JP2000508771A

JP2000508771A - クロマトグラフィー変動性の特性表示を利用するクロマトグラフィーパターン分析システム

Info

Publication number: JP2000508771A
Application number: JP9537268A
Authority: JP
Inventors: ゴーレンスタイン，マーク・ヴィー
Original assignee: ウォーターズ・インヴェストメンツ・リミテッド
Priority date: 1996-04-12
Filing date: 1997-04-14
Publication date: 2000-07-11
Also published as: US6312575B1; EP1015882B1; WO1997039347A1; US5969228A; EP1015882A2; AU2666897A; DE69738773D1

Abstract

(57)【要約】クロマトグラフィーパターン分析システム（CPAS）は、ピークまたは他のクロマトグラフィーの特徴を識別もしくは特性表示する必要なく、複数の変動源によるクロマトグラフィー変動性を決定し、高速液体クロマトグラフィー（HPLC）機器によって標準クロマトグラムと第１の混合物から生成される第１のサンプルクロマトグラムとを示すデータを、そして複数の異なった混合物からHPLC機器によって生成される複数の追加のサンプルクロマトグラムを示すデータを受け取る。CPASは、標準クロマトグラムから複数組のクロマトグラフィー変動性データを生成し、このとき各組は、HPLCのクロマトグラフィー変動性の異なった影響を示している。標準クロマトグラムを変動性データの関数として修正し、修正された標準クロマトグラムと第１のサンプルクロマトグラムとの間の差違を示す残差値を生成させる。追加のサンプルクロマトグラムに対して残差値が生成され、対応する混合物と第１の混合物との間の差違を決定するのに使用される。

Description

【発明の詳細な説明】クロマトグラフラフィー変動性の特性表示を利用するクロマトグラフィーパターン分析システム公認本特許文書の開示内容の一部は著作権保護を受けるデータを含んでいる。著作権所有者には、ある人による本特許文書または本特許開示内容のファクシミリ複製に対する拒絶理由がない。なぜなら、本特許文書または本特許開示内容は、特許商標庁の特許ファイルまたは特許記録に載っているからである。発明の分野本発明は、一般にはクロマトグラムの分析に関する。さらに詳細には、本発明は、クロマトグラフィー分析の精度を増すためにクロマトグラフィー変動性（chromatographic variability）を決定することに関する（但し、これに限定されない）。発明の背景クロマトグラフィーは、多成分物質の分析に広く使用されている手法である。クロマトグラフィーでは、既知組成または未知組成の液体もしくはガスを、二次元グラフの形のクロマトグラムを生成するクロマトグラフ中に注入する。二次元グラフにおいては、注入した液体の吸光率、あるいは注入したガスの導電率または他の物理的レスポンスが時間に対してプロットされる。液体またはガスがクロマトグラフを通るときの、時間に経過に対する液体の吸光率またはガスの導電率の変化が、液体混合物またはガス混合物の組成を表している。クロマトグラフィーの通常の用途としては、製造された物質を分析して組成を確認するという品質管理、および未知物質からのクロマトグラムを生成させて該物質の組成を分析・決定するという定性分析と定量分析がある。品質管理での用途においては、既知物質と所望物質のクロマトグラムを生成させ、これらを製造物質のクロマトグラムと比較する。定性・定量分析での用途においては、未知物質の１つ以上のクロマトグラムを生成させて、成分の同定を行うか、あるいは物質中の各成分の量を定量する。上記用途のいずれも、クロマトグラムを解析して、他のクロマトグラムとの類似性または相違性を決定しなければならない。一般にこのような解析では、あるクロマトグラムと他のクロマトグラムとの間で、ピークの保持時間、高さ、及び面積を含めて、ピークを解析・比較する必要がある。このような比較を行うためには、比較しようとするピークを識別する方法を開発して最適化しなければならず、次いでクロマトグラムのピークおよび上記の他の識別状況を比較する方法を開発しなければならない。主成分分析（Principal Component Analysis;PCA）はこのような方法の１つであり、G.MalmquistとR.Danielssonによる「“Alignment of Chromatographic Profiles for Principal Component Analysis:A Prerequi site for Fingerprinting Methods”,Journal of Chromatography A，687(1994) 71-88」に記載されている。MalmquistとDanielssonが説明しているように、対応するクロマトグラムを整列させるのに、選定されたピークの保持時間が使用されている。クロマトグラムが整列したら、吸光度を比較する。他の方法が、J.P.Ma sonらによる「“A Novel Algorithm for Chromatogram Matchingin Qualitative Analysis”,Journal of High Resolution Chromatography，v.15，pp.539-547 （August 1992）」に記載されており、ピークの高さ、面積、及び保持時間だけを比較する自動化されたクロマトグラフィーマッチング法（chromatographic ma tching technique）が説明されている。クロマトグラフィー分析はさらに、クロマトグラフによってもたらされる変動性（例えば、ベースラインのドリフト、保持時間の変動、および濃度の変化等）を考慮しなければならない。クロマトグラフのこうした変動性は、クロマトグラフによって生成されるクロマトグラムの変動性として明示され、それら幾つかの変動性を考慮した解析が必要となるために分析をより複雑にする。Malmquistと Danielssonによる上記報文においては、PCAによるクロマトグラフィー分析を増やすというやり方でクロマトグラフィー変動性を補償するための方法が説明されている。クロマトグラフィー分析の公知の方法（例えば、MalmquistとDanielssonによって説明されている方法）は一般に、比較しようとするピークを識別する方法を規定する工程、ピークの種々のアスペクトを比較する方法を規定する工程、そしてクロマトグラフィー変動性の影響を考慮しつつ実際に比較を行う工程を必要とする。コンピューター化された方法（例えば、Masonにより説明されている方法）はこのような作業を行うのに有効であるが、公知の多くの方法は、依然として時間がかかりすぎであり、場合によっては単調で退屈であり、高度に訓練した作業者の技能を必要とする。したがって本発明の目的は、クロマトグラフィーの変動性を補償し、そして公知の方法において必要とされるようなピークの特性表示（characterization）や他のクロマトグラフィー的特徴を必要とすることなくクロマトグラフィー分析を行う、クロマトグラフィー分析のためのシステムを提供することにある。発明の総括本発明の主要な目的によれば、クロマトグラフィー分析システムは、クロマトグラフの変動性を特性表示するクロマトグラム整合手順（chromatogram alignme nt procedure）を使用する。本発明の他の目的によれば、クロマトグラフィー分析システムは、特性表示されたクロマトグラフィー変動性をクロマトグラムの比較において使用する。本発明のクロマトグラフィー分析システムは、クロマトグラムをパターンとして比較し、ピークの特性表示または付随しているピークのリフトオフポイント（lift-off point）やピークのタッチダウンポイント（touch down points）の識別を必要としない。さらに、ピークの高さ、面積、または保持時間を算出する必要がない。本明細書で言う“特性表示”とは、問題としているピークのリフトポイントやタッチダウンポイントの識別によってベースラインを明確化すること、および実際にピークの積分を行うこと、を必要とするピーク積分のプロセスを表しているものとする。本発明のクロマトグラフィーパターン分析システムは、アイソクラチッククロマトグラフィー分離または勾配クロマトグラフィー分離によって得られるクロマトグラムに適用することができる。アイソクラチッククロマトグラフィーでは、クロマトグラフィー分離の全体にわたって溶媒の組成を一定に保持する。勾配クロマトグラフィーでは、化合物の保持時間に対する制御を高めるために、溶媒の組成を所定の仕方にしたがって変化させる。本発明の原理にしたがって機能するクロマトグラフィー分析システムは、第１の態様においては、標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムとの間の差違決定する。標準クロマトグラムは、選定された溶離時間範囲にわたって標準クロマトグラムを示している一組の標準データポイントによって表され、またサンプルクロマトグラムは、同じ溶離時間範囲または一定量によってオフセットされる溶離時間範囲にわたってサンプルクロマトグラムを示している一組のサンプルデータポイントによって表される。標準データポイントとサンプルデータポイントはそれぞれ、個々のクロマトグラムを一定の割合でサンプリングすることによって得られる。本発明のクロマトグラフィー分析システムは次いで、標準データポイントから複数組のクロマトグラフィーの変動データポイントを生成し、このときクロマトグラフィーの変動データポイントの各組は、標準クロマトグラムに及ぼす所定のクロマトグラフィー変動源の影響を示している。本発明のシステムはさらに、前記クロマトグラムを生成するクロマトグラフのクロマトグラフィー変動性をモデル化するために、一組の修正された標準データポイント（クロマトグラフィー変動性データポイントの関数として修正された標準データポイントに相当する）を生成する。上記のシステムでは、同じ混合物から得られる標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムを使用して、クロマトグラフの変動性を決定することができる。さらに、本発明のシステムを使用して、異なった混合物もしくは未知の混合物からの標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムとの間の類似性または相違性を決定することができる。このような比較をしやすくするために、本発明のシステムは、第２に態様において、標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムとの間の相違を示す残差値（residue values）を生成する。同じ混合物の標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムとの比較から得られる残差値を、異なった混合物の標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムとの比較から得られる残差値と比較して、サンプルクロマトグラムに対応する混合物と標準クロマトグラムに対応する混合物が同じ混合物であるか又は異なった混合物であるかを決定することができる。標準クロマトグラムから得られるクロマトグラフィー変動性データポイントにより、クロマトグラフィー変動性の影響によってのみ標準クロマトグラムとは異なる可能なクロマトグラムの広い範囲を示すよう、標準クロマトグラムを修正することができる。本発明のシステムは、サンプルクロマトグラムに最もよく整合するモデルクロマトグラムを見いだすのに、標準クロマトグラムから誘導されるクロマトグラフィー変動性データポイントを使用する。この意味において、本発明のシステムは、標準クロマトグラムを修正することによってサンプルに現れるクロマトグラフィ一変動性を測定する。クロマトグラフィー変動性データポイントの関数として生成されるスケールファクター（この“最良適合（best-fit）”モデルクロマトグラムを表している）は、標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムとの間のクロマトグラフィー変動性の１つの尺度である。モデルクロマトグラムとサンプルクロマトグラムとの間の差違がもう一つの尺度である。これらはいずれも、サンプルクロマトグラムと整合する標準クロマトグラムに基づいてモデルクロマトグラムを得るのに、標準クロマトグラムにどの程度の変動性を加えるべきか（クロマトグラフィー変動性データポイントを使用することにより）を本発明のシステムが決定する、という意味においてクロマトグラフィー変動性の好ましい尺度である。標準クロマトグラムから誘導されるクロマトグラフィー変動性データポイントは、各標準クロマトグラムに対して１回だけ生成させればよく、標準クロマトグラムと複数のサンプルクロマトグラムとの間の変動性を決定する際に、繰り返し使用することができる。上記にて要約されている原理にしたがって機能する実施態様は、該クロマトグラムの特定のピークまたは他の特徴を識別あるいは特性表示する必要なく、クロマトグラフィー変動性の正確な決定を有利な形でもたらす。クロマトグラムが同一または類似の混合物からのものである場合は、ベースラインのドリフトによるクロマトグラフィー変動性、保持時間の変動、および濃度変化を測定し、該クロマトグラムの特定の特徴に関係なく、またクロマトグラフのさらなるキャリブレーションや、該混合物への基準化合物の付加を行わずに除外する。好ましい実施態様においては、本発明のクロマトグラフィー分析システムは、濃度の変化、保持時間の片寄り、保持時間の伸び、ベースラインの片寄り、およびベースラインの勾配によるクロマトグラフィー変動性を除去する。他の実施態様においては、本発明のシステムは、上記変動源の異なったサブセットのクロマトグラフィー変動性において、上記変動源のうちの１つのみによるクロマトグラフィー変動性を除去する。本発明のこれらの特徴と利点および他の特徴と利点は、本発明の特定の好ましい実施態様についての下記の詳細な説明を考察することによって、より理解を深めることができる。下記の説明においては、添付の図面を参照しつつ説明する。図面の簡単な説明図１は、HPLC機器に連結した好ましいクロマトグラフィー分析システムのブロック図である。図２は、好ましい実施態様の操作を示すためのインプットとして使用される標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムを示しているグラフである。図３は、好ましい実施態様の操作を示しているフローチャートである。図４（a）〜４（e）は、好ましい実施態様によって生成されるクロマトグラフィー変動性データポイントを図２の標準クロマトグラムの関数として示しているグラフである。図５は、図１のシステムの別の使用状態を示しているブロック図である。図６（a）〜６（d）および図７（a）〜７（d）は、異なったオフセット値に対する好ましい実施態様の操作を示しているグラフである。詳細な説明図１は、高速液体クロマトグラフィー（HPLC）システム102からのデータを受け取るように連結された好ましいクロマトグラフィーパターン分析システム（CP AS）100の概略図を示している。このようなシステムは、マサチューセッツ州ミルフォード01757のウォーターズ・コーポレーション（Waters Corporation）から市販されており、ウォーターズ（Waters^TM）626という商品名のポンプ（インジェクター、カラム、および検出器を通して溶媒を廃棄ボトルに継続的にポンプ送りする）を含むのが好ましい。このようなシステムは、高分解能のタンパク質精製、ヘプチドのマッピング、核酸の単離、オリゴ糖類の精製と分析、およびマイコバクテリアからのミコール酸の分析を含めた種々の応用に対して適用可能である。インジェクターにより、カラムによって分離しようとするサンプル混合物を、ポンプによって生成される溶媒流れ中に注入する。インジェクターは、サンプルを自動的に加え、ミキシングし、そして注入するための自動化ルーチンを含めた種々の機能を果たすために、下記のクロマトグラフィー・マネージャーを介してプログラム化できるオートサンプラー（Autosampler）とウォーターズ^TM717との組合せ物という形態をとるのが好ましい。注入された混合物の成分を分離するクロマトグラフィーカラムの１つが、ウォーターズ・コーポレーションからウォーターズ^TM デルタ−パック^TM（Delta-Pak^TM）Ｃ₁₈スチールカラムの商品名で入手可能である。このようなカラムは、3.9mmの内径と150mmの長さを有し、300オングストロームの孔サイズを有する５ミクロンサイズのビーズが充填されている。検出器が、カラムを出る流出液流れの吸光率（absorptivity）を測定し、測定された吸光度（absorbance）を数字表示する。このような検出器も、ウォーターズ・コーポレーションからウォーターズ^TM486チューナブルUV吸光度検出器という商品名で市販されており、190〜600ナノメートル（nm）の検出範囲、±２nmの精度での８nmのバンド幅、および±0.25nmの再現性をもたらす。CPAS100は、HPLC102の操作を制御し、検出器のデジタル化出力を受け取るデータ・ステーションにより機能を果たすのが好ましい。このようなデータ・ステーションは、ワシントン州レッドモンドのマイクロソフト社から市販のウインドウズ3.1オペレーティングシステム、およびウインドウズ3.1に適合したアプリケーションプログラム〔機器によってなされた分析から誘導される結果をプログラム化し、詳細に記録し、そしてリンクさせる能力も含めて、HPLC機器の作動の制御を可能にするようにクロマトグラフィーデータマネージメントシステムを実行するミレニアム2010クロマトグラフィーマネージャー(Millennium 2010 Chromatography Manager）を含む〕を実行するよう設計されたPCベースのコンピューターの形態をとるのが好ましい。このようなクロマトグラフィー・マネージャーは、データの取得や他のシステム作動機能を制御するためのグラフィカル・ユーザー・インターフェースとHP LC102によって結果の系統化、記憶、および検索を容易にするリレーショナルデータベースを提供する。他のタイプの液体クロマトグラフやガスクロマトグラフも含めて、他のタイプのクロマトグラフィー機器をCPAS100と組み合わせて使用することができる。CPA S100は、クロマトグラムをアナログ電圧信号の形で表したデータ（このとき一般には、１ボルトが１吸光度単位（AU）に等しい）、あるいはデジタル化信号の形で表したデータを必要とする。信号は通常、１秒間に１つの割合でサンプリングされ、そしてデジタル化される。クロマトグラフィーのピークは一般に、隔離されたピークのリフトオフポイントからタッチダウンポイントまで測定したときに 30〜60秒の幅である。図１から概略的にわかるように、CPASは、標準クロマトグラムとの比較により、クロマトグラフィー変動性測定モジュール104を介して各サンプルクロマトグラムに対する残差値Ｓ²を生成する。図１からわかるように、標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラム１は、それぞれ同じ混合物から生成される。混合物２,３,...,Ｎから複数の追加クロマトグラム（サンプルクロマトグラム２,３,.. ,Ｎとして示されている）が生成され、これらのクロマトグラムと標準クロマトグラムとの間の類似性と相違性を決定するために、CPAS100のクロマトグラフィー識別モジュール106に移行される。CPAS100は、サンプルクロマトグラム２,３, ...,Ｎ（混合物２,３,...,Ｎに対応する）を標準クロマトグラムと比較して、製造された混合物２,３,...,Ｎと所望の組成を有する混合物を表している混合物１との間の差を決定する、という品質管理を含んだ種々の目的に対して使用することができる。CPAS100はさらに、ミコール酸分析やトリプシンマッピング（trypt ic mapping）を含む他の多くの応用にも使用することができる。図２は、標準クロマトグラムと図１のサンプルクロマトグラムを示しており、好ましい実施態様の作用を示すのに使用される。図２では、標準クロマトグラムが実線202で示されており、サンプルクロマトグラム１が点線203で示されている。以下の説明においては、標準クロマトグラム202上の種々のポイントが偶数の参照番号204−210で示され、サンプルクロマトグラム203上のポイントが奇数の参照番号205−211で示されている。図２からわかるように、標準クロマトグラム 202とサンプルクロマトグラム203はそれぞれ、複数のピーク204−211を含んでいる。さらに図２からわかるように、標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムは、同じ混合物から得られているにもかかわらず多くの点で異なっている。例えば、クロマトグラム203のピークは、クロマトグラム202の対応するピークからシフトしており、時間の経過にしたがってピークが広がっている。さらに、クロマトグラム203のベースラインも、クロマトグラム202からシフトしており、上向きに傾斜している。さらに、クロマトグラム203のピークの高さは、クロマトグラム202における対応したピークの高さと異なっている。周知のように、このような差違は、クロマトグラフ自体の特性が、同じ混合物の注入間でわずかに異なるために起こる。例えば、クロマトグラフにおける溶媒流量がその日毎にあるいは機器によって変わり、ベースラインがドリフトすることがある。下記の表１は、クロマトグラムに影響を及ぼす通常の５つの機器変動を挙げている。表１においては、最も左の欄に変動が、次いで右のほうに向かって、変動の大きさを測定するモデル値、モデル値の単位、そして個々の欄に記載されている変動の物理的原因が表記されている。 CPAS100は、上記モデル値のそれぞれを、標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラム１との比較により評価する。先ず最初に、クロマトグラフィー変動性〔“モデル変動性（model variability）”と呼ぶ〕による２つのクロマトグラム間の差違を説明するために、５つのモデル値を決定する。モデル変動性がない場合、モデル値はＳ=１，ｒ=０，ｔ_o=０，ｂ_I=０，及びｂ_o=０である。いったんモデル変動性が決定されれば、残りの差違〔残留変動性（residual variability ）と呼ぶ〕が決定される。本明細書で使用している“残留変動性”とは、表１に明記のモデルによって説明されるクロマトグラフィー変動性からは生じない２つのクロマトグラム間の差違を表すためのものである。次いで、このモデル変動性と残留変動性を使用して、異なった混合物からのクロマトグラムの分析精度を高める。クロマトグラム202または203を表示しているデータを分析のためにCPAS100に提供する前に、標準クロマトグラムの溶離時間範囲〔比較範囲（comparison ran ge）とも呼ばれ、図２のグラフの水平軸によって示されている〕を選択しなければならない。溶離時間範囲は、比較しようとする標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムの該ピークを含むように選択される。溶離時間範囲が少なくとも２つのピークを含んでいる場合は、溶離時間範囲の長さに対して制約を設けないのが好ましい。さらに、溶離時間範囲内のピークが既知化合物のものであるか、未知化合物のものであるかどうかについて制約がない。例えば、基準化合物からのピークは、CPAS100が機能するために溶離時間範囲に含める必要がない。２つ以上のピークを使用すると、相対的な保持時間のシフトと広がり、ならびにベースラインのモデル値と濃度変化を決定することができる。単一のピークだけを使用した場合は、保持時間の広がりは決定することができない。したがって、システムを適切に操作するには、比較範囲に少なくとも２つのピークを含む必要がある。図２の例においては、選択された比較範囲は、ポイント21から始まってポイント420で終わる400ポイントを含んでいる。以下の説明では、比較範囲はインデックスｉ_Nによって示され、このときｉ_startは比較範囲における最初のポイント（ポイント21）を、そしてｉ_stopは比較範囲における最後のポイント（ポイント 420）を示す。この例では、比較範囲はＮ＝400ポイントを含む。さらに、以下の説明においては、ベクトルや行列は太文字で示す。比較範囲の他に、オフセット範囲（パラメーターＫによってサンプリングインデックスの単位で表示）を選定しなければならない。オフセット範囲は可能な最大の保持時間オフセットを示していて、標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムとの間の比較が変化する−Ｋ〜＋Ｋまでの範囲を規定する。このように、標準クロマトグラムをサンプルクロマトグラムの（２Ｋ＋１）オーバーラッピング，Ｎ−ポイント区域と比較する。オフセット範囲内の特定のオフセットは、オフセットインデックスと称する値ｋで示される。実際、値（２Ｋ＋１）はクロマトグラフィーのピークの幅と同等であることが多い。下記の例においては、Ｋ＝ 10であり、したがってオフセットはｋ＝＋10〜ｋ＝−10インデックスの範囲である。図３は、標準クロマトグラム202とサンプルクロマトグラム203からクロマトグラフィー変動性を決定するために好ましい実施態様によって行われる工程を示している流れ図である。図３においては、標準クロマトグラム202からのデータを使用して５つのクロマトグラフィー変動性曲線を生成させる。これらの曲線はそれぞれ、対応するデータの組（本明細書では“クロマトグラフィー変動性データポイント”と呼ぶ）によって具体化され、302においてグラフの形で、そしてより詳細には図４(a)〜４(e)に示されている。前記の表１に記載の対応するモデル値が、各曲線と関連している。これらのクロマトグラフィー変動性曲線が、一組のクロマトグラフィー変動性データポイントの概念を具体的に表現している。図４(a)に示されているデータポイントは標準クロマトグラムから減ずることによって生成され、最小吸光度は選定された溶離時間範囲内で測定される。選定された溶離時間範囲内で測定される最小吸光度は、該時間範囲内から全ての吸光度値を集めて分類し、そしてこの分類された組から最も低い値を取り出すことによって見いだすことができる。図４(a)の曲線は初期モデルクロマトグラム（Ini tial Model Chromatogram;ＩＭＣ）と呼ばれ、これに関連したスケーリングパラメーター（scaling parameter）は、標準クロマトグラムの濃度変化をモデル化するよう作動するｓと呼ばれる。ＩＭＣのＮ成分は、ｐ_i（式中、ｉ＝1,...,N）によって標識付けされる。図４(b)のデータポイントは、ＩＭＣの第１のデリバティブ（derivative）をとることによって生成される。このような操作は、Abraham SavitzkyとMarcel J ．E．Golayによる「“Smoothing and Differentiation of Data by Simplified Least Squares Procedures”,Analytical Chemistry，v.36，pp.1627-1639（Jul y 1964）」に記載のサビツキー−ゴーレイ（Savitzky-Golay）フィルターを使用して行うのが好ましい。図４(b)の曲線のＮ成分はｐ’_iで標識付けされる。この曲線に関連したスケーリングパラメーターはδである。図４(b)の曲線のスケールド成分（scaled elem ents）をＩＭＣに加えると、ｔ_O＝δ／ｓに等しい時間だけの、ＩＭＣのピーク保持のシフトがモデル化される。図４(ｃ)のデータポイントは、ユニット勾配（unit slope）とゼロ平均(zero mean)のラインを使用して図４(ｂ)の曲線の（成分×成分）をとることによって生成される。具体的に言うと、溶離時間範囲内にＮポイントがある場合、ｔ_i=-h ,...,-1,0,1,...,hは単位勾配とゼロ平均を有する曲線〔このときｈ=(N-1)/2〕を規定する。この曲線に関連したスケーリングパラメーターはｒである。図４( ｃ)の曲線のスケールド成分をＩＭＣに加えると、ＩＭＣの中点の周りのＩＭＣピークの保持時間の伸びがモデル化される。ピークの保持時間は、保持時間と比較範囲の中点との差のｒ倍に比例する。図４(ｄ)の曲線は、ゼロ勾配とユニット値を有するラインである。この曲線に関連したスケーリングパラメーターはｂ_Oである。図４(ｄ)の曲線のスケールド成分をＩＭＣに加えると、ｂ_Oに等しい量だけの、ＩＭＣのベースラインの変化がモデル化される。図４(ｅ)の曲線は、ユニット勾配とゼロ平均のラインである。この曲線の成分は上記のポイントｔ_iである。この曲線に関連したスケーリングパラメーターはｂ_Iである。図４（e）の曲線の尺度構成成分をＩＭＣに加えると、ｂ₁に等しい量だけの、ＩＭＣのベースライン勾配の変化がモデル化される。クロマトグラフィー変動性曲線がいったん得られると、CPASは、Ｎ行と５列を有する計画行列を304aにて生成する。したがって、この例においては、計画行列の成分は400行と５列からなる。計画行列の成分はＤ_ijによって表され、このときｉは１〜400の範囲であり、ｊは１〜５の範囲である。したがって、計画行列の各列はスケーリングバラメーターに対応する。計画行列の各成分は、クロマトグラフィー変動性曲線のうちの１つに沿った点である。この計画行列を標準クロマトグラムと関連づけ、ｋ（前述のように、インデックスのオフセットを規定する）の全ての値に対して使用するのが好ましい。計箇行列（Ｄ）から、下記の関係にしたがってフィルター行列（Ｆ）を生成させる。フィルター行列は５行とＮ列を有する。フィルター行列の各行は、個々のクロマトグラフィー変動性曲線に関連した射影ベクトルとして作用するＮ成分の横ベクトルである。上記の式において、符号は行列の互換を示しており、−１は行列の反転を示している。本発明の開示内容から当業者には周知のことであるが、上記の式（１）は、サンプルデータを計画行列のスケールド列（scaled column）に適合させるという線形最小２乗問題に対する解決をもたらす。言い換えると、上記式（１）において表されている関係は、下記の式（２）、（３）、および（５）に示されている関係と組み合わせると、Ｓ_k ²の最も低い値を与える５つのスケーリングパラメーター（ｓ，δ，ｒ，ｂ₀，ｂ₁）に対する一組の値が得られる。これとは別に、このような値は、５次元スペース（five-dimensional space）に対するサーチによって、あるいは５次元スペースにおける幾らかの繰り返し手段（some iterative means）によって得ることができる。フィルター行列が生成された後、オフセット範囲に対する値Ｋを選定し、ブロック307内に示されている機能を、それぞれのインデックスオフセット値ｋに対して行う。それぞれのインデックスオフセットｋに対し、ブロック307内の機能により、該インデックスオフセットｋに対する標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムとの差を示す量が得られる。工程308において、最良適合のスケーリングパラメーターが、フィルター行列、サンプルクロマトグラム、およびオフセットインデックスｋの関数として生成される。オフセットインデックスｋに対する最良適合パラメーターは、比較範囲に対応するサンプルクロマトグラムからの吸光度を選定することによって生成させるのが好ましい。従って、比較範囲がｉ_start〜ｉ_stopの範囲であるインデックスからのものであれば、サンプルクロマトグラムは（ｉ_start＋ｋ）から（ｉ_s _top +ｋ）までの成分（成分ｑで示される）を含む。ブロック308において、我々は、量を最小にするベクトルｃ^kを見いだすという最小２乗問題を解決する。積Ｄｃ^kは、ベクトルｃ^kの５成分でＤのカラムに重みを与える（weighting）という作用を有する。この例においては、ｃ^kは５成分カラムのベクトルであり、それらの値がスケーリングパラメーターである。この積Ｄｃ^kは、クロマトグラフィー変動性曲線に基づいたクロマトグラフィーデータｑ^kに対するモデルである。ベクトルｑ^kはサンプル吸光度ｑ^k _jを含む。上記の量を最小にするベクトルｃ^kを見いだすことにより、上記式に対する最小２乗解がもたらされ、ｋによるサンプルクロマトグラフィーデータオフセットに最良適合するモデルが得られる。上記の量を最小にするベクトルｃ^kを与える公知の解は、下記の関係にしたがってフィルター行列Ｆから得られる。このよく知られている式と最小２乗問題に対する解は、Gilbert Strangによる「“Introduction to Applied Mathematics”published by Wellesley-Cambridg e Press，Wellesley，MA 02182 USA(1986)，p.37」に説明されている。カラムベクトルｃ^kの５成分は、スケーリングパラメーター（ｓ，δ，ｒ，ｂ₁，ｂ_O）のそれぞれの最小２乗評価値であり、次のように関係づけられる。次いで、選定されたインデックスｋに対する最良適合モデルが、カラムベクトルｍ_iを生成させることによって工程310にて生成され、このとき長さは、下記の関係にしたがって、比較範囲におけるポイントの数（この例では400）に等しい。式（５）においてみられる行列積（matrix multiplication）の作用は、パラメーター値ｃ^kでＤ_yの列に重みを与え、結果を総和することである。得られた総和がモデルｍ^kであり、ｋによってオフセットされたサンプルクロマトグラムに最良適合するモデルクロマトグラムを具体化する400ポイントの一組を構成している。工程312において、２つの曲線間の差違を明らかにすることによってモデルクロマトグラム（ｍ_i）とサンプルクロマトグラム（ｑ_i ^k）とを比較して、残差曲線（ｒ_i＝ｍ_i−ｑ_i）を形成させる。量ｒは、モデルクロマトグラムとサンプルクロマトグラムとの間のポイント対ポイント差（point-to-point difference）である。次いで工程314において残差曲線から、残差２乗和（Ｓ²）（残差値とも呼ばれ、モデルクロマトグラムに対するサンプルクロマトグラムの適合精度の尺度となる）を下記の関係にしたがって生成させる。式（６）の右辺は、式（２）と（５）との組合せに等しい。値Ｓ² _kはさらに、下記の式（７）に示す関係にしたがって値Ｒ_kに正規化することができ、このときＲ_kは、Ｓ² _kモデルクロマトグラムとサンプルクロマトグラムとの間の偏差値（％）として表示する。工程314において残差値が生成されると、314にてオフセットインデックスを増大させ、該範囲における各オフセットインデックスに対して工程308〜314を繰り返す。最初にオフセットインデックス値を−ｋに選定し、次いで各インデックスオフセット値に対してＳ²値が生成されるまで、工程308、310、312、および314 への各通過に対して増大させる。図３において、オフセットインデックス値を増大させることによってオフセットインデックス値が変化するが、値を変化させる他の方法（例えば、ｋからの決定）も使用することができる。318においては、各オフセットインデックスに関してＳ_k ²に対する値が生成されると、最も低い値（本明細書ではＳ²またはminＳ²と呼ぶ）が選定される。この最低値により、最良適合値ｋ^*とｋ^*に関連したパラメーターが識別される。クロマトグラムが同じ混合物からのものであるときのＳ²の挙動のために、Ｓ² を測定するのに使用される方法が重要である。Ｓ²は、濃度変化の影響とクロマトグラフィー変動性の影響を取り除いた後の差の目安となるので、Ｓ²およびシステムの残差誤差に特徴的なものに対して低い値が得られる。図６（ａ）〜６（ｄ）は、ｋ＝０のオフセットインデックスに対する最良適合の例を示している。、図６( ａ)には、ＩＭＣ（実線）とサンプルクロマトグラム（点線）（ｋ＝０ポイントによるオフセット）が示されている。図６(ｂ)には、ｋ＝０ポイントによるサンプルオフセットに最良適合するＩＭＣ（実線）と最良適合モデル（点線）が示されている。図６(ｃ)は、最良適合モデル（点線）とサンプルクロマトグラム（実線）を示している。これら２つの曲線から、Ｒ_d＝15.8％という相対偏差値（Ｒ_d ）が得られる。図６(ｄ)は、図６(ｃ)のサンプルクロマトグラムとモデルクロマトグラムとの間のポイント対ポイント差である残差値（residuals）のプロットを示している。図６(ｄ)における値の２乗の総和により、Ｓ²に対する値が得られる。図７(ａ)〜７(ｄ)は図６(ａ)〜６(ｄ)に類似しているが、ｋ＝４のオフセットインデックスに対する最良適合モデルの例を示している。ＩＭＣ（実線）とサンプルクロマトグラム（点線）が図６(ａ)に示されており、ＩＭＣ（実線）と最良適合モデルのクロマトグラム（点線）が図６(ｂ)に示されている。図６(ｃ)は、最良適合モデルのクロマトグラム（実線）とサンプルクロマトグラム（点線）を示している。これら２つの曲線から、Ｒ₄＝４％という相対偏差が得られる。言うまでもないが、ｋ＝４の作用は、ｋ＝０のオフセットより良好な適合をもたらす。図７(ｄ)は残差値のプロットを示している。図６(ｄ)の場合もそうであるが、このプロットにおける値の２乗の総和はＳ²に対する値を与える。値minＳ²はさらに、それらが同じ混合物からのものであろうと異なった混合物からのものであろうと、一対のクロマトグラム間の差の目安である。このようなクロマトグラフィー変動性の決定が、同一又は類似の混合物から得られるクロマトグラムの比較から一旦生成されると、異なった混合物のクロマトグラムを標準クロマトグラムと比較して、異なった混合物が標準クロマトグラムに対応する混合物と同じであるか異なっているかを決定することができる。多くの場合、標準混合物〔しばしばレファレンス標準（reference standard）またはゴールド標準（gold standard）と呼ばれ、これから標準クロマトグラムが得られる〕が注意深く記憶され、ごく少量のレファレンス標準が、一週間基準で比較アッセイの一部として使用される。新たに製造された混合物との比較のために、分析者はレファレンス標準から１つ以上のクロマトグラムを生成させることができる。最も単純なケースでは、図１〜３に関して前述したように、レファレンス標準混合物から２つのクロマトグラムが生成される（標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラム）。しかしながら多くの場合、図５に示されているように、レファレンス標準から複数（Ｎ）のクロマトグラムが生成される。図５からわかるように、レファレンス混合物である混合物１から複数の標準クロマトグラム（標準クロマトグラム１，２,...,Ｍ）が生成される。１つの混合物からＭクロマトグラムを得ることによって、統計的に有意なＳ²値の分布を生成させることができ、大きな偏差を有するクロマトグラムを分布値から取り除くことができる。他のデータ収集法も可能である。例えば、臨床試験の場合、混合物が生物学的な供給源からのものであるときは、多数のレファレンス混合物を使用することができる。一般に、ある値が分布の一部であるかどうかを決定する問題は、統計学においてよく知られている問題である。この問題に対する可能な解決法が、J.C.MillerとJ.M.Mill erによる「“Statistics for Analytical Chemistry”published by Halsted Pr ess：a division of John Wiley & Sons，New York（1988）」に記載されている。図１およびそれに付随する説明でわかるように、任意の数の未知もしくは既知混合物を使用することができる。最も単純なシナリオにおいては、図１に示されているように、１つのレファレンス標準混合物を使用し（混合物１）、これから２つのクロマトグラムが得られ（標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラム１）、そして複数の未知混合物が使用され（混合物２，３,...Ｎ）、これらに対してそれぞれ１つのクロマトグラムが得られる（サンプロクロマトグラム２，３ ,...Ｎ）。このようなシナリオにおいては、図２と３に記載のように、標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムとの比較から、５つ一組の変動性曲線、５つのスケーリングパラメーター、整数オフセット（integer offset）、および残差値が生成される。残差値minＳ²が記憶され、以下の説明においてはレファレンス残差値と呼ぶ。レファレンス残差値から、アプリケーションに適した方法によって標準からの最大許容偏差を示す閾値が生成される。例えば、閾値は幾つかの複数のレファレンス残差値であってもよいし、あるいはこれとは別に固定された値であってもよい。閾値はさらに、複数のサンプルクロマトグラム（同じ混合物から標準として生成される）と標準クロマトグラムとの比較から生成されるレファレンス残差値の分布の分析から生成させることもできる。次いで、標準クロマトグラムと未知（サンプル）クロマトグラムの１つとを比較する。標準クロマトグラムから生成される５つの変動性曲線を使用して、新たな５つ一組のスケーリングパラメーター、新たな整数オフセット、新たな残差曲線、および新たな残差値minＳ²が各サンプルに対して生成される。最後に、各サンプルに対して得られる残差値（未知の残差値）を閾値と比較する。未知残差値が閾値より大きければ、該残差値に対応する混合物は標準混合物とは異なると決定される。未知残差値が閾値より小さければ、該未知混合物は標準混合物と同じである（あるいは、厳密に言えば、標準混合物に対して認識できるほどには異なっていない）と決定される。上記の説明は、混合物から得られる単一のクロマトグラフィー比較領域の説明に重点を置いたが、これに替わる説明も考えられる。例えば、上記の手法は、各クロマトグラムからのデータの、複数の重なりまたは非重なりの比較範囲もしくは比較部分に適用することができる。トリプシンマップ（tryptic maps）の比較において有用であることが判明している１つ比較方式は、約５個または６個のピーク幅の広さとなる比較範囲をひろい上げ、ピーク幅のフラクションによってのみ置き換えられる一連の比較範囲を使用して比較を行う、というものである。例えば、比較範囲は150ポイントであってもよく、または比較範囲は約１〜５ポイントによってのみ移動することができ、したがって約30〜150の連続した比較範囲にデータの各ポイントが含まれる。このような比較を本明細書では“ムービング・ウインドウ比較（moving window comparison）”と呼び、残差値を各比較範囲の中心位置の関数としてプロットすることができる。残差値を組み合わせて単一の複合値（composite value）にすることもできる。さらに、１つの以上のスケール値（scale value）（それぞれが個々の比較から得られる）を、各比較範囲の中心点の関数としてプロットすることができる。上記説明に代わる他の説明においては、５つの変動性曲線に現れる５つ未満の変動性パラメーターと５つのスケーリングパラメーターを使用する。一般に、５つの変動性パラメーターのサブセットだけを保持する利点は、ＲとＳ²に対する残留差曲線（residual difference curve）と残留差値（residual difference v al ue）が、サンプルクロマトグラムにおいて示されるサンプル混合物の変化に対してより感じやすくされるということにある。さらに、各比較に必要とされる計算時間が少なくなる。この減少は、計算に時間のかかるウインドウ比較を移動させる場合に有用である。しかしながら、存在するクロマトグラフィー変動性の成分が適切にモデル化されるよう、充分なパラメーターが含まれなければならない。例えば、比較領域が短くてわずか数ピークの幅であるときは、対応する３つの変動性曲線と３つのスケーリングパラメーターと共に、３つの変動性パラメーターだけを含んだモデルを使用することができる。好ましい選定は、ｓによってパラメーター化されるスケールファクター、δによってパラメーター化される保持時間オフセット、およびｂ_Oによってパラメーター化されるベースラインオフセットである。短い比較領域にわたって、残りの２つの変動性、保持時間の伸び（ｒによってパラメーター化される）、およびベースラインの勾配（ｂ₁によってパラメーター化される）は、有意とならない程度に充分小さい場合がある。クロマトグラフによって生成されるこれらの影響による変動が追加を正当化する場合は、保持時間の伸びまたはベースラインの勾配からなる第４の変数を前記のサブセットに加えてもよい。追加のサブセットは、単一の変動性パラメーター（スケールｓ）からなる。このサブセットが適切であるためには、ベースラインオフセットと勾配は、それぞれの比較領域に対してほぼ同じでなければならず、また保持時間の伸びはほとんどゼロかまたはゼロでなければならない。このような方法は、前述の３パラメーターモデル、４パラメーターモデル、または５パラメーターモデルより不利となることがある。特に、この方法は、サンプルピリオド（sample period）またはインデックスオフセットの整数に等しい保持時間オフセットの値をもたらす。しかしながら、この方法はそれでも、ピークの識別または特性表示を必要とすることなく保持時間オフセットを測定できるという利点を有する。この方法はさらに、濃度の比に対する値（スケール変化ｓ、残留曲線、および残差値Ｓ²によって表される）を与えるという利点を有する。前記の１パラメーター法の欠点は、保持時間のシフトが、一般にはサンプルピリオドまたはインデックスオフセットの整数に対応しないという点である。我々は、パラメーターδと保持時間シフトに関連した対応する曲線を加えることによって、１つの変動性パラメーターｓを使用する上記方法を改良することができる。この２−パラメーター法では、サンプリングユニットの整数以外によってオフセットされる曲線と比較すると、インテグラルインデックスオフセット間で内挿され、これによって保持時間のシフトが正確に測定される。さらに、この２−パラメーター法は、残差曲線とＳ²に対する値を生成するという利点を保持する。要するに、５パラメーターの有用なサブセットは、ｓからなるサブセット、ｓとδからなるサブセット、ｓとδとｂ_Oからなるサブセット、Ｓとδとｂ₀とｒからなるサブセット、ならびにパラメーターｓとδとｂ_Oとｒとｂ₁のフルセットである。図１、２、および３に関して説明されている実施態様は、汎用コンピューターで実行するプログラムとして実施するのが好ましい。MALAB^Rプログラミング言語における好ましいインプリメンテーションのコードリストを以下に記載する。下記のリストは、MALAB^Rプログラミング言語用のインタープリター（マサチューセッツ州ネーティック01760のThe Math Works,Inc.から市販）を介した解釈によって実行可能な形に変えることができる。著作権1996 Waters Corp．％ AlgnCode アラインメントデモ（Alignment demo）％％［ChiSquare，BestIndOffset，SampleModel，LinearParameter,... ％ Residuals，StanOffset，Angle，PercentRSD］＝... ％ PM_T_Off(StandardPattern,DerivStanPattern,StanIndToMatch,... ％ SamplePattern,IndOffset,Model) ％％ Inputs（全て行ベクトルでなければならない）％ StanIndToMath matchに含まれているライブラリー成分のインデックスベクトル％ IndOffset オフセットインデックスのベクトル％％％ Output：％ ChiSquare 全てのサーチ範囲に対する最小値％ SampleModel サンプルモデル％ LinearParameters 吸光度スケール、時間のオフセット、時間の伸び、ベースラインのオフセット％ Residuals ％ StanOffset 吸光度のオフセット％ Angle コントラスト角度％ PercentRSD ライブラリーとサンプルとの間の偏差パーセント関数［ChiSquare，BestIndOffset，SampleModel，BestLinearParameters,.. . Residuals，StanOffset，Angle,PercentRSD］＝... AlgnCode（StandardPattern,DerivStanPattern,StanIndToMatch,... SamplePattern，IndOffset,Model）％ Qualification of data ［n1,d］=size(StandardPattern)；［n2,NumInd］=size(StanIndToMatch)；［n3,d］=size(SamplePattern)；［n4,d］=size(IndOffset)； if〜（n1==1 & n2==1 & n4==1） error（全てのインプットが行ベクトルでなければならない） end ％サイズ numOffset=length(IndOffset)； ChiSquare Vec=zeros(1,numOffset)； LenPattern=length(StanIndToMatch)；％計画行列: ％成分を選定し、autozeroingすることによって標準パターンを作成する。 StanPatternToMatch=StandardPattern(StanIndToMatch)； StanOffset=min(StanPatternToMatch)； StanPatternToMatch=StanPatternToMatch‐StanOffset; maxStan=max(StanPatternToMatch)； StanPatternToMatch=StanPatternToMatch/maxStan; DerivStanPattern=DerivStanPattern/maxStan; ％時間と時間スケールに対してパーシャル(partials)w/rを得る。 DerivStanPatternToMatch=DerivStanPattern(StanIndToMatch)； Ramp=1:LenPattern; Ramp=Ramp‐mean(Ramp)；％‐LenPattern/2+LenPattern/2 ScaleStanPatternToMatch=DerivStanPattern(StanIndToMatch)^*Ramp; ％ベースライン BaselineOffset-=-ones(size(StanPatternToMatch')）; ％サーチ範囲の中点におけるオートゼロサンプル(Autozero Sample) SampleOffset=min(SamplePattern(StanIndToMatch+floor(mean(IndOffset)))); SamplePattern=SamplePattern‐SampleOffset; SampleMax=max(SamplePattern(StanIndToMatch+floor(mean(IndOffset)))); SamplePattern=SamplePattern/SampleMax; ％計画行列％５パラメーターモデル、吸光度スケール、時間オフセット、時間スケール、ベースラインオフセット、勾配 Design=［StanPatternToMatch',... DerivStanPatternToMatch',... ScaleStanPatternToMatch',... BaselineOffset,... Ramp'］；％最小２乗解 ProjMatrix=inv(Design'^*Design)^*Design'; ％各インデックスオフセットに対してSampleMatrixをつくり上げる。 SampleMatrix=zeros(LenPattern,numOffsets)； for ij=1:numOffset SampleMatrix(:,ii)=SamplePattern(StanIndToMatch+IndOffset(ii))'; end ％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％ Vectorized Computation ％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％％各インデックスオフセットに対する最良適合の線形パラメーター％ NumParam x numOffset=（NumParam x LenPattern）^*（LenPattern x numOf fsets) LinearParameters=ProMatrix^*SampleMatrix; ％ LenPattern x numOffset=LenPat x numOff−（LenPat x Numparam)^*(NumP x numOff) ModelCurves=Design^*LinearParameters; Residuals=SampleMatrix‐ModelCurves; ％ numOff x NumOff=(numOff x LenPat)^*(LenPat x numOff); ChiSquareVec=sum(Residuals^*Residuals); ％最良の最小２乗解のためのサーチ［ChiSquare,iiBest］=min(ChiSquareVec); ％最良適合のためのレポート結果 BestModel=IndOffset(iiBest); SampleModel=SampleMatrix(:,iiBest)'+SampleOffset; BestLinearParameters=LinearParameters(:,iiBest); Residuals=Desiduals(:,iiBest)'; Angle=(180/pi)^*asin(sqrt(ChiSquare)/norm(SampleMatrix(:,iiBest))); PercentRSD=100*sqrt(ChiSquareVec/sum(StanPatternToMatch.＾2)); 言うまでもないことであるが、説明してきた特定のメカニズムと方法は、本発明の原理の１つのアプリケーションを単に例示したにすぎない。本発明の真の精神と範囲を逸脱することなく、本発明の方法と装置に対する種々の改良形が可能である。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，ＩＴ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＭＬ，ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，ＫＥ，ＬＳ，ＭＷ，ＳＤ，ＳＺ，ＵＧ)，ＥＡ(ＡＭ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＭＤ，ＲＵ，ＴＪ，ＴＭ)，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ，ＡＵ，ＡＺ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，ＣＡ，ＣＨ，ＣＮ，ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，ＧＥ，ＨＵ，ＩＬ，ＩＳ，ＪＰ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＫ，ＬＲ，ＬＳ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ，ＭＮ，ＭＷ，ＭＸ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ，ＲＵ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＴＪ，ＴＭ，ＴＲ，ＴＴ，ＵＡ，ＵＧ，ＵＺ，ＶＮ

Claims

【特許請求の範囲】１．標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムとの間の差違を決定するためのシステムであって、このとき前記標準クロマトグラムが、選定された溶離時間範囲にわたって前記クロマトグラムを示す一組の標準データポイントによって表され、前記サンプルクロマトグラムが、前記溶離時間範囲にわたって前記サンプルクロマトグラムを示す一組のサンプルデータポイントによって表され、前記標準データポイントと前記サンプルデータポイントが、それぞれのクロマトグラムを一定の割合でサンプリングすることによって生成され、前記標準データポイントから複数組のクロマトグラフィー変動性データポイントを生成させるための手段、このとき前記複数組のクロマトグラフィー変動性データポイントのそれぞれが、前記標準クロマトグラムに及ぼす所定のクロマトグラフィー変動性源の影響を示している；および前記クロマトグラフィー変動性データポイントの関数として修正された前記標準データポイントに対応する一組の修正された標準データポイントを生成させて、前記クロマトグラムを生成するクロマトグラフのクロマトグラフィー変動性をモデル化するため手段；を含む前記システム。２．前記修正標準データポイントと前記サンプルデータポイントとの間の差違を示す残差値を生成させるための、前記修正標準データポイントと前記サンプルデータポイントに応答する手段をさらに含む、請求項１記載のシステム。３．一組の修正標準データポイントを生成させるための前記手段が、複数のスケーリングパラメーターを生成させるための、前記クロマトグラフィー変動性データポイントと前記サンプルデータポイントに応答する手段、このとき前記スケーリングパラメーターのそれぞれが、クロマトグラフィー変動性データポイントの前記複数組のうちの１つに対応する；および前記クロマトグラフィー変動性データポイントを前記スケーリングパラメーターの関数として変化させることによって前記修正標準データポイントを生成させるための手段；を含む、請求項２記載のシステム。４．一組の修正標準データポイントを生成させるための前記手段が、複数の組の前記スケーリングパラメーターを、前記クロマトグラフィー変動性データポイント、およびオフセットインデックス範囲内のオフセットインデックス値によってシフトされる前記標準データポイントから得られる対応する組の標準データポイントの関数として生成させるための、前記標準データポイントがシフトされる量を示す選定されたオフセットインデックス範囲に応答する手段；前記クロマトグラフィー変動性データポイントを、前記スケーリングパラメーターの前記組のそれぞれの関数として変化させることによって複数の組の前記修正標準データポイントを生成させるための手段；前記修正標準データポイントの前記組のそれぞれに対して前記残差値を生成させるための手段；および前記組の修正サンプルデータポイントを、最も低い残差値を有する修正標準データポイントの組の関数として選定するための手段；を含む、請求項２記載のシステム。５．前記スケーリングパラメーターが、前記の標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムを生成させるのに使用されるクロマトグラフの変動性に帰することのできる濃度変化を示す第１のスケーリングパラメーター；前記の標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムを生成させるのに使用される前記クロマトグラフの変動性に帰することのできるピーク保持のシフトを示す第２のスケーリングパラメーター；前記の標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムを生成させるのに使用される前記クロマトグラフの変動性に帰することのできるピーク保持時間の伸びを示す第３のスケーリングパラメーター；前記の標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムを生成させるのに使用される前記クロマトグラフの変動性に帰することのできるベースラインの変化を示す第４のスケーリングパラメーター；および前記の標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムを生成させるのに使用される前記クロマトグラフの変動性に帰することのできるベースラインの勾配の変化を示す第５のスケーリングパラメーター；を含む、請求項４記載のシステム。６．前記スケーリングパラメーターが、前記の標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムを生成させるのに使用されるクロマトグラフの変動性に帰することのできる濃度変化を示す第１のスケーリングパラメーターを含む、請求項４記載のシステム。７．前記スケーリングパラメーターが、前記の標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムを生成させるのに使用される前記クロマトグラフの変動性に帰することのできるピーク保持のシフトを示す第２のスケーリングパラメーターをさらに含む、請求項６記載のシステム。８．前記スケーリングパラメーターが、前記の標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムを生成させるのに使用される前記クロマトグラフの変動性に帰することのできるベースラインの変化を示す第３のスケーリングパラメーターをさらに含む、請求項７記載のシステム。９．前記スケーリングパラメーターが、前記の標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムを生成させるのに使用される前記クロマトグラフの変動性に帰することのできるピーク保持時間の伸びを示す第４のスケーリングパラメーターをさらに含む、請求項８記載のシステム。 10．前記標準データポイントから複数組のクロマトグラフィー変動性データポイントを生成させるための前記手段が、前記標準クロマトグラムの前記ポイントから前記標準クロマトグラムにおける最小吸光度を引くことによって第１の組のクロマトグラフィー変動性データポイントを生成させるための手段、このとき前記第１の組のクロマトグラフィー変動性データポイントは、前記の標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムを生成させるのに使用される前記クロマトグラフの変動性に帰することのできる濃度変化を示す；前記第１の組のクロマトグラフィー変動性データポイントの第１のデリバティブを得ることによって第２の組のクロマトグラフィー変動性データポイントを生成させるための手段、このとき前記第２の組のクロマトグラフィー変動性データポイントは、前記第１の組のクロマトグラフィー変動性データポイントのピーク保持のシフトの変化を示す；前記第２の組のクロマトグラフィー変動性データポイントと、ユニット勾配およびゼロ平均によって特性表示されるラインとを乗じることによって、第３の組のクロマトグラフィー変動性データポイントを生成させるための手段、このとき前記第３の組のクロマトグラフィー変動性データポイントは、前記第１の組のクロマトグラフィー変動性データポイントにおけるピーク保持時間の中点まわりの伸びを示す；ユニット値を有するラインを生成させることによって第４の組のクロマトグラフィー変動性データポイントを生成させるための手段、このとき前記第４の組のクロマトグラフィー変動性データポイントは、前記第１の組のクロマトグラフィー変動性データポイントのベースラインにおけるオフセットを示す；およびユニット勾配とゼロ平均によって特性表示されるラインを生成させることによって第５の組のクロマトグラフィー変動性データポイントを生成させるための手段、このとき前記第５の組のクロマトグラフィー変動性データポイントは、前記第１の組のクロマトグラフィー変動性データポイントのベースライン勾配の変化を示す；を含む、請求項１記載のシステム。 11．前記標準データポイントから複数組のクロマトグラフィー変動性データポイントを生成させるための前記手段が、前記標準クロマトグラムの前記ポイントから前記標準クロマトグラムにおける最小吸光度を引くことによって第１の組のクロマトグラフィー変動性データポイントを生成させるための手段、このとき前記第１の組のクロマトグラフィー変動性データポイントは、前記の標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムを生成させるのに使用される前記クロマトグラフの変動性に帰することのできる濃度変化を示す；前記第１の組のクロマトグラフィー変動性データポイントの第１のデリバティブを得ることによって第２の組のクロマトグラフィー変動性データポイントを生成させるための手段、このとき前記第２の組のクロマトグラフィー変動性データポイントは、前記第１の組のクロマトグラフィー変動性データポイントのピーク保持のシフトの変化を示す；前記第２の組のクロマトグラフィー変動性データポイントと、ユニット勾配およびゼロ平均によって特性表示されるラインとを乗じることによって、第３の組のクロマトグラフィー変動性データポイントを生成させるための手段、このとき前記第３の組のクロマトグラフィー変動性データポイントは、前記第１の組のクロマトグラフィー変動性データポイントにおけるピーク保持時間の中点まわりの伸びを示す：ユニット値を有するラインを生成させることによって第４の組のクロマトグラフィー変動性データポイントを生成させるための手段、このとき前記第４の組のクロマトグラフィー変動性データポイントは、前記第１の組のクロマトグラフィー変動性データポイントのベースラインにおけるオフセットを示す；およびユニット勾配とゼロ平均によって特性表示されるラインを生成させることによって第５の組のクロマトグラフィー変動性データポイントを生成させるための手段、このとき前記第５の組のクロマトグラフィー変動性データポイントは、前記第１の組のクロマトグラフィー変動性データポイントのベースライン勾配の変化を示す；を含む、請求項５記載のシステム。 12．前記標準クロマトグラムと前記サンプルクロマトグラムがそれぞれ同じ混合物から生成される、請求項４記載のシステム。 13．前記標準クロマトグラムと前記サンプルクロマトグラムがそれぞれ異なった混合物から生成される、請求項４記載のシステム。 14．選定された溶離時間範囲にわたってそれぞれのクロマトグラムを示す一組のデータポイントによって示される標準クロマトグラムとサンプルクロマトグラムとの間のクロマトグラフィー変動性を決定するためのシステムであって、このとき前記データポイントの各組が、それぞれのクロマトグラムを一定の割合でサンプリングすることによって生成され、複数のスケーリングパラメーターを、前記標準クロマトグラムに対応する前記データポイントの関数として、前記サンプルクロマトグラムに対応する前記データポイントの関数として、および前記溶離時間範囲にわたる前記標準クロマトグラムの変化の関数として生成させるための手段、このとき前記スケーリングパラメーターはクロマトグラフィー変動性を示す；クロマトグラフィー変動性を除去するよう修正されたサンプルクロマトグラムを表す前記サンプルクロマトグラムの最良適合モデルを生成させるための、前記標準クロマトグラムに対応する前記データポイントと前記スケーリングパラメーターとに応答する手段；および前記クロマトグラフィー変動性を除去するよう修正された前記サンプルクロマトグラムと前記標準クロマトグラムとの間の差を示す残差値を生成させるための、前記最良適合モデルに応答する手段；を含む前記システム。 15．それぞれ同じ混合物から得られる２つのクロマトグラムから、各クロマトグラムからの一組のデータポイントを得る工程、このとき前記データポイントは、少なくとも２つのピークを含んだ比較範囲にわたって前記個々のクロマトグラムを等しい間隔でサンプリングすることによって得られる；および前記比較範囲において示されるクロマトグラフィー変動性の少なくとも２つの影響を、ピークに関連したクロマトグラフィーの特徴の特性表示を行うことなく評価する工程；を含む、クロマトグラフィー変動性を決定する方法。 16．前記２つのクロマトグラムの比較範囲間の保持時間スケールの変化を、ピークに関連したクロマトグラフィーの特徴の識別を行うことなく評価するさらなる工程を含む、請求項15記載の方法。 17．前記２つのクロマトグラムの比較範囲間の相違性を示す比較ファクターを生成させるさらなる工程を含む、請求項15記載の方法。 18．前記保持時間の評価と前記保持時間スケール変化の評価が、前記２つのクロマトグラムの比較範囲間の残差平方値の総和を最小にする線形最小２乗法によって行われる、請求項16記載の方法。 19．前記２つのクロマトグラムの比較範囲間の濃度変化を、ピークに関連したクロマトグラフィーの特徴の識別を行うことなく評価するさらなる工程を含む、請求項16記載の方法。 20．前記２つのクロマトグラムの比較範囲間の保持時間オフセットの変化を、ピークに関連したクロマトグラフィーの特徴の識別を行うことなく評価するさらなる工程を含む、請求項16記載の方法。 21．前記２つのクロマトグラムの比較範囲間のベースライン勾配の変化を、ピークに関連したクロマトグラフィーの特徴の識別を行うことなく評価するさらなる工程を含む、請求項16記載の方法。 22．前記２つのクロマトグラムの比較範囲間の保持時間伸びの変化を、ピークに関連したクロマトグラフィーの特徴の識別を行うことなく評価するさらなる工程を含む、請求項16記載の方法。 23．前記２つのクロマトグラムの比較範囲間の保持時間オフセットの変化を、ピークに関連したクロマトグラフィーの特徴の識別を行うことなく評価するさらなる工程を含む、請求項16記載の方法。 24．前記クロマトグラフィー変動性データポイントと前記サンプルデータポイントを複数の比較範囲に分割し、各比較範囲において示されるクロマトグラフィー変動性の少なくとも２つの影響を、ピークに関連したクロマトグラフィーの特徴の特性表示を行うことなく評価するための手段をさらに含む、請求項３記載のシステム。 25．前記比較範囲が重なり合っている、請求項24記載のシステム。 26．前記比較範囲が重なり合っていない、請求項24記載のシステム。 27．前記比較範囲が１つ以上のサンプルポイントで置き換えられる、請求項 25記載のシステム。 28．比較領域からの１つ以上のスケール値と残差値を各比較範囲の中心の関数としてプロットする、請求項24記載のシステム。 29．選定された溶離時間範囲にわたって標準クロマトグラムを示す一組の標準データポイントによって表わされる標準クロマトグラムと、前記選定された溶離時間範囲にわたってサンプルクロマトグラムを示す一組のサンプルデータポイントによって表わされるサンプルクロマトグラムとを比較するための方法であって、このとき前記標準データポイントと前記サンプルデータポイントが、それぞれのクロマトグラムを一定の割合でサンプリングすることによって生成され、前記標準データポイントから複数組のクロマトグラフィー変動性データポイントを生成させる工程、このとき前記複数組のクロマトグラフィー変動性データポイントのそれぞれが、前記標準クロマトグラムに及ぼす所定のクロマトグラフィー変動性源の影響を示す；前記クロマトグラフィー変動性データポイントと前記サンプルデータポイントを複数の比較範囲に分割し、各比較範囲において示されるクロマトグラフィー変動性の少なくとも２つの影響を、ピークに関連したクロマトグラフィーの特徴の特性表示を行うことなく評価する工程；複数のスケーリングパラメーターを生成させる工程、このとき前記スケーリングパラメーターのそれぞれが、前記複数組のクロマトグラフィー変動性データポイントのうちの１つに対応する；前記クロマトグラフィー変動性データポイントを前記スケーリングパラメーターの関数として変化させることによって一組の修正された標準データポイントを生成させる工程；前記修正標準データポイントに関して前記サンプルデータポイントに対する最良適合モデルを１つ以上の比較範囲において生成させる工程；および前記修正標準データポイントと前記サンプルデータポイントとの間の差違を示す残差値を生成させる工程；を含む、前記方法。 30．第２のクロマトグラムを生成させるのに第２のサンプルが使用され、前記修正標準クロマトグラムに関して最良適合モデルを生成させる工程；および前記修正標準データポイントと前記第２のサンプルデータポイントとの間の差違を示す残差値を生成させる工程；を含む、請求項29記載の方法。