下流方向に排出する。ちなみに、分離用排
出口9hから排出される空気による空気圧は、主として
分離部3での搬送力となる。なお、請求項2における空
気供給手段は、本実施の形態では空気供給口8,8、空
気通路9,9、チューブ(図示せず)及びポンプ(図示
せず)からなる。
The air passages 9, 9 are passages through which the air supplied from the air supply ports 8, 8 flows, and discharges the air onto the transport path 11. The air passage 9 includes an introduction passage 9a, a main passage 9
b, upstream discharge channel 9c, downstream discharge channel 9d, upstream discharge port 9
e, a downstream discharge port 9f, a separation discharge path 9g, and a separation discharge port 9h (see FIG. 2). The introduction path 9a is formed in the air supply plate 5, opens on the outer surface of the air supply plate 5, and is connected to the main passage 9b. The air supply port 8 is fixedly provided at a position where the introduction path 9a opens. The main passage 9b is formed in the air supply plate 5,
Extends in the transport direction. The upstream discharge passage 9c is formed in the main body 4, and is connected from the upstream end of the main passage 9b to the upstream discharge port 9e. In order to change the flow direction of the air discharged to the transport path 11 from the upstream side to the downstream side in the transport direction, the upstream discharge path 9
c is formed to be inclined downstream (as viewed in plan) from the outside toward the inside (in plan view) (see FIG. 2). 9d downstream discharge path
Is formed in the main body 4 and is connected to the downstream discharge port 9f from the downstream side of the main passage 9b. In addition, in order to change the flow direction of the air discharged to the transport path 11 from the upstream side to the downstream side in the transport direction, the downstream discharge path 9d is formed to be inclined downstream (in plan view) from the outside to the inside. (See FIG. 2). The upstream discharge port 9 e opens on the inner side surface 4 f of the main body 4 and discharges air onto the transport path 11. The upstream discharge port 9e is connected to the conveyance path 1
1, and discharges air supplied from the air supply port 8 from upstream to downstream of the carry-out path 11. Incidentally, the air pressure generated by the air discharged from the upstream discharge port 9 e mainly serves as a conveying force in the alignment conveying section 2. Downstream outlet 9f
Opens on the inner side surface 4f of the main body 4 to discharge air onto the transport path 11. The downstream discharge port 9f is located on the downstream side of the transport path 11, and supplies the air supplied from the air supply port 8 to the discharge path 11
Discharge in the downstream direction. The separation discharge path 9g is formed in the main body 4, and is connected to the separation discharge port 9h from the downstream end of the main passage 9b. In order to change the flow direction of the air discharged to the transport path 11 from the upstream side to the downstream side in the transport direction, the separation discharge path 9g is formed so as to be inclined toward the downstream side as viewed from the outside to the inside (in plan view). (See FIG. 2). The separation outlet 9 h is opened on the inner side face 4 f of the main body 4,
Discharge air up. The separation outlet 9h is connected to the transport path 11
, And discharges air supplied from the air supply port 8 in the downstream direction of the carry-out path 11. Incidentally, the air pressure due to the air discharged from the separation outlet 9h mainly serves as a conveying force in the separation unit 3. In the present embodiment, the air supply means in the second embodiment comprises air supply ports 8, 8, air passages 9, 9, tubes (not shown), and pumps (not shown).

【0023】次に、図1乃至図4を参照して、整列搬送
部2の作用について説明する。パーツフィーダPFは、
チップCを一列で搬送し、電子部品整列供給装置1の整
列搬送部2にチップCを送り出す。整列搬送部2は、常
時、上流排出口9e,9e、下流排出口9f、9f及び
分離用排出口9h,9hから空気を排出し、搬送路11
上を上流から下流に向かって空気を流している。そのた
め、整列搬送部2は、搬送路11の上流排出口9e,9
eの上流側を略真空状態とし、パーツフィーダPFから
送り出されるチップCを吸い込み、搬送路11に導く。
そして、整列搬送部2は、空気圧によってチップCを搬
送路11の下流方向に移動させる。このとき、チップC
は空気圧によって常時下流方向に押圧されるため、各チ
ップCは、下流側の隣接するチップCに接した状態で一
列に整列して搬送される。なお、チップCは、幅方向を
本体4の段差部4cの内側面4fで規制されるととも
に、上方をカバー6,6の垂直部6b,6bで規制さ
れ、一列整列状態が確保される。
Next, the operation of the aligning and conveying section 2 will be described with reference to FIGS. The parts feeder PF is
The chips C are transported in a line, and the chips C are sent out to the alignment transport section 2 of the electronic component alignment and supply device 1. The aligning / conveying unit 2 always discharges air from the upstream discharge ports 9e, 9e, the downstream discharge ports 9f, 9f and the separation discharge ports 9h, 9h.
Air is flowing from upstream to downstream. For this reason, the aligning and transporting unit 2 is configured such that the upstream outlets 9 e and 9
The upstream side of e is set in a substantially vacuum state, and the chips C sent from the parts feeder PF are sucked and guided to the transport path 11.
Then, the alignment transport unit 2 moves the chips C in the downstream direction of the transport path 11 by air pressure. At this time, chip C
Since the chips are constantly pressed in the downstream direction by air pressure, the chips C are aligned and conveyed in a row in contact with the adjacent chips C on the downstream side. The width direction of the chip C is regulated by the inner surface 4f of the step portion 4c of the main body 4, and the upper part is regulated by the vertical portions 6b, 6b of the covers 6, 6, so that the one-row alignment is ensured.

【0024】この電子部品整列供給装置1の整列搬送部
2によれば、空気圧によってチップCを搬送するので、
チップCに振動による機械的なストレスを与えない。ま
た、装置自体も振動による影響を受けないので、耐久性
が向上する。
According to the aligning and transporting unit 2 of the electronic component aligning and feeding device 1, the chips C are transported by air pressure.
No mechanical stress is applied to the chip C due to vibration. In addition, since the device itself is not affected by the vibration, the durability is improved.

【0025】次に、図2乃至図5を参照して、分離部3
の構成を詳細に説明する。分離部3は、主な部材が整列
搬送部2の下流部に組み込まれ、整列搬送部2で接した
状態で整列搬送されてくるチップC列を一個ずつ分離
し、インデックステーブルITに送り出す。分離部3
は、主として、空気供給口8,8、空気通路9,9、バ
キューム12、エアシャッタ13、透過型センサ14及
び制御部(図示せず)から構成される。なお、インデッ
クステーブルITへのチップCの移載は、インデッステ
ーブル用吸引手段16による吸引力を利用する。
Next, referring to FIG. 2 to FIG.
Will be described in detail. The separation unit 3 separates the chips C that are aligned and conveyed in a state where the main members are incorporated in the downstream part of the alignment and conveyance unit 2 and are in contact with the alignment and conveyance unit 2 one by one, and sends them to the index table IT. Separation unit 3
Is mainly composed of air supply ports 8, 8, air passages 9, 9, vacuum 12, air shutter 13, transmission type sensor 14, and control unit (not shown). The transfer of the chips C to the index table IT utilizes the suction force of the index table suction means 16.

【0026】空気供給口8,8及び空気通路9,9につ
いては、整列搬送部2の構成で説明したので、詳細な説
明を省略する。なお、請求項4乃至請求項5における空
気供給手段は、本実施の形態では空気供給口8,8、空
気通路9,9、チューブ(図示せず)及びポンプ(図示
せず)からなる。ちなみに、分離部3では、主として、
分離用排出口9h,9hから排出される空気が作用す
る。
Since the air supply ports 8, 8 and the air passages 9, 9 have been described with reference to the configuration of the aligning / conveying section 2, detailed description will be omitted. In the present embodiment, the air supply means in claims 4 and 5 comprises air supply ports 8, 8, air passages 9, 9, tubes (not shown), and pumps (not shown). By the way, in the separation unit 3, mainly
The air discharged from the separation outlets 9h, 9h acts.

【0027】バキューム12は、主として、吸引通路1
2a、空気吸引口12b、ナット12c、チップ吸引口
12d、チューブ12e及び吸引ポンプ(図示せず)か
らなる。吸引通路12aは、本体4に設けられ、本体4
の上面から下面を貫通する貫通孔である。吸引通路12
aは、空気吸引口12bとチップ吸引口12dを結ぶ通
路となり、吸引空気が流れる。空気吸引口12bは、チ
ューブ12eを介して吸引ポンプ(図示せず)に繋が
り、空気を吸引する。空気吸引口12bは、金属の管形
状であり、ナット12cによって本体4の下面に固設さ
れる。チップ吸引口12dは、本体4の上面4gに開口
し、吸引通路12aに繋がる。チップ吸引口12dは、
搬送方向において分離用排出口9h,9hとエアシャッ
タ13の空気噴出口13dの間かつ幅方向において搬送
路11の中心軸CA上に開口される。バキューム12
は、搬送路11を搬送されるチップCの下面をチップ吸
引口12dから吸引し、チップC列の移動を停止させ
る。そのため、バキューム12の吸引圧は、この吸引力
が空気供給口8,8及び空気通路9,9等による空気圧
による搬送力を上回る値に設定する。なお、請求項3乃
至請求項5における吸引手段は、本実施の形態ではバキ
ューム12である。
The vacuum 12 mainly includes the suction passage 1
2a, an air suction port 12b, a nut 12c, a tip suction port 12d, a tube 12e, and a suction pump (not shown). The suction passage 12a is provided in the main body 4,
Is a through hole penetrating from the upper surface to the lower surface. Suction passage 12
“a” is a passage connecting the air suction port 12b and the chip suction port 12d, and suction air flows. The air suction port 12b is connected to a suction pump (not shown) via a tube 12e, and sucks air. The air suction port 12b is in the form of a metal tube, and is fixed to the lower surface of the main body 4 by a nut 12c. The tip suction port 12d is opened in the upper surface 4g of the main body 4, and is connected to the suction passage 12a. The tip suction port 12d is
It is opened on the central axis CA of the transport path 11 between the separation outlets 9h, 9h and the air outlet 13d of the air shutter 13 in the transport direction and in the width direction. Vacuum 12
Sucks the lower surface of the chips C conveyed in the conveyance path 11 from the chip suction port 12d to stop the movement of the chip C row. Therefore, the suction pressure of the vacuum 12 is set to a value at which the suction force exceeds the conveying force due to the air pressure from the air supply ports 8, 8 and the air passages 9, 9, and the like. The suction means in claims 3 to 5 is the vacuum 12 in the present embodiment.

【0028】エアシャッタ13は、主として、空気通路
13a、空気供給口13b、ナット13c、空気噴出口
13d、チューブ13e及びポンプ(図示せず)からな
る。空気通路13aは、本体4に設けられ、本体4の上
面から下面を貫通する貫通孔である。空気通路13a
は、空気供給口13bと空気噴出口13dを結ぶ通路と
なり、供給空気が流れる。空気供給口13bは、チュー
ブ13eを介してポンプ(図示せず)に繋がり、空気を
供給する。空気供給口13bは、金属の管形状であり、
ナット13cによって本体4の下面に固設される。空気
噴出口13dは、本体4の上面4gに開口し、空気通路
13aに繋がる。空気噴出口13dは、搬送方向におい
てバキューム12のチップ吸引口12dと透過型センサ
14の間かつ幅方向において搬送路11の中心軸CA上
に設けられる。なお、チップC列からチップCを一個ず
つ分離するために、空気噴出口13dとチップ吸引口1
2dの間隔は、(チップCの搬送方向長さ×1)より大
きくかつ(チップCの搬送方向長さ×2)より小さい範
囲であればよく、本実施の形態では(チップCの搬送方
向長さ×1.5)とする。エアシャッタ13は、空気噴
出口13dから搬送方向に対して垂直方向上方に向かっ
て空気を噴き出し、空気流の層を搬送路11上に形成す
る。そして、エアシャッタ13は、この空気流の層によ
って、搬送路11を搬送されるチップC列の搬送を遮断
する。なお、空気の噴出方向を搬送方向に対して垂直方
向としたが、チップCの搬送を遮断できる空気流の層を
形成できればよく、厳密に垂直方向でなくてもよい。ち
なみに、バキューム13の噴出圧は、1〜3kg/cm
2 とする。なお、請求項3乃至請求項5における空気遮
断手段は、本実施の形態ではエアシャッタ13である。
The air shutter 13 mainly includes an air passage 13a, an air supply port 13b, a nut 13c, an air outlet 13d, a tube 13e, and a pump (not shown). The air passage 13 a is a through hole provided in the main body 4 and penetrating from the upper surface to the lower surface of the main body 4. Air passage 13a
Is a passage connecting the air supply port 13b and the air ejection port 13d, and the supply air flows. The air supply port 13b is connected to a pump (not shown) via a tube 13e to supply air. The air supply port 13b has a metal tube shape,
It is fixed to the lower surface of the main body 4 by a nut 13c. The air ejection port 13d opens in the upper surface 4g of the main body 4 and is connected to the air passage 13a. The air ejection port 13d is provided between the chip suction port 12d of the vacuum 12 and the transmission sensor 14 in the transport direction and on the center axis CA of the transport path 11 in the width direction. In order to separate the chips C one by one from the row of chips C, the air ejection port 13d and the chip suction port 1
The interval of 2d may be in a range larger than (the length in the transport direction of the chip C × 1) and smaller than (the length in the transport direction of the chip C × 2). X 1.5). The air shutter 13 ejects air upward from the air ejection port 13d in the direction perpendicular to the transport direction to form a layer of airflow on the transport path 11. Then, the air shutter 13 blocks the transport of the array of chips C transported along the transport path 11 by the layer of the airflow. Although the direction in which the air is ejected is perpendicular to the transport direction, it is sufficient that an air flow layer capable of blocking the transport of the chips C can be formed, and the direction does not have to be strictly perpendicular. By the way, the ejection pressure of the vacuum 13 is 1-3 kg / cm
Assume 2 . The air blocking means in claims 3 to 5 is the air shutter 13 in the present embodiment.

【0029】透過型センサ14は、主として、発光側光
ファイバ14a、受光側光ファイバ14b、発光素子
(図示せず)、受光素子(図示せず)及び検知回路(図
示せず)からなる。発光側光ファイバ14aは、その一
端に発光素子が設けられ、他端14cから光を発する。
発光側光ファイバ14aは、他端14cから搬送路11
の下方から上方に向かって光を発するように取り付けれ
る。発光側光ファイバ14aを取り付けるために、本体
4には上面から下面を貫通する貫通孔4aが形成される
(図5参照)。そして、発光側光ファイバ14aは、貫
通孔4aに挿入され、他端14cが本体4の上面より若
干下方となる位置に配置されて本体4に取り付けられる
とともに、第2台座7cにナット14e,14eで固設
される。受光側光ファイバ14bは、その一端に受光素
子が設けられ、他端14dで発光側光ファイバ14aか
ら発せられた光を受光する。そのため、受光側光ファイ
バ14bは、他端14cに相対して他端14dを下方に
向けて配置され、支持部材14fによって支持される。
発光素子は、常時、光を発光し、例えば、発光ダイオー
ド等の素子とする。受光素子は、受光すると電圧を発生
し、例えば、フォトダイオードやフォトトランジスタ等
の素子とする。検知回路は、受光素子に接続し、前記電
圧が発生していない時間(すなわち、受光側光ファイバ
14bが受光していない時間)を計測する。そして、こ
の受光していない時間が所定時間範囲内の場合、一個の
チップCが発光側光ファイバ14aと受光側光ファイバ
14b間を通過したと判断する。この所定時間範囲は、
チップCの搬送方向長さと電子部品整列供給装置1の搬
送速度から算出され、一個のチップCがチップCの搬送
方向長さ分搬送される時間に対して10%程度の余裕を
持たせた範囲である。なお、請求項5における通過確認
センサは、本実施の形態では透過型センサ14である。
The transmission sensor 14 mainly includes a light emitting side optical fiber 14a, a light receiving side optical fiber 14b, a light emitting element (not shown), a light receiving element (not shown), and a detection circuit (not shown). The light emitting side optical fiber 14a is provided with a light emitting element at one end, and emits light from the other end 14c.
The light emitting side optical fiber 14a is connected to the transport path 11 from the other end 14c.
Is mounted so as to emit light upward from below. In order to attach the light-emitting side optical fiber 14a, the main body 4 is formed with a through hole 4a penetrating from the upper surface to the lower surface (see FIG. 5). The light emitting side optical fiber 14a is inserted into the through hole 4a, the other end 14c is disposed at a position slightly lower than the upper surface of the main body 4, is attached to the main body 4, and nuts 14e, 14e are attached to the second pedestal 7c. It is fixed in. The light receiving side optical fiber 14b is provided with a light receiving element at one end, and receives light emitted from the light emitting side optical fiber 14a at the other end 14d. Therefore, the light receiving side optical fiber 14b is disposed with the other end 14d facing downward with respect to the other end 14c, and is supported by the support member 14f.
The light emitting element always emits light and is, for example, an element such as a light emitting diode. The light receiving element generates a voltage when receiving light, and is, for example, an element such as a photodiode or a phototransistor. The detection circuit is connected to the light receiving element and measures a time during which the voltage is not generated (that is, a time during which the light receiving side optical fiber 14b is not receiving light). If the time during which no light is received is within the predetermined time range, it is determined that one chip C has passed between the light emitting side optical fiber 14a and the light receiving side optical fiber 14b. This predetermined time range is
A range calculated from the transport direction length of the chip C and the transport speed of the electronic component aligning and feeding device 1 and having a margin of about 10% with respect to the time during which one chip C is transported by the transport direction length of the chip C. It is. Note that the passage confirmation sensor in claim 5 is the transmission sensor 14 in the present embodiment.

【0030】制御部(図示せず)は、分離部3の動作を
制御し、チップCを一個ずつ分離する。そのために、制
御部は、インデックステーブルITの動作状況や透過型
センサ14のチップCの通過確認等の情報を取り込む。
そして、制御部は、バキューム12の吸引の開始/停止
及びエアシャッタ13の空気噴出の開始/停止するタイ
ミングを判断し、バキューム12及びエアシャッタ13
に指示する。
The control unit (not shown) controls the operation of the separation unit 3 and separates the chips C one by one. For this purpose, the control unit fetches information such as the operation status of the index table IT and confirmation of the passage of the chip C of the transmission sensor 14.
Then, the control section determines the start / stop of suction of the vacuum 12 and the start / stop of air ejection of the air shutter 13, and determines the timing of the vacuum 12 and the air shutter 13.
To instruct.

【0031】ちなみに、インデックステーブル用吸引手
段16は、主として、吸引通路16a、空気吸引口16
b、ナット16c、チップ吸引口16d、チューブ16
e及び吸引ポンプ(図示せず)からなる。吸引通路16
aは、本体4に設けられ、本体4の上面から下面を貫通
する貫通孔である。吸引通路16aは、空気吸引口16
bとチップ吸引口16dを結ぶ通路となり、吸引空気が
流れる。空気吸引口16bは、チューブ16eを介して
吸引ポンプ(図示せず)に繋がり、空気を吸引する。空
気吸引口16bは、金属の管形状であり、ナット16c
によって本体4の下面に固設される。チップ吸引口16
dは、本体4の上面4gに開口し、吸引通路16aに繋
がる。チップ吸引口16dは、搬送方向において透過型
センサ14の下流側かつ幅方向において搬送路11の中
心軸CA上に開口され、インデックステーブルITの外
周部の下方に位置する。インデックステーブル用吸引手
段16は、搬送路11を搬送されるチップCの下面をチ
ップ吸引口16dから吸引し、インデックステーブルI
TにチップCを移載する。
Incidentally, the index table suction means 16 mainly includes a suction passage 16a and an air suction port 16a.
b, nut 16c, tip suction port 16d, tube 16
e) and a suction pump (not shown). Suction passage 16
a is a through hole provided in the main body 4 and penetrating from the upper surface to the lower surface of the main body 4. The suction passage 16a is provided with the air suction port 16
It becomes a passage connecting b and the tip suction port 16d, and suction air flows. The air suction port 16b is connected to a suction pump (not shown) via a tube 16e, and sucks air. The air suction port 16b is in the form of a metal tube and has a nut 16c.
Thus, it is fixed to the lower surface of the main body 4. Tip suction port 16
d is opened to the upper surface 4g of the main body 4 and connected to the suction passage 16a. The tip suction port 16d is opened on the center axis CA of the transport path 11 downstream of the transmission sensor 14 in the transport direction and in the width direction, and is located below the outer peripheral portion of the index table IT. The index table suction means 16 suctions the lower surface of the chip C conveyed in the conveyance path 11 from the chip suction port 16d, and
The chip C is transferred to T.

【0032】次に、図1乃至図5を参照しながら、分離
部3の動作を図6のフローチャートに沿って説明する。
まず、インデックステーブルITにおいて外観検査、不
良検査や極性検査等が終了する。そして、インデックス
テーブルITが1ステップ回転し、インデックステーブ
ルITにおいて、次のチップCを載置する準備が完了す
る(S1)。ちなみに、この準備完了した情報が、制御
部に送信される。
Next, the operation of the separating unit 3 will be described with reference to FIGS.
First, the appearance inspection, the defect inspection, the polarity inspection, and the like are completed in the index table IT. Then, the index table IT rotates one step, and preparation for mounting the next chip C on the index table IT is completed (S1). Incidentally, the information on the completion of the preparation is transmitted to the control unit.

【0033】すると、制御部は、バキューム12に吸引
開始を指示する。そして、バキューム12が、チップC
の吸引を開始する(S2)。ちなみに、バキューム12
が吸引を開始する前、エアシャッタ13の空気噴出が継
続して行われており、空気流の層によってチップC列の
搬送が遮断された状態である(図5(a)参照)。
Then, the control unit instructs the vacuum 12 to start suction. Then, the vacuum 12 is replaced with the chip C
Is started (S2). By the way, vacuum 12
Before the start of suction, the air ejection from the air shutter 13 is continuously performed, and the transport of the chip C row is interrupted by the layer of the air flow (see FIG. 5A).

【0034】バキューム12による吸引の開始後、制御
部の指示により、エアシャッタ13が空気噴出を停止す
る(S3)。すると、エアシャッタ13によって搬送を
遮断されていたチップC列の最下流のチップC1が下流
側に移動を開始し、上流側のチップC列と分離する(S
4)。すなわち、空気噴出口13dとチップ吸引口12
dの間隔を(チップCの搬送方向長さ×1.5)の間隔
としているため、エアシャッタ13によってチップC列
の搬送が遮断されている時、バキューム12は、チップ
C列の最下流から2番目のチップC2を吸引する(図5
(a)参照)。そのため、エアシャッタ13による空気
流の層が無くなると、チップC2から上流側のチップC
列がバキューム12によって停止されているため、分離
用排出口9hからの空気圧によって最下流のチップC1
のみが下流方向に移動する(図5(b)参照)。
After the start of suction by the vacuum 12, the air shutter 13 stops blowing air in response to an instruction from the control unit (S3). Then, the most downstream chip C1 of the row of chips C, which has been blocked from being conveyed by the air shutter 13, starts moving downstream and is separated from the upstream row of chips C (S
4). That is, the air ejection port 13d and the tip suction port 12
Since the interval d is set to (the length in the transport direction of the chip C × 1.5), when the transport of the array of chips C is interrupted by the air shutter 13, the vacuum 12 moves from the most downstream position of the array of chips C. The second chip C2 is sucked (FIG. 5
(A)). Therefore, when the layer of the air flow by the air shutter 13 is lost, the chip C2 on the upstream side from the chip C2
Since the row is stopped by the vacuum 12, the lowermost chip C1
Only moves in the downstream direction (see FIG. 5B).

【0035】分離されたチップC1は、下流側に移動
し、透過型センサ14を通過する。そのとき、透過型セ
ンサ14がチップC1の通過を確認する(S5)。そし
て、この透過型センサ14のチップC1の通過確認情報
が、制御部に送信される。ちなみに、図5(a)に示す
状態の時、すなわちチップCが透過型センサ14の発光
側光ファイバ14aと受光側光ファイバ14bの間を移
動していない時、透過型センサ14は、発光素子の光を
受光素子で受光している。そして、チップC1が分離
し、図5(b)に示す状態の時、すなわちチップC1が
透過型センサ14の発光側光ファイバ14aと受光側光
ファイバ14bの間を移動している時、透過型センサ1
4は、発光素子の光を受光素子で受光できない。さら
に、チップC1が下流側に移動し、図5(c)に示す状
態の時、すなわちチップC1が透過型センサ14の発光
側光ファイバ14aと受光側光ファイバ14bの間の移
動を終了した後、透過型センサ14は、再び発光素子の
光を受光素子で受光する。そして、透過型センサ14
は、この受光側光ファイバ14bで受光できない時間を
計測し、受光できない時間が前記した所定時間範囲内か
否かを判定する。そして、所定時間範囲内なら、チップ
C1が通過したと判断する。
The separated chip C 1 moves downstream and passes through the transmission sensor 14. At this time, the transmission sensor 14 confirms that the chip C1 has passed (S5). Then, the passage confirmation information of the transmission sensor 14 through the chip C1 is transmitted to the control unit. Incidentally, in the state shown in FIG. 5A, that is, when the chip C is not moving between the light emitting side optical fiber 14a and the light receiving side optical fiber 14b of the transmission type sensor 14, the transmission type sensor 14 Is received by the light receiving element. Then, when the chip C1 is separated and is in the state shown in FIG. 5B, that is, when the chip C1 is moving between the light-emitting side optical fiber 14a and the light-receiving side optical fiber 14b of the transmission type sensor 14, the transmission type sensor is not used. Sensor 1
In No. 4, light from the light emitting element cannot be received by the light receiving element. Further, when the chip C1 moves to the downstream side and is in the state shown in FIG. 5C, that is, after the chip C1 completes the movement between the light emitting side optical fiber 14a and the light receiving side optical fiber 14b of the transmission type sensor 14. The transmission sensor 14 receives the light of the light emitting element again by the light receiving element. And the transmission type sensor 14
Measures the time during which light cannot be received by the light receiving side optical fiber 14b, and determines whether the time during which light cannot be received is within the above-described predetermined time range. If it is within the predetermined time range, it is determined that the chip C1 has passed.

【0036】制御部は、チップC1の通過確認の情報を
受信すると、エアシャッタ13に空気噴出を指示する。
すると、図5(c)に示すように、エアシャッタ13
は、空気噴出を開始し、空気流の層を形成する(S
6)。
When receiving the information of confirming passage of the chip C1, the control unit instructs the air shutter 13 to eject air.
Then, as shown in FIG.
Initiates air ejection and forms a layer of airflow (S
6).

【0037】制御部は、エアシャッタ13への空気噴出
指示後、バキューム12に吸引の停止を指示する。する
と、バキューム12は、吸引を停止し、チップC2を開
放する(S7)。その結果、図5(a)に示すように、
再度、チップC列の搬送がバキューム13の空気流の層
で遮断された状態となる。
After instructing the air shutter 13 to eject air, the control unit instructs the vacuum 12 to stop suction. Then, the vacuum 12 stops the suction and opens the chip C2 (S7). As a result, as shown in FIG.
Again, the conveyance of the row of chips C is interrupted by the layer of the airflow of the vacuum 13.

【0038】ちなみに、分離されて通過確認されたチッ
プC1は、下流側に移動し、最終的にインデックステー
ブル用吸引手段16によって吸引され、インデックステ
ーブルITに載置される(S8)。
By the way, the separated chip C1 whose passage has been confirmed moves to the downstream side, is finally sucked by the index table suction means 16, and is placed on the index table IT (S8).

【0039】そして、制御部は、チップCのインデック
ステーブルITへの供給を終了したか否かを確認する
(S9)。そして、供給を終了した場合には処理を終了
し、供給を終了していない場合にはステップS8に戻
る。
Then, the control unit confirms whether or not the supply of the chip C to the index table IT has been completed (S9). Then, when the supply is completed, the process is terminated, and when the supply is not completed, the process returns to step S8.

【0040】ちなみに、分離部3では、常時、分離用排
出口9h,9hから空気が排出され搬送路11上を下流
方向に向かって空気が流れる。そのため、分離部3で
は、チップCが空気圧によって下流方向に搬送される。
Incidentally, in the separation section 3, air is always discharged from the separation outlets 9h, 9h, and the air flows downstream on the transport path 11. Therefore, in the separation unit 3, the chips C are transported downstream by air pressure.

【0041】この電子部品整列供給装置1の分離部3に
よれば、チップCを一個ずつ分離するために、チップC
の搬送を空気圧、チップC列の搬送の遮断を空気流の層
及びチップC列の搬送の停止を吸引によって行うので、
チップCには機械的なストレスを与えない。
According to the separating section 3 of the electronic component aligning and feeding device 1, the chips C are separated in order to separate the chips C one by one.
Is carried out by air pressure, and the transportation of the chip C row is cut off by suction to stop the transportation of the air flow layer and the chip C row.
No mechanical stress is applied to the chip C.

【0042】以上、本発明は、前記の実施の形態に限定
されることなく、様々な形態で実施される。例えば、空
気搬送手段を空気供給手段で構成したが、搬送路の下流
側から吸引し、負圧による搬送力で電子部品を移動させ
る構成としてもい。また、通過確認センサを光ファイバ
を利用した透過型センサで構成したが、超音波や赤外線
を利用したセンサ等、様々なセンサで構成することがで
きる。また、空気遮断手段としてエアシャッタによって
鉛直方向に空気流の層を形成したが、空気流の層は、水
平方向等、電子部品の搬送方向に対して垂直方向ならよ
い。
As described above, the present invention is not limited to the above-described embodiment, but can be embodied in various forms. For example, although the air conveying means is constituted by the air supply means, a structure may be employed in which electronic components are moved by suction force from the downstream side of the conveying path and conveying force by negative pressure. Further, although the passage confirmation sensor is configured by a transmission type sensor using an optical fiber, it can be configured by various sensors such as a sensor using ultrasonic waves or infrared rays. In addition, although the air flow layer is formed in the vertical direction by the air shutter as the air blocking means, the air flow layer may be any direction such as a horizontal direction or a direction perpendicular to the electronic component transport direction.

【0043】[0043]

【発明の効果】請求項1の発明に係る電子部品整列供給
装置によれば、電子部品を搬送する動力源を搬送路の上
流から下流に流れる空気としたので、従来の振動による
電子部品への機械的なストレスを与えない。さらに、装
置自体にも振動による影響を与えないため、電子部品整
列供給装置の耐久性が向上し、騒音も低減する。
According to the electronic component aligning and feeding apparatus according to the first aspect of the present invention, since the power source for transporting the electronic component is the air flowing from the upstream to the downstream of the transport path, the conventional method for supplying the electronic component to the vibration by the vibration is used. No mechanical stress. Furthermore, since the device itself is not affected by the vibration, the durability of the electronic component alignment and supply device is improved, and the noise is reduced.

【0044】請求項2の発明に係る電子部品整列供給装
置によれば、電子部品を搬送する動力源を搬送路の上流
側からの空気圧としたので、従来の振動による電子部品
への機械的なストレスを与えない。
According to the electronic component aligning and feeding device according to the second aspect of the present invention, since the power source for transporting the electronic component is the air pressure from the upstream side of the transport path, the mechanical force to the electronic component due to the conventional vibration is obtained. Do not stress.

【0045】請求項3の発明に係る電子部品整列供給装
置によれば、整列搬送される電子部品の搬送の遮断を空
気流の層及び整列搬送される電子部品の停止を吸引によ
って、整列搬送される電子部品から下流側の電子部品を
分離するので、電子部品に他の部材による機械的な接触
がない。そのため、電子部品に機械的なストレスを与え
ない。
According to the electronic component aligning and feeding apparatus according to the third aspect of the present invention, the electronic components are aligned and conveyed by sucking off the layer of the air flow and stopping the electronic components to be conveyed. Since the downstream electronic component is separated from the electronic component, the electronic component does not have mechanical contact with other members. Therefore, no mechanical stress is applied to the electronic component.

【0046】請求項4の発明に係る電子部品整列供給装
置によれば、電子部品を搬送する動力源を空気圧とした
ので、電子部品に機械的なストレスを与えない。
According to the electronic component aligning and supplying apparatus of the fourth aspect, since the power source for transporting the electronic components is pneumatic, no mechanical stress is applied to the electronic components.

【0047】請求項5の発明に係る電子部品整列供給装
置によれば、通過確認センサによって電子部品の通過を
高精度に検知することができるので、空気遮断手段及び
吸引手段の開始/停止のタイミングを高精度に制御でき
る。
According to the electronic component aligning / supplying device according to the fifth aspect of the present invention, the passage of the electronic component can be detected with high accuracy by the passage confirmation sensor. Can be controlled with high precision.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本実施の形態に係る電子部品整列供給装置の斜
視図である。
FIG. 1 is a perspective view of an electronic component alignment and supply device according to an embodiment.

【図2】図1の電子部品整列供給装置の平面図である。FIG. 2 is a plan view of the electronic component alignment and supply device of FIG. 1;

【図3】図1の電子部品整列供給装置の正面図であり、
(a)は全体図、(b)は搬送路近傍の部分拡大図であ
る。
FIG. 3 is a front view of the electronic component aligning and feeding device of FIG. 1;
(A) is an overall view, and (b) is a partially enlarged view near a conveyance path.

【図4】図1の電子部品整列供給装置の側面図である。FIG. 4 is a side view of the electronic component aligning and feeding device of FIG. 1;

【図5】図1の電子部品整列供給装置の分離部の側断面
図であり、(a)はエアシャッタによる遮断中、(b)
は透過型センサによる通過確認中、(c)は透過型セン
サによる通過確認後である。
5A and 5B are side cross-sectional views of a separation unit of the electronic component aligning and feeding device of FIG. 1, wherein FIG.
(C) is after passage confirmation by the transmission type sensor, and (c) is after passage confirmation by the transmission type sensor.

【図6】図1の電子部品整列供給装置の分離部の動作フ
ローチャートである。
FIG. 6 is an operation flowchart of a separating unit of the electronic component aligning and feeding device of FIG. 1;

【図7】従来の電子部品整列供給装置の分離部の側断面
図であり、(a)はニードルによるチップ列搬送の遮断
時、(b)はワイヤパッドとニードルによるチップの分
離時である。
FIGS. 7A and 7B are side sectional views of a separation unit of the conventional electronic component aligning and feeding device, wherein FIG. 7A shows a state when a chip row is interrupted by a needle, and FIG. 7B shows a state when a chip is separated by a wire pad and a needle.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・電子部品整列供給装置 2・・・整列搬送部 3・・・分離部 4・・・本体 5・・・空気供給プレート 6・・・カバー 8・・・空気供給口(空気供給手段) 9・・・空気通路(空気供給手段) 11・・・搬送路 12・・・バキューム(吸引手段) 13・・・エアシャッタ(空気遮断手段) 14・・・透過型センサ(通過確認センサ) C・・・チップ IT・・・インデックステーブル PF・・・パーツフィーダ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Electronic component alignment supply apparatus 2 ... Alignment conveyance part 3 ... Separation part 4 ... Main body 5 ... Air supply plate 6 ... Cover 8 ... Air supply port (air supply means) 9 ... air passage (air supply means) 11 ... conveyance path 12 ... vacuum (suction means) 13 ... air shutter (air cutoff means) 14 ... transmission type sensor (passage confirmation sensor) C: Chip IT: Index table PF: Parts feeder

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電子部品を整列搬送するとともに、前記
整列搬送される電子部品を分離して次工程に供給する電
子部品整列供給装置において、 前記電子部品を整列搬送する搬送路と、 前記搬送路に上流から下流への空気の流れをつくり、前
記空気の流れにより前記電子部品を移動させる空気搬送
手段と、 を備えることを特徴とする電子部品整列供給装置。
1. An electronic component aligning and feeding device for aligning and transporting electronic components and separating and feeding the electronic components to be aligned and transported to a next process, wherein: a transport path for aligning and transporting the electronic components; Air supply means for creating an air flow from upstream to downstream and moving the electronic component by the air flow.
【請求項2】 前記空気搬送手段を、前記搬送路の上流
から空気を供給し、空気圧により前記電子部品を下流に
移動させる空気供給手段で構成することを特徴とする請
求項1に記載の電子部品整列供給装置。
2. The electronic device according to claim 1, wherein said air conveying means comprises air supplying means for supplying air from upstream of said conveying path and moving said electronic component downstream by air pressure. Parts alignment supply device.
【請求項3】 電子部品を整列搬送するとともに、前記
整列搬送される電子部品を分離して次工程に供給する電
子部品整列供給装置において、 前記電子部品の搬送方向に対して垂直方向に空気を噴き
出し、この空気噴出による空気流の層で前記整列搬送さ
れる電子部品の搬送を遮断する空気遮断手段と、 前記空気遮断手段の上流側に設けられ、前記電子部品を
吸引し、前記整列搬送される電子部品を停止させる吸引
手段とを備え、 前記空気遮断手段で搬送を遮断されている前記整列搬送
される電子部品を前記吸引手段で吸引した後、前記空気
遮断手段による空気の噴き出しを停止し、前記整列搬送
される電子部品の下流側の電子部品を分離することを特
徴とする電子部品整列供給装置。
3. An electronic component aligning and feeding device for aligning and transporting electronic components and separating and feeding the electronic components to be aligned and transported to a next step, wherein air is blown in a direction perpendicular to a transport direction of the electronic components. An air shutoff means for blowing off the electronic components to be aligned and conveyed by a layer of the air flow by the air jet; and an air shutoff means provided upstream of the air shutoff means for sucking the electronic components and carrying the aligned and conveyed electronic components. Suction means for stopping the electronic components to be stopped.After suctioning the aligned and conveyed electronic components, the conveyance of which is interrupted by the air shutoff means, by the suction means, stopping the blowing of air by the air shutoff means. An electronic component aligning and feeding device for separating an electronic component downstream of the electronic component to be aligned and conveyed.
【請求項4】 前記空気遮断手段および前記吸引手段の
上流側に設けられ、下流方向に空気を供給し、空気圧に
より前記電子部品を下流に移動させる空気供給手段を備
えることを特徴とする請求項3に記載の電子部品整列供
給装置。
4. An air supply means provided upstream of the air shutoff means and the suction means, for supplying air downstream and moving the electronic component downstream by air pressure. 3. The electronic component alignment and supply device according to 3.
【請求項5】 前記吸引手段の下流側に設けられ、電子
部品の通過を検知する通過確認センサを備えることを特
徴とする請求項3または請求項4に記載の電子部品整列
供給装置。
5. The electronic component aligning and supplying device according to claim 3, further comprising a passage confirmation sensor provided downstream of the suction unit and configured to detect passage of the electronic component.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006064562A1 (en) * 2004-12-16 2006-06-22 Ueno Seiki Co., Ltd. Parts feeder
JP2016164093A (en) * 2015-03-06 2016-09-08 倉敷紡績株式会社 Alignment feeder
JP2018098176A (en) * 2016-12-15 2018-06-21 ザ・ボーイング・カンパニーThe Boeing Company Automated wire processing systems and methods

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