JP2000357458A - 陰極線管の製造方法及び陰極線管の製造装置 - Google Patents

陰極線管の製造方法及び陰極線管の製造装置

Info

Publication number
JP2000357458A
JP2000357458A JP11168531A JP16853199A JP2000357458A JP 2000357458 A JP2000357458 A JP 2000357458A JP 11168531 A JP11168531 A JP 11168531A JP 16853199 A JP16853199 A JP 16853199A JP 2000357458 A JP2000357458 A JP 2000357458A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray tube
color
cathode ray
color selection
selection mechanism
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11168531A
Other languages
English (en)
Inventor
Kunihito Kondo
邦仁 近藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP11168531A priority Critical patent/JP2000357458A/ja
Publication of JP2000357458A publication Critical patent/JP2000357458A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
  • Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 色選別機構のマスク面の表面の凹凸を正確に
測定することができ、これにより特性の良好な陰極線管
を製造することができる陰極線管の製造方法及び陰極線
管の製造装置を提供する。 【解決手段】 作製された色選別機構3のマスク面11
の状態を非接触で測定する工程を有して陰極線管1を製
造する。また、色選別機構3のマスク面11の状態を非
接触で測定する製造装置20を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、色選別機構を有し
て成る陰極線管の製造方法及び陰極線管の製造装置に係
わる。
【0002】
【従来の技術】カラー陰極線管では、陰極線管のパネル
部の内面にドット状或いはストライプ状の赤、緑、青の
蛍光体層を有し、その蛍光体に電子ビームを照射させて
画像を表示している。その際、赤、緑、青の3つの蛍光
体を光らせる電子ビームを、それぞれ決められた蛍光体
に正確に照射させる手段として色選別機構が用いられて
いる。
【0003】この色選別機構は、主として電子ビームを
選択的に透過させる電子ビーム透過孔を有する色選別マ
スクと、この色選別マスクを支持するフレームとから成
り、陰極線管体の前面のパネル部内に設けた蛍光面に対
向して所定の間隔で配置されて、電子銃より出射された
電子ビームを蛍光面に導いている。この色選別マスク
は、通常金属製の薄い板状とされた色選別用電極薄板に
よって構成される。
【0004】カラー陰極線管の色選別機構として、例え
ば図6に斜視図を示すようなアパーチャグリルと称され
る色選別機構31が知られている。この色選別機構31
は、1対の相対向する支持部材32及び33とこの支持
部材32及び33の両端部間に差し渡された弾性付与部
材34及び35とからなる枠状の金属フレーム36が設
けられ、このフレーム36の相対向する支持部材32及
び33間上に、多数の細いテープ状(帯状)のグリッド
素体38を一方向、即ち画面水平方向に沿って所定ピッ
チをもって配列し、各隣り合うテープ状のグリッド素体
38間の画面垂直方向に長いスリット状の電子ビーム透
過孔39を形成してなる色選別用電極薄板(いわゆるフ
ラットアパーチャグリル(FAG)と呼ばれる)40を
張架して構成される。
【0005】色選別用電極薄板40は、金属薄板にエッ
チングによって多数のスリット状の電子ビーム透過孔3
9を形成して形成されている。この色選別用電極薄板4
0は、フレーム36の弾性付与部材34及び35によっ
て、そのテープ状のグリッド素体38が所定の張力を付
加された状態で支持部材32及び33に溶接等により接
合される。
【0006】ここで、スリット状の電子ビーム透過孔3
9の間のテープ状のグリッド素体38が長いため、色選
別機構31がカラー陰極線管に組み込まれると、衝撃に
より極めてテープ状のグリッド素体38が揺れやすい。
また、特定の周波数を有する音やノイズによって、色選
別機構31の一部のグリッド素体38が共振する現象が
起こる。
【0007】この共振現象(以下AG揺れとする)は、
電子銃から出射された電子ビームが本来の軌道から外れ
るいわゆるミスランディングを引き起こし、表示画像の
劣化を招く。
【0008】現在、最も多く採用されている防振対策と
しては、図6〜図8に示すように、色選別用電極薄板4
0の有効画面領域上に、色選別用電極薄板40の電子ビ
ーム透過孔39の長手方向と直交する状態でダンパー線
(防振ワイヤ)42を張架する構造が知られている。図
7は色選別機構31の要部の拡大図、図8は色選別機構
31の水平方向の断面図をそれぞれ示す。
【0009】このダンパー線42は、左右の弾性付与部
材34,35に取り付けられたスプリング部材44に支
持され、そのスプリング部材44の引っ張り力で色選別
用電極薄板40上に所定の張力をもって張架されて、色
選別用電極薄板40のグリッド素体38を押さえつける
ようにしている。このようにグリッド素体38にダンパ
ー線42を接触させることにより、外部からの振動等に
伴うグリッド素体38の共振を防止している。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来は、色
選別用電極薄板40が溶接されるフレーム36の支持部
材32,33の画曲線に沿った形で、図8に示すように
色選別用電極薄板40がほぼ均一な曲率半径Rzをもっ
て、円筒面をなすように張架され、その上に張架された
防振ワイヤとなるダンパー線42の接触圧が全てのグリ
ッド素体38に均一に加わるようになっている。
【0011】しかしながら、色選別用電極薄板40を張
架する際に、フレーム36の支持部材32,33の管軸
方向に曲率を有する面(以下フレームRz面とする)4
6(図6参照)の凹凸や突起、或いはフレーム36の加
圧ポイントへの応力集中、または溶接時の焼け等の原因
により、熱処理後(例えば455℃程度の黒化処理後)
に色選別用電極薄板40の表面に不均一な凹凸(以下A
Gシワとする)が発生することがある。これにより、ダ
ンパー線(防振ワイヤ)42がグリッド素体38に接触
しない部分が生じてしまい、その結果上述のAG揺れを
引き起こし、またその揺れの程度によっては電子ビーム
のミスランディングを引き起こすという問題があった。
【0012】また、色選別用電極薄板40をフレーム3
6に張架する際に、フレーム36への加圧の条件によっ
てはフレームRz面46がいびつに変形され、色選別用
電極薄板40が張架された後、そのフレーム36と接し
ている部分(組み立て後のRz面)47に変曲点を生み
出し、同様にAG揺れを引き起こすことがあった。
【0013】そして、陰極線管の設計段階でこれらの問
題を解決するに当たり、色選別機構31の表面形状を精
度良く測定することが非常に重要になってくる。
【0014】従来は、例えば肉眼で見て、光の反射を利
用して濃淡により区別して色選別機構の表面の状態を検
知していた。この方法では、表面の凹凸が大きいときに
は容易に検知できるが、表面の凹凸が微小の場合には検
知が困難になる。
【0015】そこで、例えばプローブ接触式の3次元測
定機を使用して、予め設定した測定ピッチで組み立て後
のRz面47の表面形状を測定する方法が行われてい
る。
【0016】しかしながら、この測定方法ではプローブ
の接触圧が生じるため、グリッド素体38の上を測定し
ようとすると、接触圧によりグリッド素体38に変位が
生じてしまう。このため、グリッド素体38の上を測定
することが困難であり、電子ビーム透過孔39の長手方
向の上下外側の太い部分即ちペリフェリ部41だけしか
測定することができなかった。
【0017】実際に陰極線管としての特性に直結するの
は、このペリフェリ部41の凹凸ではなく、有効画面領
域の凹凸である。この有効画面領域では、色選別用電極
薄板40表面にグリッド素体38が存在している。
【0018】上述した問題の解決のために、本発明にお
いては、色選別機構のマスク面の表面の凹凸を正確に測
定することができ、これにより特性の良好な陰極線管を
製造することができる陰極線管の製造方法及び陰極線管
の製造装置を提供するものである。
【0019】
【課題を解決するための手段】本発明の陰極線管の製造
方法は、作製された色選別機構のマスク面の状態を非接
触で測定する工程を有するものである。
【0020】本発明の陰極線管の製造装置は、作製され
た色選別機構のマスク面の状態が非接触で測定されるも
のである。
【0021】上述の本発明によれば、マスク面の状態を
非接触で測定するため、接触圧が発生せず、測定時にマ
スク面に変位が生じないので、色選別機構のマスクの有
効画面領域についても正確な表面状態の測定を行うこと
ができる。
【0022】
【発明の実施の形態】本発明は、作製された色選別機構
のマスク面の状態を非接触で測定する工程を有する陰極
線管の製造方法である。
【0023】また本発明は、上記陰極線管の製造方法に
おいて、測定される色選別機構は、熱処理後の色選別機
構とする。
【0024】本発明は、作製された色選別機構のマスク
面の状態が非接触で測定される陰極線管の製造装置であ
る。
【0025】また本発明は、上記陰極線管の製造装置に
おいて、基準面を有するガイド上を非接触の変位計を移
送させて測定が行われる構成とする。
【0026】図1は本発明が適用されるカラー陰極線管
の一形態の概略構成図(一部内部を示す斜視図)を示
す。このカラー陰極線管1は、陰極線管体の前面のパネ
ル部1a内に蛍光面(図示せず)が設けられ、この蛍光
面に対向して所定の間隔を有するように色選別機構3が
配置されている。
【0027】色選別機構3は、主として電子ビームを選
択的に透過させる電子ビーム透過孔4を有する色選別用
電極薄板11と、この色選別用電極薄板11を支持する
フレーム6(6a,6b)とから成り、陰極線管体のネ
ック部1c内に設けられた電子銃2より出射された電子
ビームを電子ビーム透過孔4を通じて蛍光面に導くもの
である。
【0028】図2に色選別機構3の概略平面図を示す。
中央の線Kを境界として、左半分は色選別用電極薄板1
1を張った状態、右半分は色選別用電極薄板11を張る
前の状態をそれぞれ示している。
【0029】この色選別機構3は、1対の相対向する支
持部材6aとこの支持部材6aの両端部間に差し渡され
た弾性付与部材6bとからなる枠状の金属製のフレーム
6が設けられ、このフレーム6の相対向する支持部材6
a間上に、多数の細いテープ状(帯状)のグリッド素体
5を一方向、即ち画面水平方向に沿って所定ピッチをも
って配列し、各隣り合うテープ状のグリッド素体5間の
画面垂直方向に長いスリット状の電子ビーム透過孔4を
形成してなる色選別用電極薄板11を張架して構成され
る。
【0030】色選別用電極薄板11は、例えば低炭素ア
ルミキルド鋼、低炭素リムド鋼を原材料とする金属薄板
を用い、この金属薄板に、エッチングによって多数のス
リット状の電子ビーム透過孔4を形成して形成されてい
る。この色選別用電極薄板11は、フレーム6の弾性付
与部材6bによって、そのテープ状のグリッド素体5が
所定の張力を付加された状態で、電子ビーム透過孔4の
形成されていないペリフェリ部10において、支持部材
6aに溶接等により接合されている。
【0031】また、フレーム6の支持部材6aの表面8
と、色選別用電極薄板11の表面9とは、図7に示した
前述の従来の構成と同様に、電子ビームのパネル内面に
当たる位置(ビームグルーピング)を最適化するため
に、一定の曲率半径Rzを有する曲面(Rz面)とされ
ている。フレーム6の支持部材6a及び弾性付与部材6
bの側面中央には、それぞれ色選別機構3を陰極線管体
のパネル部1aに固定するための支持スプリング12,
13が設けられている。
【0032】また、色選別用電極薄板11の有効画面領
域上には、電子ビーム透過孔4の長手方向と直交する状
態でダンパー線(防振ワイヤ)7が、左右の弾性付与部
材6bに取り付けられたスプリング部材14に支持さ
れ、このスプリング部材14の引っ張り力で色選別用電
極薄板11上に所定の張力をもって張架されている。こ
の図2では、ダンパー線7は2本設けられ、共に色選別
用電極薄板11のグリッド素体5に対してグリッド素体
5を押さえつけるように接触している。
【0033】次に、この図1及び図2に示した色選別機
構3を有するカラー陰極線管1に適用した本発明の実施
の形態を説明する。
【0034】図3は本実施の形態で用いるレーザフォー
カス変位計の概略構成図を示す。このレーザフォーカス
変位計21は、内部にレーザ光出射部(図示せず)及び
対物レンズ22、レーザ光受光部(図示せず)を有して
成る。
【0035】そして、測定の際には、測定対象物19に
レーザ光Lを照射して、測定対象物19で反射したレー
ザ光Lをレーザ光受光部で検知する。
【0036】このとき、測定対象物19においてレーザ
光Lの焦点が合うように、変位計21内の対物レンズ2
2の位置を調整し、その調整量を検出することで測定対
象物19までの距離を測定する。レーザ光Lの集光の程
度により受光部における検出強度が変化し、測定対象物
19で焦点が合ったときに最も検出強度が強くなるの
で、検出強度が最も強くなるように対物レンズ22の位
置の調整がなされる。
【0037】出力は例えばアナログ電圧でなされ、この
出力電圧が測定対象物19までの距離の測定値として換
算される。
【0038】そして、こうして得られた距離の測定値
は、設計値との差分が計算され、後述するように設計値
に補正を行うためのデータとして蓄積される。
【0039】図4に本実施の形態の非接触変位測定装置
の概略構成図(斜視図)を示す。この非接触変位測定装
置20は、図3に示したレーザフォーカス変位計21と
色選別機構3のRz面9の設計値(基準面)に合わせて
作製されたガイドレール23を有して成る。ガイドレー
ル23は、x軸に沿って延在されており、y方向及びz
方向に移動可能とされる。
【0040】この測定装置20において、測定に先立つ
色選別機構3の位置決めは、図4に矢印で示すように、
X方向とY方向とに振り分けて行われる。そして、それ
ぞれの方向において、ローラ24で色選別機構3のフレ
ーム6を挟み込むようにして固定する。Y方向は2カ所
にローラ24を設けて、これらにそれぞれ振り分け、片
方例えば図中奥側の2つのローラ24をイコライズ(揃
えた位置に固定)する。
【0041】測定系の座標も、図4中に示す位置座標x
yzに準ずる。尚、z方向の座標系は色選別機構3のフ
レーム6が載置される測定台(図示せず)に対して垂直
な方向とする。
【0042】そして、ガイドレール23にレーザフォー
カス変位計21を取り付け、レーザフォーカス変位計2
1を色選別機構3上の任意のY座標で固定して、測定し
たい範囲をX方向に走査させて測定を行う。尚、必要に
応じて、さらに他の任意のY座標に固定してX方向に走
査させ同様に測定を行ってもよい。
【0043】このとき、レーザフォーカス変位計21の
サンプリング周波数をf、走査速度をvとすれば、測定
ピッチpは、次式で表される。p=v/f
【0044】この色選別用電極薄板11の有効画面領域
上における表面状態の測定は、色選別機構3に対する例
えば黒化処理等の熱処理の後に行う。
【0045】本実施の形態によれば、非接触で変位の測
定が行われるので、グリッド素体5に変位を生じないで
測定することができ、有効画面領域上のグリッド素体5
の表面状態を正確に測定することが可能になる。従っ
て、色選別機構3の色選別用電極薄板11の有効画面領
域上における表面状態を正確に知ることができる。
【0046】そして、この測定値を基に色選別機構3の
設計値を補正して、補正した設計値を基準として以降の
カラー陰極線管1の製造を行うことにより、熱処理後に
生じるAGシワの分をキャンセルして所望の表面状態に
することができる。これにより、電子ビームのミスラン
ディング等の不良の発生を抑制することができ、不良の
発生率を低減して特性の良好なカラー陰極線管1を製造
することができる。
【0047】次に、この非接触変位測定装置20による
測定値を用いた、Rz面の設計値の補正方法について、
図5を用いて説明する。
【0048】まず、図5Aに測定値を示す。横軸はx座
標を、縦軸はz座標を示す。この測定値は、ガイドレー
ル23上の変位計21と各測定点との相対的な位置関係
を表し、色選別機構3の表面の凹凸に対応してz座標の
値が変化する。そして、測定値のうち、上に凸な部分2
5がグリッド素体5に対応し、下に凸な部分26が電子
ビーム透過孔4に対応する。
【0049】次に、図5Aの測定値に対する補正方法に
ついて説明する。前述のように、測定の際には試料台上
にフレーム6の弾性付与部材6bが載置される。これに
より、弾性付与部材6bとの試料台と接触する面即ち下
面が基準として色選別機構3のマスク面(Rz面)の表
面の測定がなされる。
【0050】一方、実際のカラー陰極線管1では、支持
スプリング12,13により色選別機構3が陰極線管体
に固定される。これにより、設計値の方は支持スプリン
グ12,13により陰極線管体に固定された状態のマス
ク面の表面の値となる。
【0051】従って、例えば弾性付与部材6bに取り付
けられる支持スプリング13と弾性付与部材6bの下面
との高さ距離が、2本の弾性付与部材6bで異なる場合
には、距離が異なる分だけ、マスク面のx方向の傾きが
変わりマスク面のz座標が変化する。
【0052】そこで、測定値を解析するに先立ち、図5
Bに示すように、測定データ上で任意に2点A,Bをと
り、その2点A,Bが基準となるように、点Aの測定値
a及び点Bの測定値bを通る直線によりx´軸を設定
し、x´軸に直交するz´軸を設定する。そして、測定
値に対して、これらx´軸及びz´軸に座標変換を行っ
て修正を行う。これにより、2点A,B間の測定値につ
いて、設計値からの差分(凹凸の状態)Δzが明確にな
る。
【0053】このようにして差分Δzの分布が得られた
後、この分布を基に差分Δzを見込んだ色選別機構3の
マスク面の新たな設計値を作成し、熱処理等により生じ
る差分Δzが相殺されるようにする。
【0054】この新たな設計値に基づいて色選別機構3
のフレーム6及び色選別用電極薄板11を形成して、カ
ラー陰極線管1の製造を行うことにより、前述したよう
に熱処理後に生じるAGシワの分をキャンセルして、所
望の表面状態にすることができるので、電子ビームのミ
スランディング等の不良の発生が抑制された特性の良好
なカラー陰極線管1を製造することができる。
【0055】尚、さらに上述の差分Δzに設計値のz成
分を上乗せし、x座標の任意の点で1次微分と2次微分
とを行うことにより、Rz面の表面が変曲点を有してい
るかどうかを調べることもできる。
【0056】本発明は、上述の実施の形態に限定される
ものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲でその他
様々な構成が取り得る。
【0057】
【発明の効果】上述の本発明によれば、色選別機構のマ
スク面の表面形状を有効画面領域においても正確に測定
することが可能になる。
【0058】従って、AGシワ等の表面の凹凸の状態を
正確に検知して、これを基にマスク面の設計値を補正し
て、所望の表面状態のマスク面を形成し、特性の良好な
陰極線管を製造することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用するカラー陰極線管の一形態の概
略構成図(一部内部を示す斜視図)である。
【図2】図1の陰極線管の色選別機構の概略構成図(一
部内部を示す平面図)である。
【図3】本発明の一実施の形態において用いられるレー
ザフォーカス変位計の概略構成図である。
【図4】本発明の一実施の形態の非接触変位測定装置の
概略構成図(斜視図)である。
【図5】A 図4の非接触変位測定装置による変位の測
定結果を示す図である。B 図5Aの測定結果に対する
補正の方法を説明する図である。
【図6】従来の色選別機構の斜視図である。
【図7】図6の色選別機構の要部の拡大図である。
【図8】図6の色選別機構の水平方向の断面図である。
【符号の説明】
1 カラー陰極線管、2 電子銃、3 色選別機構、4
電子ビーム透過孔、5グリッド素体(AGテープ)、
6 フレーム、6a 支持部材、6b 弾性付与部材、
7 ダンパー線(防振ワイヤ)、10 ペリフェリ部、
11 色選別用電極薄板(FAG)、12,13 支持
スプリング、14 スプリング部材、20 非接触変位
測定装置、21 レーザフォーカス変位計、22 対物
レンズ、23 ガイドレール、24 ローラ、L レー
ザ光

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 作製された色選別機構のマスク面の状態
    を非接触で測定する工程を有することを特徴とする陰極
    線管の製造方法。
  2. 【請求項2】 測定される上記色選別機構は、熱処理後
    の色選別機構であることを特徴とする請求項1に記載の
    陰極線管の製造方法。
  3. 【請求項3】 作製された色選別機構のマスク面の状態
    が非接触で測定されることを特徴とする陰極線管の製造
    装置。
  4. 【請求項4】 基準面を有するガイド上を非接触の変位
    計を移送させて測定が行われることを特徴とする請求項
    3に記載の陰極線管の製造装置。
JP11168531A 1999-06-15 1999-06-15 陰極線管の製造方法及び陰極線管の製造装置 Pending JP2000357458A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11168531A JP2000357458A (ja) 1999-06-15 1999-06-15 陰極線管の製造方法及び陰極線管の製造装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11168531A JP2000357458A (ja) 1999-06-15 1999-06-15 陰極線管の製造方法及び陰極線管の製造装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000357458A true JP2000357458A (ja) 2000-12-26

Family

ID=15869759

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11168531A Pending JP2000357458A (ja) 1999-06-15 1999-06-15 陰極線管の製造方法及び陰極線管の製造装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000357458A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1271596A2 (en) * 2001-06-21 2003-01-02 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for manufacturing color selection electrode structure and color cathode ray tube having the color selection electrode structure

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1271596A2 (en) * 2001-06-21 2003-01-02 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for manufacturing color selection electrode structure and color cathode ray tube having the color selection electrode structure
EP1271596A3 (en) * 2001-06-21 2003-10-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for manufacturing color selection electrode structure and color cathode ray tube having the color selection electrode structure
US6848960B2 (en) 2001-06-21 2005-02-01 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for manufacturing color selection electrode structure and color cathode ray tube having the color selection electrode structure

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000357458A (ja) 陰極線管の製造方法及び陰極線管の製造装置
JPH06308046A (ja) 周期性パターン検査装置
JP3343205B2 (ja) カラー陰極線管
US20010017512A1 (en) Aperture grill supporting frame and manufacturing method thereof
US6333500B2 (en) Method of inspecting a substrate furnished with a phosphor layer
JP4151239B2 (ja) 色選別電極構体の製造方法及びその色選別電極構体を用いたカラー陰極線管
TW416084B (en) Method of manufacturing a cathode ray tube and device for inspecting an electron gun
KR200176399Y1 (ko) 전자총 그리드 간격 측정장치
KR100709239B1 (ko) 음극선관의 인장 마스크 지지용 프레임
JPH10116559A (ja) 高圧用接続端子の取付け装置及び色選別機構の製造方法
JP3253171B2 (ja) 画像濃度むら計測装置
KR920006967B1 (ko) 음극선관의 검사방법
JP2001281095A (ja) 微細透孔を有する金属薄板の透過率測定装置および透過率測定方法
JP3326979B2 (ja) アパーチャグリルのスプリング溶着箇所割り出し方法
JPH06139948A (ja) 陰極線管の色選別電極
JPH0927274A (ja) 陰極線管の製造における補正方法
KR20020091726A (ko) 평면 음극선관용 섀도우마스크
JP2003229051A (ja) 高さ測定方法および高さ測定装置
JP2001155655A (ja) カラー陰極線管及びその製造方法
JPS60240031A (ja) インライン型電子銃構体
JP2003257334A (ja) 色選別機構、カラー陰極線管並びに色選別機構の制振方法
JP2000057954A (ja) 表示装置用電子銃評価装置および電子銃ビーム孔の測定方法
JPH0737508A (ja) シャドウマスク孔形状検査装置
JP2000215802A (ja) 色選別電極装置並びに色選別電極装置の製造方法及びカラ―陰極線管並びにカラ―陰極線管の製造方法
JP2004288427A (ja) 色選別電極機構の支持状態評価方法およびこれを用いたカラー陰極線管の製造方法